JP2016540614A - 1つになっているoctダーモスコピーおよびエピルミネッセンスダーモスコピーを用いた、皮膚科学のための診断装置 - Google Patents
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- A61B2576/00—Medical imaging apparatus involving image processing or analysis
- A61B2576/02—Medical imaging apparatus involving image processing or analysis specially adapted for a particular organ or body part
Abstract
画像化システムの使用のためのシステムおよび方法が提示される。ある実施形態において、上記画像化システムは、第一の光学経路、第二の光学経路、複数の光学素子、検出器およびプロセッサを含んでいる。上記第一の光学経路は、エピルミネッセンスと関連付けられている第一の照射ビームを導き、一方、上記第二の光学経路は、光干渉断層計と関連付けられている第二の照射ビームを導く。上記複数の光学素子は、上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームをサンプル上に送る。上記検出器は、上記サンプルから戻ってくる上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている光学データを生成する。上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている上記光学データは、上記サンプルの実質的に同一平面にない複数の領域に対応している。上記プロセッサは、上記第一のビームの光学データを上記第二のビームの光学データと相関させ、上記サンプルの画像を生成する。
Description
〔背景技術〕
〔分野〕
本発明の実施形態は、質を向上させた上記サンプルの表面画像および深部画像を生成するために、サンプルのエピルミネッセンスデータおよび光干渉断層計データを集め、かつ相関させる画像化装置の設計、およびそれを用いる方法に関する。
〔分野〕
本発明の実施形態は、質を向上させた上記サンプルの表面画像および深部画像を生成するために、サンプルのエピルミネッセンスデータおよび光干渉断層計データを集め、かつ相関させる画像化装置の設計、およびそれを用いる方法に関する。
〔背景〕
皮膚鏡検査は、がんの発見および他の悪性皮膚疾患のために、ヒト上皮の画像を生成するために、医療従事者によって長年にわたって使用されている。皮膚鏡検査のための最も一般的な用途の1つは、皮膚がん、黒色腫、非黒色腫皮膚癌(NMSC)(基底細胞癌(BCC)および扁平上皮癌(SCC)が挙げられる)、および他の皮膚疾患(紫外線角膜炎(AK)および乾癬が挙げられる)の早期発見および早期診断のためである。皮膚表面における、上記表面の可視化の質を向上させるための光の使用は、表面の可視化を向上させるための、皮膚の表面に対する光の使用は、エピルミネッセンス顕微鏡法(ELM)として知られている。
皮膚鏡検査は、がんの発見および他の悪性皮膚疾患のために、ヒト上皮の画像を生成するために、医療従事者によって長年にわたって使用されている。皮膚鏡検査のための最も一般的な用途の1つは、皮膚がん、黒色腫、非黒色腫皮膚癌(NMSC)(基底細胞癌(BCC)および扁平上皮癌(SCC)が挙げられる)、および他の皮膚疾患(紫外線角膜炎(AK)および乾癬が挙げられる)の早期発見および早期診断のためである。皮膚表面における、上記表面の可視化の質を向上させるための光の使用は、表面の可視化を向上させるための、皮膚の表面に対する光の使用は、エピルミネッセンス顕微鏡法(ELM)として知られている。
皮膚鏡検査は、従来、拡大鏡(典型的に×10)、非偏光光源、透明板、ならびに機器および皮膚の間にある液体媒体を備えており、したがって皮膚表面の反射によって妨げられない皮膚病変の検査を可能にする。より最新のいくつかの皮膚鏡検査は、液体媒体を使用しておらず、代わりに皮膚表面の反射を相殺するために偏光を使用している。
ELMは単独で、皮膚の表面の画像診断をもたらし、複数のELM源を用いる場合、皮膚表面の三次元モデルさえをもたらし得る。しかし、ELMデータは、皮膚の表面の下におけるなんらの画像および情報を、医療専門家に与えない。このようなデータは、がんの発見および診断、ならびに皮膚表面の下にある腫瘍または他の異常の位置を確認することに有用である。ELMデータ単独に基づく病変の検査は、差異に基づく十分な診断をもたらすことがしばしば不可能であり、医療専門家は、切除による生検に頼る必要がある。
光干渉断層計(OCT)は、広帯域光源(または掃引狭帯域源)および干渉検出システムを用いた、高い距離分解能を有している深さ方向に分解された情報を与える医療画像診断技術である。眼科および循環器科から産婦人科および生物学的組織の、インビトロにおける高解像度研究までに及ぶ、多くの用途が、見つかっている。OCTは、深さ方向に分解された画像化をもたらし得るが、かさばる装備を典型的に必要とする。
〔発明の概要〕
画像化システムおよび使用のための方法が提示される。上記画像化システムは、同じ装置からELMおよびOCTの両方の手法を用いて取得されたデータを集め、相関させる。
画像化システムおよび使用のための方法が提示される。上記画像化システムは、同じ装置からELMおよびOCTの両方の手法を用いて取得されたデータを集め、相関させる。
ある実施形態において、画像化システムは、第一の光学経路、第二の光学経路、複数の光学素子、検出器およびプロセッサを含んでいる。上記第一の光学経路は、エピルミネッセンスと関連付けられている第一の照射ビームを導き、一方、上記第二の光学経路は、光干渉断層計と関連付けられている第二の照射ビームを導く。上記複数の光学素子は、上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームをサンプル上に送る。上記検出器は、上記検出器において受け取られている、上記サンプルから反射または散乱された上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている光学データを生成する。上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている上記光学データは、上記サンプルの実質的に同一平面上にない複数の領域に対応している。上記プロセッサは、上記第一の照射ビームと関連付けられている上記光学データを、上記第二の照射ビームと関連付けられている上記光学データと相関させ、かつ上記相関させられている光学データに基づいて上記サンプルの画像を生成する。
他の実施形態において、ハンドヘルド画像化装置は、第一の光学経路、第二の光学経路、複数の光学素子、検出器および送信器を含んでいる。上記第一の光学経路は、エピルミネッセンスと関連付けられている第一の照射ビームを導き、一方、上記第二の光学経路は、光干渉断層計と関連付けられている第二の照射ビームを導く。上記複数の光学素子は、上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームをサンプル上に送る。上記検出器は、上記検出器において受け取られている、上記サンプルから反射または散乱された上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている光学データを生成する。上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている上記光学データは、上記サンプルの実質的に同一平面上にない複数の領域に対応している。上記送信器は、上記光学データを演算装置に送るように設計されている。
方法の例も説明されている。ある実施形態において、サンプルのエピルミネッセンスによる画像化と関連付けられている第一の光学データが受け取られる。上記サンプルの光干渉断層計による画像化と関連付けられている第二の光学データも受け取られる。ここで、上記第一の光学データおよび上記第二の光学データは、上記サンプルの実質的に同一平面上にない複数の領域に対応している。処理装置は、上記第一の光学データの1つ以上のフレームを、上記第二の光学データの1つ以上のフレームと相関させて、相関させられているデータを生成する。上記処理装置はまた、上記相関させられているデータに基づいて、上記サンプルの画像を生成する。
