JP2017041282A - Sensor device, input device, and electronic apparatus - Google Patents

Sensor device, input device, and electronic apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2017041282A
JP2017041282A JP2016230288A JP2016230288A JP2017041282A JP 2017041282 A JP2017041282 A JP 2017041282A JP 2016230288 A JP2016230288 A JP 2016230288A JP 2016230288 A JP2016230288 A JP 2016230288A JP 2017041282 A JP2017041282 A JP 2017041282A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
conductor layer
structures
input device
electrode lines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016230288A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6269789B2 (en
Inventor
川口 裕人
Hiroto Kawaguchi
裕人 川口
章吾 新開
Shogo Shinkai
章吾 新開
圭 塚本
Kei Tsukamoto
圭 塚本
智子 勝原
Tomoko Katsuhara
智子 勝原
はやと 長谷川
Hayato Hasegawa
はやと 長谷川
文彦 飯田
Fumihiko Iida
文彦 飯田
隆之 田中
Takayuki Tanaka
隆之 田中
知明 鈴木
Tomoaki Suzuki
知明 鈴木
泰三 西村
Yasuzo Nishimura
泰三 西村
水野 裕
Yutaka Mizuno
裕 水野
阿部 康之
Yasuyuki Abe
康之 阿部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Publication of JP2017041282A publication Critical patent/JP2017041282A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6269789B2 publication Critical patent/JP6269789B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sensor device capable of precisely detecting an operation position and pressing force, an input device and an electronic apparatus.SOLUTION: A sensor device includes: a first conductor layer; a second conductor layer; an electrode substrate; a first support body; and a second support body. The first conductor layer is formed in a deformable sheet. The second conductor layer is disposed facing to the first conductor layer. The electrode substrate has a plurality of first electrode wires and a plurality of second electrode wires which are disposed facing to the plurality of first electrode wires crossing the plurality of first electrode wires, and the electrode substrate is deformably disposed between the first conductor layer and the second conductor layer. The first support body has a plurality of first structures connecting the first conductor layer to the electrode substrate. The second support body has a plurality of second structures connecting the second conductor layer to the electrode substrate.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本技術は、入力操作を静電的に検出することが可能なセンサ装置、入力装置及び電子機器に関する。   The present technology relates to a sensor device capable of electrostatically detecting an input operation, an input device, and an electronic apparatus.

電子機器用のセンサ装置として、例えば容量素子を備え、入力操作面に対する操作子の操作位置と押圧力とを検出することが可能な構成が知られている(例えば、特許文献1参照)。   As a sensor device for an electronic device, for example, a configuration including a capacitive element and capable of detecting an operation position and a pressing force of an operation element with respect to an input operation surface is known (for example, see Patent Document 1).

特開2011−170659号公報JP 2011-170659 A

近年、指の動きを利用したジェスチャー操作によって自由度の高い入力方法が行われているが、さらに、操作面上の押圧力を高い精度で安定的に検出することができれば、より多彩な入力操作を実現することが期待できる。   In recent years, input methods with a high degree of freedom have been performed by gesture operations using finger movements. However, if the pressing force on the operation surface can be stably detected with high accuracy, more various input operations can be performed. Can be expected to be realized.

以上のような事情に鑑み、本技術の目的は、操作位置及び押圧力を高い精度で検出することが可能なセンサ装置、入力装置及び電子機器を提供することにある。   In view of the circumstances as described above, an object of the present technology is to provide a sensor device, an input device, and an electronic apparatus that can detect an operation position and a pressing force with high accuracy.

以上の目的を達成するため、本技術の一形態に係るセンサ装置は、第1の導体層と、第2の導体層と、電極基板と、第1の支持体と、第2の支持体とを具備する。
上記第1の導体層は、変形可能なシート状で構成される。
上記第2の導体層は、上記第1の導体層に対向して配置される。
上記電極基板は、複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記第1及び第2の導体層の間に変形可能に配置され、上記第1及び第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出することが可能である。
上記第1の支持体は、上記第1の導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、上記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する。
上記第2の支持体は、隣り合う上記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され上記第2の導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、上記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する。
In order to achieve the above object, a sensor device according to an embodiment of the present technology includes a first conductor layer, a second conductor layer, an electrode substrate, a first support, and a second support. It comprises.
The first conductor layer is formed in a deformable sheet shape.
The second conductor layer is disposed to face the first conductor layer.
The electrode substrate includes a plurality of first electrode lines and a plurality of second electrode lines arranged to face the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines. The first conductor layer is deformably disposed between the first and second conductor layers, and a change in distance from each of the first and second conductor layers can be detected electrostatically.
The first support body includes a plurality of first structures that connect between the first conductor layer and the electrode substrate, and a first structure formed between the plurality of first structures. And a space portion.
The second support is disposed between the plurality of adjacent first structures, the plurality of second structures connecting the second conductor layer and the electrode substrate, and the plurality of the second supports. And a second space formed between the second structures.

上記センサ装置によれば、第1の導体層上から押圧した際に第1及び第2の導体層各々と電極基板との間の相対距離がそれぞれ変化し、その距離の変化に基づいて押圧等の入力操作を静電的に検出することが可能となる。したがって、入力操作に対する静電容量の変化量を大きくすることができ、検出感度を高めることが可能となる。またこれにより、意識的な押圧操作のみならず接触操作時の微小な押圧力も検出可能となり、タッチセンサとしても使用することが可能となる。   According to the sensor device, the relative distance between each of the first and second conductor layers and the electrode substrate changes when pressed from the first conductor layer, and the pressure or the like is changed based on the change in the distance. Can be detected electrostatically. Therefore, the amount of change in capacitance with respect to the input operation can be increased, and the detection sensitivity can be increased. As a result, not only a conscious pressing operation but also a minute pressing force at the time of a contact operation can be detected, and it can be used as a touch sensor.

また上記センサ装置は、操作子と電極基板の各電極線とが直接容量結合する構成ではなく、第1の導体層を介して入力操作を行うため、手袋を装着した指や先の細いスタイラス等の操作子を用いた場合であっても、精度よく入力操作を検出することが可能となる。   The sensor device does not have a configuration in which the operation element and each electrode wire of the electrode substrate are directly capacitively coupled, but performs an input operation through the first conductor layer, so that a finger wearing a glove, a thin stylus, etc. Even when the operator is used, it is possible to detect an input operation with high accuracy.

上記電極基板は、上記複数の第1の電極線と上記複数の第2の電極線との交差領域に各々形成され、上記第1及び第2の導体層各々との相対距離に応じて容量が可変の複数の検出部をさらに有してもよい。
これにより、第1及び第2の電極線間の静電容量変化量に基づいて検出を行う、いわゆる相互キャパシタンス方式で入力操作の検出が可能となる。したがって、マルチタッチ操作における2点以上の同時検出も容易となる。
The electrode substrate is formed in an intersection region between the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines, and has a capacitance according to a relative distance between each of the first and second conductor layers. You may further have a some variable detection part.
Thereby, it is possible to detect an input operation by a so-called mutual capacitance method in which detection is performed based on the amount of change in capacitance between the first and second electrode lines. Accordingly, simultaneous detection of two or more points in the multi-touch operation is facilitated.

上記複数の検出部は、上記複数の第1の構造体各々と対向してそれぞれ形成されてもよい。
これにより、第1の導体層上からの入力操作により第1の構造体が第2の導体層側へ変位した場合に、それに伴ってこの第1の構造体と対向する検出部も第2の導体層側へ変位することとなる。したがって、検出部と第2の導体層との相対距離を容易に変化させることができ、検出感度を向上させることができる。
The plurality of detection units may be formed to face each of the plurality of first structures.
As a result, when the first structure is displaced toward the second conductor layer by an input operation from the first conductor layer, the detection unit facing the first structure is also associated with the second structure. It will be displaced to the conductor layer side. Therefore, the relative distance between the detection unit and the second conductor layer can be easily changed, and the detection sensitivity can be improved.

あるいは、上記複数の検出部は、上記複数の第2の構造体各々と対向してそれぞれ形成されてもよい。
上記構成により、第2の構造体及び検出部はいずれも第1の空間部と対向する構成となる。これにより、第1の空間部を介して第1の導体層と検出部との相対距離を容易に変化させることができ、検出感度を向上させることができる。
Alternatively, the plurality of detection units may be formed to face each of the plurality of second structures.
With the above configuration, the second structure and the detection unit are both configured to face the first space. Thereby, the relative distance between the first conductor layer and the detection unit can be easily changed via the first space portion, and the detection sensitivity can be improved.

上記第1の支持体は、上記第1の導体層と上記電極基板との間を接続し上記電極基板の周縁に沿って配置される第1の枠体を有し、
上記第2の支持体は、上記第2の導体層と上記電極基板との間を接続し上記第1の枠体と対向して配置される第2の枠体を有してもよい。
上記第1及び第2の枠体により、センサ装置全体の周縁部が補強され、センサ装置の強度が向上し、取り扱い性を高めることができる。
The first support body includes a first frame body connected between the first conductor layer and the electrode substrate and disposed along a periphery of the electrode substrate,
The second support body may include a second frame body that is connected between the second conductor layer and the electrode substrate and is disposed to face the first frame body.
By the first and second frame bodies, the peripheral edge of the entire sensor device is reinforced, the strength of the sensor device is improved, and the handleability can be improved.

また、上記第2の導体層は、段差部を有してもよい。
これにより、第2の導体層の剛性を高め、センサ装置全体の強度を高めることが可能となる。
The second conductor layer may have a step portion.
Thereby, the rigidity of the second conductor layer can be increased and the strength of the entire sensor device can be increased.

また、本技術の一形態に係るセンサ装置において、第2の構造体は、隣り合う第1の構造体間に配置される構成に限定されず、例えば第1の構造体と第2の構造体とが対向して配置されてもよい。
これにより、第1の構造体と第2の構造体とが対向して(重複して)配置される領域は、変形しにくいため、検出感度が低い領域とすることができる。これにより、センサ装置内の検出感度を制御することが可能となり、装置構成の自由度を高めることが可能となる。
Further, in the sensor device according to an embodiment of the present technology, the second structure is not limited to a configuration disposed between the adjacent first structures, for example, the first structure and the second structure. May be arranged opposite to each other.
Thereby, the region where the first structure and the second structure are opposed (overlapping) is not easily deformed, and thus can be a region with low detection sensitivity. Thereby, it becomes possible to control the detection sensitivity in the sensor device, and it is possible to increase the degree of freedom of the device configuration.

さらに、上記電極基板は、上記第1及び第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出する構成に限定されず、例えば導体からなる操作子及び上記第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出する構成としてもよい。   Furthermore, the electrode substrate is not limited to a configuration that electrostatically detects a change in the distance to each of the first and second conductor layers. For example, an operation element made of a conductor and each of the second conductor layers It is good also as a structure which detects the change of this distance electrostatically.

また、上記第1の支持体は、上記第1の空間部を有する構成に限定されず、上記複数の第1の構造体間が弾性材料等により充填されていてもよい。
あるいは、上記第2の支持体は、上記第2の空間部を有する構成に限定されず、上記複数の第2の構造体間が弾性材料等により充填されていてもよい。
Further, the first support is not limited to the configuration having the first space portion, and the space between the plurality of first structures may be filled with an elastic material or the like.
Or the said 2nd support body is not limited to the structure which has the said 2nd space part, Between the said some 2nd structure bodies may be filled with the elastic material etc.

また、上記複数の第1の電極線各々は、複数の第1のサブ電極をそれぞれ含む複数の第1の単位電極体を有し、
上記複数の第2の電極線各々は、複数の第2のサブ電極をそれぞれ含み上記複数の第1の単位電極体各々と対向する複数の第2の単位電極体を有し、
上記電極基板は、
上記複数の第1の電極線と上記複数の第2の電極線とが配置された基材と、
各第1の単位電極体の上記複数の第1のサブ電極と各第2の単位電極体の上記複数の第2のサブ電極とが上記電極基板の面内方向に相互に対向する複数の検出部とを有していてもよい。
これにより、第1の電極線と第2の電極線とが電極基板の面内方向に対向して容量結合することが可能となる。これにより、電極基板を薄型化することができ、センサ装置全体の小型化を実現することができる。さらに、複数の第1及び第2のサブ電極により検出部が構成されることから、検出部の容量結合量を高め、センサ装置としての検出感度を高めることが可能となる。
Each of the plurality of first electrode lines includes a plurality of first unit electrode bodies each including a plurality of first sub-electrodes,
Each of the plurality of second electrode lines includes a plurality of second unit electrode bodies each including a plurality of second sub-electrodes and facing each of the plurality of first unit electrode bodies,
The electrode substrate is
A base material on which the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines are disposed;
A plurality of detections in which the plurality of first sub-electrodes of each first unit electrode body and the plurality of second sub-electrodes of each second unit electrode body face each other in the in-plane direction of the electrode substrate May have a part.
As a result, the first electrode line and the second electrode line can be capacitively coupled in the in-plane direction of the electrode substrate. Thereby, the electrode substrate can be thinned, and the entire sensor device can be miniaturized. Furthermore, since the detection unit is configured by the plurality of first and second sub-electrodes, it is possible to increase the amount of capacitive coupling of the detection unit and increase the detection sensitivity as the sensor device.

本技術の一形態に係る入力装置は、操作部材と、第1の導体層(導体層)と、電極基板と、第1の支持体と、第2の支持体とを具備する。
上記操作部材は、ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、上記第1の面の反対側の第2の面とを有する変形可能なシート状である。
上記第1の導体層は、上記第2の面に対向して配置される。
上記電極基板は、複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記操作部材と上記導体層の間に変形可能に配置され、上記第1の導体層との距離の変化を静電的に検出することが可能である。
上記第1の支持体は、上記操作部材と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、上記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する。
上記第2の支持体は、隣り合う上記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され上記導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、上記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する。
An input device according to an embodiment of the present technology includes an operation member, a first conductor layer (conductor layer), an electrode substrate, a first support, and a second support.
The operation member has a deformable sheet shape having a first surface that receives an operation by a user and a second surface opposite to the first surface.
The first conductor layer is disposed to face the second surface.
The electrode substrate includes a plurality of first electrode lines and a plurality of second electrode lines arranged to face the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines. The operation member and the conductor layer are arranged so as to be deformable, and it is possible to electrostatically detect a change in the distance from the first conductor layer.
The first support includes a plurality of first structures that connect between the operation member and the electrode substrate, and a first space formed between the plurality of first structures. Have
The second support is disposed between the plurality of adjacent first structures, the plurality of second structures connecting the conductor layer and the electrode substrate, and the plurality of second structures. And a second space formed between the structures.

上記入力装置によれば、操作部材上から押圧した際に操作部材及び導体層各々と電極基板との間の相対距離がそれぞれ変化し、その距離の変化に基づいて押圧等の入力操作を静電的に検出することが可能となる。したがって、入力操作に基づく静電容量の変化量を大きくすることができ、検出感度を高めることが可能となる。これにより上記入力装置は、意識的な押圧操作のみならず、接触操作時の微小な押圧力も検出可能となり、タッチセンサを備えた入力装置としても使用することが可能となる。   According to the above input device, when the operation member is pressed from above, the relative distance between the operation member and each of the conductor layers and the electrode substrate changes, and the input operation such as pressing is electrostatically performed based on the change in the distance. Can be detected automatically. Therefore, the amount of change in capacitance based on the input operation can be increased, and the detection sensitivity can be increased. Accordingly, the input device can detect not only a conscious pressing operation but also a minute pressing force at the time of a contact operation, and can also be used as an input device including a touch sensor.

上記操作部材は、上記第2の面に形成される第2の導体層をさらに有し、
上記検出基板は、上記第1の導体層と上記第2の導体層との距離の変化をそれぞれ静電的に検出することが可能である。
これにより、操作子と電極基板の各電極線とが直接容量結合する構成ではなく、金属膜を介して入力操作を行うため、手袋を装着した指や先の細いスタイラス等の操作子を用いた場合でも、精度よく入力操作を検出することが可能となる。
The operation member further includes a second conductor layer formed on the second surface,
The detection substrate can electrostatically detect a change in the distance between the first conductor layer and the second conductor layer.
In this way, the operation element and each electrode wire of the electrode substrate are not directly capacitively coupled, but an input operation is performed through a metal film, so an operation element such as a finger wearing a glove or a thin stylus is used. Even in this case, the input operation can be detected with high accuracy.

さらに、上記操作部材は、表示部を含んでもよい。
上述の通り上記入力装置は、操作子との電極基板の各電極線とが直接容量結合する構成ではないため、電極基板と操作子との間に導体材料を含む表示部が配置された場合であっても、精度よく入力操作を検出することができる。すなわち、表示部の裏面にセンサ装置を配置した構成とすることができ、表示部の表示品質の劣化を抑制することができる。
Furthermore, the operation member may include a display unit.
As described above, the input device is not configured to directly capacitively couple each electrode line of the electrode substrate with the operation element. Therefore, when the display unit including the conductive material is disposed between the electrode substrate and the operation element. Even in such a case, the input operation can be detected with high accuracy. That is, it can be set as the structure which has arrange | positioned the sensor apparatus on the back surface of a display part, and deterioration of the display quality of a display part can be suppressed.

上記操作部材は、複数のキー領域を含んでもよい。
これにより、上記入力装置をキーボード装置として適用することができる。
The operation member may include a plurality of key areas.
Thereby, the input device can be applied as a keyboard device.

また、上記電極基板は、上記複数の第1の電極線と上記複数の第2の電極線との交差領域に各々形成され、上記導体層との相対距離に応じて容量が可変の複数の検出部をさらに有してもよい。   In addition, the electrode substrate is formed in an intersecting region of the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines, and a plurality of detections whose capacitance is variable according to a relative distance from the conductor layer. It may have a part.

さらに、上記電極基板に電気的に接続され、上記複数の検出部の出力に基づいて上記複数のキー領域各々に対する入力操作に関する情報を生成することが可能な制御部をさらに具備してもよい。
これにより上記入力装置は、上記制御部により、入力操作が行われたキー領域に対応する制御を行うことができる。
Furthermore, a control unit that is electrically connected to the electrode substrate and can generate information related to an input operation for each of the plurality of key regions based on outputs of the plurality of detection units may be further included.
Thereby, the input device can perform control corresponding to the key area where the input operation is performed by the control unit.

上記複数の第1の構造体各々は、上記複数のキー領域間の境界に沿って配置されてもよい。
これにより、各キー領域が第1の空間部と対向する構成とすることができる。したがって、キー領域内への入力操作により、操作部材と電極基板との間の距離を容易に変化させることができ、当該入力操作の検出感度を高めることができる。
Each of the plurality of first structures may be disposed along a boundary between the plurality of key regions.
Thereby, it can be set as the structure where each key area | region opposes the 1st space part. Therefore, the distance between the operation member and the electrode substrate can be easily changed by an input operation into the key area, and the detection sensitivity of the input operation can be increased.

また、上記複数の第1の電極線各々は、上記複数の第2の電極線よりも上記操作部材側に配置された平板状の電極であり、
上記複数の第2の電極線各々は、複数の電極群を含んでもよい。
これにより、第1の電極線をグランドに接続し、電磁シールドとして機能させることができる。したがって、操作部材に形成された金属膜等の構成を有さずとも、電極基板外部からの電磁波の侵入等を抑制し、検出感度の信頼性を高めることができる。
Further, each of the plurality of first electrode lines is a plate-like electrode disposed on the operation member side with respect to the plurality of second electrode lines,
Each of the plurality of second electrode lines may include a plurality of electrode groups.
Thereby, the first electrode line can be connected to the ground and function as an electromagnetic shield. Therefore, even without having a configuration of a metal film or the like formed on the operation member, it is possible to suppress the intrusion of electromagnetic waves from the outside of the electrode substrate and improve the reliability of detection sensitivity.

また、本技術の一形態に係る入力装置において、第2の構造体は、隣り合う第1の構造体間に配置される構成に限定されず、例えば第1の構造体と第2の構造体とが入力装置の厚み方向に対向して配置されてもよい。
さらに、上記電極基板は、上記第1及び第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出する構成に限定されず、例えば導体からなる操作子及び上記第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出する構成としてもよい。
また、上記第1の支持体は、上記第1の空間部を有する構成に限定されず、上記複数の第1の構造体間が弾性材料等により充填されていてもよい。
あるいは、上記第2の支持体は、上記第2の空間部を有する構成に限定されず、上記複数の第2の構造体間が弾性材料等により充填されていてもよい。
Further, in the input device according to one embodiment of the present technology, the second structure is not limited to a configuration disposed between adjacent first structures, and for example, the first structure and the second structure. May be arranged opposite to each other in the thickness direction of the input device.
Furthermore, the electrode substrate is not limited to a configuration that electrostatically detects a change in the distance to each of the first and second conductor layers. For example, an operation element made of a conductor and each of the second conductor layers It is good also as a structure which detects the change of this distance electrostatically.
Further, the first support is not limited to the configuration having the first space portion, and the space between the plurality of first structures may be filled with an elastic material or the like.
Or the said 2nd support body is not limited to the structure which has the said 2nd space part, Between the said some 2nd structure bodies may be filled with the elastic material etc.

本技術の一形態に係る入力装置は、操作部材と、背面板と、電極基板と、第1の支持体と、第2の支持体とを具備する。
上記操作部材は、ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、上記第1の面の反対側の第2の面と、上記第2の面に形成される導体層とを有する変形可能なシート状である。
上記背面板は、上記第2の面に対向して配置される。
上記電極基板は、複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記操作部材と上記背面板の間に変形可能に配置される。
上記第1の支持体は、上記操作部材と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体を有する。
上記第2の支持体は、上記背面板と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体を有する。
An input device according to an embodiment of the present technology includes an operation member, a back plate, an electrode substrate, a first support, and a second support.
The operation member is a deformable sheet having a first surface that receives an operation by a user, a second surface opposite to the first surface, and a conductor layer formed on the second surface. It is.
The back plate is disposed to face the second surface.
The electrode substrate includes a plurality of first electrode lines and a plurality of second electrode lines arranged to face the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines. The operation member and the back plate are arranged to be deformable.
The first support includes a plurality of first structures that connect the operation member and the electrode substrate.
The second support includes a plurality of second structures that connect the back plate and the electrode substrate.

また、上記複数の第2の電極線各々は、上記複数の第1の電極線よりも上記背面板側に配置された平板状の電極であり、
上記複数の第1の電極線各々は、複数の電極群を含んでもよい。
これにより、第2の電極線をグランドに接続し、電磁シールドとして機能させることができる。したがって、背面板が導体でなくとも、電極基板外部からの電磁波の侵入等を抑制し、検出感度の信頼性を高めることができる。
Each of the plurality of second electrode lines is a plate-like electrode disposed on the back plate side with respect to the plurality of first electrode lines,
Each of the plurality of first electrode lines may include a plurality of electrode groups.
Accordingly, the second electrode line can be connected to the ground and function as an electromagnetic shield. Therefore, even if the back plate is not a conductor, the intrusion of electromagnetic waves from the outside of the electrode substrate can be suppressed and the reliability of detection sensitivity can be improved.

本技術の一形態に係る電子機器は、操作部材と、導体層と、電極基板と、第1の支持体と、第2の支持体と、コントローラとを具備する。
上記操作部材は、ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、上記第1の面の反対側の第2の面とを有する変形可能なシート状である。
上記導体層は、上記第2の面に対向して配置される。
上記電極基板は、複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記操作部材と上記導体層の間に変形可能に配置され、上記導体層との距離の変化を静電的に検出することが可能である。
上記第1の支持体は、上記操作部材と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、上記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する。
上記第2の支持体は、隣り合う上記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され上記導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、上記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する。
上記コントローラは、上記電極基板に電気的に接続され、上記電極基板の出力に基づいて上記複数の操作部材各々に対する入力操作に関する情報を生成することが可能な制御部を有する。
An electronic apparatus according to an embodiment of the present technology includes an operation member, a conductor layer, an electrode substrate, a first support, a second support, and a controller.
The operation member has a deformable sheet shape having a first surface that receives an operation by a user and a second surface opposite to the first surface.
The conductor layer is disposed to face the second surface.
The electrode substrate includes a plurality of first electrode lines and a plurality of second electrode lines arranged to face the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines. The operation member and the conductor layer are arranged so as to be deformable, and a change in the distance from the conductor layer can be detected electrostatically.
The first support includes a plurality of first structures that connect between the operation member and the electrode substrate, and a first space formed between the plurality of first structures. Have
The second support is disposed between the plurality of adjacent first structures, the plurality of second structures connecting the conductor layer and the electrode substrate, and the plurality of second structures. And a second space formed between the structures.
The controller includes a control unit that is electrically connected to the electrode substrate and capable of generating information related to an input operation for each of the plurality of operation members based on an output of the electrode substrate.

以上のように、本技術によれば、操作位置及び押圧力を高い精度で検出することが可能となる。   As described above, according to the present technology, the operation position and the pressing force can be detected with high accuracy.

本技術の第1の実施形態に係る入力装置の概略断面図である。1 is a schematic cross-sectional view of an input device according to a first embodiment of the present technology. 上記入力装置の分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the said input device. 上記入力装置の要部の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the principal part of the said input device. 上記入力装置を用いた電子機器のブロック図である。It is a block diagram of the electronic device using the said input device. 上記入力装置に係る導体層の構成例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the structural example of the conductor layer which concerns on the said input device. 上記入力装置に係る金属膜と上記導体層とのグランド電位への接続方法について説明する模式的な図である。It is a schematic diagram explaining the connection method to the ground potential of the metal film which concerns on the said input device, and the said conductor layer. 変形例に係る金属膜と上記導体層とのグランド電位への接続方法について説明する模式的な図である。It is a schematic diagram explaining the connection method to the ground potential of the metal film which concerns on a modification, and the said conductor layer. 上記入力装置に係る検出部の構成を説明するための模式的な断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the structure of the detection part which concerns on the said input device. 上記入力装置に係る第1の支持体の形成方法の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the formation method of the 1st support body which concerns on the said input device. 上記入力装置に係る第2の支持体の形成方法の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the formation method of the 2nd support body which concerns on the said input device. 上記第1又は第2の支持体の形成方法の変形例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the modification of the formation method of the said 1st or 2nd support body. 上記入力装置に係る第1及び第2の構造体と、第1及び第2の電極線との配置例を示す模式的な平面図である。It is a typical top view which shows the example of arrangement | positioning with the 1st and 2nd structure which concerns on the said input device, and a 1st and 2nd electrode line. 上記導体層の開口と、第1及び第2の構造体と、第1及び第2の電極線との配置例を示す模式的な平面図である。It is a typical top view showing an example of arrangement of the opening of the above-mentioned conductor layer, the 1st and 2nd structures, and the 1st and 2nd electrode lines. 操作子により上記入力装置の第1の面の点をZ軸方向下方へ押圧した際に、上記第1及び第2の構造体へ付加される力の様子を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the mode of the force added to the said 1st and 2nd structure when the point of the 1st surface of the said input device is pressed below to the Z-axis direction with the operation element. 上記第1の面の第1の構造体上の点が操作子による操作を受けたときの上記入力装置の態様を示す模式的な要部断面図と、そのとき上記検出部から出力される出力信号の一例を示す図である。The typical principal part sectional view showing the mode of the above-mentioned input device when the point on the 1st structure of the above-mentioned 1st surface receives operation by a manipulator, and the output outputted from the above-mentioned detection part at that time It is a figure which shows an example of a signal. 上記第1の面が操作子による操作を受けたときの上記入力装置の態様を示す模式的な要部断面図と、そのとき上記検出部から出力される出力信号の一例を示す図であり、Aは操作子がスタイラスである場合、Bは操作子が指である場合の例を示す。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of a main part showing an aspect of the input device when the first surface is operated by an operator, and an example of an output signal output from the detection unit at that time; A shows an example when the operation element is a stylus, and B shows an example when the operation element is a finger. 上記入力装置の電子機器への実装例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the example of mounting to the electronic device of the said input device. 図1に示す入力装置の変形例1の構成を示す概略断面図であり、接着層が一部にのみ形成されている例を示す。It is a schematic sectional drawing which shows the structure of the modification 1 of the input device shown in FIG. 1, and the example in which the contact bonding layer is formed only in part is shown. 図18に示すフレキシブルディスプレイ(表示部)を、同図に示す金属膜に対し、外周部を含む全面に貼り付けた様子を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically a mode that the flexible display (display part) shown in FIG. 18 was affixed on the whole surface including an outer peripheral part with respect to the metal film shown in the figure. 図1に示す入力装置の変形例1の他の構成を示す概略断面図であり、接着層が所定の平面パターンで形成されている例を示す図である。It is a schematic sectional drawing which shows the other structure of the modification 1 of the input device shown in FIG. 1, and is a figure which shows the example by which the contact bonding layer is formed with the predetermined plane pattern. 図20に示す接着層の平面パターンの例を示す模式的な図である。It is a schematic diagram which shows the example of the plane pattern of the contact bonding layer shown in FIG. 図1に示す入力装置の変形例2に係る第1及び第2の電極線の構成例を示す模式的な平面図であり、Aは第1の電極線、Bは第2の電極線について示す。FIG. 6 is a schematic plan view illustrating a configuration example of first and second electrode lines according to Modification Example 2 of the input device illustrated in FIG. 1, in which A indicates the first electrode line and B indicates the second electrode line. . 図22に示す第1及び第2の電極線に係る単位電極体の形状例を示す模式的な図である。FIG. 23 is a schematic diagram illustrating a shape example of a unit electrode body according to the first and second electrode lines illustrated in FIG. 22. 図1に示す入力装置の変形例3に係る第1及び第2の構造体と、第1及び第2の電極線との配置例を示す模式的な平面図である。FIG. 9 is a schematic plan view illustrating an arrangement example of first and second structure bodies and first and second electrode lines according to Modification 3 of the input device illustrated in FIG. 1. 図24に係る入力装置の第1の面が操作子による操作を受けたときの上記入力装置の態様を示す模式的な要部断面図である。FIG. 25 is a schematic cross-sectional view of an essential part showing an aspect of the input device when the first surface of the input device according to FIG. 24 is operated by an operator. 図1に示す入力装置の変形例4の構成を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the structure of the modification 4 of the input device shown in FIG. 図1に示す入力装置の変形例5の構成例2を示す要部の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the principal part which shows the structural example 2 of the modification 5 of the input device shown in FIG. 図1に示す入力装置の変形例5の構成例3を示す要部の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the principal part which shows the structural example 3 of the modification 5 of the input device shown in FIG. 図1に示す入力装置の変形例5の構成例4を示す要部の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the principal part which shows the structural example 4 of the modification 5 of the input device shown in FIG. 図1に示す入力装置の変形例5の構成例5を示す要部の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the principal part which shows the structural example 5 of the modification 5 of the input device shown in FIG. 本技術の第2の実施形態に係る入力装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the input device which concerns on the 2nd Embodiment of this technique. 上記入力装置に係る操作部材の構成例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the structural example of the operation member which concerns on the said input device. 図31に示す入力装置の変形例の構成を示す拡大断面図である。FIG. 32 is an enlarged cross-sectional view illustrating a configuration of a modified example of the input device illustrated in FIG. 31. 図33に示す入力装置の第1及び第2の構造体の配置例を示す平面図であり、Aは第1の構造体、Bは第2の構造体について示す。FIG. 34 is a plan view illustrating an arrangement example of first and second structures of the input device illustrated in FIG. 33, in which A represents the first structure and B represents the second structure. 図33に示す入力装置の複数の第1及び第2の電極線の構成例を示す平面図であり、Aは第1の電極線、Bは第2の電極線について示す。It is a top view which shows the structural example of the some 1st and 2nd electrode line of the input device shown in FIG. 33, A shows about a 1st electrode line and B shows about a 2nd electrode line. 図34に示す第1及び第2の構造体の配置例を示す拡大平面図である。FIG. 35 is an enlarged plan view showing an arrangement example of first and second structures shown in FIG. 34. 本技術の第3の実施形態に係る入力装置が組み込まれた電子機器の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the electronic device with which the input device which concerns on 3rd Embodiment of this technique was integrated. 本技術の第4の実施形態に係る入力装置の構成を示す図であり、Aは概略断面図、BはAの要部を示す拡大断面図である。It is a figure which shows the structure of the input device which concerns on 4th Embodiment of this technique, A is a schematic sectional drawing, B is an expanded sectional view which shows the principal part of A. 図38に示す入力装置に係る第1及び第2の電極線の構成例を示す模式的な平面図であり、Aは第1の電極線、Bは第2の電極線について示す。FIG. 39 is a schematic plan view illustrating a configuration example of first and second electrode lines according to the input device illustrated in FIG. 38, in which A indicates the first electrode line and B indicates the second electrode line. Aは、図38に示す入力装置に係る第1及び第2の電極線の配列を示す平面図である。Bは、AのA−A方向から見た断面図である。FIG. 39A is a plan view illustrating an arrangement of first and second electrode lines according to the input device illustrated in FIG. 38. B is a cross-sectional view as seen from the A-A direction of A. FIG. 図38に示す検出部の構成を説明するための模式的な断面図である。It is typical sectional drawing for demonstrating the structure of the detection part shown in FIG. 本技術の第5の実施形態の一構成例に係る入力装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the input device which concerns on the example of 1 structure of 5th Embodiment of this technique. 図42に示す入力装置に係る第1及び第2の構造体と、第1及び第2の電極線との配置例を示す模式的な平面図である。FIG. 43 is a schematic plan view illustrating an arrangement example of first and second structures and first and second electrode lines according to the input device illustrated in FIG. 42. 本技術の第5の実施形態の他の構成例に係る入力装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the input device which concerns on the other structural example of the 5th Embodiment of this technique. 図44に示す入力装置に係る第1及び第2の構造体と、第1及び第2の電極線との配置例を示す模式的な平面図である。FIG. 45 is a schematic plan view illustrating an arrangement example of first and second structures and first and second electrode lines according to the input device illustrated in FIG. 44. 図42に示す入力装置の変形例に係る第1及び上記第2の電極線の構成例を示す模式的な平面図であり、Aは第1の電極線、Bは第2の電極線について示す。FIG. 43 is a schematic plan view illustrating a configuration example of first and second electrode lines according to a modification of the input device illustrated in FIG. 42, in which A indicates the first electrode line and B indicates the second electrode line. . 図44に示す入力装置の変形例に係る第1及び第2の電極線の構成例を示す模式的な平面図であり、Aは第1の電極線、Bは第2の電極線について示す。FIG. 45 is a schematic plan view illustrating a configuration example of first and second electrode lines according to a modification of the input device illustrated in FIG. 44, in which A indicates the first electrode line and B indicates the second electrode line. 本技術の第6の実施形態の変形例に係る入力装置の構成を示す図であり、Aは斜視図、BはAのB−B方向から見た断面図である。It is a figure which shows the structure of the input device which concerns on the modification of 6th Embodiment of this technique, A is a perspective view, B is sectional drawing seen from the BB direction of A. FIG. 図48に示す入力装置の変形例の構成を示す斜視図である。FIG. 49 is a perspective view showing a configuration of a modification of the input device shown in FIG. 48.

以下、本技術に係る実施形態を、図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, embodiments according to the present technology will be described with reference to the drawings.

<第1の実施形態>
図1は本技術の第1の実施形態に係る入力装置100の概略断面図、図2は入力装置100の分解斜視図、図3は入力装置100の要部の概略断面図、図4は入力装置100を用いた電子機器70のブロック図である。以下、本実施形態の入力装置100の構成について説明する。なお図中、X軸及びY軸は相互に直交する方向(入力装置100の面内方向)を示し、Z軸はX軸及びY軸に直交する方向(入力装置100の厚み方向又は上下方向)を示している。
<First Embodiment>
1 is a schematic cross-sectional view of an input device 100 according to the first embodiment of the present technology, FIG. 2 is an exploded perspective view of the input device 100, FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of a main part of the input device 100, and FIG. 4 is a block diagram of an electronic device 70 using the device 100. FIG. Hereinafter, the configuration of the input device 100 of the present embodiment will be described. In the figure, the X-axis and the Y-axis indicate directions orthogonal to each other (in-plane direction of the input device 100), and the Z-axis indicates a direction orthogonal to the X-axis and Y-axis (thickness direction or vertical direction of the input device 100). Is shown.

[入力装置]
入力装置100は、ユーザによる操作を受け付けるフレキシブルディスプレイ(表示部)11と、ユーザの操作を検出するセンサ装置1とを有する。入力装置100は、例えばフレキシブルなタッチパネルディスプレイとして構成され、後述する電子機器70に組み込まれる。センサ装置1及びフレキシブルディスプレイ11は、Z軸に垂直な方向に延びる平板状である。
[Input device]
The input device 100 includes a flexible display (display unit) 11 that receives a user's operation and a sensor device 1 that detects the user's operation. The input device 100 is configured as a flexible touch panel display, for example, and is incorporated in an electronic device 70 described later. The sensor device 1 and the flexible display 11 have a flat plate shape extending in a direction perpendicular to the Z axis.

フレキシブルディスプレイ11は、第1の面110と、第1の面110の反対側の第2の面120とを有する。フレキシブルディスプレイ11は、入力装置100における入力操作部としての機能と、表示部としての機能とを兼ね備える。すなわちフレキシブルディスプレイ11は、第1の面110を入力操作面及び表示面として機能させ、第1の面110からユーザによる操作に応じた画像をZ軸方向上方に向けて表示する。第1の面110には、例えばキーボードに対応する画像や、GUI(Graphical User Interface)等が表示される。フレキシブルディスプレイ11に対する操作を行う操作子としては、例えば、図16Bに示す指fや、図16Aに示すスタイラスsが挙げられる。   The flexible display 11 has a first surface 110 and a second surface 120 opposite to the first surface 110. The flexible display 11 has both a function as an input operation unit in the input device 100 and a function as a display unit. In other words, the flexible display 11 causes the first surface 110 to function as an input operation surface and a display surface, and displays an image corresponding to an operation by the user from the first surface 110 facing upward in the Z-axis direction. On the first surface 110, for example, an image corresponding to a keyboard, a GUI (Graphical User Interface), and the like are displayed. Examples of the operator that performs operations on the flexible display 11 include a finger f shown in FIG. 16B and a stylus s shown in FIG. 16A.

フレキシブルディスプレイ11の具体的な構成は特に限定されない。例えば、フレキシブルディスプレイ11として、いわゆる電子ペーパー、有機EL(エレクトロルミネセンス)パネル、無機ELパネル、液晶パネル等を採用することができる。またフレキシブルディスプレイ11の厚みも特に限定されず、例えば0.1mm〜1mm程度である。   The specific configuration of the flexible display 11 is not particularly limited. For example, as the flexible display 11, so-called electronic paper, an organic EL (electroluminescence) panel, an inorganic EL panel, a liquid crystal panel, or the like can be employed. The thickness of the flexible display 11 is not particularly limited, and is about 0.1 mm to 1 mm, for example.

センサ装置1は、金属膜(第1の導体層又は第2の導体層)12と、導体層(第2の導体層又は第1の導体層)50と、電極基板20と、第1の支持体30と、第2の支持体40を有する。センサ装置1は、フレキシブルディスプレイ11の第2の面120側に配置されている。   The sensor device 1 includes a metal film (first conductor layer or second conductor layer) 12, a conductor layer (second conductor layer or first conductor layer) 50, an electrode substrate 20, and a first support. It has a body 30 and a second support body 40. The sensor device 1 is disposed on the second surface 120 side of the flexible display 11.

金属膜12は、変形可能なシート状に構成される。導体層50は、金属膜12に対向して配置される。電極基板20は、複数の第1の電極線210と、複数の第1の電極線210に対向して配置され複数の第1の電極線210と交差する複数の第2の電極線220とを有し、金属膜12と導体層50との間に変形可能に配置され、金属膜12及び導体層50各々との距離の変化を静電的に検出することが可能である。第1の支持体30は、金属膜12と電極基板20との間を接続する複数の第1の構造体310と、複数の第1の構造体310の間に形成された第1の空間部330とを有する。第2の支持体40は、隣り合う複数の第1の構造体310間にそれぞれ配置され導体層50と電極基板20との間を接続する複数の第2の構造体410と、複数の第2の構造体410の間に形成された第2の空間部430とを有する。   The metal film 12 is configured in a deformable sheet shape. The conductor layer 50 is disposed to face the metal film 12. The electrode substrate 20 includes a plurality of first electrode lines 210 and a plurality of second electrode lines 220 that are arranged to face the plurality of first electrode lines 210 and intersect the plurality of first electrode lines 210. And disposed so as to be deformable between the metal film 12 and the conductor layer 50, and it is possible to electrostatically detect a change in the distance between the metal film 12 and the conductor layer 50. The first support 30 includes a plurality of first structures 310 that connect the metal film 12 and the electrode substrate 20, and a first space formed between the plurality of first structures 310. 330. The second support body 40 is disposed between a plurality of adjacent first structure bodies 310, respectively, and a plurality of second structure bodies 410 connecting the conductor layer 50 and the electrode substrate 20, and a plurality of second structure bodies And a second space portion 430 formed between the structures 410.

本実施形態に係るセンサ装置1(入力装置100)は、フレキシブルディスプレイ11の第1の面110上での入力操作による金属膜12及び電極基板20と、導体層50及び電極基板20との間の距離の変化を静電的に検出することで、当該入力操作を検出する。当該入力操作は、第1の面110上を意識的な押圧(プッシュ)操作に限られず、接触(タッチ)操作であってもよい。すなわち、入力装置100は、後述するように、一般的なタッチ操作により付加される微小な押圧力(例えば約数十g程度)であっても検出可能であるため、通常のタッチセンサと同様のタッチ操作が可能に構成される。   The sensor device 1 (input device 100) according to the present embodiment includes a gap between the metal film 12 and the electrode substrate 20 by the input operation on the first surface 110 of the flexible display 11, and the conductor layer 50 and the electrode substrate 20. The input operation is detected by electrostatically detecting a change in the distance. The input operation is not limited to a conscious pressing (push) operation on the first surface 110 but may be a contact (touch) operation. That is, the input device 100 can detect even a minute pressing force (for example, about several tens of g) applied by a general touch operation, as will be described later. The touch operation is configured to be possible.

入力装置100は、制御部60を有し、当該制御部60は、演算部61及び信号生成部62を含む。演算部61は、検出部20sの静電容量の変化に基づいて、ユーザによる操作を検出する。信号生成部62は、演算部61による検出結果に基づいて操作信号を生成する。   The input device 100 includes a control unit 60, and the control unit 60 includes a calculation unit 61 and a signal generation unit 62. The calculation unit 61 detects an operation by the user based on the change in the capacitance of the detection unit 20s. The signal generator 62 generates an operation signal based on the detection result by the calculator 61.

図4に示す電子機器70は、入力装置100の信号生成部62の生成する操作信号に基づいた処理を行うコントローラ710を有する。コントローラ710によって処理された操作信号は、例えば画像信号として、フレキシブルディスプレイ11に出力される。フレキシブルディスプレイ11は、フレキシブル配線基板113(図2参照)を介してコントローラ710に搭載された駆動回路に接続される。上記駆動回路は、配線基板113に搭載されていてもよい。   The electronic device 70 illustrated in FIG. 4 includes a controller 710 that performs processing based on an operation signal generated by the signal generation unit 62 of the input device 100. The operation signal processed by the controller 710 is output to the flexible display 11 as an image signal, for example. The flexible display 11 is connected to a drive circuit mounted on the controller 710 via a flexible wiring board 113 (see FIG. 2). The drive circuit may be mounted on the wiring board 113.

フレキシブルディスプレイ11は、本実施形態において、入力装置100の操作部材10の一部として構成される。すなわち、入力装置100は、操作部材10と、電極基板20と、第1の支持体30と、第2の支持体40と、導体層50とを有する。以下、これらの各要素について説明する。   In this embodiment, the flexible display 11 is configured as a part of the operation member 10 of the input device 100. That is, the input device 100 includes the operation member 10, the electrode substrate 20, the first support body 30, the second support body 40, and the conductor layer 50. Hereinafter, each of these elements will be described.

(操作部材)
操作部材10は、第1の面110と第2の面120とを含むフレキシブルディスプレイ11と、金属膜12との積層構造を有する。すなわち操作部材10は、ユーザによる操作を受け付ける第1の面110と、金属膜12が形成され第1の面110の反対側の第2の面120とを有し、変形可能なシート状に構成される。
(Operation member)
The operation member 10 has a laminated structure of the flexible display 11 including the first surface 110 and the second surface 120 and the metal film 12. That is, the operation member 10 includes a first surface 110 that receives an operation by a user, and a second surface 120 that is formed with the metal film 12 and is opposite to the first surface 110, and is configured in a deformable sheet shape. Is done.

金属膜12は、フレキシブルディスプレイ11の変形に倣って変形可能なシート状に構成され、例えばCu(銅)、Al(アルミニウム)、ステンレス鋼(SUS)等の金属箔あるいはメッシュ材で構成される。金属膜12の厚みは特に限定されず、例えば数10nm〜数10μmである。金属膜12は、例えばグランド電位に接続される。金属膜は導電層として機能すればよく、金属に限定されない。例えば、ITO(酸化インジウム錫)等の酸化物導電体やカーボンナノチューブ等の有機導電体でも良い。これにより金属膜12は、電子機器70に実装された際の電磁シールド層としての機能を発揮する。すなわち、例えば電子機器70に実装される他の電子部品等からの電磁波の侵入及び入力装置100からの電磁波の漏洩を抑制し、電子機器70としての動作の安定性に寄与することができる。なお、金属膜12は、それぞれグランド電位に接続された複数の層を有していてもよい(図7参照)。これにより、電磁シールド層としての機能を強化することができる。   The metal film 12 is formed in a sheet shape that can be deformed following the deformation of the flexible display 11, and is formed of a metal foil or mesh material such as Cu (copper), Al (aluminum), stainless steel (SUS), or the like. The thickness of the metal film 12 is not particularly limited, and is, for example, several tens of nm to several tens of μm. The metal film 12 is connected to a ground potential, for example. The metal film only needs to function as a conductive layer and is not limited to metal. For example, an oxide conductor such as ITO (indium tin oxide) or an organic conductor such as carbon nanotube may be used. Thereby, the metal film 12 exhibits a function as an electromagnetic shield layer when mounted on the electronic device 70. That is, for example, intrusion of electromagnetic waves from other electronic components or the like mounted on the electronic device 70 and leakage of electromagnetic waves from the input device 100 can be suppressed, which can contribute to the stability of the operation as the electronic device 70. The metal film 12 may have a plurality of layers each connected to the ground potential (see FIG. 7). Thereby, the function as an electromagnetic shielding layer can be strengthened.

金属膜12は、例えば図3に示すように、金属箔が形成された粘着性の接着層13をフレキシブルディスプレイ11に貼り付けることで形成される。接着層13の材料は粘着性を有すれば特に限定されないが、樹脂材料を適用した樹脂膜としてもよい。あるいは、フレキシブルディスプレイ11に直接形成された蒸着膜やスパッタ膜等で構成されてもよく、フレキシブルディスプレイ11の表面に印刷された導電ペースト等の塗膜であってもよい。また、金属膜12の表面に非導電性の膜が形成されていても良い。非導電性の膜としては、例えば、耐傷性ハードコート層や耐腐食性の酸化防止膜等を形成することができる。   For example, as shown in FIG. 3, the metal film 12 is formed by attaching an adhesive adhesive layer 13 on which a metal foil is formed to the flexible display 11. The material of the adhesive layer 13 is not particularly limited as long as it has adhesiveness, but may be a resin film to which a resin material is applied. Alternatively, it may be composed of a vapor deposition film or a sputtered film directly formed on the flexible display 11, or may be a coating film such as a conductive paste printed on the surface of the flexible display 11. Further, a nonconductive film may be formed on the surface of the metal film 12. As the non-conductive film, for example, a scratch-resistant hard coat layer or a corrosion-resistant antioxidant film can be formed.

(導体層)
導体層50は、入力装置100の最下部を構成し、金属膜12とZ軸方向に対向して配置される。導体層50は、例えば入力装置100の支持プレートとしても機能し、例えば操作部材10及び電極基板20よりも高い曲げ剛性を有するように構成される。導体層50は、例えばAl合金、Mg(マグネシウム)合金その他の金属材料を含む金属板又はカーボン繊維強化型プラスチック等の導体板で構成されてもよい。あるいは導体層50は、プラスチック材料等の絶縁体層上にメッキ膜や蒸着膜、スパッタリング膜、金属箔等の導体膜が形成された積層構造を有してもよい。また導体層50の厚みは特に限定されず、例えば約0.3mm程度である。
(Conductor layer)
The conductor layer 50 constitutes the lowermost part of the input device 100 and is disposed to face the metal film 12 in the Z-axis direction. The conductor layer 50 also functions as a support plate of the input device 100, for example, and is configured to have higher bending rigidity than the operation member 10 and the electrode substrate 20, for example. The conductor layer 50 may be made of a metal plate containing, for example, an Al alloy, an Mg (magnesium) alloy, or other metal material, or a conductor plate such as a carbon fiber reinforced plastic. Alternatively, the conductor layer 50 may have a laminated structure in which a conductor film such as a plating film, a vapor deposition film, a sputtering film, or a metal foil is formed on an insulating layer such as a plastic material. Moreover, the thickness of the conductor layer 50 is not specifically limited, For example, it is about 0.3 mm.

図5A〜Eは、導体層50の構成例を示す概略断面図である。導体層50は、図5Aに示すような平坦な板状に構成される例に限られず、図5B,C,Eに示す段差部51を有していてもよい。あるいは導体層50は、開口50hが設けられたメッシュ状に構成されていてもよい。   5A to 5E are schematic cross-sectional views showing examples of the configuration of the conductor layer 50. The conductor layer 50 is not limited to the example configured in a flat plate shape as shown in FIG. 5A, and may have a stepped portion 51 shown in FIGS. 5B, 5C, and 5E. Or the conductor layer 50 may be comprised by the mesh shape in which the opening 50h was provided.

例えば図5Bに示す導体層50Bは、周縁部がZ軸方向上方に向かって折り曲げられることで形成された段差部51Bを有し、図5C,Eに示す導体層50Cは、いずれも中央部に形成され下方に陥没した段差部51C,51Eを有する。このような段差部51によって、導体層50のZ軸方向に関する曲げ剛性を高めることができる。   For example, the conductor layer 50B shown in FIG. 5B has a step part 51B formed by bending the peripheral part upward in the Z-axis direction, and the conductor layer 50C shown in FIGS. The step portions 51C and 51E are formed and recessed downward. Such a stepped portion 51 can increase the bending rigidity of the conductor layer 50 in the Z-axis direction.

また、図5D、図5Eに示す導体層50Eには、1または複数の開口50hが設けられている。このように導体層50に開口50hを設けることにより、剛性を維持しつつ放熱性を高めることができる。したがって、入力装置100の不具合を抑制し、信頼性を高めることが可能となる。また、開口50hにより、導体層50の体積が減り、入力装置100の重さを軽くすることができる。さらに、開口50hにより、第2の空間部430の体積が変形によって変化する際に空気が流れ易くなり、電極基板20の応答時間が短縮する。ここで、応答時間とは、操作部材10への加重が変化してから実際にセンサ装置1の容量が変化するまでの時間のことを指す。   In addition, one or a plurality of openings 50h are provided in the conductor layer 50E shown in FIGS. 5D and 5E. Thus, by providing the opening 50h in the conductor layer 50, heat dissipation can be improved while maintaining rigidity. Therefore, it is possible to suppress problems of the input device 100 and improve reliability. Moreover, the volume of the conductor layer 50 can be reduced by the opening 50h, and the weight of the input device 100 can be reduced. Furthermore, the opening 50h makes it easier for air to flow when the volume of the second space 430 changes due to deformation, and the response time of the electrode substrate 20 is shortened. Here, the response time refers to the time from when the weight applied to the operation member 10 changes until the capacity of the sensor device 1 actually changes.

開口50hの平面形状としては、三角形や四角形などの多角形状、円形状、楕円形状、長円形状、不定形状およびスリット状などが挙げられ、これらの形状を単独または2以上組み合わせて用いてもよい。   Examples of the planar shape of the opening 50h include a polygonal shape such as a triangle and a quadrangle, a circular shape, an elliptical shape, an oval shape, an indefinite shape, and a slit shape, and these shapes may be used alone or in combination of two or more. .

また、導体層50に複数の開口50hを設ける場合に、複数の開口50hの配置パターンは特に限定されないが、例えば規則的なパターンとすることができる。これにより、検出感度をより均一にすることができる。さらに、上記規則的なパターンとしては、1次元的配列および2次元的配列のいずれであってもよく、例えば、図5Dに示すようなメッシュ状であってもよい。あるいは、複数の開口50hがストライプ状に構成されてもよいし、全体として幾何学模様を構成していてもよい。   Moreover, when providing the several opening 50h in the conductor layer 50, the arrangement pattern of the several opening 50h is not specifically limited, For example, it can be set as a regular pattern. Thereby, detection sensitivity can be made more uniform. Furthermore, the regular pattern may be either a one-dimensional array or a two-dimensional array, and may be, for example, a mesh shape as shown in FIG. 5D. Or the some opening 50h may be comprised by stripe shape, and may comprise the geometric pattern as a whole.

開口50hは、例えば、複数の第2の構造体410のいずれにも対向しない位置または領域に設けられている。すなわち、開口50hと第2の構造体410とが、Z軸方向(入力装置100の厚さ方向)に重ならないように、面内(XY面内)方向にずらして設けられている。これにより、第2の構造体410により電極基板20と導体層50を安定して接続することができる。   The opening 50h is provided, for example, in a position or region that does not face any of the plurality of second structures 410. That is, the opening 50h and the second structure 410 are provided so as to be shifted in the in-plane (XY plane) direction so as not to overlap in the Z-axis direction (the thickness direction of the input device 100). Thereby, the electrode substrate 20 and the conductor layer 50 can be stably connected by the second structure 410.

導体層50は、例えばグランド電位に接続される。これにより導体層50は、電子機器70に実装された際の電磁シールド層としての機能を発揮する。すなわち、例えば電子機器70に実装される他の電子部品等からの電磁波の侵入及び入力装置100からの電磁波の漏洩を抑制し、電子機器70としての動作の安定性に寄与することができる。さらに、以下に説明するような接続方法とすることで、より電磁シールド機能を高めることができる。   The conductor layer 50 is connected to a ground potential, for example. Thus, the conductor layer 50 exhibits a function as an electromagnetic shield layer when mounted on the electronic device 70. That is, for example, intrusion of electromagnetic waves from other electronic components or the like mounted on the electronic device 70 and leakage of electromagnetic waves from the input device 100 can be suppressed, which can contribute to the stability of the operation as the electronic device 70. Furthermore, the electromagnetic shielding function can be further enhanced by adopting a connection method as described below.

(金属膜と導体層とのグランド電位への接続方法)
図6は、金属膜12と導体層50とのグランド電位への接続方法について説明する模式的な図である。同図に示すように、金属膜12と導体層50とは、例えば、入力装置100の制御部60のグランドと、電子機器70のコントローラ710のグランドとに接続される。
(Connection method to ground potential between metal film and conductor layer)
FIG. 6 is a schematic diagram for explaining a method of connecting the metal film 12 and the conductor layer 50 to the ground potential. As shown in the figure, the metal film 12 and the conductor layer 50 are connected to, for example, the ground of the control unit 60 of the input device 100 and the ground of the controller 710 of the electronic device 70.

ここで、センサ装置1の検出感度に影響を及ぼす機器の一つとして、フレキシブルディスプレイ11が挙げられる。仮に金属膜12と導体層50とが制御部60のグランドのみに接続されていた場合には、フレキシブルディスプレイ11が制御部60のグランド電位に影響を及ぼす可能性があり、電磁シールド効果を十分に発揮することができない可能性がある。そこで、フレキシブルディスプレイ11が接続されるコントローラ710のグランドに金属膜12と導体層50とを接続させることで、より安定的なグランド電位に維持することができ、電磁シールド効果を向上させることができる。さらに、同図に示すように、金属膜12と導体層50とをより多くの接点で接続させることによっても、電磁シールド効果を向上させることができる。   Here, the flexible display 11 is mentioned as one of the apparatuses which influence the detection sensitivity of the sensor apparatus 1. If the metal film 12 and the conductor layer 50 are connected only to the ground of the control unit 60, the flexible display 11 may affect the ground potential of the control unit 60, and the electromagnetic shielding effect is sufficiently obtained. There is a possibility that it cannot be demonstrated. Therefore, by connecting the metal film 12 and the conductor layer 50 to the ground of the controller 710 to which the flexible display 11 is connected, a more stable ground potential can be maintained, and the electromagnetic shielding effect can be improved. . Furthermore, as shown in the figure, the electromagnetic shielding effect can be improved by connecting the metal film 12 and the conductor layer 50 with more contacts.

あるいは、図7に示すように、金属膜12が複数の層から形成されてもよい。同図に示す例では、金属膜12が、フレキシブルディスプレイ11側の第1の金属膜12aと、電極基板20側の第2の金属膜12bとを含む。これにより、例えば第1の金属膜12aをコントローラ710のグランドに接続し、第2の金属膜12bを制御部60のみに接続されることができる。あるいは、第2の金属膜12bは、制御部60及びコントローラ710の双方に接続されてもよい。これによっても、電磁シールド効果を向上させることができる。   Alternatively, as shown in FIG. 7, the metal film 12 may be formed of a plurality of layers. In the example shown in the figure, the metal film 12 includes a first metal film 12a on the flexible display 11 side and a second metal film 12b on the electrode substrate 20 side. Thereby, for example, the first metal film 12a can be connected to the ground of the controller 710, and the second metal film 12b can be connected only to the control unit 60. Alternatively, the second metal film 12b may be connected to both the control unit 60 and the controller 710. Also by this, the electromagnetic shielding effect can be improved.

(電極基板)
電極基板20は、第1の電極線210を有する第1の配線基板21と、第2の電極線220を有する第2の配線基板22との積層体で構成される。
(Electrode substrate)
The electrode substrate 20 is configured by a laminate of a first wiring substrate 21 having first electrode lines 210 and a second wiring substrate 22 having second electrode lines 220.

第1の配線基板21は、第1の基材211(図2参照)と、複数の第1の電極線(X電極)210とを有する。第1の基材211は、例えばフレキシブル性を有するシート材で構成され、具体的にはPET、PEN、PC、PMMA、ポリイミド等の電気絶縁性のプラスチックシート(フィルム)等で構成される。第1の基材211の厚みは特に限定されず、例えば数10μm〜数100μmである。   The first wiring board 21 includes a first base material 211 (see FIG. 2) and a plurality of first electrode lines (X electrodes) 210. The first substrate 211 is made of, for example, a flexible sheet material, specifically, an electrically insulating plastic sheet (film) such as PET, PEN, PC, PMMA, or polyimide. The thickness of the 1st base material 211 is not specifically limited, For example, they are several 10 micrometers-several hundred micrometers.

複数の第1の電極線210は、第1の基材211の一方の面に一体的に設けられている。複数の第1の電極線210は、X軸方向に沿って所定の間隔をおいて配列され、かつY軸方向に沿ってほぼ直線的に形成されている。第1の電極線210各々は、第1の基材211の縁部等に引き出され、それぞれ異なる端子に接続される。また第1の電極線210各々は、これらの端子を介して制御部60に電気的に接続される。   The plurality of first electrode wires 210 are integrally provided on one surface of the first base material 211. The plurality of first electrode lines 210 are arranged at a predetermined interval along the X-axis direction and are formed substantially linearly along the Y-axis direction. Each of the first electrode wires 210 is drawn out to the edge of the first base material 211 and connected to different terminals. In addition, each of the first electrode lines 210 is electrically connected to the control unit 60 via these terminals.

なお、複数の第1の電極線210各々は、単一の電極線で構成されていてもよいし、X軸方向に沿って配列された複数の電極群21w(図12参照)で構成されていてもよい。また、各々の電極群21wを構成する複数の電極線は、共通の端子に接続されてもよいし、異なる2以上の端子に分けて接続されてもよい。   Each of the plurality of first electrode lines 210 may be composed of a single electrode line, or may be composed of a plurality of electrode groups 21w (see FIG. 12) arranged along the X-axis direction. May be. In addition, the plurality of electrode lines constituting each electrode group 21w may be connected to a common terminal or may be divided into two or more different terminals.

一方、第2の配線基板22は、第2の基材221(図2参照)と、複数の第2の電極線(Y電極)220とを有する。第2の基材221は、第1の基材211と同様に例えばフレキシブル性を有するシート材で構成され、具体的にはPET、PEN、PC、PMMA、ポリイミド等の電気絶縁性のプラスチックシート(フィルム)等で構成される。第2の基材221の厚みは特に限定されず、例えば数10μm〜数100μmである。第2の配線基板22は、第1の配線基板21に対向して配置される。   On the other hand, the second wiring board 22 includes a second base material 221 (see FIG. 2) and a plurality of second electrode lines (Y electrodes) 220. The second base material 221 is made of, for example, a flexible sheet material like the first base material 211, and specifically, an electrically insulating plastic sheet such as PET, PEN, PC, PMMA, polyimide ( Film) and the like. The thickness of the 2nd base material 221 is not specifically limited, For example, they are several 10 micrometers-several 100 micrometers. The second wiring board 22 is disposed to face the first wiring board 21.

複数の第2の電極線220は、複数の第1の電極線210と同様に構成される。すなわち複数の第2の電極線220は、第2の基材221の一方の面に一体的に設けられており、Y軸方向に沿って所定の間隔をおいて配列され、かつX軸方向に沿ってほぼ直線的に形成されている。また複数の第2の電極線220各々は、単一の電極線で構成されていてもよいし、Y軸方向に沿って配列された複数の電極群22w(図12参照)で構成されていてもよい。   The plurality of second electrode lines 220 are configured similarly to the plurality of first electrode lines 210. That is, the plurality of second electrode lines 220 are integrally provided on one surface of the second base material 221, arranged at a predetermined interval along the Y-axis direction, and in the X-axis direction. It is formed almost linearly along. Each of the plurality of second electrode lines 220 may be configured by a single electrode line, or may be configured by a plurality of electrode groups 22w (see FIG. 12) arranged along the Y-axis direction. Also good.

第2の電極線220各々は、第2の基材221の縁部等に引き出され、それぞれ異なる端子に接続される。各々の電極群22wを構成する複数の電極線は、共通の端子に接続されてもよいし、異なる2以上の端子に分けて接続されてもよい。また第2の電極線210各々は、これらの端子を介して制御部60に電気的に接続される。   Each of the second electrode lines 220 is drawn out to the edge of the second base material 221 and connected to a different terminal. The plurality of electrode lines constituting each electrode group 22w may be connected to a common terminal or may be divided and connected to two or more different terminals. Each of the second electrode wires 210 is electrically connected to the control unit 60 via these terminals.

