JP2017069012A - Conductive paste and method of manufacturing conductive film using the same - Google Patents

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由 村野
Yu Murano
由 村野
英史 藤田
Hidefumi Fujita
英史 藤田
秀治 金田
Hideharu Kaneda
秀治 金田
伊東 大輔
Daisuke Ito
大輔 伊東
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a conductive paste capable of forming a conductive film good in adhesiveness with a substrate and weather resistance by light burning, and a method of manufacturing the conductive film using the same.SOLUTION: A conductive paste contains a copper fine particle with average particle diameter of 10 to 100 nm and a silver crude particle with cumulative 50% particle diameter (D) measured with a laser diffraction type particle size distribution measuring device of 4 to 25 μm and has tap density of the copper crude particle of 3.9 g/cmor less, a ratio of cumulative 90% particle diameter (D) to cumulative 10% particle diameter (D) by volume basis measured with the laser diffraction type particle size distribution measuring device of 3.65 or more and percentage of mass of the copper fine particle to the total amount of the copper fine particle and the copper crude particle of 20% or more. The conductive paste is applied on a substrate by screen printing, preliminary burned by vacuum drying and then irradiated with light to form a conductive film on the substrate and pressure is applied to the conductive film with a roll or the like to conduct a compression treatment.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、導電性ペーストに関し、特に、電子部品の電極や回路などを形成する導電膜の製造に使用する導電性ペーストおよびそれを用いた導電膜の製造方法に関する。   The present invention relates to a conductive paste, and more particularly to a conductive paste used for manufacturing a conductive film for forming an electrode or a circuit of an electronic component and a method for manufacturing a conductive film using the conductive paste.

従来、導電性ペーストを使用して導電膜を製造する方法として、ガラス微粒子などの無機微粒子と、感光性有機成分と、ベンゾトリアゾールなどのアゾール構造を持つ化合物とを含む感光性ペーストを基板に塗布し、露光した後、現像し、その後、焼成して(導電膜の)パターンを形成する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。また、銅ナノ粒子を含む銅インク溶液を基板の表面に印刷して乾燥させた後、パルスに晒して銅ナノ粒子を光焼結により融合させて、光焼結銅ナノ粒子フィルム(導電膜)を製造する方法が提案されている(例えば、特許文献2参照)。さらに、耐酸化性処理として表面にベンゾトリアゾールを被着させた銅微粒子を導電フィラーとして用いた導電インクが提案されている(例えば、特許文献3参照)。   Conventionally, as a method for producing a conductive film using a conductive paste, a photosensitive paste containing inorganic fine particles such as glass fine particles, a photosensitive organic component, and a compound having an azole structure such as benzotriazole is applied to a substrate. Then, after exposure, development is performed, and then baking is performed to form a pattern (of a conductive film) (see, for example, Patent Document 1). Also, after printing a copper ink solution containing copper nanoparticles on the surface of the substrate and drying it, the copper nanoparticles are fused by photo-sintering by exposure to a pulse, and a photo-sintered copper nano-particle film (conductive film) Has been proposed (see, for example, Patent Document 2). Furthermore, a conductive ink using copper fine particles with benzotriazole deposited on the surface as a conductive filler has been proposed as an oxidation resistant treatment (see, for example, Patent Document 3).

特開平9−218508号公報(段落番号0010−0056)JP-A-9-218508 (paragraph numbers 0010-0056) 特表2010−528428号公報(段落番号0009−0014)Japanese translation of PCT publication 2010-528428 (paragraph number 0009-0014) 特開2008−285761号公報(段落番号0008−0010)JP 2008-285761 A (paragraph number 0008-0010)

しかし、特許文献1の方法では、感光性ペーストを基板に塗布し、露光した後、現像液を使用して現像し、その後、高温(520〜610℃)で焼成する必要があるので、工程が煩雑であり、光照射により焼成することができず、また、紙やPET(ポリエチレンテレフタレート)フィルムなどの熱に弱い基板にパターンを形成することができない。また、特許文献2の方法では、紙などの基板との密着性が十分な導電膜を形成することができず、また、耐候性が良好な導電膜を形成することができない。また、特許文献3の導電インクを光焼成用の導電性ペーストとして使用すると、基板に塗布して乾燥させた後に光照射により焼成して導電膜を形成する際に導電膜にクラックが入って導電性が悪くなる。   However, in the method of Patent Document 1, it is necessary to apply a photosensitive paste to a substrate, expose it, develop using a developer, and then bak at a high temperature (520 to 610 ° C.). It is complicated and cannot be fired by light irradiation, and a pattern cannot be formed on a heat-sensitive substrate such as paper or PET (polyethylene terephthalate) film. In the method of Patent Document 2, a conductive film having sufficient adhesion to a substrate such as paper cannot be formed, and a conductive film having good weather resistance cannot be formed. In addition, when the conductive ink of Patent Document 3 is used as a conductive paste for light baking, the conductive film cracks when the conductive film is formed by applying it to a substrate and drying it, followed by baking by light irradiation. Sexuality gets worse.

したがって、本発明は、このような従来の問題点に鑑み、光焼成により基材との密着性および耐候性が良好な導電膜を形成することができる導電性ペーストおよびそれを用いた導電膜の製造方法を提供することを目的とする。
することを目的とする。
Therefore, in view of such conventional problems, the present invention provides a conductive paste capable of forming a conductive film having good adhesion and weather resistance with a substrate by photo-baking and a conductive film using the conductive paste. An object is to provide a manufacturing method.
The purpose is to do.

本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究した結果、平均粒径10〜100nmの銅微粒子と、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積50%粒子径(D50)が4〜25μmの銅粗粒子とを含み、銅粗粒子のタップ密度が3.9g/cm以下、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積10%粒子径(D10)に対する累積90%粒子径(D90)の比か3.65以上であり、銅微粒子と銅粗粒子の総量に対する銅微粒子の質量の割合が20%以上である、導電性ペーストを製造すれば、光焼成により基材との密着性および耐候性が良好な導電膜を形成することができる導電性ペーストを提供することができることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have found that copper fine particles having an average particle diameter of 10 to 100 nm and a volume-based cumulative 50% particle diameter (D 50) measured by a laser diffraction particle size distribution analyzer. ) Include 4 to 25 μm copper coarse particles, and the tap density of the copper coarse particles is 3.9 g / cm 3 or less, and the volume-based cumulative 10% particle diameter (D 10 ) measured by a laser diffraction particle size distribution analyzer. If the ratio of the cumulative 90% particle diameter (D 90 ) to is 3.65 or more and the ratio of the mass of the copper fine particles to the total amount of the copper fine particles and the copper coarse particles is 20% or more, It has been found that a conductive paste capable of forming a conductive film having good adhesion to the base material and weather resistance by light baking can be provided, and the present invention has been completed.

すなわち、本発明による導電性ペーストは、平均粒径10〜100nmの銅微粒子と、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積50%粒子径(D50)が4〜25μmの銅粗粒子とを含み、銅粗粒子のタップ密度が3.9g/cm以下、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積10%粒子径(D10)に対する累積90%粒子径(D90)の比か3.65以上であり、銅微粒子と銅粗粒子の総量に対する銅微粒子の質量の割合が20%以上であることを特徴とする。 That is, the conductive paste according to the present invention includes copper fine particles having an average particle diameter of 10 to 100 nm and a copper coarse particle having a volume-based cumulative 50% particle diameter (D 50 ) measured by a laser diffraction particle size distribution measuring device of 4 to 25 μm. 90% cumulative particle diameter (D 10 ) with respect to a volume-based cumulative 10% particle diameter (D 10 ) measured by a laser diffraction particle size distribution analyzer, wherein the tap density of copper coarse particles is 3.9 g / cm 3 or less. 90 ) is 3.65 or more, and the ratio of the mass of the copper fine particles to the total amount of the copper fine particles and the copper coarse particles is 20% or more.

この導電性ペーストにおいて、銅微粒子がアゾール化合物で被覆されているのが好ましく、アゾール化合物がベンゾトリアゾールであるのが好ましい。また、導電性ペーストがさらに溶剤と樹脂を含み、導電性ペースト中の銅微粒子と銅粗粒子の総量が50〜90質量%であるのが好ましい。溶剤はグリコール系溶剤であるのが好ましく、グリコール系溶剤はエチレングリコールであるのが好ましい。樹脂はポリビニルピロリドン樹脂であるのが好ましい。   In this conductive paste, the copper fine particles are preferably coated with an azole compound, and the azole compound is preferably benzotriazole. The conductive paste further contains a solvent and a resin, and the total amount of copper fine particles and copper coarse particles in the conductive paste is preferably 50 to 90% by mass. The solvent is preferably a glycol solvent, and the glycol solvent is preferably ethylene glycol. The resin is preferably a polyvinylpyrrolidone resin.

また、本発明による導電膜の製造方法は、上記の導電性ペーストを基材に塗布して予備焼成した後、光を照射して焼成することにより基材上に導電膜を形成することを特徴とする。   Also, the method for producing a conductive film according to the present invention is characterized in that after the conductive paste is applied to a substrate and pre-baked, the conductive film is formed on the substrate by irradiation with light and baking. And

この導電膜の製造方法において、導電性ペーストの塗布はスクリーン印刷によって行われるのが好ましく、予備焼成は50〜200℃で真空乾燥することによって行われるのが好ましい。また、光の照射は、パルス周期500〜2000μs、パルス電圧1600〜3800Vで波長200〜800nmの光を照射することによって行われるのが好ましい。また、基材上に形成された導電膜を圧縮処理するのが好ましく、この圧縮処理は、基材上に形成された導電膜をロールにより加圧することによって行われるのが好ましい。この圧縮処理後の導電膜の平均膜厚が1〜30μmであるのが好ましい。   In this method for producing a conductive film, the conductive paste is preferably applied by screen printing, and the preliminary baking is preferably performed by vacuum drying at 50 to 200 ° C. The light irradiation is preferably performed by irradiating light having a wavelength of 200 to 800 nm with a pulse period of 500 to 2000 μs and a pulse voltage of 1600 to 3800 V. Moreover, it is preferable to compress the electrically conductive film formed on the base material, and this compressing process is preferably performed by pressurizing the electrically conductive film formed on the base material with a roll. The average film thickness of the conductive film after the compression treatment is preferably 1 to 30 μm.