ある実施形態において、コンピュータ読み取り可能な一時的ではない記録媒体は、処理装置によって実行されるときに、以上に開示されている上記方法を上記処理装置に実行させる命令を含んでいる。
本発明のさらなる特徴および利点、ならびに本発明の実施形態の種々の構造および工程は、添付の図面を参照して以下に詳細について説明されている。なお、本発明は、本明細書において説明されている特定の実施形態に限定されない。このような実施形態は、ここでは例示の目的のみのために提示されている。さらなる実施形態は、本書類に含まれている教示に基づいて、当業者にとって明白である。
〔図面の簡単な説明〕
本書類に組み入れられており、本明細書の一部を形成している添付の図面は、本発明の実施形態を説明しており、本発明の本質を説明するために、また当業者が本発明を作製または使用するために、説明と共にさらに役立つ。
図1は、ある実施形態に係る、画像化システムを説明している。
図2は、ある実施形態に係る、サンプルの表面に対する2つの画像化平面を説明している。
図3A〜Dは、画像の平行移動および回転の影響を説明している。
図4A〜Bは、画像の面外回転の影響を説明している。
図5A〜Bは、画像の平行移動の影響を説明している。
図6は、例示の方法を説明している。
図7は、他の例示の方法を説明している。
図8は、種々の実施形態を実施するために有用な、例示のコンピュータシステムを説明している。
本発明の実施形態は、上記添付の図面を参照しながら説明される。
本書類に組み入れられており、本明細書の一部を形成している添付の図面は、本発明の実施形態を説明しており、本発明の本質を説明するために、また当業者が本発明を作製または使用するために、説明と共にさらに役立つ。
図1は、ある実施形態に係る、画像化システムを説明している。
図2は、ある実施形態に係る、サンプルの表面に対する2つの画像化平面を説明している。
図3A〜Dは、画像の平行移動および回転の影響を説明している。
図4A〜Bは、画像の面外回転の影響を説明している。
図5A〜Bは、画像の平行移動の影響を説明している。
図6は、例示の方法を説明している。
図7は、他の例示の方法を説明している。
図8は、種々の実施形態を実施するために有用な、例示のコンピュータシステムを説明している。
本発明の実施形態は、上記添付の図面を参照しながら説明される。
〔詳細な説明〕
特定の構成および配置が論じられているが、これは説明の目的のみのためになされていると理解されるべきである。当業者は、本発明の精神および範囲から離れることなく、他の構成および配置が用いられ得ることを認める。この発明がまた、種々の他の用途において採用され得ることは、当業者にとって明白である。
特定の構成および配置が論じられているが、これは説明の目的のみのためになされていると理解されるべきである。当業者は、本発明の精神および範囲から離れることなく、他の構成および配置が用いられ得ることを認める。この発明がまた、種々の他の用途において採用され得ることは、当業者にとって明白である。
なお、本明細書における「一実施形態」、「ある実施形態」、「例示の実施形態」などに対する言及は、説明されている実施形態が特定の特徴、構造または特性を含み得るが、すべての実施形態が上記特定の特徴、構造または特性を必ずしも含んでいなくてもよいことを示している。また、このような語句は、同じ実施形態に対して必ずしも言及していない。さらに、ある実施形態と関連付けて特定の特徴、構造または特性が説明されているとき、明示的に説明されているか否かに関係なく、他の実施形態と関連付けてこのような特徴、構造または特性をもたらすことは、当業者の知識の範囲にある。
ここにおける実施形態は、ELM画像およびOCT画像の両方から受け取られたデータを組み合わせて試験中のサンプルの質が向上させられている三次元画像を生成し、ヒトの上皮の試験に用いられ得る画像化装置に関する。ある実施形態において、データが獲得され三次元に纏め上げられることを可能とするために、2つの画像モダリティの画像化平面は、同一平面上にない。上記画像化装置は、独立した2つの光路(ELM光のための一方およびOCT光のための他方)を与えるために必要なすべての光学素子を含み得る。ある実施形態において、それぞれの光路は、1つ以上の光学素子を共有していてよい。これに関連して、用語「光」とは、広く解釈されるべきであり、電磁スペクトルの任意の波長を含み得ると理解されるべきである。一例において、上記ELM光は約400nm〜約700nmの間の可視波長を含んでおり、一方、上記OCT光は約700nm〜1500nmの間の近赤外波長を含んでいる。他の赤外範囲は、OCT光にも同様に利用され得る。さらに、上記ELM光または上記OCT光のいずれかは、単数の照射ビームまたは単数の照射ビームとして概念的に説明され得る。照射ビームは、1つ以上の任意の種類の光源から発生させられ得る。
上記ELM光および上記OCT光の両方から集められたデータは、生じた画像の質を向上させるために、時間的および/または空間的に相関させられ得る。例えば、上記画像化装置および上記サンプルの間の相対移動は、上記ELM画像における線形変換(平行移動および/または回転が挙げられる)を引き起こし得る。当該線形変換は、三次元モデルの正確な再構築を目的として、上記OCT画像の関連している位置を位置付けるために、検出され、使用され得る。さらに、上記画像化装置および上記サンプルの間の上記相対移動はまた、上記ELMデータにおける面外回転を引き起こし得る。当該面外回転は、上記OCTデータにおけるサンプルの分析をより良くすることを目的として、角度の相違の増加を活用するために、計算され、使用され得る。上記ELM画像およびOCT画像の間の上記相関に関して、ここにさらなる詳細が説明される。
ある実施形態よれば、図1は、画像化システムを説明している。上記画像化システムは、画像化装置102、演算装置130および表示部132を含んでいる。この例において、画像化装置102は、サンプル126からデータを集める。画像化装置102および演算装置130は、インターフェイス128を経由して通信により接続され得る。例えば、インターフェイス128は、物理的なケーブル接続、RF信号、赤外線またはBluetooth信号であってよい。画像化装置102は、インターフェイス128を通してデータ信号を送るように、および/または受け取るように設計された1つ以上の回路およびディスクリート素子を含み得る。
画像化装置102は、サンプル126からの画像データを集めると同時に、容易に手に収められるために適切な大きさおよび形状であり得る。一例において、画像化装置102は、ダーモスコープである。画像化装置102は、画像化装置102の内部にある種々の光学素子および電気素子を保護しており、包み込んでいる筐体104を含んでいる。一実施形態において、筐体104は、ユーザの手のための人間工学に基づいている意匠を含んでいる。画像化装置102はまた、ELM光およびOCT光の両方が透過できる光学窓106を含んでいる。筐体104の物質がELM光およびOCT光を実質的に透過させないのとは対照的に、光学窓106は、ELM光およびOCT光の大部分が透過することを可能にする材料を含み得る。光学窓106は、画像化装置102の遠位端に配置され得るが、その位置は限定されているとみなされるべきではない。
ある実施形態において、光学窓106は、画像化装置102の異なる領域に位置している2つ以上の部分を備えていてよい。光学窓106のそれぞれの部分は、光の特定の波長領域の大部分が透過することを可能とする材料を含み得る。例えば、光学窓106の一部分は、OCT光のために調整されていてよく、一方、光学窓106の他の部分は、ELM光のために調整され得る。
種々の照射信号は、光学窓106から出ているとき、または光学窓106に入っているときについて、説明されている。送られている照射線122は、ELM光およびOCT光の両方を含み得る。同様に、受け取られている照射線124は、サンプル126によって散乱および反射された少なくとも1つの光である、ELM光およびOCT光の両方を含み得る。他の画像化モダリティ(例えば、蛍光画像化またはハイパースペクトル画像化を含んでいる)も含まれていてよい。
ある実施形態によれば、画像化装置102は、複数の光学素子108を含んでいる。光学素子108は、光を送ることまたは受け取ることに用いられると当業者によって理解される1つ以上の素子(例えばレンズ、鏡、ダイクロイックミラー、格子および導波路など)を含み得る。上記導波路は、シングルモード光ファイバまたはマルチモード光ファイバを含み得る。さらに、上記導波路は、基板上にパターン化されているストリップ型導波路またはリブ型導波路を含み得る。上記ELM光およびOCT光は、同じ光学素子を共有していてよく、または他の例において、異なる光学素子は、それぞれの画像化モダリティのために用いられ、関連付けられている画像化モダリティのために調整されている特性を有している。
ある実施形態によれば、画像化装置102は、画像化装置102を通って上記ELM光を導くためのELM経路110、および画像化装置102を通って上記OCT光を導くためのOCT経路112を含んでいる。ELM経路110は、ELM光と関連付けられている光の集光および導光のために必要な、任意の特定の光学素子または電気光学素子を含み得る。同様に、OCT経路112は、OCT光と関連付けられている光の集光および導光のために必要な、任意の特定の光学素子または電気光学素子を含み得る。システム・オン・チップとして導入されているOCTシステムの例は、PCT出願第PCT/EP2012/059308号(2012年5月8日出願)に開示されており、ここでの言及によって、上記開示はその全体が組み入れられる。幾つかの実施形態において、OCT経路112の少なくとも一部において導入されている上記OCTシステムは、偏光感受型OCT(PS−OCT)システムまたはドップラーOCTシステムである。PS−OCTは、皮膚の火傷の検査に有用であり得る。一方、ドップラーOCTは、皮膚の腫瘍における血管新生についての、さらなるデータをもたらし得る。ELM経路110は、画像化装置102の内部に備えられているELM源114に対して接続され得る。同様に、OCT経路112は、OCT源114に対して接続され得る。ELM源114またはOCT源116のいずれかは、レーザダイオードまたは1つ以上のLEDを含み得る。ELM源114およびOCT源116は、任意の種類の広帯域光源であってよい。一実施形態において、ELM源114およびOCT源116の一方または両方は、画像化装置102から外部に物理的に位置しており、例えば、1つ以上の光ファイバを経由して、その光を画像化装置102に送っている。
一実施形態において、ELM経路110およびOCT経路112は、画像化装置102の内部にある同じ物理経路の少なくとも一部を共有している。例えば、同じ導波路(または導波路束)が、ELM光およびOCT光の両方を導くために用いられている。同様に、同じ導波路が、上記OCT光およびELM光を、光学窓106を通って送るため、および受け取るための両方に用いられていてよい。他の実施形態は、ELM光およびOCT光を導くための独立した導波路を、画像化装置102の内部に有していることを包含している。独立した導波路はまた、光学窓106を通って上記光を送るため、および受け取るために用いられ得る。ELM経路110およびOCT経路112のそれぞれが、集積光学素子に加えて自由空間型光学素子を含み得る。
ELM経路110およびOCT経路112は、種々の受動変調素子または能動変調素子を含み得る。例えば、いずれかの光学経路は、位相変調器、周波数シフタ、偏光子、デポラライザおよび群遅延素子を含み得る。複屈折の影響および/または色分散の影響を補正するように設計された素子が含まれていてよい。いずれかの経路に沿った上記光は、1つ以上の他の導波路の中にエバネッセント結合され得る。電気光学素子、熱光学素子または音響光学素子が、ELM経路110に沿った上記光またはOCT経路112に沿った上記光を、能動的に変調するために含まれていてよい。
ある実施形態によれば、検出器118は、画像化装置102の内部に含まれている。検出器118は、特定の波長範囲を検出するために調整されている2つ以上の検出器を含み得る。例えば、一方の検出器は、ELM光に対してより高感度であってよく、他方の検出器は、OCT光に対してより高感度であってよい。検出器118は、CCDカメラ、光ダイオードおよびCMOSセンサの1つ以上を含み得る。ある実施形態において、検出器118、ELM経路110およびOCT経路112のそれぞれは、同じ半導体基板上に一体となって集積されている。他の実施形態において、上記半導体基板はまた、ELM源114およびOCT源116の両方を含んでいる。他の実施形態において、検出器118、ELM経路110およびOCT経路112、ELM源114およびOCT源116のいずれか1つ以上は、同じ半導体基板上に含まれている。検出器118は、ELM光およびOCT光を受け取るように、かつ受け取られているELM光と関連している光学データおよび受け取られているOCT光と関連している光学データを生成するように設計されている。ある実施形態において、上記受け取られているELM光およびOCT光は、サンプル126から受け取られており、サンプル126と関連付けられている画像データをもたらす。生成された光学データは、アナログ電気信号またはデジタル電気信号であってよい。
ある実施形態において、画像化装置102は、処理回路120を含んでいる。処理回路120は、検出器118から生成された上記光学データを受け取り、当該光学データに対する処理操作を実行するように設計されている1つ以上の回路および/または処理素子を含み得る。例えば、処理回路120は、上記ELM光と関連付けられている画像を、上記OCT光と関連付けられている画像と相関させてよい。相関は、上記画像の間において時間的および/または空間的に行われ得る。処理回路はまた、相関させられたデータに基づいて、サンプル126の画像を画像処理技術によって生成するために用いられていてよい。上記画像データは、画像化装置102の内部に含まれているメモリ121に記録され得る。メモリ121は、任意の種類の不揮発性のメモリ(フラッシュメモリ、EPROMまたはハードディスクドライブなど)を含み得る。
他の実施形態において、画像処理技術を実施する処理回路120は、画像化装置102から離れて、演算装置130に含まれている。この実施形態において、画像化装置102内部にある処理回路120は、画像化装置102および演算装置130の間において、インターフェイス128を通してデータを送るように設計されている送信器を含んでいる。上記光学データに上記画像処理演算を実行して、サンプル126の画像を生成するために演算装置130を用いることは、画像化装置102の内部における処理の複雑さを減少させるために有用であり得る。上記サンプル画像を生成するための独立した演算装置を有していることは、上記画像を生成することの速度を高めること、および画像化装置102のコストを低下させることに寄与し得る。
上記ELMデータおよびOCTデータの両方に基づいている、サンプル126の生成された最終的な画像は、表示部132に示され得る。一例において、表示部132は、演算装置130に対して通信により接続されているモニタである。表示部132は、サンプル126の三次元画像を投影するように設計され得る。さらなる実施形態において、上記三次元画像はホログラムである。
ある実施形態において、画像化システム102は、サンプルの質を向上させた画像データを生成するために、異なる2つの光信号モダリティ(例えば、OCTおよびELM)からデータを集めることが可能である。上記データは、それぞれの信号モダリティと関連付けられている上記光を、実質的に同時に、送ることおよび受け取ることによって集められる。この例は、図2に説明されている。
図2は、ある実施形態にしたがって、2つの異なる画像モダリティによって画像化されるサンプル200を示している。像面Bは、サンプル200の表面を実質的に横切って位置している。一例において、像面Bは、上皮の表面202から取得されたELM画像に対応している。上記OCT画像が、上皮層202およびより深部の組織204の両方に対するデータをもたらすように、像面Aは、サンプル200の深さを通して取得されたOCT画像に対応している。一例において、像面Aに沿ったOCT画像データは、像面Aに沿って軸方向に走査することよって集められている。これらの軸方向の走査はまた、aスキャン(a-scan)として知られている。像面Aに沿って取得されたaスキャンを組み合わせることによって、サンプル200内部における、像面Aを横切るOCT画像が与えられる。
