JP2016094638A - Film deposition apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a film deposition apparatus capable of suppressing increase of a production cost and shortening a task time.SOLUTION: A film deposition apparatus includes a film deposition chamber having an opening for carrying in a work piece, a hood that covers the opening of the film deposition chamber and is linked to the film deposition chamber and filled with a dry gas, a gate valve having support devices to mount each of the work piece thereon on the two opposite principal planes thereof, the gate valve closing the opening so that one principal plane is located in the film deposition chamber while the other principal plane is located in the hood, and an adjusting device that moves the gate valve in the hood between a first position where the gate valve closes the opening and a second position where the gate valve does not close the opening.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、成膜チャンバー内で処理対象物に膜を形成する成膜装置に関する。   The present invention relates to a film forming apparatus for forming a film on a processing object in a film forming chamber.

処理対象物の成膜処理においては、製品の品質を低下させないために、成膜処理を開始する前の成膜チャンバー内の真空度が重要である。一方、成膜チャンバー内の真空引きに要する時間は短いことが好ましい。このため、処理対象物を成膜チャンバーに格納する際に成膜チャンバーの内部が水分を含んだ大気に曝されることなどによる、真空引きに要する時間の増大が問題になっている。また、自動車ヘッドライトのリフレクターなどの製造では、反射用の鏡面仕上げや金属質感を持たせるために、射出成形された樹脂部品の表面にアルミニウムなどの金属を成膜する。この場合、樹脂材料からの放出ガスが多いために、真空引きの時間を含めた成膜工程に要する製造時間(タクトタイム)が増大する。   In the film forming process of the object to be processed, the degree of vacuum in the film forming chamber before starting the film forming process is important in order not to deteriorate the quality of the product. On the other hand, the time required for evacuation in the film forming chamber is preferably short. For this reason, when storing the processing object in the film forming chamber, an increase in time required for evacuation due to exposure of the inside of the film forming chamber to an atmosphere containing moisture is a problem. Further, in the manufacture of automobile headlight reflectors and the like, a metal such as aluminum is formed on the surface of an injection-molded resin part in order to provide a mirror finish for reflection and a metallic texture. In this case, since a large amount of gas is released from the resin material, the manufacturing time (tact time) required for the film forming process including the time for evacuation increases.

このため、成膜チャンバーの前段にロードロックチャンバー(LC)を設置し、真空引きしたロードロックチャンバーから処理対象物を成膜チャンバーに搬送する方法が提案されている(例えば特許文献1参照。)。これにより、成膜チャンバーの内部を高真空に維持することができる。   For this reason, a method has been proposed in which a load lock chamber (LC) is installed in front of the film formation chamber, and the object to be processed is transferred from the evacuated load lock chamber to the film formation chamber (see, for example, Patent Document 1). . Thereby, the inside of the film forming chamber can be maintained at a high vacuum.

或いは、時間をかけて真空引きすることによるタクトタイムの増大をカバーするために、成膜装置を大型化して1回ごとに処理する処理対象物を増加させてスループットを向上する方法が考えられる。   Alternatively, in order to cover an increase in tact time due to evacuation over time, a method for increasing the throughput by increasing the size of the film forming apparatus and increasing the number of objects to be processed each time can be considered.

特開平07−161661号公報Japanese Patent Laid-Open No. 07-161661

しかしながら、成膜装置にロードロックチャンバーを追加する方法では、ロードロックチャンバーや排気系装置、ゲート弁などを成膜装置に追加するために製造コストが上昇する。更に、処理対象物の搬送機構が複雑化する。また、成膜装置を大型化してスループットを向上する方法では、成膜装置やこれに付帯する設備などの初期コストが上昇する。更に、処理対象物を射出成形する成形装置と成膜装置のスループットが合わずに、成形装置と成膜装置を連動させたり、装置の連動によって工程を自動化したりすることが困難である。このため、タスクタイムの短縮や製造コストの低減が制限される。   However, in the method of adding the load lock chamber to the film forming apparatus, the manufacturing cost increases because the load lock chamber, the exhaust system apparatus, the gate valve, and the like are added to the film forming apparatus. Furthermore, the conveyance mechanism of the processing object is complicated. In addition, in the method of increasing the throughput by increasing the size of the film forming apparatus, the initial cost of the film forming apparatus and the equipment attached thereto increases. Furthermore, it is difficult to link the molding apparatus and the film forming apparatus or to automate the process by interlocking the apparatuses, because the throughput of the molding apparatus for forming an object to be processed and the film forming apparatus do not match. This limits task time reduction and manufacturing cost reduction.

上記問題点に鑑み、本発明は、製造コストの上昇が抑制され、且つタスクタイムの短縮が可能な成膜装置を提供することを目的とする。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a film forming apparatus in which an increase in manufacturing cost is suppressed and task time can be shortened.

本発明の一態様によれば、(ア)処理対象物を内部に搬入する開口部が設けられた成膜チャンバーと、(イ)成膜チャンバーの開口部を覆って成膜チャンバーに連結され、内部を乾燥ガスで充填されたフードと、(ウ)処理対象物を搭載する支持装置が対向する2つの主面にそれぞれ配置され、一方の主面が成膜チャンバーの内部に位置し且つ他方の主面がフードの内部に位置する状態で開口部を閉じるゲート弁と、(エ)ゲート弁が開口部を閉じている第1の位置とゲート弁が開口部を閉じていない第2の位置との間でフードの内部においてゲート弁を移動させる調整装置とを備える成膜装置が提供される。   According to one aspect of the present invention, (a) a film forming chamber provided with an opening for carrying a processing object into the inside, and (a) an opening of the film forming chamber is connected to the film forming chamber, A hood filled with a dry gas inside and (c) a support device on which an object to be processed is mounted are respectively disposed on two opposing main surfaces, and one main surface is located inside the film formation chamber and the other A gate valve that closes the opening with the main surface positioned inside the hood; (d) a first position where the gate valve closes the opening; and a second position where the gate valve does not close the opening. A film forming apparatus is provided that includes an adjustment device that moves the gate valve in the hood between the two.

本発明によれば、製造コストの上昇が抑制され、且つタスクタイムの短縮が可能な成膜装置を提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the raise of manufacturing cost can be suppressed and the film-forming apparatus which can shorten task time can be provided.

本発明の実施形態に係る成膜装置の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る成膜装置の構成を示す他の模式図である。It is another schematic diagram which shows the structure of the film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る成膜装置のゲート弁の向きを調整する方法の例を示す模式的な平面図であり、図3(a)は調整前の状態を示し、図3(b)は調整中の状態を示し、図3(c)は調整後の状態を示す。FIG. 3A is a schematic plan view showing an example of a method for adjusting the direction of a gate valve of a film forming apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 3A shows a state before adjustment, and FIG. The state during adjustment is shown, and FIG. 3C shows the state after adjustment. 本発明の実施形態に係る成膜装置におけるワークの交換方法の例を示す模式図であり、図4(a)は処理済みのワークを成膜装置から取り出す状態を示し、図4(b)は未処理のワークを成膜装置に格納する状態を示す。FIG. 4A is a schematic diagram illustrating an example of a workpiece replacement method in a film forming apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 4A illustrates a state in which a processed workpiece is taken out from the film forming apparatus, and FIG. The state which stores an unprocessed workpiece | work in the film-forming apparatus is shown. 本発明の実施形態に係る成膜装置における成膜チャンバー内でのワークホルダの搬送方法の例を示す模式図であり、図5(a)はワークホルダを搬送装置に移載した状態を示し、図5(b)はワークホルダを処理領域に搬送する状態を示す。FIG. 5A is a schematic diagram illustrating an example of a method for transporting a work holder in a film forming chamber in a film forming apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 5B shows a state in which the work holder is conveyed to the processing area. 本発明の実施形態に係る成膜装置における搬送装置の例を示す模式的な平面図である。It is a typical top view which shows the example of the conveying apparatus in the film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る成膜装置の第1の処理領域における処理の例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of the process in the 1st process area | region of the film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る成膜装置の第2の処理領域における処理の例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of the process in the 2nd process area | region of the film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る成膜装置を成形装置と連動させる例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example which links the film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention with a shaping | molding apparatus. 本発明の実施形態に係る成膜装置に未処理のワークを供給する例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example which supplies an unprocessed workpiece | work to the film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態の変形例に係る成膜装置の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the film-forming apparatus which concerns on the modification of embodiment of this invention.

図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであることに留意すべきである。又、以下に示す実施形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の実施形態は、構成部品の構造、配置などを下記のものに特定するものでない。この発明の実施形態は、特許請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。   Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description of the drawings, the same or similar parts are denoted by the same or similar reference numerals. However, it should be noted that the drawings are schematic. Further, the embodiment described below exemplifies an apparatus and a method for embodying the technical idea of the present invention, and the embodiment of the present invention has the following structure and arrangement of components. It is not something specific. The embodiment of the present invention can be variously modified within the scope of the claims.

本発明の実施形態に係る成膜装置1は、処理対象物(以下において「ワーク100」という。)に対して成膜処理を行う装置である。成膜装置1は、図1に示すように、成膜チャンバー10、成膜チャンバー10に連結するフード20、フード20の内部を矢印のように平行移動するゲート弁30、及びゲート弁30のフード20内での動きを調整する調整装置40を備える。   A film forming apparatus 1 according to an embodiment of the present invention is an apparatus that performs a film forming process on an object to be processed (hereinafter referred to as “work 100”). As shown in FIG. 1, the film forming apparatus 1 includes a film forming chamber 10, a hood 20 connected to the film forming chamber 10, a gate valve 30 that moves in parallel in the hood 20 as indicated by an arrow, and a hood of the gate valve 30. The adjusting device 40 which adjusts the movement in 20 is provided.

成膜チャンバー10の内部において、ワーク100に膜が形成される。成膜チャンバー10には、ワーク100を内部に搬入するための開口部15が設けられている。ゲート弁30によって開口部15が開閉される。図1は、ゲート弁30によって開口部15が閉じられている状態を示している。   A film is formed on the workpiece 100 inside the film forming chamber 10. The film forming chamber 10 is provided with an opening 15 for carrying the workpiece 100 into the inside. The opening 15 is opened and closed by the gate valve 30. FIG. 1 shows a state in which the opening 15 is closed by the gate valve 30.

フード20は、成膜チャンバー10の開口部15を覆って、成膜チャンバー10に連結されている。フード20には、フード20の内部に乾燥ガス200を供給する乾燥ガス供給装置21が設置されている。これにより、フード20の内部が乾燥ガス200で充填されている。乾燥ガス200には、ドライエアーや乾燥窒素ガスなどを使用可能である。   The hood 20 covers the opening 15 of the film forming chamber 10 and is connected to the film forming chamber 10. The hood 20 is provided with a dry gas supply device 21 that supplies the dry gas 200 into the hood 20. Thereby, the inside of the hood 20 is filled with the dry gas 200. As the dry gas 200, dry air, dry nitrogen gas, or the like can be used.

ゲート弁30は、互いに対向する2つ主面300を有する。2つの主面300に、ワーク100を搭載する支持装置50がそれぞれ配置されている。なお、図1に示した例では、ワーク100が収容されたワークホルダ110が支持装置50に搭載されている。ワークホルダ110は、例えば上面に開口部を有する凹形状であり、凹部の内部にワーク100が収容される。   The gate valve 30 has two main surfaces 300 facing each other. Support devices 50 on which the workpiece 100 is mounted are respectively disposed on the two main surfaces 300. In the example shown in FIG. 1, the work holder 110 in which the work 100 is accommodated is mounted on the support device 50. The work holder 110 has, for example, a concave shape having an opening on the upper surface, and the work 100 is accommodated inside the concave.

既に述べたように、開口部15の開閉はゲート弁30によって行われる。図1に示したように、開口部15がゲート弁30によって閉じられた状態では、ゲート弁30の一方の主面300が成膜チャンバー10の内部に位置し、且つ他方の主面300がフード20の内部に位置する。即ち、一方の主面300に配置された支持装置50が成膜チャンバー10内に配置され、他方の主面300に配置された支持装置50がフード20内に配置される。   As already described, the opening 15 is opened and closed by the gate valve 30. As shown in FIG. 1, when the opening 15 is closed by the gate valve 30, one main surface 300 of the gate valve 30 is located inside the film forming chamber 10, and the other main surface 300 is the hood. 20 inside. That is, the support device 50 arranged on one main surface 300 is arranged in the film forming chamber 10, and the support device 50 arranged on the other main surface 300 is arranged in the hood 20.

一方、ゲート弁30によって開口部15が閉じられていない状態を図2に示す。図1、図2に示したように、ゲート弁30がフード20の内部を移動することによって、開口部15の開閉が行われる。   On the other hand, the state where the opening 15 is not closed by the gate valve 30 is shown in FIG. As shown in FIGS. 1 and 2, the opening 15 is opened and closed by the gate valve 30 moving inside the hood 20.

ゲート弁30の移動は、調整装置40によって調整される。即ち、図1に示すように開口部15がゲート弁で閉じられている第1の位置201と、図2に示すように開口部15がゲート弁で閉じられていない第2の位置202との間で、調整装置40の移動機構41が、ゲート弁30をフード20の内部で水平方向に移動させる。   The movement of the gate valve 30 is adjusted by the adjusting device 40. That is, the first position 201 where the opening 15 is closed by the gate valve as shown in FIG. 1 and the second position 202 where the opening 15 is not closed by the gate valve as shown in FIG. In the meantime, the moving mechanism 41 of the adjusting device 40 moves the gate valve 30 in the horizontal direction inside the hood 20.