本発明によれば、光焼成により基材との密着性および耐候性が良好な導電膜を形成することができる導電性ペーストおよびそれを用いた導電膜の製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of the electrically conductive paste which can form the electrically conductive paste with favorable adhesiveness with a base material and favorable weather resistance by light baking, and its, and a conductive film using the same can be provided.

実施例および比較例において基材上に印刷した導電性ペーストの形状(RFID用アンテナ回路パターン)を示す平面図である。It is a top view which shows the shape (RFID antenna circuit pattern) of the electrically conductive paste printed on the base material in an Example and a comparative example. 実施例1で得られたBTA被覆銅微粒子の電解放出型電子顕微鏡(FE−SEM)写真(5万倍)である。2 is a field emission electron microscope (FE-SEM) photograph (50,000 times) of the BTA-coated copper fine particles obtained in Example 1. FIG. 実施例1で得られたフレーク状銅粗粒子のFE−SEM写真(5千倍)である。2 is an FE-SEM photograph (5,000 times) of flaky copper coarse particles obtained in Example 1. FIG. 実施例1で得られた圧縮処理後の導電膜の断面のFE−SEM写真である。2 is an FE-SEM photograph of a cross section of a conductive film after compression treatment obtained in Example 1.

本発明による導電性ペーストの実施の形態は、平均粒径10〜100nmの銅微粒子と、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積50%粒子径(D50)が4〜25μmの銅粗粒子とを含み、銅粗粒子のタップ密度が3.9g/cm以下、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積10%粒子径(D10)に対する累積90%粒子径(D90)の比か3.65以上であり、銅微粒子と銅粗粒子の総量に対する銅微粒子の質量の割合が20%以上である。 Embodiments of the conductive paste according to the present invention include copper fine particles having an average particle diameter of 10 to 100 nm and a volume-based cumulative 50% particle diameter (D 50 ) measured by a laser diffraction particle size distribution measuring device of 4 to 25 μm. 90% cumulative particle diameter with respect to a volume-based cumulative 10% particle diameter (D 10 ) measured by a laser diffraction particle size distribution analyzer, wherein the copper coarse particles have a tap density of 3.9 g / cm 3 or less. The ratio of (D 90 ) is 3.65 or more, and the ratio of the mass of copper fine particles to the total amount of copper fine particles and copper coarse particles is 20% or more.

平均粒径10〜100nmの銅微粒子は、焼結し易い粒子であるため、銅微粒子の表面がベンゾトリアゾールなどのアゾール化合物で被覆されているのが好ましい。このように銅微粒子の表面をアゾール化合物で被覆すれば、銅微粒子の保存安定性を向上させることができるとともに、光の吸収性を向上させることができ、光照射により焼結し易くすることができる。特に、アゾール化合物は、分子内に共役二重結合を有するため、紫外線波長領域(200〜400nm)の光を吸収して熱に変換することにより、銅微粒子を焼結し易くすることができる。   Since the copper fine particles having an average particle diameter of 10 to 100 nm are particles that are easily sintered, it is preferable that the surfaces of the copper fine particles are coated with an azole compound such as benzotriazole. If the surface of the copper fine particles is coated with an azole compound in this way, the storage stability of the copper fine particles can be improved, the light absorption can be improved, and it can be easily sintered by light irradiation. it can. In particular, since the azole compound has a conjugated double bond in the molecule, the copper fine particles can be easily sintered by absorbing light in the ultraviolet wavelength region (200 to 400 nm) and converting it into heat.

レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積50%粒子径(D50)が4〜25μmの銅粗粒子は、光照射により焼成して導電膜を形成する際に、銅微粒子の焼結に伴う導電膜の収縮を緩和して、導電膜にクラックが入るのを防止して導電性が悪くなるのを防止するとともに、導電膜が厚くなっても導電性が悪くなるのを抑制することができる。この銅粗粒子のタップ密度は、3.9g/cm以下であり、3.8g/cm以下であるのが好ましい。また、この銅粗粒子のレーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積10%粒子径(D10)に対する累積90%粒子径(D90)の比は、3.65以上であり、3.7以上であるのが好ましい。また、この銅粗粒子のBET比表面積は、0.3〜1.5m/gであるのが好ましく、0.4〜1.2m/gであるのがさらに好ましい。銅粗粒子中の酸素含有量は2質量%以下であるのが好ましく、0.1〜1質量%であるのがさらに好ましい。銅粗粒子中の炭素含有量は0.1〜5質量%であるのが好ましく、0.1〜1質量%であるのがさらに好ましい。 Copper coarse particles having a volume-based cumulative 50% particle diameter (D 50 ) measured by a laser diffraction particle size distribution measuring device of 4 to 25 μm are baked by light irradiation to form a conductive film. Reducing the shrinkage of the conductive film due to bonding, preventing the conductive film from cracking and preventing the conductivity from deteriorating, and suppressing the conductivity from deteriorating even when the conductive film becomes thicker be able to. The tap density of the copper coarse particles are at 3.9 g / cm 3 or less, preferably at 3.8 g / cm 3 or less. The ratio of the cumulative 90% particle diameter (D 90 ) to the volume-based cumulative 10% particle diameter (D 10 ) measured by a laser diffraction particle size distribution measuring device of the copper coarse particles is 3.65 or more, It is preferably 3.7 or more. Further, BET specific surface area of the copper coarse particles is preferably from 0.3 to 1.5 m 2 / g, and even more preferably 0.4~1.2m 2 / g. The oxygen content in the copper coarse particles is preferably 2% by mass or less, and more preferably 0.1 to 1% by mass. The carbon content in the copper coarse particles is preferably 0.1 to 5% by mass, and more preferably 0.1 to 1% by mass.

このような銅粗粒子は、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積50%粒子径(D50)が5〜50μmの電解銅粉または1〜10μmの湿式銅粉をステアリン酸やパルミチン酸などの脂肪酸で被覆した後、窒素雰囲気中において、振動ミルなどにより粉砕して、フレーク状銅粗粒子として得ることができる。この粉砕時間は、電解銅粉の場合は10〜150分間程度であるのが好ましく、湿式銅粉の場合は150分間以上であるのが好ましい。 Such copper coarse particles are obtained by using electrolytic copper powder having a volume-based cumulative 50% particle diameter (D 50 ) measured by a laser diffraction particle size distribution measuring device of 5 to 50 μm or wet copper powder having 1 to 10 μm as stearic acid or After coating with a fatty acid such as palmitic acid, it can be pulverized by a vibration mill or the like in a nitrogen atmosphere to obtain flaky copper coarse particles. This pulverization time is preferably about 10 to 150 minutes in the case of electrolytic copper powder, and preferably 150 minutes or more in the case of wet copper powder.

導電性ペースト中の銅微粒子と銅粗粒子の総量に対する銅微粒子の質量の割合は、20%以上であり、30%以上であるのが好ましい。また、導電性ペーストがさらに溶剤と樹脂を含むのが好ましく、この場合、導電性ペースト中の銅微粒子と銅粗粒子の総量は、50〜90質量%であるのが好ましく、60〜80質量%であるのがさらに好ましい。   The ratio of the mass of the copper fine particles to the total amount of the copper fine particles and the copper coarse particles in the conductive paste is 20% or more, and preferably 30% or more. The conductive paste preferably further contains a solvent and a resin. In this case, the total amount of copper fine particles and copper coarse particles in the conductive paste is preferably 50 to 90% by mass, and 60 to 80% by mass. More preferably.

この導電性ペーストを紙などの基板に塗布して導電膜を形成する場合、導電性ペーストの溶剤は、基板の濡れ性を向上させるために水溶性であるのが好ましく、酸化し易い銅の還元作用がある水酸基を有するのが好ましく、基板に連続的に印刷することができるように沸点180℃以上であるのが好ましい。このような性質を有する溶剤として、グリコール系溶剤を使用するのが好ましい。   When this conductive paste is applied to a substrate such as paper to form a conductive film, the conductive paste solvent is preferably water-soluble in order to improve the wettability of the substrate, and copper is easily oxidized. It preferably has a functional hydroxyl group, and preferably has a boiling point of 180 ° C. or higher so that it can be continuously printed on the substrate. As the solvent having such properties, a glycol solvent is preferably used.

このグリコール系溶剤として、エチレングリコール、イソプロピレングリコール、1,6−ヘキサンジオール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、ジプロピレングリコール、1,5−ペンタンジオール、ジエチレングリコール、(分子量200程度の)ポリエチレングリコール、メチルペンタンジオール、トリエチレングリコールなどを使用することができ、エチレングリコールを使用するのが好ましい。   As this glycol solvent, ethylene glycol, isopropylene glycol, 1,6-hexanediol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, dipropylene glycol, 1,5-pentanediol, diethylene glycol, (molecular weight 200 Polyethylene glycol, methylpentanediol, triethylene glycol, etc. can be used, and ethylene glycol is preferably used.