第1の電極線210及び第2の電極線220は、導電ペースト等をスクリーン印刷やグラビアオフセット印刷、インクジェット印刷等の印刷法で形成されてもよいし、金属箔あるいは金属層のフォトリソグラフィ技術を用いたパターニング法で形成されてもよい。また第1及び第2の基材211,221がいずれもフレキシブル性を有するシートで構成されることで、電極基板20全体としてフレキシブル性を有する構成とすることができる。   The first electrode line 210 and the second electrode line 220 may be formed using a conductive paste or the like by a printing method such as screen printing, gravure offset printing, or ink jet printing, or a metal foil or metal layer photolithography technique. It may be formed by the patterning method used. Moreover, it can be set as the structure which has flexibility as the electrode substrate 20 whole because both the 1st and 2nd base materials 211 and 221 are comprised with the sheet | seat which has flexibility.

図3に示すように電極基板20は、第1の配線基板21と第2の配線基板22とを相互に接合する接着層23を有する。接着層23は、電気絶縁性を有し、例えば、接着剤の硬化物、粘着テープ等の粘着材料等で構成される。   As shown in FIG. 3, the electrode substrate 20 has an adhesive layer 23 that bonds the first wiring substrate 21 and the second wiring substrate 22 together. The adhesive layer 23 has electrical insulating properties, and is made of, for example, an adhesive cured material, an adhesive material such as an adhesive tape, or the like.

このような構成により、第1の電極線210は、第2の電極線220と電極基板20の厚み方向、すなわちZ軸方向に対向して配置される。さらに電極基板20は、第1の電極線210と第2の電極線220との交差領域に各々形成された複数の検出部20sを有する。   With such a configuration, the first electrode line 210 is arranged to face the second electrode line 220 and the thickness direction of the electrode substrate 20, that is, the Z-axis direction. Furthermore, the electrode substrate 20 has a plurality of detection units 20 s formed respectively in the intersecting region between the first electrode line 210 and the second electrode line 220.

図8Aは、検出部20sの構成を説明するための模式的な断面図である。検出部20sは、第1の電極線210と、第1の電極線210とZ軸方向に対向する第2の電極線220と、第1及び第2の電極線210,220の間に設けられた誘電層とを有する相互キャパシタンス方式の容量素子で構成される。なお図8A,Bでは、各第1及び第2の電極線210,220がそれぞれ単一の電極線で構成されているとして説明する。   FIG. 8A is a schematic cross-sectional view for explaining the configuration of the detection unit 20s. The detection unit 20 s is provided between the first electrode line 210, the second electrode line 220 facing the first electrode line 210 in the Z-axis direction, and the first and second electrode lines 210 and 220. And a capacitance element of a mutual capacitance type having a dielectric layer. 8A and 8B, it is assumed that each of the first and second electrode lines 210 and 220 is composed of a single electrode line.

図8Aは、第1の電極線210(210x1,210x2,210x3)と第2の電極線220(220y)とがZ軸方向に相互に対向して配置される例を示す。図8Aに示す例では、第1の配線基板21及び第2の配線基板22が接着層23により相互に接合されており、第1の配線基板21の第1の基材211と接着層23とが上記誘電層を構成する。この場合は、第1の電極線210x1,210x2,210x3各々と第2の電極線220yとが容量結合する交差領域にそれぞれ検出部20s1,20s2,20s3が形成され、これらの静電容量C1,C2,C3が、金属膜12及び導体層50各々と第1の電極線210x1,210x2,210x3、第2の電極線220yとの容量結合に応じて変化するように構成される。なお検出部20sの初期容量は、例えば、第1及び第2の電極線210,220間の対向面積、第1及び第2の電極線210,220間の対向距離、接着層23の誘電率によって設定される。   FIG. 8A shows an example in which the first electrode line 210 (210x1, 210x2, 210x3) and the second electrode line 220 (220y) are arranged facing each other in the Z-axis direction. In the example shown in FIG. 8A, the first wiring board 21 and the second wiring board 22 are bonded to each other by the adhesive layer 23, and the first base material 211 and the adhesive layer 23 of the first wiring board 21 are Constitutes the dielectric layer. In this case, the detection units 20s1, 20s2, and 20s3 are formed in the intersecting regions where the first electrode lines 210x1, 210x2, and 210x3 and the second electrode lines 220y are capacitively coupled, and the capacitances C1 and C2 , C3 are configured to change according to capacitive coupling between the metal film 12 and the conductor layer 50 and the first electrode lines 210x1, 210x2, 210x3, and the second electrode line 220y. The initial capacity of the detection unit 20 s depends on, for example, the facing area between the first and second electrode lines 210 and 220, the facing distance between the first and second electrode lines 210 and 220, and the dielectric constant of the adhesive layer 23. Is set.

また、図8Bは、検出部20sの構成の変形例を示し、第1の電極線210D(210Dx1,210Dx2,210Dx3)と第2の電極線220D(220Dy1,220Dy2,220Dy3)とが第1の基材211D上の同一面内に配置され、XY平面内で容量結合している例を示す。この場合には、第1の電極線210Dと第2の電極線220Dとが電極基板20の面内方向(例えばX軸方向)に対向して配置され、例えば第1の基材211Dが検出部20Ds(20Ds1,20Ds2,20Ds3)の誘電層を構成する。このような配置であっても、検出部20Ds1,20Ds2,20Ds3の静電容量C11,C12,C13が金属膜12及び導体層50各々と第1及び第2の電極線210Dx,220Dyとの容量結合に応じて可変に構成される。また上記構成では第2の基材及び接着層が不要となり、入力装置100の薄型化に貢献できる。   FIG. 8B shows a modified example of the configuration of the detection unit 20s, and the first electrode line 210D (210Dx1, 210Dx2, 210Dx3) and the second electrode line 220D (220Dy1, 220Dy2, 220Dy3) are the first base. An example is shown in which they are arranged in the same plane on the material 211D and capacitively coupled in the XY plane. In this case, the first electrode line 210D and the second electrode line 220D are arranged to face each other in the in-plane direction (for example, the X-axis direction) of the electrode substrate 20, and for example, the first base material 211D is the detection unit. A dielectric layer of 20Ds (20Ds1, 20Ds2, 20Ds3) is formed. Even in such an arrangement, the capacitances C11, C12, and C13 of the detection units 20Ds1, 20Ds2, and 20Ds3 are capacitively coupled to the metal film 12 and the conductor layer 50 and the first and second electrode lines 210Dx and 220Dy, respectively. Depending on the configuration, it is variably configured. In the above configuration, the second base material and the adhesive layer are not necessary, and the input device 100 can be reduced in thickness.

本実施形態において、複数の検出部20s各々は、後述する第1の構造体310とZ軸方向に対向して配置されている。あるいは、後述する第2の構造体410とZ軸方向に対向して配置されていてもよい。また本実施形態では、第1の配線基板21が第2の配線基板22よりも上層となるように積層されるが、これに限られず第2の配線基板22を第1の配線基板21よりも上層となるように積層されてもよい。   In the present embodiment, each of the plurality of detection units 20s is disposed to face a first structure 310 (to be described later) in the Z-axis direction. Or you may arrange | position facing the 2nd structure 410 mentioned later and the Z-axis direction. In the present embodiment, the first wiring board 21 is stacked so as to be an upper layer than the second wiring board 22, but the present invention is not limited to this, and the second wiring board 22 is placed over the first wiring board 21. You may laminate | stack so that it may become an upper layer.

(制御部)
制御部60は、電極基板20に電気的に接続される。より詳細には、制御部60は、複数の第1及び第2の電極線210,220各々に端子を介してそれぞれ接続される。制御部60は、複数の検出部20sの出力に基づいて第1の面110に対する入力操作に関する情報を生成することが可能な信号処理回路を構成する。制御部60は、所定の周期で複数の検出部20s各々をスキャンしながら各検出部20sの容量変化量を取得し、その容量変化量に基づいて入力操作に関する情報を生成する。
(Control part)
The controller 60 is electrically connected to the electrode substrate 20. More specifically, the control unit 60 is connected to each of the plurality of first and second electrode wires 210 and 220 via terminals. The control unit 60 configures a signal processing circuit capable of generating information related to an input operation on the first surface 110 based on outputs of the plurality of detection units 20s. The control unit 60 acquires the capacitance change amount of each detection unit 20s while scanning each of the plurality of detection units 20s at a predetermined cycle, and generates information related to the input operation based on the capacitance change amount.

制御部60は、典型的には、CPU/MPU、メモリ等を有するコンピュータで構成される。制御部60は、単一のチップ部品で構成されてもよいし、複数の回路部品で構成されてもよい。制御部60は、入力装置100に搭載されてもよいし、入力装置100が組み込まれる電子機器70に搭載されてもよい。前者の場合には、例えば、電極基板20に接続されるフレキシブル配線基板上に実装される。後者の場合には、電子機器70を制御するコントローラ710と一体的に構成されてもよい。   The control unit 60 is typically configured by a computer having a CPU / MPU, a memory, and the like. The control unit 60 may be composed of a single chip component or a plurality of circuit components. The control unit 60 may be mounted on the input device 100 or may be mounted on the electronic device 70 in which the input device 100 is incorporated. In the former case, for example, it is mounted on a flexible wiring board connected to the electrode substrate 20. In the latter case, the electronic device 70 may be integrated with the controller 710.

制御部60は、上述のように演算部61と、信号生成部62とを有し、不図示の記憶部に格納されたプログラムに従って各種機能を実行する。演算部61は、電極基板20の第1及び第2の電極線210,220各々から出力される電気的な信号(入力信号)に基づいて第1の面110上のXY座標系における操作位置を算出し、信号生成部62は、その結果に基づいて操作信号を生成する。これにより、フレキシブルディスプレイ11に対し、第1の面110上での入力操作に基づく画像を表示させることができる。   As described above, the control unit 60 includes the calculation unit 61 and the signal generation unit 62, and executes various functions according to programs stored in a storage unit (not shown). The calculation unit 61 determines the operation position in the XY coordinate system on the first surface 110 based on electrical signals (input signals) output from the first and second electrode lines 210 and 220 of the electrode substrate 20. The signal generation unit 62 calculates and generates an operation signal based on the result. Thereby, an image based on an input operation on the first surface 110 can be displayed on the flexible display 11.

図3,4に示す演算部61は、第1の面110上における操作子による操作位置のXY座標を、固有のXY座標が割り当てられた各検出部20sからの出力に基づいて算出する。具体的には、演算部61は、各X電極210、Y電極220から得られる静電容量の変化量に基づいて、各X電極210、Y電極220の交差領域に形成される各検出部20sにおける静電容量の変化量を算出する。この各検出部20sの静電容量の変化量の比率等により、操作子による操作位置のXY座標を算出することが可能となる。   3 and 4 calculates the XY coordinates of the operation position by the operator on the first surface 110 based on the output from each detection unit 20s to which the unique XY coordinates are assigned. Specifically, the calculation unit 61 detects each detection unit 20 s formed in the intersection region of each X electrode 210 and Y electrode 220 based on the amount of change in capacitance obtained from each X electrode 210 and Y electrode 220. The amount of change in capacitance at is calculated. The XY coordinates of the operation position by the operator can be calculated from the ratio of the change in capacitance of each detection unit 20s.

また演算部61は、第1の面110が操作を受けているか否かを判定することができる。具体的には、例えば、検出部20s全体の静電容量の変化量や検出部20s各々の静電容量の変化量等が所定の閾値以上である場合に、第1の面110が操作を受けていると判定することができる。また、当該閾値を2以上設けることにより、例えばタッチ操作と(意識的な)プッシュ操作とを区別して判定することが可能となる。さらに、検出部20sの静電容量の変化量に基づいて押圧力を算出することも可能である。   Moreover, the calculating part 61 can determine whether the 1st surface 110 has received operation. Specifically, for example, when the amount of change in the capacitance of the entire detection unit 20s or the amount of change in the capacitance of each detection unit 20s is equal to or greater than a predetermined threshold, the first surface 110 receives an operation. Can be determined. Further, by providing two or more threshold values, for example, it is possible to distinguish and determine a touch operation and a (conscious) push operation. Furthermore, it is also possible to calculate the pressing force based on the amount of change in capacitance of the detection unit 20s.

演算部61は、これらの算出結果を信号生成部62に出力することができる。   The calculation unit 61 can output these calculation results to the signal generation unit 62.

信号生成部62は、演算部61の算出結果に基づいて、所定の操作信号を生成する。当該操作信号は、例えばフレキシブルディスプレイ11に出力する表示画像を生成するための画像制御信号や、フレキシブルディスプレイ11上の操作位置に表示されたキーボード画像のキーに対応する操作信号、あるいはGUI(Graphical User Interface)に対応する操作に関する操作信号等であってもよい。   The signal generation unit 62 generates a predetermined operation signal based on the calculation result of the calculation unit 61. The operation signal is, for example, an image control signal for generating a display image to be output to the flexible display 11, an operation signal corresponding to a key of a keyboard image displayed at an operation position on the flexible display 11, or a GUI (Graphical User It may be an operation signal related to an operation corresponding to (Interface).

ここで、入力装置100は、第1の面110上での操作により金属膜12及び導体層50各々と電極基板20(検出部20s)との距離の変化を生じさせる構成として、第1及び第2の支持体30,40を有する。以下、第1及び第2の支持体30,40について説明する。   Here, the input device 100 is configured to change the distance between each of the metal film 12 and the conductor layer 50 and the electrode substrate 20 (detection unit 20s) by an operation on the first surface 110. Two supports 30, 40 are provided. Hereinafter, the first and second supports 30 and 40 will be described.

(第1及び第2の支持体の基本構成)
第1の支持体30は、操作部材10と電極基板20との間に配置される。第1の支持体30は、複数の第1の構造体310と、第1の枠体320と、第1の空間部330とを有する。本実施形態において第1の支持体30は、接着層35を介して電極基板20の上に接合されている(図3参照)。接着層35は、接着剤であっても良いし、粘着剤、粘着テープ等の粘着材料で構成されてもよい。
(Basic configuration of first and second supports)
The first support 30 is disposed between the operation member 10 and the electrode substrate 20. The first support 30 has a plurality of first structures 310, a first frame 320, and a first space 330. In this embodiment, the 1st support body 30 is joined on the electrode substrate 20 via the contact bonding layer 35 (refer FIG. 3). The adhesive layer 35 may be an adhesive, or may be composed of an adhesive material such as an adhesive and an adhesive tape.

図3に示すように本実施形態に係る第1の支持体30は、基材31と、基材31の表面(上面)に設けられた構造層32と、構造層32上の所定位置に形成された複数の接合部341の積層構造を有する。基材31は、PET、PEN、PC等の電気絶縁性のプラスチックシートで構成される。基材31の厚みは特に限定されず、例えば数μm〜数100μmである。   As shown in FIG. 3, the first support 30 according to the present embodiment is formed at a predetermined position on the base material 31, the structural layer 32 provided on the surface (upper surface) of the base material 31, and the structural layer 32. A stacked structure of a plurality of bonded portions 341 is provided. The base material 31 is composed of an electrically insulating plastic sheet such as PET, PEN, or PC. The thickness of the base material 31 is not specifically limited, For example, they are several micrometers-several hundred micrometers.

構造層32は、UV樹脂等の電気絶縁性の樹脂材料で構成され、基材31の上に複数の第1の凸部321と、第2の凸部322と、凹部323とを形成する。第1の凸部321各々は、例えばZ軸方向に突出する円柱状、角柱状、錐台形状等の形状を有し、基材31の上に所定間隔で配列される。第2の凸部322は、基材31の周囲を取り囲むように所定の幅で形成される。   The structural layer 32 is made of an electrically insulating resin material such as UV resin, and forms a plurality of first convex portions 321, second convex portions 322, and concave portions 323 on the base material 31. Each of the first convex portions 321 has, for example, a columnar shape, a prismatic shape, a frustum shape, or the like protruding in the Z-axis direction, and is arranged on the substrate 31 at a predetermined interval. The second convex portion 322 is formed with a predetermined width so as to surround the periphery of the base material 31.

また構造層32は、第1の面110上での入力操作により電極基板20を変形させることが可能な程度の、比較的高い剛性を有する材料で構成されるが、入力操作時に操作部材10とともに変形可能な弾性材料で構成されてもよい。すなわち構造層32の弾性率は特に限定されず、目的とする操作感や検出感度が得られる範囲で適宜選択可能である。   In addition, the structural layer 32 is made of a material having a relatively high rigidity so that the electrode substrate 20 can be deformed by an input operation on the first surface 110, but together with the operation member 10 during the input operation. You may comprise a deformable elastic material. That is, the elastic modulus of the structural layer 32 is not particularly limited, and can be appropriately selected as long as the desired operational feeling and detection sensitivity are obtained.

凹部323は、第1及び第2の凸部321,322の間に形成された平坦面で構成される。すなわち、凹部323上の空間領域は、第1の空間部330を構成する。また凹部323上には、本実施形態において、粘着性の低いUV樹脂等で形成された接着防止層342が形成される(図3において図示せず)。接着防止層342の形状は特に限られず、島状に形成されてもよいし、凹部323上に平坦膜で形成されてもよい。   The concave portion 323 is configured by a flat surface formed between the first and second convex portions 321 and 322. That is, the space area on the recess 323 constitutes the first space 330. Further, in the present embodiment, an adhesion preventing layer 342 made of UV resin having low adhesiveness or the like is formed on the recess 323 (not shown in FIG. 3). The shape of the adhesion preventing layer 342 is not particularly limited, and may be formed in an island shape, or may be formed as a flat film on the recess 323.

さらに第1及び第2の凸部321,322各々の上には、粘着性の樹脂材料等で構成された接合部341が形成される。すなわち、第1の構造体310各々は、第1の凸部321とその上に形成された接合部341との積層体で構成され、第1の枠体320各々は、第2の凸部322とその上に形成された接合部341との積層体で構成される。これにより、第1の構造体310及び第1の枠体320の厚み(高さ)は、略同一に構成され、本実施形態において例えば数μm〜数100μmの範囲である。なお、接着防止層342の高さは、第1の構造体310及び第1の枠体320の高さよりも低ければ特に限定されず、例えば第1及び第2の凸部321,322よりも低くなるように形成される。   Further, a joint 341 made of an adhesive resin material or the like is formed on each of the first and second convex portions 321 and 322. That is, each of the first structures 310 includes a stacked body of the first convex portion 321 and the joint portion 341 formed thereon, and each of the first frame bodies 320 includes the second convex portion 322. And a joined body 341 formed thereon. Thereby, the thickness (height) of the 1st structure 310 and the 1st frame 320 is comprised substantially the same, and is the range of several micrometers-several 100 micrometers in this embodiment, for example. Note that the height of the adhesion prevention layer 342 is not particularly limited as long as it is lower than the height of the first structure 310 and the first frame 320, and is lower than, for example, the first and second convex portions 321 and 322. Formed to be.

複数の第1の構造体310は、検出部20s各々の配置に対応して配置される。本実施形態において、複数の第1の構造体310は、例えば複数の検出部20sとZ軸方向に対向して配置される。   The plurality of first structures 310 are arranged corresponding to the arrangement of the detection units 20s. In the present embodiment, the plurality of first structures 310 are disposed, for example, facing the plurality of detection units 20s in the Z-axis direction.

一方第1の枠体320は、電極基板20の周縁に沿って第1の支持体30の周囲を取り囲むように形成される。第1の枠体320の短手方向の長さ、すなわち幅は、第1の支持体30及び入力装置100全体の強度を十分に確保できれば特に限られない。   On the other hand, the first frame 320 is formed so as to surround the periphery of the first support 30 along the periphery of the electrode substrate 20. The length of the first frame 320 in the short direction, that is, the width is not particularly limited as long as the strength of the entire first support 30 and the input device 100 can be sufficiently secured.

一方第2の支持体40は、電極基板20と導体層50との間に配置される。第2の支持体40は、複数の第2の構造体410と、第2の枠体420と、第2の空間部430とを有する。   On the other hand, the second support body 40 is disposed between the electrode substrate 20 and the conductor layer 50. The second support 40 includes a plurality of second structures 410, a second frame 420, and a second space 430.

図3に示すように本実施形態に係る第2の支持体40は、導体層50上に直接第2の構造体410及び第2の枠体420が形成される。第2の構造体410及び第2の枠体420は、例えば粘着性を有する絶縁性の樹脂材料で構成され、導体層50と電極基板20との間を接合する接合部の機能も兼ねる。第2の構造体410及び第2の枠体420の厚みは特に限定されないが、例えば数μm〜数100μmである。   As shown in FIG. 3, in the second support body 40 according to the present embodiment, the second structure body 410 and the second frame body 420 are formed directly on the conductor layer 50. The second structure body 410 and the second frame body 420 are made of, for example, an insulative resin material having adhesiveness, and also serve as a joint portion that joins between the conductor layer 50 and the electrode substrate 20. Although the thickness of the 2nd structure 410 and the 2nd frame 420 is not specifically limited, For example, they are several micrometers-several 100 micrometers.

第2の構造体410は、隣り合う第1の構造体310間にそれぞれ配置される。すなわち第2の構造体410は、検出部20s各々の配置に対応して配置されており、本実施形態において、隣り合う検出部20s間にそれぞれ配置されている。一方第2の枠体420は、導体層50の周縁に沿って第2の支持体40の周囲を取り囲むように形成される。第2の枠体420の幅は、第2の支持体40及び入力装置100全体の強度を十分に確保できれば特に限られず、例えば第1の枠体320と略同一の幅で構成される。   The second structures 410 are respectively disposed between the adjacent first structures 310. That is, the second structures 410 are arranged corresponding to the arrangement of the detection units 20s, and are arranged between the adjacent detection units 20s in the present embodiment. On the other hand, the second frame body 420 is formed so as to surround the periphery of the second support body 40 along the periphery of the conductor layer 50. The width of the second frame body 420 is not particularly limited as long as the strength of the second support body 40 and the input device 100 as a whole can be sufficiently ensured.

また第2の構造体410は、第1の構造体310を構成する構造層32と同様に弾性率は特に限定されない。すなわち、目的とする操作感や検出感度が得られる範囲で適宜選択可能であり、入力操作時に電極基板20とともに変形可能な弾性材料で構成されてもよい。   Further, the elastic modulus of the second structure body 410 is not particularly limited, as is the case with the structure layer 32 constituting the first structure body 310. That is, it can be appropriately selected within a range in which a desired operation feeling and detection sensitivity can be obtained, and may be made of an elastic material that can be deformed together with the electrode substrate 20 during an input operation.

また第2の空間部430は、第2の構造体410の間に形成され、第2の構造体410及び第2の枠体420の周囲の空間領域を構成する。本実施形態において、第2の空間部430は、Z軸方向から見たときに各検出部20s及び各第1の構造体310を収容する。   The second space 430 is formed between the second structures 410 and constitutes a space area around the second structures 410 and the second frame 420. In the present embodiment, the second space 430 accommodates each detection unit 20s and each first structure 310 when viewed from the Z-axis direction.

以上のような構成の第1及び第2の支持体30,40は、以下のように形成される。   The 1st and 2nd support bodies 30 and 40 of the above structures are formed as follows.

(第1及び第2の支持体の形成方法)
図9A,B,Cは、第1の支持体30の形成方法の一例を示す概略断面図である。まず、基材31aの上にUV樹脂を配置し、当該樹脂に所定のパターンを形成する。これにより、図9Aに示すように、複数の第1及び第2の凸部321a,322a及び凹部323aを有する構造層32aを形成する。上記UV樹脂としては、固形のシート材料を用いても、液状のUV硬化性材料を用いてもよい。またパターン形成方法は特に限定されず、例えば所定の凹凸形状のパターンが形成されたロール状の金型によりUV樹脂に金型の凹凸形状のパターンを転写するとともに、基材31a側からUV照射を行ってUV樹脂を硬化させる方法を適用することができる。またUV樹脂を用いた成型以外でも、例えば、一般的な熱成形(例えばプレス成形や射出成形)によって形成しても、ディスペンサ等による樹脂材料の吐出によって形成してもよい。
(Method for forming first and second supports)
9A, 9B and 9C are schematic cross-sectional views showing an example of a method for forming the first support 30. FIG. First, a UV resin is arranged on the base material 31a, and a predetermined pattern is formed on the resin. Thereby, as shown in FIG. 9A, a structural layer 32a having a plurality of first and second convex portions 321a and 322a and a concave portion 323a is formed. As the UV resin, a solid sheet material or a liquid UV curable material may be used. Further, the pattern forming method is not particularly limited. For example, the concave / convex pattern of the mold is transferred to the UV resin by a roll-shaped mold on which a predetermined concave / convex pattern is formed, and UV irradiation is performed from the substrate 31a side. A method of performing and curing the UV resin can be applied. In addition to molding using UV resin, for example, it may be formed by general thermoforming (for example, press molding or injection molding) or by discharging a resin material using a dispenser or the like.

次に図9Bを参照し、凹部323aに、例えばスクリーン印刷法により接着性の低いUV樹脂等を所定パターンで塗布し、接着防止層342aを形成する。これにより、例えば構造層32aを形成する樹脂材料が接着性の高いものであった場合に、第1の支持体30上に配置される金属膜12と凹部323との接着を防止することができる。なお接着防止層342aは、構造層32aを形成する樹脂材料の接着性が低いものである場合には、形成しなくてもよい。   Next, referring to FIG. 9B, a UV resin or the like having low adhesion is applied in a predetermined pattern to the recess 323a by, for example, a screen printing method to form an adhesion preventing layer 342a. Thereby, for example, when the resin material forming the structural layer 32a has high adhesiveness, adhesion between the metal film 12 disposed on the first support 30 and the recess 323 can be prevented. . Note that the adhesion preventing layer 342a may not be formed when the resin material forming the structural layer 32a has low adhesion.

さらに図9Cを参照し、凸部321a上に、例えばスクリーン印刷法により接着性の高いUV樹脂等で構成された接合部341aを形成する。接合部341aにより、第1の支持体30と金属膜12との間が接合される。上記形成方法により、所望の形状を有する第1の構造体310及び第1の枠体320を形成することが可能となる。   Further, referring to FIG. 9C, a bonding portion 341a made of UV resin or the like having high adhesiveness is formed on the convex portion 321a by, for example, a screen printing method. The first support 30 and the metal film 12 are bonded by the bonding portion 341a. By the above formation method, the first structure 310 and the first frame 320 having desired shapes can be formed.

一方図10は、第2の支持体40の形成方法の一例を示す概略断面図である。図10では、導体層50b上に直接、例えばスクリーン印刷法により接着性の高いUV樹脂等を所定パターンで塗布し、第2の構造体410b及び第2の枠体420bを形成する。これにより、工程数を大幅に削減し、生産性を高めることが可能となる。   On the other hand, FIG. 10 is a schematic cross-sectional view showing an example of a method for forming the second support 40. In FIG. 10, UV resin or the like having high adhesiveness is applied in a predetermined pattern directly on the conductor layer 50b, for example, by screen printing to form the second structure 410b and the second frame 420b. As a result, the number of processes can be greatly reduced and productivity can be increased.

以上の形成方法は一例であり、例えば第1の支持体30を図10に示す方法で形成してもよいし、第2の支持体40を図9で示す方法で形成してもよい。また第1及び第2の支持体30,40は、以下の図11に示す方法で形成することもできる。   The above forming method is an example. For example, the first support 30 may be formed by the method shown in FIG. 10, or the second support 40 may be formed by the method shown in FIG. Moreover, the 1st and 2nd support bodies 30 and 40 can also be formed by the method shown in the following FIG.

図11A,Bは、第1及び第2の支持体30,40の形成方法の変形例を示す概略断面図である。なお図11においては、第1の支持体30に対応した符号を付して説明する。図11Aでは、基材31C等の上に、例えばスクリーン印刷法によりUV樹脂等を所定パターンで塗布し、第1及び第2の凸部311c,312cを形成する。さらに第1及び第2の凸部311c,312c上に、例えばスクリーン印刷法により接着性の高いUV樹脂等で構成された接合部341cを形成する。これにより、第1の凸部311c及び接合部341cで構成された第1の構造体310(第2の構造体410)と、第2の凸部312c及び接合部341cで構成された第1の枠体320(又は第2の枠体420)とを形成することができる。   11A and 11B are schematic cross-sectional views showing a modification of the method for forming the first and second supports 30 and 40. FIG. In FIG. 11, description will be made with reference numerals corresponding to the first support 30. In FIG. 11A, UV resin or the like is applied in a predetermined pattern on the base material 31C or the like, for example, by a screen printing method to form first and second convex portions 311c and 312c. Further, a joining portion 341c made of UV resin having high adhesiveness is formed on the first and second convex portions 311c and 312c by, for example, a screen printing method. Accordingly, the first structure 310 (second structure 410) configured by the first convex portion 311c and the joint portion 341c, and the first structure configured by the second convex portion 312c and the joint portion 341c. The frame body 320 (or the second frame body 420) can be formed.

次に、第1及び第2の構造体310,410の平面的な配置について、第1及び第2の電極線(X電極、Y電極)210,220との関係に言及しつつ、説明する。   Next, the planar arrangement of the first and second structures 310 and 410 will be described with reference to the relationship with the first and second electrode lines (X electrode, Y electrode) 210 and 220.

(第1及び第2の構造体の配置例)
図12A,Bは、第1及び第2の構造体310、410と、第1の電極線(X電極)210及び第2の電極線(Y電極)220との配置例を示す模式的な平面図である。図12A,Bでは、各X電極210,各Y電極220がそれぞれ電極群21w、22wを有している例を示す。また各検出部20sは、上述のようにX電極210,Y電極220の交差領域に形成されるため、図12A,Bにおいては例えば太い破線で囲む4つの検出部20sが配置されている。なお、図12A,Bに示す黒丸は、第1の構造体310を示し、白丸は、第2の構造体410を示す。
(Example of arrangement of first and second structures)
12A and 12B are schematic plan views showing examples of arrangement of the first and second structures 310 and 410, the first electrode line (X electrode) 210, and the second electrode line (Y electrode) 220. FIG. FIG. 12A and 12B show an example in which each X electrode 210 and each Y electrode 220 have electrode groups 21w and 22w, respectively. In addition, since each detection unit 20s is formed in the intersection region of the X electrode 210 and the Y electrode 220 as described above, in FIG. 12A and FIG. 12B, for example, four detection units 20s surrounded by thick broken lines are arranged. 12A and 12B, the black circle indicates the first structure 310, and the white circle indicates the second structure 410.

図12Aは、第1の構造体310と第2の構造体410との数が略同一となる例を示す。すなわち第1の構造体310は、検出部20sの略中心上に配置されている。第1の構造体310のX軸方向及びY軸方向のピッチは、検出部20sのX軸方向及びY軸方向のピッチと同一であり、P1である。また第2の構造体410は、第1の構造体310と同一のピッチP1で、X軸及びY軸方向各々と約45°をなす斜め方向に隣り合う第1の構造体310及び検出部20sの間に等間隔で配置されている。   FIG. 12A illustrates an example in which the number of first structures 310 and second structures 410 is substantially the same. That is, the first structure 310 is disposed substantially at the center of the detection unit 20s. The pitch in the X-axis direction and the Y-axis direction of the first structure 310 is the same as the pitch in the X-axis direction and the Y-axis direction of the detection unit 20s, and is P1. Further, the second structure 410 has the same pitch P1 as the first structure 310, and the first structure 310 and the detection unit 20s that are adjacent to each other in an oblique direction that forms about 45 ° with each of the X-axis and Y-axis directions. Are arranged at equal intervals.

また図12Bは、第1の構造体310と第2の構造体410の数が異なる例を示す。すなわち第1の構造体310は、図12Aに示す例と同様に、検出部20sの略中心上にピッチP1で配置されている。一方第2の構造体410は、図12Aとは配置及び数が異なり、第1の構造体310のピッチP1の1/2倍のピッチP2で配置されており、Z軸方向から見た場合に、第1の構造体310及び検出部20sの周囲を第2の構造体410が取り囲むように配置されている。第2の構造体410の数を第1の構造体310の数よりも多く配置することにより、入力装置100全体の強度を高めることができる。   FIG. 12B illustrates an example in which the number of first structures 310 and second structures 410 is different. That is, the first structure 310 is arranged at a pitch P1 substantially on the center of the detection unit 20s, as in the example shown in FIG. 12A. On the other hand, the second structure 410 is different from FIG. 12A in arrangement and number, and is arranged at a pitch P2 that is ½ times the pitch P1 of the first structure 310, when viewed from the Z-axis direction. The second structure 410 is disposed around the first structure 310 and the detection unit 20s. By arranging more second structures 410 than the number of first structures 310, the strength of the entire input device 100 can be increased.

また、第1及び第2の構造体310,410の数及び配置(ピッチ)を調整することで、目的とする操作感や検出感度が得られるように、押圧力に対する金属膜12及び導体層50各々と検出部20sとの距離の変化量を調整することができる。   Further, by adjusting the number and arrangement (pitch) of the first and second structures 310 and 410, the metal film 12 and the conductor layer 50 with respect to the pressing force can be obtained so that a desired operation feeling and detection sensitivity can be obtained. The amount of change in the distance between each and the detection unit 20s can be adjusted.

また、導体層50が開口50hを有する場合には、開口50hと、第1及び第2の構造体310,410と、第1及び第2の電極線210,220とを、以下のような配置とすることができる。   When the conductor layer 50 has the opening 50h, the opening 50h, the first and second structures 310 and 410, and the first and second electrode lines 210 and 220 are arranged as follows. It can be.

(導体層の開口の配置例)
図13A,Bは、導体層50の開口50hと、第1及び第2の構造体310,410と、第1及び第2の電極線210,220との配置例を示す模式的な平面図である。また図13Aでは開口50hを長円形状とした例が示され、図13Bでは開口50hを円形状とした例が示されている。図13A,Bに示す複数の開口50hは、Z軸方向から見て、検出部20sの周囲を取り囲むように配置される。また、複数の開口50hは、第1及び第2の構造体310,410並びに検出部20sのいずれともZ軸方向に重ならないように、第2の構造体410に対して面内(XY面内)方向にずらして設けられている。
(Example of arrangement of conductor layer openings)
FIGS. 13A and 13B are schematic plan views showing an arrangement example of the opening 50h of the conductor layer 50, the first and second structures 310 and 410, and the first and second electrode lines 210 and 220. FIG. is there. FIG. 13A shows an example in which the opening 50h has an oval shape, and FIG. 13B shows an example in which the opening 50h has a circular shape. The plurality of openings 50h illustrated in FIGS. 13A and 13B are disposed so as to surround the detection unit 20s as viewed from the Z-axis direction. In addition, the plurality of openings 50h are in-plane with respect to the second structure 410 (in the XY plane) so that none of the first and second structures 310 and 410 and the detection unit 20s overlap in the Z-axis direction. ) Are shifted in the direction.

また同図に示すように、開口50hは、例えば、検出部20sと対向しない位置に配置される。すなわち、開口50hと検出部20sとが、Z軸方向に重ならないように、面内(XY面内)方向にずらして設けられる。これにより、検出部20sに対向する位置に導体層50の開口50hが配置されている場合と比較して、検出部20sの初期容量や容量変化率の変化を抑制し、入力装置100内での検出感度をより均一に維持することができる。   As shown in the figure, the opening 50h is disposed at a position not facing the detection unit 20s, for example. That is, the opening 50h and the detection unit 20s are provided so as to be shifted in the in-plane (XY plane) direction so as not to overlap in the Z-axis direction. Thereby, compared with the case where the opening 50h of the conductor layer 50 is disposed at a position facing the detection unit 20s, the change in the initial capacity and the capacity change rate of the detection unit 20s is suppressed, and the change in the input device 100 is achieved. The detection sensitivity can be maintained more uniformly.

開口50hは、検出部20sと略同一の周期に配置することができ、例えば、検出部20sの中心に対して対称に配置される。より具体的には、開口50hは、第1及び第2の電極線210、220それぞれの中心線に対して線対称に配置される。これによっても、入力装置100内において検出感度が不均一になるのを防止することができる。   The openings 50h can be arranged at substantially the same cycle as the detection unit 20s, and are arranged symmetrically with respect to the center of the detection unit 20s, for example. More specifically, the opening 50 h is arranged symmetrically with respect to the center line of each of the first and second electrode lines 210 and 220. This can also prevent the detection sensitivity from becoming uneven in the input device 100.

以上のように、本実施形態に係る第1及び第2の支持体30,40は、(1)第1及び第2の構造体310,410と第1及び第2の空間部330,430とを有する、(2)Z軸方向から見て第1の構造体310と第2の構造体410とが重複しておらず、第1の構造体310が第2の空間部430上に配置される、という特徴を有する。したがって、以下に示すように、操作時の数十g程度の微小な押圧力によっても金属膜12及び導体層50を変形させることが可能となる。   As described above, the first and second supports 30 and 40 according to the present embodiment are (1) the first and second structures 310 and 410 and the first and second spaces 330 and 430. (2) The first structure 310 and the second structure 410 do not overlap each other when viewed from the Z-axis direction, and the first structure 310 is disposed on the second space 430. It has the feature that. Therefore, as shown below, the metal film 12 and the conductor layer 50 can be deformed even by a minute pressing force of about several tens of grams during operation.

(第1及び第2の支持体の動作)
図14は、操作子hにより第1の面110上の点PをZ軸方向下方へ押圧した際の、第1及び第2の構造体310,410へ付加される力の様子を示す概略断面図である。図中の白抜き矢印は、Z軸方向下方(以下、単に「下方」とする)への力の大きさを模式的に示している。図14においては、金属膜12及び電極基板20等の撓み、第1及び第2の構造体310,410の弾性変形等の態様は示していない。なお以下の説明において、ユーザが押圧を意識しないタッチ操作を行った場合でも、実際には微小な押圧力が付加されることから、これらの入力操作を一括して「押圧」として説明する。
(Operation of the first and second supports)
FIG. 14 is a schematic cross section showing the state of the force applied to the first and second structures 310 and 410 when the point P on the first surface 110 is pressed downward in the Z-axis direction by the operating element h. FIG. The white arrow in the figure schematically shows the magnitude of the force downward in the Z-axis direction (hereinafter simply referred to as “downward”). In FIG. 14, aspects such as the bending of the metal film 12 and the electrode substrate 20 and the elastic deformation of the first and second structures 310 and 410 are not shown. In the following description, even when the user performs a touch operation that is not conscious of pressing, since a minute pressing force is actually applied, these input operations will be collectively described as “pressing”.

例えば第1の空間部330p0上の点Pが力Fで下方へ押圧された場合、点Pの直下の金属膜12が下方へ撓む。それに伴い、第1の空間部330p0に隣接する第1の構造体310p1,310p2が力F1を受け、Z軸方向に弾性変形して厚みがわずかに減少する。また、金属膜12の撓みにより、第1の構造体310p1,310p2に隣接する第1の構造体310p3、310p4も、F1より小さい力F2を受ける。さらに力F1、F2により、電極基板20にも力が加えられ、第1の構造体310p1,310p2直下の領域を中心に下方へ撓む。これにより第1の構造体310p1,310p2の間に配置された第2の構造体410p0が力F3を受け、Z軸方向に弾性変形して厚みがわずかに減少する。また第1の構造体310p1,310p3の間に配置された第2の構造体410p1,及び第1の構造体310p2,310p4の間に配置された第2の構造体410p2もそれぞれF3より小さいF4を受ける。   For example, when the point P on the first space portion 330p0 is pressed downward by the force F, the metal film 12 immediately below the point P bends downward. Accordingly, the first structures 310p1 and 310p2 adjacent to the first space 330p0 receive the force F1, elastically deform in the Z-axis direction, and the thickness slightly decreases. Further, due to the bending of the metal film 12, the first structures 310p3 and 310p4 adjacent to the first structures 310p1 and 310p2 also receive a force F2 smaller than F1. Further, force is applied to the electrode substrate 20 by the forces F1 and F2, and the electrode substrate 20 bends downward about the region immediately below the first structures 310p1 and 310p2. As a result, the second structure 410p0 disposed between the first structures 310p1 and 310p2 receives the force F3, elastically deforms in the Z-axis direction, and the thickness slightly decreases. Further, the second structure 410p1, which is disposed between the first structures 310p1, 310p3, and the second structure 410p2, which is disposed between the first structures 310p2, 310p4, also have F4 smaller than F3, respectively. receive.

このように、第1及び第2の構造体310,410により厚み方向に力を伝達することができ、電極基板20を容易に変形させることができる。また、金属膜12及び電極基板20が撓み、面内方向(X軸方向及びY軸方向に平行な方向)に押圧力の影響が及ぶことにより、操作子hの直下の領域のみならず、その近傍の第1及び第2の構造体310,410にも力を及ぼすことができる。   Thus, force can be transmitted in the thickness direction by the first and second structures 310 and 410, and the electrode substrate 20 can be easily deformed. Further, the metal film 12 and the electrode substrate 20 are bent, and the influence of the pressing force is exerted in the in-plane direction (direction parallel to the X-axis direction and the Y-axis direction). A force can also be exerted on the neighboring first and second structures 310 and 410.

また上記特徴(1)に関して、第1及び第2の空間部330,430により金属膜12及び電極基板20を容易に変形させることができる。さらに柱体等で構成された第1及び第2の構造体310,410により、操作子hの押圧力に対して電極基板20へ高い圧力を及ぼすことができ、電極基板20を効率的に撓ませることができる。   Regarding the feature (1), the metal film 12 and the electrode substrate 20 can be easily deformed by the first and second space portions 330 and 430. Further, the first and second structures 310 and 410 configured by columns or the like can apply a high pressure to the electrode substrate 20 with respect to the pressing force of the operation element h, and the electrode substrate 20 can be flexed efficiently. I can do it.

さらに上記特徴(2)に関して、第1及び第2の構造体310,410がZ軸方向から見て重複して配置されていないため、第1の構造体310がその下の第2の空間部430を介して電極基板20を容易に撓ませることができる。   Furthermore, regarding the feature (2), since the first and second structures 310 and 410 are not overlapped when viewed from the Z-axis direction, the first structure 310 has a second space portion below it. The electrode substrate 20 can be easily bent through 430.

以下、具体的な操作時における検出部20sの静電容量の変化量の一例を示す。   Hereinafter, an example of the amount of change in the capacitance of the detection unit 20s during a specific operation will be described.

(検出部の出力例)
図15A,Bは、第1の面110が操作子hによる操作を受けたときの入力装置100の態様を示す模式的な要部断面図と、そのとき検出部20sから出力される出力信号の一例を示す図である。図15A,BにおけるX軸に沿って示す棒グラフは、各検出部20sにおける静電容量の基準値からの変化量を模式的に示している。また図15Aは、操作子hが第1の構造体310(310a2)上を押圧した際の態様を示し、図15Bは、操作子hが第1の空間部330(330b1)上を押圧した際の態様を示す。
(Example of detector output)
FIGS. 15A and 15B are schematic cross-sectional views showing the main part of the input device 100 when the first surface 110 is operated by the operator h, and output signals output from the detection unit 20s at that time. It is a figure which shows an example. The bar graph shown along the X-axis in FIGS. 15A and 15B schematically shows the amount of change from the reference value of the capacitance in each detection unit 20s. FIG. 15A shows a mode when the operator h presses on the first structure 310 (310a2), and FIG. 15B shows a state when the operator h presses on the first space 330 (330b1). The aspect of is shown.

図15Aでは、操作位置の直下の第1の構造体310a2が最も力を受け、第1の構造体310a2自身が弾性変形するとともに、下方へ変位する。その変位により第1の構造体310a2直下の検出部20sa2が下方へと変位する。これにより第2の空間部430a2を介して検出部20sa2と導体層50とが近接する。すなわち検出部20sa2は、金属膜12との距離が若干変化し、かつ導体層50との距離が大きく変化することで、静電容量の変化量Ca2を得る。一方で、金属膜12の撓みの影響により、第1の構造体310a1,310a3もわずかに下方へと変位し、検出部20sa1,20sa3における静電容量の変化量は、それぞれCa1,Ca3となる。   In FIG. 15A, the first structure 310a2 immediately below the operation position receives the most force, and the first structure 310a2 itself is elastically deformed and displaced downward. Due to the displacement, the detection unit 20sa2 directly below the first structure 310a2 is displaced downward. As a result, the detection unit 20sa2 and the conductor layer 50 come close to each other through the second space 430a2. That is, the detection unit 20sa2 obtains the capacitance change amount Ca2 by slightly changing the distance to the metal film 12 and greatly changing the distance to the conductor layer 50. On the other hand, the first structures 310a1 and 310a3 are also slightly displaced downward due to the influence of the bending of the metal film 12, and the amount of change in capacitance in the detection units 20sa1 and 20sa3 is Ca1 and Ca3, respectively.

図15Aに示す例において、Ca2が最も大きく、Ca1とCa3とは略同一で、かつCa2よりも小さい。すなわち、図15Aに示すように、静電容量の変化量Ca1,Ca2,Ca3は、Ca2を頂点とする山形の分布を示す。この場合に演算部61は、Ca1,Ca2,Ca3の比率に基づいて重心等を算出し、操作位置として検出部20sa2上のXY座標を算出することができる。   In the example shown in FIG. 15A, Ca2 is the largest, and Ca1 and Ca3 are substantially the same and smaller than Ca2. That is, as shown in FIG. 15A, the amount of change in capacitance Ca1, Ca2, Ca3 shows a mountain-shaped distribution with Ca2 as the apex. In this case, the calculation unit 61 can calculate the center of gravity and the like based on the ratio of Ca1, Ca2, and Ca3, and can calculate the XY coordinates on the detection unit 20sa2 as the operation position.

一方図15Bでは、金属膜12の撓みにより操作位置近傍の第1の構造体310b1,310b2がわずかに弾性変形するとともに、下方へと変位する。その変位により、電極基板20が撓み、第1の構造体310b1,310b2直下の検出部20sb1,20sb2が下方へと変位する。これにより第2の空間部430b1,430b2を介して検出部20sb1,20sb2と導体層50とが近接する。すなわち検出部20sb1,20sb2は、金属膜12との距離がわずかに変化し、かつ導体層50との距離が比較的大きく変化することで、それぞれ静電容量の変化量Cb1,Cb2を得る。   On the other hand, in FIG. 15B, the first structures 310b1 and 310b2 in the vicinity of the operation position are slightly elastically deformed and displaced downward due to the bending of the metal film 12. Due to the displacement, the electrode substrate 20 is bent, and the detection units 20sb1 and 20sb2 immediately below the first structures 310b1 and 310b2 are displaced downward. Accordingly, the detection units 20sb1 and 20sb2 and the conductor layer 50 are brought close to each other through the second space portions 430b1 and 430b2. That is, the detection units 20sb1 and 20sb2 obtain the capacitance change amounts Cb1 and Cb2, respectively, by slightly changing the distance to the metal film 12 and relatively changing the distance to the conductor layer 50.

図15Bに示す例において、Cb1とCb2とは略同一である。これにより、演算部61は、操作位置として検出部20sb1,20sb2の間のXY座標を算出することができる。   In the example shown in FIG. 15B, Cb1 and Cb2 are substantially the same. Thereby, the calculating part 61 can calculate the XY coordinate between detection part 20sb1, 20sb2 as an operation position.

このように、本実施形態によれば、検出部20s及び金属膜12と、検出部20s及び導体層50との厚みの双方が押圧力によって可変であることから、検出部20sにおける静電容量の変化量をより大きくすることができる。これにより、入力操作の検出感度を高めることが可能となる。   Thus, according to this embodiment, since both the thickness of the detection unit 20s and the metal film 12, and the detection unit 20s and the conductor layer 50 are variable depending on the pressing force, the capacitance of the detection unit 20s is reduced. The amount of change can be made larger. As a result, it is possible to increase the detection sensitivity of the input operation.

また、フレキシブルディスプレイ11上の操作位置が第1の構造体310上、第1の空間部330上のいずれの点であっても、操作位置のXY座標を算出することが可能となる。すなわち、金属膜12が面内方向に押圧力の影響を波及させることにより、操作位置直下の検出部20sのみならず、Z軸方向から見て操作位置の近傍の検出部20sにおいても静電容量変化を生じさせることができる。これにより、第1の面110内における検出精度のバラつきを抑制し、第1の面110全面において高い検出精度を維持することができる。   Further, the XY coordinates of the operation position can be calculated regardless of whether the operation position on the flexible display 11 is on the first structure 310 or the first space 330. That is, when the metal film 12 propagates the influence of the pressing force in the in-plane direction, not only the detection unit 20s just below the operation position but also the detection unit 20s near the operation position when viewed from the Z-axis direction. Changes can be made. Thereby, variation in detection accuracy in the first surface 110 can be suppressed, and high detection accuracy can be maintained over the entire first surface 110.

ここで、操作子としてよく用いられるものとして、指やスタイラスが挙げられる。両者の特徴としては、指の方がスタイラスよりも大きな接触面積を有するため、同じ荷重(押圧力)を負荷した場合、指の方が押圧力に対する圧力(以下、操作圧力とする)が小さくなる。一方で、スタイラスはその接触面積が小さく、例えば一般的な相互容量方式の静電容量センサでは、センサ素子との容量結合量が小さく、検出感度が低いという問題がある。本実施形態によれば、これらのいずれの操作子を用いた場合でも、高い精度で入力操作を検出することができる。以下、図16A,Bを用いて説明する。   Here, a finger and a stylus are often used as an operator. As a feature of both, since the finger has a larger contact area than the stylus, when the same load (pressing force) is applied, the finger has a smaller pressure against the pressing force (hereinafter referred to as operation pressure). . On the other hand, the stylus has a small contact area. For example, in a general mutual capacitance type capacitive sensor, there is a problem that the amount of capacitive coupling with a sensor element is small and the detection sensitivity is low. According to the present embodiment, an input operation can be detected with high accuracy even when any of these operators is used. Hereinafter, a description will be given with reference to FIGS.

図16A,Bは、第1の面110がスタイラス又は指により操作を受けたときの入力装置100の態様を示す模式的な要部断面図と、そのとき検出部20sから出力される出力信号の一例を示す図であり、図16Aは操作子がスタイラスsの場合、図16Bは操作子が指fの場合を示す。また図16A,BにおけるX軸に沿って示す棒グラフは、図15A,Bと同様に、各検出部20sにおける静電容量の基準値からの変化量を模式的に示している。   16A and 16B are schematic cross-sectional views showing the main part of the input device 100 when the first surface 110 is operated by a stylus or a finger, and output signals output from the detection unit 20s at that time. FIG. 16A shows a case where the operation element is a stylus s, and FIG. 16B shows a case where the operation element is a finger f. Also, the bar graphs shown along the X axis in FIGS. 16A and 16B schematically show the amount of change from the reference value of the capacitance in each detection unit 20s, as in FIGS. 15A and 15B.

図16Aに示すように、スタイラスsは、金属膜12を変形させるとともに、操作位置直下の第1の構造体310c2に対し押圧力を及ぼす。ここでスタイラスsは、接触面積が小さいため、金属膜12及び第1の構造体310c2に対し大きな操作圧力を及ぼすことができる。このため、金属膜12を大きく変形させることができ、結果として、検出部20sc2の静電容量の変化量Cc2に示されるように、大きな静電容量変化を生じさせることが可能となる。これにより、検出部20sc1,20sc2,20sc3各々の静電容量の変化量Cc1,Cc2,Cc3は、Cc2を頂点とする山形の分布となる。   As shown in FIG. 16A, the stylus s deforms the metal film 12 and exerts a pressing force on the first structure 310c2 immediately below the operation position. Here, since the stylus s has a small contact area, a large operating pressure can be exerted on the metal film 12 and the first structure 310c2. For this reason, the metal film 12 can be largely deformed, and as a result, a large capacitance change can be caused as indicated by the capacitance change amount Cc2 of the detection unit 20sc2. As a result, the capacitance changes Cc1, Cc2, and Cc3 of the detection units 20sc1, 20sc2, and 20sc3 each have a mountain-shaped distribution with Cc2 as the apex.

このように本実施形態に係る入力装置100は、操作圧力の面内分布に基づいて静電容量の変化量を検出することができる。これは、入力装置100が、操作子との直接の容量結合による静電容量の変化量を検出するものではなく、変形可能な金属膜12及び電極基板20を介して静電容量の変化量を検出することによる。したがって、接触面積の小さいスタイラスsのような操作子であっても、精度よく操作位置及び押圧力を検出することができる。   As described above, the input device 100 according to the present embodiment can detect the amount of change in capacitance based on the in-plane distribution of the operating pressure. This is because the input device 100 does not detect the amount of change in capacitance due to direct capacitive coupling with the operation element, but the amount of change in capacitance through the deformable metal film 12 and the electrode substrate 20. By detecting. Therefore, even with an operator such as the stylus s having a small contact area, the operation position and the pressing force can be detected with high accuracy.

一方図16Bに示すように、指fは接触面積が大きいため、操作圧力が小さくなるが、スタイラスsよりも広範囲の金属膜12を直接変形させることができる。これにより、第1の構造体310d1,310d2,310d3をそれぞれ下方へ変位させ、検出部20sd1,20sd2,20sd3各々の静電容量の変化量Cd1,Cd2,Cd3を生じさせることができる。Cd1,Cd2,Cd3は、図16Aに係るCc1,Cc2,Cc3と比較してゆるやかな山形の分布となる。   On the other hand, as shown in FIG. 16B, since the finger f has a large contact area, the operation pressure is reduced, but the metal film 12 in a wider range than the stylus s can be directly deformed. As a result, the first structures 310d1, 310d2, and 310d3 can be displaced downward to generate the capacitance changes Cd1, Cd2, and Cd3 of the detection units 20sd1, 20sd2, and 20sd3, respectively. Cd1, Cd2, and Cd3 have a gentle mountain distribution as compared with Cc1, Cc2, and Cc3 according to FIG. 16A.

本実施形態に係る入力装置100は、上述のように金属膜12及び導体層50各々と検出部20sとの間の双方の容量結合に基づく静電容量の変化量を検出するため、指fのような大きな接触面積の操作子であっても、十分な静電容量の変化を生じさせることができる。また、操作が行われたか否かの判定においては、例えば静電容量の変化が生じた検出部20sd1,20sd2,20sd3全ての静電容量の変化量を合計した値を用いることで、たとえ操作圧力が小さい場合であっても、第1の面110全体の押圧力に基づいて精度よく接触を判定することができる。さらに、第1の面110内の操作圧力分布に基づいて静電容量が変化するため、これらの変化量の比率等に基づいて、ユーザの直感に即した操作位置を算出することができる。   The input device 100 according to the present embodiment detects the amount of change in capacitance based on capacitive coupling between the metal film 12 and the conductor layer 50 and the detection unit 20s as described above. Even an operator with such a large contact area can cause a sufficient change in capacitance. In determining whether or not an operation has been performed, for example, by using a value obtained by summing the amount of change in capacitance of all the detection units 20sd1, 20sd2, and 20sd3 in which the change in capacitance has occurred, the operation pressure Even when the contact angle is small, the contact can be accurately determined based on the pressing force of the entire first surface 110. Furthermore, since the capacitance changes based on the operation pressure distribution in the first surface 110, the operation position in line with the user's intuition can be calculated based on the ratio of these changes.

さらに、一般的な静電容量センサの場合には、操作子とX,Y電極との容量結合を利用して操作位置等を検出する。すなわち、操作子とX,Y電極との間に導電体が配置される場合には、当該導電体とX,Y電極との容量結合により、入力操作の検出が難しかった。また、操作子とX,Y電極との間の厚みが大きい構成では、これらの間の容量結合量が小さくなり、検出感度が減少するという問題もあった。これらの事情から、ディスプレイの表示面上にセンサ装置を配置する必要があり、ディスプレイの表示品質の劣化が問題となっていた。   Further, in the case of a general electrostatic capacity sensor, the operation position and the like are detected by using capacitive coupling between the operation element and the X and Y electrodes. That is, when a conductor is disposed between the operation element and the X and Y electrodes, it is difficult to detect an input operation due to capacitive coupling between the conductor and the X and Y electrodes. In addition, in the configuration in which the thickness between the operation element and the X and Y electrodes is large, there is a problem that the amount of capacitive coupling between them becomes small and the detection sensitivity decreases. Under these circumstances, it is necessary to dispose the sensor device on the display surface of the display, and the display quality of the display deteriorates.

本実施形態に係る入力装置100(センサ装置1)は、金属膜12、導体層50各々とX,Y電極210,220との容量結合を利用するため、操作子とセンサ装置との間に導電体が配置されていた場合であっても検出感度に対する影響はない。また、操作子の押圧力により金属膜12が変形可能であればよく、操作子とX,Y電極との間の厚みの制限も少ない。したがってフレキシブルディスプレイ11の裏面にセンサ装置1を配置した場合であっても、操作位置及び押圧力を精度よく検出することができ、フレキシブルディスプレイ11の表示特性の劣化を抑制することができる。   Since the input device 100 (sensor device 1) according to this embodiment uses capacitive coupling between the metal film 12 and the conductor layer 50 and the X and Y electrodes 210 and 220, the input device 100 (the sensor device 1) is electrically conductive between the operator and the sensor device. Even if the body is placed, the detection sensitivity is not affected. Further, it is only necessary that the metal film 12 can be deformed by the pressing force of the operation element, and there are few restrictions on the thickness between the operation element and the X and Y electrodes. Therefore, even when the sensor device 1 is arranged on the back surface of the flexible display 11, the operation position and the pressing force can be detected with high accuracy, and the deterioration of the display characteristics of the flexible display 11 can be suppressed.

さらに、操作子とX,Y電極との間に存在する絶縁体(誘電体)の厚みの制限も少ないことから、例えばユーザが絶縁体である手袋等を装着して操作した場合であっても、検出感度が低下することがない。したがって、ユーザの利便性の向上に寄与することができる。   Furthermore, since the thickness of the insulator (dielectric) existing between the operation element and the X and Y electrodes is small, for example, even when the user operates by wearing gloves or the like as an insulator. The detection sensitivity does not decrease. Therefore, it is possible to contribute to improvement of user convenience.

[電子機器]
図17A,Bは、本実施形態に係る入力装置100の電子機器70への実装例を示す図である。図17Aに係る電子機器70aは、入力装置100が配置される開口部721aを含む筐体720aを有する。また、開口部721aには支持部722aが形成され、粘着テープ等の接合部723aを介して導体層50の周縁部を支持する。また導体層50と支持部722aとの接合方法は上記に限定されず、例えばネジ等で固定してもよい。
[Electronics]
17A and 17B are diagrams illustrating an example of mounting the input device 100 according to the present embodiment on the electronic device 70. FIG. An electronic device 70a according to FIG. 17A includes a housing 720a including an opening 721a in which the input device 100 is disposed. In addition, a support portion 722a is formed in the opening 721a and supports the peripheral portion of the conductor layer 50 through a joint portion 723a such as an adhesive tape. Moreover, the joining method of the conductor layer 50 and the support part 722a is not limited to the above, For example, you may fix with a screw | thread etc.

また本実施形態に係る入力装置100は、周縁に沿って第1及び第2の枠体320,420が形成されているため、実装時にも安定した強度を維持することができる。   Moreover, since the 1st and 2nd frame 320,420 is formed along the periphery, the input device 100 which concerns on this embodiment can maintain the stable intensity | strength also at the time of mounting.

図17Bに係る電子機器70bも、電子機器70aと略同一の構成を有し、開口部721a及び支持部722aを含む筐体720bを有する。異なる点としては、導体層50の裏面を支持する少なくとも1つの補助支持部724bを有する点である。補助支持部724bは、導体層50と粘着テープ等で接合してもよいし、接合しなくてもよい。上記構成により、より安定的に入力装置100を支持することができる。   An electronic device 70b according to FIG. 17B has a configuration substantially the same as that of the electronic device 70a, and includes a housing 720b including an opening 721a and a support 722a. The difference is that it has at least one auxiliary support portion 724 b that supports the back surface of the conductor layer 50. The auxiliary support part 724b may be joined to the conductor layer 50 with an adhesive tape or the like, or may not be joined. With the above configuration, the input device 100 can be supported more stably.

[変形例1]
上述の第1の実施形態では、金属膜12は、金属箔が形成された粘着性の樹脂膜である接着層13をフレキシブルディスプレイ11に貼り付けることで形成されると説明したが、これに限定されない。例えば、金属膜12が樹脂膜を有しない金属箔等の場合には、接着層13は、金属膜12をフレキシブルディスプレイ11に貼り付けることが可能な粘着剤、接着剤等であってもよい。
[Modification 1]
In the first embodiment described above, the metal film 12 has been described as being formed by attaching the adhesive layer 13, which is an adhesive resin film on which a metal foil is formed, to the flexible display 11. However, the present invention is not limited thereto. Not. For example, when the metal film 12 is a metal foil or the like that does not have a resin film, the adhesive layer 13 may be an adhesive, an adhesive, or the like that can affix the metal film 12 to the flexible display 11.

この場合において、接着層13は、図3のようにフレキシブルディスプレイ11全面に設けられてもよい。これにより、金属膜12とフレキシブルディスプレイ11とが面内全体で強固に接着され、かつ均一な感度を得ることが可能となる。   In this case, the adhesive layer 13 may be provided on the entire surface of the flexible display 11 as shown in FIG. As a result, the metal film 12 and the flexible display 11 are firmly bonded throughout the surface, and uniform sensitivity can be obtained.

一方で、図18A,Bは、接着層13が一部にのみ形成されている変形例を示す概略断面図である。図18Aに示すように、接着層13は、フレキシブルディスプレイ11及び金属膜12の外周部のみに形成されていてもよく、例えば、第1の枠体320及び第2の枠体420の上方の領域に形成されていてもよい。これにより、第1の構造体310各々及び第2の構造体410各々と比較してZ軸方向における接合面積が大きく、かつZ軸方向に積層して配置される第1の枠体320及び第2の枠体420の上方で金属膜12とフレキシブルディスプレイ11とを接合することが可能となる。したがって、仮に操作部材10に対し上方に引き剥がすような力が加わった場合であっても、第1及び第2の構造体310,410の破損や、電極基板20と各構造体310,410との剥がれ等を防止することが可能となる。   On the other hand, FIG. 18A and 18B are schematic sectional drawings which show the modification by which the contact bonding layer 13 is formed only in part. As shown in FIG. 18A, the adhesive layer 13 may be formed only on the outer peripheral portions of the flexible display 11 and the metal film 12, for example, regions above the first frame 320 and the second frame 420. It may be formed. As a result, the first frame body 320 and the first frame body 320 that have a larger bonding area in the Z-axis direction and are stacked in the Z-axis direction than the first structure body 310 and the second structure body 410 respectively. It is possible to join the metal film 12 and the flexible display 11 above the second frame 420. Therefore, even if a force that causes the operation member 10 to be peeled upward is applied, the first and second structures 310 and 410 are damaged, the electrode substrate 20 and the structures 310 and 410 Can be prevented.

あるいは図18Bに示すように、接着層13は、フレキシブルディスプレイ11の表示領域、すなわち外周部を除いた中央部を含む領域に形成されていてもよい。これにより、以下に示すように、フレキシブルディスプレイ11の破損や、検出感度の異常を抑制することが可能となる。   Or as shown to FIG. 18B, the contact bonding layer 13 may be formed in the area | region containing the display area of the flexible display 11, ie, the center part except an outer peripheral part. Thereby, as shown below, it becomes possible to suppress breakage of the flexible display 11 and abnormality of detection sensitivity.

図19A,Bは、フレキシブルディスプレイ11を、金属膜12に対し、外周部を含む全面に貼り付けた様子を模式的に示す図である。なお図19A,Bでは、接着層13の図示を省略している。   19A and 19B are diagrams schematically showing a state in which the flexible display 11 is attached to the entire surface including the outer peripheral portion with respect to the metal film 12. 19A and 19B, the illustration of the adhesive layer 13 is omitted.

例えば図19Aに模式的に示すように、仮にフレキシブルディスプレイ11の外周部11aに配線やドライバ等が設けられており、膨らみや段差がある場合に、外周部11aを無理に接合すると、特に外周部11aが破損する可能性がある。また、同図の破線で囲んだ領域のように、外周部11aとその他の領域との境界部において隙間が発生し、検出感度の異常を生じることがある。   For example, as schematically shown in FIG. 19A, if the outer peripheral portion 11a of the flexible display 11 is provided with wiring, a driver, etc., and there is a bulge or a step, the outer peripheral portion 11a is particularly forced to join. 11a may be damaged. Further, like the region surrounded by the broken line in the figure, a gap may be generated at the boundary between the outer peripheral portion 11a and the other region, resulting in abnormal detection sensitivity.

また、図19Bに模式的に示すように、フレキシブルディスプレイ11の表面に図示しないシール材等が設けられており反り等が存在する場合も、外周部11aを無理に接合すると、フレキシブルディスプレイ11が破損する可能性がある。また、同図の破線で囲んだ領域のように、フレキシブルディスプレイ11の浮きによる検出感度の異常が生じる可能性がある。すなわち、フレキシブルディスプレイ11を外周部11aまで無理に接合しないことで、上記不具合を抑制することが可能となる。   Further, as schematically shown in FIG. 19B, even when a sealing material or the like (not shown) is provided on the surface of the flexible display 11 and warping or the like is present, if the outer peripheral portion 11a is forcibly joined, the flexible display 11 is damaged. there's a possibility that. Moreover, there is a possibility that abnormality in detection sensitivity may occur due to the floating of the flexible display 11 as in the region surrounded by the broken line in FIG. That is, the above-mentioned problem can be suppressed by not forcibly joining the flexible display 11 to the outer peripheral portion 11a.

さらに、図20は、接着層13の他の変形例を示す概略断面図である。同図に示すように、接着層13は、所定の平面パターンに形成されていてもよい。図21は、接着層13の平面パターンの例を示す図である。接着層13は、図21Aに示すような柱状のパターンや、図21Bに示すようなストライプ状のパターン、又は図21Cに示すような格子状のパターンを有していてもよい。接着層13がこのようなパターンを有することにより、フレキシブルディスプレイ11と金属膜12とを貼り合わせた際に接着層13に気泡が混入することを防止し、歩留まりを向上させることができる。   FIG. 20 is a schematic cross-sectional view showing another modification of the adhesive layer 13. As shown in the figure, the adhesive layer 13 may be formed in a predetermined plane pattern. FIG. 21 is a diagram illustrating an example of a planar pattern of the adhesive layer 13. The adhesive layer 13 may have a columnar pattern as shown in FIG. 21A, a stripe pattern as shown in FIG. 21B, or a lattice pattern as shown in FIG. 21C. When the adhesive layer 13 has such a pattern, it is possible to prevent bubbles from entering the adhesive layer 13 when the flexible display 11 and the metal film 12 are bonded to each other, and to improve the yield.

また、接着層13が所定の平面パターンを有する場合、接着層13のZ軸方向に沿った厚みは、金属膜12の厚みよりも薄く形成することができる。これにより、フレキシブルディスプレイ11と金属膜12との接合の信頼性を高めることができる。さらに、上記所定のパターンは、第1の構造体310の配置パターンよりも精細に構成することができる。具体的には、柱状のパターンの場合の各柱間の長さや、ストライプ状や格子状の場合の隣接する各ライン間の長さが、隣接する第1の構造体310の大きさよりも短い長さ、例えば10分の1以下の長さで構成することができる。これにより、接着層13のパターンと、第1の構造体310の大きさとが干渉し、検出感度における不均一性や周期性が発生することを防止することができる。   Further, when the adhesive layer 13 has a predetermined plane pattern, the thickness of the adhesive layer 13 along the Z-axis direction can be formed thinner than the thickness of the metal film 12. Thereby, the reliability of joining of the flexible display 11 and the metal film 12 can be improved. Furthermore, the predetermined pattern can be configured more finely than the arrangement pattern of the first structures 310. Specifically, the length between the columns in the case of a columnar pattern, or the length between adjacent lines in the case of a stripe shape or a lattice shape is shorter than the size of the adjacent first structure 310. For example, it can be configured with a length of 1/10 or less. Accordingly, it is possible to prevent the pattern of the adhesive layer 13 and the size of the first structure 310 from interfering with each other, thereby causing nonuniformity and periodicity in detection sensitivity.

[変形例2]
上述の第1の実施形態では、複数の第1の電極線210及び複数の第2の電極線220各々は、単一の電極線で構成されていてもよいし、複数の電極群21w、22wで構成されていてもよいと説明したが、さらに、以下のような構成とすることができる。
[Modification 2]
In the first embodiment described above, each of the plurality of first electrode lines 210 and the plurality of second electrode lines 220 may be formed of a single electrode line, or may include a plurality of electrode groups 21w, 22w. Although it may be comprised by, it can be set as the following structures further.

図22Aは、第1の電極線210の構成例を示す模式的な平面図である。例えば第1の電極線210は、複数の単位電極体210mと、複数の単位電極体210m同士を連結する複数の連結部210nとを有する。各単位電極体210mは、複数のサブ電極(電極要素)210wを含む。複数のサブ電極210wは、電極線が枝分かれした複数の電極要素からなる電極であり、規則的または不規則的なパターンを有している。図22Aでは、複数のサブ電極210wが、規則的なパターンを有している例が示されている。この例では、複数のサブ電極210wは、Y軸方向に延在する線状の導電部材であり、それらの導電部材が、ストライプ状に配列されている。連結部210nは、Y軸方向に延在しており、隣り合う単位電極体210m同士を連結する。   FIG. 22A is a schematic plan view showing a configuration example of the first electrode wire 210. FIG. For example, the first electrode line 210 includes a plurality of unit electrode bodies 210m and a plurality of connecting portions 210n that connect the plurality of unit electrode bodies 210m. Each unit electrode body 210m includes a plurality of sub-electrodes (electrode elements) 210w. The plurality of sub-electrodes 210w are electrodes composed of a plurality of electrode elements having branched electrode lines, and have a regular or irregular pattern. FIG. 22A shows an example in which the plurality of sub-electrodes 210w have a regular pattern. In this example, the plurality of sub-electrodes 210w are linear conductive members extending in the Y-axis direction, and these conductive members are arranged in stripes. The connecting part 210n extends in the Y-axis direction and connects adjacent unit electrode bodies 210m.

図22Bは、第2の電極線220の構成例を示す模式的な平面図である。例えば第2の電極線220は、複数の単位電極体220mと、複数の単位電極体220m同士を連結する複数の連結部220nとを有する。単位電極体220mは、複数のサブ電極(電極要素)220wを含む。複数のサブ電極220wは、規則的または不規則的なパターンを有しており、図22Bでは、複数のサブ電極220wが、規則的なパターンを有している例が示されている。この例では、複数のサブ電極220wは、X軸方向に延在する線状の導電部材であり、それらの導電部材が、ストライプ状に配列されている。連結部220nは、X軸方向に延在しており、隣り合う単位電極体220m同士を連結する。   FIG. 22B is a schematic plan view showing a configuration example of the second electrode line 220. For example, the second electrode line 220 includes a plurality of unit electrode bodies 220m and a plurality of connecting portions 220n that connect the plurality of unit electrode bodies 220m. The unit electrode body 220m includes a plurality of sub-electrodes (electrode elements) 220w. The plurality of sub-electrodes 220w have a regular or irregular pattern, and FIG. 22B shows an example in which the plurality of sub-electrodes 220w have a regular pattern. In this example, the plurality of sub-electrodes 220w are linear conductive members extending in the X-axis direction, and these conductive members are arranged in stripes. The connecting portion 220n extends in the X-axis direction and connects adjacent unit electrode bodies 220m.

第1及び第2の電極線210、220は、Z軸方向から見て単位電極体210mと単位電極体220mとがZ軸方向に対向して重なるように交差して配置され、当該交差領域が検出部20sを構成する。なお、単位電極体210m、220mは上述の構成に限定されるものではなく、種々の構成のものを採用することができる。   The first and second electrode lines 210 and 220 are arranged so as to intersect so that the unit electrode body 210m and the unit electrode body 220m overlap each other in the Z-axis direction when viewed from the Z-axis direction. The detection unit 20s is configured. The unit electrode bodies 210m and 220m are not limited to the above-described configuration, and various configurations can be adopted.

図23A〜図23Pは、単位電極体210m、220mの形状例を示す模式図である。図23A〜図23Pでは、単位電極体210mの例を示しているが、単位電極体220mをこれらの形状としてもよい。   FIG. 23A to FIG. 23P are schematic diagrams showing examples of shapes of the unit electrode bodies 210m and 220m. 23A to 23P show examples of the unit electrode body 210m, the unit electrode body 220m may have these shapes.

図23Aは、中心部から放射状に伸びる複数本の直線的な電極パターンの集合体で単位電極体210mを構成した例が示されている。図23Bは、図23Aの例に示した放射状の線電極のうちの一本が他の線電極よりも太く形成される例を示す。これにより、太い線電極上の静電容量変化量を他の線電極上よりも高めることができる。さらに図23C、図23Dは、略中心に環状の線状電極が配置され、そこから放射状に線電極が形成されている例を示す。これにより、中心部における線状電極の集中を抑制し、感度低下領域の発生を防止することができる。   FIG. 23A shows an example in which the unit electrode body 210m is composed of an assembly of a plurality of linear electrode patterns extending radially from the central portion. FIG. 23B shows an example in which one of the radial line electrodes shown in the example of FIG. 23A is formed thicker than the other line electrodes. Thereby, the electrostatic capacitance change amount on a thick line electrode can be made higher than on other line electrodes. Further, FIG. 23C and FIG. 23D show an example in which an annular linear electrode is disposed substantially at the center, and radial line electrodes are formed therefrom. Thereby, the concentration of the linear electrodes in the central portion can be suppressed, and the occurrence of the sensitivity reduction region can be prevented.

図23E〜図23Hは、いずれも環状または矩形環状に形成された複数の線状電極を組み合わせて集合体を形成した例を示す。これにより、電極の密度を調整することが可能となり、かつ、感度低下領域の形成を抑制することが可能となる。また、図23I〜図23Lは、いずれもX軸方向またはY軸方向に配列した複数の線状電極を組み合わせて集合体を形成した例を示す。当該線状電極の形状、長さおよびピッチなどを調整することで、所望の電極密度とすることが可能となる。さらに図23M〜図23Pは、線電極がX軸方向またはY軸方向に非対称に配置された例である。   FIG. 23E to FIG. 23H show an example in which an aggregate is formed by combining a plurality of linear electrodes formed in an annular shape or a rectangular annular shape. As a result, the density of the electrodes can be adjusted, and the formation of the sensitivity reduction region can be suppressed. FIGS. 23I to 23L show examples in which an aggregate is formed by combining a plurality of linear electrodes arranged in the X-axis direction or the Y-axis direction. By adjusting the shape, length, pitch, and the like of the linear electrode, a desired electrode density can be obtained. Further, FIG. 23M to FIG. 23P are examples in which the line electrodes are arranged asymmetrically in the X-axis direction or the Y-axis direction.

第1及び第2の電極線210,220の単位電極体210m、220mの形状の組み合わせは、図22A、図22Bおよび図23A〜図23Pに示した形状のうち同一種の2組でもよいし、異種の2組でもよい。なお、連結部210n,220n等の単位電極体210m、220m以外の部分の形状は特に限定されるものではなく、例えば直線状としてもよい。   The combination of the shapes of the unit electrode bodies 210m and 220m of the first and second electrode wires 210 and 220 may be two sets of the same type among the shapes shown in FIGS. 22A, 22B and 23A to 23P. Two different sets may be used. In addition, the shape of parts other than the unit electrode bodies 210m and 220m, such as the connecting portions 210n and 220n, is not particularly limited, and may be, for example, a linear shape.

[変形例3]
上述の第1の実施形態では、第1の構造体310が検出部20sの略中心上に配置されていると説明したが、これに限定されない。例えば、検出部20sが第2の構造体410と対向して配置され、検出部20sの略中心上に第2の構造体410が配置されていてもよい。
[Modification 3]
In the first embodiment described above, the first structure 310 has been described as being disposed substantially at the center of the detection unit 20s, but the present invention is not limited to this. For example, the detection unit 20s may be disposed to face the second structure 410, and the second structure 410 may be disposed substantially at the center of the detection unit 20s.

図24A,Bは、本変形例に係る第1及び第2の構造体310、410と、第1の電極線(X電極)210及び第2の電極線(Y電極)220との配置例を示す模式的な平面図であり、図12A,Bに対応する図である。   24A and 24B show an arrangement example of the first and second structures 310 and 410, the first electrode line (X electrode) 210, and the second electrode line (Y electrode) 220 according to this modification. It is a typical top view to show, and is a figure corresponding to Drawing 12A and B.

図24Aは、図12Aに対応し、第1の構造体310と第2の構造体410との数が略同一となる例を示す。また、本変形例において、第2の構造体410は、検出部20sの略中心上に配置されている。第2の構造体410のX軸方向及びY軸方向のピッチは、検出部20sのX軸方向及びY軸方向のピッチと同一であり、P1である。また第1の構造体310は、第2の構造体410と同一のピッチP1で、X軸及びY軸方向各々と約45°をなす斜め方向に隣り合う第2の構造体410及び検出部20sの間に等間隔で配置されている。   FIG. 24A corresponds to FIG. 12A and shows an example in which the number of first structures 310 and second structures 410 is substantially the same. In the present modification, the second structure 410 is disposed substantially at the center of the detection unit 20s. The pitch in the X-axis direction and the Y-axis direction of the second structure 410 is the same as the pitch in the X-axis direction and the Y-axis direction of the detection unit 20s, and is P1. The first structure 310 has the same pitch P1 as the second structure 410 and the second structure 410 and the detection unit 20s adjacent to each other in an oblique direction that forms about 45 ° with each of the X-axis and Y-axis directions. Are arranged at equal intervals.

また図24Bは、図12Bに対応し、第1の構造体310と第2の構造体410の数が異なる例を示す。すなわち第2の構造体410は、図24Aに示す例と同様に、検出部20sの略中心上にピッチP1で配置されている。一方第1の構造体310は、図24Aとは配置及び数が異なり、第2の構造体410のピッチP1の1/2倍のピッチP2で配置されている。第1の構造体310は、Z軸方向から見た場合に、第2の構造体410及び検出部20sの周囲を取り囲むように配置されている。第1の構造体310の数を第2の構造体410の数よりも多く配置することにより、入力装置100全体の強度を高めることができる。   FIG. 24B corresponds to FIG. 12B and illustrates an example in which the number of first structures 310 and second structures 410 is different. That is, the second structure 410 is arranged at a pitch P1 substantially on the center of the detection unit 20s, as in the example shown in FIG. 24A. On the other hand, the first structures 310 are different in arrangement and number from those shown in FIG. The first structure 310 is disposed so as to surround the second structure 410 and the detection unit 20s when viewed from the Z-axis direction. By arranging the number of first structures 310 larger than the number of second structures 410, the strength of the entire input device 100 can be increased.

また、図25A、Bは、上記変形例について、操作子hにより第1の面110上の点PをZ軸方向下方へ押圧する前後の概略断面図である。図25Aは、実際に押圧する前の様子を示し、図14に対応する。図25Bは、押圧した状態の様子を示し、図15に対応する。   FIGS. 25A and 25B are schematic cross-sectional views before and after the point P on the first surface 110 is pressed downward in the Z-axis direction by the operation element h with respect to the modified example. FIG. 25A shows a state before actual pressing, and corresponds to FIG. FIG. 25B shows the state of pressing, and corresponds to FIG.

例えば第1の空間部330p0上の点Pが下方へ押圧された場合、金属膜12の第1の空間部330p0上の領域が下方に撓み、第1の空間部330pがZ軸方向に潰れ、金属膜12と検出部20sが近接する。さらに、この第1の空間部330p0に隣接する第1の構造体310p1,310p2も力を受ける。これにより、電極基板20の第1の構造体310p1,310p2と接続する領域も下方に撓み、第2の構造体410p0もZ軸方向に弾性変形することで厚みがわずかに減少する。すなわち、操作子hの下方に位置する検出部20sと導体層50とが近接する。   For example, when the point P on the first space portion 330p0 is pressed downward, the region on the first space portion 330p0 of the metal film 12 bends downward, and the first space portion 330p is crushed in the Z-axis direction, The metal film 12 and the detection unit 20s are close to each other. Furthermore, the first structures 310p1 and 310p2 adjacent to the first space 330p0 also receive force. Thereby, the region of the electrode substrate 20 connected to the first structures 310p1 and 310p2 is also bent downward, and the second structure 410p0 is also elastically deformed in the Z-axis direction, so that the thickness is slightly reduced. That is, the detection unit 20s located below the operation element h and the conductor layer 50 are close to each other.

このように、第2の構造体410が検出部20sと対向する本変形例においても、第1及び第2の構造体310,410により厚み方向に力を伝達することができ、電極基板20を容易に変形させることができる。これにより、本変形例に係る入力装置100は、第1の実施形態と同様に、検出部20sの静電容量を効率的に変化させ、押圧力及び押圧位置を精度よく検出することが可能となる。   As described above, also in the present modification in which the second structure 410 is opposed to the detection unit 20s, the force can be transmitted in the thickness direction by the first and second structures 310 and 410, and the electrode substrate 20 can be attached. It can be easily deformed. As a result, the input device 100 according to this modification can efficiently change the capacitance of the detection unit 20s and detect the pressing force and the pressing position with high accuracy, as in the first embodiment. Become.

また図25A,Bに示すように、第2の支持体40は、基材41と、基材41の表面(上面)に設けられた構造層42と、構造層42上の所定位置に形成された複数の接合部441の積層構造を有してもよい。一方、第1の支持体30は、このような積層構造を有さなくてもよい。これにより、本変形例においても入力装置100の強度を維持しつつ、操作性を高めることができる。   As shown in FIGS. 25A and 25B, the second support body 40 is formed at a predetermined position on the base material 41, the structural layer 42 provided on the surface (upper surface) of the base material 41, and the structural layer 42. Alternatively, a stacked structure of a plurality of joints 441 may be provided. On the other hand, the 1st support body 30 does not need to have such a laminated structure. Thereby, also in this modification, operability can be improved while maintaining the strength of the input device 100.

[変形例4]
図26は、本実施形態の他の変形例を示す概略断面図である。同図に示すように、操作部材10は、第1の支持体30に面して金属膜12上に配置された保護膜14を有していてもよい。すなわち、保護膜14は電極基板20と対向して配置される。保護膜14は、酸化防止用の樹脂膜等であってもよく、例えば塗布等により金属膜12上に形成される。このような保護膜14を設けることにより、金属膜12の腐食防止や、損傷を防止することができる。したがって、金属膜12の信頼性を高め、良好な検出感度を維持することができる。
[Modification 4]
FIG. 26 is a schematic cross-sectional view showing another modification of the present embodiment. As shown in the figure, the operating member 10 may have a protective film 14 disposed on the metal film 12 so as to face the first support 30. That is, the protective film 14 is disposed to face the electrode substrate 20. The protective film 14 may be an antioxidant resin film or the like, and is formed on the metal film 12 by coating or the like, for example. By providing such a protective film 14, it is possible to prevent corrosion and damage of the metal film 12. Therefore, the reliability of the metal film 12 can be improved and good detection sensitivity can be maintained.

[変形例5]
電極基板20は、第1の配線基板21と、第2の配線基板22と、これらの間の接着層23との積層体で構成され、第1の配線基板21上に、接着層35を介して第1の支持体30の基材31が配置されると説明したが、これに限定されない。例えば、以下に示すような構成であってもよい。
[Modification 5]
The electrode substrate 20 is configured by a laminated body of a first wiring substrate 21, a second wiring substrate 22, and an adhesive layer 23 therebetween, and the adhesive layer 35 is interposed on the first wiring substrate 21. The base material 31 of the first support 30 is described as being disposed, but the present invention is not limited to this. For example, the following configuration may be used.

(構成例1)
入力装置100(センサ装置1)は、基材31と接着層35とに替えて、絶縁性のカバー層を有してもよい。このようなカバー層は、例えば絶縁性のUV硬化樹脂や熱硬化樹脂等で形成され、厚みは数μm〜数100μmであってもよい。当該カバー層は、単一の層でもよいし、複数の層を含んでいてもよい。また、上記カバー層上には、第1の支持体30の第1の構造体310、第1の枠体320及び第1の空間部330が配置される。第1の構造体310及び第1の枠体320は、例えばスクリーン印刷法やUV成型法により形成することができる。このような構成により、電極基板20と第1の支持体30との厚みを薄くすることができ、入力装置100全体の薄型化に貢献できる。
(Configuration example 1)
The input device 100 (sensor device 1) may have an insulating cover layer instead of the base material 31 and the adhesive layer 35. Such a cover layer is formed of, for example, an insulating UV curable resin or a thermosetting resin, and may have a thickness of several μm to several hundreds of μm. The cover layer may be a single layer or may include a plurality of layers. Further, the first structure 310, the first frame 320, and the first space 330 of the first support 30 are disposed on the cover layer. The first structure 310 and the first frame 320 can be formed by, for example, a screen printing method or a UV molding method. With such a configuration, the thickness of the electrode substrate 20 and the first support 30 can be reduced, which can contribute to a reduction in the thickness of the entire input device 100.

(構成例2)
図27は、本変形例に係る構成例2を示す要部の概略断面図である。同図に示すように、本構成例は、第1の基材211と接着層23とに替えて、絶縁層24を有する。すなわち、第2の電極線220を含む第2の配線基板22上に絶縁層24が形成され、その上に第1の電極線210が形成される。絶縁層24は、例えば絶縁性のUV硬化樹脂や熱硬化樹脂等で形成され、厚みは数μm〜数100μmであってもよい。このような構成により、電極基板20を薄型化することができ、入力装置100全体の薄型化に貢献できる。なお、本構成例に係る入力装置100が、上記構成例1で説明したように、基材31と接着層35とに替えてカバー層を有していてもよい。
(Configuration example 2)
FIG. 27 is a schematic cross-sectional view of the main part showing Configuration Example 2 according to this modification. As shown in the figure, this configuration example includes an insulating layer 24 instead of the first base material 211 and the adhesive layer 23. That is, the insulating layer 24 is formed on the second wiring substrate 22 including the second electrode line 220, and the first electrode line 210 is formed thereon. The insulating layer 24 is formed of, for example, an insulating UV curable resin, a thermosetting resin, or the like, and may have a thickness of several μm to several 100 μm. With such a configuration, the electrode substrate 20 can be thinned, which can contribute to the thinning of the entire input device 100. Note that the input device 100 according to this configuration example may have a cover layer instead of the base material 31 and the adhesive layer 35 as described in the configuration example 1 above.

(構成例3)
図28A,Bは、本変形例に係る構成例3を示す要部の概略断面図である。図28Aに示すように、本構成例に係る電極基板20は、1つの基材211を有し、基材211の両面に第1の電極線210と第2の電極線220とが形成されている。すなわち基材211は、両面印刷により2層の電極が形成された構成を有する。この場合に、図28Aに示すように、基材211の第2の電極線220が形成された面(下面)には、カバー層25が形成されていてもよい。カバー層25は、例えば絶縁性のUV硬化樹脂や熱硬化樹脂等で形成され、厚みは数μm〜数100μmであってもよい。あるいは、図28Bに示すように、両面に第1及び第2の電極線210,220が形成された第1の基材211の下面に、接着層23と第2の基材221とが形成されていてもよい。また、図示はしないが、基材211の下面に直接第2の支持体40が形成される構成としてもよい。なお、本構成例に係る入力装置100が、上記構成例1で説明したように、基材31と接着層35とに替えてカバー層を有していてもよい。
(Configuration example 3)
28A and 28B are schematic cross-sectional views of the main part showing Configuration Example 3 according to this modification. As shown in FIG. 28A, the electrode substrate 20 according to this configuration example has one base material 211, and the first electrode line 210 and the second electrode line 220 are formed on both surfaces of the base material 211. Yes. That is, the base material 211 has a configuration in which two layers of electrodes are formed by double-sided printing. In this case, as shown in FIG. 28A, the cover layer 25 may be formed on the surface (lower surface) of the base material 211 on which the second electrode lines 220 are formed. The cover layer 25 is formed of, for example, an insulating UV curable resin or a thermosetting resin, and may have a thickness of several μm to several 100 μm. Alternatively, as shown in FIG. 28B, the adhesive layer 23 and the second substrate 221 are formed on the lower surface of the first substrate 211 having the first and second electrode wires 210 and 220 formed on both sides. It may be. Although not shown, the second support 40 may be directly formed on the lower surface of the base material 211. Note that the input device 100 according to this configuration example may have a cover layer instead of the base material 31 and the adhesive layer 35 as described in the configuration example 1 above.

(構成例4)
図29A,Bは、本変形例に係る構成例4を示す要部の概略断面図である。同図に示すように、本構成例に係る電極基板20は、第1の電極線210と第1の基材211とを含む第1の配線基板21と、第2の電極線220と第2の基材221とを含む第2の配線基板22と、接着層23とを有するが、第1の配線基板21に対する第2の配線基板22の向きが図3等に示す構成とは異なっている。すなわち、第2の電極線220が、接着層23に面する側ではなく、第2の支持体40に面して形成されている。この場合に、図29Aに示すように、第2の基材221の下面に、絶縁性のカバー層25が形成されていてもよい。あるいは、図29Bに示すように、第2の基材221の下面には、接着層252と第3の基材251とが形成されていてもよい。また、図示はしないが、第2の基材221の下面に直接第2の支持体40が形成される構成としてもよい。なお、本構成例に係る入力装置100が、上記構成例1で説明したように、基材31と接着層35とに替えて絶縁性のカバー層を有していてもよい。
(Configuration example 4)
FIGS. 29A and 29B are schematic cross-sectional views of a main part showing a configuration example 4 according to this modification. As shown in the figure, the electrode substrate 20 according to this configuration example includes a first wiring substrate 21 including a first electrode line 210 and a first base material 211, a second electrode line 220, and a second electrode line. Although the second wiring board 22 including the base material 221 and the adhesive layer 23 are included, the orientation of the second wiring board 22 relative to the first wiring board 21 is different from the configuration shown in FIG. . In other words, the second electrode wire 220 is formed not to face the adhesive layer 23 but to face the second support 40. In this case, as shown in FIG. 29A, an insulating cover layer 25 may be formed on the lower surface of the second base material 221. Alternatively, as illustrated in FIG. 29B, an adhesive layer 252 and a third substrate 251 may be formed on the lower surface of the second substrate 221. Although not shown, the second support 40 may be directly formed on the lower surface of the second base material 221. Note that the input device 100 according to this configuration example may have an insulating cover layer instead of the base material 31 and the adhesive layer 35 as described in the configuration example 1 above.

(構成例5)
図30は、本変形例に係る構成例5を示す要部の概略断面図である。同図に示すように、電極基板20は、図3等を用いて説明した構成とは上下を反転して配置されている。さらに第1の支持体30が、基材31を有さず、第2の支持体40が、電極基板20側に形成された基材41を有する。この場合には、図30に示すように、第2の支持体40の基材41と電極基板20の第1の配線基板21との間に接着層45を有してもよく、電極基板20と第1の支持体30との間には接着層を有さなくてもよい。なお、本構成例は、構成例1〜4として説明した構成と適宜組み合わせた構成とすることも可能である。例えば、基材41と接着層45とを上述のカバー層とすることもできる。
(Configuration example 5)
FIG. 30 is a schematic cross-sectional view of the main part showing Configuration Example 5 according to this modification. As shown in the figure, the electrode substrate 20 is arranged upside down from the configuration described with reference to FIG. Furthermore, the 1st support body 30 does not have the base material 31, and the 2nd support body 40 has the base material 41 formed in the electrode substrate 20 side. In this case, as shown in FIG. 30, an adhesive layer 45 may be provided between the base 41 of the second support 40 and the first wiring substrate 21 of the electrode substrate 20. And the first support 30 may not have an adhesive layer. Note that this configuration example can be combined with the configurations described as the configuration examples 1 to 4 as appropriate. For example, the base material 41 and the adhesive layer 45 can be used as the cover layer described above.

<第2の実施形態>
図31は本技術の第2の実施形態に係る入力装置100Aの概略断面図である。本実施形態に係る入力装置100Aの操作部材10A以外の構成は、第1の実施形態と同様であり、適宜その説明を省略する。図31は第1の実施形態に係る図1に対応する図である。
<Second Embodiment>
FIG. 31 is a schematic cross-sectional view of an input device 100A according to the second embodiment of the present technology. The configuration other than the operation member 10A of the input device 100A according to this embodiment is the same as that of the first embodiment, and the description thereof is omitted as appropriate. FIG. 31 is a diagram corresponding to FIG. 1 according to the first embodiment.

(全体構成)
本実施形態に係る入力装置100Aは、フレキシブルディスプレイに替えてフレキシブルシート11Aと、第1の実施形態と同様のセンサ装置1を有する。フレキシブルシート11Aには、後述するように複数のキー領域111Aが配置されており、入力装置100Aは、全体としてキーボード装置として用いられる。
(overall structure)
An input device 100A according to the present embodiment includes a flexible sheet 11A instead of the flexible display, and a sensor device 1 similar to that of the first embodiment. As will be described later, a plurality of key areas 111A are arranged on the flexible sheet 11A, and the input device 100A is used as a keyboard device as a whole.

(入力装置)
フレキシブルシート11Aは、例えばPET(ポリエチレンテレフタレート)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PMMA(ポリメタクリル酸メチル)、PC(ポリカーボネート)、PI(ポリイミド)等のフレキシブル性を有する絶縁性のプラスチックシートで構成される。フレキシブルシート11Aの厚みは特に限定されず、例えば数10μm〜数100μm程度である。
(Input device)
The flexible sheet 11A is made of an insulating plastic sheet having flexibility such as PET (polyethylene terephthalate), PEN (polyethylene naphthalate), PMMA (polymethyl methacrylate), PC (polycarbonate), PI (polyimide), and the like. The The thickness of the flexible sheet 11A is not particularly limited and is, for example, about several tens of μm to several hundreds of μm.

なお、フレキシブルシート11Aは単層構造に限定されず、2層以上のシートが積層された構成でもよい。この場合には、上記プラスチックシートに加え、例えば基材としてPET、PEN、PMMA、PC、PI等のフレキシブル性を有する絶縁性のプラスチックシートが積層されていてもよい。   Note that the flexible sheet 11A is not limited to a single-layer structure, and may have a configuration in which two or more sheets are laminated. In this case, in addition to the plastic sheet, for example, an insulating plastic sheet having flexibility such as PET, PEN, PMMA, PC, and PI may be laminated as a base material.

フレキシブルシート11Aは、操作面としての第1の面110Aと、第1の面110Aの裏面の第2の面120Aとを有する。第1の面110Aには、複数のキー領域111Aが配列されている。一方で第2の面120Aには金属膜12が積層されている。   11 A of flexible sheets have 1st surface 110A as an operation surface, and 2nd surface 120A of the back surface of 110 A of 1st surfaces. A plurality of key areas 111A are arranged on the first surface 110A. On the other hand, the metal film 12 is laminated on the second surface 120A.

フレキシブルシート11A及び金属膜12は、樹脂シートの表面にあらかじめ金属箔が貼り付けられた複合シート等で構成されてもよいし、第2の面120A面に形成された蒸着膜やスパッタ膜等で構成されてもよい。あるいは第2の面120Aに印刷された導電ペースト等の塗膜であってもよい。   The flexible sheet 11A and the metal film 12 may be composed of a composite sheet or the like in which a metal foil is previously attached to the surface of the resin sheet, or may be a vapor deposition film or a sputtered film formed on the second surface 120A. It may be configured. Alternatively, it may be a coating film such as a conductive paste printed on the second surface 120A.

各キー領域111Aは、ユーザによって押圧操作されるキートップに相当し、キーの種類に応じた形状、大きさを有する。各キー領域111Aには、適宜のキー表示が施されていてもよく、当該キー表示は、キーの種類を表示するものであってもよいし、個々のキーの位置(輪郭)を表示するものであってもよいし、これら両方を表示するものであってもよい。表示には、適宜の印刷手法、例えば、スクリーン印刷やフレキソ印刷、グラビア印刷等が採用可能である。   Each key area 111A corresponds to a key top that is pressed by the user, and has a shape and a size corresponding to the type of key. Each key area 111A may have an appropriate key display. The key display may display a key type or display the position (outline) of each key. It is also possible to display both of them. For the display, an appropriate printing method, for example, screen printing, flexographic printing, gravure printing, or the like can be employed.

第1の面110Aは、キー領域111Aの周囲に溝部112Aが形成された形態を有する。キー領域111Aに相当する凹凸面の形成には、プレス成形やエッチング、レーザ加工等の適宜の加工技術が採用可能である。あるいは、射出成形等の成形技術によって凹凸面を有するフレキシブルシート11Aが形成されてもよい。   The first surface 110A has a form in which a groove 112A is formed around the key region 111A. Appropriate processing techniques such as press molding, etching, and laser processing can be employed to form the uneven surface corresponding to the key region 111A. Alternatively, the flexible sheet 11A having an uneven surface may be formed by a molding technique such as injection molding.

また、フレキシブルシート11Aの構成は上述の例に限られない。例えば、図32A,Bは、フレキシブルシート11Aの変形例を模式的に示す図である。図32Aに示すフレキシブルシート11Aaは、第1の面110Aが平坦面で構成される例を示す。この場合は、不図示の各キー領域は印刷等により記載してもよいし、キー領域を有さず、タッチセンサとして用いてもよい。また、図32Bに示すフレキシブルシート11Abでは、フレキシブルシート11Aをプレス成形すること等によって形成され、各キー領域111Abが独立して上下方向(シート厚み方向)へ変形可能に構成される。   The configuration of the flexible sheet 11A is not limited to the above example. For example, FIGS. 32A and 32B are diagrams schematically illustrating a modification of the flexible sheet 11A. A flexible sheet 11Aa shown in FIG. 32A shows an example in which the first surface 110A is a flat surface. In this case, each key area (not shown) may be described by printing or the like, or may be used as a touch sensor without the key area. Further, in the flexible sheet 11Ab shown in FIG. 32B, the flexible sheet 11A is formed by press molding or the like, and each key region 111Ab is configured to be independently deformable in the vertical direction (sheet thickness direction).

さらにフレキシブルシート11Aは、金属等の導電性を有する材料で構成されてもよい。これにより金属膜12が不要となり、操作部材10Aを薄型化することができる。この場合、フレキシブルシート11Aは、金属膜12としての機能をも有し、例えばグランド電位に接続される。   Furthermore, the flexible sheet 11A may be made of a conductive material such as metal. Thereby, the metal film 12 becomes unnecessary and the operation member 10A can be thinned. In this case, the flexible sheet 11A also has a function as the metal film 12, and is connected to a ground potential, for example.

本実施形態において、ユーザがキー入力操作を行う際には、キー領域111Aの中央部を押圧する。そこで、第1及び第2の構造体310,410と検出部20sとを、以下のように配置することができる。   In the present embodiment, when the user performs a key input operation, the center portion of the key area 111A is pressed. Therefore, the first and second structures 310 and 410 and the detection unit 20s can be arranged as follows.

(配置例1)
例えば図31に示すように、第1の支持体30の第1の構造体310は、キー領域111Aの下方に配置されてもよい。この場合に検出部20sは、Z軸方向から見て第1の構造体310と重複した位置に配置され、第2の構造体410は、隣り合う第1の構造体310間の溝部112Aの下方に配置される。
(Arrangement example 1)
For example, as shown in FIG. 31, the first structure 310 of the first support 30 may be disposed below the key region 111A. In this case, the detection unit 20s is disposed at a position overlapping the first structure 310 when viewed from the Z-axis direction, and the second structure 410 is below the groove 112A between the adjacent first structures 310. Placed in.

配置例1では、キー入力操作時に第1の構造体310上の位置が押圧される。これにより、図15Aで説明したように、金属膜12及び導体層50の各々と検出部20sとが近接し、検出部20sの静電容量変化を得ることができる。   In the arrangement example 1, the position on the first structure 310 is pressed during the key input operation. Accordingly, as described with reference to FIG. 15A, each of the metal film 12 and the conductor layer 50 and the detection unit 20s are close to each other, and a change in capacitance of the detection unit 20s can be obtained.

また、第1の構造体310の形状は、図12で示したような円柱体等に限定されず、例えば溝部112Aに沿って壁状に配置されていてもよい。この場合に各第2の構造体410は、複数のキー領域111A間の境界に沿って配置されることとなる。   Further, the shape of the first structure 310 is not limited to the cylindrical body as shown in FIG. 12, and may be arranged in a wall shape along the groove 112A, for example. In this case, each second structure 410 is arranged along the boundary between the plurality of key regions 111A.

(配置例2)
また、第1の構造体310が、溝部112Aの下方に配置されてもよい。この場合に第2の構造体410は、隣り合う第1の構造体310間の、キー領域111Aの下方に配置される。また検出部20sは、Z軸方向から見て第1の構造体310と重複した位置に配置される。
(Arrangement example 2)
In addition, the first structure 310 may be disposed below the groove 112A. In this case, the second structure 410 is disposed below the key region 111A between the adjacent first structures 310. The detection unit 20s is disposed at a position overlapping the first structure 310 as viewed from the Z-axis direction.

配置例2では、図15Bで説明したように、キー入力操作時に第1の空間部330上が押圧されることで、金属膜12と検出部20sとが近接する。さらに操作位置直下の第1の空間部330に隣接する第1の構造体310が下方へと変位し、電極基板20を撓ませることで、第2の構造体410もわずかに弾性変形する。したがって、金属膜12及び導体層50の各々と検出部20sとが近接し、検出部20sの静電容量変化を得ることができる。   In the arrangement example 2, as described with reference to FIG. 15B, the metal film 12 and the detection unit 20 s come close to each other when the first space 330 is pressed during the key input operation. Further, the first structure 310 adjacent to the first space 330 immediately below the operation position is displaced downward and the electrode substrate 20 is bent, so that the second structure 410 is also slightly elastically deformed. Therefore, each of the metal film 12 and the conductor layer 50 and the detection unit 20s are close to each other, and the capacitance change of the detection unit 20s can be obtained.

なお、検出部20sの配置は上記に限定されず、例えば第2の構造体410と重複して配置されていてもよい。   In addition, arrangement | positioning of the detection part 20s is not limited above, For example, you may arrange | position overlapping with the 2nd structure 410.

制御部60は、上述のように演算部61と、信号生成部62とを有し、電極基板20に電気的に接続される。また本実施形態において、制御部60は、複数の検出部20sの出力に基づいて複数のキー領域111A各々に対する入力操作に関する情報を生成することが可能に構成される。すなわち、演算部61は、電極基板20の第1及び第2の電極線210,220各々から出力される電気的な信号(入力信号)に基づいて第1の面110上のXY座標系における操作位置を算出し、当該操作位置に割り当てられたキー領域111Aを決定する。信号生成部62は、その押圧が検出されたキー領域111Aに対応する操作信号を生成する。   The control unit 60 includes the calculation unit 61 and the signal generation unit 62 as described above, and is electrically connected to the electrode substrate 20. Further, in the present embodiment, the control unit 60 is configured to be able to generate information related to an input operation for each of the plurality of key regions 111A based on the outputs of the plurality of detection units 20s. That is, the calculation unit 61 operates in the XY coordinate system on the first surface 110 based on the electrical signals (input signals) output from the first and second electrode lines 210 and 220 of the electrode substrate 20. The position is calculated, and the key area 111A assigned to the operation position is determined. The signal generator 62 generates an operation signal corresponding to the key area 111A where the press is detected.

入力装置100Aは、ノート型のパーソナルコンピュータや、携帯電話等の電子機器に組み込まれることで、上述のようにキーボード装置として適用することができる。また入力装置100Aは、不図示の通信部を有することで、有線又は無線によりパーソナルコンピュータ等の他の電子機器と電気的に接続され、当該電子機器を制御するための入力操作が可能に構成されてもよい。   The input device 100A can be applied as a keyboard device as described above by being incorporated in an electronic device such as a notebook personal computer or a mobile phone. In addition, the input device 100A includes a communication unit (not illustrated), and is electrically connected to another electronic device such as a personal computer by a wired or wireless connection so that an input operation for controlling the electronic device is possible. May be.

さらに入力装置100Aは、第1の実施形態で説明したように、ポインティングデバイスとしても用いることができる。すなわち、各検出部20sの出力に対し2以上の閾値が設定され、演算部61がタッチ操作とプッシュ操作とを判定することにより、ポインティングデバイスとキーボードとを兼ねた入力装置とすることが可能である。   Furthermore, the input device 100A can be used as a pointing device as described in the first embodiment. That is, two or more threshold values are set for the output of each detection unit 20s, and the calculation unit 61 determines a touch operation and a push operation, whereby an input device that serves as both a pointing device and a keyboard can be obtained. is there.

[変形例]
図33は、本実施形態に係る変形例の入力装置100Aを示す拡大断面図である。同図に示す入力装置100Aは、複数の第2の構造体410が隣り合う複数の第1の構造体310間にそれぞれ配置される構成を有さず、複数の第1の構造体310のうちの少なくとも一部の第1の構造体310が、複数の第2の構造体410うちの少なくとも一部の第2の構造体410とZ軸方向に対向して配置される。さらに、Z軸方向に対向して配置される第1の構造体310及び第2の構造体410は、溝部112AとZ軸方向に対向して配置され、複数のキー領域111A間の境界に配置される。
[Modification]
FIG. 33 is an enlarged cross-sectional view showing an input device 100A of a modified example according to the present embodiment. The input device 100 </ b> A shown in the figure does not have a configuration in which the plurality of second structures 410 are respectively disposed between the plurality of adjacent first structures 310, and the plurality of first structures 310 are not included. At least a part of the first structures 310 is arranged to face at least a part of the second structures 410 of the plurality of second structures 410 in the Z-axis direction. Further, the first structure 310 and the second structure 410 arranged to face each other in the Z-axis direction are arranged to face the groove 112A and the Z-axis direction, and are arranged at a boundary between the plurality of key regions 111A. Is done.

図34Aは、第1の構造体310の配置例を示す平面図であり、図34Bは第2の構造体410の配置例を示す平面図である。本変形例において、複数の第1の構造体310及び複数の第2の構造体410は、後述するように、複数のキー領域111Aの配置に応じてそれぞれ配置される。また、複数の第1の構造体310各々は、その配置に応じて複数種類の形状を有し、複数の第2の構造体410各々も、その配置に応じて複数種類の形状を有する。またZ軸方向から見た際に、図34Aに示す第1の構造体310のうちの第1の構造体310eと、図34Bに示す第2の構造体410のうちの第2の構造体410eとが重複するように構成される。   FIG. 34A is a plan view illustrating an arrangement example of the first structures 310, and FIG. 34B is a plan view illustrating an arrangement example of the second structures 410. FIG. In the present modification, the plurality of first structures 310 and the plurality of second structures 410 are respectively arranged according to the arrangement of the plurality of key regions 111A, as will be described later. Each of the plurality of first structures 310 has a plurality of types of shapes according to the arrangement, and each of the plurality of second structures 410 also has a plurality of types of shapes according to the arrangement. Further, when viewed from the Z-axis direction, the first structure 310e in the first structure 310 shown in FIG. 34A and the second structure 410e in the second structure 410 shown in FIG. 34B. And are configured to overlap.

図35Aは、複数のX電極210の構成例を示す平面図であり、図35Bは、複数のY電極220の構成例を示す平面図である。図35Aに示すように、各X電極210は、複数の単位電極体210mを有し、各単位電極体210mが、電極線によってY軸方向に接続された構成を有する。各単位電極体210mは、複数のサブ電極を含み、各キー領域111Aに対応して配置される。一方、図35Bに示すように、Y電極220は、X軸方向に延在する複数の電極線を含む電極群22wで構成される。X電極210の各単位電極体210mとY電極の各電極群22wとの交差領域は、検出部20sを構成し、各検出部20sが各キー領域111Aに対応するように構成される。なお、上記構成に限定されず、X電極210が複数の電極群を含み、Y電極220が複数の単位電極体を有する構成としてもよい。   35A is a plan view illustrating a configuration example of the plurality of X electrodes 210, and FIG. 35B is a plan view illustrating a configuration example of the plurality of Y electrodes 220. As shown in FIG. 35A, each X electrode 210 has a plurality of unit electrode bodies 210m, and each unit electrode body 210m has a configuration connected in the Y-axis direction by electrode lines. Each unit electrode body 210m includes a plurality of sub-electrodes and is arranged corresponding to each key region 111A. On the other hand, as shown in FIG. 35B, the Y electrode 220 includes an electrode group 22w including a plurality of electrode lines extending in the X-axis direction. An intersection region between each unit electrode body 210m of the X electrode 210 and each electrode group 22w of the Y electrode constitutes a detection unit 20s, and each detection unit 20s is configured to correspond to each key region 111A. The X electrode 210 may include a plurality of electrode groups and the Y electrode 220 may include a plurality of unit electrode bodies.

本変形例において、単位電極体210m内のサブ電極と、電極群22w内の電極線との交点は、各キー領域111Aの中央部に密集して配置される。これにより、キー領域111Aを押圧した際の検出感度を向上させることが可能となる。   In this modification, the intersections of the sub-electrodes in the unit electrode body 210m and the electrode lines in the electrode group 22w are densely arranged at the center of each key region 111A. Thereby, it is possible to improve the detection sensitivity when the key area 111A is pressed.

図36は、第1の構造体310と第2の構造体410との配置例を示す拡大平面図であり、1つのキー領域111Aについて示す図である。同図において、便宜上、第1の構造体310は符号u1〜u10で示し、第2の構造体410は符号s1〜s9で示す。   FIG. 36 is an enlarged plan view showing an arrangement example of the first structure 310 and the second structure 410, and is a diagram showing one key region 111A. In the figure, for the sake of convenience, the first structure 310 is indicated by reference numerals u1 to u10, and the second structure 410 is indicated by reference signs s1 to s9.

同図に示すように、第1の構造体u9と第2の構造体s8、及び第1の構造体u10と第2の構造体s4は、キー領域111A周囲の二点鎖線で示すY軸方向に沿った辺上に、それぞれZ軸方向に対向して配置される。このように、第1の構造体310と第2の構造体410とがZ軸方向に重なって配置された領域は、金属膜12及び導体層50各々と電極基板20との距離が変化しにくく、センサとしての検出感度が低い領域となる。また、当該領域は、あるキー領域111Aを押圧操作した際に、フレキシブルシート11A(金属膜12)及び電極基板20の変形が他のキー領域111Aに伝播しにくい領域となる。したがって、Z軸方向に対向する第1の構造体u9,u10及び第2の構造体s8、s4をキー領域111Aの周囲に配置することで、特にX軸方向に隣接するキー領域111A間の誤動作を防止することが可能となる。   As shown in the figure, the first structure u9 and the second structure s8, and the first structure u10 and the second structure s4 are in the Y-axis direction indicated by a two-dot chain line around the key region 111A. Are arranged opposite to each other in the Z-axis direction. As described above, in the region where the first structure 310 and the second structure 410 are arranged so as to overlap in the Z-axis direction, the distances between the metal film 12 and the conductor layer 50 and the electrode substrate 20 are unlikely to change. This is a region where the detection sensitivity as a sensor is low. In addition, when the certain key area 111A is pressed, the area is an area in which the deformation of the flexible sheet 11A (metal film 12) and the electrode substrate 20 is difficult to propagate to the other key area 111A. Therefore, by arranging the first structures u9 and u10 and the second structures s8 and s4 facing in the Z-axis direction around the key area 111A, the malfunction particularly between the key areas 111A adjacent in the X-axis direction. Can be prevented.

なお、キー領域111A周囲のX軸方向に沿った辺上に、Z軸方向に対向する第1の構造体及び第2の構造体を配置してもよい。具体的には、第2の支持体s1〜s3,s5〜s7の上に第1の構造体が配置されていてもよい。この場合には、Y軸方向に隣接するキー領域111A間の誤動作を防止することができる。   Note that the first structure and the second structure facing each other in the Z-axis direction may be disposed on the side along the X-axis direction around the key region 111A. Specifically, the first structure may be disposed on the second supports s1 to s3, s5 to s7. In this case, a malfunction between the key areas 111A adjacent in the Y-axis direction can be prevented.

さらに、同図に示すように、キー領域111Aの内部に、複数の第1の構造体u5〜u8が配置されている。第2の構造体と重複せずに配置された第1の構造体u5〜u8は、上述のようにフレキシブルシート11A(キー領域111A)及び電極基板20を効率よく変形させることから、キー領域111A内の検出感度を向上させることが可能となる。   Further, as shown in the figure, a plurality of first structures u5 to u8 are arranged inside the key area 111A. Since the first structures u5 to u8 arranged without overlapping with the second structure efficiently deform the flexible sheet 11A (key area 111A) and the electrode substrate 20 as described above, the key area 111A. It is possible to improve the detection sensitivity.

仮にキー領域111Aの内部に1つの第1の構造体のみが配置されている場合には、当該第1の構造体から離れた領域を押圧した場合に、フレキシブルシート11A及び電極基板20Aを効率よく変形させることができない。特に、爪やスタイラス等の接触面積が小さい操作子で押圧操作をした場合、キー領域111A内の位置によって感度のバラつきが生じる可能性がある。これに対して、本変形例では、キー領域111A内に複数の第1の構造体u5〜u8を対称的に配置していることから、キー領域111A内での押圧位置や操作子の接触面積によらず、高い検出感度を維持することが可能となる。   If only one first structure is arranged inside the key area 111A, the flexible sheet 11A and the electrode substrate 20A can be efficiently moved when the area away from the first structure is pressed. It cannot be deformed. In particular, when a pressing operation is performed with an operation element having a small contact area such as a nail or a stylus, sensitivity may vary depending on the position in the key region 111A. On the other hand, in this modification, the plurality of first structures u5 to u8 are symmetrically arranged in the key area 111A, so that the pressing position and the contact area of the operation element in the key area 111A Regardless, high detection sensitivity can be maintained.

さらに、単位電極体210m内のサブ電極と、電極群22w内の電極線との交点は、第1の構造体u5〜u8で規定される領域(図36の一点破線で示す領域)の内部及び近傍に密集して配置されてもよい。これにより、キー領域111Aを押圧した際の検出感度をより向上させることが可能となる。   Furthermore, the intersections of the sub-electrodes in the unit electrode body 210m and the electrode lines in the electrode group 22w are inside the region defined by the first structures u5 to u8 (the region indicated by the dashed line in FIG. 36) and It may be densely arranged in the vicinity. As a result, it is possible to further improve the detection sensitivity when the key area 111A is pressed.

キー領域111Aの略中央には、第2の構造体s9が配置されている。仮に、キー領域111Aの中央部に構造体を配置していない場合には、当該中央部は、周縁部と比較して、フレキシブルシート11A及び電極基板20の変形量が大きくなりやすい。これにより、キー領域111Aの中央部と周縁部とで検出感度の差が生じることがあった。そこで、第2の構造体s9をキー領域111Aの略中央に配置することで、キー領域111Aの中央部と周縁部との検出感度を均一に維持することが可能となる。   A second structure s9 is disposed substantially at the center of the key area 111A. If the structure is not arranged in the central portion of the key region 111A, the deformation amount of the flexible sheet 11A and the electrode substrate 20 is likely to be larger in the central portion than in the peripheral portion. As a result, a difference in detection sensitivity may occur between the central portion and the peripheral portion of the key region 111A. Therefore, by arranging the second structure s9 substantially at the center of the key region 111A, it is possible to maintain the detection sensitivity of the central portion and the peripheral portion of the key region 111A uniformly.

一方、キー領域111Aの周囲には、第1の構造体u1〜u4及び第2の構造体s1〜s3、s5〜s7が相互に重複せずに配置される。これらの第1及び第2の構造体u1〜u4,s1〜s3、s5〜s7は、キー領域111Aの内部に配置された第1及び第2の構造体u5〜u8,s9よりも大きく構成される。これにより、第1及び第2の構造体と、電極基板20、フレキシブルシート11A等との接着性を高め、入力装置100Aとしての強度を高めることができる。また、キー領域111A周囲の変形を抑制し、誤動作の防止を図ることができる。   On the other hand, around the key region 111A, the first structures u1 to u4 and the second structures s1 to s3 and s5 to s7 are arranged without overlapping each other. These first and second structures u1 to u4, s1 to s3, and s5 to s7 are configured to be larger than the first and second structures u5 to u8 and s9 arranged inside the key region 111A. The Thereby, the adhesiveness with the 1st and 2nd structure, the electrode substrate 20, flexible sheet 11A, etc. can be improved, and the intensity | strength as input device 100A can be raised. Further, deformation around the key area 111A can be suppressed, and malfunction can be prevented.

また図36に示すように、各キー領域111Aの周囲に配置された第1及び第2の構造体間は、相互に離間していることが好ましい。仮に第1及び第2の構造体が、キー領域111Aを隙間なく取り囲む場合には、キー領域111A内の第1の空間部330及び第2の空間部430において内圧が上昇し、フレキシブルシート11A及び電極基板20の変形の戻りの遅延や、検出感度の低下を招くおそれがある。そこで、第1及び第2の構造体間を相互に離間して配置することで、第1の空間部330及び第2の空間部430内の空気の移動を妨げず、検出感度の低下を防止することが可能となる。   As shown in FIG. 36, it is preferable that the first and second structures arranged around each key area 111A are separated from each other. If the first and second structures surround the key region 111A without a gap, the internal pressure increases in the first space 330 and the second space 430 in the key region 111A, and the flexible sheet 11A and There is a possibility that the return of deformation of the electrode substrate 20 is delayed and the detection sensitivity is lowered. Therefore, by disposing the first and second structures away from each other, the movement of the air in the first space 330 and the second space 430 is not hindered, and a decrease in detection sensitivity is prevented. It becomes possible to do.

<第3の実施形態>
図37は本技術の第3の実施形態に係る入力装置100Bが組み込まれた電子機器70Bの概略断面図である。本実施形態に係る入力装置100Bの操作部材10B以外の構成は、第1の実施形態と同様であり、適宜その説明を省略する。
<Third Embodiment>
FIG. 37 is a schematic cross-sectional view of an electronic apparatus 70B in which the input device 100B according to the third embodiment of the present technology is incorporated. The configuration other than the operation member 10B of the input device 100B according to this embodiment is the same as that of the first embodiment, and the description thereof will be omitted as appropriate.

本実施形態に係る入力装置100Bは、電子機器70Bの筐体720Bの一部が操作部材10Bの一部を構成する。すなわち、入力装置100Bは、筐体720Bの一部を構成する操作領域721Bと、第1の実施形態と同様のセンサ装置1とを有する。電子機器70Bとしては、例えばタッチセンサを搭載したパーソナルコンピュータ等が適用可能である。   In the input device 100B according to the present embodiment, a part of the housing 720B of the electronic device 70B constitutes a part of the operation member 10B. That is, the input device 100B includes an operation region 721B that constitutes a part of the housing 720B and the sensor device 1 similar to that of the first embodiment. As the electronic device 70B, for example, a personal computer equipped with a touch sensor is applicable.

操作部材10Bは、第1の面110Bと第2の面120Bとを含み変形可能な操作領域721Bと、金属膜12との積層構造を有する。すなわち、第1の面110Bは筐体720Bの一表面であり、第2の面120Bは当該一表面の裏面(内面)である。   The operation member 10B has a laminated structure of the metal film 12 and an operation region 721B that includes the first surface 110B and the second surface 120B and can be deformed. That is, the first surface 110B is one surface of the housing 720B, and the second surface 120B is the back surface (inner surface) of the one surface.

操作領域721Bは、例えば筐体720Bの他の領域と同一の材料、例えばアルミニウム合金やマグネシウム合金等の導体材料やプラスチック材料で構成されてもよく、この場合は、ユーザのタッチ操作又はプッシュ操作時に変形可能な厚みで構成される。あるいは操作領域721Bは、筐体720Bの他の領域と異なる材料で構成されてもよく、この場合は、当該他の領域よりも剛性の小さい材料を採用することが可能である。   For example, the operation region 721B may be made of the same material as the other regions of the housing 720B, for example, a conductive material such as an aluminum alloy or a magnesium alloy, or a plastic material. In this case, when the user performs a touch operation or push operation, It is composed of a deformable thickness. Alternatively, the operation region 721B may be made of a material different from that of the other region of the housing 720B. In this case, a material having rigidity smaller than that of the other region can be used.

また、第2の面120Bには、粘着性の接着層13に形成された金属箔等の金属膜12が形成される。なお、操作領域721Bが導体材料で構成される場合には、金属膜12が不要となり、操作部材10Bを薄型化することができる。この場合、操作領域721Bは、金属膜12としての機能をも有し、例えばグランド電位に接続される。   A metal film 12 such as a metal foil formed on the adhesive adhesive layer 13 is formed on the second surface 120B. In addition, when the operation area | region 721B is comprised with a conductor material, the metal film 12 becomes unnecessary and the operation member 10B can be reduced in thickness. In this case, the operation region 721B also has a function as the metal film 12, and is connected to, for example, a ground potential.

以上のように、本実施形態に係る入力装置100Bは、導体材料等の筐体720Bの一部を利用して構成することが可能である。これは、上述のように、入力装置100Bが操作子とX,Y電極との容量結合を利用して入力操作を検出するものではなく、操作子により押圧された金属膜12とそれに対向する導体層50各々と、検出部20sとの容量結合を利用するものであることによる。したがって入力装置100Bによれば、電子機器70Bの部品点数を低減し、より生産性を高めることが可能である。   As described above, the input device 100B according to the present embodiment can be configured using a part of the housing 720B made of a conductive material or the like. As described above, this is because the input device 100B does not detect the input operation using the capacitive coupling between the operation element and the X and Y electrodes, but the metal film 12 pressed by the operation element and the conductor facing it. This is because the capacitive coupling between each of the layers 50 and the detection unit 20s is used. Therefore, according to the input device 100B, it is possible to reduce the number of parts of the electronic device 70B and further increase the productivity.

また本実施形態に係る入力装置100Bは、上述の第1の実施形態と同様のセンサ装置1を有することから、微小な押圧力であっても操作位置及び押圧力を精度よく検出することができる。したがって本実施形態によれば、操作領域721Bの材料についての制限も少なく、検出感度の高い入力装置100Bを提供することができる。   In addition, since the input device 100B according to the present embodiment includes the sensor device 1 similar to that of the first embodiment described above, the operation position and the pressing force can be accurately detected even with a small pressing force. . Therefore, according to this embodiment, there are few restrictions about the material of operation area 721B, and input device 100B with high detection sensitivity can be provided.

<第4の実施形態>
図38Aは本技術の第4の実施形態に係る入力装置100Cの概略断面図であり、図38Bは、入力装置100Cの要部を拡大して示す断面図である。本実施形態は、電極基板20が、XY平面内での容量結合の変化量により金属膜12及び導体層50各々との距離の変化を静電的に検出する点において、第1の実施形態とは異なっている。すなわち、Y電極220Cは、X電極210Cと電極基板20Cの面内方向に対向する対向部を有し、当該対向部が検出部20Csを構成する。
<Fourth Embodiment>
FIG. 38A is a schematic cross-sectional view of an input device 100C according to the fourth embodiment of the present technology, and FIG. 38B is an enlarged cross-sectional view showing a main part of the input device 100C. The present embodiment is different from the first embodiment in that the electrode substrate 20 electrostatically detects a change in distance between the metal film 12 and the conductor layer 50 based on a change in capacitive coupling in the XY plane. Is different. That is, the Y electrode 220C has a facing portion that faces the X electrode 210C and the electrode substrate 20C in the in-plane direction, and the facing portion constitutes the detection unit 20Cs.

電極基板20は、複数の第1の電極線(X電極)210Cおよび複数の第2の電極線(Y電極)220Cとが配置された基材211Cを有し、これらの複数のX電極210C及びY電極220Cが同一平面上に配置されている。   The electrode substrate 20 includes a base material 211C on which a plurality of first electrode lines (X electrodes) 210C and a plurality of second electrode lines (Y electrodes) 220C are arranged, and the plurality of X electrodes 210C and Y electrodes 220C are arranged on the same plane.

図39A、Bを参照して、X電極210CおよびY電極220Cの構成の一例について説明する。ここでは、各X電極210Cと各Y電極220Cとが、それぞれ櫛歯状の複数の単位電極体(第1の単位電極体)210m及び複数の単位電極体(第2の単位電極体)220mを有しており、1つの単位電極体210mと1つの単位電極体220mが各検出部20Csを形成する例を示す。   An example of the configuration of the X electrode 210C and the Y electrode 220C will be described with reference to FIGS. 39A and 39B. Here, each X electrode 210C and each Y electrode 220C respectively includes a plurality of comb-like unit electrode bodies (first unit electrode bodies) 210m and a plurality of unit electrode bodies (second unit electrode bodies) 220m. An example is shown in which one unit electrode body 210m and one unit electrode body 220m form each detector 20Cs.

図39Aに示すように、X電極210Cは、複数の単位電極体210mと、電極線部210pと、複数の接続部210zとを有する。電極線部210pは、Y軸方向に延在されている。複数の単位電極体210mは、Y軸方向に一定の間隔で配置されている。電極線部210pと単位電極体210mとは所定間隔離して配置されており、両者の間は接続部210zにより接続されている。   As shown in FIG. 39A, the X electrode 210C includes a plurality of unit electrode bodies 210m, an electrode line portion 210p, and a plurality of connection portions 210z. The electrode line portion 210p extends in the Y-axis direction. The plurality of unit electrode bodies 210m are arranged at regular intervals in the Y-axis direction. The electrode wire portion 210p and the unit electrode body 210m are disposed with a predetermined distance therebetween, and the two are connected by a connecting portion 210z.

単位電極体210mは、上述のように、全体として櫛歯状を有している。具体的には、単位電極体210mは、複数のサブ電極210wと、連結部210yとを含む。複数のサブ電極210wは、X軸方向に延在されている。隣り合うサブ電極210wの間は、所定の間隔離されている。複数のサブ電極210wの一端は、X軸方向に延在された連結部210yに接続されている。   As described above, the unit electrode body 210m has a comb-like shape as a whole. Specifically, the unit electrode body 210m includes a plurality of sub-electrodes 210w and a connecting portion 210y. The plurality of sub-electrodes 210w extend in the X-axis direction. Adjacent sub-electrodes 210w are separated by a predetermined distance. One end of the plurality of sub-electrodes 210w is connected to a connecting portion 210y that extends in the X-axis direction.

図39Bに示すように、Y電極220Cは、複数の単位電極体220mと、電極線部220pと、複数の接続部220zとを備える。電極線部220pは、X軸方向に延在されている。複数の単位電極体220mは、X軸方向に一定の間隔で配置されている。電極線部220pと単位電極体220mとは所定間隔離して配置されており、両者の間は接続部220zにより接続されている。なお、接続部220zを省略して、電極線部220p上に単位電極体220mが直接設けられた構成を採用するようにしてもよい。   As shown in FIG. 39B, the Y electrode 220C includes a plurality of unit electrode bodies 220m, an electrode line portion 220p, and a plurality of connection portions 220z. The electrode wire portion 220p extends in the X-axis direction. The plurality of unit electrode bodies 220m are arranged at regular intervals in the X-axis direction. The electrode wire portion 220p and the unit electrode body 220m are arranged with a predetermined distance therebetween, and the two are connected by a connecting portion 220z. In addition, the connection part 220z may be omitted, and a configuration in which the unit electrode body 220m is directly provided on the electrode line part 220p may be employed.

単位電極体220mは、上述のように、全体として櫛歯状を有している。具体的には、単位電極体220mは、複数のサブ電極220wと、連結部220yとを含む。複数のサブ電極220wは、X軸方向に延在されている。隣り合うサブ電極220wの間は、所定の間隔離されている。複数のサブ電極220wの一端は、Y軸方向に延在された連結部220yに接続されている。   As described above, the unit electrode body 220m has a comb-like shape as a whole. Specifically, the unit electrode body 220m includes a plurality of sub-electrodes 220w and a connecting part 220y. The plurality of sub-electrodes 220w extend in the X-axis direction. Adjacent sub-electrodes 220w are separated by a predetermined distance. One ends of the plurality of sub-electrodes 220w are connected to a connecting portion 220y that extends in the Y-axis direction.

図40Aに示すように、単位電極体210m各々と単位電極体220m各々とが相互に組み合わされた領域には、各検出部20Csが形成される。単位電極体210mの複数のサブ電極210wと、単位電極体220mの複数のサブ電極220wとは、Y軸方向に向かって交互に配列されている。すなわちサブ電極210w、220wは、電極基板20Cの面内方向(例えばY軸方向)に相互に対向して配置される。   As shown in FIG. 40A, each detection unit 20Cs is formed in a region where each unit electrode body 210m and each unit electrode body 220m are combined with each other. The plurality of sub-electrodes 210w of the unit electrode body 210m and the plurality of sub-electrodes 220w of the unit electrode body 220m are alternately arranged in the Y-axis direction. That is, the sub-electrodes 210w and 220w are arranged to face each other in the in-plane direction (for example, the Y-axis direction) of the electrode substrate 20C.

図40Bは、図40AのA−A方向から見た断面図である。Y電極220は、第1の実施形態と同様に、X電極210と交差して設けられるが、X電極210と同一平面上に形成される。そこで図40Bに示すように、X電極210とY電極220とが交差する領域は、各X電極210及び各Y電極220が直接接触しないように構成される。すなわち、X電極210の電極線部210p上には絶縁層220rが設けられている。そして、この絶縁層220rを跨ぐようにしてジャンパ配線220qが設けられている。このジャンパ配線220qにより電極線部220pが連結されている。   40B is a cross-sectional view seen from the AA direction of FIG. 40A. Similar to the first embodiment, the Y electrode 220 is provided so as to intersect the X electrode 210, but is formed on the same plane as the X electrode 210. Therefore, as shown in FIG. 40B, the region where the X electrode 210 and the Y electrode 220 intersect is configured such that the X electrode 210 and the Y electrode 220 do not directly contact each other. That is, the insulating layer 220r is provided on the electrode line portion 210p of the X electrode 210. A jumper wiring 220q is provided so as to straddle the insulating layer 220r. The electrode wire portion 220p is connected by the jumper wiring 220q.

図41は、本実施形態に係る検出部20Csの構成を説明するための模式的な断面図である。同図に示す例では、検出部20Csにおいて、サブ電極210w1とサブ電極220w1、サブ電極220w1とサブ電極210w2、サブ電極210w2とサブ電極220w2、サブ電極220w2とサブ電極210w3、及びサブ電極210w3とサブ電極220w3とがそれぞれ容量結合する。すなわち、基材211Cを誘電層として、各サブ電極間の静電容量Cc11,Cc12,Cc13,Cc14,Cc15が金属膜12及び導体層50各々とサブ電極を含む第1及び第2の電極線210C,220Cとの容量結合に応じて可変に構成される。   FIG. 41 is a schematic cross-sectional view for explaining the configuration of the detection unit 20Cs according to the present embodiment. In the example shown in the figure, in the detection unit 20Cs, the sub electrode 210w1 and the sub electrode 220w1, the sub electrode 220w1 and the sub electrode 210w2, the sub electrode 210w2 and the sub electrode 220w2, the sub electrode 220w2 and the sub electrode 210w3, and the sub electrode 210w3 and the sub electrode 210w3 Each of the electrodes 220w3 is capacitively coupled. That is, with the base material 211C as a dielectric layer, the capacitances Cc11, Cc12, Cc13, Cc14, and Cc15 between the sub-electrodes are the metal film 12, the conductor layer 50, and the first and second electrode lines 210C including the sub-electrodes. , 220C is variably configured according to capacitive coupling.

上記構成により、電極基板の第2の基材及び接着層が不要となり、入力装置100Cの薄型化に貢献できる。また、多数のサブ電極同士が容量結合し、かつ容量結合するサブ電極間の距離を狭めることができる。これにより、入力装置100C全体としての容量結合量を増加させることができ、検出感度を向上させることが可能となる。   With the above configuration, the second base material and the adhesive layer of the electrode substrate are not necessary, and the input device 100C can be reduced in thickness. In addition, many sub-electrodes are capacitively coupled to each other, and the distance between the sub-electrodes that are capacitively coupled can be reduced. Thereby, the capacitive coupling amount as the whole input device 100C can be increased, and detection sensitivity can be improved.

<第5の実施形態>
本技術の第5の実施形態に係る入力装置100Dは、X電極210およびY電極220のうちの一方が複数の電極群を含むのに対して、他方が平板状の電極を含む点で、第1の実施形態と異なる。
<Fifth Embodiment>
In the input device 100D according to the fifth embodiment of the present technology, one of the X electrode 210 and the Y electrode 220 includes a plurality of electrode groups, whereas the other includes a flat electrode. Different from the first embodiment.

[第1の構造例]
図42は、本実施形態に係る入力装置100Dの概略断面図である。同図に示すように、入力装置100Dは、操作部材10Dと、導体層50と、電極基板20Dと、第1の支持体30と、第2の支持体40とを有する。導体層50、第1の支持体30及び第2の支持体40は、第1の実施形態と略同一の構成を有するが、操作部材10D及び電極基板20Dの構成が第1の実施形態と異なる。具体的には、操作部材10Dは金属膜を有さない。また、電極基板20Dについて、複数のX電極(第1の電極線)210D各々は、複数のY電極(第2の電極線)220Dよりも操作部材10D側に配置された平板状の電極であり、複数のY電極220D各々は、複数の電極群22Dwを含む。また、電極基板20Dは、ユーザの指等の導電性の操作子及び導体層50各々との距離の変化を静電的に検出することが可能に構成される。
[First structural example]
FIG. 42 is a schematic cross-sectional view of the input device 100D according to the present embodiment. As shown in the figure, the input device 100D includes an operation member 10D, a conductor layer 50, an electrode substrate 20D, a first support body 30, and a second support body 40. The conductor layer 50, the first support 30 and the second support 40 have substantially the same configuration as that of the first embodiment, but the configurations of the operation member 10D and the electrode substrate 20D are different from those of the first embodiment. . Specifically, the operation member 10D does not have a metal film. In addition, regarding the electrode substrate 20D, each of the plurality of X electrodes (first electrode lines) 210D is a flat electrode disposed on the operation member 10D side with respect to the plurality of Y electrodes (second electrode lines) 220D. Each of the plurality of Y electrodes 220D includes a plurality of electrode groups 22Dw. Further, the electrode substrate 20D is configured to be able to electrostatically detect a change in distance between the conductive operator such as a user's finger and the conductor layer 50.

図43は、第1及び第2の構造体310、410と、X電極210D及びY電極220Dとの配置例を示す模式的な平面図である。同図に示すように、各X電極210DはY軸方向に延在する帯状の電極である。各Y電極220DはX軸方向に延在し、それぞれ複数の電極群22Dwを含む。検出部20Dsは、第1の実施形態と同様に、各X電極210Dと各Y電極との交差領域に形成され、第1の構造体210各々と対向してそれぞれ形成される。   FIG. 43 is a schematic plan view illustrating an arrangement example of the first and second structures 310 and 410, the X electrode 210D, and the Y electrode 220D. As shown in the figure, each X electrode 210D is a strip-like electrode extending in the Y-axis direction. Each Y electrode 220D extends in the X-axis direction and includes a plurality of electrode groups 22Dw. Similarly to the first embodiment, the detection unit 20Ds is formed in an intersection region between each X electrode 210D and each Y electrode, and is formed to face each of the first structures 210.

図42に示すように、X電極210Dは、例えばコントローラ710の駆動側(パルス入力側)端子に接続され、検出時には駆動パルス電位、待機時は例えばグランド電位に切り替えることができる。これにより、外部ノイズ(外部電場)に対するシールド効果を発揮することができる。これにより、入力装置100Dは、操作部材10Dが金属膜を有しない構成であっても、操作部材10D側からの外部ノイズに対するシールド効果を維持し、金属膜を省略することが可能となる。したがって、構成の簡略化を実現し、生産性の向上に貢献することができる。なお、X電極210Eは、検出時、待機時にかかわらずグランド電位に接続されていてもよい。   As shown in FIG. 42, the X electrode 210D is connected to a drive side (pulse input side) terminal of the controller 710, for example, and can be switched to a drive pulse potential during detection and to a ground potential during standby, for example. Thereby, the shielding effect with respect to external noise (external electric field) can be exhibited. Thereby, even if the input device 100D has a configuration in which the operation member 10D does not have a metal film, it is possible to maintain a shielding effect against external noise from the operation member 10D side and to omit the metal film. Therefore, the configuration can be simplified and the productivity can be improved. The X electrode 210E may be connected to the ground potential regardless of whether it is detected or in standby.

さらに、第1の実施形態と同様に操作部材10に金属膜12を設け、金属膜12をグランド電位に接続することにより、さらに強固なシールド効果を発揮することが可能となる。これにより、外部ノイズに対して安定な検出部20Dsとすることができ、検出感度を安定して維持することができる。   Further, by providing the operation member 10 with the metal film 12 and connecting the metal film 12 to the ground potential as in the first embodiment, it is possible to exert a stronger shielding effect. Thereby, it can be set as the detection part 20Ds stable with respect to external noise, and a detection sensitivity can be maintained stably.

[第2の構造例]
図44は、本実施形態に係る入力装置100Eの概略断面図である。同図に示すように、入力装置100Eは、操作部材10と、背面板50Eと、電極基板20Eと、第1の支持体30と、第2の支持体40とを有する。操作部材10、第1の支持体30及び第2の支持体40は、第1の実施形態と略同一の構成を有するが、導体層に替えて背面板50Eを有する点、及び電極基板20Eの構成が第1の実施形態と異なる。
[Second structural example]
FIG. 44 is a schematic cross-sectional view of the input device 100E according to the present embodiment. As shown in the figure, the input device 100E includes an operation member 10, a back plate 50E, an electrode substrate 20E, a first support body 30, and a second support body 40. The operation member 10, the first support body 30, and the second support body 40 have substantially the same configuration as that of the first embodiment, but have a back plate 50E instead of the conductor layer, and the electrode substrate 20E. The configuration is different from that of the first embodiment.

背面板50Eは、第1の実施形態に係る導体層と同様に、入力装置100Eの最下部を構成し、金属膜(導体層)12(第2の面120)とZ軸方向に対向して配置される。背面板50Eは、入力装置100Eの支持プレートとして機能し、例えば操作部材10及び電極基板20Eよりも高い曲げ剛性を有するように構成される。背面板50Eの材料は所望の強度が得られれば特に限定されず、例えば強化型プラスチック等の樹脂板や、金属板等であってもよい。さらに、第1の実施形態において導体層について説明したように、剛性を高める観点から段差部を有していてもよく、あるいは放熱性の観点からメッシュ状等に構成されていてもよい。   Similar to the conductor layer according to the first embodiment, the back plate 50E constitutes the lowermost part of the input device 100E and faces the metal film (conductor layer) 12 (second surface 120) in the Z-axis direction. Be placed. The back plate 50E functions as a support plate for the input device 100E, and is configured to have higher bending rigidity than, for example, the operation member 10 and the electrode substrate 20E. The material of the back plate 50E is not particularly limited as long as a desired strength is obtained. For example, a resin plate such as reinforced plastic, a metal plate, or the like may be used. Furthermore, as described for the conductor layer in the first embodiment, a step portion may be provided from the viewpoint of increasing rigidity, or it may be configured in a mesh shape or the like from the viewpoint of heat dissipation.

電極基板20Eは、第1の実施形態と同様に、複数のX電極(第1の電極線)210Eと、複数のY電極(第2の電極線)220Eとを有する。Y電極220E各々は、複数のX電極210Eよりも背面板50E側に配置された平板状の電極であり、複数のX電極210E各々は、複数の電極群21Ewを含む。電極基板20Eは、金属膜12との距離の変化を静電的に検出することが可能に構成される。   Similarly to the first embodiment, the electrode substrate 20E includes a plurality of X electrodes (first electrode lines) 210E and a plurality of Y electrodes (second electrode lines) 220E. Each of the Y electrodes 220E is a plate-like electrode disposed on the back plate 50E side with respect to the plurality of X electrodes 210E, and each of the plurality of X electrodes 210E includes a plurality of electrode groups 21Ew. The electrode substrate 20E is configured to be capable of electrostatically detecting a change in the distance from the metal film 12.

図45は、第1及び第2の構造体310、410と、X電極210E及びY電極220Eとの配置例を示す模式的な平面図である。同図に示すように、各X電極210EはY軸方向に延在し、それぞれ複数の電極群21Ewを含む。各Y電極220EはX軸方向に延在する幅広い構成の帯状の電極である。検出部20Esは、第1の実施形態と同様に、各X電極210Eと各Y電極との交差領域に形成され、第1の構造体210各々と対向してそれぞれ形成される。   FIG. 45 is a schematic plan view illustrating an arrangement example of the first and second structures 310 and 410, the X electrode 210E, and the Y electrode 220E. As shown in the figure, each X electrode 210E extends in the Y-axis direction and includes a plurality of electrode groups 21Ew. Each Y electrode 220E is a strip-like electrode having a wide configuration extending in the X-axis direction. Similarly to the first embodiment, the detection unit 20Es is formed in an intersection region between each X electrode 210E and each Y electrode, and is formed to face each of the first structures 210.

図44に示すように、Y電極220Eは、例えばコントローラ710の駆動側(パルス入力側)端子に接続され、検出時には駆動パルス電位、待機時は例えばグランド電位に切り替えることができる。これにより、外部ノイズ(外部電場)に対するシールド効果を発揮することができる。これにより、入力装置100Eは、背面板50Eが絶縁体である場合、あるいはグランド電位に接続されていない場合であっても、背面板50E側からの外部ノイズに対するシールド効果を維持し、導体板50Eを省略することが可能となる。したがって、背面板50Eの材料選択性を高め、コスト的に有利な構成とすることができる。なお、Y電極220Eは、検出時、待機時にかかわらずグランド電位に接続されていてもよい。   As shown in FIG. 44, the Y electrode 220E is connected to a drive side (pulse input side) terminal of the controller 710, for example, and can be switched to a drive pulse potential during detection and to a ground potential during standby, for example. Thereby, the shielding effect with respect to external noise (external electric field) can be exhibited. Thereby, the input device 100E maintains the shielding effect against the external noise from the back plate 50E side even when the back plate 50E is an insulator or is not connected to the ground potential, and the conductor plate 50E. Can be omitted. Therefore, the material selectivity of the back plate 50E can be improved and a cost-effective configuration can be obtained. The Y electrode 220E may be connected to the ground potential regardless of detection or standby.

さらに、背面板50Eを導体板で構成し、Y電極220E及び背面板50Eの双方をグランド電位に接続することにより、さらに強固なシールド効果を発揮することが可能となる。これにより、外部ノイズに対して安定な検出部20Esとすることができ、検出感度を安定して維持することができる。   Further, by configuring the back plate 50E as a conductor plate and connecting both the Y electrode 220E and the back plate 50E to the ground potential, it is possible to exert a stronger shielding effect. Thereby, it can be set as the detection part 20Es stable with respect to external noise, and a detection sensitivity can be maintained stably.

なお、第2の構造例の場合は、Y電極220Eが平板状になっており、検出部20Esと金属膜12との距離の変化を検出することが可能に構成される。これにより、図25に示すような、検出部20Esと金属膜12の距離がより大きく変化することが可能で、かつ第2の構造体410が検出部20Esに対向して配置されている構成が好ましい。このような構成とすることで、より大きな検出感度を得ることができる。   In the case of the second structure example, the Y electrode 220E has a flat plate shape, and is configured to be able to detect a change in the distance between the detection unit 20Es and the metal film 12. Thereby, as shown in FIG. 25, the distance between the detection unit 20Es and the metal film 12 can be changed more greatly, and the second structure 410 is arranged to face the detection unit 20Es. preferable. With such a configuration, greater detection sensitivity can be obtained.

[変形例]
(変形例1)
図46は、入力装置100D(第1の構成例)の変形例に係る電極構成を示す模式的な平面図であり、図46AはX電極210Dの構成例、図46BはY電極220Dの構成例を示す。図46A,Bに示すように、X電極210D及びY電極220Dは、それぞれ、単位電極体210Dm及び単位電極体220Dmを有してもよい。図46Aに示すように、X電極210Dの単位電極体210Dmは、平板状の電極であり、図46Bに示すように、Y電極220Dの単位電極体220Dmは、複数のサブ電極220Dwにより構成されている。本変形例において、各単位電極体220Dの複数のサブ電極220Dwは、電極群として機能する。
[Modification]
(Modification 1)
46 is a schematic plan view showing an electrode configuration according to a modification of the input device 100D (first configuration example), FIG. 46A is a configuration example of the X electrode 210D, and FIG. 46B is a configuration example of the Y electrode 220D. Indicates. As shown in FIGS. 46A and 46B, the X electrode 210D and the Y electrode 220D may include a unit electrode body 210Dm and a unit electrode body 220Dm, respectively. As shown in FIG. 46A, the unit electrode body 210Dm of the X electrode 210D is a flat electrode, and as shown in FIG. 46B, the unit electrode body 220Dm of the Y electrode 220D is composed of a plurality of sub-electrodes 220Dw. Yes. In the present modification, the plurality of sub-electrodes 220Dw of each unit electrode body 220D functions as an electrode group.

(変形例2)
図47は、入力装置100E(第2の構成例)の変形例に係る電極構成を示す模式的な平面図であり、図47AはX電極210Eの構成例、図47BはY電極220Eの構成例を示す。図47A,Bに示すように、X電極210E及びY電極220Eは、変形例1と同様に、それぞれ、単位電極体210Em及び単位電極体220Emを有してもよい。図47Aに示すように、X電極210Eの単位電極体210Emは、複数のサブ電極210Ewにより構成され、図47Bに示すように、Y電極220Eの単位電極体220Emは、平板状の電極である。本変形例において、各単位電極体210Eの複数のサブ電極210Ewは、電極群として機能する。
(Modification 2)
47 is a schematic plan view showing an electrode configuration according to a modification of the input device 100E (second configuration example), FIG. 47A is a configuration example of the X electrode 210E, and FIG. 47B is a configuration example of the Y electrode 220E. Indicates. 47A and 47B, the X electrode 210E and the Y electrode 220E may have a unit electrode body 210Em and a unit electrode body 220Em, respectively, as in the first modification. As shown in FIG. 47A, the unit electrode body 210Em of the X electrode 210E is composed of a plurality of sub-electrodes 210Ew, and as shown in FIG. 47B, the unit electrode body 220Em of the Y electrode 220E is a flat electrode. In this modification, the plurality of sub-electrodes 210Ew of each unit electrode body 210E function as an electrode group.

(その他の変形例)
本実施形態において、X電極210D,210E、及びY電極220D、220Eの構成は上記構成に限定されるものではなく、X電極210D,210E、およびY電極220D,220Eの両方を平板状の電極で構成してもよい。
(Other variations)
In this embodiment, the configuration of the X electrodes 210D and 210E and the Y electrodes 220D and 220E is not limited to the above configuration, and both the X electrodes 210D and 210E and the Y electrodes 220D and 220E are flat electrodes. It may be configured.

<第6の実施形態>
図48Aは、本技術の第6の実施形態に係る入力装置100Fの外観の一例を示す斜視図であり、図48Bは、図48AのB−B方向から見た拡大断面図である。第6の実施形態に係る入力装置100Fは、全体として円筒形状を有している。したがって、入力操作面である第1の面110Fは、円筒面状を有している。入力装置100Fのその他の構成は、第1の実施形態に係る入力装置100と同様である。
<Sixth Embodiment>
FIG. 48A is a perspective view illustrating an example of the appearance of an input device 100F according to the sixth embodiment of the present technology, and FIG. 48B is an enlarged cross-sectional view viewed from the BB direction of FIG. 48A. The input device 100F according to the sixth embodiment has a cylindrical shape as a whole. Therefore, the first surface 110F that is the input operation surface has a cylindrical surface shape. Other configurations of the input device 100F are the same as those of the input device 100 according to the first embodiment.

電極基板20Fは、円筒状の面内方向に2次元配列された複数の検出部20Fsを含んでいる。図48Aには、複数の検出部20Fsが、円筒形状の電極基板20Fの周方向及び軸方向(高さ方向)に2次元配列されている例が示されている。また、図48Aに示す例では、円筒の上下端の円周方向に、第1及び第2の枠体320F,420Fが配置されている。これにより、入力装置100F全体の強度を高めることができる。   The electrode substrate 20F includes a plurality of detection units 20Fs that are two-dimensionally arranged in a cylindrical in-plane direction. FIG. 48A shows an example in which a plurality of detection units 20Fs are two-dimensionally arranged in the circumferential direction and the axial direction (height direction) of a cylindrical electrode substrate 20F. In the example shown in FIG. 48A, the first and second frames 320F and 420F are arranged in the circumferential direction of the upper and lower ends of the cylinder. Thereby, the intensity | strength of the input device 100F whole can be raised.

図48Bに示すように、本実施形態に係る入力装置100Fは、図1に係る入力装置100を、第1の面110(110F)を外側に向けて湾曲させた形状を有する。すなわち、入力装置100Fは、操作部材10Fと、導体板50Fと、電極基板20Fと、第1の支持体30Fと、第2の支持体40Fとを有し、これらの各構成要素が、円筒形状に湾曲して構成される。   As shown in FIG. 48B, the input device 100F according to the present embodiment has a shape in which the input device 100 according to FIG. 1 is curved with the first surface 110 (110F) facing outward. That is, the input device 100F includes an operation member 10F, a conductor plate 50F, an electrode substrate 20F, a first support 30F, and a second support 40F, and each of these components is cylindrical. It is configured to be curved.

このような入力装置100Fであっても、第1の面110Fの入力操作時の検出感度を高めることができ、タッチセンサやキーボード装置として使用することが可能となる。なお、入力装置100F全体の形状は円筒形状に限定されず、例えば扁平な筒状でもよく、断面が矩形の筒状に構成されてもよい。また、図48Aでは第1及び第2の枠体320F,420Fが円筒の上下端の円周方向にのみ配置されている例を示したが、これに限定されず、第1及び第2の枠体320F,420Fが縦方向(円筒の高さ方向)に沿って配置されていても良い。これにより、より強固な支持が可能になる。   Even with such an input device 100F, the detection sensitivity at the time of an input operation on the first surface 110F can be increased, and can be used as a touch sensor or a keyboard device. The overall shape of the input device 100F is not limited to a cylindrical shape, and may be, for example, a flat cylindrical shape or a cylindrical shape having a rectangular cross section. 48A shows an example in which the first and second frame bodies 320F and 420F are arranged only in the circumferential direction of the upper and lower ends of the cylinder, but the present invention is not limited to this, and the first and second frames are not limited thereto. The bodies 320F and 420F may be arranged along the vertical direction (the height direction of the cylinder). Thereby, stronger support is possible.

(変形例1)
図49Aは、本技術の第6の実施形態の変形例に係る入力装置100Fの構成の一例を示す斜視図である。本変形例に係る入力装置100Fは、全体として曲面状を有している。すなわち入力装置100Fは、矩形の入力装置を湾曲させた構成を有する。したがって、入力操作面である第1の面110Fは、曲面状を有している。また、電極基板(図示せず)は、円筒状の面内方向に2次元配列された複数の検出部20Fsを含んでいる。なお、入力装置100Fの全体形状は図49Aに示された例に限定されず、所望の曲面状とすることが可能である。
(Modification 1)
FIG. 49A is a perspective view illustrating an example of a configuration of an input device 100F according to a modification of the sixth embodiment of the present technology. The input device 100F according to this modification has a curved surface as a whole. That is, the input device 100F has a configuration in which a rectangular input device is curved. Therefore, the first surface 110F, which is the input operation surface, has a curved surface shape. The electrode substrate (not shown) includes a plurality of detection units 20Fs that are two-dimensionally arranged in a cylindrical in-plane direction. Note that the overall shape of the input device 100F is not limited to the example illustrated in FIG. 49A, and may be a desired curved surface.

(変形例2)
図49Bは、本技術の第6の実施形態の変形例に係る入力装置100Fの構成の一例を示す斜視図である。本変形例に係る入力装置100Fは、半円状に形成された2つのセンサ装置が結合し、1つの入力装置100Fを構成している。すなわち入力装置100Fは、各センサ装置に対応する2つの検出領域200を有し、全体として円筒形状に構成される。なお、検出領域200の数は限定されず、3以上の検出領域200を有していてもよい。また、入力装置100F全体の形状も、円筒形状に限定されない。例えば入力装置100Fが4つの検出領域200を有し、4つの検出領域200各々が各面を構成するように、断面が矩形状の筒状に構成されてもよい。
(Modification 2)
FIG. 49B is a perspective view illustrating an example of a configuration of an input device 100F according to a modification of the sixth embodiment of the present technology. In the input device 100F according to this modification, two sensor devices formed in a semicircular shape are combined to constitute one input device 100F. That is, the input device 100F has two detection regions 200 corresponding to the sensor devices, and is configured in a cylindrical shape as a whole. Note that the number of detection areas 200 is not limited, and three or more detection areas 200 may be provided. Further, the overall shape of the input device 100F is not limited to a cylindrical shape. For example, the input device 100F may have four detection regions 200, and each of the four detection regions 200 may have a rectangular cross section.

以上、本技術の実施形態について説明したが、本技術は上述の実施形態にのみ限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。   As mentioned above, although embodiment of this technique was described, this technique is not limited only to the above-mentioned embodiment, Of course, in the range which does not deviate from the summary of this technique, various changes can be added.

例えば、入力装置が、金属膜を有さず、操作子と導体層各々とX,Y電極との容量結合による検出部の静電容量変化を検出するようにしてもよい。この場合には、操作部材として、絶縁材料で構成されたフレキシブルシート(第2の実施形態参照)を用いることができる。このような構成によっても、第1及び第2の支持体が操作子と導体層各々と検出部との距離を変化させ、操作位置及び押圧力の検出精度の高い入力装置とすることができる。   For example, the input device may not have a metal film, and may detect a change in capacitance of the detection unit due to capacitive coupling between the operation element, each of the conductor layers, and the X and Y electrodes. In this case, a flexible sheet made of an insulating material (see the second embodiment) can be used as the operation member. Also with such a configuration, the first and second supports can change the distances between the operation element, the conductor layer, and the detection unit, and an input device with high detection accuracy of the operation position and the pressing force can be obtained.

また、以上の実施形態では、第1の構造体の直下に検出部が配置される構成として説明したが、これに限定されない。例えば検出部が、第2の構造体各々と対向してそれぞれ形成されてもよく、あるいは第1及び第2の構造体の双方とも対向しない位置に配置されてもよい。このような構成によっても、上述の実施形態と同様に、高い精度で操作位置及び押圧力を検出することが可能となる。   Moreover, although the above embodiment demonstrated as a structure by which a detection part is arrange | positioned directly under the 1st structure, it is not limited to this. For example, the detection unit may be formed to face each of the second structures, or may be arranged at a position that does not face both the first and second structures. Even with such a configuration, it is possible to detect the operation position and the pressing force with high accuracy as in the above-described embodiment.

以上の実施形態では、検出部が相互キャパシタンス方式の容量素子を構成すると説明したが、自己キャパシタンス方式の容量素子を構成してもよい。この場合は、金属膜及び導体層各々と検出部に含まれる電極層との静電容量の変化量に基づいて、入力操作を検出することができる。   In the above embodiment, it has been described that the detection unit constitutes a mutual capacitance type capacitive element, but a self capacitance type capacitive element may be constructed. In this case, the input operation can be detected based on the amount of change in capacitance between the metal film and the conductor layer and the electrode layer included in the detection unit.

以上の実施形態においては、複数の第1の構造体の間に第1の空間部が配置され、かつ複数の第2の構造体の間に第2の空間部が配置されると説明したが、この構成に限定されない。例えば、複数の第1及び第2の空間部の全部または一部に相当する領域に、弾性材料等が充填されていてもよい。充填される弾性材料等は、電極基板や操作部材等の変形を妨げないものであれば、特に限定されない。   In the above embodiment, it has been described that the first space portion is disposed between the plurality of first structures, and the second space portion is disposed between the plurality of second structures. The configuration is not limited to this. For example, an elastic material or the like may be filled in a region corresponding to all or part of the plurality of first and second space portions. The elastic material to be filled is not particularly limited as long as it does not hinder the deformation of the electrode substrate and the operation member.

また、第1及び第2の支持体30,40が、それぞれ第1及び第2の枠体320,330を有さない構成としてもよい。   Further, the first and second support bodies 30 and 40 may be configured not to have the first and second frame bodies 320 and 330, respectively.

また、入力装置は、平板状の構成や、第6の実施形態で説明した構成に限定されず、例えば第1の面が不定形な板状として構成されてもよい。すなわち本技術のセンサ装置は、全体としてフレキシブルな構成であるため、自由度の高い実装方法が可能となる。   Further, the input device is not limited to the flat plate-like configuration or the configuration described in the sixth embodiment, and may be configured, for example, as a plate having an irregular first surface. That is, since the sensor device of the present technology has a flexible configuration as a whole, a mounting method with a high degree of freedom is possible.

なお、本技術は以下のような構成も採ることができる。
(1)変形可能なシート状の第1の導体層と、
上記第1の導体層に対向して配置される第2の導体層と、
複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記第1及び第2の導体層の間に変形可能に配置された電極基板と、
上記第1の導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体を有する第1の支持体と、
上記第2の導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体を有する第2の支持体と
を具備するセンサ装置。
(2)変形可能なシート状の第1の導体層と、
上記第1の導体層に対向して配置される第2の導体層と、
複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記第1及び第2の導体層の間に変形可能に配置され、上記第1及び第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出することが可能な電極基板と、
上記第1の導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、上記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する第1の支持体と、
隣り合う上記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され上記第2の導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、上記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する第2の支持体と
を具備するセンサ装置。
(3)上記(1)または(2)に記載のセンサ装置であって、
上記電極基板は、上記複数の第1の電極線と上記複数の第2の電極線との交差領域に各々形成され、上記第1及び第2の導体層各々との相対距離に応じて容量が可変の複数の検出部をさらに有する
センサ装置。
(4)上記(3)に記載のセンサ装置であって、
上記複数の検出部は、上記複数の第1の構造体各々と対向してそれぞれ形成される
センサ装置。
(5)上記(3)に記載のセンサ装置であって、
上記複数の検出部は、上記複数の第2の構造体各々と対向してそれぞれ形成される
センサ装置。
(6)上記(1)から(5)のうちいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
上記第1の支持体は、上記第1の導体層と上記電極基板との間を接続し上記電極基板の周縁に沿って配置される第1の枠体を有し、
上記第2の支持体は、上記第2の導体層と上記電極基板との間を接続し上記第1の枠体と対向して配置される第2の枠体を有する
センサ装置。
(7)上記(1)から(6)のうちいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
上記第2の導体層は、段差部を有する
センサ装置。
(8)上記(1)に記載のセンサ装置であって、
上記電極基板は、上記第1及び第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出することが可能に構成される
センサ装置。
(9)上記(1)または(8)に記載のセンサ装置であって、
上記第1の支持体は、
上記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部をさらに有する
センサ装置。
(10)上記(1)、(8)または(9)のうちのいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
上記第2の支持体は、
上記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部をさらに有する
センサ装置。
(11)上記(1)、(2)、(8)〜(10)のうちのいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
上記複数の第1の電極線各々は、複数の第1のサブ電極をそれぞれ含む複数の第1の単位電極体を有し、
上記複数の第2の電極線各々は、複数の第2のサブ電極をそれぞれ含み上記複数の第1の単位電極体各々と対向する複数の第2の単位電極体を有し、
上記電極基板は、
上記複数の第1の電極線と上記複数の第2の電極線とが配置された基材と、
各第1の単位電極体の上記複数の第1のサブ電極と各第2の単位電極体の上記複数の第2のサブ電極とが上記電極基板の面内方向に相互に対向する複数の検出部とを有する
センサ装置。
(12)ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、上記第1の面の反対側の第2の面とを有する変形可能なシート状の操作部材と、
上記第2の面に対向して配置される導体層と、
複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記第1の電極と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記操作部材と上記導体層の間に変形可能に配置された電極基板と、
上記操作部材と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体を有する第1の支持体と、
上記導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体を有する第2の支持体と
を具備する入力装置。
(13)ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、前記第1の面の反対側の第2の面とを有する変形可能なシート状の操作部材と、
前記第2の面に対向して配置される第1の導体層と、
複数の第1の電極線と、前記複数の第1の電極線に対向して配置され前記第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、前記操作部材と前記第1の導体層の間に変形可能に配置され、前記第1の導体層との距離の変化を静電的に検出することが可能な電極基板と、
前記操作部材と前記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、前記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する第1の支持体と、
隣り合う前記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され前記第1の導体層と前記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、前記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する第2の支持体と
を具備する入力装置。
(14)上記(12)に記載の入力装置であって、
上記操作部材は、上記第2の面に形成される第2の導体層をさらに有し、
上記検出基板は、上記第1の導体層と上記第2の導体層との距離の変化をそれぞれ静電的に検出することが可能である
入力装置。
(15)上記(12)または(13)に記載の入力装置であって、
上記操作部材は、表示部を含む
入力装置。
(16)上記(12)または(13)に記載の入力装置であって、
上記操作部材は、複数のキー領域を含む
入力装置。
(17)上記(16)に記載の入力装置であって、
上記電極基板は、上記複数の第1の電極線と上記複数の第2の電極線との交差領域に各々形成され、上記第1の導体層との相対距離に応じて容量が可変の複数の検出部をさらに有する
入力装置。
(18)上記(17)に記載の入力装置であって、
上記電極基板に電気的に接続され、上記複数の検出部の出力に基づいて上記複数のキー領域各々に対する入力操作に関する情報を生成することが可能な制御部をさらに具備する
入力装置。
(19)上記(16)から(18)のうちいずれか1つに記載の入力装置であって、
上記複数の第1の構造体各々は、上記複数のキー領域間の境界に沿って配置される
入力装置。
(20)上記(12)から(19)のうちいずれか1つに記載の入力装置であって、
上記複数の第1の電極線各々は、上記複数の第2の電極線よりも上記操作部材側に配置された平板状の電極であり、
上記複数の第2の電極線各々は、複数の電極群を含む
入力装置。
(21)ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、上記第1の面の反対側の第2の面と、上記第2の面に形成される金属膜とを有する変形可能なシート状の操作部材と、
上記第2の面に対向して配置される背面板と、
複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記操作部材と上記背面板の間に変形可能に配置され、上記金属膜との距離の変化を静電的に検出することが可能な電極基板と、
上記操作部材と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、上記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する第1の支持体と、
隣り合う上記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され上記背面板と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、上記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する第2の支持体と
を具備する入力装置。
(22)上記(21)に記載の入力装置であって、
上記複数の第2の電極線各々は、上記複数の第1の電極線よりも上記背面板側に配置された平板状の電極であり、
上記複数の第1の電極線各々は、複数の電極群を含む
入力装置。
(23)ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、上記第1の面の反対側の第2の面とを有する変形可能なシート状の操作部材と、
上記第2の面に対向して配置される導体層と、
複数の第1の電極線と、上記複数の第1の電極線に対向して配置され上記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、上記操作部材と上記導体層の間に変形可能に配置され、上記導体層との距離の変化を静電的に検出することが可能な電極基板と、
上記第操作部材と上記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、上記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する第1の支持体と、
隣り合う上記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され上記導体層と上記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、上記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する第2の支持体と、
上記電極基板に電気的に接続され、上記電極基板の出力に基づいて上記複数の操作部材各々に対する入力操作に関する情報を生成することが可能な制御部を有するコントローラと
を具備する電子機器。
In addition, this technique can also take the following structures.
(1) a deformable sheet-like first conductor layer;
A second conductor layer disposed opposite the first conductor layer;
A plurality of first electrode lines, and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines, An electrode substrate that is deformably disposed between the second conductor layers;
A first support having a plurality of first structures connecting between the first conductor layer and the electrode substrate;
A sensor device comprising: a second support body having a plurality of second structures connecting between the second conductor layer and the electrode substrate.
(2) a deformable sheet-like first conductor layer;
A second conductor layer disposed opposite the first conductor layer;
A plurality of first electrode lines, and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines, An electrode substrate that is deformably disposed between the second conductor layers and capable of electrostatically detecting a change in distance from each of the first and second conductor layers;
A plurality of first structures that connect between the first conductor layer and the electrode substrate; and a first space formed between the plurality of first structures. A support;
Between the plurality of second structures disposed between the plurality of adjacent first structures and connecting between the second conductor layer and the electrode substrate, and the plurality of second structures. A second support body having a second space formed in the sensor device.
(3) The sensor device according to (1) or (2) above,
The electrode substrate is formed in an intersection region between the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines, and has a capacitance according to a relative distance between each of the first and second conductor layers. A sensor device further comprising a plurality of variable detection units.
(4) The sensor device according to (3) above,
The plurality of detection units are respectively formed to face each of the plurality of first structures.
(5) The sensor device according to (3) above,
The plurality of detection units are respectively formed to face each of the plurality of second structures.
(6) The sensor device according to any one of (1) to (5) above,
The first support body includes a first frame body connected between the first conductor layer and the electrode substrate and disposed along a periphery of the electrode substrate,
The second support body includes a second frame body that is disposed between the second conductor layer and the electrode substrate so as to face the first frame body.
(7) The sensor device according to any one of (1) to (6) above,
The second conductor layer has a step portion.
(8) The sensor device according to (1) above,
The electrode substrate is configured to be capable of electrostatically detecting a change in distance from each of the first and second conductor layers.
(9) The sensor device according to (1) or (8) above,
The first support is
A sensor device further comprising: a first space portion formed between the plurality of first structures.
(10) The sensor device according to any one of (1), (8), and (9) above,
The second support is
The sensor device further comprising a second space portion formed between the plurality of second structures.
(11) The sensor device according to any one of (1), (2), and (8) to (10),
Each of the plurality of first electrode lines has a plurality of first unit electrode bodies each including a plurality of first sub-electrodes,
Each of the plurality of second electrode lines includes a plurality of second unit electrode bodies each including a plurality of second sub-electrodes and facing each of the plurality of first unit electrode bodies,
The electrode substrate is
A base material on which the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines are disposed;
A plurality of detections in which the plurality of first sub-electrodes of each first unit electrode body and the plurality of second sub-electrodes of each second unit electrode body face each other in the in-plane direction of the electrode substrate A sensor device.
(12) a deformable sheet-like operation member having a first surface that receives an operation by a user and a second surface opposite to the first surface;
A conductor layer disposed to face the second surface;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the first electrode, the operation member and the conductor layer An electrode substrate disposed so as to be deformable between,
A first support having a plurality of first structures connecting between the operation member and the electrode substrate;
An input device comprising: a second support body having a plurality of second structures that connect between the conductor layer and the electrode substrate.
(13) A deformable sheet-like operation member having a first surface that accepts an operation by a user and a second surface opposite to the first surface;
A first conductor layer disposed opposite to the second surface;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the first electrode lines; An electrode substrate that is deformably disposed between one conductor layer and capable of electrostatically detecting a change in distance from the first conductor layer;
A first support body having a plurality of first structures connecting between the operation member and the electrode substrate, and a first space formed between the plurality of first structures; ,
Between the plurality of second structures and the plurality of second structures that are respectively disposed between the plurality of adjacent first structures and that connect the first conductor layer and the electrode substrate. An input device comprising: a second support body having a second space portion formed in
(14) The input device according to (12) above,
The operation member further includes a second conductor layer formed on the second surface,
The input device is capable of electrostatically detecting a change in the distance between the first conductor layer and the second conductor layer.
(15) The input device according to (12) or (13) above,
The operation member is an input device including a display unit.
(16) The input device according to (12) or (13) above,
The operation member includes an input device including a plurality of key areas.
(17) The input device according to (16) above,
The electrode substrate is formed in an intersection region between the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines, and has a plurality of capacitances that are variable according to a relative distance from the first conductor layer. An input device further comprising a detection unit.
(18) The input device according to (17) above,
An input device further comprising a control unit electrically connected to the electrode substrate and capable of generating information related to an input operation for each of the plurality of key regions based on outputs of the plurality of detection units.
(19) The input device according to any one of (16) to (18),
Each of the plurality of first structures is arranged along a boundary between the plurality of key regions.
(20) The input device according to any one of (12) to (19),
Each of the plurality of first electrode lines is a flat electrode disposed on the operation member side with respect to the plurality of second electrode lines,
Each of the plurality of second electrode lines includes a plurality of electrode groups.
(21) A deformable sheet-like operation having a first surface that accepts an operation by a user, a second surface opposite to the first surface, and a metal film formed on the second surface. Members,
A back plate disposed to face the second surface;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the first electrode lines, the operating member and the back surface An electrode substrate that is arranged between the plates so as to be deformable and can electrostatically detect a change in distance from the metal film;
A first support body having a plurality of first structures connecting between the operation member and the electrode substrate, and a first space formed between the plurality of first structures; ,
Formed between the plurality of second structures and the plurality of second structures arranged between the plurality of adjacent first structures and connecting the back plate and the electrode substrate. An input device comprising: a second support body having a second space portion.
(22) The input device according to (21) above,
Each of the plurality of second electrode lines is a flat electrode disposed on the back plate side with respect to the plurality of first electrode lines,
Each of the plurality of first electrode lines includes a plurality of electrode groups.
(23) a deformable sheet-like operation member having a first surface that accepts an operation by a user and a second surface opposite to the first surface;
A conductor layer disposed to face the second surface;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines; An electrode substrate that is deformably disposed between the conductor layers and capable of electrostatically detecting a change in distance from the conductor layers;
A first support body having a plurality of first structures connecting between the first operation member and the electrode substrate, and a first space formed between the plurality of first structures. When,
Formed between the plurality of second structures and the plurality of second structures arranged between the plurality of adjacent first structures and connecting between the conductor layer and the electrode substrate. A second support having a second space portion;
An electronic device comprising: a controller having a control unit that is electrically connected to the electrode substrate and capable of generating information related to an input operation on each of the plurality of operation members based on an output of the electrode substrate.

1…センサ装置
100,100A,100B、100C,100D,100E,100F…入力装置
10,10A,10B,10D,10F…操作部材
11…フレキシブルディスプレイ(表示部)
12…金属膜(第1の導体層)
20,20A,20D,20E,20F…電極基板
20s,20Cs,20Ds…検出部
210…第1の電極線
220…第2の電極線
30,30F…第1の支持体
310…第1の構造体
320…第1の枠体
330…第1の空間部
40,40F…第2の支持体
410…第2の構造体
420…第2の枠体
430…第2の空間部
50,50B,50C…導体層(第2の導体層)
50E,50F…背面板
51,51B,51C…段差部
60…制御部
70,70B…電子機器
710…コントローラ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Sensor apparatus 100, 100A, 100B, 100C, 100D, 100E, 100F ... Input device 10, 10A, 10B, 10D, 10F ... Operation member 11 ... Flexible display (display part)
12 ... Metal film (first conductor layer)
20, 20A, 20D, 20E, 20F ... electrode substrate 20s, 20Cs, 20Ds ... detection unit 210 ... first electrode wire 220 ... second electrode wire 30, 30F ... first support 310 ... first structure 320 ... 1st frame 330 ... 1st space part 40, 40F ... 2nd support body 410 ... 2nd structure 420 ... 2nd frame body 430 ... 2nd space part 50, 50B, 50C ... Conductor layer (second conductor layer)
50E, 50F ... Back plate 51, 51B, 51C ... Step part 60 ... Control part 70, 70B ... Electronic device 710 ... Controller

Claims (23)

変形可能なシート状の第1の導体層と、
前記第1の導体層に対向して配置される第2の導体層と、
複数の第1の電極線と、前記複数の第1の電極線に対向して配置され前記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、前記第1及び第2の導体層の間に変形可能に配置された電極基板と、
前記第1の導体層と前記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体を有する第1の支持体と、
前記第2の導体層と前記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体を有する第2の支持体と
を具備するセンサ装置。
A deformable sheet-like first conductor layer;
A second conductor layer disposed opposite to the first conductor layer;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines, An electrode substrate that is deformably disposed between the second conductor layers;
A first support having a plurality of first structures connecting between the first conductor layer and the electrode substrate;
A sensor device comprising: a second support body having a plurality of second structures connecting between the second conductor layer and the electrode substrate.
変形可能なシート状の第1の導体層と、
前記第1の導体層に対向して配置される第2の導体層と、
複数の第1の電極線と、前記複数の第1の電極線に対向して配置され前記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、前記第1及び第2の導体層の間に変形可能に配置され、前記第1及び第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出することが可能な電極基板と、
前記第1の導体層と前記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、前記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する第1の支持体と、
隣り合う前記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され前記第2の導体層と前記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、前記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する第2の支持体と
を具備するセンサ装置。
A deformable sheet-like first conductor layer;
A second conductor layer disposed opposite to the first conductor layer;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines, An electrode substrate that is deformably disposed between the second conductor layers and capable of electrostatically detecting a change in distance from each of the first and second conductor layers;
A plurality of first structures that connect between the first conductor layer and the electrode substrate; and a first space formed between the plurality of first structures. A support;
Between the plurality of second structures and the plurality of second structures that are respectively disposed between the plurality of adjacent first structures and that connect the second conductor layer and the electrode substrate. A second support body having a second space formed in the sensor device.
請求項1又は2に記載のセンサ装置であって、
前記電極基板は、前記複数の第1の電極線と前記複数の第2の電極線との交差領域に各々形成され、前記第1及び第2の導体層各々との相対距離に応じて容量が可変の複数の検出部をさらに有する
センサ装置。
The sensor device according to claim 1 or 2,
The electrode substrate is formed in an intersection region of the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines, respectively, and has a capacitance according to a relative distance between each of the first and second conductor layers. A sensor device further comprising a plurality of variable detection units.
請求項3に記載のセンサ装置であって、
前記複数の検出部は、前記複数の第1の構造体各々と対向してそれぞれ形成される
センサ装置。
The sensor device according to claim 3,
The plurality of detection units are formed to face each of the plurality of first structures, respectively.
請求項3に記載のセンサ装置であって、
前記複数の検出部は、前記複数の第2の構造体各々と対向してそれぞれ形成される
センサ装置。
The sensor device according to claim 3,
The plurality of detection units are formed to face the plurality of second structures, respectively.
請求項1〜5のいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
前記第1の支持体は、前記第1の導体層と前記電極基板との間を接続し前記電極基板の周縁に沿って配置される第1の枠体を有し、
前記第2の支持体は、前記第2の導体層と前記電極基板との間を接続し前記第1の枠体と対向して配置される第2の枠体を有する
センサ装置。
The sensor device according to any one of claims 1 to 5,
The first support body includes a first frame body that connects between the first conductor layer and the electrode substrate and is disposed along a periphery of the electrode substrate;
The second support body includes a second frame body that is disposed between the second conductor layer and the electrode substrate so as to face the first frame body.
請求項1〜6のいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
前記第2の導体層は、段差部を有する
センサ装置。
The sensor device according to any one of claims 1 to 6,
The second conductor layer has a step portion.
請求項1に記載のセンサ装置であって、
前記電極基板は、前記第1及び第2の導体層各々との距離の変化を静電的に検出することが可能に構成される
センサ装置。
The sensor device according to claim 1,
The electrode substrate is configured to be capable of electrostatically detecting a change in distance from each of the first and second conductor layers.
請求項1又は8に記載のセンサ装置であって、
前記第1の支持体は、
前記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部をさらに有する
センサ装置。
The sensor device according to claim 1 or 8,
The first support is
A sensor device further comprising a first space portion formed between the plurality of first structures.
請求項1、8又は9に記載のセンサ装置であって、
前記第2の支持体は、
前記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部をさらに有する
センサ装置。
The sensor device according to claim 1, 8 or 9,
The second support is
A sensor device further comprising a second space portion formed between the plurality of second structures.
請求項1、2、8〜10のいずれか1つに記載のセンサ装置であって、
前記複数の第1の電極線各々は、複数の第1のサブ電極をそれぞれ含む複数の第1の単位電極体を有し、
前記複数の第2の電極線各々は、複数の第2のサブ電極をそれぞれ含み前記複数の第1の単位電極体各々と対向する複数の第2の単位電極体を有し、
前記電極基板は、
前記複数の第1の電極線と前記複数の第2の電極線とが配置された基材と、
各第1の単位電極体の前記複数の第1のサブ電極と各第2の単位電極体の前記複数の第2のサブ電極とが前記電極基板の面内方向に相互に対向する複数の検出部とを有する
センサ装置。
A sensor device according to any one of claims 1, 2, 8-10,
Each of the plurality of first electrode lines includes a plurality of first unit electrode bodies each including a plurality of first sub-electrodes,
Each of the plurality of second electrode lines includes a plurality of second unit electrode bodies each including a plurality of second sub-electrodes and facing each of the plurality of first unit electrode bodies,
The electrode substrate is
A base material on which the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines are disposed;
A plurality of detections in which the plurality of first sub-electrodes of each first unit electrode body and the plurality of second sub-electrodes of each second unit electrode body face each other in the in-plane direction of the electrode substrate A sensor device.
ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、前記第1の面の反対側の第2の面とを有する変形可能なシート状の操作部材と、
前記第2の面に対向して配置される第1の導体層と、
複数の第1の電極線と、前記複数の第1の電極線に対向して配置され前記第1の電極と交差する複数の第2の電極線とを有し、前記操作部材と前記導体層の間に変形可能に配置された電極基板と、
前記操作部材と前記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体を有する第1の支持体と、
前記導体層と前記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体を有する第2の支持体と
を具備する入力装置。
A deformable sheet-like operation member having a first surface for accepting an operation by a user and a second surface opposite to the first surface;
A first conductor layer disposed opposite to the second surface;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the first electrode; and the operating member and the conductor layer An electrode substrate disposed so as to be deformable between,
A first support body having a plurality of first structures connecting between the operation member and the electrode substrate;
An input device comprising: a second support having a plurality of second structures that connect between the conductor layer and the electrode substrate.
ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、前記第1の面の反対側の第2の面とを有する変形可能なシート状の操作部材と、
前記第2の面に対向して配置される導体層と、
複数の第1の電極線と、前記複数の第1の電極線に対向して配置され前記第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、前記操作部材と前記導体層の間に変形可能に配置され、前記導体層との距離の変化を静電的に検出することが可能な電極基板と、
前記操作部材と前記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、前記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する第1の支持体と、
隣り合う前記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され前記導体層と前記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、前記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する第2の支持体と
を具備する入力装置。
A deformable sheet-like operation member having a first surface for accepting an operation by a user and a second surface opposite to the first surface;
A conductor layer disposed to face the second surface;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the first electrode lines, the operation member and the conductor An electrode substrate that is deformably disposed between the layers and capable of electrostatically detecting a change in distance to the conductor layer;
A first support body having a plurality of first structures connecting between the operation member and the electrode substrate, and a first space formed between the plurality of first structures; ,
Formed between the plurality of second structures and the plurality of second structures respectively disposed between the plurality of adjacent first structures and connecting between the conductor layer and the electrode substrate. An input device comprising: a second support body having a second space portion.
請求項12に記載の入力装置であって、
前記操作部材は、前記第2の面に形成される第2の導体層をさらに有し、
前記電極基板は、前記第1の導体層と前記第2の導体層との距離の変化をそれぞれ静電的に検出することが可能である
入力装置。
An input device according to claim 12,
The operation member further includes a second conductor layer formed on the second surface,
The electrode substrate is capable of electrostatically detecting a change in distance between the first conductor layer and the second conductor layer.
請求項12又は14に記載の入力装置であって、
前記操作部材は、表示部を含む
入力装置。
The input device according to claim 12 or 14,
The operation member includes an input device including a display unit.
請求項12又は13に記載の入力装置であって、
前記操作部材は、複数のキー領域を含む
入力装置。
The input device according to claim 12 or 13,
The input member includes a plurality of key areas.
請求項16に記載の入力装置であって、
前記電極基板は、前記複数の第1の電極線と前記複数の第2の電極線との交差領域に各々形成され、前記第1の導体層との相対距離に応じて容量が可変の複数の検出部をさらに有する
入力装置。
The input device according to claim 16, wherein
The electrode substrate is formed in an intersecting region of the plurality of first electrode lines and the plurality of second electrode lines, and a plurality of capacitors whose capacitance is variable according to a relative distance from the first conductor layer. An input device further comprising a detection unit.
請求項17に記載の入力装置であって、
前記電極基板に電気的に接続され、前記複数の検出部の出力に基づいて前記複数のキー領域各々に対する入力操作に関する情報を生成することが可能な制御部をさらに具備する
入力装置。
An input device according to claim 17,
An input device further comprising a control unit electrically connected to the electrode substrate and capable of generating information related to an input operation for each of the plurality of key regions based on outputs of the plurality of detection units.
請求項16〜18のいずれか1つに記載の入力装置であって、
前記複数の第1の構造体各々は、前記複数のキー領域間の境界に沿って配置される
入力装置。
The input device according to any one of claims 16 to 18, comprising:
Each of the plurality of first structures is arranged along a boundary between the plurality of key regions.
請求項12〜19のいずれか1つに記載の入力装置であって、
前記複数の第1の電極線各々は、前記複数の第2の電極線よりも前記操作部材側に配置された平板状の電極であり、
前記複数の第2の電極線各々は、複数の電極群を含む
入力装置。
The input device according to any one of claims 12 to 19,
Each of the plurality of first electrode lines is a flat electrode disposed on the operation member side with respect to the plurality of second electrode lines,
Each of the plurality of second electrode lines includes a plurality of electrode groups.
ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、前記第1の面の反対側の第2の面と、前記第2の面に形成される導体層とを有する変形可能なシート状の操作部材と、
前記第2の面に対向して配置される背面板と、
複数の第1の電極線と、前記複数の第1の電極線に対向して配置され前記第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、前記操作部材と前記背面板の間に変形可能に配置された電極基板と、
前記操作部材と前記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体を有する第1の支持体と、
前記背面板と前記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体を有する第2の支持体と
を具備する入力装置。
A deformable sheet-like operation member having a first surface for receiving an operation by a user, a second surface opposite to the first surface, and a conductor layer formed on the second surface;
A back plate disposed to face the second surface;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged to face the plurality of first electrode lines and intersecting the first electrode lines, the operating member and the back surface An electrode substrate disposed in a deformable manner between the plates;
A first support body having a plurality of first structures connecting between the operation member and the electrode substrate;
An input device comprising: a second support having a plurality of second structures connecting between the back plate and the electrode substrate.
請求項21に記載の入力装置であって、
前記複数の第2の電極線各々は、前記複数の第1の電極線よりも前記背面板側に配置された平板状の電極であり、
前記複数の第1の電極線各々は、複数の電極群を含む
入力装置。
The input device according to claim 21, wherein
Each of the plurality of second electrode lines is a flat electrode disposed on the back plate side with respect to the plurality of first electrode lines,
Each of the plurality of first electrode lines includes a plurality of electrode groups.
ユーザによる操作を受け付ける第1の面と、前記第1の面の反対側の第2の面とを有する変形可能なシート状の操作部材と、
前記第2の面に対向して配置される導体層と、
複数の第1の電極線と、前記複数の第1の電極線に対向して配置され前記複数の第1の電極線と交差する複数の第2の電極線とを有し、前記操作部材と前記導体層の間に変形可能に配置され、前記導体層との距離の変化を静電的に検出することが可能な電極基板と、
前記第操作部材と前記電極基板との間を接続する複数の第1の構造体と、前記複数の第1の構造体の間に形成された第1の空間部とを有する第1の支持体と、
隣り合う前記複数の第1の構造体間にそれぞれ配置され前記導体層と前記電極基板との間を接続する複数の第2の構造体と、前記複数の第2の構造体の間に形成された第2の空間部とを有する第2の支持体と、
前記電極基板に電気的に接続され、前記電極基板の出力に基づいて前記複数の操作部材各々に対する入力操作に関する情報を生成することが可能な制御部を有するコントローラと
を具備する電子機器。
A deformable sheet-like operation member having a first surface for accepting an operation by a user and a second surface opposite to the first surface;
A conductor layer disposed to face the second surface;
A plurality of first electrode lines; and a plurality of second electrode lines arranged opposite to the plurality of first electrode lines and intersecting the plurality of first electrode lines; An electrode substrate that is deformably disposed between the conductor layers and capable of electrostatically detecting a change in distance to the conductor layers;
A first support body having a plurality of first structures connecting between the first operation member and the electrode substrate, and a first space formed between the plurality of first structures. When,
Formed between the plurality of second structures and the plurality of second structures respectively disposed between the plurality of adjacent first structures and connecting between the conductor layer and the electrode substrate. A second support having a second space portion;
An electronic apparatus comprising: a controller having a control unit that is electrically connected to the electrode substrate and capable of generating information related to an input operation on each of the plurality of operation members based on an output of the electrode substrate.
JP2016230288A 2013-02-12 2016-11-28 Sensor device, input device and electronic apparatus Active JP6269789B2 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013024941 2013-02-12
JP2013024941 2013-02-12

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013184402A Division JP6119518B2 (en) 2013-02-12 2013-09-05 Sensor device, input device and electronic apparatus

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018000113A Division JP6521105B2 (en) 2013-02-12 2018-01-04 Sensor device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017041282A true JP2017041282A (en) 2017-02-23
JP6269789B2 JP6269789B2 (en) 2018-01-31

Family

ID=58203575

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016230288A Active JP6269789B2 (en) 2013-02-12 2016-11-28 Sensor device, input device and electronic apparatus
JP2018000113A Active JP6521105B2 (en) 2013-02-12 2018-01-04 Sensor device
JP2019085953A Active JP6806183B2 (en) 2013-02-12 2019-04-26 Sensor device and input device

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018000113A Active JP6521105B2 (en) 2013-02-12 2018-01-04 Sensor device
JP2019085953A Active JP6806183B2 (en) 2013-02-12 2019-04-26 Sensor device and input device

Country Status (1)

Country Link
JP (3) JP6269789B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6269789B2 (en) * 2013-02-12 2018-01-31 ソニー株式会社 Sensor device, input device and electronic apparatus
US20210278293A1 (en) * 2018-06-28 2021-09-09 Sony Corporation Sensor, input apparatus, and electronic device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001334356A (en) * 2000-05-26 2001-12-04 Sony Corp Method for injection molding low melting point metallic material, injection molding apparatus and metallic box body
JP2011154512A (en) * 2010-01-27 2011-08-11 Hitachi Displays Ltd Input device and display device provided therewith
JP2011175528A (en) * 2010-02-25 2011-09-08 Hitachi Displays Ltd Display device having touch panel
US20120038583A1 (en) * 2010-08-16 2012-02-16 Perceptive Pixel Inc. Force and true capacitive touch measurement techniques for capacitive touch sensors
JP2014179062A (en) * 2013-02-12 2014-09-25 Sony Corp Sensor device, input device and electronic apparatus

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997040482A1 (en) * 1996-04-24 1997-10-30 Logitech, Inc. Touch and pressure sensing method and apparatus
JP2002342034A (en) * 2001-05-16 2002-11-29 Fujikura Ltd Touch panel
JP5370723B2 (en) * 2008-09-29 2013-12-18 株式会社ジャパンディスプレイ Capacitance type input device, display device with input function, and electronic device
JP2012178093A (en) * 2011-02-28 2012-09-13 Japan Display East Co Ltd Touch panel device
JP6269789B2 (en) * 2013-02-12 2018-01-31 ソニー株式会社 Sensor device, input device and electronic apparatus

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001334356A (en) * 2000-05-26 2001-12-04 Sony Corp Method for injection molding low melting point metallic material, injection molding apparatus and metallic box body
JP2011154512A (en) * 2010-01-27 2011-08-11 Hitachi Displays Ltd Input device and display device provided therewith
JP2011175528A (en) * 2010-02-25 2011-09-08 Hitachi Displays Ltd Display device having touch panel
US20120038583A1 (en) * 2010-08-16 2012-02-16 Perceptive Pixel Inc. Force and true capacitive touch measurement techniques for capacitive touch sensors
JP2014179062A (en) * 2013-02-12 2014-09-25 Sony Corp Sensor device, input device and electronic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018077891A (en) 2018-05-17
JP6269789B2 (en) 2018-01-31
JP6806183B2 (en) 2021-01-06
JP2019133714A (en) 2019-08-08
JP6521105B2 (en) 2019-05-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6119518B2 (en) Sensor device, input device and electronic apparatus
JP6288073B2 (en) Sensor device, input device and electronic device
JP6304235B2 (en) Sensor device, input device and electronic device
JP2015190859A (en) Sensor device, input device, and electronic apparatus
KR102358388B1 (en) Capacitive sensor for detecting touch position and pressing force
US10394339B2 (en) Sensor, input device, keyboard, and electronic device
JP6561835B2 (en) Sensor device, input device and electronic apparatus
US10234959B2 (en) Input apparatus, keyboard, and electronic apparatus
JP2015056005A (en) Sensor device, input device, and electronic equipment
JP6314986B2 (en) Sensor, input device and electronic device
JP6806183B2 (en) Sensor device and input device

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161227

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161227

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170929

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A132

Effective date: 20171010

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171218

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6269789

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151