JP2015041891A - Sheet substrate, method for manufacturing electronic device, and method for inspecting electronic device - Google Patents

Sheet substrate, method for manufacturing electronic device, and method for inspecting electronic device Download PDF

Info

Publication number
JP2015041891A
JP2015041891A JP2013172034A JP2013172034A JP2015041891A JP 2015041891 A JP2015041891 A JP 2015041891A JP 2013172034 A JP2013172034 A JP 2013172034A JP 2013172034 A JP2013172034 A JP 2013172034A JP 2015041891 A JP2015041891 A JP 2015041891A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
terminal
disposed
electronic component
electrically connected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013172034A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
協 堀江
Kyo Horie
協 堀江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2013172034A priority Critical patent/JP2015041891A/en
Publication of JP2015041891A publication Critical patent/JP2015041891A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/27Manufacturing methods
    • H01L2224/27011Involving a permanent auxiliary member, i.e. a member which is left at least partly in the finished device, e.g. coating, dummy feature
    • H01L2224/27013Involving a permanent auxiliary member, i.e. a member which is left at least partly in the finished device, e.g. coating, dummy feature for holding or confining the layer connector, e.g. solder flow barrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sheet substrate that can be probed without providing terminals dedicated to probing.SOLUTION: A sheet substrate 10 includes: first terminals 12, 13 arranged in a first region 11 of a first surface 5a and connected with a vibration element 20; second terminals 32, 33 arranged in a second region 31; a first annular electrode 17 arranged in a third region 51 surrounding the first terminals 12, 13; a second annular electrode 37 arranged in a fourth region 91 surrounding the second terminals 32, 33; first external terminals 21, 23 arranged in a region of a second surface reverse to the first surface 5a overlapping the first region 11 in a plan view, and electrically connected to the first terminals 12, 13; and a second external terminal 42 arranged in a region of the second surface overlapping the second region 31 in a plan view, and electrically connected to the second annular electrode 37. The first external terminal 23 is electrically connected to the second external terminal 42.

Description

本発明は、シート基板、およびシート基板を用いた電子デバイスの製造方法、ならびに電子デバイスの検査方法に関する。   The present invention relates to a sheet substrate, an electronic device manufacturing method using the sheet substrate, and an electronic device inspection method.

シート基板(母基板)上に、電子部品が接続されて構成された電子デバイスが複数配置し、シート基板を分割することによって個片化する電子デバイスの製造方法が知られている。近年、電子デバイスの小型化に伴い、シート基板上に配列された電子デバイス同士が近接し、検査用プローブの当接などがスペース的な制約から困難になり、種々の工夫が提案されている。例えば、特許文献1には、電子部品を搭載した第1基板領域と、その第1基板領域に隣接した第2基板領域を有し、第1領域に接続された素子と信号配線を介して接続され、第2基板領域の外表面に設けられた信号端子を備えた電子部品の製造方法が開示されている。その電子部品の製造方法では、第1基板領域の素子と、第2基板領域の信号端子とに、電気信号を与えて特性検査などを行っている。   2. Description of the Related Art There is known a method of manufacturing an electronic device in which a plurality of electronic devices configured by connecting electronic components are arranged on a sheet substrate (mother substrate) and separated into pieces by dividing the sheet substrate. In recent years, with the miniaturization of electronic devices, the electronic devices arranged on the sheet substrate have come close to each other, and it has become difficult to contact the inspection probe due to space limitations, and various devices have been proposed. For example, Patent Document 1 includes a first substrate region on which electronic components are mounted and a second substrate region adjacent to the first substrate region, and is connected to an element connected to the first region via a signal wiring. A method of manufacturing an electronic component having a signal terminal provided on the outer surface of the second substrate region is disclosed. In the electronic component manufacturing method, an electrical signal is applied to an element in the first substrate region and a signal terminal in the second substrate region to perform a characteristic inspection or the like.

特開2008−35486号公報JP 2008-35486 A

しかしながら、上述の電子部品の製造方法では、第2基板領域の外表面にプローブなどを当接させるための専用端子である信号端子が設けられている。そのため、シート基板を分割した後の電子デバイスには、その外表面に、当該電子デバイスの動作に不必要な端子が設けられているため、分割された電子デバイスの更なる小型化が困難であるという課題を有していた。   However, in the above-described method for manufacturing an electronic component, a signal terminal which is a dedicated terminal for bringing a probe or the like into contact with the outer surface of the second substrate region is provided. Therefore, since the electronic device after dividing the sheet substrate is provided with terminals unnecessary for the operation of the electronic device on the outer surface, it is difficult to further reduce the size of the divided electronic device. It had the problem that.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]本適用例に係るシート基板は、第1面に第1領域および第2領域を有し、前記第1領域に配置され、第1電子部品が接続される第1端子と、前記第2領域に配置されている第2端子と、前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し前記第4領域に配置されている第2導電部と、前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、前記第2面に、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備え、前記第1外部端子は、前記第2外部端子と電気的に接続されていることを特徴とする。   Application Example 1 A sheet substrate according to this application example includes a first terminal having a first region and a second region on a first surface, arranged in the first region, and connected to a first electronic component; A second terminal disposed in the second region; a third region surrounding the first terminal in the first region; the first conductive portion disposed in the third region; A second conductive portion disposed in the fourth region having a fourth region surrounding the second terminal in the two regions, and a second surface in front-back relation with the first surface, the first surface in a plan view. The first external terminal electrically connected to the first terminal and the second surface are disposed in a region overlapping with the second region in plan view. And a second external terminal electrically connected to the second conductive portion, wherein the first external terminal is Characterized in that it is connected to an external terminal electrically.

本適用例によれば、第1領域に配置されている第1端子は、第1外部端子と第2外部端子とを介して第2領域に配置されている第2導電部と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続される第1電子部品は、第2導電部を介して入力される信号により特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。   According to this application example, the first terminal disposed in the first region is electrically connected to the second conductive portion disposed in the second region via the first external terminal and the second external terminal. Has been. Thereby, the first electronic component connected to the first terminal can be subjected to a characteristic inspection or the like by a signal input via the second conductive portion. Accordingly, since the characteristic inspection of the first electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection, the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the dedicated terminal for inspection and the wiring portion related thereto can be obtained. The area can be reduced. In other words, the number of first regions and second regions that can be arranged on the sheet substrate can be increased, which can contribute to an improvement in manufacturing efficiency.

[適用例2]上記適用例に記載のシート基板において、前記第1領域に配置され、第2電子部品が接続される第3端子を有し、前記第3端子は、前記第3領域に囲まれているとともに、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていないことが好ましい。   Application Example 2 In the sheet substrate according to the application example described above, the sheet substrate includes a third terminal that is disposed in the first region and to which a second electronic component is connected, and the third terminal is surrounded by the third region. In addition, it is preferable that the first conductive portion is electrically connected and is not electrically connected to the first terminal.

本適用例によれば、上述に加え、第1領域に配置されている第1端子と電気的に接続されている第1領域の第1導電部を介して、第2電子部品の特性検査を行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく第2電子部品の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。   According to this application example, in addition to the above, the characteristic inspection of the second electronic component is performed via the first conductive portion of the first region electrically connected to the first terminal disposed in the first region. It can be carried out. Therefore, since the characteristic inspection of the second electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection, the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the dedicated terminal for inspection and the wiring portion related thereto can be obtained. The area can be reduced. In other words, the number of first regions and second regions that can be arranged on the sheet substrate can be increased, which can contribute to an improvement in manufacturing efficiency.

[適用例3]上記適用例に記載のシート基板において、前記第1領域と前記第2領域の境界部に、前記第1面から前記第2面に至る貫通電極を備え、前記第1外部端子と前記第2外部端子とは、前記貫通電極を介して電気的に接続されていることが好ましい。   Application Example 3 In the sheet substrate according to the application example described above, the first external terminal includes a through electrode extending from the first surface to the second surface at a boundary portion between the first region and the second region. It is preferable that the second external terminal and the second external terminal are electrically connected via the through electrode.

本適用例によれば、第1外部端子と第2外部端子とは、第1領域と第2領域の境界部に備えられている貫通電極を介して電気的に接続されている。したがって、専用の接続配線を設けることなく第1外部端子と第2外部端子とを電気的に接続することができる。   According to this application example, the first external terminal and the second external terminal are electrically connected via the through electrode provided at the boundary between the first region and the second region. Therefore, the first external terminal and the second external terminal can be electrically connected without providing a dedicated connection wiring.

[適用例4]上記適用例に記載のシート基板において、前記第1導電部および前記第2導電部のそれぞれに、導電性を有する蓋体が接続されていることが好ましい。   Application Example 4 In the sheet substrate according to the application example described above, it is preferable that a lid having conductivity is connected to each of the first conductive part and the second conductive part.

本適用例によれば、第1導電部接続されている導電性を有する蓋体と、第2導電部に接続されている導電性を有する蓋体とを介して、第1電子部品または第2電子部品の特性検査を行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品または第2電子部品の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。   According to this application example, the first electronic component or the second through the conductive lid connected to the first conductive portion and the conductive lid connected to the second conductive portion. It is possible to inspect the characteristics of electronic components. Accordingly, since the characteristic inspection of the first electronic component or the second electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection, the first region corresponding to the occupied portion of the dedicated terminal for inspection and the wiring portion related thereto. In addition, the area of the second region can be reduced.

[適用例5]本適用例に係る電子デバイスの製造方法は、第1面に第1領域および第2領域を有し、前記第1領域に配置されている第1端子と、前記第2領域に配置されている第2端子と、前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し、前記第4領域に配置されている第2導電部と、前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、前記第2面に、前記第1外部端子と電気的に接続され、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備えているシート基板を用いた電子デバイスの製造方法であって、前記第1端子に第1電子部品を接続する工程と、前記第2導電部に、導電性を有する第1蓋体を接続する工程と、を備えていることを特徴とする。   Application Example 5 An electronic device manufacturing method according to this application example includes a first terminal having a first region and a second region on a first surface, the first terminal disposed in the first region, and the second region. A second terminal disposed in the first region, a third region surrounding the first terminal in the first region, a first conductive portion disposed in the third region, and in the second region A first region having a fourth region surrounding the second terminal, and a second conductive portion disposed in the fourth region; and a second surface in a front-back relationship with the first surface; A first external terminal that is disposed in the overlapping region and is electrically connected to the first terminal, and is electrically connected to the first external terminal on the second surface, and is A second external terminal disposed in a region overlapping with the second region and electrically connected to the second conductive portion. A method of manufacturing an electronic device using a sheet substrate, wherein a step of connecting a first electronic component to the first terminal and a step of connecting a first lid having conductivity to the second conductive portion And.

本適用例によれば、第1端子は、第1外部端子と第2外部端子とを介して第2導電部に接続されている第1蓋体と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続される第1電子部品は、第1蓋体を介して入力される信号により測定などを行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に、測定用の専用端子を設けることなく第1電子部品の測定などを行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くする、即ち小型の電子デバイスを効率よく製造することが可能となる。   According to this application example, the first terminal is electrically connected to the first lid that is connected to the second conductive portion via the first external terminal and the second external terminal. Thereby, the 1st electronic component connected to the 1st terminal can perform a measurement etc. by the signal inputted via the 1st lid. Therefore, since the first electronic component can be measured without providing a dedicated measurement terminal on the second surface of the sheet substrate that overlaps the first and second regions, the dedicated terminal and the wiring associated therewith can be occupied. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the portion. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate, that is, to efficiently manufacture a small electronic device.

[適用例6]上記適用例に記載の電子デバイスの製造方法において、前記シート基板は、前記第1領域に配置され、前記第3領域に囲まれており、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていない第3端子を有しており、前記第3端子に第2電子部品を接続する工程と、前記第1導電部に、導電性を有する第2蓋体を接続する工程と、を備えていることが好ましい。   Application Example 6 In the method of manufacturing an electronic device according to the application example, the sheet substrate is disposed in the first region and surrounded by the third region, and is electrically connected to the first conductive portion. A third terminal that is connected and not electrically connected to the first terminal; and a step of connecting a second electronic component to the third terminal; And a step of connecting the second lid body.

本適用例によれば、第1端子は、第2導電部に接続されている第1蓋体と電気的に接続されている。また、第3端子は、第1導電部に接続されている第2蓋体と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品および第3端子に接続されている第2電子部品は、第1蓋体および第2蓋体を介して入力される信号により測定などを行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品および第2電子部品の測定などを行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち複数の電子部品を備えた小型の電子デバイスを効率よく製造することが可能となる。   According to this application example, the first terminal is electrically connected to the first lid that is connected to the second conductive portion. The third terminal is electrically connected to the second lid connected to the first conductive part. As a result, the first electronic component connected to the first terminal and the second electronic component connected to the third terminal are measured by signals input through the first lid and the second lid. It can be carried out. Accordingly, the first electronic component and the second electronic component can be measured without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate overlapping the first region and the second region. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the associated wiring. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, a small electronic device having a plurality of electronic components can be efficiently manufactured.

[適用例7]本適用例に係る電子デバイスの検査方法は、第1面に第1領域および第2領域を有し、前記第1領域に配置されている第1端子と、前記第2領域に配置されている第2端子と、前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し、前記第4領域に配置されている第2導電部と、前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、前記第2面に、前記第1外部端子と電気的に接続され、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備えているシート基板を用いた電子デバイスの検査方法であって、前記第1端子に第1電子部品を接続する工程と、前記第1電子部品の特性を検査する工程と、を有し、前記特性を検査する工程では、前記第2導電部に信号を入力して前記第1電子部品の特性を検査することを特徴とする。   Application Example 7 An electronic device inspection method according to this application example includes a first terminal having a first area and a second area on a first surface, the first terminal disposed in the first area, and the second area. A second terminal disposed in the first region, a third region surrounding the first terminal in the first region, a first conductive portion disposed in the third region, and in the second region A first region having a fourth region surrounding the second terminal, and a second conductive portion disposed in the fourth region; and a second surface in a front-back relationship with the first surface; A first external terminal that is disposed in the overlapping region and is electrically connected to the first terminal, and is electrically connected to the first external terminal on the second surface, and is A second external terminal disposed in a region overlapping with the second region and electrically connected to the second conductive portion. A method for inspecting an electronic device using a sheet substrate comprising: a step of connecting a first electronic component to the first terminal; and a step of inspecting a characteristic of the first electronic component. In the step of inspecting, the characteristic of the first electronic component is inspected by inputting a signal to the second conductive portion.

本適用例によれば、第1端子は、第1外部端子と第2外部端子とを介して第2導電部と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品は、第2導電部を介して入力される信号により特性検査を行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品の特性検査を行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち電子デバイスの小型化に適用可能な検査方法を提供することができる。   According to this application example, the first terminal is electrically connected to the second conductive portion via the first external terminal and the second external terminal. As a result, the first electronic component connected to the first terminal can be subjected to characteristic inspection by a signal input via the second conductive portion. Accordingly, the characteristic inspection of the first electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate that overlaps the first region and the second region, so that the dedicated terminal and the wiring portion related thereto are occupied. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the portion. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, it is possible to provide an inspection method applicable to downsizing of an electronic device.

[適用例8]上記適用例に記載の電子デバイスの検査方法において、前記第2導電部に導電性を有する第1蓋体を接続する工程を有し、前記特性を検査する工程では、前記第1蓋体に信号を入力して、前記第1電子部品を検査することが好ましい。   Application Example 8 In the electronic device inspection method according to the application example described above, the electronic device inspection method includes a step of connecting a first lid having conductivity to the second conductive portion, and in the step of inspecting the characteristics, It is preferable to inspect the first electronic component by inputting a signal to one lid.

本適用例によれば、第1端子は、第2導電部に接続されている第1蓋体と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品は、第1蓋体を介して入力される信号により特性検査を行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品の特性検査を行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち複数の電子部品を備えた電子デバイスの小型化に適用可能な検査方法を提供することができる。   According to this application example, the first terminal is electrically connected to the first lid that is connected to the second conductive portion. As a result, the first electronic component connected to the first terminal can be subjected to a characteristic inspection by a signal input through the first lid. Accordingly, the characteristic inspection of the first electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate that overlaps the first region and the second region, so that the dedicated terminal and the wiring portion related thereto are occupied. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the portion. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, it is possible to provide an inspection method applicable to miniaturization of an electronic device including a plurality of electronic components.

[適用例9]上記適用例に記載の電子デバイスの検査方法において、前記シート基板には、前記第1領域に配置され、前記第3領域に囲まれており、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていない第3端子を有しており、前記第3端子に第2電子部品を接続する工程と、前記第2電子部品の特性を検査する工程と、を有し、前記特性を検査する工程では、前記第1導電部に信号を入力して前記第2電子部品を検査することが好ましい。   Application Example 9 In the electronic device inspection method according to the application example, the sheet substrate is disposed in the first region and surrounded by the third region, and is electrically connected to the first conductive unit. And a third terminal that is not electrically connected to the first terminal, the step of connecting the second electronic component to the third terminal, and the characteristics of the second electronic component are inspected In the step of inspecting the characteristics, it is preferable to inspect the second electronic component by inputting a signal to the first conductive portion.

本適用例によれば、第1端子は、第2導電部と電気的に接続されている。また、第3端子は、第1導電部と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品および第3端子に接続されている第2電子部品は、第1導電部または第2導電部を介して入力される信号により特性検査を行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品および第2電子部品の特性検査を行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち複数の電子部品を備えた電子デバイスの小型化に適用可能な検査方法を提供することができる。   According to this application example, the first terminal is electrically connected to the second conductive portion. The third terminal is electrically connected to the first conductive part. Accordingly, the first electronic component connected to the first terminal and the second electronic component connected to the third terminal are subjected to a characteristic inspection by a signal input via the first conductive portion or the second conductive portion. It can be carried out. Therefore, the characteristic inspection of the first electronic component and the second electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate overlapping the first region and the second region. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the associated wiring. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, it is possible to provide an inspection method applicable to miniaturization of an electronic device including a plurality of electronic components.

[適用例10]上記適用例に記載の電子デバイスの検査方法において、前記第1導電部に導電性を有する第1蓋体を接続する工程と、前記第2導電部に導電性を有する第2蓋体を接続する工程と、を有し、前記特性を検査する工程では、前記第1蓋体および前記第2蓋体の少なくとも一方に信号を入力して、前記第1電子部品および前記第2電子部品の少なくとも一方の特性を検査することが好ましい。   Application Example 10 In the inspection method for an electronic device according to the application example described above, a step of connecting a first lid having conductivity to the first conductive portion, and a second property having conductivity to the second conductive portion. Connecting the lid, and inspecting the characteristic, a signal is input to at least one of the first lid and the second lid, and the first electronic component and the second It is preferable to inspect at least one characteristic of the electronic component.

本適用例によれば、第1端子は、第2導電部に接続されている第1蓋体と電気的に接続されている。また、第3端子は、第1導電部に接続されている第2蓋体と電気的に接続されている。これにより、第1端子に接続されている第1電子部品および第3端子に接続されている第2電子部品は、第1蓋体および第2蓋体の少なくとも一方を介して入力される信号により特性検査を行うことができる。したがって、第1領域および第2領域と重なるシート基板の第2面に検査用の専用端子を設けることなく第1電子部品および第2電子部品の特性検査を行うことができるため、専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板に配置できる第1領域、および第2領域の配置数を多くすることが可能となる。即ち複数の電子部品を備えた電子デバイスの小型化に適用可能な検査方法を提供することができる。   According to this application example, the first terminal is electrically connected to the first lid that is connected to the second conductive portion. The third terminal is electrically connected to the second lid connected to the first conductive part. As a result, the first electronic component connected to the first terminal and the second electronic component connected to the third terminal are caused by a signal input via at least one of the first lid and the second lid. Characteristic inspection can be performed. Therefore, the characteristic inspection of the first electronic component and the second electronic component can be performed without providing a dedicated terminal for inspection on the second surface of the sheet substrate overlapping the first region and the second region. It is possible to reduce the area of the first region and the second region corresponding to the occupied portion of the wiring portion concerned. In other words, it is possible to increase the number of first regions and second regions that can be disposed on the sheet substrate. That is, it is possible to provide an inspection method applicable to miniaturization of an electronic device including a plurality of electronic components.

第1実施形態に係るシート基板の概略構成を示す平面図。The top view which shows schematic structure of the sheet | seat board | substrate which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るシート基板の概略構成を示し、(a)は図1のA−A断面図、(b)は図1のB−B断面図。The schematic structure of the sheet | seat board | substrate which concerns on 1st Embodiment is shown, (a) is AA sectional drawing of FIG. 1, (b) is BB sectional drawing of FIG. 第2実施形態に係るシート基板の概略構成を示し、(a)は平面図、(b)はC−C断面図。The schematic structure of the sheet | seat board | substrate which concerns on 2nd Embodiment is shown, (a) is a top view, (b) is CC sectional drawing. 蓋体を用いたシート基板(電子デバイス)の概略構成の一例を示し、図1のB−B断面に相当する断面図。Sectional drawing which shows an example of schematic structure of the sheet | seat board | substrate (electronic device) using a cover body, and is equivalent to the BB cross section of FIG. シート基板の変形例を示し、(a)は部分平面図、(b)はD−D断面図。The modification of a sheet | seat board | substrate is shown, (a) is a fragmentary top view, (b) is DD sectional drawing. シート基板を用いた電子デバイスの製造工程を示す工程フロー図。The process flowchart which shows the manufacturing process of the electronic device using a sheet | seat board | substrate. 電子機器の一例としてのモバイル型のパーソナルコンピューターの構成を示す斜視図。The perspective view which shows the structure of the mobile type personal computer as an example of an electronic device. 電子機器の一例としての携帯電話機の構成を示す斜視図。The perspective view which shows the structure of the mobile telephone as an example of an electronic device. 電子機器の一例としてのデジタルスチールカメラの構成を示す斜視図。The perspective view which shows the structure of the digital still camera as an example of an electronic device. 移動体の一例としての自動車の構成を示す斜視図。The perspective view which shows the structure of the motor vehicle as an example of a mobile body.

以下、本発明に係るシート基板、シート基板を用いた電子デバイスの製造方法、およびシート基板を用いた電子デバイスの検査方法について、添付図面に示す実施形態に基づいて図面を参照しながら詳細に説明する。   Hereinafter, a sheet substrate, an electronic device manufacturing method using the sheet substrate, and an electronic device inspection method using the sheet substrate according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings based on the embodiments shown in the accompanying drawings. To do.

<シート基板>
(第1実施形態)
図1、図2を用い、本発明の第1実施形態に係るシート基板について説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係るシート基板の概略構成を示す平面図である。図2は、本発明の第1実施形態に係るシート基板の概略構成を示す断面図であり、図2(a)は図1のA−A断面図、図2(b)は図1のB−B断面図である。なお、図1においては、図面の見易さから、第1電子部品としての振動素子を想像線(二点鎖線)で示してある。
<Sheet substrate>
(First embodiment)
A sheet substrate according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a sheet substrate according to the first embodiment of the present invention. 2 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of the sheet substrate according to the first embodiment of the present invention, FIG. 2A is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 1, and FIG. 2B is a cross-sectional view of FIG. It is -B sectional drawing. In FIG. 1, for the sake of easy viewing, the vibration element as the first electronic component is indicated by an imaginary line (two-dot chain line).

図1、図2に示すように、第1実施形態に係るシート基板(母基板)10は、ベース基板5と、ベース基板5の第1面5aに配置されている第1領域11、および第2領域31と、を有している。ベース基板5の構成材料としては、絶縁性(非導電性)を有しているものが好ましく、例えば、各種ガラス、酸化物セラミックス、窒化物セラミックス、炭化物系セラミックス等の各種セラミックス材料、ポリイミド等の各種樹脂材料などを用いることができる。シート基板10には、第1領域11および第2領域31のセットが、マトリックス状に配置されている。隣り合うそれぞれの領域の間には、それぞれの領域を一つの電子デバイスとして個片化する際の分割領域7,8が設けられている。分割領域7,8は、個片化された電子デバイスが略矩形状の外形形状となるように設けられている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the sheet substrate (mother substrate) 10 according to the first embodiment includes a base substrate 5, a first region 11 disposed on the first surface 5 a of the base substrate 5, and a first substrate 11. 2 regions 31. The constituent material of the base substrate 5 is preferably an insulating (non-conductive) material, such as various glass materials, various ceramic materials such as oxide ceramics, nitride ceramics, carbide ceramics, polyimide, etc. Various resin materials can be used. A set of the first region 11 and the second region 31 is arranged in a matrix on the sheet substrate 10. Between the adjacent areas, there are provided divided areas 7 and 8 for dividing each area into one electronic device. The divided regions 7 and 8 are provided so that the separated electronic device has a substantially rectangular outer shape.

ここで、図1において符号11で示す領域を第1領域としたとき、図中横並びに配置されている符号31で示す領域が第2領域、図中縦並びに配置されている符号11bで示す領域が他の領域となる。なお、この配置は、マトリックス状に並んでいる領域のいずれかを第1領域としても同様な構成とすることができる。例えば、符号31で示す領域を第1領域としたときには、図中横並びに配置されている符号31の左側の領域(本例では、符号31で示す領域が、シート基板10の左端部となっているため、この領域は存在しない。)が第2領域となる。また、図中縦並びに配置されている符号31で示す領域の下側の符号31bで示す領域が、他の領域となる。   Here, when the area indicated by reference numeral 11 in FIG. 1 is the first area, the area indicated by reference numeral 31 arranged side by side in the figure is the second area, and the area indicated by reference numeral 11b arranged vertically in the figure. Is another area. In addition, this arrangement | positioning can also be set as the same structure even if either of the area | regions located in a matrix form is made into the 1st area | region. For example, when the area indicated by the reference numeral 31 is the first area, the area on the left side of the reference numeral 31 arranged side by side in the figure (in this example, the area indicated by the reference numeral 31 is the left end portion of the sheet substrate 10. Therefore, this area does not exist.) Is the second area. In addition, the area indicated by reference numeral 31b on the lower side of the area indicated by reference numeral 31 arranged vertically in the figure is another area.

第1領域11には、第1電子部品としての振動素子20が接続される第1端子12、および第5端子13と、第1端子12、および第5端子13を囲む第3領域51に配置されている第1導電部としての第1環状電極17と、が設けられている。同様に、第2領域31には、第1電子部品としての振動素子20が接続される第2端子32,33と、第2端子32,33を囲む第4領域91に配置されている第2導電部としての第2環状電極37と、が設けられている。第1領域11の第1端子12と第5端子13、および第2領域31の第2端子32,33は、例えば、銀・パラジウムなどの導電ペーストあるいはタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成される。また、第1端子12から延設されている接続配線14、および第2端子32から延設されている接続配線34も上述と同様な構成で形成される。   The first region 11 is arranged in the third region 51 surrounding the first terminal 12 and the fifth terminal 13, and the first terminal 12 and the fifth terminal 13 to which the vibration element 20 as the first electronic component is connected. And a first annular electrode 17 as a first conductive portion. Similarly, in the second region 31, second terminals 32 and 33 to which the vibration element 20 as the first electronic component is connected, and a second region 91 disposed in the fourth region 91 surrounding the second terminals 32 and 33. A second annular electrode 37 is provided as a conductive portion. For example, the first terminal 12 and the fifth terminal 13 in the first region 11 and the second terminals 32 and 33 in the second region 31 are made of a conductive paste such as silver or palladium or tungsten metallized, and have a required shape. It is formed by baking after forming and then plating nickel and gold or silver. The connection wiring 14 extending from the first terminal 12 and the connection wiring 34 extending from the second terminal 32 are also formed in the same configuration as described above.

第1環状電極17、および第2環状電極37は、上述と同様に、銀・パラジウムなどの導電ペーストあるいはタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成することができる。なお、第1環状電極17、および第2環状電極37は、上述の構成の電極上に、例えばコバール等の合金で形成されたシームリング(図示せず)が設けられている構成であってもよい。シームリングは、後述する蓋体としてのリッド72(図4参照)との接合材としての機能を有しており、ベース基板5の第1面5aに沿って枠状(略矩形状の環状)に設けられる。   Similarly to the above, the first annular electrode 17 and the second annular electrode 37 are baked after forming a required shape using a conductive paste such as silver or palladium or tungsten metallized, and then nickel and gold or It can be formed by plating silver or the like. The first annular electrode 17 and the second annular electrode 37 may be configured such that a seam ring (not shown) formed of an alloy such as Kovar is provided on the electrode having the above-described configuration. Good. The seam ring has a function as a bonding material with a lid 72 (see FIG. 4) as a lid, which will be described later, and has a frame shape (substantially rectangular ring shape) along the first surface 5a of the base substrate 5. Is provided.

さらに、第1面5aと表裏関係にあるベース基板5の第2面5bには、第1面5aが正面となる方向から視認する平面視で、第1領域11と重なる領域に配置されている第1外部端子21,22,23,24が設けられている。また、ベース基板5の第2面5bには、同様な平面視で、第2領域31と重なる領域に配置されている第2外部端子41,42,43,44が設けられている。第1外部端子21,22,23,24、および第2外部端子41,42,43,44は、例えばタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成される。   Furthermore, the second surface 5b of the base substrate 5 that is in front-to-back relation with the first surface 5a is disposed in a region that overlaps the first region 11 in plan view when the first surface 5a is viewed from the front direction. First external terminals 21, 22, 23, and 24 are provided. The second surface 5 b of the base substrate 5 is provided with second external terminals 41, 42, 43, 44 arranged in a region overlapping the second region 31 in the same plan view. The first external terminals 21, 22, 23, 24 and the second external terminals 41, 42, 43, 44 are made of, for example, tungsten metallized and fired after forming a required shape, and then nickel and gold or It is formed by plating silver or the like.

隣接する領域に配置されている第1外部端子21と外部端子22bとは、ベース基板5の第2面5bに設けられている接続端子26によって電気的に接続されている。また、同様に隣接する領域に配置されている第1外部端子23と第2外部端子42とは、ベース基板5の第2面5bに設けられている接続端子25によって電気的に接続されている。   The first external terminals 21 and the external terminals 22b arranged in the adjacent regions are electrically connected by connection terminals 26 provided on the second surface 5b of the base substrate 5. Similarly, the first external terminal 23 and the second external terminal 42 arranged in the adjacent region are electrically connected by the connection terminal 25 provided on the second surface 5 b of the base substrate 5. .

第1領域11におけるベース基板5には、第1面5aから第2面5bに貫通する貫通配線15,16,18が設けられている。貫通配線15は、第1端子12から延設されている接続配線14と接続されるとともに、第1外部端子21と接続されている。貫通配線16は、第1環状電極17と接続されるとともに、第1外部端子22と接続されている。貫通配線18は、第5端子13と接続されるとともに、第1外部端子23と接続されている。同様に、第2領域31におけるベース基板5には、第1面5aから第2面5bに貫通する貫通配線35,36,38が設けられている。貫通配線35は、第2端子32から延設されている接続配線34と接続されるとともに、第2外部端子41と接続されている。貫通配線36は、第2環状電極37と接続されるとともに、第2外部端子42と接続されている。貫通配線38は、第2端子33と接続されるとともに、第2外部端子43と接続されている。   The base substrate 5 in the first region 11 is provided with through wirings 15, 16, 18 penetrating from the first surface 5 a to the second surface 5 b. The through wiring 15 is connected to the connection wiring 14 extending from the first terminal 12 and to the first external terminal 21. The through wiring 16 is connected to the first annular electrode 17 and to the first external terminal 22. The through wiring 18 is connected to the fifth terminal 13 and to the first external terminal 23. Similarly, the base substrate 5 in the second region 31 is provided with through-wirings 35, 36, and 38 penetrating from the first surface 5a to the second surface 5b. The through wiring 35 is connected to the connection wiring 34 extending from the second terminal 32 and to the second external terminal 41. The through wiring 36 is connected to the second annular electrode 37 and to the second external terminal 42. The through wiring 38 is connected to the second terminal 33 and to the second external terminal 43.

上述のような構成により、第1外部端子21は、第1領域11の第1面5aに設けられている接続配線14および貫通配線15を介して第1端子12と電気的に接続されている。さらに、第1外部端子21は、第2面5bに配置されている接続端子26を介してマトリックス状に配置されて隣接する他の領域11bに設けられている外部端子22bと接続され、貫通配線16bを介して環状電極17bと電気的に接続されている。即ち、第1端子12は、接続配線14、貫通配線15、第1外部端子21、接続端子26、外部端子22b、および貫通配線16bを介して他の領域11bの環状電極17bと電気的に接続されている。   With the configuration as described above, the first external terminal 21 is electrically connected to the first terminal 12 via the connection wiring 14 and the through wiring 15 provided on the first surface 5 a of the first region 11. . Further, the first external terminal 21 is connected to the external terminal 22b provided in the other adjacent region 11b and arranged in a matrix through the connection terminals 26 arranged on the second surface 5b, and the through wiring It is electrically connected to the annular electrode 17b through 16b. That is, the first terminal 12 is electrically connected to the annular electrode 17b in the other region 11b through the connection wiring 14, the through wiring 15, the first external terminal 21, the connection terminal 26, the external terminal 22b, and the through wiring 16b. Has been.

また、第2外部端子42は、第2領域31に設けられている貫通配線36を介して第2導電部としての第2環状電極37と電気的に接続されている。さらに、第2外部端子42は、第2面5bに配置されている接続端子25により第1外部端子23と接続され、貫通配線18を介して第5端子13と接続されている。即ち、第5端子13は、貫通配線18、第1外部端子23、接続端子25、第2外部端子42、および貫通配線36を介して第2環状電極37と電気的に接続されている。   The second external terminal 42 is electrically connected to the second annular electrode 37 serving as the second conductive portion via the through wiring 36 provided in the second region 31. Further, the second external terminal 42 is connected to the first external terminal 23 by the connection terminal 25 disposed on the second surface 5 b, and is connected to the fifth terminal 13 through the through wiring 18. That is, the fifth terminal 13 is electrically connected to the second annular electrode 37 via the through wiring 18, the first external terminal 23, the connection terminal 25, the second external terminal 42, and the through wiring 36.

第1電子部品としての振動素子20は、第1領域11では第1端子12と第5端子13とに導電性接着剤19などの接合材によって接続され、第2領域31では、第2端子32,33に導電性接着剤39などの接合材によって接続されている。本実施形態の振動素子20は、圧電材料の一例としての水晶により形成されたATカット水晶基板(圧電基板)が用いられている。水晶等の圧電材料は、互いに直交する結晶軸X、Y、Zを有しており、本実施形態の水晶基板は、XZ面をX軸の回りに所定の角度θだけ回転させた平面に沿って、水晶から切り出された平板が振動素子20として用いられる。例えば、ATカット水晶基板の場合は、θは略35°15′である。なお、水晶基板は、前述のような角度θが略35°15′のATカットに限定されるものではなく、厚みすべり振動を励振するSCカット、BTカット、音叉振動を励振するXカット、等の他の圧電基板であってもよい。また、振動素子20は、例えばシリコン基板を素材とした素子基板上に、例えばPZTなどを用いた圧電体層を含む駆動部が設けられている構成であってもよい。   The vibration element 20 as the first electronic component is connected to the first terminal 12 and the fifth terminal 13 by a bonding material such as a conductive adhesive 19 in the first region 11, and in the second region 31, the second terminal 32. , 33 are connected to each other by a bonding material such as a conductive adhesive 39. The vibration element 20 of the present embodiment uses an AT-cut quartz substrate (piezoelectric substrate) formed of quartz as an example of a piezoelectric material. A piezoelectric material such as quartz has crystal axes X, Y, and Z orthogonal to each other, and the quartz substrate of this embodiment is along a plane obtained by rotating the XZ plane around the X axis by a predetermined angle θ. Thus, a flat plate cut out from the crystal is used as the vibration element 20. For example, in the case of an AT cut quartz substrate, θ is approximately 35 ° 15 ′. The quartz substrate is not limited to the AT cut with the angle θ of about 35 ° 15 ′ as described above, but is an SC cut for exciting thickness shear vibration, BT cut, X cut for exciting tuning fork vibration, etc. Other piezoelectric substrates may be used. The vibration element 20 may have a configuration in which a driving unit including a piezoelectric layer using, for example, PZT is provided on an element substrate made of, for example, a silicon substrate.

振動素子20は、前述のATカット水晶基板が分割されて形成された矩形状の素子片に、励振電極、引き出し電極、および接続電極などの電極が形成されているが、図示していない。振動素子20と第1端子12、および第5端子13との接続は、素子片の表裏面(主面)に設けられているそれぞれの励振電極と接続された接続電極の部分に導電性接着剤が位置するように配置されて行われる。なお、素子片の形状は矩形状に限らず、楕円状、台形状、三角形状、四角形状等であってもよい。   In the vibration element 20, electrodes such as an excitation electrode, an extraction electrode, and a connection electrode are formed on a rectangular element piece formed by dividing the AT-cut quartz crystal substrate, but this is not shown. The vibration element 20 is connected to the first terminal 12 and the fifth terminal 13 with a conductive adhesive applied to the portion of the connection electrode connected to each excitation electrode provided on the front and back surfaces (main surface) of the element piece. Is arranged to be located. Note that the shape of the element piece is not limited to a rectangular shape, and may be an elliptical shape, a trapezoidal shape, a triangular shape, a rectangular shape, or the like.

上述した第1実施形態のシート基板10によれば、第1領域11に配置されている振動素子20と接続された第1端子12は、接続配線14、貫通配線15、第1外部端子21、接続端子26、および他の領域11bに配置されている外部端子22bおよび貫通配線16bを介して他の領域11bに配置された環状電極17bと電気的に接続されている。また、第1領域11に配置されている振動素子20と接続された第5端子13は、貫通配線18、第1外部端子23、接続端子25、および第2領域31に配置されている第2外部端子42および貫通配線36を介して第2領域に配置された第2環状電極37と電気的に接続されている。これにより、第1領域11にあって、第1端子12と第5端子13とに接続されている第1電子部品としての振動素子20は、他の領域11bに配置されている環状電極17b、および第2領域31に配置されている第2環状電極37に入力される信号により特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく振動素子20の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域11および第2領域31、並びに他の領域11bの面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板10に配置できる第1領域11、および第2領域31、並びに他の領域11bの配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。なお、本実施例では、第1電子部品としての振動素子20を、他の領域11bに配置されている環状電極17bと、第2領域31に配置されている第2環状電極37とに入力される信号を用いて特性検査を行うことができるとしているが、これに限らず、第2環状電極37に入力された信号が振動素子20によって反射された信号を、第2環状電極37を用いて検出するなどの方法を用いても、振動素子20の特性検査などを行うことができる。   According to the sheet substrate 10 of the first embodiment described above, the first terminal 12 connected to the vibration element 20 disposed in the first region 11 includes the connection wiring 14, the through wiring 15, the first external terminal 21, The connection terminal 26 is electrically connected to the annular electrode 17b disposed in the other region 11b through the external terminal 22b disposed in the other region 11b and the through wiring 16b. Further, the fifth terminal 13 connected to the vibration element 20 arranged in the first region 11 has the through wiring 18, the first external terminal 23, the connection terminal 25 and the second region 31 arranged in the second region 31. The second annular electrode 37 disposed in the second region is electrically connected via the external terminal 42 and the through wiring 36. Accordingly, the vibration element 20 as the first electronic component connected to the first terminal 12 and the fifth terminal 13 in the first region 11 is provided with the annular electrode 17b disposed in the other region 11b, Further, a characteristic inspection or the like can be performed by a signal input to the second annular electrode 37 disposed in the second region 31. Therefore, since the characteristic inspection of the vibration element 20 can be performed without providing a dedicated terminal for inspection, the first region 11 and the second region 31 corresponding to the occupied portion of the dedicated terminal for inspection and the wiring portion related thereto. In addition, the area of the other region 11b can be reduced. In other words, it is possible to increase the number of first regions 11, the second regions 31, and the other regions 11b that can be disposed on the sheet substrate 10 and contribute to an improvement in manufacturing efficiency. In this embodiment, the vibration element 20 as the first electronic component is input to the annular electrode 17b disposed in the other region 11b and the second annular electrode 37 disposed in the second region 31. However, the present invention is not limited to this, and a signal obtained by reflecting the signal input to the second annular electrode 37 by the vibration element 20 can be obtained using the second annular electrode 37. Even if a method such as detection is used, the characteristics of the vibration element 20 can be inspected.

(第2実施形態)
次に、図3を用い、本発明の第2実施形態に係るシート基板について説明する。図3は、本発明の第2実施形態に係るシート基板の概略構成を示す図であり、図3(a)は平面図であり、図3(b)は図3(a)のC−C断面図である。なお、同図においては、図面の見易さから、第1電子部品としての振動素子を想像線(二点鎖線)で示してある。また、上述の第1実施形態と同様な構成につては、詳細な説明を省略することがある。
(Second Embodiment)
Next, the sheet | seat board | substrate which concerns on 2nd Embodiment of this invention is demonstrated using FIG. FIG. 3 is a diagram showing a schematic configuration of a sheet substrate according to the second embodiment of the present invention, FIG. 3 (a) is a plan view, and FIG. 3 (b) is a CC view of FIG. 3 (a). It is sectional drawing. In the figure, for the sake of easy viewing, the vibration element as the first electronic component is indicated by an imaginary line (two-dot chain line). In addition, detailed description of the same configuration as in the first embodiment may be omitted.

図3(a)、(b)に示すように、第2実施形態に係るシート基板100は、ベース基板105と、ベース基板105の第1面105aに配置されている第1領域111、および第2領域131と、を有している。また、ベース基板105の第1面105aには、他の領域としての領域201および領域211を有している。ベース基板105の構成材料としては、絶縁性(非導電性)を有しているものが好ましく、例えば、各種ガラス、酸化物セラミックス、窒化物セラミックス、炭化物系セラミックス等の各種セラミックス材料、ポリイミド等の各種樹脂材料などを用いることができる。シート基板100には、第1領域111および第2領域131のセットが、マトリックス状に配置されている。隣り合うそれぞれの領域の間には、それぞれの領域を一つの電子デバイスとして個片化する際の分割領域7,8が交差する方向に設けられている。   As shown in FIGS. 3A and 3B, the sheet substrate 100 according to the second embodiment includes a base substrate 105, a first region 111 disposed on the first surface 105 a of the base substrate 105, and a first substrate 111. 2 regions 131. Further, the first surface 105 a of the base substrate 105 has a region 201 and a region 211 as other regions. The constituent material of the base substrate 105 is preferably an insulating (non-conductive) material, such as various glass materials, various ceramic materials such as oxide ceramics, nitride ceramics, carbide ceramics, polyimide, etc. Various resin materials can be used. In the sheet substrate 100, a set of the first region 111 and the second region 131 is arranged in a matrix. Between the adjacent regions, the divided regions 7 and 8 when the respective regions are separated into one electronic device are provided in a direction in which they intersect.

