JP2015041891A - Sheet substrate, method for manufacturing electronic device, and method for inspecting electronic device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、シート基板、およびシート基板を用いた電子デバイスの製造方法、ならびに電子デバイスの検査方法に関する。 The present invention relates to a sheet substrate, an electronic device manufacturing method using the sheet substrate, and an electronic device inspection method.
シート基板(母基板)上に、電子部品が接続されて構成された電子デバイスが複数配置し、シート基板を分割することによって個片化する電子デバイスの製造方法が知られている。近年、電子デバイスの小型化に伴い、シート基板上に配列された電子デバイス同士が近接し、検査用プローブの当接などがスペース的な制約から困難になり、種々の工夫が提案されている。例えば、特許文献1には、電子部品を搭載した第1基板領域と、その第1基板領域に隣接した第2基板領域を有し、第1領域に接続された素子と信号配線を介して接続され、第2基板領域の外表面に設けられた信号端子を備えた電子部品の製造方法が開示されている。その電子部品の製造方法では、第1基板領域の素子と、第2基板領域の信号端子とに、電気信号を与えて特性検査などを行っている。 2. Description of the Related Art There is known a method of manufacturing an electronic device in which a plurality of electronic devices configured by connecting electronic components are arranged on a sheet substrate (mother substrate) and separated into pieces by dividing the sheet substrate. In recent years, with the miniaturization of electronic devices, the electronic devices arranged on the sheet substrate have come close to each other, and it has become difficult to contact the inspection probe due to space limitations, and various devices have been proposed. For example, Patent Document 1 includes a first substrate region on which electronic components are mounted and a second substrate region adjacent to the first substrate region, and is connected to an element connected to the first region via a signal wiring. A method of manufacturing an electronic component having a signal terminal provided on the outer surface of the second substrate region is disclosed. In the electronic component manufacturing method, an electrical signal is applied to an element in the first substrate region and a signal terminal in the second substrate region to perform a characteristic inspection or the like.
しかしながら、上述の電子部品の製造方法では、第2基板領域の外表面にプローブなどを当接させるための専用端子である信号端子が設けられている。そのため、シート基板を分割した後の電子デバイスには、その外表面に、当該電子デバイスの動作に不必要な端子が設けられているため、分割された電子デバイスの更なる小型化が困難であるという課題を有していた。 However, in the above-described method for manufacturing an electronic component, a signal terminal which is a dedicated terminal for bringing a probe or the like into contact with the outer surface of the second substrate region is provided. Therefore, since the electronic device after dividing the sheet substrate is provided with terminals unnecessary for the operation of the electronic device on the outer surface, it is difficult to further reduce the size of the divided electronic device. It had the problem that.
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。 SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.
[適用例1]本適用例に係るシート基板は、第1面に第1領域および第2領域を有し、前記第1領域に配置され、第1電子部品が接続される第1端子と、前記第2領域に配置されている第2端子と、前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し前記第4領域に配置されている第2導電部と、前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、前記第2面に、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備え、前記第1外部端子は、前記第2外部端子と電気的に接続されていることを特徴とする。 Application Example 1 A sheet substrate according to this application example includes a first terminal having a first region and a second region on a first surface, arranged in the first region, and connected to a first electronic component; A second terminal disposed in the second region; a third region surrounding the first terminal in the first region; the first conductive portion disposed in the third region; A second conductive portion disposed in the fourth region having a fourth region surrounding the second terminal in the two regions, and a second surface in front-back relation with the first surface, the first surface in a plan view. The first external terminal electrically connected to the first terminal and the second surface are disposed in a region overlapping with the second region in plan view. And a second external terminal electrically connected to the second conductive portion, wherein the first external terminal is Characterized in that it is connected to an external terminal electrically.
本適用例によれば、第1領域に配置されている第1端子は、第1外部端子と第2外部端子とを介して第2領域に配置されている第2導電部と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続される第1電子部品は、第2導電部を介して入力される信号により特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。 According to this application example, the first terminal disposed in the first region is electrically connected to the second conductive portion disposed in the second region via the first external terminal and the second external terminal. Has been. Thereby, the first electronic component connected to the first terminal can be subjected to a characteristic inspection or the like by a signal input via the second conductive portion. Accordingly, since the characteristic inspection of the first electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection, the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the dedicated terminal for inspection and the wiring portion related thereto can be obtained. The area can be reduced. In other words, the number of first regions and second regions that can be arranged on the sheet substrate can be increased, which can contribute to an improvement in manufacturing efficiency.
[適用例2]上記適用例に記載のシート基板において、前記第1領域に配置され、第2電子部品が接続される第3端子を有し、前記第3端子は、前記第3領域に囲まれているとともに、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていないことが好ましい。 Application Example 2 In the sheet substrate according to the application example described above, the sheet substrate includes a third terminal that is disposed in the first region and to which a second electronic component is connected, and the third terminal is surrounded by the third region. In addition, it is preferable that the first conductive portion is electrically connected and is not electrically connected to the first terminal.
本適用例によれば、上述に加え、第1領域に配置されている第1端子と電気的に接続されている第1領域の第1導電部を介して、第2電子部品の特性検査を行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく第2電子部品の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。 According to this application example, in addition to the above, the characteristic inspection of the second electronic component is performed via the first conductive portion of the first region electrically connected to the first terminal disposed in the first region. It can be carried out. Therefore, since the characteristic inspection of the second electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection, the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the dedicated terminal for inspection and the wiring portion related thereto can be obtained. The area can be reduced. In other words, the number of first regions and second regions that can be arranged on the sheet substrate can be increased, which can contribute to an improvement in manufacturing efficiency.
[適用例3]上記適用例に記載のシート基板において、前記第1領域と前記第2領域の境界部に、前記第1面から前記第2面に至る貫通電極を備え、前記第1外部端子と前記第2外部端子とは、前記貫通電極を介して電気的に接続されていることが好ましい。 Application Example 3 In the sheet substrate according to the application example described above, the first external terminal includes a through electrode extending from the first surface to the second surface at a boundary portion between the first region and the second region. It is preferable that the second external terminal and the second external terminal are electrically connected via the through electrode.
本適用例によれば、第1外部端子と第2外部端子とは、第1領域と第2領域の境界部に備えられている貫通電極を介して電気的に接続されている。したがって、専用の接続配線を設けることなく第1外部端子と第2外部端子とを電気的に接続することができる。 According to this application example, the first external terminal and the second external terminal are electrically connected via the through electrode provided at the boundary between the first region and the second region. Therefore, the first external terminal and the second external terminal can be electrically connected without providing a dedicated connection wiring.
[適用例4]上記適用例に記載のシート基板において、前記第1導電部および前記第2導電部のそれぞれに、導電性を有する蓋体が接続されていることが好ましい。 Application Example 4 In the sheet substrate according to the application example described above, it is preferable that a lid having conductivity is connected to each of the first conductive part and the second conductive part.
本適用例によれば、第1導電部接続されている導電性を有する蓋体と、第2導電部に接続されている導電性を有する蓋体とを介して、第1電子部品または第2電子部品の特性検査を行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品または第2電子部品の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。 According to this application example, the first electronic component or the second through the conductive lid connected to the first conductive portion and the conductive lid connected to the second conductive portion. It is possible to inspect the characteristics of electronic components. Accordingly, since the characteristic inspection of the first electronic component or the second electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection, the first region corresponding to the occupied portion of the dedicated terminal for inspection and the wiring portion related thereto. In addition, the area of the second region can be reduced.
[適用例5]本適用例に係る電子デバイスの製造方法は、第1面に第1領域および第2領域を有し、前記第1領域に配置されている第1端子と、前記第2領域に配置されている第2端子と、前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し、前記第4領域に配置されている第2導電部と、前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、前記第2面に、前記第1外部端子と電気的に接続され、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備えているシート基板を用いた電子デバイスの製造方法であって、前記第1端子に第1電子部品を接続する工程と、前記第2導電部に、導電性を有する第1蓋体を接続する工程と、を備えていることを特徴とする。 Application Example 5 An electronic device manufacturing method according to this application example includes a first terminal having a first region and a second region on a first surface, the first terminal disposed in the first region, and the second region. A second terminal disposed in the first region, a third region surrounding the first terminal in the first region, a first conductive portion disposed in the third region, and in the second region A first region having a fourth region surrounding the second terminal, and a second conductive portion disposed in the fourth region; and a second surface in a front-back relationship with the first surface; A first external terminal that is disposed in the overlapping region and is electrically connected to the first terminal, and is electrically connected to the first external terminal on the second surface, and is A second external terminal disposed in a region overlapping with the second region and electrically connected to the second conductive portion. A method of manufacturing an electronic device using a sheet substrate, wherein a step of connecting a first electronic component to the first terminal and a step of connecting a first lid having conductivity to the second conductive portion And.