また、導電性ペーストを紙などの基板に塗布して導電膜を形成する場合、導電性ペーストに含まれる樹脂は、基板に対する密着性を向上させることができ、グリコール系溶剤に高濃度で溶解して適度な粘性とダレを付与することができ、屈曲性を有する導電膜を形成することができる樹脂であるのが好ましい。このような性質を有する樹脂として、ポリビニルピロリドン(PVP)樹脂およびポリビニルブチラール(PVB)樹脂を使用することができ、ポリビニルピロリドン樹脂を使用するのが好ましい。   In addition, when a conductive film is formed by applying a conductive paste to a substrate such as paper, the resin contained in the conductive paste can improve adhesion to the substrate and dissolves in a glycol-based solvent at a high concentration. It is preferable that the resin be capable of imparting appropriate viscosity and sagging and capable of forming a flexible conductive film. Polyvinyl pyrrolidone (PVP) resin and polyvinyl butyral (PVB) resin can be used as the resin having such properties, and it is preferable to use polyvinyl pyrrolidone resin.

導電性ペーストがポリビニルピロリドン樹脂を含む場合には、導電性ペースト中のポリビニルピロリドン樹脂の量が銅微粒子と銅粗粒子の総量に対して3〜9質量%であるのが好ましく、導電性ペーストがポリビニルブチラールを含む場合には、導電性ペースト中のポリビニルブチラール樹脂の量が銅微粒子と銅粗粒子の総量に対して3〜6質量%であるのが好ましい。   When the conductive paste contains a polyvinylpyrrolidone resin, the amount of the polyvinylpyrrolidone resin in the conductive paste is preferably 3 to 9% by mass with respect to the total amount of the copper fine particles and the copper coarse particles. When polyvinyl butyral is included, the amount of polyvinyl butyral resin in the conductive paste is preferably 3 to 6% by mass with respect to the total amount of copper fine particles and copper coarse particles.

ポリビニルピロリドン樹脂として、例えば、株式会社DKS製のピッツコールK−30(重量平均分子量45,000)、ピッツコールK−90(重量平均分子量1,200,000)、株式会社和光純薬工業株式会社製のPVP K−25(重量平均分子量20,000)などを使用することができ、ポリビニルブチラール樹脂として、例えば、積水化学工業株式会社製のS−LEC Bシリーズ、S−LEC Kシリーズ、株式会社クラレ製のMowital Bシリーズなどを使用することができる。   Examples of the polyvinylpyrrolidone resin include Pitskor K-30 (weight average molecular weight 45,000), Pitzkor K-90 (weight average molecular weight 1,200,000) manufactured by DKS Corporation, Wako Pure Chemical Industries, Ltd. PVP K-25 (weight average molecular weight 20,000) etc. which can be used can be used, and as a polyvinyl butyral resin, for example, S-LEC B series, S-LEC K series, manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd. Kuraray's Mowital B series can be used.

導電性ペーストには、銅微粒子の分散性を向上させるために、溶剤に分散剤を添加してもよい。この分散剤の添加量は、導電性ペーストに対して0.1〜10質量%であるのが好ましく、0.1〜2質量%であるのがさらに好ましい。この分散剤としては、銅微粒子の表面と親和性を有し且つグリコール系溶剤に対しても親和性を有するものであればよい。   To the conductive paste, a dispersant may be added to the solvent in order to improve the dispersibility of the copper fine particles. The amount of the dispersant added is preferably 0.1 to 10% by mass, more preferably 0.1 to 2% by mass with respect to the conductive paste. Any dispersant may be used as long as it has an affinity for the surface of the copper fine particles and also has an affinity for the glycol solvent.

このような性質を有する分散剤の例として、非イオンポリオキシエチレン(例えば、シグマアルドリッチ社製のTRITON X−100)、ポリオキシエチレン(8)オクチルフェニルエーテル(例えば、シグマアルドリッチ社製のTRITON X−114)、高分子量ブロックコポリマー(例えば、ビックケミー・ジャパン株式会社製のDISPERBYK−190)、変性アクリル系ブロック共重合物(例えば、ビックケミー・ジャパン株式会社製のDISPERBYK−2000、DISPERBYK−2001)、非イオンフッ素化ポリオキシエチレン(例えば、デュポン株式会社製のZonyl FS300)、含フッ素基・親水性基含有オリゴマー(例えば、DIC株式会社製のメガファックEXP TF−1540、メガファックEXP TF−1878、メガファックF−480SF)、ラウリルトリメチルアンモニウムクロライド(例えば、花王株式会社製のコータミン24P)、ポリオキシエチレンヤシアルキルアミン(例えば、花王株式会社製のアミート102)、ポリオキシエチレンジスチレン化フェニルエーテル(例えば、花王株式会社製のエマルゲンA−60)、特殊ポリカルボン酸型界面活性剤(例えば、花王株式会社製のデモールEP)、ナフタレンスルホン酸ホルムアルデヒド縮合物アンモニウム塩(例えば、花王株式会社製のMX−2045L)、ポリオキシエチレン−ラウリルアミン(例えば、日油株式会社製のナイミーンL−202、マリアリムHKM−150A)、スチレン−マレイン酸ハーフエステルコポリマーアンモニウム塩(例えば、株式会社DKS製のDKSディスコートN−14)、ポリオキシエチレンスチレン化フェニルエーテル(例えば、株式会社DKS製のノイゲンEA−167)、ポリオキシエチレン(20)ノニルフェニルエーテル(例えば、和光純薬工業株式会社製)、カチオン系界面活性剤(例えば、サンノプコ株式会社製のノプコスパース092)、アセチレンジオールの酸化エチレン付加物(例えば、日信化学工業株式会社製のダイノール604)などの界面活性剤からなる分散剤が挙げられる。   Examples of the dispersant having such properties include nonionic polyoxyethylene (for example, TRITON X-100 manufactured by Sigma-Aldrich), polyoxyethylene (8) octylphenyl ether (for example, TRITON X manufactured by Sigma-Aldrich). -114), high molecular weight block copolymer (for example, DISPERBYK-190 manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd.), modified acrylic block copolymer (for example, DISPERBYK-2000, DISPERBYK-2001 manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd.), non- Ion fluorinated polyoxyethylene (for example, Zonyl FS300 manufactured by DuPont), fluorine-containing group / hydrophilic group-containing oligomer (for example, Megafac EXP TF-1540 manufactured by DIC Corporation, Megaf EXP EXP TF-1878, MegaFac F-480SF), lauryltrimethylammonium chloride (for example, Cotamin 24P manufactured by Kao Corporation), polyoxyethylene coconut alkylamine (for example, Amite 102 manufactured by Kao Corporation), polyoxy Ethylene distyrenated phenyl ether (for example, Emulgen A-60 manufactured by Kao Corporation), special polycarboxylic acid type surfactant (for example, Demol EP manufactured by Kao Corporation), naphthalenesulfonic acid formaldehyde condensate ammonium salt (for example, MX-2045L manufactured by Kao Corporation), polyoxyethylene-laurylamine (for example, Nimine L-202, Marialim HKM-150A manufactured by NOF Corporation), styrene-maleic acid half ester copolymer ammonium salt (example) For example, DKS Discoat N-14 manufactured by DKS Co., Ltd., polyoxyethylene styrenated phenyl ether (for example, Neugen EA-167 manufactured by DKS Co., Ltd.), polyoxyethylene (20) nonylphenyl ether (for example, Wako Pure) Yaku Kogyo Co., Ltd.), cationic surfactants (for example, Nop Cosperth 092 manufactured by San Nopco Co., Ltd.), and ethylene oxide adducts of acetylenic diol (for example, Dinol 604 manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.). The dispersing agent which consists of these is mentioned.

また、導電性ペーストには、銅微粒子と銅粗粒子の総量に対するClの質量の割合(Cl/Cu)が0.1〜0.5質量%になるように塩素化合物が添加されているのが好ましい。この塩素化合物として、次亜塩素酸などのオキソ酸、亜塩素酸ナトリウム、亜塩素酸カリウム、次亜塩素酸ナトリウム、次亜塩素酸カリウム、次亜塩素酸カルシウムなどのオキソ酸塩、塩酸などの水素化物、リチウム塩、ナトリウム塩、カリウム塩、バリウム塩、ストロンチウム塩、アンモニウム塩、ジルコニウム塩、アルミニウム塩、マグネシウム塩、カルシウム塩などの無機塩などを使用することができる。これらのうち、塩化ナトリウム、塩化アンモニウム、塩化カリウムおよび塩化カルシウムからなる群から選ばれる1種以上の塩素化合物を使用するのが好ましい。   In addition, the conductive paste is added with a chlorine compound so that the mass ratio of Cl to the total amount of copper fine particles and copper coarse particles (Cl / Cu) is 0.1 to 0.5 mass%. preferable. Examples of the chlorine compounds include oxoacids such as hypochlorous acid, sodium chlorite, potassium chlorite, sodium hypochlorite, potassium hypochlorite, calcium hypochlorite, and other oxoacid salts such as hydrochloric acid. Inorganic salts such as hydrides, lithium salts, sodium salts, potassium salts, barium salts, strontium salts, ammonium salts, zirconium salts, aluminum salts, magnesium salts, calcium salts, and the like can be used. Among these, it is preferable to use one or more chlorine compounds selected from the group consisting of sodium chloride, ammonium chloride, potassium chloride, and calcium chloride.

また、導電性ペーストは、レオロジーコントロール剤、密着性付与剤、脱泡剤などの添加剤を含んでもよい。   Further, the conductive paste may contain additives such as a rheology control agent, an adhesion imparting agent, and a defoaming agent.

なお、導電性ペーストを、攪拌脱泡ミキサー、三本ロールミル、遊星ボールミル、ビーズミル、乳鉢などにより、混練脱泡を行うのが好ましい。   The conductive paste is preferably kneaded and defoamed with a stirring defoaming mixer, a three-roll mill, a planetary ball mill, a bead mill, a mortar, or the like.

また、本発明による導電膜の製造方法の実施の形態では、上記の導電性ペーストを基板に塗布して予備焼成した後、光を照射して焼成することにより基板上に導電膜を形成する。   In the embodiment of the method for producing a conductive film according to the present invention, the conductive paste is applied to the substrate, pre-baked, and then irradiated with light to form the conductive film on the substrate.

この導電膜の製造方法において、導電性ペーストの塗布は、スクリーン印刷によって行われるのが好ましい。また、予備焼成は、真空乾燥機やIRランプヒーターなどにより加熱することによって行われるのが好ましい。真空乾燥機によって予備焼成を行う場合には、50〜200℃で10〜180分間真空乾燥するのが好ましく、IRランプヒーターによって予備焼成を行う場合には、大気中において熱量140〜600Jで5〜20秒間加熱するのが好ましい。また、光の照射は、パルス周期500〜2000μs、パルス電圧1600〜3800Vで波長200〜800nmの光を照射することによって行われるのが好ましい。この光照射は、キセノンフラッシュランプなどにより光を照射して行うことができ、大気中において短時間で行うことができ、複数回行ってもよい。この光照射により導電性が良好な導電膜を形成することができる。   In this method for producing a conductive film, the conductive paste is preferably applied by screen printing. The pre-baking is preferably performed by heating with a vacuum dryer or an IR lamp heater. When pre-baking with a vacuum dryer, it is preferable to vacuum dry at 50 to 200 ° C. for 10 to 180 minutes, and when pre-baking with an IR lamp heater, a heat quantity of 140 to 600 J in the atmosphere is 5 to 5. Heating for 20 seconds is preferred. The light irradiation is preferably performed by irradiating light having a wavelength of 200 to 800 nm with a pulse period of 500 to 2000 μs and a pulse voltage of 1600 to 3800 V. This light irradiation can be performed by irradiating light with a xenon flash lamp or the like, can be performed in the air in a short time, and may be performed a plurality of times. A conductive film with favorable conductivity can be formed by this light irradiation.

また、光照射により基材上に形成された導電膜を圧縮処理するのが好ましい。この圧縮処理は、基材上に形成された導電膜をロールにより加圧することによって行うのが好ましい。この圧縮処理により、平均膜厚1〜30μmで導電性および基材との密着性が良好な導電膜を形成することができる。   Moreover, it is preferable to compress the electrically conductive film formed on the base material by light irradiation. This compression treatment is preferably performed by pressing the conductive film formed on the substrate with a roll. By this compression treatment, a conductive film having an average film thickness of 1 to 30 μm and good conductivity and adhesion to the substrate can be formed.

なお、本明細書中において、銅微粒子の「平均粒径」とは、電界放出型走査電子顕微鏡(FE−SEM)から算出される平均一次粒子径をいう。この「平均一次粒子径」については、例えば、銅微粒子または銅粗粒子を電界放出型走査電子顕微鏡(FE−SEM)(株式会社日立製作所製のS−4700)により観察し、無作為に設定した観察視野内において、銅微粒子または銅粗粒子の全体像を表す輪郭が把握できる全ての粒子(すなわち、粒子の一部が他の粒子に遮られているか視野外にはみ出ているために粒子の輪郭が把握できない粒子を除く全ての粒子)を選択し、この選択した粒子のうちの(200個以上の)総数Nの粒子の各々について、FE−SEM画像における粒子の輪郭からその粒子の投影面積Sを求め、その投影面積Sと等しい面積の円の直径Dを求め、この直径Dの和を総数Nで除した値を平均一次粒子径として算出することができる。   In the present specification, the “average particle diameter” of the copper fine particles refers to an average primary particle diameter calculated from a field emission scanning electron microscope (FE-SEM). About this "average primary particle diameter", for example, copper fine particles or copper coarse particles were observed with a field emission scanning electron microscope (FE-SEM) (S-4700 manufactured by Hitachi, Ltd.) and set at random. Within the observation field, all the particles that can grasp the outline representing the overall image of copper fine particles or copper coarse particles (that is, the particle contours because some of the particles are obstructed by other particles or are out of the field of view) All particles excluding particles that cannot be grasped) are selected, and for each of the total number N (of 200 or more) of the selected particles, the projected area S of the particles is determined from the particle outline in the FE-SEM image. The diameter D of a circle having an area equal to the projected area S is obtained, and a value obtained by dividing the sum of the diameters D by the total number N can be calculated as the average primary particle diameter.

以下、本発明による導電性ペーストおよびそれを用いた導電膜の製造方法の実施例について詳細に説明する。   Hereinafter, the Example of the electrically conductive paste by this invention and the manufacturing method of the electrically conductive film using the same is described in detail.

[実施例1]
まず、銅源として硫酸銅五水和物(JX日鉱日石金属株式会社製)280gと、分散剤としてベンゾトリアゾール(BTA)(和光純薬工業株式会社製)1gとを純水1330gに溶解した溶液Aと、中和剤として50質量%の苛性ソーダ水溶液(和光純薬工業株式会社製)200gを純水900gで希釈した溶液Bと、還元剤として80質量%のヒドラジン一水和物(大塚化学株式会社製)150gを純水1300gで希釈した溶液Cを用意した。
[Example 1]
First, 280 g of copper sulfate pentahydrate (manufactured by JX Nippon Mining & Metals) as a copper source and 1 g of benzotriazole (BTA) (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) as a dispersant were dissolved in 1330 g of pure water. Solution A, Solution B obtained by diluting 200 g of 50% by weight aqueous caustic soda solution (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) as a neutralizing agent with 900 g of pure water, and 80% by weight hydrazine monohydrate (Otsuka Chemical) as a reducing agent A solution C prepared by diluting 150 g with a product of 1300 g of pure water was prepared.

次に、溶液Aと溶液Bを攪拌しながら混合し、60℃の温度に調整した後、攪拌を維持したまま、この混合溶液に溶液Cを30秒以内で全量添加して、約5分程度で反応が終了した。この反応で生成したスラリーを固液分離して得られた固形分にエチレングリコール(EG)(和光純薬工業株式会社製)を通液して、BTA被覆銅微粒子がエチレングリコールに分散した分散液を得た。この分散液中の銅微粒子を電界放出型走査電子顕微鏡(FE−SEM)(株式会社日立製作所製のS−4700)で観察したところ、図2に示すように、(BTAで被覆された)略球形の微粒子であり、平均粒径を算出すると、46.1nmであった。また、この分散液のN中における示差分析により、分散液中の銅の含有量を求めたところ、85.3質量%であった。 Next, the solution A and the solution B are mixed with stirring, adjusted to a temperature of 60 ° C., and with the stirring maintained, the entire amount of the solution C is added to the mixed solution within 30 seconds. The reaction was complete. Dispersion in which ethylene glycol (EG) (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) is passed through the solid content obtained by solid-liquid separation of the slurry produced by this reaction, and BTA-coated copper fine particles are dispersed in ethylene glycol. Got. When the copper fine particles in this dispersion were observed with a field emission scanning electron microscope (FE-SEM) (S-4700, manufactured by Hitachi, Ltd.), as shown in FIG. It was a spherical fine particle, and the average particle size was calculated to be 46.1 nm. Further, by a differential analysis in N 2 in the dispersion was determined the content of copper in the dispersion was 85.3 wt%.

