JP2017053703A - Measuring instrument and measuring method - Google Patents

Measuring instrument and measuring method Download PDF

Info

Publication number
JP2017053703A
JP2017053703A JP2015177333A JP2015177333A JP2017053703A JP 2017053703 A JP2017053703 A JP 2017053703A JP 2015177333 A JP2015177333 A JP 2015177333A JP 2015177333 A JP2015177333 A JP 2015177333A JP 2017053703 A JP2017053703 A JP 2017053703A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
contact lens
contact
measuring instrument
measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015177333A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6607635B2 (en
Inventor
弘之 竹井
Hiroyuki Takei
弘之 竹井
渡辺 康介
Kosuke Watanabe
康介 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo University
Original Assignee
Toyo University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo University filed Critical Toyo University
Priority to JP2015177333A priority Critical patent/JP6607635B2/en
Publication of JP2017053703A publication Critical patent/JP2017053703A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6607635B2 publication Critical patent/JP6607635B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring instrument and a measuring method capable of simply measuring an accretion on a contact lens while keeping cost increase down.SOLUTION: In a measuring instrument 1 used when an accretion accreted to a contact lens 100 is measured by surface enhanced Raman spectroscopy, metal nanoparticles M for surface enhanced Raman spectroscopy are formed on a contact surface in contact with the contact lens 100 in the state of holding the contact lens 100.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、コンタクトレンズに付着した付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する際に用いられる測定用器具及び測定方法に関する。   The present invention relates to a measuring instrument and a measuring method used when measuring an adhering substance adhering to a contact lens by surface-enhanced Raman spectroscopy.

従来、ライフサイエンス分野では、対象者の健康状態をより簡便に診断したいという需要が高まっており、その一つとして、対象者が装着したコンタクトレンズに付着する付着物質に基づいて、健康状態を診断する技術について研究が進められている。   Conventionally, in the life science field, there has been an increasing demand for more easily diagnosing the health status of subjects, and one of them is diagnosing health status based on the substances attached to contact lenses worn by subjects. Research is underway on technologies to do this.

また、上述のようにより簡便に診断したいという需要に応じるためには、コンタクトレンズに付着する付着物質をより簡便に測定する手法が必要不可欠であり、様々な検討が進められている。   Further, in order to meet the demand for making a simpler diagnosis as described above, a technique for more easily measuring the adhering substance adhering to the contact lens is indispensable, and various studies are being conducted.

例えば、コンタクトレンズに付着する付着物質を測定する一つの手法として、表面増強ラマン分光法(SERS:Surface Enhanced Raman Scattering)を用いた測定方法が注目されている(例えば、特許文献1参照)。   For example, a measurement method using surface enhanced Raman scattering (SERS) has attracted attention as one technique for measuring a substance adhering to a contact lens (see, for example, Patent Document 1).

また、別の手法として、コンタクトレンズに電極等の回路を設けて、付着物質であるグルコースを測定する測定方法も提案されている(例えば、非特許文献1参照)。   As another method, a measurement method in which a contact lens is provided with a circuit such as an electrode to measure glucose as an adhering substance has been proposed (for example, see Non-Patent Document 1).

特開2013−142546号公報JP2013-142546A

平沼義貴 他6名、“高性能高分子材料を用いた涙液糖計測用コンタクトレンズ型グルコースセンサ” 日本大学生産工学部第44回学術講演会講演概要(2011−12−3)、815−816ページYoshitaka Hiranuma and 6 others, “Contact Lens Glucose Sensor for Tear Sugar Measurement Using High-Performance Polymer Materials” Outline of the 44th Academic Lecture Meeting, Nihon University College of Production Engineering (2011-12-3), pages 815-816

しかしながら、従来技術には、次のような問題があった。   However, the prior art has the following problems.

特許文献1に開示されるように、コンタクトレンズの付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する場合、コンタクトレンズの付着物質を溶液に溶かし、その溶液を、表面増強ラマン分光測定用金属ナノ粒子(以下、金属ナノ粒子として適宜説明する)を形成した平面基板上に滴下した後に、表面増強ラマン分光法により測定する。このため、測定に至るまでの準備が煩雑であるという問題がある。   As disclosed in Patent Document 1, when the adhesion substance of a contact lens is measured by surface enhanced Raman spectroscopy, the adhesion substance of the contact lens is dissolved in a solution, and the solution is used as a metal nanoparticle for surface enhanced Raman spectroscopy ( Hereinafter, after being dropped on a flat substrate on which metal nanoparticles are suitably described), measurement is performed by surface-enhanced Raman spectroscopy. For this reason, there is a problem that the preparations up to the measurement are complicated.

一方、非特許文献1に開示されるように、回路を組み込んだ専用のコンタクトレンズを用いて付着物質を測定する場合、測定作業は簡便になるが、回路を組み込んだ専用のコンタクトレンズの製造コストは、非常に高く、この専用のコンタクトレンズを測定の度に消耗してしまうため、測定に伴う消耗品のコストが増大するという問題がある。   On the other hand, as disclosed in Non-Patent Document 1, when an attached substance is measured using a dedicated contact lens incorporating a circuit, the measurement work becomes simple, but the manufacturing cost of the dedicated contact lens incorporating the circuit is reduced. Is very high, and this dedicated contact lens is consumed every time it is measured, so there is a problem that the cost of consumables associated with the measurement increases.

本発明は、このような状況に鑑みてなされたもので、コストの増大を抑制しつつ、コンタクトレンズの付着物質をより簡便に測定することが可能な測定用器具及び測定方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such a situation, and provides a measurement instrument and a measurement method capable of more easily measuring a substance attached to a contact lens while suppressing an increase in cost. Objective.

本発明の第1の特徴は、コンタクトレンズに付着した付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する際に用いられる測定用器具であって、前記コンタクトレンズを保持した状態で前記コンタクトレンズに接触する接触面に、表面増強ラマン分光測定用金属ナノ粒子が形成されていることを要旨とする。   A first feature of the present invention is a measuring instrument used when measuring an adhering substance adhering to a contact lens by surface-enhanced Raman spectroscopy, and contacts the contact lens while holding the contact lens. The gist is that metal nanoparticles for surface enhanced Raman spectroscopy are formed on the contact surface.

本発明の第2の特徴は、上記特徴に係り、前記コンタクトレンズを配置する第1基板と、前記第1基板に配置される前記コンタクトレンズを押圧する第2基板とを備え、前記金属ナノ粒子は、前記第1基板と前記第2基板との少なくとも一方に形成されることを要旨とする。   According to a second aspect of the present invention, the metal nanoparticle according to the above aspect, comprising: a first substrate on which the contact lens is disposed; and a second substrate that presses the contact lens disposed on the first substrate. Is formed on at least one of the first substrate and the second substrate.

本発明の第3の特徴は、上記特徴に係り、前記第1基板と前記第2基板との内の一方は、前記接触面が凸状に湾曲することを要旨とする。   The third feature of the present invention relates to the above feature, and one of the first substrate and the second substrate is characterized in that the contact surface is curved in a convex shape.

本発明の第4の特徴は、上記特徴に係り、前記第1基板と前記第2基板との内の他方は、前記接触面が凹状に湾曲することを要旨とする。   A fourth feature of the present invention is related to the above feature, and is summarized in that the other of the first substrate and the second substrate has a curved contact surface.

本発明の第5の特徴は、上記特徴に係り、前記第1基板と前記第2基板との内の少なくとも一方の基板は、波長380nmから2000nmの波長帯域の特定波長の光に対して、透過率が少なくとも50%以上である部材からなることを要旨とする。   A fifth feature of the present invention relates to the above feature, wherein at least one of the first substrate and the second substrate transmits light having a specific wavelength in a wavelength band of 380 nm to 2000 nm. The gist is that it is made of a member having a rate of at least 50%.

本発明の第6の特徴は、前記コンタクトレンズを保持する測定用器具を用いて、前記コンタクトレンズに付着する付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する工程を含み、前記測定用器具には、前記コンタクトレンズを保持した状態で前記コンタクトレンズに接触する接触面に、表面増強ラマン分光測定用金属ナノ粒子が形成されていることを要旨とする。   A sixth feature of the present invention includes a step of measuring an adhering substance adhering to the contact lens by surface-enhanced Raman spectroscopy using a measurement instrument that holds the contact lens, and the measurement instrument includes: The gist is that metal nanoparticles for surface-enhanced Raman spectroscopy are formed on a contact surface that contacts the contact lens while holding the contact lens.

本発明によれば、コストの増大を抑制しつつ、コンタクトレンズの付着物質をより簡便に測定することが可能な測定用器具及び測定方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the measuring instrument and measuring method which can measure the adhesion substance of a contact lens more simply can be provided, suppressing the increase in cost.

本発明の第1実施形態に係る測定用器具の概略構成を示す斜視図である。It is a perspective view showing a schematic structure of a measuring instrument concerning a 1st embodiment of the present invention. 図1のA−A線に沿った断面図である。It is sectional drawing along the AA line of FIG. 本発明の第1実施形態に係る測定用器具の一部拡大断面図である。It is a partial expanded sectional view of the instrument for a measurement concerning a 1st embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態に係る測定方法の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the measuring method which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の実施例において測定されたラマンスペクトルの一例を示すグラフである。It is a graph which shows an example of the Raman spectrum measured in the Example of this invention. 本発明の第1実施形態に係る測定用器具の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of the instrument for a measurement which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態に係る測定用器具の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of the instrument for a measurement which concerns on 1st Embodiment of this invention. (a)本発明に係る測定用器具の変形例を示す断面図である。(b)本発明に係る測定用器具の変形例を示す断面図である。(c)本発明に係る測定用器具の変形例を示す断面図である。(A) It is sectional drawing which shows the modification of the instrument for a measurement which concerns on this invention. (B) It is sectional drawing which shows the modification of the instrument for a measurement which concerns on this invention. (C) It is sectional drawing which shows the modification of the instrument for a measurement which concerns on this invention.

以下、本発明の第1実施形態について、図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

[本発明の第1実施形態]
(測定用器具の構成)
図1は、本発明の第1実施形態に係る測定用器具1の概略構成を示す斜視図である。図1において、測定用器具1の平面方向をX方向及びY方向として規定するとともに、測定用器具1の厚み方向をZ方向として規定する。なお、X方向及びY方向は、水平方向であり、Z方向は、鉛直方向である。
[First embodiment of the present invention]
(Configuration of measuring instrument)
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a measuring instrument 1 according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 1, the planar direction of the measuring instrument 1 is defined as the X direction and the Y direction, and the thickness direction of the measuring instrument 1 is defined as the Z direction. The X direction and the Y direction are horizontal directions, and the Z direction is a vertical direction.

本発明の第1実施形態に係る測定用器具1は、コンタクトレンズ100に付着した付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する際に用いられる。なお、測定用器具1は、コンタクトレンズ100を測定する際の基板としての機能を有する。   The measuring instrument 1 according to the first embodiment of the present invention is used when measuring an adhering substance adhering to the contact lens 100 by surface-enhanced Raman spectroscopy. Note that the measuring instrument 1 has a function as a substrate when the contact lens 100 is measured.

具体的に、測定用器具1は、コンタクトレンズ100を配置する第1基板10と、第1基板10に配置されるコンタクトレンズ100を押圧する第2基板20とを備える。測定用器具1は、第1基板10と第2基板20とによって挟持することで、コンタクトレンズ100を保持する。   Specifically, the measuring instrument 1 includes a first substrate 10 on which the contact lens 100 is disposed, and a second substrate 20 that presses the contact lens 100 disposed on the first substrate 10. The measuring instrument 1 holds the contact lens 100 by being sandwiched between the first substrate 10 and the second substrate 20.

測定用器具1は、コンタクトレンズ100を保持した状態でコンタクトレンズ100に接触する接触面に、表面増強ラマン分光測定用金属ナノ粒子M(以下、金属ナノ粒子Mとして適宜説明する)が形成されている(図2〜3参照)。   The measurement instrument 1 has surface-enhanced Raman spectroscopic metal nanoparticles M (hereinafter, appropriately described as metal nanoparticles M) formed on a contact surface that contacts the contact lens 100 while holding the contact lens 100. (See FIGS. 2 to 3).

測定用器具1では、コンタクトレンズ100を保持した状態で、発光器40から照射された励起光L1が、コンタクトレンズ100に接触する金属ナノ粒子Mに照射される。励起光L1によって発光するラマン散乱光L2は、受光器50によって受光される。受光器50によって受光されたラマン散乱光L2は、ラマンスペクトルとして解析される。この後、ラマンスペクトルが、分光器や解析装置などの他の機器(不図示)によって分析されて、コンタクトレンズ100に付着する付着物質が同定される。   In the measuring instrument 1, the excitation light L <b> 1 irradiated from the light emitter 40 is irradiated to the metal nanoparticles M contacting the contact lens 100 while holding the contact lens 100. The Raman scattered light L2 emitted by the excitation light L1 is received by the light receiver 50. The Raman scattered light L2 received by the light receiver 50 is analyzed as a Raman spectrum. Thereafter, the Raman spectrum is analyzed by another device (not shown) such as a spectroscope or an analysis device, and the adhering substance adhering to the contact lens 100 is identified.

次に、第1基板10及び第2基板20について具体的に説明する。図2は、図1に示す測定用器具1のA−A線に沿った断面図である。図3は、図2に示す第1基板10の一部拡大断面図である。   Next, the first substrate 10 and the second substrate 20 will be specifically described. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA of the measuring instrument 1 shown in FIG. FIG. 3 is a partially enlarged sectional view of the first substrate 10 shown in FIG.

図2に示すように、第1基板10は、板状に構成されるとともに、中央部分において、コンタクトレンズ100を配置する凹部11を有する。第2基板20は、球状に構成される。第2基板20のサイズは、第1基板10の凹部11に収容可能なサイズである。   As shown in FIG. 2, the first substrate 10 is configured in a plate shape and has a recess 11 in which the contact lens 100 is disposed in the central portion. The second substrate 20 is configured in a spherical shape. The size of the second substrate 20 is a size that can be accommodated in the recess 11 of the first substrate 10.

第1基板10の凹部11の直径φ11は、コンタクトレンズ100の直径φ100よりも大きい。第2基板20の直径φ20は、コンタクトレンズ100の直径φ100よりも小さい。つまり、φ11>φ100>φ20の関係を満たす。直径φ11及び直径φ20は、測定対象となるコンタクトレンズ100の直径φ100によって選定してもよい。   The diameter φ11 of the recess 11 of the first substrate 10 is larger than the diameter φ100 of the contact lens 100. The diameter φ20 of the second substrate 20 is smaller than the diameter φ100 of the contact lens 100. That is, the relationship of φ11> φ100> φ20 is satisfied. The diameter φ11 and the diameter φ20 may be selected according to the diameter φ100 of the contact lens 100 to be measured.

第1基板10では、凹部11の表面が接触面11aを有する。このため、接触面11aが凹状に湾曲する。第1基板10の凹部11の接触面11aは、コンタクトレンズ100の凸面に接触する。一方、第2基板20は、球状に構成される。このため、コンタクトレンズ100に接触する接触面20aが凸状に湾曲する。   In the first substrate 10, the surface of the recess 11 has a contact surface 11a. For this reason, the contact surface 11a curves in a concave shape. The contact surface 11 a of the concave portion 11 of the first substrate 10 is in contact with the convex surface of the contact lens 100. On the other hand, the second substrate 20 is formed in a spherical shape. For this reason, the contact surface 20a which contacts the contact lens 100 is curved in a convex shape.

第1基板10の接触面11aの曲率半径R1は、コンタクトレンズ100の曲率半径R3以上である。例えば、曲率半径R1は、10mmであってもよい。第2基板20の接触面20aの曲率半径R2は、コンタクトレンズ100の曲率半径R3以下である。つまり、R1≧R3≧R2の関係を満たす。なお、R1>R3>R2の関係を満たしてもよい。   The radius of curvature R1 of the contact surface 11a of the first substrate 10 is greater than or equal to the radius of curvature R3 of the contact lens 100. For example, the curvature radius R1 may be 10 mm. The curvature radius R2 of the contact surface 20a of the second substrate 20 is equal to or less than the curvature radius R3 of the contact lens 100. That is, the relationship of R1 ≧ R3 ≧ R2 is satisfied. Note that the relationship of R1> R3> R2 may be satisfied.

また、本実施形態では、第1基板10と第2基板20との少なくともどちらか一方の基板は透明の部材からなる。   In the present embodiment, at least one of the first substrate 10 and the second substrate 20 is made of a transparent member.

本実施形態において、第1基板10及び第2基板20の素材となる透明な部材は、一般に、表面増強ラマン分光法に使用される波長において透明な部材である。例えば、第1基板10及び第2基板20には、ガラス、プラスチックやシリコンなどの樹脂、及び他の任意の部材を使用してもよい。なお、本実施形態において「透明」とは、波長が380nmから2000nmの波長帯域の特定波長の光に対して透過率が50%以上であることを意味している。第1基板10及び第2基板20の光透過率は、80%以上であることが更に好ましい。また、第1基板10及び第2基板20の光透過率は、その厚みを増減することで調節してもよい。   In the present embodiment, the transparent member that is the material of the first substrate 10 and the second substrate 20 is generally a transparent member at a wavelength used for surface-enhanced Raman spectroscopy. For example, the first substrate 10 and the second substrate 20 may be made of glass, resin such as plastic or silicon, and other arbitrary members. In the present embodiment, “transparent” means that the transmittance is 50% or more for light of a specific wavelength in a wavelength band of 380 nm to 2000 nm. The light transmittance of the first substrate 10 and the second substrate 20 is more preferably 80% or more. The light transmittance of the first substrate 10 and the second substrate 20 may be adjusted by increasing or decreasing the thickness.

第2基板20は、第1基板10にコンタクトレンズ100が配置された状態で、コンタクトレンズ100のZ方向上側に配置される。第2基板20は、自重(例えば、10g)によって、コンタクトレンズ100を第1基板10に向けて押圧する。   The second substrate 20 is disposed above the contact lens 100 in the Z direction with the contact lens 100 disposed on the first substrate 10. The second substrate 20 presses the contact lens 100 toward the first substrate 10 by its own weight (for example, 10 g).

第1基板10は、コンタクトレンズ100に接触する接触面11aに、金属ナノ粒子Mが形成されている。   In the first substrate 10, metal nanoparticles M are formed on the contact surface 11 a that contacts the contact lens 100.

金属ナノ粒子Mを構成する金属は、例えば、金、銀、白金等の貴金属である。金属ナノ粒子Mを構成する金属は、表面増強ラマン散乱活性を有する物であれば、どのような金属を適用してもよい。また、金属ナノ粒子Mを形成する手法としては、例えば、次の手法を適用できる。   The metal which comprises the metal nanoparticle M is noble metals, such as gold | metal | money, silver, platinum, for example. As long as the metal which comprises the metal nanoparticle M is a thing which has surface enhancement Raman scattering activity, what kind of metal may be applied. Moreover, as a method for forming the metal nanoparticles M, for example, the following method can be applied.

まず、第1基板10の接触面11aに粒径が50〜500nmのシリカナノ粒子を吸着させる。シリカナノ粒子を吸着させる方法は、第1基板10の材料によって適宜可能であるが、例えば、真空蒸着又はメッキ法により、金薄膜を第1基板10の接触面11aに形成した後に、シリカナノ粒子を吸着させてもよい。これにより、シリカナノ粒子を容易に吸着できる。   First, silica nanoparticles having a particle size of 50 to 500 nm are adsorbed on the contact surface 11 a of the first substrate 10. The method for adsorbing silica nanoparticles can be appropriately performed depending on the material of the first substrate 10. For example, after forming a gold thin film on the contact surface 11 a of the first substrate 10 by vacuum deposition or plating, the silica nanoparticles are adsorbed. You may let them. Thereby, silica nanoparticles can be easily adsorbed.

次に、真空蒸着法により、厚さ5〜500nmの金又は銀をシリカナノ粒子の一部に帽子状にコーティングすることにより、第1基板10の接触面11aに貴金属帽子状ナノ粒子を形成する。   Next, gold or silver having a thickness of 5 to 500 nm is coated on a part of the silica nanoparticles in a hat shape by a vacuum deposition method, thereby forming noble metal hat-like nanoparticles on the contact surface 11a of the first substrate 10.

上述の例では、金属ナノ粒子Mとして、貴金属帽子状ナノ粒子を形成する手法を例に挙げたが、これに限定されるものではない。例えば、金属ナノ粒子Mは、貴金属で構成されたナノ粒子そのものを第1基板10の接触面11aに吸着させることで形成してもよい。   In the above example, the method of forming noble metal cap-shaped nanoparticles as the metal nanoparticles M is described as an example, but the present invention is not limited to this. For example, the metal nanoparticles M may be formed by adsorbing nanoparticles made of a noble metal to the contact surface 11 a of the first substrate 10.

本実施形態では、金属ナノ粒子Mは、第1基板10に形成されるが、金属ナノ粒子Mは、第1基板10と第2基板20との少なくとも一方に形成されていればよい。具体的には、金属ナノ粒子Mは、第1基板10の接触面11aと第2基板20の接触面20aとの少なくとも一方に形成されていればよい。   In the present embodiment, the metal nanoparticles M are formed on the first substrate 10, but the metal nanoparticles M may be formed on at least one of the first substrate 10 and the second substrate 20. Specifically, the metal nanoparticles M may be formed on at least one of the contact surface 11 a of the first substrate 10 and the contact surface 20 a of the second substrate 20.

(測定方法)
次に、測定用器具1を用いた測定方法について説明する。図4は、測定方法を示すフローチャートである。
(Measuring method)
Next, a measuring method using the measuring instrument 1 will be described. FIG. 4 is a flowchart showing the measurement method.

ステップS10において、測定用器具1を準備する。具体的に、測定用器具1の第1基板10にコンタクトレンズ100を配置するとともに、コンタクトレンズ100のZ方向上側に、第2基板20を配置する。   In step S10, the measuring instrument 1 is prepared. Specifically, the contact lens 100 is disposed on the first substrate 10 of the measurement instrument 1, and the second substrate 20 is disposed above the contact lens 100 in the Z direction.

ステップS20において、測定用器具1を用いて、コンタクトレンズ100に付着する付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する。具体的に、測定用器具1に向けて、発光器40から励起光L1を照射する。励起光L1が、第1基板10を介して、コンタクトレンズ100に接触する金属ナノ粒子Mに照射されると、ラマン散乱光L2が、受光器50によって検出される。受光器50によって検出されたラマン散乱光L2は、分光器(不図示)などによってラマンスペクトルとして検出される。この後、検出されたラマンスペクトルを解析することで、流体に含まれる物質を同定する。   In step S <b> 20, the attached substance that adheres to the contact lens 100 is measured by the surface-enhanced Raman spectroscopy using the measuring instrument 1. Specifically, the excitation light L <b> 1 is emitted from the light emitter 40 toward the measurement instrument 1. When the excitation light L1 is applied to the metal nanoparticles M that are in contact with the contact lens 100 via the first substrate 10, the Raman scattered light L2 is detected by the light receiver 50. The Raman scattered light L2 detected by the light receiver 50 is detected as a Raman spectrum by a spectroscope (not shown). Thereafter, the substance contained in the fluid is identified by analyzing the detected Raman spectrum.

(作用及び効果)
以上のように、第1実施形態に係る測定用器具1は、表面増強ラマン分光法によりコンタクトレンズに付着した付着物質を測定する際に、コンタクトレンズ100を保持する。
(Function and effect)
As described above, the measuring instrument 1 according to the first embodiment holds the contact lens 100 when measuring the adhering substance adhering to the contact lens by surface enhanced Raman spectroscopy.

測定用器具1は、コンタクトレンズ100を配置する第1基板10と、第1基板10に配置されるコンタクトレンズ100を押圧する第2基板20とを備える。また、コンタクトレンズ100に接触する第1基板10の接触面11aに、金属ナノ粒子Mが形成されている。   The measuring instrument 1 includes a first substrate 10 on which the contact lens 100 is disposed, and a second substrate 20 that presses the contact lens 100 disposed on the first substrate 10. In addition, metal nanoparticles M are formed on the contact surface 11 a of the first substrate 10 that contacts the contact lens 100.

このため、測定用器具1によってコンタクトレンズ100を直接保持した状態で、コンタクトレンズに付着した付着物質を表面増強ラマン分光法により測定することができる。   For this reason, in a state where the contact lens 100 is directly held by the measuring instrument 1, the adhered substance attached to the contact lens can be measured by surface-enhanced Raman spectroscopy.

従って、従来技術のように、コンタクトレンズ100の付着物質を溶液に溶かし、その溶液を平面基板上に滴下するなどの準備作業が不要になるため、表面増強ラマン分光法による測定が簡略化される。また、従来技術のように、電極等の回路を組み込んだ専用のコンタクトレンズも不要となるため、測定に伴う消耗品のコストを抑制できる。   Therefore, unlike the prior art, the preparation work such as dissolving the adhered substance of the contact lens 100 in the solution and dropping the solution on the flat substrate is not required, so that the measurement by the surface enhanced Raman spectroscopy is simplified. . Moreover, since a dedicated contact lens incorporating a circuit such as an electrode is not required as in the prior art, the cost of consumables associated with measurement can be suppressed.

このように、本実施形態に係る測定用器具1によれば、コストの増大を抑制しつつ、表面増強ラマン分光法によりコンタクトレンズ100の付着物質をより簡便に測定することができる。   As described above, according to the measurement instrument 1 according to the present embodiment, it is possible to more easily measure the adhered substance on the contact lens 100 by surface enhanced Raman spectroscopy while suppressing an increase in cost.

また、本実施形態に係る測定用器具1では、第1基板10と第2基板20とは、いずれも透明の部材からなる。このため、励起光L1を第1基板10側から照射することもできるし、第2基板20側から照射することもできる。更に、ラマン散乱光L2を第1基板10側から受光することもできるし、第2基板20側から受光することもできる。   Moreover, in the measuring instrument 1 according to the present embodiment, both the first substrate 10 and the second substrate 20 are made of a transparent member. For this reason, the excitation light L1 can be irradiated from the first substrate 10 side, or can be irradiated from the second substrate 20 side. Further, the Raman scattered light L2 can be received from the first substrate 10 side, or can be received from the second substrate 20 side.

これにより、励起光L1を照射する発光器40の配置や、ラマン散乱光L2を受光する受光器50の配置の自由度を高めることができる。   Thereby, the freedom degree of arrangement | positioning of the light emitter 40 which irradiates the excitation light L1, and arrangement | positioning of the light receiver 50 which light-receives the Raman scattered light L2 can be raised.

[実施例]
次に、本発明の実施例について説明する。なお、本発明はこれらの例によって何ら限定されるものではない。
[Example]
Next, examples of the present invention will be described. In addition, this invention is not limited at all by these examples.

まず、比較例に係る測定用器具と、実施例に係る測定用器具とを準備した。比較例に係る測定用器具は、金属ナノ粒子Mを形成していない測定用器具を用いた。一方で、実施例に係る測定用器具1は、上述した第1実施形態に係る測定用器具1を用いた。すなわち、金属ナノ粒子Mを形成した測定用器具1を用いた。   First, the measurement instrument according to the comparative example and the measurement instrument according to the example were prepared. As the measurement instrument according to the comparative example, a measurement instrument in which the metal nanoparticles M were not formed was used. On the other hand, the measurement instrument 1 according to the first embodiment described above is used as the measurement instrument 1 according to the example. That is, the measuring instrument 1 on which the metal nanoparticles M were formed was used.

比較例と実施例とは、金属ナノ粒子Mの有無を除いて、他の構成は同様である。   Except for the presence or absence of the metal nanoparticles M, the other examples of the comparative example and the example are the same.

そして、比較例と実施例とを用いて、コンタクトレンズ100に付着する付着物質を、表面増強ラマン分光法により測定した。   And the adhesion substance adhering to the contact lens 100 was measured by the surface enhancement Raman spectroscopy using the comparative example and the Example.

図5には、表面増強ラマン分光法により測定した測定結果を示すグラフが示されている。図5の縦軸はラマン信号強度を示し、横軸はラマンシフト(cm−1)を示す。   FIG. 5 shows a graph showing measurement results measured by surface enhanced Raman spectroscopy. The vertical axis in FIG. 5 indicates the Raman signal intensity, and the horizontal axis indicates the Raman shift (cm−1).

図5において、データX1は、比較例に係る測定用器具を用いて、コンタクトレンズ100に付着する付着物質を表面増強ラマン分光法により測定したデータである。   In FIG. 5, data X1 is data obtained by measuring the adhering substance adhering to the contact lens 100 by surface-enhanced Raman spectroscopy using the measurement instrument according to the comparative example.

一方、図5において、データX2は、実施例に係る測定用器具1を用いて、コンタクトレンズ100に付着する付着物質を表面増強ラマン分光法により測定したデータである。   On the other hand, in FIG. 5, data X2 is data obtained by measuring the adhering substance adhering to the contact lens 100 by surface-enhanced Raman spectroscopy using the measuring instrument 1 according to the example.

図5に示すように、データX1では、ピークが見られないが、データX2では、明確なピークが確認できる。これにより、第1実施形態に係る測定用器具1を用いて、コンタクトレンズ100に付着する付着物質を測定できることが確認できた。   As shown in FIG. 5, no peak is observed in the data X1, but a clear peak can be confirmed in the data X2. Thereby, it has confirmed that the adhering substance adhering to the contact lens 100 was measurable using the measuring instrument 1 which concerns on 1st Embodiment.

[変形例]
次に、上述した第1実施形態の変形例について説明する。
[Modification]
Next, a modification of the first embodiment described above will be described.

上述した第1実施形態では、第2基板20は、自重によって、コンタクトレンズ100を第1基板10に向けて押圧するように構成されていたが、これに限定されるものではない。例えば、図6に示すように、測定用器具1は、第2基板20を押圧する押圧手段50を更に備えていてもよい。この場合、押圧手段50は、バネなどの弾性力を用いて押圧する構成であってもよいし、第1基板10と第2基板20とに設けた二つの磁極による磁力によって押圧する構成であってもよい。   In the first embodiment described above, the second substrate 20 is configured to press the contact lens 100 toward the first substrate 10 by its own weight, but is not limited thereto. For example, as shown in FIG. 6, the measuring instrument 1 may further include a pressing unit 50 that presses the second substrate 20. In this case, the pressing means 50 may be configured to press using an elastic force such as a spring, or may be configured to press using the magnetic force generated by the two magnetic poles provided on the first substrate 10 and the second substrate 20. May be.

また、上述した第1実施形態では、第2基板20は、球状に構成されていたが、図7に示すように、円柱状であって、接触面20aが凸状に湾曲する構成であってもよい。   In the first embodiment described above, the second substrate 20 has a spherical shape. However, as shown in FIG. 7, the second substrate 20 has a cylindrical shape and the contact surface 20a is curved in a convex shape. Also good.

また、上述した第1実施形態では、第1基板10が凹部11を有していたが、図8(a)に示すように、第1基板10は、凸部15を備えていてもよい。この場合、凸部15が接触面11aを有するとともに、凸部15の接触面11aに金属ナノ粒子Mが形成される。また、図8(a)に示すように、第1基板10が凸部15備える場合、第2基板20は、凸部15を収容可能な凹部21を備えることが好ましい。   In the first embodiment described above, the first substrate 10 has the recess 11, but as shown in FIG. 8A, the first substrate 10 may have a protrusion 15. In this case, the convex part 15 has the contact surface 11 a and the metal nanoparticles M are formed on the contact surface 11 a of the convex part 15. As shown in FIG. 8A, when the first substrate 10 includes the convex portion 15, the second substrate 20 preferably includes a concave portion 21 that can accommodate the convex portion 15.

このように、第1基板10と第2基板20との内の一方は、接触面11aが凸状に湾曲することが好ましい。また、第1基板10と第2基板20との内の一方は、接触面11aが凸状に湾曲する場合、第1基板10と第2基板20との内の他方は、接触面11aが凹状に湾曲することが好ましい。   Thus, in one of the first substrate 10 and the second substrate 20, the contact surface 11a is preferably curved in a convex shape. In addition, when one of the first substrate 10 and the second substrate 20 has a curved contact surface 11a, the other of the first substrate 10 and the second substrate 20 has a concave contact surface 11a. It is preferable to bend.

なお、図8(b)に示すように、第1基板10が、凸部15を備える場合、第2基板20は、板状に構成されていてもよい。また、図8(c)に示すように、第1基板10が、凸部15を備える場合、第2基板20も、凸部25を備える構成であってもよい。   In addition, as shown in FIG.8 (b), when the 1st board | substrate 10 is provided with the convex part 15, the 2nd board | substrate 20 may be comprised by plate shape. Further, as illustrated in FIG. 8C, when the first substrate 10 includes the convex portion 15, the second substrate 20 may also include the convex portion 25.

[本発明のその他の実施形態]
以上、上述の実施形態を用いて本発明について詳細に説明したが、当業者にとっては、本発明が本明細書中に説明した実施形態に限定されるものではないということは明らかである。
[Other Embodiments of the Present Invention]
Although the present invention has been described in detail using the above-described embodiments, it is obvious to those skilled in the art that the present invention is not limited to the embodiments described in this specification.

例えば、上述の第1実施形態では、第1基板10と第2基板20とは、いずれも透明の部材からなる場合を例に挙げて説明したが、励起光L1の照射側及びラマン散乱光L2の受光側となる何れか一方の基板(例えば、第1基板10)のみが、透明の部材からなるように構成されていてもよい。   For example, in the first embodiment described above, the first substrate 10 and the second substrate 20 have been described by taking the case where both are made of transparent members as an example. However, the irradiation side of the excitation light L1 and the Raman scattered light L2 are described. Only one of the substrates on the light receiving side (for example, the first substrate 10) may be formed of a transparent member.