ここで、図3において符号111で示す領域を第1領域としたとき、図中横並びに配置されている符号131で示す領域が第2領域となる。また、第1領域111と図中縦並びに配置されている領域が他の領域としての領域211となり、第2領域131と図中縦並びに配置されている領域が他の領域としての領域201となる。なお、この配置は、マトリックス状に並んでいる領域のいずれかを第1領域としても同様な構成とすることができる。例えば、符号131で示す領域を第1領域としたときには、図中横並びに第1領域131の左側に配置されている領域(本例では、符号131で示す領域が、シート基板100の左端部となっているため、この領域は存在しない。)が第2領域となる。   Here, when the area denoted by reference numeral 111 in FIG. 3 is the first area, the area denoted by reference numeral 131 arranged side by side in the figure is the second area. In addition, the region arranged in the vertical direction in the drawing with the first region 111 becomes a region 211 as another region, and the region arranged in the vertical direction in the drawing in the second region 131 becomes a region 201 as another region. . In addition, this arrangement | positioning can also be set as the same structure even if either of the area | regions located in a matrix form is made into the 1st area | region. For example, when the area indicated by reference numeral 131 is the first area, the area arranged on the left side of the first area 131 in the figure (in this example, the area indicated by reference numeral 131 is the left end portion of the sheet substrate 100). Therefore, this area does not exist.) Is the second area.

第1領域111には、第1電子部品としての振動素子120が接続される第1端子112、および第5端子113と、第2電子部品としてのサーミスター180が接続される第3端子181、および第4端子182と、第1端子112、第5端子113、第3端子181、および第4端子182を囲む第3領域171に配置されている第1導電部としての第1環状電極117と、が設けられている。同様に、第2領域131には、第1電子部品としての振動素子120が接続される第2端子112b,113bと、第2電子部品としてのサーミスター180bが接続される第3端子181b、および第4端子182bと、第2端子112b,113b、第3端子181b、および第4端子182bを囲む第4領域171bに配置されている第2導電部としての第2環状電極117bと、が設けられている。第1領域111の第1端子112と第5端子113、および第2領域131の第2端子112b,113bは、例えば、銀・パラジウムなどの導電ペーストあるいはタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成される。また、第1端子112から延設されている接続配線114、および第2端子112bから延設されている接続配線114bも上述と同様な構成で形成される。   In the first region 111, the first terminal 112 to which the vibration element 120 as the first electronic component is connected, the fifth terminal 113, and the third terminal 181 to which the thermistor 180 as the second electronic component is connected, The first terminal 1122, the first terminal 112, the fifth terminal 113, the third terminal 181, and the first annular electrode 117 as the first conductive portion disposed in the third region 171 surrounding the fourth terminal 182; , Is provided. Similarly, in the second region 131, second terminals 112b and 113b to which the vibration element 120 as the first electronic component is connected, a third terminal 181b to which the thermistor 180b as the second electronic component is connected, and The fourth terminal 182b, the second terminals 112b and 113b, the third terminal 181b, and the second annular electrode 117b as the second conductive portion disposed in the fourth region 171b surrounding the fourth terminal 182b are provided. ing. The first terminal 112 and the fifth terminal 113 in the first region 111, and the second terminals 112b and 113b in the second region 131, for example, use a conductive paste such as silver or palladium or tungsten metallization, and the required shape. It is formed by baking after forming and then plating nickel and gold or silver. Further, the connection wiring 114 extending from the first terminal 112 and the connection wiring 114b extending from the second terminal 112b are also formed in the same configuration as described above.

第1環状電極117、および第2環状電極117bは、上述と同様に、銀・パラジウムなどの導電ペーストあるいはタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成することができる。なお、第1環状電極117、および第2環状電極117bは、上述の構成の電極上に、例えばコバール等の合金で形成されたシームリング(図示せず)が設けられている構成であってもよい。シームリングは、後述する蓋体としてのリッド72(図4参照)との接合材としての機能を有しており、ベース基板105の第1面105aに沿って枠状(略矩形状の環状)に設けられる。   The first annular electrode 117 and the second annular electrode 117b are formed by using a conductive paste such as silver / palladium or tungsten metallization, and firing after forming the required shape, and then nickel and gold or It can be formed by plating silver or the like. The first annular electrode 117 and the second annular electrode 117b may have a configuration in which a seam ring (not shown) formed of an alloy such as Kovar is provided on the electrode having the above-described configuration. Good. The seam ring has a function as a bonding material with a lid 72 (see FIG. 4) as a lid, which will be described later, and has a frame shape (substantially rectangular ring shape) along the first surface 105a of the base substrate 105. Is provided.

さらに、第1面105aと表裏関係にあるベース基板105の第2面105bには、第1面105aが正面となる方向から視認する平面視で、第1領域111と重なる領域に配置されている第1外部端子121,122,123,124が設けられている。また、ベース基板105の第2面105bには、同様な平面視で、第2領域131と重なる領域に配置されている第2外部端子121b,122b,123b,124bが設けられている。第1外部端子121,122,123,124、および第2外部端子121b,122b,123b,124bは、例えばタングステンメタライズなどを用い、必要とされる形状を形成後に焼成を行い、その後ニッケルおよび金あるいは銀などをメッキすることによって形成される。   Furthermore, the second surface 105b of the base substrate 105 that is in front-to-back relation with the first surface 105a is disposed in a region that overlaps the first region 111 in plan view when the first surface 105a is viewed from the front direction. First external terminals 121, 122, 123, 124 are provided. Further, the second surface 105b of the base substrate 105 is provided with second external terminals 121b, 122b, 123b, and 124b that are arranged in a region overlapping the second region 131 in the same plan view. The first external terminals 121, 122, 123, 124 and the second external terminals 121b, 122b, 123b, 124b are baked after forming a required shape using, for example, tungsten metallization, and then nickel and gold or It is formed by plating silver or the like.

隣接する領域に配置されている第1領域111の第1外部端子121と他の領域211の外部端子122dとは、ベース基板105の第2面105bに設けられている接続端子126によって電気的に接続されている。また、同様に隣接する領域に配置されている第1領域111の第1外部端子123と第2領域131の第2外部端子122bとは、ベース基板105の第2面105bに設けられている接続端子125によって電気的に接続されている。また、同様に隣接する領域に配置されている第1領域111の第1外部端子124と第2領域131の第2外部端子121bとは、ベース基板105の第2面105bに設けられている接続端子125bによって電気的に接続されている。また、同様に隣接する領域に配置されている第2領域131の第2外部端子121bと他の領域201の外部端子122cとは、ベース基板105の第2面105bに設けられている接続端子126bによって電気的に接続されている。   The first external terminal 121 of the first region 111 and the external terminal 122d of the other region 211 arranged in the adjacent region are electrically connected by the connection terminal 126 provided on the second surface 105b of the base substrate 105. It is connected. Similarly, the first external terminal 123 of the first region 111 and the second external terminal 122b of the second region 131 that are disposed in adjacent regions are connected to the second surface 105b of the base substrate 105. The terminals 125 are electrically connected. Similarly, the first external terminal 124 of the first region 111 and the second external terminal 121b of the second region 131 arranged in adjacent regions are connected to the second surface 105b of the base substrate 105. The terminals 125b are electrically connected. Similarly, the second external terminal 121b of the second region 131 and the external terminal 122c of the other region 201 arranged in the adjacent region are the connection terminals 126b provided on the second surface 105b of the base substrate 105. Are electrically connected.

第1領域111におけるベース基板105には、第1面105aから第2面105bに貫通する貫通配線115,116,118,127が設けられている。貫通配線115は、第1端子112から延設されている接続配線114と接続されているとともに、第1外部端子121と接続されている。貫通配線116は、第1環状電極117および第3端子181と接続されているとともに、第1外部端子122と接続されている。貫通配線118は、第5端子113と接続されているとともに、第1外部端子123と接続されている。貫通配線127は、第4端子182から延設されている接続配線183と接続されているとともに、第1外部端子124と接続されている。同様に、第2領域131におけるベース基板105には、第1面105aから第2面105bに貫通する貫通配線115b,116b,118b,127bが設けられている。貫通配線115bは、第2端子112bから延設されている接続配線114bと接続されているとともに、第2外部端子121bと接続されている。貫通配線116bは、第2環状電極117bおよび第3端子181bと接続されているとともに、第2外部端子122bと接続されている。貫通配線118bは、第2端子113bと接続されているとともに、第2外部端子123bと接続されている。貫通配線127bは、第4端子182bから延設されている接続配線183bと接続されているとともに、第2外部端子124bと接続されている。   The base substrate 105 in the first region 111 is provided with through-wirings 115, 116, 118, and 127 that penetrate from the first surface 105a to the second surface 105b. The through wiring 115 is connected to the connection wiring 114 extending from the first terminal 112 and is connected to the first external terminal 121. The through wiring 116 is connected to the first annular electrode 117 and the third terminal 181 and to the first external terminal 122. The through wiring 118 is connected to the fifth terminal 113 and to the first external terminal 123. The through wiring 127 is connected to the connection wiring 183 extending from the fourth terminal 182 and is connected to the first external terminal 124. Similarly, the base substrate 105 in the second region 131 is provided with through wirings 115b, 116b, 118b, and 127b penetrating from the first surface 105a to the second surface 105b. The through wiring 115b is connected to the connection wiring 114b extending from the second terminal 112b and to the second external terminal 121b. The through wiring 116b is connected to the second annular electrode 117b and the third terminal 181b and to the second external terminal 122b. The through wiring 118b is connected to the second terminal 113b and to the second external terminal 123b. The through wiring 127b is connected to the connection wiring 183b extending from the fourth terminal 182b and to the second external terminal 124b.

上述のような構成により、第1外部端子121は、第1領域111の第1面105aに設けられている接続配線114および貫通配線115を介して第1端子112と電気的に接続されている。さらに、第1外部端子121は、第2面105bに配置されている接続端子126を介してマトリックス状に配置されて隣接する他の領域211に設けられている外部端子122dと接続され、貫通配線116dを介して他の領域211に設けられている環状電極117dと電気的に接続されている。即ち、第1領域111に設けられている第1端子112は、接続配線114、貫通配線115、第1外部端子121、接続端子126、外部端子122d、および貫通配線116dを介して他の領域211に設けられている環状電極117dと電気的に接続されている。   With the configuration as described above, the first external terminal 121 is electrically connected to the first terminal 112 via the connection wiring 114 and the through wiring 115 provided on the first surface 105 a of the first region 111. . Further, the first external terminals 121 are connected in a matrix form via the connection terminals 126 arranged on the second surface 105b and connected to the external terminals 122d provided in the other adjacent areas 211, and the through wiring It is electrically connected to an annular electrode 117d provided in another region 211 through 116d. That is, the first terminal 112 provided in the first region 111 is connected to another region 211 via the connection wiring 114, the through wiring 115, the first external terminal 121, the connection terminal 126, the external terminal 122d, and the through wiring 116d. It is electrically connected to the annular electrode 117d provided in the.

また、第2領域131に設けられている第2外部端子122bは、貫通配線116bを介して第2導電部としての第2環状電極117bと電気的に接続されている。さらに、第2外部端子122bは、第2面105bに配置されている接続端子125により第1領域111に設けられている第1外部端子123と接続され、貫通配線118を介して第5端子113と接続されている。即ち、第5端子113は、貫通配線118、第1外部端子123、接続端子125、第2外部端子122b、および貫通配線116bを介して第2環状電極117bと電気的に接続されている。   The second external terminal 122b provided in the second region 131 is electrically connected to the second annular electrode 117b as the second conductive portion through the through wiring 116b. Further, the second external terminal 122 b is connected to the first external terminal 123 provided in the first region 111 by the connection terminal 125 disposed on the second surface 105 b, and is connected to the fifth terminal 113 via the through wiring 118. Connected with. That is, the fifth terminal 113 is electrically connected to the second annular electrode 117b via the through wiring 118, the first external terminal 123, the connection terminal 125, the second external terminal 122b, and the through wiring 116b.

また、第1領域111に設けられている第3端子181は、第1環状電極117と電気的に接続されている。また、第1領域111に設けられている第4端子182は、接続配線183、および貫通配線127を介して第1外部端子124と接続されている。さらに、第1外部端子124は、第2面105bに配置されている接続端子125bを介して、マトリックス状に配置されて隣接する第2領域131に設けられている第2外部端子121bと接続されている。さらに、第2外部端子121bは、第2面105bに配置されている接続端子126bを介して、マトリックス状に配置されて隣接する他の領域201に設けられている外部端子122cと接続され、貫通配線116cを介して他の領域201に設けられている環状電極117cと電気的に接続されている。即ち、第1領域111の第4端子182は、接続配線183、貫通配線127、第1外部端子124、接続端子125b、第2外部端子121b、接続端子126b、外部端子122c、および貫通配線116cを介して他の領域201の環状電極117cと電気的に接続されている。   The third terminal 181 provided in the first region 111 is electrically connected to the first annular electrode 117. The fourth terminal 182 provided in the first region 111 is connected to the first external terminal 124 through the connection wiring 183 and the through wiring 127. Further, the first external terminals 124 are connected to the second external terminals 121b provided in the adjacent second regions 131 arranged in a matrix through the connection terminals 125b arranged on the second surface 105b. ing. Further, the second external terminal 121b is connected to the external terminal 122c arranged in a matrix and provided in another adjacent region 201 through the connection terminal 126b arranged on the second surface 105b, and passes through. It is electrically connected to the annular electrode 117c provided in the other region 201 through the wiring 116c. That is, the fourth terminal 182 in the first region 111 includes the connection wiring 183, the through wiring 127, the first external terminal 124, the connection terminal 125b, the second external terminal 121b, the connection terminal 126b, the external terminal 122c, and the through wiring 116c. And is electrically connected to the annular electrode 117c in the other region 201.

第1電子部品としての振動素子120は、第1領域111では第1端子112、および第5端子113に導電性接着剤119などの接合材によって接続され、第2領域131では、第2端子112b,113bに導電性接着剤119bなどの接合材によって接続されている。本実施形態の振動素子120は、上述の第1実施形態と同様な構成であるため、以下の詳細な説明は省略する。   The vibration element 120 as the first electronic component is connected to the first terminal 112 and the fifth terminal 113 in the first region 111 by a bonding material such as a conductive adhesive 119, and in the second region 131, the second terminal 112b. , 113b are connected by a bonding material such as a conductive adhesive 119b. Since the vibration element 120 of the present embodiment has the same configuration as that of the first embodiment described above, the following detailed description is omitted.

第3端子181,181b、および第4端子182,182bに、導電性接着剤184などの接合材によって接続されている第2電子部品としてのサーミスター180,180bは、温度検知を行う機能を有している。振動素子120は、その共振周波数が温度によって変化する、所謂周波数温度特性を有している。この周波数温度特性による周波数変化を抑制するため、環境温度をデータ信号として検知可能なサーミスター180,180bが設けられる。検知された温度信号データに基づいて共振周波数の補正を行うことで、共振周波数精度を向上させることが可能となる。   The thermistors 180 and 180b as second electronic components connected to the third terminals 181 and 181b and the fourth terminals 182 and 182b by a bonding material such as a conductive adhesive 184 have a function of detecting temperature. doing. The vibration element 120 has a so-called frequency-temperature characteristic in which the resonance frequency changes with temperature. In order to suppress the frequency change due to the frequency temperature characteristic, thermistors 180 and 180b capable of detecting the environmental temperature as a data signal are provided. By correcting the resonance frequency based on the detected temperature signal data, it is possible to improve the resonance frequency accuracy.

上述した第2実施形態のシート基板100によれば、第1領域111に配置されている振動素子120と接続された第1端子112は、接続配線114、貫通配線115、第1外部端子121、接続端子126、および他の領域211に配置されている外部端子122dおよび貫通配線116dを介して他の領域211に配置された環状電極117dと電気的に接続されている。また、第1領域111に配置されている振動素子120と接続された第5端子113は、貫通配線118、第1外部端子123、接続端子125、第2領域131に配置されている第2外部端子122b、および貫通配線116bを介して第2領域に配置された第2環状電極117bと電気的に接続されている。これにより、第1領域111にあって、第1端子112、および第5端子113に接続されている第1電子部品としての振動素子120は、他の領域211に配置されている環状電極117d、および第2領域131に配置されている第2環状電極117bに入力される信号により振動素子120の共振周波数などの特性検査などを行うことができる。なお、本実施例では、第1電子部品としての振動素子120を、他の領域211bに配置されている環状電極117dと、第2領域131に配置されている第2環状電極117bとに入力される信号を用いて特性検査を行うとしているが、これに限らず、第2環状電極117bに入力された信号が振動素子120によって反射された信号を、第2環状電極117bを用いて検出するなどの方法を用いても、振動素子120の特性検査などを行うことができる。   According to the sheet substrate 100 of the second embodiment described above, the first terminal 112 connected to the vibration element 120 arranged in the first region 111 includes the connection wiring 114, the through wiring 115, the first external terminal 121, The connection terminal 126 is electrically connected to the annular electrode 117d disposed in the other region 211 via the external terminal 122d disposed in the other region 211 and the through wiring 116d. In addition, the fifth terminal 113 connected to the vibration element 120 arranged in the first region 111 has a through wiring 118, a first external terminal 123, a connection terminal 125, and a second external arranged in the second region 131. It is electrically connected to the second annular electrode 117b disposed in the second region via the terminal 122b and the through wiring 116b. As a result, the vibration element 120 as the first electronic component connected to the first terminal 112 and the fifth terminal 113 in the first region 111 includes the annular electrode 117d disposed in the other region 211, In addition, characteristics such as a resonance frequency of the vibration element 120 can be inspected by a signal input to the second annular electrode 117b disposed in the second region 131. In this embodiment, the vibration element 120 as the first electronic component is input to the annular electrode 117d arranged in the other region 211b and the second annular electrode 117b arranged in the second region 131. However, the present invention is not limited to this, and the signal input to the second annular electrode 117b is reflected by the vibration element 120 and is detected using the second annular electrode 117b. Even if this method is used, the characteristics of the vibration element 120 can be inspected.

また、第2実施形態のシート基板100の第1領域111に配置されている第3端子181は、第1領域111の第1環状電極117と電気的に接続されている。さらに、第1領域111に配置されている第4端子182は、接続配線183、貫通配線127、第1外部端子124、接続端子125b、第2外部端子121b、接続端子126b、外部端子122c、および貫通配線116cを介して他の領域201の環状電極117cと電気的に接続されている。この第3端子181と第4端子182には、第2電子部品としてのサーミスター180が接続されているため、第1領域に配置されている第1環状電極117、および他の領域201に配置されている環状電極117cに入力される信号により特性検査などを行うことができる。なお、本実施例では、第2電子部品としてのサーミスター180を、第1領域111に配置されている第1環状電極117と、他の領域201に配置されている環状電極117cとに入力される信号を用いて特性検査を行うことができるとしているが、これに限らず、第1環状電極117に入力された信号がサーミスター180によって反射された信号を、第2環状電極37を用いて検出するなどの方法を用いても、サーミスター180の特性検査などを行うことができる。   In addition, the third terminal 181 disposed in the first region 111 of the sheet substrate 100 of the second embodiment is electrically connected to the first annular electrode 117 in the first region 111. Further, the fourth terminal 182 arranged in the first region 111 includes a connection wiring 183, a through wiring 127, a first external terminal 124, a connection terminal 125b, a second external terminal 121b, a connection terminal 126b, an external terminal 122c, and It is electrically connected to the annular electrode 117c in the other region 201 through the through wiring 116c. Since the thermistor 180 as the second electronic component is connected to the third terminal 181 and the fourth terminal 182, the first annular electrode 117 disposed in the first region and the other region 201 are disposed. A characteristic inspection or the like can be performed by a signal input to the annular electrode 117c. In this embodiment, the thermistor 180 as the second electronic component is input to the first annular electrode 117 disposed in the first region 111 and the annular electrode 117c disposed in the other region 201. However, the present invention is not limited to this, and the signal input to the first annular electrode 117 is reflected by the thermistor 180 using the second annular electrode 37. Even if a method such as detection is used, the characteristic inspection of the thermistor 180 can be performed.

このように、第2実施形態のシート基板100は、異なる4つの領域(第1領域111、第2領域131、他の領域201,211)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b、環状電極117c,117d)のうちの少なくとも2つに測定端子などを当接させて、第1電子部品としての振動素子120および第2電子部品としてのサーミスター180の特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域111および第2領域131の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板100に配置できる第1領域111、および第2領域131の配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。   As described above, the sheet substrate 100 according to the second embodiment includes annular electrodes (first annular electrodes 117) arranged in four different regions (first region 111, second region 131, and other regions 201, 211). , The measurement terminal or the like is brought into contact with at least two of the second annular electrode 117b and the annular electrodes 117c, 117d), and the characteristics of the vibration element 120 as the first electronic component and the thermistor 180 as the second electronic component Inspection can be performed. Therefore, since the characteristic inspection of the vibration element 120 and the thermistor 180 can be performed without providing a dedicated inspection terminal, the first region 111 corresponding to the dedicated terminal for inspection and the occupied portion of the wiring portion related thereto, and The area of the second region 131 can be reduced. In other words, the number of the first regions 111 and the second regions 131 that can be disposed on the sheet substrate 100 can be increased, which can contribute to an improvement in manufacturing efficiency.

なお、上述した第1実施形態および第2実施形態においては、第1電子部品として振動素子120を例示し、第2電子部品としてサーミスター180を例示した構成で説明したが、電子部品は振動素子120およびサーミスター180に限るものではなく、抵抗、コンデンサー、インダクター、ダイオード等の受動部品、トランジスター、集積回路等の能動部品、またはその他の電子部品であってもよい。   In the first and second embodiments described above, the vibration element 120 is exemplified as the first electronic component and the thermistor 180 is exemplified as the second electronic component. However, the electronic component is a vibration element. It is not limited to 120 and thermistor 180, and may be a passive component such as a resistor, a capacitor, an inductor, or a diode, an active component such as a transistor or an integrated circuit, or another electronic component.

(蓋体を用いた実施形態)
また、上述した第1実施形態および第2実施形態のシート基板10,100には、上述の構成に加えて、振動素子120、サーミスター180などの電子部品、および配線などを内包する蓋体(カバー)を配置することもできる。その構成について、図4を用いて説明する。図4は、蓋体を用いたシート基板(電子デバイス)の概略構成の一例を示し、図1のB−B断面に相当する断面図である。なお、第1実施形態と同様な構成については同符号を付してその説明を省略することがある。
(Embodiment using a lid)
In addition to the above-described configuration, the sheet substrates 10 and 100 of the first embodiment and the second embodiment described above include electronic components such as the vibration element 120 and the thermistor 180, and a lid (including a wiring body). A cover) can also be arranged. The configuration will be described with reference to FIG. FIG. 4 shows an example of a schematic configuration of a sheet substrate (electronic device) using a lid, and is a cross-sectional view corresponding to a BB cross section of FIG. In addition, about the structure similar to 1st Embodiment, the same code | symbol may be attached | subjected and the description may be abbreviate | omitted.

図4に示すように、ベース基板5の第1面5aに第1電子部品としての振動素子20が接続されている。また、第1面5aには、振動素子20を囲む枠状に設けられた第1環状電極17および第2環状電極37が設けられている。第1環状電極17上および第2環状電極37上には、接合材としてのシームリング71が接続されている。この第1環状電極17および第2環状電極37、およびシームリング71により、上面が開口する凹部が形成され、その凹部内に電子部品が収納される。シームリング71は、例えばコバール等の合金で形成されており、導電性を有している。また、シームリング71は、第1環状電極17および第2環状電極37の上面に沿って枠状(略矩形状の周状)に設けられている。   As shown in FIG. 4, the vibration element 20 as the first electronic component is connected to the first surface 5 a of the base substrate 5. Further, the first surface 5 a is provided with a first annular electrode 17 and a second annular electrode 37 provided in a frame shape surrounding the vibration element 20. A seam ring 71 as a bonding material is connected on the first annular electrode 17 and the second annular electrode 37. The first annular electrode 17, the second annular electrode 37, and the seam ring 71 form a recess whose upper surface is open, and an electronic component is accommodated in the recess. The seam ring 71 is made of an alloy such as Kovar, for example, and has conductivity. The seam ring 71 is provided in a frame shape (substantially rectangular shape) along the upper surfaces of the first annular electrode 17 and the second annular electrode 37.

凹部の開口は、接合材としてのシームリング(図示せず)を介して第1環状電極17および第2環状電極37に接合されている蓋体としてのリッド72によって塞がれている。密封された内部空間は、その内部圧力を所望の気圧に設定できる。例えば、内部空間に大気圧程度の窒素ガスを充填したり、真空(通常の大気圧より低い圧力(1×105Paよりも低く、1×10-10Paよりも高い圧力(JIS Z 8126−1:1999))の気体で満たされた空間の状態)としたりすることで、より安定した振動素子20の振動を継続することができる。 The opening of the recess is closed by a lid 72 as a lid body joined to the first annular electrode 17 and the second annular electrode 37 via a seam ring (not shown) as a joining material. The sealed internal space can be set to a desired atmospheric pressure. For example, the internal space is filled with nitrogen gas at about atmospheric pressure, or vacuum (pressure lower than normal atmospheric pressure (lower than 1 × 10 5 Pa, higher than 1 × 10 −10 Pa (JIS Z 8126− 1: 1999)), the vibration of the vibration element 20 can be continued more stably.

リッド72は、板状の部材であり、開放する凹部の開口を塞ぎ、凹部の開口の周囲を、例えばシーム溶接法などを用いて接合されている。本例のリッド72は、板状であるため、形成が行い易く、さらには形状の安定にも優れる。また、本例のリッド72には、コバールの板材が用いられている。リッド72にコバールの板を用いることで封止の際に、コバールで形成されているシームリング71とリッド72とが同じ溶融状態で溶融され、さらには合金化もされ易いため封止を容易に、且つ確実に行うことができる。なお、リッド72には、コバールに換えて他の材料の板材を用いてもよく、例えば、42アロイ、ステンレス鋼などの金属材料、または第1環状電極17および第2環状電極37と同材料などを用いることができる。また、リッド72のシームリング71と接合される面に、リッド72とシームリング71との接合をさらによくするために、金、銀、銅などの金属または左記金属を主成分とする合金、またははんだ等のろう材が形成されていてもよい。   The lid 72 is a plate-like member that closes the opening of the recessed portion to be opened and is joined around the opening of the recessed portion by using, for example, a seam welding method. Since the lid 72 of this example is plate-shaped, it is easy to form and further excellent in shape stability. In addition, a Kovar plate material is used for the lid 72 of this example. By using a Kovar plate for the lid 72, when sealing, the seam ring 71 and the lid 72 formed of Kovar are melted in the same molten state, and further easily alloyed so that sealing is easy. And reliably. The lid 72 may be made of a plate material of another material instead of Kovar, for example, a metal material such as 42 alloy or stainless steel, or the same material as the first annular electrode 17 and the second annular electrode 37. Can be used. Further, in order to further improve the bonding of the lid 72 and the seam ring 71 to the surface to be bonded to the seam ring 71 of the lid 72, an alloy mainly composed of a metal such as gold, silver, copper, or the left metal, or A brazing material such as solder may be formed.

上述の構成のシート基板(ベース基板5)を、それぞれの領域を残して分割(図1に示す分割領域7,8)することにより、個片化された電子デバイスを得ることができる。また、図1に示す分割領域7,8で分割されるため、接続端子25(図4では他の接続端子は図示していない)を初めとする接続端子は切断され、それぞれの領域を接続する接続端子が個片化された後の電子デバイスの特性に影響することはない。   By dividing the sheet substrate (base substrate 5) having the above-described configuration while leaving the respective regions (divided regions 7 and 8 shown in FIG. 1), an individualized electronic device can be obtained. Moreover, since it divides | segments by the division | segmentation area | regions 7 and 8 shown in FIG. 1, the connection terminal including the connection terminal 25 (The other connection terminal is not shown in FIG. 4) is cut | disconnected, and each area | region is connected. It does not affect the characteristics of the electronic device after the connection terminals are separated.

このような導電性を有する蓋体(リッド72)を用いる構成によれば、第1、第2実施形態で述べたような、環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b、環状電極117c,117d)のうちの少なくとも2つに測定端子を当接させて特性検査などを行う方法に変えて、それぞれの領域の蓋体(リッド72)に測定端子を当接させて特性検査などを行うことができる。したがって、より広い範囲内でのプロービング(測定端子の当接)が可能となり、測定端子の接触性を向上させることができるとともに、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域および第2領域の面積を小さくすることが可能となる。   According to the configuration using such a conductive lid (lid 72), the annular electrodes (first annular electrode 117, second annular electrode 117b, annular electrode as described in the first and second embodiments). 117c and 117d), instead of a method in which a measurement terminal is brought into contact with at least two of 117c and 117d) to perform a characteristic inspection, etc. It can be carried out. Accordingly, probing (contact of the measurement terminal) within a wider range is possible, the contactability of the measurement terminal can be improved, and the dedicated terminal for inspection and the occupied portion of the wiring portion related thereto are included. It is possible to reduce the areas of the first region and the second region.

なお、蓋体としては、板状のリッド72に限らず、例えばコバール板、42アロイ板、ステンレス鋼板などの金属材料を、絞り加工などにより外周に鍔が設けられた凹缶形状に成形したキャップ(缶)を用いる構成でもよい。このキャップを用いた場合には、第1環状電極17および第2環状電極37にキャップ(缶)を、例えば、抵抗溶接などで接合することができる。   The lid is not limited to the plate-shaped lid 72, but is a cap formed of a metal material such as a Kovar plate, 42 alloy plate, stainless steel plate, etc., into a concave can shape having a flange on the outer periphery by drawing or the like. A configuration using (can) may be used. When this cap is used, a cap (can) can be joined to the first annular electrode 17 and the second annular electrode 37 by, for example, resistance welding.

(変形例)
次に、シート基板の変形例について、図5を用いて説明する。図5は、シート基板の変形例を示し、(a)は部分平面図、(b)はD−D断面図である。なお、同図は、第2実施形態の例をもとに作図してあるがこれに限らず、他の形態でも適用可能である。
(Modification)
Next, a modification of the sheet substrate will be described with reference to FIG. FIG. 5 shows a modification of the sheet substrate, where (a) is a partial plan view and (b) is a DD cross-sectional view. Although the drawing is drawn based on the example of the second embodiment, the present invention is not limited to this, and other forms are also applicable.

図5に示す変形例のシート基板は、第2実施形態の構成と、各領域の外部端子間を接続する接続端子の構成が異なる。本変形例のシート基板は、第1領域と第2領域(図3参照)との境界部である4つの角部に設けられている貫通電極152によって各領域の外部端子間が接続されている。貫通電極152は、ベース基板105の第1面105aから第2面105bに至る貫通孔150と貫通孔150の内周面に設けられている電極層151を含む。なお、この貫通電極152は、分割領域7,8(図3参照)で分割されるとキャスタレーションの役目を果たすことができる。貫通孔150は、第1外部端子122,123および第2外部端子122bを含む外部端子の平面形状内に掛かるように設けられている。また、電極層151は、第1外部端子122,123および第2外部端子122bを含む外部端子に接するように設けられている。   The sheet substrate of the modification shown in FIG. 5 differs from the configuration of the second embodiment in the configuration of connection terminals that connect external terminals in each region. In the sheet substrate of this modification, the external terminals of each region are connected by through electrodes 152 provided at four corners that are the boundary between the first region and the second region (see FIG. 3). . The through electrode 152 includes a through hole 150 extending from the first surface 105 a to the second surface 105 b of the base substrate 105 and an electrode layer 151 provided on the inner peripheral surface of the through hole 150. The through electrode 152 can play a role of castellation when divided in the divided regions 7 and 8 (see FIG. 3). The through hole 150 is provided so as to hang within the planar shape of the external terminal including the first external terminals 122 and 123 and the second external terminal 122b. The electrode layer 151 is provided in contact with external terminals including the first external terminals 122 and 123 and the second external terminal 122b.

このような構成により、貫通電極152の電極層151によって第1外部端子122,123および第2外部端子122bを含む外部端子間を電気的に接続することができる。したがって、専用の接続配線を設けることなく、第1外部端子122,123および第2外部端子122bを含む外部端子間を電気的に接続することができる。   With such a configuration, the external terminals including the first external terminals 122 and 123 and the second external terminal 122b can be electrically connected by the electrode layer 151 of the through electrode 152. Therefore, the external terminals including the first external terminals 122 and 123 and the second external terminal 122b can be electrically connected without providing a dedicated connection wiring.

<電子デバイスの製造方法>
次に、上述のシート基板を用いた電子デバイスの製造方法について図6に沿って説明する。図6は、シート基板を用いた電子デバイスの製造工程を示す工程フロー図である。なお、本説明では、図3を参照しながら第2実施形態のシート基板100の第1領域111に係る構成に蓋体を接続する例で説明するが、他の領域においても同様な工程を用いることができる。
<Method for manufacturing electronic device>
Next, a method for manufacturing an electronic device using the above-described sheet substrate will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a process flow diagram showing a manufacturing process of an electronic device using a sheet substrate. In this description, an example in which a lid is connected to the configuration related to the first region 111 of the sheet substrate 100 of the second embodiment will be described with reference to FIG. 3, but similar steps are used in other regions. be able to.

先ず、第2実施形態で説明したシート基板100のうちで、第1電子部品としての振動素子120を第1端子112と第5端子113とに、および第2電子部品としてのサーミスター180を第3端子181と第4端子182とに、それぞれ接続する前の状態のシート基板100を用意する(シート基板準備工程S101)。なお、本例のシート基板100は、第1環状電極117上に枠状に形成されたシームリング(図示せず)が接合されている構成を用いている。   First, in the sheet substrate 100 described in the second embodiment, the vibration element 120 as the first electronic component is used as the first terminal 112 and the fifth terminal 113, and the thermistor 180 as the second electronic component is used as the first electronic component. The sheet substrate 100 in a state before being connected to the three terminals 181 and the fourth terminals 182 is prepared (sheet substrate preparation step S101). Note that the sheet substrate 100 of this example uses a configuration in which a seam ring (not shown) formed in a frame shape is joined to the first annular electrode 117.

次に、振動素子120を、第1端子112、および第5端子113に、導電性接着剤119などの接合材を介して、電気的接続をとって接続する。導電性接着剤119は、樹脂基材に導電性フィラーを混在させペースト状をなしている。振動素子120は、第1端子112、第5端子113上に塗布されたペースト状の導電性接着剤119上に、図示していない接続電極を合わせて載置される。その後、所定の温度および時間で導電性接着剤を乾燥硬化し、振動素子120を第1端子112、および第5端子113に接続する(第1電子部品接続工程S103)。   Next, the vibration element 120 is electrically connected to the first terminal 112 and the fifth terminal 113 through a bonding material such as a conductive adhesive 119. The conductive adhesive 119 has a paste shape in which a conductive filler is mixed in a resin base material. The vibration element 120 is placed on a paste-like conductive adhesive 119 applied on the first terminal 112 and the fifth terminal 113 together with a connection electrode (not shown). Thereafter, the conductive adhesive is dried and cured at a predetermined temperature and time, and the vibration element 120 is connected to the first terminal 112 and the fifth terminal 113 (first electronic component connecting step S103).

次に、サーミスター180を、第3端子181と第4端子182とに、導電性接着剤184などの接合材を介して、電気的接続をとって接続する。導電性接着剤184は、前述の導電性接着剤119と同様の構成をなしている。サーミスター180は、第3端子181および第4端子182に塗布されたペースト状の導電性接着剤184上に、図示していない各接続電極を合わせて載置される。その後、所定の温度および時間で導電性接着剤を乾燥硬化し、サーミスター180を第3端子181および第4端子182に接続する(第2電子部品接続工程S105)。   Next, the thermistor 180 is electrically connected to the third terminal 181 and the fourth terminal 182 through a bonding material such as a conductive adhesive 184. The conductive adhesive 184 has a configuration similar to that of the conductive adhesive 119 described above. The thermistor 180 is placed on the paste-like conductive adhesive 184 applied to the third terminal 181 and the fourth terminal 182 together with each connection electrode (not shown). Thereafter, the conductive adhesive is dried and cured at a predetermined temperature and time, and the thermistor 180 is connected to the third terminal 181 and the fourth terminal 182 (second electronic component connecting step S105).

次に、第1環状電極117に接合されたシームリング上に蓋体としてのリッド(図示せず)を載置する。そして、シーム溶接法などを用いてシームリングを溶融し、リッドをシームリングと接続する(蓋体接続工程S107)。このようにリッドを接続することにより、振動素子120、およびサーミスター180などが接続されている内部空間の開口が塞がれる。密封された内部空間は、例えば、真空(通常の大気圧より低い圧力(1×105Paよりも低く、1×10-10Paよりも高い圧力(JIS Z 8126−1:1999))の気体で満たされた空間の状態)とすることで、より安定した振動素子120の振動を継続することができる。ここで用いているシームリングおよびリッドは、上述したようにコバールなどの金属が用いられているため、それぞれ導電性を有している。したがって、第1環状電極117と蓋体としてのリッドとは、電気的接続がとられている。 Next, a lid (not shown) as a lid is placed on the seam ring joined to the first annular electrode 117. Then, the seam ring is melted using a seam welding method or the like, and the lid is connected to the seam ring (lid connecting step S107). By connecting the lid in this way, the opening of the internal space to which the vibration element 120, the thermistor 180, and the like are connected is closed. The sealed internal space is, for example, a gas in a vacuum (pressure lower than normal atmospheric pressure (lower than 1 × 10 5 Pa, higher than 1 × 10 −10 Pa (JIS Z 8126-1: 1999)). In this case, the vibration of the vibration element 120 can be continued more stably. The seam ring and the lid used here have conductivity because a metal such as kovar is used as described above. Therefore, the first annular electrode 117 and the lid as the lid are electrically connected.

次に、内部空間に接続、収納されている振動素子120、サーミスター180などの電子部品の特性を検査する(特性検査工程S109)。第2実施形態で説明したように、環状電極(環状電極を介した蓋体としてのリッド)と振動素子120、サーミスター180とが電気的に接続されているため、この特性検査工程S109では、測定端子の当接(プロービング)を、環状電極(リッド)に行うことで特性検査を行うことが可能である。   Next, the characteristics of electronic components such as the vibration element 120 and the thermistor 180 connected and housed in the internal space are inspected (characteristic inspection step S109). As described in the second embodiment, since the annular electrode (lid as a lid through the annular electrode), the vibration element 120, and the thermistor 180 are electrically connected, in this characteristic inspection step S109, It is possible to perform a characteristic inspection by performing contact (probing) of the measurement terminal on the annular electrode (lid).

具体的に説明すると、第1領域111に配置されている振動素子120と接続された第1端子112は、種々の端子などを介して他の領域211に配置された環状電極117d(リッド)と電気的に接続されている。さらに、第1領域111に配置されている振動素子120と接続された第5端子113は、種々の端子などを介して第2領域131に配置されている第2環状電極117b(リッド)と電気的に接続されている。これにより、第1領域111に位置する振動素子120の特性検査は、少なくとも第2領域131に配置されている第2環状電極117b(リッド)に入力される信号により、共振周波数測定などを行うことができる。また、シート基板100の第1領域111に配置されている第3端子181は、第1領域の第1環状電極117(リッド)と電気的に接続されている。さらに、第1領域111に配置されている第4端子182は、種々の端子などを介して他の領域201の環状電極117c(リッド)と電気的に接続されている。この第3端子181と第4端子182には、サーミスター180が接続されているため、少なくとも第1領域111に配置されている第1環状電極117(リッド)に入力される信号により特性検査などを行うことができる。   Specifically, the first terminal 112 connected to the vibration element 120 disposed in the first region 111 is connected to the annular electrode 117d (lid) disposed in the other region 211 via various terminals. Electrically connected. Furthermore, the fifth terminal 113 connected to the vibration element 120 disposed in the first region 111 is electrically connected to the second annular electrode 117b (lid) disposed in the second region 131 via various terminals. Connected. Thereby, the characteristic inspection of the vibration element 120 located in the first region 111 is performed by measuring a resonance frequency by a signal inputted to at least the second annular electrode 117b (lid) arranged in the second region 131. Can do. The third terminal 181 disposed in the first region 111 of the sheet substrate 100 is electrically connected to the first annular electrode 117 (lid) in the first region. Furthermore, the 4th terminal 182 arrange | positioned at the 1st area | region 111 is electrically connected with the cyclic | annular electrode 117c (lid) of the other area | region 201 via various terminals. Since the thermistor 180 is connected to the third terminal 181 and the fourth terminal 182, characteristic inspection is performed by a signal input to at least the first annular electrode 117 (lid) disposed in the first region 111. It can be performed.

このような本例の特性検査方法によれば、少なくとも2つの領域(第1領域111、第2領域131)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b)上に接続されたリッドに測定端子などを当接させて、振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域111および第2領域131の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板100に配置できる第1領域111、および第2領域131の配置数を多くすることが可能となり、製造の効率化の向上に寄与することができる。   According to the characteristic inspection method of this example, on the annular electrodes (first annular electrode 117 and second annular electrode 117b) disposed in each of at least two regions (first region 111 and second region 131). A characteristic terminal of the vibrating element 120 and the thermistor 180 can be inspected by bringing a measurement terminal or the like into contact with the lid connected to the lid. Therefore, since the characteristic inspection of the vibration element 120 and the thermistor 180 can be performed without providing a dedicated inspection terminal, the first region 111 corresponding to the dedicated terminal for inspection and the occupied portion of the wiring portion related thereto, and The area of the second region 131 can be reduced. In other words, the number of the first regions 111 and the second regions 131 that can be disposed on the sheet substrate 100 can be increased, which can contribute to an improvement in manufacturing efficiency.

次に、シート基板100には、マトリックス状に配置されたそれぞれの領域(第1領域111および第2領域131など)の電子デバイスを、分割領域7,8で分割し、個片化された電子デバイスが完成する(個片化工程S111)。なお、分割には、砥石板を用いたダイシングソーなどを用いることができる。   Next, on the sheet substrate 100, the electronic devices in the respective regions (the first region 111 and the second region 131, etc.) arranged in a matrix are divided by the divided regions 7 and 8, and are separated into individual pieces. The device is completed (individualization step S111). For the division, a dicing saw using a grindstone plate or the like can be used.

以上説明した電子デバイスの製造方法によれば、少なくとも2つの領域(第1領域111、第2領域131)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b)上に接続されたリッドに測定端子などを当接させて、振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができる。したがって、検査用の専用端子を設けることなく振動素子120およびサーミスター180の特性検査などを行うことができるため、検査用の専用端子とそれに関わる配線部分の占有部分に該当する第1領域111および第2領域131の面積を小さくすることが可能となる。換言すれば、シート基板100に配置できる第1領域111、および第2領域131の配置数を多くすることが可能となり、電子デバイスの製造効率を向上させることが可能となる。   According to the electronic device manufacturing method described above, on the annular electrodes (the first annular electrode 117 and the second annular electrode 117b) disposed in each of at least two regions (the first region 111 and the second region 131). A characteristic inspection of the vibration element 120 and the thermistor 180 can be performed by bringing a measurement terminal or the like into contact with the connected lid. Therefore, since the characteristic inspection of the vibration element 120 and the thermistor 180 can be performed without providing a dedicated inspection terminal, the first region 111 corresponding to the dedicated terminal for inspection and the occupied portion of the wiring portion related thereto, and The area of the second region 131 can be reduced. In other words, it is possible to increase the number of first regions 111 and second regions 131 that can be disposed on the sheet substrate 100, and it is possible to improve the manufacturing efficiency of the electronic device.

なお、上述の製造方法では、二つの電子部品(振動素子120とサーミスター180)を用いた例で説明したが、一つの電子部品を備えた構成(例えば、第1実施形態のような振動素子20を備えた構成)においても、同様な方法で製造することができる。この場合は、図6に示す工程フローから、第2電子部品接続工程S105を除いた工程フローとなる。   In the above-described manufacturing method, an example using two electronic components (the vibration element 120 and the thermistor 180) has been described. However, a configuration including one electronic component (for example, the vibration element as in the first embodiment). In the configuration provided with 20, the same method can be used. In this case, the process flow is obtained by removing the second electronic component connection process S105 from the process flow shown in FIG.

また、上述の製造方法では、少なくとも2つの領域(第1領域111、第2領域131)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b)上に接続された蓋体としてのリッドに測定端子などを当接させる方法で説明したが、これに限らない。この方法に変えて、リッドを用いず、少なくとも2つの領域(第1領域111、第2領域131)のそれぞれに配置された環状電極(第1環状電極117、第2環状電極117b)に直接測定端子などを当接させる方法でもよく、同様な効果を得ることができる。   In the above-described manufacturing method, the lid connected to the annular electrodes (the first annular electrode 117 and the second annular electrode 117b) disposed in each of at least two regions (the first region 111 and the second region 131). Although it demonstrated by the method of making a measurement terminal etc. contact | abut to the lid as a body, it is not restricted to this. Instead of using this method, measurement is directly performed on the annular electrodes (first annular electrode 117 and second annular electrode 117b) disposed in at least two regions (first region 111 and second region 131) without using a lid. A method of bringing a terminal or the like into contact may be used, and the same effect can be obtained.

また、シート基板100の第2面105bに設けられている外部端子(第1外部端子121,122,123,124)は、電子部品の接続端子と接続されている。即ち、第1端子112は、第1外部端子121と接続され、第5端子113は、第1外部端子123と接続され、第3端子181は、第1外部端子122と接続され、第4端子182は、第1外部端子124と接続されている。これにより、外部端子(第1外部端子121,122,123,124)の面積が十分確保できれば、測定端子を外部端子(第1外部端子121,122,123,124)の当接することによって特性検査を行うことも可能である。   Further, external terminals (first external terminals 121, 122, 123, 124) provided on the second surface 105b of the sheet substrate 100 are connected to connection terminals of electronic components. That is, the first terminal 112 is connected to the first external terminal 121, the fifth terminal 113 is connected to the first external terminal 123, the third terminal 181 is connected to the first external terminal 122, and the fourth terminal. 182 is connected to the first external terminal 124. Accordingly, if a sufficient area of the external terminals (first external terminals 121, 122, 123, 124) can be secured, the characteristic inspection is performed by bringing the measurement terminals into contact with the external terminals (first external terminals 121, 122, 123, 124). It is also possible to perform.

また、上述の第1、第2実施形態では電子デバイスとして、一つの電子部品(振動素子20)を用いた振動子、および二つの電子部品(振動素子120とサーミスター180)を用いた温度補償型振動子を例で説明したがこれに限らない。例えば、他の電子部品である発振回路素子などを搭載した発振器などであってもよい。   In the first and second embodiments described above, as the electronic device, a vibrator using one electronic component (vibration element 20) and temperature compensation using two electronic components (vibration element 120 and thermistor 180) are used. The type vibrator has been described as an example, but the present invention is not limited to this. For example, an oscillator on which an oscillation circuit element that is another electronic component is mounted may be used.

また、シート基板10,100の端を第1領域11,111とした場合に、隣り合う領域が存在しないことがある。この場合は、シート基板10,100の端部に、それぞれの接続端子と接続した測定用のダミー端子を設け、そのダミー端子に測定端子(プローブ)を当接させることも可能である。   Moreover, when the edge of the sheet | seat board | substrates 10 and 100 is made into the 1st area | regions 11 and 111, an adjacent area | region may not exist. In this case, it is also possible to provide dummy terminals for measurement connected to the respective connection terminals at the end portions of the sheet substrates 10 and 100, and bring the measurement terminals (probes) into contact with the dummy terminals.

[電子機器]
次いで、本発明の一実施形態に係る電子デバイスを適用した電子機器について、図7〜図9に基づき、詳細に説明する。なお、説明では、電子デバイス(振動子)1を適用した例を示している。
[Electronics]
Next, an electronic apparatus to which the electronic device according to an embodiment of the present invention is applied will be described in detail with reference to FIGS. In the description, an example in which the electronic device (vibrator) 1 is applied is shown.

図7は、本発明の一実施形態に係る電子デバイス(振動子)1を備える電子機器としてのモバイル型(又はノート型)のパーソナルコンピューターの構成の概略を示す斜視図である。この図において、パーソナルコンピューター1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、表示部100を備えた表示ユニット1106とにより構成され、表示ユニット1106は、本体部1104に対しヒンジ構造部を介して回動可能に支持されている。このようなパーソナルコンピューター1100には、信号処理のタイミング源としての機能を備えた電子デバイス(振動子)1が内蔵されている。   FIG. 7 is a perspective view schematically illustrating a configuration of a mobile (or notebook) personal computer as an electronic apparatus including the electronic device (vibrator) 1 according to an embodiment of the present invention. In this figure, a personal computer 1100 includes a main body portion 1104 provided with a keyboard 1102 and a display unit 1106 provided with a display portion 100. The display unit 1106 is rotated with respect to the main body portion 1104 via a hinge structure portion. It is supported movably. Such a personal computer 1100 incorporates an electronic device (vibrator) 1 having a function as a signal processing timing source.

図8は、本発明の一実施形態に係る電子デバイス(振動子)1を備える電子機器としての携帯電話機(PHSも含む)の構成の概略を示す斜視図である。この図において、携帯電話機1200は、複数の操作ボタン1202、受話口1204および送話口1206を備え、操作ボタン1202と受話口1204との間には、表示部100が配置されている。このような携帯電話機1200には、信号処理のタイミング源としての機能を備えた電子デバイス(振動子)1が内蔵されている。   FIG. 8 is a perspective view schematically illustrating a configuration of a mobile phone (including PHS) as an electronic apparatus including the electronic device (vibrator) 1 according to an embodiment of the present invention. In this figure, a cellular phone 1200 includes a plurality of operation buttons 1202, an earpiece 1204, and a mouthpiece 1206, and the display unit 100 is disposed between the operation buttons 1202 and the earpiece 1204. Such a cellular phone 1200 incorporates an electronic device (vibrator) 1 having a function as a signal processing timing source.

図9は、本発明の一実施形態に係る電子デバイス(振動子)1を備える電子機器としてのデジタルスチールカメラの構成の概略を示す斜視図である。なお、この図には、外部機器との接続についても簡易的に示されている。ここで、従来のフィルムカメラは、被写体の光像により銀塩写真フィルムを感光するのに対し、デジタルスチールカメラ1300は、被写体の光像をCCD(Charge Coupled Device)等の撮像素子により光電変換して撮像信号(画像信号)を生成する。   FIG. 9 is a perspective view schematically illustrating a configuration of a digital still camera as an electronic apparatus including the electronic device (vibrator) 1 according to an embodiment of the present invention. In this figure, connection with an external device is also simply shown. Here, the conventional film camera sensitizes the silver halide photographic film with the light image of the subject, whereas the digital still camera 1300 photoelectrically converts the light image of the subject with an imaging device such as a CCD (Charge Coupled Device). To generate an imaging signal (image signal).

デジタルスチールカメラ1300におけるケース(ボディー)1302の背面には、表示部100が設けられ、CCDによる撮像信号に基づいて表示を行う構成になっており、表示部100は、被写体を電子画像として表示するファインダーとして機能する。また、ケース1302の正面側(図中裏面側)には、光学レンズ(撮像光学系)やCCD等を含む受光ユニット1304が設けられている。   A display unit 100 is provided on the back of a case (body) 1302 in the digital still camera 1300, and is configured to display based on an imaging signal from the CCD. The display unit 100 displays an object as an electronic image. Functions as a viewfinder. A light receiving unit 1304 including an optical lens (imaging optical system), a CCD, and the like is provided on the front side (the back side in the drawing) of the case 1302.

撮影者が表示部100に表示された被写体像を確認し、シャッターボタン1306を押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、メモリー1308に転送、格納される。また、このデジタルスチールカメラ1300においては、ケース1302の側面に、ビデオ信号出力端子1312と、データ通信用の入出力端子1314とが設けられている。そして、図示されるように、ビデオ信号出力端子1312にはテレビモニター1430が、データ通信用の入出力端子1314にはパーソナルコンピューター1440が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作により、メモリー1308に格納された撮像信号が、テレビモニター1430や、パーソナルコンピューター1440に出力される構成になっている。このようなデジタルスチールカメラ1300には、信号処理のタイミング源としての機能を備えた電子デバイス(振動子)1が内蔵されている。   When the photographer confirms the subject image displayed on the display unit 100 and presses the shutter button 1306, the CCD image pickup signal at that time is transferred to and stored in the memory 1308. In the digital still camera 1300, a video signal output terminal 1312 and an input / output terminal 1314 for data communication are provided on the side surface of the case 1302. As shown in the figure, a television monitor 1430 is connected to the video signal output terminal 1312 and a personal computer 1440 is connected to the input / output terminal 1314 for data communication as necessary. Further, the imaging signal stored in the memory 1308 is output to the television monitor 1430 or the personal computer 1440 by a predetermined operation. Such a digital still camera 1300 incorporates an electronic device (vibrator) 1 having a function as a signal processing timing source.

なお、本発明の一実施形態に係る電子デバイス(振動子)1は、図7のパーソナルコンピューター(モバイル型パーソナルコンピューター)、図8の携帯電話機、図9のデジタルスチールカメラの他にも、例えば、インクジェット式吐出装置(例えばインクジェットプリンター)、ラップトップ型パーソナルコンピューター、テレビ、ビデオカメラ、ビデオレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳(通信機能付も含む)、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニター、電子双眼鏡、POS端末、医療機器(例えば電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、電子内視鏡)、魚群探知機、各種測定機器、計器類(例えば、車両、航空機、船舶の計器類)、フライトシミュレーター、移動体端末基地局用機器等の電子機器に適用することができる。   In addition to the personal computer (mobile personal computer) in FIG. 7, the mobile phone in FIG. 8, and the digital still camera in FIG. 9, the electronic device (vibrator) 1 according to an embodiment of the present invention includes, for example: Inkjet ejection device (for example, inkjet printer), laptop personal computer, TV, video camera, video recorder, car navigation device, pager, electronic notebook (including communication function), electronic dictionary, calculator, electronic game device, word processor , Workstations, videophones, crime prevention TV monitors, electronic binoculars, POS terminals, medical equipment (eg, electronic thermometers, blood pressure monitors, blood glucose meters, electrocardiogram measuring devices, ultrasonic diagnostic devices, electronic endoscopes), fish detectors, Various measuring instruments and instruments (for example, vehicles, Check machine, instruments and ships), a flight simulator, can be applied to electronic devices of a device such as a mobile terminal the base station.

[移動体]
図10は移動体の一例としての自動車を概略的に示す斜視図である。自動車506には本発明に係る電子デバイス(振動子)1が搭載されている。例えば、同図に示すように、移動体としての自動車506には電子デバイス(振動子)1を内蔵してタイヤ509などを制御する電子制御ユニット508が車体507に搭載されている。また、電子デバイス(振動子)1は、他にもキーレスエントリー、イモビライザー、カーナビゲーションシステム、カーエアコン、アンチロックブレーキシステム(ABS)、エアバック、タイヤ・プレッシャー・モニタリング・システム(TPMS:Tire Pressure Monitoring System)、エンジンコントロール、ハイブリッド自動車や電気自動車の電池モニター、車体姿勢制御システム、等の電子制御ユニット(ECU:electronic control unit)に広く適用できる。
[Moving object]
FIG. 10 is a perspective view schematically showing an automobile as an example of a moving body. An automobile 506 is equipped with an electronic device (vibrator) 1 according to the present invention. For example, as shown in the figure, an automobile 506 as a moving body has an electronic control unit 508 that incorporates an electronic device (vibrator) 1 and controls a tire 509 and the like mounted on a vehicle body 507. In addition, the electronic device (vibrator) 1 includes keyless entry, immobilizer, car navigation system, car air conditioner, anti-lock brake system (ABS), airbag, tire pressure monitoring system (TPMS: Tire Pressure Monitoring). System), engine control, battery monitors of hybrid vehicles and electric vehicles, vehicle body attitude control systems, and other electronic control units (ECUs) can be widely applied.

5…ベース基板、5a…ベース基板の第1面、5b…ベース基板の第2面、7,8…分割領域、10…シート基板、11…第1領域、11b…他の領域、12…第1端子、13…第5端子、14…接続配線、15,16…貫通配線、16b…他の領域の貫通配線、17…第1導電部としての第1環状電極、17b…他の領域の環状電極、18…貫通配線、19…導電性接着剤、20…電子部品としての振動素子、21,22,23,24…第1外部端子、22b…他の領域の外部端子、25,26…接続端子、31…第2領域、31b…他の領域、32,33…第2端子、34…接続配線、35,36…貫通配線、37…第2導電部としての第2環状電極、38…貫通配線、39…導電性接着剤、41,42,43,44…第1外部端子、51…第3領域、72…蓋体としてのリッド、91…第4領域、180…電子部品としてのサーミスター。   5 ... base substrate, 5a ... first surface of base substrate, 5b ... second surface of base substrate, 7, 8 ... divided region, 10 ... sheet substrate, 11 ... first region, 11b ... other region, 12 ... first 1 terminal, 13 ... fifth terminal, 14 ... connection wiring, 15, 16 ... through wiring, 16b ... through wiring in other region, 17 ... first annular electrode as first conductive portion, 17b ... annular in other region Electrode, 18 ... penetrating wiring, 19 ... conductive adhesive, 20 ... vibrating element as electronic component, 21, 22, 23, 24 ... first external terminal, 22b ... external terminal in other region, 25, 26 ... connection Terminal, 31 ... 2nd area | region, 31b ... Other area | region, 32, 33 ... 2nd terminal, 34 ... Connection wiring, 35, 36 ... Through wiring, 37 ... 2nd annular electrode as 2nd electroconductive part, 38 ... Through Wiring, 39 ... conductive adhesive, 41, 42, 43, 44 ... first external terminals, 5 ... third region, 72 ... lid as lid, 91 ... fourth region, 180 ... thermistor as an electronic component.

Claims (10)

第1面に第1領域および第2領域を有し、
前記第1領域に配置され、第1電子部品が接続される第1端子と、
前記第2領域に配置されている第2端子と、
前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、
前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し、前記第4領域に配置されている第2導電部と、
前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、
前記第2面に、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備え、
前記第1外部端子は、前記第2外部端子と電気的に接続されていることを特徴とするシート基板。
Having a first region and a second region on the first surface;
A first terminal disposed in the first region and connected to a first electronic component;
A second terminal disposed in the second region;
A first conductive portion having a third region surrounding the first terminal in the first region, the first conductive portion being disposed in the third region;
A second conductive part having a fourth region surrounding the second terminal in the second region, and being disposed in the fourth region;
A first external terminal disposed on a region overlapping the first region in plan view on the second surface in front-back relation with the first surface, and electrically connected to the first terminal;
A second external terminal disposed on the second surface in a region overlapping the second region in plan view and electrically connected to the second conductive portion;
The sheet substrate, wherein the first external terminal is electrically connected to the second external terminal.
前記第1領域に配置され、第2電子部品が接続される第3端子を有し、
前記第3端子は、前記第3領域に囲まれているとともに、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていないことを特徴とする請求項1に記載のシート基板。
A third terminal disposed in the first region and connected to a second electronic component;
2. The third terminal is surrounded by the third region, is electrically connected to the first conductive portion, and is not electrically connected to the first terminal. A sheet substrate according to 1.
前記第1領域と前記第2領域の境界部に、前記第1面から前記第2面に至る貫通電極を備え、
前記第1外部端子と前記第2外部端子とは、前記貫通電極を介して電気的に接続されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のシート基板。
A boundary electrode between the first region and the second region includes a through electrode extending from the first surface to the second surface,
The sheet substrate according to claim 1, wherein the first external terminal and the second external terminal are electrically connected via the through electrode.
前記第1導電部および前記第2導電部のそれぞれに、導電性を有する蓋体が接続されていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載のシート基板。   The sheet substrate according to any one of claims 1 to 3, wherein a lid having conductivity is connected to each of the first conductive portion and the second conductive portion. 第1面に第1領域および第2領域を有し、前記第1領域に配置されている第1端子と、前記第2領域に配置されている第2端子と、前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し、前記第4領域に配置されている第2導電部と、前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、前記第2面に、前記第1外部端子と電気的に接続され、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備えているシート基板を用いた電子デバイスの製造方法であって、
前記第1端子に第1電子部品を接続する工程と、
前記第2導電部に、導電性を有する第1蓋体を接続する工程と、を備えていることを特徴とする電子デバイスの製造方法。
The first surface has a first region and a second region, a first terminal disposed in the first region, a second terminal disposed in the second region, and the first terminal in the first region A fourth region having a third region surrounding the first terminal and having a first conductive portion disposed in the third region; and a fourth region surrounding the second terminal in the second region; And the second conductive portion arranged on the second surface and the second surface in front-back relation with the first surface are arranged in a region overlapping the first region in plan view, and electrically with the first terminal A first external terminal connected to the second surface, the second external portion being electrically connected to the first external terminal and disposed in a region overlapping the second region in plan view. And a second external terminal electrically connected to the electronic device using the sheet substrate Te,
Connecting a first electronic component to the first terminal;
And a step of connecting a conductive first lid to the second conductive portion. A method of manufacturing an electronic device, comprising:
前記シート基板は、前記第1領域に配置され、前記第3領域に囲まれており、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていない第3端子を有しており、
前記第3端子に第2電子部品を接続する工程と、
前記第1導電部に導電性を有する第2蓋体を接続する工程と、を備えていることを特徴とする請求項5に記載の電子デバイスの製造方法。
The sheet substrate is disposed in the first region, is surrounded by the third region, is electrically connected to the first conductive portion, and is not electrically connected to the first terminal. Has a terminal,
Connecting a second electronic component to the third terminal;
The method for manufacturing an electronic device according to claim 5, further comprising: connecting a second lid having conductivity to the first conductive portion.
第1面に第1領域および第2領域を有し、前記第1領域に配置されている第1端子と、前記第2領域に配置されている第2端子と、前記第1領域内に前記第1端子を囲む第3領域を有し、前記第3領域に配置されている第1導電部と、前記第2領域内に前記第2端子を囲む第4領域を有し、前記第4領域に配置されている第2導電部と、前記第1面と表裏関係にある第2面に、平面視で前記第1領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第1端子と電気的に接続されている第1外部端子と、前記第2面に、前記第1外部端子と電気的に接続され、平面視で前記第2領域と重なる領域に配置されているとともに、前記第2導電部と電気的に接続されている第2外部端子と、を備えているシート基板を用いた電子デバイスの検査方法であって、
前記第1端子に第1電子部品を接続する工程と、
前記第1電子部品の特性を検査する工程と、を有し、
前記特性を検査する工程では、前記第2導電部に信号を入力して前記第1電子部品の特性を検査することを特徴とする電子デバイスの検査方法。
The first surface has a first region and a second region, a first terminal disposed in the first region, a second terminal disposed in the second region, and the first terminal in the first region A fourth region having a third region surrounding the first terminal and having a first conductive portion disposed in the third region; and a fourth region surrounding the second terminal in the second region; And the second conductive portion arranged on the second surface and the second surface in front-back relation with the first surface are arranged in a region overlapping the first region in plan view, and electrically with the first terminal A first external terminal connected to the second surface, the second external portion being electrically connected to the first external terminal and disposed in a region overlapping the second region in plan view. And a second external terminal electrically connected to the electronic device using the sheet substrate Te,
Connecting a first electronic component to the first terminal;
And inspecting the characteristics of the first electronic component,
In the step of inspecting the characteristics, a signal is input to the second conductive portion to inspect the characteristics of the first electronic component, and the method for inspecting an electronic device is characterized.
前記第2導電部に導電性を有する第1蓋体を接続する工程を有し、
前記特性を検査する工程では、
前記第1蓋体に信号を入力して、前記第1電子部品を検査することを特徴とする請求項7に記載の電子デバイスの検査方法。
Connecting a first lid having conductivity to the second conductive portion;
In the step of inspecting the characteristics,
The electronic device inspection method according to claim 7, wherein the first electronic component is inspected by inputting a signal to the first lid.
前記シート基板には、前記第1領域に配置され、前記第3領域に囲まれており、前記第1導電部と電気的に接続され、且つ前記第1端子と電気的に接続されていない第3端子を有しており、
前記第3端子に第2電子部品を接続する工程と、
前記第2電子部品の特性を検査する工程と、を有し、
前記特性を検査する工程では、前記第1導電部に信号を入力して前記第2電子部品を検査することを特徴とする請求項7に記載の電子デバイスの検査方法。
The sheet substrate is disposed in the first region, is surrounded by the third region, is electrically connected to the first conductive portion, and is not electrically connected to the first terminal. It has 3 terminals,
Connecting a second electronic component to the third terminal;
Inspecting characteristics of the second electronic component,
The method for inspecting an electronic device according to claim 7, wherein in the step of inspecting the characteristic, a signal is input to the first conductive portion to inspect the second electronic component.
前記第1導電部に導電性を有する第1蓋体を接続する工程と、
前記第2導電部に導電性を有する第2蓋体を接続する工程と、を有し、
前記特性を検査する工程では、
前記第1蓋体および前記第2蓋体の少なくとも一方に信号を入力して、前記第1電子部品および前記第2電子部品の少なくとも一方を検査することを特徴とする請求項9に記載の電子デバイスの検査方法。
Connecting a first lid having conductivity to the first conductive portion;
Connecting a second lid having conductivity to the second conductive part,
In the step of inspecting the characteristics,
The electronic device according to claim 9, wherein a signal is input to at least one of the first lid and the second lid to inspect at least one of the first electronic component and the second electronic component. Device inspection method.
JP2013172034A 2013-08-22 2013-08-22 Sheet substrate, method for manufacturing electronic device, and method for inspecting electronic device Pending JP2015041891A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013172034A JP2015041891A (en) 2013-08-22 2013-08-22 Sheet substrate, method for manufacturing electronic device, and method for inspecting electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013172034A JP2015041891A (en) 2013-08-22 2013-08-22 Sheet substrate, method for manufacturing electronic device, and method for inspecting electronic device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015041891A true JP2015041891A (en) 2015-03-02

Family

ID=52695812

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013172034A Pending JP2015041891A (en) 2013-08-22 2013-08-22 Sheet substrate, method for manufacturing electronic device, and method for inspecting electronic device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2015041891A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019107298A1 (en) * 2017-11-29 2019-06-06 Ngkエレクトロデバイス株式会社 Sheet substrate and method for manufacturing sheet substrate
WO2021049087A1 (en) * 2019-09-09 2021-03-18 株式会社村田製作所 Resonance device, assembly board, and resonance device manufacturing method

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019107298A1 (en) * 2017-11-29 2019-06-06 Ngkエレクトロデバイス株式会社 Sheet substrate and method for manufacturing sheet substrate
CN111133570A (en) * 2017-11-29 2020-05-08 Ngk电子器件株式会社 Sheet-like substrate and method for manufacturing sheet-like substrate
JPWO2019107298A1 (en) * 2017-11-29 2020-09-24 Ngkエレクトロデバイス株式会社 Sheet substrate and sheet substrate manufacturing method
CN111133570B (en) * 2017-11-29 2023-09-15 Ngk电子器件株式会社 Sheet-like substrate and method for manufacturing sheet-like substrate
WO2021049087A1 (en) * 2019-09-09 2021-03-18 株式会社村田製作所 Resonance device, assembly board, and resonance device manufacturing method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9525400B2 (en) Resonator element, resonator, oscillator, electronic apparatus and moving object
US9159905B2 (en) Electronic device, electronic apparatus, mobile unit, and method of manufacturing electronic device
JP6307869B2 (en) Electronic components, crystal oscillators with thermostatic chambers, electronic devices, and moving objects
US9344056B2 (en) Resonator, oscillator, electronic apparatus, and moving object
US9748920B2 (en) Resonator element, resonator, electronic device, electronic apparatus, and moving object
US9590584B2 (en) Resonation device, electronic device, and moving object
US20140306582A1 (en) Electronic component, electronic apparatus, and moving object
US10103710B2 (en) Resonator, oscillator, electronic apparatus, and mobile object
US20140035685A1 (en) Resonator device, electronic device, electronic apparatus, and mobile object
JP6805697B2 (en) Electronic component packages, oscillators, electronics, and mobiles
JP2014053663A (en) Electronic device, electronic apparatus, and moving body
JP2015041891A (en) Sheet substrate, method for manufacturing electronic device, and method for inspecting electronic device
US10381978B2 (en) Electronic-component package, oscillator, electronic apparatus, and vehicle
US10027308B2 (en) Vibration device, electronic apparatus, and mobile object
US9363895B2 (en) Circuit substrate, electronic device, method of manufacturing electronic device, electronic apparatus, and moving object
JP2017092724A (en) Vibration device, oscillator, electronic apparatus and movable body
US9590585B2 (en) Resonation device, oscillator, electronic apparatus, and moving object
JP2016127468A (en) Vibration device, electronic apparatus and mobile object
US9793875B2 (en) Vibration element, vibrator, oscillator, electronic apparatus, and moving object
US10009006B2 (en) Resonator device, electronic apparatus, and moving object
JP2018074012A (en) Package for electronic device, electronic device, electronic apparatus, and movable body
JP2015046667A (en) Method for manufacturing electronic device
JP6222327B2 (en) Manufacturing method of electronic device
JP2016072938A (en) Manufacturing method of vibrator, vibrator, oscillator, electronic apparatus and movable body
JP2017229017A (en) Vibration device, method of manufacturing vibration device, electronic device, and movable body

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20150113

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20160610

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20160624