JP2016087022A - 断層画像撮像装置、その制御方法、およびプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】 固視微動の影響が含まれる断層画像は不鮮明な断層画像になる可能性があるため、効率良く判定する必要がある。【解決手段】 被測定物の撮像領域において、第一の間隔で複数の第一の断層画像を取得する手段と、前記撮像領域において、前記第一の間隔よりも狭い第二の間隔で複数の第二の断層画像を取得する手段と、前記第二の断層画像の撮像位置と対応する撮像位置の前記第一の断層画像を選択する手段と、前記選択された前記第一の断層画像と前記第二の断層画像とから、当該第二の断層画像に含まれる前記被測定物の動きを判断する判断手段を備える。【選択図】 図８

Description

本発明は、断層画像撮像装置、その制御方法、およびプログラムに関する。

現在、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）による光干渉断層画像撮像装置が知られている。光干渉断層画像撮像装置は、例えば、内視鏡での内臓の情報や、眼科装置での網膜の情報を得るために用いられ、人体に対する適用分野を広げつつある。眼に適用した光干渉断層画像撮像装置は眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。

このような光干渉断層画像撮像装置とは、低コヒーレント光である測定光を、被測定物に照射し、その被測定物からの後方散乱光を、干渉系を用いることで測定することを可能にした装置である。測定光を被測定物上の一点に照射した場合、その被測定物上の一点における深さ方向の画像情報を得ることができる。さらに測定光を被測定物上で走査しながら測定を行うことで、被測定物の断層画像を得ることも可能である。そして、眼底に適用した場合には、測定光を被検眼の眼底上で走査することにより被検眼の眼底の断層画像を高解像度で撮像することが可能であることから、網膜の眼科診断等において広く利用されている。

光干渉断層画像撮像装置では、測定対象である眼底を水平方向、または垂直方向に反復走査することによって複数の断層画像を得る撮像方法が一般的である。例えば、眼底上の同じ場所を複数回走査することによって同一部位の複数の断層画像を取得し、それらを加算平均処理することによって高画質な一枚の断層画像を得ることができる。また、走査位置を平行に移動させながら複数回走査することによって、眼底の３次元画像を得ることも可能である。

しかしながら、このような複数回の走査を行う場合、撮像を完了するためにはある程度の時間を要するため、その間に被検眼が動いてしまう可能性がある。

これに対して、被検眼の動きに応じた走査位置の補正（眼底トラッキング）と被検眼と装置本体との位置関係を一定に保つことが重要である。また、眼底トラッキングは、ＯＣＴ内に併設された走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）を利用していることが多い。この構成のＯＣＴは比較的高価なことが知られ、ＳＬＯを省いた廉価なＯＣＴが近年普及しつつある。ＳＬＯを省いたＯＣＴは、複数の断層画像から眼底画像を生成し、アライメント等に利用している。一例として、ＳＬＯで撮像した眼底画像の表示フレームレイトは２６Ｈｚ（３８ミリ秒／フレーム）に対して、ＯＣＴにおいて複数の断層画像から生成した眼底画像の表示フレームレイトは、２Ｈｚ（５００ミリ秒／フレーム）と遅く、ＯＣＴのＢスキャン速度は数マイクロ秒なので、Ｂスキャン断層画像取得の合間に眼底トラッキングが出来ない。

これに対して、Ｂスキャン断層画像取得の合間に隣り合うＢスキャン断層画像間の類似度で固視微動量を検出することで、固視微動の少ないＢスキャン画像群を取得することが特許文献１に開示されている。

特許４４６６９６８号公報

しかしながら、特許文献１に記載の装置では、被検眼のＢスキャン断層画像取得時にＢスキャン断層画像間の画像の類似度を評価する必要がある。したがって、多量の画像処理を必要とし、ＣＰＵ負荷が高い。被検眼のＢスキャン断層画像取得の合間にＢスキャン断層画像間の画像を評価しないＳＬＯ付きＯＣＴでは、５０枚のＢスキャン画像群を取得するのに通常２秒程度必要である。したがって、同じＣＰＵのＳＬＯを省略したＯＣＴで被検眼のＢスキャン断層画像取得時にＢスキャン断層画像間の画像を評価すると、ＳＬＯ付きＯＣＴの処理秒数以上の処理時間が必要になる。健常な被検眼で眼を開けられる通常の時間は２〜４秒程度なので、被検眼の負荷が大きくなる可能性がある。

また、隣り合うＢスキャン断層画像間の類似度を求めているため、Ｂスキャン断層画像取得の最後になるに従って、隣り合うＢスキャン断層画像間の類似度の誤差が蓄積される。その結果、断層画像から生成される眼底画像が歪む可能性がある。この蓄積誤差による眼底画像の歪みについては、図２を用いて説明する。図２の（ａ）は、固視微動の無い状態で取得したＢスキャン断層画像のスキャン位置を示している。図２の（ｂ）は、固視微動のある場合の例を示している。図２の（ｂ）で隣り合うＢスキャン断層画像間の類似度の誤差をΔＬと定義すると、Ｂスキャン断層画像取得の進行と連動して、誤差が蓄積し、最終的にＬの誤差になる。緻密にスキャンする程、Ｂスキャン断層画像間の類似度の誤差が蓄積されて、眼底画像が歪んでしまう可能性がある。

以上のような断層画像上の歪みは、医師による画像診断の妨げになるだけでなく、断層画像の歪みを誤って病変部と認識してしまい、結果として診断精度が低くなる可能性がある。また、断層画像上の歪みは多くの光干渉断層画像撮像装置が持つ網膜層境界の自動認識機能にも悪影響を及ぼす可能性がある。そして誤った網膜層境界の認識が行われた場合、その誤った認識結果に基づく網膜層厚の計測値等が表示されることになり、結果として診断精度の低さに繋がる可能性がある。

また、近年は、多数の断層画像を重ね合わせることでスペックルノイズを低減する技術が発達しつつある。その際に、断層画像に固視微動ノイズが入った断層画像を重ね合わせると、断層画像がシングルの断層画像（重ね合わせを行っていない断層画像）よりもボケてしまう可能性がある。

上記の課題に鑑み、本発明は、固視微動等の動きの影響を含んだ断層画像を効率良く判定することを目的とする。

また、本発明は、被検眼の動きに応じて自動アライメントや眼底トラッキング出来ない場合であっても、歪みの少ない断層画像を取得することを目的とする。

上記の目的を達成するために、本発明に係る断層画像撮像装置は、
被測定物の撮像領域において、第一の間隔で複数の第一の断層画像を取得する手段と、
前記撮像領域において、前記第一の間隔よりも狭い第二の間隔で複数の第二の断層画像を取得する手段と、
前記第二の断層画像の撮像位置と対応する撮像位置の前記第一の断層画像を選択する手段と、
前記選択された前記第一の断層画像と前記第二の断層画像とから、当該第二の断層画像に含まれる前記被測定物の動きを判断する判断手段を備えることを特徴とする。

また、本発明に係る断層画像撮像装置は、
被測定物の撮像領域において、第一の間隔で複数の第一の断層画像を取得する手段と、
前記撮像領域において、前記第一の間隔よりも狭い第二の間隔で複数の第二の断層画像を取得する手段と、
前記複数の第一の断層画像から２次元の画像を生成する手段と、
前記生成された複数の２次元の画像を比較することにより、前記第二の断層画像に含まれる前記被測定物の動きを判断する判断手段を備えたことを特徴とする。

更に、本発明に係る断層画像撮像装置の制御方法は、
被測定物の撮像領域において、第一の間隔で複数の第一の断層画像を取得する工程と、
前記撮像領域において、前記第一の間隔よりも狭い第二の間隔で複数の第二の断層画像を取得する工程と、
前記第二の断層画像の撮像位置と対応する撮像位置の前記第一の断層画像を選択する工程と、
前記選択された前記第一の断層画像と前記第二の断層画像とから、当該第二の断層画像に含まれる前記被測定物の動きを判断する判断工程を備えたことを特徴とする。

本発明によれば、固視微動等の動きの影響を含んだ断層画像を効率良く判定することができる。

実施形態における光干渉断層画像撮像装置の構成を示す図。 固視微動による断層画像間の誤差の累積を説明するための図。 診断用の断層画像のスキャン位置を説明するための図。 眼底観察用の断層画像のスキャン位置を説明するための図。 眼底観察用の断層画像のスキャン位置を説明するための図。 眼底観察用の断層画像データの取得処理のフローチャート。 眼底観察用の断層画像データの取得処理のフローチャート。 診断用の断層画像データと眼底観察用断層データの関連を説明するための図。 診断用の断層画像データの移動量算出処理のフローチャート。 診断用断層画像データの移動量算出の応用処理のフローチャート。 第２実施形態における処理のフローチャート。 第２実施形態における処理のフローチャート。 第２実施形態における処理のフローチャート。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に関わる本発明を限定するものではなく、また、本実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。

（第１実施形態）
＜光干渉断層画像撮像装置の構成＞
図１を参照して、第１実施形態に係る光干渉断層画像撮像装置の構成を説明する。光干渉断層画像撮像装置は、走査部を介して測定光が照射された被測定物である被検眼からの戻り光と、測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、被検眼の断層画像を取得する。光干渉断層画像撮像装置は、光学ヘッド部１００と、分光器２００と、制御部３００とを備える。以下、光学ヘッド部１００、分光器２００、および制御部３００の構成を順に説明する。

＜光学ヘッド部１００および分光器２００の構成＞
光学ヘッド部１００は、被測定物としての被検眼Ｅの前眼Ｅａや、被検眼Ｅの眼底Ｅｒの２次元像および断層画像を撮像するための測定光学系で構成されている。被検眼Ｅに対向して対物レンズ１０１−１が設置されており、その光軸上に設けられた、光路分離部として機能する第１ダイクロイックミラー１０２および第２ダイクロイックミラー１０３によって光路が分離される。すなわち、ＯＣＴ光学系の測定光路Ｌ１、固視灯光路Ｌ２、および前眼観察光路Ｌ３に波長帯域ごとに分岐される。

光路Ｌ２は、固視灯パネル１１６への光路になっている。ここで１０１−２、１１１はレンズである。レンズ１１１は、固視灯パネル１１６の合焦調整のため不図示のモータによって駆動される。固視灯パネル１１６は、有機ＥＬで構成されており、パネルの任意の箇所に可視光を点灯させて被検者の固視を促す。

光路Ｌ３には、レンズ１４１と、前眼観察用の赤外線ＣＣＤ１４２とが配置されている。赤外線ＣＣＤ１４２は、不図示の前眼観察用照明光の波長、具体的には９７０ｎｍ付近に感度を持つ。

光路Ｌ１は、ＯＣＴ光学系の測定光路を成しており被検眼Ｅの眼底Ｅｒの断層画像を撮像するために使用される。より具体的には断層画像を形成するための干渉信号を得るために使用される。

光路Ｌ１には、レンズ１０１−３と、ミラー１２１と、光を被検眼Ｅの眼底Ｅｒ上で走査するために、走査部として機能するＸスキャナ１２２−１と、Ｙスキャナ１２２−２とが配置されている。これらのスキャナは、不図示のロータリーエンコーダが内蔵されており、位置情報（撮像位置に相当する情報）を検出できる機能を持っている。Ｘスキャナ１２２−１、Ｙスキャナ１２２−２の回転の中心位置付近が、レンズ１０１−３の焦点位置となるようにＸスキャナ１２２−１、Ｙスキャナ１２２−２が配置されている。さらに、Ｘスキャナ１２２−１、Ｙスキャナ１２２−２の中心位置付近と、被検眼Ｅの瞳の位置とは光学的な共役関係となっている。この構成により、走査部を物点とした光路が、レンズ１０１−１とレンズ１０１−３の間で略平行となる。それによりＸスキャナ１２２−１、Ｙスキャナ１２２−２により測定光が撮像領域のスキャンを行っても、第１ダイクロイックミラー１０２および第２ダイクロイックミラー１０３に入射する角度を同じにすることが可能となる。

また、測定光源１３０は、測定光を測定光路に入射させるための光源となる。１２３、１２４はレンズであり、レンズ１２３は合焦調整をするために不図示のモータによって駆動される。合焦調整は、ファイバー端１２６から出射される測定光源１３０からの測定光を眼底Ｅｒ上に結像するように行われる。合焦調整部として機能するレンズ１２３は、ファイバー端１２６と、走査部として機能するＸスキャナ１２２−１およびＹスキャナ１２２−２と、の間に配置されている。これにより、より大きなレンズ１０１−３や、また光ファイバー１２５−２を動かす必要がなくなる。

この合焦調整によって、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに測定光を結像させることができ、また被検眼Ｅの眼底Ｅｒからの戻り光を、光ファイバー１２５−２に効率良く戻すことができる。

なお図１において、Ｘスキャナ１２２−１と、Ｙスキャナ１２２−２との間の光路は紙面内に平行に構成されているが、実際は紙面に対して垂直方向に構成されている。光学ヘッド部１００は、さらに、ヘッド制御部１４０を備えている。ヘッド制御部１４０は、ヘッド部１００内の各部を制御したり、不図示の３つのモータから構成されたヘッド駆動部を制御することにより、光学ヘッド部１００を被検眼Ｅに対して３次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）方向に移動可能となるように構成されている。これにより、被検眼Ｅに対する光学ヘッド部１００のアライメントが可能となっている。

次に、測定光源１３０からの光路と参照光学系、分光器２００の構成について説明する。測定光源１３０、光カプラー１２５、光ファイバー１２５−１〜４、レンズ１５１、分散補償用ガラス１５２、ミラー１５３、および分光器２００によってマイケルソン干渉系が構成されている。光ファイバー１２５−１〜４は、光カプラー１２５に接続されて一体化しているシングルモードの光ファイバーである。

測定光源１３０から出射された光は光ファイバー１２５−１を通じ、光カプラー１２５を介して光ファイバー１２５−２側の測定光と、光ファイバー１２５−３側の参照光とに分割される。測定光は前述のＯＣＴ光学系の測定光路Ｌ１を通じ、観察対象である被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射され、網膜による反射や散乱により同じ光路を通じて光カプラー１２５に到達する。

一方、参照光は光ファイバー１２５−３、レンズ１５１、測定光と参照光との分散を合わせるために挿入された分散補償用ガラス１５２を介してミラー１５３に到達し反射される。そして同じ光路を戻り光カプラー１２５に到達する。光カプラー１２５によって、測定光と参照光とが合波され干渉光となる。ここで、測定光の光路長と参照光の光路長とがほぼ同一となったときに干渉を生じる。ミラー１５３は不図示のモータおよび駆動機構によって光軸方向に位置を調整可能に保持され、被検眼Ｅによって変わる測定光の光路長に参照光の光路長を合わせることが可能である。干渉光は光ファイバー１２５−４を介して分光器２００に導かれる。

分光器２００は、レンズ２０１と、回折格子２０２と、レンズ２０３と、ラインセンサ２０４とを備えている。光ファイバー１２５−４から出射された干渉光はレンズ２０１を介して略平行光となった後、回折格子２０２で分光され、レンズ２０３によってラインセンサ２０４に結像される。

次に、測定光源１３０について説明する。測定光源１３０は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）である。中心波長は８５５ｎｍ、波長バンド幅は約１００ｎｍである。ここで、バンド幅は、得られる断層画像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメータである。また、光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。中心波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適切である。また、中心波長は得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。以上の理由から中心波長を８５５ｎｍとした。

なお本実施形態では干渉計としてマイケルソン干渉計を用いているが、マッハツェンダー干渉計を用いてもよい。測定光と参照光との光量差に応じて光量差が大きい場合にはマッハツェンダー干渉計を、光量差が比較的小さい場合にはマイケルソン干渉計を用いることが望ましい。

＜制御部３００の構成＞
制御部３００は、光学ヘッド部１００および分光器２００の各部と接続されている。具体的には制御部３００は、光学ヘッド部１００内の赤外線ＣＣＤ１４２と接続されており、被検眼Ｅの前眼部Ｅａの観察画像を生成可能に構成されている。また、制御部３００は、光学ヘッド部１００内のヘッド制御部１４０とも接続されており、光学ヘッド部１００を被検眼Ｅに対して３次元的に駆動可能に構成されている。

一方、制御部３００は、分光器２００のラインセンサ２０４とも接続されている。これにより分光器２００によって波長分解された測定信号を取得可能であり、さらに測定信号に基づいて被検眼Ｅの断層画像を生成することができる。

図３は、本実施形態に係る光干渉断層画像撮像装置での診断用の断層画像（３次元画像）のスキャン位置を示している。この３次元画像は、１０２４個のＢスキャン断層画像から構成されている。一つのＢスキャン断層画像取得に要する時間は１４．３マイクロ秒である。従って、一つの３次元画像データを得るために１０２４×１４．３マイクロ秒＝１４．６ミリ秒である。

３次元画像から眼底画像（二次元観察画像）を生成すると眼底画像のレフームレイトが、４Ｈｚとなり遅く、またプログレッシブな走査のために、眼底画像の動きが非常にカクカクした表示しかできなくなる。そのために、本実施形態での眼底Ｅｒの二次元観察画像の生成に使う３次元画像データは、Ｂスキャン断層画像取得の数を通常の半分の５１２に減じている。そして、奇数列と偶数列を交互にＢスキャンし、半分だけ画像を更新する。このようなインターレース方式の眼底観察画像の表示にすると、眼底Ｅｒの二次元観察画像の表示フレームレイトが８Ｈｚに上がり、比較的滑らかな動きの眼底観察画像（動画）の表示が可能になる。この際の３次元画像データは、５１２×１４．３マイクロ秒＝７．３ミリ秒で取得できる。このＢスキャンで得られた断層画像群は、１０２４枚のＢスキャン断層画像群よりも固視微動の影響が少ない画像である。図４は、奇数列のみをＢスキャンする図である。図５は、偶数列のみをＢスキャンする図である。また、この際の３次元画像データには、Ｘスキャナ１２２−１と、Ｙスキャナ１２２−２から送られてくる位置情報（撮像位置に相当する情報）が紐付けられている。断層画像の取得が開始されると、断層画像の取得開始直前の眼底Ｅｒの二次元観察画像の生成に使っていた５１２個の３次元画像データで構成される位置情報付きのデータを不図示の記憶部へ記憶し、眼底Ｅｒの二次元観察画像の更新は停止する構成になっている。

以上の処理を図６、図７に示したフローチャートを用いて説明する。ステップＳ２１０１は、眼底画像の表示開始である。ステップＳ２１０２では、整数の変数ｊに１を代入する。ステップＳ２１０３は結合子Ｂである。

ステップＳ２１０４は、断層画像の撮像開始の指示の有無を判断している。操作者による断層画像の撮像開始の指示が有った場合は、ステップＳ２１０５へ進み、眼底画像の更新を止める。断層画像の撮像開始の指示が無い場合は、ステップＳ２１２３へ進む。ステップＳ２１２３は、変数ｉに１を代入する。ステップＳ２１２４は、Ｂスキャンした際のＢスキャン断層画像データとその位置を記憶するための変数Ｘ（ｉ）（１）を初期化する。ステップＳ２１２５は、変数ｉに１を加える。

ステップＳ２１２６は、変数ｉが１０２４（取得するＢスキャン断層画像の数）より大きいか否かを判断する。変数ｉが１０２４より大きい場合は、ステップＳ２１０６へ進む。変数ｉが１０２４より小さい場合は、ステップＳ２１２４へ戻る。ステップＳ２１０６では、変数ｊが偶数か奇数かを判断する。ｊは整数なので、ｊを２で除して余りが０ならば奇数、余りが１ならば偶数になる。ここでは、ｊを２で除して１になるか否かを判断している。ｊを２で除して１で無い場合は、ステップＳ２１０７に進む。ｊを２で除して１の場合は、ステップＳ２１０９に進む。ステップＳ２１０７では、変数ｉに１を代入する。そして、ステップＳ２１０８に進む。

ステップＳ２１０８は、結合子Ａである。ここからステップＳ２１１１の結合子Ａにジャンプする。ステップＳ２１０９では、ｉに２を代入して、ステップＳ２１１０へ進む。ステップＳ２１１０は、結合子Ａである。ここからステップＳ２１１１の結合子Ａにジャンプする。Ｓ２１１１は結合子Ａである。ここからステップＳ２１１２へ進む。ステップＳ２１１２では、ｉ番目のＢスキャンを開始する。そして次のステップへ進む。

ステップＳ２１１３は、前記のＢスキャンが終わったか否かを判断する。Ｂスキャンが終わっていない場合は、ステップＳ２１１３を巡回する。Ｂスキャンが終わった場合は、ステップＳ２１１４に進む。ステップＳ２１１４では、Ｘ（ｉ）（１）へＢスキャンの断層画像データを記憶させる。ステップＳ２１１５では、Ｘ（ｉ）（２）へＸスキャナのエンコーダ位置を記憶させる。ステップＳ２１１６では、変数ｉに２を加える。これは、Ｂスキャンを一つ飛ばしで実行するためである。ステップＳ２１１７では、最終のＢスキャン数を超えたか否かを判断する。最終のＢスキャン数を超えない場合は、ステップＳ２１１２へ戻る。最終のＢスキャン数を超えた場合は、ステップＳ２１１８へ進む。

ステップＳ２１１８は、奇数又は偶数のＢスキャン断層画像群から眼底画像を生成し、眼底画像の表示を更新する。ステップＳ２１１９では、変数ｊに１を加える。ステップＳ２１２０では、ｊが３か否かを判断する。ｊ＝３の場合は、ステップＳ２１２１に進む。ステップＳ２１２１では、ｊに１を代入する。ｊ≠３の場合は、ステップＳ２１２２に進む。ステップＳ２１２２は、結合子Ｂである。ここのステップに到達するとステップＳ２１０３にジャンプする。

以上のように、本実施形態に係る眼底画像は、診断用の眼底画像とは密度違いのＢスキャン断層画像データから生成している。

生成された被検眼Ｅの眼底画像は、制御部３００に接続されたモニタ３０１に表示される。

＜診断用の断層画像の取得時の眼底移動量の判定＞
次に、診断用の断層画像（３次元画像）を取得する際の眼底移動量の算出について説明する。図８の（ｂ）は、診断用の断層画像であり、Ｂスキャンを１０２４本測定する。図８の（ａ）は、眼底観察用のＢスキャン断層画像であり、図８の（ｂ）の診断用のＢスキャンをする直前に取得した眼底観察用のＢスキャン断層画像データでＢスキャンを５１２本測定し、図６、図７を用いて説明したとおり、それらの位置情報も記憶されている。

診断用の断層画像を撮像する際の眼底の移動量を決めるためのフローチャートを図９に示す。

図９において、ステップＳ２２０１は診断用の断層画像の撮像の開始である。ステップＳ２２０２は図８の（ｂ）の診断用のＢスキャン断層画像を撮像する直前の観察用のＢスキャン断層画像データが、奇数列か偶数列かを判断する。Ｘ（１）（１）は第一番目のＢスキャン断層画像データなのでこれが０だと、偶数列のＢスキャン断層画像データがあることになる。したがって、ステップＳ２２０３へ進む。Ｘ（１）（１）≠０の場合は、奇数列のＢスキャン断層画像データになる。したがって、ステップＳ２２０４へ進む。ステップＳ２２０４では、変数ｊに１を代入する。ステップＳ２２０３では、変数ｊに２を代入する。ステップＳ２２０３およびＳ２２０４ともに処理が終わるとステップＳ２２０５へ進む。ステップＳ２２０５は、変数ｉに１を代入する。ステップＳ２２０６では、診断用の断層画像のｉ番目のＢスキャン断層画像データをＹ（ｉ）（１）に記憶する。次のステップＳ２２０７に進む。

ステップＳ２２０７では、変数ｉが奇数か偶数かを判別する。ｉを２で除して余りが０ならば偶数なので、ステップＳ２２０８へ進む。前記の余りが０出ない場合は奇数なので、ステップＳ２２１０へ進む。ステップＳ２２０８では、ｊ＝２か否かを判別する。ｊ≠２の場合は、対応する眼底観察時に取得したＢスキャン断層画像データが無いので、ステップＳ２２１３へ進む。ｊ＝２の場合は、ステップＳ２２０９へ進む。ステップＳ２２１０では、ｊ＝１か否かを判別する。ｊ≠１の場合は、眼底観察用に取得したＢスキャン断層画像データが無いので、ステップＳ２２１３へ進む。ｊ＝１の場合は、ステップＳ２２１１へ進む。ステップＳ２２０９、Ｓ２２１１ともに、結合子ＡＡである。結合子ＡＡは、ステップＳ２２１６の結合子ＡＡへジャンプする。そして、ステップＳ２２１７で眼底観察用に取得したｉ番目のＢスキャン断層画像データと診断用の断層画像のｉ番目のＢスキャン断層画像データの類似度を算出する。そして、その値をＹ（ｉ）（２）へ記憶する。類似度の算出方法は、公知の手法、たとえば、特許文献１に記載された手法を用いれば良いため、その説明は省略する。

次のステップＳ２２１８は、結合子ＢＢである。この結合子ＢＢからステップＳ２２１２で示した結合子ＢＢまで、ジャンプする。その次のステップＳ２２１３は、変数ｉに１を加える。次のステップＳ２２１４は、ｉ＝１０２４か否かを判断する。ｉ≠１０２４の場合は、ステップＳ２２０５へ戻る。ｉ＝１０２４の場合は、次のステップＳ２２１５へ進む。ステップＳ２２１５は、診断用の断層画像の撮像の終了端子である。

＜診断用の断層画像の取得時の眼底移動量の判定値の利用方法＞
本実施形態の診断用の断層画像の取得時の眼底移動量の判定値の利用について図１０を用いて説明する。図１０のフローチャートは、図９のフローチャートと比べるとステップＳ２２１６とステップＳ２２１８間が異なるだけである。したがって、異なるステップ間のみ説明する。ステップＳ２２１６は結合子ＡＡである。次のステップＳ２２１７で眼底観察用に取得したｉ番目のＢスキャン断層画像データと診断用の断層画像のｉ番目のＢスキャン断層画像データの類似度を算出する。そして、その値をＹ（ｉ）（２）へ記憶する。ステップＳ２２１９では、ステップＳ２２１７で取得した類似度Ｙ（ｉ）（２）が、例えば０．９９以下か否かを判別している。０．９９以上の場合は、ステップＳ２２１８に進む。そして、ステップＳ２２１８へ進む。０．９９未満の場合は、ステップＳ２２２０に進む。ステップＳ２２２０は、眼底のズレ量が大きいので、“再撮像して下さい”の旨を表示部に表示して、診断用の断層画像の撮像の中止を操作者に知らせる。そして次のステップＳ２２１５に進む。

以上のように、診断用の断層画像の撮像中に固視が安定せずに断層画像データが使えない場合の判定に使用することもできる。この警告で断層画像を画像処理する前に再撮像できるので、測定の効率が良くなる。また、歪みの少ない断層画像を取得することができる。そして、診断用の断層画像から眼底画像を生成した場合に比べて約半分の時間で撮像が可能になる。

（第２実施形態）
第２実施形態では、診断用の断層画像撮像の直前と直後の眼底観察用の複数のＢスキャン断層画像データを記憶しておき、診断用の断層画像撮像の直前と直後の眼底観察用の複数のＢスキャン断層画像データから生成した眼底画像を比較して、眼の移動量を特定する方法を、図１０〜図１３のフローチャートを用いて説明する。

図１０において、ステップＳ２３０１は、フローの開始である。次のステップＳ２３０２は、図６に示したフローチャートの実行を開始する。このステップＳ２３０２は、診断用の断層画像撮像が開始されると次のステップに進む。ステップＳ２３０３は、変数ｉに１を代入する。ステップＳ２３０４では、ステップＳ２３０２で取得した、ｉ番目の眼底観察用のＢスキャン断層画像データをＢＸ（ｉ）（１）として記憶する。ステップＳ２３０５は変数ｉに１を加える。ステップＳ２３０６は、変数ｉが１０２４か否かを判断する。ｉ＝１０２４ならば、ステップＳ２３０７へ進む。ｉ≠１０２４ならばステップＳ２３０４へ戻る。ステップＳ２３０７は、診断用の断層画像撮像が終了したか否かを判断する。ステップＳ２３０８では、結合子ＡＡＡにジャンプする。ジャンプ先は、ステップＳ２３２２で、このステップからステップＳ２３２３の間のフローは、図６のフローからＳ２１０５とＳ２１０４を取り除いたものであるため、詳細な説明は省略する。処理内容の概要は、診断用の断層画像撮像が終了した直後の眼底観察用のＢスキャン断層画像データを取得している。ステップＳ２３０９では、変数ｉに１を代入している。ステップＳ２３１０は、診断用の断層画像撮像が終了した直後のｉ番目の眼底観察用のＢスキャン断層画像データＸ（ｉ）（１）をＢＸ（ｉ）（２）として記憶している。ステップＳ２３１１は、変数ｉに１を加える。ステップＳ２３１２は、変数ｉが１０２４か否かを判断する。ｉ≠１０２４の場合は、ステップＳ２３１０に戻る。ｉ＝１０２４の場合は、ステップＳ２３１３に進む。ステップＳ２３１３は結合子ＳＡで、ステップＳ２３１４の結合子ＳＡへジャンプする。ステップＳ２３１５では、Ｂ（ｉ）（１）とＢ（ｉ）（２）の眼底観察用の２次元の眼底画像データを生成する。ステップＳ２３１６では、Ｂ（ｉ）（１）とＢ（ｉ）（２）の眼底観察用の２次元の眼底画像データの特徴点等の位置を比較しズレ量を定量化する。ズレ量の算出については公知の手法、例えば特開２００８−２９４６７公報に記載されている手法を用いればよいため、その説明は省略する。次のステップＳ２３１７は、ズレ量を判断する。ズレ量が診断画像に影響しないと判断した際には、ステップＳ２３１９に進む。また、ズレ量が大きく診断画像に影響すると判断した場合は、ステップＳ２３１８に進む。ステップＳ２３１９では、断層撮像データを保存する。ここで、判断の基準として、Ｂスキャン間隔の数倍の距離を超えたか否か、解像度の数倍の距離を超えたか否か等であり、予め設定されている。ステップＳ２３１８では、再撮影を促すメッセージを表示する。ステップＳ２３１８およびステップＳ２３１９の次のステップは、ステップＳ２３２０であり、フローの終了である。

以上のように、診断用の断層画像撮像直後に、撮像した断層画像データが診断に適さないか否かの判定に使用することが出来る。この警告等で断層画像を画像処理する前に再撮像できるので、測定の効率が良くなる。また、歪みの少ない断層画像を取得することができる。

（他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

Claims (6)

1. 被測定物の撮像領域において、第一の間隔で複数の第一の断層画像を取得する手段と、
   前記撮像領域において、前記第一の間隔よりも狭い第二の間隔で複数の第二の断層画像を取得する手段と、
   前記第二の断層画像の撮像位置と対応する撮像位置の前記第一の断層画像を選択する手段と、
   前記選択された前記第一の断層画像と前記第二の断層画像とから、当該第二の断層画像に含まれる前記被測定物の動きを判断する判断手段を備えたことを特徴とする断層画像撮像装置。
2. 前記複数の第一の断層画像から２次元の画像を生成する手段を更に有し、
   前記判断手段が、複数の前記２次元の画像を比較することにより前記動きによる影響を判断する請求項１に記載の断層画像撮像装置。
3. 前記第二の断層画像を撮像中の撮像位置を取得する手段を更に有し、
   前記選択手段は、前記取得した撮像位置に基づき前記第一の断層画像を選択する請求項１に記載の断層画像撮像装置。
4. 被測定物の撮像領域において、第一の間隔で複数の第一の断層画像を取得する手段と、
   前記撮像領域において、前記第一の間隔よりも狭い第二の間隔で複数の第二の断層画像を取得する手段と、
   前記複数の第一の断層画像から２次元の画像を生成する手段と、
   前記生成された複数の２次元の画像を比較することにより、前記第二の断層画像に含まれる前記被測定物の動きを判断する判断手段を備えたことを特徴とする断層画像撮像装置。
5. 被測定物の撮像領域において、第一の間隔で複数の第一の断層画像を取得する工程と、
   前記撮像領域において、前記第一の間隔よりも狭い第二の間隔で複数の第二の断層画像を取得する工程と、
   前記第二の断層画像の撮像位置と対応する撮像位置の前記第一の断層画像を選択する工程と、
   前記選択された前記第一の断層画像と前記第二の断層画像とから、当該第二の断層画像に含まれる前記被測定物の動きを判断する判断工程を備えたことを特徴とする断層画像撮像装置の制御方法。
6. 請求項５に記載の断層画像撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。

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