JP2015108522A - Inspection device, inspection method and inspection program - Google Patents

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JP2015108522A JP2013250424A JP2013250424A JP2015108522A JP 2015108522 A JP2015108522 A JP 2015108522A JP 2013250424 A JP2013250424 A JP 2013250424A JP 2013250424 A JP2013250424 A JP 2013250424A JP 2015108522 A JP2015108522 A JP 2015108522A
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程島 隆
Takashi Hodoshima
隆 程島
拓郎 曽根
Takuro Sone
拓郎 曽根
一樹 船橋
Kazuki Funabashi
一樹 船橋
秀幸 木原
Hideyuki Kihara
秀幸 木原
弘人 橘
Hiroto Tachibana
弘人 橘
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device, an inspection method and an inspection program that can detect even a minute defect in an image.SOLUTION: An inspection device includes: a first acquisition unit that acquires an image obtained by ripping print data, as a reference image; a second acquisition unit that acquires a read image of an image printed using the print data, as an image to be inspected; a first calculation unit that calculates a first difference quantity which is a relative difference from each pixel value of surrounding pixels, with respect to each pixel in the reference image; a second calculation unit that calculates a second difference quantity which is a relative difference from each pixel value of the surrounding pixels, with respect to each pixel in the image to be inspected corresponding to a position of each pixel in the reference image; and a determination unit that determines whether or not the image to be inspected has abnormality, on the basis of an absolute value of difference between the first difference quantity and the second difference quantity.

Description

本発明は、検査装置、検査方法及び検査プログラムに関する。   The present invention relates to an inspection apparatus, an inspection method, and an inspection program.

印刷物の印刷品質を検査するために、印刷物をスキャナなどの画像入力装置で読み取って生成した検査対象画像データを、印刷データをリッピングして、画像出力装置による出力画像に近づくように変換処理した基準画像データと比較することにより、印刷物に発生した欠陥を判定する技術が知られている。   In order to inspect the print quality of printed matter, the image data to be inspected generated by reading the printed matter with an image input device such as a scanner is converted so that the print data is ripped and approximated to the output image by the image output device A technique for determining a defect generated in a printed material by comparing with image data is known.

また、特許文献1には、読み取り画像を検査対象画像として所得し、印刷データをリッピングした画像を基準画像として取得する取得手段と、取得した基準画像において、画素値の変化を表す平坦度を解析する解析手段と、解析結果の平坦度に基づき、検査用の閾値を、画像領域の種別ごとに切り換え、基準画像と検査対象画像との比較から得た画素値の差分が検査用の閾値を超過しているか否かの判定結果に基づき、領域種別ごとに印刷品質を検査するように制御する制御手段と、を有する検査装置が開示されている。   Japanese Patent Laid-Open No. 2004-228561 analyzes an analysis unit that acquires a read image as an image to be inspected, acquires an image obtained by ripping print data as a reference image, and flatness that represents a change in pixel value in the acquired reference image. Based on the analysis means and the flatness of the analysis result, the inspection threshold is switched for each type of image area, and the difference in pixel values obtained from the comparison between the reference image and the inspection target image exceeds the inspection threshold. An inspection apparatus is disclosed that includes a control unit that controls to inspect the print quality for each area type based on the determination result of whether or not the image is printed.

しかしながら、従来の印刷物検査方法では、検査対象画像のグラデーション部などで生じる微少な濃度ムラ、又は滑らかに濃度が変化すべき領域で周囲よりも濃く見える部分や薄く見える部分が生じていても、検出され難いという問題があった。また、特許文献1のように、基準画像の平坦度を基に閾値を決める場合、均一なハーフトーン部分であれば閾値を高くできるが、グラデーション部分(その範囲の広さにもよる)では、均一ハーフトーン部分に比べると平坦度が低くなり、閾値を大きくする必要がある。また、グラデーション部で階調ムラが生じる場合、階調ムラが生じている位置で、階調ムラが生じずに滑らかに変化した場合との濃度差は数階調分程度と小さい。そのため、基準画像の平坦度を参照する検査方法では、検査対象画像のグラデーション部で生じる階調ムラが検出され難いことがあった。   However, in the conventional printed matter inspection method, even if there is a minute density unevenness that occurs in the gradation part of the image to be inspected, or a part that appears darker or thinner than the surrounding area in the area where the density should change smoothly, it can be detected. There was a problem that it was difficult to be done. Further, as in Patent Document 1, when the threshold value is determined based on the flatness of the reference image, the threshold value can be increased if it is a uniform halftone part, but in the gradation part (depending on the width of the range), Compared with the uniform halftone portion, the flatness is low, and the threshold value needs to be increased. Further, when the gradation unevenness occurs in the gradation portion, the density difference from the case where the gradation unevenness does not occur at the position where the gradation unevenness occurs and changes smoothly is as small as several gradations. Therefore, in the inspection method that refers to the flatness of the reference image, it is difficult to detect gradation unevenness that occurs in the gradation portion of the inspection target image.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、画像の微少な欠陥であっても検出することができる検査装置、検査方法及び検査プログラムを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and an object thereof is to provide an inspection device, an inspection method, and an inspection program that can detect even a minute defect in an image.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、印刷データをリッピングした画像を基準画像として取得する第1取得部と、前記印刷データを用いて印刷された画像の読取画像を検査対象画像として取得する第2取得部と、前記基準画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第1差分量を算出する第1算出部と、前記基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する前記検査対象画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第2差分量を算出する第2算出部と、前記第1差分量と前記第2差分量との差の絶対値の大きさに基づいて、前記検査対象画像に異常があるか否かを判定する判定部と、を有することを特徴とする。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, the present invention provides a first acquisition unit that acquires an image obtained by ripping print data as a reference image, and a read image of an image printed using the print data. A second acquisition unit that acquires an image to be inspected, a first calculation unit that calculates a first difference amount that is a relative difference between pixel values of surrounding pixels for each pixel of the reference image, and A second calculation unit that calculates a second difference amount that is a relative difference from a pixel value of a peripheral pixel for each pixel of the inspection target image corresponding to each pixel position; and the first difference amount and the And a determination unit that determines whether or not the inspection target image has an abnormality based on a magnitude of an absolute value of a difference from the second difference amount.

本発明によれば、基準画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第1差分量と、基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する検査対象画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第2差分量との差の絶対値の大きさに基づいて、検査対象画像に異常があるか否かを判定するので、画像の微少な欠陥であっても検出することができるという効果を奏する。   According to the present invention, for each pixel of the reference image, for each pixel of the inspection target image corresponding to the first difference amount that is a relative difference from the pixel values of the surrounding pixels and the position of each pixel of the reference image. Since it is determined whether there is an abnormality in the inspection target image based on the magnitude of the absolute value of the difference from the second difference amount that is a relative difference from the pixel values of the surrounding pixels, Even if it is a defect, there exists an effect that it can detect.

図1は、検査システムの構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the inspection system. 図2は、実施形態にかかる検査装置のハードウェア構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a hardware configuration of the inspection apparatus according to the embodiment. 図3は、検査装置が有する機能の概要を示す機能ブロック図である。FIG. 3 is a functional block diagram showing an overview of the functions of the inspection apparatus. 図4は、検査システムが印刷品質を検査する場合に行う処理を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart illustrating processing performed when the inspection system inspects the print quality. 図5は、階調ムラが生じたグラデーション画像と、画素値差分量の第1算出方法を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a gradation image in which gradation unevenness has occurred and a first calculation method of a pixel value difference amount. 図6は、画素値差分量の第2算出方法を示す模式図である。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a second calculation method of the pixel value difference amount. 図7は、画素位置と画素値の関係から算出する画素値差分量を模式的に示すグラフである。FIG. 7 is a graph schematically showing the pixel value difference amount calculated from the relationship between the pixel position and the pixel value. 図8は、検査システムが画素値差分量の算出を実施する画像領域を限定して検査を行う場合の処理を示すフローチャートである。FIG. 8 is a flowchart illustrating a process in the case where the inspection system performs an inspection by limiting the image area where the pixel value difference amount is calculated.

