JP2016046329A5 - - Google Patents

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Claims (13)

第1ショットサイズのショット領域の配列を有する第1層上に、前記第1ショットサイズのショット領域を複数カバーする第2ショットサイズのショット領域の配列を有する第2層を形成するリソグラフィ装置であって、
前記第2層のショット領域の配列を示す候補ショットレイアウトを仮定して、前記候補ショットレイアウトで前記第2層を形成する場合における前記第1層の各ショット領域に形成されたパターンと前記第2層に形成されるパターンとの相対的な位置ずれ量を演算する演算部と、
前記演算部で演算された前記位置ずれ量が許容範囲内に収まっている前記候補ショットレイアウトを、前記第2層を形成する際のショットレイアウトとして決定する決定部と、
を有することを特徴とするリソグラフィ装置。
A lithographic apparatus that forms, on a first layer having an array of shot areas of a first shot size, a second layer having an array of shot areas of a second shot size that covers a plurality of shot areas of the first shot size. And
Assuming a candidate shot layout indicating the arrangement of the shot regions of the second layer, the pattern formed in each shot region of the first layer and the second when the second layer is formed with the candidate shot layout A calculation unit that calculates the amount of positional deviation relative to the pattern formed in the layer;
A determination unit that determines the candidate shot layout in which the positional deviation amount calculated by the calculation unit is within an allowable range as a shot layout when forming the second layer;
A lithographic apparatus comprising:
前記演算部は、前記第1層のショットレイアウトに対して選択可能な複数の候補ショットレイアウトを仮定して、前記複数の候補ショットレイアウトのそれぞれで前記第2層を形成する場合における前記第1層の各ショット領域に形成されたパターンと前記第2層に形成されるパターンとの相対的な位置ずれ量を演算し、
前記決定部は、前記複数の候補ショットレイアウトのうち、前記演算部で演算された前記位置ずれ量が許容範囲内に収まっている前記候補ショットレイアウトの1つを、前記第2層を形成する際のショットレイアウトとして決定することを特徴とする請求項1に記載のリソグラフィ装置。
The arithmetic unit assumes the plurality of candidate shot layouts that can be selected for the first layer shot layout, and forms the second layer in each of the plurality of candidate shot layouts. Calculating the relative displacement between the pattern formed in each shot region and the pattern formed in the second layer,
The determining unit may form one of the candidate shot layouts in which the positional deviation amount calculated by the calculation unit is within an allowable range among the plurality of candidate shot layouts. The lithographic apparatus according to claim 1, wherein the lithographic apparatus is determined as a shot layout.
前記決定部は、前記演算部で演算された前記位置ずれ量が最小となる候補ショットレイアウトを、前記第2層を形成する際のショットレイアウトとして決定することを特徴とする請求項2に記載のリソグラフィ装置。   3. The determination unit according to claim 2, wherein the determination unit determines a candidate shot layout that minimizes the positional deviation amount calculated by the calculation unit as a shot layout when the second layer is formed. Lithographic apparatus. 前記決定部は、前記演算部で演算された前記位置ずれ量が許容範囲内に収まっている前記候補ショットレイアウトのうち、当該候補ショットレイアウトに含まれるショット領域の数が最小となる候補ショットレイアウトを、前記第2層を形成する際のショットレイアウトとして決定することを特徴とする請求項2に記載のリソグラフィ装置。   The determination unit selects a candidate shot layout in which the number of shot areas included in the candidate shot layout is the smallest among the candidate shot layouts in which the positional deviation amount calculated by the calculation unit is within an allowable range. The lithographic apparatus according to claim 2, wherein the lithographic apparatus determines the shot layout when forming the second layer. 前記第2層に形成されるパターンは、前記第2層を形成する際に用いられる原版のパターンであることを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。   The lithographic apparatus according to claim 1, wherein the pattern formed on the second layer is a pattern of an original plate used when forming the second layer. 前記原版のパターンの位置の理想位置からの第1ずれ量、及び、前記第1層の各ショット領域に形成されたパターンの位置の理想位置からの第2ずれ量を記憶する記憶部を更に有し、
前記演算部は、前記記憶部に記憶された前記第1ずれ量及び前記第2ずれ量に基づいて、前記位置ずれ量を求めることを特徴とする請求項5に記載のリソグラフィ装置。
The storage unit further stores a first shift amount from the ideal position of the pattern position of the original plate and a second shift amount from the ideal position of the pattern position formed in each shot region of the first layer. And
The lithographic apparatus according to claim 5, wherein the arithmetic unit obtains the positional deviation amount based on the first deviation amount and the second deviation amount stored in the storage unit.
前記第1層の各ショット領域に設けられたマークと、前記原版に設けられたマークとの相対位置を検出する検出部を更に有し、
前記演算部は、前記検出部によって検出された前記相対位置に基づいて、前記位置ずれ量を求めることを特徴とする請求項5に記載のリソグラフィ装置。
A detector that detects a relative position between a mark provided in each shot area of the first layer and a mark provided on the original;
The lithographic apparatus according to claim 5, wherein the calculation unit obtains the positional deviation amount based on the relative position detected by the detection unit.
前記原版のパターンの位置の理想位置からのずれ量を記憶する記憶部と、
前記第1層の各ショット領域に形成されたパターンの位置の理想位置からのずれ量を計測する計測部と、
を更に有し、
前記演算部は、前記記憶部に記憶された前記ずれ量、及び、前記計測部によって計測された前記ずれ量に基づいて、前記位置ずれ量を求めることを特徴とする請求項に記載のリソグラフィ装置。
A storage unit for storing a deviation amount from an ideal position of the pattern of the original plate;
A measurement unit that measures a deviation amount from an ideal position of a pattern formed in each shot region of the first layer;
Further comprising
6. The lithography according to claim 5 , wherein the arithmetic unit obtains the positional deviation amount based on the deviation amount stored in the storage unit and the deviation amount measured by the measurement unit. apparatus.
前記原版のパターンを投影光学系によって基板に投影することで前記第2層を形成することを特徴とする請求項乃至8のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。 The lithographic apparatus according to claim 5 , wherein the second layer is formed by projecting the pattern of the original plate onto a substrate by a projection optical system. 基板上のインプリント材を前記原版で成形することで前記第2層を形成することを特徴とする請求項乃至8のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。 The lithographic apparatus according to claim 5 , wherein the second layer is formed by molding an imprint material on a substrate with the original plate. 請求項1乃至10のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置を用いてパターンを基板に形成する工程と、
前記工程で前記パターンを形成された前記基板を処理する工程と、
を含むことを特徴とする物品の製造方法。
Forming a pattern on a substrate using the lithographic apparatus according to claim 1;
Processing the substrate on which the pattern has been formed in the step;
A method for producing an article comprising:
第1ショットサイズのショット領域の配列を有する第1層上に、前記第1ショットサイズのショット領域を複数カバーする第2ショットサイズのショット領域の配列を有する第2層を形成するリソグラフィ装置におけるショットレイアウトを決定する情報処理装置であって、
前記第2層のショット領域の配列を示す候補ショットレイアウトを仮定して、前記候補ショットレイアウトで前記第2層を形成する場合における前記第1層の各ショット領域に形成されたパターンと前記第2層に形成されるパターンとの相対的な位置ずれ量を演算する演算部と、
前記演算部で演算された前記位置ずれ量が許容範囲内に収まっている前記候補ショットレイアウトを、前記第2層を形成する際のショットレイアウトとして決定する決定部と、
を有することを特徴とする情報処理装置。
A shot in a lithographic apparatus, wherein a second layer having a second shot size array of shot areas covering a plurality of the first shot size shot areas is formed on a first layer having a first shot size shot area array. An information processing apparatus for determining a layout,
Assuming a candidate shot layout indicating the arrangement of the shot regions of the second layer, the pattern formed in each shot region of the first layer and the second when the second layer is formed with the candidate shot layout A calculation unit that calculates the amount of positional deviation relative to the pattern formed in the layer;
A determination unit that determines the candidate shot layout in which the positional deviation amount calculated by the calculation unit is within an allowable range as a shot layout when forming the second layer;
An information processing apparatus comprising:
第1ショットサイズのショット領域の配列を有する第1層上に、前記第1ショットサイズのショット領域を複数カバーする第2ショットサイズのショット領域の配列を有する第2層を形成する際のショットレイアウトを決定する決定方法であって、
前記第2層のショット領域の配列を示す候補ショットレイアウトを仮定して、前記候補ショットレイアウトで前記第2層を形成する場合における前記第1層の各ショット領域に形成されたパターンと前記第2層を形成されるパターンとの相対的な位置ずれ量を演算する工程と、
前記工程で演算された前記位置ずれ量が許容範囲内に収まっている前記候補ショットレイアウトを、前記第2層を形成する際のショットレイアウトとして決定する工程と、
を有することを特徴とする決定方法。
A shot layout when forming a second layer having an array of shot areas having a second shot size covering a plurality of shot areas having the first shot size on a first layer having an array of shot areas having a first shot size A determination method for determining
Assuming a candidate shot layout indicating the arrangement of the shot regions of the second layer, the pattern formed in each shot region of the first layer and the second when the second layer is formed with the candidate shot layout A step of calculating a relative misalignment with the pattern in which the layer is formed;
Determining the candidate shot layout in which the positional deviation amount calculated in the step is within an allowable range as a shot layout when forming the second layer;
A determination method characterized by comprising:
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