本適用例によれば、第1端子は、第1外部端子と第2外部端子とを介して第2導電部に接続されている第1蓋体と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続される第1電子部品は、第1蓋体を介して入力される信号により測定などを行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に、測定用の専用端子を設けることなく第1電子部品の測定などを行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くする、即ち小型の電子デバイスを効率よく製造することが可能となる。 According to this application example, the first terminal is electrically connected to the first lid that is connected to the second conductive portion via the first external terminal and the second external terminal. Thereby, the 1st electronic component connected to the 1st terminal can perform a measurement etc. by the signal inputted via the 1st lid. Therefore, since the first electronic component can be measured without providing a dedicated measurement terminal on the second surface of the sheet substrate that overlaps the first and second regions, the dedicated terminal and the wiring associated therewith can be occupied. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the portion. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate, that is, to efficiently manufacture a small electronic device.
[適用例6]上記適用例に記載の電子デバイスの製造方法において、前記シート基板は、前記第1領域に配置され、前記第3領域に囲まれており、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていない第3端子を有しており、前記第3端子に第2電子部品を接続する工程と、前記第1導電部に、導電性を有する第2蓋体を接続する工程と、を備えていることが好ましい。 Application Example 6 In the method of manufacturing an electronic device according to the application example, the sheet substrate is disposed in the first region and surrounded by the third region, and is electrically connected to the first conductive portion. A third terminal that is connected and not electrically connected to the first terminal; and a step of connecting a second electronic component to the third terminal; And a step of connecting the second lid body.
本適用例によれば、第1端子は、第2導電部に接続されている第1蓋体と電気的に接続されている。また、第3端子は、第1導電部に接続されている第2蓋体と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品および第3端子に接続されている第2電子部品は、第1蓋体および第2蓋体を介して入力される信号により測定などを行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品および第2電子部品の測定などを行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち複数の電子部品を備えた小型の電子デバイスを効率よく製造することが可能となる。 According to this application example, the first terminal is electrically connected to the first lid that is connected to the second conductive portion. The third terminal is electrically connected to the second lid connected to the first conductive part. As a result, the first electronic component connected to the first terminal and the second electronic component connected to the third terminal are measured by signals input through the first lid and the second lid. It can be carried out. Accordingly, the first electronic component and the second electronic component can be measured without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate overlapping the first region and the second region. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the associated wiring. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, a small electronic device having a plurality of electronic components can be efficiently manufactured.
[適用例7]本適用例に係る電子デバイスの検査方法は、第1面に第1領域および第2領域を有し、前記第1領域に配置されている第1端子と、前記第2領域に配置されている第2端子と、前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し、前記第4領域に配置されている第2導電部と、前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、前記第2面に、前記第1外部端子と電気的に接続され、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備えているシート基板を用いた電子デバイスの検査方法であって、前記第1端子に第1電子部品を接続する工程と、前記第1電子部品の特性を検査する工程と、を有し、前記特性を検査する工程では、前記第2導電部に信号を入力して前記第1電子部品の特性を検査することを特徴とする。 Application Example 7 An electronic device inspection method according to this application example includes a first terminal having a first area and a second area on a first surface, the first terminal disposed in the first area, and the second area. A second terminal disposed in the first region, a third region surrounding the first terminal in the first region, a first conductive portion disposed in the third region, and in the second region A first region having a fourth region surrounding the second terminal, and a second conductive portion disposed in the fourth region; and a second surface in a front-back relationship with the first surface; A first external terminal that is disposed in the overlapping region and is electrically connected to the first terminal, and is electrically connected to the first external terminal on the second surface, and is A second external terminal disposed in a region overlapping with the second region and electrically connected to the second conductive portion. A method for inspecting an electronic device using a sheet substrate comprising: a step of connecting a first electronic component to the first terminal; and a step of inspecting a characteristic of the first electronic component. In the step of inspecting, the characteristic of the first electronic component is inspected by inputting a signal to the second conductive portion.
本適用例によれば、第1端子は、第1外部端子と第2外部端子とを介して第2導電部と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品は、第2導電部を介して入力される信号により特性検査を行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品の特性検査を行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち電子デバイスの小型化に適用可能な検査方法を提供することができる。 According to this application example, the first terminal is electrically connected to the second conductive portion via the first external terminal and the second external terminal. As a result, the first electronic component connected to the first terminal can be subjected to characteristic inspection by a signal input via the second conductive portion. Accordingly, the characteristic inspection of the first electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate that overlaps the first region and the second region, so that the dedicated terminal and the wiring portion related thereto are occupied. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the portion. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, it is possible to provide an inspection method applicable to downsizing of an electronic device.
[適用例8]上記適用例に記載の電子デバイスの検査方法において、前記第2導電部に導電性を有する第1蓋体を接続する工程を有し、前記特性を検査する工程では、前記第1蓋体に信号を入力して、前記第1電子部品を検査することが好ましい。 Application Example 8 In the electronic device inspection method according to the application example described above, the electronic device inspection method includes a step of connecting a first lid having conductivity to the second conductive portion, and in the step of inspecting the characteristics, It is preferable to inspect the first electronic component by inputting a signal to one lid.
本適用例によれば、第1端子は、第2導電部に接続されている第1蓋体と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品は、第1蓋体を介して入力される信号により特性検査を行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品の特性検査を行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち複数の電子部品を備えた電子デバイスの小型化に適用可能な検査方法を提供することができる。 According to this application example, the first terminal is electrically connected to the first lid that is connected to the second conductive portion. As a result, the first electronic component connected to the first terminal can be subjected to a characteristic inspection by a signal input through the first lid. Accordingly, the characteristic inspection of the first electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate that overlaps the first region and the second region, so that the dedicated terminal and the wiring portion related thereto are occupied. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the portion. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, it is possible to provide an inspection method applicable to miniaturization of an electronic device including a plurality of electronic components.
[適用例9]上記適用例に記載の電子デバイスの検査方法において、前記シート基板には、前記第1領域に配置され、前記第3領域に囲まれており、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていない第3端子を有しており、前記第3端子に第2電子部品を接続する工程と、前記第2電子部品の特性を検査する工程と、を有し、前記特性を検査する工程では、前記第1導電部に信号を入力して前記第2電子部品を検査することが好ましい。 Application Example 9 In the electronic device inspection method according to the application example, the sheet substrate is disposed in the first region and surrounded by the third region, and is electrically connected to the first conductive unit. And a third terminal that is not electrically connected to the first terminal, the step of connecting the second electronic component to the third terminal, and the characteristics of the second electronic component are inspected In the step of inspecting the characteristics, it is preferable to inspect the second electronic component by inputting a signal to the first conductive portion.
本適用例によれば、第1端子は、第2導電部と電気的に接続されている。また、第3端子は、第1導電部と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品および第3端子に接続されている第2電子部品は、第1導電部または第2導電部を介して入力される信号により特性検査を行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品および第2電子部品の特性検査を行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち複数の電子部品を備えた電子デバイスの小型化に適用可能な検査方法を提供することができる。 According to this application example, the first terminal is electrically connected to the second conductive portion. The third terminal is electrically connected to the first conductive part. Accordingly, the first electronic component connected to the first terminal and the second electronic component connected to the third terminal are subjected to a characteristic inspection by a signal input via the first conductive portion or the second conductive portion. It can be carried out. Therefore, the characteristic inspection of the first electronic component and the second electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate overlapping the first region and the second region. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the associated wiring. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, it is possible to provide an inspection method applicable to miniaturization of an electronic device including a plurality of electronic components.
[適用例10]上記適用例に記載の電子デバイスの検査方法において、前記第1導電部に導電性を有する第1蓋体を接続する工程と、前記第2導電部に導電性を有する第2蓋体を接続する工程と、を有し、前記特性を検査する工程では、前記第1蓋体および前記第2蓋体の少なくとも一方に信号を入力して、前記第1電子部品および前記第2電子部品の少なくとも一方の特性を検査することが好ましい。 Application Example 10 In the inspection method for an electronic device according to the application example described above, a step of connecting a first lid having conductivity to the first conductive portion, and a second property having conductivity to the second conductive portion. Connecting the lid, and inspecting the characteristic, a signal is input to at least one of the first lid and the second lid, and the first electronic component and the second It is preferable to inspect at least one characteristic of the electronic component.
本適用例によれば、第1端子は、第2導電部に接続されている第1蓋体と電気的に接続されている。また、第3端子は、第1導電部に接続されている第2蓋体と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品および第3端子に接続されている第2電子部品は、第1蓋体および第2蓋体の少なくとも一方を介して入力される信号により特性検査を行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品および第2電子部品の特性検査を行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち複数の電子部品を備えた電子デバイスの小型化に適用可能な検査方法を提供することができる。 According to this application example, the first terminal is electrically connected to the first lid that is connected to the second conductive portion. The third terminal is electrically connected to the second lid connected to the first conductive part. As a result, the first electronic component connected to the first terminal and the second electronic component connected to the third terminal are caused by a signal input via at least one of the first lid and the second lid. Characteristic inspection can be performed. Therefore, the characteristic inspection of the first electronic component and the second electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate overlapping the first region and the second region. It is possible to reduce the area of the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the wiring portion concerned. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, it is possible to provide an inspection method applicable to miniaturization of an electronic device including a plurality of electronic components.
以下、本発明に係るシート基板、シート基板を用いた電子デバイスの製造方法、およびシート基板を用いた電子デバイスの検査方法について、添付図面に示す実施形態に基づいて図面を参照しながら詳細に説明する。 Hereinafter, a sheet substrate, an electronic device manufacturing method using the sheet substrate, and an electronic device inspection method using the sheet substrate according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings based on the embodiments shown in the accompanying drawings. To do.
<シート基板>
(第1実施形態)
図1、図2を用い、本発明の第1実施形態に係るシート基板について説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係るシート基板の概略構成を示す平面図である。図2は、本発明の第1実施形態に係るシート基板の概略構成を示す断面図であり、図2(a)は図1のA−A断面図、図2(b)は図1のB−B断面図である。なお、図1においては、図面の見易さから、第1電子部品としての振動素子を想像線(二点鎖線)で示してある。
<Sheet substrate>
(First embodiment)
A sheet substrate according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a sheet substrate according to the first embodiment of the present invention. 2 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of the sheet substrate according to the first embodiment of the present invention, FIG. 2A is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 1, and FIG. 2B is a cross-sectional view of FIG. It is -B sectional drawing. In FIG. 1, for the sake of easy viewing, the vibration element as the first electronic component is indicated by an imaginary line (two-dot chain line).
図1、図2に示すように、第1実施形態に係るシート基板(母基板)10は、ベース基板5と、ベース基板5の第1面5aに配置されている第1領域11、および第2領域31と、を有している。ベース基板5の構成材料としては、絶縁性(非導電性)を有しているものが好ましく、例えば、各種ガラス、酸化物セラミックス、窒化物セラミックス、炭化物系セラミックス等の各種セラミックス材料、ポリイミド等の各種樹脂材料などを用いることができる。シート基板10には、第1領域11および第2領域31のセットが、マトリックス状に配置されている。隣り合うそれぞれの領域の間には、それぞれの領域を一つの電子デバイスとして個片化する際の分割領域7,8が設けられている。分割領域7,8は、個片化された電子デバイスが略矩形状の外形形状となるように設けられている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the sheet substrate (mother substrate) 10 according to the first embodiment includes a
ここで、図1において符号11で示す領域を第1領域としたとき、図中横並びに配置されている符号31で示す領域が第2領域、図中縦並びに配置されている符号11bで示す領域が他の領域となる。なお、この配置は、マトリックス状に並んでいる領域のいずれかを第1領域としても同様な構成とすることができる。例えば、符号31で示す領域を第1領域としたときには、図中横並びに配置されている符号31の左側の領域(本例では、符号31で示す領域が、シート基板10の左端部となっているため、この領域は存在しない。)が第2領域となる。また、図中縦並びに配置されている符号31で示す領域の下側の符号31bで示す領域が、他の領域となる。
Here, when the area indicated by
第1領域11には、第1電子部品としての振動素子20が接続される第1端子12、および第5端子13と、第1端子12、および第5端子13を囲む第3領域51に配置されている第1導電部としての第1環状電極17と、が設けられている。同様に、第2領域31には、第1電子部品としての振動素子20が接続される第2端子32,33と、第2端子32,33を囲む第4領域91に配置されている第2導電部としての第2環状電極37と、が設けられている。第1領域11の第1端子12と第5端子13、および第2領域31の第2端子32,33は、例えば、銀・パラジウムなどの導電ペーストあるいはタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成される。また、第1端子12から延設されている接続配線14、および第2端子32から延設されている接続配線34も上述と同様な構成で形成される。
The
第1環状電極17、および第2環状電極37は、上述と同様に、銀・パラジウムなどの導電ペーストあるいはタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成することができる。なお、第1環状電極17、および第2環状電極37は、上述の構成の電極上に、例えばコバール等の合金で形成されたシームリング(図示せず)が設けられている構成であってもよい。シームリングは、後述する蓋体としてのリッド72(図4参照)との接合材としての機能を有しており、ベース基板5の第1面5aに沿って枠状(略矩形状の環状)に設けられる。
Similarly to the above, the first
さらに、第1面5aと表裏関係にあるベース基板5の第2面5bには、第1面5aが正面となる方向から視認する平面視で、第1領域11と重なる領域に配置されている第1外部端子21,22,23,24が設けられている。また、ベース基板5の第2面5bには、同様な平面視で、第2領域31と重なる領域に配置されている第2外部端子41,42,43,44が設けられている。第1外部端子21,22,23,24、および第2外部端子41,42,43,44は、例えばタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成される。
Furthermore, the
隣接する領域に配置されている第1外部端子21と外部端子22bとは、ベース基板5の第2面5bに設けられている接続端子26によって電気的に接続されている。また、同様に隣接する領域に配置されている第1外部端子23と第2外部端子42とは、ベース基板5の第2面5bに設けられている接続端子25によって電気的に接続されている。
The first
第1領域11におけるベース基板5には、第1面5aから第2面5bに貫通する貫通配線15,16,18が設けられている。貫通配線15は、第1端子12から延設されている接続配線14と接続されるとともに、第1外部端子21と接続されている。貫通配線16は、第1環状電極17と接続されるとともに、第1外部端子22と接続されている。貫通配線18は、第5端子13と接続されるとともに、第1外部端子23と接続されている。同様に、第2領域31におけるベース基板5には、第1面5aから第2面5bに貫通する貫通配線35,36,38が設けられている。貫通配線35は、第2端子32から延設されている接続配線34と接続されるとともに、第2外部端子41と接続されている。貫通配線36は、第2環状電極37と接続されるとともに、第2外部端子42と接続されている。貫通配線38は、第2端子33と接続されるとともに、第2外部端子43と接続されている。
The
上述のような構成により、第1外部端子21は、第1領域11の第1面5aに設けられている接続配線14および貫通配線15を介して第1端子12と電気的に接続されている。さらに、第1外部端子21は、第2面5bに配置されている接続端子26を介してマトリックス状に配置されて隣接する他の領域11bに設けられている外部端子22bと接続され、貫通配線16bを介して環状電極17bと電気的に接続されている。即ち、第1端子12は、接続配線14、貫通配線15、第1外部端子21、接続端子26、外部端子22b、および貫通配線16bを介して他の領域11bの環状電極17bと電気的に接続されている。
With the configuration as described above, the first
また、第2外部端子42は、第2領域31に設けられている貫通配線36を介して第2導電部としての第2環状電極37と電気的に接続されている。さらに、第2外部端子42は、第2面5bに配置されている接続端子25により第1外部端子23と接続され、貫通配線18を介して第5端子13と接続されている。即ち、第5端子13は、貫通配線18、第1外部端子23、接続端子25、第2外部端子42、および貫通配線36を介して第2環状電極37と電気的に接続されている。
The second
第1電子部品としての振動素子20は、第1領域11では第1端子12と第5端子13とに導電性接着剤19などの接合材によって接続され、第2領域31では、第2端子32,33に導電性接着剤39などの接合材によって接続されている。本実施形態の振動素子20は、圧電材料の一例としての水晶により形成されたATカット水晶基板(圧電基板)が用いられている。水晶等の圧電材料は、互いに直交する結晶軸X、Y、Zを有しており、本実施形態の水晶基板は、XZ面をX軸の回りに所定の角度θだけ回転させた平面に沿って、水晶から切り出された平板が振動素子20として用いられる。例えば、ATカット水晶基板の場合は、θは略35°15′である。なお、水晶基板は、前述のような角度θが略35°15′のATカットに限定されるものではなく、厚みすべり振動を励振するSCカット、BTカット、音叉振動を励振するXカット、等の他の圧電基板であってもよい。また、振動素子20は、例えばシリコン基板を素材とした素子基板上に、例えばPZTなどを用いた圧電体層を含む駆動部が設けられている構成であってもよい。
The
振動素子20は、前述のATカット水晶基板が分割されて形成された矩形状の素子片に、励振電極、引き出し電極、および接続電極などの電極が形成されているが、図示していない。振動素子20と第1端子12、および第5端子13との接続は、素子片の表裏面(主面)に設けられているそれぞれの励振電極と接続された接続電極の部分に導電性接着剤が位置するように配置されて行われる。なお、素子片の形状は矩形状に限らず、楕円状、台形状、三角形状、四角形状等であってもよい。
In the
上述した第1実施形態のシート基板10によれば、第1領域11に配置されている振動素子20と接続された第1端子12は、接続配線14、貫通配線15、第1外部端子21、接続端子26、および他の領域11bに配置されている外部端子22bおよび貫通配線16bを介して他の領域11bに配置された環状電極17bと電気的に接続されている。また、第1領域11に配置されている振動素子20と接続された第5端子13は、貫通配線18、第1外部端子23、接続端子25、および第2領域31に配置されている第2外部端子42および貫通配線36を介して第2領域に配置された第2環状電極37と電気的に接続されている。これにより、第1領域11にあって、第1端子12と第5端子13とに接続されている第1電子部品としての振動素子20は、他の領域11bに配置されている環状電極17b、および第2領域31に配置されている第2環状電極37に入力される信号により特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく振動素子20の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域11および第2領域31、並びに他の領域11bの面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板10に配置できる第1領域11、および第2領域31、並びに他の領域11bの配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。なお、本実施例では、第1電子部品としての振動素子20を、他の領域11bに配置されている環状電極17bと、第2領域31に配置されている第2環状電極37とに入力される信号を用いて特性検査を行うことができるとしているが、これに限らず、第2環状電極37に入力された信号が振動素子20によって反射された信号を、第2環状電極37を用いて検出するなどの方法を用いても、振動素子20の特性検査などを行うことができる。
According to the
(第2実施形態)
次に、図3を用い、本発明の第2実施形態に係るシート基板について説明する。図3は、本発明の第2実施形態に係るシート基板の概略構成を示す図であり、図3(a)は平面図であり、図3(b)は図3(a)のC−C断面図である。なお、同図においては、図面の見易さから、第1電子部品としての振動素子を想像線(二点鎖線)で示してある。また、上述の第1実施形態と同様な構成につては、詳細な説明を省略することがある。
(Second Embodiment)
Next, the sheet | seat board | substrate which concerns on 2nd Embodiment of this invention is demonstrated using FIG. FIG. 3 is a diagram showing a schematic configuration of a sheet substrate according to the second embodiment of the present invention, FIG. 3 (a) is a plan view, and FIG. 3 (b) is a CC view of FIG. 3 (a). It is sectional drawing. In the figure, for the sake of easy viewing, the vibration element as the first electronic component is indicated by an imaginary line (two-dot chain line). In addition, detailed description of the same configuration as in the first embodiment may be omitted.
図3(a)、(b)に示すように、第2実施形態に係るシート基板100は、ベース基板105と、ベース基板105の第1面105aに配置されている第1領域111、および第2領域131と、を有している。また、ベース基板105の第1面105aには、他の領域としての領域201および領域211を有している。ベース基板105の構成材料としては、絶縁性(非導電性)を有しているものが好ましく、例えば、各種ガラス、酸化物セラミックス、窒化物セラミックス、炭化物系セラミックス等の各種セラミックス材料、ポリイミド等の各種樹脂材料などを用いることができる。シート基板100には、第1領域111および第2領域131のセットが、マトリックス状に配置されている。隣り合うそれぞれの領域の間には、それぞれの領域を一つの電子デバイスとして個片化する際の分割領域7,8が交差する方向に設けられている。
As shown in FIGS. 3A and 3B, the
ここで、図3において符号111で示す領域を第1領域としたとき、図中横並びに配置されている符号131で示す領域が第2領域となる。また、第1領域111と図中縦並びに配置されている領域が他の領域としての領域211となり、第2領域131と図中縦並びに配置されている領域が他の領域としての領域201となる。なお、この配置は、マトリックス状に並んでいる領域のいずれかを第1領域としても同様な構成とすることができる。例えば、符号131で示す領域を第1領域としたときには、図中横並びに第1領域131の左側に配置されている領域(本例では、符号131で示す領域が、シート基板100の左端部となっているため、この領域は存在しない。)が第2領域となる。
Here, when the area denoted by
第1領域111には、第1電子部品としての振動素子120が接続される第1端子112、および第5端子113と、第2電子部品としてのサーミスター180が接続される第3端子181、および第4端子182と、第1端子112、第5端子113、第3端子181、および第4端子182を囲む第3領域171に配置されている第1導電部としての第1環状電極117と、が設けられている。同様に、第2領域131には、第1電子部品としての振動素子120が接続される第2端子112b,113bと、第2電子部品としてのサーミスター180bが接続される第3端子181b、および第4端子182bと、第2端子112b,113b、第3端子181b、および第4端子182bを囲む第4領域171bに配置されている第2導電部としての第2環状電極117bと、が設けられている。第1領域111の第1端子112と第5端子113、および第2領域131の第2端子112b,113bは、例えば、銀・パラジウムなどの導電ペーストあるいはタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成される。また、第1端子112から延設されている接続配線114、および第2端子112bから延設されている接続配線114bも上述と同様な構成で形成される。
In the
第1環状電極117、および第2環状電極117bは、上述と同様に、銀・パラジウムなどの導電ペーストあるいはタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成することができる。なお、第1環状電極117、および第2環状電極117bは、上述の構成の電極上に、例えばコバール等の合金で形成されたシームリング(図示せず)が設けられている構成であってもよい。シームリングは、後述する蓋体としてのリッド72(図4参照)との接合材としての機能を有しており、ベース基板105の第1面105aに沿って枠状(略矩形状の環状)に設けられる。
The first
さらに、第1面105aと表裏関係にあるベース基板105の第2面105bには、第1面105aが正面となる方向から視認する平面視で、第1領域111と重なる領域に配置されている第1外部端子121,122,123,124が設けられている。また、ベース基板105の第2面105bには、同様な平面視で、第2領域131と重なる領域に配置されている第2外部端子121b,122b,123b,124bが設けられている。第1外部端子121,122,123,124、および第2外部端子121b,122b,123b,124bは、例えばタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成される。
Furthermore, the
隣接する領域に配置されている第1領域111の第1外部端子121と他の領域211の外部端子122dとは、ベース基板105の第2面105bに設けられている接続端子126によって電気的に接続されている。また、同様に隣接する領域に配置されている第1領域111の第1外部端子123と第2領域131の第2外部端子122bとは、ベース基板105の第2面105bに設けられている接続端子125によって電気的に接続されている。また、同様に隣接する領域に配置されている第1領域111の第1外部端子124と第2領域131の第2外部端子121bとは、ベース基板105の第2面105bに設けられている接続端子125bによって電気的に接続されている。また、同様に隣接する領域に配置されている第2領域131の第2外部端子121bと他の領域201の外部端子122cとは、ベース基板105の第2面105bに設けられている接続端子126bによって電気的に接続されている。
The first
第1領域111におけるベース基板105には、第1面105aから第2面105bに貫通する貫通配線115,116,118,127が設けられている。貫通配線115は、第1端子112から延設されている接続配線114と接続されているとともに、第1外部端子121と接続されている。貫通配線116は、第1環状電極117および第3端子181と接続されているとともに、第1外部端子122と接続されている。貫通配線118は、第5端子113と接続されているとともに、第1外部端子123と接続されている。貫通配線127は、第4端子182から延設されている接続配線183と接続されているとともに、第1外部端子124と接続されている。同様に、第2領域131におけるベース基板105には、第1面105aから第2面105bに貫通する貫通配線115b,116b,118b,127bが設けられている。貫通配線115bは、第2端子112bから延設されている接続配線114bと接続されているとともに、第2外部端子121bと接続されている。貫通配線116bは、第2環状電極117bおよび第3端子181bと接続されているとともに、第2外部端子122bと接続されている。貫通配線118bは、第2端子113bと接続されているとともに、第2外部端子123bと接続されている。貫通配線127bは、第4端子182bから延設されている接続配線183bと接続されているとともに、第2外部端子124bと接続されている。
The
上述のような構成により、第1外部端子121は、第1領域111の第1面105aに設けられている接続配線114および貫通配線115を介して第1端子112と電気的に接続されている。さらに、第1外部端子121は、第2面105bに配置されている接続端子126を介してマトリックス状に配置されて隣接する他の領域211に設けられている外部端子122dと接続され、貫通配線116dを介して他の領域211に設けられている環状電極117dと電気的に接続されている。即ち、第1領域111に設けられている第1端子112は、接続配線114、貫通配線115、第1外部端子121、接続端子126、外部端子122d、および貫通配線116dを介して他の領域211に設けられている環状電極117dと電気的に接続されている。
With the configuration as described above, the first
また、第2領域131に設けられている第2外部端子122bは、貫通配線116bを介して第2導電部としての第2環状電極117bと電気的に接続されている。さらに、第2外部端子122bは、第2面105bに配置されている接続端子125により第1領域111に設けられている第1外部端子123と接続され、貫通配線118を介して第5端子113と接続されている。即ち、第5端子113は、貫通配線118、第1外部端子123、接続端子125、第2外部端子122b、および貫通配線116bを介して第2環状電極117bと電気的に接続されている。
The second
また、第1領域111に設けられている第3端子181は、第1環状電極117と電気的に接続されている。また、第1領域111に設けられている第4端子182は、接続配線183、および貫通配線127を介して第1外部端子124と接続されている。さらに、第1外部端子124は、第2面105bに配置されている接続端子125bを介して、マトリックス状に配置されて隣接する第2領域131に設けられている第2外部端子121bと接続されている。さらに、第2外部端子121bは、第2面105bに配置されている接続端子126bを介して、マトリックス状に配置されて隣接する他の領域201に設けられている外部端子122cと接続され、貫通配線116cを介して他の領域201に設けられている環状電極117cと電気的に接続されている。即ち、第1領域111の第4端子182は、接続配線183、貫通配線127、第1外部端子124、接続端子125b、第2外部端子121b、接続端子126b、外部端子122c、および貫通配線116cを介して他の領域201の環状電極117cと電気的に接続されている。
The
第1電子部品としての振動素子120は、第1領域111では第1端子112、および第5端子113に導電性接着剤119などの接合材によって接続され、第2領域131では、第2端子112b,113bに導電性接着剤119bなどの接合材によって接続されている。本実施形態の振動素子120は、上述の第1実施形態と同様な構成であるため、以下の詳細な説明は省略する。
The
第3端子181,181b、および第4端子182,182bに、導電性接着剤184などの接合材によって接続されている第2電子部品としてのサーミスター180,180bは、温度検知を行う機能を有している。振動素子120は、その共振周波数が温度によって変化する、所謂周波数温度特性を有している。この周波数温度特性による周波数変化を抑制するため、環境温度をデータ信号として検知可能なサーミスター180,180bが設けられる。検知された温度信号データに基づいて共振周波数の補正を行うことで、共振周波数精度を向上させることが可能となる。
The
上述した第2実施形態のシート基板100によれば、第1領域111に配置されている振動素子120と接続された第1端子112は、接続配線114、貫通配線115、第1外部端子121、接続端子126、および他の領域211に配置されている外部端子122dおよび貫通配線116dを介して他の領域211に配置された環状電極117dと電気的に接続されている。また、第1領域111に配置されている振動素子120と接続された第5端子113は、貫通配線118、第1外部端子123、接続端子125、第2領域131に配置されている第2外部端子122b、および貫通配線116bを介して第2領域に配置された第2環状電極117bと電気的に接続されている。これにより、第1領域111にあって、第1端子112、および第5端子113に接続されている第1電子部品としての振動素子120は、他の領域211に配置されている環状電極117d、および第2領域131に配置されている第2環状電極117bに入力される信号により振動素子120の共振周波数などの特性検査などを行うことができる。なお、本実施例では、第1電子部品としての振動素子120を、他の領域211bに配置されている環状電極117dと、第2領域131に配置されている第2環状電極117bとに入力される信号を用いて特性検査を行うとしているが、これに限らず、第2環状電極117bに入力された信号が振動素子120によって反射された信号を、第2環状電極117bを用いて検出するなどの方法を用いても、振動素子120の特性検査などを行うことができる。
According to the
また、第2実施形態のシート基板100の第1領域111に配置されている第3端子181は、第1領域111の第1環状電極117と電気的に接続されている。さらに、第1領域111に配置されている第4端子182は、接続配線183、貫通配線127、第1外部端子124、接続端子125b、第2外部端子121b、接続端子126b、外部端子122c、および貫通配線116cを介して他の領域201の環状電極117cと電気的に接続されている。この第3端子181と第4端子182には、第2電子部品としてのサーミスター180が接続されているため、第1領域に配置されている第1環状電極117、および他の領域201に配置されている環状電極117cに入力される信号により特性検査などを行うことができる。なお、本実施例では、第2電子部品としてのサーミスター180を、第1領域111に配置されている第1環状電極117と、他の領域201に配置されている環状電極117cとに入力される信号を用いて特性検査を行うことができるとしているが、これに限らず、第1環状電極117に入力された信号がサーミスター180によって反射された信号を、第2環状電極37を用いて検出するなどの方法を用いても、サーミスター180の特性検査などを行うことができる。
In addition, the
このように、第2実施形態のシート基板100は、異なる4つの領域(第1領域111、第2領域131、他の領域201,211)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b、環状電極117c,117d)のうちの少なくとも2つに測定端子などを当接させて、第1電子部品としての振動素子120および第2電子部品としてのサーミスター180の特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域111および第2領域131の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板100に配置できる第1領域111、および第2領域131の配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。
As described above, the
なお、上述した第1実施形態および第2実施形態においては、第1電子部品として振動素子120を例示し、第2電子部品としてサーミスター180を例示した構成で説明したが、電子部品は振動素子120およびサーミスター180に限るものではなく、抵抗、コンデンサー、インダクター、ダイオード等の受動部品、トランジスター、集積回路等の能動部品、またはその他の電子部品であってもよい。
In the first and second embodiments described above, the
(蓋体を用いた実施形態)
また、上述した第1実施形態および第2実施形態のシート基板10,100には、上述の構成に加えて、振動素子120、サーミスター180などの電子部品、および配線などを内包する蓋体(カバー)を配置することもできる。その構成について、図4を用いて説明する。図4は、蓋体を用いたシート基板(電子デバイス)の概略構成の一例を示し、図1のB−B断面に相当する断面図である。なお、第1実施形態と同様な構成については同符号を付してその説明を省略することがある。
(Embodiment using a lid)
In addition to the above-described configuration, the
図4に示すように、ベース基板5の第1面5aに第1電子部品としての振動素子20が接続されている。また、第1面5aには、振動素子20を囲む枠状に設けられた第1環状電極17および第2環状電極37が設けられている。第1環状電極17上および第2環状電極37上には、接合材としてのシームリング71が接続されている。この第1環状電極17および第2環状電極37、およびシームリング71により、上面が開口する凹部が形成され、その凹部内に電子部品が収納される。シームリング71は、例えばコバール等の合金で形成されており、導電性を有している。また、シームリング71は、第1環状電極17および第2環状電極37の上面に沿って枠状(略矩形状の周状)に設けられている。
As shown in FIG. 4, the
凹部の開口は、接合材としてのシームリング(図示せず)を介して第1環状電極17および第2環状電極37に接合されている蓋体としてのリッド72によって塞がれている。密封された内部空間は、その内部圧力を所望の気圧に設定できる。例えば、内部空間に大気圧程度の窒素ガスを充填したり、真空(通常の大気圧より低い圧力(1×105Paよりも低く、1×10-10Paよりも高い圧力(JIS Z 8126−1:1999))の気体で満たされた空間の状態)としたりすることで、より安定した振動素子20の振動を継続することができる。
The opening of the recess is closed by a
リッド72は、板状の部材であり、開放する凹部の開口を塞ぎ、凹部の開口の周囲を、例えばシーム溶接法などを用いて接合されている。本例のリッド72は、板状であるため、形成が行い易く、さらには形状の安定にも優れる。また、本例のリッド72には、コバールの板材が用いられている。リッド72にコバールの板を用いることで封止の際に、コバールで形成されているシームリング71とリッド72とが同じ溶融状態で溶融され、さらには合金化もされ易いため封止を容易に、且つ確実に行うことができる。なお、リッド72には、コバールに換えて他の材料の板材を用いてもよく、例えば、42アロイ、ステンレス鋼などの金属材料、または第1環状電極17および第2環状電極37と同材料などを用いることができる。また、リッド72のシームリング71と接合される面に、リッド72とシームリング71との接合をさらによくするために、金、銀、銅などの金属または左記金属を主成分とする合金、またははんだ等のろう材が形成されていてもよい。
The
上述の構成のシート基板(ベース基板5)を、それぞれの領域を残して分割(図1に示す分割領域7,8)することにより、個片化された電子デバイスを得ることができる。また、図1に示す分割領域7,8で分割されるため、接続端子25(図4では他の接続端子は図示していない)を初めとする接続端子は切断され、それぞれの領域を接続する接続端子が個片化された後の電子デバイスの特性に影響することはない。
By dividing the sheet substrate (base substrate 5) having the above-described configuration while leaving the respective regions (divided
このような導電性を有する蓋体(リッド72)を用いる構成によれば、第1、第2実施形態で述べたような、環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b、環状電極117c,117d)のうちの少なくとも2つに測定端子を当接させて特性検査などを行う方法に変えて、それぞれの領域の蓋体(リッド72)に測定端子を当接させて特性検査などを行うことができる。したがって、より広い範囲内でのプロービング(測定端子の当接)が可能となり、測定端子の接触性を向上させることができるとともに、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。
According to the configuration using such a conductive lid (lid 72), the annular electrodes (first
なお、蓋体としては、板状のリッド72に限らず、例えばコバール板、42アロイ板、ステンレス鋼板などの金属材料を、絞り加工などにより外周に鍔が設けられた凹缶形状に成形したキャップ(缶)を用いる構成でもよい。このキャップを用いた場合には、第1環状電極17および第2環状電極37にキャップ(缶)を、例えば、抵抗溶接などで接合することができる。
The lid is not limited to the plate-shaped
(変形例)
次に、シート基板の変形例について、図5を用いて説明する。図5は、シート基板の変形例を示し、(a)は部分平面図、(b)はD−D断面図である。なお、同図は、第2実施形態の例をもとに作図してあるがこれに限らず、他の形態でも適用可能である。
(Modification)
Next, a modification of the sheet substrate will be described with reference to FIG. FIG. 5 shows a modification of the sheet substrate, where (a) is a partial plan view and (b) is a DD cross-sectional view. Although the drawing is drawn based on the example of the second embodiment, the present invention is not limited to this, and other forms are also applicable.
図5に示す変形例のシート基板は、第2実施形態の構成と、各領域の外部端子間を接続する接続端子の構成が異なる。本変形例のシート基板は、第1領域と第2領域(図3参照)との境界部である4つの角部に設けられている貫通電極152によって各領域の外部端子間が接続されている。貫通電極152は、ベース基板105の第1面105aから第2面105bに至る貫通孔150と貫通孔150の内周面に設けられている電極層151を含む。なお、この貫通電極152は、分割領域7,8(図3参照)で分割されるとキャスタレーションの役目を果たすことができる。貫通孔150は、第1外部端子122,123および第2外部端子122bを含む外部端子の平面形状内に掛かるように設けられている。また、電極層151は、第1外部端子122,123および第2外部端子122bを含む外部端子に接するように設けられている。
The sheet substrate of the modification shown in FIG. 5 differs from the configuration of the second embodiment in the configuration of connection terminals that connect external terminals in each region. In the sheet substrate of this modification, the external terminals of each region are connected by through
このような構成により、貫通電極152の電極層151によって第1外部端子122,123および第2外部端子122bを含む外部端子間を電気的に接続することができる。したがって、専用の接続配線を設けることなく、第1外部端子122,123および第2外部端子122bを含む外部端子間を電気的に接続することができる。
With such a configuration, the external terminals including the first
<電子デバイスの製造方法>
次に、上述のシート基板を用いた電子デバイスの製造方法について図6に沿って説明する。図6は、シート基板を用いた電子デバイスの製造工程を示す工程フロー図である。なお、本説明では、図3を参照しながら第2実施形態のシート基板100の第1領域111に係る構成に蓋体を接続する例で説明するが、他の領域においても同様な工程を用いることができる。
<Method for manufacturing electronic device>
Next, a method for manufacturing an electronic device using the above-described sheet substrate will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a process flow diagram showing a manufacturing process of an electronic device using a sheet substrate. In this description, an example in which a lid is connected to the configuration related to the
先ず、第2実施形態で説明したシート基板100のうちで、第1電子部品としての振動素子120を第1端子112と第5端子113とに、および第2電子部品としてのサーミスター180を第3端子181と第4端子182とに、それぞれ接続する前の状態のシート基板100を用意する(シート基板準備工程S101)。なお、本例のシート基板100は、第1環状電極117上に枠状に形成されたシームリング(図示せず)が接合されている構成を用いている。
First, in the
次に、振動素子120を、第1端子112、および第5端子113に、導電性接着剤119などの接合材を介して、電気的接続をとって接続する。導電性接着剤119は、樹脂基材に導電性フィラーを混在させペースト状をなしている。振動素子120は、第1端子112、第5端子113上に塗布されたペースト状の導電性接着剤119上に、図示していない接続電極を合わせて載置される。その後、所定の温度および時間で導電性接着剤を乾燥硬化し、振動素子120を第1端子112、および第5端子113に接続する(第1電子部品接続工程S103)。
Next, the
次に、サーミスター180を、第3端子181と第4端子182とに、導電性接着剤184などの接合材を介して、電気的接続をとって接続する。導電性接着剤184は、前述の導電性接着剤119と同様の構成をなしている。サーミスター180は、第3端子181および第4端子182に塗布されたペースト状の導電性接着剤184上に、図示していない各接続電極を合わせて載置される。その後、所定の温度および時間で導電性接着剤を乾燥硬化し、サーミスター180を第3端子181および第4端子182に接続する(第2電子部品接続工程S105)。
Next, the
次に、第1環状電極117に接合されたシームリング上に蓋体としてのリッド(図示せず)を載置する。そして、シーム溶接法などを用いてシームリングを溶融し、リッドをシームリングと接続する(蓋体接続工程S107)。このようにリッドを接続することにより、振動素子120、およびサーミスター180などが接続されている内部空間の開口が塞がれる。密封された内部空間は、例えば、真空(通常の大気圧より低い圧力(1×105Paよりも低く、1×10-10Paよりも高い圧力(JIS Z 8126−1:1999))の気体で満たされた空間の状態)とすることで、より安定した振動素子120の振動を継続することができる。ここで用いているシームリングおよびリッドは、上述したようにコバールなどの金属が用いられているため、それぞれ導電性を有している。したがって、第1環状電極117と蓋体としてのリッドとは、電気的接続がとられている。
Next, a lid (not shown) as a lid is placed on the seam ring joined to the first
次に、内部空間に接続、収納されている振動素子120、サーミスター180などの電子部品の特性を検査する(特性検査工程S109)。第2実施形態で説明したように、環状電極(環状電極を介した蓋体としてのリッド)と振動素子120、サーミスター180とが電気的に接続されているため、この特性検査工程S109では、測定端子の当接(プロービング)を、環状電極(リッド)に行うことで特性検査を行うことが可能である。
Next, the characteristics of electronic components such as the
具体的に説明すると、第1領域111に配置されている振動素子120と接続された第1端子112は、種々の端子などを介して他の領域211に配置された環状電極117d(リッド)と電気的に接続されている。さらに、第1領域111に配置されている振動素子120と接続された第5端子113は、種々の端子などを介して第2領域131に配置されている第2環状電極117b(リッド)と電気的に接続されている。これにより、第1領域111に位置する振動素子120の特性検査は、少なくとも第2領域131に配置されている第2環状電極117b(リッド)に入力される信号により、共振周波数測定などを行うことができる。また、シート基板100の第1領域111に配置されている第3端子181は、第1領域の第1環状電極117(リッド)と電気的に接続されている。さらに、第1領域111に配置されている第4端子182は、種々の端子などを介して他の領域201の環状電極117c(リッド)と電気的に接続されている。この第3端子181と第4端子182には、サーミスター180が接続されているため、少なくとも第1領域111に配置されている第1環状電極117(リッド)に入力される信号により特性検査などを行うことができる。
Specifically, the
このような本例の特性検査方法によれば、少なくとも2つの領域(第1領域111、第2領域131)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b)上に接続されたリッドに測定端子などを当接させて、振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域111および第2領域131の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板100に配置できる第1領域111、および第2領域131の配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。
According to the characteristic inspection method of this example, on the annular electrodes (first
次に、シート基板100には、マトリックス状に配置されたそれぞれの領域(第1領域111および第2領域131など)の電子デバイスを、分割領域7,8で分割し、個片化された電子デバイスが完成する(個片化工程S111)。なお、分割には、砥石板を用いたダイシングソーなどを用いることができる。
Next, on the
以上説明した電子デバイスの製造方法によれば、少なくとも2つの領域(第1領域111、第2領域131)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b)上に接続されたリッドに測定端子などを当接させて、振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域111および第2領域131の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板100に配置できる第1領域111、および第2領域131の配置数を多くすることが可能となり、電子デバイスの製造効率を向上させることが可能となる。
According to the electronic device manufacturing method described above, on the annular electrodes (the first
なお、上述の製造方法では、二つの電子部品(振動素子120とサーミスター180)を用いた例で説明したが、一つの電子部品を備えた構成(例えば、第1実施形態のような振動素子20を備えた構成)においても、同様な方法で製造することができる。この場合は、図6に示す工程フローから、第2電子部品接続工程S105を除いた工程フローとなる。
In the above-described manufacturing method, an example using two electronic components (the
また、上述の製造方法では、少なくとも2つの領域(第1領域111、第2領域131)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b)上に接続された蓋体としてのリッドに測定端子などを当接させる方法で説明したが、これに限らない。この方法に変えて、リッドを用いず、少なくとも2つの領域(第1領域111、第2領域131)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b)に直接測定端子などを当接させる方法でもよく、同様な効果を得ることができる。
In the above-described manufacturing method, the lid connected to the annular electrodes (the first
また、シート基板100の第2面105bに設けられている外部端子(第1外部端子121,122,123,124)は、電子部品の接続端子と接続されている。即ち、第1端子112は、第1外部端子121と接続され、第5端子113は、第1外部端子123と接続され、第3端子181は、第1外部端子122と接続され、第4端子182は、第1外部端子124と接続されている。これにより、外部端子(第1外部端子121,122,123,124)の面積が十分確保できれば、測定端子を外部端子(第1外部端子121,122,123,124)の当接することによって特性検査を行うことも可能である。
Further, external terminals (first
また、上述の第1、第2実施形態では電子デバイスとして、一つの電子部品(振動素子20)を用いた振動子、および二つの電子部品(振動素子120とサーミスター180)を用いた温度補償型振動子を例で説明したがこれに限らない。例えば、他の電子部品である発振回路素子などを搭載した発振器などであってもよい。
In the first and second embodiments described above, as the electronic device, a vibrator using one electronic component (vibration element 20) and temperature compensation using two electronic components (
また、シート基板10,100の端を第1領域11,111とした場合に、隣り合う領域が存在しないことがある。この場合は、シート基板10,100の端部に、それぞれの接続端子と接続した測定用のダミー端子を設け、そのダミー端子に測定端子(プローブ)を当接させることも可能である。
Moreover, when the edge of the sheet | seat board |
[電子機器]
次いで、本発明の一実施形態に係る電子デバイスを適用した電子機器について、図7〜図9に基づき、詳細に説明する。なお、説明では、電子デバイス(振動子)1を適用した例を示している。
[Electronics]
Next, an electronic apparatus to which the electronic device according to an embodiment of the present invention is applied will be described in detail with reference to FIGS. In the description, an example in which the electronic device (vibrator) 1 is applied is shown.
図7は、本発明の一実施形態に係る電子デバイス(振動子)1を備える電子機器としてのモバイル型(又はノート型)のパーソナルコンピューターの構成の概略を示す斜視図である。この図において、パーソナルコンピューター1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、表示部100を備えた表示ユニット1106とにより構成され、表示ユニット1106は、本体部1104に対しヒンジ構造部を介して回動可能に支持されている。このようなパーソナルコンピューター1100には、信号処理のタイミング源としての機能を備えた電子デバイス(振動子)1が内蔵されている。
FIG. 7 is a perspective view schematically illustrating a configuration of a mobile (or notebook) personal computer as an electronic apparatus including the electronic device (vibrator) 1 according to an embodiment of the present invention. In this figure, a
図8は、本発明の一実施形態に係る電子デバイス(振動子)1を備える電子機器としての携帯電話機(PHSも含む)の構成の概略を示す斜視図である。この図において、携帯電話機1200は、複数の操作ボタン1202、受話口1204および送話口1206を備え、操作ボタン1202と受話口1204との間には、表示部100が配置されている。このような携帯電話機1200には、信号処理のタイミング源としての機能を備えた電子デバイス(振動子)1が内蔵されている。
FIG. 8 is a perspective view schematically illustrating a configuration of a mobile phone (including PHS) as an electronic apparatus including the electronic device (vibrator) 1 according to an embodiment of the present invention. In this figure, a
図9は、本発明の一実施形態に係る電子デバイス(振動子)1を備える電子機器としてのデジタルスチールカメラの構成の概略を示す斜視図である。なお、この図には、外部機器との接続についても簡易的に示されている。ここで、従来のフィルムカメラは、被写体の光像により銀塩写真フィルムを感光するのに対し、デジタルスチールカメラ1300は、被写体の光像をCCD(Charge Coupled Device)等の撮像素子により光電変換して撮像信号(画像信号)を生成する。
FIG. 9 is a perspective view schematically illustrating a configuration of a digital still camera as an electronic apparatus including the electronic device (vibrator) 1 according to an embodiment of the present invention. In this figure, connection with an external device is also simply shown. Here, the conventional film camera sensitizes the silver halide photographic film with the light image of the subject, whereas the
デジタルスチールカメラ1300におけるケース(ボディー)1302の背面には、表示部100が設けられ、CCDによる撮像信号に基づいて表示を行う構成になっており、表示部100は、被写体を電子画像として表示するファインダーとして機能する。また、ケース1302の正面側(図中裏面側)には、光学レンズ(撮像光学系)やCCD等を含む受光ユニット1304が設けられている。
A
撮影者が表示部100に表示された被写体像を確認し、シャッターボタン1306を押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、メモリー1308に転送、格納される。また、このデジタルスチールカメラ1300においては、ケース1302の側面に、ビデオ信号出力端子1312と、データ通信用の入出力端子1314とが設けられている。そして、図示されるように、ビデオ信号出力端子1312にはテレビモニター1430が、データ通信用の入出力端子1314にはパーソナルコンピューター1440が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作により、メモリー1308に格納された撮像信号が、テレビモニター1430や、パーソナルコンピューター1440に出力される構成になっている。このようなデジタルスチールカメラ1300には、信号処理のタイミング源としての機能を備えた電子デバイス(振動子)1が内蔵されている。
When the photographer confirms the subject image displayed on the
なお、本発明の一実施形態に係る電子デバイス(振動子)1は、図7のパーソナルコンピューター(モバイル型パーソナルコンピューター)、図8の携帯電話機、図9のデジタルスチールカメラの他にも、例えば、インクジェット式吐出装置(例えばインクジェットプリンター)、ラップトップ型パーソナルコンピューター、テレビ、ビデオカメラ、ビデオレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳(通信機能付も含む)、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニター、電子双眼鏡、POS端末、医療機器(例えば電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、電子内視鏡)、魚群探知機、各種測定機器、計器類(例えば、車両、航空機、船舶の計器類)、フライトシミュレーター、移動体端末基地局用機器等の電子機器に適用することができる。 In addition to the personal computer (mobile personal computer) in FIG. 7, the mobile phone in FIG. 8, and the digital still camera in FIG. 9, the electronic device (vibrator) 1 according to an embodiment of the present invention includes, for example: Inkjet ejection device (for example, inkjet printer), laptop personal computer, TV, video camera, video recorder, car navigation device, pager, electronic notebook (including communication function), electronic dictionary, calculator, electronic game device, word processor , Workstations, videophones, crime prevention TV monitors, electronic binoculars, POS terminals, medical equipment (eg, electronic thermometers, blood pressure monitors, blood glucose meters, electrocardiogram measuring devices, ultrasonic diagnostic devices, electronic endoscopes), fish detectors, Various measuring instruments and instruments (for example, vehicles, Check machine, instruments and ships), a flight simulator, can be applied to electronic devices of a device such as a mobile terminal the base station.
[移動体]
図10は移動体の一例としての自動車を概略的に示す斜視図である。自動車506には本発明に係る電子デバイス(振動子)1が搭載されている。例えば、同図に示すように、移動体としての自動車506には電子デバイス(振動子)1を内蔵してタイヤ509などを制御する電子制御ユニット508が車体507に搭載されている。また、電子デバイス(振動子)1は、他にもキーレスエントリー、イモビライザー、カーナビゲーションシステム、カーエアコン、アンチロックブレーキシステム(ABS)、エアバック、タイヤ・プレッシャー・モニタリング・システム(TPMS:Tire Pressure Monitoring System)、エンジンコントロール、ハイブリッド自動車や電気自動車の電池モニター、車体姿勢制御システム、等の電子制御ユニット(ECU:electronic control unit)に広く適用できる。
[Moving object]
FIG. 10 is a perspective view schematically showing an automobile as an example of a moving body. An
5…ベース基板、5a…ベース基板の第1面、5b…ベース基板の第2面、7,8…分割領域、10…シート基板、11…第1領域、11b…他の領域、12…第1端子、13…第5端子、14…接続配線、15,16…貫通配線、16b…他の領域の貫通配線、17…第1導電部としての第1環状電極、17b…他の領域の環状電極、18…貫通配線、19…導電性接着剤、20…電子部品としての振動素子、21,22,23,24…第1外部端子、22b…他の領域の外部端子、25,26…接続端子、31…第2領域、31b…他の領域、32,33…第2端子、34…接続配線、35,36…貫通配線、37…第2導電部としての第2環状電極、38…貫通配線、39…導電性接着剤、41,42,43,44…第1外部端子、51…第3領域、72…蓋体としてのリッド、91…第4領域、180…電子部品としてのサーミスター。 5 ... base substrate, 5a ... first surface of base substrate, 5b ... second surface of base substrate, 7, 8 ... divided region, 10 ... sheet substrate, 11 ... first region, 11b ... other region, 12 ... first 1 terminal, 13 ... fifth terminal, 14 ... connection wiring, 15, 16 ... through wiring, 16b ... through wiring in other region, 17 ... first annular electrode as first conductive portion, 17b ... annular in other region Electrode, 18 ... penetrating wiring, 19 ... conductive adhesive, 20 ... vibrating element as electronic component, 21, 22, 23, 24 ... first external terminal, 22b ... external terminal in other region, 25, 26 ... connection Terminal, 31 ... 2nd area | region, 31b ... Other area | region, 32, 33 ... 2nd terminal, 34 ... Connection wiring, 35, 36 ... Through wiring, 37 ... 2nd annular electrode as 2nd electroconductive part, 38 ... Through Wiring, 39 ... conductive adhesive, 41, 42, 43, 44 ... first external terminals, 5 ... third region, 72 ... lid as lid, 91 ... fourth region, 180 ... thermistor as an electronic component.
Claims (10)
前記第1領域に配置され、第1電子部品が接続される第1端子と、
前記第2領域に配置されている第2端子と、
前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、
前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し、前記第4領域に配置されている第2導電部と、
前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、
前記第2面に、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備え、
前記第1外部端子は、前記第2外部端子と電気的に接続されていることを特徴とするシート基板。 Having a first region and a second region on the first surface;
A first terminal disposed in the first region and connected to a first electronic component;
A second terminal disposed in the second region;
A first conductive portion having a third region surrounding the first terminal in the first region, the first conductive portion being disposed in the third region;
A second conductive part having a fourth region surrounding the second terminal in the second region, and being disposed in the fourth region;
A first external terminal disposed on a region overlapping the first region in plan view on the second surface in front-back relation with the first surface, and electrically connected to the first terminal;
A second external terminal disposed on the second surface in a region overlapping the second region in plan view and electrically connected to the second conductive portion;
The sheet substrate, wherein the first external terminal is electrically connected to the second external terminal.
前記第3端子は、前記第3領域に囲まれているとともに、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていないことを特徴とする請求項1に記載のシート基板。 A third terminal disposed in the first region and connected to a second electronic component;
2. The third terminal is surrounded by the third region, is electrically connected to the first conductive portion, and is not electrically connected to the first terminal. A sheet substrate according to 1.
前記第1外部端子と前記第2外部端子とは、前記貫通電極を介して電気的に接続されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のシート基板。 A boundary electrode between the first region and the second region includes a through electrode extending from the first surface to the second surface,
The sheet substrate according to claim 1, wherein the first external terminal and the second external terminal are electrically connected via the through electrode.
前記第1端子に第1電子部品を接続する工程と、
前記第2導電部に、導電性を有する第1蓋体を接続する工程と、を備えていることを特徴とする電子デバイスの製造方法。 The first surface has a first region and a second region, a first terminal disposed in the first region, a second terminal disposed in the second region, and the first terminal in the first region A fourth region having a third region surrounding the first terminal and having a first conductive portion disposed in the third region; and a fourth region surrounding the second terminal in the second region; And the second conductive portion arranged on the second surface and the second surface in front-back relation with the first surface are arranged in a region overlapping the first region in plan view, and electrically with the first terminal A first external terminal connected to the second surface, the second external portion being electrically connected to the first external terminal and disposed in a region overlapping the second region in plan view. And a second external terminal electrically connected to the electronic device using the sheet substrate Te,
Connecting a first electronic component to the first terminal;
And a step of connecting a conductive first lid to the second conductive portion. A method of manufacturing an electronic device, comprising:
前記第3端子に第2電子部品を接続する工程と、
前記第1導電部に導電性を有する第2蓋体を接続する工程と、を備えていることを特徴とする請求項5に記載の電子デバイスの製造方法。 The sheet substrate is disposed in the first region, is surrounded by the third region, is electrically connected to the first conductive portion, and is not electrically connected to the first terminal. Has a terminal,
Connecting a second electronic component to the third terminal;
The method for manufacturing an electronic device according to claim 5, further comprising: connecting a second lid having conductivity to the first conductive portion.
前記第1端子に第1電子部品を接続する工程と、
前記第1電子部品の特性を検査する工程と、を有し、
前記特性を検査する工程では、前記第2導電部に信号を入力して前記第1電子部品の特性を検査することを特徴とする電子デバイスの検査方法。 The first surface has a first region and a second region, a first terminal disposed in the first region, a second terminal disposed in the second region, and the first terminal in the first region A fourth region having a third region surrounding the first terminal and having a first conductive portion disposed in the third region; and a fourth region surrounding the second terminal in the second region; And the second conductive portion arranged on the second surface and the second surface in front-back relation with the first surface are arranged in a region overlapping the first region in plan view, and electrically with the first terminal A first external terminal connected to the second surface, the second external portion being electrically connected to the first external terminal and disposed in a region overlapping the second region in plan view. And a second external terminal electrically connected to the electronic device using the sheet substrate Te,
Connecting a first electronic component to the first terminal;
And inspecting the characteristics of the first electronic component,
In the step of inspecting the characteristics, a signal is input to the second conductive portion to inspect the characteristics of the first electronic component, and the method for inspecting an electronic device is characterized.
前記特性を検査する工程では、
前記第1蓋体に信号を入力して、前記第1電子部品を検査することを特徴とする請求項7に記載の電子デバイスの検査方法。 Connecting a first lid having conductivity to the second conductive portion;
In the step of inspecting the characteristics,
The electronic device inspection method according to claim 7, wherein the first electronic component is inspected by inputting a signal to the first lid.
前記第3端子に第2電子部品を接続する工程と、
前記第2電子部品の特性を検査する工程と、を有し、
前記特性を検査する工程では、前記第1導電部に信号を入力して前記第2電子部品を検査することを特徴とする請求項7に記載の電子デバイスの検査方法。 The sheet substrate is disposed in the first region, is surrounded by the third region, is electrically connected to the first conductive portion, and is not electrically connected to the first terminal. It has 3 terminals,
Connecting a second electronic component to the third terminal;
Inspecting characteristics of the second electronic component,
The method for inspecting an electronic device according to claim 7, wherein in the step of inspecting the characteristic, a signal is input to the first conductive portion to inspect the second electronic component.
前記第2導電部に導電性を有する第2蓋体を接続する工程と、を有し、
前記特性を検査する工程では、
前記第1蓋体および前記第2蓋体の少なくとも一方に信号を入力して、前記第1電子部品および前記第2電子部品の少なくとも一方を検査することを特徴とする請求項9に記載の電子デバイスの検査方法。 Connecting a first lid having conductivity to the first conductive portion;
Connecting a second lid having conductivity to the second conductive part,
In the step of inspecting the characteristics,
The electronic device according to claim 9, wherein a signal is input to at least one of the first lid and the second lid to inspect at least one of the first electronic component and the second electronic component. Device inspection method.
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WO2019107298A1 (en) * | 2017-11-29 | 2019-06-06 | Ngkエレクトロデバイス株式会社 | Sheet substrate and method for manufacturing sheet substrate |
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