また、電解銅粉(福田金属箔粉工業社製のFCC−115(D50=20.4μm))を用意し、この銅粉に対して0.5質量%のステアリン酸を混合して、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、このステアリン酸で被覆した銅粉870gを窒素雰囲気中において振動ミルMB−1(中央化工機株式会社製)で60分間粉砕し、目開き50μmで篩分けして、図3に示すようなフレーク状銅粗粒子を得た。 Moreover, electrolytic copper powder (FCC-115 (D 50 = 20.4 μm) manufactured by Fukuda Metal Foil Powder Industry Co., Ltd.) was prepared, and 0.5% by mass of stearic acid was mixed with the copper powder to produce stearin. After obtaining copper powder coated with acid, 870 g of copper powder coated with stearic acid was pulverized in a nitrogen atmosphere with vibration mill MB-1 (manufactured by Chuo Kako Co., Ltd.) for 60 minutes, and sieved with an opening of 50 μm. Thus, flaky copper coarse particles as shown in FIG. 3 were obtained.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を求めたところ、BET比表面積は0.57m/g、タップ密度は3.6g/cm、酸素含有量は0.27質量%、炭素含有量は0.36質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は2.2μm、累積50%粒子径(D50)は5.7μm、累積90%粒子径(D90)は12.5μm、標準偏差(SD)は4.0μm、D90/D10は5.6、SD/D90は0.70であった。なお、銅粗粒子のBET比表面積は、BET比表面積測定装置(ユアサイオニクス株式会社製の4ソーブUS)を用いてBET1点法により求めた。また、銅粗粒子のタップ密度は、特開2007−263860号公報に記載された方法と同様に、銅粗粒子を内径6mmの有底円筒形の容器に充填して銅粉層を形成し、この銅粉層に上部から0.16N/mの圧力を加えた後、銅粉層の高さを測定し、この銅粉層の高さの測定値と、充填された銅粉の重量とから、銅粗粒子の密度を求めて、銅粗粒子のタップ密度とした。また、銅粗粒子中の酸素含有量は酸素・窒素分析装置(LECO社製のTC−436型)により測定し、銅粗粒子中の炭素含有量は炭素・硫黄分析装置(堀場製作所製のEMIA−220V)により測定し、銅粗粒子の粒度分布は、銅粗粒子0.3gをイソプロピルアルコール30mLに加えて5分間超音波分散した試料を使用し、レーザー回折式粒度分布測定装置(マイクロトラック・ベル株式会社製のMT3300EXII)により全反射モードにおいて体積基準で測定した。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined. The BET specific surface area was 0.57 m 2 / g and the tap density was 3 0.6 g / cm 3 , the oxygen content was 0.27% by mass, and the carbon content was 0.36% by mass. The cumulative 10% particle diameter (D 10 ) is 2.2 μm, the cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is 5.7 μm, the cumulative 90% particle diameter (D 90 ) is 12.5 μm, and the standard deviation (SD) is It was 4.0 μm, D 90 / D 10 was 5.6, and SD / D 90 was 0.70. In addition, the BET specific surface area of the copper coarse particle was calculated | required by the BET 1-point method using the BET specific surface area measuring apparatus (4 Sorb US made from a Yua sonics company). Further, the tap density of the coarse copper particles is formed by filling the coarse copper particles into a bottomed cylindrical container having an inner diameter of 6 mm to form a copper powder layer, as in the method described in JP-A-2007-263860. After applying a pressure of 0.16 N / m 2 from the top to the copper powder layer, the height of the copper powder layer is measured, the measured value of the height of the copper powder layer, the weight of the filled copper powder, From this, the density of the copper coarse particles was determined and used as the tap density of the copper coarse particles. The oxygen content in the copper coarse particles was measured with an oxygen / nitrogen analyzer (TC-436 type manufactured by LECO), and the carbon content in the copper coarse particles was measured with a carbon / sulfur analyzer (EMIA manufactured by Horiba, Ltd.). -220V), the particle size distribution of the copper coarse particles was obtained by adding a sample of 0.3 g of copper coarse particles to 30 mL of isopropyl alcohol and ultrasonically dispersing for 5 minutes. MT3300EXII manufactured by Bell Co., Ltd.) was measured on a volume basis in the total reflection mode.

次に、上記のBTA被覆銅微粒子の分散液51.3gに、(BTA被覆銅微粒子との質量の割合が60:40になるように)上記のフレーク状銅粗粒子29.2gを添加し、分散剤としてナフタレンスルホン酸ホルムアルデヒド縮合物アンモニウム塩からなる界面活性剤(花王ケミカル社製のデモールNL)5.5g(Cuに対する分散剤の有効成分の割合は3.0質量%)を添加し、60質量%のポリビニルピロリドン(PVP)樹脂(第一工業製薬株式会社製のピッツコールK−30、重量平均分子量45,000)を含むエチレングリコール溶液5.5g(Cuに対する樹脂の割合は4.5質量%)を添加し、塩素化合物として5質量%の塩化ナトリウム(NaCl)(和光純薬工業株式会社製)がエチレングリコールに溶解した塩素化合物溶液4.4g(Cuに対するClの質量の割合(Cl/Cu)は0.35質量%)を添加し、さらに(Cu濃度が73.0質量%になるように)エチレングリコール4.12gを添加した後、自公転式真空攪拌脱泡ミキサ(株式会社EME製のV−mini300)により自転1400rpmで60秒間回転させて、BTA被覆銅微粒子およびフレーク状銅粗粒子が均一になるように混練脱泡し、その後、三本ロールをパスしてBTA被覆銅微粒子およびフレーク状銅粗粒子を均一に分散させることによって、導電フィラーとしてのBTA被覆銅微粒子(導電フィラー1)とフレーク状銅粉(導電フィラー2)(Cu濃度73.0質量%)と0.22質量%のNaClを含む導電性ペースト100gを得た。   Next, 29.2 g of the flaky copper coarse particles are added to 51.3 g of the BTA-coated copper fine particle dispersion (so that the mass ratio of the BTA-coated copper fine particles is 60:40). As a dispersant, 5.5 g of a surfactant made of ammonium salt of formaldehyde condensate of naphthalene sulfonate (Demol NL manufactured by Kao Chemical Co.) (the ratio of the active ingredient of the dispersant to Cu is 3.0% by mass), 60 5.5 g of ethylene glycol solution containing mass% polyvinyl pyrrolidone (PVP) resin (Pitzkol K-30 manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd., weight average molecular weight 45,000) (the ratio of the resin to Cu is 4.5 mass) Chlorine in which 5% by mass of sodium chloride (NaCl) (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) is dissolved in ethylene glycol as a chlorine compound 4.4 g of the compound solution (the ratio of the mass of Cl to Cu (Cl / Cu) is 0.35 mass%), and further (to make the Cu concentration 73.0 mass%) 4.12 g of ethylene glycol And then rotating for 60 seconds at 1400 rpm with a self-revolving vacuum stirring and defoaming mixer (V-mini300 manufactured by EME Co., Ltd.) so that the BTA-coated copper fine particles and the flaky copper coarse particles become uniform. After defoaming, the BTA-coated copper fine particles (conductive filler 1) and the flaky copper powder (conductive filler) are dispersed by passing three rolls and uniformly dispersing the BTA-coated copper fine particles and the flaky copper coarse particles. 100 g of conductive paste containing conductive filler 2) (Cu concentration 73.0 mass%) and 0.22 mass% NaCl was obtained.

次に、スクリーン版(株式会社ソノコム製のST200−40−80、メッシュ数200LPI、線径40μm、紗厚80μm、乳剤厚10μmのスクリーン版)を使用し、基材としての塗工紙(三菱製紙製のDFカラーM70)上の70mm×15mm程度の大きさの領域内に、上記の導電性ペーストを導電長146mmの図1に示す形状(全長69.8mm、全幅14.6mm、線幅約0.7mmのRFIDアンテナ10の形状、参照符号11はICチップ実装部を示す)にスクリーン印刷し、予備焼成として真空乾燥機により100℃で60分の真空乾燥した後、パルス照射装置(Xenon社製のSinteron2000)を使用して、大気雰囲気中においてパルス周期2000μs、パルス電圧2900Vでキセノンフラッシュランプにより波長200〜800nmの光を照射して焼成することによって(RFIDアンテナ10の形状の)導電膜を得た。この導電膜の電気抵抗(ライン抵抗)をテスター(CUSTOM社製の型式CDM−03D)により測定したところ、2.7Ωであった。   Next, using a screen plate (ST200-40-80 manufactured by Sonocom Co., Ltd., screen plate having a mesh number of 200 LPI, a wire diameter of 40 μm, a thickness of 80 μm, and an emulsion thickness of 10 μm), coated paper (Mitsubishi Paper) In the region of the size of about 70 mm × 15 mm on the DF color M70 made of the above, the above-mentioned conductive paste is formed into the shape shown in FIG. 1 having a conductive length of 146 mm (total length 69.8 mm, total width 14.6 mm, line width about 0) .7mm RFID antenna 10 shape (reference numeral 11 indicates an IC chip mounting portion) is screen-printed, and preliminarily baked in a vacuum dryer for 60 minutes at 100 ° C. Xenon flash run with a pulse period of 2000 μs and a pulse voltage of 2900 V in an air atmosphere. The conductive film (in the shape of the RFID antenna 10) was obtained by irradiating with a light having a wavelength of 200 to 800 nm and firing. The electric resistance (line resistance) of this conductive film was measured by a tester (model CDM-03D manufactured by CUSTOM) and found to be 2.7Ω.

次に、得られた導電膜と基材との密着性を高めるために、導電膜を基材とともに、ロールプレス機のワークロール(外部のヒータにより表面温度を制御可能な直径400mmのスチールロール)間に、線圧(ロールの軸方向の単位長さ当たりの荷重)1818N/mm、ロールの周速1/分、ロールの表面温度180℃として通過させて加圧することによって、圧縮処理を行った。このようにして圧縮処理を行った導電膜の断面のFE−SEM写真において無作為に選んだ5か所の膜厚の平均値として平均膜厚を求めたところ、圧縮処理後の導電膜の平均膜厚は10.5μmであった。また、この圧縮処理後の導電膜の電気抵抗(ライン抵抗)をテスター(CUSTOM社製の型式CDM−03D)により測定したところ、1.4Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は52%(=1.4×100/2.7)であった。   Next, in order to improve the adhesion between the obtained conductive film and the base material, the work roll of the roll press machine together with the base material (steel roll having a diameter of 400 mm whose surface temperature can be controlled by an external heater). In the meantime, the compression treatment was performed by passing and pressurizing as linear pressure (load per unit length in the axial direction of the roll) 1818 N / mm, peripheral speed 1 / min of roll, and surface temperature of roll 180 ° C. . When the average film thickness was determined as the average value of the five film thicknesses randomly selected in the FE-SEM photograph of the cross section of the conductive film thus subjected to the compression treatment, the average of the conductive films after the compression treatment was obtained. The film thickness was 10.5 μm. The electrical resistance (line resistance) of the conductive film after the compression treatment was measured by a tester (model CDM-03D manufactured by CUSTOM), which was 1.4Ω, and the rate of change in electrical resistance due to the compression treatment was 52%. (= 1.4 × 100 / 2.7).

