JP2016085138A - 被覆異常部検出方法および装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ポリマークラッド光ファイバの被覆の異常部を精度よく検出できる被覆異常部検出方法および装置を提供する。【解決手段】ガラスからなる光ファイバ裸線と、前記光ファイバ裸線を被覆する被覆クラッドとを有し、前記被覆クラッドが前記光ファイバ裸線より屈折率の低い樹脂からなるポリマークラッド光ファイバ３０の、前記被覆クラッドの異常部を検出する被覆異常部検出方法を提供する。ポリマークラッド光ファイバ３０を撮像する撮像部３を用い、ポリマークラッド光ファイバ３０に検査光を入射させるとともに、ポリマークラッド光ファイバ３０を長さ方向に移動させ、撮像部３によって取得したポリマークラッド光ファイバ３０の画像における輝度の経時変化によって、前記被覆クラッドの異常部から外部に漏れた検査光の有無を判定し、これに基づいて異常部を検出する。【選択図】図１

Description

本発明は、ポリマークラッド光ファイバのポリマークラッド材の異常部を検出する被覆異常部検出方法および装置に関する。

ファイバレーザ（ＦＬ）は、他の高出力レーザに比べ高効率、低消費電力、高ビーム品質といった特長を有しており、金属加工分野や医療分野への応用を中心に普及が進んでいる。
ＦＬに用いられる増幅用光ファイバとしては、例えば、ガラスからなる光ファイバ裸線と、前記光ファイバ裸線を被覆する被覆クラッド（第二クラッド）とを有する光ファイバが用いられている。光ファイバ裸線は、例えば希土類元素（Ｙｂ、Ｅｒなど）が添加されたコアと、励起光を導波する第一クラッドとを有する。
この光ファイバは、第一クラッドと、励起光を第一クラッドに閉じ込めるための第二クラッドを備えたダブルクラッド構造を有する。
コアに添加された活性元素を励起するための励起光は、第一クラッドを伝搬しながらコアに添加されている希土類元素に吸収される。ダブルクラッド構造は、励起光源に高出力なマルチモード出力ＬＤを用いることができることから、ＦＬの高出力化に有効である。
第一クラッドは、励起光を低損失で導波させる必要があることから、一般的に石英ガラスからなる。
一方、第二クラッドは、（ＮＡの拡大に限界があるため）ガラス構造では屈折率を十分に低くすることが難しいことから、低屈折率の実現が容易な樹脂（ポリマークラッド材）からなる。このような構造を有する光ファイバを、ポリマークラッド光ファイバ（ＰＣＦ）と呼ぶ。
なお、ＰＣＦの代表例として増幅用光ファイバについて述べたが、ＰＣＦは、増幅用光ファイバのみでなく、ＬＤ光源から励起光を受ける励起用ファイバや共振器を形成するＦＢＧファイバなど、ＦＬを構成する光回路の中で、励起光を伝搬するほとんどの光ファイバに適用されうるものである。

ポリマークラッド材は、曲げや側圧といった外力により損傷や剥離が生じうる。また紡糸中に泡が混入したり、線ブレが生じた場合では局所的にポリマークラッド材の肉厚が薄い個所が生じることもある。
このような局所的なポリマークラッド材の異常部・薄肉部では、ポリマークラッドとしての機能が不十分となることで励起光の損失が生じることがある。また、ＦＬ等の高出力な励起光を導波している場合においては、被覆材の延焼などを防止する必要もある。
このように、ポリマークラッドファイバにおけるポリマークラッド材は、通常の被覆材（プライマリ材）としての機能のみでなく、高強度な励起光をガラス中に閉じ込めて伝搬するクラッド材としての機能も保証されなければならず、通常の光ファイバ素線の被覆材以上に高い信頼性が要求されることが多い。
ガラスクラッドの異常部であれば、通常、プルーフ工程において不良部を除去することができるが、局所的な被覆の異常は通常のプルーフでは除去できない場合がある。そのため、被覆異常部を検知、除去する工程を別途設ける必要がある。
被覆の異常を検知するには、従来、センサを使用したり、または目視で観察したりすることにより、剥離、外傷等の被覆異常部を検出していた。

例えば、特許文献１、２には、光ファイバの長さ方向と直行する方向からレーザ光を照射し、そのレーザ光が素線を透過した時の散乱光を検出することで異常の有無を判定する方法が開示されている。
しかし、これらの方法は、基本的には樹脂泡の検出を想定した手法であり、ポリマークラッドの損失要因となる異常（剥離や薄肉箇所）を全て検出することは難しい。また、素線表面の汚れなど、外乱の影響による誤検出も生じうる。
光ファイバ長手方向の損失発生位置を直接検知する方法としては、ＯＴＤＲによる測定技術が確立している（例えば、特許文献３を参照）。
しかし、ポリマークラッドのようなモード数の多いマルチモードファイバでは、モードごとに群速度や損失値が異なることからＯＴＤＲ波形の歪みが生じてしまい、異常部の位置を正確に推定することは困難である。

特開平６−８２３９３号公報 特開平８−２６１９５４号公報 特開２００６−３８６４７号公報

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、ポリマークラッド光ファイバの被覆の異常部を精度よく検出できる被覆異常部検出方法および装置を提供することを課題とする。

本発明の一態様は、ガラスからなる光ファイバ裸線と、前記光ファイバ裸線を被覆する被覆クラッドとを有し、前記被覆クラッドが前記光ファイバ裸線より屈折率の低い樹脂からなるポリマークラッド光ファイバの前記被覆クラッドの異常部を検出する被覆異常部検出方法であって、前記ポリマークラッド光ファイバを撮像する１または複数の撮像部を用い、前記ポリマークラッド光ファイバに検査光を入射させるとともに、前記ポリマークラッド光ファイバを長さ方向に移動させ、前記撮像部によって取得した前記ポリマークラッド光ファイバの画像における輝度の経時変化によって、前記被覆クラッドの異常部から外部に漏れた前記検査光の有無を判定し、これに基づいて前記異常部を検出する被覆異常部検出方法を提供する。
前記撮像部は、前記ポリマークラッド光ファイバのＮＡに相当する角度の範囲内に設置されることが好ましい。
前記複数の撮像部は、前記ポリマークラッド光ファイバの周方向の位置を違えて設置されていることが好ましい。

本発明の一態様は、ガラスからなる光ファイバ裸線と、前記光ファイバ裸線を被覆する被覆クラッドとを有し、前記被覆クラッドが前記光ファイバ裸線より屈折率の低い樹脂からなるポリマークラッド光ファイバの前記被覆クラッドの異常部を検出する被覆異常部検出装置であって、検査光を入射させた前記ポリマークラッド光ファイバを長さ方向に移動させつつ撮像する１または複数の撮像部と、前記撮像部によって取得した前記ポリマークラッド光ファイバの画像における輝度の経時変化によって、前記被覆クラッドの異常部から外部に漏れた前記検査光の有無を判定し、これに基づいて前記異常部を検出する検出部と、を備える被覆異常部検出装置を提供する。
前記撮像部は、前記ポリマークラッド光ファイバのＮＡに相当する角度の範囲内に設置されることが好ましい。
前記複数の撮像部は、前記ポリマークラッド光ファイバの周方向の位置を違えて設置されていることが好ましい。

本発明によれば、撮像部によって取得したポリマークラッド光ファイバの画像における輝度の経時変化によって、被覆の異常部から外部に漏れた検査光の有無を判定し、これに基づいて前記異常部を検出するので、ポリマークラッド光ファイバの被覆の異常部を精度よく検出することができる。

本発明に係るポリマークラッド光ファイバの被覆異常部検出装置の第１の実施形態、およびこの検出装置が適用された巻き返し装置を示す概略図である。 複数の撮像部を使用する場合の撮像部の設置位置の例を示す模式図である。 検出部の例を示すブロック図である。 図１に示す検出装置によって得られた画像における輝度の経時変化の例を示す図である。 図１に示す検出装置によって得られた画像における輝度の経時変化の例を示す図である。 図１に示す検出装置によって得られた画像における輝度の経時変化の例を示す図である。 ポリマークラッド光ファイバの一例を示す図である。（ａ）は断面構造を模式的に示す図であり、（ｂ）は屈折率分布を示す図である。 ボビンに巻回されたポリマークラッド光ファイバの外観を示す写真である。 本発明に係るポリマークラッド光ファイバの被覆異常部検出装置の第２の実施形態、およびこの検出装置が適用された光ファイバ紡糸機を示す概略図である。 被覆の異常部における漏れ光の方向と光量を示す模式図である。

以下、好適な実施形態に基づき、図面を参照して本発明を説明する。
図７は、本発明の検出方法の対象であるポリマークラッド光ファイバの一例であるポリマークラッド光ファイバ（以下、ＰＣＦという）３０を示す図であり、（ａ）はＰＣＦ３０の断面構造を模式的に示す図であり、（ｂ）はＰＣＦ３０の屈折率分布を示す図である。
図７（ａ）に示すように、ＰＣＦ３０は、ガラスからなる光ファイバ裸線３７と、光ファイバ裸線３７を被覆する被覆クラッド３３（第二クラッド３３）とを有する。
光ファイバ裸線３７は、希土類元素（Ｙｂ、Ｅｒなど）が添加されたコア３１と、励起光を導波する第一クラッド３２とを有する。
ＰＣＦ３０は、ダブルクラッド構造、すなわち、第一クラッド３２と、励起光を第一クラッド３２に閉じ込めるための被覆クラッド３３（第二クラッド３３）とを備えた構造を有する。
コア３１に添加された活性元素を励起するための励起光は、第一クラッド３２を伝搬しながらコア３１に添加されている希土類元素に吸収される。ＰＣＦ３０は、励起光源に高出力なマルチモード出力ＬＤを用いることができることからＦＬの高出力化に有効である。

第一クラッド３２は、励起光を低損失で導波させる必要があることから、好ましくは石英ガラスからなる。
一方、第二クラッド３３は、（ＮＡの拡大に限界があるため）ガラス構造では屈折率を十分に低くすることが難しいことから、低屈折率の実現が容易な樹脂からなるポリマークラッド層である。第二クラッド３３を被覆３３ということがある。
第二クラッド３３（被覆３３）は、例えばシリコーン樹脂などからなり、第一クラッド３２の屈折率よりも低い屈折率を有する（図７（ｂ）参照）。

図８に示すように、ＰＣＦ３０に可視光を入射させると、ＰＣＦ３０が外面から光を放つ。これは、励起光損失に相当する光がＰＣＦ３０の全長にわたって外部に漏れているためである。被覆に割れや剥離等の励起光損失要因となる異常部が存在している場合、その位置では、安定部に比べ多くの励起光損失が生じることから、それ以外の部分に比べて明るく光って見える。
このため、後述のように、ＰＣＦ３０を長さ方向に移動させつつＰＣＦ３０の輝度の経時変化を調べれば、異常部の存在を確認できる。ＰＣＦ３０の移動速度（走査速度）に基づいて、異常部の位置を推定することもできる。

（第１の実施形態）（被覆異常部検出装置）
図１に、本発明に係るポリマークラッド光ファイバの被覆異常部検出装置の第１の実施形態である被覆異常部検出装置１（以下、検出装置１という）と、検出装置１が適用された光ファイバ巻き返し装置１０とを示す。

光ファイバ巻き返し装置１０は、ＰＣＦ３０を供給する送り出し部１１と、ＰＣＦ３０を一定の速度で引き取るキャプスタン１２と、ＰＣＦ３０をガイドするガイドプーリー１３と、ＰＣＦ３０の弛みを吸収して巻き張力を調整するダンサープーリー１４と、巻き返しボビン１５を回転・トラバースさせながらＰＣＦ３０を巻き取る巻き取り部１６とを備えている。
キャプスタン１２は、回転ホイール１２ａとベルト１２ｂとからなる。
送り出し部１１は、送り出しボビン１７と、送り出しボビン１７を回転軸方向に往復動させてＰＣＦ３０のガイドプーリー１３への入線角度を一定範囲内に調整するトラバース装置（図示略）とを備えている。

検出装置１は、ＰＣＦ３０に検査光を入射させる光源２と、ＰＣＦ３０を外部から撮像する１または複数の撮像部３と、検出部４とを備えている。
光源２は、被覆３３の異常部から漏れた場合に輝度の経時変化（後述）によって判定が可能な波長の検査光を、一定の強度で長期間安定に発するものであればよく、発光ダイオード（ＬＥＤ）、レーザダイオード（ＬＤ）などが使用できる。
検査光は、検出部４において検出可能であれば特に限定されないが、可視光、赤外線、紫外線などであってよい。

光源２は、ＰＣＦ３０に検査光を入射させることができるように設置されている。
図１の例では、光源２は、送り出しボビン１７に設置され、ＰＣＦ３０の端末から検査光を入射させることができる。光源２は、送り出しボビン１７の回転と同位相で回転移動する。

撮像部３は、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサ、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサなどの固体撮像素子などが使用できる。
撮像部３の数は１でもよいし、複数でもよい。

撮像部３は、ＰＣＦ３０の長さ方向の少なくとも１箇所を撮像するように設置される。
図１の例では、撮像部３は、巻き返しボビン１５の手前の撮像位置１８においてＰＣＦ３０を撮像できるように設置されている。
このように、ＰＣＦ３０の巻き返し過程の最終段階に相当する位置でＰＣＦ３０を撮像できるように撮像部３に設置することによって、巻き返しの過程で生じた異常部についても検出することができる。例えば、キャプスタン１２やガイドプーリー１３における傷形成や異物付着により被覆３３に異常部が生じた場合でも、これを検出することができる。

撮像部３は、ＰＣＦ３０の長さ方向に対するＰＣＦ３０のＮＡに相当する角度範囲内に設置されることが望ましい。これによって、ＰＣＦ３０からの漏れ光を検出しやすくなる。

図２に示すように、撮像部３を複数使用する場合には、ＰＣＦ３０の周方向の位置を違えて設置することができる。この例では、２つの撮像部３（３Ａ，３Ｂ）が使用されている。図２は、ＰＣＦ３０の長さ方向から見た図であり、紙面に垂直な方向がＰＣＦ３０の長さ方向に一致する。

被覆３３の異常部（例えば剥離、潰れ）は周方向の一部のみに存在することが多いため、漏れ光は、周方向の一部のみに生じることが多い。
例えば、図１０に示すように、ＰＣＦ３０の被覆３３の異常部３４が周方向の１箇所にある場合には、その箇所でのみ強い漏れ光３５が観察される。それ以外の周方向位置では、励起光損失に相当するわずかな漏れ光３６しか観察できない。
このため、異常部３４がある周方向位置から見ると輝度が高くなり、それ以外の周方向位置から見ると輝度は低くなる。
図２に示すように、２つの撮像部３（３Ａ，３Ｂ）を、周方向位置を違えて設置すると、複数の位置から見たＰＣＦ３０の画像が得られるため、異常部３４から漏れた検査光の検出精度を高めることができる。
例えば、図５に示すように、一方の撮像部３Ａによって得られた画像では輝度の変化が小さくても、図６に示すように、他方の撮像部３Ｂによって得られた画像では輝度の変化が大きくなる場合がある。このため、被覆３３の異常部を検出しやすくなる。
なお、撮像部３の数は３以上であってもよく、その場合も、３以上の撮像部３を互いにＰＣＦ３０の周方向の位置を違えて設置することができる。

検出部４は、撮像部３によって取得したＰＣＦ３０の画像における輝度の経時変化に基づいて前記異常部を検出する。
図３は、検出部４の一例を示すブロック図である。この例の検出部４は、撮像部３から出力された信号が入力される信号処理部５と、信号処理部５にて処理された信号に基づいて検出信号を出力する判定部６と、記録部７と、警報部８と、モニタ９とを備えている。

（第１の実施形態）（被覆異常部検出方法）
次に、図１に示す検出装置１を用いた場合を例として、本発明のポリマークラッド光ファイバの被覆異常部検出方法（以下、単に検出方法という）の第１の実施形態を説明する。
図１に示すように、光ファイバ巻き返し装置１０において、送り出しボビン１７からＰＣＦ３０を引き出し、キャプスタン１２、ガイドプーリー１３、ダンサープーリー１４を経て、巻き返しボビン１５に巻き取る。

この際、光源２からの検査光をＰＣＦ３０に入射させるとともに、撮像部３を用いて、巻き返しボビン１５の手前の撮像位置１８にてＰＣＦ３０を撮像する。
検出部４は、撮像部３によって取得したＰＣＦ３０の画像における輝度の経時変化によって、被覆３３の異常部から外部に漏れた検査光の有無を判定し、これに基づいて被覆３３の異常部を検出する。

図３に示す検出部４では、撮像部３から出力された信号が信号処理部５に入力され、信号処理部５は判定部６に信号を出力する。
判定部６は、信号処理部５からの信号に基づいて、被覆３３から外部に検査光が出射しているか否かを判定し、検査光が出射していると判定したときに、被覆３３に異常部があるとして、検出信号を出力する。
詳しくは、判定部６は、信号処理部５を経て取得したＰＣＦ３０の画像における輝度の経時変化によって、ＰＣＦ３０の外部に漏れた検査光の有無を判定する。

図４は、撮像部３によって得られた画像において、ＰＣＦ３０の輝度の経時的な変化を示す図であり、横軸はＰＣＦ３０の長さ方向の位置であり、縦軸は輝度である。
この図に示すように、輝度の経時的な変化が小さい場合には、検査光の出射はないと判定できる。
これに対し、図５および図６では、仮想線で示す２箇所において、輝度の経時変化が見られる。このため、この２箇所において、ＰＣＦ３０の外部に漏れた検査光があったと判定できる。
前記判定方法は、特に限定されず、例えば予め定められた所定の時間前の輝度とそのときの輝度との比（または差）が、予め設定された閾値以上となったときに漏れ光が起きたと判定する手法などが考えられる。なお、判定方法はこれに限らず、その他の解析的手法を用いてもよい。
判定部６は、この判定に基づき、被覆３３に異常部があるとして、検出信号を出力する。

判定部６からの検出信号は、記録部７に記録される。判定部６から検出信号が出力されたときは、そのことがモニタ９に表示される。
警報部８は、判定部６からの検出信号を受けてアラームを出力することができる。
ＰＣＦ３０の移動速度（巻き返しボビン１５による巻き取り速度）がわかれば、この移動速度に基づいて、異常部の位置を特定することもできる。

この検出方法によれば、撮像部３によって取得したＰＣＦ３０の画像における輝度の経時変化によって、被覆３３の異常部から外部に漏れた検査光の有無を判定し、これに基づいて前記異常部を検出するので、ＰＣＦ３０の被覆３３の異常部を精度よく検出できる。

（第２の実施形態）（被覆異常部検出装置）
以下、本発明の第２の実施形態として、光ファイバの紡糸工程に本技術を適用した場合について説明する。
図９に、本発明に係るポリマークラッド光ファイバの被覆異常部検出装置の第２の実施形態である被覆異常部検出装置２１（以下、検出装置２１という）と、検出装置２１が適用された光ファイバ紡糸機４０とを示す。
以下、第１の実施形態と同様の構成については、その説明を省略または簡略化する。

光ファイバ紡糸機４０は、光ファイバ母材を加熱して光ファイバ裸線に紡糸する加熱炉４１と、加熱炉４１で紡糸された光ファイバ裸線４２を所定温度まで冷却する冷却装置４３と、この光ファイバ裸線４２に樹脂を塗布する樹脂塗布装置４４と、塗布された樹脂を硬化させて光ファイバ素線４５を得る樹脂硬化装置４６と、ターンプーリー４７と、光ファイバ素線４５を巻き取る引き取り機４８と、巻取りボビン４９とを備えている。

検出装置２１は、光ファイバ素線４５を外部から撮像する１または複数の撮像部３と、検出部４とを備えている。
撮像部３は、ボビン４９の手前の撮像位置５０で光ファイバ素線４５を撮像できるように設置することができる。
検出装置２１では、検査光の光源として、紡糸炉４１を利用することができる。すなわち、紡糸炉４１において光ファイバ母材が溶融するまで高温に加熱したことで生じる輻射光を検査光として利用することができる。

（第２の実施形態）（被覆異常部検出方法）
光ファイバ紡糸機４０によって光ファイバを製造するには、光ファイバ裸線の原料となる光ファイバ母材を加熱炉４１において例えば２０００℃程度まで加熱し溶融させ、高温状態の光ファイバ裸線４２を下方に引き伸ばす。
光ファイバ裸線４２を樹脂コーティングが可能な温度にまで冷却し、樹脂塗布装置４４を通過させることで樹脂を塗布し、樹脂硬化装置４６を通過させることで、光ファイバ裸線４２に塗布された樹脂を硬化させる。
前記樹脂からなる被覆が形成された光ファイバ素線４５は、ガラスからなる光ファイバ裸線と、前記光ファイバ裸線を被覆する被覆クラッド（第二クラッド）とを有するＰＣＦである。光ファイバ裸線は、例えばコアと、第一クラッドとを有する。被覆クラッドは、光ファイバ裸線より屈折率の低い樹脂からなる。
光ファイバ素線４５は、ターンプーリー４７を経て引き取り機４８によって所定速度で引き取られ、ボビン４９に巻き取られる。

高温に加熱された光ファイバ母材から発せられた輻射光は、光ファイバ裸線４２を伝搬する。このため、この光を、（光ファイバ素線４５に入射される）検査光として利用することができる。
撮像部３を用いて、ボビン４９の手前の撮像位置５０にて、光ファイバ素線４５を撮像する。
検出部４は、撮像部３によって取得した光ファイバ素線４５の画像における輝度の経時変化によって、被覆３３の異常部から外部に漏れた検査光の有無を判定し、これに基づいて光ファイバ素線４５の被覆の異常部を検出する。

この検出装置２１によれば、撮像部３によって取得した光ファイバ素線４５の画像における輝度の経時変化によって、被覆の異常部から外部に漏れた検査光の有無を判定し、これに基づいて前記異常部を検出するので、光ファイバ素線４５の被覆の異常部を精度よく検出できる。

この検出装置２１では、検査光の入射位置である紡糸炉４１から、撮像位置５０までの距離（光ファイバ長さ）は不変である。
このため、光の強度が観察位置においてほとんど変らないことから、光ファイバ素線４５の長さの制限はない。また、光ファイバ素線４５の全長において一定の精度で異常部を検出することができる。

なお、ＰＣＦを長さ方向に移動させるとは、ＰＣＦを撮像部に対して相対的に移動させることを意味する。上述の実施形態では固定された撮像部に対してＰＣＦを移動させるが、ＰＣＦを撮像部に対して相対的に移動させることができれば、ＰＣＦの移動の具体的手法はこれに限定されず、例えばＰＣＦと撮像部の両方を移動させてもよい。
また、図７に示すＰＣＦ３０の光ファイバ裸線３７は、コア３１と第一クラッド３２とを有する構造であるが、ＰＣＦの構造はこれに限定されない。

１，２１…検出装置（被覆異常部検出装置）、３，３Ａ，３Ｂ…撮像部、４…検出部、３０…ＰＣＦ（ポリマークラッド光ファイバ）、３１…コア、３２…第一クラッド、３３…被覆（被覆クラッド）、３４…異常部、３７…光ファイバ裸線、４５…光ファイバ素線（ポリマークラッド光ファイバ）。

Claims (6)

1. ガラスからなる光ファイバ裸線と、前記光ファイバ裸線を被覆する被覆クラッドとを有し、前記被覆クラッドが前記光ファイバ裸線より屈折率の低い樹脂からなるポリマークラッド光ファイバの前記被覆クラッドの異常部を検出する被覆異常部検出方法であって、
   前記ポリマークラッド光ファイバを撮像する１または複数の撮像部を用い、
   前記ポリマークラッド光ファイバに検査光を入射させるとともに、前記ポリマークラッド光ファイバを長さ方向に移動させ、前記撮像部によって取得した前記ポリマークラッド光ファイバの画像における輝度の経時変化によって、前記被覆クラッドの異常部から外部に漏れた前記検査光の有無を判定し、これに基づいて前記異常部を検出することを特徴とする被覆異常部検出方法。
2. 前記撮像部は、前記ポリマークラッド光ファイバのＮＡに相当する角度の範囲内に設置されることを特徴とする請求項１に記載の被覆異常部検出方法。
3. 前記複数の撮像部は、前記ポリマークラッド光ファイバの周方向の位置を違えて設置されていることを特徴とする請求項１または２に記載の被覆異常部検出方法。
4. ガラスからなる光ファイバ裸線と、前記光ファイバ裸線を被覆する被覆クラッドとを有し、前記被覆クラッドが前記光ファイバ裸線より屈折率の低い樹脂からなるポリマークラッド光ファイバの前記被覆クラッドの異常部を検出する被覆異常部検出装置であって、
   検査光を入射させた前記ポリマークラッド光ファイバを長さ方向に移動させつつ撮像する１または複数の撮像部と、
   前記撮像部によって取得した前記ポリマークラッド光ファイバの画像における輝度の経時変化によって、前記被覆クラッドの異常部から外部に漏れた前記検査光の有無を判定し、これに基づいて前記異常部を検出する検出部と、を備えることを特徴とする被覆異常部検出装置。
5. 前記撮像部は、前記ポリマークラッド光ファイバのＮＡに相当する角度の範囲内に設置されることを特徴とする請求項４に記載の被覆異常部検出装置。
6. 前記複数の撮像部は、前記ポリマークラッド光ファイバの周方向の位置を違えて設置されていることを特徴とする請求項４または５に記載の被覆異常部検出装置。