更に、第2の位置202において、ゲート弁30の2つの主面300のいずれかが開口部15と対向するように、調整装置40がゲート弁30の向きを調整する。即ち、図3(a)〜図3(c)に示すように、調整装置40の回転機構42が、垂直方向を回転軸としてゲート弁30を回転させる。以下において、開口部15と対向する主面300を、「成膜チャンバー側の主面」という。また、成膜チャンバー側の主面300と対向する主面300を「フード側の主面」という。   Furthermore, the adjustment device 40 adjusts the direction of the gate valve 30 so that one of the two main surfaces 300 of the gate valve 30 faces the opening 15 at the second position 202. That is, as shown in FIGS. 3A to 3C, the rotation mechanism 42 of the adjustment device 40 rotates the gate valve 30 with the vertical direction as the rotation axis. Hereinafter, the main surface 300 facing the opening 15 is referred to as a “main surface on the film forming chamber side”. Further, the main surface 300 facing the main surface 300 on the film forming chamber side is referred to as a “hood-side main surface”.

図3(a)は、調整装置40によるゲート弁30の向きを調整する前の状態を示す。成膜チャンバー10での処理が完了した処理済みのワーク100Aを収容したワークホルダ110Aを搭載した支持装置50が配置された主面300が、成膜チャンバー側の主面300である。一方、未処理のワーク100Bを収容したワークホルダ110Bを搭載した支持装置50が配置された主面300が、フード側の主面300である。   FIG. 3A shows a state before the adjustment device 40 adjusts the direction of the gate valve 30. The main surface 300 on which the support device 50 on which the work holder 110A containing the processed workpiece 100A that has been processed in the film forming chamber 10 is mounted is the main surface 300 on the film forming chamber side. On the other hand, the main surface 300 on which the support device 50 on which the work holder 110B accommodating the unprocessed work 100B is mounted is the main surface 300 on the hood side.

図3(b)は、調整装置40によるゲート弁30の向きの調整が行われている状態を示す。即ち、矢印で示したように、回転機構42がゲート弁30を回転させている。   FIG. 3B shows a state in which the direction of the gate valve 30 is adjusted by the adjusting device 40. That is, as indicated by the arrow, the rotation mechanism 42 rotates the gate valve 30.

図3(c)は、調整装置40によってゲート弁30の向きを調整した後の状態を示す。処理済みのワーク100Aを収容したワークホルダ110Aを搭載した支持装置50が配置された主面300が、フード側の主面300になっている。そして、未処理のワーク100Bを収容したワークホルダ110Bを搭載した支持装置50が配置された主面300が、成膜チャンバー側の主面300になっている。   FIG. 3C shows a state after the direction of the gate valve 30 is adjusted by the adjusting device 40. The main surface 300 on which the support device 50 on which the work holder 110A that accommodates the processed workpiece 100A is mounted is the main surface 300 on the hood side. The main surface 300 on which the support device 50 on which the work holder 110B containing the unprocessed workpiece 100B is mounted is the main surface 300 on the film forming chamber side.

上記のように調整装置40によってゲート弁30の向きを調整することにより、処理済みのワーク100がフード側の主面300に搭載され、未処理のワーク100が成膜チャンバー側の主面300に搭載された状態になる。   By adjusting the direction of the gate valve 30 by the adjusting device 40 as described above, the processed workpiece 100 is mounted on the main surface 300 on the hood side, and the unprocessed workpiece 100 is mounted on the main surface 300 on the film forming chamber side. It will be installed.

なお、成膜装置1では、ゲート弁30のフード側の主面300において、成膜チャンバー10における成膜処理が完了した処理済みのワーク100が成膜処理前の未処理のワーク100に交換される。このワーク100の交換は、ゲート弁30が第1の位置201に位置する状態においてフード20の内部で行われる。   In the film forming apparatus 1, on the main surface 300 on the hood side of the gate valve 30, the processed work 100 that has been subjected to the film forming process in the film forming chamber 10 is replaced with an unprocessed work 100 before the film forming process. The The replacement of the workpiece 100 is performed inside the hood 20 in a state where the gate valve 30 is located at the first position 201.

即ち、図4(a)に示すように、処理済みのワーク100Aが、ゲート弁30のフード側の主面300に配置された支持装置50に搭載されたワークホルダ110から取り出される。その後、図4(b)に示すように、未処理のワーク100Bが、フード側の主面300に配置された支持装置50に搭載されたワークホルダ110に収容される。上記のワーク100の交換は、例えばロボットアームなどによって行われる。なお、ワーク100の交換は、ワーク100を収容したワークホルダ110ごと行ってもよい。   That is, as shown in FIG. 4A, the processed workpiece 100A is taken out from the workpiece holder 110 mounted on the support device 50 disposed on the main surface 300 of the gate valve 30 on the hood side. Thereafter, as shown in FIG. 4B, the unprocessed workpiece 100 </ b> B is accommodated in the workpiece holder 110 mounted on the support device 50 arranged on the main surface 300 on the hood side. The exchange of the workpiece 100 is performed by, for example, a robot arm. The workpiece 100 may be replaced with the workpiece holder 110 that houses the workpiece 100.

図4(a)、図4(b)に示すように、処理済みのワーク100Aをフード20の内部から取り出し、未処理のワーク100Bをフード20の内部に収納するために開閉するシャッター23が、フード20に設置されている。ワーク100の出し入れのとき以外はシャッター23が閉じられ、更に、乾燥ガス供給装置21によってフード20の内部に乾燥ガス200を供給することによって、フード20の内部に乾燥ガス200を充満させる。例えば、乾燥ガス供給装置21はフード20の内部に乾燥ガス200を常時供給する。内部を乾燥ガス200で充満させる上で、フード20は小型であるほど好ましい。   As shown in FIGS. 4A and 4B, a shutter 23 that opens and closes in order to take out the processed workpiece 100 </ b> A from the inside of the hood 20 and store the unprocessed workpiece 100 </ b> B in the inside of the hood 20, It is installed in the hood 20. The shutter 23 is closed except when the workpiece 100 is taken in and out, and the dry gas 200 is supplied into the hood 20 by the dry gas supply device 21, thereby filling the hood 20 with the dry gas 200. For example, the dry gas supply device 21 constantly supplies the dry gas 200 into the hood 20. In filling the interior with the dry gas 200, the hood 20 is preferably as small as possible.

成膜装置1では、シャッター23が閉じてフード20の内部が乾燥ガス200で充満した状態において、開口部15が開かれる。このため、ゲート弁30の向きを調整している期間においても、水分を含んだ大気が成膜チャンバー10内に導入されることを防止できる。そして、成膜チャンバー10の内部が水分を含んだ大気に曝されないように、ゲート弁30が第1の位置201に位置して開口部15を閉じた状態において、シャッター23が開いてワーク100の交換が行われる。   In the film forming apparatus 1, the opening 15 is opened in a state where the shutter 23 is closed and the inside of the hood 20 is filled with the dry gas 200. For this reason, even when the direction of the gate valve 30 is adjusted, it is possible to prevent the atmosphere containing moisture from being introduced into the film forming chamber 10. Then, in a state where the gate valve 30 is located at the first position 201 and the opening 15 is closed so that the inside of the film forming chamber 10 is not exposed to moisture containing moisture, the shutter 23 is opened and the workpiece 100 is Exchange is performed.

なお、ゲート弁30によって開口部15が閉じられ状態においてワーク100を交換するため、成膜チャンバー10に格納されたワーク100の成膜処理の間にワーク100の交換を行うことが可能である。このように成膜処理とワーク交換を並行して行うことによって、複数のワーク100に対する成膜処理の効率が向上し、タスクタイムを抑制することができる。   Since the workpiece 100 is exchanged in a state where the opening 15 is closed by the gate valve 30, the workpiece 100 can be exchanged during the film forming process of the workpiece 100 stored in the film forming chamber 10. Thus, by performing the film forming process and the workpiece exchange in parallel, the efficiency of the film forming process for the plurality of works 100 is improved, and the task time can be suppressed.

成膜チャンバー10の内部には、支持装置50に搭載されたワーク100を成膜チャンバー10の内部に定義された所定の処理領域まで搬送する搬送装置11が設置されている。搬送装置11は、ワーク100が搭載される搬送テーブル111、搬送テーブル111を上下方向に昇降させる昇降機構112、及び搬送テーブル111に搭載されたワークホルダ110を成膜チャンバー10内で水平方向に移動させる運搬機構113を備える。   Inside the film forming chamber 10, a transfer device 11 is provided for transferring the workpiece 100 mounted on the support device 50 to a predetermined processing region defined inside the film forming chamber 10. The transfer device 11 moves the transfer table 111 on which the workpiece 100 is mounted, the lifting mechanism 112 that moves the transfer table 111 up and down, and the work holder 110 mounted on the transfer table 111 in the film forming chamber 10 in the horizontal direction. A transport mechanism 113 is provided.

図5(a)に示すように、ワークホルダ110の下方に搬送テーブル111を差し入れた状態で、昇降機構112によって搬送テーブル111を上方に持ち上げる。これにより、ワーク100がワークホルダ110ごと搬送テーブル111に移載される。そして、図5(b)に示すように、運搬機構113によってワークホルダ110を搭載した搬送テーブル111を成膜チャンバー10内の処理領域まで移載する。例えば、図6に示すように、搬送テーブル111の側面にかみ合わせた運搬機構113のギヤを回転させることによって、搬送テーブル111を成膜チャンバー10内で移動させる。   As shown in FIG. 5A, the transport table 111 is lifted upward by the lifting mechanism 112 with the transport table 111 inserted below the work holder 110. As a result, the workpiece 100 is transferred to the transfer table 111 together with the workpiece holder 110. Then, as shown in FIG. 5B, the transfer table 111 on which the work holder 110 is mounted is transferred to the processing region in the film forming chamber 10 by the transfer mechanism 113. For example, as shown in FIG. 6, the transport table 111 is moved in the film forming chamber 10 by rotating the gear of the transport mechanism 113 meshed with the side surface of the transport table 111.

なお、成膜チャンバー10内部の処理領域は1箇所に限られず、複数の処理領域が定義されていてもよい。図7に、ワーク100の成膜処理がそれぞれ行われる2つの処理領域が内部に配置された成膜チャンバー10の例を示す。図7に示した成膜チャンバー10内では、搬送装置11が、第1の処理領域101と第2の処理領域102に渡ってワーク100を搬送する。   Note that the processing region inside the film forming chamber 10 is not limited to one place, and a plurality of processing regions may be defined. FIG. 7 shows an example of the film forming chamber 10 in which two processing regions where the film forming process of the workpiece 100 is performed are arranged. In the film forming chamber 10 shown in FIG. 7, the transfer device 11 transfers the workpiece 100 across the first processing region 101 and the second processing region 102.

例えば、第1の処理領域101でワーク100について第1の処理が行われる。第1の処理の後、ワーク100が第2の処理領域102に搬送されて第2の処理が行われる。このように、2つの処理領域が定義された成膜チャンバー10を有する成膜装置1によれば、第1の処理領域101における第1の処理と第2の処理領域102における第2の処理とを、真空連続によって行うことができる。このため、処理ごとにチャンバー内を高真空にする必要がなく、処理時間を短縮できる。また、ワーク100を大気に曝すことがないため、例えばワーク100に形成した膜が酸化するのを防止できる。   For example, the first processing is performed on the workpiece 100 in the first processing area 101. After the first processing, the workpiece 100 is transferred to the second processing region 102 and the second processing is performed. As described above, according to the film forming apparatus 1 having the film forming chamber 10 in which two processing regions are defined, the first processing in the first processing region 101 and the second processing in the second processing region 102 are performed. Can be carried out by continuous vacuum. For this reason, it is not necessary to make a high vacuum in the chamber for each treatment, and the treatment time can be shortened. Moreover, since the workpiece | work 100 is not exposed to air | atmosphere, it can prevent that the film | membrane formed, for example in the workpiece | work 100 is oxidized.

なお、第1の処理領域101での処理と第2の処理領域102での処理の順番は任意である。したがって、第2の処理領域102において処理を行った後に、第1の処理領域101において処理を行ってもよい。   The order of the processing in the first processing area 101 and the processing in the second processing area 102 is arbitrary. Therefore, the processing may be performed in the first processing region 101 after performing processing in the second processing region 102.

以下に、図7に示した成膜チャンバー10の場合を例にして、成膜装置1による成膜処理について説明する。ワーク100は、例えば、射出成形された樹脂部品である。ここでは、第1の処理領域101においてスパッタ法による成膜処理を行い、第2の処理領域102においてプラズマ化学気相成長(CVD)法による成膜処理を行う場合を例示的に説明する。例えば、スパッタ法によってワーク100に酸化しやすい第1の膜(例えばアルミニウム膜など)を形成した後、真空連続で、第1の膜の酸化を防止する第2の膜(例えば酸化シリコン膜など)を第1の膜を覆ってプラズマCVD法によって形成する。例えば、自動車ヘッドランプのリフレクターの製造などにおける、樹脂部品の表面にアルミニウム膜を形成する場合などに上記の成膜方法は有効である。   Hereinafter, the film forming process by the film forming apparatus 1 will be described by taking the case of the film forming chamber 10 shown in FIG. 7 as an example. The workpiece 100 is, for example, an injection molded resin part. Here, a case where a film formation process by a sputtering method is performed in the first process region 101 and a film formation process by a plasma chemical vapor deposition (CVD) method is performed in the second process region 102 will be described as an example. For example, after a first film (for example, an aluminum film) that is easily oxidized is formed on the workpiece 100 by sputtering, a second film (for example, a silicon oxide film) that prevents oxidation of the first film in a continuous vacuum. Is formed by the plasma CVD method so as to cover the first film. For example, the above film forming method is effective when an aluminum film is formed on the surface of a resin component in manufacturing a reflector for an automobile headlamp.

まず、未処理のワーク100を収容したワークホルダ110を搭載した支持装置50が成膜チャンバー10内に配置されるように、成膜チャンバー10の開口部15がゲート弁30によって閉じられる。成膜チャンバー10の内部が排気された後、図7に示すように、成膜チャンバー10内に格納されたワークホルダ110が、搬送装置11によって第1の処理領域101に搬送される。   First, the opening 15 of the film forming chamber 10 is closed by the gate valve 30 so that the support device 50 on which the work holder 110 containing the unprocessed work 100 is mounted is disposed in the film forming chamber 10. After the inside of the film forming chamber 10 is evacuated, as shown in FIG. 7, the work holder 110 stored in the film forming chamber 10 is transferred to the first processing region 101 by the transfer device 11.

そして、第1の処理領域101においてスパッタ法によるワーク100の成膜処理が行われる。第1の処理領域101においてターゲット123がターゲット電極122上に取り付けられている。ターゲット電極122は高周波(RF)電力或いは直流(DC)電力を供給するスパッタ電源121に接続される。図7に示したように、第1のガス供給装置124からアルゴン(Ar)ガスなどの不活性ガス120が成膜チャンバー10内に導入される。スパッタ電源121からターゲット電極122に電力を供給し放電させ、ターゲット123の表面近傍の気相中にプラズマを形成する。プラズマ中で加速された不活性ガス120の正イオンがターゲット123の表面に衝突し、スパッタリングによりターゲット原子が放出される。ターゲット123の表面から放出された原子がワーク100の表面に被着・堆積されて、第1の膜が形成される。その後、不活性ガス120は排気装置140によって成膜チャンバー10の内部から排気される。   Then, the film forming process of the workpiece 100 is performed by the sputtering method in the first processing region 101. A target 123 is mounted on the target electrode 122 in the first processing region 101. The target electrode 122 is connected to a sputtering power source 121 that supplies radio frequency (RF) power or direct current (DC) power. As shown in FIG. 7, an inert gas 120 such as argon (Ar) gas is introduced into the film forming chamber 10 from the first gas supply device 124. Electric power is supplied from the sputtering power source 121 to the target electrode 122 to discharge it, and plasma is formed in the gas phase near the surface of the target 123. Positive ions of the inert gas 120 accelerated in the plasma collide with the surface of the target 123, and target atoms are released by sputtering. Atoms emitted from the surface of the target 123 are deposited and deposited on the surface of the workpiece 100 to form a first film. Thereafter, the inert gas 120 is exhausted from the inside of the film forming chamber 10 by the exhaust device 140.

次いで、図8に示すように、搬送装置11によって、ワークホルダ110が第1の処理領域101から第2の処理領域102に搬送される。   Next, as shown in FIG. 8, the work holder 110 is transported from the first processing region 101 to the second processing region 102 by the transport device 11.

第2の処理領域102におけるプラズマCVD法による成膜処理では、第2のガス供給装置133によって、ワーク100に形成する膜の原料ガスを含むプロセスガス130が成膜チャンバー10内に導入される。第2の処理領域102には、ワーク100と対向するカソード電極132が配置されている。搬送テーブル111はアノード電極として機能し、交流電源131によって搬送テーブル111とカソード電極132間に所定の交流電力が供給される。これにより、成膜チャンバー10内の原料ガスを含むプロセスガス130がプラズマ化される。形成されたプラズマにワーク100を曝すことにより、ワーク100に成膜した第1の膜の表面に所望の第2の膜が形成される。その後、プロセスガス130は排気装置140によって成膜チャンバー10の内部から排気される。   In the film forming process by the plasma CVD method in the second processing region 102, the process gas 130 containing the raw material gas for the film to be formed on the workpiece 100 is introduced into the film forming chamber 10 by the second gas supply device 133. A cathode electrode 132 facing the workpiece 100 is disposed in the second processing region 102. The transfer table 111 functions as an anode electrode, and predetermined AC power is supplied between the transfer table 111 and the cathode electrode 132 by an AC power supply 131. Thereby, the process gas 130 containing the source gas in the film forming chamber 10 is turned into plasma. By exposing the workpiece 100 to the formed plasma, a desired second film is formed on the surface of the first film formed on the workpiece 100. Thereafter, the process gas 130 is exhausted from the film forming chamber 10 by the exhaust device 140.

既に述べたように、成膜チャンバー10に格納されたワーク100の成膜処理の間に、ワーク100の交換が行われる。例えば図4(a)、図4(b)を参照して説明した方法によって、ワーク100の交換が行われる。   As already described, the workpiece 100 is exchanged during the deposition process of the workpiece 100 stored in the deposition chamber 10. For example, the workpiece 100 is replaced by the method described with reference to FIGS. 4 (a) and 4 (b).

成膜処理の後、図示を省略するが、搬送装置11によって、成膜チャンバー10内に配置された支持装置50にワークホルダ110が移載される。そして、調整装置40によって、ゲート弁30が第1の位置201から第2の位置202に移動する。   After the film forming process, although not shown, the work holder 110 is transferred to the support device 50 disposed in the film forming chamber 10 by the transfer device 11. Then, the gate valve 30 is moved from the first position 201 to the second position 202 by the adjusting device 40.

第2の位置202において、図3(a)〜図3(c)を参照して説明した方法などにより、ゲート弁30の向きが調整される。即ち、未処理のワーク100を収容したワークホルダ110を搭載する支持装置50が配置された主面300を、成膜チャンバー10の開口部15に対向させる。   In the second position 202, the direction of the gate valve 30 is adjusted by the method described with reference to FIGS. 3A to 3C. That is, the main surface 300 on which the support device 50 on which the work holder 110 containing the unprocessed work 100 is mounted is opposed to the opening 15 of the film forming chamber 10.

次いで、ゲート弁30を第1の位置201に移動させることによって開口部15を閉じる。これにより、未処理のワーク100を収容したワークホルダ110を搭載した支持装置50が、成膜チャンバー10内に配置される。一方、フード20内に配置された支持装置50には、直前の成膜処理によって膜が形成されたワーク100を収容したワークホルダ110が搭載された状態になる。   Next, the opening 15 is closed by moving the gate valve 30 to the first position 201. As a result, the support device 50 on which the work holder 110 containing the unprocessed work 100 is mounted is disposed in the film forming chamber 10. On the other hand, the support device 50 arranged in the hood 20 is in a state where a work holder 110 containing the work 100 on which a film is formed by the immediately preceding film forming process is mounted.

その後、新たな未処理のワーク100に対して、第1の処理領域101でのスパッタ法による成膜処理と第2の処理領域102でのプラズマCVD法による成膜処理が行われる。そして、成膜処理と並行して、処理済みのワーク100と未処理のワーク100が交換される。以降、すべての未処理のワーク100について成膜処理が終了するまで、上記の工程が繰り返される。   Thereafter, film formation processing by sputtering in the first processing region 101 and film formation processing by plasma CVD in the second processing region 102 are performed on the new unprocessed workpiece 100. In parallel with the film forming process, the processed workpiece 100 and the unprocessed workpiece 100 are exchanged. Thereafter, the above process is repeated until the film forming process is completed for all unprocessed workpieces 100.

上記のように、ゲート弁30の向きを調整している期間は、大気圧のフード20の内部に対して成膜チャンバー10の開口部15は開放状態である。しかし、この期間中は、フード20の内部には乾燥ガス200が充満している。即ち、少なくとも成膜チャンバー10の開口部15がゲート弁30によって閉じられていない状態のフード20の内部は、乾燥ガス供給装置21によって乾燥ガス200によって満たされる。このため、成膜チャンバー10の内部も大気圧であり、且つ乾燥ガス200で満たされた状態である。したがって、成膜チャンバー10の内部が水分を含んだ大気に曝されることが防止される。   As described above, during the period in which the direction of the gate valve 30 is adjusted, the opening 15 of the film forming chamber 10 is in an open state with respect to the inside of the hood 20 at atmospheric pressure. However, during this period, the inside of the hood 20 is filled with the dry gas 200. That is, at least the inside of the hood 20 in a state where the opening 15 of the film forming chamber 10 is not closed by the gate valve 30 is filled with the dry gas 200 by the dry gas supply device 21. For this reason, the inside of the film forming chamber 10 is also at atmospheric pressure and filled with the dry gas 200. Therefore, the inside of the film forming chamber 10 is prevented from being exposed to the atmosphere containing moisture.

なお、フード20内の乾燥ガス200は、排気機構22を介して外部に排気される。フード20内を乾燥ガス200によって満たしておくことが乾燥ガス200を供給する目的であるから、フード20の内部を強制的に真空に排気する必要はない。このため、フード20に真空排気装置を設置する必要はなく、成膜装置1による製造コストの増大を抑制できる。   The dry gas 200 in the hood 20 is exhausted to the outside through the exhaust mechanism 22. Since the purpose of supplying the dry gas 200 is to fill the hood 20 with the dry gas 200, it is not necessary to forcibly exhaust the inside of the hood 20 to a vacuum. For this reason, it is not necessary to install an evacuation apparatus in the hood 20, and an increase in manufacturing cost by the film forming apparatus 1 can be suppressed.

また、成膜装置1では、第1の位置201に位置するゲート弁30によって開口部15が閉じられている状態でワーク100を交換することにより、複数のワーク100に対する連続した成膜処理を効率的に行うことができる。なお、成膜処理に要する時間はワーク100の交換に要する時間よりも一般的に長いため、ワーク100の交換によって成膜処理のスループットを低下させることがない。   Further, in the film forming apparatus 1, the continuous film forming process for the plurality of works 100 is efficiently performed by exchanging the work 100 in a state where the opening 15 is closed by the gate valve 30 located at the first position 201. Can be done automatically. Since the time required for the film formation process is generally longer than the time required for the exchange of the workpiece 100, the exchange of the workpiece 100 does not reduce the throughput of the film formation process.

ところで、凹形状のワークホルダ110を使用することにより、ワークホルダ110の凹部の側壁部が障壁となり、第1の処理領域101と第2の処理領域102の一方での処理が、他方の処理領域での処理に影響を及ぼすことが抑制される。例えば、一方の処理領域でスパッタ処理を行う場合、スパッタリングにより生じたターゲット原子がワークホルダ110の凹部の内側から他の処理領域に拡散するのを抑制することができる。   By the way, by using the concave work holder 110, the side wall portion of the concave portion of the work holder 110 serves as a barrier, and the processing in one of the first processing area 101 and the second processing area 102 is performed in the other processing area. The influence on the processing in the is suppressed. For example, when the sputtering process is performed in one processing region, it is possible to suppress the target atoms generated by the sputtering from diffusing from the inside of the recess of the work holder 110 to the other processing region.

実施形態に係る成膜装置1は、例えば図9に示すように、ワーク100を射出成形する成形装置2と連動させ、射出成形と成膜処理を連続して行う場合に有効である。   The film forming apparatus 1 according to the embodiment is effective when, for example, as shown in FIG. 9, the injection molding and the film forming process are continuously performed in conjunction with the molding apparatus 2 that performs injection molding of the workpiece 100.

図9に示した例では、成形装置2によって射出成形されたワーク100が搬送ホルダ6に移載され、搬送路3によって成膜装置1に搬送される。そして、ロボットアームなどによって、ワーク100が搬送ホルダ6から成膜装置1のフード20内に移動され、第1の位置201にあるゲート弁30の支持装置50に搭載される。このとき、ゲート弁30の支持装置50に搭載されていた成膜処理済みのワーク100が成膜装置1から取り出される。例えば、ワーク100が搬送ホルダ7に移載され、搬出ベルト4によって成膜処理ラインから取り出される。   In the example shown in FIG. 9, the workpiece 100 injection molded by the molding apparatus 2 is transferred to the conveyance holder 6 and conveyed to the film forming apparatus 1 by the conveyance path 3. Then, the workpiece 100 is moved from the transfer holder 6 into the hood 20 of the film forming apparatus 1 by a robot arm or the like and mounted on the support device 50 of the gate valve 30 at the first position 201. At this time, the film-formed workpiece 100 mounted on the support device 50 of the gate valve 30 is taken out from the film forming apparatus 1. For example, the workpiece 100 is transferred to the conveyance holder 7 and taken out from the film forming line by the carry-out belt 4.

これに対し、成形装置2と成膜装置1を連動させない場合には、成形装置によって所定量のワーク100に対する射出成形を行い、その後、成膜装置によってワーク100の成膜処理が行われる。即ち、射出成形、ワーク100のストック、ワーク100の表面を保護するためのアンダーコート、ワーク100のストック、成膜処理、のように一連の工程が進行する。一方、図9に示した構成のように成形装置2と成膜装置1を連動させることによって、射出成形の後すぐに成膜処理を行うことができる。これにより、ストックされたワーク100に異物が付着して品質が低下することが防止したり、ストックのために広いスペースを確保する必要をなくしたりするなどの効果がある。また、成形装置2から成膜装置1へのワーク100の移動にロボットアームを使用することによって自動化が進み、人件費やタスクタイムを低減できる。   On the other hand, when the forming apparatus 2 and the film forming apparatus 1 are not interlocked, the forming apparatus performs injection molding on a predetermined amount of the workpiece 100, and then the film forming apparatus performs a film forming process on the work 100. That is, a series of processes proceeds, such as injection molding, stock of the workpiece 100, undercoat for protecting the surface of the workpiece 100, stock of the workpiece 100, and film formation. On the other hand, the film forming process can be performed immediately after the injection molding by interlocking the molding apparatus 2 and the film forming apparatus 1 as in the configuration shown in FIG. As a result, there are effects such as preventing foreign matter from adhering to the stocked workpiece 100 and lowering the quality, or eliminating the need to secure a large space for stocking. In addition, automation is achieved by using a robot arm to move the workpiece 100 from the molding apparatus 2 to the film forming apparatus 1, and labor costs and task time can be reduced.

なお、未処理のワーク100を成膜装置1に供給する方法として、所定の待機場所にワーク100を待機させておき、この待機場所からワーク100を成膜装置1に格納してもよい。例えば、図10に示すように、成膜処理前のワーク100をパレット5上に配置しておく。そして、パレット5からワーク100をロボットアームなどによってフード20内のゲート弁30に搭載する。   As a method of supplying the unprocessed workpiece 100 to the film forming apparatus 1, the workpiece 100 may be kept waiting at a predetermined standby location, and the workpiece 100 may be stored in the film forming device 1 from this standby location. For example, as shown in FIG. 10, the workpiece 100 before the film forming process is arranged on the pallet 5. Then, the workpiece 100 from the pallet 5 is mounted on the gate valve 30 in the hood 20 by a robot arm or the like.

このようにパレット5を使用する方法は、例えば成形装置2と成膜装置1のスループットが異なる場合に有効である。即ち、成形装置2のスループットの方が高い場合には、射出成形されたワーク100をパレット5に待機させることによって、成形装置2と成膜装置1を連動させることができる。   Thus, the method of using the pallet 5 is effective, for example, when the throughputs of the molding apparatus 2 and the film forming apparatus 1 are different. That is, when the throughput of the molding apparatus 2 is higher, the molding apparatus 2 and the film forming apparatus 1 can be interlocked by waiting the injection molded workpiece 100 on the pallet 5.

以上に説明したように、本発明の実施形態に係る成膜装置1では、ゲート弁30の対向する2つの主面300にそれぞれ配置された支持装置50にワーク100を搭載する。これにより、ゲート弁30によって成膜チャンバー10の開口部を閉じた状態において、処理済みのワーク100と未処理のワーク100を交換できる。このため、他のワーク100の成膜処理中に、支持装置50に搭載された処理済みのワーク100を未処理のワーク100に交換できる。したがって、装置の大型化などを必要とせずに、成膜装置1のスループットを向上できる。このため、成形装置などと連動させて自動化することも容易である。その結果、処理全体のスループットが向上するとともに、人件費の抑制も可能である。このように、成膜装置1は、成形装置2などの他の製造装置と連動させる場合に特に有効である。   As described above, in the film forming apparatus 1 according to the embodiment of the present invention, the workpiece 100 is mounted on the support devices 50 respectively disposed on the two main surfaces 300 facing the gate valve 30. Thus, the processed workpiece 100 and the unprocessed workpiece 100 can be exchanged while the gate valve 30 closes the opening of the film forming chamber 10. For this reason, during the film-forming process of the other workpiece | work 100, the processed workpiece | work 100 mounted in the support apparatus 50 can be replaced | exchanged for the untreated workpiece | work 100. FIG. Therefore, the throughput of the film forming apparatus 1 can be improved without requiring an increase in the size of the apparatus. For this reason, it is easy to automate in conjunction with a molding apparatus or the like. As a result, the throughput of the entire process is improved and personnel costs can be reduced. As described above, the film forming apparatus 1 is particularly effective when interlocked with another manufacturing apparatus such as the molding apparatus 2.

更に、ゲート弁30の向きを調整するために開口部15を開放する場合には、乾燥ガス200に満たされたフード20の内部で開口部が解放される。このため、成膜チャンバー10の内部が水分を含む大気に曝されない。その結果、ロードロックチャンバーなどを使用しなくても、真空引きに要する時間の増大が抑制される。また、成膜チャンバー10の内部を清掃する期間の間隔を長くすることができる。   Furthermore, when opening the opening 15 in order to adjust the direction of the gate valve 30, the opening is released inside the hood 20 filled with the dry gas 200. For this reason, the inside of the film forming chamber 10 is not exposed to the atmosphere containing moisture. As a result, an increase in time required for evacuation can be suppressed without using a load lock chamber or the like. In addition, the interval of the period for cleaning the inside of the film forming chamber 10 can be increased.

したがって、成膜装置1によれば、製造コストの上昇が抑制され、且つタスクタイムの短縮が可能な成膜装置を提供することができる。   Therefore, according to the film forming apparatus 1, it is possible to provide a film forming apparatus in which an increase in manufacturing cost is suppressed and a task time can be shortened.

<変形例>
図11に示すように、成膜処理前のワーク100を収納する収納領域210をフード20の内部に設定してもよい。即ち、支持装置50に搭載される前に、未処理のワーク100を一時的にフード20内の収納領域210に保管する。そして、収納領域210に収納されたワーク100について、成膜処理を順次行う。フード20の内部は乾燥ガス200が充填されているため、成膜処理前のワーク100が大気に曝されて劣化することを防止できる。
<Modification>
As shown in FIG. 11, a storage area 210 for storing the workpiece 100 before the film forming process may be set inside the hood 20. That is, the unprocessed workpiece 100 is temporarily stored in the storage area 210 in the hood 20 before being mounted on the support device 50. Then, the film forming process is sequentially performed on the workpiece 100 stored in the storage area 210. Since the inside of the hood 20 is filled with the dry gas 200, it is possible to prevent the work 100 before the film formation process from being exposed to the atmosphere and being deteriorated.

(その他の実施形態)
上記のように、本発明は実施形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
(Other embodiments)
As mentioned above, although this invention was described by embodiment, it should not be understood that the description and drawing which form a part of this indication limit this invention. From this disclosure, various alternative embodiments, examples and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.

上記では、第1の処理領域101においてスパッタ法成膜処理を行い、第2の処理領域102においてプラズマCVD法による成膜処理を行う例を説明した。しかし、第1の処理領域101や第2の処理領域102における処理の組み合わせは上記に限られない。また、成膜チャンバー10内に2つの処理領域が定義された例を示したが、成膜チャンバー10に定義された処理領域が3以上である場合にも、本発明は適用可能である。なお、成膜チャンバー10内での成膜処理が、プラズマCVD法、スパッタ法、或いは蒸着法などの1種類である場合にも、本発明は有効である。   In the above description, the example in which the sputtering method film forming process is performed in the first processing region 101 and the film forming process by the plasma CVD method is performed in the second processing region 102 has been described. However, the combination of processing in the first processing area 101 and the second processing area 102 is not limited to the above. Further, although an example in which two processing regions are defined in the film forming chamber 10 has been shown, the present invention can also be applied to a case where the processing regions defined in the film forming chamber 10 are three or more. The present invention is also effective when the film forming process in the film forming chamber 10 is one type such as a plasma CVD method, a sputtering method, or a vapor deposition method.

また、フード20の内部にヒータなどの加熱装置を配置することによって、成膜処理前にワーク100の予備加熱が可能である。   In addition, by disposing a heating device such as a heater inside the hood 20, the workpiece 100 can be preheated before the film forming process.

このように、本発明はここでは記載していない様々な実施形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。   As described above, the present invention naturally includes various embodiments not described herein. Therefore, the technical scope of the present invention is defined only by the invention specifying matters according to the scope of claims reasonable from the above description.

1…成膜装置
2…成形装置
5…パレット
10…成膜チャンバー
11…搬送装置
15…開口部
20…フード
21…乾燥ガス供給装置
22…排気機構
23…シャッター
30…ゲート弁
40…調整装置
41…移動機構
42…回転機構
50…支持装置
100…ワーク
101…第1の処理領域
102…第2の処理領域
110…ワークホルダ
200…乾燥ガス
201…第1の位置
202…第2の位置
210…収納領域
300…主面
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Film formation apparatus 2 ... Molding apparatus 5 ... Pallet 10 ... Film formation chamber 11 ... Conveyance apparatus 15 ... Opening part 20 ... Hood 21 ... Dry gas supply apparatus 22 ... Exhaust mechanism 23 ... Shutter 30 ... Gate valve 40 ... Adjustment apparatus 41 ... Movement mechanism 42 ... Rotation mechanism 50 ... Support device 100 ... Workpiece 101 ... First treatment area 102 ... Second treatment area 110 ... Work holder 200 ... Dry gas 201 ... First position 202 ... Second position 210 ... Storage area 300 ... Main surface

Claims (9)

処理対象物を内部に搬入する開口部が設けられた成膜チャンバーと、
前記成膜チャンバーの前記開口部を覆って前記成膜チャンバーに連結され、内部を乾燥ガスで充填されたフードと、
前記処理対象物を搭載する支持装置が対向する2つの主面にそれぞれ配置され、一方の前記主面が前記成膜チャンバーの内部に位置し且つ他方の前記主面が前記フードの内部に位置する状態で前記開口部を閉じるゲート弁と、
前記ゲート弁が前記開口部を閉じている第1の位置と前記ゲート弁が前記開口部を閉じていない第2の位置との間で前記フードの内部において前記ゲート弁を移動させる調整装置と
を備えることを特徴とする成膜装置。
A film forming chamber provided with an opening for carrying a processing object inside;
A hood that covers the opening of the film forming chamber and is connected to the film forming chamber and filled with a dry gas;
Supporting devices on which the processing object is mounted are respectively disposed on two opposing main surfaces, one main surface is located inside the film forming chamber, and the other main surface is located inside the hood. A gate valve that closes the opening in a state;
An adjustment device for moving the gate valve within the hood between a first position where the gate valve closes the opening and a second position where the gate valve does not close the opening; A film forming apparatus comprising:
前記調整装置が、前記2つの主面のいずれかが前記開口部と対向するように前記第2の位置で前記ゲート弁の向きを調整することを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。   2. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the adjusting device adjusts the direction of the gate valve at the second position so that one of the two main surfaces faces the opening. . 前記調整装置が、
前記第1の位置と前記第2の位置との間で前記ゲート弁を移動させる移動機構と、
前記第2の位置において前記ゲート弁を回転させる回転機構と
を備えることを特徴とする請求項2に記載の成膜装置。
The adjusting device is
A moving mechanism for moving the gate valve between the first position and the second position;
The film forming apparatus according to claim 2, further comprising: a rotation mechanism that rotates the gate valve at the second position.
前記第1の位置において、前記フードの内部に位置する前記支持装置に搭載された処理済みの前記処理対象物を未処理の前記処理対象物に交換することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の成膜装置。   4. The process object according to claim 1, wherein, in the first position, the processed object to be processed mounted on the support device located inside the hood is replaced with the unprocessed object to be processed. 5. The film forming apparatus according to claim 1. 未処理の前記処理対象物を前記フードの内部に収納し、処理済みの前記処理対象物を前記フードの内部から取り出すために開閉するシャッターが、前記フードに設置されていることを特徴とする請求項4に記載の成膜装置。   A shutter that opens and closes in order to store the unprocessed object to be processed in the hood and take out the processed object to be processed from the inside of the hood is installed in the hood. Item 5. The film forming apparatus according to Item 4. 前記フードの内部に前記乾燥ガスを供給する乾燥ガス供給装置を更に備え、前記乾燥ガス供給装置が、少なくとも前記開口部が前記ゲート弁によって閉じられていない状態で前記フードの内部を前記乾燥ガスで満たすことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の成膜装置。   The apparatus further includes a dry gas supply device that supplies the dry gas to the inside of the hood, and the dry gas supply device includes the dry gas in the hood with at least the opening not closed by the gate valve. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the film forming apparatus is satisfied. 前記フードの内部に、前記支持装置に搭載される前の未処理の前記処理対象物を収納する領域を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の成膜装置。   The film forming apparatus according to claim 1, further comprising an area for storing the unprocessed object to be processed before being mounted on the support device inside the hood. 前記成膜チャンバーが、前記支持装置に搭載された前記処理対象物を移載される搬送装置を備え、前記搬送装置が前記成膜チャンバーの内部に定義された処理領域まで前記処理対象物を搬送することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の成膜装置。   The film forming chamber includes a transfer device for transferring the processing object mounted on the support device, and the transfer device transfers the processing object to a processing region defined in the film forming chamber. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the film forming apparatus is a film forming apparatus. 前記成膜チャンバーに前記処理領域が複数定義され、前記搬送装置が複数の前記処理領域に渡って前記処理対象物を前記成膜チャンバー内で搬送することを特徴とする請求項8に記載の成膜装置。   9. The process according to claim 8, wherein a plurality of the processing regions are defined in the film forming chamber, and the transfer device transports the processing object in the film forming chamber over the plurality of processing regions. Membrane device.
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