次に、耐候性試験として、圧縮処理後の導電膜を温度85℃、湿度85%に設定した恒温恒湿装置内で168時間保持した後、導電膜の電気抵抗をテスター(CUSTOM社製の型式CDM−03D)により測定したところ、2.2Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は157%(=2.2×100/1.4)であった。   Next, as a weather resistance test, the conductive film after the compression treatment was held in a constant temperature and humidity apparatus set at a temperature of 85 ° C. and a humidity of 85% for 168 hours, and then the electric resistance of the conductive film was measured by a tester (model made by CUSTOM). When measured by CDM-03D), it was 2.2Ω, and the rate of change in electrical resistance by the weather resistance test was 157% (= 2.2 × 100 / 1.4).

[実施例2]
ステアリン酸に代えてパルミチン酸を使用した以外は、実施例1と同様の方法により、パルミチン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Example 2]
Except for using palmitic acid in place of stearic acid, by the same method as in Example 1, after obtaining copper powder coated with palmitic acid, flaky copper coarse particles were obtained.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.90m/g、タップ密度は3.3g/cm、酸素含有量は0.40質量%、炭素含有量は0.39質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は2.5μm、累積50%粒子径(D50)は6.6μm、累積90%粒子径(D90)は15.2μm、標準偏差(SD)は4.8μm、D90/D10は6.2、SD/D90は0.73であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined in the same manner as in Example 1. The BET specific surface area was 0.90 m. 2 / g, the tap density was 3.3 g / cm 3 , the oxygen content was 0.40 mass%, and the carbon content was 0.39 mass%. The cumulative 10% particle size (D 10 ) is 2.5 μm, the cumulative 50% particle size (D 50 ) is 6.6 μm, the cumulative 90% particle size (D 90 ) is 15.2 μm, and the standard deviation (SD) is It was 4.8 μm, D 90 / D 10 was 6.2, and SD / D 90 was 0.73.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2850Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.7Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, after using this conductive paste, pulse voltage was set to 2850V, Example When the electrical resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 2.7Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.8Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は67%(=1.8×100/2.7)であった。   The obtained conductive film was subjected to compression treatment in the same manner as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 1.8Ω, and the rate of change in electrical resistance due to compression treatment was It was 67% (= 1.8 × 100 / 2.7).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、4.4Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は244%(=4.4×100/1.8)であった。なお、この耐候性試験後の電気抵抗の変化率が300%以下であれば、紙基材を用いたRFIDアンテナとして実用的に優れた耐候性を有する導電膜であると評価することができる。   Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The change rate of was 244% (= 4.4 × 100 / 1.8). In addition, if the change rate of the electrical resistance after this weather resistance test is 300% or less, it can be evaluated that the conductive film has practically excellent weather resistance as an RFID antenna using a paper substrate.

[実施例3]
粉砕時間を15分間とした以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Example 3]
Except for the pulverization time being 15 minutes, flaky copper coarse particles were obtained by the same method as in Example 1 after obtaining copper powder coated with stearic acid.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.45m/g、タップ密度は3.2g/cm、酸素含有量は0.26質量%、炭素含有量は0.37質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は3.0μm、累積50%粒子径(D50)は7.4μm、累積90%粒子径(D90)は14.4μm、標準偏差(SD)は4.6μm、D90/D10は4.8、SD/D90は0.63であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined by the same method as in Example 1. The BET specific surface area was 0.45 m. 2 / g, the tap density was 3.2 g / cm 3 , the oxygen content was 0.26 mass%, and the carbon content was 0.37 mass%. The cumulative 10% particle diameter (D 10 ) is 3.0 μm, the cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is 7.4 μm, the cumulative 90% particle diameter (D 90 ) is 14.4 μm, and the standard deviation (SD) is It was 4.6 μm, D 90 / D 10 was 4.8, and SD / D 90 was 0.63.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2930Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.9Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, this Example is used except that this conductive paste was used and the pulse voltage was set to 2930V. When the electric resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 2.9Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.5Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は52%(=1.5×100/2.9)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. It was 52% (= 1.5 × 100 / 2.9).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.9Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は193%(=2.9×100/1.5)であった。   Moreover, about the electrically conductive film which carried out the compression process, after performing a weather resistance test by the method similar to Example 1, when the electrical resistance of a conductive film was measured, it was 2.9 (ohm), and the electrical resistance by a weather resistance test is The rate of change was 193% (= 2.9 × 100 / 1.5).

[実施例4]
粉砕時間を30分間とした以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Example 4]
Except that the pulverization time was 30 minutes, by the same method as in Example 1, after obtaining copper powder coated with stearic acid, flaky copper coarse particles were obtained.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.53m/g、タップ密度は3.4g/cm、酸素含有量は0.31質量%、炭素含有量は0.38質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は2.5μm、累積50%粒子径(D50)は6.3μm、累積90%粒子径(D90)は13.2μm、標準偏差(SD)は4.2μm、D90/D10は5.2、SD/D90は0.67であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined by the same method as in Example 1. The BET specific surface area was 0.53 m. 2 / g, the tap density was 3.4 g / cm 3 , the oxygen content was 0.31% by mass, and the carbon content was 0.38% by mass. The cumulative 10% particle size (D 10 ) is 2.5 μm, the cumulative 50% particle size (D 50 ) is 6.3 μm, the cumulative 90% particle size (D 90 ) is 13.2 μm, and the standard deviation (SD) is It was 4.2 μm, D 90 / D 10 was 5.2, and SD / D 90 was 0.67.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2870Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.2Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, this Example is used except that this conductive paste was used and the pulse voltage was changed to 2870V. When the electric resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 2.2Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.5Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は68%(=1.5×100/2.2)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. It was 68% (= 1.5 × 100 / 2.2).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、3.3Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は220%(=3.3×100/1.5)であった。   Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The change rate of was 220% (= 3.3 × 100 / 1.5).

[実施例5]
粉砕時間を90分間とした以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Example 5]
Except that the pulverization time was 90 minutes, flaky copper coarse particles were obtained by the same method as in Example 1 after obtaining copper powder coated with stearic acid.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は1.17m/g、タップ密度は3.4g/cm、酸素含有量は0.51質量%、炭素含有量は0.39質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は3.0μm、累積50%粒子径(D50)は8.0μm、累積90%粒子径(D90)は19.9μm、標準偏差(SD)は6.5μm、D90/D10は6.6、SD/D90は0.82であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined by the same method as in Example 1. The BET specific surface area was 1.17 m. 2 / g, the tap density was 3.4 g / cm 3 , the oxygen content was 0.51% by mass, and the carbon content was 0.39% by mass. The cumulative 10% particle diameter (D 10 ) is 3.0 μm, the cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is 8.0 μm, the cumulative 90% particle diameter (D 90 ) is 19.9 μm, and the standard deviation (SD) is It was 6.5 μm, D 90 / D 10 was 6.6, and SD / D 90 was 0.82.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2930Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.8Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, this Example is used except that this conductive paste was used and the pulse voltage was set to 2930V. When the electrical resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 2.8Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.6Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は57%(1.6×100/2.8)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 1.6Ω. It was 57% (1.6 × 100 / 2.8).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.9Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は181%(=2.9×100/1.6)であった。   The conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured to be 2.9Ω. The change rate of was 181% (= 2.9 × 100 / 1.6).

[実施例6]
粉砕時間を120分間とした以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Example 6]
Except for the pulverization time being 120 minutes, flake-like copper coarse particles were obtained by the same method as in Example 1 after obtaining copper powder coated with stearic acid.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.84m/g、タップ密度は3.3g/cm、酸素含有量は0.54質量%、炭素含有量は0.39質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は6.5μm、累積50%粒子径(D50)は19.9μm、累積90%粒子径(D90)は37.0μm、標準偏差(SD)は12.8μm、D90/D10は5.7、SD/D90は0.64であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined in the same manner as in Example 1. The BET specific surface area was 0.84 m. 2 / g, the tap density was 3.3 g / cm 3 , the oxygen content was 0.54 mass%, and the carbon content was 0.39 mass%. The cumulative 10% particle diameter (D 10 ) is 6.5 μm, the cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is 19.9 μm, the cumulative 90% particle diameter (D 90 ) is 37.0 μm, and the standard deviation (SD) is It was 12.8 μm, D 90 / D 10 was 5.7, and SD / D 90 was 0.64.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2810Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、3.0Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, this Example is used except that this conductive paste was used and the pulse voltage was changed to 2810V. When the electrical resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 3.0Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.7Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は57%(=1.7×100/3.0)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 1.7Ω. It was 57% (= 1.7 × 100 / 3.0).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、4.9Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は288%=4.9×100/1.7)であった。   Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test by the same method as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The rate of change was 288% = 4.9 × 100 / 1.7).

[実施例7]
電解銅粉(JX日鉱日石金属株式会社製の♯6(D50=20.7μm))を使用した以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Example 7]
After obtaining a copper powder coated with stearic acid by the same method as in Example 1 except that electrolytic copper powder (# 6 (D 50 = 20.7 μm) manufactured by JX Nippon Mining & Metals Co., Ltd.) was used. Thus, flaky copper coarse particles were obtained.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.88m/g、タップ密度は3.0g/cm、酸素含有量は0.41質量%、炭素含有量は0.39質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は4.9μm、累積50%粒子径(D50)は12.8μm、累積90%粒子径(D90)は25.6μm、標準偏差(SD)は8.2μm、D90/D10は5.2、SD/D90は0.64であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined in the same manner as in Example 1. The BET specific surface area was 0.88 m. 2 / g, the tap density was 3.0 g / cm 3 , the oxygen content was 0.41% by mass, and the carbon content was 0.39% by mass. The cumulative 10% particle diameter (D 10 ) is 4.9 μm, the cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is 12.8 μm, the cumulative 90% particle diameter (D 90 ) is 25.6 μm, and the standard deviation (SD) is It was 8.2 μm, D 90 / D 10 was 5.2, and SD / D 90 was 0.64.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2940Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.9Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, after using this conductive paste, pulse voltage was set to 2940V Example When the electrical resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 1.9Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.4Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は74%(=1.4×100/1.9)であった。   The obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 1.4Ω, and the rate of change in electrical resistance due to compression treatment was It was 74% (= 1.4 × 100 / 1.9).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、3.4Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は243%(=3.4×100/1.4)であった。   Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The change rate of was 243% (= 3.4 × 100 / 1.4).

[実施例8]
電解銅粉(福田金属箔粉工業株式会社製のCE−20(D50=44.0μm))を使用した以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Example 8]
A copper powder coated with stearic acid was obtained in the same manner as in Example 1 except that electrolytic copper powder (CE-20 manufactured by Fukuda Metal Foil Powder Co., Ltd. (D 50 = 44.0 μm)) was used. Thereafter, flaky copper coarse particles were obtained.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.74m/g、タップ密度は2.8g/cm、酸素含有量は0.38質量%、炭素含有量は0.35質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は8.5μm、累積50%粒子径(D50)は21.4μm、累積90%粒子径(D90)は38.2μm、標準偏差(SD)は12.1μm、D90/D10は4.5、SD/D90は0.57であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined by the same method as in Example 1. The BET specific surface area was 0.74 m. 2 / g, the tap density was 2.8 g / cm 3 , the oxygen content was 0.38% by mass, and the carbon content was 0.35% by mass. Further, the cumulative 10% particle size (D 10 ) is 8.5 μm, the cumulative 50% particle size (D 50 ) is 21.4 μm, the cumulative 90% particle size (D 90 ) is 38.2 μm, and the standard deviation (SD) is 12.1 μm, D 90 / D 10 was 4.5, and SD / D 90 was 0.57.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2930Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.2Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, this Example is used except that this conductive paste was used and the pulse voltage was set to 2930V. When the electric resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 2.2Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.4Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は64%(=1.4×100/2.2)であった。   The obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 1.4Ω, and the rate of change in electrical resistance due to compression treatment was It was 64% (= 1.4 × 100 / 2.2).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、3.6Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は257%(=3.6×100/1.4)であった。   Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The change rate of was 257% (= 3.6 × 100 / 1.4).

[実施例9]
電解銅粉に代えて湿式銅粉(DOWAエレクトロニクス株式会社製、D50=3.0μm)を使用し、ステアリン酸の添加量を1.0質量%とし、粉砕時間を200分間とした以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Example 9]
Wet copper powder (DOWA Electronics Co., Ltd., D 50 = 3.0 [mu] m) in place of the electrolytic copper powder using, except that the addition amount of stearic acid and 1.0 wt%, and the milling time was between 200 minutes, After obtaining copper powder coated with stearic acid by the same method as in Example 1, flaky copper coarse particles were obtained.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.98m/g、タップ密度は3.7g/cm、酸素含有量は0.53質量%、炭素含有量は0.77質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は2.2μm、累積50%粒子径(D50)は4.3μm、累積90%粒子径(D90)は8.0μm、標準偏差(SD)は2.2μm、D90/D10は3.7、SD/D90は0.50であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined in the same manner as in Example 1. The BET specific surface area was 0.98 m. 2 / g, the tap density was 3.7 g / cm 3 , the oxygen content was 0.53% by mass, and the carbon content was 0.77% by mass. The cumulative 10% particle size (D 10 ) is 2.2 μm, the cumulative 50% particle size (D 50 ) is 4.3 μm, the cumulative 90% particle size (D 90 ) is 8.0 μm, and the standard deviation (SD) is 2.2 μm, D 90 / D 10 was 3.7, and SD / D 90 was 0.50.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を3000Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.6Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, after using this conductive paste and setting pulse voltage to 3000V, it is Example. When the electrical resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 2.6Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.3Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は50%(=1.3×100/2.6)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 1.3Ω. It was 50% (= 1.3 × 100 / 2.6).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、3.5Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は269%(=3.5×100/1.3)であった。   In addition, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The change rate of was 269% (= 3.5 × 100 / 1.3).

[実施例10]
(BTA被覆銅微粒子とフレーク状銅粗粒子の質量の割合が30:70になるように)BTA被覆銅微粒子の分散液の量を25.7gとし、実施例1と同様のフレーク状銅粗粒子51.1gを添加した以外は、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2700Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.3Ωであった。
[Example 10]
(The BTA-coated copper fine particles and the flaky copper coarse particles have a mass ratio of 30:70) The amount of the BTA-coated copper fine particle dispersion is 25.7 g, and the flaky copper coarse particles are the same as in Example 1. Except that 51.1 g was added, a conductive paste was obtained by the same method as in Example 1, and then the same method as in Example 1 except that this conductive paste was used and the pulse voltage was changed to 2700 V. As a result, the electric resistance of the obtained conductive film was measured and found to be 2.3Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.7Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は74%(=1.7×100/2.3)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 1.7Ω. It was 74% (= 1.7 × 100 / 2.3).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、4.8Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は282%(=4.8×100/1.7)であった。   Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The change rate of was 282% (= 4.8 × 100 / 1.7).

[実施例11]
(BTA被覆銅微粒子とフレーク状銅粗粒子の質量の割合が50:50になるように)BTA被覆銅微粒子の分散液の量を42.8gとし、実施例1と同様のフレーク状銅粗粒子36.5gを添加した以外は、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2720Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、3.3Ωであった。
[Example 11]
(The ratio of the mass of the BTA-coated copper fine particles and the flaky copper coarse particles is 50:50) The amount of the BTA-coated copper fine particle dispersion is 42.8 g, and the same flaky copper coarse particles as in Example 1 Except for adding 36.5 g, after obtaining a conductive paste by the same method as in Example 1, the same method as in Example 1 except that this conductive paste was used and the pulse voltage was changed to 2720V. Thus, the electric resistance of the obtained conductive film was measured and found to be 3.3Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.5Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は45%(=1.5×100/3.3)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. It was 45% (= 1.5 × 100 / 3.3).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、3.5Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は233%(=3.5×100/1.5)であった。   In addition, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The rate of change was 233% (= 3.5 × 100 / 1.5).

[比較例1]
電解銅粉に代えて湿式銅粉(DOWAエレクトロニクス株式会社製、D50=3.0μm)を使用し、ステアリン酸の添加量を1.0質量%とし、粉砕時間を30分間とした以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Comparative Example 1]
Except for using wet copper powder (D 50 = 3.0 μm, manufactured by DOWA Electronics Co., Ltd.) instead of electrolytic copper powder, the addition amount of stearic acid was 1.0 mass%, and the grinding time was 30 minutes, After obtaining copper powder coated with stearic acid by the same method as in Example 1, flaky copper coarse particles were obtained.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.35m/g、タップ密度は4.5g/cm、酸素含有量は0.53質量%、炭素含有量は0.75質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は2.4μm、累積50%粒子径(D50)は3.7μm、累積90%粒子径(D90)は7.0μm、標準偏差(SD)は1.7μm、D90/D10は3.0、SD/D90は0.46であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined by the same method as in Example 1. The BET specific surface area was 0.35 m. 2 / g, the tap density was 4.5 g / cm 3 , the oxygen content was 0.53% by mass, and the carbon content was 0.75% by mass. The cumulative 10% particle size (D 10 ) is 2.4 μm, the cumulative 50% particle size (D 50 ) is 3.7 μm, the cumulative 90% particle size (D 90 ) is 7.0 μm, and the standard deviation (SD) is 1.7 μm, D 90 / D 10 was 3.0, and SD / D 90 was 0.46.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2950Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、114.0Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, after using this conductive paste, pulse voltage was set to 2950V Example When the electrical resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 114.0Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.4Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は2%(=2.4×100/114.0)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 2.4Ω. It was 2% (= 2.4 × 100 / 114.0).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、19.6Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は817%(=19.6×100/2.4)であった。   In addition, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured to be 19.6Ω. The change rate of was 817% (= 19.6 × 100 / 2.4).

[比較例2]
電解銅粉に代えて湿式銅粉(DOWAエレクトロニクス株式会社製、D50=6.0μm)を使用し、粉砕時間を100分間とした以外は、実施例1と同様の方法により、ステアリン酸で被覆した銅粉を得た後、フレーク状銅粗粒子を得た。
[Comparative Example 2]
Coated with stearic acid in the same manner as in Example 1 except that wet copper powder (D 50 = 6.0 μm, manufactured by DOWA Electronics Co., Ltd.) was used instead of electrolytic copper powder and the grinding time was 100 minutes. After obtaining the obtained copper powder, flaky copper coarse particles were obtained.

このようにして得られたフレーク状銅粗粒子のBET比表面積、タップ密度、酸素含有量、炭素含有量および粒度分布を実施例1と同様の方法により求めたところ、BET比表面積は0.46m/g、タップ密度は4.0g/cm、酸素含有量は0.40質量%、炭素含有量は0.41質量%であった。また、累積10%粒子径(D10)は4.4μm、累積50%粒子径(D50)は9.7μm、累積90%粒子径(D90)は16.1μm、標準偏差(SD)は4.4μm、D90/D10は3.6、SD/D90は0.46であった。 The BET specific surface area, tap density, oxygen content, carbon content and particle size distribution of the flaky copper coarse particles thus obtained were determined by the same method as in Example 1. As a result, the BET specific surface area was 0.46 m. 2 / g, the tap density was 4.0 g / cm 3 , the oxygen content was 0.40 mass%, and the carbon content was 0.41 mass%. The cumulative 10% particle size (D 10 ) is 4.4 μm, the cumulative 50% particle size (D 50 ) is 9.7 μm, the cumulative 90% particle size (D 90 ) is 16.1 μm, and the standard deviation (SD) is The thickness was 4.4 μm, D 90 / D 10 was 3.6, and SD / D 90 was 0.46.

