JP2017067684A - Foreign matter inspection device - Google Patents
Foreign matter inspection device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017067684A JP2017067684A JP2015195908A JP2015195908A JP2017067684A JP 2017067684 A JP2017067684 A JP 2017067684A JP 2015195908 A JP2015195908 A JP 2015195908A JP 2015195908 A JP2015195908 A JP 2015195908A JP 2017067684 A JP2017067684 A JP 2017067684A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- metal detection
- ray
- unit
- door
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 139
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 97
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 97
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 88
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 9
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 19
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000012905 input function Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
Description
本発明は、異物検査装置に関する。 The present invention relates to a foreign matter inspection apparatus.
特許文献1には、X線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出するX線検査と、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する金属検出との両方を行うことができる異物検査装置が記載されている。
In
上述したような異物検査装置では、X線の外部漏洩を抑制する筐体の内部に、X線検査部と共に金属検出部を収容する必要がある。ただし、金属検出部が筐体の内部に収容されていると、例えば金属検出部はX線検査部よりも重いのが通常であるため、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスが困難になる。 In the foreign substance inspection apparatus as described above, it is necessary to house the metal detection unit together with the X-ray inspection unit inside the housing that suppresses external leakage of X-rays. However, if the metal detection unit is housed inside the housing, for example, the metal detection unit is usually heavier than the X-ray inspection unit, so maintenance of the metal detection unit such as attachment / detachment of the metal detection unit to / from the apparatus is possible. Becomes difficult.
そこで、本発明は、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスの容易化を図ることができる異物検査装置を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a foreign object inspection apparatus capable of facilitating maintenance of a metal detection unit such as attachment / detachment of a metal detection unit to / from the apparatus.
本発明の異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、X線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、X線検査部、及び金属検出部を内部に収容し、X線検査部のX線の外部漏洩を抑制する筐体と、を備え、筐体には、当該筐体を開閉する第1扉部及び第2扉部が設けられており、第1扉部は、搬送部による被検査物の搬送方向に垂直な所定方向における一方の側に配置され、開けられた際に少なくとも金属検出部を外部に露出させ、第2扉部は、搬送部による被検査物の搬送方向に垂直な所定方向における他方の側に配置され、開けられた際に少なくとも金属検出部を外部に露出させる。 A foreign matter inspection apparatus according to the present invention includes a transport unit that transports an object to be inspected, an X-ray inspection unit that detects foreign matter contained in the test object being transported by the transport unit using X-ray transparency, and , A metal detection unit for detecting foreign matter contained in the object being transported by the transport unit using the interaction between the magnetic field and the metal, at least a part of the transport unit, an X-ray inspection unit, and metal detection And a housing that suppresses external leakage of X-rays of the X-ray inspection unit. The housing includes a first door portion and a second door portion that open and close the housing. The first door part is disposed on one side in a predetermined direction perpendicular to the conveyance direction of the inspection object by the conveyance part, and when opened, at least the metal detection part is exposed to the outside, and the second door part Is placed on the other side in a predetermined direction perpendicular to the conveyance direction of the object to be inspected by the conveyance unit and opened. Exposing at least a metal detection unit to the outside.
この異物検査装置では、第1扉部及び第2扉部を開けることで、搬送方向に垂直な所定方向における一方の側及び他方の側の両側から金属検出部にアクセスすることができる。よって、この異物検査装置によれば、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスの容易化を図ることが可能となる。 In this foreign matter inspection apparatus, by opening the first door portion and the second door portion, the metal detector can be accessed from both sides on one side and the other side in a predetermined direction perpendicular to the transport direction. Therefore, according to this foreign substance inspection device, it is possible to facilitate maintenance of the metal detection unit, such as attachment / detachment of the metal detection unit to / from the device.
