JP2015080518A - Radiation imaging device and method for controlling the same, radiation image processing device and method, program and computer readable storage medium - Google Patents

Radiation imaging device and method for controlling the same, radiation image processing device and method, program and computer readable storage medium Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suitably correct a radiation defective pixel to be generated when automatically detecting radiation irradiation to acquire a radiation image.SOLUTION: A radiation imaging device: acquires a radiation image from radiation detected by radiation detection means; corrects a first pixel that is a correction object in the radiation image by referring to a second pixel other than the first pixel; calculates an evaluation value for evaluating increase of a noise level caused by correcting the first pixel; and performs processing for reducing the noise level to the first pixel after correction on the basis of the calculated evaluation value.

Description

本発明は、放射線画像(たとえばX線画像)中に存在する、放射線に損失が生じた画素を補正する技術に関する。   The present invention relates to a technique for correcting pixels present in a radiation image (for example, an X-ray image) in which radiation has been lost.

近年、X線を電荷信号として蓄積し、それをデジタル信号に変換して診断画像を提供するフラットパネルディテクタ(以下、FPD)が実用化されている。このようなFPDを用いたX線撮影装置では、X線発生装置によるX線照射とFPDによる撮影動作の間の同期をとって撮影を実行するように構成されている。   In recent years, flat panel detectors (hereinafter referred to as FPD) that accumulate X-rays as charge signals and convert them into digital signals to provide diagnostic images have been put into practical use. Such an X-ray imaging apparatus using an FPD is configured to perform imaging while synchronizing the X-ray irradiation by the X-ray generator and the imaging operation by the FPD.

これに対し、既存のモダリティのフィルムやイメージングプレート部分をFPDに置き換えたいという市場要求も多くある。このような既存のモダリティの撮影部をFPDに置き換えようとする場合、X線発生装置とFPD間を同期させるためのインターフェースの構築が困難なことがある。特許文献1ではX線発生装置とFPD間のインターフェースを設けずに、FPD側でX線照射を検出し、自動的に蓄積動作を開始するFPDが提案されている。   On the other hand, there are many market demands to replace existing modality films and imaging plate portions with FPDs. When an imaging unit having such an existing modality is to be replaced with an FPD, it may be difficult to construct an interface for synchronizing the X-ray generator and the FPD. Patent Document 1 proposes an FPD that detects X-ray irradiation on the FPD side and automatically starts an accumulation operation without providing an interface between the X-ray generator and the FPD.

しかしながら、FPD側で自動的にX線照射を検出して蓄積動作を開始する場合、X線を検出して蓄積動作を開始するまではある程度のX線照射が必要であり、その間はリセット動作が行われてしまう。このため、実際にX線照射が開始されてからX線の検出により蓄積動作が開始するまでの間に照射されたX線による電荷は排出され、排出された電荷は出力値に寄与することはできない。従って、電荷が排出されてX線情報に損失が生じた画素(以後、この画素をX線欠損画素と呼ぶ)と電荷が排出されていない画素(以後、この画素を非X線欠損画素と呼ぶ)においては、同一の入射X線量であっても出力値に相違が生じるという課題がある。   However, when the X-ray irradiation is automatically detected and the accumulation operation is started on the FPD side, a certain amount of X-ray irradiation is necessary until the X-ray is detected and the accumulation operation is started. Will be done. For this reason, the charge due to the irradiated X-rays is discharged after the X-ray irradiation is actually started until the accumulation operation is started by detecting the X-rays, and the discharged charges contribute to the output value. Can not. Accordingly, a pixel in which charges are discharged and X-ray information is lost (hereinafter, this pixel is referred to as an X-ray defect pixel) and a pixel from which charges are not discharged (hereinafter, this pixel is referred to as a non-X-ray defect pixel). ) Has a problem that the output value varies even with the same incident X-ray dose.

例えば、特許文献1ではX線検出時のリセット動作を1ラインごとに行い、フレーム毎に偶数ライン、奇数ラインを入れ替えてリセット動作を行うため、X線照射から蓄積動作開始までに電荷が排出されるのは1ライン置きとなる。その結果、電荷が排出されたライン(以後、このラインをX線欠損ラインと呼ぶ)と電荷が排出されていないライン(以後、このラインを非X線欠損ラインと呼ぶ)が交互に発生し、ライン間での出力値の相違が画像上において縞状に現れるという課題がある。なお、この課題について特許文献1ではX線欠損ラインのデータを欠陥として破棄し、周囲の画素の線形補間によって補正する方法が開示されている。   For example, in Patent Document 1, since the reset operation at the time of X-ray detection is performed for each line and the even-numbered line and the odd-numbered line are switched for each frame, the charge is discharged from the X-ray irradiation to the start of the accumulation operation. Is every other line. As a result, a line from which charges are discharged (hereinafter referred to as an X-ray defect line) and a line from which charges are not discharged (hereinafter referred to as a non-X-ray defect line) are alternately generated. There is a problem that a difference in output value between lines appears in a stripe pattern on an image. Regarding this problem, Patent Document 1 discloses a method of discarding X-ray defect line data as a defect and correcting it by linear interpolation of surrounding pixels.

また、上述以外の方法として、X線欠損ラインと隣接する非X線欠損ラインからX線欠損ラインにおけるX線の欠損率を求め、欠損率に応じてデジタル的に出力値を増幅する方法が近年提案されている。この方法では、X線欠損ラインを欠陥として破棄する方法に比べ、X線欠損ラインの情報を有効活用できるため、より好適な補正結果が得られる。   In addition, as a method other than the above-described method, a method of obtaining an X-ray defect rate in an X-ray defect line from a non-X-ray defect line adjacent to the X-ray defect line and digitally amplifying an output value according to the defect rate has recently been developed. Proposed. In this method, since the information of the X-ray defect line can be effectively used as compared with the method of discarding the X-ray defect line as a defect, a more preferable correction result can be obtained.

特開2011−249891号公報JP2011-249891A

上述したようなX線の自動検出とFPDのリセット動作に起因したものに限らず、X線欠損画素(X線欠損ライン)と非X線欠損画素(非X線欠損ライン)が存在するX線画像において、X線欠損画素(X線欠損ライン)を適切に補正することは重要である。X線画像におけるX線欠損画素あるいは不適切に補正されたX線欠損画素は、医師が行う読影に影響をおぼすからである。
しかしながら、上述のように、X線画像におけるX線欠損ラインの欠損率に応じて出力値を増幅する場合、信号だけでなく重畳するノイズもあわせて増幅されてしまう。そのため、特許文献1に記載のような駆動を用いた場合では、隣接するX線欠損ラインと非X線欠損ラインにおいて、入射X線量が略同等にも関わらず、ノイズレベルが異なることとなり、不自然な画像となってしまうという課題がある。
X-rays that are not limited to the above-described automatic detection of X-rays and the reset operation of the FPD, but include X-ray defect pixels (X-ray defect lines) and non-X-ray defect pixels (non-X-ray defect lines). It is important to appropriately correct X-ray defect pixels (X-ray defect lines) in an image. This is because X-ray deficient pixels or improperly corrected X-ray deficient pixels in the X-ray image affect the interpretation performed by the doctor.
However, as described above, when the output value is amplified according to the defect rate of the X-ray defect line in the X-ray image, not only the signal but also the superimposed noise is amplified. Therefore, when driving as described in Patent Document 1 is used, the noise level differs between the adjacent X-ray defect line and the non-X-ray defect line even though the incident X-ray dose is substantially equal, and this is not possible. There is a problem that it becomes a natural image.

そこで、本発明の例示的な目的は、画素を補正する際に生じるノイズレベルの悪化を抑えることが可能な補正方法を提供することにある。   Accordingly, an exemplary object of the present invention is to provide a correction method capable of suppressing deterioration in noise level that occurs when correcting pixels.

上記の目的を達成するための本発明の一態様による放射線撮影装置は以下の構成を備える。すなわち、
放射線検出手段により検出されたX線からX線画像を取得する取得手段と、
前記放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素以外の第二の画素を参照して補正する補正手段と、
前記補正手段により前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減手段と、を備える。
In order to achieve the above object, a radiation imaging apparatus according to one aspect of the present invention has the following arrangement. That is,
Acquisition means for acquiring an X-ray image from X-rays detected by the radiation detection means;
Correction means for correcting the first pixel to be corrected in the radiation image with reference to a second pixel other than the first pixel;
Calculating means for calculating an evaluation value for evaluating an increase in noise level caused by correcting the first pixel by the correcting means;
Reduction means for performing a process of reducing the noise level on the corrected first pixel based on the evaluation value calculated by the calculation means.

本発明によれば、画素の補正の際に生じるノイズレベルの悪化を低減することができる。   According to the present invention, it is possible to reduce the deterioration of the noise level that occurs during pixel correction.

実施形態によるX線撮影装置の構成例を示す図。The figure which shows the structural example of the X-ray imaging apparatus by embodiment. 実施形態における処理手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the process sequence in embodiment. FPDの回路構成を説明する図。FIG. 6 illustrates a circuit configuration of an FPD. FPDの駆動を説明する図。The figure explaining the drive of FPD. X線欠損ラインでの出力値の低下を説明する図。The figure explaining the fall of the output value in a X-ray defect line. 補正係数の算出方法を説明する図。The figure explaining the calculation method of a correction coefficient.

以下、添付の図面を参照して本発明の好適な実施形態を説明する。本発明は、放射線を検出する放射線検出部により検出された放射線量から放射線画像を取得し、放射線画像処理を行う放射線撮影装置、例えば図1に示すようなX線撮影装置100に適用される。X線撮影装置100は、X線照射を自動的に検出してX線画像を取得した際に、リセット動作によってX線が損失することにより発生する、X線画像中のX線欠損画素を補正するためのX線画像処理を実行する機能を有する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The present invention is applied to a radiation imaging apparatus that acquires a radiation image from a radiation dose detected by a radiation detection unit that detects radiation and performs radiation image processing, for example, an X-ray imaging apparatus 100 as shown in FIG. When the X-ray imaging apparatus 100 automatically detects X-ray irradiation and acquires an X-ray image, the X-ray imaging apparatus 100 corrects an X-ray deficient pixel in the X-ray image that is generated due to the loss of X-rays by a reset operation A function of executing X-ray image processing for the purpose.

上述のようなX線撮影装置100において、X線管101は被検体103にX線を照射する。X線発生装置104は曝射スイッチ(不図示)の押下でX線管101に高電圧パルスを与え、X線を発生させる。FPD102はFPD制御部105に制御されて、被検体103を透過したX線を蛍光体により可視光に変換し、フォトダイオードで検出する。検出された電気信号はAD変換されてFPD制御部105に送信される。FPD制御部105には画像処理部109、画像保存部108が備えられ、1又は複数のコンピュータ(不図示)が内蔵される。   In the X-ray imaging apparatus 100 as described above, the X-ray tube 101 irradiates the subject 103 with X-rays. The X-ray generator 104 applies a high voltage pulse to the X-ray tube 101 when an exposure switch (not shown) is pressed to generate X-rays. The FPD 102 is controlled by the FPD control unit 105 to convert X-rays transmitted through the subject 103 into visible light using a fluorescent substance and detect it with a photodiode. The detected electrical signal is AD converted and transmitted to the FPD control unit 105. The FPD control unit 105 includes an image processing unit 109 and an image storage unit 108, and includes one or more computers (not shown).

FPD制御部105が有するコンピュータには、例えば、CPU等の主制御部、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の記憶部が具備されている。また、コンピュータには、GPU(Graphics Processing Unit)等のグラフィック制御部、ネットワークカード等の通信部、キーボード、ディスプレイ又はタッチパネル等の入出力部等が具備されていてもよい。なお、これらの各構成は、バス等により接続され、主制御部が記憶部に記憶されたプログラムを実行することで制御される。モニタ106は受信されたデジタル信号や画像処理部109で処理したデジタル信号を画像として表示する。操作部107は画像処理部109やFPD102に対するユーザからの指示を入力する。画像保存部108はFPD制御部105から出力されたデジタル信号や画像処理部109で処理された画像データを保存する。また、画像処理部109は、FPD102で撮影した画像のX線欠損画素を補正するものであり、補正係数算出部110、補正部111、悪化度算出部112、ノイズ低減部113を具備する。   The computer included in the FPD control unit 105 includes a main control unit such as a CPU and a storage unit such as a ROM (Read Only Memory) and a RAM (Random Access Memory). Further, the computer may include a graphic control unit such as a GPU (Graphics Processing Unit), a communication unit such as a network card, an input / output unit such as a keyboard, a display, or a touch panel. Each of these components is connected by a bus or the like, and is controlled by the main control unit executing a program stored in the storage unit. The monitor 106 displays the received digital signal or the digital signal processed by the image processing unit 109 as an image. The operation unit 107 inputs an instruction from the user to the image processing unit 109 and the FPD 102. The image storage unit 108 stores the digital signal output from the FPD control unit 105 and the image data processed by the image processing unit 109. The image processing unit 109 corrects X-ray deficient pixels in the image captured by the FPD 102, and includes a correction coefficient calculation unit 110, a correction unit 111, a deterioration degree calculation unit 112, and a noise reduction unit 113.

以上のような構成を備えた本実施形態のX線撮影装置100の動作について、図2に示すフローチャートを用いて具体的に説明する。まず、X線発生装置104により高電圧パルスをX線管101に印加し、X線を被検体103に照射する。FPD102はX線照射が開始されたのち、X線照射を自動で検出することで蓄積動作を開始し、X線画像を取得する(S201)。 The operation of the X-ray imaging apparatus 100 of the present embodiment having the above configuration will be specifically described with reference to the flowchart shown in FIG. First, a high voltage pulse is applied to the X-ray tube 101 by the X-ray generator 104 to irradiate the subject 103 with X-rays. After the X-ray irradiation is started, the FPD 102 starts an accumulation operation by automatically detecting the X-ray irradiation and acquires an X-ray image (S201).

ここで、X線の照射開始を自動で検出、判定するための駆動について図3〜図5を用いて具体的に説明する。図3にFPD102の回路構成を示す。FPD102は、TFT302とフォトダイオード303から形成された画素を有し、ガラス基板301上には、縦横ともに数千個の画素が形成されている。なお、図3では説明のため縦横ともに4画素から構成されるFPDを示している。走査線制御回路306はG1〜G4に順次オン信号を印加してTFT302のスイッチをオンにする。G1〜G4は走査線であり、各走査線にオン信号を印加するとTFT302がスイッチオンになり、1ラインずつフォトダイオード303の出力電荷を読み出せる。S1〜S4は信号線であり、フォトダイオード303から読み出された電荷は信号線を伝達して、信号検出回路305で読み取られる。信号検出回路305は読み取られた信号を保持、増幅、AD変換などの処理を経てデジタル信号としてFPD制御部105に出力する。電源304は各フォトダイオード303に動作電圧を供給する。   Here, the driving for automatically detecting and determining the start of X-ray irradiation will be specifically described with reference to FIGS. FIG. 3 shows a circuit configuration of the FPD 102. The FPD 102 has pixels formed of TFTs 302 and photodiodes 303, and several thousand pixels are formed on the glass substrate 301 both vertically and horizontally. Note that FIG. 3 shows an FPD composed of four pixels both vertically and horizontally for explanation. The scanning line control circuit 306 sequentially applies an ON signal to G1 to G4 to turn on the TFT 302. G1 to G4 are scanning lines. When an ON signal is applied to each scanning line, the TFT 302 is switched on, and the output charge of the photodiode 303 can be read line by line. S1 to S4 are signal lines. The charges read from the photodiode 303 are transmitted through the signal lines and read by the signal detection circuit 305. The signal detection circuit 305 holds the read signal, processes it such as amplification, AD conversion, and outputs it as a digital signal to the FPD control unit 105. A power supply 304 supplies an operating voltage to each photodiode 303.

図4に本実施形態におけるFPD102の駆動を示すタイミングチャートを示す。FPD102はX線が照射されていない場合、X線検出駆動で待機する。このとき、走査線制御回路306は第1フレームにおいて、走査線をG1、G3…というように奇数番目だけ順次駆動する。そして、奇数番目の走査線に接続された画素の暗電荷を読み取り、リセットする。次の第2フレームにおいて走査線制御回路306は走査線をG2、G4…というように偶数番目だけを順次駆動して、偶数番目の走査線に接続された画素をリセットする。こうして、奇数フレームでは奇数ラインをリセットし、偶数フレームでは偶数ラインをリセットすることで、奇数ラインと偶数ラインが交互にリセットされる。   FIG. 4 is a timing chart showing driving of the FPD 102 in this embodiment. When the X-ray is not irradiated, the FPD 102 stands by for the X-ray detection drive. At this time, the scanning line control circuit 306 sequentially drives the scanning lines by odd numbers such as G1, G3... In the first frame. Then, the dark charges of the pixels connected to the odd-numbered scanning lines are read and reset. In the next second frame, the scanning line control circuit 306 sequentially drives only the even lines such as G2, G4,..., And resets the pixels connected to the even-numbered scanning lines. Thus, the odd lines are reset in the odd frames, and the odd lines are reset alternately by resetting the even lines in the even frames.

ここで、FPD制御部105の信号検出回路305ではX線照射を検出するためにリセットされた電荷をモニタリングしている。X線が照射されると、フォトダイオード303により電荷が生成されるため、信号線の出力が上昇する。FPD制御部105は、この出力があらかじめ決められた閾値を超えたとき、X線が照射されたとみなし、全てのTFT302をオフにすることで、蓄積動作を開始する。   Here, the signal detection circuit 305 of the FPD control unit 105 monitors the reset charge to detect X-ray irradiation. When the X-rays are irradiated, charges are generated by the photodiode 303, so that the output of the signal line is increased. When this output exceeds a predetermined threshold value, the FPD control unit 105 considers that X-rays have been irradiated and starts the accumulation operation by turning off all the TFTs 302.

ところで、上述のX線照射を検出するための閾値が小さいほどX線照射を素早く検出できるが、ノイズなどによる誤検知が発生しやすくなる。したがって、閾値はそのような誤動作を考慮してある程度大きな値に設定する必要がある。その結果、X線照射が開始されてからX線照射を検出するまでに少なからずタイムラグが生じる。このタイムラグにより、蓄積動作に入るまでに照射されたX線による電荷は出力値に寄与することはできず、本来の出力値よりも値が小さくなる。すなわち、X線が損失した補正対象画素(本明細書では欠損画素と呼ぶ)が並ぶ補正対象ラインが生成されてしまう。   Incidentally, X-ray irradiation can be detected more quickly as the threshold for detecting the above-mentioned X-ray irradiation is smaller, but erroneous detection due to noise or the like is likely to occur. Therefore, it is necessary to set the threshold value to a certain value in consideration of such a malfunction. As a result, there is a considerable time lag between the start of X-ray irradiation and the detection of X-ray irradiation. Due to this time lag, the charge due to the X-rays irradiated until the accumulation operation is started cannot contribute to the output value, and becomes smaller than the original output value. In other words, a correction target line in which correction target pixels (referred to as defective pixels in this specification) in which X-rays are lost is arranged is generated.

図5は、均一なX線が照射された場合における出力値の低下を示した模式図である。ここで、図5(a)は1つの矩形を1つの画素として表したものである。図5(b)は、図5(a)の各行の画素の出力値の和を棒グラフで表したものである。なお、均一なX線が照射された場合、X線照射を検出するまでにタイムラグがなければ各行の出力値の和は略同じになる。ここで、偶数ラインG4でX線の照射が開始され、偶数ラインG8でX線の照射が検出されたとする。この場合、図5(b)のようにリセット動作が行われた偶数ラインG4、G6、G8においてX線が損失しており、本来の出力値よりも値が小さくなる。これらのラインG4、G6、G8は補正対象ラインである。一方、その他のラインには、リセット動作によるX線の損失が発生しておらず、これらのラインは補正の必要の無い画素(すなわち、補正対象の画素以外の画素、以下、非補正対象画素という)が並ぶ非補正対象ラインとなる。   FIG. 5 is a schematic diagram showing a decrease in the output value when uniform X-rays are irradiated. Here, FIG. 5A shows one rectangle as one pixel. FIG. 5B is a bar graph showing the sum of the output values of the pixels in each row of FIG. When uniform X-rays are irradiated, the sum of the output values of each row is substantially the same if there is no time lag until X-ray irradiation is detected. Here, it is assumed that X-ray irradiation is started on the even line G4 and X-ray irradiation is detected on the even line G8. In this case, X-rays are lost in the even-numbered lines G4, G6, and G8 in which the reset operation is performed as shown in FIG. 5B, and the value becomes smaller than the original output value. These lines G4, G6, and G8 are correction target lines. On the other hand, X-ray loss due to the reset operation does not occur in other lines, and these lines are pixels that do not need to be corrected (that is, pixels other than the correction target pixels, hereinafter referred to as non-correction target pixels). ) Are non-correction target lines.

なお、出力値の低下はX線照射が開始されてからリセット動作が行われるまでのタイムラグに依存し、タイムラグが大きいほど低下も大きくなる。よって、本実施形態の動作では、G1から順次リセット動作を行うため、図5(b)のようにX線照射が開始されたG4からG6、G8と出力値の低下は大きくなる。   Note that the decrease in the output value depends on the time lag from when the X-ray irradiation is started until the reset operation is performed, and the decrease becomes larger as the time lag increases. Therefore, in the operation of this embodiment, since the reset operation is sequentially performed from G1, the output values decrease greatly from G4 to G6, G8 from which X-ray irradiation is started as shown in FIG. 5B.

以上、説明したような動作によって得られたX線画像は、補正対象画素が並ぶ補正対象ラインと、非補正対象画素が並ぶ非補正対象ラインとが交互に存在する部分を有することになる。そして、そのようなX線画像は、画像処理部109に転送され出力値が低下した補正対象ライン(以下、X線欠損ラインと称する)の補正が行われる。以下に具体的な補正方法について説明する。   As described above, the X-ray image obtained by the operation as described above has portions in which correction target lines in which correction target pixels are arranged and non-correction target lines in which non-correction target pixels are arranged alternately exist. Then, such an X-ray image is transferred to the image processing unit 109 and a correction target line (hereinafter referred to as an X-ray defect line) whose output value is reduced is corrected. A specific correction method will be described below.

まず、補正係数算出部110において、X線欠損ラインの出力値を補正するための補正係数を算出する(S202)。通常、各画素の出力値V(以後、各画素の出力値を画素値と呼ぶ場合がある)は画素に入射されるX線量Xに比例したゲイン成分と暗電流等によるオフセット成分Dとの和で決まり、比例定数をAとおけば、画素値VとX線量Xとの関係は以下となる。

Figure 2015080518
First, the correction coefficient calculation unit 110 calculates a correction coefficient for correcting the output value of the X-ray defect line (S202). Usually, the output value V of each pixel (hereinafter, the output value of each pixel may be referred to as a pixel value) is the sum of a gain component proportional to the X-ray dose X incident on the pixel and an offset component D due to dark current or the like. If the proportionality constant is A, the relationship between the pixel value V and the X-ray dose X is as follows.
Figure 2015080518

これに対し、X線欠損ラインの画素値Vdでは、画素に入射されるX線量Xの一部がリセット動作により失われ、画素値に寄与するX線量は1/G倍に減少する。よって、X線欠損ラインの画素値VdとX線量Xとの関係は以下となる。

Figure 2015080518
In contrast, the pixel values V d of the X-ray-deficient line, part of the X-ray dose X that is incident on the pixel is lost by the reset operation, the X-ray dosage contributes to the pixel value is reduced to 1 / G times. Therefore, the relationship between the pixel values V d and X-ray dose X of the X-ray defective line is as follows.
Figure 2015080518

したがって、式(1)、式(2)よりX線欠損ラインの画素値Vdと本来の画素値Vとの関係は以下となる。

Figure 2015080518
なお、式(3)のG,Dの値は未知であり、これら2つを補正係数として算出することで、X線欠損ラインの画素値Vdを本来の画素値Vに補正することができる。 Therefore, the relationship between the pixel value V d of the X-ray defect line and the original pixel value V is as follows from the equations (1) and (2).
Figure 2015080518
Note that the values of G and D in Equation (3) are unknown, and the pixel value V d of the X-ray defect line can be corrected to the original pixel value V by calculating these two as correction coefficients. .

そこで、本実施形態では、X線欠損ラインと相関の高い隣接する非X線欠損ライン(すなわち非補正対象ライン)の画素値を利用して補正係数G,Dを回帰分析により算出する。より具体的には、図6のようにX線欠損ラインの各列iの画素値を{xi|i=1,2,…,n}、上下に隣接する非X線欠損ラインの各列iの画素値をそれぞれ{yi,1|i=1,2,…,n}、{yi,2|i=1,2,…,n}とする。そして、各列の画素値は略同じ値をとると仮定すれば、X線欠損ラインの画素値xと非X線欠損ラインの画素値yの関係は以下の式(4)となる。

Figure 2015080518
Therefore, in this embodiment, the correction coefficients G and D are calculated by regression analysis using pixel values of adjacent non-X-ray defect lines (that is, non-correction target lines) that have a high correlation with the X-ray defect lines. More specifically, the pixel value of each column i of the X-ray defect line is {x i | i = 1, 2,..., N} as shown in FIG. Let the pixel values of i be {y i, 1 | i = 1,2,..., n} and {y i, 2 | i = 1,2,. If it is assumed that the pixel values in each column have substantially the same value, the relationship between the pixel value x of the X-ray defect line and the pixel value y of the non-X-ray defect line is expressed by the following equation (4).
Figure 2015080518

ここで、式(4)のようにxとyの関係は、傾きG、切片D・(1−G)の1次式で表され、直線回帰分析により、G,Dを算出することができる。例えば、直線回帰分析の方法として最小二乗回帰を用いる場合、式(5)で表わされる誤差Eを最小化する傾きaおよび切片bを求め、求めた傾きaと切片bから式(6)により補正係数G,Dを算出すれば良い。

Figure 2015080518
Figure 2015080518
Here, as in Expression (4), the relationship between x and y is expressed by a linear expression of slope G and intercept D · (1-G), and G and D can be calculated by linear regression analysis. . For example, when least square regression is used as a method of linear regression analysis, a slope a and an intercept b that minimize the error E represented by the equation (5) are obtained, and corrected by the equation (6) from the obtained slope a and the intercept b. The coefficients G and D may be calculated.
Figure 2015080518
Figure 2015080518

ここで、本実施形態では、最小二乗回帰を用いた方法を説明したが、この方法に限定されるものではなく、MA回帰やRMA回帰等の既に公知の方法を用いても同様に補正係数を算出することができる。また、本実施形態では各列の画素値は略同じ値をとることを仮定して補正係数を求めたが、急峻なエッジ等が存在する場合においては、この仮定が成り立たない画素が存在する。よって、このような外れ値の対策としてM推定、LMedS推定、RANSAC等の公知のロバスト回帰を用いることもできる。   Here, in the present embodiment, the method using the least square regression has been described, but the present invention is not limited to this method, and the correction coefficient can be similarly set even if an already known method such as MA regression or RMA regression is used. Can be calculated. In this embodiment, the correction coefficient is obtained on the assumption that the pixel values of the respective columns have substantially the same value. However, when a steep edge or the like exists, there is a pixel for which this assumption does not hold. Therefore, as a countermeasure against such outliers, known robust regression such as M estimation, LMedS estimation, and RANSAC can be used.

以上、1つのX線欠損ラインに対する補正係数G,Dの算出方法について説明したが、すべてのX線欠損ラインに対して同様の処理を行い、各々のX線欠損ラインに対する補正係数G,Dを算出する。なお、X線照射が開始されたタイミングは未知であるため、どのラインまでがX線欠損ラインであるかは不明である。そこで、本実施形態では、補正対象ラインか否かの判定をいかようにして行う。すなわち、X線照射を検出したタイミングにリセット動作がなされたラインから順次リセット動作がなされたラインをさかのぼって補正対象ライン(X線欠損ライン)を選択してく。そして、選択された補正対象ライン(X線欠損ライン)の補正係数を求め、補正係数Gが所定の範囲、たとえば略1となるラインまで補正係数G,Dを算出すればよい。例えば、図5(b)では、X線照射を検出したタイミングにリセット動作がなされたG8から順にG6、G4と補正係数G,Dを求めていき、その補正量が所定範囲となった場合に補正係数の算出を終了する。たとえば、補正係数Gが略1となるラインG2で補正係数の算出を終了する。なお、X線照射を検出したタイミングにリセット動作がなされたラインから所定のライン数分をさかのぼって補正対象のラインとしてもよい。この場合、所定のライン数とは、予め十分なライン数を計算あるいは実験により求めておけばよい。   Although the calculation method of the correction coefficients G and D for one X-ray defect line has been described above, the same processing is performed for all X-ray defect lines, and the correction coefficients G and D for each X-ray defect line are obtained. calculate. Since the timing at which X-ray irradiation is started is unknown, it is unknown which line is the X-ray defect line. Therefore, in this embodiment, how to determine whether or not the line is a correction target line is performed. That is, select the correction target line (X-ray deficient line) by going back from the line where the reset operation was performed at the timing when the X-ray irradiation was detected to the line where the reset operation was performed sequentially. Then, the correction coefficient of the selected correction target line (X-ray defect line) is obtained, and the correction coefficients G and D may be calculated up to a line where the correction coefficient G is within a predetermined range, for example, approximately 1. For example, in FIG. 5B, when G6 and G4 and correction coefficients G and D are obtained in order from G8 when the reset operation is performed at the timing when X-ray irradiation is detected, and the correction amount falls within a predetermined range. The calculation of the correction coefficient is finished. For example, the calculation of the correction coefficient ends at the line G2 where the correction coefficient G is approximately 1. Note that a line to be corrected may be traced back a predetermined number of lines from the line where the reset operation was performed at the timing when X-ray irradiation was detected. In this case, the predetermined number of lines may be obtained in advance by calculation or experiment.

次に、補正部111において、求めた補正係数G,Dを用いて欠損ラインの各欠損画素の補正を行う(S203)。具体的には、X線欠損ラインの各列iの画素値をそれぞれ{Vd(i)|i=1,2,…,n}、そのラインに対する補正係数をG,Dとし、下記の式(7)により補正後の画素値V(i)を全てのX線欠損ラインに対して算出する。

Figure 2015080518
Next, the correction unit 111 corrects each defective pixel of the defective line using the obtained correction coefficients G and D (S203). Specifically, the pixel value of each column i of the X-ray deficient line is {V d (i) | i = 1, 2,..., N}, the correction coefficients for the line are G and D, and The pixel value V (i) after correction is calculated for all X-ray deficient lines by (7).
Figure 2015080518

次に、悪化度算出部112において、補正がなされたすべての画素の各々に対し、ノイズの悪化の度合いを算出する(S204)。ここでは、補正前の補正対象画素の画素値に対応したX線量におけるノイズレベルが、上述のような補正を行ったことにより増加したノイズレベルと、その補正後の画素値に対応したX線量におけるノイズレベルとに基づいて評価値を算出する。したがって、この評価値は、補正によるノイズレベルの悪化度を示すものとなる。通常、各画素の出力に重畳されるノイズレベルは、画素に入射されるX線量Xに比例する量子ノイズとX線量に依存しないシステム固有のシステムノイズが支配的である。そこで、量子ノイズの標準偏差をσQ、システムノイズの標準偏差をσSとすれば、各画素の出力に重畳されるノイズの標準偏差σは分散の加法性により下記式となる。

Figure 2015080518
Next, the degree of deterioration calculation unit 112 calculates the degree of noise deterioration for each of all the corrected pixels (S204). Here, the noise level at the X-ray dose corresponding to the pixel value of the pixel to be corrected before correction is increased by the correction as described above, and at the X-ray dose corresponding to the pixel value after the correction. An evaluation value is calculated based on the noise level. Therefore, this evaluation value indicates the degree of noise level deterioration due to correction. Usually, the noise level superimposed on the output of each pixel is dominated by quantum noise proportional to the X-ray dose X incident on the pixel and system-specific system noise that does not depend on the X-ray dose. Therefore, if the standard deviation of the quantum noise is σ Q and the standard deviation of the system noise is σ S , the standard deviation σ of noise superimposed on the output of each pixel is expressed by the following equation depending on the additiveness of the variance.
Figure 2015080518

これに対し、X線欠損ラインの画素では、画素に入射されるX線量Xの一部がリセット動作により失われ、出力に寄与するX線量は1/G倍に減少する。よって、X線欠損ラインの画素の出力に重畳されるノイズの標準偏差σdは下記式となる。

Figure 2015080518
On the other hand, in the pixel of the X-ray defect line, a part of the X-ray dose X incident on the pixel is lost by the reset operation, and the X-ray dose contributing to the output is reduced to 1 / G times. Therefore, the standard deviation σ d of noise superimposed on the output of the pixel of the X-ray defect line is expressed by the following equation.
Figure 2015080518

ここで、式(7)にて補正されたX線欠損ラインでは、補正の倍率であるGにより、画素の出力値に含まれる信号成分がG倍されると同時に、ノイズもG倍される。すなわち、補正後のX線欠損ラインの画素の出力値に重畳されるノイズの標準偏差σCは、下記の式(10)となる。

Figure 2015080518
Here, in the X-ray defect line corrected by Expression (7), the signal component included in the output value of the pixel is multiplied by G and the noise is also multiplied by G by G which is the magnification of correction. That is, the standard deviation σ C of noise superimposed on the output value of the pixel of the corrected X-ray defect line is expressed by the following equation (10).
Figure 2015080518

したがって、補正されたX線欠損ラインの画素の出力値に含まれるノイズレベルは、本来の画素の出力値(X線量がXの場合の出力値)に含まれるノイズレベルに対し、σC/σ倍にノイズレベルが増加することとなる。よって、各画素に対してこの値をノイズレベルの増加を表す評価値(以下、ノイズ悪化度W)として算出する。具体的な算出方法は下記の式(11)となる。

Figure 2015080518
Therefore, the noise level included in the output value of the pixel of the corrected X-ray defect line is σ C / σ with respect to the noise level included in the output value of the original pixel (output value when the X-ray dose is X). The noise level will be doubled. Therefore, for each pixel, this value is calculated as an evaluation value (hereinafter referred to as noise deterioration degree W) representing an increase in noise level. A specific calculation method is the following equation (11).
Figure 2015080518

ここで、量子ノイズの標準偏差σQ、システムノイズの標準偏差σSは、撮影系で一意に決まる値であり、事前に算出した値を予め保持しておき、その値を用いれば良い。また、入射されるX線量Xは、上述した(1)式の関係を用いることで算出することができる。具体的には、補正された画像Vのi行j列における画素値をV(i,j)とすれば、下記式にて各画素に入射されるX線量X(i,j)を各々算出することができる。

Figure 2015080518
Here, the standard deviation σ Q of the quantum noise and the standard deviation σ S of the system noise are values uniquely determined by the imaging system, and values calculated in advance may be held in advance and used. Further, the incident X-ray dose X can be calculated by using the relationship of the above-described equation (1). Specifically, if the pixel value in the i row and j column of the corrected image V is V (i, j), the X-ray dose X (i, j) incident on each pixel is calculated by the following equation. can do.
Figure 2015080518

ここで、Nはノイズの影響を除去するためのフィルタサイズを決定するものであり、本実施の形態では、例えば2とする。また、AはX線量Xを画素値Vに変換するために比例定数であり、センサによって一意に決まる値である。よって、事前に算出した値を予め保持しておき、その値を用いれば良い。   Here, N determines a filter size for removing the influence of noise, and is set to 2, for example, in the present embodiment. A is a proportional constant for converting the X-ray dose X into the pixel value V, and is a value uniquely determined by the sensor. Therefore, a value calculated in advance may be stored in advance and used.

次に、ノイズ低減部113において、補正がなされたすべての画素に対し、ノイズ低減を行う(S205)。ここでは、隣接する画素におけるノイズレベルは同じであると仮定し、補正されたX線欠損画素のノイズレベルを隣接する非X線欠損画素と略等価となるように補正する。   Next, the noise reduction unit 113 performs noise reduction for all the corrected pixels (S205). Here, it is assumed that the noise level in adjacent pixels is the same, and the corrected noise level of the X-ray defective pixel is corrected so as to be substantially equivalent to that of the adjacent non-X-ray defective pixel.

本実施形態では、補正されたX線欠損画素と隣接する上下の非X線欠損画素の3点の重み付け加算(フィルタリング)によって補正されたX線欠損画素のノイズを低減する。具体的には、補正された画像Vのi行j列における画素値をV(i,j)とすれば、下記式にてX線欠損画素のノイズを低減する。

Figure 2015080518
In the present embodiment, noise of X-ray defective pixels corrected by three-point weighted addition (filtering) of upper and lower non-X-ray defective pixels adjacent to the corrected X-ray defective pixel is reduced. Specifically, if the pixel value in the i row and j column of the corrected image V is V (i, j), the noise of the X-ray deficient pixel is reduced by the following equation.
Figure 2015080518

なお、式(13)において、aはノイズの低減度合を決定する重み係数であり、補正された画素V(i,j)のノイズレベルが隣接する画素V(i-1,j)、V(i+1,j)のノイズレベルと略等価となるように設定する。以下、aの決定方法について説明する。   In Equation (13), a is a weighting factor that determines the degree of noise reduction, and the corrected noise level of the pixel V (i, j) is the adjacent pixel V (i−1, j), V ( It is set to be approximately equivalent to the noise level of i + 1, j). Hereinafter, a method for determining a will be described.

まず、補正されたX線欠損画素の出力に重畳するノイズの標準偏差をσT、隣接する画素の出力に重畳するノイズの標準偏差をσRとすれば、ノイズ低減後に得られる出力に重畳するノイズの標準偏差σは下記式となる。

Figure 2015080518
First, if the standard deviation of noise superimposed on the output of the corrected X-ray deficient pixel is σ T , and the standard deviation of noise superimposed on the output of the adjacent pixel is σ R , it is superimposed on the output obtained after noise reduction. The standard deviation σ of noise is as follows.
Figure 2015080518

ここで、補正された画素V(i,j)のノイズレベルが隣接する画素V(i-1,j)、V(i+1,j)のノイズレベルと略等価になるための条件は以下である。

Figure 2015080518
また、σTとσRの関係は上述したノイズ悪化度Wから下記式となる。
Figure 2015080518
ここで、式(15)と式(16)を式(14)に代入し、整理すると、
Figure 2015080518
となる。よって、(17)式の条件を満たすように、すなわち、下記の式(18)にてaを設定すれば良い。
Figure 2015080518
Here, the condition for the noise level of the corrected pixel V (i, j) to be substantially equivalent to the noise level of the adjacent pixels V (i−1, j) and V (i + 1, j) is as follows. It is.
Figure 2015080518
Further, the relationship between σ T and σ R is expressed by the following equation based on the noise deterioration degree W described above.
Figure 2015080518
Here, when formula (15) and formula (16) are substituted into formula (14) and rearranged,
Figure 2015080518
It becomes. Therefore, a may be set so as to satisfy the condition of the expression (17), that is, the following expression (18).
Figure 2015080518

ここで、重み係数aは悪化度Wに依存した値となるため、悪化度算出部112で算出した各画素の悪化度に基づいて各々の画素に対するaを算出し、ノイズ補正を行う。   Here, since the weighting coefficient a is a value dependent on the deterioration degree W, a is calculated for each pixel based on the deterioration degree of each pixel calculated by the deterioration degree calculation unit 112, and noise correction is performed.

なお、上記実施形態では、X線欠損画素のノイズ低減に上下2画素を用いたが、これに限定されるものではなく、例えば、斜めも含む6画素を用いてノイズ低減を行ってもよい。また、本実施形態は、線形フィルタでノイズ低減を行う方法を用いたが、これに限定されるものではなく、例えばεフィルタやバイラテラルフィルタ等のエッジを保存する非線形なフィルタを用いても良い。   In the above embodiment, the upper and lower two pixels are used for noise reduction of X-ray deficient pixels. However, the present invention is not limited to this. For example, noise reduction may be performed using six pixels including diagonally. Further, although the present embodiment uses a method of reducing noise with a linear filter, the present invention is not limited to this, and a non-linear filter that preserves edges, such as an ε filter or a bilateral filter, may be used. .

さらに、上記実施形態では、補正対象画素が並ぶ補正対象ラインと、非補正対象画素が並ぶ非補正対象ラインとが交互に存在する場合を説明したが、これに限られるものではない。たとえば、X線の損失が生じている補正対象画素がX線の損失が生じていない非補正対象画素により補正可能に配置された画像であれば、上記実施形態による補正、ノイズレベルの低減を適用することができる。したがって、たとえば、ラインごとにリセットを行う構成ではなく、列ごとにリセットを行う構成に適用してもかまわない。また、たとえば補正対象画素と非補正対象画素が格子柄状に配置されるようなX線画像にも、上記処理を適用できることは明らかである。さらに、上記実施形態では、ライン単位でのリセット動作として、1ラインずつリセットを行う例を示したが、複数の偶数ラインまたは奇数ライン(例えば、図5の「G2とG4」、「G6とG8」を同時にリセットするようにしてもよい。   Furthermore, although the said embodiment demonstrated the case where the correction target line in which a correction target pixel is located, and the non-correction target line in which a non-correction target pixel is located alternately, it is not restricted to this. For example, if the correction target pixel in which X-ray loss has occurred is an image arranged so as to be correctable by the non-correction target pixel in which X-ray loss has not occurred, the correction and noise level reduction according to the above embodiment are applied. can do. Therefore, for example, the present invention may be applied to a configuration in which reset is performed for each column instead of a configuration in which reset is performed for each line. In addition, for example, it is obvious that the above-described processing can be applied to an X-ray image in which correction target pixels and non-correction target pixels are arranged in a lattice pattern. Furthermore, in the above-described embodiment, an example in which reset is performed line by line as the reset operation in units of lines has been described. However, a plurality of even lines or odd lines (for example, “G2 and G4”, “G6 and G8” in FIG. May be reset at the same time.

以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。   As mentioned above, although preferable embodiment of this invention was described, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to these embodiment, A various deformation | transformation and change are possible within the range of the summary.

また、本発明は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラム(実施形態では図に示すフローチャートに対応したプログラム)を、システムあるいは装置に直接あるいは遠隔から供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータが該供給されたプログラムコードを読み出して実行することによっても達成される場合を含む。   Further, the present invention supplies a software program (in the embodiment, a program corresponding to the flowchart shown in the figure) to the system or apparatus directly or remotely, and the computer of the system or apparatus implements the functions of the above-described embodiments. Is also achieved by reading and executing the supplied program code.

従って、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、該コンピュータにインストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明は、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も含まれる。   Accordingly, since the functions of the present invention are implemented by computer, the program code installed in the computer also implements the present invention. In other words, the present invention includes a computer program itself for realizing the functional processing of the present invention.

プログラムを供給するためのコンピュータ可読記録媒体としては、例えば、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、MO、CD-ROM、CD-R、CD-RW、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROM、DVD(DVD-ROM,DVD-R)などがある。   Computer-readable recording media for supplying the program include, for example, a hard disk, an optical disk, a magneto-optical disk, MO, CD-ROM, CD-R, CD-RW, magnetic tape, nonvolatile memory card, ROM, DVD ( DVD-ROM, DVD-R).

その他、プログラムの供給方法としては、クライアントコンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページに接続し、該ホームページから本発明のコンピュータプログラムそのもの、もしくは圧縮され自動インストール機能を含むファイルをハードディスク等の記録媒体にダウンロードすることによっても供給できる。また、本発明のプログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードすることによっても実現可能である。つまり、本発明の機能処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるWWWサーバも、本発明に含まれるものである。   As another program supply method, a client computer browser is used to connect to an Internet homepage, and the computer program of the present invention itself or a compressed file including an automatic installation function is downloaded from the homepage to a recording medium such as a hard disk. Can also be supplied. It can also be realized by dividing the program code constituting the program of the present invention into a plurality of files and downloading each file from a different homepage. That is, a WWW server that allows a plurality of users to download a program file for realizing the functional processing of the present invention on a computer is also included in the present invention.

また、本発明のプログラムを暗号化してCD-ROM等の記憶媒体に格納してユーザに配布し、所定の条件をクリアしたユーザに対し、インターネットを介してホームページから暗号化を解く鍵情報をダウンロードさせ、その鍵情報を使用することにより暗号化されたプログラムを実行してコンピュータにインストールさせて実現することも可能である。   In addition, the program of the present invention is encrypted, stored in a storage medium such as a CD-ROM, distributed to users, and key information for decryption is downloaded from a homepage via the Internet to users who have cleared predetermined conditions. It is also possible to execute the encrypted program by using the key information and install the program on a computer.

また、コンピュータが、読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施形態の機能が実現される他、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているOSなどが、実際の処理の一部または全部を行ない、その処理によっても前述した実施形態の機能が実現され得る。   In addition to the functions of the above-described embodiments being realized by the computer executing the read program, the OS running on the computer based on the instructions of the program is a part of the actual processing. Alternatively, the functions of the above-described embodiment can be realized by performing all of them and performing the processing.

Claims (19)

放射線検出手段により検出された放射線から放射線画像を取得する取得手段と、
前記放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素以外の第二の画素を参照して補正する補正手段と、
前記補正手段により前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減手段と、を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
Obtaining means for obtaining a radiation image from radiation detected by the radiation detecting means;
Correction means for correcting the first pixel to be corrected in the radiation image with reference to a second pixel other than the first pixel;
Calculating means for calculating an evaluation value for evaluating an increase in noise level caused by correcting the first pixel by the correcting means;
A radiation imaging apparatus comprising: a reduction unit that performs a process of reducing a noise level on the corrected first pixel based on the evaluation value calculated by the calculation unit.
前記補正手段は、前記第一の画素の画素値と、前記第一の画素に隣接する前記第二の画素の画素値の関係を回帰分析することにより補正係数を取得し、前記補正係数を用いて前記第一の画素を補正することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮影装置。   The correction means obtains a correction coefficient by performing regression analysis on the relationship between the pixel value of the first pixel and the pixel value of the second pixel adjacent to the first pixel, and uses the correction coefficient. The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein the first pixel is corrected. 前記算出手段は、
前記第一の画素の補正前の画素値に対応した放射線量におけるノイズレベルが前記補正手段の補正により増加したノイズレベルと、前記第一の画素の補正後の画素値に対応した放射線量におけるノイズレベルとに基づいて前記評価値を算出することを特徴とする請求項1または2に記載の放射線撮影装置。
The calculating means includes
The noise level at the radiation dose corresponding to the pixel value before correction of the first pixel is increased by the correction of the correction means, and the noise at the radiation dose corresponding to the pixel value after correction of the first pixel The radiographic apparatus according to claim 1, wherein the evaluation value is calculated based on a level.
前記ノイズレベルはノイズの標準偏差であることを特徴とする請求項3に記載の放射線撮影装置。   The radiographic apparatus according to claim 3, wherein the noise level is a standard deviation of noise. 前記算出手段は、σQを放射線量に依存した量子ノイズの標準偏差、σSを放射線量に依存しないシステムノイズの標準偏差、Gを前記補正手段による補正の倍率、Xを補正後の画素値に対応した放射線量とした場合に、
Figure 2015080518
により前記評価値を求めることを特徴とする請求項4に記載の放射線撮影装置。
The calculation means includes σ Q as a standard deviation of quantum noise depending on the radiation dose, σ S as a standard deviation of system noise independent of the radiation dose, G as a correction factor by the correction means, and X as a pixel value after correction. When the radiation dose corresponds to
Figure 2015080518
The radiographic apparatus according to claim 4, wherein the evaluation value is obtained by:
前記低減手段は、前記第一の画素の補正後のノイズレベルが、前記第一の画素に隣接する前記第二の画素のノイズレベルと等価になるように、前記ノイズレベルを低減することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。   The reduction means reduces the noise level so that a corrected noise level of the first pixel is equivalent to a noise level of the second pixel adjacent to the first pixel. The radiation imaging apparatus according to any one of claims 1 to 5. 前記低減手段は、補正後の前記第一の画素に対して、前記評価値に基づいて決定されるフィルタを適用してノイズレベルの低減を行うことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。   7. The noise reduction unit according to claim 1, wherein the reduction unit applies a filter determined based on the evaluation value to the corrected first pixel to reduce a noise level. The radiation imaging apparatus according to item 1. 前記低減手段は、補正後の前記第一の画素のノイズレベルを、隣接する複数の第二の画素とのフィルタリングによって行うことを特徴とする請求項7に記載の放射線撮影装置。   The radiation imaging apparatus according to claim 7, wherein the reduction unit performs the noise level of the first pixel after correction by filtering with a plurality of adjacent second pixels. 前記第一の画素は、前記放射線検出手段のリセット動作により、放射線の情報に損失が生じた画素であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。   The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein the first pixel is a pixel in which loss of radiation information has occurred due to a reset operation of the radiation detection unit. 前記放射線画像は、前記第一の画素が並ぶ補正対象ラインと、前記第二の画素が並ぶ非補正対象ラインとが交互に存在する部分を有することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。   The radiation image has a portion where the correction target line in which the first pixels are arranged and the non-correction target line in which the second pixels are arranged alternately. The radiation imaging apparatus according to item 1. 前記放射線検出手段をライン単位でリセットしながら、リセットの際に読み出された信号に基づいて放射線の照射開始を判定する判定手段を更に備え、
前記放射線検出手段に放射線が照射されてから前記判定手段が照射開始と判定するまでの間に前記リセットが繰り返されることにより、前記放射線画像における前記補正対象ラインと前記非補正対象ラインとが交互に存在する部分が生成されることを特徴とする請求項10に記載の放射線撮影装置。
While further resetting the radiation detection means in units of lines, further comprises a determination means for determining the start of radiation irradiation based on a signal read at the time of reset,
The correction target line and the non-correction target line in the radiation image are alternately arranged by repeating the reset after the radiation detection unit is irradiated with radiation until the determination unit determines that the irradiation is started. The radiation imaging apparatus according to claim 10, wherein an existing part is generated.
前記補正手段は、前記補正対象ラインごとに、隣接する非補正対象ラインとの関係を直線回帰分析することにより前記補正対象ラインの補正係数を決定し、前記補正係数を用いて前記補正対象ラインの画素を補正することを特徴とする請求項11に記載の放射線撮影装置。   For each correction target line, the correction unit determines a correction coefficient of the correction target line by performing linear regression analysis of a relationship with an adjacent non-correction target line, and uses the correction coefficient to determine the correction target line. The radiation imaging apparatus according to claim 11, wherein the pixel is corrected. 前記判定手段により照射開始と判定されたラインから、前記リセットの実行の順をさかのぼって補正対象ラインを選択し、
前記補正係数が示す画素値の補正量が所定範囲となるラインまでを補正対象ラインとすることを特徴とする請求項12に記載の放射線撮影装置。
From the line determined to start irradiation by the determination means, select the correction target line by going back in the order of execution of the reset,
The radiation imaging apparatus according to claim 12, wherein a correction target line is a line up to a line in which a correction amount of a pixel value indicated by the correction coefficient falls within a predetermined range.
放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素以外の第二の画素を参照して補正する補正手段と、
前記補正手段により前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減手段と、を備えることを特徴とする放射線画像処理装置。
Correction means for correcting the first pixel to be corrected in the radiographic image with reference to a second pixel other than the first pixel;
Calculating means for calculating an evaluation value for evaluating an increase in noise level caused by correcting the first pixel by the correcting means;
A radiation image processing apparatus comprising: a reduction unit that performs a process of reducing a noise level on the corrected first pixel based on the evaluation value calculated by the calculation unit.
放射線検出手段により検出された放射線から放射線画像を取得する取得工程と、
前記放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素以外の第二の画素を参照して補正する補正工程と、
前記補正工程で前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出工程と、
前記算出工程で算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減工程と、を有することを特徴とする放射線撮影装置の制御方法。
An acquisition step of acquiring a radiation image from the radiation detected by the radiation detection means;
A correction step of correcting the first pixel to be corrected in the radiation image with reference to a second pixel other than the first pixel;
A calculation step for calculating an evaluation value for evaluating an increase in noise level caused by correcting the first pixel in the correction step;
A radiation imaging apparatus control method, comprising: a reduction step of performing a process of reducing a noise level on the corrected first pixel based on the evaluation value calculated in the calculation step.
放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素以外の第二の画素を参照して補正する補正工程と、
前記補正工程で前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出工程と、
前記算出工程で算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減工程と、を有することを特徴とする放射線画像処理方法。
A correction step of correcting the first pixel to be corrected in the radiation image with reference to a second pixel other than the first pixel;
A calculation step for calculating an evaluation value for evaluating an increase in noise level caused by correcting the first pixel in the correction step;
A radiation image processing method comprising: a reduction step of performing a process of reducing a noise level on the corrected first pixel based on the evaluation value calculated in the calculation step.
コンピュータを、請求項1乃至13のいずれか1項に記載された放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。   The program for functioning a computer as each means of the radiography apparatus described in any one of Claims 1 thru | or 13. コンピュータを、請求項14に記載された放射線画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。   The program for functioning a computer as each means of the radiographic image processing apparatus described in Claim 14. 請求項17または18に記載されたプログラムを格納したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。   A computer-readable recording medium storing the program according to claim 17 or 18.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017530565A (en) * 2015-07-02 2017-10-12 ディアールテック コーポレーション Radiation detector and radiography method using the same
JP7383673B2 (en) 2021-09-10 2023-11-20 キヤノン株式会社 Image processing device, radiography system, image processing method and program

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004080749A (en) * 2002-06-19 2004-03-11 Canon Inc Equipment and method for radiation imaging
JP2007075598A (en) * 2005-08-17 2007-03-29 Canon Inc Radiation image pickup apparatus, radiation image pickup system, their control method and their control program
JP2008252564A (en) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp Image processing device, method, and program
WO2011013390A1 (en) * 2009-07-30 2011-02-03 コニカミノルタエムジー株式会社 Radiation image capturing device
JP2012176155A (en) * 2011-02-28 2012-09-13 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Radiographing system, and radiographing apparatus
JP2013085632A (en) * 2011-10-17 2013-05-13 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Radiographic imaging system, image processing apparatus and radiographic imaging apparatus

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004080749A (en) * 2002-06-19 2004-03-11 Canon Inc Equipment and method for radiation imaging
JP2007075598A (en) * 2005-08-17 2007-03-29 Canon Inc Radiation image pickup apparatus, radiation image pickup system, their control method and their control program
JP2008252564A (en) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp Image processing device, method, and program
WO2011013390A1 (en) * 2009-07-30 2011-02-03 コニカミノルタエムジー株式会社 Radiation image capturing device
JP2012176155A (en) * 2011-02-28 2012-09-13 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Radiographing system, and radiographing apparatus
JP2013085632A (en) * 2011-10-17 2013-05-13 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Radiographic imaging system, image processing apparatus and radiographic imaging apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017530565A (en) * 2015-07-02 2017-10-12 ディアールテック コーポレーション Radiation detector and radiography method using the same
US11442029B2 (en) 2015-07-02 2022-09-13 Drtech Corp Radiation detector and radiography method using the same
JP7383673B2 (en) 2021-09-10 2023-11-20 キヤノン株式会社 Image processing device, radiography system, image processing method and program

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