JP2015162866A - clock delay generation circuit - Google Patents

clock delay generation circuit Download PDF

Info

Publication number
JP2015162866A
JP2015162866A JP2014038575A JP2014038575A JP2015162866A JP 2015162866 A JP2015162866 A JP 2015162866A JP 2014038575 A JP2014038575 A JP 2014038575A JP 2014038575 A JP2014038575 A JP 2014038575A JP 2015162866 A JP2015162866 A JP 2015162866A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay
clock
generation circuit
control signal
clock signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014038575A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
佑介 甲斐
Yusuke Kai
佑介 甲斐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Original Assignee
Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei Electronics Co Ltd filed Critical Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Priority to JP2014038575A priority Critical patent/JP2015162866A/en
Publication of JP2015162866A publication Critical patent/JP2015162866A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Pulse Circuits (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a clock delay generation circuit capable of accurately generating an expected clock signal and also dealing with even the case where an input clock signal is fast.SOLUTION: N pieces (N is an integer equal to or greater than 2) of delay element parts 1-1, ..., 1-N generate delay clock signals D1-DN for which a reference clock signal CLK is successively delayed. An inversion part 2 generates a clock signal CLKN for which the reference clock signal CLK is inverted. N pieces of flip-flops 3-1, ..., 3-N sample and output the delay clock signals D1-DN outputted from the N pieces of delay element parts 1-1, ..., 1-N in accordance with the reference clock signal CLK. On the basis of a control signal SEL, a selection circuit 4 selectively performs output from among the delay clock signals D1-DN. A control signal generation circuit 5 generates the control signal SEL.

Description

本発明は、クロック遅延生成回路に関し、より詳細には、デジタル的にクロックに遅延を持たせるクロック遅延生成回路に関する。特に、自動遅延調整回路に適用できる。   The present invention relates to a clock delay generation circuit, and more particularly to a clock delay generation circuit that digitally delays a clock. In particular, it can be applied to an automatic delay adjustment circuit.

一般に、回路を動作させるために供給されるクロック信号として、外部から供給される基準クロックから所定量遅延させたクロック信号を用いることがある。回路が内部クロック信号を発生させるためには、外部クロック信号を入力受けてから所定の遅延過程を経ることになり、例えば、アナログ的に外部クロック信号を遅延させて、所定量遅延したクロック信号を生成する回路が知られている。   In general, a clock signal delayed by a predetermined amount from a reference clock supplied from the outside may be used as a clock signal supplied to operate a circuit. In order for the circuit to generate the internal clock signal, it will go through a predetermined delay process after receiving the external clock signal. For example, the external clock signal is analogly delayed to generate a clock signal delayed by a predetermined amount. A circuit to generate is known.

しかしながら、その遅延過程には一定限界があるため、遅延量の精度に限界があることとなり、例えば、外部クロック信号を入力受けメモリに貯蔵されたデータを出力するまでの時間、つまり、クロックアクセスタイムを減らすのに一定限界が伴うことになる。そのため、外部クロック信号を所定量遅延させたクロック信号生成する回路として、様々な回路が提案されている。   However, since the delay process has a certain limit, the accuracy of the delay amount is limited. For example, the time until the external clock signal is input and the data stored in the memory is output, that is, the clock access time. There will be a certain limit to reducing this. Therefore, various circuits have been proposed as a circuit for generating a clock signal obtained by delaying an external clock signal by a predetermined amount.

例えば、特許文献1に記載のものは、PLL(Phase Locked Loop)及びDLL(Delay Locked Loop)を使用せずに、短時間に外部クロック信号から内部クロック信号を生成し得るクロック信号モデリング回路に関するものである。この特許文献1には、外部クロック信号を入力受け、遅延されたクロック信号を出力する遅延部と、遅延されたクロック信号を入力受け、外部クロック信号に応じてサンプリングして出力するサンプリング部と、サンプリング部の出力を入力受けて順次比較する比較部と、遅延部から出力された遅延クロック信号を入力受け、比較部の出力信号と外部から入力されるスイッチング信号に応じて内部クロック信号を出力する出力部とから構成されるクロック信号モデリング回路が開示されている。   For example, the one described in Patent Document 1 relates to a clock signal modeling circuit capable of generating an internal clock signal from an external clock signal in a short time without using a PLL (Phase Locked Loop) and a DLL (Delay Locked Loop). It is. In this Patent Document 1, a delay unit that receives an external clock signal and outputs a delayed clock signal, a sampling unit that receives a delayed clock signal, samples and outputs it according to the external clock signal, A comparator that receives the output of the sampling unit and sequentially compares it, and a delayed clock signal that is output from the delay unit, and receives an output signal of the comparator and an internal clock signal in accordance with an externally input switching signal A clock signal modeling circuit including an output unit is disclosed.

また、例えば、特許文献2に記載のものは、回路内部のクロックと、外部から入ってきたクロックとの遅延差を自動的に検出・制御するクロック遅延量自動検出回路に関するもので、動作クロックをN(Nは2以上の正の整数)倍とした調整クロックを作成する調整クロック生成部と、調整クロックと回帰クロックとの間の動作のタイミングを比較して、この回帰クロックの遅延量を検出する遅延量検出部とを有する構成が開示されている。   Further, for example, the one described in Patent Document 2 relates to a clock delay amount automatic detection circuit that automatically detects and controls a delay difference between a clock inside the circuit and a clock that is input from the outside. The adjustment clock generator that creates an adjustment clock that is N (N is a positive integer greater than or equal to 2) times, and the operation timing between the adjustment clock and the regression clock are compared, and the delay amount of this regression clock is detected. A configuration having a delay amount detection unit is disclosed.