また、上記のフレーク状銅粗粒子を使用して、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2920Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、2.7Ωであった。   Moreover, after obtaining conductive paste by the method similar to Example 1 using said flaky copper coarse particle, after using this conductive paste and setting pulse voltage to 2920V, Example When the electrical resistance of the obtained conductive film was measured by the same method as in Example 1, it was 2.7Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、1.6Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は59%(=1.6×100/2.7)であった。   Further, the obtained conductive film was subjected to compression treatment by the same method as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 1.6Ω. It was 59% (= 1.6 × 100 / 2.7).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、6.8Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は425%(=6.8×100/1.6)であった。   Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test by the same method as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 6.8Ω. The change rate of was 425% (= 6.8 × 100 / 1.6).

[比較例3]
(BTA被覆銅微粒子とフレーク状銅粗粒子の質量の割合が0:100になるように)BTA被覆銅微粒子の分散液を使用せず、実施例1と同様のフレーク状銅粗粒子73.0gを使用した以外は、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2850Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、24.9Ωであった。
[Comparative Example 3]
73.0 g of flaky copper coarse particles similar to Example 1 without using a dispersion of BTA-coated copper fine particles (so that the mass ratio of BTA-coated copper fine particles to flaky copper coarse particles is 0: 100) The conductive paste was obtained by the same method as in Example 1, except that the pulse voltage was changed to 2850 V using this conductive paste. The electric resistance of the obtained conductive film was measured and found to be 24.9Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、26.0Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は104%(=26.0×100/24.9)であった。   The obtained conductive film was subjected to compression treatment in the same manner as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 26.0Ω. It was 104% (= 26.0 × 100 / 24.9).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、369.2Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は1420%(=369.2×100/26.0)であった。   Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured to be 369.2 Ω. The change rate of was 1420% (= 369.2 × 100 / 26.0).

[比較例4]
(BTA被覆銅微粒子とフレーク状銅粗粒子の質量の割合が15:85になるように)BTA被覆銅微粒子の分散液の量を12.8gとし、実施例1と同様のフレーク状銅粗粒子62.1gを添加した以外は、実施例1と同様の方法により、導電性ペーストを得た後、この導電性ペーストを使用して、パルス電圧を2450Vとした以外は実施例1と同様の方法により、得られた導電膜の電気抵抗を測定したところ、10.0Ωであった。
[Comparative Example 4]
(The BTA-coated copper fine particles and the flaky copper coarse particles have a mass ratio of 15:85) The amount of the BTA-coated copper fine particles is 12.8 g, and the flaky copper coarse particles are the same as in Example 1. Except for adding 62.1 g, after obtaining a conductive paste by the same method as in Example 1, the same method as in Example 1 except that this conductive paste was used and the pulse voltage was changed to 2450V. Thus, the electric resistance of the obtained conductive film was measured and found to be 10.0Ω.

また、得られた導電膜について、実施例1と同様の方法により、圧縮処理を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、3.2Ωであり、圧縮処理による電気抵抗の変化率は32%(=3.2×100/10.0)であった。   The obtained conductive film was subjected to compression treatment in the same manner as in Example 1, and the electrical resistance of the conductive film was measured. As a result, it was 3.2Ω, and the rate of change in electrical resistance due to compression treatment was It was 32% (= 3.2 × 100 / 10.0).

また、圧縮処理を行った導電膜について、実施例1と同様の方法により、耐候性試験を行った後、導電膜の電気抵抗を測定したところ、20.8Ωであり、耐候性試験による電気抵抗の変化率は650%(=20.8×100/3.2)であった。
これらの実施例および比較例の導電性ペーストの製造条件および特性と、その導電性ペーストを使用した導電膜の製造条件および特性を表1〜表5に示す。
Further, the conductive film subjected to the compression treatment was subjected to a weather resistance test in the same manner as in Example 1, and then the electrical resistance of the conductive film was measured. The change rate of was 650% (= 20.8 × 100 / 3.2).
Tables 1 to 5 show the manufacturing conditions and characteristics of the conductive pastes of these Examples and Comparative Examples, and the manufacturing conditions and characteristics of the conductive films using the conductive paste.

Figure 2017069012
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本発明による導電性ペーストから製造した導電膜を使用して形成されたICタグ用アンテナなどのRFIDタグ用アンテナを組み込んで(ICチップとアンテナからなる)インレイを製造すれば、実用的な通信距離のICタグなどのRFIDタグを製造することができる。   When an inlay (consisting of an IC chip and an antenna) is manufactured by incorporating an RFID tag antenna such as an IC tag antenna formed using a conductive film manufactured from the conductive paste according to the present invention, a practical communication distance RFID tags such as IC tags can be manufactured.

10 RFIDアンテナ
11 ICチップ実装部
10 RFID antenna 11 IC chip mounting part

Claims (14)

平均粒径10〜100nmの銅微粒子と、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積50%粒子径(D50)が4〜25μmの銅粗粒子とを含み、銅粗粒子のタップ密度が3.9g/cm以下、レーザー回折式粒度分布測定装置により測定した体積基準の累積10%粒子径(D10)に対する累積90%粒子径(D90)の比か3.65以上であり、銅微粒子と銅粗粒子の総量に対する銅微粒子の質量の割合が20%以上であることを特徴とする、導電性ペースト。 A copper coarse particle tap comprising copper fine particles having an average particle diameter of 10 to 100 nm and copper coarse particles having a volume-based cumulative 50% particle diameter (D 50 ) of 4 to 25 μm measured by a laser diffraction particle size distribution analyzer. The density is 3.9 g / cm 3 or less, and the ratio of the cumulative 90% particle diameter (D 90 ) to the volume-based cumulative 10% particle diameter (D 10 ) measured by a laser diffraction particle size distribution analyzer is 3.65 or more. A conductive paste characterized in that the ratio of the mass of copper fine particles to the total amount of copper fine particles and copper coarse particles is 20% or more. 前記銅微粒子がアゾール化合物で被覆されていることを特徴とする、請求項1に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to claim 1, wherein the copper fine particles are coated with an azole compound. 前記アゾール化合物がベンゾトリアゾールであることを特徴とする、請求項2に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to claim 2, wherein the azole compound is benzotriazole. 前記導電性ペーストが溶剤と樹脂を含み、前記導電性ペースト中の前記銅微粒子と前記銅粗粒子の総量が50〜90質量%であることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれかに記載の導電性ペースト。 The conductive paste contains a solvent and a resin, and the total amount of the copper fine particles and the copper coarse particles in the conductive paste is 50 to 90% by mass. The conductive paste as described. 前記溶剤がグリコール系溶剤であることを特徴とする、請求項4に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to claim 4, wherein the solvent is a glycol-based solvent. 前記グリコール系溶剤がエチレングリコールであることを特徴とする、請求項5に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to claim 5, wherein the glycol solvent is ethylene glycol. 前記樹脂がポリビニルピロリドン樹脂であることを特徴とする、請求項4乃至6のいずれかに記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to claim 4, wherein the resin is a polyvinyl pyrrolidone resin. 請求項1乃至7のいずれかに記載の導電性ペーストを基材に塗布して予備焼成した後、光を照射して焼成することにより基材上に導電膜を形成することを特徴とする、導電膜の製造方法。 A conductive film is formed on a substrate by applying the conductive paste according to any one of claims 1 to 7 to a substrate and pre-baking, and then irradiating and baking light. Manufacturing method of electrically conductive film. 前記導電性ペーストの塗布がスクリーン印刷によって行われることを特徴とする、請求項8に記載の導電膜の製造方法。 The method for producing a conductive film according to claim 8, wherein the conductive paste is applied by screen printing. 前記予備焼成が50〜200℃で真空乾燥することによって行われることを特徴とする、請求項8または9に記載の導電膜の製造方法。 The method for producing a conductive film according to claim 8 or 9, wherein the preliminary baking is performed by vacuum drying at 50 to 200 ° C. 前記光の照射が、パルス周期500〜2000μs、パルス電圧1600〜3800Vで波長200〜800nmの光を照射することによって行われることを特徴とする、請求項8乃至10のいずれかに記載の導電膜の製造方法。 The conductive film according to claim 8, wherein the light irradiation is performed by irradiating light having a wavelength of 200 to 800 nm with a pulse period of 500 to 2000 μs and a pulse voltage of 1600 to 3800 V. Manufacturing method. 前記基材上に形成された導電膜を圧縮処理することを特徴とする、請求項8乃至11のいずれかに記載の導電膜の製造方法。 The method for producing a conductive film according to claim 8, wherein the conductive film formed on the base material is compressed. 前記圧縮処理が、前記基材上に形成された導電膜をロールにより加圧することによって行われることを特徴とする、請求項12に記載の導電膜の製造方法。 The method for producing a conductive film according to claim 12, wherein the compression treatment is performed by pressurizing the conductive film formed on the substrate with a roll. 前記圧縮処理後の導電膜の平均膜厚が1〜30μmであることを特徴とする、請求項12または13に記載の導電膜の製造方法。 The method for producing a conductive film according to claim 12 or 13, wherein an average film thickness of the conductive film after the compression treatment is 1 to 30 µm.
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