JP2015196124A - Roll sponge holder, manufacturing method of roll sponge, substrate cleaning device, and substrate processing apparatus - Google Patents

Roll sponge holder, manufacturing method of roll sponge, substrate cleaning device, and substrate processing apparatus Download PDF

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俊一 河原
Shunichi Kawahara
俊一 河原
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sponge holder which enables a sponge body to be easily inserted therethrough without causing deformation of the sponge body and the occurrence of foreign objects.SOLUTION: A roll sponge 51 comprises: a sponge body 60; and a sponge holder 61. The sponge holder 61 includes: an inner core 63; an outer core 64; and holding members 65. Each holding member 65 is disposed between the sponge body and the inner core and may move between a holding position where the holding member 65 presses the sponge body 60 from the inner side to hold the sponge body 60 and a release position where the holding member 65 releases the sponge body 60. The holding member 65 includes: a taper shaped engagement part 65b which contacts with an outer periphery part of the inner core 63; and a fastening part 65a which presses the sponge body 60 from the inner side at the holding position. When the inner core 63 rotates to push up the engagement part 65b, the holding member 65 moves to the holding position.

Description

本発明は、ロールスポンジを製造するためのロールスポンジホルダー、ロールスポンジの製造方法と、このロールスポンジを用いた基板洗浄装置及び基板処理装置に関するものである。   The present invention relates to a roll sponge holder for manufacturing a roll sponge, a method for manufacturing the roll sponge, and a substrate cleaning apparatus and a substrate processing apparatus using the roll sponge.

半導体ウエハの表面をスクラブ洗浄するためにロールスポンジが用いられるが、このようなロールスポンジは、円筒状のスポンジ体を回転軸に固着することで製造される。ここで、スポンジ体を固着する際に、スポンジ体を無理に回転軸に押し込んでしまうと、スポンジ体に過大な応力が加わってよじれが発生してしまい、これは洗浄性能の低下につながってしまう。   A roll sponge is used for scrub cleaning the surface of a semiconductor wafer. Such a roll sponge is manufactured by fixing a cylindrical sponge body to a rotating shaft. Here, if the sponge body is forcibly pushed into the rotating shaft when the sponge body is fixed, excessive stress is applied to the sponge body and kinking occurs, which leads to a decrease in cleaning performance. .

そこで、特許文献1に記載のロールスポンジでは、湿潤状態と乾燥状態との間で可逆的な材料にてスポンジ体を形成し、スポンジ体を乾燥状態にして剛性を高め、回転軸を挿通させた後に湿潤状態に戻すことで、スポンジ体を回転軸に固着させている。   Therefore, in the roll sponge described in Patent Document 1, a sponge body is formed of a reversible material between a wet state and a dry state, the sponge body is dried to increase rigidity, and the rotating shaft is inserted. The sponge body is fixed to the rotating shaft by returning to a wet state later.

特許第3844635号公報Japanese Patent No. 3844635

上記特許文献1に記載の技術によれば、回転軸を挿通させる際にスポンジ体が変形するおそれはないものの、剛性を高めるためにスポンジ体を乾燥させる必要があり、その際にスポンジ体の表面状態に変化が起こるため、スポンジ体からの異物の発生が高くなるおそれがある。その結果、スポンジ体から異物が流出しやすくなり、洗浄性能の低下につながってしまう。   According to the technique described in Patent Document 1, although there is no possibility that the sponge body is deformed when the rotating shaft is inserted, it is necessary to dry the sponge body in order to increase rigidity. Since the state changes, the generation of foreign matter from the sponge body may be increased. As a result, foreign matters are likely to flow out from the sponge body, leading to a reduction in cleaning performance.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、スポンジ体の変形や異物の発生を生じさせることなく、容易にスポンジ体を挿通させることが可能なロールスポンジホルダー及びロールスポンジの製造方法、並びにこのロールスポンジを備えた基板洗浄装置及び基板処理装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, a roll sponge holder capable of easily inserting a sponge body without causing deformation of the sponge body and generation of foreign matter, a method of manufacturing a roll sponge, and It is an object of the present invention to provide a substrate cleaning apparatus and a substrate processing apparatus provided with this roll sponge.

本発明の一実施形態に係るロールスポンジホルダーは、円筒状のスポンジ体を保持するものであって、内芯と、前記スポンジ体と前記内芯との間に配置され、前記スポンジ体を内側から押圧して前記スポンジ体を保持する保持位置と、前記スポンジ体を解放する解放位置との間で移動可能な保持部材と、前記スポンジ体を前記保持位置と前記解放位置との間で移動させる移動機構とを有することを特徴とする。   A roll sponge holder according to an embodiment of the present invention holds a cylindrical sponge body, and is disposed between an inner core and the sponge body and the inner core, and the sponge body is viewed from the inside. A holding member that can be moved between a holding position that presses and holds the sponge body and a release position that releases the sponge body, and a movement that moves the sponge body between the holding position and the release position. And a mechanism.

この構成により、保持位置と解放位置移動自在の保持部材を設けて、スポンジ体を内側から押圧してこれを保持することができ、スポンジ体の変形や異物の発生を生じさせることなく、容易にスポンジ体を挿通させることが可能となる。   With this configuration, it is possible to provide a holding member that can move the holding position and the release position and press the sponge body from the inside to hold it, easily without causing deformation of the sponge body or generation of foreign matter. It becomes possible to insert the sponge body.

上記構成のロールスポンジホルダーにおいて、前記保持部材は、前記内芯の外周部と当接するテーパ状の係合部と、前記保持位置において前記スポンジ体を内側から押圧する固着部とを有し、前記内芯の回転により前記係合部が押し上げられて前記保持部材が前記保持位置に移動する。この構成により、簡素な構成で、確実にスポンジ体を内側から固定することが可能となる。   In the roll sponge holder configured as described above, the holding member includes a tapered engaging portion that comes into contact with an outer peripheral portion of the inner core, and a fixing portion that presses the sponge body from the inside at the holding position, The engaging portion is pushed up by the rotation of the inner core, and the holding member moves to the holding position. With this configuration, the sponge body can be reliably fixed from the inside with a simple configuration.

また、本発明の一実施形態に係るロールスポンジホルダーは、前記スポンジ体と前記内芯との間の位置に取り付けられ、前記解放位置にある前記保持部材を支持する外芯を備えたことを特徴とする。この構成により、スポンジ体に接触することなく、確実に保持部材を組み付けることができる。 The roll sponge holder according to an embodiment of the present invention includes an outer core that is attached to a position between the sponge body and the inner core and supports the holding member in the release position. And With this configuration, the holding member can be reliably assembled without contacting the sponge body.

本発明の一実施形態に係るロールスポンジの製造方法は、円筒状のスポンジ体の内側に内芯を挿入し、前記スポンジ体と前記内芯との間の位置に外芯を挿入し、前記外芯に支持され、前記スポンジ体と接触しない解放位置に保持部材を挿入し、 前記内芯を回転させて、前記保持部材を外径方向に押し上げて前記スポンジ体を内側から押圧する保持位置に移動させることを特徴とする。この構成によっても、スポンジ体の変形や異物の発生を生じさせることなく、容易にスポンジ体を挿通させることが可能となる。   In the roll sponge manufacturing method according to an embodiment of the present invention, an inner core is inserted inside a cylindrical sponge body, an outer core is inserted at a position between the sponge body and the inner core, and the outer sponge is inserted. The holding member is inserted into a release position that is supported by the core and does not come into contact with the sponge body, the inner core is rotated, the holding member is pushed up in the outer diameter direction, and moved to the holding position where the sponge body is pressed from the inside. It is characterized by making it. Also with this configuration, the sponge body can be easily inserted without causing deformation of the sponge body or generation of foreign matter.

本発明の一実施形態に係るロールスポンジホルダーにスポンジ部材を取り付けたロールスポンジは、基板洗浄装置に用いることができる。この基板洗浄装置は、当該ロールスポンジと、前記ロールスポンジを基板に当接する位置に移動させるとともに前記ロールスポンジを回転させる駆動機構と、前記基板に洗浄液を供給する液体供給部とを備えることが好ましい。この基板洗浄装置と、半導体基板を研磨する研磨装置とを備えた半導体製造装置とすることが好ましい。   A roll sponge in which a sponge member is attached to a roll sponge holder according to an embodiment of the present invention can be used in a substrate cleaning apparatus. The substrate cleaning apparatus preferably includes the roll sponge, a drive mechanism that moves the roll sponge to a position where the roll sponge contacts the substrate and rotates the roll sponge, and a liquid supply unit that supplies a cleaning liquid to the substrate. . A semiconductor manufacturing apparatus including this substrate cleaning apparatus and a polishing apparatus for polishing a semiconductor substrate is preferable.

本発明によれば、保持位置と解放位置に移動自在の保持部材によって、スポンジ体を内側から押圧してこれを保持するようにしたため、スポンジ体の変形や異物の発生を生じさせることなく、容易にスポンジ体を挿通させることが可能となる。   According to the present invention, since the sponge body is pressed from the inside by the holding member movable to the holding position and the release position and held, the sponge body is easily deformed without causing deformation of the sponge body or generation of foreign matter. It is possible to insert the sponge body into the.

本発明の一実施形態に係るロールスポンジを備えた基板処理装置の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the substrate processing apparatus provided with the roll sponge which concerns on one Embodiment of this invention. 洗浄ラインの一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of a washing line. 洗浄モジュールの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of a washing | cleaning module. 解放状態におけるロールスポンジの断面図であり、(A)は径方向の断面図、(B)はA−A線に沿った長手方向の断面図である。It is sectional drawing of the roll sponge in a release state, (A) is sectional drawing of radial direction, (B) is sectional drawing of the longitudinal direction along the AA line. 固定状態におけるロールスポンジの断面図であり、(A)は径方向の断面図、(B)はB−B線に沿った長手方向の断面図である。It is sectional drawing of the roll sponge in a fixed state, (A) is sectional drawing of radial direction, (B) is sectional drawing of the longitudinal direction along the BB line. ロールスポンジの製造工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing process of roll sponge.

以下、本発明に係るロールスポンジを備えた基板処理装置の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、同一または相当する構成要素には、同一の符号を付して重複した説明を省略する。   Hereinafter, embodiments of a substrate processing apparatus provided with a roll sponge according to the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component which is the same or it corresponds, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

図1は、基板処理装置の全体構成を示す平面図であり、基板処理装置は、ロード/アンロード部12、研磨部13と、洗浄部14とに区画されており、これらは矩形状のハウジング11の内部に設けられている。また、基板処理装置は、基板処理の動作制御を行う制御部15を有している。   FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of a substrate processing apparatus. The substrate processing apparatus is divided into a load / unload unit 12, a polishing unit 13, and a cleaning unit 14, which are rectangular housings. 11 is provided. Further, the substrate processing apparatus includes a control unit 15 that controls the operation of the substrate processing.

ロード/アンロード部12は、複数のフロントロード部20と、走行機構21と、2台の搬送ロボット22を備えている。フロントロード部20には、多数のウエハ(基板)をストックするウエハカセットが載置される。搬送ロボット22は、上下に2つのハンドを備えており、走行機構21上を移動することで、フロントロード部20内のウエハカセットからウエハWを取り出して研磨部13へ送るとともに、洗浄部14から送られる処理済みのウエハをウエハカセットに戻す動作を行う。   The load / unload unit 12 includes a plurality of front load units 20, a travel mechanism 21, and two transfer robots 22. A wafer cassette for stocking a large number of wafers (substrates) is placed on the front load unit 20. The transfer robot 22 has two hands on the upper and lower sides, and moves on the traveling mechanism 21 to take out the wafer W from the wafer cassette in the front load unit 20 and send it to the polishing unit 13 and from the cleaning unit 14. An operation of returning the processed wafer to be sent back to the wafer cassette is performed.

研磨部13は、ウエハの研磨(平坦化処理)を行う領域であり、複数の(図1では4つの)研磨ユニット13A〜13Dが設けられ、基板処理装置の長手方向に沿って配列されている。ウエハWは、これら研磨ユニット13A〜13Dのいずれかで研磨されても良く、または予め選択された複数の研磨ユニットで連続的に研磨されても良い。   The polishing unit 13 is a region for polishing (planarizing) a wafer, and a plurality of (four in FIG. 1) polishing units 13A to 13D are provided and arranged along the longitudinal direction of the substrate processing apparatus. . The wafer W may be polished by any of these polishing units 13A to 13D, or may be continuously polished by a plurality of preselected polishing units.

個々の研磨ユニットは、研磨面を有する研磨パッドが取り付けられた研磨テーブル30と、研磨テーブル30上のウエハを研磨パッドに押圧しながら研磨するためのトップリング31と、研磨パッドに研磨液やドレッシング液を供給する研磨液供給ノズル32と、研磨パッドの研磨面のドレッシングを行うドレッサ33と、液体と気体の混合流体または霧状の液体を研磨面に噴射して研磨面に残留する研磨屑や砥粒を洗い流すアトマイザ34を備えている。また、各研磨ユニットには、図示しないセンサ(例えば、光学センサ、渦電流センサ)が設けられ、制御部15は、このセンサから信号からモニタリング信号を生成し、研磨中のウエハWの研磨状況を監視する。   Each polishing unit includes a polishing table 30 to which a polishing pad having a polishing surface is attached, a top ring 31 for polishing while pressing a wafer on the polishing table 30 against the polishing pad, and a polishing liquid or dressing on the polishing pad. A polishing liquid supply nozzle 32 for supplying a liquid, a dresser 33 for dressing the polishing surface of the polishing pad, a polishing waste remaining on the polishing surface by spraying a liquid-gas mixed fluid or a mist-like liquid onto the polishing surface An atomizer 34 for washing away the abrasive grains is provided. Each polishing unit is provided with a sensor (not shown) (for example, an optical sensor or an eddy current sensor). The control unit 15 generates a monitoring signal from the signal from the sensor, and indicates the polishing status of the wafer W being polished. Monitor.

研磨部13と洗浄部14との間には、ウエハWを搬送する搬送機構として、第1,第2リニアトランスポータ16,17が設けられている。第1リニアトランスポータ16は、ロード/アンロード部12からウエハWを受け取る第1位置、研磨ユニット13A,13Bとの間でウエハWの受け渡しを行う第2,第3位置、第2リニアトランスポータ17へウエハWを受け渡すための第4位置との間で移動自在とされている。   Between the polishing unit 13 and the cleaning unit 14, first and second linear transporters 16 and 17 are provided as transfer mechanisms for transferring the wafer W. The first linear transporter 16 has a first position for receiving the wafer W from the load / unload unit 12, second and third positions for transferring the wafer W between the polishing units 13A and 13B, and a second linear transporter. It is possible to move between a fourth position for delivering the wafer W to 17.

第2リニアトランスポータ17は、第1リニアトランスポータ16からウエハWを受け取るための第5位置、研磨ユニット13C,13Dとの間でウエハWの受け渡しを行う第6,第7位置との間で移動自在とされている。これらトランスポータ16,17の間には、ウエハWを洗浄部へ送るためのスイングトランスポータ35が備えられている。   The second linear transporter 17 is between the fifth position for receiving the wafer W from the first linear transporter 16 and the sixth and seventh positions for transferring the wafer W between the polishing units 13C and 13D. It is supposed to be movable. Between these transporters 16 and 17, a swing transporter 35 for sending the wafer W to the cleaning unit is provided.

図2に示すように、洗浄部14は、2台の一次洗浄モジュール40A,40B、2台の二次洗浄モジュール41A,41B、2台の乾燥モジュール42A,42Bと、これらモジュールの間でウエハの受け渡しを行うための搬送ロボット43,44を備えており、複数のウエハWに対して同時に、洗浄及び乾燥工程を行うことができる。なお、一次洗浄モジュール、二次洗浄モジュール及び乾燥モジュールの台数は2台に限られず、1台でも良いし、3台以上であっても良い。   As shown in FIG. 2, the cleaning unit 14 includes two primary cleaning modules 40A and 40B, two secondary cleaning modules 41A and 41B, two drying modules 42A and 42B, and the wafers between these modules. Transport robots 43 and 44 for delivery are provided, and a plurality of wafers W can be simultaneously subjected to cleaning and drying processes. The number of primary cleaning modules, secondary cleaning modules, and drying modules is not limited to two, and may be one or three or more.

図3は、一次洗浄モジュール40Aの構成を示す斜視図である。なお、本実施形態では、一次洗浄モジュール40A,40B及び二次洗浄モジュール41A,41Bはいずれも同じ構成を備えており、ここでは一次洗浄モジュール40Aを例にして説明する。   FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of the primary cleaning module 40A. In this embodiment, the primary cleaning modules 40A and 40B and the secondary cleaning modules 41A and 41B all have the same configuration, and here, the primary cleaning module 40A will be described as an example.

一次洗浄モジュール40Aは、ウエハWを保持して回転させる4つのローラ50A〜50Dと、ウエハWの上下面に接触するロールスポンジ(洗浄具)51,52と、これらロールスポンジ51,52を回転させる回転機構53,54と、ウエハの上下面及びロールスポンジ内部に洗浄液(例えば純水)及びエッチング液(薬液)を供給する液体供給部55、56とを備えている。   The primary cleaning module 40 </ b> A holds four rollers 50 </ b> A to 50 </ b> D that hold and rotate the wafer W, roll sponges (cleaning tools) 51 and 52 that contact the upper and lower surfaces of the wafer W, and rotate these roll sponges 51 and 52. Rotating mechanisms 53 and 54, and liquid supply portions 55 and 56 for supplying a cleaning liquid (for example, pure water) and an etching liquid (chemical solution) to the upper and lower surfaces of the wafer and the inside of the roll sponge are provided.

上側のロールスポンジ51を回転させる回転機構53は、その上下方向の動きをガイドするガイドレール57に取り付けられており、昇降駆動機構58によりガイドレール57に沿って上下方向に移動可能とされている。なお、図示は省略するが、下側のロールスポンジ52についても、同様の昇降駆動機構及びガイドレールが設けられている。   The rotating mechanism 53 that rotates the upper roll sponge 51 is attached to a guide rail 57 that guides its vertical movement, and can be moved in the vertical direction along the guide rail 57 by the lifting drive mechanism 58. . Although not shown, the lower roll sponge 52 is also provided with a similar lifting drive mechanism and guide rail.

ウエハWの搬出入時には、ロールスポンジ51,52は互いに離間した位置にあり、ウエハWの洗浄時には、ロールスポンジ51,52が互いに近接する方向に移動してウエハWの上下面に接触する。ロールスポンジ51,52によるウエハWへの押圧力は、昇降駆動機構58によって調整される。   When the wafer W is carried in and out, the roll sponges 51 and 52 are at positions separated from each other, and when the wafer W is cleaned, the roll sponges 51 and 52 move in a direction close to each other and come into contact with the upper and lower surfaces of the wafer W. The pressing force applied to the wafer W by the roll sponges 51 and 52 is adjusted by the lift drive mechanism 58.

図4は、ロールスポンジ51の断面図であり、図4(A)は径方向の断面図、図4(B)は図4(A)のA−A線に沿った長手方向の断面図である。本実施形態では、ロールスポンジ51,52の構成は同一であり、ここでは、上側のロールスポンジ51を例にして説明する。ロールスポンジ51は、中空円筒状のスポンジ体60と、このスポンジ体60を内側から固定するためのスポンジホルダー61とを備えている。   4 is a cross-sectional view of the roll sponge 51, FIG. 4 (A) is a cross-sectional view in the radial direction, and FIG. 4 (B) is a cross-sectional view in the longitudinal direction along the line AA in FIG. 4 (A). is there. In this embodiment, the configurations of the roll sponges 51 and 52 are the same. Here, the upper roll sponge 51 will be described as an example. The roll sponge 51 includes a hollow cylindrical sponge body 60 and a sponge holder 61 for fixing the sponge body 60 from the inside.

本実施例において、スポンジ体60は、PVA(ポリビニルアルコール)を原料として一体成型されており、また、本実施例では図示を省略しているが、スポンジ体60の外周面には複数の突起が設けられている。また、スポンジ体60の材料としては、ウエハWの表面に傷を付けるおそれがないものであればPVAに限られることはなく、例えば、PVAt(ポリビニルアセタール)、PVF(ポリビニルホルマール)、ポリウレタンや発泡塩化ビニルを用いても良い。   In this embodiment, the sponge body 60 is integrally molded using PVA (polyvinyl alcohol) as a raw material. Although not shown in the present embodiment, a plurality of protrusions are formed on the outer peripheral surface of the sponge body 60. Is provided. The material of the sponge body 60 is not limited to PVA as long as there is no risk of scratching the surface of the wafer W. For example, PVAt (polyvinyl acetal), PVF (polyvinyl formal), polyurethane or foam Vinyl chloride may be used.

スポンジホルダー61は、内芯63、外芯64、保持部材65を備えており、これらはPTFE(ポリテトラフルオロエチレン)等のフッ素樹脂から構成されている。なお、スポンジホルダー61の材質としては、スポンジ体60を支持することが可能な程度の硬度を有しており、洗浄時の回転によるねじれや摩擦に耐えられるものであれば特に限定はなく、例えば硬質プラスチック、SUS材、塩化ビニルから構成することができる。また、本実施形態では、内芯63、外芯64、保持部材65の全てを同じ材料で構成しているが、異なる材料から構成しても良い。   The sponge holder 61 includes an inner core 63, an outer core 64, and a holding member 65, which are made of a fluororesin such as PTFE (polytetrafluoroethylene). The material of the sponge holder 61 is not particularly limited as long as it has a hardness that can support the sponge body 60 and can withstand twisting and friction caused by rotation during cleaning. It can be composed of hard plastic, SUS material, or vinyl chloride. In the present embodiment, the inner core 63, the outer core 64, and the holding member 65 are all made of the same material, but may be made of different materials.

内芯63は、中空円筒状の形状を有しており、複数の(本実施例では4つの)セグメントに分割されている。内芯63は、その一端が回転機構53に取り付けられ、回転機構53の駆動に連動して内芯63が回転する。内芯63の他端には、液体供給部55が接続されており、洗浄液及びエッチング液が内芯63の中空部に供給される。また、内芯63には、径方向に貫通する複数の通液穴が形成されており、内芯63の回転に伴い、液体供給部55から供給された液体(洗浄液及びエッチング液)が通液穴を介してスポンジ体60に供給される。   The inner core 63 has a hollow cylindrical shape and is divided into a plurality of (four in this embodiment) segments. One end of the inner core 63 is attached to the rotation mechanism 53, and the inner core 63 rotates in conjunction with driving of the rotation mechanism 53. A liquid supply unit 55 is connected to the other end of the inner core 63, and a cleaning solution and an etching solution are supplied to the hollow portion of the inner core 63. Further, the inner core 63 is formed with a plurality of liquid passage holes penetrating in the radial direction, and liquids (cleaning liquid and etching liquid) supplied from the liquid supply unit 55 along with the rotation of the inner core 63 pass therethrough. It is supplied to the sponge body 60 through the hole.

外芯64は、中空円筒状の形状を有しており、複数の(本実施例では4つの)セグメントに分割されている。外芯64の内径は、内芯63の外径とほぼ同じか、それより大きくされており、外芯64が内芯63の外周を覆うように内芯63に組み付けられる。また、外芯64の外径は、円筒状のスポンジ体60の内径よりも小さくなるように定められており、外芯64を組み付ける際にスポンジ体60に応力がかかることはない。   The outer core 64 has a hollow cylindrical shape and is divided into a plurality of (four in this embodiment) segments. The inner diameter of the outer core 64 is substantially the same as or larger than the outer diameter of the inner core 63, and the outer core 64 is assembled to the inner core 63 so as to cover the outer periphery of the inner core 63. Further, the outer diameter of the outer core 64 is determined to be smaller than the inner diameter of the cylindrical sponge body 60, and no stress is applied to the sponge body 60 when the outer core 64 is assembled.

保持部材65は、スポンジ体60を内芯63に固着するための部材であり、外側の略扇形状の固着部65aと、内側の略三角形状の係合部65bとが一体成型されている。本実施例では、4つの保持部材65が設けられており、固着部65aの一部が外芯64の外周部に形成された窪みに入り込んだ解放位置にて、外芯64とスポンジ体60の間に支持される。保持部材65が解放位置にあるときは、保持部材65とスポンジ体60とが接しておらず、スポンジ体60はスポンジホルダーによって保持されていないフリーの状態になっている。   The holding member 65 is a member for fixing the sponge body 60 to the inner core 63, and an outer substantially fan-shaped fixing part 65a and an inner substantially triangular engaging part 65b are integrally formed. In the present embodiment, four holding members 65 are provided, and the outer core 64 and the sponge body 60 are located at a release position where a part of the fixing portion 65 a enters a recess formed in the outer peripheral portion of the outer core 64. Supported in between. When the holding member 65 is in the release position, the holding member 65 and the sponge body 60 are not in contact with each other, and the sponge body 60 is in a free state that is not held by the sponge holder.

保持部材65の係合部65bは、内芯63の外周面と当接する係合面(テーパ面)を有しており、図4の状態で内芯63が図中反時計方向に回転すると、内芯63の外周面によって係合部65bが押し出され、保持部材65が径方向に沿ってスライド移動し、図5に示す保持位置へと移動する(図5参照)。保持部材65が保持位置にあるときは、固着部65aの外周面がスポンジ体60の内周面を押圧しており、これにより、スポンジ体60は保持部材65を介して内芯63に固着される。この状態において、内芯63が図中反時計方向に回転すると、スポンジ体60が保持部材65とともに図中反時計方向に回転する。   The engaging portion 65b of the holding member 65 has an engaging surface (tapered surface) that comes into contact with the outer peripheral surface of the inner core 63. When the inner core 63 rotates in the counterclockwise direction in FIG. The engaging portion 65b is pushed out by the outer peripheral surface of the inner core 63, and the holding member 65 slides along the radial direction and moves to the holding position shown in FIG. 5 (see FIG. 5). When the holding member 65 is in the holding position, the outer peripheral surface of the fixing portion 65 a presses the inner peripheral surface of the sponge body 60, whereby the sponge body 60 is fixed to the inner core 63 via the holding member 65. The In this state, when the inner core 63 rotates in the counterclockwise direction in the figure, the sponge body 60 rotates with the holding member 65 in the counterclockwise direction in the figure.

図6は、ロールスポンジを取り付ける手順を示したものである。まず、スポンジ体60の内部に内芯63を挿入した後(図6(A))、スポンジ体60と内芯63の間に、外芯64が挿入される(図6(B))。次いで、4つの保持部材65が、スポンジ体60と外芯65との間に挿入され、解放位置で外芯65の外周面によって支持される(図6(C))。   FIG. 6 shows a procedure for attaching the roll sponge. First, after inserting the inner core 63 into the sponge body 60 (FIG. 6A), the outer core 64 is inserted between the sponge body 60 and the inner core 63 (FIG. 6B). Next, the four holding members 65 are inserted between the sponge body 60 and the outer core 65, and supported by the outer peripheral surface of the outer core 65 at the release position (FIG. 6C).

この状態で、内芯63を回転させると、内芯63の外周面が保持部材65の係合部65bと当接してこれを押し上げ、保持部材65が保持位置へと移動して、内側からスポンジ体60を径方向に押圧する(図6(D))。これにより、スポンジ体60の長手方向に過度な負荷を与えることなく、スポンジ体60を内芯63に固着することができ、スポンジ体60の固着時によじれや変形が生じるのを防止することが可能となる。また、固着時にスポンジ体を乾燥させる必要がないため、スポンジ体の表面状態の変化に伴う異物の発生をなくすことができる。   When the inner core 63 is rotated in this state, the outer peripheral surface of the inner core 63 comes into contact with the engaging portion 65b of the holding member 65 to push it up, the holding member 65 moves to the holding position, and the sponge from the inside. The body 60 is pressed in the radial direction (FIG. 6D). Accordingly, the sponge body 60 can be fixed to the inner core 63 without applying an excessive load in the longitudinal direction of the sponge body 60, and it is possible to prevent kinking and deformation from occurring when the sponge body 60 is fixed. It becomes. Further, since it is not necessary to dry the sponge body at the time of fixing, the generation of foreign matters accompanying the change in the surface state of the sponge body can be eliminated.

その後、内芯63の他端に、外芯64及び保持部材65を押さえるための押さえリング67が取り付けられU(図6(E))、この押さえリング67を貫通するように、固定ピン68が取り付けられて、スポンジ体60とスポンジホルダー61からなるロールスポンジ51が完成する(図6(F))。完成したロールスポンジ51は、回転機構53に取り付けられる。   Thereafter, a pressing ring 67 for pressing the outer core 64 and the holding member 65 is attached to the other end of the inner core 63 U (FIG. 6E), and the fixing pin 68 is inserted through the pressing ring 67. The roll sponge 51 including the sponge body 60 and the sponge holder 61 is completed (FIG. 6F). The completed roll sponge 51 is attached to the rotation mechanism 53.

以下、洗浄動作の概要について説明する。ウエハWはローラ50A〜50Dに保持されて回転される。次に、液体供給部55からウエハの上下面及び内芯63に洗浄液が供給され、ロールスポンジ51,52がその軸芯周りに回転しながらウエハWの上下面に摺接することによって、ウエハWの上下面をスクラブ洗浄する。スクラブ洗浄後、ロールスポンジ51,52が互いに離間した位置に対比され、液体供給部55より内芯63及びウエハWの上下面にエッチング液が供給され、ウエハWの上下面のエッチング(化学的洗浄)が行われる。   Hereinafter, an outline of the cleaning operation will be described. Wafer W is held by rollers 50A to 50D and rotated. Next, cleaning liquid is supplied from the liquid supply unit 55 to the upper and lower surfaces of the wafer and the inner core 63, and the roll sponges 51 and 52 are slidably contacted with the upper and lower surfaces of the wafer W while rotating around the axis. Scrub the top and bottom surfaces. After the scrub cleaning, the roll sponges 51 and 52 are compared with positions separated from each other, and an etching solution is supplied from the liquid supply unit 55 to the inner core 63 and the upper and lower surfaces of the wafer W, thereby etching the upper and lower surfaces of the wafer W (chemical cleaning). ) Is performed.

上記実施形態では、外径が不均一の内芯を回転させることで、保持部材を保持位置へと移動させてスポンジ体60を固着しているが、本発明はこれに限定されることはなく、例えば、保持部材にバネ等の弾性体を取り付け、当該弾性体の付勢を利用して、保持部材をスポンジ体60の内側から押圧するようにしても良い。また、空気を入れることで膨張する部材(例えばバルーン)を内芯に取り付け、内芯がセットされた後に当該膨張部材を膨張させて、保持部材を径方向へ押圧するようにしても良く、これによっても、スポンジ体を内側から固着するロールスポンジホルダーを実現することができる。   In the above embodiment, the sponge member 60 is fixed by rotating the inner core having a non-uniform outer diameter to move the holding member to the holding position, but the present invention is not limited to this. For example, an elastic body such as a spring may be attached to the holding member, and the holding member may be pressed from the inside of the sponge body 60 using the biasing of the elastic body. Further, a member (for example, a balloon) that is inflated by introducing air may be attached to the inner core, and after the inner core is set, the inflating member may be inflated to press the holding member in the radial direction. By this, it is possible to realize a roll sponge holder that fixes the sponge body from the inside.

以上のように、本発明によれば、スポンジ体の変形や異物の発生を生じさせることなく、容易にスポンジ体を挿通させることが可能となるため、例えば半導体基板の洗浄用のロールスポンジホルダーとして有用である。   As described above, according to the present invention, the sponge body can be easily inserted without causing deformation of the sponge body or generation of foreign matter. For example, as a roll sponge holder for cleaning a semiconductor substrate. Useful.

W ウエハ
14 洗浄部
40A,40B 一次洗浄モジュール
41A,41B 一次洗浄モジュール
51,52 ロールスポンジ
60 スポンジ体
61 スポンジホルダー
63 内芯
64 外芯
65 保持部材
W Wafer 14 Cleaning section 40A, 40B Primary cleaning module 41A, 41B Primary cleaning module 51, 52 Roll sponge 60 Sponge body 61 Sponge holder 63 Inner core 64 Outer core 65 Holding member

Claims (6)

被洗浄物の洗浄に用いられ、円筒状のスポンジ体を保持するロールスポンジホルダーにおいて、
内芯と、
前記スポンジ体と前記内芯との間に配置され、前記スポンジ体を内側から押圧して前記スポンジ体を保持する保持位置と、前記スポンジ体を解放する解放位置との間で移動可能な保持部材と、
前記スポンジ体を前記保持位置と前記解放位置との間で移動させる移動機構と、
を有することを特徴とするロールスポンジホルダー。
In the roll sponge holder that is used for cleaning the object to be cleaned and holds the cylindrical sponge body,
The inner core,
A holding member that is arranged between the sponge body and the inner core and is movable between a holding position for holding the sponge body by pressing the sponge body from the inside and a release position for releasing the sponge body When,
A moving mechanism for moving the sponge body between the holding position and the releasing position;
A roll sponge holder characterized by comprising:
前記保持部材は、前記内芯の外周部と当接するテーパ状の係合部と、前記保持位置において前記スポンジ体を内側から押圧する固着部とを有し、前記内芯の回転により前記係合部が押し上げられて前記保持部材が前記保持位置に移動することを特徴とする、請求項1記載のロールスポンジホルダー。   The holding member has a taper-shaped engaging portion that comes into contact with an outer peripheral portion of the inner core, and a fixing portion that presses the sponge body from the inside at the holding position, and the engagement is performed by rotation of the inner core. The roll sponge holder according to claim 1, wherein the holding member is moved to the holding position by being pushed up. 前記スポンジ体と前記内芯との間の位置に取り付けられ、前記解放位置にある前記保持部材を支持する外芯を備えたことを特徴とする、請求項1または2記載のロールスポンジホルダー。   The roll sponge holder according to claim 1 or 2, further comprising an outer core that is attached to a position between the sponge body and the inner core and supports the holding member in the release position. 被洗浄物の洗浄に用いられるロールスポンジホルダーを製造する方法であって、
円筒状のスポンジ体の内側に内芯を挿入し、
前記スポンジ体と前記内芯との間の位置に外芯を挿入し、
前記外芯に支持され、前記スポンジ体と接触しない解放位置に保持部材を挿入し、
前記内芯を回転させて、前記保持部材を外径方向に押し上げて前記スポンジ体を内側から押圧する保持位置に移動させる、
ことを特徴とするロールスポンジホルダーの製造方法。
A method of manufacturing a roll sponge holder used for cleaning an object to be cleaned,
Insert the inner core inside the cylindrical sponge body,
Insert an outer core at a position between the sponge body and the inner core,
The holding member is inserted into a release position supported by the outer core and not in contact with the sponge body,
Rotating the inner core to push up the holding member in the outer diameter direction and move the sponge body to a holding position for pressing from the inside;
A method for producing a roll sponge holder, wherein
請求項1ないし3に記載のロールスポンジホルダーに前記スポンジ部材を取り付けたロールスポンジと、前記ロールスポンジを基板に当接する位置に移動させるとともに前記ロールスポンジを回転させる駆動機構と、前記基板に洗浄液を供給する液体供給部とを備えたことを特徴とする基板洗浄装置。   A roll sponge in which the sponge member is attached to the roll sponge holder according to claim 1, a drive mechanism for moving the roll sponge to a position where it abuts against a substrate and rotating the roll sponge, and a cleaning liquid on the substrate. A substrate cleaning apparatus comprising: a liquid supply unit for supplying. 前記基板は半導体基板であり、請求項5に記載の基板洗浄装置と、前記半導体基板を研磨する研磨装置とを備えた半導体製造装置。 The said board | substrate is a semiconductor substrate, The semiconductor manufacturing apparatus provided with the board | substrate washing | cleaning apparatus of Claim 5, and the grinding | polishing apparatus which grind | polishes the said semiconductor substrate.
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