特開平9−238058号公報Japanese Patent Laid-Open No. 9-238058 特開2005−32157号公報JP 2005-32157 A

しかしながら、上述した各特許文献に記載されている従来技術では、精度良く期待するクロック信号を生成でき、また、入力クロック信号が速い(周波数が高い)場合にも対応できる点では不十分である。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、精度良く期待するクロック信号を生成でき、また、入力クロック信号が速い場合にも対応できるクロック遅延生成回路を提供することにある。
However, the prior art described in each of the above-mentioned patent documents is insufficient in that it can generate a clock signal that is expected with high accuracy and can cope with a case where the input clock signal is fast (high frequency).
The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to provide a clock delay generation circuit that can generate a clock signal that can be expected with high accuracy and can cope with a case where the input clock signal is fast. It is to provide.

本発明は、このような目的を達成するためになされたもので、請求項1に記載の発明は、基準クロック信号(CLK)が順次遅延された遅延クロック信号(D1〜DN)を生成するN個の(Nは2以上の整数)遅延素子部(1−1,・・・1−N)と、該遅延素子部(1−1,・・・1−N)の各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号(D1〜DN)を、前記基準クロック信号(CLK)に応じてサンプリングして出力するN個のフリップフロップ(3−1,・・・3−N)と、制御信号(SEL)に基づいて、前記各遅延クロック信号(D1〜DN)から選択的に出力する選択回路(4)と、前記制御信号(SEL)を生成する制御信号生成回路(5)と、を備え、前記制御信号生成回路(5)は、前記フリップフロップの各々の出力(Q1〜QN)に基づいて前記制御信号(SEL)を生成することを特徴とするクロック遅延生成回路である。(図1,図4;実施形態1,2)   The present invention has been made to achieve such an object, and the invention according to claim 1 generates N delayed clock signals (D1 to DN) in which a reference clock signal (CLK) is sequentially delayed. (N is an integer of 2 or more) delay element units (1-1,..., 1-N), and outputs from the delay element units of the delay element units (1-1,..., 1-N) N flip-flops (3-1,..., 3-N) that sample and output each delayed clock signal (D1 to DN) according to the reference clock signal (CLK), and a control signal ( SEL), a selection circuit (4) that selectively outputs from each of the delayed clock signals (D1 to DN), and a control signal generation circuit (5) that generates the control signal (SEL), The control signal generation circuit (5) is provided for each of the flip-flops. A clock delay generation circuit and generates the control signal (SEL) based on the force (Q1 through QN). (FIGS. 1 and 4; Embodiments 1 and 2)

また、請求項2に記載の発明は、前記基準クロック信号(CLK)が、順次遅延されたN個の(Nは2以上の整数)遅延クロック信号(D1〜DN)を生成するN個の遅延素子部(1−1,・・・1−N)と、該遅延素子部(1−1,・・・1−N)の各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号(D1〜DN)が入力され、前記基準クロック信号(CLK)に応じてサンプリングして出力するN個のフリップフロップ(3−1,・・・3−N)と、制御信号(SEL)が入力されて、前記各遅延クロック信号(D1〜DN)から選択的に出力する選択回路(4)と、前記フリップフロップ(3−1,・・・3−N)の各々の出力(Q1〜QN)に基づいて、前記制御信号(SEL)を前記選択回路(4)へ出力する制御信号生成回路(5)と、を備えていることを特徴とするクロック遅延生成回路である。(図1,図4;実施形態1,2)   According to a second aspect of the present invention, the reference clock signal (CLK) generates N delay clock signals (D1 to DN) that are delayed in sequence (N is an integer of 2 or more). Element unit (1-1,... 1-N) and each delay clock signal (D1 to DN) output from each delay element unit of the delay element unit (1-1,... 1-N). N flip-flops (3-1,..., 3-N) that sample and output in accordance with the reference clock signal (CLK) and a control signal (SEL) are input. Based on the selection circuit (4) that selectively outputs from the delayed clock signals (D1 to DN) and the outputs (Q1 to QN) of the flip-flops (3-1,..., 3-N), A control signal generation circuit (SEL) for outputting a control signal (SEL) to the selection circuit (4) ) And is a clock delay generation circuit, characterized in that it comprises. (FIGS. 1 and 4; Embodiments 1 and 2)

また、請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の発明において、第Kフリップフロップ(1≦K≦N)は、K番目の遅延素子部(1−K)の第K遅延クロック信号(DK)が入力され、前記基準クロック信号(CLK)に応じてサンプリングして第K出力信号(QK(1≦K≦N))を出力し、前記制御信号生成回路(5)は、N個の出力信号(Q1〜QN)に基づいて、前記制御信号(SEL)を出力することを特徴とする。   The invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2, wherein the K-th flip-flop (1 ≦ K ≦ N) is the K-th delay of the K-th delay element unit (1-K). A clock signal (DK) is input, and sampling is performed according to the reference clock signal (CLK) to output a Kth output signal (QK (1 ≦ K ≦ N)). The control signal generation circuit (5) The control signal (SEL) is output based on N output signals (Q1 to QN).

また、請求項4に記載の発明は、請求項1〜3のいずれか一項に記載の発明において、前記制御信号生成回路(5)は、前記N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N−1)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、所定の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成することを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to third aspects, the control signal generation circuit (5) outputs the N output signals from Q1 in order from the lower bid. When QN is set (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N−1) are data A, and QL + 1 is data B obtained by inverting data A. A control signal is generated so as to select a clock signal.

また、請求項5に記載の発明は、請求項1〜4のいずれか一項に記載の発明において、前記制御信号生成回路(5)は、前記N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N−1)はデータAであり、QL+1がデータAが反転したデータBである場合に、L/2又は(L+1)/2番目の遅延素子部の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成することを特徴とする。   The invention according to claim 5 is the invention according to any one of claims 1 to 4, wherein the control signal generation circuit (5) outputs the N output signals from Q1 in order from the lower bid. When QN (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N−1) are data A, and when QL + 1 is data B obtained by inverting data A, L / 2 or The control signal is generated so as to select the delay clock signal of the (L + 1) / 2nd delay element unit.

また、請求項6に記載の発明は、請求項1〜5のいずれか一項に記載の発明において、前記N個のフリップフロップ(3−1,・・・3−N)は、前記各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号(D1〜DN)が入力され、前記基準クロック信号(CLK)が反転部(2)により反転したクロック信号(CLKN)に応じてサンプリングして出力することを特徴とする。   The invention according to claim 6 is the invention according to any one of claims 1 to 5, wherein the N flip-flops (3-1,... Each delayed clock signal (D1 to DN) output from the element unit is input, and the reference clock signal (CLK) is sampled and output according to the clock signal (CLKN) inverted by the inverting unit (2). Features.

また、請求項7に記載の発明は、請求項1〜6のいずれか一項に記載の発明において、第1番目から第N/2番目又は第(N+1)/2までの遅延素子部は、それぞれ、2つの遅延素子(1−1A,1−1B,・・・1−NA,1−NB)が直列に接続されて構成され、前記選択回路(4)は、前記2つの遅延素子(1−1A,1−1B,・・・1−NA,1−NB)の間から出力される遅延クロック信号(DH1〜DHN/2)と前記各遅延クロック信号(D1〜DN)から、前記制御信号(SEL)に基づいて選択的に出力することを特徴とする。(図4;実施形態2)   The invention according to claim 7 is the invention according to any one of claims 1 to 6, wherein the delay element sections from the first to the N / 2nd or (N + 1) / 2 are: Each of the two delay elements (1-1A, 1-1B,... 1-NA, 1-NB) is connected in series, and the selection circuit (4) includes the two delay elements (1 -1A, 1-1B,... 1-NA, 1-NB), and the control signal from the delayed clock signals (DH1 to DHN / 2) and the delayed clock signals (D1 to DN). (SEL) is selectively output. (FIG. 4; Embodiment 2)

また、請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の発明において、前記制御信号生成回路(5)は、前記N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N/2)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、Lが偶数の場合、L/2番目の遅延素子部の遅延クロック信号を選択し、Lが奇数の場合、(L+1)/2番目の遅延素子部の2つの遅延素子の間の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成することを特徴とする。   The invention according to claim 8 is the invention according to claim 7, wherein the control signal generation circuit (5) sets the N output signals from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N / 2) are data A, and when QL + 1 is data B obtained by inverting data A, and L is an even number, L / 2 The delay clock signal of the first delay element unit is selected, and when L is an odd number, a control signal is generated so as to select a delay clock signal between two delay elements of (L + 1) / 2nd delay element unit It is characterized by.

また、請求項9に記載の発明は、請求項7又は8に記載の発明において、前記制御信号生成回路(5)は、前記N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N/2)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、第N/2番目以降の遅延素子部の入力が、ハイレベル又はローレベルに固定されることを特徴とする。   The invention according to claim 9 is the invention according to claim 7 or 8, wherein the control signal generation circuit (5) sets the N output signals from Q1 to QN in order from the lower bid. (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N / 2) are data A, and when QL + 1 is data B obtained by inverting data A, the delay after the N / 2nd The input of the element portion is fixed to a high level or a low level.

また、請求項10に記載の発明は、請求項7〜9のいずれか一項に記載の発明において、前記遅延素子部の間に設けられ、第M遅延素子部に対して、電源電圧又は接地電圧を入力するか、第M−1遅延素子部の出力を入力するかを切り替える切替信号を発生する切替回路(6)をさらに備えていることを特徴とする。   The invention according to claim 10 is the invention according to any one of claims 7 to 9, wherein the power supply voltage or ground is provided between the delay element units and to the Mth delay element unit. It further includes a switching circuit (6) for generating a switching signal for switching whether to input a voltage or to input the output of the M-1st delay element unit.

本発明によれば、精度良く期待するクロック信号を生成でき、また、入力クロック信号が速い場合にも対応できるクロック遅延生成回路を実現することができる。
また、アナログ的に遅延量を生成する場合と比較して、精度良く期待するクロックを生成でき、入力クロックが速い場合にも対応できるとともに、順次比較して、遅延量を生成する回路と比較して、早く所定の遅延量を有するクロック信号を出力することが可能である。
According to the present invention, it is possible to realize a clock delay generation circuit that can generate an expected clock signal with high accuracy and can cope with a case where the input clock signal is fast.
Compared to the case where the delay amount is generated in an analog manner, the expected clock can be generated with high accuracy, and even when the input clock is fast, the comparison can be made sequentially and compared with the circuit that generates the delay amount. Thus, it is possible to output a clock signal having a predetermined delay amount quickly.

また、より精度が良いクロック遅延を生成することができ、遅延素子部を細かい遅延量とすることにより、第N遅延素子部の前半部分だけであってもよく、使用する遅延量に合わせて適切に設定できる。   In addition, a more accurate clock delay can be generated, and by setting the delay element portion to a fine delay amount, only the first half of the Nth delay element portion may be used, and it is appropriate for the delay amount to be used. Can be set.

本発明に係るクロック遅延生成回路の実施形態1を説明するための回路構成図である。1 is a circuit configuration diagram for explaining a first embodiment of a clock delay generation circuit according to the present invention; FIG. 図1に示した各部の入出力を示したタイミングチャートの図である。FIG. 2 is a timing chart illustrating input / output of each unit illustrated in FIG. 1. 図1に示した制御信号生成回路の真理値表を示す図である。It is a figure which shows the truth table of the control signal generation circuit shown in FIG. 本発明に係るクロック遅延生成回路の実施形態2を説明するための回路構成図である。FIG. 6 is a circuit configuration diagram for explaining a second embodiment of the clock delay generation circuit according to the present invention; 図4に示した制御信号生成回路の真理値表を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a truth table of the control signal generation circuit illustrated in FIG. 4.

以下、図面を参照して本発明の各実施態について説明する。
<実施形態1>
図1は、本発明に係るクロック遅延生成回路の実施形態1を説明するための回路構成図である。図中符号1−1,・・・1−Nは第1乃至第N遅延素子部、2は反転部、3−1,・・・3−Nは第1乃至第Nフリップフロップ(FF)、4は選択回路、5は制御信号生成回路を示している。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
<Embodiment 1>
FIG. 1 is a circuit configuration diagram for explaining a clock delay generation circuit according to a first embodiment of the present invention. In the figure, reference numerals 1-1,..., 1-N are first to Nth delay element units, 2 is an inverting unit, 3-1,..., 3-N are first to Nth flip-flops (FF), Reference numeral 4 denotes a selection circuit, and 5 denotes a control signal generation circuit.

本実施形態1のクロック遅延生成回路は、第N遅延素子部(Nは1以上の整数)1−1,・・・1−Nと、反転部2と、第Nフリップフロップ(Nは1以上の整数)3−1,・・・3−Nと、選択回路4と、制御信号生成回路5とを備えている。
N個の(Nは2以上の整数)遅延素子部1−1,・・・1−Nは、基準クロック信号CLKが順次遅延された遅延クロック信号D1〜DNを生成する。また、反転部2は、基準クロック信号CLKを反転したクロック信号CLKNを生成する。
The clock delay generation circuit according to the first embodiment includes an Nth delay element unit (N is an integer of 1 or more) 1-1,... 1-N, an inverting unit 2, and an Nth flip-flop (N is 1 or more). ,..., 3-N, a selection circuit 4 and a control signal generation circuit 5.
N delay elements 1-1,... 1-N generate delayed clock signals D1 to DN in which the reference clock signal CLK is sequentially delayed. The inverting unit 2 generates a clock signal CLKN obtained by inverting the reference clock signal CLK.

また、N個のフリップフロップ3−1,・・・3−Nは、N個の遅延素子部1−1,・・・1−Nの各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号D1〜DNを、基準クロック信号CLKに応じてサンプリングして出力する。
また、選択回路4は、制御信号SELに基づいて、各遅延クロック信号D1〜DNから選択的に出力する。また、制御信号生成回路5は、制御信号SELを生成するもので、つまり、フリップフロップの各々の出力Q1〜QNに基づいて制御信号SELを生成する。
N flip-flops 3-1,... 3-N have delay clock signals D 1 to D 1 output from the delay element units N of the delay element units 1-1,. DN is sampled and output according to the reference clock signal CLK.
The selection circuit 4 selectively outputs from the delayed clock signals D1 to DN based on the control signal SEL. The control signal generation circuit 5 generates the control signal SEL, that is, generates the control signal SEL based on the outputs Q1 to QN of the flip-flops.

また、本実施形態1のクロック遅延生成回路は、基準クロック信号CLKが、順次遅延されたN個の(Nは2以上の整数)遅延クロック信号D1〜DNを生成するN個の遅延素子部1−1,・・・1−Nと、このN個の遅延素子部1−1,・・・1−Nの各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号D1〜DNが入力され、基準クロック信号CLKに応じてサンプリングして出力するN個のフリップフロップ3−1,・・・3−Nと、制御信号SELが入力されて、各遅延クロック信号D1〜DNから選択的に出力する選択回路4と、フリップフロップ3−1,・・・3−Nの各々の出力Q1〜QNに基づいて、制御信号SELを選択回路4へ出力する制御信号生成回路5とを備えている。   Further, the clock delay generation circuit according to the first embodiment includes N delay element units 1 that generate N (N is an integer of 2 or more) delayed clock signals D1 to DN in which the reference clock signal CLK is sequentially delayed. −1,..., 1-N and the delay clock signals D1 to DN output from the N delay element units 1-1,. N flip-flops 3-1,..., 3-N that sample and output in accordance with the signal CLK, and a control circuit that receives the control signal SEL and selectively outputs from each of the delayed clock signals D1 to DN 4 and a control signal generation circuit 5 that outputs a control signal SEL to the selection circuit 4 based on outputs Q1 to QN of the flip-flops 3-1,.

また、第Kフリップフロップは(1≦K≦N)、K番目の遅延素子部1−Kの第K遅延クロック信号DKが入力され、基準クロック信号CLKに応じてサンプリングして第K出力信号QK(1≦K≦N)を出力し、制御信号生成回路5は、N個の出力信号Q1〜QNに基づいて、制御信号SELを出力する。
また、制御信号生成回路5は、N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N−1)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、所定の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成する。
The Kth flip-flop (1 ≦ K ≦ N) receives the Kth delayed clock signal DK of the Kth delay element section 1-K, samples it according to the reference clock signal CLK, and samples the Kth output signal QK. (1 ≦ K ≦ N) is output, and the control signal generation circuit 5 outputs the control signal SEL based on the N output signals Q1 to QN.
Further, when the N output signals are changed from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), the control signal generation circuit 5 represents the data A from Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N−1). When QL + 1 is data B obtained by inverting data A, a control signal is generated so as to select a predetermined delayed clock signal.

また、前記制御信号生成回路5は、N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N−1)はデータAであり、QL+1がデータAが反転したデータBである場合に、L/2又は(L+1)/2番目の遅延素子部の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成する。
また、N個のフリップフロップ3−1,・・・3−Nは、各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号D1〜DNが入力され、基準クロック信号CLKが反転部2により反転したクロック信号CLKNに応じてサンプリングして出力する。
Further, when the N output signals are changed from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), the control signal generation circuit 5 is data from Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N−1). When A is Q and QL + 1 is data B obtained by inverting data A, a control signal is generated so as to select the delay clock signal of the L / 2 or (L + 1) / 2nd delay element section.
The N flip-flops 3-1 to 3 -N receive the delayed clock signals D <b> 1 to DN output from the respective delay element units, and the reference clock signal CLK is inverted by the inverting unit 2. The signal is sampled and output in accordance with the signal CLKN.

つまり、第N遅延素子部1−Nは、入力クロックに対して遅延を生成し、各遅延素子部が直列に接続されている。つまり、第K遅延素子部1−Kには、第K−1遅延素子部の第K−1出力クロックが入力され、遅延させて第K+1遅延素子部に出力する。なお、第1遅延素子部1−1には、入力クロックCLKが入力される。
また、第Nフリップフロップ(以下、第NFFという)3−Nには、入力クロックが反転したクロックCLKNに同期して、第N遅延素子部1−Nの出力データが入力Dに入力される。各第NFFの出力Qは、制御信号生成回路5に入力される。
That is, the Nth delay element unit 1-N generates a delay with respect to the input clock, and each delay element unit is connected in series. In other words, the (K-1) th delay element unit 1-K receives the (K-1) th output clock of the (K-1) th delay element unit, delays it, and outputs it to the (K + 1) th delay element unit. The input clock CLK is input to the first delay element unit 1-1.
Further, the output data of the Nth delay element unit 1-N is input to the input D in synchronization with the clock CLKN obtained by inverting the input clock to the Nth flip-flop (hereinafter referred to as NFF) 3-N. The output Q of each NFF is input to the control signal generation circuit 5.

また、制御信号生成回路5は、各第NFFの出力Qが入力され(Q[N:1])、制御信号生成回路5内に保持する記憶データに基づいて、後述する選択回路4の切り替えを制御する制御信号SELを生成する。
また、選択回路4には、各第N遅延素子部の出力D1〜DNが入力され、制御信号SELに基づいて、第N遅延素子部1−Nの出力の内、どの出力信号を選択して出力するかを選択する。
Further, the control signal generation circuit 5 receives the output Q of each NFF (Q [N: 1]), and switches the selection circuit 4 to be described later based on the stored data held in the control signal generation circuit 5. A control signal SEL to be controlled is generated.
The selection circuit 4 receives the outputs D1 to DN of the Nth delay element units, and selects which output signal among the outputs of the Nth delay element unit 1-N based on the control signal SEL. Select whether to output.

以下、図2及び図3も用いて、入力クロックに対して、1/4周期分遅延した遅延クロック信号を生成する場合について説明する。1/4周期分遅延した遅延クロック信号を生成する場合は、選択回路へ入力される信号はD(N/2)まででよい。
図2は、図1に示した各部の入出力を示したタイミングチャートの図で、図3は、図1に示した制御信号生成回路の真理値表を示す図で、記憶データを示している。
Hereinafter, the case of generating a delayed clock signal delayed by ¼ period with respect to the input clock will be described with reference to FIGS. In the case of generating a delayed clock signal delayed by ¼ period, the signal input to the selection circuit may be up to D (N / 2).
FIG. 2 is a timing chart showing input / output of each unit shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram showing a truth table of the control signal generation circuit shown in FIG. 1, showing stored data. .

各第N遅延素子部により、入力CLKが遅延した信号D1〜DNが生成される。このとき、各第N遅延素子部による遅延量は揃っているものとする。
各第NFFは、入力CLKが反転した反転CLKNに同期して動作し、図2では、CLKNの立ち上がりで動作している。その結果、図2のQ1〜Q6が制御信号生成回路5に入力されることとなる。
Each of the Nth delay element units generates signals D1 to DN delayed from the input CLK. At this time, it is assumed that the delay amounts by the Nth delay element units are uniform.
Each NFF operates in synchronization with the inverted CLKN obtained by inverting the input CLK. In FIG. 2, each NFF operates at the rising edge of CLKN. As a result, Q <b> 1 to Q <b> 6 in FIG. 2 are input to the control signal generation circuit 5.

ここで、制御信号生成回路5には、Q[N:1]が入力されるが、入力クロックCLKに対して半周期以上遅延した信号QK(Kは1〜N)があるとき、QK=Lowで、QL(L<k)=Highとなる。例えば、図2のタイミングチャートで、D6は入力CLKに対して半周期以上遅延しているため、反転クロックCLKNの立ち上がりで同期したQ6は、Lowとなる。そして、Q1〜Q5はHighとなる。   Here, Q [N: 1] is input to the control signal generation circuit 5, but when there is a signal QK (K is 1 to N) delayed by a half cycle or more with respect to the input clock CLK, QK = Low. Therefore, QL (L <k) = High. For example, in the timing chart of FIG. 2, since D6 is delayed by more than a half cycle with respect to the input CLK, Q6 synchronized with the rising edge of the inverted clock CLKN becomes Low. And Q1-Q5 becomes High.

入力されたQ[N:1]に対し、図3に示す記憶データに基づいて、選択回路4で選択する信号を演算する。図2の場合は、Q[N:1]が011111であるので、図3の真理値表より、D3を選択する制御信号SELを選択回路4へ出力する。
つまり、本実施形態1では、各第N遅延素子部による遅延量を第NFFにおいて反転CLKNで同期し、その各第NFFの出力Q[N:1]と記憶データに基づいて、所定の遅延量を持ったクロックを選択して出力する。特に、各第NFFの出力Q[N:1]が下位ビッドと異なる前後において、入力クロックの遅延量が約半周期遅延に相当することを利用して、所定の遅延量に応じた記憶データを用いて遅延を生成することができる。
For the input Q [N: 1], a signal to be selected by the selection circuit 4 is calculated based on the stored data shown in FIG. In the case of FIG. 2, since Q [N: 1] is 01111, the control signal SEL for selecting D3 is output to the selection circuit 4 from the truth table of FIG.
That is, in the first embodiment, the delay amount by each Nth delay element unit is synchronized with the inverted CLKN in the NFF, and the predetermined delay amount is based on the output Q [N: 1] of each NFF and the stored data. Select and output a clock with In particular, before and after the output Q [N: 1] of each NFF differs from the lower bid, the stored data corresponding to the predetermined delay amount is obtained by utilizing the fact that the delay amount of the input clock corresponds to about a half cycle delay. Can be used to generate a delay.

これによって、アナログ的に遅延量を生成する場合と比較して、精度良く期待するクロックを生成でき、入力クロックが速い場合にも対応できる。また、順次比較して、遅延量を生成する回路と比較して、早く所定の遅延量を有するクロック信号を出力することが可能である。   As a result, the expected clock can be generated with higher accuracy than when the delay amount is generated in an analog manner, and the case where the input clock is fast can also be handled. In addition, it is possible to output a clock signal having a predetermined delay amount earlier than a circuit that generates a delay amount by comparing sequentially.

<本実施形態2>
図4は、本発明に係るクロック遅延生成回路の実施形態2を説明するための回路構成図である。図中符号1−1A,1−1B・・・1−NA,1−NBは第1乃至第N遅延素子部、6は切替回路を示している。なお、図1と同じ機能を有する構成要素には同一の符号を付してある。
<Embodiment 2>
FIG. 4 is a circuit configuration diagram for explaining a clock delay generation circuit according to the second embodiment of the present invention. In the figure, reference numerals 1-1A, 1-1B... 1-NA and 1-NB denote first to Nth delay element units, and 6 denotes a switching circuit. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component which has the same function as FIG.

本実施形態2のクロック遅延生成回路は、第1番目から第N/2番目又は第(N+1)/2までの遅延素子部は、それぞれ、2つの遅延素子1−1A,1−1B,・・・1−NA,1−NBが直列に接続されて構成され、選択回路4は、2つの遅延素子1−1A,1−1B,・・・1−NA,1−NBの間から出力される遅延クロック信号DH1〜DHN/2と各遅延クロック信号D1〜DNから、制御信号SELに基づいて選択的に出力する。   In the clock delay generation circuit according to the second embodiment, the delay elements from the first to the N / 2nd or (N + 1) / 2 have two delay elements 1-1A, 1-1B,. 1-NA and 1-NB are connected in series, and the selection circuit 4 is output from between two delay elements 1-1A, 1-1B, ... 1-NA, 1-NB. Based on the control signal SEL, the delayed clock signals DH1 to DHN / 2 and the delayed clock signals D1 to DN are selectively output.

また、制御信号生成回路5は、N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N/2)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、Lが偶数の場合、L/2番目の遅延素子部の遅延クロック信号を選択し、Lが奇数の場合、(L+1)/2番目の遅延素子部の2つの遅延素子の間の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成する。   Further, the control signal generation circuit 5, when N output signals are changed from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N / 2) are data A When QL + 1 is data B obtained by inverting data A, when L is an even number, the delayed clock signal of the L / 2nd delay element unit is selected, and when L is an odd number, (L + 1) / A control signal is generated so as to select a delayed clock signal between two delay elements of the second delay element unit.

また、制御信号生成回路5は、N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N/2)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、第N/2番目以降の遅延素子部の入力が、ハイレベル又はローレベルに固定される。
また、遅延素子部の間に設けられ、第M遅延素子部に対して、電源電圧又は接地電圧を入力するか、第M−1遅延素子部の出力を入力するかを切り替える切替信号を発生する切替回路6をさらに備えている。
Further, the control signal generation circuit 5, when N output signals are changed from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N / 2) are data A When QL + 1 is data B obtained by inverting data A, the input of the N / 2nd and subsequent delay element sections is fixed at a high level or a low level.
In addition, a switching signal is provided between the delay element units and switches whether to input a power supply voltage or a ground voltage or an output of the M-1th delay element unit to the Mth delay element unit. A switching circuit 6 is further provided.

つまり、本実施形態2は、本実施形態1に加えて、切替回路6をさらに備えている。また、各第N遅延素子部は、第NA遅延素子1−NAと第NB遅延素子1−NBとが直列に接続されており、両者の間の遅延クロック信号が選択回路4にさらに入力される形態である。
第N遅延素子部は、第NA遅延素子1−NAと第NB遅延素子1−NBとを有しており、各第N遅延素子部が生成する遅延量の半分の遅延量で遅延するクロック信号DHNを生成することができる。
That is, the second embodiment further includes a switching circuit 6 in addition to the first embodiment. In each Nth delay element unit, the NAth delay element 1-NA and the NB delay element 1-NB are connected in series, and a delay clock signal between them is further input to the selection circuit 4. It is a form.
The Nth delay element unit includes an NAth delay element 1-NA and an NB delay element 1-NB, and a clock signal that is delayed by a delay amount that is half of the delay amount generated by each Nth delay element unit. DHN can be generated.

これによって、より精度が良いクロック遅延を生成することができる。なお、遅延素子部を上述したように細かい遅延量とするのは、第N遅延素子部の前半部分だけであってもよく、使用する遅延量に合わせて適切に設定できる。
また、制御信号生成回路5は、上述したように、記憶データに基づいて制御信号に加えて、切替信号(Half Mode)も出力する。
As a result, a more accurate clock delay can be generated. It should be noted that the delay element unit may be set to a fine delay amount as described above only in the first half of the Nth delay element unit, and can be appropriately set according to the delay amount to be used.
Further, as described above, the control signal generation circuit 5 outputs a switching signal (Half Mode) in addition to the control signal based on the stored data.

切替回路6は、切替信号に基づいて、第M遅延素子部に対して、電源電圧又は接地電圧を入力するか、第M−1遅延素子部の出力を入力するかを切り替える。例えば、遅延量が少ない前半部分の遅延素子部で、サンプリング結果(Qの値)にLowがあれば、後半部分の遅延素子部を動作させず、電源電圧又は接地電圧で固定することによって、消費電流を削減することができる。   The switching circuit 6 switches whether to input the power supply voltage or the ground voltage or the output of the M-1st delay element unit to the Mth delay element unit based on the switching signal. For example, if the sampling delay (Q value) is Low in the first half of the delay element with a small amount of delay, the second half of the delay element is not operated and is fixed at the power supply voltage or the ground voltage. Current can be reduced.

図5は、図4に示した制御信号生成回路の真理値表を示す図である。図5に示す真理値表の通り、上段のように、下位ビッドでQの値が異なる場合は、Half ModeをHigh、つまり、後半部分の遅延素子部を電源電圧又は接地電圧で固定する。一方、上位ビッドでQの値が異なる場合は、Half ModeをLow、つまり、通常通り、遅延素子部の各出力が入力されるように構成される。   FIG. 5 is a diagram showing a truth table of the control signal generation circuit shown in FIG. As shown in the truth table shown in FIG. 5, when the value of Q is different in the lower bid as shown in the upper part, Half Mode is set to High, that is, the delay element part in the latter half is fixed at the power supply voltage or the ground voltage. On the other hand, when the value of Q is different in the upper bid, Half Mode is set to Low, that is, each output of the delay element unit is input as usual.

以上のように、第N遅延素子部を特定の遅延量の周辺において、細かく遅延量を制御できるように構成してもよく、また、遅延素子部の出力に基づいて後半部分の遅延素子部を動作させず固定することで消費電流を削減する構成であってもよい。
上述した形態以外にも、複数の記憶データを保有し、所望の遅延量に応じて、記憶データを切り替えて論理演算する形態であってもよい。
As described above, the Nth delay element unit may be configured to be able to finely control the delay amount around a specific delay amount, and the delay element unit in the latter half portion may be controlled based on the output of the delay element unit. It may be configured to reduce current consumption by fixing without operating.
In addition to the above-described form, a form in which a plurality of stored data is held and the stored data is switched and logically operated according to a desired delay amount may be used.

1−1,・・・1−N,1−1A,1−1B・・・1−NA,1−NB 第1乃至第N遅延素子部
2 反転部
3−1,・・・3−N 第1乃至第Nフリップフロップ(FF)
4 選択回路
5 制御信号生成回路
6 切替回路
1-1,... 1-N, 1-1A, 1-1B... 1-NA, 1-NB 1st to Nth delay element units 2 Inversion units 3-1,. 1st to Nth flip-flops (FF)
4 selection circuit 5 control signal generation circuit 6 switching circuit

Claims (10)

基準クロック信号が順次遅延された遅延クロック信号を生成するN個の(Nは2以上の整数)遅延素子部と、
該遅延素子部の各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号を、前記基準クロック信号に応じてサンプリングして出力するN個のフリップフロップと、
制御信号に基づいて、前記各遅延クロック信号から選択的に出力する選択回路と、
前記制御信号を生成する制御信号生成回路と、
を備え、
前記制御信号生成回路は、前記フリップフロップの各々の出力に基づいて前記制御信号を生成することを特徴とするクロック遅延生成回路。
N delay element units (N is an integer of 2 or more) for generating a delayed clock signal in which the reference clock signal is sequentially delayed,
N flip-flops that sample and output each delayed clock signal output from each delay element of the delay element according to the reference clock signal;
A selection circuit that selectively outputs from each of the delayed clock signals based on a control signal;
A control signal generation circuit for generating the control signal;
With
The clock signal generation circuit, wherein the control signal generation circuit generates the control signal based on the output of each flip-flop.
前記基準クロック信号が、順次遅延されたN個の(Nは2以上の整数)遅延クロック信号を生成するN個の遅延素子部と、
該遅延素子部の各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号が入力され、前記基準クロック信号に応じてサンプリングして出力するN個のフリップフロップと、
制御信号が入力されて、前記各遅延クロック信号から選択的に出力する選択回路と、
前記フリップフロップの各々の出力に基づいて、前記制御信号を前記選択回路へ出力する制御信号生成回路と、
を備えていることを特徴とするクロック遅延生成回路。
N delay element units for generating N delay clock signals in which the reference clock signal is sequentially delayed (N is an integer of 2 or more);
Each of the delay clock signals output from each delay element unit of the delay element unit is input, N flip-flops that sample and output according to the reference clock signal,
A selection circuit that receives a control signal and selectively outputs from each of the delayed clock signals;
A control signal generation circuit that outputs the control signal to the selection circuit based on the output of each of the flip-flops;
A clock delay generation circuit comprising:
第Kフリップフロップ(1≦K≦N)は、K番目の遅延素子部の第K遅延クロック信号が入力され、前記基準クロック信号に応じてサンプリングして第K出力信号QK(1≦K≦N))を出力し、
前記制御信号生成回路は、N個の出力信号に基づいて、前記制御信号を出力することを特徴とする請求項1又は2に記載のクロック遅延生成回路。
The Kth flip-flop (1 ≦ K ≦ N) receives the Kth delayed clock signal of the Kth delay element unit, samples it according to the reference clock signal, and samples the Kth output signal QK (1 ≦ K ≦ N). ))
3. The clock delay generation circuit according to claim 1, wherein the control signal generation circuit outputs the control signal based on N output signals.
前記制御信号生成回路は、前記N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N−1)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、所定の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のクロック遅延生成回路。   When the control signal generation circuit sets the N output signals from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N−1) are data A The control signal is generated so that a predetermined delay clock signal is selected when QL + 1 is data B obtained by inverting data A. 4. Clock delay generation circuit. 前記制御信号生成回路は、前記N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N−1)はデータAであり、QL+1がデータAが反転したデータBである場合に、L/2又は(L+1)/2番目の遅延素子部の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のクロック遅延生成回路。   When the control signal generation circuit sets the N output signals from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N−1) are data A And when the QL + 1 is the data B obtained by inverting the data A, the control signal is generated so as to select the delay clock signal of the L / 2 or (L + 1) / 2nd delay element unit. Item 5. The clock delay generation circuit according to any one of Items 1 to 4. 前記N個のフリップフロップは、前記各遅延素子部から出力される各遅延クロック信号が入力され、前記基準クロック信号が反転部により反転したクロック信号に応じてサンプリングして出力することを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載のクロック遅延生成回路。   Each of the N flip-flops receives each delayed clock signal output from each delay element unit, and samples and outputs the delayed clock signal according to a clock signal obtained by inverting the reference clock signal by an inverting unit. The clock delay generation circuit according to any one of claims 1 to 5. 第1番目から第N/2番目又は第(N+1)/2までの遅延素子部は、それぞれ、2つの遅延素子が直列に接続されて構成され、
前記選択回路は、前記2つの遅延素子の間から出力される遅延クロック信号と前記各遅延クロック信号から、前記制御信号に基づいて選択的に出力することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載のクロック遅延生成回路。
The delay elements from the first to the N / 2nd or (N + 1) / 2 are each configured by connecting two delay elements in series,
7. The selection circuit according to claim 1, wherein the selection circuit selectively outputs a delay clock signal output from between the two delay elements and each of the delay clock signals based on the control signal. The clock delay generation circuit according to claim 1.
前記制御信号生成回路は、前記N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N/2)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、
Lが偶数の場合、L/2番目の遅延素子部の遅延クロック信号を選択し、Lが奇数の場合、(L+1)/2番目の遅延素子部の2つの遅延素子の間の遅延クロック信号を選択するように制御信号を生成することを特徴とする請求項7に記載のクロック遅延生成回路。
When the control signal generation circuit sets the N output signals from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N / 2) are data A Yes, when QL + 1 is data B which is inverted data A,
When L is an even number, the delay clock signal of the L / 2th delay element unit is selected. When L is an odd number, the delay clock signal between the two delay elements of the (L + 1) / 2nd delay element unit is selected. 8. The clock delay generation circuit according to claim 7, wherein the control signal is generated so as to be selected.
前記制御信号生成回路は、前記N個の出力信号を下位ビッドから順にQ1からQNとしたときに(Q[N:1])、Q1からQL(2≦L≦N/2)はデータAであり、QL+1が、データAが反転したデータBである場合に、第N/2番目以降の遅延素子部の入力が、ハイレベル又はローレベルに固定されることを特徴とする請求項7又は8に記載のクロック遅延生成回路。   When the control signal generation circuit sets the N output signals from Q1 to QN in order from the lower bid (Q [N: 1]), Q1 to QL (2 ≦ L ≦ N / 2) are data A 9. When QL + 1 is data B obtained by inverting data A, the input of the N / 2nd and subsequent delay element sections is fixed at a high level or a low level. The clock delay generation circuit described in 1. 前記遅延素子部の間に設けられ、第M遅延素子部に対して、電源電圧又は接地電圧を入力するか、第M−1遅延素子部の出力を入力するかを切り替える切替信号を発生する切替回路6をさらに備えていることを特徴とする請求項7〜9のいずれかに記載のクロック遅延生成回路。   A switch that is provided between the delay element units and generates a switching signal for switching whether to input a power supply voltage or a ground voltage or an output of the M-1th delay element unit to the Mth delay element unit. The clock delay generation circuit according to claim 7, further comprising a circuit 6.
JP2014038575A 2014-02-28 2014-02-28 clock delay generation circuit Pending JP2015162866A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014038575A JP2015162866A (en) 2014-02-28 2014-02-28 clock delay generation circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014038575A JP2015162866A (en) 2014-02-28 2014-02-28 clock delay generation circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015162866A true JP2015162866A (en) 2015-09-07

Family

ID=54185670

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014038575A Pending JP2015162866A (en) 2014-02-28 2014-02-28 clock delay generation circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2015162866A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116155246A (en) * 2022-12-12 2023-05-23 天津兆讯电子技术有限公司 High-precision delay clock generation circuit and chip

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116155246A (en) * 2022-12-12 2023-05-23 天津兆讯电子技术有限公司 High-precision delay clock generation circuit and chip

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4850473B2 (en) Digital phase detector
US10411675B2 (en) Delay circuit and duty cycle controller including the same
US9490788B2 (en) Semiconductor device
US10038433B2 (en) Device for correcting multi-phase clock signal
US7977988B2 (en) Delay adjusting method, and delay circuit
US8878582B2 (en) Apparatus and method for duty cycle calibration
TWI596620B (en) Clock generation circuit and semiconductor apparatus including the same
US8766688B2 (en) DLL circuit and delay-locked method using the same
US8866522B1 (en) Digital delay-locked loop circuit using phase-inversion algorithm and method for controlling the same
US10128853B2 (en) Delay locked loop circuit and integrated circuit including the same
JPWO2010104164A1 (en) Digital phase comparator
US8981974B2 (en) Time-to-digital converter and control method
JP5807065B2 (en) Phase comparison device and DLL circuit
US9397671B2 (en) Delay locked loop and semiconductor apparatus
CN107026647B (en) Time-to-digital system and frequency synthesizer
CN110198162B (en) Semiconductor device including clock generation circuit
US10263631B2 (en) Analog digital converter
JP2015162866A (en) clock delay generation circuit
JP2009165064A (en) Frequency dividing circuit and frequency dividing method
JP3821825B2 (en) Timing generator
KR20120027850A (en) Duty correcting circuit having a duty detector, delay-locked loop circuit having the duty correcting circuit and method of duty correction
US8866523B2 (en) Method and associated apparatus for clock-data edge alignment
US8970268B2 (en) Semiconductor apparatus
JP2013021576A (en) Delayed clock signal generation circuit and pulse generation circuit
JP5326607B2 (en) Semiconductor device