JP2015052469A - Charge-discharge testing system, charge-discharge testing apparatus, and calibration method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、充放電試験システム、充放電試験装置、校正方法に関する。 The present invention relates to a charge / discharge test system, a charge / discharge test apparatus, and a calibration method.
近年、電気自動車、太陽電池システムの夜間対応、災害時の非常用蓄電池など様々な分野で二次電池が注目されている。二次電池は、充放電試験装置により充電試験や放電試験が行われ、品質が維持されている(例えば特許文献1参照)。 In recent years, secondary batteries have attracted attention in various fields, such as electric vehicles, nighttime response of solar cell systems, and emergency storage batteries during disasters. The secondary battery is subjected to a charge test and a discharge test by a charge / discharge test apparatus, and the quality is maintained (see, for example, Patent Document 1).
一方、製造者は、二次電池の試験に使用する充放電試験装置の電気的特性が試験仕様に合致しているか否かを定期的に検査して、適正な性能を維持できるように校正することが求められている。 On the other hand, the manufacturer periodically inspects whether the electrical characteristics of the charge / discharge test equipment used to test the secondary battery meet the test specifications and calibrates so that proper performance can be maintained. It is demanded.
製造者は、充放電試験装置の試験端子に測定器や放電器などを接続して、充放電電圧や充放電電流を計測し、充放電試験装置の設定を調整する作業を定期的に行わなければならないという問題がある。 The manufacturer shall regularly perform the work of measuring the charge / discharge voltage and charge / discharge current and adjusting the settings of the charge / discharge test device by connecting a measuring instrument or discharger to the test terminal of the charge / discharge test device. There is a problem that must be.
本件開示の充放電試験システム、充放電試験装置、校正方法は、二次電池の充放電試験を行いながら自動的に充放電試験装置の校正を行うことができる技術を提供することを目的とする。 The charge / discharge test system, the charge / discharge test apparatus, and the calibration method disclosed herein are intended to provide a technique that can automatically calibrate a charge / discharge test apparatus while performing a charge / discharge test of a secondary battery. .
一つの観点によれば、充放電試験システムは、二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置と、充放電試験装置を校正するための校正ユニットとを有する充放電試験システムにおいて、充放電試験装置は、少なくとも1つの充電回路と、充電回路に対向する少なくとも1つの放電回路と、充電回路と放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第1通信部と、計測値に基づいて充電回路および放電回路の調整を行う制御部と有し、校正ユニットは、二次電池の代わりに充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、二次電池の電源端子の代わりに試験端子を充放電試験装置に接続して、充放電試験装置の充電回路および放電回路の電気的特性を計測する計測部と、計測部が計測した計測値を無線により充放電試験装置に送信する第2通信部とを有することを特徴とする。 According to one aspect, a charge / discharge test system includes a charge / discharge test apparatus that performs a charge / discharge test of a secondary battery, and a calibration unit for calibrating the charge / discharge test apparatus. The test apparatus wirelessly receives measurement values measured by at least one charging circuit, at least one discharging circuit facing the charging circuit, and a calibration unit disposed between the charging circuit and the discharging circuit. And a control unit that adjusts the charging circuit and the discharging circuit based on the measured value, and the calibration unit has a shape that can be arranged in the charging / discharging test apparatus instead of the secondary battery, and the secondary unit It has a test terminal arranged at the same position as the power terminal of the battery, connects the test terminal to the charge / discharge test device instead of the power terminal of the secondary battery, and charges the charge circuit and the discharge circuit of the charge / discharge test device. And having a measuring unit for measuring a characteristic, and a second communication unit for transmitting the measurement value measuring unit is measured charge and discharge test device by wireless.
一つの観点によれば、充放電試験装置は、少なくとも1つの充電回路と、充電回路に対向する少なくとも1つの放電回路と、充電回路と放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第1通信部と、計測値に基づいて充電回路および放電回路の調整を行う制御部とを有することを特徴とする。 According to one aspect, the charge / discharge test apparatus measures at least one charging circuit, at least one discharging circuit facing the charging circuit, and a calibration unit arranged between the charging circuit and the discharging circuit. It has the 1st communication part which receives a value by radio | wireless, and the control part which adjusts a charging circuit and a discharge circuit based on a measured value, It is characterized by the above-mentioned.
一つの観点によれば、校正方法は、二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置を校正ユニットを用いて校正を行う校正方法において、充放電試験装置は、少なくとも1つの充電回路と少なくとも1つの放電回路とを対向させて、充電回路および放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信し、計測値に基づいて充電回路および放電回路の調整を行い、校正ユニットは、二次電池の代わりに充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、二次電池の電源端子の代わりに試験端子を充放電試験装置に接続して、充放電試験装置の充電回路および放電回路の電気的特性を計測し、無線により計測値を充放電試験装置に送信することを特徴とする。 According to one aspect, the calibration method is a calibration method in which a charge / discharge test apparatus that performs a charge / discharge test of a secondary battery is calibrated using a calibration unit. The charge / discharge test apparatus includes at least one charging circuit and at least one charge circuit. The measurement value measured by the calibration unit arranged between the charging circuit and the discharging circuit is received wirelessly by facing one discharging circuit, and the charging circuit and the discharging circuit are adjusted based on the measuring value, The calibration unit has a shape that can be arranged in the charge / discharge test apparatus instead of the secondary battery, and has a test terminal arranged at the same position as the power terminal of the secondary battery, and the power terminal of the secondary battery Instead of, a test terminal is connected to a charge / discharge test device, the electrical characteristics of the charge circuit and the discharge circuit of the charge / discharge test device are measured, and the measured value is transmitted to the charge / discharge test device wirelessly.
本件開示の充放電試験システム、充放電試験装置、校正方法は、二次電池の充放電試験を行いながら自動的に充放電試験装置の校正を行うことができる。 The charge / discharge test system, the charge / discharge test apparatus, and the calibration method of the present disclosure can automatically calibrate the charge / discharge test apparatus while performing a charge / discharge test of the secondary battery.
以下、図面を用いて実施形態を説明する。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.
図1は、二次電池150の試験を行うための充放電試験システム100の例を示す。図1に示した充放電試験システム100は、製造された二次電池150を試験ラインに流して、充電性能や放電性能を検査する充放電試験を行う。充放電試験システム100は、例えば試験内容別に複数の充放電試験装置101を用いる。図1の例では、充放電試験システム100は、モードAの試験を行う試験ラインA、モードBの試験を行う試験ラインB、モードCの試験を行う試験ラインCの三種類の試験ラインを有する。ここで、モードA、モードBおよびモードCの各試験は、例えば充電電流の大きさや充電パターン、放電電流の大きさや放電パターンなどの試験内容が異なる。例えば、試験内容は、モードAが急速充電、モードBが連続放電、モードCが充電と放電の繰り返し、などである。
FIG. 1 shows an example of a charge /
図1において、試験ラインAは、充放電試験装置101a1、充放電試験装置101a2、充放電試験装置101a3・・・などの複数の試験装置を有し、例えば充放電試験装置101a1は、二次電池150_1に対してモードAの試験を行う。また、試験ラインBは、充放電試験装置101b1、充放電試験装置101b2、充放電試験装置101b3・・・などの複数の試験装置を有し、例えば充放電試験装置101b2は、二次電池150_2に対してモードBの試験を行う。同様に、試験ラインCは、充放電試験装置101c1、充放電試験装置101c2、充放電試験装置101c3・・・などの複数の試験装置を有する。そして、例えば充放電試験装置101c1は、二次電池150_3に対して、充放電試験装置101c2は二次電池150_4に対して、それぞれモードCの試験を行う。 1, the test line A has a plurality of test devices such as a charge / discharge test device 101a1, a charge / discharge test device 101a2, a charge / discharge test device 101a3, etc., for example, the charge / discharge test device 101a1 is a secondary battery. A test of mode A is performed for 150_1. Further, the test line B has a plurality of test devices such as a charge / discharge test device 101b1, a charge / discharge test device 101b2, a charge / discharge test device 101b3, etc., for example, the charge / discharge test device 101b2 is connected to the secondary battery 150_2. On the other hand, the mode B test is performed. Similarly, the test line C includes a plurality of test apparatuses such as a charge / discharge test apparatus 101c1, a charge / discharge test apparatus 101c2, a charge / discharge test apparatus 101c3,. For example, the charge / discharge test apparatus 101c1 performs a mode C test on the secondary battery 150_3, and the charge / discharge test apparatus 101c2 performs a mode C test on the secondary battery 150_4.
尚、充放電試験装置101a1、101a2、101a3、101b1、101b2、101b3、101c1、101c2および101c3は、試験モードの選択が可能な同一又は同様の機能を有する試験装置である。以降の説明において、これらの試験装置に共通の内容を説明する場合、試験装置の符号は、アルファベットのa*,b*,c*(*は数字)を除いて、例えば充放電試験装置101と表記される。二次電池や校正ユニットなどについても同様の考え方で表記し、二次電池の符号は、例えば複数の二次電池に共通の場合は末尾の「_数字」を除いて二次電池150と表記される。同様に、校正ユニットの符号は、複数の校正ユニットに共通の場合は末尾の「_数字」を除いて校正ユニット102と表記される。
The charge / discharge test apparatuses 101a1, 101a2, 101a3, 101b1, 101b2, 101b3, 101c1, 101c2, and 101c3 are test apparatuses having the same or similar functions capable of selecting a test mode. In the following description, when the contents common to these test apparatuses are described, the symbols of the test apparatuses are the same as those of the charge /
ここで、充放電試験システム100において、従来の方法で校正試験を行う場合について説明する。保守者は、充放電試験装置101が二次電池150を試験する時の電気的特性を定期的に検査し、検査結果が予め決められた試験仕様を満たしていない場合、充放電試験装置101が試験仕様を満たすように電気的特性を調整する。例えば、保守者は、二次電池150の充電試験を行う時の充電電流が規定範囲内にあるか否かを測定する。そして、保守者は、充電電流が規定範囲から外れている場合、充電電流が規定範囲の例えば中央値になるように充放電試験装置101を調整する。ここで、充電電流が規定範囲から外れている場合、その充放電試験装置101で過去に試験された二次電池150の再試験を行うことになるため、保守者は、規定範囲から外れかけている場合でも規定範囲から大きく外れないように調整を行って管理する。
Here, the case where the calibration test is performed by the conventional method in the charge /
このように、従来の校正作業は、保守者が手動で行っていたので、時間やコストが掛かっていた。また、校正には、精度の良い電源装置や放電抵抗器などが用いられ、設備の大型化やコストなどの面で問題があった。さらに、充電試験および放電試験は、電気エネルギーが熱エネルギーとして無駄に消費されるため、電源ロスが大きく、省電力化の点でも問題があった。 As described above, the conventional calibration work is manually performed by a maintenance person, and thus it takes time and cost. In addition, a high-accuracy power supply device or a discharge resistor is used for the calibration, and there is a problem in terms of an increase in equipment size and cost. Furthermore, the charge test and the discharge test have a problem in terms of power saving because electric energy is unnecessarily consumed as heat energy, resulting in a large power loss.
そこで、本実施形態では、保守者は、二次電池150の代わりに二次電池150の筐体と同一又は同様のサイズの校正ユニット102を各試験ラインに流すことにより、充放電試験装置101を自動的に校正することができる。
Therefore, in this embodiment, the maintenance person causes the charge /
図2は、充放電試験装置101と校正ユニット102および二次電池150との接続例を示す。
FIG. 2 shows a connection example between the charge /
図2(a)は、充放電試験装置101に二次電池150を接続する様子を示す。図2(a)において、充放電試験装置101の試験用の端子117は、二次電池150の端子151と一対一に対応するように配置されている。そして、端子117が端子151に接触した状態になると、充放電試験装置101は、二次電池150の試験を開始する。
FIG. 2A shows a state in which the
図2(b)は、充放電試験装置101に校正ユニット102を接続する様子を示す。校正ユニット102は、二次電池150と同一又は同様のサイズの筐体であり、二次電池150の端子151と同一又は同様の配置の端子118を有する。そして、校正時に、充放電試験装置101の端子117は、校正ユニット102の端子118に接触し、校正ユニット102は、充放電試験装置101の電気的特性を計測する。
FIG. 2B shows a state in which the
尚、図1において、二次電池150や校正ユニット102の試験ライン内での移動は、作業者が手動で行ってもよいし、コンベヤーやロボットなどで自動的に移動するようにしてもよい。また、校正ユニット102は、同じ試験モードのグループ内を移動するようにしてもよいし、異なる試験モードのグループ間を移動するようにしてもよい。さらに、校正ユニット102は、試験ラインに流さない場合、待機用ラック160などに置いておく。この場合、校正ユニット102は、作業者またはコンベヤーやロボットなどで待機用ラック160に移動され、校正時に再び試験ラインに流される。尚、校正スケジュールは、製造工程や製造検査項目に応じて予め決められており、充放電試験システム100は、校正スケジュールに従って充放電試験装置101の校正を行う。また、校正を自動的に行う場合、充放電試験システム100は、校正スケジュールに従って校正ユニット102をコンベヤーやロボットなどで試験ラインに流し、各充放電試験装置101の校正を行う。
In FIG. 1, the movement of the
図3は、充放電試験システム100の例を示す。充放電試験システム100において、充放電試験装置101は、校正ユニット102に接続され、試験管理装置103によって制御および管理される。充放電試験装置101は、試験管理装置103と例えばLAN(Local Area Network)で接続される。尚、試験管理装置103は、同じ試験グループの充放電試験装置101を管理してもよいし、複数の試験グループの充放電試験装置101を共通に管理してもよい。また、図3では、充放電試験装置101と試験管理装置103とを別の装置として分離したが、充放電試験装置101に試験管理装置103の機能を含めて充放電試験装置101としてもよい。
[充放電試験装置101の例]
図3において、充放電試験装置101は、例えば、充放電回路ブロック111と、制御回路112と、電源回路113とを有する。ここで、充放電試験システム100は、製造ライン上の二次電池150や校正ユニット102が充放電試験装置101に接続されたことを検出するために、例えばRFID(Radio Frequency IDentification)機能を有する。RFID機能は、RFIDタグ191に予め記憶された情報をRFIDリーダ192で読み取って、RFIDタグ191が取り付けられた物品などを認識する技術である。図3の例では、二次電池150や校正ユニット102にRFIDタグ191を取り付けておく。そして、RFIDリーダ192は、RFIDタグ191が数センチメートルの近距離に近づいた時にRFIDタグ191の情報を読み取る。読み取った情報は、制御回路112または後述する試験管理装置103の制御用のパソコン(パーソナルコンピュータ)133で解析される。尚、RFIDタグ191に予め記憶される情報は、固有の識別情報である。固有の識別情報は、例えば、二次電池150や校正ユニット102の識別情報でもよいし、二次電池150や校正ユニット102との対応が分かっていれば、RFIDタグ191自身の識別番号や識別符号などでもよい。固有の識別情報により、試験管理装置103は、二次電池150や校正ユニット102がどの充放電試験装置101に接続されているのかを知ることができる。尚、RFID機能ではなく、識別情報をバーコードなどの符号に印刷して二次電池150や校正ユニット102に添付しておき、充放電試験装置101に設けたバーコードリーダで読み取るようにしてもよい。
FIG. 3 shows an example of the charge /
[Example of charge / discharge test apparatus 101]
In FIG. 3, the charge /
充放電回路ブロック111は、充放電回路CONV1からCONV7までの7つの接地が絶縁された回路を有する。例えば、充放電回路CONV1は、ch1とch2の2つの充放電回路を有する。同様に、充放電回路CONV2はch3とch4、充放電回路CONV3はch5とch6、充放電回路CONV4はch7とch8、充放電回路CONV5はch9とch10、充放電回路CONV6はch11とch12、の2つずつの充放電回路を有する。また、充放電回路CONV7はch13の1つの充放電回路を有する。尚、以降の説明において、充放電回路CONV1からCONV7に共通の事項を説明する場合は、符号末尾の数字を省略して、充放電回路CONVと表記する。また、各充放電回路CONVは、制御回路112により、充電回路または放電回路に設定可能である。さらに、充放電回路CONV1から充放電回路CONV7は、二次電池150や校正ユニット102を接続するための端子117を有する。図3の例では、充放電試験装置101は、チャネルch1からch13までの13組のチャネルを有するが、13組でなくてもよい。尚、各チャネルは、正電源(+)端子と負電源(−)端子とを有する。
The charge /
そして、充放電回路CONV1から充放電回路CONV7は、制御回路112によって、充電回路または放電回路に設定される。制御回路112は、充電回路の充電電圧や充電電流、放電回路の放電電圧や放電電流などを制御する。充放電回路CONV1から充放電回路CONV7は、試験ライン上の二次電池150が接続された時に充放電試験を行い、充放電電流や充放電電圧などの電気的特性を計測して制御回路112に出力する。尚、二次電池150は、複数のセルが積層されており、セル毎に充放電試験装置101の端子に接続され、セル毎に電気的特性が試験される。
The charging / discharging circuit CONV1 to charging / discharging circuit CONV7 are set by the
制御回路112は、LANインターフェース回路を有し、試験管理装置103に接続され、予め設定された試験モード、或いは試験管理装置103から指示される試験内容に従って充放電回路ブロック111を制御する。例えば、制御回路112は、校正ユニット102が接続された時に、試験管理装置103から指示されるチャネルchを充電回路や放電回路などに設定する。
The
電源回路113は、商用電源(AC(Alternating Current)100Vなど)に接続され、充放電回路ブロック111および制御回路112が動作するための電源を供給する。
[試験管理装置103の例]
また、図3において、試験管理装置103は、例えば、HUB131と、無線親機132と、パソコン133とを有する。
The
[Example of test management apparatus 103]
In FIG. 3, the
HUB131は、複数の充放電試験装置101と、無線親機132と、パソコン133とをLANで接続するためのネットワーク装置である。
The
無線親機132は、試験ライン上の複数の校正ユニット102の無線子機122と無線で通信するための装置である。
The
パソコン133は、同じ試験グループ内の充放電試験装置101、または複数の試験グループの充放電試験装置101を制御し、二次電池150の製造試験や校正ユニット102による校正試験を行う。そして、パソコン133は、製造試験や校正試験の前には試験内容の設定、試験中は試験状態のモニタおよび制御、試験後は試験結果の取得および管理などを行う。また、パソコン133および制御回路112は、校正試験の結果が予め決められた試験仕様を満たしていない場合、充放電回路CONV1が試験仕様を満たすように、電気的特性を調整する。ここで、校正試験時に、パソコン133は、無線親機132を介して、試験ライン上の複数の校正ユニット102との間で制御情報を送受信したり、各校正ユニット102の状態や計測結果などを受信する。尚、本実施形態では、1台の校正ユニット102の場合について説明するが、試験管理装置103は、複数の校正ユニット102であってもRFIDタグ191などから得られる識別情報に基づいて、校正ユニット102毎に管理および制御を行うことができる。
[校正ユニット102の例]
図3において、校正ユニット102は、例えば、制御回路120と、計測ブロック121と、無線子機122と、電源回路123と、バッテリー124と、を有する。また、校正ユニット102は、先に説明したように、自ユニットの識別情報などが記憶されたRFIDタグ191を有し、充放電試験装置101は、RFIDリーダ192によりRFIDタグ191の情報を読み出す。さらに、校正ユニット102は、充放電試験装置101の端子117に接続される端子118を有する。尚、図2で説明したように、校正ユニット102の端子118は、二次電池150の端子151と同配置の端子であり、二次電池150の代わりに充放電試験装置101の端子117に接続できる。
The
[Example of calibration unit 102]
In FIG. 3, the
制御回路120は、CPU(Central Processing Unit)などで実現され、CPU内部に記憶されたプログラムに従って校正ユニット102全体の動作を制御する。例えば、制御回路120は、計測ブロック121で計測した結果を無線子機122から試験管理装置103の無線親機132に送信する。
The
計測ブロック121は、充放電試験装置101と接続される端子118の各チャネルの充放電時の電流や電圧などを計測する。制御回路120は、計測ブロック121の計測内容(電圧、電流など)に応じて回路の切り替えを制御したり、計測ブロック121の計測データを読み出す。ここで、計測ブロック121は、計測回路201と、シャント抵抗R1と、スイッチアレイ202とを有する。計測回路201は、電圧計やシャント抵抗R1を有する電流計などを備え、計測値を制御回路120に出力する。スイッチアレイ202は、制御回路120により、各チャネルch間の接続を切り替えたり、計測回路201の電圧計、電流計、シャント抵抗R1を任意の場所に接続することができる。
The
無線子機122は、試験管理装置103の無線親機132との間で無線回線(例えば無線LAN回線)を確立し、校正ユニット102の情報(計測データ、ユニット情報など)やアラームなどの制御情報を試験管理装置103との間で送受信する。また、試験管理装置103は、無線親機132および無線子機122を介して、校正ユニット102の制御回路120に校正試験の指令を行い、計測するチャネルchや計測位置などを制御する。
The
電源回路123は、バッテリー124から電源の供給を受ける。そして、電源回路123は、バッテリー124から供給される電源を、制御回路120、計測ブロック121、無線子機122などの動作に要する電圧に変換する。図3の例において、電源回路123は、バッテリー124から供給されるDC+16Vの電圧をDC±15Vに変換して計測ブロック121に供給する。また、電源回路123は、DC+16Vの電圧をDC+3.3Vに変換して制御回路120に供給する。さらに、電源回路123は、DC+16Vの電圧をDC+5Vに変換して無線子機122に供給する。
The
このように、校正ユニット102は、商用電源に接続するための電源コードが無く、試験ラインの二次電池150と同様に、スタンドアロンで扱うことができ、二次電池150に混ぜて試験ラインに流すことができる。尚、本実施形態に係る校正ユニット102は、二次電池150と同一又は同様のサイズの筐体で、二次電池150の端子151と同一又は同様の配置の端子118を有する。また、校正ユニット102は、充放電試験装置101に接続されている間に、充放電試験装置101の充放電回路ブロック111の一部のチャネルchからバッテリー124を充電できるようにしてもよい。或いは、校正ユニット102は、バッテリー124を搭載せずに、接続中の充放電試験装置101の充放電回路ブロック111の一部のチャネルから電源の供給を受けるようにしてもよい。いずれの場合であっても、校正ユニット102は、電源ケーブルや通信ケーブルなどが無く、試験ラインに二次電池150と共に流すことができ、充放電試験装置101を自動的に校正することができる。
As described above, the
図3において、充放電試験回路101の充放電回路ブロック111は、充放電回路CONV1からCONV7までの7つの充放電回路を有する。尚、各充放電回路は、それぞれ独立して接地され、互いに絶縁されている。例えば、充放電回路CONV1は、共通に接地されたチャネルch1とch2とを有する。また、充放電回路CONV2は、共通に接地されたチャネルch3とch4、充放電回路CONV3は、共通に接地されたチャネルch5とch6、充放電回路CONV4は、共通に接地されたチャネルch7とch8とを有する。同様に、充放電回路CONV5は、共通に接地されたチャネルch9とch10、充放電回路CONV6は、共通に接地されたチャネルch11とch12とを有する。そして、充放電回路CONV7は、ch13を有する。そして、充放電回路CONV1からCONV7は、接地が互いに絶縁されている。
In FIG. 3, the charge / discharge circuit block 111 of the charge /
そして、充放電回路CONV1のch1からCONV3のch6までのいずれかのチャネルに対して放電回路の校正試験を行う場合、充放電試験装置101は、充放電回路CONV1からCONV3と接地が絶縁された対向する充放電回路CONVを選択する。例えば、充放電試験装置101は、対向する充放電回路CONVとして、充放電回路CONV4のch7からCONV7のch13までのいずれかのチャネルを充電回路に設定する。そして、校正ユニット102の計測回路201は、放電回路に設定されたチャネルch1からch6のいずれかのチャネルの放電電圧や放電電流を計測する。逆に、充放電回路CONV1からCONV3のチャネルch1からch6のいずれかのチャネルに対して充電回路の校正試験を行う場合、充放電試験装置101は、充放電回路CONV1からCONV3と接地が絶縁された対向する充放電回路CONVを選択する。例えば、充放電試験装置101は、対向する充放電回路CONVとして、充放電回路CONV4のch7からCONV7のch13までのいずれかのチャネルを放電回路に設定する。そして、校正ユニット102の計測回路201は、充電回路に設定されたチャネルch1からch6のいずれかのチャネルの充電電圧や充電電流、或いは、放電回路に設定されたチャネルch7からch13のいずれかのチャネルの放電電圧や放電電流を計測する。
When the calibration test of the discharge circuit is performed on any channel from the ch1 of the charge / discharge circuit CONV1 to the ch6 of the CONV3, the charge /
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、充放電回路CONV1からCONV7のチャネルch1からch13に対して、充電回路または放電回路の校正試験を行うことができる。
In this way, the charge /
図4は、校正ユニット102により充放電試験装置101の校正を行う時の接続例を示す。尚、図4において、図3と同符号のブロックは、同一又は同様の機能を有する。
FIG. 4 shows a connection example when the
図4に示した充放電試験装置101は、図3に示した充放電試験装置101の主要部分(充放電回路ブロック111と制御回路112)を描いてあり、他の部分は省略されている。また、図4に示した校正ユニット102は、図3に示した校正ユニット102の主要部分(制御回路120、計測ブロック121、無線子機122)を描いてあり、他の部分は省略されている。同様に、図4に示した試験管理装置103は、図3に示した試験管理装置103の主要部分(無線親機132とパソコン133)を描いてあり、他の部分は省略されている。
The charge /
尚、以降で説明する校正例において、充放電試験装置101は、充放電回路ブロック111の7つの充放電回路CONVのうち、充放電回路CONV1のチャネルch1と充放電回路CONV4のチャネルch7とを対向させて動作する。そして、充放電回路CONV1のチャネルch1は充電回路、充放電回路CONV4のチャネルch7は放電回路、にそれぞれ設定され、校正ユニット102は、チャネルch1とチャネルch7の間の電気的特性を計測する。この時、校正ユニット102は、チャネルch1とチャネルch7の間の電気的特性を計測できるように、図3に示したスイッチアレイ202を制御して、電圧計142、電圧計143、シャント抵抗R1および電流計141を任意の場所に接続する。尚、電圧計142と電圧計143は、1台の電圧計を、適宜、切り替えて用いてもよい。
In the calibration example described below, the charge /
ここで、充放電回路CONVは、制御回路112により充電回路または放電回路に設定可能であるが、図4の例では、充放電回路CONV1のチャネルch1は、充電回路に設定された状態を示している。同様に、充放電回路CONV4のチャネルch7は、放電回路に設定された状態を示している。尚、充放電回路CONV1のチャネルch1が放電回路に設定された場合、充放電回路CONV1のチャネルch1は、図4の充放電回路CONV4のチャネルch7と同じ状態に設定される。同様に、充放電回路CONV4のチャネルch7が充電回路に設定された場合、充放電回路CONV4のチャネルch7は、図4の充放電回路CONV1のチャネルch1と同じ状態に設定される。本実施形態に係る充放電試験システム100は、他の充放電回路CONV2,CONV3,CONV5,CONV6およびCONV7の校正を行う場合についても、充放電回路CONV1および充放電回路CONV4と同様に設定する。
Here, the charging / discharging circuit CONV can be set as a charging circuit or a discharging circuit by the
図4において、充放電回路CONV1のチャネルch1は、出力回路161と、調整回路162と、D/A(Digital/Analog変換器)165,166とを有し、充電回路として設定される。さらに、充放電回路CONV1のチャネルch1は、シャント抵抗R2と、調整回路163,164と、A/D(Analog/Digital変換器)167,168とを有し、出力回路161から出力される充電時の電圧値および電流値をモニタする。
In FIG. 4, the channel ch1 of the charge / discharge circuit CONV1 includes an
シャント抵抗R2は、後述する出力回路161の電流値を電圧値に変換してモニタするための抵抗である。尚、図4の例では、シャント抵抗R2は、正電源(+)側の経路に配置されているが、充放電回路CONV1とCONV4の接地は絶縁されているので、負電源(−)側の経路に配置してもよい。
The shunt resistor R2 is a resistor for converting a current value of an
出力回路161は、後述する調整回路162により調整された電圧および電流を出力する。尚、出力回路161は、図3に示した電源回路113から供給される電源を所望の電圧値および電流値に変換して出力する。
The
図5は、出力回路161の動作を示す。図5(a)において、出力回路161は、制御回路112により設定された定格電圧および定格電流を維持するように、CV(定電圧:Constant Voltage)−CC(定電流:Constant current)動作を行う。例えば、制御回路112は、出力回路161に対して、定電圧:5V、定電流:100Aのように設定し、負荷抵抗VRaをオープン状態(無限大(∞))からショート状態(0Ω)まで可変して出力回路161の充電特性を試験する。図5(b)は、負荷抵抗VRaを∞から0Ωまで可変した時の電圧Vと電流Iの変化を示す。図5(b)において、横軸が電流I(A)、縦軸が電圧V(V)をそれぞれ示す。図5(b)に示すように、出力回路161は、定格電圧(例えば5V)を維持しながら充電動作を行い、定格電流(例えば100A)になると電圧Vは0Vに垂下して、充電を終了する。
FIG. 5 shows the operation of the
図4において、調整回路162は、制御回路112から与えられる充電時の電圧設定値および充電時の電流設定値になるように、出力回路161を調整する。そして、電圧調整用のオフセットおよびゲインと、電流調整用のオフセットおよびゲインとが制御回路112から与えられる。
In FIG. 4, the
ここで、制御回路112が調整回路162および後述する調整回路163,164,172,173,174に対して行うオフセット調整とフルスケール調整について説明する。オフセット調整は、0V(または0A)などのゼロ点を調整する処理である。例えば、オフセット調整は、0V(または0A)を設定した時に、実際の回路の充放電電圧(または充放電電流)が0V(または0A)になるようにオフセットを求める。また、フルスケール調整は、例えば5V(または100A)などの最大定格値に合わせる処理である。例えば、充放電試験装置101は、オフセット調整された0V(または0A)と、最大定格値の5V(または100A)との電圧特性(または電流特性)の傾きに相当するゲインを求める。尚、本実施形態では、例えば0V(または0A)から5V(または100A)までの特性は、直線であるものとして扱う。従って、充放電回路CONVの充放電電圧(または充放電電流)のオフセット調整とフルスケール調整とを行うことにより、充放電回路CONVの電圧特性(または電流特性)の校正を行うことができる。
Here, offset adjustment and full scale adjustment performed by the
調整回路163は、シャント抵抗R2の両端の電位差から出力回路161の電流値をモニタするための回路を有する。そして、制御回路112は、モニタする電流値が出力回路161に設定された電流値に合致するように、調整回路163の電流モニタ用のオフセットおよびゲインを調整する。
The
調整回路164は、チャネルch1から出力される充電時の電圧値をモニタするための回路を有する。そして、制御回路112は、モニタする充電時の電圧値が出力回路161に設定された電圧値に合致するように、調整回路164の電圧モニタ用のオフセットおよびゲインを調整する。
D/A165は、制御回路112からデジタル値で与えられる充電時の電圧設定値をアナログ信号に変換して調整回路162に出力する。
The D /
D/A166は、制御回路112からデジタル値で与えられる充電時の電流設定値をアナログ信号に変換して調整回路162に出力する。
The D /
A/D167は、調整回路163でモニタされた充電時の電流値を示すアナログ信号をデジタル値に変換して制御回路112に出力する。
The A /
A/D168は、調整回路164でモニタされた充電時の電圧値を示すアナログ信号をデジタル値に変換して制御回路112に出力する。
The A /
一方、図4において、放電回路に設定された充放電回路CONV4のチャネルch7は、入力回路171と、調整回路172と、D/A175,176とを有し、放電回路として設定される。さらに、充放電回路CONV4のチャネルch7は、シャント抵抗R3と、調整回路173,174と、A/D177,178とを有し、校正ユニット102を介してチャネルch7に入力される放電時の電圧値および電流値をモニタする。
On the other hand, in FIG. 4, the channel ch7 of the charge / discharge circuit CONV4 set as the discharge circuit has an
シャント抵抗R3は、校正ユニット102を介してチャネルch7に入力される放電時の電流値を電圧値に変換してモニタするための抵抗である。尚、図4の例では、シャント抵抗R3は、正電源(+)側の経路に配置されているが、充放電回路CONV1とCONV4の接地は絶縁されているので、負電源(−)側の経路に配置してもよい。
The shunt resistor R3 is a resistor for converting the current value at the time of discharge input to the channel ch7 via the
入力回路171は、放電試験時の負荷として機能し、制御回路112により設定された放電電圧および放電電流になるように、後述する調整回路172により調整される。尚、入力回路171は、放電時の電気エネルギーを図3に示した電源回路113に回生する機能を有する。
The
図6は、入力回路171の動作を示す。図6(a)は、直流電源PSと内部インピーダンスZの等価回路で示した電源側(二次電池150または充電回路)を入力回路171に接続する様子を示している。図6(a)において、入力回路171は、制御回路112により設定された定格電圧および定格電流を維持するように、CV−CC動作を行う。例えば、制御回路112は、入力回路171に対して、定電圧:5V、定電流:100Aのように設定し、入力回路171は、5Vと100Aを維持しながら放電試験を行う。図6(b)は、定電圧ダイオードDvと定電流ダイオードDaを並列に配置した入力回路171の等価回路の一例を示している。このように、入力回路171は、定電圧ダイオードDvと定電流ダイオードDaにより、例えば5Vの定電圧と100Aの定電流を維持する。尚、図6(b)の例では、放電エネルギーは各ダイオードで熱になるが、実際には回生回路によって放電エネルギーは電源側に回生される。
FIG. 6 shows the operation of the
図4において、調整回路172は、制御回路112から与えられる放電時の電圧設定値および放電時の電流設定値になるように、入力回路171を調整する。そして、電圧調整用のオフセットおよびゲインと、電流調整用のオフセットおよびゲインとが制御回路112から与えられる。
In FIG. 4, the
調整回路173は、シャント抵抗R3の両端の電位差から放電時の電流値をモニタするための回路を有する。そして、制御回路112は、モニタする放電時の電流値が入力回路171に設定された電流値に合致するように、調整回路173の電流モニタ用のオフセットおよびゲインを調整する。
The
調整回路174は、チャネルch7に入力される放電時の電圧値をモニタするための回路を有する。そして、制御回路112は、モニタする放電時の電圧値が入力回路171に設定された電圧値に合致するように、調整回路174の電圧モニタ用のオフセットおよびゲインを調整する。
The adjustment circuit 174 has a circuit for monitoring the voltage value at the time of discharging input to the channel ch7. Then, the
D/A175は、制御回路112からデジタル値で与えられる放電時の電圧設定値をアナログ信号に変換して調整回路172に出力する。
The D /
D/A176は、制御回路112からデジタル値で与えられる放電時の電流設定値をアナログ信号に変換して調整回路172に出力する。
The D /
A/D177は、調整回路173でモニタされた放電時の電流値を示すアナログ信号をデジタル値に変換して制御回路112に出力する。
The A /
A/D178は、調整回路174でモニタされた放電時の電圧値を示すアナログ信号をデジタル値に変換して制御回路112に出力する。
The A /
このようにして、充放電試験装置101は、充放電回路ブロック111の7つの充放電回路CONVのうち、充放電回路CONV1のチャネルch1と充放電回路CONV4のチャネルch7とを対向させて動作する。そして、制御回路112は、充電回路に設定された充放電回路CONV1のチャネルch1の充電時の電圧値および電流値を設定し、調整回路162を調整する。また、制御回路112は、放電回路に設定された充放電回路CONV4のチャネルch7の放電時の電圧値および電流値を設定し、調整回路172を調整する。さらに、制御回路112は、充電側でモニタする電圧値が出力回路161の電圧設定値に合致するように、モニタ時の調整回路164の電圧調整用のオフセットおよびゲインを調整する。同様に、制御回路112は、充電側でモニタする電流値が出力回路161の電流設定値に合致するように、モニタ時の調整回路163の電流調整用のオフセットおよびゲインを調整する。また、制御回路112は、放電側でモニタする電圧値が入力回路171の電圧設定値に合致するように、モニタ時の調整回路174の電圧調整用のオフセットおよびゲインを調整する。同様に、制御回路112は、放電側でモニタする電流値が入力回路171の電流設定値に合致するように、モニタ時の調整回路174の電流調整用のオフセットおよびゲインを調整する。
In this way, the charge /
一方、図4において、校正ユニット102のチャネルch1は、充放電試験装置101のチャネルch1に、校正ユニット102のチャネルch7は、充放電試験装置101のチャネルch7に、それぞれ接続される。そして、計測ブロック121の内部で、チャネルch1の負電源(−)側はチャネルch7の負電源(−)側と接続され、チャネルch1の正電源(+)側はチャネルch7の正電源(+)側とシャント抵抗R1を介して接続される。尚、充放電回路CONV1とCONV4の接地は絶縁されているので、シャント抵抗R1は、負電源(−)側の経路に配置してもよい。
On the other hand, in FIG. 4, the channel ch1 of the
図4の例では、制御回路120は、チャネルch1の正電源(+)と負電源(−)の電圧(Vkc)を電圧計143でモニタし、無線子機122から試験管理装置103の無線親機132に送信する。同様に、制御回路120は、チャネルch7の正電源(+)と負電源(−)の電圧(Vkd)を電圧計142でモニタし、無線子機122から試験管理装置103の無線親機132に送信する。また、制御回路120は、チャネルch1の正電源(+)とチャネルch7の正電源(+)との間に配置されたシャント抵抗R1に流れる電流(Ik)を電流計141でモニタし、無線子機122から試験管理装置103の無線親機132に送信する。
In the example of FIG. 4, the
ここで、充放電試験装置101は、二次電池150の充電試験を行う場合、充放電回路CONVを充電回路に設定し、二次電池150を充電する時の充電電圧や充電電流をモニタして二次電池150の充電特性を検査する。或いは、充放電試験装置101は、二次電池150の放電試験を行う場合、充放電回路CONVを放電回路に設定し、二次電池150が放電する時の放電電圧や放電電流をモニタして二次電池150の放電特性を検査する。このようにして、充放電試験装置101は、二次電池150の品質を検査する。本実施形態に係る充放電試験システム100は、充放電試験装置101の充電回路や放電回路が規定通りに動作しているか否かを校正ユニット102を用いて校正するシステムである。
Here, when performing the charge test of the
例えば、充放電試験装置101の充電回路を校正する場合、充電回路に接続される二次電池150の代わりに、充電回路に対向する充放電回路CONVを放電回路に設定する。そして、校正ユニット102は、充電回路と放電回路との間に接続され、充電回路の充電電圧や充電電流を計測し、計測値を充放電試験装置101にフィードバックして充電回路の校正を行う。
For example, when the charging circuit of the charging / discharging
また、充放電試験装置101の放電回路を校正する場合、放電回路に接続される二次電池150の代わりに、放電回路に対向する充放電回路CONVを充電回路に設定する。そして、校正ユニット102は、放電回路と充電回路との間に接続され、放電回路の放電電圧や放電電流を計測し、計測値を充放電試験装置101にフィードバックして放電回路の校正を行う。
When the discharge circuit of the charge /
このように、校正ユニット102は、充電回路と放電回路との間に接続されて、充電電圧、充電電流、放電電圧、放電電流などの電気的特性を計測し、各計測値を無線で試験管理装置103に送信する。そして、試験管理装置103は、校正ユニット102から受信した各計測値をパソコン133から充放電試験装置101の制御回路112に出力する。制御回路112は、校正ユニット102の各計測値に基づいて、充電回路または放電回路の電気的特性が予め決められた規定値になるように調整する。尚、充放電試験装置101は、充放電回路CONVの内部でモニタする電気的特性の計測値も調整する。尚、パソコン133と制御回路112とが行う制御は、パソコン133または制御回路112のどちらが行ってもよく、パソコン133と制御回路112の機能を併合した1つの制御部を設けてもよい。
In this way, the
図7は、充放電回路CONVの入出力回路および調整回路の一例を示す。尚、図7は、図4に示した出力回路161(または入力回路171)および調整回路162(または調整回路172)の回路例である。ここで、充放電回路CONVは、充電回路として動作する場合は出力回路161に、放電回路として動作する場合は入力回路171にそれぞれ設定することができる。
FIG. 7 shows an example of an input / output circuit and an adjustment circuit of the charge / discharge circuit CONV. 7 is a circuit example of the output circuit 161 (or input circuit 171) and the adjustment circuit 162 (or adjustment circuit 172) shown in FIG. Here, the charge / discharge circuit CONV can be set in the
図7において、出力回路161(または入力回路171)は、図3に示した電源回路113から供給される電源PW1と、回生インバータINV1とを有する。出力回路161の場合、電源PW1は、回生インバータINV1を介して電源を供給する。入力回路171の場合、回生インバータINV1は、放電時の電気エネルギーを電源PW1に回生する。これにより、放熱抵抗器を用いて放電試験を行う方法に比べて、省電力化を図ることができる。尚、コンデンサC1は、平滑用のコンデンサである。
In FIG. 7, the output circuit 161 (or the input circuit 171) has a power supply PW1 supplied from the
出力回路161として動作させる場合、制御回路112は、入出力切替信号SELを出力して、スイッチSW3をa側に切り替え、調整回路162の出力をスイッチSW1に与える。そして、調整回路162は、スイッチSW1をスイッチングさせて、出力電圧および出力電流を制御する。ここで、ダイオードD1は、スイッチSW1をスイッチングする時に生じるコイルL1の逆電流をバイパスする。また、ダイオードD1は、放電時の電流を回生インバータINV1に流し、回生インバータINV1は、電気エネルギーを電源PW1に回生する。尚、コイルL1は、チョークコイルとして機能し、コンデンサC2と共に、出力する電源の平滑化を行う。
When operating as the
抵抗R11は、出力回路161が出力する電流をモニタするためのシャント抵抗である。抵抗R11の両端に生じる電位差は、調整回路162に入力され、抵抗R11に流れる電流値としてモニタされる。
The resistor R11 is a shunt resistor for monitoring the current output from the
抵抗R12および抵抗R13は、出力回路161が出力する電圧をモニタするための抵抗で、出力回路161の正電源(+)と負電源(−)に直列に挿入され、分圧された電圧が調整回路162に入力される。
The resistors R12 and R13 are resistors for monitoring the voltage output from the
ここで、上記の説明は、出力回路161の例を示すが、入力回路171として動作させる場合、制御回路112は、入出力切替信号SELによりスイッチSW3をb側に切り替え、調整回路172の出力をスイッチSW2に与える。そして、調整回路172は、スイッチSW2をスイッチングさせて、放電時の入力電圧および入力電流を制御する。ここで、ダイオードD2は、スイッチSW2をスイッチングする時に生じる逆電流をバイパスする。
Here, although the above description shows an example of the
このようにして、制御回路112は、入出力切替信号SELにより、スイッチSW3を切り替えて、充放電回路CONVの各チャネルchを出力回路161または入力回路171に設定する。
In this way, the
次に、調整回路162または調整回路172について説明する。図7において、調整回路162または調整回路172は、オペアンプOP1と、オペアンプOP2と、オペアンプOP3と、ダイオードD3と、ダイオードD4と、コンパレータCMP1と、抵抗R14と、鋸波発振器GEN1とを有する。
Next, the
オペアンプOP1は、抵抗R11の両端に生じる電位差を充電時または放電時の電流値として検出する。尚、抵抗R11は、例えば抵抗値がミリオームオーダーの電流計測用のシャント抵抗であり、抵抗R11による電圧降下は無視できる。 The operational amplifier OP1 detects a potential difference generated between both ends of the resistor R11 as a current value during charging or discharging. The resistor R11 is, for example, a shunt resistor for current measurement whose resistance value is on the order of milliohms, and a voltage drop due to the resistor R11 can be ignored.
オペアンプOP2は、オペアンプOP1が検出した電流値と制御回路112により設定される電流値との差分を出力する。
The operational amplifier OP2 outputs a difference between the current value detected by the operational amplifier OP1 and the current value set by the
オペアンプOP3は、抵抗R12および抵抗R13により検出される電圧値と制御回路112により設定される電圧値との差分を出力する。尚、抵抗R12および抵抗R13は、例えば抵抗値がメガオームオーダーであり、抵抗R12および抵抗R13に流れる電流は無視できる。
The operational amplifier OP3 outputs a difference between the voltage value detected by the resistors R12 and R13 and the voltage value set by the
ダイオードD3およびダイオードD4は、抵抗R14で電源電圧Vccにプルアップされており、オペアンプOP2およびオペアンプOP3の出力の論理和を求める。そして、ダイオードD3およびダイオードD4が出力する論理和は、コンパレータCMP1に入力される。 The diode D3 and the diode D4 are pulled up to the power supply voltage Vcc by the resistor R14, and obtain the logical sum of the outputs of the operational amplifier OP2 and the operational amplifier OP3. The logical sum output from the diode D3 and the diode D4 is input to the comparator CMP1.
コンパレータCMP1は、後述する鋸波発振器GEN1が出力する鋸波と、ダイオードD3およびダイオードD4の論理和の出力とを比較し、矩形波を出力する。尚、オペアンプOP2またはオペアンプOP3の出力が小さくなると、コンパレータCMP1が出力する矩形波の正の期間が長くなる。逆に、オペアンプOP2またはオペアンプOP3の出力が大きくなると、コンパレータCMP1が出力する矩形波の正の期間が短くなる。ここで、コンパレータCMP1が出力する矩形波の正の期間は、スイッチSW1またはスイッチSW2を閉じる期間に対応する。 The comparator CMP1 compares a sawtooth wave output from a sawtooth oscillator GEN1 described later with a logical sum output of the diode D3 and the diode D4, and outputs a rectangular wave. When the output of the operational amplifier OP2 or the operational amplifier OP3 is reduced, the positive period of the rectangular wave output from the comparator CMP1 is increased. Conversely, when the output of the operational amplifier OP2 or the operational amplifier OP3 is increased, the positive period of the rectangular wave output from the comparator CMP1 is shortened. Here, the positive period of the rectangular wave output from the comparator CMP1 corresponds to the period during which the switch SW1 or the switch SW2 is closed.
鋸波発振器GEN1は、予め設定された周期の鋸波を出力する発振器である。 The sawtooth oscillator GEN1 is an oscillator that outputs a sawtooth wave having a preset period.
このようにして、制御回路112は、スイッチSW1(またはスイッチSW2)をオンオフする比率を可変して、出力電圧および出力電流(または入力電圧および入力電流)を制御する。
In this way, the
ここで、オペアンプOP2およびオペアンプOP3は、図7の点線の吹き出し部分に示したように、増幅率を調整するための可変抵抗VR1が出力端子から入力端子にフィードバックされている。可変抵抗VR1は、電圧(または電流)を可変するためのゲイン調整に用いられ、制御回路112により制御される。尚、ゲイン調整は、ゲインを大きくすると電圧(または電流)が大きくなり、ゲインを小さくすると電圧(または電流)が小さくなる。また、オペアンプOP2およびオペアンプOP3には、出力信号のオフセットを調整するための可変抵抗VR2が接続されている。可変抵抗VR2は、電圧(または電流)のオフセット調整を行うために用いられ、制御回路112により制御される。尚、オフセット調整は、電圧(または電流)の設定が0V(または0A)の時に実際の出力が0V(または0A)になるように制御回路112により制御される。このようにして、制御回路112は、可変抵抗VR1および可変抵抗VR2を制御して、出力回路161の充電電圧または充電電流と、入力回路171の放電電圧または放電電流との調整を行う。尚、調整は、制御回路112から与えられる電圧設定値、電流設定値、電圧調整用のゲイン/オフセット、電流調整用のゲイン/オフセットなどにより行われる。
Here, the operational amplifier OP2 and the operational amplifier OP3 are fed back from the output terminal to the input terminal by the variable resistor VR1 for adjusting the amplification factor, as indicated by the dotted balloon portion in FIG. The variable resistor VR <b> 1 is used for gain adjustment for varying the voltage (or current) and is controlled by the
同様に、図4に示した調整回路163,164は、制御回路112から与えられるモニタ電圧調整用のゲイン(Gc)/オフセット(OFc)およびモニタ電流調整用のゲイン(Gd)/オフセット(OFd)により、それぞれ調整される。
Similarly, the
図8は、調整回路163,164の一例を示す。
FIG. 8 shows an example of the
図8において、調整回路163は、オペアンプOP11と、可変抵抗VR11と、可変抵抗VR12とを有する。オペアンプOP11は、シャント抵抗R2の両端に生じる電位差を出力回路161が出力する電流値として検出する。オペアンプOP11は、図7に示したオペアンプOP3と同様に、可変抵抗VR11によりゲイン(Gc)を調整することができ、可変抵抗VR11は、制御回路112により制御される。また、オペアンプOP11は、図7に示したオペアンプOP3と同様に、出力信号のオフセット(OFc)を調整するための可変抵抗VR12が接続され、可変抵抗VR12は、制御回路112により制御される。このようにして、調整回路163は、シャント抵抗R2により検出した電流値の大きさを調整してA/D167に出力し、A/D167は、アナログの電流値をデジタルの電流値(Icm)に変換して制御回路112に出力する。
In FIG. 8, the
図8において、調整回路164は、オペアンプOP12と、可変抵抗VR21と、可変抵抗VR22とを有する。オペアンプOP12は、チャネルch1の正電源(+)と負電源(−)との間の電圧値を検出する。オペアンプOP12は、オペアンプOP11と同様に、可変抵抗VR21によりゲイン(Gd)、可変抵抗VR22によりオフセット(OFd)をそれぞれ調整することができ、可変抵抗VR21、VR22は、制御回路112により制御される。このようにして、調整回路164は、チャネルch1の正電源(+)と負電源(−)との間の電圧値の大きさを調整してA/D168に出力し、A/D168は、アナログの電圧値をデジタルの電圧値(Vcm)に変換して制御回路112に出力する。
In FIG. 8, the
尚、図4に示した調整回路173は、図8に示した調整回路163と同様の回路を有し、シャント抵抗R2の代わりにシャント抵抗R3に流れる電流値を検出し、A/D177でデジタル値に変換した電流値(Idm)を制御回路112に出力する。そして、調整回路173は、調整回路163と同様に、オフセット(OFg)およびゲイン(Gg)により、検出した電流値の大きさを可変することができ、制御回路112により制御される。
The
また、図4に示した調整回路174は、図8に示した調整回路164と同様の回路を有し、チャネルch7の正電源(+)と負電源(−)との間の電圧値の大きさを調整してA/D178に出力する。A/D178は、アナログの電圧値をデジタルの電圧値(Vdm)に変換して制御回路112に出力する。そして、調整回路174は、調整回路164と同様に、オフセット(OFh)およびゲイン(Gh)により、検出した電圧値の大きさを可変することができ、制御回路112により制御される。
The adjustment circuit 174 shown in FIG. 4 has the same circuit as the
このようにして、制御回路112は、調整回路162と調整回路172により、出力回路161の充電電圧または充電電流と、入力回路171の放電電圧または放電電流との調整を行う。また、制御回路112は、調整回路163,164,173,174により、充電電圧または充電電流のモニタ値と、入力回路171の放電電圧または放電電流のモニタ値との調整を行う。
[充電電圧および充電電圧の計測値のオフセット調整]
図9は、充電電圧および充電電圧の計測値のオフセット調整の処理例を示す。
In this manner, the
[Offset adjustment of charging voltage and measured value of charging voltage]
FIG. 9 shows an example of processing for offset adjustment of the charging voltage and the measured value of the charging voltage.
図9のフローチャートは、充放電試験装置101の制御回路112と、校正ユニット102の制御回路120と、試験管理装置103のパソコン133とにより実行される処理である。ここで、試験管理装置103が充放電試験装置101に一体化される場合は、図9のフローチャートは、充放電試験装置101の制御回路112と、校正ユニット102の制御回路120とにより実行される。尚、後で説明する図10から図16までのフローチャートについても同様である。
9 is a process executed by the
ステップS101において、制御回路112は、充放電回路CONV1のチャネルch1を充電回路に設定する。例えば、充電回路に設定する場合、制御回路112は、図7に示したように、入出力切替信号SELによりスイッチSW3をa側に切り替え、充放電回路CONV1のチャネルch1を出力回路161として動作させる。
In step S101, the
ステップS102において、制御回路112は、充電電圧(Vc)を設定する。図9の例ではオフセット調整を行うので、制御回路112は、Vc=0Vに設定する。
In step S102, the
ステップS103において、制御回路112は、充電電圧のオフセット(OFa)を設定する。例えば、制御回路112は、オフセットの初期値として、OFa=最大値に設定する。尚、最大値は、回路的に設定可能な値で、例えば充電電圧が5Vの場合、0.2Vなどの値に設定される。
In step S103, the
ステップS104において、制御回路112は、試験管理装置103を介して、校正ユニット102からチャネルch1の電圧計143の計測電圧(Vkc)を取得する。
In step S <b> 104, the
ステップS105において、制御回路112は、Vkc=0Vであるか否かを判別し、Vkc=0Vではない場合、ステップS106の処理に進み、Vkc=0Vの場合、ステップS107の処理に進む。尚、計測電圧(Vkc)が0Vであるか否かは、予め決められた所定の範囲(例えば、±0.001Vの範囲)にあるか否かで判別してもよい。
In step S105, the
ステップS106において、制御回路112は、調整回路162の充電電圧のオフセット(OFa)を調整する。例えば、OFa=最大値に設定されている場合、制御回路112は、OFaを徐々に小さい値に変更する。そして、制御回路112は、ステップS106の処理後にステップS104の処理に戻る。
In step S <b> 106, the
ここで、以降の説明において、オフセットやゲインの調整は、初期値に応じてオフセットやゲインを徐々に変更して、ステップS105の条件に合致するオフセットやゲインの調整値を求める。例えば、制御回路112は、OFaの初期値が最大値に設定されている場合は最大値から徐々に小さい値に変更し、OFaの初期値が最小値に設定されている場合は最小値から徐々に大きい値に変更する。
Here, in the following description, in the offset and gain adjustment, the offset and gain are gradually changed according to the initial values, and the offset and gain adjustment values that meet the conditions of step S105 are obtained. For example, the
ステップS107において、制御回路112は、計測電圧(Vkc)が0Vになった時の充電電圧のオフセット(OFa)の調整値をCONV1の調整値として保存する。例えば、Vkc=0Vになった時の充電電圧のオフセット(OFa)がOFa1の場合、調整値はOFa1となる。尚、調整値のOFa1は、二次電池150の充電試験を行う時の調整回路162の電圧用のオフセットとして使用される。
In step S107, the
ステップS101からS107までの処理により、調整回路162による充電電圧(Vc)のオフセット(OFa)の調整が終了する。続いて、制御回路112は、調整回路164による充電電圧のモニタ電圧(Vcm)のオフセット(OFd)を調整する。
The adjustment of the offset (OFa) of the charging voltage (Vc) by the
ステップS108において、制御回路112は、調整回路164により、チャネルch1の正電源(+)と負電源(−)の間のモニタ電圧(Vcm)を計測する。
In step S108, the
ステップS109において、制御回路112は、Vcm=0Vであるか否かを判別し、Vcm=0Vではない場合、ステップS110の処理に進み、Vcm=0Vの場合、ステップS111の処理に進む。尚、モニタ電圧(Vcm)が0Vであるか否かは、ステップS105の計測電圧(Vkc)と同様に、0V近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
In step S109, the
ステップS110において、制御回路112は、調整回路164のモニタ電圧(Vcm)のオフセット(OFd)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS110の処理後にステップS108の処理に戻る。
In step S110, the
ステップS111において、制御回路112は、モニタ電圧(Vcm)が0Vになった時のモニタ電圧のオフセット(OFd)の調整値をCONV1の調整値として保存する。例えば、Vcm=0Vになった時のモニタ電圧のオフセット(OFd)がOFd1の場合、調整値はOFd1となる。尚、調整値のOFd1は、二次電池150の充電試験を行う時の調整回路164のオフセットとして使用される。
In step S111, the
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、充電電圧および充電電圧の計測値のオフセット調整を行う。
[充電電圧および充電電圧の計測値のフルスケール調整]
図10は、充電電圧および充電電圧の計測値のフルスケール調整の処理例を示す。
Thus, the charge /
[Full scale adjustment of charging voltage and measured value of charging voltage]
FIG. 10 shows a processing example of the full scale adjustment of the charging voltage and the measured value of the charging voltage.
ステップS201において、制御回路112は、充放電回路CONV1のチャネルch1を充電回路に設定する。尚、図9に示したオフセット調整後に図10のフルスケール調整を行う場合は、既に充放電回路CONV1のチャネルch1が充電回路に設定されているので、本処理は省略してもよい。
In step S201, the
ステップS202において、制御回路112は、充電電圧(Vc)を設定する。図10の例ではフルスケール調整を行うので、制御回路112は、例えば最大定格値のVc=5Vに設定する。
In step S202, the
ステップS203において、制御回路112は、試験管理装置103を介して、校正ユニット102からチャネルch1の電圧計143の計測電圧(Vkc)を取得する。
In step S <b> 203, the
ステップS204において、制御回路112は、Vkc=Vcであるか否かを判別し、Vkc=Vcではない場合、ステップS205の処理に進み、Vkc=Vcの場合、ステップS206の処理に進む。尚、計測電圧(Vkc)がVcであるか否かは、予め決められた所定の範囲(例えば、Vc±0.001Vの範囲)にあるか否かで判別してもよい。
In step S204, the
ステップS205において、制御回路112は、調整回路162の充電電圧のゲイン(Ga)を調整する。例えば、制御回路112は、Vkc<Vcの場合はGaを現在値よりも大きくし、Vkc>Vcの場合はGaを現在値よりも小さくする。そして、制御回路112は、ステップS205の処理後にステップS203の処理に戻る。
In step S <b> 205, the
ステップS206において、制御回路112は、計測電圧(Vkc)がVcになった時の充電電圧のゲイン(Ga)の調整値をCONV1の調整値として保存する。例えば、Vkc=Vcになった時の充電電圧のゲイン(Ga)がGa1の場合、調整値はGa1となる。尚、調整値のGa1は、二次電池150の充電試験を行う時の調整回路162の電圧用のゲインとして使用される。
In step S206, the
ステップS201からS206までの処理により、調整回路162による充電電圧(Vc)のゲイン(Ga)の調整が終了する。続いて、制御回路112は、調整回路164による充電電圧のモニタ電圧(Vcm)のゲイン(Gd)を調整する。
With the processing from step S201 to step S206, the adjustment of the gain (Ga) of the charging voltage (Vc) by the
ステップS207において、制御回路112は、調整回路164により、チャネルch1の正電源(+)と負電源(−)の間のモニタ電圧(Vcm)を計測する。
In step S207, the
ステップS208において、制御回路112は、Vcm=Vcであるか否かを判別し、Vcm=Vcではない場合、ステップS209の処理に進み、Vcm=Vcの場合、ステップS210の処理に進む。尚、モニタ電圧(Vcm)がVcであるか否かは、ステップS204の計測電圧(Vkc)と同様に、Vc近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
In step S208, the
ステップS209において、制御回路112は、調整回路164のモニタ電圧(Vcm)のゲイン(Gd)を調整する。例えば、制御回路112は、Vcm<Vcの場合はGdを現在値よりも大きくし、Vcm>Vcの場合はGdを現在値よりも小さくする。
In step S209, the
ステップS210において、制御回路112は、モニタ電圧(Vcm)がVcになった時のモニタ電圧のゲイン(Gd)の調整値をCONV1の調整値として保存する。例えば、Vcm=Vcになった時のモニタ電圧のゲイン(Gd)がGd1の場合、調整値はGd1となる。尚、調整値のGd1は、二次電池150の充電試験を行う時の調整回路164のゲインとして使用される。
In step S210, the
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、充電電圧および充電電圧の計測値のフルスケール調整を行う。
[放電電流および放電電流の計測値のオフセット調整]
図11は、放電電流および放電電流の計測値のオフセット調整の処理例を示す。
Thus, the charge /
[Offset adjustment of discharge current and measured value of discharge current]
FIG. 11 shows a processing example of the offset adjustment of the discharge current and the measured value of the discharge current.
ステップS301において、制御回路112は、充放電回路CONV1のチャネルch1を充電回路、充放電回路CONV4のチャネルch7を放電回路にそれぞれ設定する。尚、制御回路112は、図7に示したように、充電回路に設定する場合は、入出力切替信号SELによりスイッチSW3をa側に切り替えて、図4に示した出力回路161として動作させる。逆に、制御回路112は、放電回路に設定する場合は、入出力切替信号SELによりスイッチSW3をb側に切り替えて、図4に示した入力回路171として動作させる。
In step S301, the
ステップS302において、制御回路112は、充電電圧(Vc)および充電電流(Ic)と、放電電圧(Vd)および放電電流(Id)とをそれぞれ設定する。図11の例ではオフセット調整を行うので、制御回路112は、Vc>Vd、Ic>Id=0Aに設定する。例えば、制御回路112は、Vc=5.1V、Ic=101A、Vd=5.0V、Id=0Aのように設定する。
In step S302, the
ステップS303において、制御回路112は、試験管理装置103を介して、校正ユニット102からチャネルch1の電流計141の計測電流(Ik)を取得する。
In step S <b> 303, the
ステップS304において、制御回路112は、Ik=0Aであるか否かを判別し、Ik=0Aではない場合、ステップS305の処理に進み、Ik=0Aの場合、ステップS306の処理に進む。尚、計測電流(Ik)が0Aであるか否かは、予め決められた所定の範囲(例えば、±0.001Aの範囲)にあるか否かで判別してもよい。
In step S304, the
ステップS305において、制御回路112は、充放電回路CONV4のチャネルch7の入力回路171に対する調整回路172の放電電流のオフセット(OFf)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS305の処理後にステップS303の処理に戻る。
In step S305, the
ステップS306において、制御回路112は、計測電流(Ik)が0Aになった時の放電電流のオフセット(OFf)の調整値をCONV4の調整値として保存する。例えば、Ik=0Aになった時の放電電流のオフセット(OFf)がOFf1の場合、調整値はOFf1となる。尚、調整値のOFf1は、二次電池150の放電試験を行う時の調整回路172の電流用のオフセットとして使用される。
In step S306, the
ステップS301からS306までの処理により、調整回路172による放電電流(Id)のオフセット(OFf)の調整が終了する。続いて、制御回路112は、調整回路173による放電電流のモニタ電流(Idm)のオフセット(OFg)を調整する。
With the processing from step S301 to step S306, the adjustment of the offset (OFf) of the discharge current (Id) by the
ステップS307において、制御回路112は、調整回路173により、シャント抵抗R3に流れるモニタ電流(Idm)を計測する。
In step S307, the
ステップS308において、制御回路112は、Idm=0Aであるか否かを判別し、Idm=0Aではない場合、ステップS309の処理に進み、Idm=0Aの場合、ステップS310の処理に進む。尚、モニタ電流(Idm)が0Aであるか否かは、ステップS304の計測電流(Ik)と同様に、0A近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
In step S308, the
ステップS309において、制御回路112は、調整回路173のモニタ電流(Idm)のオフセット(OFg)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS309の処理後にステップS307の処理に戻る。
In step S309, the
ステップS310において、制御回路112は、モニタ電流(Idm)が0Aになった時のモニタ電流の調整値をCONV4の調整値として保存する。例えば、Idm=0Aになった時のオフセット(OFg)がOFg1の場合、調整値はOFg1となる。尚、調整値のOFg1は、二次電池150の放電試験を行う時の調整回路173のオフセットとして使用される。
In step S310, the
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、放電電流および放電電流の計測値のオフセット調整を行う。
[放電電流および放電電流の計測値のフルスケール調整]
図12は、放電電流および放電電流の計測値のフルスケール調整の処理例を示す。
Thus, the charge /
[Full scale adjustment of discharge current and measured value of discharge current]
FIG. 12 shows a processing example of the full-scale adjustment of the discharge current and the measured value of the discharge current.
ステップS401において、制御回路112は、ステップS301と同様に、充放電回路CONV1のチャネルch1を充電回路、充放電回路CONV4のチャネルch7を放電回路にそれぞれ設定する。
In step S401, the
ステップS402において、制御回路112は、充電電圧(Vc)および充電電流(Ic)と、放電電圧(Vd)および放電電流(Id)とをそれぞれ設定する。図12の例ではフルスケール調整を行うので、制御回路112は、Vc>Vd、Ic>Idに設定する。例えば、制御回路112は、Vc=5.1V、Ic=101A、Vd=5.0V、Id=100Aのように設定する。
In step S402, the
ステップS403において、制御回路112は、試験管理装置103を介して、校正ユニット102からチャネルch1の電流計141の計測電流(Ik)を取得する。
In step S 403, the
ステップS404において、制御回路112は、Ik=Idであるか否かを判別し、Ik=Idではない場合、ステップS405の処理に進み、Ik=Idの場合、ステップS406の処理に進む。尚、計測電流(Ik)がIdであるか否かは、予め決められた所定の範囲(例えば、Id±0.001Aの範囲)にあるか否かで判別してもよい。
In step S404, the
ステップS405において、制御回路112は、充放電回路CONV4のチャネルch7の入力回路171に対する調整回路172の放電電流のゲイン(Gf)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS405の処理後にステップS403の処理に戻る。
In step S405, the
ステップS406において、制御回路112は、Ik=Idになった時の放電電流のゲイン(Gf)の調整値をCONV4の調整値として保存する。例えば、Ik=Idになった時の放電電流のゲイン(Gf)がGf1の場合、調整値はGf1となる。尚、調整値のGf1は、二次電池150の放電試験を行う時の調整回路172の電流用のゲインとして使用される。
In step S406, the
ステップS401からS406までの処理により、調整回路172による放電電流(Id)のゲイン(Gf)の調整が終了する。続いて、制御回路112は、調整回路173による放電電流のモニタ電流(Idm)のゲイン(Gg)を調整する。
The adjustment of the gain (Gf) of the discharge current (Id) by the
ステップS407において、制御回路112は、調整回路173により、シャント抵抗R3に流れるモニタ電流(Idm)を計測する。
In step S407, the
ステップS408において、制御回路112は、Idm=Idであるか否かを判別し、Idm=Idではない場合、ステップS409の処理に進み、Idm=Idの場合、ステップS410の処理に進む。尚、Idm=Idであるか否かは、ステップS404と同様に、IdmがIdを基準とする所定の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
In step S408, the
ステップS409において、制御回路112は、モニタ電流(Idm)のゲイン(Gg)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS409の処理後にステップS407の処理に戻る。
In step S409, the
ステップS410において、制御回路112は、Idm=Idになった時のモニタ電流のゲイン(Gg)の調整値をCONV4の調整値として保存する。例えば、Idm=Idになった時のモニタ電流のゲイン(Gg)がGg1の場合、調整値はGg1となる。尚、調整値のGg1は、二次電池150の放電試験を行う時の調整回路173のゲインとして使用される。
In step S410, the
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、放電電流および放電電流の計測値のフルスケール調整を行う。
[充電電流および充電電流の計測値のオフセット調整]
図13は、充電電流および充電電流の計測値のオフセット調整の処理例を示す。
Thus, the charge /
[Offset adjustment of charging current and measured value of charging current]
FIG. 13 shows a processing example of the offset adjustment of the charging current and the measured value of the charging current.
ステップS501において、制御回路112は、充放電回路CONV1のチャネルch1を充電回路、充放電回路CONV4のチャネルch7を放電回路にそれぞれ設定する。
In step S501, the
ステップS502において、制御回路112は、充電電圧(Vc)および充電電流(Ic)と、放電電圧(Vd)および放電電流(Id)とをそれぞれ設定する。図13の例ではオフセット調整を行うので、制御回路112は、Vc>Vd、Ic=0A<Idに設定する。例えば、制御回路112は、Vc=5.1V、Ic=0A、Vd=5.0V、Id=101Aのように設定する。
In step S502, the
ステップS503において、制御回路112は、試験管理装置103を介して、校正ユニット102からチャネルch1の電流計141の計測電流(Ik)を取得する。
In step S <b> 503, the
ステップS504において、制御回路112は、Ik=0Aであるか否かを判別し、Ik=0Aではない場合、ステップS505の処理に進み、Ik=0Aの場合、ステップS506の処理に進む。尚、計測電流(Ik)が0Aであるか否かは、予め決められた所定の範囲(例えば、±0.001Aの範囲)にあるか否かで判別してもよい。
In step S504, the
ステップS505において、制御回路112は、充放電回路CONV1のチャネルch1の出力回路161に対する調整回路162の充電電流のオフセット(OFb)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS505の処理後にステップS503の処理に戻る。
In step S505, the
ステップS506において、制御回路112は、計測電流(Ik)が0Aになった時の充電電流のオフセット(OFb)の調整値をCONV1の調整値として保存する。例えば、Ik=0Aになった時の充電電流のオフセット(OFb)がOFb1の場合、調整値はOFb1となる。尚、調整値のOFb1は、二次電池150の充電試験を行う時の調整回路162の電流用のオフセットとして使用される。
In step S506, the
ステップS501からS506までの処理により、調整回路162による充電電流(Ic)のオフセット(OFb)の調整が終了する。続いて、制御回路112は、調整回路163による充電電流のモニタ電流(Icm)のオフセット(OFc)を調整する。
By the processing from step S501 to S506, the adjustment of the offset (OFb) of the charging current (Ic) by the
ステップS507において、制御回路112は、調整回路163により、シャント抵抗R2に流れるモニタ電流(Icm)を計測する。
In step S507, the
ステップS508において、制御回路112は、Icm=0Aであるか否かを判別し、Icm=0Aではない場合、ステップS509の処理に進み、Icm=0Aの場合、ステップS510の処理に進む。尚、モニタ電流(Icm)が0Aであるか否かは、ステップS504の計測電流(Ik)と同様に、0A近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
In step S508, the
ステップS509において、制御回路112は、調整回路163のモニタ電流(Icm)のオフセット(OFc)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS509の処理後にステップS507の処理に戻る。
In step S509, the
ステップS510において、制御回路112は、モニタ電流(Icm)が0Aになった時のモニタ電流の調整値をCONV1の調整値として保存する。例えば、Icm=0Aになった時のオフセット(OFc)がOFc1の場合、調整値はOFc1となる。尚、調整値のOFc1は、二次電池150の充電試験を行う時の調整回路163のオフセットとして使用される。
In step S510, the
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、充電電流および充電電流の計測値のオフセット調整を行う。
[充電電流および充電電流の計測値のフルスケール調整]
図14は、充電電流および充電電流の計測値のフルスケール調整の処理例を示す。
Thus, the charge /
[Full scale adjustment of charging current and measured value of charging current]
FIG. 14 shows a processing example of the full scale adjustment of the charging current and the measured value of the charging current.
ステップS601において、制御回路112は、ステップS501と同様に、充放電回路CONV1のチャネルch1を充電回路、充放電回路CONV4のチャネルch7を放電回路にそれぞれ設定する。
In step S601, the
ステップS602において、制御回路112は、充電電圧(Vc)および充電電流(Ic)と、放電電圧(Vd)および放電電流(Id)とをそれぞれ設定する。図14の例ではフルスケール調整を行うので、制御回路112は、Vc>Vd、Ic<Idに設定する。例えば、制御回路112は、Vc=5.1V、Ic=100A、Vd=5.0V、Id=101Aのように設定する。
In step S602, the
ステップS603において、制御回路112は、試験管理装置103を介して、校正ユニット102からチャネルch1の電流計141の計測電流(Ik)を取得する。
In step S <b> 603, the
ステップS604において、制御回路112は、Ik=Icであるか否かを判別し、Ik=Icではない場合、ステップS605の処理に進み、Ik=Icの場合、ステップS606の処理に進む。尚、計測電流(Ik)がIcであるか否かは、予め決められた所定の範囲(例えば、Ic±0.001Aの範囲)にある場合にIk=Icであると判断するようにしてもよい。
In step S604, the
ステップS605において、制御回路112は、充放電回路CONV1のチャネルch1の出力回路161に対する調整回路162の充電電流のゲイン(Gb)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS605の処理後にステップS603の処理に戻る。
In step S605, the
ステップS606において、制御回路112は、Ik=Icになった時の充電電流のゲイン(Gb)の調整値をCONV1の調整値として保存する。例えば、Ik=Icになった時の充電電流のゲイン(Gb)がGb1の場合、調整値はGb1となる。尚、調整値のGb1は、二次電池150の充電試験を行う時の調整回路162の電流用のゲインとして使用される。
In step S606, the
ステップS601からS606までの処理により、調整回路162による充電電流(Ic)のゲイン(Gb)の調整が終了する。続いて、制御回路112は、調整回路163による充電電流のモニタ電流(Icm)のゲイン(Gc)を調整する。
With the processing from step S601 to S606, the adjustment of the gain (Gb) of the charging current (Ic) by the
ステップS607において、制御回路112は、調整回路163により、シャント抵抗R2に流れるモニタ電流(Icm)を計測する。
In step S607, the
ステップS608において、制御回路112は、Icm=Icであるか否かを判別し、Icm=Icではない場合、ステップS609の処理に進み、Icm=Icの場合、ステップS610の処理に進む。尚、Icm=Icであるか否かは、ステップS604と同様に、IcmがIcを基準とする所定の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
In step S608, the
ステップS609において、制御回路112は、モニタ電流(Icm)のゲイン(Gc)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS609の処理後にステップS607の処理に戻る。
In step S609, the
ステップS610において、制御回路112は、Icm=Icになった時のモニタ電流のゲイン(Gc)の調整値をCONV1の調整値として保存する。例えば、Icm=Icになった時のモニタ電流のゲイン(Gc)がGc1の場合、調整値はGc1となる。尚、調整値のGc1は、二次電池150の充電試験を行う時の調整回路163のゲインとして使用される。
In step S610, the
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、充電電流および充電電流の計測値のフルスケール調整を行う。
[放電電圧および放電電圧の計測値のオフセット調整]
図15は、放電電圧および放電電圧の計測値のオフセット調整の処理例を示す。
Thus, the charge /
[Offset adjustment of discharge voltage and measured value of discharge voltage]
FIG. 15 shows a processing example of the offset adjustment of the discharge voltage and the measured value of the discharge voltage.
ステップS701において、制御回路112は、充放電回路CONV1のチャネルch1を充電回路、充放電回路CONV4のチャネルch7を放電回路にそれぞれ設定する。
In step S701, the
ステップS702において、制御回路112は、充電電圧(Vc)および充電電流(Ic)と、放電電圧(Vd)および放電電流(Id)とをそれぞれ設定する。図15の例ではオフセット調整を行うので、制御回路112は、Vc>Vd(動作可能な微小電圧)、Ic<Idに設定する。例えば、制御回路112は、Vc=5.1V、Ic=100A、Vd=50mV、Id=101Aのように設定する。尚、Vdは、理想的には0Vに設定されるが、充放電試験装置101がCC(Constant Current:定電流)動作するための微小電圧が要る場合がある。そこで、本実施形態では、Vdは、例えばフルスケールの電圧(最大定格電圧)の1%の電圧に設定される。上記の例では、最大定格電圧が5Vなので、Vdは、5Vの1%の電圧の50mVに設定される。
In step S702, the
ステップS703において、制御回路112は、試験管理装置103を介して、校正ユニット102からチャネルch7の電圧計142の計測電圧(Vkd)を取得する。
In step S703, the
ステップS704において、制御回路112は、Vkd=50mVであるか否かを判別し、Vkd=50mVではない場合、ステップS705の処理に進み、Vkd=50mVの場合、ステップS706の処理に進む。尚、Vkd=50mVであるか否かは、Vkdが予め決められた所定の範囲(例えば、50mV±0.1mVの範囲)にあるか否かで判別してもよい。
In step S704, the
ステップS705において、制御回路112は、充放電回路CONV4のチャネルch7の入力回路171に対する調整回路172の放電電圧のオフセット(OFe)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS705の処理後にステップS703の処理に戻る。
In step S705, the
ステップS706において、制御回路112は、Vkd=50mVになった時の放電電圧のオフセット(OFe)の調整値をCONV4の調整値として保存する。例えば、Vkd=50mVになった時の放電電圧のオフセット(OFe)がOFe1の場合、調整値はOFe1となる。尚、調整値のOFe1は、二次電池150の放電試験を行う時の調整回路172の電圧用のオフセットとして使用される。
In step S706, the
ステップS701からS706までの処理により、調整回路172による放電電圧(Vd)のオフセット(OFe)の調整が終了する。続いて、制御回路112は、調整回路174による放電電圧のモニタ電圧(Vdm)のオフセット(OFh)を調整する。
By the processing from step S701 to S706, the adjustment of the offset (OFe) of the discharge voltage (Vd) by the
ステップS707において、制御回路112は、充電電圧(Vc)および充電電流(Ic)と、放電電圧(Vd)および放電電流(Id)とをそれぞれ設定する。図15の例ではオフセット調整を行うので、制御回路112は、(動作可能な微小電圧)Vc>Vd、Ic<Idに設定する。例えば、制御回路112は、Vc=50mV、Ic=100A、Id=101Aのように設定する。尚、Vdは50mVよりも小さく、充放電試験装置101はCC動作している状態にある。また、Vcは、充放電試験装置101がCC動作するための微小電圧が与えられ、本実施形態では、例えばVcはフルスケールの電圧の1%の電圧のに設定される。上記の例では、Vcは、5Vの1%の電圧の50mVに設定される。
In step S707, the
ステップS708において、制御回路112は、調整回路174により、チャネルch7の正電源(+)と負電源(−)の間のモニタ電圧(Vdm)を計測する。
In step S708, the
ステップS709において、制御回路112は、Vdm=50mVであるか否かを判別し、Vdm=50mVではない場合、ステップS710の処理に進み、Vdm=50mVの場合、ステップS711の処理に進む。尚、モニタ電圧(Vdm)が50mVであるか否かは、ステップS704と同様に、50mV近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
In step S709, the
ステップS710において、制御回路112は、調整回路173のモニタ電圧(Vdm)のオフセット(OFh)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS710の処理後にステップS708の処理に戻る。
In step S710, the
ステップS711において、制御回路112は、Vdm=50mVになった時のモニタ電圧の調整値をCONV4の調整値として保存する。例えば、Vdm=50mVになった時のオフセット(OFh)がOFh1の場合、調整値はOFh1となる。尚、調整値のOFh1は、二次電池150の放電試験を行う時の調整回路174のオフセットとして使用される。
In step S711, the
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、放電電圧および放電電圧の計測値のオフセット調整を行う。
[放電電圧および放電電圧の計測値のフルスケール調整]
図16は、放電電圧および放電電圧の計測値のフルスケール調整の処理例を示す。
Thus, the charge /
[Full scale adjustment of discharge voltage and measured value of discharge voltage]
FIG. 16 shows a processing example of the full scale adjustment of the discharge voltage and the measured value of the discharge voltage.
ステップS801において、制御回路112は、充放電回路CONV1のチャネルch1を充電回路、充放電回路CONV4のチャネルch7を放電回路にそれぞれ設定する。
In step S801, the
ステップS802において、制御回路112は、充電電圧(Vc)および充電電流(Ic)と、放電電圧(Vd)および放電電流(Id)とをそれぞれ設定する。図16の例では、制御回路112は、Vc>Vd、Ic<Idに設定する。例えば、制御回路112は、Vc=5.1V、Ic=100A、Vd=5.0V、Id=101Aのように設定する。
In step S802, the
ステップS803において、制御回路112は、試験管理装置103を介して、校正ユニット102からチャネルch7の電圧計142の計測電圧(Vkd)を取得する。
In step S803, the
ステップS804において、制御回路112は、Vkd=Vdであるか否かを判別し、Vkd=Vdではない場合、ステップS805の処理に進み、Vkd=Vdの場合、ステップS806の処理に進む。尚、Vkd=Vdであるか否かは、Vkdが予め決められた所定の範囲(例えば、Vd±0.001Vの範囲)にあるか否かで判別してもよい。
In step S804, the
ステップS805において、制御回路112は、充放電回路CONV4のチャネルch7の入力回路171に対する調整回路172の放電電圧のゲイン(Ge)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS805の処理後にステップS803の処理に戻る。
In step S805, the
ステップS806において、制御回路112は、Vkd=50mVになった時の放電電圧のゲイン(Ge)の調整値をCONV4の調整値として保存する。例えば、Vkd=50mVになった時の放電電圧のゲイン(Ge)がGe1の場合、調整値はGe1となる。尚、調整値のGe1は、二次電池150の放電試験を行う時の調整回路172の電圧用のゲインとして使用される。
In step S806, the
ステップS801からS806までの処理により、調整回路172による放電電圧(Vd)のゲイン(Ge)の調整が終了する。続いて、制御回路112は、調整回路174による放電電圧のモニタ電圧(Vdm)のゲイン(Gh)を調整する。
By the processing from step S801 to S806, the adjustment of the gain (Ge) of the discharge voltage (Vd) by the
ステップS807において、制御回路112は、調整回路174により、チャネルch7の正電源(+)と負電源(−)の間のモニタ電圧(Vdm)を計測する。
In step S807, the
ステップS808において、制御回路112は、Vdm=Vdであるか否かを判別し、Vdm=Vdではない場合、ステップS809の処理に進み、Vdm=Vdの場合、ステップS810の処理に進む。尚、モニタ電圧(Vdm)がVdであるか否かは、ステップS804と同様に、VdmがVd近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
In step S808, the
ステップS809において、制御回路112は、調整回路173のモニタ電圧(Vdm)のゲイン(Gh)を調整する。そして、制御回路112は、ステップS809の処理後にステップS807の処理に戻る。
In step S809, the
ステップS810において、制御回路112は、Vdm=Vdになった時のモニタ電圧の調整値をCONV4の調整値として保存する。例えば、Vdm=Vdになった時のゲイン(Gh)がGh1の場合、調整値はGh1となる。尚、調整値のGh1は、二次電池150の放電試験を行う時の調整回路174のゲインとして使用される。
In step S810, the
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム100は、放電電圧および放電電圧の計測値のフルスケール調整を行う。
Thus, the charge /
以上、説明したように、本実施形態に係る充放電試験システム100は、二次電池150と同一又は同様の端子を有する校正ユニット102を二次電池150の試験ラインに流す。そして、充放電試験装置101は、二次電池150の代わりに校正ユニット102が接続された場合に、対向する充放電回路CONVを充電回路と放電回路とに設定し、充電回路と放電回路との間に校正ユニット102を配置する。そして、校正ユニット102は、充電電圧、充電電流、放電電圧、放電電流を計測し、それぞれの計測値を無線により試験管理装置103および充放電試験装置101に送信する。このようにして、試験管理装置103および充放電試験装置101は、校正ユニット102から無線で受信する計測値に基づいて、充電回路および放電回路の調整を行うことができる。
As described above, the charge /
以上の詳細な説明により、実施形態の特徴点および利点は明らかになるであろう。これは、特許請求の範囲がその精神および権利範囲を逸脱しない範囲で前述のような実施形態の特徴点および利点にまで及ぶことを意図するものである。また、当該技術分野において通常の知識を有する者であれば、あらゆる改良および変更に容易に想到できるはずである。したがって、発明性を有する実施形態の範囲を前述したものに限定する意図はなく、実施形態に開示された範囲に含まれる適当な改良物および均等物に拠ることも可能である。 From the above detailed description, features and advantages of the embodiments will become apparent. This is intended to cover the features and advantages of the embodiments described above without departing from the spirit and scope of the claims. Also, any improvement and modification should be readily conceivable by those having ordinary knowledge in the art. Therefore, there is no intention to limit the scope of the inventive embodiments to those described above, and appropriate modifications and equivalents included in the scope disclosed in the embodiments can be used.
100・・・充放電試験システム;101,101a1,101a2,101a3,101b1,101b2,101b3,101c1,101c2,101c3・・・充放電試験装置;102,102_1,102_2,102_3,102_4,102_5,102_6,102a,102b,102c・・・校正ユニット;103・・・試験管理装置;111・・・充放電回路ブロック;112・・・制御回路;113・・・電源回路;117,118,151・・・端子;120・・・制御回路;121・・・計測ブロック;122・・・無線子機;123・・・補助電源回路;124・・・バッテリー;131・・・HUB;132・・・無線親機;133・・・パソコン;141・・・電流計;142,143・・・電圧計;150・・・二次電池;160・・・待機ラック;161・・・出力回路;162,163,164,172,173,174・・・調整回路;165,166,175,176・・・D/A;167,168,177,178・・・A/D;171・・・入力回路;191・・・RFIDタグ;192・・・RFIDリーダ;201・・・計測回路;202・・・スイッチアレイ;C1,C2・・・コンデンサ;CMP1・・・コンパレータ;CONV・・・充放電回路;D1,D2,D3,D4・・・ダイオード;GEN1・・・鋸波発振器;INV1・・・回生インバータ;L1・・・コイル;OP1,OP2,OP3,OP11,OP12・・・オペアンプ;PW1・・・電源;R1,R2,R3・・・シャント抵抗;R11,R12,R13,R14・・・抵抗;SEL・・・入出力切替信号;SW1,SW2,SW3・・・スイッチ;VR1,VR2,VR11,VR12,VR21,VR22・・・可変抵抗
DESCRIPTION OF
Claims (9)
前記充放電試験装置は、少なくとも1つの充電回路と、前記充電回路に対向する少なくとも1つの放電回路と、前記充電回路と前記放電回路の間に配置された前記校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第1通信部と、前記計測値に基づいて前記充電回路および前記放電回路の調整を行う制御部とを有し、
前記校正ユニットは、前記二次電池の代わりに前記充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、前記二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、前記二次電池の前記電源端子の代わりに前記試験端子を前記充放電試験装置に接続して、前記充放電試験装置の前記充電回路および前記放電回路の電気的特性を計測する計測部と、前記計測部が計測した前記計測値を無線により前記充放電試験装置に送信する第2通信部とを有する
ことを特徴とする充放電試験システム。 In a charge / discharge test system having a charge / discharge test apparatus for performing a charge / discharge test of a secondary battery, and a calibration unit for calibrating the charge / discharge test apparatus,
The charge / discharge test apparatus includes at least one charging circuit, at least one discharging circuit facing the charging circuit, and measured values measured by the calibration unit disposed between the charging circuit and the discharging circuit. A first communication unit that receives wirelessly, and a control unit that adjusts the charging circuit and the discharging circuit based on the measurement value;
The calibration unit has a shape that can be arranged in the charge / discharge test apparatus instead of the secondary battery, and has a test terminal arranged at the same position as the power supply terminal of the secondary battery. A measuring unit that connects the test terminal to the charge / discharge test device instead of the power supply terminal of a secondary battery, and measures electrical characteristics of the charge circuit and the discharge circuit of the charge / discharge test device; and the measurement unit A charge / discharge test system comprising: a second communication unit that wirelessly transmits the measured value measured by the to the charge / discharge test apparatus.
前記充電回路および前記放電回路は、充放電電圧および充放電電流を設定する回路をオフセットとゲインにより調整する調整部を有し、
前記制御部は、前記校正ユニットから受信する前記計測値が予め決められた設定値に合致するように、前記調整部のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする充放電試験システム。 The charge / discharge test system according to claim 1,
The charging circuit and the discharging circuit have an adjustment unit that adjusts a circuit for setting a charging / discharging voltage and a charging / discharging current with an offset and a gain,
The control unit controls an offset and a gain of the adjustment unit so that the measurement value received from the calibration unit matches a predetermined set value.
前記充電回路および前記放電回路は、充放電電圧および充放電電流のモニタ値をオフセットとゲインにより調整するモニタ調整部を有し、
前記制御部は、前記充電回路および前記放電回路の前記モニタ値が予め決められた設定値に合致するように、前記モニタ調整部のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする充放電試験システム。 The charge / discharge test system according to claim 1,
The charging circuit and the discharging circuit have a monitor adjustment unit that adjusts monitor values of charge / discharge voltage and charge / discharge current by offset and gain,
The control unit controls an offset and a gain of the monitor adjustment unit so that the monitor values of the charging circuit and the discharging circuit match predetermined setting values.
前記充電回路に対向する少なくとも1つの放電回路と、
前記充電回路と前記放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第1通信部と、
前記計測値に基づいて前記充電回路および前記放電回路の調整を行う制御部とを有する
ことを特徴とする充放電試験装置。 At least one charging circuit;
At least one discharge circuit facing the charging circuit;
A first communication unit that wirelessly receives a measurement value measured by a calibration unit disposed between the charging circuit and the discharging circuit;
A charge / discharge test apparatus comprising: a control unit that adjusts the charge circuit and the discharge circuit based on the measured value.
前記充電回路および前記放電回路は、充放電電圧および充放電電流を設定する回路をオフセットとゲインにより調整する調整部を有し、
前記制御部は、前記校正ユニットから受信する前記計測値が予め決められた設定値に合致するように、前記調整部のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする充放電試験装置。 The charge / discharge test apparatus according to claim 4,
The charging circuit and the discharging circuit have an adjustment unit that adjusts a circuit for setting a charging / discharging voltage and a charging / discharging current with an offset and a gain,
The charge / discharge test apparatus, wherein the control unit controls an offset and a gain of the adjustment unit so that the measurement value received from the calibration unit matches a predetermined set value.
前記充電回路および前記放電回路は、充放電電圧および充放電電流のモニタ値をオフセットとゲインにより調整するモニタ調整部を有し、
前記制御部は、前記充電回路および前記放電回路の前記モニタ値が予め決められた設定値に合致するように、前記モニタ調整部のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする充放電試験装置。 The charge / discharge test apparatus according to claim 4,
The charging circuit and the discharging circuit have a monitor adjustment unit that adjusts monitor values of charge / discharge voltage and charge / discharge current by offset and gain,
The control unit controls an offset and a gain of the monitor adjustment unit so that the monitor values of the charging circuit and the discharging circuit match predetermined setting values.
前記充放電試験装置は、少なくとも1つの充電回路と少なくとも1つの放電回路とを対向させて、前記充電回路および前記放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信し、前記計測値に基づいて前記充電回路および前記放電回路の調整を行い、
前記校正ユニットは、前記二次電池の代わりに前記充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、前記二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、前記二次電池の前記電源端子の代わりに前記試験端子を前記充放電試験装置に接続して、前記充放電試験装置の前記充電回路および前記放電回路の電気的特性を計測し、無線により前記計測値を前記充放電試験装置に送信する
ことを特徴とする校正方法。 In a calibration method for calibrating a charge / discharge test apparatus for performing a charge / discharge test of a secondary battery using a calibration unit,
The charge / discharge test apparatus wirelessly receives measurement values measured by a calibration unit disposed between the charge circuit and the discharge circuit, with at least one charge circuit and at least one discharge circuit facing each other. , Adjusting the charging circuit and the discharging circuit based on the measured value,
The calibration unit has a shape that can be arranged in the charge / discharge test apparatus instead of the secondary battery, and has a test terminal arranged at the same position as the power supply terminal of the secondary battery. Instead of the power supply terminal of the secondary battery, the test terminal is connected to the charge / discharge test apparatus, the electrical characteristics of the charge circuit and the discharge circuit of the charge / discharge test apparatus are measured, and the measured values are wirelessly determined. A calibration method comprising: transmitting to the charge / discharge test apparatus.
前記校正ユニットから受信する前記計測値が予め決められた設定値に合致するように、前記充電回路および前記放電回路の充放電電圧および充放電電流を設定する回路のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする校正方法。 The calibration method according to claim 7, wherein
Controlling the offset and gain of the circuit for setting the charging / discharging voltage and charging / discharging current of the charging circuit and the discharging circuit so that the measured value received from the calibration unit matches a predetermined setting value. A calibration method characterized.
充放電電圧および充放電電流をモニタする回路のモニタ値が予め決められた設定値に合致するように、充放電電圧および充放電電流をモニタする回路のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする校正方法。 The calibration method according to claim 7, wherein
The offset and gain of the circuit that monitors the charge / discharge voltage and charge / discharge current are controlled so that the monitor value of the circuit that monitors the charge / discharge voltage and charge / discharge current matches a predetermined set value. Calibration method.
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2013
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