JP2015192130A - Chip component and manufacturing method for the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、チップ部品及びその製造方法に関し、さらに詳しくは、電気めっき等を行うことなく高信頼性のはんだ付け電極部を有するチップ部品及びその製造方法に関する。 The present invention relates to a chip component and a manufacturing method thereof, and more particularly to a chip component having a highly reliable soldered electrode portion without performing electroplating or the like and a manufacturing method thereof.
近年、プリント基板、ウエハー及びフレキシブル基板等の基板(以下、これらを「実装基板」ということがある。)は、配線密度や実装密度がますます向上している。実装基板は、電子部品をはんだ付けするための電極を多数有している。その電極上に、電子部品をはんだ付けするためのはんだバンプやはんだペースト等のはんだ(以下、「接続はんだ」ともいう。)が設けられ、電子部品は、その接続はんだにはんだ付けされて実装基板に実装される。 In recent years, printed circuit boards, wafers, flexible boards, and the like (hereinafter, these are sometimes referred to as “mounting boards”) have increased in wiring density and mounting density. The mounting board has many electrodes for soldering electronic components. Solder such as solder bumps and solder paste (hereinafter also referred to as “connection solder”) for soldering the electronic component is provided on the electrode, and the electronic component is soldered to the connection solder and mounted on the mounting board. To be implemented.
実装基板に実装される電子部品は、実装基板の電極パターンに実装され易くするため、その電極部がはんだ付けされている。例えば、積層セラミックコンデンサの場合、積層誘電体素子本体に、外部電極用ペーストを印刷ないし転写し、その後に焼成して一対の外部電極が形成される。その後、外部電極の表面に電気めっきによりはんだめっきが設けられる。 The electronic parts mounted on the mounting board are soldered to the electrode parts in order to facilitate mounting on the electrode pattern of the mounting board. For example, in the case of a multilayer ceramic capacitor, a paste for external electrodes is printed or transferred to the multilayer dielectric element body, and then fired to form a pair of external electrodes. Thereafter, solder plating is provided on the surface of the external electrode by electroplating.
しかしながら、積層セラミックコンデンサの外部電極の形成方法は、ペースト、焼成、電気めっきという工程を経ているため、より一層の工数削減と信頼性の向上が養成されている。 However, since the method of forming the external electrode of the multilayer ceramic capacitor has undergone the steps of paste, firing, and electroplating, further man-hour reduction and improved reliability are trained.
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、低コストで、歩留まりが高く、信頼性の高いはんだ付けを行うことができるチップ部品、及びその製造方法を提供することにある。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a chip component capable of performing low-cost, high-yield, high-reliability soldering, and a manufacturing method thereof. There is to do.
上記課題を解決するための本発明に係るチップ部品の製造方法は、予め準備されたはんだボールとチップ部品の電極部とを、前記はんだボールで前記チップ部品の電極部にはんだ付けできる温度雰囲気下で押し当てることを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, a chip component manufacturing method according to the present invention includes a solder ball prepared in advance and an electrode portion of the chip component in a temperature atmosphere in which the solder ball can be soldered to the electrode portion of the chip component. It is characterized by pressing with.
この発明によれば、溶融したはんだボールが電極部に均一な厚さではんだ付けされる。その結果、低コストで、歩留まりが高く、信頼性の高いはんだ付けを行うことができる。 According to the present invention, the molten solder ball is soldered to the electrode portion with a uniform thickness. As a result, it is possible to perform soldering with low cost, high yield, and high reliability.
本発明に係るチップ部品の製造方法において、前記押し当てが、前記チップ部品の電極部より少し大きい凹部内で行われ、その凹部内の底に前記はんだボールが予め入っているように構成できる。 In the chip component manufacturing method according to the present invention, the pressing may be performed in a recess that is slightly larger than the electrode portion of the chip component, and the solder ball may be placed in advance in the bottom of the recess.
本発明に係るチップ部品の製造方法において、前記押し当て前に、前記はんだボールは、予め有機脂肪酸溶液で精製処理されたものであることが好ましく、前記チップ部品の電極部も、前記有機脂肪酸溶液で予め処理されていることが好ましく、前記はんだボールは、ニッケルを含有するはんだ材料であることが好ましい。 In the method of manufacturing a chip component according to the present invention, it is preferable that the solder balls are pre-purified with an organic fatty acid solution before the pressing, and the electrode part of the chip component is also the organic fatty acid solution. It is preferable that the solder ball is a solder material containing nickel.
上記課題を解決するための本発明に係るチップ部品は、上記本発明に係るチップ部品の製造方法で製造されてなることを特徴とする。 A chip component according to the present invention for solving the above-mentioned problems is manufactured by the chip component manufacturing method according to the present invention.
本発明によれば、低コストで、歩留まりが高く、信頼性の高いはんだ付けを行うことができるチップ部品、及びその製造方法を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the chip component which can perform soldering with low cost, a high yield, and high reliability, and its manufacturing method can be provided.
以下、本発明に係るチップ部品及びその製造方法について、図面を参照しつつ説明する。 Hereinafter, a chip component and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described with reference to the drawings.
[チップ部品の製造方法]
本発明に係るチップ部品の製造方法は、図1及び図2に示すように、予め準備されたはんだボール31aとチップ部品20の電極部21とを、そのはんだボール31aでチップ部品20の電極部21にはんだ付けできる温度雰囲気下で押し当てることに特徴がある。こうした方法により、溶融したはんだボール31aが電極部21に均一な厚さではんだ付けされる。その結果、低コストで、歩留まりが高く、信頼性の高いはんだ付けを行うことができる。
[Chip parts manufacturing method]
As shown in FIGS. 1 and 2, the chip component manufacturing method according to the present invention uses a
はんだボール31aは、図1(A)に示すように、プレート11上に載っている。個々のはんだボール31aは、その後に押し当てられるチップ部品の配列と同じパターンで形成された凹部13を有するプレート12で仕切られている。
The
チップ部品20は、図1(A)に示すように、チップ部品を装着するプレート(クリッパープレート22という。)の穴23に挿入されて装着されている。クリッパープレート22は、チップ部品20を装着したとき、クリッパープレート22の両面から電極部21,21だけが出る寸法で形成されている。
As shown in FIG. 1A, the
図1(A)に示す状態で、はんだボール31aでチップ部品20の電極部21にはんだ付けできる温度雰囲気にする。その温度は、はんだボール31aの種類によって異なるが、概ね250℃前後の温度である。その温度雰囲気下で、図1(B)に示すように、はんだボール31aとチップ部品20の電極部21との押し当てを行う。この押し当てにより、はんだボール31aは、電極部21に付き廻りよく均一に回り込む。図1(B)に示すように、その押し当ては、チップ部品20の電極部21より少し大きい凹部13内で行われ、その凹部13内の底にはんだボール31aが予め入っている。
In the state shown in FIG. 1A, a temperature atmosphere is set in which
ボール31aの大きさ(体積)は、はんだが電極部21に付き廻りよく均一に回り込むだけの量であればよい。したがって、電極部21の面積が広い場合は、もう少し大きいはんだボール31aを適用し、電極部21のはんだ厚を増したい場合も、もう少し大きいはんだボール31aを適用する。すなわち、電極部21の大きさや、はんだ厚を設計した時点で、それに必要なはんだボール31aを選択すればよく、工程設計が極めて簡単である。
The size (volume) of the
押し当て時の環境は、上記の温度雰囲気であればよいが、好ましくは有機脂肪酸溶液中に浸漬した状態であることが好ましい。溶液中での加熱は、気体(大気も含む。)中での加熱より、熱伝導よく、媒体量も少なくて済むという利点がある。また、有機脂肪酸溶液中で行えば、酸化することもない。さらに、有機脂肪酸溶液は、はんだボール31aや電極部21に付着した不純物や酸化物を取り込んで生成する役割も兼ね備えているので、より好ましい。
Although the environment at the time of pressing should just be said temperature atmosphere, Preferably it is the state immersed in the organic fatty acid solution. Heating in a solution has an advantage that heat conduction is good and a medium amount is smaller than heating in a gas (including air). Moreover, if it carries out in an organic fatty acid solution, it will not oxidize. Furthermore, the organic fatty acid solution is more preferable because it also has a role of taking in and generating impurities and oxides attached to the
なお、図1の例では、チップ部品20の一方の電極部21のはんだ付けを行っているが、他方の電極部21のはんだ付けも同様に行えばよい。
In the example of FIG. 1, one
図2は、はんだボール31aを載せるプレート11の形態を変えたものである。このプレート11は、はんだボール31aが入る窪み14が設けられている。この窪み14ではんだボール31aが位置決めされる。その結果、押し当て時に、はんだボール31aが電極部21に均一に流れ易くなるというメリットがある。プレート11は、このような種々の形態に変更することができる。
FIG. 2 shows a modified form of the
なお、図1及び図2において、凹部13を有するプレート12は、凹部の内周面がテーパーになっていることが好ましい。これにより、電極部21を挿入しやすく、しかもはんだの付き廻りも容易になる。
In FIGS. 1 and 2, the
図3は、クリッパープレート22の一例(A)と、チップ部品20の一例である。図4は、クリッパープレート22にチップ部品20を装着した例である。クリッパープレート22によって多くのチップ部品を装着できるので、チップ部品20のはんだ付けを効率的に行うことができる。
FIG. 3 shows an example (A) of the
図5は、製造されたチップ部品であり、図5(B)に示すように、チップ部品本体1の両側に設けられた電極部2の上に、電極溶食防止層(CuNiSn化合物層)4が存在し、さらにその上にはんだ層5が設けられ、さらにその上に有機脂肪酸溶液のコーティング層6が存在する。
FIG. 5 shows a manufactured chip component. As shown in FIG. 5 (B), an electrode corrosion prevention layer (CuNiSn compound layer) 4 is formed on the
本発明においては、押し当て前に、はんだボール31aは、予め有機脂肪酸溶液で精製処理されたものであることが好ましい。有機脂肪酸溶液とは、炭素数が12以上、20以下の有機脂肪酸を含む溶液であることが好ましい。代表的なものとしては、炭素数16のパルミチン酸が好ましい。有機脂肪酸としては、炭素数16のパルミチン酸のみを用いることが特に好ましく、必要に応じて炭素数12以上、20以下の有機脂肪酸、例えば炭素数18のステアリン酸を含有させることもできる。この有機脂肪酸含有溶液は、5質量%以上、25質量%以下の有機脂肪酸を含み、残部がエステル合成油からなるものが好ましく用いられる。こうした有機脂肪酸含有溶液を用いることにより、その有機脂肪酸含有溶液は、電極の表面に存在する酸化物やフラックス成分等の不純物等を選択的に取り込み、電極の表面を清浄化することができる。
In the present invention, it is preferable that the
チップ部品20は、代表的には、チップコンデンサを挙げることができるが、それ以外の半導体チップ、チップ抵抗、チップコイル等であってもよい。
The
はんだボール31aを構成するはんだは、錫を主成分とし、ニッケルを副成分として少なくとも含む溶融鉛フリーはんだが好ましく用いられる。また、錫ビスマス系はんだに少なくともニッケルを副成分として含む低融点溶融はんだも好ましく用いられる。こうした溶融鉛フリーはんだには、さらに、銅、ゲルマニウム及びリンから選ばれる1種又は2種以上が副成分として任意に含まれていてもよい。また、さらに銀が含まれていてもよいが、本発明によれば、濡れ性を向上させると一般的にいわれている高価な銀を含まなくても、均一なはんだ付けが可能になるという利点がある。なお、上記したように、銅電極又は銅合金電極以外の電極に対しては、その電極成分に対応した組成の溶融はんだが任意に選択されて適用される。
As the solder constituting the
はんだとしては、例えば、SnNi系はんだ、SnCuNi系はんだ、SnGeNi系はんだ、SnPNi系はんだ、SnCuGeNi系はんだ、SnCuGePNi系はんだ、SnAgCuNi系はんだ、SnZnAlNi系はんだ、SnAgCuGeNi系はんだ、SnSbNi系はんだ、等を用いることができる。また、低融点はんだとしては、SnBiNi系はんだ、SnBiZnNi系はんだ、SnBiAgInNi系はんだ、等を挙げることができる。 As the solder, for example, SnNi solder, SnCuNi solder, SnGeNi solder, SnPNi solder, SnCuGeNi solder, SnCuGePNi solder, SnAgCuNi solder, SnZnAlNi solder, SnAgCuGeNi solder, SnSbNi solder, etc. are used. Can do. Further, examples of the low melting point solder include SnBiNi solder, SnBiZnNi solder, SnBiAgInNi solder, and the like.
1 基材
2 電極
4 電極溶食防止層(CuNiSn化合物層)
5 はんだ層
6 コーティング膜
11 プレート
12 プレート
13 凹部
14 窪み
20 チップ部品
21 電極部
22 クリッパープレート
23 穴
31a はんだボール
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10586782B2 (en) | 2017-07-01 | 2020-03-10 | International Business Machines Corporation | Lead-free solder joining of electronic structures |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1117326A (en) * | 1997-06-24 | 1999-01-22 | Matsushita Electric Works Ltd | Method for soldering electronic parts |
JP2005123581A (en) * | 2003-09-26 | 2005-05-12 | Tdk Corp | Joining method and apparatus using solder |
JP2009081398A (en) * | 2007-09-27 | 2009-04-16 | Fujitsu Microelectronics Ltd | Electrode forming method and semiconductor device manufacturing method |
JP2013069758A (en) * | 2011-09-21 | 2013-04-18 | Nippon Joint Kk | Soldering method and device |
WO2014020751A1 (en) * | 2012-08-02 | 2014-02-06 | 株式会社谷黒組 | Component having electrode dissolution prevention layer, and manufacturing method therefor |
-
2014
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1117326A (en) * | 1997-06-24 | 1999-01-22 | Matsushita Electric Works Ltd | Method for soldering electronic parts |
JP2005123581A (en) * | 2003-09-26 | 2005-05-12 | Tdk Corp | Joining method and apparatus using solder |
JP2009081398A (en) * | 2007-09-27 | 2009-04-16 | Fujitsu Microelectronics Ltd | Electrode forming method and semiconductor device manufacturing method |
JP2013069758A (en) * | 2011-09-21 | 2013-04-18 | Nippon Joint Kk | Soldering method and device |
WO2014020751A1 (en) * | 2012-08-02 | 2014-02-06 | 株式会社谷黒組 | Component having electrode dissolution prevention layer, and manufacturing method therefor |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10586782B2 (en) | 2017-07-01 | 2020-03-10 | International Business Machines Corporation | Lead-free solder joining of electronic structures |
US11043468B2 (en) | 2017-07-01 | 2021-06-22 | International Business Machines Corporation | Lead-free solder joining of electronic structures |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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