JP2015070237A - Flexible copper clad laminate and flexible circuit board - Google Patents

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和明 金子
Kazuaki Kaneko
和明 金子
伸悦 藤元
Nobuetsu Fujimoto
伸悦 藤元
円 寺嶋
Madoka Terashima
円 寺嶋
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Nippon Steel and Sumikin Chemical Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a flexible copper-clad laminate and a flexible circuit board, capable of preventing the disconnection or crack of a wiring circuit even in a narrow housing and excellent in bending resistance.SOLUTION: The flexible copper clad laminate includes a polyimide insulation layer (A) and copper foil (B). a) the flexible copper clad laminate has a thickness of 15-38 μm, b) the polyimide insulation layer (A) has a thickness of 5-30 μm and a tensile elasticity of 4-10 GPa, c) the copper foil (B) has a thickness of 5-20 μm and a tensile elasticity of 10-35 GPa and d) a ratio [(B)/(A)] of the thickness of the polyimide insulation layer (A) to that of the copper foil (B) is 0.48-1.5. When a bending test at a gap 0.3 mm is provided with a flexible circuit board obtained by processing the copper foil (B) into a wiring circuit, a variation (θ1-θ5) between a bending angle θ1 caused by the first bending and a bending angle θ5 caused by the fifth bending is less than 8°.

Description

本発明は、フレキシブル銅張積層板に関し、詳しくは、電子機器の筐体内に折り畳んで収納され、使用されるフレキシブル回路基板(FPC)に用いられるフレキシブル銅張積層板に関する。 The present invention relates to a flexible copper-clad laminate, and more particularly to a flexible copper-clad laminate used for a flexible circuit board (FPC) that is folded and stored in a casing of an electronic device.

近年、携帯電話、ノート型パソコン、デジタルカメラ、ゲーム機などに代表される電子機器は、小型化、薄型化、軽量化が急速に進み、これらに使用される材料に対して、小スペースにおいても部品を収納できる高密度で高性能な材料が望まれるようになっている。フレキシブル回路基板においても、スマートフォン等の高性能小型電子機器の普及に伴い、部品収納の高密度化が進展したため、今まで以上に、より狭い筐体内にフレキシブル回路基板を収納する必要が出てきている。そのためフレキシブル回路基板の材料であるフレキシブル銅張積層板においても材料面からの耐折り曲げ性の向上が求められている。以下、本明細書では、FPCの上面側が略180℃反転して下面側になるように折り曲げることを「はぜ折り」と呼ぶことがある。   In recent years, electronic devices represented by mobile phones, notebook computers, digital cameras, game machines, and the like have been rapidly reduced in size, thickness, and weight. High-density, high-performance materials that can accommodate components are desired. Also in flexible circuit boards, with the spread of high-performance small electronic devices such as smartphones, the density of parts storage has increased, so it has become necessary to store flexible circuit boards in a narrower housing than ever before. Yes. Therefore, also in the flexible copper clad laminated board which is a material of a flexible circuit board, the improvement of the bending resistance from the material surface is calculated | required. Hereinafter, in this specification, folding the FPC so that the upper surface side of the FPC is inverted by approximately 180 ° C. to become the lower surface side may be referred to as “shell folding”.

このような用途への適用を意図したものとして、特許文献1では、フレキシブル銅張積層板に使用するポリイミドベースフィルムやカバーフィルムの弾性率を制御することによって、フレキシブル回路基板トータルのスティフネス性を低減させることにより、耐折り曲げ性を向上させるという技術が提案されている。しかしながら、ポリイミドやカバーフィルムの特性の制御のみでは、電子機器内に折り畳んで収納するという厳しい屈曲モードに対しては不十分であり、十分な耐折り曲げ性に優れたフレキシブル回路基板に使用し得るフレキシブル銅張積層板を提供することができない。   As intended for application to such applications, Patent Document 1 reduces the total stiffness of flexible circuit boards by controlling the elastic modulus of the polyimide base film and cover film used in flexible copper clad laminates. Thus, a technique for improving the bending resistance has been proposed. However, controlling the properties of polyimide and cover film alone is not sufficient for the strict bending mode of folding and storing in electronic equipment, and it can be used for flexible circuit boards with excellent folding resistance. A copper clad laminate cannot be provided.

また、特許文献2では、電子機器内への高密度化の観点から、銅箔側からのアプローチとして、銅箔の結晶粒径サイズに着目して、耐スプリングバック性を抑えた熱処理用銅箔が提案されている。本技術は、銅箔中に種々の適切な添加剤を入れた圧延銅箔を用いて、結晶粒の肥大化に充分な熱量を加えることにより結晶粒径を大きく成長させ、その結果、銅箔の耐スプリングバック性を改良しようという技術である。   Moreover, in patent document 2, from the viewpoint of high density in an electronic device, as an approach from the copper foil side, focusing on the crystal grain size of the copper foil, the copper foil for heat treatment with suppressed springback resistance Has been proposed. This technology uses a rolled copper foil with various appropriate additives in the copper foil to increase the crystal grain size by applying a sufficient amount of heat to enlarge the crystal grains. As a result, the copper foil It is a technology that tries to improve the spring back resistance.

しかしながら、スマートフォンに代表される小型電子機器に対しては、更なる高密度化が要請されている。そのため、前記従来技術だけでは、更なる高密度化の要請に応えることが難しい。   However, further miniaturization is demanded for small electronic devices typified by smartphones. For this reason, it is difficult to meet the demand for higher density with the conventional technology alone.

特開2007−208087号公報JP 2007-208087 A 特開2010−280191号公報JP 2010-280191 A

本発明は、前記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、狭い筐体内でも配線回路の断線や割れを防止し得る、優れた耐折り曲げ性を有するフレキシブル銅張積層板及びフレキシブル回路基板を提供することである。   The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a flexible copper-clad laminate and a flexible circuit having excellent bending resistance that can prevent disconnection and cracking of a wiring circuit even in a narrow housing. It is to provide a substrate.

本発明者等は、上記課題を解決するために鋭意検討を行った結果、銅箔及びポリイミドフィルムが積層した銅張積層板のはぜ折り過程の弾塑性変形の特性に着目することで、前記課題を解決し得る銅張積層板を提供し得ることを見出し、本発明を完成した。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have focused on the characteristics of the elasto-plastic deformation of the hull-folding process of the copper clad laminate in which the copper foil and the polyimide film are laminated. It discovered that the copper clad laminated board which can solve a subject could be provided, and completed this invention.

すなわち、本発明のフレキシブル銅張積層板は、ポリイミド絶縁層(A)と、該ポリイミド絶縁層(A)の少なくとも一方の面に設けられた銅箔(B)とを備えている。このフレキシブル銅張積層板は、以下のa〜dの構成:
a)当該フレキシブル銅張積層板の厚みが15〜38μmの範囲内であること;
b)前記ポリイミド絶縁層(A)の厚みが5〜30μmの範囲内であり、かつ、引張弾性率が4〜10GPaの範囲内であること;
c)前記銅箔(B)の厚みが5〜20μm範囲内であり、かつ、引張弾性率が10〜35GPaの範囲内であること;
d)前記ポリイミド絶縁層(A)と前記銅箔(B)との厚みの比[銅箔(B)の厚み/ポリイミド絶縁層(A)の厚み]が、0.48〜1.5の範囲内であること;
を具備するものである。そして、本発明のフレキシブル銅張積層板は、当該フレキシブル銅張積層板の銅箔(B)を配線回路加工して銅配線を形成することによって作成したフレキシブル回路基板を、ギャップ0.3mmでの折り曲げ試験に供した場合において、1回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ1)と、5回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ5)との変化量(θ1−θ5)が8°未満であることを特徴とする。
That is, the flexible copper-clad laminate of the present invention includes a polyimide insulating layer (A) and a copper foil (B) provided on at least one surface of the polyimide insulating layer (A). This flexible copper-clad laminate has the following configurations a to d:
a) The thickness of the flexible copper-clad laminate is in the range of 15 to 38 μm;
b) The polyimide insulating layer (A) has a thickness in the range of 5 to 30 μm and a tensile modulus of elasticity in the range of 4 to 10 GPa;
c) The copper foil (B) has a thickness in the range of 5 to 20 μm and a tensile modulus of elasticity in the range of 10 to 35 GPa;
d) The ratio of the thickness of the polyimide insulating layer (A) to the copper foil (B) [the thickness of the copper foil (B) / the thickness of the polyimide insulating layer (A)] is in the range of 0.48 to 1.5. Be within;
It comprises. And the flexible copper clad laminated board of this invention is a flexible circuit board created by forming a copper wiring by processing the copper foil (B) of the flexible copper clad laminated board with a gap of 0.3 mm. When subjected to a bending test, the amount of change (θ1−θ5) between the bending angle (θ1) generated by the first bending and the bending angle (θ5) generated by the fifth bending is less than 8 °. It is characterized by.

本発明のフレキシブル銅張積層板は、更に、当該フレキシブル銅張積層板の銅箔(B)を配線回路加工して銅配線を形成することによって作成したフレキシブル回路基板を、ギャップ0.3mmでの折り曲げ試験に供した場合において、3回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ3)と、5回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ5)との変化量(θ3−θ5)が1°以下であってもよい。   The flexible copper-clad laminate of the present invention further comprises a flexible circuit board produced by processing a copper circuit (B) of the flexible copper-clad laminate to form a copper wiring with a gap of 0.3 mm. In the case of the bending test, the amount of change (θ3-θ5) between the bending angle (θ3) generated by the third bending and the bending angle (θ5) generated by the fifth bending is 1 ° or less. Also good.

本発明のフレキシブル回路基板は、上記いずれかのフレキシブル銅張積層板の銅箔を配線回路加工してなるものである。   A flexible circuit board according to the present invention is obtained by processing a copper foil of any one of the flexible copper-clad laminates as a wiring circuit.

本発明のフレキシブル銅張積層板は、配線基板に要求される高い耐折り曲げ性を発現し得ることから、電子機器内に折り曲げた状態での接続信頼性に優れたフレキシブル回路基板用材料を提供することができる。従って、本発明のフレキシブル銅張積層板は、特に、スマートフォン等の小型液晶周りの折り曲げ部分等の耐折り曲げ性が要求される電子部品に好適に用いられる。   Since the flexible copper-clad laminate of the present invention can express the high bending resistance required for a wiring board, it provides a flexible circuit board material that is excellent in connection reliability in a state of being bent in an electronic device. be able to. Therefore, the flexible copper-clad laminate of the present invention is suitably used for electronic parts that require bending resistance such as a bent portion around a small liquid crystal such as a smartphone.

実施例で用いた試験回路基板片の銅配線の様子を示す平面説明図である。It is plane explanatory drawing which shows the mode of the copper wiring of the test circuit board piece used in the Example. 折り曲げ試験での試料ステージと試験回路基板片との様子を示す側面説明図である(試料ステージ上に試験回路基板片を固定した状態図)。It is side surface explanatory drawing which shows the mode of the sample stage and test circuit board piece in a bending test (state figure which fixed the test circuit board piece on the sample stage). 折り曲げ試験での試料ステージと試験回路基板片との様子を示す側面説明図である(試験回路基板片の折り曲げ箇所をローラーで押さえる手前の状態図)。It is side surface explanatory drawing which shows the mode of the sample stage and test circuit board piece in a bending test (state figure before pressing the bending location of a test circuit board piece with a roller). 折り曲げ試験での試料ステージと試験回路基板片との様子を示す側面説明図である(試験回路基板片の折り曲げ箇所をローラーで押さえた状態図)。It is side surface explanatory drawing which shows the mode of the sample stage and test circuit board piece in a bending test (state figure which pressed the bending location of the test circuit board piece with the roller). 折り曲げ試験での試料ステージと試験回路基板片との様子を示す側面説明図である(折り曲げ箇所を開いて試験片を平らな状態に戻した状態図)。It is side surface explanatory drawing which shows the mode of the sample stage and test circuit board piece in a bending test (the state figure which opened the bending location and returned the test piece to the flat state). 折り曲げ試験での試料ステージと試験回路基板片との様子を示す側面説明図である(折り曲げ箇所の折り目部分をローラーで押さえて均す状態図)。It is side surface explanatory drawing which shows the mode of the sample stage and test circuit board piece in a bending test (state figure which presses and equalizes the crease | fold part of a bending location with a roller). 折り曲げ試験によって生じる折曲角度の説明に供する図面である。It is drawing used for description of the bending angle produced by a bending test.

以下、本発明の実施の形態について説明する。
<フレキシブル銅張積層板>
本実施の形態のフレキシブル銅張積層板は、ポリイミド絶縁層(A)と銅箔(B)とから構成される。銅箔(B)はポリイミド絶縁層(A)の片面又は両面に設けられている。このフレキシブル銅張積層板は、銅箔(B)をエッチングするなどして配線回路加工して銅配線を形成し、フレキシブル回路基板として使用される。なお、本実施の形態のフレキシブル銅張積層板において、ポリイミド絶縁層の両面に銅箔が設けられている場合は、配線回路加工して銅配線を形成し、当該銅配線が折り曲げ部位に該当する銅箔を銅箔(B)と定義する。従って、ポリイミド絶縁層の両面に銅箔が設けられている場合であっても、配線回路加工して銅配線を形成し、当該銅配線が折り曲げ部位に該当しない銅箔は、銅箔(B)ではないものとする。
Embodiments of the present invention will be described below.
<Flexible copper-clad laminate>
The flexible copper clad laminate of the present embodiment is composed of a polyimide insulating layer (A) and a copper foil (B). The copper foil (B) is provided on one side or both sides of the polyimide insulating layer (A). This flexible copper-clad laminate is processed as a wiring circuit by etching the copper foil (B) to form a copper wiring and used as a flexible circuit board. In the flexible copper-clad laminate of the present embodiment, when copper foil is provided on both sides of the polyimide insulating layer, the wiring circuit is processed to form a copper wiring, and the copper wiring corresponds to the bent portion. Copper foil is defined as copper foil (B). Therefore, even when the copper foil is provided on both surfaces of the polyimide insulating layer, the wiring circuit is processed to form a copper wiring, and the copper foil in which the copper wiring does not correspond to the bent portion is a copper foil (B). Not.

本実施の形態のフレキシブル銅張積層板は、その厚み[つまり、ポリイミド絶縁層(A)と銅箔(B)との合計の厚み]が15〜38μmの範囲内、好ましくは15〜35μmの範囲内がよい。フレキシブル銅張積層板の厚みが15μmに満たないと、フレキシブル銅張積層板の銅箔を配線回路加工してなるフレキシブルプリント配線板の剛性が低下し、折り曲げによる弾塑性変形が生じやすい傾向になる。一方、フレキシブル銅張積層板の厚みが38μmを超えるとFPCを折り曲げた際に銅配線により曲げ応力が加わることとなり、その耐折り曲げ性を著しく低下させてしまう。   The flexible copper clad laminate of the present embodiment has a thickness [that is, a total thickness of the polyimide insulating layer (A) and the copper foil (B)] in the range of 15 to 38 μm, preferably in the range of 15 to 35 μm. Inside is good. If the thickness of the flexible copper clad laminate is less than 15 μm, the rigidity of the flexible printed wiring board formed by processing the copper foil of the flexible copper clad laminate is reduced, and elasto-plastic deformation due to bending tends to occur. . On the other hand, when the thickness of the flexible copper-clad laminate exceeds 38 μm, bending stress is applied by the copper wiring when the FPC is bent, and the bending resistance is significantly reduced.

<ポリイミド絶縁層>
本実施の形態のフレキシブル銅張積層板においては、ポリイミド絶縁層(A)の厚みは、5〜30μmの範囲内とする必要があるが、銅箔(B)の厚みや剛性などによって、所定の範囲内の厚さに設定することができる。例えば、銅箔(B)が圧延銅箔である場合、ポリイミド絶縁層(A)の厚みが10〜25μmの範囲内にあることが好ましく、10〜20μmの範囲内にあることがより好ましく、10〜15μmの範囲内にあることが特に好ましい。また、例えば、銅箔(B)が電解銅箔である場合、ポリイミド絶縁層(A)の厚みは5〜30μmの範囲内にあることが好ましく、8〜15μmの範囲内にあることがより好ましく、9〜12μmの範囲内にあることが特に好ましい。ポリイミド絶縁層(A)の厚みが上記下限値に満たないと、電気絶縁性が担保出来ないことや、ハンドリング性の低下により製造工程にて取扱いが困難になるなどの問題が生じる、一方、ポリイミド絶縁層(A)の厚みが上記上限値を超えるとFPCを折り曲げた際に銅配線により曲げ応力が加わることとなり、その耐折り曲げ性を著しく低下させてしまう。
<Polyimide insulation layer>
In the flexible copper-clad laminate of the present embodiment, the polyimide insulating layer (A) needs to have a thickness in the range of 5 to 30 μm, depending on the thickness and rigidity of the copper foil (B). The thickness can be set within the range. For example, when the copper foil (B) is a rolled copper foil, the thickness of the polyimide insulating layer (A) is preferably in the range of 10 to 25 μm, more preferably in the range of 10 to 20 μm. It is particularly preferable that it is in the range of ˜15 μm. For example, when the copper foil (B) is an electrolytic copper foil, the thickness of the polyimide insulating layer (A) is preferably in the range of 5 to 30 μm, and more preferably in the range of 8 to 15 μm. , Particularly preferably in the range of 9-12 μm. If the thickness of the polyimide insulating layer (A) is less than the above lower limit, problems such as inability to secure electrical insulation and difficulty in handling in the manufacturing process due to a decrease in handling properties occur. When the thickness of the insulating layer (A) exceeds the above upper limit value, bending stress is applied by the copper wiring when the FPC is bent, and the bending resistance is remarkably lowered.

また、ポリイミド絶縁層(A)の引張弾性率は4〜10GPaの範囲内であることが必要であり、好ましくは6〜10GPaの範囲内であるのがよい。ポリイミド絶縁層(A)の引張弾性率が4GPaに満たないとポリイミド自体の強度が低下することによって、フレキシブル銅張積層板を回路基板へ加工する際にフィルムの裂けなどのハンドリング上の問題が生じることがある。反対に、ポリイミド絶縁層(A)の引張弾性率が10GPaを超えるとフレキシブル銅張積層板の折り曲げに対する剛性が上昇する結果、フレキシブル銅張積層板を折り曲げた際に銅配線に加わる曲げ応力が上昇し、耐折り曲げ耐性が低下してしまう。   Moreover, the tensile elasticity modulus of a polyimide insulating layer (A) needs to be in the range of 4-10 GPa, Preferably it is in the range of 6-10 GPa. If the tensile modulus of the polyimide insulating layer (A) is less than 4 GPa, the strength of the polyimide itself is reduced, which causes handling problems such as film tearing when the flexible copper clad laminate is processed into a circuit board. Sometimes. On the contrary, if the tensile modulus of the polyimide insulating layer (A) exceeds 10 GPa, the bending resistance of the flexible copper clad laminate increases, resulting in an increase in bending stress applied to the copper wiring when the flexible copper clad laminate is folded. And bending resistance will fall.

ポリイミド絶縁層(A)は、市販のポリイミドフィルムをそのまま使用することも可能であるが、絶縁層の厚さや物性のコントロールのしやすさから、ポリアミド酸溶液を銅箔上に直接塗布した後、熱処理により乾燥、硬化する所謂キャスト(塗布)法によるものが好ましい。また、ポリイミド絶縁層(A)は、単層のみから形成されるものでもよいが、ポリイミド絶縁層(A)と銅箔(B)との接着性等を考慮すると複数層からなるものが好ましい。ポリイミド絶縁層(A)を複数層とする場合、異なる構成成分からなるポリアミド酸溶液の上に他のポリアミド酸溶液を順次塗布して形成することができる。ポリイミド絶縁層(A)が複数層からなる場合、同一の構成のポリイミド前駆体樹脂を2回以上使用してもよい。   The polyimide insulating layer (A) can be a commercially available polyimide film as it is, but from the ease of controlling the thickness and physical properties of the insulating layer, after applying the polyamic acid solution directly on the copper foil, A so-called cast (coating) method in which drying and curing are performed by heat treatment is preferable. Moreover, although a polyimide insulating layer (A) may be formed only from a single layer, when the adhesiveness etc. of a polyimide insulating layer (A) and copper foil (B) are considered, what consists of multiple layers is preferable. When the polyimide insulating layer (A) has a plurality of layers, it can be formed by sequentially applying another polyamic acid solution on a polyamic acid solution composed of different components. When the polyimide insulating layer (A) is composed of a plurality of layers, the polyimide precursor resin having the same configuration may be used twice or more.

ポリイミド絶縁層(A)について、より詳しく説明する。上述の通り、ポリイミド絶縁層(A)は複数層とすることが好ましいが、その具体例としては、ポリイミド絶縁層(A)を、熱膨張係数30×10−6/K未満の低熱膨張性のポリイミド層(i)と、熱膨張係数30×10−6/K以上の高熱膨張性のポリイミド層(ii)と、を含む積層構造とすることが好ましい。より好ましくは、ポリイミド絶縁層(A)は、低熱膨張性のポリイミド層(i)の少なくとも一方、好ましくはその両側に、高熱膨張性のポリイミド層(ii)を有する積層構造とし、高熱膨張性のポリイミド層(ii)が直接銅箔(B)と接するようにすることがよい。ここで、「低熱膨張性のポリイミド層(i)」とは、熱膨張係数30×10−6/K未満、好ましくは1×10−6〜25×10−6/Kの範囲内、特に好ましくは3×10−6〜20×10−6/Kの範囲内のポリイミド層をいう。また、「高熱膨張性のポリイミド層(ii)」とは、熱膨張係数30×10−6/K以上のポリイミド層を言い、好ましくは30×10−6〜80×10−6/Kの範囲内、特に好ましくは30×10−6〜70×10−6/Kの範囲内のポリイミド層をいう。このようなポリイミド層は、使用する原料の組合せ、厚み、乾燥・硬化条件を適宜変更することで所望の熱膨張係数を有するポリイミド層とすることができる。 The polyimide insulating layer (A) will be described in more detail. As described above, the polyimide insulating layer (A) is preferably a plurality of layers. As a specific example, the polyimide insulating layer (A) has a low thermal expansion coefficient of less than 30 × 10 −6 / K. A laminated structure including the polyimide layer (i) and a high thermal expansion polyimide layer (ii) having a thermal expansion coefficient of 30 × 10 −6 / K or more is preferable. More preferably, the polyimide insulating layer (A) has a laminated structure having a high thermal expansion polyimide layer (ii) on at least one of the low thermal expansion polyimide layers (i), preferably both sides thereof, and has a high thermal expansion. It is preferable that the polyimide layer (ii) is in direct contact with the copper foil (B). Here, the “low thermal expansion polyimide layer (i)” is a thermal expansion coefficient of less than 30 × 10 −6 / K, preferably in the range of 1 × 10 −6 to 25 × 10 −6 / K, particularly preferably. Means a polyimide layer in the range of 3 × 10 −6 to 20 × 10 −6 / K. The “high thermal expansion polyimide layer (ii)” refers to a polyimide layer having a thermal expansion coefficient of 30 × 10 −6 / K or more, preferably in the range of 30 × 10 −6 to 80 × 10 −6 / K. Of these, a polyimide layer in the range of 30 × 10 −6 to 70 × 10 −6 / K is particularly preferable. Such a polyimide layer can be made into a polyimide layer having a desired thermal expansion coefficient by appropriately changing the combination of raw materials used, thickness, and drying / curing conditions.

上記ポリイミド絶縁層(A)を与えるポリアミド酸溶液は、公知のジアミンと酸無水物とを溶媒の存在下で重合して製造することができる。この際、重合される樹脂粘度は、例えば、500cps以上35,000cps以下の範囲内とすることが好ましい。   The polyamic acid solution that provides the polyimide insulating layer (A) can be produced by polymerizing a known diamine and an acid anhydride in the presence of a solvent. At this time, the viscosity of the resin to be polymerized is preferably in the range of 500 cps to 35,000 cps, for example.

ポリイミドの原料として用いられるジアミンとしては、例えば、4,6-ジメチル-m-フェニレンジアミン、2,5-ジメチル-p-フェニレンジアミン、2,4-ジアミノメシチレン、4,4'-メチレンジ-o-トルイジン、4,4'-メチレンジ-2,6-キシリジン、4,4'-メチレン-2,6-ジエチルアニリン、2,4-トルエンジアミン、m-フェニレンジアミン、p-フェニレンジアミン、4,4'-ジアミノジフェニルプロパン、3,3'-ジアミノジフェニルプロパン、4,4'-ジアミノジフェニルエタン、3,3'-ジアミノジフェニルエタン、4,4'-ジアミノジフェニルメタン、3,3'-ジアミノジフェニルメタン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、4,4'-ジアミノジフェニルスルフィド、3,3'-ジアミノジフェニルスルフィド、4,4'-ジアミノジフェニルスルホン、3,3'-ジアミノジフェニルスルホン、4,4'-ジアミノジフェニルエーテル、3,3-ジアミノジフェニルエーテル、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、ベンジジン、3,3'-ジアミノビフェニル、3,3'-ジメチル-4,4'-ジアミノビフェニル、3,3'-ジメトキシベンジジン、4,4'-ジアミノ-p-テルフェニル、3,3'-ジアミノ-p-テルフェニル、ビス(p-アミノシクロヘキシル)メタン、ビス(p-β-アミノ-t-ブチルフェニル)エーテル、ビス(p-β-メチル-δ-アミノペンチル)ベンゼン、p-ビス(2-メチル-4-アミノペンチル)ベンゼン、p-ビス(1,1-ジメチル-5-アミノペンチル)ベンゼン、1,5-ジアミノナフタレン、2,6-ジアミノナフタレン、2,4-ビス(β-アミノ-t-ブチル)トルエン、2,4-ジアミノトルエン、m-キシレン-2,5-ジアミン、p-キシレン-2,5-ジアミン、m-キシリレンジアミン、p-キシリレンジアミン、2,6-ジアミノピリジン、2,5-ジアミノピリジン、2,5-ジアミノ-1,3,4-オキサジアゾール、ピペラジン、2,2'-ジメチル-4,4'-ジアミノビフェニル、3,7-ジアミノジベンゾフラン、1,5-ジアミノフルオレン、ジベンゾ-p-ジオキシン-2,7-ジアミン、4,4'-ジアミノベンジルなどが挙げられる。   Examples of the diamine used as a raw material for polyimide include 4,6-dimethyl-m-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-p-phenylenediamine, 2,4-diaminomesitylene, and 4,4′-methylenedi-o-. Toluidine, 4,4'-methylenedi-2,6-xylidine, 4,4'-methylene-2,6-diethylaniline, 2,4-toluenediamine, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, 4,4 ' -Diaminodiphenylpropane, 3,3'-diaminodiphenylpropane, 4,4'-diaminodiphenylethane, 3,3'-diaminodiphenylethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 2, 2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 3,3'-diaminodiphenyl sulfide, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,3'-diaminodiphenyl Sulfone, 4,4'-diame Diphenyl ether, 3,3-diaminodiphenyl ether, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, benzidine, 3,3'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethoxybenzidine, 4,4'-diamino-p-terphenyl, 3,3'-diamino- p-terphenyl, bis (p-aminocyclohexyl) methane, bis (p-β-amino-t-butylphenyl) ether, bis (p-β-methyl-δ-aminopentyl) benzene, p-bis (2- Methyl-4-aminopentyl) benzene, p-bis (1,1-dimethyl-5-aminopentyl) benzene, 1,5-diaminonaphthalene, 2,6-diaminonaphthalene, 2,4-bis (β-amino- t-butyl) toluene, 2,4-diaminotoluene, m-xylene-2,5-diamine, p-xylene-2,5-diamine, m- Silylenediamine, p-xylylenediamine, 2,6-diaminopyridine, 2,5-diaminopyridine, 2,5-diamino-1,3,4-oxadiazole, piperazine, 2,2'-dimethyl-4, 4'-diaminobiphenyl, 3,7-diaminodibenzofuran, 1,5-diaminofluorene, dibenzo-p-dioxin-2,7-diamine, 4,4'-diaminobenzyl and the like.

また、ポリイミドの原料として用いられる酸無水物としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3',4,4'-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2',3,3'-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,3,3',4'-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、ナフタレン-1,2,5,6-テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン-1,2,4,5-テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン-1,4,5,8-テトラカルボン酸二無水物、ナフタレン-1,2,6,7-テトラカルボン酸二無水物、4,8-ジメチル-1,2,3,5,6,7-ヘキサヒドロナフタレン-1,2,5,6-テトラカルボン酸二無水物、4,8-ジメチル-1,2,3,5,6,7-ヘキサヒドロナフタレン-2,3,6,7-テトラカルボン酸二無水物、2,6-ジクロロナフタレン-1,4,5,8-テトラカルボン酸二無水物、2,7-ジクロロナフタレン-1,4,5,8-テトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7-テトラクロロナフタレン-1,4,5,8-テトラカルボン酸二無水物、1,4,5,8-テトラクロロナフタレン-2,3,6,7-テトラカルボン酸二無水物、3,3',4,4'-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2',3,3'-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3',4'-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3'',4,4''-p-テルフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2'',3,3''-p-テルフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3'',4''-p-テルフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2-ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)-プロパン二無水物、2,2-ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)-プロパン二無水物、ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物、ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(3.4-ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)スルホン二無水物、ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)スルホン二無水物、1,1-ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,1-ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、ペリレン-2,3,8,9-テトラカルボン酸二無水物、ペリレン-3,4,9,10-テトラカルボン酸二無水物、ペリレン-4,5,10,11-テトラカルボン酸二無水物、ペリレン-5,6,11,12-テトラカルボン酸二無水物、フェナンスレン-1,2,7,8-テトラカルボン酸二無水物、フェナンスレン-1,2,6,7-テトラカルボン酸二無水物、フェナンスレン-1,2,9,10-テトラカルボン酸二無水物、シクロペンタン-1,2,3,4-テトラカルボン酸二無水物、ピラジン-2,3,5,6-テトラカルボン酸二無水物、ピロリジン-2,3,4,5-テトラカルボン酸二無水物、チオフェン-,3,4,5-テトラカルボン酸二無水物、4,4'-オキシジフタル酸二無水物、2,3,6,7-ナフタレンテトラカルボン酸二無水物などが挙げられる。   Examples of the acid anhydride used as a raw material for polyimide include pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 2,2 ′, 3,3 ′. -Benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 2,3,3 ', 4'-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2, 4,5-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, naphthalene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, 4,8-dimethyl -1,2,3,5,6,7-hexahydronaphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 4,8-dimethyl-1,2,3,5,6,7- Hexahydronaphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, 2,6-dichloronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, 2,7-dichloronaphthalene-1, 4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-tetrachloro Phthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-tetrachloronaphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4 , 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2 ', 3,3'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3,3', 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3, 3 '', 4,4 ''-p-terphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2``, 3,3 ''-p-terphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3,3 ' ', 4' '-p-terphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (2,3-dicarboxyphenyl) -propane dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ) -Propane dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) ether dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (3.4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, Bis (2,3-dicarboxyphenyl) sulfone dianhydride, bis (3,4-dicarboxyl) Phenyl) sulfone dianhydride, 1,1-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, perylene-2,3 , 8,9-tetracarboxylic dianhydride, perylene-3,4,9,10-tetracarboxylic dianhydride, perylene-4,5,10,11-tetracarboxylic dianhydride, perylene-5, 6,11,12-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,7,8-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1,2,6,7-tetracarboxylic dianhydride, phenanthrene-1 , 2,9,10-Tetracarboxylic dianhydride, cyclopentane-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, pyrazine-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, pyrrolidine -2,3,4,5-tetracarboxylic dianhydride, thiophene-, 3,4,5-tetracarboxylic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic dianhydride, 2,3,6,7 -Naphthalene tetracarboxylic dianhydride, etc. And the like.

上記ジアミン及び酸無水物は、それぞれ1種のみを使用してもよく2種以上を併用することもできる。また、重合に使用される溶媒は、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリジノン、2-ブタノン、ジグライム、キシレン等が挙げられ、1種又は2種以上併用して使用することもできる。   Each of the diamine and acid anhydride may be used alone or in combination of two or more. Examples of the solvent used for the polymerization include dimethylacetamide, N-methylpyrrolidinone, 2-butanone, diglyme, xylene and the like, and they can be used alone or in combination of two or more.

本実施の形態において、熱膨張係数30×10−6/K未満の低熱膨張性のポリイミド層(i)とするには、原料の酸無水物成分としてピロメリット酸二無水物、3,3',4,4'-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物を、ジアミン成分としては、2,2'-ジメチル-4,4'-ジアミノビフェニル、2-メトキシ-4,4’-ジアミノベンズアニリドを用いることがよく、特に好ましくは、ピロメリット酸二無水物及び2,2'-ジメチル-4,4'-ジアミノビフェニルを原料各成分の主成分とするものがよい。 In this embodiment, in order to obtain a low thermal expansion polyimide layer (i) having a thermal expansion coefficient of less than 30 × 10 −6 / K, pyromellitic dianhydride, 3,3 ′ , 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride and 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 2-methoxy-4,4'-diaminobenzanilide as the diamine component Particularly preferred are those containing pyromellitic dianhydride and 2,2′-dimethyl-4,4′-diaminobiphenyl as the main components of the respective raw materials.

また、熱膨張係数30×10−6/K以上の高熱膨張性のポリイミド層(ii)とするには、原料の酸無水物成分としてピロメリット酸二無水物、3,3',4,4’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3',4,4’-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3',4,4’-ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物を、ジアミン成分としては、2,2’-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、4,4'-ジアミノジフェニルエーテル、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼンを用いることがよく、特に好ましくはピロメリット酸二無水物及び2,2’-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパンを原料各成分の主成分とするものがよい。なお、このようにして得られる高熱膨張性のポリイミド層(ii)の好ましいガラス転移温度は、300〜400℃の範囲内である。 In order to obtain a high thermal expansion polyimide layer (ii) having a thermal expansion coefficient of 30 × 10 −6 / K or more, pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4 is used as the raw acid anhydride component. '-Biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic dianhydride, diamine component 2,2′-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 4,4′-diaminodiphenyl ether, and 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene are particularly preferable. It is preferable that pyromellitic dianhydride and 2,2′-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane are the main components of the raw materials. In addition, the preferable glass transition temperature of the high thermal expansion polyimide layer (ii) obtained in this way is in the range of 300-400 degreeC.

また、ポリイミド絶縁層(A)を低熱膨張性のポリイミド層(i)と高熱膨張性のポリイミド層(ii)との積層構造とした場合、好ましくは、低熱膨張性のポリイミド層(i)と高熱膨張性のポリイミド層(ii)との厚み比(低熱膨張性のポリイミド層(i)/高熱膨張性のポリイミド層(ii))が2〜15の範囲内であるのがよい。この比の値が、2に満たないとポリイミド絶縁層(A)全体に対する低熱膨張性のポリイミド層(i)が薄くなるため、ポリイミドフィルムの寸法特性の制御が困難となり、銅箔(B)をエッチングした際の寸法変化率が大きくなり、15を超えると高熱膨張性のポリイミド層(ii)が薄くなるため、ポリイミド絶縁層(A)と銅箔(B)との接着信頼性が低下する。   When the polyimide insulating layer (A) has a laminated structure of a low thermal expansion polyimide layer (i) and a high thermal expansion polyimide layer (ii), preferably, the low thermal expansion polyimide layer (i) and the high thermal expansion are used. The ratio of the thickness of the expandable polyimide layer (ii) (low thermal expansion polyimide layer (i) / high thermal expansion polyimide layer (ii)) is preferably in the range of 2 to 15. If the value of this ratio is less than 2, the low thermal expansion polyimide layer (i) with respect to the entire polyimide insulating layer (A) becomes thin, so it becomes difficult to control the dimensional characteristics of the polyimide film, and the copper foil (B) When the dimensional change rate at the time of etching becomes large and exceeds 15, the polyimide layer (ii) having high thermal expansion becomes thin, so that the adhesion reliability between the polyimide insulating layer (A) and the copper foil (B) is lowered.

<銅箔>
本実施の形態のフレキシブル銅張積層板において、銅箔(B)の厚みは5〜20μmの範囲内であり、好ましくは8〜15μmの範囲内がよい。銅箔(B)の厚みが5μmに満たないと、フレキシブル銅張積層板の製造時、例えば、銅箔(B)上にポリイミド絶縁層(A)を形成する工程において銅箔(B)自体の剛性が低下し、その結果、フレキシブル銅張積層板上にシワ等が発生する問題が生じる。また、20μmを超えると、フレキシブル銅張積層板(又はFPC)を折り曲げた際の銅箔(又は銅配線)に加わる曲げ応力が大きくなることにより耐折り曲げ性が低下することとなる。銅箔の種類によっては、所定の熱処理によってアニールされて、銅箔の柔軟性が向上する傾向にある。このような銅箔としては、圧延銅箔が挙げられる。このような観点から、銅箔(B)が圧延銅箔である場合には、銅箔(B)の厚みは8〜20μmの範囲内であることが好ましく、10〜15μmの範囲内であることがより好ましい。
<Copper foil>
In the flexible copper clad laminate of the present embodiment, the thickness of the copper foil (B) is in the range of 5 to 20 μm, and preferably in the range of 8 to 15 μm. When the thickness of the copper foil (B) is less than 5 μm, the copper foil (B) itself is formed in the process of forming the polyimide insulating layer (A) on the copper foil (B), for example, during the production of the flexible copper-clad laminate. The rigidity is lowered, and as a result, there arises a problem that wrinkles or the like are generated on the flexible copper-clad laminate. On the other hand, when the thickness exceeds 20 μm, the bending resistance is reduced due to an increase in bending stress applied to the copper foil (or copper wiring) when the flexible copper-clad laminate (or FPC) is bent. Depending on the type of the copper foil, it tends to be annealed by a predetermined heat treatment to improve the flexibility of the copper foil. Examples of such copper foil include rolled copper foil. From such a viewpoint, when the copper foil (B) is a rolled copper foil, the thickness of the copper foil (B) is preferably within a range of 8 to 20 μm, and within a range of 10 to 15 μm. Is more preferable.

また、銅箔(B)の引張弾性率は、10〜35GPaの範囲内であるが、例えば、銅箔(B)が圧延銅箔である場合には、10〜20GPaの範囲内であることが好ましく、銅箔(B)が電解銅箔である場合には、25〜35GPaの範囲内がより好ましい。銅箔(B)の引張弾性率が上記下限値に満たないと、フレキシブル銅張積層板の製造時、例えば、銅箔(B)上にポリイミド絶縁層(A)を形成する工程において、加熱によって銅箔(B)自体の剛性が低下してしまう。その結果、フレキシブル銅張積層板上にシワ等が発生するという問題が生じる。一方、引張弾性率が上記上限値を超えるとFPCを折り曲げた際に銅配線により大きな曲げ応力が加わることとなり、その耐折り曲げ性が著しく低下する。   Moreover, although the tensile elasticity modulus of copper foil (B) exists in the range of 10-35 GPa, for example, when copper foil (B) is a rolled copper foil, it may exist in the range of 10-20 GPa. Preferably, when the copper foil (B) is an electrolytic copper foil, the range of 25 to 35 GPa is more preferable. If the tensile modulus of the copper foil (B) is less than the lower limit, during the production of the flexible copper-clad laminate, for example, in the step of forming the polyimide insulating layer (A) on the copper foil (B), by heating The rigidity of copper foil (B) itself will fall. As a result, the problem that wrinkles etc. generate | occur | produce on a flexible copper clad laminated board arises. On the other hand, when the tensile modulus exceeds the above upper limit value, a large bending stress is applied to the copper wiring when the FPC is bent, and the bending resistance is remarkably lowered.

銅箔(B)の表面は、粗化処理されていてもよく、銅箔(B)の剛性との関係を考慮すれば、銅箔(B)が圧延銅箔である場合、好ましくは、ポリイミド絶縁層(A)と接する銅箔(B)の表面の表面粗さ(十点平均粗さ;Rz)は0.5〜1.5μmの範囲内であるのがよい。銅箔(B)が電解銅箔である場合、好ましくは、ポリイミド絶縁層(A)と接する銅箔(B)の表面の表面粗さ(Rz)は0.7〜2.2μmの範囲内、より好ましくは0.8〜1.6μmの範囲内がよい。表面粗さ(Rz)の値が、上記下限値に満たないとポリイミド絶縁層(A)との接着信頼性の担保が困難となり、上記上限値を超えるとフレキシブル銅張積層板(又はFPC)を繰り返し折り曲げた際に、その粗化表面の凹凸がクラック発生の起点となりやすく、その結果、フレキシブル銅張積層板(又はFPC)の耐折り曲げ性を低下させることとなる。なお、表面粗さRzはJIS B0601の規定に準じて測定される値である。   The surface of the copper foil (B) may be roughened, and considering the relationship with the rigidity of the copper foil (B), when the copper foil (B) is a rolled copper foil, preferably a polyimide The surface roughness (ten-point average roughness; Rz) of the surface of the copper foil (B) in contact with the insulating layer (A) is preferably in the range of 0.5 to 1.5 μm. When the copper foil (B) is an electrolytic copper foil, preferably, the surface roughness (Rz) of the surface of the copper foil (B) in contact with the polyimide insulating layer (A) is in the range of 0.7 to 2.2 μm, More preferably, it is in the range of 0.8 to 1.6 μm. When the value of the surface roughness (Rz) is less than the above lower limit value, it becomes difficult to ensure the adhesion reliability with the polyimide insulating layer (A), and when the value exceeds the above upper limit value, the flexible copper clad laminate (or FPC) is removed. When it is repeatedly bent, the unevenness of the roughened surface tends to be a starting point of crack generation, and as a result, the bending resistance of the flexible copper-clad laminate (or FPC) is lowered. The surface roughness Rz is a value measured according to JIS B0601.

本実施の形態のフレキシブル銅張積層板に使用する銅箔(B)は、上記特性を充足するものであれば特に限定されるものではなく、市販されている銅箔を用いることができる。その具体例としては、圧延銅箔としてはJX日鉱日石金属株式会社製のHA箔や、TP箔が挙げられ、電解銅箔としては、古河電気工業株式会社製WS箔、日本電解株式会社製HL箔、三井金属鉱業株式会社製HTE箔などが挙げられる。また、これらの市販品を含めて、それ以外のものを使用した場合であっても、前述した銅箔(B)上へのポリイミド絶縁層(A)を形成する際の熱処理条件やポリイミド絶縁層(A)を形成した後の銅箔(B)のアニール処理などにより、銅箔(B)の引張弾性率は変化し得るので、本発明では結果として得られたフレキシブル銅張積層板がこれら所定の範囲になればよい。   The copper foil (B) used for the flexible copper clad laminate of the present embodiment is not particularly limited as long as it satisfies the above characteristics, and a commercially available copper foil can be used. Specific examples thereof include HA foil and TP foil manufactured by JX Nippon Mining & Metals Co., Ltd. as rolled copper foil, and WS foil manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd. and Nippon Electrolytic Co., Ltd. as electrolytic copper foil. Examples thereof include HL foil and HTE foil manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd. Moreover, even if it is a case where other than that including these commercial items is used, the heat processing conditions and polyimide insulation layer at the time of forming the polyimide insulation layer (A) on the copper foil (B) mentioned above Since the tensile elastic modulus of the copper foil (B) can be changed by annealing the copper foil (B) after forming the (A), in the present invention, the flexible copper-clad laminate obtained as a result is the predetermined one. If it becomes the range of.

<ポリイミド絶縁層(A)と銅箔(B)との厚みの比>
本実施の形態では、ポリイミド絶縁層(A)と銅箔(B)との厚みの比[銅箔(B)の厚み/ポリイミド絶縁層(A)の厚み]が0.48〜1.5の範囲内にあることが好ましい。この厚み比が0.48未満、あるいは1.5より大きくなると、折り曲げ時に塑性変形した部分が伸ばされる際の最大引張りひずみが大きくなることにより、耐折り曲げ性が低下することとなる。
<Ratio of thickness of polyimide insulating layer (A) and copper foil (B)>
In the present embodiment, the ratio of the thickness of the polyimide insulating layer (A) to the copper foil (B) [the thickness of the copper foil (B) / the thickness of the polyimide insulating layer (A)] is 0.48 to 1.5. It is preferable to be within the range. When the thickness ratio is less than 0.48 or greater than 1.5, the maximum tensile strain when the plastically deformed portion is extended at the time of bending is increased, so that the bending resistance is lowered.

<折曲角度の変化量>
また、本実施の形態のフレキシブル銅張積層板は、銅箔(B)を配線回路加工して銅配線を形成することによって作成したフレキシブル回路基板を、ギャップ0.3mmでの折り曲げ試験に供した場合において、1回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ1)と、5回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ5)との変化量(θ1−θ5)が8°未満である。ここで、変化量(θ1−θ5)は負の値であってもよい。この変化量(θ1−θ5)は、FPCの弾塑性変形の度合いを示す指標であり、上記構成a〜dによって制御されるものである。
<Change in bending angle>
The flexible copper-clad laminate of the present embodiment was subjected to a bending test with a gap of 0.3 mm using a flexible circuit board formed by forming a copper wiring by processing a copper foil (B) on a wiring circuit. In this case, the amount of change (θ1−θ5) between the bending angle (θ1) generated by the first bending and the bending angle (θ5) generated by the fifth bending is less than 8 °. Here, the amount of change (θ1−θ5) may be a negative value. This amount of change (θ1-θ5) is an index indicating the degree of elasto-plastic deformation of the FPC, and is controlled by the configurations a to d.

また、本実施の形態のフレキシブル銅張積層板の銅箔(B)を配線回路加工して銅配線を形成することによって作成したフレキシブル回路基板を、ギャップ0.3mmでの折り曲げ試験に供した場合において、3回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ3)と、5回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ5)との変化量(θ3−θ5)が1°以下であることが好ましい。ここで、変化量(θ3−θ5)は負の値であってもよい。この変化量(θ3−θ5)も、FPCの弾塑性変形の度合いを示す指標であり、上記構成a〜dによって制御されるものである。   When the flexible circuit board created by forming the copper wiring by processing the copper foil (B) of the flexible copper-clad laminate of the present embodiment to form a copper wiring is subjected to a bending test with a gap of 0.3 mm In this case, the amount of change (θ3-θ5) between the bending angle (θ3) generated by the third bending and the bending angle (θ5) generated by the fifth bending is preferably 1 ° or less. Here, the amount of change (θ3−θ5) may be a negative value. This amount of change (θ3−θ5) is also an index indicating the degree of elasto-plastic deformation of the FPC, and is controlled by the configurations a to d.

上記折曲角度(θ1,θ3,θ5)を測定するための「ギャップ0.3mmでの折り曲げ試験」は、後述する方法及び条件によって行われる。   The “bending test with a gap of 0.3 mm” for measuring the bending angles (θ1, θ3, θ5) is performed by the method and conditions described later.

<作用>
本実施の形態では、上記構成a〜cを満たすことを前提として、構成dのポリイミド絶縁層(A)と銅箔(B)との厚みの比[銅箔(B)の厚み/ポリイミド絶縁層(A)の厚み]を0.48〜1.5の範囲内に制御したうえで、フレキシブル銅張積層板から作製したフレキシブル回路基板の折曲角度の変化量(θ1−θ5)を8°未満とし、好ましくは、折曲角度の変化量(θ3−θ5)も1°以下とすることがよい。折曲角度の変化量は、銅配線に生じる長手方向の屈曲平均ひずみ、屈曲部における屈曲中心から銅配線の中立面までの距離、ギャップ間隔と銅配線の中立面位置から算出される有効曲率半径などによって求めるができる。このような範囲内に制御することで、折り曲げた際の歪みを1箇所に集中させず、2箇所以上に分散させやすくすることが可能となる。その結果、フレキシブル回路基板の耐折り曲げ性を向上させ、銅配線の破断や導通不良などを低減してフレキシブル回路基板の信頼性を高めることができる。このような優れた効果が得られる理由として、以下のように考えれば合理的な説明が可能になる。すなわち、上記構成a〜dを満たすことによって、フレキシブル回路基板を1回目に折り曲げた際の塑性変形量(折曲角度θ1として発現される)を比較的大きくすることが可能になり、いわゆる「折り癖」が適度についた状態を作り出すことができる。このような適度な折り癖を有する状態では、2回目以降に折り曲げた際に、折り曲げ部位に加わる応力が大幅に緩和されるため、折り曲げ部位におけるひずみの増大が抑制され、フレキシブル回路基板の耐折り曲げ性が大幅に向上するものと推測される。
<Action>
In the present embodiment, assuming that the above configurations a to c are satisfied, the ratio of the thickness of the polyimide insulating layer (A) and the copper foil (B) of the configuration d [the thickness of the copper foil (B) / the polyimide insulating layer] The thickness of (A)] is controlled within the range of 0.48 to 1.5, and the amount of change (θ1-θ5) in the bending angle of the flexible circuit board produced from the flexible copper-clad laminate is less than 8 ° Preferably, the amount of change in the bending angle (θ3−θ5) is also set to 1 ° or less. The amount of change in bending angle is calculated from the average bending mean strain in the copper wiring, the distance from the bending center to the neutral plane of the copper wiring, the gap spacing, and the neutral plane position of the copper wiring. It can be determined by the radius of curvature. By controlling within such a range, it is possible to easily disperse the strain at the time of bending in two or more locations without concentrating the strain at the time of bending. As a result, the bending resistance of the flexible circuit board can be improved, and the reliability of the flexible circuit board can be improved by reducing the breakage of the copper wiring or the poor conduction. The reason why such an excellent effect can be obtained can be rationally explained as follows. That is, by satisfying the above configurations a to d, it becomes possible to relatively increase the amount of plastic deformation (expressed as the bending angle θ1) when the flexible circuit board is bent for the first time. You can create a state with a moderately heel. In such a state having an appropriate crease, since the stress applied to the bent portion is greatly relieved when bent from the second time onward, an increase in strain at the bent portion is suppressed, and the flexible circuit board is bent. It is estimated that the performance is greatly improved.

<フレキシブル銅張積層板の製造>
本実施の形態のフレキシブル銅張積層板は、例えば、銅箔(B)の表面にポリイミド前駆体樹脂溶液(ポリアミド酸溶液ともいう。)を塗工し、次いで、乾燥、硬化させる熱処理工程を経て製造することができる。熱処理工程における熱処理は、塗工されたポリアミド酸溶液を160℃未満の温度でポリアミド酸中の溶媒を乾燥除去した後、更に、150℃から400℃の温度範囲で段階的に昇温し、硬化させることで行なわれる。このようにして得られた片面フレキシブル銅張積層板を両面銅張積層板とするには、前記片面フレキシブル銅張積層板と、これとは別に準備した銅箔(B)とを300〜400℃にて熱圧着する方法が挙げられる。
<Manufacture of flexible copper-clad laminates>
The flexible copper clad laminate of the present embodiment is subjected to a heat treatment step in which, for example, a polyimide precursor resin solution (also referred to as a polyamic acid solution) is applied to the surface of the copper foil (B), and then dried and cured. Can be manufactured. The heat treatment in the heat treatment step is to remove the solvent in the polyamic acid by drying and removing the coated polyamic acid solution at a temperature of less than 160 ° C., and then gradually increase the temperature in a temperature range of 150 ° C. to 400 ° C. to cure. It is done by letting. In order to make the single-sided flexible copper-clad laminate obtained in this way into a double-sided copper-clad laminate, the single-sided flexible copper-clad laminate and a copper foil (B) prepared separately from this are 300 to 400 ° C. And a method of thermocompression bonding.

<FPC>
本実施の形態のフレキシブル銅張積層板は、主にFPC材料として有用である。すなわち、本実施の形態のフレキシブル銅張積層板の金属箔を常法によってパターン状に加工して配線層を形成することによって、本発明の一実施の形態であるFPCを製造できる。
<FPC>
The flexible copper clad laminate of the present embodiment is mainly useful as an FPC material. That is, the FPC which is one embodiment of the present invention can be manufactured by processing the metal foil of the flexible copper-clad laminate of this embodiment into a pattern by a conventional method to form a wiring layer.

以下、実施例に基づき本発明をより詳細に説明する。なお、下記の実施例における各特性評価は、以下の方法により行った。   Hereinafter, based on an Example, this invention is demonstrated in detail. In addition, each characteristic evaluation in the following Example was performed with the following method.

[引張弾性率の測定]
引張弾性率の測定にあたり銅箔に関しては、真空オーブンを用いてフレキシブル銅張積層板の処理工程と同等の熱処理を与えた銅箔を用いた。また、ポリイミド層に関しては、フレキシブル銅張積層板をエッチングして銅箔を完全に除去したポリイミドフィルムを用いた。このようにして得られた材料を、株式会社東洋精機製作所製ストログラフR−1を用いて、温度23℃、相対湿度50%の環境下で引張弾性率の値を測定した。
[Measurement of tensile modulus]
In measuring the tensile elastic modulus, a copper foil subjected to a heat treatment equivalent to the treatment process of the flexible copper-clad laminate using a vacuum oven was used. Moreover, regarding the polyimide layer, the polyimide film which etched the flexible copper clad laminated board and removed copper foil completely was used. The material obtained in this manner was measured for tensile modulus in an environment of a temperature of 23 ° C. and a relative humidity of 50% using a strograph R-1 manufactured by Toyo Seiki Seisakusho.

[熱膨張係数(CTE)の測定]
セイコーインスツルメンツ製のサーモメカニカルアナライザーを使用し、250℃まで昇温し、更にその温度で10分保持した後、5℃/分の速度で冷却し、240℃から100℃までの平均熱膨張係数(線熱膨張係数)を求めた。
[Measurement of coefficient of thermal expansion (CTE)]
Using a thermomechanical analyzer manufactured by Seiko Instruments Inc., the temperature was raised to 250 ° C., held at that temperature for 10 minutes, cooled at a rate of 5 ° C./minute, and an average thermal expansion coefficient from 240 ° C. to 100 ° C. ( (Linear thermal expansion coefficient) was determined.

[表面粗さ(Rz)の測定]
接触式表面粗さ測定機((株)小坂研究所製SE1700)を用いて、銅箔のポリイミド絶縁層との接触面側の表面粗さを測定した。
[Measurement of surface roughness (Rz)]
Using a contact-type surface roughness measuring machine (SE1700, manufactured by Kosaka Laboratory Ltd.), the surface roughness on the contact surface side of the copper foil with the polyimide insulating layer was measured.

[はぜ折りの測定(折り曲げ試験)]
銅張積層板の銅箔をエッチング加工し、その長手方向に沿ってライン幅100μm、スペース幅100μmにて長さが40mmの10列の銅配線51を形成した試験片(試験回路基板片)40を作製した(図1)。試験片40における銅配線51のみを表した図1に示したように、その試験片40における10列の銅配線51は、U字部52を介して全て連続して繋がっており、その両端には抵抗値測定用の電極部分(図示外)を設けている。
[Measurement of seam fold (bending test)]
A test piece (test circuit board piece) 40 in which a copper foil of a copper-clad laminate was etched and 10 rows of copper wirings 51 having a line width of 100 μm and a space width of 100 μm and a length of 40 mm were formed along the longitudinal direction. Was produced (FIG. 1). As shown in FIG. 1 showing only the copper wiring 51 in the test piece 40, the 10 rows of copper wirings 51 in the test piece 40 are all continuously connected via the U-shaped portion 52, and are connected to both ends thereof. Is provided with an electrode portion (not shown) for measuring the resistance value.

試験片40を、二つ折りが可能な試料ステージ20及び21上に固定し、抵抗値測定用の配線を接続して、抵抗値のモニタリングを開始した(図2)。折り曲げ試験は、10列の銅配線51に対して、長手方向のちょうど中央部分にて、銅配線51が内側になって向き合うように折り曲げて行った。この際、ウレタン製のローラー22を用いて、折り曲げ箇所40CのギャップGが0.3mmとなるように制御しながら、折り曲げた線と並行にローラー22を移動させ、10列の銅配線51を全て折り曲げた後(図3及び図4)、折り曲げ部分を開いて試験片40を平らな状態に戻し(図5)、折り目がついている部分を再度ローラー22にて抑えたまま移動させ(図6)、この一連の工程をもってはぜ折り回数1回とカウントするようにした。このような手順で折り曲げ試験を繰り返し行う間、常時、銅配線51の抵抗値をモニタリングし、所定の抵抗(3000Ω)になった時点を銅配線51の破断と判断し、その時までに繰り返した折り曲げ回数をはぜ折り測定値とした。このはぜ折り測定値が50回以上である場合を「良好」、50回未満である場合を「不良」と評価した。   The test piece 40 was fixed on the sample stages 20 and 21 that can be folded in half, and a resistance value measurement wiring was connected to start monitoring of the resistance value (FIG. 2). The bending test was performed with respect to ten rows of copper wirings 51 by bending the copper wirings 51 so that they face each other at the center in the longitudinal direction. At this time, using the roller 22 made of urethane, the roller 22 is moved in parallel with the bent line while controlling the gap G of the bent portion 40C to be 0.3 mm, and all the 10 rows of copper wirings 51 are moved. After bending (FIGS. 3 and 4), the bent portion is opened to return the test piece 40 to a flat state (FIG. 5), and the creased portion is moved again while being suppressed by the roller 22 (FIG. 6). In this series of steps, the number of times of folding is counted as one. While the bending test is repeated in such a procedure, the resistance value of the copper wiring 51 is constantly monitored, and when the predetermined resistance (3000 Ω) is reached, it is determined that the copper wiring 51 is broken, and the bending is repeated until that time. The number of times was taken as the measured value of the folded fold. This case was evaluated as “good” when the measured value of the folding angle was 50 times or more, and “bad” when it was less than 50 times.

なお、折り曲げ試験において、最初から折り曲げられた状態の試験片40を用いる場合は、一旦展開して折り曲げを解消させた状態を折り曲げ回数ゼロとし、上記手順で折り曲げ回数をカウントする。   In the bending test, when using the test piece 40 that has been bent from the beginning, the state once unfolded to cancel the bending is regarded as zero folding, and the number of folding is counted according to the above procedure.

[折曲角度の測定]
上記折り曲げ試験にてはぜ折り回数1回後に試験片40を試料ステージ20及び21から取り外し、図7に示すように、固定されていない状態での試験片40の折り目が成す角度を計測し、これを折曲角度θ1とした。この試験片を再び試料ステージ20及び21に設置し折り曲げ試験を繰り返し、延べはぜ折り回数3回後の折曲角度を同様にして計測しこれを折曲角度θ3とした。更に同様の操作を繰り返し延べはぜ折り回数5回後の折曲角度θ5を計測した。折曲角度θ1、θ3、θ5は、いずれも折り曲げた部分を間に挟んで銅配線51と銅配線とがなす角度である。
[Measure bending angle]
In the above bending test, the test piece 40 is removed from the sample stages 20 and 21 after the number of times of folding, and the angle formed by the folds of the test piece 40 in an unfixed state is measured as shown in FIG. This was defined as the bending angle θ1. The test piece was placed on the sample stage 20 and 21 again, and the bending test was repeated. The bending angle after the total number of times of folding was three times was measured in the same manner, and this was set as the bending angle θ3. Further, the same operation was repeated and the bending angle θ5 after 5 times of folding was measured. Each of the bending angles θ1, θ3, and θ5 is an angle formed by the copper wiring 51 and the copper wiring with the bent portion interposed therebetween.

実施例、比較例に記載のフレキシブル銅張積層板の製造方法について次に示す。   The method for producing the flexible copper-clad laminate described in Examples and Comparative Examples will be described below.

[ポリアミド酸溶液の合成]
(合成例1)
熱電対及び攪拌機を備えると共に窒素導入が可能な反応容器に、N,N−ジメチルアセトアミドを入れ、さらに、この反応容器に2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン(BAPP)を投入して容器中で撹拌しながら溶解させた。次に、ピロメリット酸二無水物(PMDA)をモノマーの投入総量が12wt%となるように投入した。その後、3時間撹拌を続けて重合反応を行い、ポリアミド酸aの樹脂溶液を得た。ポリアミド酸aから形成された厚み25μmのポリイミドフィルムの熱膨張係数(CTE)は、55×10−6/Kであった。
[Synthesis of polyamic acid solution]
(Synthesis Example 1)
A reaction vessel equipped with a thermocouple and a stirrer and capable of introducing nitrogen is charged with N, N-dimethylacetamide, and 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane (BAPP) is added to the reaction vessel. ) Was added and dissolved in the container with stirring. Next, pyromellitic dianhydride (PMDA) was added so that the total amount of monomers added was 12 wt%. Thereafter, stirring was continued for 3 hours to carry out a polymerization reaction to obtain a resin solution of polyamic acid a. The thermal expansion coefficient (CTE) of the polyimide film having a thickness of 25 μm formed from the polyamic acid a was 55 × 10 −6 / K.

(合成例2)
熱電対及び攪拌機を備えると共に窒素導入が可能な反応容器に、N,N−ジメチルアセトアミドを入れ、さらに、この反応容器に2,2'−ジメチル−4,4'−ジアミノビフェニル(m-TB)を投入して容器中で攪拌しながら溶解させた。次に、3,3',4,4'−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(BPDA)およびピロメリット酸二無水物(PMDA)をモノマーの投入総量が15wt%、各酸無水物のモル比率(BPDA:PMDA)が20:80となるように投入した。その後、3時間撹拌を続けて重合反応を行い、ポリアミド酸bの樹脂溶液を得た。ポリアミド酸bから形成された厚み25μmのポリイミドフィルムの熱膨張係数(CTE)は、22×10−6/Kであった。
(Synthesis Example 2)
A reaction vessel equipped with a thermocouple and a stirrer and capable of introducing nitrogen is charged with N, N-dimethylacetamide, and 2,2′-dimethyl-4,4′-diaminobiphenyl (m-TB) is added to the reaction vessel. Was dissolved while stirring in a container. Next, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) and pyromellitic dianhydride (PMDA) were added in a total monomer amount of 15 wt%, and the molar ratio of each acid anhydride ( (BPDA: PMDA) was charged to 20:80. Thereafter, stirring was continued for 3 hours to carry out a polymerization reaction to obtain a resin solution of polyamic acid b. The thermal expansion coefficient (CTE) of the 25 μm thick polyimide film formed from the polyamic acid b was 22 × 10 −6 / K.

(合成例3)
熱電対及び攪拌機を備えると共に窒素導入が可能な反応容器に、N,N−ジメチルアセトアミドを入れ、さらに、この反応容器に2,2'−ジメチル−4,4'−ジアミノビフェニル(m-TB)および4,4'−ジアミノジフェニルエーテル(DAPE)を各ジアミンのモル比率(m-TB:DAPE)が60:40となるように投入して容器中で攪拌しながら溶解させた。次に、ピロメリット酸二無水物(PMDA)をモノマーの投入総量が16wt%となるように投入した。その後、3時間撹拌を続けて重合反応を行い、ポリアミド酸cの樹脂溶液を得た。ポリアミド酸cから形成された厚み25μmのポリイミドフィルムの熱膨張係数(CTE)は、22×10−6/Kであった。
(Synthesis Example 3)
A reaction vessel equipped with a thermocouple and a stirrer and capable of introducing nitrogen is charged with N, N-dimethylacetamide, and 2,2′-dimethyl-4,4′-diaminobiphenyl (m-TB) is added to the reaction vessel. Then, 4,4′-diaminodiphenyl ether (DAPE) was added so that the molar ratio of each diamine (m-TB: DAPE) was 60:40 and dissolved in the container with stirring. Next, pyromellitic dianhydride (PMDA) was added so that the total amount of monomers added was 16 wt%. Thereafter, stirring was continued for 3 hours to carry out a polymerization reaction to obtain a resin solution of polyamic acid c. The thermal expansion coefficient (CTE) of the polyimide film having a thickness of 25 μm formed from the polyamic acid c was 22 × 10 −6 / K.

(実施例1)
厚さ12μmで長尺状の圧延銅箔の片面(表面粗さRz=0.8μm)に合成例1で調製したポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが2.2μmとなるように均一に塗布した後、130℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。次に、この塗布面側に合成例2で調製したポリアミド酸bの樹脂溶液を硬化後の厚みが7.6μmとなるように均一に塗布し、135℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。更に、この塗布面側に第1層目で塗布したものと同じポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが2.2μmとなるように均一に塗布し、130℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。この長尺状の積層体を130℃から開始して300℃まで段階的に温度が上がるように設定した連続硬化炉にて、合計6分程度の時間をかけて熱処理し、ポリイミド層の厚みが12μmの片面フレキシブル銅張積層板を得た。
Example 1
Uniform so that the thickness after curing the resin solution of polyamic acid a prepared in Synthesis Example 1 on one side (surface roughness Rz = 0.8 μm) of a long rolled copper foil having a thickness of 12 μm is 2.2 μm. After coating, the solvent was removed by heating at 130 ° C. Next, the resin solution of polyamic acid b prepared in Synthesis Example 2 was uniformly applied to the coated surface side so that the thickness after curing was 7.6 μm, and the solvent was removed by heating and drying at 135 ° C. Further, apply the same polyamic acid a resin solution as that applied in the first layer on the coated surface side so that the thickness after curing is 2.2 μm, and heat dry at 130 ° C. to remove the solvent. did. This continuous laminate was heat-treated in a continuous curing furnace set so that the temperature gradually increased from 300 ° C. to 300 ° C. over a period of about 6 minutes. A 12 μm single-sided flexible copper-clad laminate was obtained.

得られたフレキシブル銅張積層板を構成する銅箔の引張弾性率、ポリイミド層の引張弾性率等の物性値、フレキシブル銅張積層板の折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。なお、ポリイミド層の評価は製造された銅張積層板から銅箔をエッチング除去したものを用いた。   Table 1 shows the evaluation results of physical properties such as the tensile elastic modulus of the copper foil constituting the obtained flexible copper-clad laminate, the tensile elastic modulus of the polyimide layer, the bending angle and the bending resistance of the flexible copper-clad laminate. . In addition, evaluation of the polyimide layer used what removed the copper foil by etching from the manufactured copper clad laminated board.

(実施例2)
銅箔として、表1に示した特性を有する厚さ12μmの市販の電解銅箔(塗布面の表面粗さRz=1.1μm)を用いた以外は実施例1と同様にして、片面フレキシブル銅張積層板を得た。得られた片面フレキシブル銅張積層板についての折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。
(Example 2)
Single-sided flexible copper was used in the same manner as in Example 1 except that a commercially available electrolytic copper foil having a characteristic shown in Table 1 and having a thickness of 12 μm (surface roughness Rz = 1.1 μm on the coated surface) was used. A tension laminate was obtained. Table 1 shows the evaluation results of bending angle and bending resistance of the obtained single-sided flexible copper-clad laminate.

(実施例3)
表1に示した特性を有し、厚さ12μmの電解銅箔(塗布面の表面粗さRz=1.1μm)を使用し、ポリイミド層の厚み構成を以下のように変更した以外は実施例1と同様にして、片面フレキシブル銅張積層板を得た。
(Example 3)
Example having the characteristics shown in Table 1 and using an electrolytic copper foil having a thickness of 12 μm (surface roughness Rz = 1.1 μm of the coated surface) and changing the thickness configuration of the polyimide layer as follows In the same manner as in Example 1, a single-sided flexible copper-clad laminate was obtained.

ここで、ポリイミド層の厚み構成は、銅箔上に合成例1で調製したポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが2.0μm、その上に合成例2で調製したポリアミド酸bの樹脂溶液を硬化後の厚みが5.0μm、更にその上に合成例1で調製したポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが2.0μmとなるようにした。得られた片面フレキシブル銅張積層板についての折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。   Here, the thickness structure of the polyimide layer is such that the thickness after curing the polyamic acid a resin solution prepared in Synthesis Example 1 on a copper foil is 2.0 μm, and the polyamic acid b resin prepared in Synthesis Example 2 thereon. The thickness after curing of the solution was 5.0 μm, and the thickness after curing of the resin solution of polyamic acid a prepared in Synthesis Example 1 was 2.0 μm. Table 1 shows the evaluation results of bending angle and bending resistance of the obtained single-sided flexible copper-clad laminate.

(実施例4)
銅箔として、表1に示した特性を有する厚さ9μmの市販の電解銅箔(塗布面の表面粗さRz=1.1μm)を用いた以外は実施例3と同様にして、片面フレキシブル銅張積層板を得た。得られた片面フレキシブル銅張積層板についての折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。
Example 4
A single-sided flexible copper was used in the same manner as in Example 3 except that a commercially available electrolytic copper foil having a characteristic shown in Table 1 and a thickness of 9 μm was used as the copper foil (surface roughness Rz = 1.1 μm on the coated surface). A tension laminate was obtained. Table 1 shows the evaluation results of bending angle and bending resistance of the obtained single-sided flexible copper-clad laminate.

(実施例5)
銅箔として、表1に示した特性を有する厚さ18μmの市販の圧延銅箔(塗布面の表面粗さRz=0.8μm)を用いた以外は実施例1と同様にして、片面フレキシブル銅張積層板を得た。得られた片面フレキシブル銅張積層板についての折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。
(Example 5)
One-sided flexible copper was used in the same manner as in Example 1 except that a commercially available rolled copper foil having a characteristic shown in Table 1 and having a thickness of 18 μm (surface roughness Rz = 0.8 μm on the coated surface) was used. A tension laminate was obtained. Table 1 shows the evaluation results of bending angle and bending resistance of the obtained single-sided flexible copper-clad laminate.

(実施例6)
表1に示した特性を有し、厚さ12μmで長尺状の市販の電解銅箔(塗布面の表面粗さRz=1.1μm)上に、合成例1で調製したポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが2.5μmとなるように均一に塗布した後、130℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。次に、この塗布面側に合成例3で調製したポリアミド酸cの樹脂溶液を硬化後の厚みが20.0μmとなるように均一に塗布し、120℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。更に、この塗布面側に第1層目で塗布したものと同じポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが2.5μmとなるように均一に塗布し、130℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。この長尺状の積層体を130℃から開始して300℃まで段階的に温度が上がるように設定した連続硬化炉にて、合計6分程度の時間をかけて熱処理し、ポリイミド樹脂層厚み25μmの片面フレキシブル銅張積層板を得た。得られた片面フレキシブル銅張積層板についての折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。
(Example 6)
Resin of polyamic acid a prepared in Synthesis Example 1 on a commercially available electrolytic copper foil having a characteristic shown in Table 1 and having a thickness of 12 μm (long surface roughness Rz = 1.1 μm) The solution was uniformly applied so that the thickness after curing was 2.5 μm, and then dried by heating at 130 ° C. to remove the solvent. Next, the polyamic acid c resin solution prepared in Synthesis Example 3 was uniformly applied to the coated surface side so that the thickness after curing was 20.0 μm, and the solvent was removed by heating and drying at 120 ° C. Furthermore, the same polyamic acid a resin solution as that applied in the first layer is applied on the coated surface side uniformly so that the thickness after curing is 2.5 μm, and the solvent is removed by heating at 130 ° C. did. This long laminate was heat-treated in a continuous curing furnace set so that the temperature gradually increased from 300 ° C. to 300 ° C. over a period of about 6 minutes, and the polyimide resin layer thickness was 25 μm. A single-sided flexible copper-clad laminate was obtained. Table 1 shows the evaluation results of bending angle and bending resistance of the obtained single-sided flexible copper-clad laminate.

(比較例1)
表1に示した特性を有し、厚さ12μmの電解銅箔(塗布面の表面粗さRz=1.1μm)を使用し、ポリイミド層の厚み構成を以下のように変更した以外は実施例1と同様にして、片面フレキシブル銅張積層板を得た。
(Comparative Example 1)
Example having the characteristics shown in Table 1 and using an electrolytic copper foil having a thickness of 12 μm (surface roughness Rz = 1.1 μm of the coated surface) and changing the thickness configuration of the polyimide layer as follows In the same manner as in Example 1, a single-sided flexible copper-clad laminate was obtained.

ここで、ポリイミド層の厚み構成は、銅箔上に合成例1で調製したポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが2.0μm、その上に合成例2で調製したポリアミド酸bの樹脂溶液を硬化後の厚みが16.0μm、更にその上に合成例1で調製したポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが2.0μmとなるようにした。得られた片面フレキシブル銅張積層板についての折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。   Here, the thickness structure of the polyimide layer is such that the thickness after curing the polyamic acid a resin solution prepared in Synthesis Example 1 on a copper foil is 2.0 μm, and the polyamic acid b resin prepared in Synthesis Example 2 thereon. The thickness after curing of the solution was 16.0 μm, and the thickness after curing of the resin solution of polyamic acid a prepared in Synthesis Example 1 was 2.0 μm. Table 1 shows the evaluation results of bending angle and bending resistance of the obtained single-sided flexible copper-clad laminate.

(比較例2)
表1に示した特性を有し、厚さ12μmで長尺状の市販の電解銅箔(塗布面の表面粗さRz=1.1μm)上に、合成例1で調製したポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが4.0μmとなるように均一に塗布した後、130℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。次に、この塗布面側に合成例3で調製したポリアミド酸cの樹脂溶液を硬化後の厚みが42.0μmとなるように均一に塗布し、120℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。更に、この塗布面側に第1層目で塗布したものと同じポリアミド酸aの樹脂溶液を硬化後の厚みが4.0μmとなるように均一に塗布し、130℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。この長尺状の積層体を130℃から開始して300℃まで段階的に温度が上がるように設定した連続硬化炉にて、合計10分程度の時間をかけて熱処理し、ポリイミド樹脂層厚み50μmの片面フレキシブル銅張積層板を得た。得られた片面フレキシブル銅張積層板についての折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。
(Comparative Example 2)
Resin of polyamic acid a prepared in Synthesis Example 1 on a commercially available electrolytic copper foil having a characteristic shown in Table 1 and having a thickness of 12 μm (long surface roughness Rz = 1.1 μm) The solution was uniformly applied so that the thickness after curing was 4.0 μm, and then dried by heating at 130 ° C. to remove the solvent. Next, the polyamic acid c resin solution prepared in Synthesis Example 3 was uniformly applied to the coated surface side so that the thickness after curing was 42.0 μm, and the solvent was removed by heating and drying at 120 ° C. Furthermore, the same polyamic acid a resin solution as that applied in the first layer is applied uniformly to the coated surface so that the thickness after curing is 4.0 μm, and the solvent is removed by heating at 130 ° C. did. This long laminate was heat-treated in a continuous curing furnace set so that the temperature gradually increased from 300 ° C. to 300 ° C. over a period of about 10 minutes, and the polyimide resin layer thickness was 50 μm. A single-sided flexible copper-clad laminate was obtained. Table 1 shows the evaluation results of bending angle and bending resistance of the obtained single-sided flexible copper-clad laminate.

(比較例3)
銅箔として、表1に示した特性を有する厚さ18μmの市販の圧延銅箔(塗布面の表面粗さRz=1.1μm)を用いた以外は比較例2と同様にして、片面フレキシブル銅張積層板を得た。得られた片面フレキシブル銅張積層板についての折曲角度および耐折り曲げ性の評価結果を表1に示す。
(Comparative Example 3)
Single-sided flexible copper as in Comparative Example 2 except that a commercially available rolled copper foil having a characteristic shown in Table 1 and having a thickness of 18 μm (surface roughness Rz = 1.1 μm on the coated surface) was used as the copper foil. A tension laminate was obtained. Table 1 shows the evaluation results of bending angle and bending resistance of the obtained single-sided flexible copper-clad laminate.

以上の結果をまとめて、表1に示す。   The above results are summarized in Table 1.

Figure 2015070237
Figure 2015070237

表1から、実施例1〜6のフレキシブル銅張積層板は、いずれも上記a〜dの構成を具備することによって、折曲角度の変化量(θ1−θ5)が8°未満となっており、はぜ折り測定値が50回以上と良好な値を示し、耐折り曲げ性が満足できる結果であった。一方、ポリイミド層の厚みが30μmを超える比較例2及び3では、いずれも、はぜ折り回数が少なく、耐折り曲げ性が不良であった。比較例1では、上記a〜dの構成を具備するが、折曲角度の変化量(θ1−θ5)が10°であるので、はぜ折り回数が少なく、耐折り曲げ性が不良であった。   From Table 1, the flexible copper clad laminates of Examples 1 to 6 all have the above-described configurations a to d, so that the amount of change in the bending angle (θ1-θ5) is less than 8 °. The measured value of the hull fold was as good as 50 times or more, and the bending resistance was satisfactory. On the other hand, in Comparative Examples 2 and 3 in which the thickness of the polyimide layer exceeded 30 μm, the number of helix folding was small, and the bending resistance was poor. In Comparative Example 1, the configurations a to d described above were provided, but since the amount of change in the bending angle (θ1-θ5) was 10 °, the number of helix folding was small and the bending resistance was poor.

以上、本発明の実施の形態を例示の目的で詳細に説明したが、本発明は上記実施の形態に制約されることはない。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described in detail for the purpose of illustration, this invention is not restrict | limited to the said embodiment.

20、21:試料ステージ
22:ローラー
40:試験片
40C:試験片の折り曲げ箇所
51:銅配線
52:銅配線のU字部
20, 21: Sample stage 22: Roller 40: Test piece 40C: Bending part 51 of the test piece: Copper wiring 52: U-shaped portion of copper wiring

Claims (3)

ポリイミド絶縁層(A)と、該ポリイミド絶縁層(A)の少なくとも一方の面に設けられた銅箔(B)とを備えたフレキシブル銅張積層板であって、以下のa〜dの構成:
a)当該フレキシブル銅張積層板の厚みが15〜38μmの範囲内であること;
b)前記ポリイミド絶縁層(A)の厚みが5〜30μmの範囲内であり、かつ、引張弾性率が4〜10GPaの範囲内であること;
c)前記銅箔(B)の厚みが5〜20μm範囲内であり、かつ、引張弾性率が10〜35GPaの範囲内であること;
d)前記ポリイミド絶縁層(A)と前記銅箔(B)との厚みの比[銅箔(B)の厚み/ポリイミド絶縁層(A)の厚み]が、0.48〜1.5の範囲内であること;
を具備するものであり、
当該フレキシブル銅張積層板の銅箔(B)を配線回路加工して銅配線を形成することによって作成したフレキシブル回路基板を、ギャップ0.3mmでの折り曲げ試験に供した場合において、1回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ1)と、5回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ5)との変化量(θ1−θ5)が8°未満であることを特徴とするフレキシブル銅張積層板。
A flexible copper-clad laminate comprising a polyimide insulating layer (A) and a copper foil (B) provided on at least one surface of the polyimide insulating layer (A), the following configurations a to d:
a) The thickness of the flexible copper-clad laminate is in the range of 15 to 38 μm;
b) The polyimide insulating layer (A) has a thickness in the range of 5 to 30 μm and a tensile modulus of elasticity in the range of 4 to 10 GPa;
c) The copper foil (B) has a thickness in the range of 5 to 20 μm and a tensile modulus of elasticity in the range of 10 to 35 GPa;
d) The ratio of the thickness of the polyimide insulating layer (A) to the copper foil (B) [the thickness of the copper foil (B) / the thickness of the polyimide insulating layer (A)] is in the range of 0.48 to 1.5. Be within;
Comprising
When a flexible circuit board prepared by forming a copper wiring by processing a copper foil (B) of the flexible copper-clad laminate is subjected to a bending test with a gap of 0.3 mm, the first bending is performed. The flexible copper-clad laminate is characterized in that the amount of change (θ1−θ5) between the bending angle (θ1) generated by the bending and the bending angle (θ5) generated by the fifth bending is less than 8 °.
更に、当該フレキシブル銅張積層板の銅箔(B)を配線回路加工して銅配線を形成することによって作成したフレキシブル回路基板を、ギャップ0.3mmでの折り曲げ試験に供した場合において、3回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ3)と、5回目の折り曲げによって生じる折曲角度(θ5)との変化量(θ3−θ5)が1°以下である請求項1に記載のフレキシブル銅張積層板。   Furthermore, in the case where the flexible circuit board prepared by forming the copper wiring by processing the copper foil (B) of the flexible copper-clad laminate to form a copper wiring is subjected to a bending test with a gap of 0.3 mm, the third time The flexible copper-clad laminate according to claim 1, wherein a change amount (θ3−θ5) between a bending angle (θ3) caused by bending of the wire and a bending angle (θ5) caused by the fifth bending is 1 ° or less. . 請求項1又は2に記載のフレキシブル銅張積層板の銅箔を配線回路加工してなるフレキシブル回路基板。   The flexible circuit board formed by wiring circuit processing the copper foil of the flexible copper clad laminated board of Claim 1 or 2.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP7336614B1 (en) * 2023-03-29 2023-08-31 住友化学株式会社 laminated film
JP7357815B1 (en) * 2023-03-29 2023-10-06 住友化学株式会社 laminated film

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