JP2017044972A - Optical equipment, and its control method and control program - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To stably perform offset cancellation regardless of a usage condition when detecting a position of an AF lens.SOLUTION: When imaging a subject, a camera drives an imaging optical system 12 along an optical axis to allow the imaging optical system to focus at the subject. The position of the imaging optical system is detected by using magnetic sensors 19a and 19b to obtain detection position information. CPU 111 sets sensitivities of the magnetic sensors, and on the basis of detection position information being obtained by using magnetic sensors in which sensitivities are set to prescribed low sensitivity, corrects detection position information being obtained by using magnetic sensors in which sensitivities are set to high sensitivities higher than the prescribed low sensitivity.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、光学機器、その制御方法、および制御プログラムに関する。   The present invention relates to an optical instrument, a control method thereof, and a control program.

一般に、デジタルスチルカメラ又はビデオカメラなどの撮像装置において、フォーカスレンズなどの撮影レンズの位置を検出して、当該レンズ位置に応じて撮影レンズを駆動制御する撮像装置が知られている(特許文献1に参照)。   In general, in an imaging apparatus such as a digital still camera or a video camera, an imaging apparatus that detects the position of a photographing lens such as a focus lens and drives and controls the photographing lens according to the lens position is known (Patent Document 1). See).

そして、特許文献1に記載の撮像装置では、合焦動作が終了するなどの感度アップ条件に該当する場合には、ホール素子に供給する定電流を増加させて、ホール素子の感度を上げるようにしている。   Then, in the imaging device described in Patent Document 1, when a sensitivity increase condition such as the completion of the focusing operation is satisfied, the constant current supplied to the Hall element is increased to increase the sensitivity of the Hall element. ing.

特開2009−47757号公報JP 2009-47757 A

上述の特許文献1に記載の撮像装置では、ホール素子が高感度に切り替えられた際には、当該ホール素子の出力に重畳するオフセット成分を除去する必要がある。このため、特許文献1に記載の撮像装置では、高感度のホール素子の出力から除去すべきオフセット量を求めて、当該オフセット量をホール素子の出力から減算する。   In the imaging apparatus described in Patent Document 1 described above, when the Hall element is switched to high sensitivity, it is necessary to remove the offset component superimposed on the output of the Hall element. For this reason, in the imaging apparatus described in Patent Document 1, an offset amount to be removed is obtained from the output of the high-sensitivity Hall element, and the offset amount is subtracted from the output of the Hall element.

ところが、高感度の際のホール素子の出力が既に飽和していると、除去すべきオフセット量を求めることができない。   However, if the output of the Hall element at the time of high sensitivity is already saturated, the offset amount to be removed cannot be obtained.

従って、本発明の目的は、使用条件に拘わらず安定してオフセット除去を行うことのできる撮像装置、その制御方法、および制御プログラムを提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an imaging apparatus capable of performing offset removal stably regardless of use conditions, a control method thereof, and a control program.

上記の目的を達成するため、本発明による光学機器は、被写体を撮像する際、撮像光学系を光軸に沿って駆動して、前記撮像光学系を前記被写体に合焦させる光学機器であって、前記撮像光学系の位置を検出して検出位置情報を得る検出手段と、前記検出手段の検出感度を設定する設定手段と、前記設定手段によって前記検出手段の検出感度が所定の低感度に設定された際の前記検出手段で得られた検出位置情報に基づいて、前記設定手段によって前記検出手段の検出感度が前記低感度よりも高い高感度に設定された際の前記検出手段で得られた検出位置情報を補正する補正手段と、を有することを特徴とする。   In order to achieve the above object, an optical apparatus according to the present invention is an optical apparatus that drives an imaging optical system along an optical axis to focus the imaging optical system on the subject when imaging a subject. Detecting means for detecting the position of the imaging optical system to obtain detected position information; setting means for setting the detection sensitivity of the detecting means; and the setting means sets the detection sensitivity of the detecting means to a predetermined low sensitivity. Obtained by the detection means when the detection sensitivity of the detection means is set higher than the low sensitivity by the setting means based on the detection position information obtained by the detection means when Correction means for correcting the detected position information.

本発明による制御方法は、光軸に沿って移動可能な撮像光学系の位置を検出して検出位置情報を得る検出センサを備え、被写体を撮像する際、前記撮像光学系を光軸に沿って駆動して前記撮像光学系を前記被写体に合焦させる光学機器の制御方法であって、前記検出センサの検出感度を設定する設定ステップと、前記設定ステップで前記検出センサの検出感度が所定の低感度に設定された際の前記検出センサで得られた検出位置情報に基づいて、前記設定ステップで前記検出センサの検出感度が前記低感度よりも高い高感度に設定された際の前記検出センサで得られた検出位置情報を補正する補正ステップと、を有することを特徴とする。   The control method according to the present invention includes a detection sensor that detects the position of an imaging optical system that can move along the optical axis and obtains detection position information. When imaging a subject, the imaging optical system is moved along the optical axis. An optical device control method for driving and focusing the imaging optical system on the subject, wherein a setting step for setting a detection sensitivity of the detection sensor, and a detection sensitivity of the detection sensor at a predetermined low level in the setting step Based on the detection position information obtained by the detection sensor when the sensitivity is set, the detection sensor when the detection sensitivity of the detection sensor is set higher than the low sensitivity in the setting step. And a correction step of correcting the obtained detected position information.

本発明による制御プログラムは、光軸に沿って移動可能な撮像光学系の位置を検出して検出位置情報を得る検出センサを備え、被写体を撮像する際、前記撮像光学系を光軸に沿って駆動して前記撮像光学系を前記被写体に合焦させる光学機器で用いられる制御プログラムであって、前記光学機器が備えるコンピュータに、前記検出センサの検出感度を設定する設定ステップと、前記設定ステップで前記検出センサの検出感度が所定の低感度に設定された際の前記検出センサで得られた検出位置情報に基づいて、前記設定ステップで前記検出センサの検出感度が前記低感度よりも高い高感度に設定された際の前記検出センサで得られた検出位置情報を補正する補正ステップと、を実行させることを特徴とする。   A control program according to the present invention includes a detection sensor that detects a position of an imaging optical system that can move along an optical axis and obtains detection position information. When imaging a subject, the imaging optical system is moved along the optical axis. A control program used in an optical device that drives and focuses the imaging optical system on the subject, the setting step for setting the detection sensitivity of the detection sensor in a computer included in the optical device, and the setting step Based on the detection position information obtained by the detection sensor when the detection sensitivity of the detection sensor is set to a predetermined low sensitivity, the detection sensitivity of the detection sensor is higher than the low sensitivity in the setting step. And a correction step of correcting the detected position information obtained by the detection sensor when set to.

本発明によれば、検出感度が低感度である際に得られた検出位置情報に基づいて、検出感度が高感度である際に得られた検出位置情報を補正する。これによって、使用条件に拘わらず安定してオフセット除去を行うことができる。   According to the present invention, based on the detection position information obtained when the detection sensitivity is low, the detection position information obtained when the detection sensitivity is high is corrected. As a result, offset removal can be performed stably regardless of the use conditions.

本発明の実施の形態による光学機器としての撮像装置の一例についてその構成を示す図である。It is a figure which shows the structure about an example of the imaging device as an optical apparatus by embodiment of this invention. 図1に示すカメラの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the camera shown in FIG. 図1に示す磁気センサの出力を説明するための図であり、(a)は第1の磁気センサの出力を示す図、(b)は第2の磁気センサの出力を示す図、(c)は第1の磁気センサの出力および第2の磁気センサの出力と第1の差動増幅部の出力(差動出力)との関係を示す図である。It is a figure for demonstrating the output of the magnetic sensor shown in FIG. 1, (a) is a figure which shows the output of a 1st magnetic sensor, (b) is a figure which shows the output of a 2nd magnetic sensor, (c). These are figures which show the relationship between the output of a 1st magnetic sensor, the output of a 2nd magnetic sensor, and the output (differential output) of a 1st differential amplifier. 図1に示すAFレンズのスキャン動作の一例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating an example of the scanning operation | movement of AF lens shown in FIG. 図1に示すAFレンズのスキャン動作の他の例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the other example of the scanning operation | movement of AF lens shown in FIG. 図1に示すカメラで行われるAF動作の一例を説明するためのフローチャートである。3 is a flowchart for explaining an example of an AF operation performed by the camera shown in FIG. 1.

以下に、本発明の実施の形態による光学機器としての撮像装置の一例について図面を参照して説明する。   Hereinafter, an example of an imaging apparatus as an optical apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の実施の形態による光学機器としての撮像装置の一例についてその構成を示す図である。   FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an example of an imaging apparatus as an optical apparatus according to an embodiment of the present invention.

図示の光学機器としての撮像装置は、例えば、デジタルカメラ(以下単にカメラと呼ぶ)であり、AFレンズ12を有する光学部(撮像光学系又は光学系ともいう)を備えている。そして、AFレンズ12は、後述するようにして、撮影光軸11に沿って移動可能である。AFレンズ12はレンズ保持枠13に保持されており、このレンズ保持枠13はガイド軸14によって撮影光軸11方向に摺動可能に支持されている。   An imaging apparatus as an illustrated optical apparatus is, for example, a digital camera (hereinafter simply referred to as a camera), and includes an optical unit (also referred to as an imaging optical system or an optical system) having an AF lens 12. The AF lens 12 is movable along the photographing optical axis 11 as will be described later. The AF lens 12 is held by a lens holding frame 13, and this lens holding frame 13 is supported by a guide shaft 14 so as to be slidable in the direction of the photographing optical axis 11.

鏡筒部21(図2)には支持部15aおよび15bが設けられており、支持部15aおよび15bによってガイド軸14が支持される。レンズ保持枠13には永久磁石16が固定され、この永久磁石16は、図中矢印16aで示す方向に着磁されている。この結果、永久磁石16によって外部磁界16bおよび16cが形成される。   The lens barrel portion 21 (FIG. 2) is provided with support portions 15a and 15b, and the guide shaft 14 is supported by the support portions 15a and 15b. A permanent magnet 16 is fixed to the lens holding frame 13, and this permanent magnet 16 is magnetized in the direction indicated by the arrow 16a in the figure. As a result, external magnetic fields 16 b and 16 c are formed by the permanent magnet 16.

永久磁石16に対向してコア18が配置され、このコア18にはコイル17が巻回されて固定されている。そして、ガイド軸14の延在方向に沿って所定の間隔をおいてホール素子又はMR素子などの一対の磁気センサ(検出センサ)19aおよび19bが配置されている。磁気センサ19aおよび19bには第1の差動増幅部19cが接続されている。そして、第1の差動増幅部19cは磁気センサ19aおよび19bの出力の差を増幅して出力する。   A core 18 is disposed opposite the permanent magnet 16, and a coil 17 is wound around the core 18 and fixed thereto. A pair of magnetic sensors (detection sensors) 19a and 19b such as Hall elements or MR elements are arranged at a predetermined interval along the extending direction of the guide shaft 14. A first differential amplifier 19c is connected to the magnetic sensors 19a and 19b. The first differential amplifier 19c amplifies and outputs the difference between the outputs of the magnetic sensors 19a and 19b.

光学系の後段には撮像素子(撮像部ともいう)110が配置されており、撮像素子110には光学系を介して被写体像(光学像)が結像される。そして、撮像素子110は光学像に応じた画像信号を生成する。そして、撮像素子110は画像信号をA/D変換して画像データとして出力する。   An imaging element (also referred to as an imaging unit) 110 is disposed at the subsequent stage of the optical system, and a subject image (optical image) is formed on the imaging element 110 via the optical system. Then, the image sensor 110 generates an image signal corresponding to the optical image. The image sensor 110 performs A / D conversion on the image signal and outputs it as image data.

カメラ本体部(図2)にはCPU111が備えられている。CPU111は、評価値算出部111a、関連づけ部111b、駆動指示部111c、目標値算出部111d、センサ制御部111e、およびオフセット制御部111fを有している。評価値算出部111aは撮像素子110の出力である画像データに基づいて被写体像に係るコントラスト評価値を求める。   The camera body (FIG. 2) is provided with a CPU 111. The CPU 111 includes an evaluation value calculation unit 111a, an association unit 111b, a drive instruction unit 111c, a target value calculation unit 111d, a sensor control unit 111e, and an offset control unit 111f. The evaluation value calculation unit 111a obtains a contrast evaluation value related to the subject image based on the image data that is the output of the image sensor 110.

関連づけ部111bには、後述するようにして、磁気センサ19aおよび19bの出力に応じて求められたAFレンズ12の位置(以下単にレンズ位置と呼ぶ)とコントラスト評価値とを関連づけて、関連づけ信号として出力する。駆動指示部111cは、関連づけ信号又はレンズ位置と目標位置算出部111dの出力とに応じてAFレンズ12の駆動を制御するための駆動指示信号を出力する。   The association unit 111b associates the position of the AF lens 12 (hereinafter simply referred to as the lens position) obtained in accordance with the outputs of the magnetic sensors 19a and 19b and the contrast evaluation value as an association signal as described later. Output. The drive instruction unit 111c outputs a drive instruction signal for controlling the driving of the AF lens 12 according to the association signal or the lens position and the output of the target position calculation unit 111d.

目標位置算出部111dはAFレンズ12の目標位置を駆動指示部111cおよびセンサ制御部111eに出力する。センサ制御部111eは目標位置算出部111dの出力であるAFレンズ12の目標位置に応じて磁気センサ19aおよび19bに与える駆動電流を制御する。オフセット制御部111fは磁気センサ19aおよび19bの出力に重畳するオフセット成分を除去するタイミングを制御する。   The target position calculation unit 111d outputs the target position of the AF lens 12 to the drive instruction unit 111c and the sensor control unit 111e. The sensor control unit 111e controls the drive current applied to the magnetic sensors 19a and 19b according to the target position of the AF lens 12 that is the output of the target position calculation unit 111d. The offset controller 111f controls the timing for removing the offset component superimposed on the outputs of the magnetic sensors 19a and 19b.

コイル駆動部112は駆動指示手段の出力である駆動指示信号に基づいてコイル17に駆動電流を印加する。センサ駆動部113はセンサ制御部111eの出力に基づいて磁気センサ19aおよび19bに駆動電流を印加する。利得補償部114は第1の差動増幅部19cの出力を駆動指示部111cの出力に基づいて補償する。   The coil drive unit 112 applies a drive current to the coil 17 based on a drive instruction signal that is an output of the drive instruction means. The sensor driving unit 113 applies a driving current to the magnetic sensors 19a and 19b based on the output of the sensor control unit 111e. The gain compensator 114 compensates the output of the first differential amplifier 19c based on the output of the drive instruction unit 111c.

第1の経路切替部115はセンサ制御部111eの出力に基づいて利得補償部114の出力を切り替える。ここでは、第1の経路切替部115は、センサ制御部111eの出力を参照して、磁気センサ19aおよび19bの感度が高いと、利得補償部114の出力を補償信号Bとして第2の差動増幅部117および第1のサンプルホールド部(S/H 1)116aに送る。一方、磁気センサ19aおよび19bの感度が低いと、利得補償部114の出力を補償信号Aとして第2の経路切替部118および第2のサンプルホールド部(S/H 2)に送る。   The first path switching unit 115 switches the output of the gain compensation unit 114 based on the output of the sensor control unit 111e. Here, the first path switching unit 115 refers to the output of the sensor control unit 111e, and when the sensitivity of the magnetic sensors 19a and 19b is high, the output of the gain compensation unit 114 is used as the compensation signal B as the second differential signal. The data is sent to the amplification unit 117 and the first sample hold unit (S / H 1) 116a. On the other hand, when the sensitivity of the magnetic sensors 19a and 19b is low, the output of the gain compensation unit 114 is sent as the compensation signal A to the second path switching unit 118 and the second sample hold unit (S / H 2).

第1のサンプルホールド部116aは、補償信号Bをオフセット制御部111eの出力タイミングに基づいて保持して補償信号Cとする。第2のサンプルホールド部116bは補償信号Aをオフセット制御部111eの出力タイミングに基づいて保持して補償信号Eとする。   The first sample-and-hold unit 116a holds the compensation signal B based on the output timing of the offset control unit 111e as the compensation signal C. The second sample and hold unit 116b holds the compensation signal A based on the output timing of the offset control unit 111e as a compensation signal E.

第2の差動増幅部117は補償信号Bと補償信号Cとを差動増幅して補償信号Dとする。そして、第2の差動増幅部117の出力である補償信号Dと第2のサンプルホールド部116bの出力である補償信号Eとは加算されて補償信号Dとされる。第2の経路切替部118は補償信号Aおよび補償信号Dを、センサ制御部111eの出力に基づいて選択的に出力する。増幅/ADC119は、第2の経路切替部2の出力を増幅するとともにA/D変換してレンズ位置としてCPU111(ここでは、関連づけ部111bおよび駆動指示部111c)に送る。   The second differential amplifier 117 differentially amplifies the compensation signal B and the compensation signal C to obtain a compensation signal D. Then, the compensation signal D, which is the output of the second differential amplifier 117, and the compensation signal E, which is the output of the second sample and hold unit 116b, are added to form a compensation signal D. The second path switching unit 118 selectively outputs the compensation signal A and the compensation signal D based on the output of the sensor control unit 111e. The amplification / ADC 119 amplifies the output of the second path switching unit 2 and A / D-converts it and sends it as a lens position to the CPU 111 (here, the association unit 111b and the drive instruction unit 111c).

図2は、図1に示すカメラの構造を示す断面図である。   FIG. 2 is a cross-sectional view showing the structure of the camera shown in FIG.

前述の光学系は、AFレンズ12の他に、レンズ21aおよび21b、光学ローパスフィルタ22などを備えている。そして、光学系は鏡筒部21に保持される。図1には示されていないが、光学系の後段には絞り兼用シャッタ23が配置され、絞り兼用シャッタ24の後段に前述の撮像素子110が配置される。そして、カメラ本体部24には撮像素子110およびCPU111が備えられるとともに、その背面には背面液晶モニタ25が配置される。   In addition to the AF lens 12, the optical system includes lenses 21a and 21b, an optical low-pass filter 22, and the like. The optical system is held by the barrel portion 21. Although not shown in FIG. 1, the diaphragm / shutter 23 is disposed downstream of the optical system, and the above-described imaging element 110 is disposed downstream of the diaphragm / shutter 24. The camera body 24 is provided with an image sensor 110 and a CPU 111, and a rear liquid crystal monitor 25 is disposed on the back thereof.

レンズ鏡筒部21はカメラ本体部24に支持されており、カメラ本体部24に備えられたCPU111によって鏡筒部21が制御されて、ズーム制御、シャッタ制御、および沈胴制御が行われる。   The lens barrel portion 21 is supported by the camera body portion 24, and the CPU 111 provided in the camera body portion 24 controls the lens barrel portion 21 to perform zoom control, shutter control, and collapsible control.

図2では、レンズ鏡筒部21およびカメラ本体部24が一体である撮像装置が示されている。   FIG. 2 shows an imaging apparatus in which the lens barrel portion 21 and the camera body portion 24 are integrated.

図1および図2を参照して、コイル駆動部112がコイル17に電流を流すと磁界が生じる。そして、当該磁界と永久磁石16の磁束(つまり、外部磁界16aおよび16b)とに応じて、AFレンズ12は撮影光軸11に沿って(図2に示す矢印11aの方向)駆動される。磁気センサ19aおよび19bはAFレンズ12の位置を検出する。なお、図1において、磁石16による外部磁界16bおよび16cに応じて磁気センサ19aおよび19bの出力は変化する。   With reference to FIGS. 1 and 2, a magnetic field is generated when the coil driving unit 112 passes a current through the coil 17. The AF lens 12 is driven along the photographing optical axis 11 (in the direction of the arrow 11a shown in FIG. 2) according to the magnetic field and the magnetic flux of the permanent magnet 16 (that is, the external magnetic fields 16a and 16b). The magnetic sensors 19a and 19b detect the position of the AF lens 12. In FIG. 1, the outputs of the magnetic sensors 19a and 19b change according to the external magnetic fields 16b and 16c by the magnet 16.

図3は、図1に示す磁気センサの出力を説明するための図である。そして、図3(a)は第1の磁気センサの出力を示す図であり、図3(b)は第2の磁気センサの出力を示す図である。また、図3(c)は、第1の磁気センサの出力および第2の磁気センサの出力と第1の差動増幅部の出力(差動出力)との関係を示す図である。   FIG. 3 is a diagram for explaining the output of the magnetic sensor shown in FIG. FIG. 3A is a diagram showing the output of the first magnetic sensor, and FIG. 3B is a diagram showing the output of the second magnetic sensor. FIG. 3C is a diagram showing the relationship between the output of the first magnetic sensor, the output of the second magnetic sensor, and the output (differential output) of the first differential amplifier.

図3(a)においては、磁界の変化に対する磁気センサ19aの出力の変化が示されており、図示のように磁界変化範囲が規定されている。そして、磁界変化範囲において、矢印31aで示すように磁界が小さくなるにつれて、磁気センサ19aの出力は太線32aで示すように大きくなる。   In FIG. 3A, the change of the output of the magnetic sensor 19a with respect to the change of the magnetic field is shown, and the magnetic field change range is defined as shown. In the magnetic field change range, the output of the magnetic sensor 19a increases as indicated by the thick line 32a as the magnetic field decreases as indicated by the arrow 31a.

図3(b)においては、磁界の変化に対する磁気センサ19bの出力の変化が示されており、図示のように磁界変化範囲が規定されている。そして、磁界変化範囲において、矢印31bで示すように磁界が大きくなるにつれて、磁気センサ19bの出力は太線32bで示すように小さくなる。   FIG. 3B shows the change in the output of the magnetic sensor 19b with respect to the change in the magnetic field, and the magnetic field change range is defined as shown. Then, in the magnetic field change range, as the magnetic field increases as indicated by the arrow 31b, the output of the magnetic sensor 19b decreases as indicated by the thick line 32b.

なお、図1において、永久磁石16が磁気センサ19bに近づく方向に駆動されると、磁気センサ19aに加わる磁界は小さくなり、磁気センサ19bに加わる磁界は大きくなる。   In FIG. 1, when the permanent magnet 16 is driven in a direction approaching the magnetic sensor 19b, the magnetic field applied to the magnetic sensor 19a decreases and the magnetic field applied to the magnetic sensor 19b increases.

図3(c)には、永久磁石16が磁気センサ19bに近づく方向に駆動された際の第1の差動増幅部19cの差動出力33が示されている。この差動出力33は磁気センサ19aの出力32aと磁気センサ19bの出力32bの差に応じた出力である。   FIG. 3C shows the differential output 33 of the first differential amplifier 19c when the permanent magnet 16 is driven in a direction approaching the magnetic sensor 19b. The differential output 33 is an output corresponding to the difference between the output 32a of the magnetic sensor 19a and the output 32b of the magnetic sensor 19b.

なお、磁気センサ19aの出力32aおよび磁気センサ19bの出力32bは、図3(a)および図3(b)に示すように線型範囲(磁界変化範囲)が狭いが、差動出力33は出力32aおよび32bを打ち消すので、線型範囲が広くなる。   The output 32a of the magnetic sensor 19a and the output 32b of the magnetic sensor 19b have a narrow linear range (magnetic field change range) as shown in FIGS. 3A and 3B, but the differential output 33 has an output 32a. And 32b are canceled out, so the linear range is widened.

さらに、第1の差動増幅部19cで得られる差動出力は外部磁界の変化のように同相成分のノイズも除去できるメリットがある。但し、磁気センサ19aおよび19bの近傍に設けられたコイル17の駆動に伴って大きな磁界変化が発生する。この磁界変化は磁気センサ19aおよび19bに対して同相成分ではあるものの、大きな変化であるので差動出力によって十分除去できないこともある。   Furthermore, the differential output obtained by the first differential amplification section 19c has an advantage that noise of in-phase components can be removed like a change in the external magnetic field. However, a large magnetic field change occurs with the driving of the coil 17 provided in the vicinity of the magnetic sensors 19a and 19b. Although this magnetic field change is an in-phase component with respect to the magnetic sensors 19a and 19b, it is a large change and may not be sufficiently removed by the differential output.

一方、コイル17で発生する磁界は駆動指示部111cの出力である駆動指示信号によって予め予測することができる。利得補償部114は駆動指示部111cの出力に基づいて第1の差動増幅部19cの利得を調整してコイル17によって発生する磁界が磁気センサ19aおよび19bに与える影響を軽減する。   On the other hand, the magnetic field generated by the coil 17 can be predicted in advance by a drive instruction signal that is an output of the drive instruction section 111c. The gain compensator 114 adjusts the gain of the first differential amplifier 19c based on the output of the drive instruction unit 111c to reduce the influence of the magnetic field generated by the coil 17 on the magnetic sensors 19a and 19b.

なお、図1においては、利得補償部114が第1の差動増幅部19cの利得を調整するようにしたが、直接磁気センサ19aおよび19bの出力を調整した後に差動増幅を行うようにしてもよい。   In FIG. 1, the gain compensator 114 adjusts the gain of the first differential amplifying unit 19c. However, the gain compensation unit 114 directly adjusts the outputs of the magnetic sensors 19a and 19b to perform differential amplification. Also good.

上述のようにして、得られたAFレンズ12の位置情報は増幅/ADC119によって所定のダイナミックレンジに増幅された後、A/D変換されて駆動指示部111cに送られる。駆動指示部111cは、AFレンズ12の位置情報と目標値算出部111dから送られる目標値との差分に応じて、AFレンズ12を駆動するための駆動指示信号をコイル駆動部112に出力する。このような制御は、既知のフィードバック駆動制御であって、駆動指示部111cはコイル駆動を安定化させるために必要に応じで進み又は遅れ位相制御を行う。   As described above, the obtained position information of the AF lens 12 is amplified to a predetermined dynamic range by the amplification / ADC 119, then A / D converted, and sent to the drive instruction unit 111c. The drive instruction unit 111c outputs a drive instruction signal for driving the AF lens 12 to the coil drive unit 112 according to the difference between the position information of the AF lens 12 and the target value sent from the target value calculation unit 111d. Such control is known feedback drive control, and the drive instruction unit 111c performs advance or delay phase control as necessary in order to stabilize the coil drive.

ここで、AFレンズ12を合焦駆動させるための目標値算出部111dの出力(目標値)について説明する。   Here, the output (target value) of the target value calculation unit 111d for driving the AF lens 12 in focus will be described.

画像のコントラスト評価値を用いてピント合わせを行う手法では、AFレンズ12を所定の範囲で走査して、当該走査において最もコントラスト評価値の大きいAFレンズ12の位置をピントが合った位置(合焦位置)とする。   In the method of focusing using the contrast evaluation value of the image, the AF lens 12 is scanned within a predetermined range, and the position of the AF lens 12 having the largest contrast evaluation value in the scanning is in focus (focusing). Position).

AFレンズ12を走査する際には、例えば、まずAFレンズ12を駆動ストロークの端など所定の位置(初期位置)に位置づける。そして、AFレンズ12を初期位置から所定の方向に駆動する。この際、撮像部110の出力である画像データに応じて粗いサンプリング周期で順次コントラスト評価値を求める(粗スキャン)。   When scanning the AF lens 12, for example, the AF lens 12 is first positioned at a predetermined position (initial position) such as the end of the driving stroke. Then, the AF lens 12 is driven in a predetermined direction from the initial position. At this time, contrast evaluation values are sequentially obtained with a rough sampling period in accordance with the image data output from the imaging unit 110 (coarse scan).

続いて、コントラスト評価値が増大から減少に変化した時点で、AFレンズ12の駆動を停止する。そして、コントラスト評価値が増大から減少に変化した領域近辺においてAFレンズ12を再度走査する。この際には、撮像部110の出力である画像データに応じて密なサンプリング周期でコントラスト評価値を求める(密スキャン)。   Subsequently, when the contrast evaluation value changes from increasing to decreasing, the driving of the AF lens 12 is stopped. Then, the AF lens 12 is scanned again in the vicinity of the region where the contrast evaluation value changes from increasing to decreasing. At this time, a contrast evaluation value is obtained at a dense sampling period according to the image data output from the imaging unit 110 (fine scan).

続いて、密なサンプリング周期で求めたコントラスト評価値において最も高いコントラスト評価値が得られたAFレンズ12の位置にAFレンズ12を再度駆動する。   Subsequently, the AF lens 12 is driven again to the position of the AF lens 12 at which the highest contrast evaluation value is obtained in the contrast evaluation values obtained at a dense sampling period.

なお、上述したように、最も高いコントラスト評価値が得られたAFレンズ12の位置ではなく、密なサンプリング周期で求めたコントラスト評価値群を繋いだ曲線などに応じて最終的なAFレンズ12の目標位置を定めるようにしてもよい。   Note that, as described above, the final AF lens 12 is not in the position where the highest contrast evaluation value is obtained, but according to a curve connecting the contrast evaluation value groups obtained in a dense sampling period. A target position may be determined.

図4は、図1に示すAFレンズのスキャン動作の一例を説明するための図である。   FIG. 4 is a diagram for explaining an example of the scan operation of the AF lens shown in FIG.

図4において、横軸はAFレンズ12を光軸10に沿ってスキャン(走査)した時間を示す。また、縦軸は評価値算出部111aの出力であるコントラスト評価値、CPU111に入力される増幅/ADC119の出力(レンズ位置)、および目標位置を示す。   In FIG. 4, the horizontal axis indicates the time for scanning the AF lens 12 along the optical axis 10. The vertical axis indicates the contrast evaluation value that is the output of the evaluation value calculation unit 111a, the output (lens position) of the amplification / ADC 119 that is input to the CPU 111, and the target position.

目標値算出手段111dの出力である目標値は破線40aで示されており、ここではAFレンズ12は既に駆動ストロークの端(例えば、被写体が無限位置にある際に光学系が合焦する位置)に位置づけられているものとする。   The target value, which is the output of the target value calculating means 111d, is indicated by a broken line 40a. Here, the AF lens 12 is already at the end of the driving stroke (for example, the position where the optical system is focused when the subject is at an infinite position). It is assumed that

カメラの電源オン又はレリーズボタンの半押しのような撮影準備動作が開始されると、時間の経過につれて破線40aで示すように目標値は大きくなる。曲線43は破線40aで示す目標値に応じて駆動されるAFレンズ12の位置を示す。前述のように、駆動指示部111cは、目標値算出部111dの出力である目標値とAFレンズ12の位置情報とに応じて、コイル駆動部112を制御してAFレンズ12を駆動する。よって、曲線43は破線40aに対して僅かの遅れを伴って追従することになる。   When a shooting preparation operation such as turning on the power of the camera or pressing the release button halfway is started, the target value increases as time passes. A curve 43 indicates the position of the AF lens 12 driven according to the target value indicated by the broken line 40a. As described above, the drive instructing unit 111 c drives the AF lens 12 by controlling the coil driving unit 112 according to the target value that is the output of the target value calculating unit 111 d and the position information of the AF lens 12. Therefore, the curve 43 follows the broken line 40a with a slight delay.

プロット43aからプロット44lは、AFレンズ12が曲線43で示すように移動する際の磁気センサ19aおよび19bの出力(増幅/ADC119からCPU111に入力する信号)であって、AFレンズ12の位置を示す。曲線43で示すAFレンズ12の移動に伴って、撮像部110に入射する被写体像においてその焦点状態が変化する。これによって、評価値算出部111aの出力であるコントラスト評価値が変化する。   Plots 43a to 44l are outputs (signals input from the amplification / ADC 119 to the CPU 111) of the magnetic sensors 19a and 19b when the AF lens 12 moves as indicated by the curve 43, and indicate the position of the AF lens 12. . As the AF lens 12 indicated by the curve 43 moves, the focus state of the subject image incident on the imaging unit 110 changes. As a result, the contrast evaluation value, which is the output of the evaluation value calculation unit 111a, changes.

図4に示すプロット41aからプロット41fは、評価値算出部111aの出力であるコントラスト評価値を示す。コントラスト評価値が増加していき、プロット41fで示すように減少に転ずると、目標値算出部111dは出力を減少に転じた時点の目標値に固定する。これによって、AFレンズ12がプロット41eで示す合焦位置を通過したことが分かる。なお、上述の動作を粗スキャン41という。   Plots 41a to 41f shown in FIG. 4 indicate contrast evaluation values that are outputs of the evaluation value calculation unit 111a. When the contrast evaluation value increases and starts decreasing as shown by the plot 41f, the target value calculation unit 111d fixes the output to the target value at the time when the output starts decreasing. Thus, it can be seen that the AF lens 12 has passed the in-focus position indicated by the plot 41e. The above operation is referred to as a rough scan 41.

CPU111はプロット41aからプロット41fまでのコントラスト評価値の変化に基づいて再度AFレンズ12を駆動(つまり、スキャン)する区間(密スキャン区間)を設定する。CPU111は粗スキャン41で得られたコントラスト評価値41aからコントラスト評価値41fのうちで最も高いコントラスト評価値41eを含む周辺区間を密スキャン区間として設定する。目標値算出部111dはAFレンズ12を密スキャン区間で再度移動させるため目標値を出力する(破線40b)。   The CPU 111 sets a section (dense scan section) in which the AF lens 12 is driven (that is, scanned) again based on the change in the contrast evaluation value from the plot 41a to the plot 41f. The CPU 111 sets a peripheral section including the highest contrast evaluation value 41e among the contrast evaluation values 41a to 41f obtained in the rough scan 41 as a fine scan section. The target value calculation unit 111d outputs a target value for moving the AF lens 12 again in the fine scan section (broken line 40b).

この目標値に基づいてAFレンズ12が駆動される。この際、評価値算出部111aは粗スキャン41におけるサンプリングよりも密なサンプリングによってコントラスト評価値を出力する。そして、再度設定されたスキャン区間(密スキャン区間)におけるAFレンズ12の移動(つまり、スキャン)が終了すると、AFレンズ12は当該スキャン終了の位置に停止する。なお、上述の動作を密スキャンという。   The AF lens 12 is driven based on this target value. At this time, the evaluation value calculation unit 111 a outputs the contrast evaluation value by sampling that is denser than the sampling in the coarse scan 41. Then, when the movement (that is, scanning) of the AF lens 12 in the reset scan section (fine scan section) is completed, the AF lens 12 stops at the scan end position. The above-described operation is called fine scan.

上述のようにして、密スキャン区間におけるAFレンズ12の駆動が終了すると、CPU111は、密スキャン区間において評価値算出部111aが求めたコントラスト評価値41gからコントラスト評価値41lに基づいて最もコントラスト評価値が高いAFレンズ12の位置を求める。   As described above, when the driving of the AF lens 12 in the dense scan section is completed, the CPU 111 determines the most contrast evaluation value based on the contrast evaluation value 41l from the contrast evaluation value 41g obtained by the evaluation value calculation unit 111a in the dense scan section. The position of the AF lens 12 having a high value is obtained.

例えば、最も高いコントラスト評価値に対応するAFレンズ位置がプロット41iである場合には、関連づけ部111bは当該コントラスト評価値に対応する位置43iをAFレンズ12の位置として関連づける。なお、コントラスト評価値41gから41lを結ぶ曲線から最も高いコントラスト評価値を求める場合に、最も高いコントラスト評価値がプロット41hとプロット41iとの間とされた際には、関連づけ部111bは位置43hと位置43iの間の位置をAFレンズ12の位置として関連づける。   For example, when the AF lens position corresponding to the highest contrast evaluation value is the plot 41 i, the associating unit 111 b associates the position 43 i corresponding to the contrast evaluation value as the position of the AF lens 12. When obtaining the highest contrast evaluation value from the curve connecting the contrast evaluation values 41g to 41l, when the highest contrast evaluation value is between the plot 41h and the plot 41i, the associating unit 111b sets the position 43h as The position between the positions 43 i is associated as the position of the AF lens 12.

関連づけ部111bは、目標値算出部111dの代わりにAFレンズ12の位置(例えば、位置43i)を目標値として駆動指示部111cに出力する。そして、駆動指示部は増幅/ADC119の出力と関連付け部111bの出力との差分に応じてコイル駆動部112を制御する。   The associating unit 111b outputs the position of the AF lens 12 (for example, the position 43i) as a target value to the drive instructing unit 111c instead of the target value calculating unit 111d. Then, the drive instructing unit controls the coil driving unit 112 according to the difference between the output of the amplification / ADC 119 and the output of the associating unit 111b.

これによって、AFレンズ12は増幅/ADC119の出力が位置43iとなるまで駆動されて、位置43iで停止する。なお、上述の動作を合焦動作46という。このようにして、AFレンズ12は合焦位置まで駆動されて合焦動作が完了する。   As a result, the AF lens 12 is driven until the output of the amplification / ADC 119 reaches the position 43i and stops at the position 43i. The above-described operation is referred to as a focusing operation 46. In this way, the AF lens 12 is driven to the in-focus position, and the in-focus operation is completed.

ところで、上述のスキャン動作においては、関連づけ部111bにおいて関連づけされる位置41gから位置41lの精度が問題となる。磁気センサ19aおよび19bはセンサ駆動部113から駆動電流が供給されてAFレンズ12の位置を検出する。この際、センサ駆動部113から磁気センサ19aおよび19bに供給される駆動電流が大きいと、磁気検出感度が高くなって高精度にAFレンズ12の位置を検出することができる。   By the way, in the above-described scanning operation, the accuracy from the position 41g to the position 41l associated in the associating unit 111b becomes a problem. The magnetic sensors 19 a and 19 b are supplied with a driving current from the sensor driving unit 113 and detect the position of the AF lens 12. At this time, if the drive current supplied from the sensor drive unit 113 to the magnetic sensors 19a and 19b is large, the magnetic detection sensitivity becomes high and the position of the AF lens 12 can be detected with high accuracy.

ところが、センサ駆動部113から供給される駆動電流が大きくなると、つまり、磁気検出感度が高くなると、磁界変化が大きくなって、磁気センサ19aおよび19bの出力が飽和してしまうことがある。一方、センサ駆動部113から供給される駆動電流が小さいと、飽和は生じないものの磁気検出感度が低くなって高精度にAFレンズ12の位置を検出することができない。   However, when the driving current supplied from the sensor driving unit 113 is increased, that is, when the magnetic detection sensitivity is increased, the magnetic field change is increased, and the outputs of the magnetic sensors 19a and 19b may be saturated. On the other hand, when the driving current supplied from the sensor driving unit 113 is small, saturation does not occur, but the magnetic detection sensitivity is low, and the position of the AF lens 12 cannot be detected with high accuracy.

そこで、ここでは、粗スキャン区間および密スキャン区間においてはセンサ駆動部113から磁気センサ19aおよび19bに供給する駆動電流を小さくして(補償信号Aを用いて)飽和のない条件でAFレンズ12を制御する。そして、関連づけ部111bがAFレンズ12の位置検出出力と評価値算出部111aのコントラスト評価値とを関連づける際には駆動電流を大きくして補償信号Bを用いる。さらに、合焦動作を行う際においても駆動電流を大きくして補償信号Bを用いる。   Therefore, here, in the rough scan section and the fine scan section, the driving current supplied from the sensor driving unit 113 to the magnetic sensors 19a and 19b is reduced (using the compensation signal A), and the AF lens 12 is operated under the condition that there is no saturation. Control. When the associating unit 111b associates the position detection output of the AF lens 12 with the contrast evaluation value of the evaluation value calculating unit 111a, the driving signal is increased and the compensation signal B is used. Further, the compensation signal B is used by increasing the drive current when performing the focusing operation.

これによって、粗スキャン41および密スキャン42の際には、スキャン全域に渡ってAFレンズ12を安定して駆動制御することができる。そして、合焦動作においては高精度にAFレンズ12を駆動制御することができる。   As a result, during the rough scan 41 and the fine scan 42, the AF lens 12 can be stably driven and controlled over the entire scan. In the focusing operation, the AF lens 12 can be driven and controlled with high accuracy.

粗スキャン41を行う際には、センサ制御部111eは磁気センサ19aおよび19bに供給する駆動電流を小さくするようにセンサ駆動部113を制御する。また、第1の経路切替部115は、センサ制御部111eの制御下で利得補償部114の出力である補償信号Aを第2の経路切替部118に送る。そして、第2の経路切替部118は、センサ制御部111eの制御下で補償信号Aを増幅/ADC119に送る。そして、密スキャン42の際には、センサ制御手段111eはセンサ駆動部113を制御して磁気センサ19aおよび19bにする駆動電流を交番的に増減する。   When performing the coarse scan 41, the sensor control unit 111e controls the sensor drive unit 113 so as to reduce the drive current supplied to the magnetic sensors 19a and 19b. Further, the first path switching unit 115 sends the compensation signal A, which is the output of the gain compensation unit 114, to the second path switching unit 118 under the control of the sensor control unit 111e. Then, the second path switching unit 118 sends the compensation signal A to the amplification / ADC 119 under the control of the sensor control unit 111e. During the fine scan 42, the sensor control unit 111e controls the sensor driving unit 113 to alternately increase / decrease the driving current for the magnetic sensors 19a and 19b.

密スキャン42の初期において、オフセット制御部111fは第1のサンプルホールド部116aを制御して、第1のサンプルホールド部116aに補償信号Bを散布ルルドさせる。第2の差動増幅部117は、第1のサンプルホールド部116aのホールド値と補償信号Bとの差動増幅出力を出力する。   At the initial stage of the fine scan 42, the offset control unit 111f controls the first sample hold unit 116a to cause the first sample hold unit 116a to distribute the compensation signal B. The second differential amplification unit 117 outputs a differential amplification output between the hold value of the first sample hold unit 116a and the compensation signal B.

差動増幅直後の差動増幅出力は、ホールド値(補償信号)C(補償信号Bと等しい)と補償信号Bとの差分となるので、ゼロである。そして、時間の経過とともに補償信号Bは変化するが、ホールド値Cは変化しないので差動増幅出力は変化することになる。また、補償信号Bを出力する前の補償信号Aは第2のサンプルホールド部116bに与えられる。第2のサンプルホールド部116bは補償信号Aをサンプルホールドして、ホールド値Eを出力する。そして、差動増幅部117の差動増幅出力Dとホールド値Eとは加算されて補償信号Dとして第2の経路切替部118に送られる。   The differential amplification output immediately after the differential amplification is zero because it is the difference between the hold value (compensation signal) C (equal to the compensation signal B) and the compensation signal B. The compensation signal B changes with the passage of time, but the hold value C does not change, so the differential amplification output changes. Further, the compensation signal A before outputting the compensation signal B is given to the second sample hold unit 116b. The second sample hold unit 116b samples and holds the compensation signal A and outputs a hold value E. Then, the differential amplification output D of the differential amplification unit 117 and the hold value E are added and sent to the second path switching unit 118 as a compensation signal D.

これによって、第2の経路切替部118は補償信号A(プロット43f、43g、43h、43i、43j、43k、43l)と補償信号D(プロット44f、44g、44h、44i、44j、44k、44l)とを交互に出力する。このようにして、補償信号Dの初期値(プロット44f)は補償信号Aの初期値(プロット43f)とほぼ同同一の出力となる。補償信号Bは補償信号Aに比べて大きいので、AFレンズ12の変位が大きいと飽和する。   Accordingly, the second path switching unit 118 performs compensation signal A (plots 43f, 43g, 43h, 43i, 43j, 43k, 43l) and compensation signal D (plots 44f, 44g, 44h, 44i, 44j, 44k, 44l). And are output alternately. In this way, the initial value of the compensation signal D (plot 44f) is almost the same output as the initial value of the compensation signal A (plot 43f). Since the compensation signal B is larger than the compensation signal A, it is saturated when the displacement of the AF lens 12 is large.

ここで、図4において、例えば、AFレンズ12が移動する際に補償信号Bが得られている場合について説明する。   Here, in FIG. 4, for example, a case where the compensation signal B is obtained when the AF lens 12 moves will be described.

直線45は、センサ駆動部113が磁気センサ19aおよび19bに印加する駆動電流を大きくして、通常の駆動電流の5倍の駆動電流を供給した際のAFレンズ12の検出位置出力を示す。この場合には、AFレンズ12の駆動を開始して間もなく、直線45、つまり、検出位置出力は出力飽和レベル47に達する。なお、出力飽和レベル47は増幅/ADC119の前段の増幅器のダイナミックレンジで決定される。そして、出力飽和レベル47を超える位置検出は飽和信号として常に一定の値となる。つまり、AFレンズ12の位置を検出することができなくなってしまう。   A straight line 45 indicates the detection position output of the AF lens 12 when the driving current applied by the sensor driving unit 113 to the magnetic sensors 19a and 19b is increased and a driving current five times the normal driving current is supplied. In this case, the straight line 45, that is, the detection position output reaches the output saturation level 47 soon after the driving of the AF lens 12 is started. The output saturation level 47 is determined by the dynamic range of the amplifier in front of the amplification / ADC 119. The position detection exceeding the output saturation level 47 always has a constant value as a saturation signal. That is, the position of the AF lens 12 cannot be detected.

一方、センサ駆動部113によって磁気センサ19aおよび19bに印加される駆動電流が小さいと、AFレンズ12の位置検出出力はプロット43aからプロット43lに示すように出力飽和レベル47の範囲に収まる。そして、当該範囲は全てのダイナミックレンジを用いる設定とされる。   On the other hand, when the drive current applied to the magnetic sensors 19a and 19b by the sensor driving unit 113 is small, the position detection output of the AF lens 12 falls within the range of the output saturation level 47 as shown in plots 43a to 43l. The range is set to use all dynamic ranges.

いま、密スキャン42を行う際には、AFレンズ12は補償信号A(感度の小さい磁気センサ出力)に基づいて駆動制御される。この際、ほぼ同時に補償信号B(感度の大きい磁気センサ出力)とコントラスト評価値とが関連付けられる。つまり、補償信号Aは微弱でノイズが多いので、コントラスト評価値と補償信号Aとを関連づけて目標値を算出することは不向きであるため、補償信号Bとコントラスト評価値とが関連付けられる。   When performing the fine scan 42, the AF lens 12 is driven and controlled based on the compensation signal A (magnetic sensor output with low sensitivity). At this time, the compensation signal B (magnetic sensor output with high sensitivity) and the contrast evaluation value are associated with each other almost simultaneously. That is, since the compensation signal A is weak and has a lot of noise, it is not suitable to calculate the target value by associating the contrast evaluation value with the compensation signal A, so the compensation signal B and the contrast evaluation value are associated with each other.

センサ制御部111eは、例えば、10kHzの周期でセンサ駆動部113を駆動制御して、磁気センサ19aおよび19bに印加する駆動電流を制御する。この際、第1の経路切替部115によって補償信号Aおよび補償信号Bが選択的に出力される。補償信号Aは、第2の経路切替部118および増幅/ADC119を介してCPU111に入力される。そして、増幅/ADC119の出力と目標値算出部111dの出力である目標値とに基づいて、駆動指示部111cはコイル駆動部112を制御する。   The sensor control unit 111e controls the drive current applied to the magnetic sensors 19a and 19b by driving and controlling the sensor drive unit 113 at a cycle of 10 kHz, for example. At this time, the compensation signal A and the compensation signal B are selectively output by the first path switching unit 115. The compensation signal A is input to the CPU 111 via the second path switching unit 118 and the amplification / ADC 119. Then, the drive instruction unit 111c controls the coil drive unit 112 based on the output of the amplification / ADC 119 and the target value that is the output of the target value calculation unit 111d.

密スキャン42の開始の際(補償信号Aによってプロット43fが得られた後に第1の経路切替部115が補償信号Bに切り替えた時点)で、オフセット制御部111fは第1のサンプルホールド部116aにサンプルホールド信号を送る。これによって、第1のサンプルホールド部116aは補償信号Bをサンプルホールドして、ホールド値(補償信号)Cを出力する。そして、第2の差動増幅部117は補償信号Bと補償信号Cとの差動増幅出力を出力するが、密スキャン42の開始直後においては、補償信号Cは補償信号Bと等しいので、差動増幅出力はゼロとなる。   At the start of the fine scan 42 (at the time when the first path switching unit 115 switches to the compensation signal B after the plot 43f is obtained by the compensation signal A), the offset control unit 111f moves to the first sample hold unit 116a. Send sample hold signal. As a result, the first sample hold unit 116a samples and holds the compensation signal B and outputs a hold value (compensation signal) C. The second differential amplifier 117 outputs a differential amplified output of the compensation signal B and the compensation signal C. However, immediately after the start of the fine scan 42, the compensation signal C is equal to the compensation signal B. The dynamic amplification output becomes zero.

第2のサンプルホールド部2は、オフセット制御部111eの制御下でAFレンズ12の位置がプロット43fである際の補償信号Aをサンプルホールドして補償信号Eとして出力する。そして、補償信号Eと第2の差動増幅部117の差動増幅出力との和が補償信号Dとなる。   The second sample hold unit 2 samples and holds the compensation signal A when the position of the AF lens 12 is the plot 43f under the control of the offset control unit 111e, and outputs it as the compensation signal E. The sum of the compensation signal E and the differential amplification output of the second differential amplification unit 117 is the compensation signal D.

これによって、補償信号Dは、図4に示すプロット43f〜43lで示すように、当初AFレンズ12の位置を示すレンズプロット43fとほぼ等しく、その後、補償信号Dはプロット43f〜43lに比べて5倍となる。   As a result, the compensation signal D is substantially equal to the lens plot 43f that initially indicates the position of the AF lens 12, as indicated by plots 43f to 43l shown in FIG. 4, and thereafter the compensation signal D is 5 compared to the plots 43f to 43l. Doubled.

このように、プロット43fは出力開始時に出力飽和レベル47近くにあり、その後、飽和レベル47から遠ざかるので、AFレンズ12の移動につれて増幅/ADC119の出力が飽和してしまうことがない。   In this way, the plot 43f is close to the output saturation level 47 at the start of output, and thereafter moves away from the saturation level 47, so that the output of the amplification / ADC 119 is not saturated as the AF lens 12 moves.

図5は、図1に示すAFレンズのスキャン動作の他の例を説明するための図である。なお、図5において、図4と同一の要素には同一の参照番号が付されている。   FIG. 5 is a diagram for explaining another example of the scan operation of the AF lens shown in FIG. In FIG. 5, the same elements as those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals.

図5には、図4に示すAFレンズ12のスキャン動作と逆方向にスキャン動作を行う例が示されている。つまり、図5においては、被写体が至近位置にある際に光学系が合焦する位置にAFレンズ12が位置し、当該位置からAFレンズの駆動が行われる場合が示されている。この場合には、粗スキャン41の際には、補償信号Aはプロット43a〜43fで示すように次第に出力が小さくなる。そして、密スキャン42を行う際、補償信号Dはプロット44fで示すようにプロット43fと同一の出力から密スキャン42に伴って増加する。ところが、プロット44fにおける補償信号Dは小さいので、その後、補償信号Dが増加しても出力飽和レベル47を超えることはない。   FIG. 5 shows an example in which the scanning operation is performed in the direction opposite to the scanning operation of the AF lens 12 shown in FIG. That is, FIG. 5 shows a case where the AF lens 12 is positioned at a position where the optical system is in focus when the subject is at a close position, and the AF lens is driven from that position. In this case, during the coarse scan 41, the output of the compensation signal A gradually decreases as shown by plots 43a to 43f. When the fine scan 42 is performed, the compensation signal D increases with the fine scan 42 from the same output as the plot 43f as shown by the plot 44f. However, since the compensation signal D in the plot 44f is small, the output saturation level 47 will not be exceeded even if the compensation signal D increases thereafter.

図6は、図1に示すカメラで行われるAF動作の一例を説明するためのフローチャートである。なお、図示のフローチャートに係る処理はCPU111の制御下で行われる。   FIG. 6 is a flowchart for explaining an example of the AF operation performed by the camera shown in FIG. The process according to the flowchart shown in the figure is performed under the control of the CPU 111.

いま、カメラにおいて、撮影準備開始ボタンが操作されると、センサ制御部111eはセンサ駆動部113を制御して磁気センサ19aおよび19bに印加する駆動電流を小とする(ステップS6001)。そして、CPU111は第1の経路切替部114の出力である補償信号Aを第2の経路切替部118および増幅/ADC119を介して取り込む(ステップS6002)。   Now, when the shooting preparation start button is operated in the camera, the sensor control unit 111e controls the sensor drive unit 113 to reduce the drive current applied to the magnetic sensors 19a and 19b (step S6001). Then, the CPU 111 takes in the compensation signal A, which is the output of the first path switching unit 114, through the second path switching unit 118 and the amplification / ADC 119 (step S6002).

続いて、駆動指示部111cは補償信号Aと目標値とに基づいてコイル駆動部112を駆動制御してコイル17に駆動電流を印加する(ステップS6003)。これによってAFレンズ12は粗スキャンを開始する。   Subsequently, the drive instruction unit 111c drives and controls the coil drive unit 112 based on the compensation signal A and the target value, and applies a drive current to the coil 17 (step S6003). As a result, the AF lens 12 starts a rough scan.

次に、評価値算出部111aは予め定められた周期(例えば、1/120秒)で撮像部110の出力である画像データを取り込み、コントラスト評価値を求める(ステップS6004)。そして、駆動指示部111cはコントラスト評価値が最高値(最大値:頂点)を通過したか否かを判定する(ステップS6005)。つまり、ここでは、駆動指示部111cはAFレンズ12の駆動に伴って時系列的に得られたコントラス評価値が減少に転じたか否かを判定することになる。   Next, the evaluation value calculation unit 111a takes in image data that is the output of the imaging unit 110 at a predetermined period (for example, 1/120 second), and obtains a contrast evaluation value (step S6004). Then, the drive instruction unit 111c determines whether or not the contrast evaluation value has passed the maximum value (maximum value: vertex) (step S6005). That is, here, the drive instruction unit 111c determines whether or not the contrast evaluation value obtained in time series with the driving of the AF lens 12 has started to decrease.

コントラスト評価値が最高値を通過しないと(ステップS6005において、NO)、駆動指示部111cはステップS6003の処理に戻る。一方、コントラスト評価値が最高値を通過すると(ステップS6005において、NO)、駆動指示部111cは目標値算出部111dの出力である目標値に基づいてコイル駆動部112を制御してAFレンズ12の駆動を停止する(ステップS6006)。   If the contrast evaluation value does not pass the maximum value (NO in step S6005), drive instruction unit 111c returns to the process in step S6003. On the other hand, when the contrast evaluation value passes the maximum value (NO in step S6005), the drive instruction unit 111c controls the coil drive unit 112 based on the target value that is the output of the target value calculation unit 111d to control the AF lens 12. The drive is stopped (step S6006).

続いて、センサ制御部111eはセンサ駆動部113を制御して磁気センサ19aおよび19bに印加する駆動電流を大とする(ステップS6007)。そして、駆動指示部111cは第1の経路切替部114の出力である補償信号Bを、第2の差動増幅部117、第2の経路切替部118、および増幅/ADC119を介して取り込んで信号a(第1の検出位置情報)としてホールドする(ステップS6008)。   Subsequently, the sensor control unit 111e controls the sensor driving unit 113 to increase the driving current applied to the magnetic sensors 19a and 19b (step S6007). Then, the drive instruction unit 111c takes in the compensation signal B, which is the output of the first path switching unit 114, via the second differential amplification unit 117, the second path switching unit 118, and the amplification / ADC 119. Hold as a (first detection position information) (step S6008).

次に、センサ制御部111eはセンサ駆動部113を制御して磁気センサ19aおよび19bに印加する駆動電流を小に変更する(ステップS6009)。そして、駆動指示部111cは第1の経路切替部114の出力である補償信号Aを、第2の経路切替部118および増幅/ADC119を介して取り込んで信号b(第2の検出位置情報)としてホールドする(ステップS6010)。   Next, the sensor control unit 111e controls the sensor driving unit 113 to change the driving current applied to the magnetic sensors 19a and 19b to small (step S6009). Then, the drive instruction unit 111c takes in the compensation signal A, which is the output of the first path switching unit 114, via the second path switching unit 118 and the amplification / ADC 119, and serves as a signal b (second detection position information). Hold (step S6010).

次に、駆動指示部111cは信号aから信号bを減算する処理である演算c=a−bを行う(ステップS6011)。これによって除去すべき補償信号Bのオフセット成分と加算すべき補償信号Aのオフセット成分との合成信号(つまり、オフセット成分)cが得られる。   Next, the drive instruction unit 111c performs a calculation c = a−b, which is a process of subtracting the signal b from the signal a (step S6011). As a result, a composite signal (that is, an offset component) c of the offset component of the compensation signal B to be removed and the offset component of the compensation signal A to be added is obtained.

続いて、センサ制御部111eはセンサ駆動部113を制御して磁気センサ19aおよび19bに印加する駆動電流を交番的に大小に切り替える(ステップS6012)。そして、CPU111は、ステップS6002の処理と同様にして補償信号Bおよび補償信号Aを取り込む(ステップS6013)。なお、この際、補償信号Bはコントラスト評価値との関連づけに用いられ、補償信号AはAFレンズ12の駆動制御に用いられる。   Subsequently, the sensor control unit 111e controls the sensor driving unit 113 to alternately switch the driving current applied to the magnetic sensors 19a and 19b between large and small (step S6012). Then, the CPU 111 takes in the compensation signal B and the compensation signal A in the same manner as the processing in step S6002 (step S6013). At this time, the compensation signal B is used for correlation with the contrast evaluation value, and the compensation signal A is used for driving control of the AF lens 12.

次に、駆動指示部111cは補償信号Aに基づいてAFレンズ12の位置を検出して、当該位置と目標値とに応じてコイル駆動部112を駆動制御してコイル17に駆動電流を印加する(ステップS6014)。これによってAFレンズ12は密スキャンを開始する。   Next, the drive instruction unit 111c detects the position of the AF lens 12 based on the compensation signal A, and drives and controls the coil drive unit 112 in accordance with the position and the target value to apply a drive current to the coil 17. (Step S6014). As a result, the AF lens 12 starts a fine scan.

なお、密スキャンの範囲は、図4に示すように頂点(プロット41eの近辺)を挟むプロット41dから41fの範囲となる。   Note that the range of the fine scan is a range of plots 41d to 41f sandwiching the apex (near the plot 41e) as shown in FIG.

続いて、駆動指示部111cは補償信号Bからオフセット成分cを減算する(ステップS6015)。これによって、減算後の補償信号Bは、図4にプロット44fで示すように、補償信号Aの値であるプロット43fと同一の値となる。次に、評価値算出部111aは撮像部110の出力である画像データに基づいてコントラスト評価値を算出する(ステップS6016)。   Subsequently, the drive instruction unit 111c subtracts the offset component c from the compensation signal B (step S6015). As a result, the subtracted compensation signal B has the same value as the plot 43f, which is the value of the compensation signal A, as indicated by a plot 44f in FIG. Next, the evaluation value calculation unit 111a calculates a contrast evaluation value based on the image data that is the output of the imaging unit 110 (step S6016).

関連づけ部111bはコントラスト評価値とAFレンズ12の位置とを関連づけて記録する(ステップS6017:ペアリング)。この際のAFレンズ12の位置は、後述するステップS6015で求められた位置であり、図4に示すプロット44fからプロット44lで示す位置である。   The associating unit 111b records the contrast evaluation value and the position of the AF lens 12 in association with each other (step S6017: pairing). The position of the AF lens 12 at this time is a position obtained in step S6015 described later, and is a position indicated by plots 44f to 44l shown in FIG.

続いて、駆動指示部11cは密スキャンの範囲においてスキャンが行われたか否かを判定する(ステップS6018:範囲到達)。範囲未到達であると(ステップS6018において、NO)、処理はステップS5012に戻る。一方、範囲到達であると(ステップS6018において、YES)、駆動指示部111cは、ステップS6016の処理で得られたコントラスト評価値の変化に応じて最もコントラスト評価値が高くなるAFレンズ12の位置を求める。そして、駆動指示部111cはAFレンズ12の目標位置をステップS6017において関連づけられた位置検出出力に基づいて設定する(ステップS6019;目標値設定)。   Subsequently, the drive instruction unit 11c determines whether scanning has been performed in the dense scan range (step S6018: reach range). If the range has not been reached (NO in step S6018), the process returns to step S5012. On the other hand, if the range has been reached (YES in step S6018), the drive instruction unit 111c determines the position of the AF lens 12 having the highest contrast evaluation value according to the change in the contrast evaluation value obtained in the process of step S6016. Ask. Then, the drive instruction unit 111c sets the target position of the AF lens 12 based on the position detection output associated in step S6017 (step S6019; target value setting).

続いて、センサ制御部111eはセンサ駆動部113を制御して磁気センサ19aおよび19bに印加する駆動電流を大とする(ステップS6020)。そして、駆動指示部111cは、ステップS6015の処理と同様にして補償信号Bを取り込んで、ステップS6015の処理と同様にして補償信号Bからオフセット成分cを減算する(ステップS6021)。   Subsequently, the sensor control unit 111e controls the sensor driving unit 113 to increase the driving current applied to the magnetic sensors 19a and 19b (step S6020). Then, the drive instructing unit 111c takes in the compensation signal B in the same manner as in step S6015, and subtracts the offset component c from the compensation signal B in the same manner as in step S6015 (step S6021).

次に、駆動指示部111cは、減算後の補償信号Bに基づいてAFレンズ12の位置を検出する。そして、駆動指示部111cは当該AFレンズ12の位置と目標値算出部111dの出力である目標値とに基づいてコイル駆動部112を駆動制御してコイル17に駆動電流を印加する(ステップS6022:合焦制御)。   Next, the drive instruction unit 111c detects the position of the AF lens 12 based on the compensation signal B after subtraction. Then, the drive instructing unit 111c drives and controls the coil driving unit 112 based on the position of the AF lens 12 and the target value that is the output of the target value calculating unit 111d, and applies a driving current to the coil 17 (step S6022). Focus control).

このように、合焦制御においては、磁気センサ19aおよび19bに印加する駆動電流を大とする。この際には、制御フィードバックゲインが変化するのでゲインを揃えるための調整が行われる。   Thus, in the focus control, the drive current applied to the magnetic sensors 19a and 19b is increased. At this time, since the control feedback gain is changed, adjustment for adjusting the gain is performed.

続いて、駆動指示部11cはAFレンズ12が目標位置(図4に示すプロット44i)に到達したか否かを判定する(ステップS6023)。AFレンズ12が目標位置に到達しないと(ステップS6023において、NO)、駆動指示部11cはステップS6021の処理に戻る。一方、AFレンズ12が目標位置に到達すると(ステップS6023において、NO)、駆動指示部11cはAF動作を終了する。   Subsequently, the drive instruction unit 11c determines whether or not the AF lens 12 has reached the target position (plot 44i shown in FIG. 4) (step S6023). If the AF lens 12 does not reach the target position (NO in step S6023), the drive instruction unit 11c returns to the process of step S6021. On the other hand, when AF lens 12 reaches the target position (NO in step S6023), drive instruction unit 11c ends the AF operation.

このように、本発明の実施の形態では、磁気センサを低感度に設定した際のAFレンズの検出位置に基づいて、磁気センサが高感度に設定された際の検出位置を補正する。これによって、高精度に撮像光学系の駆動制御が行うことができる。   Thus, in the embodiment of the present invention, the detection position when the magnetic sensor is set to high sensitivity is corrected based on the detection position of the AF lens when the magnetic sensor is set to low sensitivity. Thereby, drive control of the imaging optical system can be performed with high accuracy.

上述の説明から明らかなように、図1に示す例では、駆動指示部111cおよびコイル駆動部112が駆動制御手段として機能する。また、永久磁石16、磁気センサ19aおよび19b、および差動増幅部19cは検出手段として機能する。さらに、センサ制御部111eおよびセンサ駆動部113は設定手段として機能する。そして、駆動指示部111c、オフセット制御部111f、第1のサンプルホールド部116a、第2のサンプルホールド部116b、および第2の差像増幅部117は補正手段として機能する。   As is clear from the above description, in the example shown in FIG. 1, the drive instruction unit 111c and the coil drive unit 112 function as drive control means. The permanent magnet 16, the magnetic sensors 19a and 19b, and the differential amplifier 19c function as detection means. Further, the sensor control unit 111e and the sensor driving unit 113 function as setting means. The drive instruction unit 111c, the offset control unit 111f, the first sample hold unit 116a, the second sample hold unit 116b, and the second difference image amplification unit 117 function as correction means.

以上、本発明について実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。   As mentioned above, although this invention was demonstrated based on embodiment, this invention is not limited to these embodiment, Various forms of the range which does not deviate from the summary of this invention are also contained in this invention. .

例えば、上記の実施の形態の機能を制御方法として、この制御方法を撮像装置に実行させるようにすればよい。また、上述の実施の形態の機能を有するプログラムを制御プログラムとして、当該制御プログラムを撮像装置が備えるコンピュータに実行させるようにしてもよい。なお、制御プログラムは、例えば、コンピュータに読み取り可能な記録媒体に記録される。   For example, the function of the above embodiment may be used as a control method, and this control method may be executed by the imaging apparatus. Further, a program having the functions of the above-described embodiments may be used as a control program, and the control program may be executed by a computer included in the imaging apparatus. The control program is recorded on a computer-readable recording medium, for example.

[その他の実施形態]
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
[Other Embodiments]
The present invention supplies a program that realizes one or more functions of the above-described embodiments to a system or apparatus via a network or a storage medium, and one or more processors in a computer of the system or apparatus read and execute the program This process can be realized. It can also be realized by a circuit (for example, ASIC) that realizes one or more functions.

12 AFレンズ
16 永久磁石
19a,19b 磁気センサ
110 撮像素子(撮像部)
111 CPU
111a 評価値算出部
111c 駆動指示部
111e センサ制御部
111f オフセット制御部
112 コイル駆動部
113 センサ駆動部
12 AF lens 16 Permanent magnet 19a, 19b Magnetic sensor 110 Imaging element (imaging part)
111 CPU
111a Evaluation value calculation unit 111c Drive instruction unit 111e Sensor control unit 111f Offset control unit 112 Coil drive unit 113 Sensor drive unit

Claims (8)

被写体を撮像する際、撮像光学系を光軸に沿って駆動して、前記撮像光学系を前記被写体に合焦させる光学機器であって、
前記撮像光学系の位置を検出して検出位置情報を得る検出手段と、
前記検出手段の検出感度を設定する設定手段と、
前記設定手段によって前記検出手段の検出感度が所定の低感度に設定された際の前記検出手段で得られた検出位置情報に基づいて、前記設定手段によって前記検出手段の検出感度が前記低感度よりも高い高感度に設定された際の前記検出手段で得られた検出位置情報を補正する補正手段と、
を有することを特徴とする光学機器。
When imaging a subject, an optical device that drives the imaging optical system along an optical axis to focus the imaging optical system on the subject,
Detection means for detecting the position of the imaging optical system to obtain detection position information;
Setting means for setting the detection sensitivity of the detection means;
Based on the detection position information obtained by the detection means when the detection sensitivity of the detection means is set to a predetermined low sensitivity by the setting means, the detection sensitivity of the detection means by the setting means is lower than the low sensitivity. Correction means for correcting the detected position information obtained by the detection means when set to a high sensitivity,
An optical apparatus comprising:
前記検出手段は、印加される駆動電流の大きさに応じて前記検出感度が変化し、
前記設定手段は、前記検出手段に印加する駆動電流の大きさを変更して前記検出感度を変更することを特徴とする請求項1に記載の光学機器。
The detection means changes the detection sensitivity according to the magnitude of the applied drive current,
The optical apparatus according to claim 1, wherein the setting unit changes the detection sensitivity by changing a magnitude of a drive current applied to the detection unit.
前記撮像光学系を前記光軸に沿って駆動制御する駆動制御手段を備え、
前記駆動制御手段によって前記撮像光学系が駆動制御されている際、前記設定手段は前記検出手段の検出感度を変更することを特徴とする請求項1又は2に記載の光学機器。
Drive control means for driving and controlling the imaging optical system along the optical axis;
3. The optical apparatus according to claim 1, wherein when the imaging optical system is driven and controlled by the drive control unit, the setting unit changes detection sensitivity of the detection unit.
前記検出手段は、前記撮像光学系に設けられた永久磁石と、
前記光軸に沿って所定の間隔をおいて配置された一対のホール素子とを有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光学機器。
The detection means includes a permanent magnet provided in the imaging optical system;
The optical apparatus according to claim 1, further comprising: a pair of Hall elements arranged at a predetermined interval along the optical axis.
前記設定手段によって前記検出手段の感度が前記低感度に設定されると、前記駆動制御手段は、前記撮像光学系を前記光軸に沿って駆動して、前記撮像光学系を介して得られた画像に応じたコントラスト評価値が最大となる位置を通過すると前記撮像光学系の駆動を停止することを特徴とする請求項3に記載の光学機器。   When the sensitivity of the detection unit is set to the low sensitivity by the setting unit, the drive control unit is obtained via the imaging optical system by driving the imaging optical system along the optical axis. The optical apparatus according to claim 3, wherein driving of the imaging optical system is stopped when passing through a position where a contrast evaluation value corresponding to an image is maximized. 前記駆動制御手段によって前記撮像光学系の駆動が停止されると、前記設定手段によって前記検出手段の感度が高感度とされ、前記補正手段は、前記高感度の検出手段で得られた検出位置情報を第1の検出位置情報として得て、
前記第1の検出位置情報が得られると、前記設定手段によって前記検出手段の感度が低感度とされ、前記補正手段は、前記低感度の検出手段で得られた検出位置情報を第2の検出位置情報として得て、前記第2の検出位置情報で前記第1の検出位置情報を補正することを特徴とする請求項5に記載の光学機器。
When the drive of the imaging optical system is stopped by the drive control unit, the setting unit sets the sensitivity of the detection unit to high sensitivity, and the correction unit detects detection position information obtained by the high sensitivity detection unit. Is obtained as the first detected position information,
When the first detection position information is obtained, the setting means lowers the sensitivity of the detection means, and the correction means detects the detection position information obtained by the low sensitivity detection means as a second detection. The optical apparatus according to claim 5, wherein the optical apparatus is obtained as position information, and the first detected position information is corrected with the second detected position information.
光軸に沿って移動可能な撮像光学系の位置を検出して検出位置情報を得る検出センサを備え、被写体を撮像する際、前記撮像光学系を光軸に沿って駆動して前記撮像光学系を前記被写体に合焦させる光学機器の制御方法であって、
前記検出センサの検出感度を設定する設定ステップと、
前記設定ステップで前記検出センサの検出感度が所定の低感度に設定された際の前記検出センサで得られた検出位置情報に基づいて、前記設定ステップで前記検出センサの検出感度が前記低感度よりも高い高感度に設定された際の前記検出センサで得られた検出位置情報を補正する補正ステップと、
を有することを特徴とする制御方法。
The image pickup optical system includes a detection sensor that detects a position of an image pickup optical system movable along the optical axis and obtains detection position information, and drives the image pickup optical system along the optical axis when picking up a subject. A method of controlling an optical device that focuses on the subject,
A setting step for setting the detection sensitivity of the detection sensor;
Based on the detection position information obtained by the detection sensor when the detection sensitivity of the detection sensor is set to a predetermined low sensitivity in the setting step, the detection sensitivity of the detection sensor in the setting step is lower than the low sensitivity. A correction step for correcting the detected position information obtained by the detection sensor when the high sensitivity is set,
A control method characterized by comprising:
光軸に沿って移動可能な撮像光学系の位置を検出して検出位置情報を得る検出センサを備え、被写体を撮像する際、前記撮像光学系を光軸に沿って駆動して前記撮像光学系を前記被写体に合焦させる光学機器で用いられる制御プログラムであって、
前記光学機器が備えるコンピュータに、
前記検出センサの検出感度を設定する設定ステップと、
前記設定ステップで前記検出センサの検出感度が所定の低感度に設定された際の前記検出センサで得られた検出位置情報に基づいて、前記設定ステップで前記検出センサの検出感度が前記低感度よりも高い高感度に設定された際の前記検出センサで得られた検出位置情報を補正する補正ステップと、
を実行させることを特徴とする制御プログラム。
The image pickup optical system includes a detection sensor that detects a position of an image pickup optical system movable along the optical axis and obtains detection position information, and drives the image pickup optical system along the optical axis when picking up a subject. A control program used by an optical device for focusing the subject on the subject,
In the computer provided in the optical device,
A setting step for setting the detection sensitivity of the detection sensor;
Based on the detection position information obtained by the detection sensor when the detection sensitivity of the detection sensor is set to a predetermined low sensitivity in the setting step, the detection sensitivity of the detection sensor in the setting step is lower than the low sensitivity. A correction step for correcting the detected position information obtained by the detection sensor when the high sensitivity is set,
A control program characterized by causing
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