以下に添付図面を参照して、検査装置の実施の形態を詳細に説明する。図1は、検査システム1の構成を示すブロック図である。図1に示すように、検査システム1は、検査装置100及びスキャナ(読取装置)120を有する。検査装置100とスキャナ120とは、所定のデータ伝送路N(例えば「ネットワークケーブル」や「シリアルパラレルケーブル」など)で接続されている。なお、検査装置100は、スキャナ120の機能を備えるように構成されてもよい。   Embodiments of an inspection apparatus will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the inspection system 1. As shown in FIG. 1, the inspection system 1 includes an inspection device 100 and a scanner (reading device) 120. The inspection apparatus 100 and the scanner 120 are connected by a predetermined data transmission path N (for example, “network cable”, “serial parallel cable”, etc.). Note that the inspection apparatus 100 may be configured to have the function of the scanner 120.

スキャナ120は、印刷物の印刷面を光学的に読み取り、読み取り画像を取得する読取装置である。一方、検査装置100は、印刷物の印刷品質を検査する情報処理装置である。これにより、利用者は、次のような印刷物の印刷品質を検査するサービス(以下「検査サービス」という)を利用することができる。   The scanner 120 is a reading device that optically reads a printed surface of a printed material and acquires a read image. On the other hand, the inspection apparatus 100 is an information processing apparatus that inspects the print quality of printed matter. Thereby, the user can use the following service (hereinafter referred to as “inspection service”) for inspecting the print quality of the printed matter.

例えば、利用者は、検査装置100に、印刷物を得るための印刷データをリッピングした画像を、印刷品質を検査する上での基準画像として入力する。次に、利用者は、スキャナ120で印刷物の印刷面を読み取る。その結果、スキャナ120から検査装置100に読み取り画像が送信される。検査装置100では、受信した読み取り画像と入力された基準画像との比較により画素値の差分が検出され、検出された画素値の差分と設定された検査用の閾値(欠陥判定基準)とに基づく欠陥判定処理が行われる。これにより、利用者は、印刷品質の検査結果を得ることができる。   For example, the user inputs, into the inspection apparatus 100, an image obtained by ripping print data for obtaining a printed material as a reference image for inspecting print quality. Next, the user reads the printed surface of the printed material with the scanner 120. As a result, the scanned image is transmitted from the scanner 120 to the inspection apparatus 100. In the inspection apparatus 100, a difference between pixel values is detected by comparing the received read image with the input reference image, and based on the detected difference between pixel values and a set inspection threshold (defect determination criterion). A defect determination process is performed. Thereby, the user can obtain the print quality inspection result.

以上のように、本実施形態に係る検査システム1では、上記システム構成により、印刷物の検査サービスを提供することができる。なお、検査システム1では、1台の検査装置100に対して、複数のスキャナ120が接続される構成であってもよい。これにより、商業印刷のような大量の印刷物を検査する場合、複数のスキャナ120により複数の印刷物を同時に読み取り、検査装置100において欠陥判定処理を並列処理することで、印刷品質の検査を効率的に実施することができる。   As described above, the inspection system 1 according to the present embodiment can provide a printed matter inspection service with the above-described system configuration. The inspection system 1 may have a configuration in which a plurality of scanners 120 are connected to one inspection apparatus 100. Accordingly, when a large amount of printed matter such as commercial printing is inspected, a plurality of printed matters are simultaneously read by a plurality of scanners 120, and defect inspection processing is performed in parallel in the inspection apparatus 100, thereby efficiently inspecting print quality. Can be implemented.

図2は、実施形態にかかる検査装置100のハードウェア構成を示すブロック図である。図2に示すように、検査装置100は、入力装置101、表示装置102、ドライブ装置103、RAM(Random Access Memory)104、ROM(Read Only Memory)105、CPU(Central Processing Unit)106、インタフェース装置107、及びHDD(Hard Disk Drive)108などを備え、それぞれがバスBで相互に接続されている。   FIG. 2 is a block diagram illustrating a hardware configuration of the inspection apparatus 100 according to the embodiment. As shown in FIG. 2, the inspection apparatus 100 includes an input device 101, a display device 102, a drive device 103, a RAM (Random Access Memory) 104, a ROM (Read Only Memory) 105, a CPU (Central Processing Unit) 106, and an interface device. 107 and an HDD (Hard Disk Drive) 108, etc., which are connected to each other via a bus B.

入力装置101は、キーボードやマウスなどを含み、検査装置100に各操作信号を入力するのに用いられる。表示装置102は、ディスプレイなどを含み、検査装置100による処理結果を表示する。インタフェース装置107は、検査装置100をデータ伝送路Nに接続するインタフェースである。これにより、検査装置100は、インタフェース装置107を介して、スキャナ120を含む通信機能を有する他の機器とデータ通信を行うことができる。   The input device 101 includes a keyboard and a mouse and is used to input each operation signal to the inspection device 100. The display device 102 includes a display and the like, and displays a processing result by the inspection device 100. The interface device 107 is an interface that connects the inspection device 100 to the data transmission path N. Thereby, the inspection apparatus 100 can perform data communication with other devices having a communication function including the scanner 120 via the interface device 107.

HDD108は、プログラムやデータを格納している不揮発性の記憶装置である。格納されるプログラムやデータには、検査装置全体を制御する情報処理システム(例えば「Windows(登録商標)」や「UNIX(登録商標)」などの基本ソフトウェアであるOS(Operating System))、及びシステム上において各種機能(例えば「検査機能」)を提供するアプリケーションなどがある。   The HDD 108 is a non-volatile storage device that stores programs and data. An information processing system (for example, an OS (Operating System) which is basic software such as “Windows (registered trademark)” or “UNIX (registered trademark))” and a system are included in the stored programs and data. There are applications that provide various functions (for example, “inspection function”).

また、HDD108は、格納しているプログラムやデータを、所定のファイルシステム及び/又はDB(Data Base)により管理している。ドライブ装置103は、着脱可能な記録媒体103aとのインタフェースである。これにより、検査装置100は、ドライブ装置103を介して、記録媒体103aの読み取り及び/又は書き込みを行うことができる。記録媒体103aには、例えば、フロッピー(登録商標)ディスク、CD(Compact Disk)、及びDVD(Digital Versatile Disk)、ならびに、SDメモリカード(SD Memory card)やUSBメモリ(Universal Serial Bus memory)などがある。   The HDD 108 manages stored programs and data by a predetermined file system and / or DB (Data Base). The drive device 103 is an interface with a removable recording medium 103a. Accordingly, the inspection apparatus 100 can read and / or write the recording medium 103a via the drive apparatus 103. Examples of the recording medium 103a include a floppy (registered trademark) disk, a CD (Compact Disk), a DVD (Digital Versatile Disk), an SD memory card, a USB memory (Universal Serial Bus memory), and the like. is there.

ROM105は、電源を切っても内部データを保持することができる不揮発性の半導体メモリ(記憶装置)である。ROM105には、検査装置100の起動時に実行されるBIOS(Basic Input/Output System)、情報処理システム設定、及びネットワーク設定などのプログラムやデータが格納されている。RAM104は、プログラムやデータを一時保持する揮発性の半導体メモリ(記憶装置)である。CPU106は、上記記憶装置(例えば「HDD」や「ROM」など)から、プログラムやデータをRAM上に読み出し、処理を実行することで、装置全体の制御や搭載機能を実現する演算装置である。以上のように、本実施形態にかかる検査装置100では、上記ハードウェア構成により、上記検査サービスを提供することができる。   The ROM 105 is a nonvolatile semiconductor memory (storage device) that can retain internal data even when the power is turned off. The ROM 105 stores programs and data such as BIOS (Basic Input / Output System), information processing system settings, and network settings that are executed when the inspection apparatus 100 is activated. The RAM 104 is a volatile semiconductor memory (storage device) that temporarily stores programs and data. The CPU 106 is an arithmetic device that realizes control and mounting functions of the entire apparatus by reading programs and data from the storage device (for example, “HDD” and “ROM”) onto the RAM and executing processing. As described above, the inspection apparatus 100 according to the present embodiment can provide the inspection service with the hardware configuration.

図3は、検査装置100が有する機能の概要を示す機能ブロック図である。検査装置100は、第1取得部10、第2取得部11、第1算出部12、第2算出部13、記憶部14及び判定部15を有する。なお、検査装置100が実行する各機能は、ハードウェアによって構成されてもよいし、ソフトウェアによって構成されてもよい。   FIG. 3 is a functional block diagram showing an overview of the functions of the inspection apparatus 100. The inspection apparatus 100 includes a first acquisition unit 10, a second acquisition unit 11, a first calculation unit 12, a second calculation unit 13, a storage unit 14, and a determination unit 15. Note that each function executed by the inspection apparatus 100 may be configured by hardware or software.

第1取得部10は、印刷データをリッピングし、画像出力装置による出力画像に近づくように変換処理を施すことにより、基準画像データ(基準画像)を取得する。また、第1取得部10は、印刷データをリッピングした画像を基準画像として外部から取得してもよい。   The first acquisition unit 10 acquires reference image data (reference image) by ripping print data and performing a conversion process so as to approach the output image by the image output apparatus. The first acquisition unit 10 may acquire an image obtained by ripping print data from the outside as a reference image.

第2取得部11は、検査対象画像データ(検査対象画像)を取得する。検査対象画像データは、印刷画像データに基づく画像を画像形成装置によって紙などの媒体上に出力してスキャナ120で読取ることによって得られたデータである。また、第2取得部11は、印刷データを用いて印刷された画像の読取画像を検査対象画像として外部から取得してもよい。   The second acquisition unit 11 acquires inspection target image data (inspection target image). The image data to be inspected is data obtained by outputting an image based on the print image data onto a medium such as paper by an image forming apparatus and reading it by the scanner 120. Further, the second acquisition unit 11 may acquire a read image of an image printed using print data as an inspection target image from the outside.

第1算出部12は、第1取得部10が取得した基準画像データにおいて、各画素の画素値と周辺画素の画素値の差である画素値差分量(第1差分量)を算出する。周辺画素との画素値差分量の算出についての具体的内容は後述する。また、第1算出部12は、さらに基準画像に対し、画素値の変化を表す平坦度を解析する演算を行うように構成されてもよい。   The first calculation unit 12 calculates a pixel value difference amount (first difference amount) that is a difference between a pixel value of each pixel and a pixel value of surrounding pixels in the reference image data acquired by the first acquisition unit 10. Specific contents of the calculation of the pixel value difference amount with the surrounding pixels will be described later. The first calculation unit 12 may be further configured to perform an operation for analyzing the flatness representing the change in the pixel value with respect to the reference image.

第2算出部13は、第2取得部11が取得した検査対象画像データにおいて、基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する各画素の画素値と周辺画素の画素値の差である画素値差分量(第2差分量)を算出する。   The second calculation unit 13 includes a pixel value difference that is a difference between the pixel value of each pixel corresponding to the position of each pixel of the reference image and the pixel value of surrounding pixels in the inspection target image data acquired by the second acquisition unit 11. An amount (second difference amount) is calculated.

記憶部14は、例えば画像が正常であるか否かを判定するための閾値などの判定基準を記憶する。記憶部14は、判定基準となる閾値を予め記憶していてもよいし、検査システム1が決定した閾値を記憶してもよい。   The storage unit 14 stores determination criteria such as a threshold value for determining whether or not an image is normal. The memory | storage part 14 may memorize | store the threshold value used as a determination criterion previously, and may memorize | store the threshold value which the test | inspection system 1 determined.

判定部15は、基準画像データと検査対象画像データの、同じ位置の画素同士で、周辺画素との画素値差分量を比較する。また、判定部15は、記憶部14が記憶している閾値などの判定基準に基づいて、検査対象画像が正常であるか否かを判定する。例えば、判定部15は、第1差分量と第2差分量との差の絶対値の大きさと、予め定められた閾値とを比較することにより、検査対象画像に異常があるか否かを判定する。   The determination unit 15 compares the pixel value difference amount with the surrounding pixels between the pixels at the same position in the reference image data and the inspection target image data. Further, the determination unit 15 determines whether or not the inspection target image is normal based on a determination criterion such as a threshold stored in the storage unit 14. For example, the determination unit 15 determines whether there is an abnormality in the inspection target image by comparing the magnitude of the absolute value of the difference between the first difference amount and the second difference amount with a predetermined threshold value. To do.

また、判定部15は、さらに第1算出部12が解析した平坦度が所定値B以上であるか否か、及び所定値C以下であるか否かを判定し、平坦度が所定値B未満かつ所定値Cよりも大きい場合、平坦度に対応した画素値の閾値Dを決定するように構成されてもよい。判定部15は、閾値Dを決定した場合、基準画像と検査対象画像の同じ位置の画素同士の画素値を比較し、画素値の差が閾値D以上であるか否かを判定することにより、検査対象画像が正常であるか否かを判定する。   The determination unit 15 further determines whether or not the flatness analyzed by the first calculation unit 12 is equal to or greater than the predetermined value B and is equal to or less than the predetermined value C, and the flatness is less than the predetermined value B. And when larger than the predetermined value C, the threshold value D of the pixel value corresponding to the flatness may be determined. When the determination unit 15 determines the threshold D, the determination unit 15 compares the pixel values of the pixels at the same position in the reference image and the inspection target image, and determines whether or not the difference between the pixel values is greater than or equal to the threshold D. It is determined whether or not the inspection target image is normal.

つまり、判定部15は、平坦度が所定の第1閾値未満であり且つ第2閾値よりも大きい場合、平坦度に対応した第3閾値を決定する。そして、判定部15は、基準画像の各画素の画素値と、基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する検査対象画像の画素それぞれの画素値との差が、それぞれ第3閾値以上であるか否かを判定することにより、検査対象画像に異常があるか否かを判定する。   That is, the determination unit 15 determines the third threshold value corresponding to the flatness when the flatness is less than the predetermined first threshold and greater than the second threshold. Then, the determination unit 15 determines whether the difference between the pixel value of each pixel of the reference image and the pixel value of each pixel of the inspection target image corresponding to the position of each pixel of the reference image is greater than or equal to the third threshold value, respectively. By determining whether or not there is an abnormality in the inspection target image.

また、判定部15は、画素値に応じて値を変更した閾値(変更閾値)に基づいて、検査対象画像に異常があるか否かを判定してもよい。ここで、変更閾値は、判定部15が用いる少なくともいずれかの閾値であって、画素値に応じて値を変更したものとする。変更閾値は、記憶部14にそれぞれ記憶されていてもよい。   Further, the determination unit 15 may determine whether or not there is an abnormality in the inspection target image based on a threshold value (change threshold value) whose value is changed according to the pixel value. Here, it is assumed that the change threshold is at least one of the thresholds used by the determination unit 15 and is changed according to the pixel value. The change threshold value may be stored in the storage unit 14.

次に、検査システム1が印刷品質を検査する場合に行う処理について説明する。図4は、検査システム1が印刷品質を検査する場合に行う処理を示すフローチャートである。ステップ101(S101)において、第1取得部10が基準画像データを取得し、第2取得部11が検査対象画像データを取得する。   Next, processing performed when the inspection system 1 inspects the print quality will be described. FIG. 4 is a flowchart showing processing performed when the inspection system 1 inspects the print quality. In step 101 (S101), the first acquisition unit 10 acquires reference image data, and the second acquisition unit 11 acquires inspection target image data.

ステップ102(S102)において、第1算出部12は、基準画像データにおいて、各画素の画素値と周辺画素の画素値の差である画素値差分量を算出する。また、第2算出部13は、検査対象画像データにおいて、各画素の画素値と周辺画素の画素値の差である画素値差分量を算出する。   In step 102 (S102), the first calculation unit 12 calculates a pixel value difference amount that is a difference between a pixel value of each pixel and a pixel value of surrounding pixels in the reference image data. In addition, the second calculation unit 13 calculates a pixel value difference amount that is a difference between the pixel value of each pixel and the pixel value of surrounding pixels in the inspection target image data.

ステップ103(S103)において、判定部15は、基準画像データと検査対象画像データの、同じ位置の画素同士で、周辺画素との画素値差分量を比較する。   In step 103 (S103), the determination unit 15 compares the pixel value difference amount between the reference image data and the inspection target image data at the same position with the surrounding pixels.

ステップ104(S104)において、判定部15は、基準画像データの任意の位置の画素の画素値差分量と、検査対象画像データで同じ位置の画素の画素値差分量との差が所定の閾値A以上であるか否かを判定する。判定部15は、差が所定の閾値A以上である場合(S104:Yes)には、S106の処理に進む。また、判定部15は、差が所定の閾値A以上でない場合(S104:No)には、S105の処理に進む。   In step 104 (S104), the determination unit 15 determines that the difference between the pixel value difference amount of a pixel at an arbitrary position in the reference image data and the pixel value difference amount of a pixel at the same position in the inspection target image data is a predetermined threshold A. It is determined whether it is above. If the difference is greater than or equal to the predetermined threshold A (S104: Yes), the determination unit 15 proceeds to the process of S106. If the difference is not greater than or equal to the predetermined threshold A (S104: No), the determination unit 15 proceeds to the process of S105.

ステップ105(S105)において、判定部15は、検査対象画像は正常であると判定する。   In step 105 (S105), the determination unit 15 determines that the inspection target image is normal.

ステップ106(S106)において、判定部15は、検査対象画像に、基準画像にはないムラ等の異常(欠陥)があると判定する。   In step 106 (S106), the determination unit 15 determines that the inspection target image has an abnormality (defect) such as unevenness that is not present in the reference image.

次に、第1算出部12及び第2算出部13が算出する画素値差分量について詳述する。図5は、階調ムラが生じたグラデーション画像と、画素値差分量(周辺画素の画素値との差)の第1算出方法を示す模式図である。   Next, the pixel value difference amount calculated by the first calculation unit 12 and the second calculation unit 13 will be described in detail. FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a first calculation method of a gradation image in which gradation unevenness has occurred and a pixel value difference amount (difference from pixel values of surrounding pixels).

図5に示したグラデーション画像に対して、従来の印刷物検査方法では階調ムラを検出することは困難であった。印刷物には様々な画像が含まれているが、特に写真やグラフィックスにおいては、ある画像領域の中で色調(濃度、明度、彩度etc.)が徐々に滑らかに変化するグラデーション画像が存在する場合が多い。色調が変化する方向は画像により様々であるが、図5では、四角形の左下から右上に向かって濃度が濃くなっていくグラデーション画像を示している。   With respect to the gradation image shown in FIG. 5, it is difficult to detect gradation unevenness by the conventional printed matter inspection method. Various kinds of images are included in the printed matter, but especially in photographs and graphics, there are gradation images in which the color tone (density, lightness, saturation, etc.) gradually changes smoothly in a certain image area. There are many cases. The direction in which the color tone changes varies depending on the image, but FIG. 5 shows a gradation image in which the density increases from the lower left to the upper right of the square.

このようなグラデーション画像では、ある部分での色調の変化度合いが、その前後の色調の変化度合いと僅かに異なっていると、濃いスジに見えたり、逆に薄いスジに見えたりする。原稿画像データ側で元々そのような画像となっている場合もあるが、原稿画像データでは滑らかに変化するグラデーションであるのに、画像形成装置の状態により、印刷画像の方では、グラデーションの途中でムラが生じてしまう場合がある。このような階調ムラの場合、階調ムラが生じている位置で、階調ムラが生じている場合と、階調ムラが生じずに滑らかに変化した場合との濃度差は数階調分程度と小さい。よって、従来のように、基準画像と検査対象画像の同じ位置の画素の画素値を比較する方法では、検出し難い。   In such a gradation image, if the degree of change in color tone at a certain part is slightly different from the degree of change in color tone before and after that, it appears as a dark streak or conversely as a thin streak. In some cases, the original image data is originally such an image, but the original image data has a gradation that changes smoothly. However, depending on the state of the image forming apparatus, the print image may be in the middle of the gradation. Unevenness may occur. In the case of such gradation unevenness, the density difference between the gradation unevenness occurring at the position where the gradation unevenness occurs and the smooth change without gradation unevenness is several gradations. About small. Therefore, it is difficult to detect by the conventional method of comparing pixel values of pixels at the same position in the reference image and the inspection target image.

従来技術のように、基準画像の平坦度を求め、平坦度に応じて閾値を変更する場合、濃度変化の小さい均一なハーフトーン画像に、同じような濃度差のムラが生じている画像であれば、基準画像が平坦であることから検査用閾値が小さくなるので、ムラを検出できる。しかし、グラデーション部では、均一ハーフトーンの場合よりも平坦度が下がる(より平坦でなくなる)ため検査用の閾値が大きくなるので、生じたムラが検出しにくくなる。   When the flatness of the reference image is obtained and the threshold value is changed according to the flatness as in the prior art, even if the unevenness of the same density difference occurs in a uniform halftone image with a small density change. In this case, since the reference image is flat, the inspection threshold value becomes small, so that unevenness can be detected. However, in the gradation portion, the flatness is lowered (becomes less flat) than in the case of the uniform halftone, and the inspection threshold value is increased, so that the generated unevenness is difficult to detect.

図5の右側に示した図は、画像を画素単位まで拡大した図となっている。第1算出部12及び第2算出部13は、上述したようにそれぞれ各画素について、周辺画素の画素値との差分量を算出する。当該画素の画素値と周辺画素の画素値との差分量は、当該画素から第1の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値と、当該画素から第1の方向とは略反対方向である第2の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値の平均値と、当該画素の画素値の差を算出することによって求められる。   The figure shown on the right side of FIG. 5 is an enlarged view of an image up to a pixel unit. As described above, the first calculation unit 12 and the second calculation unit 13 calculate the amount of difference from the pixel value of the surrounding pixels for each pixel. The amount of difference between the pixel value of the pixel and the pixel values of the surrounding pixels is substantially opposite to the pixel value of the pixel at a predetermined number of pixels away from the pixel in the first direction and the first direction from the pixel. This is obtained by calculating the difference between the average pixel value of pixels located at a predetermined number of pixels away in the second direction, and the pixel value of the pixel.

具体的には、図5において、画素の位置を縦方向i番目、横方向j番目で表わす。そして、その画素値(R,G,Bの輝度、濃度、又は明度等)をv(i,j)として、参照する周辺画素を左右へ5画素離れた位置の画素とすると、位置(i,j)の画素値の差分量は、下式1によって算出される。   Specifically, in FIG. 5, the position of the pixel is represented by the i-th in the vertical direction and the j-th in the horizontal direction. Then, assuming that the pixel value (luminance, density, brightness, etc. of R, G, B) is v (i, j) and the peripheral pixel to be referred to is a pixel located 5 pixels away from the left and right, the position (i, The difference value of the pixel value of j) is calculated by the following formula 1.

差分量 = v(i,j)−{v(i,j−5) + v(i,j+5)}/2
・・・(1)
Difference amount = v (i, j)-{v (i, j-5) + v (i, j + 5)} / 2
... (1)

つまり、第1算出部12及び第2算出部13は、上式1に示された計算を対象画像領域の全画素について行う。そして、判定部15は、第1算出部12及び第2算出部13が算出した結果を、基準画像と検査対象画像で比較する。判定部15は、基準画像と検査対象画像で、この各画素の周辺画素との画素値差分量の差が、予め定められた閾値よりも大きければ、検査対象画像のグラデーション部分で階調ムラがあると判定する。   That is, the first calculation unit 12 and the second calculation unit 13 perform the calculation shown in the above equation 1 for all the pixels in the target image region. Then, the determination unit 15 compares the results calculated by the first calculation unit 12 and the second calculation unit 13 with the reference image and the inspection target image. If the difference in the pixel value difference between the reference image and the inspection target image and the surrounding pixels of each pixel is larger than a predetermined threshold value, the determination unit 15 causes gradation unevenness in the gradation portion of the inspection target image. Judge that there is.

ここで、当該画素から離れる画素数については、検査を行うシステムの解像度等の条件によって適切な数が選択されるものとする。また、画像のグラデーション範囲の大きさ、最小画素値と最大画素値の差によっても適正な数があるので、精度を向上させるには、基準画像の上記内容の解析結果から決定するようにされてもよい。基準画像グラデーション部の画素値の変化が緩やかであれば、画素数の間隔は大きくし、急であれば画素数の間隔は小さくする。   Here, as for the number of pixels away from the pixel, an appropriate number is selected according to conditions such as the resolution of the system performing the inspection. In addition, since there is an appropriate number depending on the size of the gradation range of the image and the difference between the minimum pixel value and the maximum pixel value, in order to improve the accuracy, it is determined from the analysis result of the above contents of the reference image. Also good. If the change in the pixel value of the reference image gradation portion is gradual, the interval between the numbers of pixels is increased, and if it is abrupt, the interval between the numbers of pixels is decreased.

つまり、第1算出部12及び第2算出部13は、基準画像における隣接する画素の画素値の変化度合いに基づいて、当該画素から参照する周辺画素までの画素数を変更する。   That is, the first calculation unit 12 and the second calculation unit 13 change the number of pixels from the pixel to the peripheral pixel to be referenced based on the change degree of the pixel value of the adjacent pixel in the reference image.

周辺画素として、所定方向で当該画素の両側でなく、片側のみを比較対象としてもよいが、グラデーションの傾きが、基準画像と検査対象画像で異なる場合もあるので、両側を対象とするほうが好ましい。   As peripheral pixels, only one side of the pixel in the predetermined direction may be compared, but the gradient gradient may be different between the reference image and the inspection target image, so it is preferable to target both sides.

図6は、画素値差分量(周辺画素の画素値との差)の第2算出方法を示す模式図である。図6に示すように、第1算出部12及び第2算出部13は、周辺画素として、当該画素から、右へ5画素離れた位置を中心としてその周囲の8画素を加え3×3の9画素、左側も同様に9画素とし、それらの平均画素値と当該画素の画素値の差を求めてもよい。図5に示したように、対象とした周辺画素が左右1画素ずつである場合、その対象画素が周辺に対して突出した画素値となっていることがあるので、図6に示したように対象とする周辺画素数を増やしたほうが、差分量の精度も向上する。   FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a second calculation method of the pixel value difference amount (difference from the pixel values of surrounding pixels). As shown in FIG. 6, the first calculation unit 12 and the second calculation unit 13 add 3 pixels of 3 × 3 as the surrounding pixels by adding 8 pixels around the pixel 5 pixels to the right from the pixel. Similarly, the pixel and the left side may be 9 pixels, and the difference between the average pixel value and the pixel value of the pixel may be obtained. As shown in FIG. 5, when the target peripheral pixels are one pixel each on the left and right, the target pixel may have a pixel value protruding from the periphery. Increasing the number of target peripheral pixels improves the accuracy of the difference amount.

図7は、画素位置と画素値の関係から算出する画素値差分量を模式的に示すグラフである。図7(a)、(b)に示したグラフにおいて、横軸は画素位置であり、図5と対照すれば、B点は位置(i,j)、A点は位置(i,j−5)、C点は(i,j+5)に対応する。縦軸は画素値でR,G,B何れかの輝度値である。図7(a)のグラフは基準画像であり、図7(b)のグラフは検査対象画像である。   FIG. 7 is a graph schematically showing the pixel value difference amount calculated from the relationship between the pixel position and the pixel value. In the graphs shown in FIGS. 7A and 7B, the horizontal axis is the pixel position. Compared with FIG. 5, the point B is the position (i, j) and the point A is the position (i, j−5). ), Point C corresponds to (i, j + 5). The vertical axis represents the luminance value of any of R, G, and B as the pixel value. The graph in FIG. 7A is a reference image, and the graph in FIG. 7B is an inspection target image.

基準画像では、A〜B〜C点で画素値の変化が滑らかに続いているが、検査対象画像で対応するA’〜B’〜C’点を見ると、B’点で下に凹んだ形状となっており、B’点の画素値が基準画像よりも小さくなっている。基準画像では見られない階調ムラが検査対象画像では現われている場合である。このような状態でも、A点の画素値、C点の画素値が基準画像と検査対象画像で差がなく、B点の画素値のみ差があるのであれば、対応する位置の画素値の差を算出するのみでも、B点の階調ムラは検出できる。   In the reference image, the pixel value changes smoothly at points A to B to C. However, when the corresponding points A ′ to B ′ to C ′ are seen in the inspection target image, the pixel values are recessed downward at the point B ′. The pixel value at point B ′ is smaller than that of the reference image. This is a case where gradation unevenness that cannot be seen in the reference image appears in the inspection target image. Even in such a state, if there is no difference between the pixel value at point A and the pixel value at point C between the reference image and the image to be inspected and only the pixel value at point B is different, the difference between the pixel values at the corresponding positions The gradation unevenness at point B can be detected only by calculating.

しかし、実際には、A点でも、C点でも画素値に差があり、A点で差がなく、C点で差があるというように、画素値の勾配に差が出ている場合もあり、B点での画素値の差のみで階調ムラを検出することは難しい。   However, in practice, there may be a difference in the gradient of the pixel value such that there is a difference in the pixel value at point A or C, there is no difference at point A, and there is a difference at point C. , It is difficult to detect gradation unevenness only by the difference in pixel values at point B.

そこで、A点とC点の画素値平均に対するB点画素値の差分を算出する。即ち、画素値において、周辺画素に対する当該画素(B点)の位置を算出し、基準画像と検査対象画像でその差がどの程度かを評価すれば、基準画像と検査対象画像でA点C点に差があっても、B点の階調ムラを検出することができる。   Therefore, the difference between the pixel values at point B with respect to the average pixel value at points A and C is calculated. That is, in the pixel value, the position of the pixel (point B) with respect to the surrounding pixels is calculated, and if the difference between the reference image and the inspection target image is evaluated, the point A and the point C between the reference image and the inspection target image Even if there is a difference, the gradation unevenness at point B can be detected.

階調ムラは、画素値の変化方向の等高線に沿うように生じる。図5、6では横方向の1画素ラインでのみ画素値差分量を算出する図となっているが、上下のラインでも同様の画素値差分量を算出し、複数のラインの解析結果を合わせて判定するようにすれば、階調ムラの検出精度も向上する。その場合、画素値差分量の大きくなる画素が必ずしも上下で同じ位置になるとは限らない。よって、同じような画素値差分量の最大値の現われる位置が上下のラインで横方向位置が異なっていても、数画素の差であれば同じムラであるとして、上下方向各ラインで最大の画素値差分量を集計し、その平均値を閾値と比較する。   Gradation unevenness occurs along a contour line in the change direction of the pixel value. 5 and 6, the pixel value difference amount is calculated only for one pixel line in the horizontal direction. However, the same pixel value difference amount is calculated for the upper and lower lines, and the analysis results of a plurality of lines are combined. If the determination is made, the gradation non-uniformity detection accuracy is also improved. In that case, the pixels having a large pixel value difference amount are not necessarily in the same position vertically. Therefore, even if the position where the maximum value of the same pixel value difference amount appears is different in the horizontal direction on the upper and lower lines, if the difference is several pixels, it is the same unevenness and the largest pixel in each vertical line The amount of value difference is totaled and the average value is compared with a threshold value.

周辺画素の位置を選ぶ方向であるが、図5のように斜め方向でなく、上下方向に画素値が変化するグラデーション画像の場合、階調ムラは水平方向のスジとなって現われるので、水平方向に画素値差分量を算出するのでは階調ムラを検出することはできない。その対応としては、画素値差分量の算出を1方向に対してだけではなく、直交する2方向について実施するようにすれば、少なくともどちらかの方向では、階調ムラを検出することができる。   In the case of a gradation image in which the pixel value changes in the vertical direction instead of the diagonal direction as shown in FIG. 5, the gradation unevenness appears as a horizontal stripe in the horizontal direction. If the pixel value difference amount is calculated, gradation unevenness cannot be detected. As a countermeasure, if the calculation of the pixel value difference amount is performed not only in one direction but also in two orthogonal directions, gradation unevenness can be detected in at least one of the directions.

具体的には、第1算出部12は、基準画像の画素それぞれについて、当該画素から第1の方向に略直行する第3の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値と、当該画素から前記第3の方向とは略反対方向である第4の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値との平均値と、当該画素の画素値との差を第3差分量としてさらに算出する。   Specifically, for each pixel of the reference image, the first calculation unit 12 includes a pixel value of a pixel located at a predetermined number of pixels away from the pixel in a third direction substantially orthogonal to the first direction, The difference between the average value of the pixel value of the pixel located at a predetermined number of pixels away from the pixel in the fourth direction, which is substantially opposite to the third direction, and the pixel value of the pixel is the third difference amount. As further calculated.

また、第2算出部13は、基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する検査対象画像の画素それぞれについて、当該画素から第3の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値と、当該画素から第4の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値との平均値と、当該画素の画素値との差を第4差分量としてさらに算出する。   Further, the second calculation unit 13 includes, for each of the pixels of the inspection target image corresponding to the position of each pixel of the reference image, a pixel value of a pixel at a position away from the pixel in a third direction by a predetermined number of pixels, The difference between the average value of the pixel value of the pixel located at a predetermined number of pixels away from the pixel in the fourth direction and the pixel value of the pixel is further calculated as a fourth difference amount.

そして、判定部15は、第3差分量と第4差分量との差の絶対値の大きさに基づいて、検査対象画像に異常があるか否かをさらに判定する。   Then, the determination unit 15 further determines whether there is an abnormality in the inspection target image based on the magnitude of the absolute value of the difference between the third difference amount and the fourth difference amount.

このように、検査システム1は、原稿データをリッピングした基準画像と、出力画像を読み取った検査対象画像のそれぞれにおける各画素について、周辺の画素値との相対的な差分量を求め、基準画像の画素値差分量と検査対象画像の画素値差分量を比較することにより、検査対象画像側のムラを検出する。   As described above, the inspection system 1 obtains a relative difference amount between the peripheral pixel value for each pixel in each of the reference image obtained by ripping the document data and the inspection target image obtained by reading the output image, and the reference image By comparing the pixel value difference amount with the pixel value difference amount of the inspection target image, unevenness on the inspection target image side is detected.

次に、検査システム1が画素値差分量の算出を実施する画像領域を限定する場合に行う処理について説明する。検査システム1は、グラデーション部に限らず、その他の全画像領域に対しても、検査可能であり、従来の方法よりも高精度に欠陥を検出できる。ただし、画像の全範囲において、画素値差分量を計算することは、処理時間を要するので、処理時間の負荷を低減するには、グラデーション部に限定したほうが、効率は上がる。   Next, a process that is performed when the inspection system 1 limits the image area where the pixel value difference amount is calculated will be described. The inspection system 1 can inspect not only the gradation part but also all other image areas, and can detect defects with higher accuracy than the conventional method. However, since it takes a processing time to calculate the pixel value difference amount in the entire range of the image, in order to reduce the processing time load, it is more efficient to limit the gradation portion.

その場合、基準画像の平坦度を解析することにより、どのような画像領域であるかが概ね判定できるので、平坦度の値により、検査を行う領域を決める。平坦度が大きい場合及び小さい場合には、グラデーションとは考えられないので、平坦度が中間の範囲内で、一定以上の面積を有する領域に属する画素について、基準画像、検査対象画像の両方で画素値差分量を算出し、検査対象画像の検査を実施する。   In that case, by analyzing the flatness of the reference image, it is possible to roughly determine what kind of image region it is, and therefore the region to be inspected is determined by the flatness value. When the flatness is large or small, it is not considered to be gradation, so pixels that belong to an area having an area of a certain level or more in the middle flatness are pixels in both the reference image and the inspection target image. The value difference amount is calculated, and the inspection target image is inspected.

図8は、検査システム1が画素値差分量の算出を実施する画像領域を限定して検査を行う場合の処理を示すフローチャートである。ステップ201(S201)において、第1取得部10が基準画像を取得し、第2取得部11が検査対象画像を取得する。   FIG. 8 is a flowchart illustrating processing when the inspection system 1 performs inspection while limiting the image area in which the pixel value difference amount is calculated. In step 201 (S201), the first acquisition unit 10 acquires a reference image, and the second acquisition unit 11 acquires an inspection target image.

ステップ202(S202)において、第1算出部12は、基準画像の平坦度を解析する。   In step 202 (S202), the first calculation unit 12 analyzes the flatness of the reference image.

ステップ203(S203)において、判定部15は、基準画像の平坦度が所定値B以上又は所定値C以下であるか否かを判定する。判定部15は、基準画像の平坦度が所定値B以上又は所定値C以下である場合(S203:Yes)には、S207の処理に進む。また、判定部15は、平坦度が所定値B未満であり、且つ所定値Cよりも大きい場合(S203:No)には、S204の処理に進む。   In step 203 (S203), the determination unit 15 determines whether or not the flatness of the reference image is greater than or equal to the predetermined value B or less than or equal to the predetermined value C. When the flatness of the reference image is greater than or equal to the predetermined value B or less than or equal to the predetermined value C (S203: Yes), the determination unit 15 proceeds to the process of S207. If the flatness is less than the predetermined value B and greater than the predetermined value C (S203: No), the determination unit 15 proceeds to the process of S204.

ステップ204(S204)において、判定部15は、平坦度に対応した閾値Dを決定する。   In step 204 (S204), the determination unit 15 determines a threshold value D corresponding to the flatness.

ステップ205(S205)において、判定部15は、基準画像と検査対象画像の同じ位置の画素同士の画素値を比較する。   In step 205 (S205), the determination unit 15 compares pixel values of pixels at the same position in the reference image and the inspection target image.

ステップ206(S206)において、判定部15は、画素値の差が閾値D以上であるか否かを判定する。判定部15は、差が所定の閾値D以上である場合(S206:Yes)には、S212の処理に進む。また、判定部15は、差が所定の閾値D以上でない場合(S206:No)には、S210の処理に進む。   In step 206 (S206), the determination unit 15 determines whether or not the difference between the pixel values is greater than or equal to the threshold value D. If the difference is greater than or equal to the predetermined threshold D (S206: Yes), the determination unit 15 proceeds to the process of S212. Moreover, the determination part 15 progresses to the process of S210, when a difference is not beyond the predetermined threshold value D (S206: No).

ステップ210(S210)において、判定部15は、検査対象画像は正常であると判定する。   In step 210 (S210), the determination unit 15 determines that the inspection target image is normal.

ステップ212(S212)において、判定部15は、検査対象画像に、基準画像にはないムラ等の異常(欠陥)があると判定する。   In step 212 (S212), the determination unit 15 determines that the inspection target image has an abnormality (defect) such as unevenness that is not present in the reference image.

ステップ207(S207)において、第1算出部12は、基準画像データにおいて、各画素の画素値と周辺画素の画素値の差である画素値差分量を算出する。また、第2算出部13は、検査対象画像データにおいて、各画素の画素値と周辺画素の画素値の差である画素値差分量を算出する。   In step 207 (S207), the first calculation unit 12 calculates a pixel value difference amount that is a difference between the pixel value of each pixel and the pixel value of the surrounding pixels in the reference image data. In addition, the second calculation unit 13 calculates a pixel value difference amount that is a difference between the pixel value of each pixel and the pixel value of surrounding pixels in the inspection target image data.

ステップ208(S208)において、判定部15は、基準画像データと検査対象画像データの、同じ位置の画素同士で、周辺画素との画素値差分量を比較する。   In step 208 (S208), the determination unit 15 compares the pixel value difference amounts between the reference image data and the inspection target image data at the same position with the surrounding pixels.

ステップ209(S209)において、判定部15は、基準画像データの任意の位置の画素の画素値差分量と、検査対象画像データで同じ位置の画素の画素値差分量との差が所定の閾値A以上であるか否かを判定する。判定部15は、差が所定の閾値A以上である場合(S209:Yes)には、S214の処理に進む。また、判定部15は、差が所定の閾値A以上でない場合(S209:No)には、S213の処理に進む。   In step 209 (S209), the determination unit 15 determines that the difference between the pixel value difference amount of a pixel at an arbitrary position in the reference image data and the pixel value difference amount of a pixel at the same position in the inspection target image data is a predetermined threshold A. It is determined whether it is above. If the difference is greater than or equal to the predetermined threshold A (S209: Yes), the determination unit 15 proceeds to the process of S214. If the difference is not greater than or equal to the predetermined threshold A (S209: No), the determination unit 15 proceeds to the process of S213.

ステップ213(S213)において、判定部15は、検査対象画像は正常であると判定する。   In step 213 (S213), the determination unit 15 determines that the inspection target image is normal.

ステップ214(S214)において、判定部15は、検査対象画像に、基準画像にはないムラ等の異常(欠陥)があると判定する。   In step 214 (S214), the determination unit 15 determines that the inspection target image has an abnormality (defect) such as unevenness that does not exist in the reference image.

このように、実施形態にかかる検査装置100は、基準画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第1差分量と、基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する検査対象画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第2差分量との差の絶対値の大きさに基づいて、検査対象画像に異常があるか否かを判定するので、画像の微少な欠陥であっても検出することができる。また、検査システム1は、さまざまな基準によって画像の微少な欠陥であっても検出することができる。   As described above, the inspection apparatus 100 according to the embodiment corresponds to each pixel of the reference image, with respect to the first difference amount that is a relative difference from the pixel values of the surrounding pixels, and the position of each pixel of the reference image. For each pixel in the inspection target image, whether or not there is an abnormality in the inspection target image is determined based on the magnitude of the absolute value of the difference from the second difference amount that is a relative difference from the pixel values of the surrounding pixels. Therefore, even a minute defect in the image can be detected. Further, the inspection system 1 can detect even a minute defect in an image based on various criteria.

1 検査システム
10 第1取得部
11 第2取得部
12 第1算出部
13 第2算出部
14 記憶部
15 判定部
100 検査装置
120 スキャナ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection system 10 1st acquisition part 11 2nd acquisition part 12 1st calculation part 13 2nd calculation part 14 Storage part 15 Determination part 100 Inspection apparatus 120 Scanner

特開2012−103225号公報JP 2012-103225 A

Claims (9)

印刷データをリッピングした画像を基準画像として取得する第1取得部と、
前記印刷データを用いて印刷された画像の読取画像を検査対象画像として取得する第2取得部と、
前記基準画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第1差分量を算出する第1算出部と、
前記基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する前記検査対象画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第2差分量を算出する第2算出部と、
前記第1差分量と前記第2差分量との差の絶対値の大きさに基づいて、前記検査対象画像に異常があるか否かを判定する判定部と、
を有することを特徴とする検査装置。
A first acquisition unit that acquires an image obtained by ripping print data as a reference image;
A second acquisition unit that acquires a read image of an image printed using the print data as an inspection target image;
A first calculation unit that calculates a first difference amount that is a relative difference from pixel values of surrounding pixels for each pixel of the reference image;
A second calculation unit that calculates a second difference amount that is a relative difference from a pixel value of a peripheral pixel for each pixel of the inspection target image corresponding to each pixel position of the reference image;
A determination unit that determines whether or not the inspection target image has an abnormality based on an absolute value of a difference between the first difference amount and the second difference amount;
An inspection apparatus comprising:
前記第1算出部は、
前記基準画像の画素それぞれについて、当該画素から第1の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値と、当該画素から前記第1の方向とは略反対方向である第2の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値との平均値と、当該画素の画素値との差を前記第1差分量として算出し、
前記第2算出部は、
前記基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する前記検査対象画像の画素それぞれについて、当該画素から前記第1の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値と、当該画素から前記第2の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値との平均値と、当該画素の画素値との差を前記第2差分量として算出すること
を特徴とする請求項1に記載の検査装置。
The first calculation unit includes:
For each pixel of the reference image, a pixel value of a pixel located a predetermined number of pixels away from the pixel in the first direction and a second direction that is substantially opposite to the first direction from the pixel Calculating the difference between the average value of the pixel values of the pixels at a position away from the predetermined number of pixels and the pixel value of the pixel as the first difference amount;
The second calculator is
For each pixel of the inspection object image corresponding to each pixel position of the reference image, a pixel value of a pixel at a predetermined number of pixels away from the pixel in the first direction, and the second value from the pixel. 2. The inspection according to claim 1, wherein a difference between an average value of pixel values of pixels located at a predetermined number of pixels in the direction of and a pixel value of the pixel is calculated as the second difference amount. apparatus.
前記第1算出部は、
前記基準画像の画素それぞれについて、当該画素から前記第1の方向に所定の画素数離れた位置の周辺の複数画素の画素値と、当該画素から前記第1の方向とは略反対方向である第2の方向に所定の画素数離れた位置の周辺の複数画素の画素値の平均値と、当該画素の画素値との差を前記第1差分量として算出し、
前記第2算出部は、
前記基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する前記検査対象画像の画素それぞれについて、当該画素から前記第1の方向に所定の画素数離れた位置の周辺の複数画素の画素値と、当該画素から前記第2の方向に所定の画素数離れた位置の周辺の複数画素の画素値の平均値と、当該画素の画素値との差を前記第2差分量として算出すること
を特徴とする請求項1に記載の検査装置。
The first calculation unit includes:
For each pixel of the reference image, pixel values of a plurality of pixels around a predetermined number of pixels away from the pixel in the first direction, and a first direction that is substantially opposite to the first direction from the pixel A difference between an average value of pixel values of a plurality of neighboring pixels at a position separated by a predetermined number of pixels in the direction of 2 and a pixel value of the pixel is calculated as the first difference amount;
The second calculator is
For each pixel of the inspection target image corresponding to each pixel position of the reference image, the pixel values of a plurality of pixels around a predetermined number of pixels away from the pixel in the first direction, and from the pixel The difference between an average value of pixel values of a plurality of pixels around a predetermined number of pixels in the second direction and a pixel value of the pixel is calculated as the second difference amount. The inspection apparatus according to 1.
前記第1算出部は、
前記基準画像に対し、画素値の変化を表す平坦度をさらに算出し、
前記判定部は、
前記平坦度が所定の第1閾値未満であり且つ第2閾値よりも大きい場合、前記平坦度に対応した第3閾値を決定し、前記基準画像の各画素の画素値と、前記基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する前記検査対象画像の画素それぞれの画素値との差が、それぞれ前記第3閾値以上であるか否かを判定することにより、前記検査対象画像に異常があるか否かを判定すること
を特徴とする請求項2又は3に記載の検査装置。
The first calculation unit includes:
Further calculating a flatness representing a change in pixel value with respect to the reference image,
The determination unit
When the flatness is less than a predetermined first threshold and greater than a second threshold, a third threshold corresponding to the flatness is determined, and a pixel value of each pixel of the reference image and each reference image Whether or not there is an abnormality in the inspection target image by determining whether or not a difference between each pixel value of the inspection target image corresponding to each pixel position is equal to or more than the third threshold value. The inspection apparatus according to claim 2, wherein the inspection device is determined.
前記判定部は、
画素値に応じて値を変更した閾値に基づいて、前記検査対象画像に異常があるか否かを判定すること
を特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載の検査装置。
The determination unit
The inspection apparatus according to claim 2, wherein it is determined whether or not there is an abnormality in the inspection target image based on a threshold whose value is changed according to a pixel value.
前記第1算出部は、
前記基準画像の画素それぞれについて、当該画素から前記第1の方向に略直行する第3の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値と、当該画素から前記第3の方向とは略反対方向である第4の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値との平均値と、当該画素の画素値との差を第3差分量としてさらに算出し、
前記第2算出部は、
前記基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する前記検査対象画像の画素それぞれについて、当該画素から前記第3の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値と、当該画素から前記第4の方向に所定の画素数離れた位置の画素の画素値との平均値と、当該画素の画素値との差を第4差分量としてさらに算出し、
前記判定部は、
前記第3差分量と前記第4差分量との差の絶対値の大きさに基づいて、前記検査対象画像に異常があるか否かをさらに判定すること
を特徴とする請求項2乃至5のいずれか1項に記載の検査装置。
The first calculation unit includes:
For each pixel of the reference image, the pixel value of a pixel located a predetermined number of pixels away from the pixel in a third direction that is substantially orthogonal to the first direction and the third direction from the pixel are approximately A difference between the average value of the pixel value of the pixel located at a predetermined number of pixels away in the fourth direction, which is the opposite direction, and the pixel value of the pixel is further calculated as a third difference amount;
The second calculator is
For each pixel of the inspection target image corresponding to the position of each pixel of the reference image, the pixel value of the pixel at a predetermined number of pixels away from the pixel in the third direction, and the fourth pixel from the pixel. The difference between the average value of the pixel values of the pixels located at a predetermined number of pixels away in the direction of and the pixel value of the pixels is further calculated as a fourth difference amount,
The determination unit
6. The method according to claim 2, further comprising: determining whether or not the inspection target image has an abnormality based on a magnitude of an absolute value of a difference between the third difference amount and the fourth difference amount. The inspection device according to any one of the above.
前記第1算出部及び前記第2算出部は、
前記基準画像における隣接する画素の画素値の変化度合いに基づいて、当該画素から参照する周辺画素までの画素数を変更すること
を特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の検査装置。
The first calculation unit and the second calculation unit are:
The inspection according to any one of claims 1 to 6, wherein the number of pixels from the pixel to a peripheral pixel to be referred to is changed based on a degree of change in a pixel value of an adjacent pixel in the reference image. apparatus.
印刷データをリッピングした画像を基準画像として取得する工程と、
前記印刷データを用いて印刷された画像の読取画像を検査対象画像として取得する工程と、
前記基準画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第1差分量を算出する工程と、
前記基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する前記検査対象画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第2差分量を算出する工程と、
前記第1差分量と前記第2差分量との差の絶対値の大きさに基づいて、前記検査対象画像に異常があるか否かを判定する工程と、
を含む検査方法。
Acquiring a ripped image of print data as a reference image;
Acquiring a read image of an image printed using the print data as an inspection target image;
For each pixel of the reference image, calculating a first difference amount that is a relative difference from the pixel values of surrounding pixels;
Calculating a second difference amount, which is a relative difference from the pixel values of surrounding pixels, for each pixel of the inspection target image corresponding to each pixel position of the reference image;
Determining whether there is an abnormality in the inspection target image based on a magnitude of an absolute value of a difference between the first difference amount and the second difference amount;
Including inspection methods.
印刷データをリッピングした画像を基準画像として取得するステップと、
前記印刷データを用いて印刷された画像の読取画像を検査対象画像として取得するステップと、
前記基準画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第1差分量を算出するステップと、
前記基準画像の各画素の位置にそれぞれ対応する前記検査対象画像の各画素について、周辺画素の画素値との相対的な差分となる第2差分量を算出するステップと、
前記第1差分量と前記第2差分量との差の絶対値の大きさに基づいて、前記検査対象画像に異常があるか否かを判定するステップと、
をコンピュータに実行させるための検査プログラム。
Acquiring an image obtained by ripping print data as a reference image;
Obtaining a read image of an image printed using the print data as an inspection target image;
For each pixel of the reference image, calculating a first difference amount that is a relative difference from pixel values of surrounding pixels;
Calculating a second difference amount, which is a relative difference from the pixel values of surrounding pixels, for each pixel of the inspection target image corresponding to each pixel position of the reference image;
Determining whether there is an abnormality in the inspection target image based on the magnitude of the absolute value of the difference between the first difference amount and the second difference amount;
Inspection program to make computer execute.
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