JP2015114578A - Light measurement instrument and safety device for use in the same - Google Patents
Light measurement instrument and safety device for use in the same Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015114578A JP2015114578A JP2013257838A JP2013257838A JP2015114578A JP 2015114578 A JP2015114578 A JP 2015114578A JP 2013257838 A JP2013257838 A JP 2013257838A JP 2013257838 A JP2013257838 A JP 2013257838A JP 2015114578 A JP2015114578 A JP 2015114578A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- measurement
- lid
- light
- optical element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、光源からの光を試料に照射し、その透過光や反射光や蛍光等を光検出器で検出する光測定装置及びそれに用いられる安全装置に関する。 The present invention relates to a light measurement device that irradiates a sample with light from a light source and detects transmitted light, reflected light, fluorescence, and the like with a photodetector, and a safety device used therefor.
測定光を試料表面に照射し、試料に含まれる物質から放射される光を検出する光測定装置が実用化されている。例えば、光測定装置の一例である蛍光測定装置は、特定の波長領域の励起光(測定光)を試料表面に照射する。励起光が照射された試料表面上の分析位置からは試料表面に含まれる元素(蛍光物質)に特有の蛍光(試料情報)等が発生するため、この蛍光を検出することにより画像化して、試料表面上の分析位置に存在する元素の同定や定量を行っている(例えば、特許文献1参照)。 A light measurement device that irradiates measurement light onto a sample surface and detects light emitted from a substance contained in the sample has been put into practical use. For example, a fluorescence measurement device, which is an example of a light measurement device, irradiates a sample surface with excitation light (measurement light) in a specific wavelength region. Fluorescence (sample information) peculiar to the element (fluorescent substance) contained in the sample surface is generated from the analysis position on the sample surface irradiated with the excitation light, and this fluorescence is imaged by detecting this fluorescence. An element existing at an analysis position on the surface is identified and quantified (see, for example, Patent Document 1).
図4は、蛍光測定装置の構成を示す概略構成図である。なお、図4(a)は、測定試料の測定状態を示す断面図であり、図4(b)は、測定試料の交換状態を示す断面図である。また、地面に水平な一方向をX方向とし、地面に水平でX方向と垂直な方向をY方向とし、X方向とY方向とに垂直な方向をZ方向とする。
蛍光測定装置101は、測定試料Sが内部に配置される箱形状の試料配置部10と、光源部20と光検出器30とが内部に配置された箱形状の装置筐体150と、蛍光測定装置101全体の制御を行う制御部(コンピュータ)160とを備える。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing the configuration of the fluorescence measuring apparatus. 4A is a cross-sectional view showing the measurement state of the measurement sample, and FIG. 4B is a cross-sectional view showing the exchange state of the measurement sample. One direction parallel to the ground is defined as an X direction, a direction parallel to the ground and perpendicular to the X direction is defined as a Y direction, and a direction perpendicular to the X direction and the Y direction is defined as a Z direction.
The
試料配置部10は、四角形のベース板11と、四角形状の上面と当該上面の周縁部に下方に立設された四角筒形状の側壁とを有する蓋部12とを備える。ベース板11の中央部には、開口11aが形成されている。蓋部12は、一つの側壁の上面が回転軸12aとなるように、ベース板11に対してY方向を回転軸として回転可能に取り付けられた上方跳ね上げ式となっている。このような試料配置部10によれば、蓋部12を開くことにより、測定試料Sの分析面が開口11aを塞ぐように測定試料Sを配置することができ、測定試料Sを配置した後に蓋部12を閉めると、試料配置部10の内部に外光が入射しないようにすることができる。
The
装置筐体150は、四角形状の下面と、四角形状の下面の周縁部に上方に立設された略四角筒形状の側壁とを有し、装置筐体150の上部には、ベース板11が取り付けられるとともに、蓋部12の回転軸12aが取り付けられている。
光源部20は、特定の波長領域の励起光Lを出射するものであり、装置筐体150内部に配置され、出射する励起光Lがハーフミラー25等を介して開口11aにZ方向から入射するようになっている。よって、測定試料Sの分析面が開口11aを塞ぐように載置されることで、測定試料Sの下面(分析面)が、励起光LにZ方向から照射されることになる。
The
The
光検出器30は、蛍光の強度を検出するものであり、装置筐体150内部に配置され、蛍光がハーフミラー25等を透過して入射するようになっている。よって、測定試料Sの分析面が励起光Lに照射されると、測定試料Sの分析面で蛍光が発生し、光検出器30により蛍光の強度が検出されることになる。
The
制御部160は、装置筐体150内部に配置されている。制御部160が処理する機能をブロック化して説明すると、入力部51からの入力信号に基づいて光源部20の電源ON/OFFを制御する光源部制御回路(図示せず)と、光検出器30から蛍光の強度を取得する試料情報取得制御回路(図示せず)とを有する。
The
このような蛍光測定装置101では、測定試料Sを交換するために、操作者は蓋部12を開けて作業することになるが、励起光Lとして紫外線を使用する場合には、蓋部12の開放時に紫外線が操作者に照射される可能性があり、光学的・熱的に望ましくない。よって、操作者が入力部51を用いて電源をOFFにすることを忘れた場合の安全装置として、蓋部12に棒形状のツメ部12bが形成されるとともに、ツメ部12bに押圧されるマイクロスイッチ140が装置筐体150に配置されている。これにより、蓋部12が閉じられているときには、ツメ部12bがマイクロスイッチ140を押圧し、マイクロスイッチ140から制御部160にマイクロスイッチON状態を示す信号が入力され、制御部160は光源部20に光源の電源のONを可能とする信号を出力している。一方、蓋部12が開けられたときには、ツメ部12bがマイクロスイッチ140の押圧を止めるため、マイクロスイッチ140から制御部160へのマイクロスイッチON状態を示す信号が入力されず、制御部160は光源の電源のONを不可能とする信号を出力する。つまり、制御部160は、マイクロスイッチ140からの入力信号に基づいて光源部20の電源ON/OFFを制御する回路を有している。
In such a
しかしながら、上述したような蛍光測定装置101では、マイクロスイッチ140が故障したときには、マイクロスイッチ140から制御部160にマイクロスイッチON状態を示す信号が入力されず、その結果、蓋部12の開放時に紫外線が操作者に照射されることがあった。また、マイクロスイッチ140からの信号を判断する制御部160が故障したときにも、光源の電源のONを不可能とする信号が出力されなくなり、蓋部12の開放時に紫外線が操作者に照射されることがあった。つまり、マイクロスイッチ140の故障だけでなく、制御部160等の回路や論理演算部等のトラブルによる不具合が存在した。
そこで、本発明は、光が操作者に照射されることを高いレベルで防止することができる光測定装置及びそれに用いられる安全装置を提供することを目的とする。
However, in the
Therefore, an object of the present invention is to provide a light measuring device and a safety device used therefor that can prevent the operator from being irradiated with light at a high level.
上記課題を解決するためになされた本発明の光測定装置は、測定試料が内部に配置される試料配置部と、前記試料配置部に配置された測定試料に測定光を出射する光源部と、前記試料配置部に配置された測定試料からの試料情報を検出する検出器とを備え、前記試料配置部には、前記内部にアクセスするために開閉可能な蓋部が形成されている光測定装置であって、前記測定光の内の少なくとも所定波長領域の光を透過しない光学素子部材と、前記蓋部の開閉と機械的に連動して、前記光学素子部材を移動させる駆動機構とを備え、前記駆動機構は、前記蓋部が開いているときには、前記光学素子部材を前記光源部から前記測定試料に至る光路中に配置し、前記蓋部が閉じているときには、前記光学素子部材を前記光源部から前記測定試料に至る光路外に配置することを特徴としている。 The light measurement device of the present invention made to solve the above problems includes a sample placement portion in which a measurement sample is placed, a light source portion that emits measurement light to the measurement sample placed in the sample placement portion, And a detector that detects sample information from a measurement sample arranged in the sample arrangement unit, and the sample arrangement unit is provided with a lid that can be opened and closed to access the inside. An optical element member that does not transmit light of at least a predetermined wavelength region of the measurement light, and a drive mechanism that moves the optical element member mechanically in conjunction with opening and closing of the lid, The drive mechanism places the optical element member in an optical path from the light source part to the measurement sample when the lid part is open, and moves the optical element member to the light source when the lid part is closed. To the measurement sample It is characterized by placing outside the optical path that.
ここで、「蓋部の開閉と機械的に連動して」とは、制御部等による判断を行わずに、力学的な性質によって動作させることをいい、例えば、レバーとワイヤとを用いた駆動機構等が挙げられる。 Here, “mechanically interlocking with the opening and closing of the lid” means that the operation is performed according to the mechanical properties without making a determination by the control unit or the like. For example, driving using a lever and a wire Mechanisms and the like.
以上のように、本発明の光測定装置によれば、蓋部の開閉と機械的に連動して、光学素子部材を移動させる駆動機構を備えているため、回路や論理演算部等によるトラブルの可能性をなくすことができ、光が操作者に照射されることを高いレベルで防止することができる。 As described above, according to the light measurement device of the present invention, since the optical mechanism member is moved mechanically in conjunction with the opening and closing of the lid, a trouble caused by a circuit, a logic operation unit, or the like is provided. The possibility can be eliminated, and the operator can be prevented from being irradiated with light at a high level.
(他の課題を解決するための手段および効果)
また、上記の発明において、前記光学素子部材は一端部を回転軸として回転可能となっており、前記駆動機構は、レバーと、前記レバーの一端部と前記光学素子部材とを連結したワイヤとを備え、前記レバーの他端部は、前記蓋部が閉じているときには前記蓋部によって押圧され、前記蓋部が開いているときには前記蓋部によって押圧されないようにしてもよい。
(Means and effects for solving other problems)
In the above invention, the optical element member is rotatable about one end portion as a rotation axis, and the drive mechanism includes a lever and a wire connecting the one end portion of the lever and the optical element member. The other end of the lever may be pressed by the lid when the lid is closed, and may not be pressed by the lid when the lid is open.
そして、上記の発明において、前記試料配置部は、開口部を有するベース板と、前記ベース板の上面を開閉可能な蓋部とを備え、前記測定試料が前記開口部を塞ぐように、前記ベース板の上面に載置されるようにしてもよい。 And in said invention, the said sample arrangement | positioning part is equipped with the base plate which has an opening part, and the cover part which can open and close the upper surface of the said base board, The said base is so that the said measurement sample may block | close the said opening part You may make it mount on the upper surface of a board.
さらに、本発明の安全装置は、測定試料が内部に配置される試料配置部と、前記試料配置部に配置された測定試料に測定光を出射する光源部と、前記試料配置部に配置された測定試料からの試料情報を検出する検出器とを備え、前記試料配置部には、前記内部にアクセスするために開閉可能な蓋部が形成されている光測定装置に用いられる安全装置であって、前記測定光の内の少なくとも所定波長領域の光を透過しない光学素子部材と、前記蓋部の開閉と機械的に連動して、前記光学素子部材を移動させる駆動機構とを備え、前記駆動機構は、前記蓋部が開いているときには、前記光学素子部材を前記光源部から前記測定試料に至る光路中に配置し、前記蓋部が閉じているときには、前記光学素子部材を前記光源部から前記測定試料に至る光路外に配置することを特徴としている。 Furthermore, the safety device of the present invention is arranged in the sample arrangement part in which the measurement sample is arranged, the light source part for emitting measurement light to the measurement sample arranged in the sample arrangement part, and the sample arrangement part A safety device for use in an optical measurement device comprising a detector for detecting sample information from a measurement sample, wherein the sample placement portion is formed with a lid that can be opened and closed to access the inside. An optical element member that does not transmit light in at least a predetermined wavelength region of the measurement light; and a drive mechanism that moves the optical element member mechanically in conjunction with opening and closing of the lid. When the lid is open, the optical element member is disposed in the optical path from the light source part to the measurement sample. When the lid is closed, the optical element member is removed from the light source part. Light reaching the measurement sample It is characterized in that arranged outside.
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments described below, and it goes without saying that various aspects are included without departing from the spirit of the present invention.
図1は、本発明の実施形態に係る蛍光測定装置の一例を示す概略構成図である。なお、図1(a)は、測定試料の測定状態を示す断面図であり、図1(b)は、測定試料の交換状態を示す断面図である。また、蛍光測定装置101と同様のものについては、同じ符号を付している。
蛍光測定装置1は、測定試料Sが内部に配置される箱形状の試料配置部10と、光源部20と検出器30とが内部に配置される箱形状の装置筐体50と、安全装置70と、蛍光測定装置1全体の制御を行う制御部(コンピュータ)60とを備える。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a fluorescence measuring apparatus according to an embodiment of the present invention. 1A is a cross-sectional view showing the measurement state of the measurement sample, and FIG. 1B is a cross-sectional view showing the exchange state of the measurement sample. Moreover, the same reference numerals are assigned to the same components as those of the
The
試料配置部10は、四角形のベース板11と、四角形状の上面と当該上面の周縁部に下方に立設された四角筒形状の側壁とを有する蓋部12とを備える。ベース板11の中央部には、開口11aが形成されている。蓋部12は、一つの側壁の上面が回転軸12aとなるように、ベース板11に対してY方向を回転軸として回転可能に取り付けられた上方跳ね上げ式となっている。このような試料配置部10によれば、蓋部12を開くことにより、測定試料Sの分析面が開口11aを塞ぐように測定試料Sを配置することができ、測定試料Sを配置した後に蓋部12を閉めると、試料配置部10の内部に外光が入射しないようにすることができる。
The
また、蓋部12の一つの側壁の下部には、X方向に突出する棒形状のツメ部12bが形成されている。なお、本発明に係る蛍光測定装置1では、ツメ部12bはマイクロスイッチ140(図4参照)を押圧するものではなく、後述する棒形状のレバー81の端部をX方向に移動させるものとなっている。
Further, a bar-shaped
装置筐体50は、四角形状の下面と、四角形状の下面の周縁部に上方に立設された略四角筒形状の側壁とを有し、装置筐体50の上部には、ベース板11が取り付けられているとともに、蓋部12の回転軸12aやレバー81の回転軸81aが取り付けられている。
The
安全装置70は、シャッタ(光学素子部材)71と、シャッタ71を移動させるための駆動機構80とを備える。図2は、シャッタ71の移動を説明するための斜視図であり、図3は、シャッタ71の移動における要部の構成を示す平面図である。また、図3(a)は、測定試料の測定状態を示し、図3(b)は、測定試料の交換状態を示す。
シャッタ71は、開口11aより大きい略四角形状の板状体であり、励起光Lを透過しない材質で形成されている。そして、シャッタ71は、XY平面と平行に配置され、一端部(回転部)71aを回転軸としてXY平面内で移動可能となっている。このとき、シャッタ71は、光源部20から開口11aに至る光路中であるCLOSE位置に配置されたり、光源部20から開口11aに至る光路外であるOPEN位置に配置されたりするように、回動可能となっている。これにより、シャッタ71がCLOSE位置に配置されたときには、光源部20からの励起光Lが開口11aに到達しなくなり(図1(b)及び図3(b)参照)、一方、シャッタ71がOPEN位置に配置されたときには、光源部20からの励起光Lが開口11aに到達するようになる(図1(a)及び図3(a)参照)。
The
The
駆動機構80は、レバー81と、ワイヤ82と、バネ83とを備える。
レバー81は、略四角形状の板状体であり、YZ平面と平行に配置され、一端部81aを回転軸として移動可能となっている。このとき、蓋部12が開けられているときには、ツメ部12aがレバー81の他端部に接触せず(図1(b)参照)、蓋部12が閉じられているときには、ツメ部12aがレバー81の他端部を押圧し(図1(a)参照)、レバー81の他端部はX方向に所定の距離を移動するようになっている。
The
The
ワイヤ82は、レバー81の他端部とシャッタ71の回転部71aの一端側とを略X方向に連結している。また、バネ83は、シャッタ71の回転部71aの他端側と装置筐体50とを連結しており、X方向にシャッタ71の回転部71aの他端側を引っ張るよう作用している。これにより、ワイヤ82がシャッタ71の回転部71aの一端側を略X方向に引っ張ると、バネ83の弾性力(トルク)に対抗してシャッタ71の回転部71aが反時計回りに回転し、一方、ワイヤ82がシャッタ71の回転部71aの一端側を略X方向に引っ張らなければ、バネ83の弾性力によってシャッタ71の回転部71aが時計回りに回転するようになっている。
The
このような蛍光測定装置1によれば、操作者が入力部51を用いて電源をOFFにすることを忘れた場合に、蓋部12を開けたときには、ツメ部12aがレバー81の他端部の押圧を止めることにより、ワイヤ82がシャッタ71の回転部71aの一端側を略X方向に引っ張らず、バネ83の弾性力によってシャッタ71の回転部71aが時計回りに回転する。その結果、シャッタ71がCLOSE位置に配置され、すなわち光源部20から開口11aに至る光路中に挿入され、光源部20からの励起光Lが開口11aに到達しないようになる。
According to such a
一方、操作者が蓋部12を閉じたときには、ツメ部12aがレバー81の他端部を押圧することにより、ワイヤ82がシャッタ71の回転部71aの一端側を略X方向に引っ張り、シャッタ71の回転部71aが反時計回りに回転する。その結果、シャッタ71がOPEN位置に配置され、すなわち光源部20から開口11aに至る光路中から退避し、光源部20からの励起光が開口11aに到達するようになる。
On the other hand, when the operator closes the
また、制御部60は、装置筐体50内部に配置されており、制御部60が処理する機能をブロック化して説明すると、入力部51からの入力信号に基づいて光源部20の電源ON/OFFを制御する光源部制御回路(図示せず)と、光検出器30から蛍光の強度を取得する試料情報取得制御回路(図示せず)とを有する。なお、本発明に係る蛍光測定装置1では、マイクロスイッチ140(図4参照)や、マイクロスイッチ140からの入力信号に基づいて光源部20の電源ON/OFFを制御する回路を有するようにしてもよい。
In addition, the
以上のように、本発明の蛍光測定装置1によれば、蓋部12の開閉と機械的に連動してシャッタ71を移動させる駆動機構80を備えるため、回路や論理演算部等によるトラブルの可能性をなくすことができ、励起光Lが操作者に照射されることを高いレベルで防止することができる。
As described above, according to the
<他の実施形態>
(1)上述した蛍光測定装置1では、シャッタ71は、励起光Lを透過しない材質で形成されている構成としたが、可視光を透過し、所定波長領域の励起光を透過しない材質で形成されたフィルタを用いるような構成としてもよい。このような蛍光測定装置によれば、可視光カメラを内蔵したものであれば、蓋部が開けられたときにも、可視光の撮像結果を観察することができ、測定試料を適切な位置に動かすことができる。
<Other embodiments>
(1) In the
(2)上述した蛍光測定装置1では、駆動機構80は、レバー81とワイヤ82とバネ83とを備え、駆動機構80によってシャッタ71を移動させる構成としたが、本発明はこの手段のみに限定されるものではない。シャッタが蓋部の動きと機械的に連動することにより、蓋部が開いた状態、すなわち操作者が測定試料にアクセス可能な状態のときにはシャッタが光源部からの励起光の光路中に挿入され、かつ、蓋部が閉じた状態、すなわち操作者が測定試料にアクセス不可能な状態のときにはシャッタが励起光の光路外に退避する機構を備えていれば、他の手段による構成としてもよい。
(2) In the
本発明は、光源からの光を試料に照射し、その透過光や反射光や蛍光等を光検出器で検出する光測定装置等に利用することができる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for an optical measurement device that irradiates a sample with light from a light source and detects transmitted light, reflected light, fluorescence, and the like with a photodetector.
1 蛍光測定装置(光測定装置)
10 試料配置部
12 蓋部
20 光源部
30 検出器
71 シャッタ(光学素子部材)
80 駆動機構
1 Fluorescence measurement device (light measurement device)
DESCRIPTION OF
80 Drive mechanism
Claims (4)
前記試料配置部に配置された測定試料に測定光を出射する光源部と、
前記試料配置部に配置された測定試料からの試料情報を検出する検出器とを備え、
前記試料配置部には、前記内部にアクセスするために開閉可能な蓋部が形成されている光測定装置であって、
前記測定光の内の少なくとも所定波長領域の光を透過しない光学素子部材と、
前記蓋部の開閉と機械的に連動して、前記光学素子部材を移動させる駆動機構とを備え、
前記駆動機構は、前記蓋部が開いているときには、前記光学素子部材を前記光源部から前記測定試料に至る光路中に配置し、前記蓋部が閉じているときには、前記光学素子部材を前記光源部から前記測定試料に至る光路外に配置することを特徴とする光測定装置。 A sample placement section in which a measurement sample is placed;
A light source unit that emits measurement light to the measurement sample arranged in the sample arrangement unit;
A detector for detecting sample information from a measurement sample arranged in the sample arrangement unit,
The sample placement unit is a light measurement device in which a lid that can be opened and closed to access the inside is formed,
An optical element member that does not transmit at least a predetermined wavelength region of the measurement light; and
A drive mechanism that moves the optical element member mechanically in conjunction with opening and closing of the lid,
The drive mechanism places the optical element member in an optical path from the light source part to the measurement sample when the lid part is open, and moves the optical element member to the light source when the lid part is closed. An optical measurement apparatus, which is disposed outside the optical path from the section to the measurement sample.
前記駆動機構は、レバーと、前記レバーの一端部と前記光学素子部材とを連結したワイヤとを備え、
前記レバーの他端部は、前記蓋部が閉じているときには前記蓋部によって押圧され、前記蓋部が開いているときには前記蓋部によって押圧されないことを特徴とする請求項1に記載の光測定装置。 The optical element member is rotatable around one end as a rotation axis,
The drive mechanism includes a lever, and a wire that connects one end of the lever and the optical element member,
The optical measurement according to claim 1, wherein the other end of the lever is pressed by the lid when the lid is closed, and is not pressed by the lid when the lid is open. apparatus.
前記測定試料が前記開口部を塞ぐように、前記ベース板の上面に載置されるようになっていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光測定装置。 The sample placement unit includes a base plate having an opening, and a lid that can open and close the upper surface of the base plate.
The optical measurement apparatus according to claim 1, wherein the measurement sample is placed on an upper surface of the base plate so as to block the opening.
前記試料配置部に配置された測定試料に測定光を出射する光源部と、
前記試料配置部に配置された測定試料からの試料情報を検出する検出器とを備え、
前記試料配置部には、前記内部にアクセスするために開閉可能な蓋部が形成されている光測定装置に用いられる安全装置であって、
前記測定光の内の少なくとも所定波長領域の光を透過しない光学素子部材と、
前記蓋部の開閉と機械的に連動して、前記光学素子部材を移動させる駆動機構とを備え、
前記駆動機構は、前記蓋部が開いているときには、前記光学素子部材を前記光源部から前記測定試料に至る光路中に配置し、前記蓋部が閉じているときには、前記光学素子部材を前記光源部から前記測定試料に至る光路外に配置することを特徴とする安全装置。 A sample placement section in which a measurement sample is placed;
A light source unit that emits measurement light to the measurement sample arranged in the sample arrangement unit;
A detector for detecting sample information from a measurement sample arranged in the sample arrangement unit,
The sample placement unit is a safety device used in an optical measurement device in which a lid that can be opened and closed to access the inside is formed,
An optical element member that does not transmit at least a predetermined wavelength region of the measurement light; and
A drive mechanism that moves the optical element member mechanically in conjunction with opening and closing of the lid,
The drive mechanism places the optical element member in an optical path from the light source part to the measurement sample when the lid part is open, and moves the optical element member to the light source when the lid part is closed. A safety device, wherein the safety device is disposed outside an optical path from a part to the measurement sample.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013257838A JP6221719B2 (en) | 2013-12-13 | 2013-12-13 | Light measuring device and safety device used therefor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013257838A JP6221719B2 (en) | 2013-12-13 | 2013-12-13 | Light measuring device and safety device used therefor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015114578A true JP2015114578A (en) | 2015-06-22 |
JP6221719B2 JP6221719B2 (en) | 2017-11-01 |
Family
ID=53528406
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013257838A Active JP6221719B2 (en) | 2013-12-13 | 2013-12-13 | Light measuring device and safety device used therefor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6221719B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020507784A (en) * | 2017-02-15 | 2020-03-12 | マルクメトリックス・インコーポレイテッド | Closed bench-top Raman spectrometer |
EP3862189A1 (en) * | 2020-02-10 | 2021-08-11 | Datamax-O'Neil Corporation | Safety mechanism for printing apparatus |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61165775A (en) * | 1985-01-16 | 1986-07-26 | Fujitsu Ltd | Device for printing electronic photograph |
JPH0519603A (en) * | 1991-07-17 | 1993-01-29 | Canon Inc | Laser scanning device |
JPH06297755A (en) * | 1993-04-16 | 1994-10-25 | Canon Inc | Laser scanning device |
JP2002356004A (en) * | 2001-05-31 | 2002-12-10 | Canon Inc | Image forming apparatus |
JP2004245979A (en) * | 2003-02-12 | 2004-09-02 | Keyence Corp | Fluorescence microscope |
JP2006011045A (en) * | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Olympus Corp | Total reflection microscope |
US20070008400A1 (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Image forming apparatus and light scanning apparatus |
-
2013
- 2013-12-13 JP JP2013257838A patent/JP6221719B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61165775A (en) * | 1985-01-16 | 1986-07-26 | Fujitsu Ltd | Device for printing electronic photograph |
JPH0519603A (en) * | 1991-07-17 | 1993-01-29 | Canon Inc | Laser scanning device |
JPH06297755A (en) * | 1993-04-16 | 1994-10-25 | Canon Inc | Laser scanning device |
JP2002356004A (en) * | 2001-05-31 | 2002-12-10 | Canon Inc | Image forming apparatus |
JP2004245979A (en) * | 2003-02-12 | 2004-09-02 | Keyence Corp | Fluorescence microscope |
JP2006011045A (en) * | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Olympus Corp | Total reflection microscope |
US20070008400A1 (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Image forming apparatus and light scanning apparatus |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020507784A (en) * | 2017-02-15 | 2020-03-12 | マルクメトリックス・インコーポレイテッド | Closed bench-top Raman spectrometer |
JP7191857B2 (en) | 2017-02-15 | 2022-12-19 | マルクメトリックス・インコーポレイテッド | Closed Benchtop Raman Spectrometer |
EP3862189A1 (en) * | 2020-02-10 | 2021-08-11 | Datamax-O'Neil Corporation | Safety mechanism for printing apparatus |
CN113246618A (en) * | 2020-02-10 | 2021-08-13 | 大数据奥尼尔公司 | Safety mechanism for printing device |
US11287774B2 (en) | 2020-02-10 | 2022-03-29 | Datamax-O'neil Corporation | Safety mechanism for printing apparatus |
US11809125B2 (en) | 2020-02-10 | 2023-11-07 | Hand Held Products, Inc. | Safety mechanism for printing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6221719B2 (en) | 2017-11-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4912096B2 (en) | Microchip inspection device | |
JP4509143B2 (en) | Box microscope equipment | |
TW200715442A (en) | Detecting device and inspecting apparatus | |
JP6096418B2 (en) | X-ray detector | |
JP6096419B2 (en) | X-ray detector | |
JP6221719B2 (en) | Light measuring device and safety device used therefor | |
CN104965075A (en) | Chemiluminiscence enzyme immunoassay fluorescence comprehensive detector | |
JP5821885B2 (en) | Inspection specimen and analyzer | |
JP2021113997A (en) | Image acquisition device and image acquisition method | |
JP6642372B2 (en) | X-ray analyzer | |
JP4409586B2 (en) | Box-type electric microscope | |
JPH0896065A (en) | Scanner for bar code inspecting device | |
JP2011075476A (en) | Inspection device using chip | |
WO2004077029A1 (en) | Device for measuring immunochromatography test piece | |
JP2010066344A (en) | Shield cover for microscope illumination light | |
JPWO2004077030A1 (en) | Immunochromatographic test strip measuring device and light source device | |
JP2010127637A (en) | Photometric system | |
US9952142B2 (en) | Measuring head with illumination | |
JP6629504B2 (en) | Optical analyzer | |
JP6172926B2 (en) | Protection device and microscope system | |
JP5964186B2 (en) | Imaging device | |
JP5672376B2 (en) | Optical system for reflection characteristic measuring apparatus and reflection characteristic measuring apparatus | |
JPWO2016051838A1 (en) | Lens device | |
JP2011179872A (en) | Optical element inspection tool | |
JP4389576B2 (en) | Analysis equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160308 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161214 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170110 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170307 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170905 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170918 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6221719 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |