JP2016131886A - X線ct装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】低コストでスペクトルCTを実現すること。【解決手段】実施形態のX線CT装置は、X線源と、第1のX線検出器と、第2のX線検出器とを備える。X線源は、X線を照射する。第1のX線検出器は、前記X線源と対向して回転軸周りに回転可能であり、前記X線源から照射されて被検体を透過したX線を検出する。第2のX線検出器は、前記回転軸を中心とした円周上に固定配置された検出器であって、前記回転軸へ向かう方向に積層された複数のシンチレータと、各シンチレータにより検出されたX線信号に基づいて出力信号を生成する光センサとを備える。【選択図】図4

Description

本発明の実施形態は、X線CT(Computed Tomography)装置に関する。
ほとんどのCTスキャナ(「CTスキャナ装置」とも言う)におけるX線ビームは、一般に多色である。しかし、第3世代CTスキャナは、検出器のエネルギー積分特性に応じたデータに基づいて、画像を生成する。このような従来の検出器は、エネルギー積分検出器と呼ばれ、エネルギー積分したX線データを収集する。一方、光子計数検出器(Photon-Counting Detector:PCD)は、エネルギー積分特性ではなく、X線源のスペクトル特性を収集するように構成されている。透過したX線データのスペクトル特性を得るために、PCDは、X線ビームをそのエネルギー成分すなわちスペクトルのビンに分割し、各ビン中の光子の数を計数する。X線源のスペクトル特性を使用するCTは、しばしば、スペクトルCTと呼ばれる。2つ以上のエネルギーレベルで透過されたX線の検出を行うため、スペクトルCTには、一般に当然のことながらデュアルエネルギーCTが含まれる。
スペクトルCTにより、X線ビームの全スペクトルに含まれる付加的な臨床情報が得られるため、スペクトルCTは従来のCTよりも利点が多い。例えば、スペクトルCTにより、組織を識別すること、カルシウム含む組織とヨウ素を含む組織とを識別すること、より細い血管の検出を向上させることが容易になる。利点の中でも特に、スペクトルCTは、ビームハードニングアーチファクトを低減し、スキャナの種類とは無関係にCT値の精度を高める。
従来の試みとして、スペクトルCTの実施において、積分検出器が使用される。ある試みでは、ガントリ(「架台」とも言う)が患者の周りを回転する間にデータを収集するために、互いに所定の角度でガントリに配置される、デュアル線源およびデュアル積分検出器が用いられる。別の試みでは、kVスイッチングを行うシングル線源と、ガントリが患者の周りを回転する間にデータを収集するためにガントリに配置されるシングル積分検出器の組み合わせが用いられる。さらに別の試みでは、ガントリが患者の周りを回転する間にデータを収集するためにガントリに重ねて配置される、シングル線源とデュアル積分検出器が用いられる。スペクトルCTに対するこのような試みはどれも、臨床に役立つ画像を再構成するために、ビームハードニング、時間分解能、雑音、不十分な検出器応答、不十分なエネルギー分離等の課題を実質的に解決することに成功していない。
スペクトルCTには、次のような欠点もある。kVスイッチングが遅いため、患者の移動時や各スキャンの間に動態変化が行われる場合に課題が生じる。データ領域の分解も非常に難しい。動きの課題を克服するために、高いサンプルレートには高速kVスイッチングが必要となる。しかし、複雑で高価なシステムが必要であり、それでも理想的な波形は得られず、空間的位置決めとの雑音のバランスが良くない。
二層検出器はエネルギー分離に限りがあり、一層検出器よりも高価である。さらに、患者およびスキャンの状態に対する適応性がない。デュアル線源のイメージングシステムはデータ領域の位置決めに課題があり、有用性の低い画像領域スペクトル分解法が必要となる。また、シングル線源のイメージングシステムよりもはるかに高価である。
光子計数CTシステムは、汎用、診断、または臨床目的のCTに好適とは言えない。臨床CTに求められる高い計数率では、パイルアップや偏光により課題が生じる。エネルギー共有とK−escapeのため、測定値の分光精度には疑問の余地がある。また、光子計数システムはより高価である。
米国特許出願公開第2013/0292574号明細書 米国特許出願公開第2013/0058452号明細書 米国特許第8391439号明細書 米国特許第6553092号明細書 米国特許出願公開第2013/0251097号明細書
本発明が解決しようとする課題は、低コストでスペクトルCTを実現することができるX線CT装置を提供することである。
実施形態のX線CT装置は、X線源と、第1のX線検出器と、第2のX線検出器とを備える。X線源は、X線を照射する。第1のX線検出器は、前記X線源と対向して回転軸周りに回転可能であり、前記X線源から照射されて被検体を透過したX線を検出する。第2のX線検出器は、前記回転軸を中心とした円周上に固定配置された検出器であって、前記回転軸へ向かう方向に積層された複数のシンチレータと、各シンチレータにより検出されたX線信号に基づいて出力信号を生成する光センサとを備える。
図1は、一例示的実施形態に係る、第3世代と第4世代を組み合わせたCT装置の断面図である。 図2は、一例示的実施形態に係るCTシステムの実施例を示す図である。 図3は、一例示的実施形態に係る、層読み出し配置の多層エネルギー積分検出器(Multiple-Layered energy-Integrating Detector:MLID)(MLID in a Layer readout configuration:L−MLID)を示す図である。 図4は、一例示的実施形態に係る、第3世代CT装置と複数のL−MLIDを組み合わせた第4世代CT装置の断面図である。 図5は、一例示的実施形態に係る、側面読み出し配置のMLID(MLID in a Side readout configuration:S−MLID)を示す図である。 図6は、一例示的実施形態に係る、第3世代CT装置と複数のS−MLIDを組み合わせた第4世代CT装置の断面図である。
以下、図面を参照して、実施形態に係るX線CT装置を説明する。なお、実施形態は、以下の実施形態に限られるものではない。また、一つの実施形態に記載した内容は、原則として他の実施形態にも同様に適用される。
本明細書の実施形態は、ハイブリッド型CTスキャナにおける多層エネルギー積分検出器について説明する。実施形態によっては、スペクトルCT装置は、被検体の周りを一定の円周の長さで共に回転するように構成されたX線源およびX線検出器と、被検体周りの静止した周囲に配置された複数の多層エネルギー積分検出器とを備える。多層エネルギー積分検出器はそれぞれ、層状に重なる複数のシンチレータを含む。実施形態によっては、多層エネルギー積分検出器は、被検体を通って放射されたX線光子からのスペクトル情報を測定するように構成された、積層された複数のシンチレータと、交互に配置された複数の光センサとを備える。実施形態によっては、多層エネルギー積分検出器は、積層された複数のシンチレータと、被検体を通って放射されたX線光子からのスペクトル情報を測定するように構成された隣接の光センサとを備える。実施形態によっては、被検体を通って放射されたX線光子からのスペクトル情報を測定する方法は、積層された複数のシンチレータ材料に隣接した光センサにおいて、放射されたX線光子のエネルギーレベルを測定するステップを含む。実施形態によっては、被検体を通って放射されたX線光子からのスペクトル情報を測定する方法は、層状に交互に積み重ねられたシンチレータおよび対応する光センサによって、放射されたX線光子のエネルギーを測定するステップを含む。
一実施形態では、CTスキャナ装置は、CTスキャナ装置のガントリに取り付けられたX線源を備える。CTスキャナ装置はまた、ガントリに取り付けられ、X線源の反対側にあり、X線源から照射され被検体を透過したX線を検出するように構成された第1のX線検出器を備える。CTスキャナ装置はまた、低密度に固定配置された第2のX線検出器(例えば、MLID)のアレイを備える。第2のX線検出器はそれぞれ、側面読み出し配置において、積層された複数のシンチレータと、積層されたシンチレータの側壁に隣接した光センサとを備える。
一実施形態では、CTスキャナ装置は、CTスキャナ装置のガントリに取り付けられたX線源を備える。CTスキャナ装置はまた、ガントリに取り付けられ、X線源の反対側にあり、X線源から照射され被検体を透過したX線を検出するように構成された第1のX線検出器を備える。CTスキャナ装置はまた、低密度に固定配置された第2のX線検出器のアレイを備え、第2のX線検出器はそれぞれ、層読み出し配置において交互に配置された複数のシンチレータと光センサとを備える。
(第1の実施形態)
ここで図面(図面全体を通して、同じ参照番号は同一または対応する要素を示す)を参照すると、図1は、CTスキャナシステム(X線CT装置とも言う)において、所定の第3世代ジオメトリを有する検出器と組み合わせて、所定の第4世代ジオメトリを有するPCDを配置するための実施例を示す図である。図1には、一例示的実施形態における、スキャン対象の被検体OBJと、X線源101と、X線検出器103と、光子計数検出器PCD1〜PCDNとの相対関係が示されている。簡潔にするために、データを収集して処理する際、および収集されたデータに基づいて画像を再構成する際に使用されうる他の構成要素や回路が、図1では省略されている。X線源101は、X線を照射する。一般に、各光子計数検出器PCD1〜PCDNは、所定のエネルギービン毎に光子計数を出力する。第4世代ジオメトリにおいて低密度に配置される光子計数検出器PCD1〜PCDNに加え、図1に示す実施例は、CTスキャナシステムにおいて従来の第3世代ジオメトリを有するX線検出器103等の検出器を備える。X線検出器103は、X線源101と対向して回転軸周りに回転可能であり、X線源101から照射されて被検体OBJを透過したX線を検出する。検出器103の検出素子を、光子計数検出器PCD1〜PCDNよりも高密度に、検出器表面に沿って配置することができる。関連する特許文献5を参照。その内容は、参照することにより本明細書に組み込まれる。なお、X線検出器103のことを第1のX線検出器とも言う。
一実施例では、光子計数検出器PCD1〜PCDNが、環状等の所定のジオメトリで被検体OBJの周りに低密度に設置される。例えば、光子計数検出器PCD1〜PCDNは、ガントリ100の所定の円形部品110上に固定配置される。一実施例では、光子計数検出器PCD1〜PCDNは、円形部品110上の所定の等間隔位置に固定配置される。代替実施例では、光子計数検出器PCD1〜PCDNは、円形部品110上の所定の非等間隔位置に固定配置される。円形部品110は、被検体OBJに対して静止したままであり、データ収集の間に回転することはない。
光子計数検出器PCD1〜PCDNが被検体OBJに対して静止している一方で、X線源101とX線検出器103は共に被検体OBJの周りを回転する。一実施例では、X線源101は、低密度に配置された光子計数検出器PCD1〜PCDNの内側で被検体OBJの周りを回転しながら、被検体OBJに向かって所定の線源ファンビーム角度でX線を放射するように、X線撮影ガントリ100内の環状フレームの第1の回転部120に取り付けられる。さらに、別のX線検出器103が、第3世代ジオメトリを有する第2の回転部130に取り付けられる。第2の回転部130は、被検体OBJを挟んでX線源101の正反対の位置にX線検出器103を搭載し、光子計数検出器PCD1〜PCDNが所定の低密度な形で固定配置されている静止円形部品110の外側を回転する。
一実施例では、第1の回転部120および第2の回転部130は、1つの構成要素として一体的に構成される。これにより、これらの回転部が被検体OBJの周りを異なる半径で回転する際にX線源101とX線検出器103との間の角度は一定(180度等)に保たれる。任意の実施例では、第1の回転部120および第2の回転部130は別個の構成要素であるが、同期して回転することで、X線源101とX線検出器103は被検体OBJを挟んで180度の固定された対向位置に保たれる。さらに、第1の回転部120の回転面に垂直な所定の方向に被検体OBJを移動させると、X線源101は螺旋軌道を動くことができる。
X線源101とX線検出器103が被検体OBJの周りを回転する際に、光子計数検出器PCD1〜PCDNおよびX線検出器103はそれぞれ、データ収集の間に透過X線を検出する。光子計数検出器PCD1〜PCDNは、被検体OBJを透過したX線を所定の検出器ファンビーム角度で断続的に検出し、所定のエネルギービン毎に光子の数を表す計数値を個々に出力する。一方、X線検出器103の検出器素子は、被検体OBJを透過したX線を連続的に検出し、X線検出器103が回転する際に検出信号を出力する。一実施例では、X線検出器103には、検出器表面上に所定のチャネル方向および所定のセグメント方向に、エネルギー積分検出器が高密度に配置される。
一実施例では、X線源101、光子計数検出器PCD1〜PCDN、および検出器103は、半径が異なる3つの所定の円形軌道を集合的に形成する。少なくとも1つのX線源101が被検体OBJの周りを第2の円形軌道に沿って回転する一方で、光子計数検出器PCD1〜PCDNは、被検体OBJの周りの第1の円形軌道に沿って低密度に配置される。また、X線検出器103は、第3の円形軌道に沿って動く。上記の例示的実施形態は、第3の円形軌道が最大であり、被検体OBJの周りの第1および第2の円形軌道の外側にあることを示している。図示はしないが、代替実施形態では、被検体OBJの周りに低密度に配置された光子計数検出器PCD1〜PCDNの第1の円形軌道よりも、X線源101の第2の円形軌道のほうが大きく、外側になるように、第1および第2の円形軌道の相対関係を変えてもよい。さらに、別の代替実施形態では、X線源101も、X線検出器103と同じ第3の円形軌道上を動くことができる。さらに、上記の代替実施形態において、低密度に配置された光子計数検出器PCD1〜PCDNの第1の円形軌道の外側をX線源101が動く際に後ろからX線を照射される光子計数検出器PCD1〜PCDNのそれぞれに対して、保護用背面カバーを設けてもよい。
他の代替実施形態では、CTスキャナにおいて、所定の第3世代ジオメトリを有する検出器と組み合わせて、所定の第4世代ジオメトリを有する光子計数検出器を配置する。同様に、さらなる代替実施形態では、所定の高レベルエネルギーおよび所定の低レベルエネルギーでX線を照射するkVスイッチング機能を実行するように構成または設計されたX線源101を備えてもよい。
一般に、光子計数検出器PCD1〜PCDNは、円形部品110に沿って低密度に配置される。光子計数検出器PCD1〜PCDNはスパースビュー(sparse view)投影データを収集するが、収集された投影データは、少なくとも、スパースビュー再構成技術を用いるデュアルエネルギー(Dual-Energy:DE)再構成に対しては十分である。加えて、X線検出器103は、画質を全体的に改善するために使用される別の投影データを収集する。X線検出器103が、散乱線除去グリッドを有するエネルギー積分検出器で構成される場合、X線検出器103からの投影データを用いて、光子計数検出器PCD1〜PCDNからの投影データ上の散乱線が補正される。一実施例では、所定の円形部品110および光子計数検出器PCD1〜PCDNの一部へのX線透過を考慮して、積分検出器を任意に較正する必要がある。投影データを収集する際に、空間分解能を高めるために、線源の軌道上のサンプリングを十分に密に行ってもよい。
図2は、CT装置またはスキャナにおける図1のX線撮影ガントリ100の実施例を示す。図2に示すように、側面図で示されるX線撮影ガントリ200は、X線管201と、環状フレーム202と、多列または2次元アレイタイプX線検出器203とを備える。X線管201とX線検出器203は、環状フレーム202上に対象Sを挟んで正反対の位置に搭載され、環状フレーム202は、回転軸RAの周りを回転可能に支持される。対象Sが図示されたページの内外へ回転軸RAに沿って動かされる一方で、回転ユニット207は、0.4秒/回転等の高速で環状フレーム202を回転させる。
マルチスライスX線CT装置はさらに、高電圧発生器209を備える。スリップリング208によってX線管201に印加される管電圧を高電圧発生器209が発生させることにより、X線管201はX線を発生させる。X線は対象Sに向けて照射され、対象Sの断面領域が円で表される。X線検出器203は、対象Sを透過した放射X線を検出するために、対象Sを挟んでX線管201と反対側に配置される。X線検出器203はさらに、個別の検出器素子またはユニットを備える。
図2を引き続き参照すると、CT装置はさらに、X線検出器203からの検出信号を処理するための他の装置を備える。データ収集回路すなわちデータ収集システム(Data Acquisition System:DAS)204は、チャネル毎にX線検出器203から出力された信号を電圧信号に変換し、変換された信号を増幅し、さらにデジタル信号に変換する。X線検出器203およびDAS204は、1回転あたりの所定の全投影数(Total number of Projections Per Rotation:TPPR)を扱うように構成される。TPPRの例として、900TPPR、900〜1800TPPR、900〜3600TPPRが挙げられるが、これらに限定されない。
上記のデータは、非接触データ送信器205を介して、X線撮影ガントリ200の外にある操作卓に格納される前処理装置206に送信される。前処理装置206は、生データに対する感度補正といった特定の補正を行う。メモリ212は、結果として得られたデータを格納する。このデータは、再構成処理直前の段階で投影データとも呼ばれる。メモリ212は、再構成装置214、入力装置215、ディスプレイ216と共にデータ/制御バス211を介してシステム制御部210に接続される。再構成装置214は、投影データからの画像の再構成および画像データの再構成後処理を含む機能を実行する。
検出器は、CTスキャナシステムの様々な世代において、患者に対して回転または固定される。上記のCTシステムは、第3世代ジオメトリと第4世代ジオメトリを組み合わせたシステムの例である。第3世代のシステムにおいて、X線管201とX線検出器203は、環状フレーム202上に正反対の位置に搭載され、環状フレーム202が回転軸RAの周りを回転する際に対象Sの周りを回転する。第4世代ジオメトリのシステムにおいて、検出器は患者の周りに固定配置され、X線管は患者の周りを回転する。
代替実施形態では、X線撮影ガントリ200は、環状フレーム202上に配置された複数の検出器を備える。環状フレーム202はCアームおよびスタンドに支持される。
図1は、CTスキャナシステムにおいて、所定の第3世代ジオメトリの検出器と組み合わせて、所定の第4世代ジオメトリのPCDを配置するための実施例を示す。一般に、PCDは、所定のエネルギービン毎に光子計数を出力する。PCDは、スパースビュー再構成技術を用いる再構成のためのスパースビュー投影データを収集する。
ところで、図1に示すCTスキャナシステムは、PCDを用いるので高価である。このようなことから、一実施形態に係るCTスキャナシステムでは、所定の第4世代ジオメトリのPCDの代わりに多層エネルギー積分検出器(MLID:Multiple-Layered energy-Integrating Detector)を用いることにより、低コストでスペクトルCTを実現する。すなわち、以下に示す実施形態では、図1に示すPCDをMLIDに変更する。この多層エネルギー積分検出器は、回転軸を中心とした円周上に固定配置された検出器であって、回転軸へ向かう方向に積層された複数のシンチレータと、各シンチレータにより検出されたX線信号に基づいて出力信号を生成する光センサとを備える。そして、多層エネルギー積分検出器は、すべてのエネルギー成分に対して単一の積分値を出力する。言い換えると、多層エネルギー積分検出器は、複数のシンチレータそれぞれにより検出されたX線信号に基づく、単一の積分値を各シンチレータの出力信号として出力する。このようにして、エネルギー積分検出器は、画質を全体的に改善するために使用される第2の投影データを収集する。なお、多層エネルギー積分検出器(MLID)のことを、第2のX線検出器とも言う。
上記の多層エネルギー積分検出器に置き換えた、図1に示すPCDの配置に対する代替実施形態を以下に説明する。X線源101から受け取った光子のスペクトル情報を測定するために、図1に示す低密度に固定配置されたPCDは、多層エネルギー積分検出器に置き換えられる。
多層エネルギー積分検出器には、L−MLID(MLID in a Layer readout configuration)と、S−MLID(MLID in a Side readout configuration)とが含まれる。以下では、図3及び図4を用いてL−MLIDについて説明し、図5及び図6を用いてS−MLIDについて説明する。図3は、一例示的実施形態に係る、層読み出し配置の多層エネルギー積分検出器(L−MLID)を示す図である。L−MLIDは、回転軸を中心とした円周上に固定配置された検出器であって、回転軸へ向かう方向に積層された複数のシンチレータと、各シンチレータにより検出されたX線信号に基づいて出力信号を生成する光センサ350とを備える。より具体的には、L−MLIDは、シンチレータA310、シンチレータB320、シンチレータC330、およびシンチレータD340を含む。すなわち、L−MLIDは、回転軸へ向かう方向から1層目にシンチレータA310、2層目にシンチレータB320、3層目にシンチレータC330、4層目にシンチレータD340を含む。なお、積層されたシンチレータのうち回転軸へ向かう方向のシンチレータのことを浅層側と言い、回転軸から遠ざかる方向のシンチレータのことを深層側とも言う。図3に示す例では、1層目側のシンチレータのことを浅層側と言い、4層目側のシンチレータを深層側とも言う。各シンチレータは、シンチレータの底面に位置する、光学的に接続された光センサ350を有する。光センサ350は、相互接続された複数の光センサを備え、各シンチレータと各光センサとが1対1で対応付けられる。例えば、図3に示すように、多層エネルギー積分検出器(L−MLID)は、回転軸へ向かう方向においてシンチレータと光センサとが交互に配置される。言い換えると、L−MLIDにおいてシンチレータと光センサは、層状に積み重ねられた形態で交互に配置される。なお、光センサには従来同様の積分器やADC(Analog to Digital Converter)が接続される。これにより、多層エネルギー積分検出器(L−MLID)は、複数のシンチレータそれぞれにより検出されたX線信号に基づく、単一の積分値を各シンチレータの出力信号として出力する。すなわち、多層エネルギー積分検出器(L−MLID)は、各シンチレータに対応するエネルギー成分の積分値を出力することで、スペクトルCTを実現することが可能である。また、多層エネルギー積分検出器(L−MLID)は、光子計数型検出器PCDに比べて低コストであり、低コストでスペクトルCTを実現可能である。
シンチレータA310、シンチレータB320、シンチレータC330、およびシンチレータD340はすべて異なる種類の材料であっても、すべて同じ種類の材料であっても、または一部は同じ種類の材料を有し、それ以外は異なる種類の材料を有するように組み合わせてもよい。すなわち、複数のシンチレータのうち少なくともいずれか一つのシンチレータは、他のシンチレータと異なる材料を含んでもよいし、複数のシンチレータのそれぞれは、同じ材料を含んでもよい。また、各シンチレータ層で特定の範囲の光子エネルギーを捕捉するために複数の厚さを有してもよい。すなわち、複数のシンチレータのうち少なくともいずれか一つのシンチレータは、他のシンチレータと異なる厚さを有してもよい。
図3は、4つのシンチレータを示す。しかし、4つ未満または4つを超えるシンチレータが本明細書に記載の実施形態により考えられ、各シンチレータ層は対応する光センサ層350を有する。また、各シンチレータの材料の厚さは同じであっても異なっていてもよい。光子360はX線源から放射され、被検体(患者等)を透過し、図示する方向でL−MLIDにより受けられる。
積層された複数の光子検出器の配置を設計する際、検出器間の相互作用の適正な比率が得られるように各検出器の厚さを設定することが望ましい。したがって、同じまたはほぼ同じ量の光子を捕捉するために、放射線の入射面に近い検出器層は深部にある検出器層よりも薄いことが望ましい。さらに、広範なエネルギービームまたはエネルギー流束に有効なエネルギーレベルのスペクトルを設定する必要がある。また、好ましくは、スペクトルの低エネルギー部からの光子は照射深度における1または複数の1層目(浅層側)の検出器で検出し、高エネルギーの光子は深部にある1または複数の深層側の検出器で検出する。このように、各シンチレータの厚みを変更することで、性能を最適化することが可能になる。
図4は、一例示的実施形態に係る、第3世代CT装置と複数のL−MLIDを組み合わせた第4世代CT装置の断面図である。図4では、図1のPCDをL−MLIDに置き換えたハイブリッド型CTスキャナ400を示す。図4に示すように、X線源101、X線検出器103及びL−MLIDは、ガントリ100に取り付けられる。例えば、X線源101が円周120を、X線検出器103が円周130を共に回転する一方で、L−MLIDは、静止したままの円周110に低密度に位置している。しかし、L−MLIDが円周110を回転する、X線検出器103が円周130で静止しているといった他の構成が、本明細書に記載の実施形態により考えられる。また、円周110、120、および130ではそれぞれ、ガントリが円形回転または螺旋回転してもよい。
検出した光子のエネルギーをコード化する1つの方法は、高エネルギー識別プロセスにおいて、材料中での光子の相互作用の影響を測定することである。直接または間接型の検出器を用いることができる。間接型検出器では、光子の相互作用により光が生成され、この光が光センサで測定される。直接変換方式の検出器では、光子が直接、材料中で電荷を発生させ、その電荷は収集され、特別に設計された電気回路に送られる。
エネルギー情報を取得する別の方法は、低エネルギー識別プロセスを通じて行うものである。光子と材料との相互作用は性質上、確率的であり、相互作用のパラメータは、電子の密度や有効原子番号等、光子のエネルギーおよび材料の性質に左右される。2つ以上の検出器を積層する配置では、その重なった各検出器における光子の相互作用に関する情報を抽出することができる。光子検出器を積層する配置により、エネルギーに依存するX線光子の相互作用の深さが得られる。
図3に示すシンチレータA310、シンチレータB320、シンチレータC330、およびシンチレータD340はそれぞれ、直接変換方式の材料を含む。シンチレータ材料は、X線源101からの入射X線の衝突に応じて信号を生成するために選ばれる。生成された信号は、光学的に接続された光センサ層350内の回路により検出され、電圧または電流出力信号が生成される。複数の光センサ層350はL−MLID毎に相互接続され、単一の電気出力チャネルが与えられる。光センサの例として、フォトダイオードおよびシリコン光電子増倍管(Silicon PhotoMultiplier:SiPM)が挙げられるが、これに限定されない。シンチレータ層であるシンチレータA310、シンチレータB320、シンチレータC330、およびシンチレータD340は、入射X線からエネルギーの広範なスペクトルを捕捉するように設計および構成される。さらに、積層されたシンチレータ層は、低いZ値を持つ低密度材料から高いZ値を持つ高密度材料まで、広範囲の材料を含む。また、シンチレータの厚さを変更して、各シンチレータ層で捕捉されるX線エネルギーの特定の範囲をさらに限定することもできる。
図5は、一例示的実施形態に係る、側面読み出し配置の多層エネルギー積分検出器(S−MLID)を示す図である。S−MLIDは、回転軸を中心とした円周上に固定配置された検出器であって、回転軸へ向かう方向に積層された複数のシンチレータと、各シンチレータにより検出されたX線信号に基づいて出力信号を生成する光センサとを備える。より具体的には、S−MLIDは、積層された配置のシンチレータA510、シンチレータB520、シンチレータC530、およびシンチレータD540を含む。すなわち、S−MLIDは、回転軸へ向かう方向から1層目にシンチレータA510、2層目にシンチレータB520、3層目にシンチレータC530、4層目にシンチレータD540を含む。なお、積層されたシンチレータのうち回転軸へ向かう方向のシンチレータのことを浅層側と言い、回転軸から遠ざかる方向のシンチレータのことを深層側とも言う。図5に示す例では、1層目側のシンチレータのことを浅層側と言い、4層目側のシンチレータを深層側とも言う。図5は、4つのシンチレータ層を示す。しかし、4つ未満または4つを超えるシンチレータ層が本明細書に記載の実施形態により考えられる。シンチレータA510、シンチレータB520、シンチレータC530、およびシンチレータD540はすべて異なる種類の材料であっても、すべて同じ種類の材料であっても、または一部は同じ種類の材料を有し、それ以外は異なる種類の材料を有するように組み合わせてもよい。すなわち、複数のシンチレータのうち少なくともいずれか一つのシンチレータは、他のシンチレータと異なる材料を含んでもよいし、複数のシンチレータのそれぞれは、同じ材料を含んでもよい。また、各シンチレータ層で特定の範囲の光子エネルギーを捕捉するために複数の厚さを有してもよい。すなわち、複数のシンチレータのうち少なくともいずれか一つのシンチレータは、他のシンチレータと異なる厚さを有してもよい。各シンチレータの厚みを変更することで、性能を最適化することが可能になる。
光子560はX線源から放射され、被検体を透過し、図示する方向でS−MLIDにより受けられる。また、図5に示す各シンチレータ層間には、光を通さない或いは反射する物質が挟み込まれる。これにより、各シンチレータは、シンチレータごとに分離された光センサで光電変換することになる。すなわち、光センサ層550は、相互接続された複数の光センサを備え、各シンチレータと各光センサとが1対1で対応付けられる。そして、光センサ層550は、積み重ねられたシンチレータ層の側面に沿って配置される。例えば、図5に示すように、多層エネルギー積分検出器(S−MLID)は、回転軸へ向かう方向に対して各シンチレータの側面に各光センサが配置される。なお、光センサには従来同様の積分器やADC(Analog to Digital Converter)が接続される。これにより、多層エネルギー積分検出器(S−MLID)は、複数のシンチレータそれぞれにより検出されたX線信号に基づく、単一の積分値を各シンチレータの出力信号として出力する。すなわち、多層エネルギー積分検出器(S−MLID)は、各シンチレータに対応するエネルギー成分の積分値を出力することで、スペクトルCTを実現することが可能である。また、多層エネルギー積分検出器(S−MLID)は、光子計数型検出器PCDに比べて低コストであり、低コストでスペクトルCTを実現可能である。また、各光センサは、例えば、フォトダイオードおよびシリコン光電子増倍管(Silicon PhotoMultiplier:SiPM)である。
図6は、一例示的実施形態に係る、第3世代CT装置と複数のS−MLIDを組み合わせた第4世代CT装置の断面図である。図6では、図1のPCDをS−MLIDに置き換えたハイブリッド型CTスキャナ600を示す。図6に示すように、X線源101、X線検出器103及びS−MLIDは、ガントリ100に取り付けられる。例えば、X線源101が円周120を、X線検出器103が円周130を共に回転する一方で、S−MLIDは、静止したままの円周110に低密度に位置している。しかし、S−MLIDが円周110を回転する、X線検出器103が円周130で静止しているといった他の構成が、本明細書に記載の実施形態により考えられる。また、円周110、120、および130ではそれぞれ、ガントリが円形回転または螺旋回転してもよい。
低密度に間隔をおいて配置されたS−MLIDの利点の1つは、積み重ねられた多層のシンチレータの側面に突出する光センサにとって適切な間隔がとられることである。光センサの側面読み出し配置により、低密度に間隔をおいて配置された各S−MLID間に十分な間隔が与えられる。
本明細書に記載の実施形態の別の利点として、名目モード(nominal mode)での、積層された複数の検出器の分光測定値から、単一層の同じまたは同様の検出器よりも多くの情報を得られることが挙げられる。積層された複数の検出器のシステムでは、入射X線ビームの複数の実現値から統計見本を得る。
積層された複数の光子検出器のさらに別の利点は、入射光子ビームに実質的に全く影響しない非常に薄い電極を使用できることである。加えて、第1の検出器がシリコンベースである場合、Z軸方向に密度が低くなるため、エネルギースペクトルの低エネルギーを選択的に検出でき、全体的な最適化のための厚さの範囲がより広くなる。
一実施形態では、光子の第1のグループは第1のシンチレータで受けられ、第1のシンチレータは第1の光センサの上に積み重ねられる。光子の第2のグループは第2のシンチレータで受けられ、第2のシンチレータは第2の光センサの上に積み重ねられる。このように、シンチレータと光センサは交互に、層読み出し配置において積み重ねられる。別の実施形態では、光子の第1のグループは第1のシンチレータで受けられ、第1のシンチレータは第2のシンチレータの上に積み重ねられる。光子の第2のグループは第2のシンチレータで受けられる。光子の第1のグループおよび光子の第2のグループは、対応する1つの光センサによって検出される。この光センサは、側面読み出し配置において積層された第1および第2のシンチレータの側壁に隣接している。
さらに、代替実施形態では、第1の(回転する)X線検出器は省略され、回転するX線源および複数の固定されたMLIDによってスキャンが実行される。別の代替実施形態では、第1の(回転する)X線検出器は省略され、MLIDが第3世代ジオメトリで配置され、X線源と同期して回転する。
上述したように、第1の実施形態によれば、低コストでスペクトルCTを実現することができる。
(その他の実施形態)
実施形態は、上述した実施形態に限られるものではない。
上記の実施形態の説明において、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況等に応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、CPUおよび当該CPUにて解析実行されるプログラムにて実現され、或いは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。
以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、低コストでスペクトルCTを実現することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
L−MLID1〜L−MLIDn,S−MLID1〜S−MLIDn 多層エネルギー積分検出器
101 X線源
103 X線検出器
310,510 シンチレータA
320,520 シンチレータB
330,530 シンチレータC
340,540 シンチレータD
350,550 光センサ

Claims (10)

  1. X線を照射するX線源と、
    前記X線源と対向して回転軸周りに回転可能であり、前記X線源から照射されて被検体を透過したX線を検出する第1のX線検出器と、
    前記回転軸を中心とした円周上に固定配置された検出器であって、前記回転軸へ向かう方向に積層された複数のシンチレータと、各シンチレータにより検出されたX線信号に基づいて出力信号を生成する光センサとを備える第2のX線検出器と
    を備える、X線CT装置。
  2. 前記第2のX線検出器は、前記複数のシンチレータそれぞれにより検出されたX線信号に基づく、単一の積分値を前記各シンチレータの前記出力信号として出力する、請求項1に記載のX線CT装置。
  3. 前記光センサは、相互接続された複数の光センサを備え、各シンチレータと各光センサとが1対1で対応付けられる、請求項1又は2に記載のX線CT装置。
  4. 前記第2のX線検出器は、前記回転軸へ向かう方向に対して各シンチレータの側面に各光センサが配置される、請求項3に記載のX線CT装置。
  5. 前記第2のX線検出器は、前記回転軸へ向かう方向においてシンチレータと光センサとが交互に配置される、請求項3に記載のX線CT装置。
  6. 前記各光センサは、シリコン光電子増倍管である、請求項3〜5のいずれか一つに記載のX線CT装置。
  7. 前記複数のシンチレータのうち少なくともいずれか一つのシンチレータは、他のシンチレータと異なる材料を含む、請求項1〜6のいずれか一つに記載のX線CT装置。
  8. 前記複数のシンチレータのそれぞれは、同じ材料を含む、請求項1〜6のいずれか一つに記載のX線CT装置。
  9. 前記複数のシンチレータのうち少なくともいずれか一つのシンチレータは、他のシンチレータと異なる厚さを有する、請求項1〜8のいずれか一つに記載のX線CT装置。
  10. 前記X線源、前記第1のX線検出器及び前記第2のX線検出器は、架台に取り付けられる、請求項1〜9のいずれか一つに記載のX線CT装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019528861A (ja) * 2016-09-09 2019-10-17 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. コンピュータ断層撮影x線イメージング
EP3797740A1 (en) 2016-03-08 2021-03-31 Mitsui Chemicals, Inc. Mouthpiece

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9757088B2 (en) * 2014-11-13 2017-09-12 Toshiba Medical Systems Corporation Detector apparatus for cone beam computed tomography
US9757085B2 (en) * 2015-02-25 2017-09-12 Toshiba Medical Systems Corporation Method for identifying and processing detector polarization in photon-counting spectral X-ray detectors
US10641912B1 (en) 2016-06-15 2020-05-05 Triad National Security, Llc “4H” X-ray camera
CN108562927A (zh) * 2018-03-02 2018-09-21 东莞南方医大松山湖科技园有限公司 检测器和具有该检测器的发射成像设备

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6185271B1 (en) * 1999-02-16 2001-02-06 Richard Estyn Kinsinger Helical computed tomography with feedback scan control
US6553092B1 (en) 2000-03-07 2003-04-22 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Multi-layer x-ray detector for diagnostic imaging
RU2312327C2 (ru) * 2002-12-10 2007-12-10 Коммонвелт Сайентифик Энд Индастриал Рисерч Организейшн Радиографическое устройство
WO2004061477A1 (en) * 2003-01-06 2004-07-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. Constant radius single photon emission tomography
RU2386981C2 (ru) 2005-04-26 2010-04-20 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Улучшенная детекторная матрица для спектральной компьютерной томографии
US8983024B2 (en) * 2006-04-14 2015-03-17 William Beaumont Hospital Tetrahedron beam computed tomography with multiple detectors and/or source arrays
US7388940B1 (en) * 2006-11-24 2008-06-17 General Electric Company Architectures for cardiac CT based on area x-ray sources
US7885371B2 (en) * 2008-08-28 2011-02-08 General Electric Company Method and system for image reconstruction
EP2347289A1 (en) * 2008-10-14 2011-07-27 Analogic Corporation Radiation modulation in a security examination apparatus
EP2577351B1 (en) 2010-05-24 2017-06-14 Koninklijke Philips N.V. Ct detector including multi-layer fluorescent tape scintillator with switchable spectral sensitivity
US8761333B2 (en) * 2011-08-12 2014-06-24 General Electric Company Low resolution scintillating array for CT imaging and method of implementing same
US9119589B2 (en) 2012-03-22 2015-09-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and system for spectral computed tomography (CT) with sparse photon counting detectors
US9012857B2 (en) 2012-05-07 2015-04-21 Koninklijke Philips N.V. Multi-layer horizontal computed tomography (CT) detector array with at least one thin photosensor array layer disposed between at least two scintillator array layers
CA2911449C (en) * 2013-05-15 2019-02-26 Becton, Dickinson And Company Manual flow regulation for blood collection
US9724056B2 (en) * 2013-11-28 2017-08-08 Toshiba Medical Systems Corporation Method and system for spectral computed tomography (CT) with inner ring geometry

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3797740A1 (en) 2016-03-08 2021-03-31 Mitsui Chemicals, Inc. Mouthpiece
EP3804667A1 (en) 2016-03-08 2021-04-14 Mitsui Chemicals, Inc. Mouthpiece, sheet for production of mouthpiece unit, and production method of mouthpiece
JP2019528861A (ja) * 2016-09-09 2019-10-17 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. コンピュータ断層撮影x線イメージング

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Publication number Publication date
US9482630B2 (en) 2016-11-01
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