JP2015162676A - ナノ粒子多層薄膜 - Google Patents

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Abstract

【課題】ナノ粒子が互いに電気的に絶縁されておらず、ナノ粒子間の距離が著しく短縮されている、ナノ粒子多層薄膜を提供する。【解決手段】ナノ粒子多層薄膜は、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第1ナノ粒子層200と、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第2ナノ粒子層300と、を含み、第1ナノ粒子層200及び第2ナノ粒子層300が交互に積層されている。【選択図】図1

Description

本発明は、ナノ粒子多層薄膜に関する。
ナノ粒子多層薄膜は、複数のナノ粒子層が積層されている薄膜を意味する。ナノ粒子多層薄膜は、例えば、半導体材料、光学材料、エネルギー貯蔵材料、磁性材料、磁気光学(magneto−optic)材料などとして使用される。
ナノ粒子多層薄膜は、表面電荷(surface charge)を帯びるように改質された量子点(又は量子ドット、という)(quantum dot)(QD)またはナノ粒子を使用し、LBL方式(layer−by−layer manner)で製造される。例えば、基材上に、正の電荷を帯びるポリマーでコーティングされた量子点と、負の電荷を帯びるポリマーでコーティングされた量子点を交互にコーティングし、QDポリマー複合材料多層薄膜を製造することができる。他の例を挙げると、陽イオン性有機リガンドまたはポリマーで表面改質された量子点と、陰イオン性有機リガンドまたはポリマーで表面改質された量子点とを使用することにより、改質された量子点自体の電荷により、量子点のLBLコーティングを誘導することができる(非特許文献1)。
かような方式で製造されたナノ粒子多層薄膜においては、ナノ粒子間及びナノ粒子層間に、有機リガンドまたはポリマーの介在が避けられない。ナノ粒子間に介在された有機リガンドまたはポリマーは、ナノ粒子を互いに対して電気的に絶縁する。また、ナノ粒子間に介在された有機リガンドまたはポリマーは、ナノ粒子間に相当な距離を形成し、ナノ粒子間の相互作用(coupling)を妨害する。ナノ粒子間の距離が1.8nmほど以上であるならば、ナノ粒子間の相互作用がほぼ発生しないと知られている。
それにより、有機リガンドまたはポリマーで表面改質されたナノ粒子を使用して製造されたナノ粒子多層薄膜は、例えば、電気伝導性が要求される応用分野、またはナノ粒子間の相互作用が要求される応用分野では、望ましい性能を発揮することができない。
Belcher,Nano Letters 2004(4)1421
本発明が解決しようとする課題は、ナノ粒子が互いに電気的に絶縁されておらず、ナノ粒子間の距離が著しく短縮されているナノ粒子多層薄膜を提供することである。
本発明のナノ粒子多層薄膜の態様は、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物(metal−chalcogenide compound)で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第1ナノ粒子層と、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第2ナノ粒子層と、を含み、前記第1ナノ粒子層及び前記第2ナノ粒子層が交互に積層されている。
本発明によれば、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物と、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、従来のナノ粒子安定化に使用される有機リガンド及びポリマーに比べ、非常に小さいサイズである。それにより、第1ナノ粒子層のナノ粒子と、第2ナノ粒子層のナノ粒子との距離;第1ナノ粒子層中のナノ粒子間の距離;及び第2ナノ粒子層中のナノ粒子間の距離;が非常に短縮される。それにより、本開示のナノ粒子多層薄膜においては、ナノ粒子間の非制限的な例を挙げれば、電子軌道相互作用(electronic orbital coupling)または磁気カップリング(magnetic coupling)のような相互作用が非常に強化される。さらに、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物と、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、電気的な半導体、または電気的な導体でもある。それにより、本開示のナノ粒子多層薄膜は、非常に向上された電気伝導度を有することができる。ナノ粒子間の短縮された距離との相乗効果により、本開示のナノ粒子多層薄膜の電気伝導度向上効果はさらに強化される。
本開示の第1側面によるナノ粒子多層薄膜の一態様を図式的に示す断面図である。 本開示の態様による陽イオン性MCC(metal−chalcogenide compound)(ZnSe)で表面安定化されたナノ粒子(量子点)を概略的に図示した図面である。 前処理されたガラス基板上に形成された「陰イオン性Snで表面安定化された量子点」の第1層の断面を示すTEM写真である。 図3Aの第1層上に形成された「陽イオン性ZnSeで表面安定化された量子点」の第2層の断面を示すTEM写真である。 図3Bの第2層上に形成された「陰イオン性Snで表面安定化された量子点」の第3層の断面を示すTEM写真である。
以下、本開示の第1側面によるナノ粒子多層薄膜についてさらに詳細に説明する。
ナノ粒子多層薄膜の一態様は、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第1ナノ粒子層と、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第2ナノ粒子層と、を含み、前記第1ナノ粒子層及び前記第2ナノ粒子層が交互に積層されている。
図1は、本開示の第1側面によるナノ粒子多層薄膜の一態様を図式的に示す断面図である。基板100上に、第1ナノ粒子層200と、第2ナノ粒子層300とが交互に積層されている。基板100の表面は、負電荷を帯びている。第1ナノ粒子層200のナノ粒子210は、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物層220で表面安定化されている。それにより、第1ナノ粒子層200のナノ粒子210は、基板100の表面に、静電気的引力により、強く付着されている。第2ナノ粒子層300のナノ粒子310は、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物層320で表面安定化されている。それにより、第2ナノ粒子層300のナノ粒子310は、第1ナノ粒子層200のナノ粒子210に、静電気的引力によって強く付着されている。図1の態様においては、基板100の表面が負電荷を帯びているが、他の態様においては、基板100の表面が正電荷を帯びていることも可能である。その場合には、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物層320で表面安定化されているナノ粒子310を含む第2ナノ粒子層300が、まず基板100の表面に付着される。
陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、非制限的な例を挙げれば、Zn、ZnSe、ZnTe、Cu、CuSe、CuTe、Mn、MnSe、MnTe、Fe、FeSe、FeTe、Co、CoSe、CoTe、またはそれらの混合物である。陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物において、金属原子は、正の電荷を帯びる。例えば、Zn−S−S−Znの結合構造を有するZnの場合、Znの価電子の一方は、Sと共有結合しているが、他方の価電子は、Sと結合していない。Znは、2族元素であり、電子供与性を有する。それにより、Znは、溶液中で、Sと結合していない他方の価電子を失う。それにより、Zn−S−S−Znの結合構造中のZnは、溶液中において正の電荷を帯びる。かようなメカニズムにより、あるいはそれと類似したメカニズムにより、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、溶液中において陽イオン性を帯びる。図2は、一態様による、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物(ZnSe)で表面安定化されたナノ粒子(量子点)を概略的に図示した図面である。図2において、ZnSeのZn原子が、陽イオンの形態で量子点の表面に結合される。Zn原子が正の電荷を帯びているために、ナノ粒子(量子点)の陰イオン成分(例えば、CdSe量子点のSe原子)と結合されるか、あるいはオービタル形態で結合される。
陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、例えば、カルコゲン元素とNaBHとを反応させ、ナトリウム−カルコゲナイド化合物を生成する段階と、前記ナトリウム−カルコゲナイド化合物と金属過塩素酸塩とを反応させ、金属−カルコゲナイドの過塩素酸塩を生成する段階と、前記金属−カルコゲナイド過塩素酸塩をエタノールアミンと反応させ、金属−カルコゲナイド化合物を生成する段階と、を含む方法によって製造される。
かような方法において注目される点は、反応が容易に起きる中間生成物であるナトリウムカルコゲナイドをまず製造した後、ナトリウムカルコゲナイドのナトリウム原子を亜鉛原子に置換することにより、亜鉛カルコゲナイドを効果的に生成することができるという点である。
カルコゲン元素としては、例えば、S、SeまたはTeが使用され、それにより、生成される亜鉛−カルコゲナイド化合物は、Zn、ZnSeまたはZnTeである。
カルコゲン元素とNaBHとを反応させ、ナトリウム−カルコゲナイド化合物を生成する段階において、反応媒体は、例えば、メタノール、エタノール、ブタノールまたはイソプロパノールであり、反応雰囲気は、例えば、酸化雰囲気または不活性雰囲気であり、反応温度は、例えば、20℃ないし200℃ほどである。SeとNaBHとを使用する一態様において、ナトリウム−カルコゲナイド化合物(すなわち、NaSe)を生成する反応式は、次の通りである。
3Se+2NaBH→NaSe+HSe+2B(OC+6H
前記ナトリウム−カルコゲナイド化合物と金属過塩素酸塩とを反応させ、金属−カルコゲナイドの過塩素酸塩を生成する段階において、反応媒体は、例えば、メタノール、エタノール、ブタノールまたはイソプロパノールであり、反応雰囲気は、例えば、酸化雰囲気または不活性雰囲気であり、反応温度は、例えば、20℃ないし200℃ほどである。金属過塩素酸塩は、例えば、過塩素酸亜鉛、過塩素酸スズ、過塩素酸インジウム、過塩素酸アンチモン、過塩素酸ナトリウム、過塩素酸銀、過塩素酸鉄、過塩素酸カリウム、過塩素酸マグネシウム、過塩素酸バリウム、過塩素酸カルシウム、過塩素酸カドミウム、過塩素酸アルミニウム、過塩素酸マンガン、過塩素酸白金、またはそれらの混合物である。
NaSeとZn(ClOとを使用する一態様において、亜鉛−カルコゲナイドの過塩素酸塩(すなわち、ZnSe(ClO)を生成する反応式は、次の通りである。
NaSe+2Zn(ClO→ZnSe(ClO+2Na(ClO
前記金属−カルコゲナイド過塩素酸塩をエタノールアミンと反応させ、金属−カルコゲナイド化合物を生成する段階において、反応媒体は、例えば、エタノールアミン、ヒドラジンまたはヒドラジン水和物であり、反応雰囲気は、例えば、酸化雰囲気または不活性雰囲気であり、反応温度は、例えば、20℃ないし200℃ほどである。その段階で生成される金属−カルコゲナイド化合物は、エタノールアミンと亜鉛−カルコゲナイドとの錯体形態、またはエタノールアミンで配位された金属−カルコゲナイドの形態である。またヒドラジンまたはヒドラジン水和物と金属−カルコゲナイドとの錯体形態、またはヒドラジンまたはヒドラジン水和物で配位された金属−カルコゲナイドの形態でもある。
陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子は、例えば、第1有機溶媒中の第1有機リガンドを有するナノ粒子の分散液である第1分散液を提供する段階と、第2有機溶媒中の陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物の溶液である第2溶液を製造する段階と、前記第1分散液と前記第2溶液とを混合し、混合溶液を形成する段階と、前記混合溶液をナノ粒子の前記第1有機リガンドを、前記陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物に交換する段階と、を含む方法によって製造される。
第1分散液において、ナノ粒子は、第1有機リガンドによって配位された状態で、第1有機溶媒の中に分散されている。
第1有機リガンドは、例えば、TOP(trioctylphosphine)、TOPO(trioctylphosphine oxide)、オレイン酸、オレイルアミン、オクチルアミン、トリオクチルアミン、ヘキサデシルアミン、オクタンチオール、ドデカンチオール、ヘキシルホスホン酸(HPA)、テトラデシルホスホン酸(TDPA)、オクチルホスフィン酸(OPA)、あるいはそれらの組み合わせである。
第1有機溶媒は、シクロヘキサン、ヘキサン、クロロホルム、トルエン、オクタン、クロロベンゼン、またはそれらの混合物でもある。
第2溶液中の第2有機溶媒は、陽イオン性金属カルコゲナイド化合物とナノ粒子とをそれぞれ溶解させて分散させることができる有機溶媒である。第2有機溶媒は、例えば、エタノールアミン、DMSO(dimethyl sulfoxide)、DMF(dimethyl formamide)、ホルムアミド、水、ヒドラジン、ヒドラジン水和物、またはそれらの混合物である。
第1分散液と第2溶液とを混合して得た混合溶液を撹拌することにより、ナノ粒子に配位された第1有機リガンドが、陽イオン性金属カルコゲナイド化合物で置換され、それにより、陽イオン性金属カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子が生成される。
一態様において、混合溶液は、前記第1分散液からの第1有機溶媒層と、前記第2溶液からの第2有機溶媒層とに相分離(phase separation)される。その場合、混合溶液の撹拌により、第1分散液中のナノ粒子が、第2有機溶媒層に移動し、ナノ粒子をパッシベーションしている第1有機リガンドが、陽イオン性金属カルコゲナイドに交換される。
第1分散液と第2溶液とを混合して得た混合溶液を撹拌する段階は、例えば、20℃ないし150℃ほどの温度で遂行される。
陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子において、ナノ粒子は、例えば、量子点、金属ナノ結晶(NC:metal nanocrystal)、磁性ナノ結晶(magnetic NC)、酸化物ナノ結晶(oxide NC)、ナノワイヤまたはナノプレートのような任意のナノ粒子である。
量子点は、例えば、CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、ZnO、HgS、HgSe、HgTe、CdSeS、CdSeTe、CdSTe、ZnSeS、ZnSeTe、ZnSTe、HgSeS、HgSeTe、HgSTe、CdZnS、CdZnSe、CdZnTe、CdHgS、CdHgSe、CdHgTe、HgZnS、HgZnSe、CdHgZnTe、CdZnSeS、CdZnSeTe、CdZnSTe、CdHgSeS、CdHgSeTe、CdHgSTe、HgZnSeS、HgZnSeTe、HgZnSTe;GaN、GaP、GaAs、GaSb、AlN、AlP、AlAs、AlSb、InN、InP、InAs、InSb、GaNP、GaNAs、GaNSb、GaPAs、GaPSb、AlNP、AlNAs、AlNSb、AlPAs、AlPSb、InNP、InNAs、InNSb、InPAs、InPSb、GaAlNP、GaAlNAs、GaAlNSb、GaAlPAs、GaAlPSb、GaInNP、GaInNAs、GaInNSb、GaInPAs、GaInPSb、InAlNP、InAlNAs、InAlNSb、InAlPAs、InAlPSb;SnS、SnSe、SnTe、PbS、PbSe、PbTe、SnSeS、SnSeTe、SnSTe、PbSeS、PbSeTe、PbSTe、SnPbS、SnPbSe、SnPbTe、SnPbSSe、SnPbSeTe、SnPbSTe;Si、Ge、SiC、SiGe、あるいはそれらの組み合わせである。量子点は、例えば、コア−シェル構造またはコア−シェル−シェル構造を有することができる。
陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む第1ナノ粒子層は、例えば、基材上に、あるいは第2ナノ粒子層上に、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む第1コロイドを塗布し、第1コロイド層を形成する段階と、前記第1コロイド層を乾燥させ、未洗浄第1ナノ粒子層を形成する段階と、前記未洗浄第1ナノ粒子層を洗浄する段階と、を含む方法によって形成される。
該基材は、任意の材料を含んでもよい。該基材は、非制限的な例を挙げれば、ガラス、石英、サファイア、シリコン、半導体、金属または酸化物(代表的な例を挙げれば、ITO(indium tin oxide))でもある。該基材は、任意形態を有することができる。該基材の形態は、例えば、非制限的な例を挙げれば、二次元平面(two−dimensional plane)、曲面(curved surface)、ロッド(rod)または球(sphere)である。
第1コロイドは、分散媒;及び前記分散媒中に分散されている陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子;を含んでもよい。
第1コロイドの分散媒は、非制限的な例を挙げれば、エタノールアミン、DMSO、DMF、ホルムアミド、水、ヒドラジンまたはヒドラジン水和物を含んでもよい。
第1コロイド中の分散媒の量は、非制限的な例を挙げれば、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子100重量部を基準にして、1,000重量部ないし10,000,000重量部ほどである。
基材上に、あるいは第2ナノ粒子層上で、第1コロイドを塗布するのは、非制限的な例を挙げれば、ディッピング(dipping)、スプレーイング(spraying)、スピンコーティング(spin coating)、ペインティング(painting)、ドロップキャスティング(drop casting)、キャスティング(casting)、インクジェット印刷(inkjet printing)、熱蒸着(thermal deposition)または物理気相蒸着(PVD)によって行われる。
基材上に、あるいは第2ナノ粒子層上で、第1コロイド層を乾燥させるための温度は、非制限的な例を挙げれば、室温(room temperature)(例えば、20℃ほど)ないし300℃ほどである。
未洗浄第1ナノ粒子層を洗浄するための洗浄液は、非制限的な例を挙げれば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、アセトン、あるいはそれらの組み合わせである。
その結果として形成された第1ナノ粒子層の厚みは、非制限的な例を挙げれば、6nmないし1,000nmほどである。
陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、非制限的な例を挙げれば、Sn、SnSe、InSe、InTe、GaSe、CuInSe、Cu、HgSe、GeS、Sb、SbSe、SbTe及びZnTeのうちから選択された少なくとも一種である。
陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、例えば、カルコゲン粉末を溶解させたカルコゲンヒドラジン水和物溶液に金属の粉末を添加して反応させる段階を含む方法によって製造される。
陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子は、例えば、第1有機リガンドを有するナノ粒子の第1有機溶液を提供する段階と、陰イオン性金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液と、前記第1有機リガンドを有するナノ粒子の第1有機溶液と、を混合して混合溶液を形成する段階と、前記混合溶液を撹拌し、前記第1有機リガンドを有するナノ粒子の前記第1有機リガンドを、前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物のリガンドに交換する段階と、を含む方法によって製造される。
MCCヒドラジン水和物は、金属カルコゲナイド化合物と、ヒドラジン水和物とが結合されている化合物であり、MCCヒドラジン水和物溶液は、MCCヒドラジン水和物を含む溶液である。そのために、まずカルコゲン元素(S、SeまたはTe)の粉末をヒドラジン水和物(N・nHO)溶液に溶解させ、カルコゲンヒドラジン水和物溶液を製造する。例えば、硫黄(S)粉末をヒドラジン一水和物溶液に溶解させ、硫黄ヒドラジン一水和物溶液を製造することができる。一方、ヒドラジン一水和物溶液の代わりに、ヒドラジン二水和物、ヒドラジン三水和物、ヒドラジン四水和物、ヒドラジン五水和物またはヒドラジン六水和物のようなヒドラジン多水和物溶液を使用することができる。
次に、前記カルコゲンヒドラジン水和物溶液に、金属粉末を添加して反応させる。前記金属は、単一金属または金属化合物を含んでもよい。例えば、前記金属は、Sn、Ga、CuS、GeS、SbSe、SbTe、InSe、ZnTe、InTeなどを含んでもよい。前記金属粉末と共に、ヒドラジン水和物溶液をさらに添加することができる。反応温度は、室温ないし200℃の範囲である。ヒドラジン水和物は、強い還元剤であるので、ヒドラジン水和物溶液内で、金属カルコゲナイド化合物(MCC)が合成される。また、ヒドラジン水和物溶液内で、金属カルコゲナイド化合物(MCC)は、ヒドラジン水和物と結合され、MCCヒドラジン水和物にもなる。MCCヒドラジン水和物は、MCCヒドラジン一水和物、MCCヒドラジン二水和物、MCCヒドラジン三水和物、MCCヒドラジン四水和物、MCCヒドラジン五水和物、MCCヒドラジン六水和物、またはそれらの混合物でもある。一方、ヒドラジン水和物溶液は、ヒドラジンより毒性(toxicity)が弱くて爆発性がないので、金属カルコゲナイド化合物の合成に安全に使用される。
前記反応溶液から、反応後に残った沈殿物を、例えば、遠心分離(centrifugation)によって除去し、MCCヒドラジン水和物溶液(溶液A)を製造する。本態様において、MCCヒドラジン水和物溶液の溶媒は、ヒドラジン水和物である。例えば、GeS、Sb、SbSe、Sn、SnSe、InSe、InTe、GaSe、CuInSe、Cu、HgSe、SbTeまたはZnTeのヒドラジン一水和物溶液を製造することができる。
第1有機リガンドが結合されたナノ粒子の第1有機溶液は、第1有機リガンドを有するナノ粒子が、第1有機溶媒に溶解されているか、あるいは分散されている溶液である。ナノ粒子は、第1有機溶液内でコロイド形態に分散されており、第1有機リガンドが、ナノ粒子の表面に配位結合されている。すなわち、ナノ粒子が、有機リガンドでパッシベーションされている。第1有機リガンドは、例えば、TOP、TOPO、オレイン酸、オレイルアミン、オクチルアミン、トリオクチルアミン、ヘキサデシルアミン、オクタンチオール、ドデカンチオール、ヘキシルホスホン酸(HPA)、テトラデシルホスホン酸(TDPA)、オクチルホスフィン酸(OPA)、またはそれらの混合物を含んでもよいが、それらに限定されるものではない。前記第1有機溶液の第1溶媒は、例えば、シクロヘキサン、ヘキサン、クロロホルム、トルエン、オクタン、クロロベンゼン、またはそれらの混合物を含んでもよいが、それらに限定されるものではない。一方、第1溶媒は、第1有機リガンドと同一の化合物でもある。
MCCヒドラジン水和物溶液(溶液A)に、第1有機リガンドが結合されたナノ粒子の第1有機溶液(溶液B)を混合し、ナノ粒子の第1有機リガンドを、MCCヒドラジン水和物リガンドに交換する。そのために、ヒドラジン水和物溶液に、MCCヒドラジン一水和物溶液(溶液A)を添加し、そこに第1有機リガンドナノ粒子の第1有機溶液(溶液B)を添加することができる。ヒドラジン水和物溶液は、ヒドラジン一水和物、ヒドラジン二水和物、ヒドラジン三水和物、ヒドラジン四水和物、ヒドラジン五水和物、ヒドラジン六水和物、またはそれらの混合物でもある。前記混合溶液は、上部の第1有機溶液層と、下部のヒドラジン水和物層とに相分離される。上部の第1有機溶液層は、第1有機リガンドナノ粒子を含んでおり、下部のヒドラジン水和物層は、過量の金属カルコゲナイド化合物を含んでいる。前記混合溶液の撹拌により、第1有機溶液層内のナノ粒子がヒドラジン水和物層に移動する一方で、ナノ粒子をパッシベーションしている有機リガンドが、MCCリガンドに交換される。撹拌温度は、室温ないし200℃の範囲でもある。そのように、ナノ粒子が2溶媒間で相転移(phase transfer)を行うことにより、ナノ粒子のリガンド交換が起こり、陰イオン性MCCリガンドで表面安定化されたナノ粒子を製造することができる。
陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子において、ナノ粒子は、例えば、量子点、金属ナノ結晶(NC)、磁性ナノ結晶(magnetic NC)、酸化物ナノ結晶(oxide NC)、ナノワイヤまたはナノプレートなどの任意のナノ粒子である。
量子点は、例えば、CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、ZnO、HgS、HgSe、HgTe、CdSeS、CdSeTe、CdSTe、ZnSeS、ZnSeTe、ZnSTe、HgSeS、HgSeTe、HgSTe、CdZnS、CdZnSe、CdZnTe、CdHgS、CdHgSe、CdHgTe、HgZnS、HgZnSe、CdHgZnTe、CdZnSeS、CdZnSeTe、CdZnSTe、CdHgSeS、CdHgSeTe、CdHgSTe、HgZnSeS、HgZnSeTe、HgZnSTe;GaN、GaP、GaAs、GaSb、AlN、AlP、AlAs、AlSb、InN、InP、InAs、InSb、GaNP、GaNAs、GaNSb、GaPAs、GaPSb、AlNP、AlNAs、AlNSb、AlPAs、AlPSb、InNP、InNAs、InNSb、InPAs、InPSb、GaAlNP、GaAlNAs、GaAlNSb、GaAlPAs、GaAlPSb、GaInNP、GaInNAs、GaInNSb、GaInPAs、GaInPSb、InAlNP、InAlNAs、InAlNSb、InAlPAs、InAlPSb;SnS、SnSe、SnTe、PbS、PbSe、PbTe、SnSeS、SnSeTe、SnSTe、PbSeS、PbSeTe、PbSTe、SnPbS、SnPbSe、SnPbTe、SnPbSSe、SnPbSeTe、SnPbSTe;Si、Ge、SiC、SiGe、あるいはそれらの組み合わせである。量子点は、例えば、コア−シェル構造またはコア−シェル−シェル構造を有することができる。
陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む第2ナノ粒子層は、例えば、基材上に、あるいは第1ナノ粒子層上に、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む第2コロイドを塗布し、第2コロイド層を形成する段階と、前記第2コロイド層を乾燥させ、未洗浄第2ナノ粒子層を形成する段階と、前記未洗浄第2ナノ粒子層を洗浄する段階と、を含む方法によって形成される。
基材は、任意の材料を含んでもよい。該基材は、非制限的な例を挙げれば、ガラス、石英、サファイア、シリコン、半導体、金属または酸化物(代表的な例を挙げれば、ITO)である。該基材は、任意形態を有することができる。該基材の形態は、例えば、非制限的な例を挙げれば、二次元平面、曲面、ロッドまたは球である。
第2コロイドは、分散媒;及び前記分散媒中に分散されている陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子;を含んでもよい。
第2コロイドの分散媒は、非制限的な例を挙げれば、エタノールアミン、DMSO、DMF、ホルムアミド、水、ヒドラジンまたはヒドラジン水和物を含んでもよい。
第2コロイド中の分散媒の量は、非制限的な例を挙げれば、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子100重量部を基準にして、1,000重量部ないし10,000,000重量部ほどである。
基材上に、あるいは第1ナノ粒子層上に第2コロイドを塗布するのは、非制限的な例を挙げれば、ディッピング、スプレーイング、スピンコーティング、ペインティング、ドロップキャスティング、キャスティング、インクジェット印刷、熱蒸着または物理気相蒸着(PVD)によって行われる。
基材上に、あるいは第1ナノ粒子層上で、第2コロイド層を乾燥させるための温度は、非制限的な例を挙げれば、室温(例えば、約20℃)ないし300℃ほどである。
未洗浄第2ナノ粒子層を洗浄するための洗浄液は、非制限的な例を挙げれば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、アセトン、あるいはそれらの組み合わせである。
その結果として形成された第2ナノ粒子層の厚みは、非制限的な例を挙げれば、6nmないし1,000nmほどである。
第1ナノ粒子層中のナノ粒子の表面は、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で安定化されている。第2ナノ粒子層中のナノ粒子の表面は、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で安定化されている。第1ナノ粒子層の陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物と、第2ナノ粒子層の陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、例えば、静電気的引力、イオン結合またはファンデルワールス力によって結合される。それにより、第1ナノ粒子層と第2ナノ粒子層との結合力は非常に強い。ナノ粒子多層薄膜内で、第1ナノ粒子層と第2ナノ粒子層は、互いに交互している。それにより、全てのナノ粒子層の界面に強い結合力が提供され、結果として、ナノ粒子多層薄膜は、非常に優れた機械的強度を有することができる。
ナノ粒子多層薄膜中の第1ナノ粒子層の個数には、制限がない。非制限的な例を挙げれば、ナノ粒子多層薄膜中の第1ナノ粒子層の個数は、1ないし200個ほどである。ナノ粒子多層薄膜中の第2ナノ粒子層の個数には、制限がない。非制限的な例を挙げれば、ナノ粒子多層薄膜中の第2ナノ粒子層の個数は、1ないし200個ほどである。ナノ粒子多層薄膜の厚みは、非制限的な例を挙げれば、6nmないし1,000nmほどである。
第1ナノ粒子層のナノ粒子と、第2ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なっている。複数の第1ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なっている。複数の第2ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なっている。複数の第1ナノ粒子層の陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、互いに同じであるか、あるいは異なっている。複数の第2ナノ粒子層の陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、互いに同じであるか、あるいは異なっている。
陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物と、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、従来のナノ粒子安定化に使用される有機リガンド及びポリマーに比べ、非常に小さいサイズである。それにより、第1ナノ粒子層のナノ粒子と、第2ナノ粒子層のナノ粒子との距離;第1ナノ粒子層中のナノ粒子間の距離;及び第2ナノ粒子層中のナノ粒子間の距離;が非常に短縮される。例えば、有機リガンドで安定化された量子点間の距離が、一般的に、1nmないし2nmほどであるか、あるいはそれ以上であるのに対し、本開示で使用される陽イオン性または陰イオン性の金属−カルコゲナイドで安定化された量子点間の距離は、例えば、1nm以下、1nm未満、0.9nm以下、0.8nm以下、0.7nm以下、0.6nm以下、0.5nm以下、0.4nm以下、0.3nm以下、0.2nm以下、あるいは0.1nm以下ほどである。それにより、本開示のナノ粒子多層薄膜においては、ナノ粒子間の非制限的な例を挙げれば、電子軌道相互作用(electronic orbital coupling)または磁気カップリング(magnetic coupling)のような相互作用(coupling)が非常に強化される。
さらに、陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物と、陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、電気的な半導体または電気的な導体でもある。それにより、本開示のナノ粒子多層薄膜は、非常に向上された電気伝導度を有することができる。
例えば、有機リガンドで安定化されたAu金属ナノ粒子によって形成された薄膜は、1×10−9S/cmほどの電気伝導度を有し、それにより、絶縁体と見なされるのに対し、本開示で使用される陽イオン性または陰イオン性の金属−カルコゲナイドで安定化されたナノ粒子によって形成された薄膜は、一般的な例を挙げれば、200S/cmほどの電気伝導度を有するということが分かる。それは、画期的に向上された電気伝導度である。ナノ粒子間の短縮された距離との相乗効果により、本開示のナノ粒子多層薄膜は、さらに強化された電気伝導度を有する。
基材上に形成されたナノ粒子多層薄膜は、基材と共に多様な分野に適用される。または基材を除去することにより、分離されたナノ粒子多層薄膜が単独で多様な分野に適用される。本開示のナノ粒子多層薄膜は、例えば、半導体材料、光学材料、エネルギー貯蔵材料、磁性材料、磁気光学材料、熱電材料などとして使用される。
<実施例>
製造例1:陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物(Zn Se )の合成
3g(38mmol)のSe、及び9g(23.8mmol)のNaBHを100gのエタノールに投入した。このとき、該混合物が入れられた反応フラスコを氷浴(ice bath)に入れ、その混合物の温度が20℃以上に上がらないようにした。かように得た第1反応混合物を窒素雰囲気で還流させ、撹拌下で反応させた。反応温度は、80℃、反応圧力は大気圧、反応時間は1.5時間であった。その結果、NaSeを含む第2反応混合物を得た。室温で真空を利用して、NaSeのみを残し、副産物を除去することにより、第2反応混合物から、4.5gのNaSeを得た。
その後、0.043g(0.2mmol)のNaSe、及び0.121g(0.8mmol)のZn(ClOを4gのエタノールにそれぞれ溶解させた。NaSeエタノール溶液に、Zn(ClOエタノール溶液を一滴ずつ滴下して反応させた。かように得た第3反応混合物を、遠心分離機を利用して、ZnSe(ClOを含む第4反応混合物を得た。第4反応混合物から、0.4gのZnSe(ClOを得た。得られたZnSe(ClOをエタノールアミンに溶解させた。
その後、0.2gのZnSe(ClOを4gのエタノールアミンに溶解させた。かように得た第5反応混合物を撹拌下で反応させた。反応温度は、60℃、反応圧力は、大気圧、反応時間は、1.5時間であった。その結果、エタノールアミン−ZnSeを含む第6反応混合物を得た。
製造例2:陽イオン性Zn Se で表面安定化された量子点の製造
エタノールアミン3mlに、製造例1で得たZnSe18mgを溶解させ、MCC溶液を調製した。ヘキサン中にCdSe(平均粒子サイズ4nm)が1wt%分散された量子点分散液を調製した。DMSO3mlにMCC溶液0.1mlを添加し、MCC/DMSO溶液を製造した。MCC/DMSO溶液6g、量子点分散液1ml及びヘキサン5gを混合した後、室温で3時間撹拌した。ヘキサン層のCdSe量子点がDMSO層に徐々に移動するリガンド交換過程を通じて、陽イオン性金属カルコゲナイドで表面安定化された量子点(ZnSe−CdSe)が得られた。ブタノール中で量子点(ZnSe−CdSe)を沈澱させ、5mgのZnSe−CdSeを得た。
製造例3:陽イオン性Zn Se で表面安定化された量子点コロイドの製造
製造例2で得た陽イオン性ZnSeで表面安定化されたCdSe量子点10mgと、分散媒(DMF)1,000mgとを混合し、製造例3の陽イオン性量子点コロイドを製造した。
製造例4:陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物(Sn )の合成
10mlのヒドラジン一水和物溶液に0.32g(10mmol)の硫黄(S)粉末を溶解させ、1Mの硫黄ヒドラジン一水和物溶液を製造した。前記1Mの硫黄ヒドラジン一水和物溶液3mlと、ヒドラジン一水和物溶液1mlとを混合させた溶液に、120mg(1mmol)のスズ(Sn)粉末を添加して反応させた。反応は、室温で行われ、1時間ほど撹拌した。遠心分離により、前記反応溶液から、反応後に残った沈殿物を除去し、Snヒドラジン一水和物溶液を製造した。Snヒドラジン一水和物溶液は、溶液内にSnとヒドラジン一水和物とが結合されたSnヒドラジン一水和物を含んでいる。
製造例5:陰イオン性Sn で表面安定化された量子点(CdSe/CdS/ZnS)の製造
CdSe/CdS/ZnS量子点をシクロヘキサン溶液に分散(溶解)させた5mg/ml濃度のCdSe/CdS/ZnS量子点シクロヘキサン溶液を調製した(調製方法は、Advanced materials,2007,19,1927−1932参照)。CdSe/CdS/ZnS量子点は、CdSeコア/CdS内側シェル/ZnS外側シェルの構造を有する。また、CdSe/CdS/ZnS量子点の表面には、オレイン酸、TOP、TOPO及びトリオクチルアミンの混合有機リガンドが配位結合している。
2mlのヒドラジン一水和物溶液に、製造例4のSnヒドラジン一水和物溶液25μlを添加し、そこに、CdSe/CdS/ZnS量子点を含むシクロヘキサン溶液2mlを添加した。得られた混合溶液を、上部のシクロヘキサン層と、下部のヒドラジン一水和物層とに相分離した。前記シクロヘキサン層は、CdSe/CdS/ZnS量子点を含んでおり、前記ヒドラジン一水和物層は、Snヒドラジン一水和物リガンドを含んでいる。
相分離された前記混合溶液を、室温で72時間撹拌して、CdSe/CdS/ZnS量子点が、上部のシクロヘキサン層から下部のヒドラジン一水和物層に移動した。CdSe/CdS/ZnS量子点のシクロヘキサン層から、ヒドラジン一水和物層に移動しながら、CdSe/CdS/ZnS量子点表面の混合有機リガンドが、Snヒドラジン一水和物リガンドに交換された。
製造例6:陰イオン性Sn で表面安定化された量子点コロイドの製造
製造例5で得た陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化された量子点10mgと、分散媒(DMSO)1,000mgとを混合し、製造例6の陰イオン性量子点コロイドを製造した。
実施例1:ナノ粒子多層薄膜の製造
まず、ガラス基板を前処理した。ガラス基板の前処理過程は、次の通りであった。ガラス基板を、紫外線−オゾンで15分間処理した。その後、エタノール40mlとAPTES(3−aminopropyl triethoxysilane)1mlとの混合溶液に、ガラス基板を1時間浸した。その後、ガラス基板をエタノールで洗浄して乾燥させた。その後、ガラス基板を120℃で30分間加熱し、残留溶媒を除去した。その結果、前処理されたガラス基板は正電荷を帯びたものであった。
その後、ガラス基板を、製造例6のコロイド(陰イオン性Snで表面安定化された量子点コロイド)に10分間浸した。その後、ガラス基板をエタノールで洗浄した。その後、ガラス基板を、製造例3のコロイド(陽イオン性ZnSeで表面安定化された量子点コロイド)に10分間浸した。その後、ガラス基板をエタノールで洗浄した。その過程を4回繰り返し、ガラス基板上に実施例1のナノ粒子多層薄膜を製造した。
図3Aは、前処理されたガラス基板上に形成された「陰イオン性Snで表面安定化された量子点」の第1層の断面を示すTEM(transmission electron microscope)写真である。図3Bは、図3Aの第1層上に形成された「陽イオン性ZnSeで表面安定化された量子点」の第2層の断面を示すTEM写真である。図3Cは、図3Bの第2層上に形成された「陰イオン性Snで表面安定化された量子点」の第3層の断面を示すTEM写真である。図3Aないし図3Cに示されているように、実施例1で、LBL方式(layer−by−layer manner)で、ナノ粒子多層薄膜が効果的に形成されているということを確認することができる。
本発明のナノ粒子多層薄膜は、例えば、各種素材生成関連の技術分野に効果的に適用可能である。
以下、実施の形態を具体的に列挙する。
(1)陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第1ナノ粒子層と、
陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第2ナノ粒子層と、を含み、
前記第1ナノ粒子層及び前記第2ナノ粒子層が交互に積層されているナノ粒子多層薄膜。
(2)前記陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、Zn、ZnSe、ZnTe、Cu、CuSe、CuTe、Mn、MnSe、MnTe、Fe、FeSe、FeTe、Co、CoSe、CoTe、またはそれらの混合物であることを特徴とする(1)に記載のナノ粒子多層薄膜。
(3)前記第1ナノ粒子層及び前記第2ナノ粒子層の前記ナノ粒子は、それぞれ独立して、量子点、金属ナノ結晶(NC)、磁性ナノ結晶(magnetic NC)、酸化物ナノ結晶(oxide NC)、ナノワイヤまたはナノプレートであることを特徴とする(1)又は(2)に記載のナノ粒子多層薄膜。
(4)前記量子点は、CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、ZnO、HgS、HgSe、HgTe、CdSeS、CdSeTe、CdSTe、ZnSeS、ZnSeTe、ZnSTe、HgSeS、HgSeTe、HgSTe、CdZnS、CdZnSe、CdZnTe、CdHgS、CdHgSe、CdHgTe、HgZnS、HgZnSe、CdHgZnTe、CdZnSeS、CdZnSeTe、CdZnSTe、CdHgSeS、CdHgSeTe、CdHgSTe、HgZnSeS、HgZnSeTe、HgZnSTe;GaN、GaP、GaAs、GaSb、AlN、AlP、AlAs、AlSb、InN、InP、InAs、InSb、GaNP、GaNAs、GaNSb、GaPAs、GaPSb、AlNP、AlNAs、AlNSb、AlPAs、AlPSb、InNP、InNAs、InNSb、InPAs、InPSb、GaAlNP、GaAlNAs、GaAlNSb、GaAlPAs、GaAlPSb、GaInNP、GaInNAs、GaInNSb、GaInPAs、GaInPSb、InAlNP、InAlNAs、InAlNSb、InAlPAs、InAlPSb;SnS、SnSe、SnTe、PbS、PbSe、PbTe、SnSeS、SnSeTe、SnSTe、PbSeS、PbSeTe、PbSTe、SnPbS、SnPbSe、SnPbTe、SnPbSSe、SnPbSeTe、SnPbSTe;Si、Ge、SiC、SiGeまたはそれらの組み合わせであることを特徴とする(3)に記載のナノ粒子多層薄膜。
(5)前記陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、Sn、SnSe、InSe、InTe、GaSe、CuInSe、Cu、HgSe、SbTeまたはZnTe、またはそれらの組み合わせであることを特徴とする(1)〜(4)のいずれか一つに記載のナノ粒子多層薄膜。
(6)前記第1ナノ粒子層のナノ粒子と、前記第2ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする(1)〜(5)のいずれか一つに記載のナノ粒子多層薄膜。
(7)複数の前記第1ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする(1)〜(6)のいずれか一つに記載のナノ粒子多層薄膜。
(8)複数の前記第2ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする(1)〜(7)のいずれか一つに記載のナノ粒子多層薄膜。
(9)複数の前記第1ナノ粒子層の陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする(1)〜(8)のいずれか一つに記載のナノ粒子多層薄膜。
(10)複数の前記第2ナノ粒子層の陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする(1)〜(9)のいずれか一つに記載のナノ粒子多層薄膜。
(11)前記陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物と、前記陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、電気的な半導体または電気的な導体であることを特徴とする(1)〜(10)のいずれか一つに記載のナノ粒子多層薄膜。
100 基板
200 第1ナノ粒子層
210,310 ナノ粒子
220,320 金属カルコゲナイド化合物層
300 第2ナノ粒子層

Claims (11)

  1. 陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第1ナノ粒子層と、
    陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物で表面安定化されたナノ粒子を含む少なくとも1層の第2ナノ粒子層と、を含み、
    前記第1ナノ粒子層及び前記第2ナノ粒子層が交互に積層されているナノ粒子多層薄膜。
  2. 前記陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、Zn、ZnSe、ZnTe、Cu、CuSe、CuTe、Mn、MnSe、MnTe、Fe、FeSe、FeTe、Co、CoSe、CoTe、またはそれらの混合物であることを特徴とする請求項1に記載のナノ粒子多層薄膜。
  3. 前記第1ナノ粒子層及び前記第2ナノ粒子層の前記ナノ粒子は、それぞれ独立して、量子点、金属ナノ結晶(NC)、磁性ナノ結晶(magnetic NC)、酸化物ナノ結晶(oxide NC)、ナノワイヤまたはナノプレートであることを特徴とする請求項1又は2に記載のナノ粒子多層薄膜。
  4. 前記量子点は、CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、ZnO、HgS、HgSe、HgTe、CdSeS、CdSeTe、CdSTe、ZnSeS、ZnSeTe、ZnSTe、HgSeS、HgSeTe、HgSTe、CdZnS、CdZnSe、CdZnTe、CdHgS、CdHgSe、CdHgTe、HgZnS、HgZnSe、CdHgZnTe、CdZnSeS、CdZnSeTe、CdZnSTe、CdHgSeS、CdHgSeTe、CdHgSTe、HgZnSeS、HgZnSeTe、HgZnSTe;GaN、GaP、GaAs、GaSb、AlN、AlP、AlAs、AlSb、InN、InP、InAs、InSb、GaNP、GaNAs、GaNSb、GaPAs、GaPSb、AlNP、AlNAs、AlNSb、AlPAs、AlPSb、InNP、InNAs、InNSb、InPAs、InPSb、GaAlNP、GaAlNAs、GaAlNSb、GaAlPAs、GaAlPSb、GaInNP、GaInNAs、GaInNSb、GaInPAs、GaInPSb、InAlNP、InAlNAs、InAlNSb、InAlPAs、InAlPSb;SnS、SnSe、SnTe、PbS、PbSe、PbTe、SnSeS、SnSeTe、SnSTe、PbSeS、PbSeTe、PbSTe、SnPbS、SnPbSe、SnPbTe、SnPbSSe、SnPbSeTe、SnPbSTe;Si、Ge、SiC、SiGeまたはそれらの組み合わせであることを特徴とする請求項3に記載のナノ粒子多層薄膜。
  5. 前記陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、Sn、SnSe、InSe、InTe、GaSe、CuInSe、Cu、HgSe、SbTeまたはZnTe、またはそれらの組み合わせであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のナノ粒子多層薄膜。
  6. 前記第1ナノ粒子層のナノ粒子と、前記第2ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載のナノ粒子多層薄膜。
  7. 複数の前記第1ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載のナノ粒子多層薄膜。
  8. 複数の前記第2ナノ粒子層のナノ粒子は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載のナノ粒子多層薄膜。
  9. 複数の前記第1ナノ粒子層の陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載のナノ粒子多層薄膜。
  10. 複数の前記第2ナノ粒子層の陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、互いに同じであるか、あるいは異なることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載のナノ粒子多層薄膜。
  11. 前記陽イオン性金属−カルコゲナイド化合物と、前記陰イオン性金属−カルコゲナイド化合物は、電気的な半導体または電気的な導体であることを特徴とする請求項1〜10のいずれか一項に記載のナノ粒子多層薄膜。
JP2015027565A 2014-02-27 2015-02-16 ナノ粒子多層薄膜 Active JP6516496B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180069875A (ko) * 2016-06-14 2018-06-25 센젠 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 수용성 양자점, 그 제조 방법 및 양자점 박막의 제조 방법

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102443092B1 (ko) * 2015-09-01 2022-09-14 삼성전자주식회사 공기조화장치에 사용되는 부품 및 이를 구비한 공기조화장치
CN105080577B (zh) * 2015-09-11 2017-07-25 中国科学技术大学 二硒化钴纳米带组装球、其制备方法及其应用
US20180166369A1 (en) * 2016-12-14 2018-06-14 Texas Instruments Incorporated Bi-Layer Nanoparticle Adhesion Film
US9865527B1 (en) 2016-12-22 2018-01-09 Texas Instruments Incorporated Packaged semiconductor device having nanoparticle adhesion layer patterned into zones of electrical conductance and insulation
US9941194B1 (en) 2017-02-21 2018-04-10 Texas Instruments Incorporated Packaged semiconductor device having patterned conductance dual-material nanoparticle adhesion layer
CN107879643B (zh) * 2017-10-25 2019-08-23 中国石油大学(北京) 一种硫铁化合物薄膜及其制备方法
CN112670394B (zh) * 2020-12-24 2022-11-08 合肥工业大学 一种通过引入稳定的纳米异质结提高p型SnTe基材料热电性能的方法
KR102562139B1 (ko) * 2021-01-25 2023-07-31 한밭대학교 산학협력단 색상 조절이 가능한 칼코겐화물-금속산화물 나노복합체 필름과 이의 제조방법, 및 이를 포함하는 투명 광전 소자

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013089969A (ja) * 2011-10-18 2013-05-13 Samsung Electronics Co Ltd 無機リガンドを有する量子ドット及びその製造方法
US20130146834A1 (en) * 2011-12-13 2013-06-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Quantum dot-matrix thin film and method of producing the same

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003205568A (ja) 2002-01-11 2003-07-22 Dainippon Printing Co Ltd ナノ粒子層積層体
CN100490205C (zh) 2003-07-10 2009-05-20 国际商业机器公司 淀积金属硫族化物膜的方法和制备场效应晶体管的方法
US20100098902A1 (en) 2005-08-31 2010-04-22 Nicholas Kotov Layer-by-layer assemblies having preferential alignment of deposited axially anisotropic species and methods for preparation and use thereof
KR101140309B1 (ko) * 2009-01-09 2012-05-02 서울대학교산학협력단 양자점 다층 박막을 포함한 전기발광소자
US20120202047A1 (en) 2011-02-07 2012-08-09 Baker Hughes Incorporated Nano-coatings for articles
US9882001B2 (en) * 2011-05-16 2018-01-30 The University Of Chicago Materials and methods for the preparation of nanocomposites

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013089969A (ja) * 2011-10-18 2013-05-13 Samsung Electronics Co Ltd 無機リガンドを有する量子ドット及びその製造方法
US20130146834A1 (en) * 2011-12-13 2013-06-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Quantum dot-matrix thin film and method of producing the same

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DMITRI V. TALAPIN, IVO MEKIS, STEPHAN GOETZINGER, ANDREAS KORNOWSKI, OLIVER BENSON, HORST WELLER: "CdSe/CdS/ZnS and CdSe/ZnSe/ZnS Core-Shell-Shell Nanocrystals", J. PHYS. CHEM. B, vol. 108, JPN6016023179, 12 November 2004 (2004-11-12), US, pages 18826 - 18831, ISSN: 0004002709 *
MAKSYM V. KOVALENKO, MARCUS SHEELE, DMITRI V. TALAPIN: "Colloidal Nanocrystals with Molecular Metal Chalcogenide Surface Ligands", SCIENCE, vol. Volume 324, Issue 5933, JPN6016023176, 12 June 2009 (2009-06-12), US, pages 1417 - 1420, ISSN: 0004002708 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180069875A (ko) * 2016-06-14 2018-06-25 센젠 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 수용성 양자점, 그 제조 방법 및 양자점 박막의 제조 방법
JP2018538578A (ja) * 2016-06-14 2018-12-27 深▲せん▼市華星光電技術有限公司Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. 水溶性量子ドット、その作製方法及び量子ドットフィルムの作製方法
KR102093569B1 (ko) 2016-06-14 2020-04-23 센젠 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 수용성 양자점, 그 제조 방법 및 양자점 박막의 제조 방법

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