JP2016534384A - レーザークリスタル - Google Patents
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 249
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 115
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 41
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 70
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 39
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 35
- 229910052950 sphalerite Inorganic materials 0.000 claims description 31
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims description 22
- 229910001428 transition metal ion Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 14
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 10
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 claims description 5
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims description 4
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910007709 ZnTe Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 230000005281 excited state Effects 0.000 claims description 3
- 230000005283 ground state Effects 0.000 claims description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000004772 tellurides Chemical class 0.000 claims description 2
- 150000003346 selenoethers Chemical class 0.000 claims 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 13
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 7
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- WGPCGCOKHWGKJJ-UHFFFAOYSA-N sulfanylidenezinc Chemical compound [Zn]=S WGPCGCOKHWGKJJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 150000004771 selenides Chemical class 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 229910005542 GaSb Inorganic materials 0.000 description 3
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 230000009021 linear effect Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N telluride(2-) Chemical compound [Te-2] XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 230000009022 nonlinear effect Effects 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 150000003842 bromide salts Chemical class 0.000 description 1
- -1 chalcogenide compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 1
- 150000003841 chloride salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 150000004673 fluoride salts Chemical class 0.000 description 1
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 150000004694 iodide salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 150000004763 sulfides Chemical class 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/106—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity
- H01S3/108—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using non-linear optical devices, e.g. exhibiting Brillouin or Raman scattering
- H01S3/109—Frequency multiplication, e.g. harmonic generation
- H01S3/1095—Frequency multiplication, e.g. harmonic generation self doubling, e.g. lasing and frequency doubling by the same active medium
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/11—Mode locking; Q-switching; Other giant-pulse techniques, e.g. cavity dumping
- H01S3/1106—Mode locking
- H01S3/1112—Passive mode locking
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/11—Mode locking; Q-switching; Other giant-pulse techniques, e.g. cavity dumping
- H01S3/1106—Mode locking
- H01S3/1112—Passive mode locking
- H01S3/1115—Passive mode locking using intracavity saturable absorbers
- H01S3/1118—Semiconductor saturable absorbers, e.g. semiconductor saturable absorber mirrors [SESAMs]; Solid-state saturable absorbers, e.g. carbon nanotube [CNT] based
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/14—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
- H01S3/16—Solid materials
- H01S3/1601—Solid materials characterised by an active (lasing) ion
- H01S3/162—Solid materials characterised by an active (lasing) ion transition metal
- H01S3/1623—Solid materials characterised by an active (lasing) ion transition metal chromium, e.g. Alexandrite
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- H01S3/1628—Solid materials characterised by a semiconducting matrix
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- H01S3/14—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S3/0816—Configuration of resonator having 4 reflectors, e.g. Z-shaped resonators
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Abstract
Description
また、本発明は、超短パルスを生成するレーザーシステム用の光学システム、とくにピコ秒およびフェムト秒のパルス持続時間を有する超短レーザーパルスを効率的に生成し、基本波長および/または二次高調波波長を放射するための光学システムの一部であるレーザー活性クリスタル(active laser cystal)に関するものである。
偶数のコヒーレンス長と等しい伝搬距離において、単色波の二次高調波信号が周期的に基本波に変換されゼロとなってしまい(back−convert to the fundamental and return to zero)位相が整合しないクリスタルの場合、上述の群速度のミスマッチにより二次高調波の発生強度が絶えず上昇することになる。というのは、二次高調波が基本波に完全に戻ってしまうことが群遅延によって回避されてしまうからである。高密度の媒質の典型的な分散値では、1ミリメートルの伝搬距離当たりの群速度のミスマッチが数百フェムト秒程度になってしまう場合もある。
本明細書では、「超短波」とは、1ナノ秒未満の時間幅を有するレーザーパルスのことを意味する。
本明細書に記載の第1の態様、第5の態様または第6の態様にかかる光学システムの好ましい構成要件を備えるレーザー増幅器もまた本発明の技術範囲内に含まれる。
後述のような好ましい構成要件を備える本発明は、光学的に励起されるさまざまな半導体レーザーにおいて用いることができる。これらのレーザーには、たとえば半導体および固体薄層ディスクレーザー、垂直外部共振器型面発光レーザー、他の外部共振器型ハイブリッドモード同期ダイオードレーザーならびにモード同期エイブガイドファイバーレーザーなどが含まれる。
Φ=90−arcsin((n1/n2)sinθi)
この式で、θiは入射角であり、n1はレーザーがクリスタルに入射する前に伝搬する媒質(通常空気)の屈折率であり、n2はクリスタルの屈折率である。
システムの出力が二次高調波を含むことが望ましい(すなわち、レーザー活性ゲイン媒質のクリスタル内のレーザーパルスの伝搬ベクトルが所定のクリスタル軸に対して実質的に平行となっていない)実施形態では、Φは、次の場合を除く0°と90°との間のいかなる値であってもよい:
90−arcsin((n1/n2)sinθi)
このことは、せん亜鉛鉱およびウルツ鉱についての次の表に概略的に要約されている:
屈折率n2を有するレーザー活性ゲイン媒質のクリスタルのクリスタル軸を特定する工程と、
屈折率n1を有する媒質からクリスタルに入射するレーザーパルスの所望の入射角θiを選択する工程と、
二次高調波の発生を最小限に抑えるため、Φ=90−arcsin((n1/n2)sinθi)であり、かつ、所望の入射角度θiで入射するレーザーパルスの伝搬ベクトルが所定のクリスタル軸に対して平行となるよう、または、
二次高調波の発生を増大させるため、Φ≠90−arcsin((n1/n2)sinθi)であり、かつ、所望の入射角度θiで入射するレーザーパルスの伝搬ベクトルが所定のクリスタル軸に対して平行とならないよう、所定のクリスタル軸に対してカット面がある角度Φを形成するようにクリスタルをカットする工程と、
レーザーパルスがクリスタルに所望の入射角度θiで入射するような向きにシステム内のクリスタルを配置する工程とを含んでいる。
Φ=90−arcsin((n1/n2)sinθi)
それにより、クリスタルは二次高調波の発生を最小限に抑えるように構成されるようになっている。
好ましくは、せん亜鉛鉱構造の場合、所定のクリスタル軸はクリスタル軸[100]、[010]、[001]のうちの1つのクリスタル軸であってもよい。また好ましくは、ウルツ鉱構造の場合、所定のクリスタル軸はクリスタル軸[0001]である。
Φ≠90−arcsin((n1/n2)sinθi)
それにより、クリスタルは二次高調波の発生を増大させるように構成されるようになっている。
前記の光学システム(第1の態様、第3の態様、第5の態様および第6の態様にかかる光学システムであって、好ましくはこれらに記載の好ましい構成のうちのいずれかをさらに備えている光学システム)は、レーザー放射線の二次高調波のレーザー活性ゲイン媒質のクリスタルへのリターンを防止するための光学素子を備えていてもよい。それに対応して、先に記載の方法(第2の態様または第4の態様にかかる方法であって、好ましくはこれらに記載の好ましい構成のうちのいずれかをさらに有している方法)は、二次高調波放射線の光学システムへのリターンを防止するための光学素子を提供するステップを有していてもよい。
それに加えてまたはそれに代えて、かかる光学システムは、レーザーパルスの持続時間よりも長い、レーザーパルスに対する群遅延を二次高調波放射線に与えるための光学素子を備えていてもよい。このような光学素子は、二次高調波放射線が有用な出力ではない場合、また、二次高調波放射線がシステムの有用な出力である場合に設けられるようになっていてもよい。これらの両方の場合において、非線形ミラー効果および他の非線形効果のマイナスの影響、たとえば時間変調またはスペクトル変調、モードロッキング不安定性および環境感度(基本パルスと二次高調波パルスとのオーバーラップにより引き起こされる)を減らすことが望ましい。
レーザー活性ゲイン媒質は、硫化物、セレン化物およびテルル化物からなる群から選択されるホスト材料を含有していてもよいし、かつ/または、このホスト材料内に添加される遷移金属イオンドーパントを含有していてもよい。具体的にいえば、遷移金属イオンドーパントは、3d4、4d4、5d4、3d6、4d6または5d6電子構造および5T2および5E四面対称により説明される基礎状態および励起状態を有していてもよく、ホスト材料は4つの配位サイトを有するクリスタル構造を有していてもよく、遷移金属イオンドーパントはこれら4つの配位置換サイトに置換されるようになっていてもよく、また、ホスト材料は非空間反転対称性クリスタル構造を有していてもよい。
ホスト材料は分子式MXを有するII族〜VI族の化合物であってもよい。MはMg、Zn、Cd、およびそれらの組み合わせからなる群から選択される二価のカチオンであり、XはS、Se、Te、およびそれらの組み合わせからなる群から選択される二価のアニオンである。具体的にいえば、ホスト材料は、ZnS、ZnSe、ZnTe、CdS、CdSeおよびCdTeからなる群から選択されるようになっていてもよい。遷移金属イオンドーパントはCr2+であってもよい。
クリスタルを正しい向きに正確に配置する利点として、超短パルスの生成効率が高くなり、それにより、正しい向きに正確に配置されていない既存のレーザー活性素子と比較してパワーが高くかつパルス持続時間(pulse duration)が短くなり、さらに、これらのパルスを二次高調波波長において同時に制御可能に生成することが可能となることを挙げることができる。
この技術は、多結晶のレーザーゲイン媒質(とくに、クリスタルが大きなもの)にも適用可能であるものの、その効果は単結晶の場合に最も顕著である。
クリスタルがウルツ鉱構造を有している場合、二次高調波を削減するためには、当該クリスタルをレーザー放射線をクリスタル軸[0001]に対して平行(または、実質的に平行)となるような向きに配置する必要がある。
クリスタルがせん亜鉛鉱構造を有している場合、二次高調波を削減させるためには、当該クリスタルは、レーザー放射線がクリスタル軸[100]、[010]、[001]のうちの1つのクリスタル軸に対して平行となるような向きに配置される。
図6にはレーザーパルスがクリスタルを通って伝搬する線図が概略的に示されている。
具体的にいえば、二次高調波の発生を最小限に抑えることが重要な場合であってかつレーザー活性ゲイン媒質のクリスタルがせん亜鉛鉱タイプのクリスタル構造を有しているような場合、本願発明にかかる方法は、レーザーパルスの伝搬ベクトルがクリスタル軸[100]、[010]、[001]のうちの1つのクリスタル軸に対して実質的に平行な向きとなるようにクリスタルを配置する工程を含んでいる。
クリスタルのカット面がクリスタル軸に対して形成する角度は、Φにより示される(図6参照)。スネルの法則により、レーザー活性ゲイン媒質のクリスタル内のレーザーパルスの伝搬ベクトルが(二次高調波の除去のために)所定のクリスタル軸に対して実質的に平行となっている場合、Φは次の式で与えられる:
Φ= 90−arcsin((n1/n2)sinθi)
この式で、θiは入射角であり、n1はレーザーがクリスタルに入射する前に伝搬する媒質(通常、空気)の屈折率であり、n2はクリスタルの屈折率である。
このことは、せん亜鉛鉱とウルツ鉱用とついての次の表に要約されている:
以下の節は、本出願において現時点で特許請求の範囲に記載されえないものの将来の補正または分割出願の根拠を形成しうる本発明の構成を記載したものである。
[節1]
光学システムであって、
本出願の非位相整合二次非線形性を有するレーザー活性クリスタル、レーザー活性誘電体またはレーザー活性半導体と、
一組のミラー、可飽和吸収体および分散素子を有する超短パルスの生成および/または増幅を提供するための光学システムとを備えており、
前記レーザー活性クリスタルがレーザー放射線の二次高調波の発生を効果的に抑制するような向きに配置されている、またはこのことが不可能な場合、前記レーザーシステムが、該レーザーシステムへの前記二次高調波のリターンを防止するようにもしくは前記レーザーパルスの持続時間よりも長い、レーザーパルスに対する群遅延を前記二次高調波の放射線に与えるように設計されてなる、光学システム。
[節2]
前記レーザー活性クリスタルが硫化物、セレン化物およびテルル化物からなる群ならびにホスト材料中の遷移金属イオンドーパントから選択され、前記遷移金属イオンドーパントがTi、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、およびCuからなる群から選択されるように構成されてなる、節1に記載の光学システム。
[節3]
前記ホスト材料が式MXを有するII族〜VI族の化合物であり、MがMg、Zn、Cd、およびそれらの組み合わせからなる群から選択される二価のカチオンであり、XがS、Se、Te、およびそれらの組み合わせからなる群から選択される二価のアニオンである、節2に記載のレーザー活性クリスタル。
[節4]
前記レーザー活性クリスタルが単結晶材料である、節3に記載のレーザー活性クリスタル。
[節5]
前記レーザー活性クリスタルが多結晶材料である、節3に記載のレーザー活性クリスタル。
[節6]
前記ホスト材料がZnS、ZnSe、ZnTe、CdS、CdSeおよびCdTeからなる群から選択されるように構成されてなる、節3に記載のレーザー活性クリスタル。
[節7]
前記遷移金属イオンドーパントがCr2+である、節6に記載のレーザーゲイン媒質。
[節8]
前記遷移金属イオンドーパントがFe2+である、節6に記載のレーザーゲイン媒質。
[節9]
レーザーゲイン媒質であって、
酸化物、硫化物、セレン化物、テルル化物、フッ化物、塩化物、臭化物および沃化物からなる群から選択されるホスト材料と、
前記ホスト材料内の遷移金属イオンドーパントとを含有しており、
前記遷移金属イオンドーパントが、3d4、4d4、5d4、3d6、4d6または5d6の電子構造ならびに5T2および5Eの四面体対称により説明される基底状態および励起状態を有しており、
前記ホスト材料が4つの配位置換サイトを有するクリスタル構造を持っており、
前記遷移金属イオンドーパントが前記4つの配位置換サイトに置換されており、
前記ホスト材料が非空間反転対称性を有するクリスタル構造を持ってなる、レーザーゲイン媒質。
[節10]
前記ホスト材料が、硫化物ホスト材料、セレン化物ホスト材料およびテルル化物ホスト材料からなる群から選択され、前記遷移金属イオンドーパントがTi、V、Cr、Mn、Fe、Co、NiおよびCuからなる群から選択されてなる、節9に記載のレーザーゲイン媒質。
[節11]
前記遷移金属イオンドーパントがCr2+である、節10に記載のレーザーゲイン媒質。
[節12]
フェムト秒パルスまたはピコ秒チャープパルス(femtosecond or chirped picosecond pulses)を生成または増幅し、それをホストするクリスタルを二次高調波発生を完全に抑制するような向きに配置してなる、節1に記載の光学システム(パルス光の伝搬ベクトルは、せん亜鉛鉱タイプのクリスタル内の場合にはクリスタル軸[100]、[010]、[001]のうちの1つのクリスタル軸に対して平行となっており、または、ウルツ鉱構造のクリスタル内の場合にはクリスタル軸[0001]に対して平行となっている)。
[節13]
フェムト秒パルスまたはピコ秒チャープパルスを生成または増幅し、ミラーが二次高調波波長範囲において非常に小さな反射係数を提供するように設計されてなる、節1または10に記載の光学システム。
[節14]
フェムト秒パルスまたはピコ秒チャープパルスを生成または増幅し、前記二次高調波放射線が前記レーザー活性クリスタルに再進入して戻るのを防止するために二次高調波波長範囲において高吸収性を有する共振器内素子が導入されてなる、節1または10に記載の光学システム。
[節15]
フェムト秒パルスまたはピコ秒チャープパルスを生成するまたは増幅し、共振器内素子、たとえばバルク分散補償器または分散制御チャープおよびGires−Tournois干渉計が活性媒質の中への再進入の前に基本パルスの期間よりも長いさらなる遅れを前記二次高調波放射線に与えてなる、節1または10に記載の光学システム。
[節16]
わずかな数のサイクルのフェムト秒パルスを生成し、共振器ミラーのうちの1つから放射される二次高調波放射線を用いてf−2fスキームに従って基本パルスのキャリアエンベロープオフセット周波数を測定、制御するように構成されてなる、節1または10に記載の光学システム。
[節17]
フェムト秒パルスまたはピコ秒チャープパルスを生成し、共振器ミラーのうちの1つから放射される二次高調波放射線をレーザーのさらなる有用な出力として用いてその用途の可能性を広げるように構成されてなる、節1または10に記載の光学システム。
[節18]
フェムト秒パルスまたはピコ秒チャープパルス生成し、基本波長において全くまたは非常にわずかな出力しかない場合、共振器ミラーうちの1つから放射される二次高調波放射線をレーザーの主要かつ有用な出力として用いてなる、節1または10に記載の光学システム。
Claims (37)
- モード同期レーザー発振器、再生増幅器、多重パス方式増幅器または単一パス方式増幅器のための光学システムであって、
二次光学非線形および三次光学非線形を有するクリスタル構造を持つレーザー活性ゲイン媒質を備えており、
レーザー放射線の二次高調波の発生を制御するために、前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルが前記レーザー放射線のレーザーパルスの伝搬ベクトルに対してある向きに配置されてなる、光学システム。 - モード同期レーザー発振器、再生増幅器、多重パス方式増幅器または単一パス方式増幅器のための光学システムであって、
屈折率n2を有するレーザー活性ゲイン媒質のクリスタルを備えており、
前記光学システムが、屈折率n1を有する前記クリスタルの前に位置する媒質から前記クリスタルに所定の入射角度θiでレーザーパルスが入射するように構成されており、
前記クリスタルが該クリスタルの所定のクリスタル軸に対して次の角度Φを有するように形成されたカット面を有し、
Φ=90−arcsin((n1/n2)sinθi)
それにより、前記クリスタルが二次高調波の発生を最小限に抑えるように構成されてなる、光学システム。 - モード同期レーザー発振器、再生増幅器、多重パス方式増幅器または単一パス方式増幅器のための光学システムであって、
屈折率n2を有するレーザー活性ゲイン媒質のクリスタルを備えており、
前記光学システムが、屈折率n1を有する前記クリスタルの前に位置する媒質から前記クリスタルに所定の入射角度θiでレーザーパルスが入射するように構成されており、
前記クリスタルが該クリスタルの所定のクリスタル軸に対して次の角度Φを有するように形成されたカット面を有し、
Φ≠90−arcsin((n1/n2)sinθi)
それにより、前記クリスタルが二次高調波の発生を増大させるように構成されてなる、光学システム。 - 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルがせん亜鉛鉱タイプのクリスタル構造を有しており、二次高調波放射線の発生を縮小するために、前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタル内の前記レーザーパルスの伝搬ベクトルがクリスタル軸[100]、[010]、[001]のうちの1つのクリスタル軸と平行となっている、請求項1、2または3に記載の光学システム。
- 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルがウルツ鉱タイプのクリスタル構造を有しており、前記二次高調波放射線の発生を削減するために、前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタル内の前記レーザーパルスの伝搬ベクトルがクリスタル軸[0001]に対して平行となっている、請求項1、2または3に記載の光学システム。
- 前記光学システムが前記レーザーの活性ゲイン媒質へ前記レーザー放射線の二次高調波のリターンを防止するための光学素子を備えてなる、請求項1乃至5のうちのいずれか1項に記載の光学システム。
- 基本波長範囲内の反射係数よりも小さな前記二次高調波波長範囲内の反射係数を有するミラーを備えてなる、請求項6に記載の光学システム。
- 前記基本波長範囲内の吸収と比較して前記二次高調波波長範囲内の吸収が大きい共振器内素子を備えてなる、請求項6または7に記載の光学システム。
- 前記光学システムが、前記レーザーパルスの持続時間よりも長い、レーザーパルスに対する群遅延を前記二次高調波放射線に与えるための光学素子を備えてなる、請求項1乃至8のうちのいずれか一項に記載の光学システム。
- 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルの中への再進入の前に前記基本パルスの持続時間よりも長いさらなる遅延を前記二次高調波放射線に与えるための共振器内素子を備えてなる、請求項9に記載の光学システム。
- 前記さらなる遅延を与える前記共振器内素子がバルク分散補償器、プリズムペア、くさび、くさびペア、分散制御チャープミラーまたはGires−Tournois干渉計である、請求項10に記載の光学システム。
- 共振器ミラーを備えており、前記f−2fスキームに従って前記基本パルスのキャリアエンベロープオフセット周波数を測定、制御するために、前記共振器ミラーにより反射または伝達される二次高調波放射線が用いられてなる、請求項1乃至11のうちのいずれか1項に記載の光学システム。
- 共振器ミラーを備えており、該共振器ミラーにより反射または伝達される二次高調波放射線が前記レーザーのさらなる出力として用いられてなる、請求項1乃至12のうちのいずれか1項に記載の光学システム。
- 共振器ミラーを備えており、前記基本波長において全くまたはわずかな出力しかない場合に、前記共振器ミラーにより反射または伝達される二次高調波放射線が前記レーザーの主要かつ有用な出力として用いられてなる、請求項1乃至11のうちのいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルが単結晶材料である、請求項1乃至14のうちのいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルが多結晶材料である、請求項1乃至14のうちのいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルが、硫化物、セレン化物およびテルル化物からなる群から選択されるホスト材料を含んでなる、請求項1乃至16のうちのいずれか一項に記載の光学システム。
- 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルが前記ホスト材料内に遷移金属イオンドーパントを含んでなる、請求項17に記載の光学システム。
- 前記遷移金属イオンドーパントが、3d4、4d4、5d4、3d6、4d6または5d6の電子構造および5T2および5Eの四面体対称により説明される基底状態および励起状態を有しており、前記ホスト材料が4つの配位置換サイトを有するクリスタル構造を持っており、前記遷移金属イオンドーパントが前記4つの配位置換サイトに置換されており、前記ホスト材料が非空間反転対称性クリスタル構造を有してなる、請求項18に記載の光学システム。
- 前記遷移金属イオンドーパントが、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、およびCuからなる群から選択されてなる、請求項18または19に記載の光学システム。
- 前記遷移金属イオンドーパントがCr2+またはFe2+である、請求項18、19または20に記載の光学システム。
- 前記ホスト材料が式MXを有するII族〜VI族の化合物であり、MがMg、Zn、Cd、および、それらの組み合わせからなる群から選択される二価のカチオンであり、XがS、Se、Te、およびそれらの組み合わせからなる群から選択される二価のアニオンである、請求項18に記載の光学システム。
- 前記ホスト材料がZnS、ZnSe、ZnTe、CdS、CdSeおよびCdTeからなる群から選択されるように構成されてなる、請求項22に記載の光学システム。
- 前記遷移金属イオンドーパントがCr2+である、請求項22または23に記載の光学システム。
- モード同期レーザー発振器、再生増幅器、多重パス方式増幅器または単一パス方式増幅器のための光学システムを最適化する方法であって、
レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルのクリスタル軸を特定する工程と、
前記クリスタルをカットする工程と、
前記光学システムの必要出力に応じて、前記光学システム内の前記クリスタルをレーザーパルスの伝搬ベクトルに対して所定の向きに配置する工程と
を含む、方法。 - モード同期レーザー発振器、再生増幅器、多重パス方式増幅器または単一パス方式増幅器のための光学システムを最適化する方法であって、
屈折率n2を有するレーザー活性ゲイン媒質のクリスタルのクリスタル軸を特定する工程と、
屈折率n1を有する媒質から前記クリスタルに入射するレーザーパルスの所望の入射角θを選択する工程と、
二次高調波の発生を最小限に抑えるために、Φ=90−arcsin((n1/n2)sinθi)であり、かつ、所望の入射角度θで入射する前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタル内の前記レーザーパルスの伝搬ベクトルが所定のクリスタル軸に対して平行となるよう、または、
二次高調波の発生を増大させるために、Φ≠90−arcsin((n1/n2)sinθi)であり、かつ、所望の入射角度θで入射する前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタル内の前記レーザーパルスの伝搬ベクトルが所定のクリスタル軸に対して平行とならないよう、
前記クリスタルを所定のクリスタル軸に対してカット面がある角度Φを形成するようにカットする工程と、
前記レーザーパルスが前記クリスタルに所望の入射角度θで入射するような向きに前記クリスタルを前記システム内に配置する工程と
を含む、方法。 - 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルがせん亜鉛鉱タイプのクリスタル構造を有しており、前記二次高調波放射線の発生を削減するために、前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタル内の前記レーザーパルスの伝搬ベクトルが、クリスタル軸[100]、[010]、[001]のうちの1つのクリスタル軸に対して実質的に平行となっている、請求項25または26に記載の方法。
- 前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルがウルツ鉱タイプのクリスタル構造を有しており、前記二次高調波放射線の発生を削減するために、前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタル内の前記レーザーパルスの伝搬ベクトルがクリスタル軸[0001]に対して実質的に平行となっている、請求項25または26に記載の方法。
- 前記方法が前記光学システムへの前記二次高調波放射線のリターンを防止するための光学素子を提供するステップをさらに有している、請求項25、26、27または28に記載の方法。
- 前記光学素子が前記基本波長範囲内の反射係数よりも小さな前記二次高調波波長範囲内の反射係数を有するミラーである、請求項29に記載の方法。
- 前記光学素子が前記基本波長範囲内の吸収と比較して前記二次高調波波長範囲内の吸収が大きい共振器内素子である、請求項29または30に記載の方法。
- 前記方法が、前記レーザーパルスの持続時間よりも長い、前記レーザーパルスに対する群遅延を前記二次高調波放射線に与える光学素子を提供するステップを有している、請求項25乃至31のうちのいずれか1項に記載の方法。
- 前記方法が、前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルの中への再進入の前に前記基本パルスの持続時間よりも長いさらなる遅れを前記二次高調波放射線に与える共振器内素子を提供するステップを有しており、好ましくは、前記さらなる遅れを与える前記共振器内素子が、バルク分散補償器、プリズムペア、くさび、くさびペア、分散制御チャープミラーまたはGires−Tournois干渉計である、請求項25乃至32のうちのいずれか1項に記載の光学システム。
- 共振器ミラーにより反射または伝達される前記二次高調波放射線を用いてf−2fスキームに従って基本パルスのキャリアエンベロープオフセット周波数を測定、制御するステップを含んでいる、請求項25乃至33のうちのいずれか1項に記載の方法。
- 共振器ミラーにより反射または伝達される前記二次高調波放射線を前記レーザー光学システムのさらなる出力として用いることを含んでいる、請求項25乃至33のうちのいずれか1項に記載の方法。
- レーザー増幅器であって、
二次光学非線形性および三次光学非線形性を有するクリスタル構造を持つレーザー活性ゲイン媒質を備えており、
レーザー放射線の二次高調波の発生を制御するために、前記レーザー活性ゲイン媒質のクリスタルが前記レーザーパルスの伝搬ベクトルに対してある向きに配置されてなる、レーザー増幅器。 - 請求項1乃至24のうちのいずれか1項に記載の光学システムを備えてなるレーザー増幅器。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201361895810P | 2013-10-25 | 2013-10-25 | |
US61/895,810 | 2013-10-25 | ||
PCT/EP2014/073025 WO2015059309A1 (en) | 2013-10-25 | 2014-10-27 | Laser crystal |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016534384A true JP2016534384A (ja) | 2016-11-04 |
JP2016534384A5 JP2016534384A5 (ja) | 2017-12-07 |
JP6683607B2 JP6683607B2 (ja) | 2020-04-22 |
Family
ID=51982521
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016526099A Active JP6683607B2 (ja) | 2013-10-25 | 2014-10-27 | レーザークリスタル |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10218146B2 (ja) |
EP (1) | EP3061166B1 (ja) |
JP (1) | JP6683607B2 (ja) |
WO (1) | WO2015059309A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020514796A (ja) * | 2017-01-05 | 2020-05-21 | アイピージー フォトニクス コーポレーション | キャリアエンベロープオフセット周波数検出を有する光周波数コム発生器 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2013528834A (ja) * | 2010-06-03 | 2013-07-11 | ドイツ連邦共和国 | 事前設定可能な周波数値を有する位相コヒーレントな光場を形成する方法および光周波数シンセサイザ |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5422903A (en) * | 1993-04-15 | 1995-06-06 | Yamada; Norihide | Surface emitting second harmonic generating device |
-
2014
- 2014-10-27 EP EP14802819.4A patent/EP3061166B1/en active Active
- 2014-10-27 US US15/031,917 patent/US10218146B2/en active Active
- 2014-10-27 JP JP2016526099A patent/JP6683607B2/ja active Active
- 2014-10-27 WO PCT/EP2014/073025 patent/WO2015059309A1/en active Application Filing
Patent Citations (4)
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JP2020514796A (ja) * | 2017-01-05 | 2020-05-21 | アイピージー フォトニクス コーポレーション | キャリアエンベロープオフセット周波数検出を有する光周波数コム発生器 |
JP7116067B2 (ja) | 2017-01-05 | 2022-08-09 | アイピージー フォトニクス コーポレーション | キャリアエンベロープオフセット周波数検出を有する光周波数コム発生器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3061166A1 (en) | 2016-08-31 |
US20160268765A1 (en) | 2016-09-15 |
EP3061166B1 (en) | 2022-01-12 |
JP6683607B2 (ja) | 2020-04-22 |
US10218146B2 (en) | 2019-02-26 |
WO2015059309A1 (en) | 2015-04-30 |
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Petrov et al. | PROOF COPY [112046] 056915OPL |
Legal Events
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---|---|---|---|
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R250 | Receipt of annual fees |
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