本発明の異物検査装置では、所定方向は、搬送部による被検査物の搬送方向に垂直な水平方向であってもよい。これにより、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスの更なる容易化を図ることが可能となる。 In the foreign matter inspection apparatus of the present invention, the predetermined direction may be a horizontal direction perpendicular to the direction in which the inspection object is conveyed by the conveyance unit. Thereby, it becomes possible to further facilitate the maintenance of the metal detection unit such as the attachment / detachment of the metal detection unit to / from the apparatus.
本発明の異物検査装置では、第1扉部及び第2扉部のそれぞれは、開けられた際に搬送部の一部を外部に露出させてもよい。これにより、搬送方向に垂直な所定方向における一方の側及び他方の側の両側から搬送部の一部にアクセスすることができるので、搬送部の清掃等、搬送部のメンテナンスの容易化を図ることが可能となる。 In the foreign matter inspection apparatus of the present invention, each of the first door part and the second door part may expose a part of the transport part to the outside when opened. This makes it possible to access a part of the transport unit from one side and the other side in a predetermined direction perpendicular to the transport direction, thereby facilitating the maintenance of the transport unit, such as cleaning the transport unit. Is possible.
本発明の異物検査装置では、第1扉部及び第2扉部のそれぞれは、X線検査部及び金属検出部の電装部品の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能であってもよい。これにより、電装部品を保護しつつ金属検出部のメンテナンスを実施することができる。 In the foreign matter inspection apparatus of the present invention, each of the first door portion and the second door portion may be openable and closable while maintaining the shielding state of the electrical components of the X-ray inspection portion and the metal detection portion. Thereby, maintenance of a metal detection part can be implemented, protecting an electrical component.
本発明によれば、装置に対する金属検出部の着脱等、金属検出部のメンテナンスの容易化を図ることができる異物検査装置を提供することが可能となる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the foreign material inspection apparatus which can aim at the easy maintenance of a metal detection part, such as attachment or detachment of a metal detection part with respect to an apparatus.
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の説明において、同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the following description, the same or equivalent elements will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
図1は実施形態に係る異物検査装置1の正面図である。図1に示される異物検査装置1は、被検査物に含まれる異物を検出する装置である。被検査物は例えば食品である。異物検査装置1は、その内部において被検査物を搬送しつつX線検査及び金属検出を行い、被検査物に異物が含まれるか否かを検査する。
FIG. 1 is a front view of a foreign
X線検査は、X線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、X線検査部2(図2参照)によって実現される。X線検査では、被検査物とは異なるX線透過性を有する異物を検出することができる。一方、金属検出は、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、金属検出部3(図2参照)によって実現される。金属検出では金属異物を検出することができる。X線検査部2及び金属検出部3の詳細については後述する。