ある実施形態において、像面Aおよび像面Bは同一平面にない。一例(例えば、図2に示されている例など)において、像面Aは像面Bに対してと実質的に直角をなしている。像面Aはまた、無視できない長さにおいて像面Bと交差している。示されている2つより多い画像平面を生成するために、他の光源は、示されている2つの画像平面を超えて生成するために使用され得る。独立した2つの画像(例えば、像面Bに沿って取得されている画像とともに、像面Aに沿って取得されている画像)を用い、かつ相関させるとき、視差効果が計算に入れられるべきである。上記視差効果は、画像化装置102内部におけるELM経路110およびOCT経路112のいずれか一方または両方に沿って、光変調効果を用いて補正され得る。他の例において、上記視差効果は、上記ELM光およびOCT光がどこに送られ、集められたかについて正確な認識を用いることによって、画像処理中に補正され得る。
ある実施形態によれば、サンプルの表面について取得された上記ELM画像は、取得されている上記OCT画像と相関させられ得る。この相関の1つの利点は、上記ELM画像において観察される変形に基づいて、上記OCT画像の上記軸方向に走査される部分の正確な位置を決定する能力である。ある実施形態において、両方の画像モダリティは、2つのフレームの間における遅延が複数のモダリティの内部において識別されるように、すべてのフレームの、定時の取得をもたらす。複数の画像モダリティの間における複数のフレーム対のうちの、定められている少なくとも部分集合における取得は、実質的に同時である。
ある実施形態において、画像化装置102は、検査中のサンプルおよび両方の両画像化モダリティの視野(FOV)の間における相対的な変位を許容するように設計され得る。しかし、両方のFOVの間における相対位置は、画像化装置102の相対移動によって影響されるべきではない。一例において、この挙動は、画像化装置102に用いられているすべての光学素子の、受分に厳密な固定を介して達成され得る。ある実施形態によれば画像化装置102の移動の間に、2つの画像系列は、それぞれの画像モダリティに対応して生成され、ここで、これらの複数の画像のうちの、少なくとも2つの部分集合は、実質的に同時の方法において取得される複数のフレームによって形成されている。ELM画像データからの、時間的および空間的なサンプリングは、連続するフレームの間において無視できない重複を許容するために十分でなければならない。
図3A〜Dは、ELM画像の平行移動および回転の両方が、複数の実施形態にしたがって、取り込まれたOCT画像の位置を追跡するためにどのように使用され得るかを示している。図3Aは、例えばELMデータを用いて、画像化され得るサンプル表面301上にある病変302を示している。したがって、上記ELM画像は、サンプル表面301のほぼすべて含んでいるFOVを有し得る。ELM画像がサンプル表面301から取得されているときと実質的に同時に、OCT画像304は、病変302の部分を横切って取得される。マーク306aおよび306bは、サンプル表面301から取得される上記ELM画像の、続く図綿における相対移動を説明するためのガイドとして使用される。
ある実施形態によれば、上記ELM画像を用いることによって上記OCT上記位置を推定することは、上記皮膚表面および上記皮膚表面の直下にある領域の、完全かつ正確なデータの再構成を可能にする。相関関係がなければ、上記取り込まれたOCT画像にとっての基準がなく、したがって最終的な画像を再構成することは困難である。
図3Bは、図3Aにおいて取り込まれた上記ELM画像について実施されるFOVの回転を示している。例えば、図3Aからの、サンプル表面301のELM画像は、図3Bからのサンプル表面301のELM画像より前の、別の時点に取得され得る。ある実施形態において、ELM画像は、上記ELM画像のFOVに生じる任意の変化を捉えるために、所定のフレーム速度において連続的に取り込まれる。マーク306aおよび306bは、上記回転の結果として移動しており、またOCT画像304aにとっての、回転された新たな位置が生じている。マーク306aおよび306bからの、測定された回転の量は、元のOCT画像304および回転されたOCT画像304aの間の回転の量に等しくなるべきである。このようにして、上記集められたELM画像の上記表面データに施される画像処理技術は、回転の量を計算するために使用され得る。例えば、マーク306aおよび306bは、移動が容易に追跡され得る上記ELM画像内にある顕著な特徴を表し得る。
図3Cは、サンプル表面301に対する上記ELM画像の上記FOVの平行移動を示している。ここでは、マーク306aおよび306bは、平行移動させられたOCT画像304bと同じ距離を、平行移動させられている。図3Dは、回転が生じた(回転されたOCT画像304)か、平行移動が生じた(平行移動されたOCT画像304b)か、またはその両方に基づいて、OCT画像304にとっての見込まれる移動を位置付けることを、示している。ある実施形態において、移動の位置づけは、集められたOCT画像の、病変302を横切る移動を連続的に追跡するためにも、処理されるELM画像について連続的に更新される。
また、上記ELM画像は、上記サンプル表面について生じる面外回転を算出するために使用され得る。図4A〜Bは、ELM画像データを用いて面外回転を追跡することを示している。
図4Aは、例えばELMデータを用いて、画像化され得るサンプル表面401上の病変402を示している。したがって、上記ELM画像は、サンプル表面401のほぼすべてを含んでいるFOVを有し得る。ELM画像がサンプル表面401から取得されるときと実質的に同時に、OCT画像404は、病変402の一部を横切って取得される。マーク406aおよび406bは、サンプル表面401から取得されている進行中のELM画像における相対移動を示すためのガイドとして使用される。
図4Bは、サンプル表面401の上記ELM画像の上記FOVの、軸410についての回転を示している。上記回転は、画像の特徴406aおよび406bの、画像の特徴408aおよび408bのそれぞれへの位置の変化を生じさせる。詳細には、マーク408aは、上記回転のためにより大きく見え、マーク408bは、上記回転のためにより小さく見える(上記画像化装置が、図4A〜Bに対して上下を逆にする様式において上記ELM画像を取得している状況を想定している)。
上記面外回転は、画像の特徴406a〜408aの間ならびに画像の特徴406b〜408bの間において、計算による位置合わせ技術(オプティカルフローなど)を用いることによって算出され得る。また、上記オプティカルフローは、ELM画像の所定の領域内のみではなく、ほぼ全体他のELM画像からのデータを用いて算出され得ることが、理解され得るべきである。それから、この計算された回転は、集められたOCT画像404の上記位置を、修正するため、または追跡するために使用され得る。
上記面外回転は、画像の特徴406a〜408aの間ならびに画像の特徴406b〜408bの間において、計算による位置合わせ技術(オプティカルフローなど)を用いることによって算出され得る。また、上記オプティカルフローは、ELM画像の所定の領域内のみではなく、ほぼ全体他のELM画像からのデータを用いて算出され得ることが、理解され得るべきである。それから、この計算された回転は、集められたOCT画像404の上記位置を、修正するため、または追跡するために使用され得る。
ある実施形態において、上記ELM画像のサンプリング速度またはフレーム速度取り込みは、上記OCT画像と関連付けられているaスキャンの取り込みより高い。一例において、単一のOCT画像と関連付けられている種々のaスキャンが、取り込まれ、画像化装置102の移動は、単一の平面の全体にわたって取得されることのないaスキャンを生じさせ得る。この状況において、取り込まれたELM画像は、aスキャンの位置と相関させるため、および上記サンプルの表面を横切るOCT画像の経路を最終的に決定するために、使用され得る。この構想は、図5A〜5Bに示されている。
図5Aは、サンプルの表面に対する取り込まれたELM画像の例示の移動経路、および単一のOCT画像の取り込まれたaスキャンに対して生じている、関連している移動を示している。破線を用いた大きな四角形は、取り込まれたELM画像の、時間に応じて移動する(大きな矢印によって示されているように)位置を表しており、上記画像の中央における真っ直ぐな破線は、上記OCT画像が、時間を通してそれを横切って取得されている平面を表している。それぞれのOCT画像平面上にある大きい点501a〜fは、OCT画像平面を左から右に横切って走査しているaスキャンを表している。図に示すように、上記aスキャンは、上記サンプルの表面を横切る上記平行移動のために、単一の平面を横切って走査していない。
ある実施形態によれば、上記ELM画像の上記移動は、上記OCT画像の上記aスキャンの上記位置を追跡するために使用され得る。図5Bは、屈曲したその経路の全体を通して上記aスキャンを組み合わせることから、実際に集められたOCT画像502を示している。OCT画像502の上記経路は、aスキャン501a〜eの位置を、取り込まれたELM画像と相関させることによって決定され得る。
示されている画像処理分析のすべては、処理回路120によって実行されるか、または演算装置130によって、画像化装置102から隔てて実行され得る。上記分析は、隣接する連続するELM画像に対してか、または時間的にさらに離れて置おかれている画像の複数の対に対して、それらが同時に取得されているOCT画像であるか否かと関係なく、なされ得る。オプティカルフロー、異なる画像のフーリエ変換の間における位相差、または当業者に知られている他の画像位置合わせ技術といった方法が、この目的のために適用され得る。
いくつかの実施形態によれば、さらに、位置合わせされた画像の個々の対の間における移動および回転は、それぞれの収集されたエピルミネッセンスの画像およびそれぞれのOCT画像にとっての、基準座標のフレームに対する変形を生じさせるように、重ね合わせられるか、平均化されるか、またはそうでなければ結合され得る。個々の移動の上記組合せは、誤差の最小化を補助するために、画像化装置102、および画像化装置102内の複数の光学素子108の間における相対移動の推定と関連付けて実施され得る。このような推定は、カルマンフィルタまたはいくつかの他の種類の適応フィルタもしくは非適応フィルタを用いて実施され得る。これは、いくつかのOCT画像が実質的に同時にELM画像に対して取得されていないか、サンプリングが時間に応じて不均一であるか、または移動および回転の個々の計算が画質もしくはアルゴリズム実施のためにノイズの多いかと関連し得る。ある実施形態において、誤差を最小化するために用いられるフィルタは、処理回路120内のハードウェアにおいて実施される。しかし、他の実施形態は、画像処理手順の間に、ソフトウェアにおいて実施されるフィルタを有し得る。
上記ELM画像のために計算された種々の移動および回転は、それらを1つにするため、および拡張されたFOVを有しているELM画像を生じさせるために用いられ得る。このELM画像は、記録され得、ユーザに対して装置画面(例えば表示部132)上に示される。
他の実施形態において、上記ELM画像のために計算された種々の移動および回転は、関連付けられているOCT画像と相関させられ、上記データは三次元データセットを形成するために1つにされている。ある実施形態において、上記三次元データセットは、画像化されている上記サンプルの上記表面の下にある所定の深さにおける、高密度のサンプリングをもたらす。他の実施形態において、上記三次元データセットは、画像化されている上記サンプルの上記表面の下にある所定の深さにおける、低密度なサンプリングをもたらす。一例において、データサンプリングは、上記サンプルの上記表面の2mm下までの深さについて生じる。他の例において、データサンプリングは、上記サンプルの上記表面の3mm下までの深さについて生じる。上記三次元データセットは、上記サンプルの三次元画像として描写され得、表示部132に表示され得る。ある実施形態において、描写は、マーチングキューブス、レイトレーシング、または当業者に知られている他の任意の3Dレンダリング技術の少なくとも1つを用いて達成される。
ある実施形態において、上記ELM画像および上記OCT画像の間における相関は、複数の画像化モダリティの間における情報(メタデータなど)の移動に関する。例えば、1つの画像化モダリティにおける、自動的にか、またはユーザによって生成されている注釈および/またはマーカは、他の画像化モダリティの、関連付けられている画像に伝えられているそれらの情報を有し得る。1つの画像化モダリティからの、空間的または時間的と関連付けられている任意のメタデータは、他の画像化モダリティに伝えられ得る。具体的な1つの例としては、1つ以上のELM画像における腫瘍の縁を描写すること、およびそれから、上記OCTデータ内に腫瘍の境界を示すためにも、輪郭を描写しているマーカと関連付けられているデータを、相関されているOCT画像に移すことが挙げられる。複数の画像化モダリティの間における、データのそのような相互位置合わせはまた、モース術の案内のために病変の境界に印を付すことのため、または生検の位置を記録するために有用であり得る。
ある実施形態において、取り込まれた種々のOCT画像は、上記OCT画像化平面および上記サンプル表面の間における交差部分において、上記サンプルの上記表面を分割するために用いられ得る。交差部分のこれらの断片は、上記サンプル表面のトポグラフの近似を作成するために組み合わせられ得る。上記ELM画像データは、それから、上記OCTデータから生成された上記表面のトポロジーを「テクスチャにする(texture)」ために用いられ得る。例えば、上記OCT画像データは、サンプル表面トポロジーの、テクスチャなしのワイヤメッシュを生成するために用いられ得る。上記ELM画像データ、および必ずしも必要ではないが好ましくは、拡張されたFOVのELM画像データは、それから、上記サンプル表面の非常に微細なテクスチャを付した表面マップを生成するために、上記ワイヤメッシュの全体にわたって適用され得る。さらに、上記OCT画像は深さ方向に分解されたデータを与えるので、情報はまた、上記サンプル表面の下にある複数の層について、速やかに入手され得、可視化され得る。このような情報は、より速やかな診断を下すときに、保健医療の専門家および皮膚科医を補助し得、腫瘍の摘出手術のための計画を、生検なしに助け得る。
ある実施形態において、局地的な粗さのパラメータは、再構成されたサンプルの表面または個々のOCT画像から計算され得、かつ再構成されたサンプル画像と重ね合わせられ得るか、もしくはそうでなければ表示され得る。粗さのパラメータはまた、疑似色の段階または任意の他の可視化手法を用いて、再構成されたサンプル表面に位置付けられ得る。
ある実施形態において、OCT画像の収集は、集められている複数のELM画像の間における相対移動に基づいて引き起こされる。例えば、2つ以上のELM画像の間における平行移動が大きすぎると、画像化装置102は、上記サンプル表面を横切って過度に素早く通過し、上記OCT画像は不鮮明になる。このようにして、OCT画像は、OCTデータのより低いサンプリング頻度がデータ収集において誤りを生じない状態の間にのみ取り込まれる。他の例において、OCT画像は、取り込まれ続け、一部の画像は、取り込まれたELM画像の間における相対移動が、取り込まれたOCT画像内に過度に大きな劣化を引き起こしているとき、捨てられる。ELM画像系列から得られる画像の動きの推定はまた、両方のELM画像における動きのぶれモーションブラーを定量化するため、ならびにより低い画質の画像を、ノイズ除去するため、または少なくとも特定するために、使用され得る。他の実施形態において、所定の期間に移動がないとき、時間の経過の間に記録されている一連のOCT画像は、ノイズをなくすことおよび画質向上の目的のために組み合わせられ得、それによって、得られたOCT画像の質を向上させる。さらに、2つの異なる画像モダリティを用いることによって画質の向上をもたらすための手法が、同様に考慮されている。
他の実施形態において、三次元画像化能は、画像化装置102内に第二のELM経路を導入することによって向上させられ得る。上記第二のELM経路は、第一のELM経路から離れて配置され、2つの経路の間における位置の違いは、上記サンプル表面の立体的な三次元画像を生成するために、校正され得、利用され得る。
他の実施形態において、サンプル表面の三次元表現は、画像化装置102内の単一のELM経路を用いて生成され得る。時間的に連続する複数のELM画像の間において回収された移動情報は、取り込まれたELM画像のそれぞれについて、相対的な視点を推定するために用いられる。サンプル表面の三次元表現は、関連付けられているそれらの、サンプルの視点について、組み合わせられているELM画像およびデータから生成され得る。
ある実施形態に係る例示の方法600は、サンプルのELM画像データおよびOCT画像データの両方に基づいて、サンプル画像を生成することについて説明されている。方法600は、画像化装置102内の処理回路120、または演算装置130によって実施され得る。
ブロック602では、ELMと関連付けられている第一の光学データが受け取られる。上記第一の光学データは、無線インターフェイスを通して受け取られ得るか、または配線された回路を介して受け取られ得る。ある実施形態において、上記第一の光学データは、検出器がELMと関連付けられている光を受け取っているときに、当該検出器によって生成される。一例によれば、上記検出器によって受け取られる上記ELM光は、上記サンプルの表面から集められている。
ブロック604では、OCTと関連付けられている第二の光学データが受け取られる。上記第二の光学データは、無線インターフェイスを通して受け取られ得るか、または配線された回路を介して受け取られ得る。ある実施形態において、上記第二の光学データは、検出器がOCTと関連付けられている光を受け取っているときに、当該検出器によって生成される。一例によれば、上記検出器によって受け取られる上記OCT光は、サンプルの種々の深さから集められている。ある実施形態において、上記第一の光学データに対応している上記画像平面は、上記第二の光学データに対応している上記画像平面と同一平面にない。
ブロック606では、上記第一の光学データの1つ以上の画像は、上記第二の光学データの1つ以上の画像と相関させられる。相関は、2つのモダリティからの複数の間において、空間的または時間的に実施され得る。
ブロック608では、上記サンプルの画像は、ブロック606からの相関させられているデータを用いて、生成される。上記画像は、結合されているELMデータおよびOCTデータに基づく、上記サンプルの三次元表現であり得る。ある実施形態によれば、表面の粗さのデータは、算出され得、生成された画像に重ね合わさられ得る。
ある実施形態によれば、上記生成された画像は、上記サンプル表面だけでなく。当該サンプル表面の下にある種々の深さにおけるデータをもたらす。
ある実施形態によれば、上記生成された画像は、上記サンプル表面だけでなく。当該サンプル表面の下にある種々の深さにおけるデータをもたらす。
ある実施形態によれば、他の方法700は、上記サンプルのELM画像データおよびOCT画像データの両方に基づいて、サンプル画像を生成することについて説明されている。方法700は、画像化装置102内の処理回路120、または演算装置130によって実施され得る。
ブロック702では、第一の光学データおよび第二の光学データが受け取られる。上記第一の光学データは、測定されたELM画像データに対応し得、上記第二の光学データは、測定されたOCT画像データに対応し得る。ある実施形態において、上記第一の光学データに対応している画像平面は、上記第二の光学データに対応している画像平面と同一平面にない。
ブロック704では、平行移動および/または回転移動は、上記第一の光学データからの時間的について集められた画像に基づいて算出される。上記第一の光学データがELMデータであるとき、ELM画像は、ある期間の全体にわたって集めあれ得、当該画像が平行移動または回転している程度を決定するために分析され得る。上記ELM画像が集められているときと同じときに、OCT画像はまた集められ得る。一例において、OCT画像は、関連付けられているELM画像と実質的に同時に取り込まれる。
ブロック706では、上記第一の光学データは、上記第二の光学データと相関させられる。ELM画像は、実質的に同時に取り込まれ、かつ上記サンプルと交差している画像平面を有しているOCT画像と関連付けられ得る。上記ELM画像の算出された動きは、関連付けられているOCT画像の動きおよび位置を位置づけるために用いられ得る。上記第一の光学データおよび第二の光学データからの画像は、互いに時間的または空間的に相関させられ得る。
ブロック708では、三次元画像が、相関させられた光学データに基づいて生成される。上記画像は、組み合わされているELMデータおよびOCTデータに基づく、上記サンプルの三次元表現であり得る。例えば、上記ELM画像について計算された種々の移動および回転は、関連付けられているOCT画像の位置を位置付けるために使用され得、上記データは、ELM画像データを用いてテクスチャを付された表面データ、およびOCT画像データからの、深さ方向に分解されたデータの一方または両方をもたらす三次元モデルを形成するために1つにされる。
種々の方法が、結合されているOCTおよびELMデータを用いて、サンプル表面および深部のモデルを生成するために用いられ得る。例えば、上記OCTデータは、サンプル表面トポロジーの「ワイヤメッシュ」表現を生成するために用いられ得る。それから、上記ELMデータは、表面テクスチャのようなワイヤメッシュ表面に適用され得る。他の例としては、上記サンプルの表面トポロジーを精密にするためのボックスモデリング手法および/またはエッジモデリング手法が挙げられる。
種々の画像処理方法およびこれまでに説明されている他の実施形態は、例えば1つ以上の周知のコンピュータシステム(例えば、図8において示されているコンピュータシステム800)を用いて実施され得る。
コンピュータシステム800は、中央演算処理装置すなわちCPUとも呼ばれる1つ以上のプロセッサ(プロセッサ804など)を含んでいる。プロセッサ804は、通信インフラストラクチャーまたはバス806に接続されている。一実施形態において、プロセッサ804は、フィールドプラグラマブルゲートアレイ(FPGA)に相当する。他の実施形態において、プロセッサ804は、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)である。
1つ以上のプロセッサ804はそれぞれ、グラフィックスプロセッシングユニット(GPU)であり得る。ある実施形態において、GPUは、電子素子において数学的に膨大なアプリケーションを高速処理するように設計されている特殊化されている電子回路であるプロセッサである。GPUは、大きなブロックのデータ(例えば、コンピュータグラフィック・アプリケーション、画像および映像に共通する数学的に膨大なデータ)の並列処理に効率的である高度な並列構造を有し得る。
コンピュータシステム800はまた、(複数の)ユーザ入/出力装置インターフェイス802を通して通信インフラストラクチャー806と通信する(複数の)ユーザ入/出力装置803(例えば、モニタ、キーボード、位置指示装置など)を含んでいる。
コンピュータシステム800はまた、メインメモリすなわち主記憶装置808(例えばランダムアクセスメモリ(RAM))を含んでいる。メインメモリ808は、1次以上のキャッシュを含み得る。メインメモリ808は、制御論理(すなわちコンピュータソフトウェア)および/またはデータをそこに記憶している。ある実施形態において、少なくともメインメモリ808は、本明細書に説明されているように、実現され得、および/または機能し得る。
コンピュータシステム800はまた、1つ以上の補助記憶装置または補助メモリ810を含み得る。補助メモリ810は、例えば、ハードディスクドライブ812および/または取り外し可能な記憶装置もしくは取り外し可能な記憶装置駆動部814を含み得る。取り外し可能な記憶装置駆動部814は、フロッピーディスク駆動部、磁気テープ駆動部、コンパクトディスク駆動部、光学記憶装置、テープバックアップ装置および/または任意の他の記憶装置/記憶装置駆動部であり得る。取り外し可能な記憶装置駆動部814は、取り外し可能な記憶ユニット818と相互に作用し得る。取り外し可能な記憶ユニット818は、コンピュータソフトウェア(制御論理)および/またはデータをそれに記憶しているコンピュータ利用可能な記憶装置またはコンピュータ読み取り可能な記憶装置を含んでいる。取り外し可能な記憶ユニット818は、フロッピーディスク、磁気テープ、コンパクトディスク、デジタルバーサタイルディスク(DVD)、光学記憶ディスクおよび/他の任意のコンピュータデータ記憶装置であり得る。取り外し可能な記憶装置駆動部814は、周知の様式において、取り外し可能な記憶ユニット818からの読み取り、および/または取り外し可能な記憶ユニット818に書き込む。
補助メモリ810は、コンピュータプログラムおよび/または他の命令および/またはデータを、コンピュータシステム800によって利用可能にする他の手段(means)、手段(instrumentalities)またはアプローチを含み得る。このような手段、手段または他のアプローチとしては、例えば、取り外し可能な記憶ユニット822およびインターフェイス820が挙げられ得る。取り外し可能な記憶ユニット822およびインターフェイス820の例としては、(1)(例えば、ビデオゲーム装置に見られる)プログラムカートリッジおよびカートリッジインターフェイス、(2)取り外し可能なメモリチップ(EPROMまたはPROMなど)および関連しているソケット、(3)メモリスティックおよびユニバーサルシリアルバス(USB)ポート、(4)メモリカードおよび関連しているメモリカードスロット、および/または(5)任意の他の取り外し可能な記憶ユニットおよび関連しているインターフェイスが挙げられ得る。
コンピュータシステム800は、通信インターフェイスまたはネットワークインターフェイス824をさらに含み得る。通信インターフェイス824は、遠隔装置、遠隔ネットワーク、遠隔構成要素など(個別かつ集合的に、参照番号828によって指示されている)の任意の組み合わせと通信すること、および相互に作用することを、コンピュータシステム800に可能にする。例えば、通信インターフェイス824は、有線および/または無線であり得る通信経路826(ローカルエリアネットワーク(LAN)、ワイドエリアネットワーク(WAN)、インターネットなどの任意の組合せが挙げられ得る)を通してリモート装置828と通信することを、コンピュータシステム800に可能にし得る。制御論理および/またはデータは、通信経路826を介して、コンピュータシステム800に送られ得るか、および/またはコンピュータシステム800から送られ得る。
ある実施形態において、それに記憶されている制御論理(ソフトウェア)を有しているコンピュータ利用可能または読み取り可能な、実体のある媒体を含んでいる実体のある装置または物品はまた、本明細書において、コンピュータプログラム製品またはプログラム記憶装置と呼ばれている。これとしては、コンピュータシステム800、メインメモリ808、補助メモリ810、および取り外し可能な記憶ユニット818および822、ならびに上述の任意の組合せを具体化する製造物の、実体のある物品が挙げられるが、これらに限定されない。このような制御論理は、1つ以上のデータ処理装置(例えばコンピュータシステム800)によって実行されるとき、当該データ処理装置を本明細書に説明されているように動作させる。
この開示に含まれている教示に基づくと、データ処理装置、コンピュータシステムおよび/または図8に示されている以外のコンピュータアーキテクチャを用いて、どのように本発明を作製し、かつ使用するのかは、当業者にとって明らかである。特に、複数の実施形態は、本明細書に説明されているもの以外の、ソフトウェア、ハードウェアおよび/またはオペレーティングシステムを用いて動作し得る。
発明の概要および要約の項目ではなく、発明を実施するための形態の項目が、特許請求の範囲を解釈するために用いられるべきことを目的としていることは、十分に理解されるべきである。発明の概要および要約の項目は、本発明者(ら)によって考慮されている、すべてではなく1つ以上の、本発明の例示的な実施形態を示し得、したがって、本発明および添付の特許請求の範囲をどのようにも限定することを目的としていない。
本発明の複数の実施形態は、具体化されたそれらの機能および関連性の実施を例証する機能的な構成単位の補助を受けて以上に説明されている。これらの機能的な構成単位の境界は、説明の便宜のために、任意に決められている。代替的な境界は、具体化されたそれらの機能および関連性が実施される限りにおいて、決められ得る。
上述した特定の実施形態の説明は、他者が、本発明の一般的な概念から逸脱することなく、過度の実験を必要とせずに、当該分野の技術の範囲内にある知識を適用することによって、そのような特定の実施形態を、種々の用途のために、容易に変更し得るか、および/または採用し得る本発明の全体的な性質を十分に明らかにしている。したがって、そのような採用および変更は、本明細書に示されている教示および指針に基づく、開示されている複数の実施形態の均等物の目的および範囲のなかにあると意図されている。本明細書における表現または用語は、本明細書の当該表現または用語が、教示および指針に鑑みて、当業者によって理解されるように、限定ではなく、説明を目的としていることが理解されるべきである。
本発明の広がりおよび範囲は、以上に説明されている例示的な実施形態のうちのいずれにも限定されず、以下の特許請求の範囲およびそれらの均等物にしたがってのみ、規定されている。
〔分野〕
本発明の実施形態は、質を向上させた上記サンプルの表面画像および深部画像を生成するために、サンプルのエピルミネッセンスデータおよび光干渉断層計データを集め、かつ相関させる画像化装置の設計、およびそれを用いる方法に関する。
本発明の実施形態は、質を向上させた上記サンプルの表面画像および深部画像を生成するために、サンプルのエピルミネッセンスデータおよび光干渉断層計データを集め、かつ相関させる画像化装置の設計、およびそれを用いる方法に関する。
皮膚鏡検査は、がんの発見および他の悪性皮膚疾患のために、ヒト上皮の画像を生成するために、医療従事者によって長年にわたって使用されている。皮膚鏡検査のための最も一般的な用途の1つは、皮膚がん、黒色腫、非黒色腫皮膚癌(NMSC)(基底細胞癌(BCC)および扁平上皮癌(SCC)が挙げられる)、および他の皮膚疾患(紫外線角膜炎(AK)および乾癬が挙げられる)の早期発見および早期診断のためである。皮膚表面における、上記表面の可視化の質を向上させるための光の使用は、表面の可視化を向上させるための、皮膚の表面に対する光の使用は、エピルミネッセンス顕微鏡法(ELM)として知られている。米国特許公報第2005/0171439号は、有用な背景情報を提供している。
〔詳細な説明〕
特定の構成および配置が論じられているが、これは説明の目的のみのためになされていると理解されるべきである。当業者は、他の構成および配置が用いられ得ることを認める。この発明がまた、種々の他の用途において採用され得ることは、当業者にとって明白である。
特定の構成および配置が論じられているが、これは説明の目的のみのためになされていると理解されるべきである。当業者は、他の構成および配置が用いられ得ることを認める。この発明がまた、種々の他の用途において採用され得ることは、当業者にとって明白である。
Claims (33)
- エピルミネッセンス顕微鏡と関連付けられている第一の照射ビームを導くように構成されている第一の光学経路;
光干渉断層計と関連付けられている第二の照射ビームを導くように構成されている第二の光学経路;
上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームをサンプル上に送るように構成されている複数の光学素子;
検出器において受け取られている、上記サンプルから反射または散乱された上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている光学データを生成するように構成されている検出器であって、上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている上記光学データは、上記サンプルの実質的に同一平面にない複数の領域に対応している、検出器;ならびに
上記第一の照射ビームと関連付けられている上記光学データを、上記第二の照射ビームと関連付けられている上記光学データと相関させ、かつ
上記相関させられている光学データに基づいて上記サンプルの画像を生成するように構成されているプロセッサ
を備えている、画像化システム。 - 上記第一の光学経路および第二の光学経路は、光ファイバを1つ以上備えている、請求項1に記載の画像化システム。
- 上記第一の光学経路および第二の光学経路は、基板上にパターン化されている導波路を1つ以上備えている、請求項1に記載の画像化システム。
- 上記第一の光学経路、上記第二の光学経路、上記複数の光学素子および上記検出器は、ハンドヘルド画像化装置の内部に配置されている、請求項1に記載の画像化システム。
- 上記ハンドヘルド画像化装置の一部は、上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームを実質的に透過させ、上記複数の光学素子は、上記ハンドヘルド画像化装置の上記一部を通して上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームを送るように構成されている、請求項4に記載の画像化システム。
- 上記ハンドヘルド画像化装置の第一の部分は、上記第一の照射ビームを実質的に透過させ、上記ハンドヘルド画像化装置の第二の部分は、上記第二の照射ビームを実質的に透過させ、
上記複数の光学素子の第一の部分は、上記第一の部分を通して上記第一の照射ビームを送るように構成されており、上記複数の光学素子の第二の部分は、上記第二の部分を通して上記第二の照射ビームを送るように構成されている、請求項4に記載の画像化システム。 - 上記プロセッサは、上記ハンドヘルド画像化装置の内部に含まれている、請求項4に記載の画像化システム。
- 上記プロセッサは、上記ハンドヘルド画像化装置に対して通信によって接続されている演算装置に含まれている、請求項4に記載の画像化システム。
- 上記サンプルの上記実質的に同一平面にない複数の領域は、上記サンプルの実質的に直交している複数の領域である、請求項1に記載の画像化システム。
- 上記第一の光学経路および上記第二の光学経路は、同じ物理経路の少なくとも一部を共有している、請求項1に記載の画像化システム。
- 上記検出器は、CCDカメラ、光ダイオードおよびCMOSセンサの少なくとも1つを備えている、請求項1に記載の画像化システム。
- 上記プロセッサは、上記サンプルの上記表面に対する、上記装置の平行移動および回転の少なくとも1つを計算するために、
上記第一の照射ビームと関連付けられている時間的に連続な光学データを分析し、かつ
上記第一の照射ビームの上記時間的に連続な光学データを使用するようにさらに構成されている、請求項1に記載の画像化システム。 - 上記プロセッサは、上記サンプルの上記表面を横切る上記平行移動が閾値を上回るときに、上記第二の照射ビームと関連付けられている上記光学データを、上記画像を生成するために使用しないように構成されている、請求項12に記載の画像化システム。
- 上記プロセッサは、上記計算された側方への移動および計算された回転の少なくとも1つに基づいて、上記第一の照射ビームと関連付けられている1つ以上の画像の位置を、上記第二の照射ビームと関連付けられている1つ以上の画像の位置と相関させるようにさらに構成されている、請求項12に記載の画像化システム。
- 上記プロセッサによって生成されている画像は、上記サンプルの上記表面上のデータ、および上記サンプル表面の下にある深部にまでわたるデータを与える上記サンプルの三次元画像である、請求項14に記載の画像化システム。
- 上記サンプルの上記表面上の上記データは、上記サンプルの上記表面の粗さと関連付けられているデータを含んでいる、請求項15に記載の画像化システム。
- 上記第一の照射ビームと関連付けられている上記1つ以上の画像と関連付けられているデータは、上記第二の照射ビームと関連付けられている1つ以上の画像に移されるか、またはその逆である、請求項1に記載の画像化システム。
- 上記データは、注釈、マーカまたはメタデータを含んでいる、請求項17に記載の画像化システム。
- 上記第二の光学経路は、偏光感受型光干渉断層計と関連付けられている第二の照射ビームを導くように構成されている、請求項1に記載の画像化システム。
- 上記第二の光学経路は、ドップラー光干渉断層計と関連付けられている第二の照射ビームを導くように構成されている、請求項1に記載の画像化システム。
- サンプルのエピルミネッセンス顕微鏡による画像化と関連付けられている第一の光学データを受け取ること;
上記サンプルの光干渉断層計による画像化と関連付けられている第二の光学データを受け取ることであって、上記第二の光学データと関連付けられている画像平面の方向に対する、上記サンプルの表面上にある上記第一の光学データと関連付けられている画像平面の方向は同一平面にない、受け取ること;
上記第一の光学データの1つ以上の画像を、上記第二の光学データの1つ以上の画像と、処理装置を用いて相関させて、相関させられているデータを生成すること;および
上記相関させられているデータに基づいて、上記処理装置を用いて上記サンプルの画像を生成すること
を含んでいる、方法。 - 上記サンプルからのエピルミネッセンスと関連付けられている第一の照射ビームを受け取るように構成されている検出器を用いて、第一の光学データを生成すること;および
上記サンプルからの光干渉断層撮影像と関連付けられている第二の照射ビームを受け取るように構成されている検出器を用いて、第二の光学データを生成すること
をさらに含んでいる、請求項21に記載の方法。 - 上記相関させることは、第一の光学データの1つ以上のフレームを、第二の光学データの1つ以上のフレームと時間的に相関させて、時間的に相関させられているデータを生成することを含んでいる、請求項21に記載の方法。
- 時間的に連続な第一の光学データの分析し、かつ
上記時間的に連続な第一のデータを用いて、上記サンプルの上記表面に対する平行移動および回転の少なくとも1つを計算することをさらに含んでいる、請求項21に記載の方法。 - 上記計算された側方への移動に基づいて、上記サンプルの上記表面を横切る上記生成されている画像の視野を拡張することをさらに含んでいる、請求項24に記載の方法。
- 上記相関させることは、上記画像化装置および上記サンプルの間における上記計算された平行移動および回転移動に基づいて、上記第一の光学データと関連付けられている1つ以上の画像フレームの位置を、上記第二の光学データと関連付けられている1つ以上の画像フレームの位置と相関させることを含んでいる、請求項24に記載の方法。
- 上記相関させることは、上記第一の光学データの上記1つ以上の画像と関連付けられているデータを、上記第二の光学データの上記1つ以上の画像に移すことか、またはその逆を含んでいる、請求項21に記載の方法。
- 上記データは、注釈、マーカおよびメタデータを含んでいる、請求項27に記載の方法。
- 上記生成することは、上記サンプルの三次元画像を生成することを含んでいる、請求項21に記載の方法。
- 上記生成された三次元画像を用いて、上記サンプルの上記表面の粗さを分析することをさらに含んでいる、請求項29に記載の方法。
- 上記サンプルの上記表面の下にある深部と関連付けられている悪性腫瘍のデータを分析することさらに含んでいる、請求項29に記載の方法。
- エピルミネッセンス顕微鏡と関連付けられている第一の照射ビームを導くように構成されている第一の光学経路;
光干渉断層計と関連付けられている第二の照射ビームを導くように構成されている第二の光学経路;
上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームを、サンプル上に送るように構成されている複数の光学素子;
検出器において受け取られている、上記サンプルから反射または散乱された上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている光学データを生成するように構成されている検出器であって、上記第一の照射ビームおよび第二の照射ビームと関連付けられている上記光学データは、上記サンプルの実質的に同一平面にない複数の領域と対応する、検出器;ならびに
上記光学データを演算装置に送るために構成された、送信器
を備えている、ハンドヘルド画像化装置。 - サンプルのエピルミネッセンス顕微鏡による画像化と関連付けられている、第一の光学データを受け取ること;
上記サンプルの光干渉断層計による画像化と関係づけられている第二の光学データ受け取ることであって、上記第二の光学データに対する上記第一の光学データは、上記サンプルの実質的に同一平面にない領域と対応する、受け取ること;
1つ以上のフレームの第一の光学データを、1つ以上のフレームの第二の光学データと相関させて、相関させられているデータを生成すること;および
上記相関させられているデータに基づいて、上記サンプルの画像を生成すること
を含んでいる方法を、処理装置によって実行されるときに実行させる、それに記録された命令を有している、コンピュータ読み取り可能な一時的ではない記録媒体。
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