JP2016162071A - Mos switch circuit and semiconductor integrated circuit of the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、MOSスイッチ回路及びその半導体集積回路に関し、より詳細には、昇降圧回路を備え、耐圧を確保しつつ、オン抵抗も十分低減したMOSスイッチ回路及びその半導体集積回路に関する。 The present invention relates to a MOS switch circuit and a semiconductor integrated circuit thereof, and more particularly to a MOS switch circuit including a step-up / step-down circuit and ensuring a withstand voltage while sufficiently reducing on-resistance and a semiconductor integrated circuit thereof.
従来からPMOSトランジスタとNMOSトランジスタを備えたMOSスイッチ回路は知られている。この種のMOSスイッチ回路は、例えば、特許文献1に開示されている。
図8は、特許文献1に記載されたMOSスイッチ回路を説明するための回路構成図である。なお、以下に記載のMOSスイッチ回路とは、MOSトランジスタを利用したスイッチ回路を指すものとする。
Conventionally, a MOS switch circuit including a PMOS transistor and an NMOS transistor is known. This type of MOS switch circuit is disclosed in, for example,
FIG. 8 is a circuit configuration diagram for explaining the MOS switch circuit described in
図8に示したMOSスイッチ800は、p型のMOSトランジスタ(PMOSトランジスタ)17とn型のMOSトランジスタ(NMOSトランジスタ)18を備えている。PMOSトランジスタ17のゲート端子には、入力信号IN1が入力される。また、NMOSトランジスタ18のゲート端子には、入力信号IN2が入力され、入力信号IN1,IN2は、互いに逆の極性を有する電圧信号である。MOSスイッチ800から出力される出力信号OUTは、入力信号IN1,IN2の変化に応じて変化する。
The
すなわち、入力信号IN1として、Lowレベルの電圧GND(グランド)がMOSトランジスタ17のゲート端子に入力されると、PMOSトランジスタ17がオンする。PMOSトランジスタ17のオンにより、出力信号OUTは、Highレベルの電圧VCCとなる。一方、NMOSトランジスタ18に電圧VCCが入力されると、NMOSトランジスタ18がオンする。NMOSトランジスタ18のオンにより、出力信号OUTとして、電圧GNDが出力される。
That is, when a low level voltage GND (ground) is input to the gate terminal of the
以上説明したMOSスイッチにおいて、電圧VCCが低い場合について説明する。電圧VCCが閾値電圧Vth以下の場合、電圧VCCが入力信号IN1,IN2として入力されたMOSトランジスタ17,18のゲート・ソース端子間の電圧Vgsは小さく、閾値電圧を超えることがない。このため、MOSトランジスタ17,18は、それぞれオフ状態になっている。
A case where the voltage VCC is low in the MOS switch described above will be described. When the voltage VCC is equal to or lower than the threshold voltage Vth, the voltage Vgs between the gate and source terminals of the
また、入力信号IN1に電圧GNDが入力され、MOSトランジスタ17,18のゲート・ソース端子間の電圧Vgsがそれぞれの閾値電圧を超えると、PMOSトランジスタ17がオンして出力信号OUTは電圧VCCとなる。このとき、PMOSトランジスタ17のゲート・ソース端子間の電圧Vgsは、以下のように表される。
Vgs=|GND−VCC|
When the voltage GND is input to the input signal IN1 and the voltage Vgs between the gate and source terminals of the
Vgs = | GND-VCC |
しかし、上述したように、電圧VCCが低い場合、|GND−VCC|の値が小さくなる。MOSトランジスタのオン抵抗は、|Vgs−Vth|の値に反比例する。このため、図8に示したMOSスイッチでは、PMOSトランジスタ17のオン抵抗が大きくなってしまう。
また、入力信号IN2としてHighレベルの電圧VCCが入力されると、NMOSトランジスタ18がオンし、出力信号OUTとして電圧GNDが出力される。このときにも、電圧VCCが低ければ、|VCC−GND|の値は小さく、NMOSトランジスタ18のオン抵抗が大きくなってしまう。
However, as described above, when the voltage VCC is low, the value of | GND-VCC | becomes small. The on-resistance of the MOS transistor is inversely proportional to the value of | Vgs−Vth |. For this reason, in the MOS switch shown in FIG. 8, the on-resistance of the
When the high level voltage VCC is input as the input signal IN2, the
以上の課題を解決するための方法としては、MOSトランジスタ17,18に入力する入力信号を昇圧又は降圧させてオン抵抗を低減することが考えられる。
上述した特許文献1では、MOSトランジスタの入力信号を昇圧又は降圧させている。昇圧の場合は、2倍のVCCがMOSトランジスタの入力信号となり、降圧の場合は、−VCCがMOSトランジスタの入力信号となる。上述した特許文献1では、入力信号がプロセスの最大定格電圧を超えないように、図9及び図10に示すMOSトランジスタユニット208,708によって対処している。
As a method for solving the above problem, it is conceivable to increase or decrease the input signal input to the
In
図9は、特許文献1に記載された昇圧回路を説明するための回路構成図である。MOSトランジスタ205のソース・ドレイン端子間に、直列に接続された3つのPMOSトランジスタ208a,208b,208cによって構成されるトランジスタユニット208を備えている。
図10は、特許文献1に記載された降圧回路を説明するための回路構成図である。MOSトランジスタ313と出力端子307に接続されるノードとの間に、直列に接続された3つのNMOSトランジスタ708a,708b,708cによって構成されるトランジスタユニット708を備えている。
FIG. 9 is a circuit configuration diagram for explaining the booster circuit described in
FIG. 10 is a circuit configuration diagram for explaining the step-down circuit described in
しかしながら、図9に示したMOSトランジスタユニット208のように、MOSトランジスタを複数個重ねて構成した場合、MOSトランジスタの閾値と使用する個数の掛け合わせとなり、出力電圧がMOSトランジスタの閾値に依存するため精度が乏しい。
また、MOSトランジスタの閾値自体のばらつきに対しても影響が大きく精度を悪化させる原因となっている。
However, when a plurality of MOS transistors are stacked as in the
In addition, the influence on the variation of the threshold value of the MOS transistor itself is large, which causes the accuracy to deteriorate.
その結果、従来の昇降圧回路を有するMOSスイッチ回路は、昇圧電圧又は降圧電圧の精度が低いため、昇圧電圧又は降圧電圧が入力されるMOSトランジスタの耐圧を確保した上での、オン抵抗の低減が不十分であった。そのため、オン抵抗によって、入力信号に対する出力電圧の応答性の向上も不十分であった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、精度が高く、製造ばらつきにも強い昇降圧回路を備え、耐圧を確保しつつ、オン抵抗も十分低減したMOSスイッチ回路及びその半導体集積回路を提供することにある。
As a result, the MOS switch circuit having the conventional step-up / step-down circuit has a low accuracy of the boosted voltage or the step-down voltage, so that the on-resistance is reduced while ensuring the withstand voltage of the MOS transistor to which the boosted voltage or the step-down voltage is input. Was insufficient. For this reason, the response of the output voltage to the input signal is not sufficiently improved due to the on-resistance.
The present invention has been made in view of such problems, and the object of the present invention is to provide a step-up / step-down circuit that is highly accurate and resistant to manufacturing variations, and has a sufficiently reduced on-resistance while ensuring a withstand voltage. An object of the present invention is to provide a MOS switch circuit and a semiconductor integrated circuit thereof.
本発明の第1の態様においては、第1のスイッチ制御信号が入力される昇圧回路と、前記昇圧回路の出力信号がゲート端子に供給されるNMOSトランジスタと、を備えたMOSスイッチ回路であり、前記昇圧回路が、前記第1のスイッチ制御信号が入力される第1のインバータと、前記第1のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ソース端子が前記接地端子に接続され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第1のトランジスタと、前記第1のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第2のトランジスタと、前記出力端子がゲート端子に接続され、ソース端子が前記電源端子に接続され、ドレイン端子が前記第2のトランジスタのソース端子に接続される第3のトランジスタと、前記出力端子と前記接地端子との間に接続される第1の容量素子と、前記第1のインバータの出力端子と前記第3のトランジスタのドレイン端子との間に接続される第2の容量素子と、を備える。 According to a first aspect of the present invention, there is provided a MOS switch circuit comprising: a booster circuit to which a first switch control signal is input; and an NMOS transistor to which an output signal of the booster circuit is supplied to a gate terminal; The booster circuit includes a first inverter to which the first switch control signal is input, the first switch control signal is input to a gate terminal, a source terminal is connected to the ground terminal, and a drain terminal is A first transistor connected to an output terminal; a first switch control signal input to the gate terminal; a drain terminal connected to the output terminal; and the output terminal connected to the gate terminal. A third transistor having a source terminal connected to the power supply terminal and a drain terminal connected to the source terminal of the second transistor; A first capacitor connected between an output terminal and the ground terminal; a second capacitor connected between an output terminal of the first inverter and a drain terminal of the third transistor; .
本発明の第2の態様においては、第2のスイッチ制御信号が入力される降圧回路と、前記降圧回路の出力信号がゲート端子に供給されるPMOSトランジスタと、を備えたMOSスイッチ回路であり、前記降圧回路が、前記第2のスイッチ制御信号が入力される第2のインバータと、前記第2のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ソース端子が前記電源端子に接続され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第4のトランジスタと、前記第の2スイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第5のトランジスタと、前記出力端子がゲート端子に接続され、ソース端子が前記接地端子に接続され、ドレイン端子が前記第5のトランジスタのソース端子に接続される第6のトランジスタと、前記出力端子と前記電源端子との間に接続される第3の容量素子と、前記第2のインバータの出力端子と前記第6のトランジスタのドレイン端子との間に接続される第4の容量素子と、を備える。 According to a second aspect of the present invention, there is provided a MOS switch circuit comprising: a step-down circuit to which a second switch control signal is input; and a PMOS transistor to which an output signal of the step-down circuit is supplied to a gate terminal. The step-down circuit includes a second inverter to which the second switch control signal is input, the second switch control signal is input to a gate terminal, a source terminal is connected to the power supply terminal, and a drain terminal is A fourth transistor connected to the output terminal, a fifth transistor whose drain terminal is connected to the output terminal, and a second terminal where the second switch control signal is input to the gate terminal, and the output terminal connected to the gate terminal A sixth transistor having a source terminal connected to the ground terminal and a drain terminal connected to the source terminal of the fifth transistor; A third capacitor connected between the output terminal and the power supply terminal; a fourth capacitor connected between the output terminal of the second inverter and the drain terminal of the sixth transistor; .
本発明の第3の態様においては、第1のスイッチ制御信号が入力される第1のインバータと、前記第1のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ソース端子が接地端子に接続され、ドレイン端子が出力端子に接続される第1のトランジスタと、前記第1のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第2のトランジスタと、前記出力端子がゲート端子に接続され、ソース端子が電源端子に接続され、ドレイン端子が前記第2のトランジスタのソース端子に接続される第3のトランジスタと、前記出力端子と前記接地端子の間に接続される第1の容量素子と、前記第1のインバータの出力端子と前記第3のトランジスタのドレイン端子との間に接続される第2の容量素子と、を備えている昇圧回路と、第2のスイッチ制御信号が入力される第2のインバータと、前記第2のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ソース端子が電源端子に接続され、ドレイン端子が出力端子に接続される第4のトランジスタと、前記第2のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第5のトランジスタと、前記出力端子がゲート端子に接続され、ソース端子が接地端子に接続され、ドレイン端子が前記第5のトランジスタのソース端子に接続される第6のトランジスタと、前記出力端子と前記電源端子との間に接続される第3の容量素子と、前記第2のインバータの出力端子と前記第6のトランジスタのドレイン端子との間に接続される第4の容量素子と、を備えている降圧回路と、前記昇圧回路及び前記降圧回路の出力電圧がそれぞれ入力されるスイッチと、前記第1のスイッチ制御信号及び前記第2のスイッチ制御信号を生成するスイッチ制御信号生成部と、を備える半導体集積回路である。
なお、上述した態様は、本発明の必要な特徴的な構成のすべてを記載したものではなく、その他の構成を組み合わせることにより本発明を構成することも可能である。
In the third aspect of the present invention, the first inverter to which the first switch control signal is input, the first switch control signal is input to the gate terminal, the source terminal is connected to the ground terminal, the drain A first transistor having a terminal connected to an output terminal; a second transistor having a drain terminal connected to the output terminal; the first switch control signal being input to a gate terminal; and the output terminal being a gate terminal. A third terminal connected to the power source terminal, a drain terminal connected to the source terminal of the second transistor, and a first transistor connected between the output terminal and the ground terminal. A booster circuit comprising: a capacitive element; and a second capacitive element connected between an output terminal of the first inverter and a drain terminal of the third transistor A second inverter to which a second switch control signal is input; a second inverter in which the second switch control signal is input to a gate terminal; a source terminal is connected to a power supply terminal; and a drain terminal is connected to an output terminal. 4 transistor, the second switch control signal is input to the gate terminal, the drain terminal is connected to the output terminal, the output terminal is connected to the gate terminal, the source terminal is the ground terminal A sixth transistor whose drain terminal is connected to the source terminal of the fifth transistor, a third capacitor connected between the output terminal and the power supply terminal, and the second transistor A step-down circuit including a fourth capacitor connected between an output terminal of the inverter and a drain terminal of the sixth transistor; the step-up circuit; and A switch output voltage of the voltage dividing circuit are input, a semiconductor integrated circuit and a switch control signal generating unit which generates the first switch control signal and the second switch control signal.
In addition, the aspect mentioned above does not describe all the necessary characteristic configurations of the present invention, and the present invention can be configured by combining other configurations.
本発明によれば、精度が高く、製造ばらつきに強い昇降圧回路を備え、耐圧を確保しつつ、オン抵抗も十分低減したMOSスイッチ回路及びその半導体集積回路を実現することができる。 According to the present invention, it is possible to realize a MOS switch circuit including a step-up / step-down circuit with high accuracy and strong against manufacturing variations, ensuring a breakdown voltage, and sufficiently reducing an on-resistance, and a semiconductor integrated circuit thereof.
以下の詳細な説明では、本発明の実施形態の完全な理解を提供するように多くの特定の具体的な構成について記載されている。しかしながら、このような特定の具体的な構成に限定されることなく他の実施態様が実施できることは明らかであろう。また、以下の実施形態は、特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、実施形態で説明されている特徴的な構成の組み合わせの全てを含むものである。 In the following detailed description, numerous specific specific configurations are described to provide a thorough understanding of embodiments of the invention. However, it will be apparent that other embodiments may be practiced without limitation to such specific specific configurations. Further, the following embodiments do not limit the invention according to the claims, but include all combinations of characteristic configurations described in the embodiments.
以下、図面を参照して本発明の各実施形態について説明する。
まず、実施形態の説明の前に、本発明に係るMOSスイッチ回路の前提技術について以下に説明する。
図1は、本発明に係るMOSスイッチ回路の前提技術を説明するための回路構成図である。
図1に示したMOSスイッチ回路は、電源電圧VCCを供給するための電源端子101と、接地電圧GNDを供給するための接地端子102との間に接続された、PMOSトランジスタ107と、NMOSトランジスタ108と、PMOSトランジスタ107のゲート端子Gpに接続されている降圧回路120と、NMOSトランジスタ108のゲート端子Gnに接続されている昇圧回路110とを備えている。
Hereinafter, each embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
First, prior to the description of the embodiments, the prerequisite technology of the MOS switch circuit according to the present invention will be described below.
FIG. 1 is a circuit configuration diagram for explaining a prerequisite technology of a MOS switch circuit according to the present invention.
The MOS switch circuit shown in FIG. 1 includes a
降圧回路120は、外部から電圧信号が入力される入力端子103と接続されている。入力端子103に入力される電圧信号を入力信号IN1とする。入力信号IN1は、降圧回路120によって入力信号IN3に降圧され、PMOSトランジスタ107のゲート端子Gpに入力される。また、昇圧回路110は、外部から電圧信号が入力される入力端子104と接続されている。入力端子104に入力される電圧信号を入力信号IN2とする。入力信号IN2は、昇圧回路110によって入力信号IN4に昇圧され、NMOSトランジスタ108のゲート端子Gnに入力される。
入力信号IN1、入力信号IN2として、Lowレベルの電圧GND又はHighレベルの電圧VCCが入力される。PMOSトランジスタ107とNMOSトランジスタ108との間に接続された出力端子105からは、入力信号IN1,IN2の変化に応じた出力信号OUTが出力される。
The step-down
The low level voltage GND or the high level voltage VCC is input as the input signal IN1 and the input signal IN2. From an
電圧GNDが入力信号IN1として降圧回路120に入力された場合、降圧回路120から出力される入力信号IN3の値は、Highレベルの電圧VCCとなる。また、電圧VCCが入力信号IN1として降圧回路120に入力された場合、降圧回路120から出力される入力信号IN3の値は、Lowレベルの電圧−VCCとなる。また、電圧VCCが入力信号IN2として昇圧回路110に入力された場合、昇圧回路110から出力される入力信号IN4の値は、Lowレベルの電圧GNDとなる。また、Lowレベルの電圧GNDが入力信号IN2として昇圧回路110に入力された場合、昇圧回路110から出力される入力信号IN4の値は、Highレベルの電圧2VCCとなる。
When the voltage GND is input to the step-down
次に、図1におけるMOSスイッチ回路の動作について以下に説明する。
入力信号IN1として電圧VCCが入力されると、降圧回路120は、入力信号IN3として電圧−VCCを出力する。PMOSトランジスタ107は、ゲート端子Gpに電圧−VCCが入力されたことによってオンし、電源端子101から供給される電圧VCCがHighレベルの出力信号OUTとして、出力端子105から出力される。なお、このとき、昇圧回路110にも、入力信号IN2として電圧VCCが入力される。昇圧回路110は、電圧GNDをNMOSトランジ108に出力する。ゲート端子Gnに電圧GNDが印加されたNMOSトランジスタ108は、オフされる。
Next, the operation of the MOS switch circuit in FIG. 1 will be described below.
When the voltage VCC is input as the input signal IN1, the step-down
以上の動作において、PMOSトランジスタ107のゲート・ソース端子間の電圧Vgsは、以下のように表される。
Vgs=|(−Vcc)−Vcc|
|(−Vcc)−Vcc|の値は、先に背景技術で説明した、ゲート・ソース端子間の電圧Vgs|GND−VCC|よりも大きくなる。そして、MOSトランジスタのオン抵抗の値は、Vgs−Vthに反比例する。このため、回路を駆動する電圧VCCが低い場合であっても、PMOSトランジスタ107のオン抵抗の値が小さくなることが分かる。
In the above operation, the voltage Vgs between the gate and the source terminal of the
Vgs = | (−Vcc) −Vcc |
The value of | (−Vcc) −Vcc | is larger than the voltage Vgs | GND−VCC | between the gate and the source terminal described in the background art. The on-resistance value of the MOS transistor is inversely proportional to Vgs−Vth. Therefore, it can be seen that even when the voltage VCC for driving the circuit is low, the value of the on-resistance of the
入力信号IN2として電圧GNDが入力されると、昇圧回路110は、入力信号IN4として電圧2VCCを出力する。NMOSトランジスタ108は、ゲート端子Gnに電圧2VCCが入力されたことによってオンし、電源端子101から供給される電圧GNDがLowレベルの出力信号OUTとして、出力端子105から出力される。なお、このとき、降圧回路120にも、入力信号IN1として電圧GNDが入力される。降圧回路120は、電圧VCCをPMOSトランジ107に出力する。ゲート端子Gpに電圧VCCが印加されたPMOSトランジスタ107は、オフされる。
When the voltage GND is input as the input signal IN2, the
以上の動作において、NMOSトランジスタ108のゲート・ソース端子間の電圧Vgsは、以下のように表される。
Vgs=|2VCC−GND|
|2VCC−GND|の値は、従来の図8の構成である、ゲート・ソース端子間の電圧Vgs|VCC−GND|よりも大きくなる。そして、MOSトランジスタのオン抵抗の値は、Vgs−Vthに反比例する。このため、回路を駆動する電圧VCCが低い場合であっても、NMOSトランジスタ108のオン抵抗の値が小さくなることが分かる。
In the above operation, the voltage Vgs between the gate and source terminals of the
Vgs = | 2VCC-GND |
The value of | 2VCC-GND | is larger than the voltage Vgs | VCC-GND | between the gate and the source terminal, which is the conventional configuration of FIG. The on-resistance value of the MOS transistor is inversely proportional to Vgs−Vth. Therefore, it can be seen that even when the voltage VCC for driving the circuit is low, the value of the on-resistance of the
以上説明したように、図1に示した前提技術におけるMOSスイッチ回路では、PMOSトランジスタ107のゲート端子GpをHighレベルの電圧VCC、Lowレベルの電圧−VCCで動作させることができる。このため、PMOSトランジスタ107のオン抵抗を低減することができる。また、図1に示したMOSスイッチ回路によれば、NMOSトランジスタ108のゲート端子Gnを、Highレベルの電圧2VCC、Lowレベルの電圧GNDで動作させることができる。このため、NMOSトランジスタ108のオン抵抗を低減することができる。
As described above, in the MOS switch circuit in the base technology shown in FIG. 1, the gate terminal Gp of the
図2は、図1に示したMOSスイッチ回路における昇圧回路を説明するための具体的な回路構成図である。昇圧回路110は、PMOSトランジスタ201,202,205と、NMOSトランジスタ203,204と、容量素子206とによって構成されている。
PMOSトランジスタ201とNMOSトランジスタ203とは、ドレイン端子D1,D3同士、ゲート端子G1,G3同士が互いに接続されている。PMOSトランジスタ201のソース端子S1は、電源端子101に接続されて電圧VCCの供給を受けている。NMOSトランジスタ203のソース端子S3は、接地端子102に接続され、電圧GNDの供給を受けている。PMOSトランジスタ201とNMOSトランジスタ203は、インバータを構成している。
FIG. 2 is a specific circuit configuration diagram for explaining a booster circuit in the MOS switch circuit shown in FIG. The
In the
また、PMOSトランジスタ202とNMOSトランジスタ204とは、ドレイン端子D2,D4同士、ゲート端子G2,G4同士が互いに接続されている。PMOSトランジスタ202のソース端子S2は、電源端子101及びPMOSトランジスタ201のソース端子S1にPMOSトランジスタ205を介して接続されている。NMOSトランジスタ204のソース端子S4は、NMOSトランジスタ203のソース端子S3及び接地端子102に接続されている。PMOSトランジスタ202とNMOSトランジスタ204は、インバータを構成している。
Further, the drain terminals D2 and D4 and the gate terminals G2 and G4 of the
MOSトランジスタ201〜204のゲート端子G1〜G4は、入力端子104に接続され、ゲート端子G1〜G4には入力信号IN2が入力される。PMOSトランジスタ205のゲート端子G5は、NMOSトランジスタ108に対する入力端子に接続されている。入力端子からは、入力信号IN4が入力される。入力信号IN4は、図1に示したNMOSトランジスタ108のゲート端子Gnに入力される。
容量素子206の一端は、MOSトランジスタ201,203のドレイン端子D1,D3に接続されている。また、容量素子の他の一端は、PMOSトランジスタ202のソース端子S2と、PMOSトランジスタ205のドレイン端子D5とに接続されている。
The gate terminals G1 to G4 of the
One end of the
次に、図2に示した昇圧回路の動作について以下に説明する。
図2において、第1の期間Ph1の入力信号IN2が電圧VCCであるとすると、NMOSトランジスタ203がオンされて、PMOSトランジスタ201はオフされる。このとき、NMOSトランジスタ203のドレイン端子D3と容量素子206の一端との間の電圧が、電圧GNDになる。NMOSトランジスタ203のドレイン端子D3と容量素子206の一端との間のノードをノードAとする。ノードAを図2中に示す。
Next, the operation of the booster circuit shown in FIG. 2 will be described below.
In FIG. 2, when the input signal IN2 in the first period Ph1 is the voltage VCC, the
以上の動作と同時に、NMOSトランジスタ204がオンされて、PMOSトランジスタ202がオフされる。NMOSトランジスタ204のオンにより、出力端子207からは電圧GNDが出力される。出力端子207から電圧GNDが出力されるとき、PMOSトランジスタ205がオンされる。このため、PMOSトランジスタ205のドレインD5と接続される一点に電圧VCCが印加される。このノードをノードBとする。ノードBを図2中に示す。このとき、容量素子206には、ノードAの電位を基準にして、電圧VCCに相当する電荷が蓄積される。
Simultaneously with the above operation, the
次の第2の期間Ph2では、入力信号IN2として、電圧GNDが昇圧回路110に入力される。このとき、PMOSトランジスタ201がオンし、NMOSトランジスタ203がオフされる。PMOSトランジスタ201のオンにより、ノードAの電位が電圧VCCになる。このとき、第2の期間Ph2では、第1の期間Ph1において、容量素子206に+VCCの電荷がチャージされているため、ノードAの電位がVCCになると、ノードBの電位が2VCCとなる。
In the next second period Ph2, the voltage GND is input to the
また、入力信号IN2として電圧GNDが入力されたことにより、PMOSトランジスタ202がオンされて、ノードBにかかる電圧2VCCが、出力端子207から出力される。電圧2VCCがゲート端子G5に入力されたPMOSトランジスタ205は、オフされる。
このような昇圧回路110は、図1に示したNMOSトランジスタ108のゲート端子Gnを、Highレベルの電圧VCCと、Lowレベルの電圧GNDとによって動作させることができる。このため、図2に示した昇圧回路110によれば、NMOSトランジスタ108のオン抵抗を、背景技術で説明した図8の構成よりも小さくすることができる。
Further, when the voltage GND is input as the input signal IN2, the
Such a
図3は、図1に示したMOSスイッチ回路における降圧回路を説明するための具体的な回路構成図である。降圧回路120は、PMOSトランジスタ309,310と、NMOSトランジスタ311,312,313と、容量素子306とによって構成されている。
PMOSトランジスタ309とNMOSトランジスタ311とは、ドレイン端子D9,D11同士、ゲート端子G9,G11同士が互いに接続されている。PMOSトランジスタ309のソース端子S9は、電源端子101に接続されて電圧VCCの供給を受けている。NMOSトランジスタ311のソース端子S11は、接地端子102に接続され、電圧GNDの供給を受けている。PMOSトランジスタ309とNMOSトランジスタ311は、インバータを構成している。
FIG. 3 is a specific circuit configuration diagram for explaining a step-down circuit in the MOS switch circuit shown in FIG. The step-down
In the
また、PMOSトランジスタ310とNMOSトランジスタ312とは、ドレイン端子D10,D12同士、ゲート端子G10,G12同士が互いに接続されている。PMOSトランジスタ310のソース端子S10は、電源端子101及びPMOSトランジスタ309のソース端子S9に接続されている。NMOSトランジスタ312のソース端子S12は、NMOSトランジスタ311のソース端子S11及び接地端子102に、NMOSトランジスタ313を介して接続されている。PMOSトランジスタ310とNMOSトランジスタ312は、インバータを構成している。
In addition, the drain terminals D10 and D12 and the gate terminals G10 and G12 of the
MOSトランジスタ309〜312のゲート端子G9〜G12は、入力端子103に接続され、ゲート端子にG9〜G12は入力信号IN1が入力される。NMOSトランジスタ313のゲート端子G13は、図1に示したPMOSトランジスタ107に対する、入力端子に接続されている。入力端子からは、入力信号IN3が入力される。入力信号IN3は、図1に示したPMOSトランジスタ107のゲート端子Gpに入力される。
容量素子306の一端は、MOSトランジスタ309,311のドレイン端子D9,D11に接続されている。また、容量素子306の他の一端は、NMOSトランジスタ312のソース端子S12と、NMOSトランジスタ313のドレイン端子D13とに接続されている。
The gate terminals G9 to G12 of the
One end of the
次に、図3に示した降圧回路の動作について以下に説明をする。
図3において、第1の期間Ph1に入力信号IN1として電圧GNDが入力される。このとき、PMOSトランジスタ309がオンし、PMOSトランジスタ309のオンによってNMOSトランジスタ311と容量素子306との間の一点に電圧VCCが印加される。この一点をノードCとする。ノードCを図3中に示す。また、入力信号IN1として電圧GNDが入力されたことにより、PMOSトランジスタ310がオンされる。PMOSトランジスタ310のオンによって入力端子307からは出力信号IN3として電圧VCCが出力される。
Next, the operation of the step-down circuit shown in FIG. 3 will be described below.
In FIG. 3, the voltage GND is input as the input signal IN1 in the first period Ph1. At this time, the
電圧VCCは、NMOSトランジスタ313のゲート端子G13に入力されて、NMOSトランジスタ313がオンされる。このため、NMOSトランジスタ313のソース端子S13と容量素子306との間の一点には、電圧GNDが印加される。この一点をノードDとし、ノードDを図3中に示す。ノードDがGNDになったことにより、容量素子306には、ノードCを基準にして、−VCCの電荷がチャージされる。
The voltage VCC is input to the gate terminal G13 of the
次の第2の期間Ph2では、入力信号IN1として、電圧VCCが入力される。電圧VCCの入力により、NMOSトランジスタ311がオンされる。NMOSトランジスタ311のオンにより、ノードCには電圧GNDが印加される。
このとき、期間Ph2において、容量素子306には−VCCの電荷がチャージされている。このため、ノードCに電圧GNDがかかると、ノードDの電圧は、−VCCになる。入力信号IN1としてVCCが入力されたことによって、NMOSトランジスタ312はオンされている。NMOSトランジスタ312のオンにより、ノードDの電圧である、−VCCが出力端子307から出力される。
In the next second period Ph2, the voltage VCC is input as the input signal IN1. The
At this time, the charge of −VCC is charged in the
以上、説明したように、降圧回路120は、図1に示したPMOSトランジスタ107のゲート端子Gpを、Highレベルの電圧VCCと、Lowレベルの電圧−VCCとによって動作させることができる。このため、実施形態1の降圧回路120によれば、PMOSトランジスタ107のオン抵抗を、背景技術で説明した図8の構成よりも小さくすることができる。
As described above, the step-down
本発明に係るMOSスイッチ回路は、昇降圧回路の出力電圧が入力されるMOSスイッチ回路である。
第1のスイッチ制御信号IN2が入力される昇圧回路110と、この昇圧回路110の出力信号IN4がゲート端子Gnに供給されるNMOSトランジスタ108と、第2のスイッチ制御信号IN1が入力される降圧回路120と、この降圧回路120の出力信号IN3がゲート端子Gpに供給されるPMOSトランジスタ107と、NMOSトランジスタ108のドレイン端子DnとPMOSトランジスタ107のドレイン端子Dpとが接続される出力端子105と、昇圧回路110の接地端子102と出力端子207との間に接続される第1の容量素子209と、降圧回路120の電源端子101と出力端子307との間に接続される第3の容量素子314とを備え、NMOSトランジスタ108とPMOSトランジスタ107とのオン抵抗の値を低減するように構成されている。
The MOS switch circuit according to the present invention is a MOS switch circuit to which the output voltage of the buck-boost circuit is input.
The
<実施形態1>
図4は、本発明に係るMOSスイッチ回路の実施形態1を説明するための回路構成図で、昇圧回路を示した図である。なお、図2と同じ機能を有する構成要素には同一の符号を付してあり、その説明は省略する。
図2に示した前提技術の昇圧回路110は、NMOSトランジスタ108に対して電圧2VCCを入力することができる。ただし、昇圧回路110では、NMOSトランジスタ108に入力される入力信号IN4が、プロセスの最大定格電圧を超える恐れがある。例えば、プロセスの最大定格電圧が4Vである場合、電圧VCCが0.8V等、2V以下であれば、昇圧回路110は問題なく動作する。しかし、電圧VCCが、例えば3Vの場合、入力信号IN4が6Vになり、NMOSトランジスタ108に最大定格電圧を超える電圧がかかることになる。
<
FIG. 4 is a circuit configuration diagram for explaining the MOS switch circuit according to the first embodiment of the present invention, and shows a booster circuit. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component which has the same function as FIG. 2, and the description is abbreviate | omitted.
The
本実施形態1のMOSスイッチ回路の昇圧回路は、図2に示した昇圧回路110に容量素子209を追加したものである。
本実施形態1の昇圧回路110は、第1のインバータ201,203と、第1のトランジスタ204と、第2のトランジスタ202と、第3のトランジスタ205と、第1の容量素子209と、第2の容量素子206と、を備えている。
第1のインバータ201,203は、第1のスイッチ制御信号IN2が入力される。また、第1のトランジスタ204は、第1のスイッチ制御信号IN2がゲート端子G4に入力され、ソース端子S4が接地端子102に接続され、ドレイン端子D4が出力端子207に接続されている。
The booster circuit of the MOS switch circuit according to the first embodiment is obtained by adding a
The
The
また、第2のトランジスタ202は、第1のスイッチ制御信号IN2がゲート端子G2に入力され、ドレイン端子D2が出力端子207に接続されている。
また、第3のトランジスタ205は、出力端子207がゲート端子G5に接続され、ソース端子S5が電源端子101に接続され、ドレイン端子D5が第2のトランジスタ202のソース端子S2に接続されている。
また、第1の容量素子209は、出力端子207と接地端子102との間に接続されている。また、第2の容量素子206は、第1のインバータ201,203の出力端子と第3のトランジスタ205のドレイン端子D5との間に接続されている。
In the
In the
The
つまり、本実施形態1における昇圧回路では、NMOSトランジスタ204のソース・ドレイン端子間に、容量素子209が接続されている。そして、実施形態1における昇圧回路には、MOSスイッチ回路を制御するための第1のスイッチ制御信号IN2が入力される。
このような本実施形態1における昇圧回路では、第1の期間Ph1の入力信号IN2が電圧VCCであるとすると、NMOSトランジスタ203がオンされて、PMOSトランジスタ201はオフされる。このとき、NMOSトランジスタ203のドレイン端子D3と容量素子206の一端との間の電圧が、電圧GNDになる。本実施形態1では、MOSトランジスタ203のドレイン端子D3と容量素子206の一端との間の一点をノードAとする。ノードAを図4中に示す。
That is, in the booster circuit according to the first embodiment, the
In such a booster circuit according to the first embodiment, assuming that the input signal IN2 in the first period Ph1 is the voltage VCC, the
図5(a)乃至(d)は、図4に示した本実施形態1における昇圧回路の動作を説明するためのフローチャートを示す図である。
まず、図5(a)に示すように、第1の期間Ph1の入力信号IN2が電圧VCCであるとすると、NMOSトランジスタ204がオンされて、PMOSトランジスタ202はオフされる。
このとき、NMOSトランジスタ204のドレイン端子D4と容量素子209の一端との間の電圧が、電圧GNDになり、容量素子209は両端とも電圧が電圧GNDとなる。
FIGS. 5A to 5D are flowcharts for explaining the operation of the booster circuit according to the first embodiment shown in FIG.
First, as shown in FIG. 5A, when the input signal IN2 in the first period Ph1 is the voltage VCC, the
At this time, the voltage between the drain terminal D4 of the
以上の動作と同時に、NMOSトランジスタ204がオンされて、PMOSトランジスタ202がオフされる。NMOSトランジスタ204のオンにより、出力端子207からは電圧GNDが出力される。出力端子207から電圧GNDが出力されるとき、PのMOSトランジスタ205がオンされる。このため、PMOSトランジスタ205のドレイン端子D5と接続される一点に電圧VCCが印加される。この一点をノードBとする。ノードBにおける電圧は、図5(c)に示されている。このとき、容量素子206には、ノードAの電位を基準にして、電圧VCCに相当する電荷が蓄積される。ノードAにおける電圧は、図5(b)に示されている。
Simultaneously with the above operation, the
次の第2の期間Ph2では、入力信号IN2として、電圧GNDが昇圧回路に入力される。このとき、PMOSトランジスタ201がオンし、NMOSトランジスタ203がオフされる。PMOSトランジスタ201のオンにより、図5(b)に示されているように、ノードAの電位が電圧VCCになる。なお、PMOSトランジスタ205はオフとなる。
また、入力信号IN2として電圧GNDが入力されたことにより、PMOSトランジスタ202がオンされて、容量素子206と容量素子209の一端は出力端子207に接続されている。このとき、第2の期間Ph2では、第1の期間Ph1において、容量素子206に+VCCの電荷がチャージされており、容量素子209には電荷がチャージされていない。
In the next second period Ph2, the voltage GND is input to the booster circuit as the input signal IN2. At this time, the
In addition, when the voltage GND is input as the input signal IN2, the
これより、出力端子207の電圧をIN4、容量素子206の静電容量をC1、容量素子206の静電容量をC2とした場合、出力端子207の電圧は、図5(d)に示されるように、以下の式となる。
IN4=2×C1/(C1+C2)×VCC
これより、容量素子206と容量素子209の静電容量を調整することで出力端子207の電圧を決めることができる。
Accordingly, when the voltage of the
IN4 = 2 × C1 / (C1 + C2) × VCC
Thus, the voltage of the
本実施形態1における昇圧回路によれば、容量素子の容量値の比に応じた出力電圧とすることができるため、精度が高く、製造ばらつきに強い昇圧回路を提供できる。また、容量素子の容量値の比に応じた出力電圧であるため、容量値の温度変動に対しても強い。
そのため、本実施形態1のMOSスイッチ回路によれば、電源電圧が低電圧であっても、MOSトランジスタのオン抵抗が小さくすることもできる。加えて、昇圧回路の出力電圧が精度が高く、製造ばらつきに強いため、昇圧電圧が入力されるMOSトランジスタの耐圧を確保した上での、オン抵抗の低減を十分に行える。そのため、入力信号に対するMOSスイッチ回路の出力電圧の応答性を十分向上できる。
According to the booster circuit of the first embodiment, since the output voltage can be set according to the capacitance value ratio of the capacitive element, it is possible to provide a booster circuit with high accuracy and resistance to manufacturing variations. Further, since the output voltage is in accordance with the ratio of the capacitance values of the capacitive elements, it is strong against temperature fluctuation of the capacitance value.
Therefore, according to the MOS switch circuit of the first embodiment, the on-resistance of the MOS transistor can be reduced even when the power supply voltage is low. In addition, since the output voltage of the booster circuit is highly accurate and resistant to manufacturing variations, the on-resistance can be sufficiently reduced while ensuring the withstand voltage of the MOS transistor to which the boosted voltage is input. Therefore, the response of the output voltage of the MOS switch circuit to the input signal can be sufficiently improved.
<実施形態2>
図6は、本発明に係るMOSスイッチ回路の実施形態2を説明するための回路構成図で、降圧回路を示した図である。なお、図3と同じ機能を有する構成要素には同一の符号を付してあり、その説明は省略する。
図3に示した前提技術の降圧回路120は、PMOSトランジスタ107に対して電圧−VCCを入力することができる。ただし、降圧回路120では、PMOSトランジスタ107に入力される入力信号IN3が、プロセスの最大定格電圧を超える恐れがある。例えば、プロセスの最大定格電圧が4Vである場合、電圧VCCが0.8Vなどであれば、降圧回路120は問題なく動作する。しかし、電圧VCCが、例えば3Vの場合、入力信号IN3が−3Vになり、PMOSトランジスタ107に最大定格電圧を超える電圧(VCC−IN4=6V>4V)がかかることになる。
<
FIG. 6 is a circuit configuration diagram for explaining the MOS switch circuit according to the second embodiment of the present invention, and shows a step-down circuit. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component which has the same function as FIG. 3, The description is abbreviate | omitted.
The step-down
本実施形態2のMOSスイッチ回路の降圧回路は、図3に示した降圧回路120に容量素子314を追加したものである。
本実施形態2の降圧回路120は、第2のインバータ309,311と、第4のトランジスタ310と、第6のトランジスタ313と、第3の容量素子314と、第4の容量素子306と、を備えている。
第2のインバータ309,311は、第2のスイッチ制御信号IN1が入力される。また、第4のトランジスタ310は、第2のスイッチ制御信号IN1がゲート端子G10に入力され、ソース端子S10が電源端子101に接続され、ドレイン端子D10が出力端子307に接続されている。
The step-down circuit of the MOS switch circuit according to the second embodiment is obtained by adding a
The step-down
The
また、第5のトランジスタ312は、第の2スイッチ制御信号IN2がゲート端子G12に入力され、ドレイン端子D12が出力端子307に接続されている。
また、第6のトランジスタ313は、出力端子307がゲート端子G13に接続され、ソース端子S13が接地端子102に接続され、ドレイン端子D13が第5のトランジスタ312のソース端子S12に接続されている。
In the
The
また、第3の容量素子314は、出力端子307と電源端子101との間に接続されている。また、第4の容量素子306は、第2のインバータ309,311の出力端子と第6のトランジスタ313のドレイン端子D13との間に接続されている。
つまり、本実施形態2における降圧回路では、PMOSトランジスタ310のソース・ドレイン端子間に、容量素子314が接続されている。そして、本実施形態2における降圧回路には、MOSスイッチ回路を制御するための第2スイッチ制御信号IN1が入力される。この第2スイッチ制御信号IN1は、例えば、第1のスイッチ制御信号IN2と逆相の信号である。
The
That is, in the step-down circuit according to the second embodiment, the
図7(a)乃至(d)は、図6に示した本実施形態2における降圧回路の動作を説明するためのフローチャートを示す図である。
まず、図7(a)に示すように、第1の期間Ph1に入力信号IN1として電圧GNDが入力される。このとき、PMOSトランジスタ309がオンし、PMOSトランジスタ309のオンによってNMOSトランジスタ311と容量素子306との間の一点に電圧VCCが印加される。この一点をノードCとする。ノードCの電圧は、図7(b)に示してある。また、入力信号IN1として電圧GNDが入力されたことにより、PMOSトランジスタ310がオンされる。PMOSトランジスタ310のオンによって出力端子307からは出力信号IN3として電圧VCCが出力され、容量素子314は両端とも電圧VCCが印加される。
FIGS. 7A to 7D are flowcharts for explaining the operation of the step-down circuit according to the second embodiment shown in FIG.
First, as shown in FIG. 7A, the voltage GND is input as the input signal IN1 in the first period Ph1. At this time, the
電圧VCCは、NMOSトランジスタ313のゲート端子G13に入力されて、NMOSトランジスタ313がオンされる。このため、NMOSトランジスタ313のソース端子S13と容量素子306との間の一点には、電圧GNDが印加される。この一点をノードDとし、ノードDの電圧は、図7(c)に示されている。ノードDがGNDになったことにより、容量素子306には、ノードCを基準にして、−VCCの電荷がチャージされる。
The voltage VCC is input to the gate terminal G13 of the
次の第2の期間Ph2では、入力信号IN1として、電圧VCCが入力される。電圧VCCの入力により、NMOSトランジスタ311がオンされる。NMOSトランジスタ311のオンにより、ノードCには、図7(b)に示すように、電圧GNDが印加される。
このとき、第2の期間Ph2では、第1の期間Ph1において、容量素子306に−VCCの電荷がチャージされており、容量素子314には電荷がチャージされていない。
In the next second period Ph2, the voltage VCC is input as the input signal IN1. The
At this time, in the second period Ph2, in the first period Ph1, the
これより、出力端子307の電圧をIN3、容量素子306の静電容量をC1、容量素子314の静電容量をC2とした場合、出力端子307の電圧は、図7(d)に示すように、以下の式となる。
IN3=(C2−C1)/(C1+C2)×VCC 条件C1>C2
これより、容量素子306と容量素子314の静電容量を調整することで入力端子307の電圧を決めることができる。
Accordingly, when the voltage of the
IN3 = (C2−C1) / (C1 + C2) × VCC Condition C1> C2
Thus, the voltage of the
本実施形態2における降圧回路によれば、容量素子の容量値の比に応じた出力電圧とすることができるため、精度が高く、製造ばらつきに強い降圧回路を提供できる。また、容量素子の容量値の比に応じた出力電圧であるため、容量値の温度変動に対しても強い。
そのため、本実施形態2のMOSスイッチ回路によれば、電源電圧が低電圧であっても、MOSトランジスタのオン抵抗が小さくすることもできる。加えて、降圧回路の出力電圧が精度が高く、製造ばらつきに強いため、降圧電圧が入力されるMOSトランジスタの耐圧を確保した上での、オン抵抗の低減を十分に行える。そのため、入力信号に対するMOSスイッチ回路の出力電圧の応答性を十分向上できる。
According to the step-down circuit according to the second embodiment, the output voltage can be set in accordance with the ratio of the capacitance values of the capacitive elements. Therefore, it is possible to provide a step-down circuit that is highly accurate and resistant to manufacturing variations. Further, since the output voltage is in accordance with the ratio of the capacitance values of the capacitive elements, it is strong against temperature fluctuation of the capacitance value.
Therefore, according to the MOS switch circuit of the second embodiment, the on-resistance of the MOS transistor can be reduced even when the power supply voltage is low. In addition, since the output voltage of the step-down circuit has high accuracy and is resistant to manufacturing variations, the on-resistance can be sufficiently reduced while ensuring the withstand voltage of the MOS transistor to which the step-down voltage is input. Therefore, the response of the output voltage of the MOS switch circuit to the input signal can be sufficiently improved.
<実施形態3>
本実施形態3のMOSスイッチ回路は、図1に示すように、上述した図4の実施形態1における昇圧回路110と、上述した図6の実施形態2における降圧回路120と、昇圧電圧がゲート端子Gnに入力される第1のMOSトランジスタ108と、降圧電圧がゲート端子Gpに入力される第2のMOSトランジスタ107と、を備えている。
昇圧電圧及び降圧電圧の精度が良く、製造バラツキにも強いため、駆動トランジスタの耐圧ぎりぎりまで昇圧又は降圧した電圧をゲート端子に入力することができる。それによって、駆動トランジスタのオン抵抗を下げることができ、第1のスイッチ制御信号IN2及び第2のスイッチ制御信号IN1に対する、出力端子105の出力電圧の応答性を向上させることができる。
<
As shown in FIG. 1, the MOS switch circuit according to the third embodiment includes a
Since the accuracy of the boosted voltage and the step-down voltage is good and the manufacturing variation is strong, the voltage boosted or stepped down to the limit of the withstand voltage of the driving transistor can be input to the gate terminal. Accordingly, the on-resistance of the driving transistor can be lowered, and the response of the output voltage of the
MOSスイッチ回路としては、CMOSゲート端子スイッチなどが挙げられる。特に、NMOSトランジスタとPMOSトランジスタの一端同士が接続され、もう一端同士が接続され、それぞれのゲートにスイッチ制御信号が入力されるMOSスイッチ回路等が挙げられる。なお、MOSスイッチ回路のNMOSにのみスイッチ制御信号を昇圧する構成であっても、PMOSのみにスイッチ制御信号を降圧する構成であっても、その両方であってもよい。特に、オン抵抗の影響が大きいスイッチ回路への適用が好適である。 Examples of the MOS switch circuit include a CMOS gate terminal switch. In particular, a MOS switch circuit or the like in which one end of an NMOS transistor and a PMOS transistor are connected to each other, the other end is connected to each other, and a switch control signal is input to each gate. Note that the switch control signal may be boosted only to the NMOS of the MOS switch circuit, or the switch control signal may be boosted only to the PMOS, or both. In particular, application to a switch circuit having a large influence of on-resistance is preferable.
上述した図4の実施形態1における昇圧回路110と、上述した図6の実施形態2における降圧回路120と、を備えた半導体集積回路も可能である。
昇圧回路110は、第1のスイッチ制御信号IN2が入力される第1のインバータ201,203と、第1のスイッチ制御信号IN2がゲート端子G4に入力され、ソース端子S4が接地端子102に接続され、ドレイン端子D4が出力端子207に接続される第1のトランジスタ204と、第1のスイッチ制御信号IN2がゲート端子G2に入力され、ドレイン端子D2が出力端子207に接続される第2のトランジスタ202と、出力端子207がゲート端子G5に接続され、ソース端子S5が電源端子101に接続され、ドレイン端子D5が第2のトランジスタ202のソース端子S2に接続される第3のトランジスタ205と、出力端子207と接地端子102の間に接続される第1の容量素子209と、第1のインバータ201,203の出力端子と第3のトランジスタ205のドレイン端子D5との間に接続される第2の容量素子206と、を備えている。
A semiconductor integrated circuit including the step-up
In the
また、降圧回路120は、第2のスイッチ制御信号IN1が入力される第2のインバータ309,311と、第2のスイッチ制御信号IN1がゲート端子G10に入力され、ソース端子S10が電源端子101に接続され、ドレイン端子D10が出力端子307に接続される第4のトランジスタ310と、第2のスイッチ制御信号IN1がゲート端子G12に入力され、ドレイン端子D12が出力端子307に接続される第5のトランジスタ312と、出力端子307がゲート端子G13に接続され、ソース端子S13が接地端子102に接続され、ドレイン端子D13が第5のトランジスタ312のソース端子S12に接続される第6のトランジスタ313と、出力端子307と電源端子101との間に接続される第3の容量素子314と、第2のインバータ309,311の出力端子と第6のトランジスタ313のドレイン端子D13との間に接続される第4の容量素子306と、を備えている。
The step-down
また、昇圧回路110及び降圧回路120の出力電圧がそれぞれ入力されるスイッチ107,108と、第1のスイッチ制御信号IN2及び第2のスイッチ制御信号IN1を生成するスイッチ制御信号生成部(図示せず)と、を備えている。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明の技術的範囲は、上述した実施形態に記載の技術的範囲には限定されない。上述した実施形態に、多様な変更又は改良を加えることも可能であり、そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
Also, switches 107 and 108 to which the output voltages of the
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, the technical scope of this invention is not limited to the technical scope as described in embodiment mentioned above. It is possible to add various changes or improvements to the above-described embodiments, and it is possible to add such changes or improvements to the technical scope of the present invention. it is obvious.
本発明は、MOSトランジスタを利用したスイッチ全般に適用することが可能であり、特に、消費電力の低減及び小型化が要求される機器に搭載されるスイッチ回路に好適である。 The present invention can be applied to all switches using MOS transistors, and is particularly suitable for a switch circuit mounted on a device that requires reduction in power consumption and miniaturization.
17 PMOSトランジスタ
18 NMOSトランジスタ
101 電源端子
102 接地端子
103,104 入力端子
107,201,202,205,309,310 PMOSトランジスタ
108,203,204,311,312,313 NMOSトランジスタ
110 昇圧回路
120 降圧回路
207,307 出力端子
208,708 MOSトランジスタユニット
208a,208b,208c PMOSトランジスタ
708a,708b,708c NMOSトランジスタ
206,209,306,314 容量素子
800 MOSスイッチ
17
Claims (5)
前記昇圧回路の出力信号がゲート端子に供給されるNMOSトランジスタと、を備えたMOSスイッチ回路であり、
前記昇圧回路が、
前記第1のスイッチ制御信号が入力される第1のインバータと、
前記第1のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ソース端子が前記接地端子に接続され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第1のトランジスタと、
前記第1のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第2のトランジスタと、
前記出力端子がゲート端子に接続され、ソース端子が前記電源端子に接続され、ドレイン端子が前記第2のトランジスタのソース端子に接続される第3のトランジスタと、
前記出力端子と前記接地端子との間に接続される第1の容量素子と、
前記第1のインバータの出力端子と前記第3のトランジスタのドレイン端子との間に接続される第2の容量素子と、
を備えるMOSスイッチ回路。 A booster circuit to which a first switch control signal is input;
An NMOS transistor to which an output signal of the booster circuit is supplied to a gate terminal, and a MOS switch circuit,
The booster circuit is
A first inverter to which the first switch control signal is input;
A first transistor having the first switch control signal input to a gate terminal, a source terminal connected to the ground terminal, and a drain terminal connected to the output terminal;
A second transistor in which the first switch control signal is input to a gate terminal and a drain terminal is connected to the output terminal;
A third transistor in which the output terminal is connected to the gate terminal, the source terminal is connected to the power supply terminal, and the drain terminal is connected to the source terminal of the second transistor;
A first capacitive element connected between the output terminal and the ground terminal;
A second capacitor connected between the output terminal of the first inverter and the drain terminal of the third transistor;
MOS switch circuit comprising:
前記降圧回路の出力信号がゲート端子に供給されるPMOSトランジスタと、を備えたMOSスイッチ回路であり、
前記降圧回路が、
前記第2のスイッチ制御信号が入力される第2のインバータと、
前記第2のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ソース端子が前記電源端子に接続され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第4のトランジスタと、
前記第の2スイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第5のトランジスタと、
前記出力端子がゲート端子に接続され、ソース端子が前記接地端子に接続され、ドレイン端子が前記第5のトランジスタのソース端子に接続される第6のトランジスタと、
前記出力端子と前記電源端子との間に接続される第3の容量素子と、
前記第2のインバータの出力端子と前記第6のトランジスタのドレイン端子との間に接続される第4の容量素子と、
を備えるMOSスイッチ回路。 A step-down circuit to which a second switch control signal is input;
And a PMOS transistor to which an output signal of the step-down circuit is supplied to a gate terminal.
The step-down circuit is
A second inverter to which the second switch control signal is input;
A fourth transistor in which the second switch control signal is input to a gate terminal, a source terminal is connected to the power supply terminal, and a drain terminal is connected to the output terminal;
A fifth transistor in which the second switch control signal is input to a gate terminal and a drain terminal is connected to the output terminal;
A sixth transistor having the output terminal connected to the gate terminal, the source terminal connected to the ground terminal, and a drain terminal connected to the source terminal of the fifth transistor;
A third capacitive element connected between the output terminal and the power supply terminal;
A fourth capacitor connected between the output terminal of the second inverter and the drain terminal of the sixth transistor;
MOS switch circuit comprising:
前記第1のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ソース端子が接地端子に接続され、ドレイン端子が出力端子に接続される第1のトランジスタと、
前記第1のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第2のトランジスタと、
前記出力端子がゲート端子に接続され、ソース端子が電源端子に接続され、ドレイン端子が前記第2のトランジスタのソース端子に接続される第3のトランジスタと、
前記出力端子と前記接地端子の間に接続される第1の容量素子と、
前記第1のインバータの出力端子と前記第3のトランジスタのドレイン端子との間に接続される第2の容量素子と、
を備えている昇圧回路と、
第2のスイッチ制御信号が入力される第2のインバータと、
前記第2のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ソース端子が電源端子に接続され、ドレイン端子が出力端子に接続される第4のトランジスタと、
前記第2のスイッチ制御信号がゲート端子に入力され、ドレイン端子が前記出力端子に接続される第5のトランジスタと、
前記出力端子がゲート端子に接続され、ソース端子が接地端子に接続され、ドレイン端子が前記第5のトランジスタのソース端子に接続される第6のトランジスタと、
前記出力端子と前記電源端子との間に接続される第3の容量素子と、
前記第2のインバータの出力端子と前記第6のトランジスタのドレイン端子との間に接続される第4の容量素子と、
を備えている降圧回路と、
前記昇圧回路及び前記降圧回路の出力電圧がそれぞれ入力されるスイッチと、
前記第1のスイッチ制御信号及び前記第2のスイッチ制御信号を生成するスイッチ制御信号生成部と、
を備える半導体集積回路。 A first inverter to which a first switch control signal is input;
A first transistor in which the first switch control signal is input to a gate terminal, a source terminal is connected to a ground terminal, and a drain terminal is connected to an output terminal;
A second transistor in which the first switch control signal is input to a gate terminal and a drain terminal is connected to the output terminal;
A third transistor in which the output terminal is connected to the gate terminal, the source terminal is connected to the power supply terminal, and the drain terminal is connected to the source terminal of the second transistor;
A first capacitive element connected between the output terminal and the ground terminal;
A second capacitor connected between the output terminal of the first inverter and the drain terminal of the third transistor;
A booster circuit comprising:
A second inverter to which a second switch control signal is input;
A fourth transistor in which the second switch control signal is input to the gate terminal, the source terminal is connected to the power supply terminal, and the drain terminal is connected to the output terminal;
A fifth transistor in which the second switch control signal is input to a gate terminal and a drain terminal is connected to the output terminal;
A sixth transistor having the output terminal connected to the gate terminal, the source terminal connected to the ground terminal, and the drain terminal connected to the source terminal of the fifth transistor;
A third capacitive element connected between the output terminal and the power supply terminal;
A fourth capacitor connected between the output terminal of the second inverter and the drain terminal of the sixth transistor;
A step-down circuit comprising:
Switches to which output voltages of the booster circuit and the step-down circuit are respectively input;
A switch control signal generator for generating the first switch control signal and the second switch control signal;
A semiconductor integrated circuit comprising:
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2015038530A JP2016162071A (en) | 2015-02-27 | 2015-02-27 | Mos switch circuit and semiconductor integrated circuit of the same |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015038530A JP2016162071A (en) | 2015-02-27 | 2015-02-27 | Mos switch circuit and semiconductor integrated circuit of the same |
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Family Applications (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018038089A1 (en) | 2016-08-22 | 2018-03-01 | 高砂香料工業株式会社 | Perfume composition, food and beverage, and method for producing food and beverage |
-
2015
- 2015-02-27 JP JP2015038530A patent/JP2016162071A/en active Pending
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