X-ray inspection is a technique for detecting foreign matter contained in an object to be inspected using X-ray transparency, and is realized by the X-ray inspection unit 2 (see FIG. 2). In the X-ray inspection, it is possible to detect a foreign substance having X-ray permeability different from that of the inspection object. On the other hand, metal detection is a technique for detecting a foreign substance contained in an inspection object using an interaction between a magnetic field and metal, and is realized by the metal detection unit 3 (see FIG. 2). In metal detection, a metal foreign object can be detected. Details of the
異物検査装置1は、その内部に空間が画成された筐体4を有する。筐体4は、X線検査部2及び金属検出部3を内部に収容する。筐体4は、X線検査部2により発生されるX線を遮蔽し、X線の外部漏洩を抑制する。筐体4は、例えばステンレスなどで形成される。
The foreign
筐体4は、本実施形態では箱状を呈している。筐体4の左側面には、筐体4の内部に連通する開口部4aが形成されている。同様に、筐体4の右側面には、筐体4の内部に連通する開口部4bが形成されている。本実施形態では、被検査物は、開口部4aから筐体4の内部へ搬入されて検査が行われ、開口部4bから筐体4の外部へ搬出される。つまり、開口部4aが被検査物の搬入口、開口部4bが被検査物の搬出口となる。
The
筐体4の前面には、筐体4を開閉する上部扉40及び下部扉(第1扉部)41が設けられている。上部扉40及び下部扉41は、例えば開き戸構造である。上部扉40又は下部扉41が開閉されることで、後述するX線検査部2及び金属検出部3の少なくとも一部が外部に露出される。上部扉40及び下部扉41は、例えばステンレスなどで形成される。
On the front surface of the
上部扉40の前面には、ディスプレイ5及び操作スイッチ6が設けられている。ディスプレイ5は、表示機能と入力機能を兼ね備えた表示装置であり、例えばタッチパネルである。ディスプレイ5は、X線検査及び金属検出の結果などを表示するとともに、金属検出及びX線検査に関する各種パラメータの設定を行う操作画面を表示する。操作スイッチ6は、X線検査部2及び金属検出部3の電源スイッチなどである。
A
筐体4は、支持台7によって支持されている。筐体4の上面には、報知部8及びクーラー9が設けられている。報知部8は、異物混入や機器の作動状態を報知する。報知部8は、X線検査部2に対応する第1報知器81、及び金属検出部3に対応する第2報知器82を備えている。クーラー9は、筐体4の内部に冷気を送り、筐体4の内部に配置された機器の温度を調整する。
The
図2は、図1に示される異物検査装置1の内部構成及び制御系を説明する概念図である。図2に示されるように、筐体4の内部は、後述するX線発生器の一部や構成要素の制御基板などが配置される基板室T1と、被検査物Sが搬入されて検査が行われる検査室T2とに区画されている。基板室T1は、上述したクーラー9によって温度調整されている。
FIG. 2 is a conceptual diagram illustrating the internal configuration and control system of the foreign
検査室T2には、被検査物Sを搬送するコンベヤ(搬送部)10が配置されている。コンベヤ10は、本実施形態ではローラ式のベルトコンベヤであり、一端部が開口部4aに位置し且つ他端部が開口部4bに位置した状態で、筐体4の内部を水平方向に延在している。つまり、筐体4は、コンベヤ10のうち一端部及び他端部を除く部分を内部に収容している。本実施形態のコンベヤ10は、開口部4aを介して被検査物Sを筐体4の内部に搬入し、開口部4bを介して被検査物Sを筐体4の外部に搬出する。
In the inspection room T2, a conveyor (conveying unit) 10 that conveys the inspection object S is disposed. The
開口部4aには、X線遮蔽カーテン42が配置されている。同様に、開口部4bには、X線遮蔽カーテン43が配置されている。X線遮蔽カーテン42,43は、上端が筐体4に対する固定端であり且つ下端が自由端である。X線遮蔽カーテン42,43は、X線検査部2が発生したX線を遮蔽し、X線の外部漏洩を抑制する。X線遮蔽カーテン42,43は、例えばタングステンを含有する可撓性材料などにより形成される。なお、被検査物Sの搬入及び搬出を自動化すべく、コンベヤ10の右側に搬入用コンベヤ11を配置し、コンベヤ10の左側に搬出用コンベヤ12を配置してもよい。また、搬出用コンベヤ12が、被検査物Sの振分機能を備えていてもよい。
An
検査室T2には、被検査物Sを通過させるための貫通穴31aが形成された環状体のケース31が配置されている。コンベヤ10は、貫通穴31aを介してケース31を貫通している。被検査物Sは、コンベヤ10によってケース31の貫通穴31aを通過し、ケース31においてX線検査及び金属検出が順次実行される。ケース31は、例えばステンレスなどで形成される。
In the inspection chamber T2, an
最初に、X線検査を行うX線検査部2について説明する。X線検査部2は、X線検査制御部20、X線発生器21、及びX線検出器22を備える。X線発生器21は、X線を発生するX線源、及びスリット機構を含む。X線検出器22は、X線発生器21で発生したX線を検出する。X線発生器21及びX線検出器22は、コンベヤ10及びケース31を上下方向から挟むように対向配置されている。なお、X線発生器21のうち、X線源などは基板室T1に配置され、X線を照射する機構が検査室T2に配置されている。X線検出器22としては、例えば複数のX線検出センサを前後方向に沿って並設したラインセンサが用いられる。X線検出器22は、X線漏洩を低減させるために、基板ケース23に収容されている。基板ケース23には、X線検出器22へX線を到達させるために、スリット23a(図4参照)が設けられている。
First, the
X線検査制御部20は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースI/O、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたROM(Read Only Memory)、データを一時的に記憶するRAM(RandomAccess Memory)、HDD(Hard Disk Drive)などの記憶媒体、CPU(Central Processing Unit)、及び通信回路などを有する。X線検査制御部20は、CPUが出力する信号に基づいて、入力データをRAMに記憶し、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
