JP2015510210A - 非規則的な電極による容量の測定方法及びかかる方法を実装する装置 - Google Patents
非規則的な電極による容量の測定方法及びかかる方法を実装する装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015510210A JP2015510210A JP2014561377A JP2014561377A JP2015510210A JP 2015510210 A JP2015510210 A JP 2015510210A JP 2014561377 A JP2014561377 A JP 2014561377A JP 2014561377 A JP2014561377 A JP 2014561377A JP 2015510210 A JP2015510210 A JP 2015510210A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vector
- raw
- electrode
- corr
- absolute capacitance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 230000001788 irregular Effects 0.000 title claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000012417 linear regression Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 104
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 53
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 46
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 34
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 21
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 12
- 238000013519 translation Methods 0.000 claims description 9
- PXFBZOLANLWPMH-UHFFFAOYSA-N 16-Epiaffinine Natural products C1C(C2=CC=CC=C2N2)=C2C(=O)CC2C(=CC)CN(C)C1C2CO PXFBZOLANLWPMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 5
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 4
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 241001644893 Entandrophragma utile Species 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N cadmium oxide Inorganic materials [Cd]=O CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Cd+2] CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOMBKNNSYQHRCA-UHFFFAOYSA-J calcium sulfate hemihydrate Chemical compound O.[Ca+2].[Ca+2].[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O ZOMBKNNSYQHRCA-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000000155 isotopic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 210000002569 neuron Anatomy 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010238 partial least squares regression Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0443—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a single layer of sensing electrodes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
- G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
- G01R35/005—Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
- G06F3/04164—Connections between sensors and controllers, e.g. routing lines between electrodes and connection pads
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0448—Details of the electrode shape, e.g. for enhancing the detection of touches, for generating specific electric field shapes, for enhancing display quality
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
- G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
- G06F2203/04108—Touchless 2D- digitiser, i.e. digitiser detecting the X/Y position of the input means, finger or stylus, also when it does not touch, but is proximate to the digitiser's interaction surface without distance measurement in the Z direction
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Position Input By Displaying (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Description
a’)絶対静電容量の実際値(valeurs reelles)に多変数非線形予測モデルを適用することによって予測が行われて(測定時に、リアルタイムで)確率密度のイメージを得るステップ、ここでこれらの確率密度は前記物体の検出に用いられる補正された絶対静電容量の値とみなされる。
−前記少なくとも2つの電極に対する複数の物体位置について得られる絶対静電容量の実際値と、
−理想化された電極に対する複数の物体位置について得られる確率密度のイメージと、
に基づく非線形回帰によって得られる。
ステップa)において、測定された絶対静電容量の値からベクトルVrawが構成され、そしてステップa’)における予測は以下のステップ:
b)少なくともベクトルVrawに第一の非線形変換F2を適用してベクトルX2を得るステップ、
c)アフィン変換を適用してベクトルX2に行列(matrice)M2を乗じ翻訳ベクトルY02を加算することによってベクトルY2を得るステップ;ここで行列M2は、物体の存在下に非規則的な表面の電極上で得られる絶対静電容量の実際値のベクトルと物体の存在下に理想化された電極に対して得られる仮想値のベクトルとの間の転送行列(matrice de transfert)である、
d)少なくともベクトルY2に第一の非線形変換F2の逆である第二の非線形変換を適用して補正ベクトルV_corrを得るステップ、及び
e)前記物体の検出に絶対静電容量値として補正ベクトルV_corrを使用するステップ、を含む、
を提供する。
−F2(Vraw)=1/Vraw
−F2(Vraw)=1/(Vraw/Vmax+β)[式中、Vmaxは所定の(predeterminee)最大電圧であり、βは正の数である];又は
−F2(Vraw)=Vraw/Vmax[式中、Vmaxは所定の最大電圧である]
が用いられることができる。
−ベクトルVrawの値をフィルタリングしてベクトルVinf_rawを得るステップ、
−ベクトルVinf_rawに非線形変換F1を適用してベクトルX1を得るステップ、
−アフィン変換を適用してベクトルX1に行列M1を乗じ翻訳ベクトルY01を加算することによってベクトルY1を得るステップ;ここで行列M1は、検出物体の非存在下に非規則的な表面の電極上で得られる絶対静電容量の実際値のベクトルと検出物体の非存在下における仮想値のベクトルとの間の転送行列であるものとし、及び
−ベクトルY1に非線形変換F1の逆である非線形変換を適用して補正ベクトルVinf_corrを得るステップ、
−次いで、ステップb)〜e)を実行するステップ;ここで、ステップb)において、非線形変換F2をベクトルVraw及びVinf_rawに適用してVraw及びVinf_rawの関数であるベクトルX2を得;そしてステップd)において、第一の非線形変換F2の逆である第二の非線形変換をベクトルY2及びVinf_corrに適用してY2及びVinf_corrの関数である補正ベクトルV_corrを得るものとする、
が実行される。
−F1(Vraw)=1/Vraw
−F1(Vraw)=1/(Vraw/Vmax+β)[式中、Vmaxは所定の最大電圧であり、βは正の数である];又は
−F1(Vraw)=Vraw/Vmax[式中、Vmaxは所定の最大電圧である]
のような異なった形式を有していることもできる。
−F2(Vraw,Vinf*)=Vraw/Vinf*;Vinf*は、ステップb)における非線形変換のときにVinf_rawに等しく、かつステップd)における逆非線形変換(transformation non lineaire inverse)のときにVinf_corrに等しい、又は
−F2(Vraw,Vinf*)=1−(Vraw/Vinf*);Vinf*は、ステップb)における非線形変換のときにVinf_rawに等しく、かつステップd)における逆非線形変換のときにVinf_corrに等しい、
であることができる。
−補正ベクトルV_corrをフィルタリングしてフィルタリングされたベクトルV_corr_fを得るステップと、
−該フィルタリングされたベクトルV_corr_fを用いて補正ベクトルを正規化して正規化されたベクトルベクトルV_corr_norを得るステップと
が実行される。
V(t0)=max{V(t):t∈(−∞,t0)};t0は測定の瞬間(instant de la mesure)であり、V(t)はフィルタリングが適用されるベクトルであり、tは時間インデックスである、又は
V(t0)=max{V(t):t∈(t0−ウィンドウサイズ,t0)};ウィンドウズサイズは自動キャリブレーションの窓の時間期間−すなわち、対象としていない物体によってあらゆる変化しない干渉が引き起こされるとみなされる時間期間−であり、t0は測定の瞬間であり、V(t)はフィルタリングが適用されるベクトルであり、tは時間インデックスである、
の一つに従って得られる。
Gj(t)=A(z0)*exp[−((xj−xo)2+(yj−yo)2)/σ(zo)2]
[上式中、(xj,yj)は電極を含む検出表面上の規則的なグリッドの座標であり;(xo(t),yo(t),zo(t))は検出表面に最も近い物体のエッジ(extremite)の3D座標であり;A(zo)及びσ(zo)は単調に(de facon monotone)距離z0に依存する2つの所定の関数であり、A(z)は減少しかつσ(zo)は増加する]によって定義される。
−ヒューマンマシンインターフェースデバイスに組み込まれた2つの独立電極と
−電極に対する物体の絶対静電容量を測定することによって該物体の位置を検出するための処理ユニットと
を含む電子装置が提供される。本発明によれば、処理ユニットは上記ステップの少なくとも1つを実装するように構成されている。
−図1a及び図1bは、本発明に係る装置の模式図であり;
−図2は、本発明に係る装置上での対象の物体の動きの関数として電位変化を示す模式図であり;
−図4は、円形の仮想電極を示す模式図であり;
−図5a及び図5bは、一方で、不規則的区分を有する実際の電極を、及び他方で、表面の規則的な区分を有するが端部に向かってより高濃度の電極(une plus grande concentration d'electrodes)を有する仮想電極を示す模式図であり;
−図6は、本発明に係る「スマートフォン」型の装置を示す模式図であり;
−図7a及び図7bは、それぞれ、番号付けされた実際の電極を示す模式図及び電極の一つについての模式的拡大図であり;
−図8は、本発明に係るステップのフローチャートを示す模式図であり;そして
−図9は、本発明に係る一般的方法の模式図である。
−外面窓(vitre externe)VE、
−破片飛散防止(anti-debris)フィルムFAD、
−透明接着剤CT、及び
−偏光子(polariseur)P、
−錫ドープ酸化インジウム(ITO)のような透明の導電性材料からなる電極E、
−電極のガラス支持体S、
−錫ドープ酸化インジウム(ITO)のような透明の導電性材料からなる層であるガードG、及び
−外面窓VEを通して外側から見ることができなければならないディスプレイ画面EC、
のような透明材料からなるいくつかの層を含んでいる。
Cj(t)=∫(∂Φ/∂n)(t)ds, j=1,2,・・・,N
[上式中、Nは実際の電極の数であり、nは測定表面に垂直なベクトルであり、Φは時間tにおける電位であり、そしてdsは表面の無限小要素(element infinitesimal)である。法線微分係数(∂Φ/∂n)は表面電荷密度である]。
・ΔΦ=Ωにおいて0[式中、Ωは感度領域が位置する三次元内の半分の体積を表す3D体積である]、
・∂Ω=Γ(t)Uスラブ、Γ(t)は装置の前で動いている物体の表面の関数である[スラブは励起電圧(potentiel d'excitation)が印加されるアクティブ表面の全体である]。
・無限大への放射の条件(conditions de radiations a l'infinie)、
Φ=Γ(t)上で0、
Φ=スラブ表面上で1。
Cvj(t)=∫(∂Φ/∂n)(t)ds, j=1,2,・・・,Nv
[上式中、Nvは仮想電極の数であり、Φは時間tにおける同じ電位でありそしてdsは表面の無限小要素である]。
[上式中、(xj,yj)は電極を含む検出表面上の規則的なグリッドの座標であり;(xo(t),yo(t),zo(t))は検出表面に最も近接した物体のエッジの3D座標であり;A(zo)及びσ(zo)は単調に距離z0に依存する2つの所定の関数であり、ここでA(z)は減少しかつσ(zo)は増加する]。
これは電極の行列配置の絶対容量の測定である。以下が取得される:N電圧Vrawi=k/Ci[式中、Ciは実際の電極iにおいて測定された絶対容量であり、Nは電極の数でありそしてkはmax(Vrawi)=Vmaxボルト(閾値は予め選択される、例えば、Vmax=5V)であるように選択されたゲインである]。
これは、例えば、フランス国特許FR1059203号に記載されているような、最大値フィルタ(filtre max)として知られる、フィルタリング操作である。とりわけ、かかるフィルタリングの2例は以下の通りである:
Vinf_raw(t0)=max{Vraw(t):t∈(−∞,t0)}又は
Vinf_raw(t0)=max{Vraw(t):t∈(t0−ウィンドウサイズ,t0)}[式中、ウィンドウサイズは自動キャリブレーションの窓の時間期間−すなわち、対象としていない物体によってあらゆる変化しない干渉が引き起こされるとみなされる時間期間−であり、t0は測定の瞬間である]。
実際の電極の自然漏洩の容量が補正される。
・非線形関数X1=F1(Vinf_raw)、N電圧で個々に、次いで
・行列[M1]及びオフセットベクトルY01と呼ばれる翻訳ベクトルを用いて、X1に線形変換が適用される:
Y1=[M1].X+Y01[式中、Y01はゼロであることができ、行列M1及びベクトルY01はキャリブレーション段階のときに決定された変換モデルから得られる]。
・逆非線形変換Vinf_corr=F1−1(Y1)が適用される。
・F11(V):=1/V
・F12(V):=1/(V/Vmax+β)[式中、β>0、V≒0の場合に特異性(singularite)を避けるように導入される数、例としてβ=0.1、0.2又は0.3が選択されることができる]
・F13(V):=V/Vmax。
ここでは、実際の電極の近傍の対象物体の存在下の絶対静電容量が補正される。
・非線形関数X2=F2(Vraw,Vinf_raw)、N電圧で個々に、次いで
・行列[M2]及びオフセットベクトルY02と呼ばれる翻訳ベクトルを用いて、X2に線形変換が適用される:
Y2=[M2].X+Y02[式中、Y02はゼロであることができ、行列M2及びベクトルY02はキャリブレーション段階のときに決定された変換モデルから得られる]。
・F21(V):=1/V
・F22(V):=V/Vinf*
・F23(V):=1−V/Vinf*
・F24(V):=1/(V/Vmax+β)
・F25(V):=V/Vmax。
−容量の自然漏洩の逆数(1/Cinf)における(M1,Y1)[式中、Cinfは装置の自然漏洩容量(対象物体の非存在下での)である]、
−検出体積内に置かれた物体による絶対容量における(M2,Y2)。
計算には最大値フィルタが用いられる:
V_corr_f(t0)=max{Vcorr(t):t∈(−∞,t0)}又は
V_corr_f(t0)=max{Vcorr(t):t∈(t0−ウィンドウサイズ,t0)}、[式中、ウィンドウズサイズは自動キャリブレーションの窓の時間期間、すなわち、対象としていない物体によってあらゆる変化しない干渉が引き起こされるとみなされる時間期間であり、t0は測定の瞬間である]。
V_corr_nor=V_corr/V_corr_f
であるイメージ。
−電極の面に対する複数の物体位置について得られる絶対静電容量の実際値、及び
−理想化された電極の面に対する複数の物体位置について得られる確率密度のイメージ
に基づいて非線形回帰を実行することにより多変数非線形予測モデルが決定される。
Claims (25)
- 物体の検出のためにヒューマンマシンインターフェースデバイスに組み込まれた少なくとも2つの独立電極に対する前記物体の絶対容量の測定方法であって、以下のステップ:
a)各電極について、電極と物体との間の絶対静電容量の値が測定されるステップと、
a’)絶対静電容量の実際値に多変数非線形予測モデルを適用することによって予測が行われて確率密度のイメージを得るステップと
を含むことを特徴とし、ここでこれらの確率密度は前記物体の検出に用いられる補正された絶対静電容量値とみなされるものとする、前記測定方法。 - 多変数非線形予測モデルが、以下:
−前記少なくとも2つの電極に対する複数の物体位置について得られる絶対静電容量の実際値と、
−理想化された電極に対する複数の物体位置について得られる確率密度のイメージと
に基づく非線形回帰によって得られることを特徴とする、請求項1に記載の方法。 - ステップa)において、測定された絶対静電容量の値からベクトルVrawが構成され、そしてステップa’)における予測が以下のステップ:
b)少なくともベクトルVrawに第一の非線形変換F2を適用してベクトルX2を得るステップ、
c)アフィン変換を適用してベクトルX2に行列M2を乗じ翻訳ベクトルY02を加算することによってベクトルY2を得るステップ;ここで行列M2は物体の存在下に非規則的な表面の電極上で得られる絶対静電容量の実際値のベクトルと物体の存在下に理想化された電極に対して得られる仮想値のベクトルとの間の転送行列であるものとし、
d)少なくともベクトルY2に第一の非線形変換F2の逆である第二の非線形変換を適用して補正ベクトルV_corrを得るステップ、及び
e)前記物体の検出に絶対静電容量の値として補正ベクトルV_corrを使用するステップ
を含むことを特徴とする、請求項1又は2に記載の方法。 - 関数F2がF2(Vraw)=1/Vrawであることを特徴とする、請求項3に記載の方法。
- 関数F2がF2(Vraw)=1/(Vraw/Vmax+β)[式中、Vmaxは所定の最大電圧であり、βは正の数である]であることを特徴とする、請求項3に記載の方法。
- 関数F2がF2(Vraw)=Vraw/Vmax[式中、Vmaxは所定の最大電圧である]であることを特徴とする、請求項3に記載の方法。
- ステップa)の後、以下のステップ:
−ベクトルVrawの値をフィルタリングしてベクトルVinf_rawを得るステップ、
−ベクトルVinf_rawに非線形変換F1を適用してベクトルX1を得るステップ、
−アフィン変換を適用してベクトルX1に行列M1を乗じ翻訳ベクトルY01を加算することによってベクトルY1を得るステップ;ここで行列M1は、検出物体の非存在下に非規則的な表面の電極上で得られる絶対静電容量の実際値のベクトルと検出物体の非存在下における仮想値のベクトルとの間の転送行列であるものとし、及び
−ベクトルY1に非線形変換F1の逆である非線形変換を適用して補正ベクトルVinf_corrを得るステップ、
−次いで、ステップb)〜e)を実行するステップ;ここで、ステップb)において、非線形変換F2をベクトルVraw及びVinf_rawに適用してVraw及びVinf_rawの関数であるベクトルX2を得;そしてステップd)において、第一の非線形変換F2の逆である第二の非線形変換をベクトルY2及びVinf_corrに適用してY2及びVinf_corrの関数である補正ベクトルV_corrを得るものとする、
が実行されることを特徴とする、請求項3に記載の方法。 - 関数F1がF1(Vraw)=1/Vrawであることを特徴とする、請求項7に記載の方法。
- 関数F1がF1(Vraw)=1/(Vraw/Vmax+β)[式中、Vmaxは所定の最大電圧であり、βは正の数である]であることを特徴とする、請求項7に記載の方法。
- 関数F1がF1(Vraw)=Vraw/Vmax[式中、Vmaxは所定の最大電圧である]であることを特徴とする、請求項7に記載の方法。
- 関数F2がF2(Vraw,Vinf*)=Vraw/Vinf*;Vinf*は、ステップb)における非線形変換のときにVinf_rawに等しく、そしてステップd)における逆非線形変換のときにVinf_corrに等しい、であることを特徴とする、請求項7〜10のいずれか一項に記載の方法。
- 関数F2がF2(Vraw,Vinf*)=1−(Vraw/Vinf*);Vinf*はステップb)における非線形変換のときにVinf_rawに等しく、そしてステップd)における逆非線形変換のときにVinf_corrに等しい、であることを特徴とする、請求項7〜10のいずれか一項に記載の方法。
- ステップe)の間に補正ベクトルV_corrの正規化のステップをさらに含み、その間に以下のステップ:
−補正ベクトルV_corrをフィルタリングしてフィルタリングされたベクトルV_corr_fを得るステップと、
−該フィルタリングされたベクトルV_corr_fを用いて補正ベクトルを正規化して正規化されたベクトルV_corr_norを得るステップと
が実行されることを特徴とする、請求項3〜12のいずれか一項に記載の方法。 - フィルタリングが以下の式:
V(t0)=max{V(t):t∈(−∞,t0)};t0は測定の瞬間であり、V(t)はフィルタリングが適用されるベクトルであり、tは時間インデックスである、
に従って得られることを特徴とする、請求項7〜13のいずれか一項に記載の方法。 - フィルタリングが以下の式:
V(t0)=max{V(t):t∈(t0−ウィンドウサイズ,t0)}[式中、ウィンドウズサイズは自動キャリブレーション窓の時間期間であり、t0は測定の瞬間であり、V(t)はフィルタリングが適用されるベクトルであり、tは時間インデックスである]に従って得られることを特徴とする、請求項7〜13のいずれか一項に記載の方法。 - フィルタリングが、フィルタリングが適用されるベクトルを所定のベクトルに置き換えることによって得られることを特徴とする、請求項7〜13のいずれか一項に記載の方法。
- 行列Mが部分最小二乗法によって得られ、仮想値のベクトルが理想化された電極に対して得られる値のベクトルであることを特徴とする、請求項3〜16のいずれか一項に記載の方法。
- 電極に対する多数の正確な物体の位置から生じる確率密度関数のサンプリングから行列Mが得られ、仮想値のベクトルがその値が存在確率であるベクトルであることを特徴とする、請求項3〜16のいずれか一項に記載の方法。
- 確率密度関数が物体の各水平位置に中心を持った2Dガウス分布であり、その幅が物体の垂直位置に依存しており、このガウス分布が下記式:
Gj(t)=A(z0)*exp[−((xj−xo)2+(yj−yo)2)/σ(zo)2]
[上式中、(xj,yj)は電極を含む検出表面上の規則的なグリッドの座標であり;(xo(t),yo(t),zo(t))は検出表面に最も近い物体のエッジの3D座標であり;A(zo)及びσ(zo)は単調に距離z0に依存する2つの所定の関数であり、A(z)は減少しかつσ(zo)は増加する]
によって定義されることを特徴とする、請求項18に記載の方法。 - 電極が非規則的な表面を有することを特徴とする、前記請求項のいずれか一項に記載の方法。
- −ヒューマンマシンインターフェースデバイスに組み込まれた2つの独立電極と
−電極に対する物体の絶対静電容量を測定することによって該物体の位置を検出するための処理ユニットと
を含む電子装置であって、前記処理ユニットが少なくとも以下のステップ:
a)各電極について、電極と物体との間の絶対静電容量の値が測定されるステップ、
a’)絶対静電容量の実際値に多変数非線形予測モデルを適用することによって予測が行われて確率密度のイメージを得るステップ
を実行するように構成されていることを特徴とし、ここでこれらの確率密度は前記物体の検出に用いられる補正された実際値とみなされるものとする、前記電子装置。 - 多変数非線形予測モデルが、
−前記少なくとも2つの電極に対する複数の物体位置について得られる絶対静電容量の実際値と、
−理想化された電極に対する複数の物体位置について得られる確率密度のイメージと
に基づく非線形回帰によって得られることを特徴とする、請求項21に記載の装置。 - 処理ユニットが、ステップa)において、測定された絶対静電容量の値からベクトルVrawが構成され、そしてステップa’)における予測が以下のステップを実行するように構成されることを特徴とし、前記ステップが、
b)少なくともベクトルVrawに第一の非線形変換F2を適用してベクトルX2を得るステップ、
c)アフィン変換を適用してベクトルX2に行列M2を乗じ翻訳ベクトルY02を加算することによってベクトルY2を得るステップ;ここで行列M2は物体の存在下に非規則的な表面の電極上で得られる絶対静電容量の実際値のベクトルと物体の存在下に理想化された電極に対して得られる仮想値のベクトルとの間の転送行列であるものとし、
d)少なくともベクトルY2に第一の非線形変換F2の逆である第二の非線形変換を適用して補正ベクトルV_corrを得るステップ、及び
e)前記物体の検出に絶対静電容量の値として補正ベクトルV_corrを使用するステップ
を含む、請求項21又は22に記載の装置。 - 電極が錫ドープ酸化インジウムに基づいて設計されることを特徴とする、請求項21〜23のいずれか一項に記載の装置。
- 電極が非規則的な表面を有することを特徴とする、請求項21〜24のいずれか一項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1252271A FR2988175B1 (fr) | 2012-03-13 | 2012-03-13 | Procede de mesure capacitive par des electrodes non-regulieres, et appareil mettant en œuvre un tel procede |
FR1252271 | 2012-03-13 | ||
PCT/EP2013/054729 WO2013135575A1 (fr) | 2012-03-13 | 2013-03-08 | Procede de mesure capacitive par des electrodes non-regulieres, et appareil mettant en oeuvre un tel procede |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015510210A true JP2015510210A (ja) | 2015-04-02 |
JP6231025B2 JP6231025B2 (ja) | 2017-11-15 |
Family
ID=46149633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014561377A Expired - Fee Related JP6231025B2 (ja) | 2012-03-13 | 2013-03-08 | 非規則的な電極による容量の測定方法及びかかる方法を実装する装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9360512B2 (ja) |
EP (1) | EP2724216B1 (ja) |
JP (1) | JP6231025B2 (ja) |
KR (1) | KR101899632B1 (ja) |
CN (1) | CN104246669B (ja) |
FR (1) | FR2988175B1 (ja) |
WO (1) | WO2013135575A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018042720A1 (ja) * | 2016-09-05 | 2018-03-08 | アルプス電気株式会社 | 入力装置、要素データ構成方法及びプログラム |
WO2020202734A1 (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 株式会社ワコム | ペン状態検出回路、システム及び方法 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2988175B1 (fr) | 2012-03-13 | 2014-04-11 | Nanotec Solution | Procede de mesure capacitive par des electrodes non-regulieres, et appareil mettant en œuvre un tel procede |
GB2523077A (en) | 2013-12-23 | 2015-08-19 | Light Blue Optics Ltd | Touch sensing systems |
DE102015106101A1 (de) * | 2015-04-21 | 2016-10-27 | Preh Gmbh | Anordnung zur ortsauflösenden projiziert-kapazitiven Berührdetektion mit verbesserter lokal deformierter Elektrodenstruktur |
US10768746B1 (en) | 2016-05-10 | 2020-09-08 | Apple Inc. | Quasi-continuous-time sampling of discrete-time sampled signals |
EP3486758B1 (en) * | 2016-07-15 | 2023-06-07 | Alps Alpine Co., Ltd. | Input device, image data calculation method, and image data calculation program |
TWM537259U (zh) * | 2016-10-14 | 2017-02-21 | 奕力科技股份有限公司 | 三維觸控裝置 |
US11892487B2 (en) * | 2017-03-23 | 2024-02-06 | Sensor Holdings Limited | Sensing over a shared physical channel |
CN107643846A (zh) * | 2017-08-18 | 2018-01-30 | 深圳天珑无线科技有限公司 | 一种触控oled设备 |
WO2019044492A1 (ja) * | 2017-08-29 | 2019-03-07 | アルプスアルパイン株式会社 | 入力装置 |
CN110031883B (zh) * | 2019-03-05 | 2022-06-07 | 中国辐射防护研究院 | 一种基于无线电容式高电离辐射剂量传感器 |
CN111522469B (zh) * | 2020-05-06 | 2021-08-20 | 北京集创北方科技股份有限公司 | 触摸电容数据的调整方法及装置、电子设备、存储介质 |
CN114778948A (zh) * | 2022-06-17 | 2022-07-22 | 中铁大桥科学研究院有限公司 | 动水隧道岩体电阻率监测方法及相关设备 |
CN117217160B (zh) * | 2023-11-07 | 2024-04-09 | 杭州行芯科技有限公司 | 交叠结构的电容库创建方法、电容获取方法、设备及介质 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011005977A2 (en) * | 2009-07-10 | 2011-01-13 | Apple Inc. | Touch and hover sensing |
EP2381344A2 (en) * | 2009-01-21 | 2011-10-26 | LG Innotek Co., Ltd. | Input apparatus |
JP2012014500A (ja) * | 2010-07-01 | 2012-01-19 | Alpine Electronics Inc | 電子機器及びタッチパネルの校正方法 |
Family Cites Families (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1059203A (fr) | 1952-06-24 | 1954-03-23 | Tâteur de trame | |
US5483261A (en) | 1992-02-14 | 1996-01-09 | Itu Research, Inc. | Graphical input controller and method with rear screen image detection |
US5488204A (en) | 1992-06-08 | 1996-01-30 | Synaptics, Incorporated | Paintbrush stylus for capacitive touch sensor pad |
US5880411A (en) | 1992-06-08 | 1999-03-09 | Synaptics, Incorporated | Object position detector with edge motion feature and gesture recognition |
GB9406702D0 (en) | 1994-04-05 | 1994-05-25 | Binstead Ronald P | Multiple input proximity detector and touchpad system |
US5825352A (en) | 1996-01-04 | 1998-10-20 | Logitech, Inc. | Multiple fingers contact sensing method for emulating mouse buttons and mouse operations on a touch sensor pad |
US5835079A (en) | 1996-06-13 | 1998-11-10 | International Business Machines Corporation | Virtual pointing device for touchscreens |
FR2756048B1 (fr) | 1996-11-15 | 1999-02-12 | Nanotec Ingenierie | Pont de mesure capacitif flottant et systeme de mesure multi-capacitif associe |
US6310610B1 (en) | 1997-12-04 | 2001-10-30 | Nortel Networks Limited | Intelligent touch display |
US7663607B2 (en) | 2004-05-06 | 2010-02-16 | Apple Inc. | Multipoint touchscreen |
US8479122B2 (en) | 2004-07-30 | 2013-07-02 | Apple Inc. | Gestures for touch sensitive input devices |
KR100595925B1 (ko) | 1998-01-26 | 2006-07-05 | 웨인 웨스터만 | 수동 입력 통합 방법 및 장치 |
US6188391B1 (en) | 1998-07-09 | 2001-02-13 | Synaptics, Inc. | Two-layer capacitive touchpad and method of making same |
JP4542637B2 (ja) | 1998-11-25 | 2010-09-15 | セイコーエプソン株式会社 | 携帯情報機器及び情報記憶媒体 |
US6348862B1 (en) * | 1999-03-05 | 2002-02-19 | Automotive Systems Laboratory, Inc. | Proximity sensor |
US6847354B2 (en) | 2000-03-23 | 2005-01-25 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Three dimensional interactive display |
JP3800984B2 (ja) | 2001-05-21 | 2006-07-26 | ソニー株式会社 | ユーザ入力装置 |
JP2003173237A (ja) | 2001-09-28 | 2003-06-20 | Ricoh Co Ltd | 情報入出力システム、プログラム及び記憶媒体 |
US6690387B2 (en) | 2001-12-28 | 2004-02-10 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Touch-screen image scrolling system and method |
US20030132922A1 (en) * | 2002-01-17 | 2003-07-17 | Harald Philipp | Touch screen detection apparatus |
US11275405B2 (en) | 2005-03-04 | 2022-03-15 | Apple Inc. | Multi-functional hand-held device |
FR2844048B1 (fr) | 2002-08-30 | 2005-09-30 | Nanotec Solution | Systeme et procede de mesure sans contact d'un deplacement ou positionnement relatif de deux objets adjacents par voie capacitive, et application au controle de miroirs |
FR2844349B1 (fr) | 2002-09-06 | 2005-06-24 | Nanotec Solution | Detecteur de proximite par capteur capacitif |
FR2863070B1 (fr) * | 2003-12-02 | 2006-03-03 | Sensitive Object | Procede et dispositif d'interface homme - machine |
FR2884349B1 (fr) | 2005-04-06 | 2007-05-18 | Moving Magnet Tech Mmt | Actionneur electromagnetique polarise bistable a actionnement rapide |
FR2888319B1 (fr) | 2005-07-07 | 2008-02-15 | Nanotec Solution Soc Civ Ile | Procede de mesure sans contact d'un deplacement relatif ou d'un positionnement relatif d'un premier objet par rapport a un second objet, par voie inductive. |
FR2893711B1 (fr) | 2005-11-24 | 2008-01-25 | Nanotec Solution Soc Civ Ile | Dispositif et procede de mesure capacitive par pont flottant |
FR2903207B1 (fr) | 2006-06-28 | 2008-11-07 | Jazzmutant Soc Par Actions Sim | Capteur tactile multipoint a matrice active |
CN101101526A (zh) * | 2006-07-07 | 2008-01-09 | 上海晨兴电子科技有限公司 | 触摸感应键盘功能的构件 |
KR101237640B1 (ko) | 2008-01-29 | 2013-02-27 | (주)멜파스 | 기생 캐패시턴스 방지 구조를 구비한 터치스크린 장치 |
US8300019B2 (en) * | 2008-07-15 | 2012-10-30 | Apple Inc. | Capacitive sensor coupling correction |
JP2010061405A (ja) | 2008-09-03 | 2010-03-18 | Rohm Co Ltd | 静電容量センサ、その検出回路、入力装置および容量センサの制御方法 |
GB0913734D0 (en) | 2009-08-06 | 2009-09-16 | Binstead Ronald P | Masked touch sensors |
FR2949008B1 (fr) | 2009-08-07 | 2011-09-16 | Nanotec Solution | Dispositif de detection capacitif a integration de fonctions. |
FR2948997B1 (fr) | 2009-08-07 | 2012-04-20 | Nanotec Solution | Capteur de pression capacitif integrant une mesure de temperature compatible avec les milieux chauds. |
FR2949007B1 (fr) | 2009-08-07 | 2012-06-08 | Nanotec Solution | Dispositif et procede d'interface de commande sensible a un mouvement d'un corps ou d'un objet et equipement de commande integrant ce dispositif. |
CN201570006U (zh) * | 2009-10-23 | 2010-09-01 | 深圳市汇顶科技有限公司 | 一种电容式感应设备和具有触摸功能的电子装置 |
TW201124766A (en) | 2010-01-08 | 2011-07-16 | Wintek Corp | Display device with touch panel |
US8791707B2 (en) * | 2010-07-19 | 2014-07-29 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Concentric coplanar capacitive sensor system with quantitative model |
US8923014B2 (en) * | 2010-08-19 | 2014-12-30 | Lg Display Co., Ltd. | Display device having touch panel |
US9459736B2 (en) * | 2010-10-12 | 2016-10-04 | Parade Technologies, Ltd. | Flexible capacitive sensor array |
US8884916B2 (en) * | 2010-12-09 | 2014-11-11 | Synaptics Incorporated | System and method for determining user input using polygons |
US8692794B2 (en) * | 2011-01-25 | 2014-04-08 | Synaptics Incorporated | Input device transmitter path error diagnosis |
FR2971066B1 (fr) | 2011-01-31 | 2013-08-23 | Nanotec Solution | Interface homme-machine tridimensionnelle. |
KR20130057637A (ko) | 2011-11-24 | 2013-06-03 | 삼성전기주식회사 | 접촉 감지 장치 |
FR2988175B1 (fr) * | 2012-03-13 | 2014-04-11 | Nanotec Solution | Procede de mesure capacitive par des electrodes non-regulieres, et appareil mettant en œuvre un tel procede |
FR2990020B1 (fr) | 2012-04-25 | 2014-05-16 | Fogale Nanotech | Dispositif de detection capacitive avec arrangement de pistes de liaison, et procede mettant en oeuvre un tel dispositif. |
US9411474B2 (en) | 2012-11-15 | 2016-08-09 | Nokia Technologies Oy | Shield electrode overlying portions of capacitive sensor electrodes |
-
2012
- 2012-03-13 FR FR1252271A patent/FR2988175B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-03-08 EP EP13714869.8A patent/EP2724216B1/fr not_active Not-in-force
- 2013-03-08 WO PCT/EP2013/054729 patent/WO2013135575A1/fr active Application Filing
- 2013-03-08 CN CN201380013800.0A patent/CN104246669B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2013-03-08 JP JP2014561377A patent/JP6231025B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-03-08 US US14/347,070 patent/US9360512B2/en active Active
- 2013-03-08 KR KR1020147026220A patent/KR101899632B1/ko active IP Right Grant
-
2016
- 2016-06-06 US US15/174,908 patent/US10949036B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2381344A2 (en) * | 2009-01-21 | 2011-10-26 | LG Innotek Co., Ltd. | Input apparatus |
WO2011005977A2 (en) * | 2009-07-10 | 2011-01-13 | Apple Inc. | Touch and hover sensing |
JP2012533122A (ja) * | 2009-07-10 | 2012-12-20 | アップル インコーポレイテッド | タッチ及びホバー感知 |
JP2012014500A (ja) * | 2010-07-01 | 2012-01-19 | Alpine Electronics Inc | 電子機器及びタッチパネルの校正方法 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018042720A1 (ja) * | 2016-09-05 | 2018-03-08 | アルプス電気株式会社 | 入力装置、要素データ構成方法及びプログラム |
JPWO2018042720A1 (ja) * | 2016-09-05 | 2019-06-24 | アルプスアルパイン株式会社 | 入力装置、要素データ構成方法及びプログラム |
US10761666B2 (en) | 2016-09-05 | 2020-09-01 | Alps Alpine Co., Ltd. | Input device, element data generation method, and storage medium |
WO2020202734A1 (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 株式会社ワコム | ペン状態検出回路、システム及び方法 |
WO2020202352A1 (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 株式会社ワコム | ペン状態検出回路及びペン状態検出方法 |
JPWO2020202734A1 (ja) * | 2019-03-29 | 2021-11-25 | 株式会社ワコム | ペン状態検出回路、システム及び方法 |
US11604521B2 (en) | 2019-03-29 | 2023-03-14 | Wacom Co., Ltd. | Pen state detection circuit, system, and method |
JP7277567B2 (ja) | 2019-03-29 | 2023-05-19 | 株式会社ワコム | ペン状態検出回路、システム及び方法 |
US11841999B2 (en) | 2019-03-29 | 2023-12-12 | Wacom Co., Ltd. | Pen state detection circuit, system, and method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101899632B1 (ko) | 2018-09-17 |
KR20140138750A (ko) | 2014-12-04 |
FR2988175B1 (fr) | 2014-04-11 |
US10949036B2 (en) | 2021-03-16 |
CN104246669B (zh) | 2018-02-13 |
EP2724216A1 (fr) | 2014-04-30 |
US20140379287A1 (en) | 2014-12-25 |
JP6231025B2 (ja) | 2017-11-15 |
CN104246669A (zh) | 2014-12-24 |
US9360512B2 (en) | 2016-06-07 |
WO2013135575A1 (fr) | 2013-09-19 |
US20170031519A1 (en) | 2017-02-02 |
FR2988175A1 (fr) | 2013-09-20 |
EP2724216B1 (fr) | 2015-08-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6231025B2 (ja) | 非規則的な電極による容量の測定方法及びかかる方法を実装する装置 | |
JP6873124B2 (ja) | タッチスクリーンパネルからの信号の処理 | |
US20150179122A1 (en) | Discriminative capacitive touch panel | |
US8618428B2 (en) | System and method for determining object information using an estimated rigid motion response | |
US10048801B2 (en) | Adaptive mechanical change compensation for force detector | |
US10394364B2 (en) | Touch pressure sensitivity correction method and computer-readable recording medium | |
US11175822B2 (en) | Touchscreen with group filtering | |
US10061437B2 (en) | Active canceling of display noise in simultaneous display and touch sensing using an impulse response | |
WO2014039559A1 (en) | Systems and methods for reducing effects of interference in input devices | |
US9645670B2 (en) | Sensing frame averaging for cancelling display noise in simultaneous display and touch sensing | |
TW201314540A (zh) | 應用於表面電容式觸控面板之多點觸控偵測系統及方法 | |
US20140146006A1 (en) | Method for detecting an object of interest in a disturbed environment, and gesture interface device implementing said method | |
KR101762278B1 (ko) | 터치 압력 감도 보정 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 | |
US10088942B2 (en) | Per-finger force detection using segmented sensor electrodes | |
US10108303B2 (en) | Combining trans-capacitance data with absolute-capacitance data for touch force estimates | |
KR20170020837A (ko) | 터치 압력을 감지하는 터치 입력 장치의 감도 보정 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 | |
CN106484179B (zh) | 估计由输入物体对触摸传感器所施加的力 | |
US20110153243A1 (en) | Elastive sensing | |
US20160077634A1 (en) | Compensation for variations in a capacitive sense matrix |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160308 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20160308 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161219 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161221 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20170315 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20170519 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170607 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20171002 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171018 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6231025 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |