JP2015087277A - 測温体校正装置、測温体校正システム及び測温体校正方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】炉体を小型化し、且つ、炉内の空間部における温度分布を均一化して、測温体を校正可能とする測温体校正装置、測温体校正システム及び測温体校正方法の提供。
【解決手段】標準測温体2及び被校正測温体3の測温部2a,3aを収容する空間部11を有すると共に、標準測温体2及び被校正測温体3のリード線2b,3bを外部に導出させる導出部12を有する炉体10と、炉体10を加熱する第1ヒーター20と、炉体10の外部においてリード線2b,3bを加熱する第2ヒーター30と、を有する、測温体校正装置1を採用する。
【選択図】図1
【解決手段】標準測温体2及び被校正測温体3の測温部2a,3aを収容する空間部11を有すると共に、標準測温体2及び被校正測温体3のリード線2b,3bを外部に導出させる導出部12を有する炉体10と、炉体10を加熱する第1ヒーター20と、炉体10の外部においてリード線2b,3bを加熱する第2ヒーター30と、を有する、測温体校正装置1を採用する。
【選択図】図1
Description
本発明は、測温体校正装置、測温体校正システム及び測温体校正方法に関するものである。
熱電対、温度センサー等の測温体は、測温の正確性を確保するため、使用前に校正を行う必要がある。一般に、測温体の校正は、基準となる標準測温体と、校正すべき被校正測温体とを、所定の温度雰囲気に保持した校正炉に挿入し、標準測温体と被校正測温体との測定温度の偏差を補正することにより行う(例えば、下記特許文献1参照)。
従来、校正炉としては、例えば、特許文献1の図5に示すように、複数の測温体の校正が可能な大型の炉を用いていた。しかしながら、この校正炉は、試験などで単体の測温体の校正をする炉としては必要以上に大きく、使い勝手が悪かった。そこで、本願発明者らは、小型の炉を開発し、単体の測温体の校正ができないかと考えた。
しかしながら、小型の炉は、大型の炉に比べて熱逃げの影響が大きく、炉内の空間部における温度分布が不均一になり易い、という問題があることが判明した。
しかしながら、小型の炉は、大型の炉に比べて熱逃げの影響が大きく、炉内の空間部における温度分布が不均一になり易い、という問題があることが判明した。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、炉体を小型化し、且つ、炉内の空間部における温度分布を均一化して、測温体を校正可能とする測温体校正装置、測温体校正システム及び測温体校正方法の提供を目的とする。
上記の課題を解決するために、本発明は、標準測温体及び被校正測温体の測温部を収容する空間部を有すると共に、前記標準測温体及び前記被校正測温体のリード線を外部に導出させる導出部を有する炉体と、前記炉体を加熱する第1ヒーターと、前記炉体の外部において前記リード線を加熱する第2ヒーターと、を有する、測温体校正装置を採用する。
また、本発明においては、前記標準測温体は、前記空間部において前記測温部が前記炉体の内壁面に接触して配置される第1標準測温体と、前記空間部において前記測温部が前記炉体の内壁面に非接触で配置される第2標準測温体と、を含み、前記第1ヒーターの加熱によって生じた前記第1標準測温体と前記第2標準測温体との前記空間部における測定温度の差を、前記第2ヒーターの加熱によって小さくする、という構成を採用する。
また、本発明においては、前記第2ヒーターは、前記標準測温体及び前記被校正測温体のそれぞれのリード線を一括で加熱する、という構成を採用する。
また、本発明においては、前記炉体は、金属ブロックからなる、という構成を採用する。
また、本発明においては、先に記載の測温体校正装置と、前記測温体校正装置を用いて取得した前記標準測温体及び前記被校正測温体の複数の測定温度から校正近似式を算出する算出部と、を有する、測温体校正システムを採用する。
また、本発明においては、先に記載の測温体校正装置を用いて取得した前記標準測温体及び前記被校正測温体の複数の測定温度から校正近似式を算出する、測温体校正方法を採用する。
本発明では、炉体を第1ヒーターで加熱すると共に、炉体から導出された標準測温体及び被校正測温体のリード線を第2ヒーターで加熱する。リード線は熱伝導性が高く、小型の炉体においては、このリード線を介した熱逃げが大きく影響し、空間部における温度分布が不均一になり易い。本発明では、第2ヒーターでこのリード線を加熱することで、炉体の内外の温度勾配を低減させ、該温度勾配によるリード線を介した炉体の外部への熱逃げを抑制し、炉内の空間部の温度分布を均一化する。
このように、本願発明によれば、炉体を小型化し、且つ、炉内の空間部における温度分布を均一化して、測温体を校正可能とすることができる。
このように、本願発明によれば、炉体を小型化し、且つ、炉内の空間部における温度分布を均一化して、測温体を校正可能とすることができる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施形態における測温体校正装置1を備える測温体校正システム100を示す構成図である。図2は、本発明の実施形態における炉体10を示す斜視図である。
図1に示すように、測温体校正システム100は、測温体校正装置1と、PC(パーソナルコンピュータ)101(演算部)と、を有する。
図1は、本発明の実施形態における測温体校正装置1を備える測温体校正システム100を示す構成図である。図2は、本発明の実施形態における炉体10を示す斜視図である。
図1に示すように、測温体校正システム100は、測温体校正装置1と、PC(パーソナルコンピュータ)101(演算部)と、を有する。
PC101は、後述する測温体校正装置1を用いて取得した標準測温体2及び被校正測温体3の複数の測定温度から校正近似式を算出するものである。このPC101は、PC本体の付属機器として、モニター、マウス/キーボード等を備える。本実施形態のPC101は、最小二乗法等を用いて標準測温体2と被校正測温体3との測定偏差を多項式にて近似し、その係数を算出するようになっている。
測温体校正装置1は、炉体10と、第1ヒーター20と、第2ヒーター30と、を有する。炉体10は、標準測温体2及び被校正測温体3の測温部2a,3aを収容する空間部11を有すると共に、標準測温体2及び被校正測温体3のリード線2b,3bを外部に導出させる導出部12を有する。なお、測温部2a,3aとは、熱電対でいうと温接点接合部であり、温度センサーでいうと測温抵抗素子である。本実施形態では、被校正測温体3が熱電対からなり、標準測温体2が測温精度が高い温度センサーからなる。
標準測温体2は、空間部11において測温部2aが炉体10の内壁面13に接触して配置される第1標準測温体2Aと、空間部11において測温部2aが炉体10の内壁面13に非接触で配置される第2標準測温体2Bと、を含む。第1標準測温体2Aの測温部2aは、グリース等の接着剤で炉体10の内壁面13に接着されている。第2標準測温体の測温部2aは、導出部12の充填材14に保持されたリード線2bの剛性によって、空間部11で中空に浮いている。
炉体10は、金属ブロックからなり、図2に示すように、本体部15と、蓋部16とに分離可能な構成となっている。炉体10を形成する金属材としては、鉄や銅等の熱伝導性が高いものを採用することが好ましい。本体部15の中心には、空間部11を形成する矩形の溝が形成されている。蓋部16は、この矩形の溝の開口を塞ぎ、空間部11を形成するものである。
本体部15には、空間部11を形成する矩形の溝よりも浅い係合溝17が形成されている。蓋部16は、係合溝17に係合した状態で、複数箇所でネジ止めされる。蓋部16は、係合溝17に係合することで、本体部15と協働して面一の平面部18(図1参照)を形成する。平面部18は、反転して第1ヒーター20上に載置されて、第1ヒーター20から熱を受けるようになっている。
導出部12は、図2に示すように、本体部15の側部を貫通するように形成されている。導出部12は、空間部11を形成する矩形状の溝から本体部15(炉体10)の外部まで直線状に延在する溝形状を有する。導出部12には、図1に示すように、第1標準測温体2Aのリード線2b、第2標準測温体2Bのリード線2b、被校正測温体3のリード線3bの3本が通るようになっている。なお、導出部12のリード線2b,3bが通る部分以外は、ゴム等の樹脂系の充填材14で充填・封止されている。
第1ヒーター20は、図1に示すように、炉体10を加熱するものである。第1ヒーター20は、電熱線を有するヒーターユニットであり、電気的に加熱温度を調整可能な構成となっている。この第1ヒーター20は、炉体10の平面部18よりも広い加熱面を有する。本実施形態では、第1ヒーター20の熱が平面部18を介して炉体10側に伝わり、金属ブロックの熱伝導によって炉体10全体が加熱されるようになっている。
第2ヒーター30は、炉体10の外部においてリード線2b,3bを加熱するものである。第2ヒーター30は、電熱線を有するヒーターユニットであり、電気的に加熱温度を調整可能な構成となっている。この第2ヒーター30は、標準測温体2及び被校正測温体3のそれぞれのリード線2b,3bを一括で加熱するようになっている。第2ヒーター30は、例えば、リード線2b,3bの周りをチャンバーで囲い、その中を加熱することで、リード線2b,3bを一括で加熱する構成となっている。
続いて、上記構成の測温体校正装置1を備える測温体校正システム100の校正動作(測温体校正方法)について、図3及び図4を参照しつつ説明する。
図3は、本発明の実施形態における測温体校正装置1を用いて校正近似式を算出するまでのフローチャートである。図4は、本発明の実施形態における校正近似式の算出結果を示すグラフである。
図3は、本発明の実施形態における測温体校正装置1を用いて校正近似式を算出するまでのフローチャートである。図4は、本発明の実施形態における校正近似式の算出結果を示すグラフである。
先ず、図1に示すように標準測温体2及び被校正測温体3を測温体校正装置1にセットし、第1ヒーター20による加熱を行う(ステップS1)。炉体10は、熱伝導性の高い金属ブロックからなるため、第1ヒーター20の加熱によって全体が均一に昇温する。炉体10が昇温すると、炉体10に囲まれた空間部11も昇温する。
次に、第1標準測温体2Aの測定温度をモニターし、所定の校正温度となったか否かを判断する(ステップS2)。第1標準測温体2Aは、空間部11においてその測温部2aが炉体10の内壁面13に接触して配置されている。このため、第1標準測温体2Aの測定温度は、炉体10の温度と等しい。第1標準測温体2Aでモニターした温度時間変化が所定範囲に収まったら、ステップS3に移行する。
次に、第2ヒーター30による加熱調整を行う(ステップS4)。第2ヒーター30は、炉体10の外部に導出されたリード線2b,3bを加熱する。リード線2b,3bは熱伝導性が高く、小型の炉体10においては、このリード線2b,3bを介した熱逃げの影響が大きく、空間部11における温度分布が不均一になり易い。なお、空間部11の中空の温度は、測温部2aが炉体10の内壁面13に非接触の第2標準測温体2Bで測定することができる。具体的に、第1ヒーター20のみの加熱では、表1に示すような温度差が生じる。
表1は、炉体10が10cm×10cm×1.5cmの大きさを有し、リード線2b,3bのそれぞれが100μmの直径φを有する場合の各測温体の測定結果を示している。表1に示すように、第1ヒーター20のみの加熱では、0.2℃〜0.5℃の範囲で第1標準測温体2Aと第2標準測温体2Bとの空間部11における温度差が生じてしまうことが分かる。これでは、被校正測温体3の校正を行うことができない。
そこで、本実施形態では、第1ヒーター20の加熱によって生じた第1標準測温体2Aと第2標準測温体2Bとの空間部11における測定温度の差を、第2ヒーター30の加熱によって小さくし、その差を所定閾値(例えば0.1℃)以下に抑える(ステップS4)。リード線2b,3bを介した炉体10の外部への熱逃げは、炉体10の内部の温度が高く外部の温度が低いことによる温度勾配により生じる。また、小型の炉体10では、測温部2a,3aから炉体10の外部までの距離が比較的短いため、空間部11の熱が外部に引っ張られ易い。
このため、第2ヒーター30によって、炉体10の外部に導出されたリード線2b,3bを加熱することで、炉体10の内外の温度勾配を低減させ、該温度勾配によるリード線2b,3bを介した炉体10の外部への熱逃げを抑制することができる。具体的に、第1ヒーター20及び第2ヒーター30の両方の加熱では、表2に示すように温度差が小さくなる。
表2に示すように、第1ヒーター20及び第2ヒーター30の両方の加熱によって、第1標準測温体2Aと第2標準測温体2Bとの空間部11における温度差が、0.1℃の所定の閾値に収まることが分かる。このように、第2ヒーター30の加熱を加えることによって、炉体10の空間部11における温度分布を均一化することができる。これで、被校正測温体3の校正を行うことが可能になる。
次に、空間部11における温度分布を均一化した状態で、標準測温体2及び被校正測温体3の測定温度を記録し(ステップS5)、その測定温度の記録を、全ての校正温度について行う(ステップS6)。本実施形態では、3点の温度について記録を行い、その3点の標準測温体2及び被校正測温体3の測定温度は、表2に示されている。
最後に、標準測温体2及び被校正測温体3の表2に示す複数の測定温度を、PC101において演算処理し、図4に示す校正近似式(1次近似式)を算出する(ステップS7)。なお、図4では、第1標準測温体2Aとの偏差から校正近似式を算出しているが、第2標準測温体2Bとの偏差から校正近似式を算出しても良い。
このように、上述の本実施形態によれば、標準測温体2及び被校正測温体3の測温部2a,3aを収容する空間部11を有すると共に、標準測温体2及び被校正測温体3のリード線2b,3bを外部に導出させる導出部12を有する炉体10と、炉体10を加熱する第1ヒーター20と、炉体10の外部においてリード線2b,3bを加熱する第2ヒーター30と、を有する、測温体校正装置1を採用することによって、炉体10を小型化し、且つ、炉内の空間部11における温度分布を均一化して、被校正測温体3を校正可能とすることができる。
以上、図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。上述した実施形態において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。
例えば、上記実施形態では、被校正測温体として熱電対(K型)を例示したが、本発明は、K型に限られず、S、R、B、E、J、T、N等の各種熱電対についても対応できる。また、本発明は、熱電対に限らずバイメタル等の温度センサーにも対応できる。また、第1ヒーター及び第2ヒーターの加熱手段は、電熱線に限られず、水、油、空気等の熱媒体を用いた熱交換器等でも対応できる。
また、例えば、上記実施形態では、校正近似式として1次式を算出したが、本発明は、1次式に限らず、高次の多項式を算出しても良い。
また、本発明は、校正以外に、標準測温体との温度偏差を判定することで、測温体が劣化しているか否かを検出することも可能である。
また、本発明は、校正以外に、標準測温体との温度偏差を判定することで、測温体が劣化しているか否かを検出することも可能である。
1…測温体校正装置、2…標準測温体、2a…測温部、2b…リード線、2A…第1標準測温体、2B…第2標準測温体、3…被校正測温体、3a…測温部、3b…リード線、10…炉体、11…空間部、12…導出部、13…内壁面、20…第1ヒーター、30…第2ヒーター、100…測温体校正システム、101…PC(算出部)
Claims (6)
- 標準測温体及び被校正測温体の測温部を収容する空間部を有すると共に、前記標準測温体及び前記被校正測温体のリード線を外部に導出させる導出部を有する炉体と、
前記炉体を加熱する第1ヒーターと、
前記炉体の外部において前記リード線を加熱する第2ヒーターと、を有する、ことを特徴とする測温体校正装置。 - 前記標準測温体は、前記空間部において前記測温部が前記炉体の内壁面に接触して配置される第1標準測温体と、前記空間部において前記測温部が前記炉体の内壁面に非接触で配置される第2標準測温体と、を含み、
前記第1ヒーターの加熱によって生じた前記第1標準測温体と前記第2標準測温体との前記空間部における測定温度の差を、前記第2ヒーターの加熱によって小さくする、ことを特徴とする請求項1に記載の測温体校正装置。 - 前記第2ヒーターは、前記標準測温体及び前記被校正測温体のそれぞれのリード線を一括で加熱する、ことを特徴とする請求項1または2に記載の測温体校正装置。
- 前記炉体は、金属ブロックからなる、ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の測温体校正装置。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載の測温体校正装置と、
前記測温体校正装置を用いて取得した前記標準測温体及び前記被校正測温体の複数の測定温度から校正近似式を算出する算出部と、を有する、ことを特徴とする測温体校正システム。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の測温体校正装置を用いて取得した前記標準測温体及び前記被校正測温体の複数の測定温度から校正近似式を算出する、ことを特徴とする測温体校正方法。
Priority Applications (1)
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JP2013226462A JP2015087277A (ja) | 2013-10-31 | 2013-10-31 | 測温体校正装置、測温体校正システム及び測温体校正方法 |
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
CN106595906A (zh) * | 2016-12-19 | 2017-04-26 | 广电计量检测(成都)有限公司 | 灯具检测设备校准装置及方法 |
CN107991004A (zh) * | 2017-11-28 | 2018-05-04 | 中国能源建设集团华东电力试验研究院有限公司 | 降低核电机组特殊热电偶校验误差系统 |
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2013
- 2013-10-31 JP JP2013226462A patent/JP2015087277A/ja active Pending
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