The X-ray
X線検査制御部20は、基板室T1に配置され、X線発生器21及びX線検出器22に接続されている。X線検査制御部20は、ディスプレイ5に接続され、操作画面を介して作業員から操作情報を受け付ける。X線検査制御部20は、操作情報に基づいてX線発生器21及びX線検出器22の動作プロファイルを設定するとともに、X線発生器21及びX線検出器22の動作を制御する。X線検査制御部20は、X線発生器21及びX線検出器22よりも上流側に配置されたレーザセンサ24を用いて被検査物Sを検出した場合、当該被検査物Sの検査を開始する。X線検査制御部20は、X線発生器21を制御して、コンベヤ10によって搬送されている被検査物SにX線を照射させる。X線検出器22は、被検査物Sを透過したX線のX線透過量を計測し、計測したX線透過量をX線検査制御部20へ出力する。
The X-ray
X線検査制御部20は、時系列で取得したX線透過量を画素値に反映させたX線透過画像を生成する。そして、X線検査制御部20は、画像処理技術によりX線透過画像を解析して、異物を検出する。例えば、X線検査制御部20は、X線透過画像の画素値に基づいて、被検査物Sの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在するか否かを判定する。そして、X線検査制御部20は、被検査物Sの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在する場合には、異物を検出したと判定する。
The X-ray
X線検査制御部20は、作業員からの要求に応じて、X線検査の結果データをディスプレイ5に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、X線検査制御部20は、X線発生器21及びX線検出器22が正常に作動している場合、第1報知器81を用いてX線検査に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、X線検査制御部20は、異物を検出したと判定した場合、第1報知器81を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。
The X-ray
図3は、図2のX線検査部2及び金属検出部3の主要構成の説明図である。図4は、図2のX線検査部2及び金属検出部3の主要構成の斜視図である。図3及び図4に示されるように、ケース31は、本体部32、第1フード部33、及び第2フード部34を有する。第1フード部33は、本体部32に対して開口部4a側(搬入口側)に設けられている。第2フード部34は、本体部32に対して開口部4b側(搬出口側)に設けられている。上述したケース31の貫通穴31aは、本体部32、第1フード部33、及び第2フード部34それぞれの内壁によって画成されている。
FIG. 3 is an explanatory diagram of the main components of the
第1フード部33の上面には、X線を通過させるX線通過スリット33aがX線発生器21の下方に位置するように形成されている。第1フード部33の下面には、X線を通過させるX線通過スリット33bがX線通過スリット33aと対向するように形成されている。X線通過スリット33bの下方には、X線検出器22が配置される。このように構成することで、X線発生器21が発生したX線21aは、X線通過スリット33a,33bを通過し、ケース31の内部を搬送されている被検査物Sに照射される。なお、第1フード部33の側面において、X線通過スリット33a,33bよりも下流側(本体部32側)にはスリット33cが設けられている。スリット33cには、レーザセンサ38が配置される。レーザセンサ38は、スリット33cを介してコンベヤ10上の被検査物Sにレーザを照射する。
An X-ray passage slit 33 a that allows X-rays to pass is formed on the upper surface of the
次に、金属検出を行う金属検出部3について説明する。金属検出部3は、金属検出制御部30、サーチコイルである環状の送信コイル35、及びサーチコイルである環状の受信コイル36,37を備える。送信コイル35及び受信コイル36,37は、金属などの導電性材料で形成され、ケース31の本体部32の内部に配置されている。送信コイル35及び受信コイル36,37は、貫通穴31aの延在方向と同軸に配置されている。つまり、送信コイル35及び受信コイル36,37は、貫通穴31aを囲むように配置されている。これにより、被検査物Sは、コンベヤ10によって送信コイル35及び受信コイル36,37を通過する。
Next, the
送信コイル35は、受信コイル36,37間に配置されている。受信コイル36,37は、互いに差動接続されるとともに送信コイル35に対して対称に配置されている。2つの受信コイル36,37は、同一の鎖交磁束を有する。送信コイル35は、通電可能に構成されており、磁束を発生する。受信コイル36,37それぞれには、送信コイル35が発生した磁界の電磁誘導によって電圧が励起する。なお、第1フード部33及び第2フード部34は、送信コイル35が発生した磁界の外部漏洩と外来磁界の進入を遮蔽する。
The
金属検出制御部30は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースI/O、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたROM、データを一時的に記憶するRAM、HDDなどの記憶媒体、CPU、及び通信回路などを有する。金属検出制御部30は、CPUが出力する信号に基づいて、入力データをRAMに記憶し、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
The metal
金属検出制御部30は、基板室T1に配置されるとともにX線検査制御部20に接続され、X線検査制御部20を介してディスプレイ5の操作画面に入力された作業員からの操作情報を受け付ける。金属検出制御部30は、操作情報に基づいて送信コイル35及び受信コイル36,37の動作プロファイルを設定する。金属検出制御部30は、送信コイル35及び受信コイル36,37よりも上流側に配置されたレーザセンサ38を用いて被検査物Sを検出した場合、当該被検査物Sの金属検出を開始する。
The metal
金属検出制御部30は、送信コイル35へ交番励磁電流を供給し、磁束を発生させる。送信コイル35によって発生された磁束は、2つの受信コイル36,37を貫通し、電磁誘導によって受信コイル36,37それぞれに電圧が励起される。金属検出制御部30は、受信コイル36,37の差動接続の出力電圧を取得して、金属検出の判定を行う。金属検出制御部30は、差動接続の出力電圧が0のときは、金属異物を検出していないと判定する。一方、金属検出制御部30は、差動接続の出力電圧が0でないときは、金属異物を検出したと判定する。
The metal
金属検出制御部30は、作業員からの要求に応じて、金属検出の結果データをディスプレイ5に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、金属検出制御部30は、送信コイル35及び受信コイル36,37が正常に作動している場合、第2報知器82を用いて金属検出に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、金属検出制御部30は、異物を検出したと判定した場合、第2報知器82を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。なお、ケース31は、耐振特性向上の目的で防振台39(防振台39a,39b)により保持されていてもよい。
The metal
上述したX線検査部2及び金属検出部3は、それぞれ独立に作動可能に構成されている。つまり、異物検査装置1は、X線検査及び金属検出の両方を行うだけでなく、X線検査及び金属検出の何れか一方を実行することもできる。上述のとおり、本実施形態では、X線検査部2がディスプレイ5の表示制御を行うため、X線検査部2が停止している場合には、ディスプレイ5に金属検出部3の操作画面が表示されない。このため、筐体4の内部には、金属検出部3に接続されたサブディスプレイ(不図示)が配置されている。金属検出部3は、X線検査部2が停止している場合には、サブディスプレイを介して操作情報を受け付け、サブディスプレイに結果データなどを表示する。
The
次に、筐体4の扉構造について説明する。図5の(a)に示されるように、筐体4において前側(コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向に垂直な水平方向における一方の側)に配置された下部扉41を例えば下側に回動させて開くと、金属検出部3、コンベヤ10及びX線遮蔽カーテン42,43などが外部に露出する。つまり、下部扉41は、開けられた際に、金属検出部3、コンベヤ10及びX線遮蔽カーテン42,43などを外部に露出させる。
Next, the door structure of the
一方、図5の(b)に示されるように、筐体4の後面には、筐体4を開閉する後面上部扉44及び後面下部扉(第2扉部)45が設けられている。後面上部扉44及び後面下部扉45は、例えば開き戸構造であり、例えばステンレスなどで形成される。筐体4において後側(コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向に垂直な水平方向における他方の側)に配置された後面下部扉45を例えば下側に回動させて開くと、金属検出部3、コンベヤ10及びX線遮蔽カーテン42,43などが外部に露出する。つまり、後面下部扉45は、開けられた際に、金属検出部3、コンベヤ10及びX線遮蔽カーテン42,43などを外部に露出させる。
On the other hand, as shown in FIG. 5B, a rear
なお、上部扉40及び後面上部扉44のそれぞれを例えば左側に回動させて開くと、X線検査部2及び金属検出部3の電装部品50が外部に露出する。つまり、下部扉41及び後面下部扉45のそれぞれは、X線検査部2及び金属検出部3の電装部品50の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能である。
If each of the
以上説明したように、異物検査装置1では、下部扉41及び後面下部扉45を開けることで、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向に垂直な水平方向における一方の側及び他方の側の両側から金属検出部3にアクセスすることができる。よって、異物検査装置1によれば、装置に対する金属検出部3の着脱等、金属検出部3のメンテナンスの容易化を図ることが可能となる。
As described above, in the foreign
また、異物検査装置1では、下部扉41及び後面下部扉45を開けることで、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向に垂直な水平方向における一方の側及び他方の側の両側からコンベヤ10にアクセスすることができる。よって、異物検査装置1によれば、コンベヤ10の清掃等、コンベヤ10のメンテナンスの容易化を図ることが可能となる。
Moreover, in the foreign
また、異物検査装置1では、下部扉41及び後面下部扉45のそれぞれが、X線検査部2及び金属検出部3の電装部品50の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能である。これにより、電装部品50を保護しつつ金属検出部3及びコンベヤ10のメンテナンスを実施することができる。
Further, in the foreign
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。 Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment.
例えば、下部扉41及び後面下部扉45は、それぞれ、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向に垂直な所定方向における一方の側及び他方の側に配置されていればよい。また、下部扉41及び後面下部扉45のそれぞれは、少なくとも金属検出部3を外部に露出させるものであればよい。また、下部扉41及び後面下部扉45のそれぞれは、X線検査部2及び金属検出部3の電装部品50の遮蔽状態を維持しつつ開閉可能なものであればよい。一例として、後面上部扉44に相当する扉を残しつつ、後面下部扉45に代えて、筐体4の後面全体を覆う扉が設けられてもよい。その場合、電装部品50が配置される上部は、二重扉構造となる。
For example, the
また、上述した実施形態では、被検査物Sを開口部4aから開口部4bへ搬送する例を示したが、搬送方向を逆にしてもよい。この場合、レーザセンサ24を開口部4bと第2フード部34との間に配置し、第2フード部34の側面にスリットを設けてレーザセンサ38を配置すればよい。
In the above-described embodiment, the example in which the inspection object S is transported from the