また、上述の第1実施形態では、測定用器具1がコンタクトレンズ100を保持した状態のまま、表面増強ラマン分光法により測定する場合を例に挙げて説明したがこれに限定されるものではない。例えば、測定の前に、測定用器具1がコンタクトレンズ100を保持することによって、測定用器具1の接触面11aに形成される金属ナノ粒子Mに、コンタクトレンズ100の付着物質を付着させる。そして、コンタクトレンズ100の付着物質を付着させた測定用器具1を表面増強ラマン分光法により測定してもよい。   In the first embodiment described above, the case where measurement is performed by surface-enhanced Raman spectroscopy while the measurement instrument 1 holds the contact lens 100 has been described as an example, but the present invention is not limited thereto. . For example, before the measurement, the measurement instrument 1 holds the contact lens 100, so that the adhesion substance of the contact lens 100 is adhered to the metal nanoparticles M formed on the contact surface 11a of the measurement instrument 1. And you may measure the measuring instrument 1 to which the adhesion substance of the contact lens 100 was made to adhere by surface-enhanced Raman spectroscopy.

このように、本発明は上記実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。   As described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments as they are, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. Various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the embodiments. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment.

本発明の測定用器具1及び測定方法は、コンタクトレンズに付着する付着物質を表面増強ラマン分光法によって測定する際に適用することができる。   The measuring instrument 1 and the measuring method of the present invention can be applied when measuring an adhering substance adhering to a contact lens by surface enhanced Raman spectroscopy.

1…測定用器具
10…第1基板
11…凹部
11a…接触面
20…第2基板
20a…接触面
40…発光器
50…受光器
50…押圧手段
100…コンタクトレンズ
M…金属ナノ粒子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Measuring instrument 10 ... 1st board | substrate 11 ... Recessed part 11a ... Contact surface 20 ... 2nd board | substrate 20a ... Contact surface 40 ... Light emitter 50 ... Light receiver 50 ... Pressing means 100 ... Contact lens M ... Metal nanoparticle

Claims (6)

コンタクトレンズに付着した付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する際に用いられる測定用器具であって、
前記コンタクトレンズを保持した状態で前記コンタクトレンズに接触する接触面に、表面増強ラマン分光測定用金属ナノ粒子が形成されている
ことを特徴とする測定用器具。
A measuring instrument used when measuring an adhesion substance adhering to a contact lens by surface-enhanced Raman spectroscopy,
A measuring instrument, wherein surface-enhanced Raman spectroscopic metal nanoparticles are formed on a contact surface in contact with the contact lens while holding the contact lens.
前記コンタクトレンズを配置する第1基板と、
前記第1基板に配置される前記コンタクトレンズを押圧する第2基板とを備え、
前記金属ナノ粒子は、前記第1基板と前記第2基板との少なくとも一方に形成される
ことを特徴とする請求項1記載の測定用器具。
A first substrate on which the contact lens is disposed;
A second substrate for pressing the contact lens disposed on the first substrate,
The measurement instrument according to claim 1, wherein the metal nanoparticles are formed on at least one of the first substrate and the second substrate.
前記第1基板と前記第2基板との内の一方は、前記接触面が凸状に湾曲する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の測定用器具。
The measuring instrument according to claim 1 or 2, wherein one of the first substrate and the second substrate has the contact surface curved in a convex shape.
前記第1基板と前記第2基板との内の他方は、前記接触面が凹状に湾曲する
ことを特徴とする請求項3に記載の測定用器具。
The measuring instrument according to claim 3, wherein the contact surface of the other of the first substrate and the second substrate is curved in a concave shape.
前記第1基板と前記第2基板との少なくともどちらか一方の基板は、波長380nmから2000nmの波長帯域の特定波長の光に対して透過率が50%以上である透明の部材からなる
ことを特徴とする請求項2乃至4の何れか一項に記載の測定用器具。
At least one of the first substrate and the second substrate is made of a transparent member having a transmittance of 50% or more for light of a specific wavelength in a wavelength band of 380 nm to 2000 nm. The measuring instrument according to any one of claims 2 to 4.
前記コンタクトレンズを保持する測定用器具を用いて、前記コンタクトレンズに付着する付着物質を表面増強ラマン分光法により測定する工程を含み、
前記測定用器具には、前記コンタクトレンズを保持した状態で前記コンタクトレンズに接触する接触面に、表面増強ラマン分光測定用金属ナノ粒子が形成されている
ことを特徴とする測定方法。


Using a measuring instrument for holding the contact lens, and measuring the adhesion substance adhering to the contact lens by surface enhanced Raman spectroscopy,
The measuring instrument is characterized in that surface-enhanced Raman spectroscopic metal nanoparticles are formed on a contact surface in contact with the contact lens while holding the contact lens.


JP2015177333A 2015-09-09 2015-09-09 Measuring instrument Expired - Fee Related JP6607635B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015177333A JP6607635B2 (en) 2015-09-09 2015-09-09 Measuring instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015177333A JP6607635B2 (en) 2015-09-09 2015-09-09 Measuring instrument

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017053703A true JP2017053703A (en) 2017-03-16
JP6607635B2 JP6607635B2 (en) 2019-11-20

Family

ID=58317814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015177333A Expired - Fee Related JP6607635B2 (en) 2015-09-09 2015-09-09 Measuring instrument

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6607635B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200090560A (en) * 2019-01-21 2020-07-29 서울대학교산학협력단 Raman analysis apparatus using nanoscale printing apparatus
KR20200104993A (en) * 2019-02-28 2020-09-07 한국광기술원 Raman signal enhancement device using plasmon and raman signal measurment system using the same
WO2020153696A3 (en) * 2019-01-21 2020-10-01 서울대학교산학협력단 Nano printing device and raman analysis apparatus using same

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003121349A (en) * 2001-08-07 2003-04-23 Mitsubishi Chemicals Corp Surface plasmon resonance sensor chip as well as method and apparatus for analysing sample by using the same
US20040180379A1 (en) * 2002-08-30 2004-09-16 Northwestern University Surface-enhanced raman nanobiosensor
JP2008531989A (en) * 2005-02-22 2008-08-14 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Surface enhanced spectroscopy with an embedded biosensor
JP2009544967A (en) * 2006-07-25 2009-12-17 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. Controllable surface enhanced Raman spectroscopy
JP2014037972A (en) * 2012-08-10 2014-02-27 Hamamatsu Photonics Kk Surface enhanced raman scattering unit
JP2014037975A (en) * 2012-08-10 2014-02-27 Hamamatsu Photonics Kk Surface enhanced raman scattering unit
WO2014097886A1 (en) * 2012-12-18 2014-06-26 学校法人早稲田大学 Optical device and analysis apparatus
US20140293284A1 (en) * 2011-10-26 2014-10-02 Thibaut Mercey Microstructured chip comprising convex surfaces for surface plasmon resonance analysis, analysis device containing said microstructured chip and use of said device

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003121349A (en) * 2001-08-07 2003-04-23 Mitsubishi Chemicals Corp Surface plasmon resonance sensor chip as well as method and apparatus for analysing sample by using the same
US20040180379A1 (en) * 2002-08-30 2004-09-16 Northwestern University Surface-enhanced raman nanobiosensor
JP2008531989A (en) * 2005-02-22 2008-08-14 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Surface enhanced spectroscopy with an embedded biosensor
JP2009544967A (en) * 2006-07-25 2009-12-17 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. Controllable surface enhanced Raman spectroscopy
US20140293284A1 (en) * 2011-10-26 2014-10-02 Thibaut Mercey Microstructured chip comprising convex surfaces for surface plasmon resonance analysis, analysis device containing said microstructured chip and use of said device
JP2014037972A (en) * 2012-08-10 2014-02-27 Hamamatsu Photonics Kk Surface enhanced raman scattering unit
JP2014037975A (en) * 2012-08-10 2014-02-27 Hamamatsu Photonics Kk Surface enhanced raman scattering unit
WO2014097886A1 (en) * 2012-12-18 2014-06-26 学校法人早稲田大学 Optical device and analysis apparatus

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200090560A (en) * 2019-01-21 2020-07-29 서울대학교산학협력단 Raman analysis apparatus using nanoscale printing apparatus
WO2020153696A3 (en) * 2019-01-21 2020-10-01 서울대학교산학협력단 Nano printing device and raman analysis apparatus using same
KR102202437B1 (en) * 2019-01-21 2021-01-12 서울대학교산학협력단 Raman analysis apparatus using nanoscale printing apparatus
US11874203B2 (en) 2019-01-21 2024-01-16 Seoul National University R&Db Foundation Nano printing device and Raman analysis apparatus using same
KR20200104993A (en) * 2019-02-28 2020-09-07 한국광기술원 Raman signal enhancement device using plasmon and raman signal measurment system using the same
KR102234980B1 (en) * 2019-02-28 2021-04-01 한국광기술원 Raman signal enhancement device using plasmon and raman signal measurment system using the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP6607635B2 (en) 2019-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Zhang et al. Highly sensitive and reproducible SERS substrates based on ordered micropyramid array and silver nanoparticles
Liu et al. Plasmonic and photothermal immunoassay via enzyme-triggered crystal growth on gold nanostars
Yaraki et al. Emerging SERS biosensors for the analysis of cells and extracellular vesicles
Mahmoud et al. Different plasmon sensing behavior of silver and gold nanorods
Celikbas et al. based analytical methods for smartphone sensing with functional nanoparticles: Bridges from smart surfaces to global health
Zhao et al. Quantitative detection of uric acid by electrochemical-surface enhanced Raman spectroscopy using a multilayered Au/Ag substrate
Ballard et al. Computational sensing using low-cost and mobile plasmonic readers designed by machine learning
Garg et al. Reusable surface-enhanced Raman spectroscopy membranes and textiles via template-assisted self-assembly and micro/nanoimprinting
Song et al. Alkyne-functionalized superstable graphitic silver nanoparticles for Raman imaging
Nguyen et al. Use of graphene and gold nanorods as substrates for the detection of pesticides by surface enhanced Raman spectroscopy
Kang et al. A deformable nanoplasmonic membrane reveals universal correlations between plasmon resonance and surface enhanced Raman scattering.
Wang et al. Trends in nanophotonics‐enabled optofluidic biosensors
JP6607635B2 (en) Measuring instrument
A. Paiva-Marques et al. Chiral plasmonics and their potential for point-of-care biosensing applications
Xiao et al. Wearable plasmonic sweat biosensor for acetaminophen drug monitoring
Sultangaziyev et al. Trends in application of SERS substrates beyond Ag and Au, and their role in bioanalysis
Fu et al. Fabrication of silver nanoplate hierarchical turreted ordered array and its application in trace analyses
Yang et al. Surface enhanced Raman spectroscopy: applications in agriculture and food safety
Chen et al. Fabrication of large-area, high-enhancement SERS substrates with tunable interparticle spacing and application in identifying microorganisms at the single cell level
US20140198376A1 (en) Optical sensing chip
Liu et al. Recent progress of surface-enhanced Raman spectroscopy for bacteria detection
Linh et al. Flexible surface-enhanced Raman scattering substrates toward sampling approaches for on-site sensing and diagnosis applications
Li et al. Determination of carcinoembryonic antigen by surface-enhanced raman spectroscopy using gold nanobowl arrays
Li et al. Preparation and application of metal nanoparticals elaborated fiber sensors
Ramgir et al. Voltammetric detection of cancer biomarkers exemplified by interleukin-10 and osteopontin with silica nanowires

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180709

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190625

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190820

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191008

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191018

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6607635

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees