JP2016049515A - Object inspection device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device which can inspect quickly and accurately.SOLUTION: An inspection object sent from a conveyance guide 2 is held by a recessed part 8 of a disc 6. A camera 24 is arranged so as to photograph the inspection object held by the recessed part 8 from an upper side of the disc 6. A camera 26 is arranged so as to photograph the inspection object held by the recessed part 8 through a transparent member 10 from a lower side of the disc 6. Determination means 42 determines whether a dimension of the inspection object is within a standard or not and presence or absence of a flaw or the like based on the photographed image. When the determination means 42 determines as a non-defective product, control means 40 drives a discharge nozzle 48 when the inspection object comes to a position of a non-defective product discharge guide 44. Thereby, the inspection object determined as the non-defective product is housed in a non-defective product collecting container through the non-defective product discharge guide 44.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

この発明は、検査対象物を撮像して、良品であるか不良品であるかを検査する装置に関するものである。   The present invention relates to an apparatus for imaging an inspection object and inspecting whether it is a non-defective product or a defective product.

ボルトなどの頭部を有する軸体を検査するための装置として、特許文献1に記載のものがある。この検査装置は、回転する円盤の周囲に切り欠きを設け、これに軸体の頭部を保持し、カメラによって軸体を撮像して検査を行うものである。この検査装置によれば、軸体を効率よく、しかも正確に検査することができる。   There exists a thing of patent document 1 as an apparatus for test | inspecting the shaft body which has heads, such as a volt | bolt. In this inspection apparatus, a notch is provided around a rotating disk, the head of the shaft body is held in the notch, and the shaft body is imaged by a camera for inspection. According to this inspection apparatus, the shaft body can be inspected efficiently and accurately.

特開2012−166933JP2012-166933

しかしながら、上記従来技術では、頭部によって軸体を支え、移動させながら検査を行うようにしている。このため、ピンなどのように頭部のないものは、検査を行うことができないという問題があった。   However, in the above prior art, the shaft body is supported by the head and the inspection is performed while moving. For this reason, the thing without a head like a pin has a problem that it cannot inspect.

この発明は、上記のような問題点を解決して、頭部がなく吊り下げて保持することの困難な対象物に対し、効率よく正確に検査することのできる検査装置を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide an inspection apparatus capable of efficiently and accurately inspecting an object that has no head and is difficult to suspend and hold. And

(1)この発明に係る対象物検査装置は、検査対象物を保持部に保持して所定方向に移動させる保持移動手段であって、少なくとも前記保持部の底面が透明性を有する部材で構成された保持移動手段と、前記保持部に保持された検査対象物を撮像する第一の撮像手段と、前記透明性を有する部材を介して前記保持部に保持された検査対象物を撮像する第二の撮像手段と、前記第一の撮像手段、第二の撮像手段によって撮像された撮像画像に基づいて、検査対象物の欠陥の有無を判断する判断手段とを備えている。 (1) An object inspection apparatus according to the present invention is a holding and moving means for holding an inspection object on a holding unit and moving it in a predetermined direction, and at least the bottom surface of the holding unit is made of a transparent member. Holding and moving means, first imaging means for imaging the inspection object held by the holding part, and second for imaging the inspection object held by the holding part via the transparent member Imaging means, and judgment means for judging the presence / absence of a defect in the inspection object based on the captured image captured by the first imaging means and the second imaging means.

したがって、どのような形状のものであっても(特に、頭部のない形状であっても)、その両面の検査を行うことができる。   Therefore, it is possible to inspect both surfaces of any shape (especially a shape without a head).

(2)この発明に係る対象物検査装置は、保持移動手段は、上面に複数の保持部を有し、回転駆動される円盤であることを特徴としている。 (2) The object inspection apparatus according to the present invention is characterized in that the holding and moving means is a disk that has a plurality of holding portions on the upper surface and is rotationally driven.

したがって、対象物を回転移動させながら検査を行うことができる。   Accordingly, the inspection can be performed while rotating the object.

(3)この発明に係る対象物検査装置は、前記複数の各保持部を直接的または間接的に検出する検出手段と、検出手段の出力に基づいて、前記第一の撮像手段、前記第二の撮像手段の撮像タイミングを決定する制御手段とをさらに備えたことを特徴としている。 (3) The object inspection apparatus according to the present invention includes: a detection unit that directly or indirectly detects the plurality of holding units; and the first imaging unit and the second unit based on an output of the detection unit. And control means for determining the imaging timing of the imaging means.

したがって、適切なタイミングにて撮像を行うことができる。   Therefore, imaging can be performed at an appropriate timing.

(4)この発明に係る対象物検査装置は、判断手段によって不良品であると判断された検査対象物を不良品排出通路に排出する不良品排出手段と、判断手段によって良品であると判断された検査対象物を良品排出通路に排出する良品排出手段とをさらに備え、制御手段は、検出手段の出力に基づいて、前記不良品排出手段および良品排出手段の排出タイミングを決定することを特徴としている。 (4) The object inspection apparatus according to the present invention is determined to be a non-defective product by the non-defective product discharging means for discharging the inspection target object determined to be defective by the determining means to the defective product discharge passage, and the determining means. A non-defective product discharging means for discharging the inspection object to the non-defective product discharge passage, and the control means determines the discharge timing of the defective product discharging means and the non-defective product discharging means based on the output of the detecting means. Yes.

したがって、適切に良品と不良品を区分して排出することができる。   Therefore, it is possible to appropriately classify and discharge good products and defective products.

(5)この発明に係る対象物検査装置は、保持移動手段の保持部に向けて検査対象物を搬送する搬送手段をさらに備えたことを特徴としている。 (5) The object inspection apparatus according to the present invention is further characterized by further comprising a conveying means for conveying the inspection object toward the holding portion of the holding and moving means.

したがって、検査対象物を自動的に供給することができる。   Accordingly, the inspection object can be automatically supplied.

(6)この発明に係る対象物検査装置は、搬送手段は、検査対象物を一旦停止させ、当該停止を解除することによって前記保持部に向けて検査対象物を送り出す一旦停止手段を備えており、前記制御手段は、検出手段の出力に基づいて、前記一旦停止手段の停止解除のタイミングを決定することを特徴としている。 (6) In the object inspection apparatus according to the present invention, the transport means includes temporary stop means for temporarily stopping the inspection object, and sending the inspection object toward the holding unit by releasing the stop. The control means determines the timing of releasing the stop of the temporary stop means based on the output of the detection means.

したがって、検査対象物を1つずつ適切に保持部に送り出すことができる。   Accordingly, the inspection objects can be appropriately sent to the holding unit one by one.

(7)この発明に係る対象物検査装置は、搬送手段は、前記保持部の移動方向側に、開放、閉鎖可能なゲート手段を備えており、前記制御手段は、一旦停止させた検査対象物を送り出す際に、前記ゲート手段を開放することを特徴としている。 (7) In the object inspection apparatus according to the present invention, the transport means includes gate means that can be opened and closed on the moving direction side of the holding portion, and the control means is the inspection object that has been temporarily stopped. When sending out, the gate means is opened.

したがって、保持部に適切に収納されなかった検査対象物によって、装置が損壊するおそれがない。   Therefore, there is no possibility that the apparatus is damaged by the inspection object that is not properly stored in the holding unit.

(8)この発明に係る検査方法は、検査対象物を保持部に保持して所定方向に移動させながら、検査対象物を検査する検査方法であって、前記保持部を透明性を有する部材で構成し、保持部に保持された検査対象物を上面および下面から撮像して検査を行うようにしている。 (8) The inspection method according to the present invention is an inspection method for inspecting an inspection object while holding the inspection object on a holding part and moving it in a predetermined direction, wherein the holding part is made of a transparent member. The inspection object is configured to be imaged from the upper surface and the lower surface and inspected.

したがって、どのような形状のものであっても(特に、頭部のない形状であっても)、その両面の検査を行うことができる。   Therefore, it is possible to inspect both surfaces of any shape (especially a shape without a head).

この発明において、「保持移動手段」は、実施形態においては円盤6がこれに対該当する。   In the present invention, the “holding movement means” corresponds to the disk 6 in the embodiment.

「第一の撮像手段」は、実施形態においては、上カメラ24がこれに該当する。   In the embodiment, the “first imaging unit” corresponds to the upper camera 24.

「第二の撮像手段」は、実施形態においては、下カメラ26がこれに該当する。   In the embodiment, the “second imaging unit” corresponds to the lower camera 26.

「判断手段」は、実施形態においては、CPU80および制御プログラム88がこれに該当する。   In the embodiment, “determination means” corresponds to the CPU 80 and the control program 88.

この発明の一実施形態による検査装置の概要を示す図である。It is a figure which shows the outline | summary of the test | inspection apparatus by one Embodiment of this invention. 円盤6の詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of the disk 6. FIG. ハードウエア構成を示す図である。It is a figure which shows a hardware configuration. 搬送部の詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of a conveyance part. 搬送部の詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of a conveyance part. 検査対象物である割ピンを示す図である。It is a figure which shows the split pin which is a test object. 制御プログラム88の送り出し制御の部分のフローチャートである。It is a flowchart of the part of the sending control of the control program 88. 制御プログラム88の送り出し制御の部分のフローチャートである。It is a flowchart of the part of the sending control of the control program 88. 送り出し時の状態を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the state at the time of sending out. センサの構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of a sensor. ゲート69の機能を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining the function of a gate 69. インデックスセンサ30による制御を説明するための図である。It is a figure for demonstrating control by the index sensor. 良品回収ボックス45、仕掛品回収ボックス49を示す図である。It is a figure which shows the non-defective product collection box 45 and the work-in-progress collection box 49.

1.対象物検査装置の全体構成
図1に、この発明の一実施形態による対象物検査装置の全体構成を示す。搬送ガイド2によって軸体などの検査対象物が矢印4の方向に、滑りながら搬送される。搬送された検査対象物は、保持手段である円盤6に設けられた保持部である窪部8に送り込まれる。
1. Overall Configuration of Object Inspection Apparatus FIG. 1 shows an overall configuration of an object inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. An inspection object such as a shaft body is conveyed while sliding in the direction of the arrow 4 by the conveyance guide 2. The conveyed inspection object is fed into a recess 8 that is a holding portion provided on a disk 6 that is a holding means.

図2に、円盤6の詳細を示す。図2Aが平面図、図2Bが断面図である。この円盤6は、ガラス等の透明性部材10の上に、金属などの保持部形成板12が設けられている。透明性部材10、保持部形成板12の中央部には貫通穴14、16が設けられている。この貫通穴14、16に回転軸(図示せず)が挿入され、ナット18によって、透明性部材10、保持部形成板12が回転軸に固定される。回転軸は、モータなどによって回転される。   FIG. 2 shows details of the disk 6. 2A is a plan view and FIG. 2B is a cross-sectional view. The disk 6 is provided with a holding part forming plate 12 such as metal on a transparent member 10 such as glass. Through holes 14 and 16 are provided in the central part of the transparent member 10 and the holding part forming plate 12. A rotation shaft (not shown) is inserted into the through holes 14 and 16, and the transparent member 10 and the holding portion forming plate 12 are fixed to the rotation shaft by a nut 18. The rotating shaft is rotated by a motor or the like.

透明性部材10は、これを通してカメラによる撮像が可能な程度の透明性を有することが必要である。また、屈折率が小さいことが好ましい。保持部形成板12には、その外周において、等間隔のピッチ(あるいは、既知の異なるピッチ)にて複数の凹部20が設けられている。この実施形態では、凹部20と、その底面の透明性部材10とによって、窪部8が形成されている。   The transparent member 10 needs to have transparency to the extent that it can be imaged by a camera through the transparent member 10. Moreover, it is preferable that a refractive index is small. The holding portion forming plate 12 is provided with a plurality of recesses 20 at an equal interval pitch (or a known different pitch) on the outer periphery thereof. In this embodiment, the recessed portion 8 is formed by the recessed portion 20 and the transparent member 10 on the bottom surface thereof.

図1に戻って、搬送ガイド2から送り込まれた検査対象物は、円盤6の窪部8に保持される。円盤6の回転に伴って、窪部8に保持された検査対象物も回転方向22に移動する。   Returning to FIG. 1, the inspection object sent from the transport guide 2 is held in the recess 8 of the disk 6. As the disk 6 rotates, the inspection object held in the recess 8 also moves in the rotation direction 22.

カメラ24が、円盤6の上側から、窪部8に保持された検査対象物を撮像するように設けられている。また、カメラ26が、円盤6の下側から、透明性部材10を介して、窪部8に保持された検査対象物を撮像するように設けられている。カメラ24、カメラ26の撮像タイミングは、窪部8(凹部20)を検出する光電センサ30の出力に基づいて、制御手段40が決定している。上記のように、検査対象物の上側と下側を撮像するようにしているので、上下両面を検査することができる。特に、円柱状のものであれば、ほぼ全周にわたった検査を行うことができる。   A camera 24 is provided so as to image the inspection object held in the recess 8 from the upper side of the disk 6. In addition, a camera 26 is provided so as to capture an image of the inspection object held in the recess 8 from below the disk 6 through the transparent member 10. The control means 40 determines the imaging timing of the camera 24 and the camera 26 based on the output of the photoelectric sensor 30 that detects the recess 8 (recess 20). Since the upper side and the lower side of the inspection object are imaged as described above, both the upper and lower sides can be inspected. In particular, in the case of a cylindrical shape, it is possible to perform inspection over almost the entire circumference.

判断手段42は、撮像された画像に基づいて、検査対象物の寸法が規格内であるかや、傷の有無などを判断する。判断手段42が「良品」であると判断した場合、制御手段40は、当該検査対象物が良品排出ガイド44の位置まで来たときに、排出ノズル48を駆動する。これにより、良品と判断された検査対象物は、良品排出ガイド44をとおって、良品回収容器(図示せず)に収納される。   Based on the captured image, the determination unit 42 determines whether the size of the inspection object is within the standard, the presence or absence of scratches, and the like. When the determination unit 42 determines that the product is “non-defective”, the control unit 40 drives the discharge nozzle 48 when the inspection object reaches the position of the non-defective product discharge guide 44. Thus, the inspection object determined to be non-defective is stored in a non-defective product collection container (not shown) through the non-defective product discharge guide 44.

判断手段42が「不良品」であると判断した場合、制御手段40は、当該検査対象物が不良品排出ガイド46の位置まで来たときに、排出ノズル50を駆動する。これにより、不良品と判断された検査対象物は、不良品排出ガイド46をとおって、不良品回収容器(図示せず)に回収される。   When the determination unit 42 determines that the product is “defective”, the control unit 40 drives the discharge nozzle 50 when the inspection object reaches the position of the defective product discharge guide 46. Thereby, the inspection object determined to be defective is collected in a defective product collection container (not shown) through the defective product discharge guide 46.

上記のようにして、検査対象物に対する検査を、迅速にかつ正確に実行することができる。
As described above, the inspection of the inspection object can be performed quickly and accurately.

2.制御手段40、判断手段42のハードウエア構成
制御手段40、判断手段42を、CPUを用いて実現した場合のハードウエア構成を、図3に示す。CPU80には、タッチパネル82、不揮発性メモリ84、センサ30〜38、不良品ノズル48、良品ノズル50、上カメラ24、下カメラ26などが接続されている。
2. Hardware Configuration of Control Unit 40 and Determination Unit 42 FIG. 3 shows a hardware configuration when the control unit 40 and determination unit 42 are realized using a CPU. Connected to the CPU 80 are a touch panel 82, a nonvolatile memory 84, sensors 30 to 38, a defective product nozzle 48, a non-defective product nozzle 50, an upper camera 24, a lower camera 26, and the like.

不揮発性メモリ84には、オペレーティングシステム86、判断・制御プログラム88が記録されている。判断・制御プログラム88は、オペレーティングシステム86と協働してその機能を発揮するものである。
In the nonvolatile memory 84, an operating system 86 and a determination / control program 88 are recorded. The determination / control program 88 performs its function in cooperation with the operating system 86.

3.搬送ガイド2の詳細
図4に、搬送ガイド2の詳細を示す。図4Aが平面図、図4Bが断面図である。この実施形態においては、搬送ガイド2は、ガイド底板60の上に、検査対象物の幅よりも少し大きな間隔で2枚のガイド立板62が設けられている。この実施形態では、図6に示すような割ピン100を検査対象物とする場合について説明する。パーツフィーダから供給される割ピン100は、上面から見て図6Aの様な状態(図では、頭部が左にあるが、頭部が右になる場合もある)になるように送られてくる。この時の側面図は、図6Bのとおりである。
3. Details of Transport Guide 2 FIG. 4 shows details of the transport guide 2. 4A is a plan view and FIG. 4B is a cross-sectional view. In this embodiment, the transport guide 2 is provided with two guide standing plates 62 on the guide bottom plate 60 at a slightly larger interval than the width of the inspection object. In this embodiment, a case where a split pin 100 as shown in FIG. 6 is used as an inspection object will be described. The split pin 100 supplied from the parts feeder is sent so as to be in a state as shown in FIG. 6A when viewed from above (the head is on the left but the head may be on the right in the figure). come. The side view at this time is as shown in FIG. 6B.

上記のような割ピン100を対象とする場合には、2枚のガイド立板62の間隔は、割ピン100の頭部の幅Wよりも少し大きくすることが好ましい。ガイド立板62の左端に対し、パーツフィーダ(図示せず)からの割ピン100が供給される。   When the split pin 100 as described above is targeted, it is preferable that the distance between the two guide standing plates 62 is slightly larger than the width W of the head of the split pin 100. A split pin 100 from a parts feeder (not shown) is supplied to the left end of the guide stand 62.

図4Bにおいて、供給された割ピン100は、ストッパ70に当たって停止し、整列することになる。ストッパ70は、ストッパシリンダ66によって上下に移動する。ストッパ70を上げることにより、割ピン100が先端部63から円盤6の窪部8に送られる。   In FIG. 4B, the supplied split pin 100 hits the stopper 70 and stops and aligns. The stopper 70 is moved up and down by the stopper cylinder 66. By raising the stopper 70, the split pin 100 is sent from the tip 63 to the recess 8 of the disk 6.

また、整列した2つ目の割ピン100は、セパレータ68によって押さえつけられて停止している。このセパレータ68は、セパレータシリンダ64によって上下に移動する。また、ガイド立板62の一方側の先端部には、ゲート69が設けられている。このゲート69は、ゲートシリンダ65によって上下動する。窪部8に上手く収納されず、窪部8から突出した状態で保持された割ピン100が回転させられた場合であっても、そのタイミングにてゲート69を上げることにより、割ピンが引っかかることを防ぐためのものである。
The second split pins 100 aligned are pressed by the separator 68 and stopped. The separator 68 is moved up and down by the separator cylinder 64. Further, a gate 69 is provided at the tip end portion on one side of the guide upright plate 62. The gate 69 moves up and down by a gate cylinder 65. Even when the split pin 100 which is not stored in the recess 8 and is held in a state of protruding from the recess 8 is rotated, the split pin is caught by raising the gate 69 at that timing. Is to prevent.

4.制御プログラム
CPU80は、セパレータシリンダ68、ストッパシリンダ66、ゲートシリンダ65の上下動を制御し、割ピン100を、一つずつ、円盤6の保持部8に送り出す。判断・制御プログラム88のうち、この送り出し制御の部分のフローチャートを図7a、図7bに示す。CPU80は、開始時に初期設定を行う(ステップS1)。初期設定では、ストッパシリンダ66によってストッパ70を下げ、セパレータシリンダ64によってセパレータ68を上げる。この状態で、パーツフィーダ(図示せず)から割ピン100を供給する。これにより、先頭の割ピン100がストッパ70によって止まり、その後ろに割りピンが並んだ状態となる。さらに、CPU80は、セパレータ68を下げる。このようにして、図4Bに示すように、初期設定が完了する。また、CPU80は、このとき、ゲート69を下げるようにしている。
4). The control program CPU 80 controls the vertical movement of the separator cylinder 68, the stopper cylinder 66, and the gate cylinder 65, and sends out the split pins 100 one by one to the holding portion 8 of the disk 6. FIGS. 7a and 7b show flowcharts of the sending control portion of the judgment / control program 88. FIG. The CPU 80 performs initial setting at the start (step S1). In the initial setting, the stopper 70 is lowered by the stopper cylinder 66 and the separator 68 is raised by the separator cylinder 64. In this state, the split pin 100 is supplied from a parts feeder (not shown). As a result, the leading split pin 100 is stopped by the stopper 70 and the split pins are lined up behind it. Further, the CPU 80 lowers the separator 68. In this way, the initial setting is completed as shown in FIG. 4B. At this time, the CPU 80 lowers the gate 69.

次に、CPU80は、ストッパ上昇センサ38が窪部8を検出したかを判断する(ステップS2)。検出すると、ストッパシリンダ66を制御し、ストッパ70を上昇させる(ステップS3)。   Next, the CPU 80 determines whether the stopper raising sensor 38 has detected the recess 8 (step S2). If detected, the stopper cylinder 66 is controlled to raise the stopper 70 (step S3).

この実施形態では、図9Aに示すように、発光素子200と、これに対向する受光素子202によって、ストッパ上昇センサ38を構成している。したがって、円盤6の回転に伴い、窪部8のない部分では受光素子20は受光せず、窪部8のある部分では受光素子20が受光し、窪部8を検出することができる。この実施形態では、図1に示すように、搬送ガイド2の先端部63が窪部8に合致する位置より少し早いタイミングにて、検出信号が出るような位置に、ストッパ上昇センサ38が設けられている。   In this embodiment, as shown in FIG. 9A, the stopper raising sensor 38 is constituted by the light emitting element 200 and the light receiving element 202 opposed thereto. Therefore, with the rotation of the disk 6, the light receiving element 20 does not receive light in the portion where the recess 8 is not present, and the light receiving element 20 receives light in the portion where the recess 8 is present, so that the recess 8 can be detected. In this embodiment, as shown in FIG. 1, a stopper raising sensor 38 is provided at a position where a detection signal is output at a timing slightly earlier than the position where the tip 63 of the transport guide 2 matches the recess 8. ing.

ストッパ70が、上昇すると、図8Aに示すように、割ピン100aが傾斜した搬送ガイド2を矢印の方向に滑り、さらに、円盤6の窪部8に保持される。このとき、ゲート69(図4参照)は下降しているので、割ピン100は、正しい方向にガイドされる。   When the stopper 70 is lifted, as shown in FIG. 8A, the conveying guide 2 in which the split pin 100a is inclined slides in the direction of the arrow, and is further held in the recess 8 of the disk 6. At this time, since the gate 69 (see FIG. 4) is lowered, the split pin 100 is guided in the correct direction.

次に、CPU80は、ストッパ下降センサ34が窪部8を検出したかを判断する(ステップS4)。その構成は、ストッパ上昇センサ38と同様である。検出すると、ストッパシリンダ66を制御し、ストッパ70を下降させる(ステップS5)。このときの状態を、図8Bに示す。   Next, the CPU 80 determines whether the stopper lowering sensor 34 has detected the recess 8 (step S4). The configuration is the same as that of the stopper raising sensor 38. When detected, the stopper cylinder 66 is controlled to lower the stopper 70 (step S5). The state at this time is shown in FIG. 8B.

また、CPU80は、このとき、ゲートシリンダ65を制御して、ゲート69を上昇させる(ステップS6)。これは、窪部8に適切に収納されなかった割ピン100によって、装置が傷ついたり故障したりしないようにするためのである。たとえば、図10Aに示すように、割ピン100が窪部8に収納しきれずに飛び出した状態となった場合でも、ゲート69を上げておけば、ゲート69と割ピン100が干渉して障害をもたらすことを避けられるからである。   At this time, the CPU 80 controls the gate cylinder 65 to raise the gate 69 (step S6). This is to prevent the device from being damaged or broken by the split pins 100 not properly stored in the recess 8. For example, as shown in FIG. 10A, even when the split pin 100 is not fully housed in the recess 8 and protrudes out, if the gate 69 is raised, the gate 69 and the split pin 100 interfere with each other to cause a failure. Because it can be avoided.

次に、CPU80は、セパレータ上昇センサ36が窪部8を検出したかを判断する(ステップS7)。その構成は、ストッパ上昇センサ38と同様である。検出すると、セパレータシリンダ64を制御し、セパレータ68を上昇させる(ステップS8)。これにより、図8Cに示すように、割ピン100bがストッパ70に当接するように移動する。また、CPU80は、このとき、ゲートシリンダ65を制御して、ゲート69を下降させる(ステップS9)。   Next, the CPU 80 determines whether the separator ascending sensor 36 has detected the recess 8 (step S7). The configuration is the same as that of the stopper raising sensor 38. When detected, the separator cylinder 64 is controlled to raise the separator 68 (step S8). Thereby, as shown in FIG. 8C, the split pin 100 b moves so as to contact the stopper 70. At this time, the CPU 80 controls the gate cylinder 65 to lower the gate 69 (step S9).

続いて、CPU80は、セパレータ下降センサ32が窪部8を検出したかを判断する(ステップS10)。その構成は、ストッパ上昇センサ38と同様である。検出すると、セパレータシリンダ64を制御し、セパレータ68を下降させる(ステップS11)。これにより、図4Bと同じ状態となる。   Subsequently, the CPU 80 determines whether the separator lowering sensor 32 has detected the recess 8 (step S10). The configuration is the same as that of the stopper raising sensor 38. When detected, the separator cylinder 64 is controlled to lower the separator 68 (step S11). Thereby, it will be in the same state as FIG. 4B.

以後は、ステップS2以下を繰り返して実行し、窪部8に対して、割ピン100を順次供給する。   Thereafter, step S2 and the subsequent steps are repeatedly executed, and the split pins 100 are sequentially supplied to the recess 8.

CPU80は、上記の送り出し制御と並行して、検査処理を行う。インデックスセンサ30(ストッパ上昇センサ38と同様の構成である)が、窪部8を検出すると、CPU80は、窪部8のそれぞれにIDを付して、各窪部8がどの位置にあるかを認識する。   The CPU 80 performs an inspection process in parallel with the delivery control described above. When the index sensor 30 (which has the same configuration as the stopper raising sensor 38) detects the depressions 8, the CPU 80 assigns an ID to each depression 8 to determine the position of each depression 8. recognize.

たとえば、図11に示すように、インデックスセンサ30の窪部8の検出に応じて、CPU80が、各窪部8に、1〜18までのインデックスIDを付す。インデックスセンサ30、搬送ガイド2、上カメラ24、下カメラ26、良品ノズル48、不不良品ノズル50の位置関係は決まっているので、CPU80は、搬送ガイド2から供給された割ピン100が現在どの位置にあるかを特定することができる。   For example, as shown in FIG. 11, the CPU 80 attaches index IDs 1 to 18 to each recess 8 in response to detection of the recess 8 of the index sensor 30. Since the positional relationship among the index sensor 30, the conveyance guide 2, the upper camera 24, the lower camera 26, the non-defective nozzle 48, and the non-defective nozzle 50 is determined, the CPU 80 determines which of the split pins 100 supplied from the conveyance guide 2 is currently present. It can be specified whether it is in a position.

まず、インデックスセンサ30の検出に応じて、CPU80は、上カメラ24、下カメラ26による撮像を指示する。なお、上カメラ24、下カメラ26によって撮像される位置に対しては、照明手段(図示せず)が設けられている。CPU80は、撮像の指示とともに、この照明手段による照明も指示している。   First, in response to detection by the index sensor 30, the CPU 80 instructs imaging by the upper camera 24 and the lower camera 26. Note that illumination means (not shown) is provided for positions captured by the upper camera 24 and the lower camera 26. The CPU 80 instructs the illumination by the illumination means as well as the imaging instruction.

上カメラ24によって撮像された割ピン100は、CPU80の画像処理によって、その寸法などが算出される。たとえば、図6A、図6Bに示すように、全長L1、短長L2、内径φ、ピン外形Dなどの寸法が算出される。CPU80は、これらの寸法が、予め定められた規格内にあるかどうかを判断する。全てが規格内であれば、図11Bに示す検査テーブルにおいて、対応するインデックスIDに「良」を記録する。一つでも規格外のものがあれば、対応するインデックスIDに「不良」を記録する。   The dimensions and the like of the split pin 100 captured by the upper camera 24 are calculated by image processing of the CPU 80. For example, as shown in FIGS. 6A and 6B, dimensions such as the full length L1, the short length L2, the inner diameter φ, and the pin outer shape D are calculated. The CPU 80 determines whether these dimensions are within a predetermined standard. If all are within the standard, “good” is recorded in the corresponding index ID in the inspection table shown in FIG. 11B. If there is even one out of the standard, “bad” is recorded in the corresponding index ID.

下カメラ26による撮像画像についても同様に、判断がなされる。なお、この実施形態では、円盤6の窪部8の底面を透明性のある部材で構成しているので、下カメラ26によって、下側から撮像することができる。   A determination is similarly made for an image captured by the lower camera 26. In this embodiment, since the bottom surface of the recess 8 of the disk 6 is made of a transparent member, the lower camera 26 can capture an image from the lower side.

CPU80は、インデックスセンサ30の検出に応じて、上カメラ24、下カメラ26ともに「良」である割ピン100が、良品ノズル48の位置に来れば、吹きつけを行う。これにより、良品であると判断された割ピン100は、吹き付けられて良品排出ガイド44に排出される。図12に示すように、良品排出ガイド44の先には、良品回収ボックス45が置かれており、良品が回収されることになる。   In response to the detection of the index sensor 30, the CPU 80 performs spraying when the split pin 100, which is “good” for both the upper camera 24 and the lower camera 26, comes to the position of the good nozzle 48. Thereby, the split pins 100 determined to be non-defective are blown and discharged to the non-defective product discharge guide 44. As shown in FIG. 12, a non-defective product collection box 45 is placed at the tip of the non-defective product discharge guide 44, and non-defective products are collected.

また、CPU80は、少なくともいずれか一方のカメラにて「不良」であると判断された割ピン100が、不良品ノズル50の位置に来れば、吹きつけを行う。これにより、不良品であると判断された割ピン100は、吹き付けられて不良品排出ガイド46に排出される。不良品排出ガイド46の先には、不良品回収ボックス(図示せず)が置かれており、不良品が回収されることになる。   Further, the CPU 80 performs spraying when the split pin 100 determined to be “defective” by at least one of the cameras comes to the position of the defective nozzle 50. Thereby, the split pins 100 determined to be defective are blown and discharged to the defective product discharge guide 46. A defective product collection box (not shown) is placed at the tip of the defective product discharge guide 46, and the defective products are collected.

なお、この実施形態においては、図1に示すように、不良品吹き損ねセンサ33が設けられている。不良品吹き損ねセンサ33の構成を、図9Bに示す。発光素子200に対向するように、受光素子202が設けられている。なお、発光素子200、受光素子202は、透明性部材10のみの最外周部9に設けられている。したがって、通常は、発光素子200の光は、受光素子202において受光される。しかし、吹き損ねがあると、この最外周部9に割ピン100が位置することになる。したがって、割ピン100によって、受光素子202による受光が途絶えると、不良品の吹きそこねがあったと判断できる。   In this embodiment, as shown in FIG. 1, a defective product blow-off sensor 33 is provided. The configuration of the defective product blow-off sensor 33 is shown in FIG. 9B. A light receiving element 202 is provided to face the light emitting element 200. The light emitting element 200 and the light receiving element 202 are provided on the outermost peripheral portion 9 of only the transparent member 10. Therefore, normally, the light of the light emitting element 200 is received by the light receiving element 202. However, if there is a blow failure, the split pin 100 is positioned on the outermost peripheral portion 9. Therefore, when light reception by the light receiving element 202 is interrupted by the split pin 100, it can be determined that a defective product has been blown away.

この実施形態においては、CPU80は、不良品の吹き損ねを検出すると、その時点で円盤6に保持されている全ての割ピン100について、エラー処理を行う。具体的には、CPU80は、上記吹き損ねた割ピン100を含め、保持されている全ての割ピン100に対して、良品ノズル48によって吹きつけを行い、良品排出ガイド44に排出する。このとき、CPU80は、良品排出ガイド44の底板47を、図12の二点鎖線で示すように開く。これにより、エラー処理の対象となった割ピン100は、仕掛品回収ボックス49に回収されることになる。なお、エラー処理の対象となった割ピン100の中には「良品」も含まれているが、ここでは、全て、仕掛品として回収するようにしている。このようにすることで、「良品」の中に「不良品」が紛れるのを防止している。   In this embodiment, when the CPU 80 detects that the defective product is blown out, the CPU 80 performs error processing on all the split pins 100 held on the disk 6 at that time. Specifically, the CPU 80 sprays all the held split pins 100 including the split pins 100 that have failed to blow by the non-defective nozzle 48 and discharges them to the non-defective product discharge guide 44. At this time, the CPU 80 opens the bottom plate 47 of the non-defective product discharge guide 44 as shown by a two-dot chain line in FIG. As a result, the split pin 100 subjected to error processing is collected in the work-in-process collection box 49. In addition, although the “non-defective product” is included in the cotter pins 100 subjected to the error processing, all are collected as work-in-process items here. In this way, “defective product” is prevented from being mixed into “good product”.

上記と同様に、CPU80は、図10Aに示す投入不良センサ31(不良品吹き損ねセンサ33と同様の構成である)が割ピン100を検出した場合も、上記と同じようにエラー処理を行うようにしている。
Similarly to the above, the CPU 80 performs error processing in the same manner as described above even when the insertion failure sensor 31 (which has the same configuration as the defective product blow-off sensor 33) shown in FIG. 10A detects the split pin 100. I have to.

5.その他の実施形態
(1)上記実施形態では、検査対象として割ピンを例として説明した。しかし、シャフト、ネジ、ナットなどについても同様に適用することができる。
5). Other embodiments
(1) In the above-described embodiment, the split pin has been described as an example of the inspection target. However, the same applies to shafts, screws, nuts and the like.

(2)上記実施形態では、ガラス等の透明性部材10の上に、凹部20を持つ保持部形成板12を重ねることで、当該凹部20により窪部8を形成し、これを保持部としている。このように、物理的な壁を設けることによって保持部を形成している。しかし、磁石などによって、対象物を所定の位置に保持するようにしてもよい。 (2) In the above embodiment, the concave portion 8 is formed by the concave portion 20 by overlapping the holding portion forming plate 12 having the concave portion 20 on the transparent member 10 such as glass, and this is used as the holding portion. . In this way, the holding portion is formed by providing a physical wall. However, the object may be held at a predetermined position by a magnet or the like.

(3)上記実施形態では、通常のカメラによる撮像画像によって検査を行っているが、赤外線カメラ、距離画像を出力するカメラなどを用いてもよい。また、他の検査(寸法測定器などによる検査)を行うようにしてもよい。 (3) In the above-described embodiment, the inspection is performed using the image captured by the normal camera. However, an infrared camera, a camera that outputs a distance image, or the like may be used. Further, another inspection (inspection by a dimension measuring instrument or the like) may be performed.

(4)上記実施形態では、保持移動手段として回転する円盤6を用いている。しか
しながら、リニアに移動する保持移動手段(たとえば、直線的な無限軌道)を用いてもよい。
(4) In the above embodiment, the rotating disk 6 is used as the holding and moving means. However, a holding and moving means that moves linearly (for example, a linear endless track) may be used.

(5)上記実施形態では、良品と不良品を回収箱に回収している。しかし、不良品を脱落させ、良品をそのまま製造工程に移送して使用するようにしてもよい。 (5) In the above embodiment, the non-defective product and the defective product are collected in the collection box. However, the defective product may be dropped and the good product may be transferred to the manufacturing process and used as it is.

(6)上記実施形態では、光電センサによって窪部8の位置を検出するようにしている。しかし、磁気センサなど、他のセンサを用いるようにしてもよい。また、窪部8が等間隔(あるいは既知の異なる間隔)に設けられていることから、異なる窪部8の位置を検出することで、タイミングを決定するようにしている。たとえば、ストッパ70を上昇させるタイミングは、対象物の投入位置ではなく反対側において検出している。つまり、間接的に、所望の窪部8の位置を検出するようにしている。しかし、所望の窪部8を直接的に検出する位置にセンサを設けてもよい。
(6) In the above embodiment, the position of the recess 8 is detected by the photoelectric sensor. However, other sensors such as a magnetic sensor may be used. Further, since the recesses 8 are provided at equal intervals (or known different intervals), the timing is determined by detecting the positions of the different recesses 8. For example, the timing of raising the stopper 70 is detected not on the input position of the object but on the opposite side. That is, the position of the desired recess 8 is indirectly detected. However, a sensor may be provided at a position where the desired recess 8 is directly detected.

Claims (8)

検査対象物を保持部に保持して所定方向に移動させる保持移動手段であって、少なくとも前記保持部の底面が透明性を有する部材で構成された保持移動手段と、
前記保持部に保持された検査対象物を撮像する第一の撮像手段と、
前記透明性を有する部材を介して前記保持部に保持された検査対象物を撮像する第二の撮像手段と、
前記第一の撮像手段、第二の撮像手段によって撮像された撮像画像に基づいて、検査対象物の欠陥の有無を判断する判断手段と、
を備えた対象物検査装置。
Holding and moving means for holding the inspection object on the holding portion and moving it in a predetermined direction, wherein at least the bottom surface of the holding portion is formed of a transparent member; and
First imaging means for imaging the inspection object held by the holding unit;
A second imaging means for imaging the inspection object held by the holding unit via the transparent member;
A determination unit that determines the presence or absence of a defect in the inspection object based on the captured image captured by the first imaging unit and the second imaging unit;
An object inspection apparatus comprising:
請求項1の対象物検査装置において、
前記保持移動手段は、上面に複数の保持部を有し、回転駆動される円盤であることを特徴とする対象物検査装置。
The object inspection apparatus according to claim 1,
2. The object inspection apparatus according to claim 1, wherein the holding and moving means is a disk that has a plurality of holding portions on an upper surface and is driven to rotate.
請求項2の対象物検査装置において、
前記複数の各保持部を直接的または間接的に検出する検出手段と、
検出手段の出力に基づいて、前記第一の撮像手段、前記第二の撮像手段の撮像タイミングを決定する制御手段と
をさらに備えたことを特徴とする対象物検査装置。
The object inspection apparatus according to claim 2,
Detecting means for directly or indirectly detecting each of the plurality of holding units;
An object inspection apparatus, further comprising: a control unit that determines an imaging timing of the first imaging unit and the second imaging unit based on an output of the detection unit.
請求項3の対象物検査装置において、
前記判断手段によって不良品であると判断された検査対象物を不良品排出通路に排出する不良品排出手段と、
前記判断手段によって良品であると判断された検査対象物を良品排出通路に排出する良品排出手段と、
をさらに備え、
前記制御手段は、検出手段の出力に基づいて、前記不良品排出手段および良品排出手段の排出タイミングを決定することを特徴とする対象物検査装置。
The object inspection apparatus according to claim 3,
Defective product discharge means for discharging the inspection object determined to be defective by the determination means to the defective product discharge passage;
Non-defective product discharging means for discharging the inspection object determined to be non-defective by the determining means into the non-defective product discharge passage;
Further comprising
The control means determines the discharge timing of the defective product discharge means and the non-defective product discharge means based on the output of the detection means.
請求項1〜4のいずれか対象物検査装置において、
前記保持移動手段の保持部に向けて検査対象物を搬送する搬送手段をさらに備えたことを特徴とする対象物検査装置。
In the target object inspection apparatus in any one of Claims 1-4,
2. The object inspection apparatus according to claim 1, further comprising conveying means for conveying the inspection object toward the holding portion of the holding and moving means.
請求項5の対象物検査装置において、
前記搬送手段は、検査対象物を一旦停止させ、当該停止を解除することによって前記保持部に向けて検査対象物を送り出す一旦停止手段を備えており、
前記制御手段は、検出手段の出力に基づいて、前記一旦停止手段の停止解除のタイミングを決定することを特徴とする対象物検査装置。
The object inspection apparatus according to claim 5,
The transport means includes a temporary stop means for temporarily stopping the inspection object and sending the inspection object toward the holding unit by releasing the stop.
The object inspection apparatus according to claim 1, wherein the control unit determines a timing for releasing the stop of the temporary stop unit based on an output of the detection unit.
請求項6の対象物検査装置において、
前記搬送手段は、前記保持部の移動方向側に、開放、閉鎖可能なゲート手段を備えており、
前記制御手段は、一旦停止させた検査対象物を送り出す際に、前記ゲート手段を開放することを特徴とする対象物検査装置。
The object inspection apparatus according to claim 6,
The conveying means includes a gate means that can be opened and closed on the moving direction side of the holding portion,
The control means opens the gate means when the inspection object once stopped is sent out.
検査対象物を保持部に保持して所定方向に移動させながら、検査対象物を検査する検査方法であって、
前記保持部を透明性を有する部材で構成し、
保持部に保持された検査対象物を上面および下面から撮像して検査を行う検査方法。
An inspection method for inspecting an inspection object while moving the inspection object in a predetermined direction while holding the inspection object,
The holding part is composed of a transparent member,
An inspection method in which an inspection object held by a holding unit is imaged from an upper surface and a lower surface for inspection.
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