また、本実施形態では、筐体4の内部にコンベヤ10の一部を配置する例を説明したが、コンベヤ10はその全てが筐体4の内部に収容されていてもよい。
Further, in the present embodiment, an example in which a part of the
1…異物検査装置、2…X線検査部、3…金属検出部、4…筐体、10…コンベヤ(搬送部)、41…下部扉(第1扉部)、45…後面下部扉(第2扉部)、50…電装部品、S…被検査物。
DESCRIPTION OF
Claims (4)
X線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、
磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、
前記搬送部の少なくとも一部、前記X線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容し、前記X線検査部のX線の外部漏洩を抑制する筐体と、を備え、
前記筐体には、当該筐体を開閉する第1扉部及び第2扉部が設けられており、
前記第1扉部は、前記搬送部による前記被検査物の搬送方向に垂直な所定方向における一方の側に配置され、開けられた際に少なくとも前記金属検出部を外部に露出させ、
前記第2扉部は、前記搬送部による前記被検査物の前記搬送方向に垂直な前記所定方向における他方の側に配置され、開けられた際に少なくとも前記金属検出部を外部に露出させる、異物検査装置。 A transport unit for transporting an object to be inspected;
An X-ray inspection unit that detects foreign matter contained in the inspection object being transported by the transport unit, utilizing X-ray transparency;
Utilizing the interaction between the magnetic field and the metal, a metal detection unit that detects foreign matter contained in the inspection object being conveyed by the conveyance unit;
A housing that houses at least a part of the transport unit, the X-ray inspection unit, and the metal detection unit, and suppresses external leakage of X-rays of the X-ray inspection unit,
The housing is provided with a first door portion and a second door portion for opening and closing the housing,
The first door portion is disposed on one side in a predetermined direction perpendicular to the conveyance direction of the inspection object by the conveyance unit, and when opened, at least the metal detection unit is exposed to the outside,
The second door portion is disposed on the other side in the predetermined direction perpendicular to the transport direction of the inspection object by the transport portion, and exposes at least the metal detection portion to the outside when opened. Inspection device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015195908A JP6654392B2 (en) | 2015-10-01 | 2015-10-01 | Foreign matter inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015195908A JP6654392B2 (en) | 2015-10-01 | 2015-10-01 | Foreign matter inspection device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017067684A true JP2017067684A (en) | 2017-04-06 |
JP6654392B2 JP6654392B2 (en) | 2020-02-26 |
Family
ID=58494478
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015195908A Active JP6654392B2 (en) | 2015-10-01 | 2015-10-01 | Foreign matter inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6654392B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2017213146A1 (en) * | 2016-06-06 | 2019-03-28 | 株式会社イシダ | Foreign matter inspection device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005043149A (en) * | 2003-07-25 | 2005-02-17 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | Method for measuring offensive smell of butylene polymer |
JP2008275452A (en) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X-ray foreign matter detector |
US7453980B1 (en) * | 2007-06-25 | 2008-11-18 | Gilevich Alexander I | Apparatus and method for acquiring an image of an object |
JP2015028464A (en) * | 2013-06-25 | 2015-02-12 | 日新電子工業株式会社 | Foreign matter inspection device |
-
2015
- 2015-10-01 JP JP2015195908A patent/JP6654392B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005043149A (en) * | 2003-07-25 | 2005-02-17 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | Method for measuring offensive smell of butylene polymer |
JP2008275452A (en) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X-ray foreign matter detector |
US7453980B1 (en) * | 2007-06-25 | 2008-11-18 | Gilevich Alexander I | Apparatus and method for acquiring an image of an object |
JP2015028464A (en) * | 2013-06-25 | 2015-02-12 | 日新電子工業株式会社 | Foreign matter inspection device |
JP2015028465A (en) * | 2013-06-25 | 2015-02-12 | 日新電子工業株式会社 | Foreign matter inspection device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2017213146A1 (en) * | 2016-06-06 | 2019-03-28 | 株式会社イシダ | Foreign matter inspection device |
JP7011261B2 (en) | 2016-06-06 | 2022-01-26 | 株式会社イシダ | Foreign matter inspection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6654392B2 (en) | 2020-02-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6040190B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP5156487B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
WO2017213146A1 (en) | Foreign matter inspecting device | |
JP6122926B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6157775B1 (en) | Foreign matter inspection apparatus and foreign matter inspection system | |
JP6285987B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6654392B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6654393B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6122925B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6123005B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6794101B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
EP4060330B1 (en) | X-ray inspection apparatus | |
WO2017061594A1 (en) | X-ray inspection apparatus | |
WO2017057740A1 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6677996B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
WO2017057738A1 (en) | Foreign-matter inspection device | |
KR20190109374A (en) | X-ray Inspection Apparatus Having Constitution of Stage Discharge | |
JP6755580B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JP6979673B2 (en) | Optical inspection equipment and optical inspection system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180928 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190702 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190628 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190830 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200128 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200130 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6654392 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |