JP2015028139A - Curable resin composition, cured film, light-emitting element, wavelength conversion film, and method for forming light-emitting layer - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a curable resin composition which contains semiconductor quantum dots and is capable of easily forming a highly reliable cured film excellent in fluorescent characteristics, and to provide a cured film, a light-emitting element, a wavelength conversion film, and a method for forming a light-emitting layer.SOLUTION: There is formed the curable resin composition containing: [A] a compound with a molecular weight of 150 to 10,000 inclusive which has two or more polymerizable groups in one molecule; [B] semiconductor quantum dots; and [C] a hydrocarbon-based solvent. The curable resin composition is used to form a cured film on a substrate 12. The cured film serves as a wavelength conversion film, and it is used as a light-emitting layer 13 to form a wavelength conversion substrate 11. The wavelength conversion substrate 11 is combined with a light source substrate 18 provided with a light source 17 to constitute a light-emitting display element 100.

Description

本発明は、硬化性樹脂組成物、硬化膜、発光素子、波長変換フィルムおよび発光層の形成方法に関する。   The present invention relates to a curable resin composition, a cured film, a light emitting element, a wavelength conversion film, and a method for forming a light emitting layer.

電子を閉じ込めるために形成された極小さな粒(ドット)が、量子ドットと称され、近年注目を集めている。1粒の量子ドットの大きさは、直径数ナノメートルから数10ナノメートルであり、約1万個の原子で構成されている。   Extremely small particles (dots) formed to confine electrons are called quantum dots and have recently attracted attention. The size of one quantum dot is several nanometers to several tens of nanometers in diameter, and is composed of about 10,000 atoms.

量子ドットは、太陽電池パネルの半導体の薄膜の中に分散させると、エネルギー変換効率を大幅に向上させることができることから太陽電池への適用が検討されている(例えば、特許文献1を参照のこと。)。また、量子ドットのサイズを変える(バンドギャップを変える)ことで、発光する蛍光の色(発光波長)を変えること(波長変換)ができるため、バイオ研究における蛍光プローブ(非特許文献1を参照のこと。)や、波長変換材料としての表示素子への適用(特許文献2および特許文献3を参照のこと。)が検討されている。   When quantum dots are dispersed in a semiconductor thin film of a solar cell panel, energy conversion efficiency can be greatly improved, so application to solar cells has been studied (for example, see Patent Document 1). .) In addition, by changing the size of the quantum dots (changing the band gap), it is possible to change the color (emission wavelength) of the emitted fluorescence (wavelength conversion), so fluorescent probes in bio research (see Non-Patent Document 1) And application to a display element as a wavelength conversion material (see Patent Document 2 and Patent Document 3).

特開2006−216560号公報JP 2006-216560 A 特開2008−112154号公報JP 2008-112154 A 特開2009−251129号公報JP 2009-251129 A

神隆、「半導体量子ドット、その合成法と生命科学への応用」、生産と技術、第63巻、第2号、2011年、p58〜p65Shintaka, “Semiconductor quantum dots, their synthesis and application to life science,” Production and Technology, Vol. 63, No. 2, 2011, p58-p65

非特許文献1や特許文献1の実施例に示されるように、代表的な量子ドットは、II−V族の半導体のCdSe(セレン化カドミウム)、CdTe(テルル化カドミウム)およびPbS等からなる半導体量子ドットである。   As shown in Examples of Non-Patent Document 1 and Patent Document 1, typical quantum dots are semiconductors made of II-V semiconductors such as CdSe (cadmium selenide), CdTe (cadmium telluride), and PbS. It is a quantum dot.

しかし、例えば、主成分である鉛(Pb)は、毒性への懸念が良く知られた材料である。また、カドミウム(Cd)とその化合物は、低濃度でも極めて強い毒性を示し、腎臓機能障害や発がん性が懸念される材料である。したがって、より安全な材料からなる半導体量子ドットの形成が求められている。   However, for example, lead (Pb), which is the main component, is a material well known for its concern for toxicity. Further, cadmium (Cd) and its compounds are extremely toxic even at low concentrations, and are materials for which renal dysfunction and carcinogenicity are a concern. Therefore, there is a demand for the formation of semiconductor quantum dots made of a safer material.

また、半導体量子ドットを太陽電池パネルや表示素子のディスプレイ等に適用しようとする場合、その蛍光発光を利用するため、粒子形態の半導体量子ドットからなる膜や層の形成が求められる場合がある。すなわち、蛍光発光を示す、波長変換膜(波長変換フィルム)または発光層の形成が求められることがある。   In addition, when semiconductor quantum dots are to be applied to a solar cell panel, a display of a display element, or the like, formation of a film or a layer composed of semiconductor quantum dots in a particle form may be required in order to utilize the fluorescence emission. That is, the formation of a wavelength conversion film (wavelength conversion film) or a light emitting layer that exhibits fluorescence may be required.

粒子形態の半導体量子ドットを用いた発光層の形成方法としては、例えば、特許文献1の実施例や特許文献2に示されるように、適当な基板上に、直接に、半導体量子ドットからなる層を形成する方法が知られている。しかしながら、このような形成方法では、得られる発光層の安定性が乏しい。特に、半導体量子ドットからなる層と基板との結着性に懸念がある。   As a method for forming a light-emitting layer using semiconductor quantum dots in the form of particles, for example, as shown in the Examples of Patent Document 1 and Patent Document 2, a layer made of semiconductor quantum dots directly on an appropriate substrate A method of forming is known. However, in such a formation method, the stability of the obtained light emitting layer is poor. In particular, there is concern about the binding property between the layer made of semiconductor quantum dots and the substrate.

そこで、粒子形態の半導体量子ドットを樹脂材料中に混合または埋め込んで、層または膜を構成する方法が提案されている。しかしながら、半導体量子ドットを用い、高い分散性を実現して半導体量子ドットとしての蛍光特性を保ちながら、樹脂とともに層や膜の形成を行う方法は十分な検討がなされていない。   Therefore, a method of forming a layer or a film by mixing or embedding semiconductor quantum dots in a particle form in a resin material has been proposed. However, a method for forming a layer or a film together with a resin while realizing high dispersibility by using semiconductor quantum dots and maintaining fluorescence characteristics as a semiconductor quantum dot has not been sufficiently studied.

そのため、半導体量子ドットを樹脂材料とともに用い、高い分散性を実現して半導体量子ドットの蛍光発光特性を低下させることなく、半導体量子ドットの層または膜を形成し、高信頼性の発光層または波長変換フィルムを形成する技術が求められている。特に、半導体量子ドットとともに用いられ、半導体量子ドットと樹脂とからなる発光層や波長変換フィルムの形成に好適となる樹脂材料が求められている。   Therefore, semiconductor quantum dots are used together with resin materials to achieve high dispersibility and form semiconductor quantum dot layers or films without degrading the fluorescence emission characteristics of semiconductor quantum dots. A technique for forming a conversion film is required. In particular, there is a demand for a resin material that is used together with semiconductor quantum dots and that is suitable for forming a light-emitting layer or a wavelength conversion film comprising semiconductor quantum dots and a resin.

その場合、樹脂材料は、特に、安全な材料からなる半導体量子ドットとともに用いられ、発光層や波長変換フィルムの形成に好適となるものであることが望ましい。   In that case, it is desirable that the resin material be used together with a semiconductor quantum dot made of a safe material and be suitable for forming a light emitting layer or a wavelength conversion film.

加えて、半導体量子ドットと樹脂材料からなる発光層や波長変換フィルムは、簡便な形成が可能で、高い生産性を有していることが好ましい。したがって、その半導体量子ドットと樹脂材料とからなる発光層や波長変換フィルムの形成には、例えば、塗布等の簡便な形成方法を利用できることが好ましい。そして、その発光層や波長変換フィルムは、例えば、半導体量子ドットと樹脂成分とを含む液状の樹脂組成物から、塗布等の方法を利用して形成できることが好ましい。
そのため、半導体量子ドットと樹脂成分とを含んで調製され、塗布等の方法の利用により、発光層や波長変換フィルムを形成できる樹脂組成物が求められている。
In addition, the light emitting layer and the wavelength conversion film made of the semiconductor quantum dots and the resin material can be easily formed, and preferably have high productivity. Therefore, it is preferable that a simple forming method such as coating can be used for forming a light emitting layer or a wavelength conversion film composed of the semiconductor quantum dots and the resin material. And it is preferable that the light emitting layer and the wavelength conversion film can be formed using methods, such as application | coating, from the liquid resin composition containing a semiconductor quantum dot and a resin component, for example.
Therefore, a resin composition that contains a semiconductor quantum dot and a resin component and that can form a light emitting layer or a wavelength conversion film by using a method such as coating is required.

そしてさらに、その樹脂組成物は、優れたパターニング性を有することが好ましい。すなわち、発光層や波長変換フィルムを形成する樹脂組成物は、例えば、発光表示素子等の発光素子の構成に好適に用いることができるように、パターニングが可能であることが好ましい。その場合、パターニングされた発光層や波長変換フィルムの形成は、例えば、フォトリソグラフィ法等の利用が可能であり、簡便に実現できることが好ましい。
そのため、フォトリソグラフィ法等の公知のパターニング方法を利用して、パターニングされた発光層や波長変換フィルムを簡便に形成することができる感放射線性の硬化性樹脂組成物が求められている。
Furthermore, it is preferable that the resin composition has an excellent patterning property. That is, it is preferable that patterning is possible so that the resin composition which forms a light emitting layer and a wavelength conversion film can be used suitably for the structure of light emitting elements, such as a light emitting display element. In that case, the formation of the patterned light-emitting layer and wavelength conversion film can be performed, for example, by photolithography, and can be easily realized.
Therefore, there is a need for a radiation-sensitive curable resin composition that can easily form a patterned light-emitting layer or wavelength conversion film using a known patterning method such as a photolithography method.

本発明は、以上のような問題に鑑みてなされたものである。すなわち、本発明の目的は、半導体量子ドットを含み、蛍光特性に優れた高信頼性の硬化膜を簡便に形成できる硬化性樹脂組成物を提供することである。   The present invention has been made in view of the above problems. That is, an object of the present invention is to provide a curable resin composition that includes a semiconductor quantum dot and can easily form a highly reliable cured film having excellent fluorescence characteristics.

また、本発明の目的は、半導体量子ドットを含む硬化性樹脂組成物を用いて形成され、蛍光特性に優れ、高い信頼性を有する硬化膜を提供することにある。   Another object of the present invention is to provide a cured film that is formed using a curable resin composition containing semiconductor quantum dots and has excellent fluorescence characteristics and high reliability.

また、本発明の目的は、半導体量子ドットを含む硬化性樹脂組成物を用いて形成された発光層を有する発光素子を提供することにある。   Moreover, the objective of this invention is providing the light emitting element which has a light emitting layer formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot.

また、本発明の目的は、半導体量子ドットを含む硬化性樹脂組成物を用いて形成され、蛍光特性に優れ、高い信頼性を有する波長変換フィルムを提供することにある。   Another object of the present invention is to provide a wavelength conversion film that is formed using a curable resin composition containing semiconductor quantum dots, has excellent fluorescence characteristics, and has high reliability.

さらに、本発明の目的は、半導体量子ドットを含む硬化性樹脂組成物を用いた発光層の形成方法を提供することにある。   Furthermore, the objective of this invention is providing the formation method of the light emitting layer using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot.

本発明の他の目的および利点は、以下の記載から明らかとなるであろう。   Other objects and advantages of the present invention will become apparent from the following description.

本発明の第1の態様は、
[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する分子量が150以上10000以下の化合物、
[B]半導体量子ドット、および
[C]炭化水素系溶剤
を含有することを特徴とする硬化性樹脂組成物に関する。
The first aspect of the present invention is:
[A] a compound having a molecular weight of 150 or more and 10,000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule;
[B] It relates to a curable resin composition comprising a semiconductor quantum dot and [C] a hydrocarbon solvent.

本発明の第1の態様において、さらに酸素原子含有有機溶剤を含有することが好ましい。   In the first aspect of the present invention, it is preferable to further contain an oxygen atom-containing organic solvent.

本発明の第1の態様において、さらに[D]重合性開始剤を含有することが好ましい。   In the first embodiment of the present invention, it is preferable to further contain a [D] polymerizable initiator.

本発明の第1の態様において、[D]重合性開始剤が、炭素数1〜20の炭化水素基を含有する重合性開始剤であることが好ましい。   1st aspect of this invention WHEREIN: It is preferable that [D] polymeric initiator is a polymeric initiator containing a C1-C20 hydrocarbon group.

本発明の第1の態様において、さらに、[E]カルボキシル基を有する重量平均分子量が5000以上40000以下の重合体を含有することが好ましい。   1st aspect of this invention WHEREIN: Furthermore, it is preferable to contain the polymer whose weight average molecular weights which have a [E] carboxyl group are 5000 or more and 40000 or less.

本発明の第1の態様において、[B]半導体量子ドットが、2族元素、11族元素、12族元素、13族元素、14族元素、15族元素および16族元素よりなる群から選ばれる少なくとも2種の元素を含む化合物からなることが好ましい。   In the first aspect of the present invention, the [B] semiconductor quantum dot is selected from the group consisting of a group 2 element, a group 11 element, a group 12 element, a group 13 element, a group 14 element, a group 15 element and a group 16 element. It is preferably made of a compound containing at least two elements.

本発明の第1の態様において、[B]半導体量子ドットが、Inを構成成分として含む化合物からなることが好ましい。   1st aspect of this invention WHEREIN: It is preferable that a [B] semiconductor quantum dot consists of a compound which contains In as a structural component.

本発明の第1の態様において、[B]半導体量子ドットが、InP/ZnS化合物、CuInS/ZnS化合物、AgInS化合物、(ZnS/AgInS)固溶体/ZnS化合物、ZnドープAgInS化合物およびSi化合物よりなる群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。 In the first aspect of the present invention, the [B] semiconductor quantum dot comprises an InP / ZnS compound, a CuInS 2 / ZnS compound, an AgInS 2 compound, a (ZnS / AgInS 2 ) solid solution / ZnS compound, a Zn-doped AgInS 2 compound, and a Si It is preferably at least one selected from the group consisting of compounds.

本発明の第1の態様において、前記[A]化合物が、下記式(1)で示される化合物、下記式(2)で示される化合物および下記式(3)で示される化合物よりなる群から選ばれる少なくとも1つの化合物であることが好ましい。   In the first aspect of the present invention, the [A] compound is selected from the group consisting of a compound represented by the following formula (1), a compound represented by the following formula (2), and a compound represented by the following formula (3). Preferably, at least one compound is selected.

Figure 2015028139
(式(1)中、Xは式(5)で示される2価の基、または炭素数5〜20の2価の脂環式炭化水素基を示し、式(5)中、nは2〜20の整数を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。
式(2)中、Rは水素原子、または炭素数1〜12のアルキル基を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。Wはエチレンオキサイド基またはプロピレンオキサイド基を示し、mは0〜4の整数を示す。
式(3)中、Rは水素原子、または炭素数1〜12のアルキル基を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。Wはエチレンオキサイド基またはプロピレンオキサイド基を示し、mは0〜4の整数を示す。)
Figure 2015028139
(In the formula (1), X represents a divalent group represented by the formula (5) or a divalent alicyclic hydrocarbon group having 5 to 20 carbon atoms, and in the formula (5), n represents 2 to 2 It represents an integer of 20. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group.
In formula (2), R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group. W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents an integer of 0 to 4.
In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group. W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents an integer of 0 to 4. )

本発明の第2の態様は、本発明の第1の態様の硬化性樹脂組成物を用いて形成されたことを特徴とする硬化膜に関する。   The second aspect of the present invention relates to a cured film characterized by being formed using the curable resin composition of the first aspect of the present invention.

本発明の第3の態様は、本発明の第1の態様の硬化性樹脂組成物を用いて形成された発光層を有することを特徴とする発光素子に関する。   A third aspect of the present invention relates to a light emitting device having a light emitting layer formed using the curable resin composition of the first aspect of the present invention.

本発明の第4の態様は、本発明の第1の態様の硬化性樹脂組成物を用いて形成されたこ
とを特徴とする波長変換フィルムに関する。
4th aspect of this invention is related with the wavelength conversion film formed using the curable resin composition of 1st aspect of this invention.

本発明の第5の態様は、発光素子の発光層の形成方法であって、
(1)本発明の第1の態様の硬化性樹脂組成物の塗膜を基板上に形成する工程、
(2)工程(1)で形成した塗膜の少なくとも一部に放射線を照射する工程、
(3)工程(2)で放射線を照射された塗膜を現像する工程、および
(4)工程(3)で現像された塗膜を露光する工程
を有することを特徴とする発光層の形成方法に関する。
A fifth aspect of the present invention is a method for forming a light emitting layer of a light emitting element,
(1) The process of forming the coating film of the curable resin composition of the 1st aspect of this invention on a board | substrate,
(2) A step of irradiating at least a part of the coating film formed in step (1),
(3) A step of developing the coating film irradiated with radiation in step (2), and (4) a step of exposing the coating film developed in step (3). About.

本発明の第1の態様によれば、半導体量子ドットを含み、蛍光特性に優れた高信頼性の硬化膜を簡便に形成できる硬化性樹脂組成物が提供される。   According to the 1st aspect of this invention, the curable resin composition which contains a semiconductor quantum dot and can form easily the highly reliable cured film excellent in the fluorescence characteristic is provided.

また、本発明の第2の態様によれば、半導体量子ドットを含む硬化性樹脂組成物を用いて形成され、蛍光特性に優れ、高い信頼性を有する硬化膜が提供される。   Moreover, according to the 2nd aspect of this invention, the cured film which is formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot, is excellent in the fluorescence characteristic, and has high reliability is provided.

また、本発明の第3の態様によれば、半導体量子ドットを含む硬化性樹脂組成物を用いて形成された発光層を有する発光素子が提供される。   Moreover, according to the 3rd aspect of this invention, the light emitting element which has a light emitting layer formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot is provided.

また、本発明の第4の態様によれば、半導体量子ドットを含む硬化性樹脂組成物を用いて形成され、蛍光特性に優れ、高い信頼性を有する波長変換フィルムを提供することである。   Moreover, according to the 4th aspect of this invention, it is formed using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot, and is providing the wavelength conversion film which is excellent in the fluorescence characteristic and has high reliability.

さらに、本発明の第5の態様によれば、半導体量子ドットを含む硬化性樹脂組成物を用いた、発光素子の発光層の形成方法が提供される。   Furthermore, according to the 5th aspect of this invention, the formation method of the light emitting layer of a light emitting element using the curable resin composition containing a semiconductor quantum dot is provided.

本発明の第2実施形態の硬化膜の形成における塗膜形成工程を説明する基板の断面図である。It is sectional drawing of the board | substrate explaining the coating-film formation process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態の硬化膜の形成における放射線照射工程を模式的に説明する断面図である。It is sectional drawing which illustrates typically the radiation irradiation process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態の硬化膜の形成における現像工程を説明する基板の断面図である。It is sectional drawing of the board | substrate explaining the image development process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態の硬化膜の形成における硬化工程を説明する硬化膜および基板の断面図である。It is sectional drawing of the cured film and board | substrate explaining the hardening process in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態の発光表示素子を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the light emitting display element of 3rd Embodiment of this invention.

本発明の硬化性樹脂組成物は、[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する重量平均分子量が150以上10000以下の化合物、すなわち、[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する重量平均分子量が150〜10000の化合物(以下、単に[A]成分とも言う。)、[B]半導体量子ドット(以下、単に[B]成分とも言う。)、および、[C]炭化水素系溶剤(以下、単に[C]成分とも言う。)を含有してなる硬化性の樹脂組成物である。   The curable resin composition of the present invention is [A] a compound having two or more polymerizable groups in one molecule and having a weight average molecular weight of 150 or more and 10,000 or less, that is, [A] two or more compounds in one molecule. A compound having a polymerizable group and having a weight average molecular weight of 150 to 10,000 (hereinafter also simply referred to as [A] component), [B] semiconductor quantum dots (hereinafter also simply referred to as [B] component), and [C ] A curable resin composition containing a hydrocarbon solvent (hereinafter also simply referred to as [C] component).

本発明の硬化性樹脂組成物は、[C]炭化水素系溶剤を含有し、塗布等の簡便な膜や層の形成方法に好適な液状の樹脂組成物となる。   The curable resin composition of the present invention contains a [C] hydrocarbon solvent and is a liquid resin composition suitable for a simple film or layer forming method such as coating.

本発明の硬化性樹脂組成物は、[A]成分とともに[B]半導体量子ドットを含有するが、[C]炭化水素系溶剤を含有することで、[B]半導体量子ドットの良好な分散状態を実現することができる。   Although the curable resin composition of the present invention contains [B] semiconductor quantum dots together with the [A] component, [B] a good dispersion state of the semiconductor quantum dots by containing [C] a hydrocarbon solvent. Can be realized.

[B]半導体量子ドットは、高い極性の溶剤中では凝集する傾向があって、良好な分散状態を実現することが難しい。[B]半導体量子ドットにおいて、凝集は、量子ドットとしての特性を損なわせることになる。その一方で、[B]半導体量子ドットは、低い極性の溶剤中では良好な分散状態を実現しやすい傾向を有する。そのため、本発明の硬化性樹脂組成物では、[C]成分として低い極性を実現することが可能な炭化水素系溶剤を含有する。そして、樹脂成分としては、[C]炭化水素系溶剤に溶解、または、分散をさせるのに好適なものが選択される。より具体的には、[C]炭化水素系溶剤に溶解、または、分散をさせるのに好適な、[A]成分が選択されて含有される。   [B] Semiconductor quantum dots tend to aggregate in a highly polar solvent, and it is difficult to realize a good dispersion state. [B] In the semiconductor quantum dots, the agglomeration impairs the properties of the quantum dots. On the other hand, the [B] semiconductor quantum dot tends to realize a good dispersion state in a low polarity solvent. Therefore, the curable resin composition of the present invention contains a hydrocarbon solvent capable of realizing low polarity as the [C] component. And as a resin component, what is suitable for making it melt | dissolve or disperse | distribute to a [C] hydrocarbon solvent is selected. More specifically, the [A] component suitable for dissolving or dispersing in the [C] hydrocarbon solvent is selected and contained.

その結果、本発明の硬化性樹脂組成物は、[B]半導体量子ドットの良好な分散状態が実現された液状の樹脂組成物を形成することができる。そして、本発明の硬化性樹脂組成物は、塗布等の簡便な形成方法を利用して、[B]半導体量子ドットの分散された層や膜を形成することができる。   As a result, the curable resin composition of the present invention can form a liquid resin composition in which a good dispersion state of [B] semiconductor quantum dots is realized. And the curable resin composition of this invention can form the layer and film | membrane in which the [B] semiconductor quantum dot was disperse | distributed using simple formation methods, such as application | coating.

また、本発明の硬化性樹脂組成物は感放射線性を有することができる。そのために、本発明の硬化性樹脂組成物は、[D]重合性開始剤(以下、単に[D]成分とも言う。)、[E]カルボキシル基を有する重量平均分子量が5000以上40000以下の重合体(以下、単に[E]成分とも言う。)を含有することが好ましい。そして、本発明の硬化性樹脂組成物は、その感放射線性に基づき、例えば、フォトリソグラフィ法等を利用したパターニングが可能である。
尚、本発明において、露光に際して照射される「放射線」には、可視光線、紫外線、遠紫外線、X線および荷電粒子線等が含まれる。
Moreover, the curable resin composition of this invention can have radiation sensitivity. Therefore, the curable resin composition of the present invention comprises a [D] polymerizable initiator (hereinafter also simply referred to as [D] component) and a weight average molecular weight having an [E] carboxyl group of 5000 to 40000. It is preferable to contain a coalescence (hereinafter also simply referred to as [E] component). And the curable resin composition of this invention can be patterned using the photolithographic method etc. based on the radiation sensitivity.
In the present invention, “radiation” irradiated upon exposure includes visible light, ultraviolet light, far ultraviolet light, X-rays, charged particle beams, and the like.

また、フォトリソグラフィ法には、加工や処理を受ける基板の表面に、所謂レジスト組成物を塗布してレジスト膜を形成する工程、光や電子線を照射して所定のレジストパターンを露光することによりレジストパターン潜像を形成する露光工程、必要に応じ加熱処理する工程、次いでこれを現像して所望の微細パターンを形成する現像工程、および、この微細パターンをマスクとして基板に対してエッチング等の加工を行う工程等が含まれる。   Also, in the photolithography method, a so-called resist composition is applied to the surface of a substrate to be processed or processed to form a resist film, and a predetermined resist pattern is exposed by irradiating light or an electron beam. An exposure process for forming a resist pattern latent image, a heating process as necessary, a development process for developing the resist pattern to form a desired fine pattern, and a process such as etching the substrate using the fine pattern as a mask The process etc. which perform are included.

そして、本発明の硬化性樹脂組成物は、必要な場合にパターニングが施され、本発明の硬化膜を形成する。本発明の硬化膜は、樹脂中に[B]半導体量子ドットが含まれて構成される。   The curable resin composition of the present invention is patterned when necessary to form the cured film of the present invention. The cured film of the present invention is constituted by including [B] semiconductor quantum dots in a resin.

そして、本発明の硬化膜は、[B]半導体量子ドットに基づく蛍光発光(波長変換)機能を有する。そのため、励起光と異なる波長の蛍光を発光する波長変換フィルムや発光層としての利用が可能である。
特に、本発明の硬化膜は、発光素子の発光層としての利用に好適であり、後述する本発明の発光素子の構成に用いることができる。
The cured film of the present invention has a fluorescence emission (wavelength conversion) function based on [B] semiconductor quantum dots. Therefore, it can be used as a wavelength conversion film or a light emitting layer that emits fluorescence having a wavelength different from that of excitation light.
In particular, the cured film of the present invention is suitable for use as a light emitting layer of a light emitting element, and can be used for the structure of the light emitting element of the present invention described later.

以下、本発明の硬化性樹脂組成物、硬化膜、発光素子、波長変換フィルム、および、発光層の形成方法について説明する。   Hereinafter, the curable resin composition, the cured film, the light emitting element, the wavelength conversion film, and the method for forming the light emitting layer of the present invention will be described.

実施の形態1.
<硬化性樹脂組成物>
本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物は、上述したように、[A]成分、[B]半導体量子ドット、および、[C]炭化水素系溶剤を必須の成分として含有する。
Embodiment 1 FIG.
<Curable resin composition>
As described above, the curable resin composition of the first embodiment of the present invention contains the [A] component, the [B] semiconductor quantum dot, and the [C] hydrocarbon solvent as essential components.

[C]炭化水素系溶剤を含有することにより、本発明の硬化性樹脂組成物は、[B]半導体量子ドットの良好な分散状態が実現された液状の樹脂組成物を形成することができる。そして、樹脂成分である[A]成分としては、[C]炭化水素系溶剤とともに用いられ、溶解または分散が可能な1分子中に2個以上の重合性基を有する重量平均分子量が150以上10000以下の化合物の中から選択される。   [C] By containing a hydrocarbon solvent, the curable resin composition of the present invention can form a liquid resin composition in which a good dispersion state of [B] semiconductor quantum dots is realized. The [A] component, which is a resin component, is used with a [C] hydrocarbon solvent, and has a weight average molecular weight of 150 or more and 10,000 having two or more polymerizable groups in one molecule that can be dissolved or dispersed. It is selected from the following compounds.

本発明の硬化性樹脂組成物は、塗布等の方法を利用して、[B]半導体量子ドットを含有して優れた蛍光発光(波長変換)機能(以下、単に、蛍光性または蛍光特性等とも言う。)を備えた本発明の実施形態の硬化膜を形成することができる。   The curable resin composition of the present invention uses a method such as coating, and [B] contains a semiconductor quantum dot and has an excellent fluorescence emission (wavelength conversion) function (hereinafter simply referred to as fluorescence or fluorescence characteristics). A cured film according to an embodiment of the present invention can be formed.

また、本発明の硬化性樹脂組成物は感放射線性を有することができる。そのため、本発明の硬化性樹脂組成物は、さらに、[D]重合性開始剤を含有することが好ましく、またさらに、[E]カルボキシル基を有する重量平均分子量が5000以上40000以下の重合体を含有することが好ましい。   Moreover, the curable resin composition of this invention can have radiation sensitivity. Therefore, it is preferable that the curable resin composition of the present invention further contains [D] a polymerizable initiator, and furthermore, [E] a polymer having a carboxyl group and having a weight average molecular weight of 5,000 to 40,000. It is preferable to contain.

そして、本発明の硬化性樹脂組成物は、本発明の効果を損なわない限り、上述するその他の任意成分を含有することができる。
以下で、本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物の含有成分について説明する。
And the curable resin composition of this invention can contain the other arbitrary component mentioned above, unless the effect of this invention is impaired.
Hereinafter, the components contained in the curable resin composition of the first embodiment of the present invention will be described.

〔[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する分子量が150以上10000以下の化合物〕
本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物は、[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する分子量が150以上10000以下の化合物を含有する。
[[A] Compound having two or more polymerizable groups in one molecule and having a molecular weight of 150 or more and 10,000 or less]
The curable resin composition of the first embodiment of the present invention includes [A] a compound having a molecular weight of 150 or more and 10,000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule.

[A]成分の重合性基としては、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、オキシラニル基、オキセタニル基を挙げることができる。これらの内、特に(メタ)アクリロイル基が好ましい。   Examples of the polymerizable group of the component [A] include a (meth) acryloyl group, a vinyl group, an oxiranyl group, and an oxetanyl group. Of these, a (meth) acryloyl group is particularly preferred.

[A]成分の重量平均分子量は150以上であるが、それが150未満の場合、硬化膜としての硬化膜物性が得られない傾向にある。また、分子量が10000より大きい場合、炭化水素系溶剤に溶解しにくくなる傾向がある。   The weight average molecular weight of the component [A] is 150 or more, but when it is less than 150, the cured film physical properties as a cured film tend not to be obtained. Moreover, when molecular weight is larger than 10,000, it tends to become difficult to dissolve in a hydrocarbon solvent.

そして、[A]成分は、2個以上の(メタ)アクリロイル基を有し、分子量が150以上10000以下の化合物であることが好ましい。
尚、本発明において、[A]成分の分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィで測定した重量平均分子量を示す。
The component [A] is preferably a compound having two or more (meth) acryloyl groups and a molecular weight of 150 or more and 10,000 or less.
In the present invention, the molecular weight of the component [A] indicates a weight average molecular weight measured by gel permeation chromatography.

本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物において、[A]成分としては、多官能アクリレートを用いることができる。その中でも[C]炭化水素系溶剤とともに用いられ、溶解または分散が可能である多官能アクリレートが好ましい。   In the curable resin composition of the first embodiment of the present invention, a polyfunctional acrylate can be used as the [A] component. Among them, polyfunctional acrylates that can be used together with [C] hydrocarbon solvents and can be dissolved or dispersed are preferred.

[A]成分に使用される多官能アクリレートとしては、例えば、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、1,10−デカンジオールジ(メタ)アクリレート、1,12−ドデカンジオールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ビスフェノキシエタノールフルオレンジ(メタ)アクリレート、トリシクロデカンジメタノールジ(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシ−3−(メタ)アクリロイロキシプロピルメタクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、プロピレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、トリ(2−(メタ)アクリロイロキシエチル)フォスフェート、エチレンオキサイド変性ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、コハク酸変性ペンタエリスリトールトリアクリレート、直鎖アルキレン基および脂環式構造を有し、かつ2個以上のイソシアネート基を有する化合物と、分子内に1個以上の水酸基を有し、かつ3個〜5個の(メタ)アクリロイロキシ基を有する化合物とを反応させて得られるウレタン(メタ)アクリレート化合物等の多官能(メタ)アクリレート化合物等が挙げられる。   Examples of the polyfunctional acrylate used for the component [A] include ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, 1, 10-decanediol di (meth) acrylate, 1,12-dodecanediol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, tricyclodecane dimethanol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, Polypropylene glycol di (meth) acrylate, bisphenoxyethanol full orange (meth) acrylate, tricyclodecane dimethanol di (meth) acrylate, 2-hydroxy-3- (meth) acryloyloxypropyl methacrylate, Methylolpropane tri (meth) acrylate, propylene oxide modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, ditrimethylolpropane tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta ( (Meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, tri (2- (meth) acryloyloxyethyl) phosphate, ethylene oxide modified dipentaerythritol hexaacrylate, succinic acid modified pentaerythritol triacrylate, linear alkylene group and A compound having an alicyclic structure and having two or more isocyanate groups, one or more hydroxyl groups in the molecule, and 3 to Number of (meth) polyfunctional urethane (meth) acrylate compounds obtained by a compound is reacted with an acryloyloxy group (meth) acrylate compounds, and the like.

多官能アクリレートの市販品としては、例えば、
アロニックス(登録商標)M−210、同M−220、同M−240、同M−270、同M−305、同M−309、同M−310、同M−315、同M−321、同M−400、同M−402、同M−405、同M−408、同M−450、同M−1310、同M−1600、同M−1960、同M−7100、同M−8030、同M−8060、同M−8100、同M−8530、同M−8560、同M−9050、同TO−1450、同TO−1382(以上、東亞合成株式会社製);
KAYARAD(登録商標) DPHA、同DPCA−20、同DPCA−30、同DPCA−60、同DPCA−120、同MAX−3510(以上、日本化薬株式会社製);
ビスコート(登録商標) 260、同295、同300、同310HP、同335HP、同360(以上、大阪有機化学工業株式会社製);
ウレタンアクリレート系化合物として、
ニューフロンティア(登録商標) R−1150(第一工業製薬株式会社製);
KAYARAD(登録商標) DPHA−40H、同R−526、同R−167、同R−604、同R−684、同R−551、同R−712、同UX−2201、同UX−2301、同UX−3204、同UX−3301、同UX−4101、同UX−5000、同UX−6101、同UX−7101、同UX−8101、同UX−0937、同MU−2100、同MU−4001(以上、日本化薬株式会社製);
アートレジン(登録商標)UN−333、同UN−1255、同UN−6060PTM、同UN−7600、同UN−7700、同UN−9000PEP、同UN−9200A(以上、根上工業株式会社製)
等が挙げられる。
As a commercial item of polyfunctional acrylate, for example,
Aronix (registered trademark) M-210, M-220, M-240, M-270, M-305, M-309, M-310, M-315, M-321, M-321 M-400, M-402, M-405, M-408, M-450, M-1310, M-1600, M-1960, M-7100, M-8030, M-80 M-8060, M-8100, M-8530, M-8560, M-8560, M-9050, TO-1450, TO-1382 (above, manufactured by Toagosei Co., Ltd.);
KAYARAD (registered trademark) DPHA, DPCA-20, DPCA-30, DPCA-60, DPCA-120, MAX-3510 (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.);
Viscoat (registered trademark) 260, 295, 300, 310HP, 335HP, 360 (above, manufactured by Osaka Organic Chemical Co., Ltd.);
As urethane acrylate compounds,
New Frontier (registered trademark) R-1150 (Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.);
KAYARAD (registered trademark) DPHA-40H, R-526, R-167, R-604, R-684, R-551, R-712, UX-2201, UX-2301, UX-3204, UX-3301, UX-4101, UX-5000, UX-6101, UX-7101, UX-8101, UX-0937, MU-2100, MU-2100, MU-4001 (above) Manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
Art Resin (registered trademark) UN-333, UN-1255, UN-6060PTM, UN-7600, UN-7700, UN-9000PEP, UN-9200A (above, manufactured by Negami Kogyo Co., Ltd.)
Etc.

また[A]成分としては、特に、下記式(1)で示される化合物、下記式(2)で示される化合物および下記式(3)で示される化合物よりなる群から選ばれる少なくとも1つの化合物であることが好ましい。   In addition, the component [A] is at least one compound selected from the group consisting of a compound represented by the following formula (1), a compound represented by the following formula (2), and a compound represented by the following formula (3). Preferably there is.

Figure 2015028139
(式(1)中、Xは式(5)で示される2価の基、または炭素数5〜20の2価の脂環式炭化水素基を示し、式(5)中、nは2〜20の整数を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。
式(2)中、Rは水素原子、または炭素数1〜12のアルキル基を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。Wはエチレンオキサイド基またはプロピレンオキサイド基を示し、mは0〜4の整数を示す。
式(3)中、Rは水素原子、または炭素数1〜12のアルキル基を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。Wはエチレンオキサイド基またはプロピレンオキサイド基を示し、mは0〜4の整数を示す。)
Figure 2015028139
(In the formula (1), X represents a divalent group represented by the formula (5) or a divalent alicyclic hydrocarbon group having 5 to 20 carbon atoms, and in the formula (5), n represents 2 to 2 It represents an integer of 20. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group.
In formula (2), R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group. W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents an integer of 0 to 4.
In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group. W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents an integer of 0 to 4. )

これら[A]成分として用いられる式(1)、式(2)、式(3)で示される化合物のうち、特に好ましく用いられるのは炭化水素系溶剤への溶解性に優れる官能基数2〜4の多官能アクリレートであり、例えば1,9−ノナンジオールジアクリレート、1,10−デカンジオールジアクリレート、1,12−ドデカンジオールジアクリレート、トリシクロデカンジメタノールジアクリレート、プロピレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリアクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、プロピレンオキサイド変性ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート等が挙げられる。   Among the compounds represented by formula (1), formula (2), and formula (3) used as the component [A], those having 2 to 4 functional groups having excellent solubility in hydrocarbon solvents are particularly preferably used. For example, 1,9-nonanediol diacrylate, 1,10-decanediol diacrylate, 1,12-dodecanediol diacrylate, tricyclodecane dimethanol diacrylate, propylene oxide modified trimethylolpropane tri Examples include acrylate, ditrimethylolpropane tetraacrylate, propylene oxide-modified ditrimethylolpropane tetraacrylate, and the like.

上記多官能アクリレートの市販品としては、例えば、
アロニックス(登録商標)M−310、同M−321、同M−408(以上、東亞合成株式会社製);
NKエステル(登録商標) A−NOD−N、同A−DOD−N、同A−DCP、同A−TMPT−3PO、同A−TMPT−6PO、同AD−TMP−L、同AD−TMP−4P(以上、新中村化学工業株式会社製);
ニューフロンティア(登録商標) L−C9A、同TMP−3P(以上、第一工業製薬株式会社製);
ビスコート(登録商標) 260、(以上、大阪有機化学工業株式会社製)等が挙げられる。
As a commercial item of the said polyfunctional acrylate, for example,
Aronix (registered trademark) M-310, M-321, M-408 (above, manufactured by Toagosei Co., Ltd.);
NK ester (registered trademark) A-NOD-N, A-DOD-N, A-DCP, A-TMPT-3PO, A-TMPT-6PO, AD-TMP-L, AD-TMP- 4P (Shin Nakamura Chemical Co., Ltd.);
New Frontier (registered trademark) L-C9A and TMP-3P (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.);
Biscoat (registered trademark) 260 (made by Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd.) and the like.

以上の[A]成分は、本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物に含有されて、溶解、または、分散し、塗布等の簡便な形成方法を利用して層や膜を形成する液状の樹脂組成物を形成することができる。   The above component [A] is contained in the curable resin composition of the first embodiment of the present invention, and is dissolved or dispersed, and forms a layer or a film using a simple forming method such as coating. A liquid resin composition can be formed.

〔[B]半導体量子ドット〕
本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物の必須の成分である[B]半導体量子ドットは、CdやPbを構成成分とせず、例えば、In(インジウム)やSi(珪素)等を構成成分として構成された、安全な材料からなる半導体量子ドットである。
[[B] Semiconductor quantum dots]
[B] The semiconductor quantum dot, which is an essential component of the curable resin composition of the first embodiment of the present invention, does not contain Cd or Pb as a constituent component, and includes, for example, In (indium) or Si (silicon). It is a semiconductor quantum dot made of a safe material, configured as a component.

[B]半導体量子ドットは、2族元素、11族元素、12族元素、13族元素、14族元素、15族元素および16族元素で示される元素の群から選ばれる少なくとも2種以上の元素を含む化合物からなる、半導体量子ドットであることが好ましい。   [B] The semiconductor quantum dot is at least two elements selected from the group consisting of group 2 element, group 11 element, group 12 element, group 13 element, group 14 element, group 15 element and group 16 element It is preferable that it is a semiconductor quantum dot which consists of a compound containing this.

そして、より具体的には、人に対する安全性について懸念の大きい、例えば、PbおよびCd等の元素が除外され、Be(ベリリウム)、Mg(マグネシウム)、Ca(カルシウム)、Sr(ストロンチウム)、Ba(バリウム)、Cu(銅)、Ag(銀)、金(Au)、亜鉛(Zn)、B(ホウ素)、Al(アルミニウム)、Ga(ガリウム)、In(インジウム)、Tl(タリウム)、C(炭素)、Si(珪素)、Ge(ゲルマニウム)、Sn(錫)、N(窒素)、P(リン)、As(ヒ素)、Sb(アンチモン)、Bi(ビスマス)、O(酸素)、S(硫黄)、Se(セレン)、Te(テルル)およびPo(ポロニウム)群から選ばれる少なくとも2種以上の元素を含む化合物からなる、半導体量子ドットであることが好ましい。   More specifically, elements such as Pb and Cd, which are of great concern for human safety, are excluded, and Be (beryllium), Mg (magnesium), Ca (calcium), Sr (strontium), Ba (Barium), Cu (copper), Ag (silver), gold (Au), zinc (Zn), B (boron), Al (aluminum), Ga (gallium), In (indium), Tl (thallium), C (Carbon), Si (silicon), Ge (germanium), Sn (tin), N (nitrogen), P (phosphorus), As (arsenic), Sb (antimony), Bi (bismuth), O (oxygen), S (Sulfur), Se (selenium), Te (tellurium), and a semiconductor quantum dot which consists of a compound containing at least 2 or more types of elements chosen from Po (polonium) group are preferable.

このとき、[B]半導体量子ドットが500nm〜600nmの波長領域に蛍光極大を有する化合物(a)および/または600nm〜700nmの波長領域に蛍光極大を有する化合物(b)からなることが好ましい。   At this time, it is preferable that the [B] semiconductor quantum dot consists of a compound (a) having a fluorescence maximum in a wavelength region of 500 nm to 600 nm and / or a compound (b) having a fluorescence maximum in a wavelength region of 600 nm to 700 nm.

[B]半導体量子ドットは、このような蛍光発光特性を有する化合物(a)および/または化合物(b)からなることで、500nm〜600nmの波長領域、および/または、600nm〜700nmの波長領域に蛍光極大を有することができる。その結果、[B]半導体量子ドットを含有する本実施形態の硬化性樹脂組成物は、可視域の光を用いて画像の表示を行う発光素子の発光層の構成に好適な硬化膜を形成することができる。   [B] The semiconductor quantum dot is composed of the compound (a) and / or the compound (b) having such fluorescence emission characteristics, so that the semiconductor quantum dot has a wavelength region of 500 nm to 600 nm and / or a wavelength region of 600 nm to 700 nm. It can have a fluorescence maximum. As a result, the curable resin composition of the present embodiment containing [B] semiconductor quantum dots forms a cured film suitable for the structure of the light emitting layer of the light emitting element that displays an image using light in the visible range. be able to.

そしてさらに、本実施形態の硬化性樹脂組成物に含有される[B]半導体量子ドットが、Inを構成成分として含む化合物からなる半導体量子ドットであることがより好ましい。またほかに、[B]半導体量子ドットとしては、SiまたはSi化合物を挙げることができる。   Furthermore, it is more preferable that the [B] semiconductor quantum dot contained in the curable resin composition of the present embodiment is a semiconductor quantum dot made of a compound containing In as a constituent component. In addition, [B] semiconductor quantum dots may include Si or Si compounds.

[B]半導体量子ドットとして、SiまたはSi化合物のうち、Siが特に好ましい。   [B] As the semiconductor quantum dot, Si or Si compound is particularly preferable.

[B]半導体量子ドットの成分構成を上述のようにすることで、本実施形態の硬化性樹脂組成物は、安全で、優れた蛍光特性を有する硬化膜を形成することができ、さらには、安全で、優れた蛍光特性を有する波長変換フィルムや発光素子の発光層を形成することができる。   [B] By making the component constitution of the semiconductor quantum dots as described above, the curable resin composition of the present embodiment can form a cured film having a safe and excellent fluorescence property, A wavelength conversion film having a safe and excellent fluorescence characteristic and a light emitting layer of a light emitting element can be formed.

また、本実施形態の硬化性樹脂組成物に含有される[B]半導体量子ドットは、1種の化合物からなる均質構造型、および、2種以上の化合物からなるコアシェル構造型から選ばれる少なくとも一方の構造型の半導体量子ドットであることが好ましい。   [B] The semiconductor quantum dots contained in the curable resin composition of the present embodiment are at least one selected from a homogeneous structure type composed of one compound and a core-shell structure type composed of two or more compounds. The structure type semiconductor quantum dot is preferable.

コアシェル構造型の[B]半導体量子ドットは、1つの種類の化合物でコア構造を形成し、別の化合物でコア構造の周囲を被覆して構成される。例えば、バンドギャップのより大きい半導体でコアの半導体を被覆することにより、光励起によって生成された励起子(電子−正孔対)はコア内に閉じ込められる。その結果、量子ドット表面での無輻射遷移の確率が減少し、発光の量子収率および[B]半導体量子ドットの蛍光特性の安定性が向上する。   The core-shell structure type [B] semiconductor quantum dot is formed by forming a core structure with one kind of compound and coating the periphery of the core structure with another compound. For example, by covering the core semiconductor with a semiconductor having a larger band gap, excitons (electron-hole pairs) generated by photoexcitation are confined in the core. As a result, the probability of non-radiative transition on the surface of the quantum dot is reduced, and the quantum yield of light emission and the stability of the fluorescence characteristics of the [B] semiconductor quantum dot are improved.

本実施形態の硬化性樹脂組成物に含有される[B]半導体量子ドットは、成分構成と構造を考慮した場合、コアシェル構造型半導体量子ドットであるInP/ZnS、CuInS/ZnSおよび(ZnS/AgInS)固溶体/ZnS、並びに、均質構造型半導体量子ドットであるAgInSおよびZnドープAgInSよりなる群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。 [B] semiconductor quantum dots contained in the curable resin composition of the present embodiment are InP / ZnS, CuInS 2 / ZnS, and (ZnS / AgInS 2 ) solid solution / ZnS and at least one selected from the group consisting of AgInS 2 and Zn-doped AgInS 2 which are homogeneous structure type semiconductor quantum dots are preferable.

以上より、本実施形態の硬化性樹脂組成物に含有される[B]半導体量子ドットは、InP/ZnS化合物、CuInS/ZnS化合物、AgInS化合物、(ZnS/AgInS)固溶体/ZnS化合物、ZnドープAgInS化合物およびSi化合物の群から選ばれる少なくとも1つであることが好ましい。 From the above, the [B] semiconductor quantum dots contained in the curable resin composition of the present embodiment are InP / ZnS compounds, CuInS 2 / ZnS compounds, AgInS 2 compounds, (ZnS / AgInS 2 ) solid solutions / ZnS compounds, It is preferably at least one selected from the group of Zn-doped AgInS 2 compound and Si compound.

以上で例示した[B]半導体量子ドットにより、それを含有する本実施形態の硬化性樹脂組成物は、安全で、より優れた蛍光特性を有する硬化膜を形成し、さらには、より優れた蛍光特性の波長変換フィルムや発光素子の発光層を形成することができる。   With the [B] semiconductor quantum dots exemplified above, the curable resin composition of the present embodiment containing the same forms a cured film having safer and more excellent fluorescence characteristics, and more excellent fluorescence. A characteristic wavelength conversion film or a light emitting layer of a light emitting element can be formed.

また、本実施形態の硬化性樹脂組成物に含有される[B]半導体量子ドットは、平均粒径が0.5nm〜20nmであることが好ましく、1.0nm〜10nmであることがより好ましい。平均粒径が0.5nm未満である場合には、[B]半導体量子ドットを調製することが難しく、調製ができたとしても、[B]半導体量子ドットの蛍光特性が不安定になる場合がある。[B]半導体量子ドットの平均粒径が20nmを超える場合には、半導体量子ドットの大きさによる量子閉じ込め効果が得られない場合があって、所望とする蛍光特性が得られず、望ましくない。   In addition, the [B] semiconductor quantum dots contained in the curable resin composition of the present embodiment preferably have an average particle diameter of 0.5 nm to 20 nm, and more preferably 1.0 nm to 10 nm. When the average particle size is less than 0.5 nm, it is difficult to prepare the [B] semiconductor quantum dots, and even if the preparation is completed, the fluorescence characteristics of the [B] semiconductor quantum dots may become unstable. is there. [B] If the average particle size of the semiconductor quantum dots exceeds 20 nm, the quantum confinement effect due to the size of the semiconductor quantum dots may not be obtained, and the desired fluorescence characteristics cannot be obtained, which is not desirable.

また、[B]半導体量子ドットの形状は特に限定されず、例えば、球状、棒状、円盤状、その他の形状であっても良い。量子ドットの粒径、形状、分散状態等の情報については、透過型電子顕微鏡(TEM)により得ることができる。   Moreover, the shape of [B] semiconductor quantum dot is not specifically limited, For example, spherical shape, rod shape, disk shape, and other shapes may be sufficient. Information such as the particle size, shape, and dispersion state of the quantum dots can be obtained by a transmission electron microscope (TEM).

本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物に含有される[B]半導体量子ドットを得る方法としては、配位性有機溶媒中で有機金属化合物を熱分解する公知の方法を利用することができる。また、コアシェル構造型の半導体量子ドットは、反応により均質なコア構造を形成した後、反応系内に、コア表面にシェルを形成するための前駆体を添加し、シェル形成の後、反応を停止し、溶媒から分離することで得ることができる。尚、市販されているものを利用することも可能である。   As a method for obtaining [B] semiconductor quantum dots contained in the curable resin composition of the first embodiment of the present invention, a known method of thermally decomposing an organometallic compound in a coordinating organic solvent is used. Can do. For core-shell structure type semiconductor quantum dots, after forming a homogeneous core structure by reaction, a precursor for forming a shell on the core surface is added to the reaction system, and the reaction is stopped after the shell formation. And can be obtained by separating from the solvent. A commercially available product can also be used.

本実施形態の硬化性樹脂組成物における[B]半導体量子ドットの含有量としては、上述した[A]成分100質量部に対して、好ましくは、0.1質量部〜100質量部、より好ましくは0.2質量部〜50質量部である。[B]半導体量子ドットの含有量を上述の範囲とすることで、優れた蛍光特性を有する硬化膜を形成し、その結果、優れた蛍光特性の波長変換フィルムや発光素子の発光層を形成することができる。[B]半導体量子ドットの含有量が、[A]成分100質量部に対して、0.1質量部より少ないと、形成される硬化膜において所望とする蛍光特性を得ることができず、波長変換フィルムや発光素子の発光層を形成することができない。また、[A]成分100質量部に対して、100質量部より多いと、形成される硬化膜の安定性が損なわれ、安定な波長変換フィルムや発光素子の発光層を形成することができない。   The content of [B] semiconductor quantum dots in the curable resin composition of the present embodiment is preferably 0.1 parts by mass to 100 parts by mass, and more preferably 100 parts by mass of the above-described [A] component. Is 0.2 part by mass to 50 parts by mass. [B] By setting the content of the semiconductor quantum dots in the above range, a cured film having excellent fluorescence characteristics is formed, and as a result, a wavelength conversion film having excellent fluorescence characteristics and a light emitting layer of a light emitting element are formed. be able to. [B] If the content of the semiconductor quantum dots is less than 0.1 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component [A], the desired fluorescence characteristics cannot be obtained in the formed cured film, and the wavelength The light emitting layer of a conversion film or a light emitting element cannot be formed. Moreover, when there are more than 100 mass parts with respect to 100 mass parts of [A] component, the stability of the cured film formed will be impaired and the stable wavelength conversion film and the light emitting layer of a light emitting element cannot be formed.

〔[C]炭化水素系溶剤〕
本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物は、[C]炭化水素系溶剤を含有する。本実施形態の硬化性樹脂組成物は、[C]炭化水素系溶剤を含有することで、液状の樹脂組成物を形成することができ、その一方で、[B]半導体量子ドットの凝集を抑え、[B]半導体量子ドットの分散された硬化性の樹脂組成物を形成することができる。
[[C] hydrocarbon solvent]
The curable resin composition of the first embodiment of the present invention contains a [C] hydrocarbon solvent. The curable resin composition of this embodiment can form a liquid resin composition by containing [C] a hydrocarbon solvent, while [B] suppresses aggregation of semiconductor quantum dots. [B] A curable resin composition in which semiconductor quantum dots are dispersed can be formed.

炭化水素系溶剤とは炭素原子と水素原子のみならなる溶剤を表す。炭化水素系溶剤としては芳香族炭化水素溶剤と脂肪族炭化水素溶剤が挙げられる。芳香族炭化水素溶剤としては、トルエン、エチルベンゼン、アミルベンゼン、イソプロピルベンゼン、キシレン、シクロヘキシルベンゼン、ナフタレン、ジメチルナフタレン、シメン、テトラリン、ビフェニル、メシチレン等が挙げられる。脂肪族炭化水素系溶剤としては、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、デカン、ウンデカン、ドデカン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン、エチルシクロヘキサン、p−メンタン、デカリン、イソオクタン、イソドデカン、シクロヘキセン、シクロペンタン、ジペンテン、アイソパーE、アイソパーG、アイソパーH、アイソパーL、アイソパーM((株)小倉興産製)、テレピン油、デカヒドロナフタリン、ピナン、α−ピネン、β−ピネン、リモネン、ベンジン、キョーワゾールC−800、シェルゾール、アイソゾール、リグロイン(ゴードー工業(株)社製)等が挙げられる。   The hydrocarbon solvent represents a solvent composed of only carbon atoms and hydrogen atoms. Examples of the hydrocarbon solvent include aromatic hydrocarbon solvents and aliphatic hydrocarbon solvents. Examples of the aromatic hydrocarbon solvent include toluene, ethylbenzene, amylbenzene, isopropylbenzene, xylene, cyclohexylbenzene, naphthalene, dimethylnaphthalene, cymene, tetralin, biphenyl, mesitylene and the like. Aliphatic hydrocarbon solvents include hexane, heptane, octane, nonane, decane, undecane, dodecane, cyclohexane, methylcyclohexane, ethylcyclohexane, p-menthane, decalin, isooctane, isododecane, cyclohexene, cyclopentane, dipentene, isoper E , Isopar G, Isopar H, Isopar L, Isopar M (manufactured by Kokura Kosan Co., Ltd.), turpentine oil, decahydronaphthalene, pinane, α-pinene, β-pinene, limonene, benzine, Kyowasol C-800, shell sol , Isosol, ligroin (manufactured by Gordo Kogyo Co., Ltd.), and the like.

また、本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物においては、上述の[C]炭化水素系溶剤とともに、酸素原子含有有機溶剤を含有することができる。酸素含有有機溶剤とは、分子中に酸素原子を含む溶剤である。この酸素原子含有有機溶剤を含有することにより、本実施形態の硬化性樹脂組成物は、[A]成分の溶解性または分散性をより向上させることができる。   Moreover, the curable resin composition of 1st Embodiment of this invention can contain an oxygen atom containing organic solvent with the above-mentioned [C] hydrocarbon type solvent. An oxygen-containing organic solvent is a solvent containing oxygen atoms in the molecule. By containing this oxygen atom-containing organic solvent, the curable resin composition of the present embodiment can further improve the solubility or dispersibility of the [A] component.

このような酸素原子含有有機溶剤としては、酢酸エチル等のエステル系溶剤、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤、テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジアルキルエーテル等のエーテル系溶剤、ジメチルスルホキシド等の溶剤、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド等のアミド系溶剤が挙げられる。   Such oxygen atom-containing organic solvents include ester solvents such as ethyl acetate, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, ether solvents such as tetrahydrofuran, dioxane and dialkyl ether, solvents such as dimethyl sulfoxide, dimethylformamide And amide solvents such as N-methylpyrrolidone and N, N-dimethylacetamide.

[C]炭化水素系溶剤と混合して酸素原子含有有機溶剤を用いる場合、[C]炭化水素系溶剤の使用割合を100としたときに、酸素原子含有有機溶剤を1質量%〜50質量%の範囲で用いることが望ましい。酸素原子含有有機溶剤の上記使用量が1質量%未満である場合、酸素原子含有有機溶剤の添加効果が十分に得られないことがある。また、酸素原子含有有機溶剤の上述の使用量が50質量%より多い場合、[B]半導体量子ドットの凝集の懸念が生じることがある。   [C] When an oxygen atom-containing organic solvent is used by mixing with a hydrocarbon solvent, the oxygen atom-containing organic solvent is contained in an amount of 1% by mass to 50% by mass when the use ratio of the [C] hydrocarbon solvent is 100. It is desirable to use within this range. When the said usage-amount of an oxygen atom containing organic solvent is less than 1 mass%, the addition effect of an oxygen atom containing organic solvent may not fully be acquired. Moreover, when the above-mentioned usage-amount of the organic solvent containing an oxygen atom is more than 50 mass%, there exists a possibility that [B] aggregation of a semiconductor quantum dot may arise.

〔[D]重合性開始剤〕
本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物は、さらに[D]重合性開始剤を含有することができる。[D]重合性開始剤は、放射線に感応して[A]成分のような重合性基を有する化合物の重合を開始しうる活性種を生じる成分である。本実施形態の硬化性樹脂組成物は、[D]重合性開始剤を含有することで、感放射線性を高め、パターニング性を向上させることができる。そして、本実施形態の硬化性樹脂組成物は、フォトリソグラフィ法等の公知のパターニング方法を利用して、パターニングされた発光層や波長変換フィルムを簡便に形成することができる。
[[D] Polymerizable initiator]
The curable resin composition of the first embodiment of the present invention can further contain [D] a polymerizable initiator. [D] The polymerizable initiator is a component that generates an active species capable of initiating polymerization of a compound having a polymerizable group such as the component [A] in response to radiation. The curable resin composition of this embodiment can improve radiation sensitivity and patternability by containing [D] polymeric initiator. And the curable resin composition of this embodiment can form the light emitting layer and wavelength conversion film which were patterned easily using well-known patterning methods, such as the photolithographic method.

本実施形態の硬化性樹脂組成物において、[D]重合性開始剤としては、例えば、オキシムエステル化合物、アセトフェノン化合物、ビイミダゾール化合物等が挙げられる。尚、[D]重合性開始剤は、単独でまたは2種以上を組み合わせて用いてもよい。   In the curable resin composition of the present embodiment, examples of the [D] polymerizable initiator include oxime ester compounds, acetophenone compounds, biimidazole compounds, and the like. In addition, you may use [D] polymeric initiator individually or in combination of 2 or more types.

上記オキシムエステル化合物としては、例えば、エタノン−1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)、1,2−オクタンジオン−1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)]、1−〔9−エチル−6−ベンゾイル−9H−カルバゾール−3−イル〕−オクタン−1−オンオキシム−O−アセテート、1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−ベンゾエート、1−〔9−n−ブチル−6−(2−エチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−エタン−1−オンオキシム−O−ベンゾエート、エタノン−1−[9−エチル−6−(2−メチル−4−テトラヒドロフラニルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル]−1−(O−アセチルオキシム)、エタノン−1−〔9−エチル−6−(2−メチル−4−テトラヒドロピラニルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)、エタノン−1−〔9−エチル−6−(2−メチル−5−テトラヒドロフラニルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)、エタノン−1−〔9−エチル−6−{2−メチル−4−(2,2−ジメチル−1,3−ジオキソラニル)メトキシベンゾイル}−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)等のO−アシルオキシム化合物等が挙げられる。   Examples of the oxime ester compound include ethanone-1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime), 1,2-octane. Dione-1- [4- (phenylthio) -2- (O-benzoyloxime)], 1- [9-ethyl-6-benzoyl-9H-carbazol-3-yl] -octane-1-oneoxime-O-acetate 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-benzoate, 1- [9-n-butyl-6- (2- Ethylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -ethane-1-one oxime-O-benzoate, ethanone-1- [9-ethyl-6- (2-methyl-4-teto) Hydrofuranylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime), ethanone-1- [9-ethyl-6- (2-methyl-4-tetrahydropyranylbenzoyl) -9H- Carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime), ethanone-1- [9-ethyl-6- (2-methyl-5-tetrahydrofuranylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime), ethanone-1- [9-ethyl-6- {2-methyl-4- (2,2-dimethyl-1,3-dioxolanyl) methoxybenzoyl} -9H-carbazol-3-yl] O-acyloxime compounds such as -1- (O-acetyloxime) and the like can be mentioned.

上述した中で、オキシムエステル化合物としては、エタノン−1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)、1,2−オクタンジオン−1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)]、エタノン−1−〔9−エチル−6−(2−メチル−4−テトラヒドロフラニルメトキシベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)、エタノン−1−〔9−エチル−6−{2−メチル−4−(2,2−ジメチル−1,3−ジオキソラニル)メトキシベンゾイル}−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)が好ましい。   Among the oxime ester compounds described above, etanone-1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime), 1,2 -Octanedione-1- [4- (phenylthio) -2- (O-benzoyloxime)], ethanone-1- [9-ethyl-6- (2-methyl-4-tetrahydrofuranylmethoxybenzoyl) -9H-carbazole -3-yl] -1- (O-acetyloxime), ethanone-1- [9-ethyl-6- {2-methyl-4- (2,2-dimethyl-1,3-dioxolanyl) methoxybenzoyl}- 9H-carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime) is preferred.

上記アセトフェノン化合物としては、例えば、α−アミノケトン化合物、α−ヒドロキシケトン化合物が挙げられる。   Examples of the acetophenone compound include an α-aminoketone compound and an α-hydroxyketone compound.

上記α−アミノケトン化合物としては、例えば、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタン−1−オン、2−ジメチルアミノ−2−(4−メチルベンジル)−1−(4−モルフォリン−4−イル−フェニル)−ブタン−1−オン、2−メチル−1−(4−メチルチオフェニル)−2−モルフォリノプロパン−1−オン等が挙げられる。   Examples of the α-aminoketone compound include 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butan-1-one and 2-dimethylamino-2- (4-methylbenzyl) -1- (4-morpholin-4-yl-phenyl) -butan-1-one, 2-methyl-1- (4-methylthiophenyl) -2-morpholinopropan-1-one and the like can be mentioned.

上記α−ヒドロキシケトン化合物としては、例えば、1−フェニル−2−ヒドロキシ−2−メチルプロパン−1−オン、1−(4−i−プロピルフェニル)−2−ヒドロキシ−2−メチルプロパン−1−オン、4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル−(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ケトン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン等が挙げられる。   Examples of the α-hydroxyketone compound include 1-phenyl-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 1- (4-i-propylphenyl) -2-hydroxy-2-methylpropane-1- ON, 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl- (2-hydroxy-2-propyl) ketone, 1-hydroxycyclohexyl phenylketone and the like.

上記アセトフェノン化合物としては、α−アミノケトン化合物が好ましく、2−ジメチルアミノ−2−(4−メチルベンジル)−1−(4−モルフォリン−4−イル−フェニル)−ブタン−1−オン、2−メチル−1−(4−メチルチオフェニル)−2−モルフォリノプロパン−1−オンがより好ましい。   The acetophenone compound is preferably an α-aminoketone compound, such as 2-dimethylamino-2- (4-methylbenzyl) -1- (4-morpholin-4-yl-phenyl) -butan-1-one, 2- More preferred is methyl-1- (4-methylthiophenyl) -2-morpholinopropan-1-one.

上記ビイミダゾール化合物としては、例えば、2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラキス(4−エトキシカルボニルフェニル)−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4−ジクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4,6−トリクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール等が挙げられる。これらの中で、2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4−ジクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2,2’−ビス(2,4,6−トリクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾールが好ましく、2,2’−ビス(2,4−ジクロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾールがより好ましい。   Examples of the biimidazole compound include 2,2′-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetrakis (4-ethoxycarbonylphenyl) -1,2′-biimidazole, 2′-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (2,4-dichlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (2,4,6-trichlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2 ′ -Biimidazole etc. are mentioned. Among these, 2,2′-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole, 2,2′-bis (2,4-dichlorophenyl) ) -4,4 ', 5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis (2,4,6-trichlorophenyl) -4,4', 5,5'- Tetraphenyl-1,2′-biimidazole is preferred, and 2,2′-bis (2,4-dichlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenyl-1,2′-biimidazole is more preferred. .

[D]重合性開始剤の含有量としては、[A]成分100質量部に対して、0.1質量部〜40質量部が好ましく、0.5質量部〜20質量部がより好ましい。[D]重合開始剤の含有量を上記範囲とすることで、本実施形態の硬化性樹脂組成物は、低露光量の場合でも良好なパターニング性を示し、また、十分な表面硬度および密着性を有する硬化膜を形成することができる。   [D] The content of the polymerizable initiator is preferably 0.1 part by mass to 40 parts by mass, and more preferably 0.5 part by mass to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component [A]. [D] By setting the content of the polymerization initiator in the above range, the curable resin composition of the present embodiment exhibits good patternability even in the case of a low exposure amount, and has sufficient surface hardness and adhesion. A cured film having can be formed.

さらに、[D]重合開始剤は、炭素数1〜20の炭化水素基を含有する重合性開始剤であることが好ましい。このような構造を備えた[D]重合開始剤とすることで、本実施形態の硬化性樹脂組成物において、[C]炭化水素系溶剤への[D]重合開始剤の溶解性を向上させることができる。   Furthermore, the [D] polymerization initiator is preferably a polymerizable initiator containing a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms. By using the [D] polymerization initiator having such a structure, the solubility of the [D] polymerization initiator in the [C] hydrocarbon solvent is improved in the curable resin composition of the present embodiment. be able to.

このような炭素数1〜20の炭化水素基を含有する重合性開始剤としては、例えば、2−ジメチルアミノ−2−(4−メチルベンジル)−1−(4−モルフォリン−4−イル−フェニル)−ブタン−1−オン(イルガキュア(登録商標)379)、1,2−オクタンジオン−1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)](イルガキュア(登録商標)OXE01)、エタノン−1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)(イルガキュア(登録商標)OXE02)(以上、BASF社製)等が挙げられる。   Examples of the polymerizable initiator containing a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms include 2-dimethylamino-2- (4-methylbenzyl) -1- (4-morpholin-4-yl- Phenyl) -butan-1-one (Irgacure (R) 379), 1,2-octanedione-1- [4- (phenylthio) -2- (O-benzoyloxime)] (Irgacure (R) OXE01) Ethanone-1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime) (Irgacure (registered trademark) OXE02) (manufactured by BASF ) And the like.

〔[E]カルボキシル基を有する重量平均分子量が5000以上40000以下の重合体〕
本発明の硬化性樹脂組成物における[E]成分の[E]カルボキシル基を有する重量平均分子量が5000以上40000以下の重合体は、後述する化合物(e1)および化合物(e2)を溶媒中で、重合開始剤の存在下にラジカル重合することによって製造することができる共立重合体(以下、[E1]成分とも言う。)や、カルボキシル基含有エラストマー(以下、[E2]成分とも言う。)を挙げることができる。
[[E] Polymer having a carboxyl group and a weight average molecular weight of 5,000 to 40,000]
In the curable resin composition of the present invention, the polymer having a weight average molecular weight of 5000 to 40,000 having an [E] carboxyl group as the [E] component is a compound (e1) and a compound (e2) described later in a solvent. Examples thereof include a co-polymer (hereinafter also referred to as [E1] component) and a carboxyl group-containing elastomer (hereinafter also referred to as [E2] component) that can be produced by radical polymerization in the presence of a polymerization initiator. be able to.

[E1]成分のうち、(e1)エチレン性不飽和カルボン酸および/またはエチレン性不飽和カルボン酸無水物(以下、これらをまとめて、不飽和カルボン酸系単量体(e1)と言う。)としては、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、2−メタクリロイロキシエチルコハク酸、2−メタクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタル酸などのモノカルボン酸類;マレイン酸、フマル酸、シトラコン酸、メサコン酸、イタコン酸などのジカルボン酸類;上記ジカルボン酸の無水物類などを挙げることができる。   Among the components [E1], (e1) ethylenically unsaturated carboxylic acid and / or ethylenically unsaturated carboxylic acid anhydride (hereinafter collectively referred to as unsaturated carboxylic acid monomer (e1)). As, for example, monocarboxylic acids such as acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, 2-methacryloyloxyethyl succinic acid, 2-methacryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid; maleic acid, fumaric acid, citraconic acid, mesaconic acid And dicarboxylic acids such as itaconic acid; anhydrides of the above-mentioned dicarboxylic acids.

これらの不飽和カルボン酸系単量体(e1)のうち、共重合反応性、得られる重合体のアルカリ水溶液に対する溶解性および入手が容易である点から、アクリル酸、メタクリル酸、無水マレイン酸、2−メタクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタル酸などが好ましい。   Among these unsaturated carboxylic acid-based monomers (e1), copolymerization reactivity, solubility of the resulting polymer in an alkaline aqueous solution and easy availability, acrylic acid, methacrylic acid, maleic anhydride, 2-Methacryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid and the like are preferable.

[E1]成分において、不飽和カルボン酸系単量体(e1)は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。   In the component [E1], the unsaturated carboxylic acid monomer (e1) can be used alone or in admixture of two or more.

[E1]成分において、不飽和カルボン酸系単量体(e1)に由来する繰り返し単位の含有率は、好ましくは5重量%〜50重量%、さらに好ましくは10重量%〜40重量%、特に好ましくは15重量%〜30重量%である。この場合、不飽和カルボン酸系単量体(e1)に由来する繰り返し単位の含有率が5重量%未満であると、アルカリ水溶液に対する溶解性が低下する傾向があり、一方40重量%を超えると、アルカリ水溶液に対する溶解性が大きくなりすぎる恐れがある。   In the component [E1], the content of the repeating unit derived from the unsaturated carboxylic acid monomer (e1) is preferably 5% by weight to 50% by weight, more preferably 10% by weight to 40% by weight, particularly preferably. Is from 15% to 30% by weight. In this case, when the content of the repeating unit derived from the unsaturated carboxylic acid monomer (e1) is less than 5% by weight, the solubility in an alkaline aqueous solution tends to decrease, whereas when it exceeds 40% by weight. There is a possibility that the solubility in an aqueous alkali solution becomes too large.

さらに、(e2)他のエチレン性不飽和化合物(以下、単に、(e2)他の単量体と言う。)としては、(メタ)アクリル酸アルキルエステル類、(メタ)アクリル酸脂環式エステル類、(メタ)アクリル酸のアリールエステル、ジカルボン酸ジアルキルエステル類、(メタ)アクリル酸エポキシアルキルエステル類;ジカルボニルイミド誘導体類;共役ジエン系化合物、ビニル芳香族化合物等を挙げることができる。   Furthermore, (e2) other ethylenically unsaturated compounds (hereinafter simply referred to as (e2) other monomers) include (meth) acrylic acid alkyl esters, (meth) acrylic acid alicyclic esters. And (meth) acrylic acid aryl esters, dicarboxylic acid dialkyl esters, (meth) acrylic acid epoxy alkyl esters; dicarbonylimide derivatives; conjugated diene compounds, vinyl aromatic compounds, and the like.

これらの(e2)他の単量体のうち、共重合反応性および得られる重合体のアルカリ水溶液に対する溶解性の点から、アクリル酸2−メチルシクロヘキシル、メタクリル酸ヒドロキシエチル、メタクリル酸トリシクロ[5.2.1.02,6]デカン−8−イル、スチレン、メタクリル酸グリシジル、3−(メタクリロイルオキシメチル)−3−エチルオキセタン、メタクリル酸テトラヒドロフルフリル、1,3−ブタジエン、フェニルマレイミド、シクロヘキシルマレイミドなどが好ましい。(e2)他の単量体は、単独もしくは2種類以上を混合して使用することができる。 Among these (e2) other monomers, from the viewpoint of copolymerization reactivity and solubility of the resulting polymer in an alkaline aqueous solution, 2-methylcyclohexyl acrylate, hydroxyethyl methacrylate, tricyclomethacrylate [5. 2.1.0 2,6 ] decan-8-yl, styrene, glycidyl methacrylate, 3- (methacryloyloxymethyl) -3-ethyloxetane, tetrahydrofurfuryl methacrylate, 1,3-butadiene, phenylmaleimide, cyclohexyl Maleimide and the like are preferred. (E2) Other monomers can be used alone or in admixture of two or more.

[E1]成分は、(e2)他の単量体から誘導される繰り返し単位を、好ましくは50質量%〜95質量%、さらに好ましくは60質量%〜90質量%、特に好ましくは70質量%〜85質量%含有している。この場合、繰り返し単位が10質量%未満の場合は、[E1]成分の保存安定性が低下する傾向にあり、一方70質量%を超える場合は[E1]成分がアルカリ水溶液に溶解しにくくなる。   The component [E1] is a repeating unit derived from (e2) another monomer, preferably 50% by mass to 95% by mass, more preferably 60% by mass to 90% by mass, and particularly preferably 70% by mass to Contains 85% by mass. In this case, when the repeating unit is less than 10% by mass, the storage stability of the [E1] component tends to decrease, whereas when it exceeds 70% by mass, the [E1] component is hardly dissolved in the alkaline aqueous solution.

上記のように、本発明で用いられる[E1]成分は、カルボキシル基および/またはカルボン酸無水物基並びに他のエチレン性不飽和化合物とを有しており、アルカリ水溶液に対して適切な溶解性を有するとともに、特別な硬化剤を併用しなくとも加熱により容易に硬化させることができる。   As described above, the [E1] component used in the present invention has a carboxyl group and / or a carboxylic anhydride group and another ethylenically unsaturated compound, and has an appropriate solubility in an alkaline aqueous solution. And can be easily cured by heating without using a special curing agent.

[E1]成分の製造に用いられる溶媒としては、例えば、アルコール、エーテル、グリコールエーテル、エチレングリコールアルキルエーテルアセテート、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、プロピレングリコールモノアルキルエーテル、プロピレングリコールアルキルエーテルアセテート、プロピレングリコールアルキルエーテルプロピオネート、芳香族炭化水素、ケトン、エステルなどを挙げることができる。   [E1] Examples of the solvent used for the production of the component include alcohol, ether, glycol ether, ethylene glycol alkyl ether acetate, diethylene glycol, dipropylene glycol, propylene glycol monoalkyl ether, propylene glycol alkyl ether acetate, propylene glycol alkyl ether. Examples include propionates, aromatic hydrocarbons, ketones and esters.

これらのうち、エチレングリコールアルキルエーテルアセテート、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、プロピレングリコールモノアルキルエーテル、プロピレングリコールアルキルエーテルアセテートが好ましく、就中、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールエチルメチルエーテル、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールエチルメチルエーテル、プロピレングリコールメチルエーテル、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、酢酸3−メトキシブチルが特に好ましい。   Of these, ethylene glycol alkyl ether acetate, diethylene glycol, dipropylene glycol, propylene glycol monoalkyl ether, and propylene glycol alkyl ether acetate are preferable. Among them, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol ethyl methyl ether, dipropylene glycol dimethyl ether, dipropylene glycol ethyl Particularly preferred are methyl ether, propylene glycol methyl ether, propylene glycol methyl ether acetate, and 3-methoxybutyl acetate.

上記溶媒は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。   The said solvent can be used individually or in mixture of 2 or more types.

また、上記重合に用いられるラジカル重合開始剤としては、特に限定されるものではなく、例えば、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル、2,2’−アゾビス−(2,4−ジメチルバレロニトリル)、2,2’−アゾビス−(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル)、4,4’−アゾビス(4−シアノバレリアン酸)、ジメチル2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオネート)、2,2’−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル)などのアゾ化合物;ベンゾイルペルオキシド、ラウロイルペルオキシド、t−ブチルペルオキシピバレート、1,1−ビス(t−ブチルペルオキシ)シクロヘキサンなどの有機過酸化物;過酸化水素などを挙げることができる。また、ラジカル重合開始剤として過酸化物を用いる場合には、それと還元剤とを併用して、レドックス型開始剤としてもよい。   The radical polymerization initiator used for the polymerization is not particularly limited, and examples thereof include 2,2′-azobisisobutyronitrile, 2,2′-azobis- (2,4-dimethylvalero). Nitrile), 2,2′-azobis- (4-methoxy-2,4-dimethylvaleronitrile), 4,4′-azobis (4-cyanovaleric acid), dimethyl 2,2′-azobis (2-methylpro) Azo compounds), 2,2′-azobis (4-methoxy-2,4-dimethylvaleronitrile); benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, t-butylperoxypivalate, 1,1-bis (t-butyl) Organic peroxides such as peroxy) cyclohexane; hydrogen peroxide and the like. Moreover, when using a peroxide as a radical polymerization initiator, it is good also as a redox type initiator combining it and a reducing agent.

これらのラジカル重合開始剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。   These radical polymerization initiators can be used alone or in admixture of two or more.

また、[E1]成分中のカルボキシル基にエポキシ基を有する(メタ)アクリル酸エステルを反応させて、重合体中に(メタ)アクリロイルオキシ基を導入することができる。   In addition, a (meth) acryloyloxy group can be introduced into the polymer by reacting a carboxyl group in the [E1] component with a (meth) acrylic acid ester having an epoxy group.

重合体中のカルボキシル基とエポキシ基を有する(メタ)アクリル酸エステル等の不飽和化合物との反応においては、必要に応じて適当な触媒の存在下において、好ましくは重合禁止剤を含む重合体の溶液に、エポキシ基を有する不飽和化合物を投入し、加温下で所定時間攪拌する。上記触媒としては、例えば、テトラブチルアンモニウムブロミド等が挙げられる。上記重合禁止剤としては、例えば、p−メトキシフェノール等が挙げられる。反応温度は、70℃〜100℃が好ましい。反応時間は、8時間〜12時間が好ましい。   In the reaction between a carboxyl group in the polymer and an unsaturated compound such as a (meth) acrylic acid ester having an epoxy group, a polymer containing a polymerization inhibitor, preferably in the presence of a suitable catalyst as necessary. An unsaturated compound having an epoxy group is added to the solution and stirred for a predetermined time under heating. Examples of the catalyst include tetrabutylammonium bromide. Examples of the polymerization inhibitor include p-methoxyphenol. The reaction temperature is preferably 70 ° C to 100 ° C. The reaction time is preferably 8 hours to 12 hours.

(メタ)アクリロイルオキシ基を有する構成単位の含有量は、[E1]成分全成分のうちの10mol%〜70mol%であることが好ましく、20mol%〜50mol%であることがより好ましい。   The content of the structural unit having a (meth) acryloyloxy group is preferably 10 mol% to 70 mol%, more preferably 20 mol% to 50 mol%, of all the components of the [E1] component.

(メタ)アクリロイルオキシ基を有する構成単位の含有量が10mol%より少ない場合、硬化性樹脂組成物の放射線への感度が低下する傾向にあり、得られる硬化膜の耐熱性も十分でない。また、70mol%より多く含有する場合では、現像時の現像不良の原因となり、現像残渣が発生しやすくなる。   When content of the structural unit which has a (meth) acryloyloxy group is less than 10 mol%, it exists in the tendency for the sensitivity to the radiation of a curable resin composition to fall, and the heat resistance of the cured film obtained is also not enough. On the other hand, when the content is more than 70 mol%, it causes development failure at the time of development, and development residue tends to occur.

本発明の硬化性樹脂組成物における[E2]成分としては、カルボキシル基含有エラストマーが挙げられる。   Examples of the [E2] component in the curable resin composition of the present invention include carboxyl group-containing elastomers.

[E2]成分として用いられるカルボキシル基含有エラストマーとしては、例えば、カルボキシル基含有ポリイソプレン(株式会社クラレ製、商品名「LIR(登録商標)−410」「UC−102」「UC−203」)、無水マレイン酸変性EEA樹脂(日本製紙株式会社製、商品名「アウローレン(登録商標)350S」)、無水マレイン酸変性SEBS樹脂(旭化成ケミカルズ株式会社製、商品名「タフテック(登録商標)M−1943」)、エチレン−メタクリル酸共重合樹脂(三井・デュポンポリケミカル株式会社製、商品名「ニュクレル(登録商標)」)等が挙げられる。   As the carboxyl group-containing elastomer used as the component [E2], for example, carboxyl group-containing polyisoprene (trade names “LIR (registered trademark) -410”, “UC-102”, “UC-203”, manufactured by Kuraray Co., Ltd.), Maleic anhydride modified EEA resin (manufactured by Nippon Paper Industries Co., Ltd., trade name “Aurolen (registered trademark) 350S”), maleic anhydride modified SEBS resin (manufactured by Asahi Kasei Chemicals Corporation, trade name “Tuftec (registered trademark) M-1943” "), Ethylene-methacrylic acid copolymer resin (Mitsui DuPont Polychemical Co., Ltd., trade name" Nucrel (registered trademark) ") and the like.

上記[E2]成分として用いられるカルボキシル基含有エラストマーのうち、特にカルボキシル基含有ポリイソプレン(株式会社クラレ製、商品名「LIR(登録商標)−410」「UC−102」「UC−203」)が量子ドットの分散安定性の観点から好ましく、その中でも「UC−102」はパターニングの観点から特に好ましい。   Among the carboxyl group-containing elastomers used as the [E2] component, in particular, a carboxyl group-containing polyisoprene (trade names “LIR (registered trademark) -410”, “UC-102”, “UC-203”, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) is available. From the viewpoint of dispersion stability of quantum dots, among them, “UC-102” is particularly preferable from the viewpoint of patterning.

以上の[E]成分において、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)によるポリスチレン換算重量平均分子量(以下、「Mw」という)は、通常、5000〜40000、好ましくは5000〜20000である。この場合、Mwが5000未満であると、得られる被膜の現像性、残膜率などが低下したり、またパターン形状、耐熱性などが損なわれる恐れがある。一方、Mwが20000を超えると、解像度が低下したり、パターン形状が損なわれる恐れがある。   In the above [E] component, the polystyrene equivalent weight average molecular weight (hereinafter referred to as “Mw”) by gel permeation chromatography (GPC) is usually 5000 to 40000, preferably 5000 to 20000. In this case, if Mw is less than 5000, the developability and remaining film rate of the resulting film may be reduced, and the pattern shape, heat resistance, and the like may be impaired. On the other hand, if Mw exceeds 20000, the resolution may be lowered or the pattern shape may be impaired.

[E]成分の含有量としては、[A]成分100質量部に対して、20質量部〜200質量部が好ましく、40質量部〜150質量部がより好ましい。重合体の含有量を上記範囲とすることで、本実施形態の硬化性樹脂組成物は、密着性に優れ、かつ低露光量においても十分な表面硬度を有する硬化膜を形成することができる。   As content of [E] component, 20 mass parts-200 mass parts are preferable with respect to 100 mass parts of [A] component, and 40 mass parts-150 mass parts are more preferable. By setting the content of the polymer in the above range, the curable resin composition of the present embodiment can form a cured film having excellent adhesion and sufficient surface hardness even at a low exposure amount.

〔その他の任意成分〕
本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物は、[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する分子量が150〜10000の化合物、[B]半導体量子ドット、および、[C]炭化水素系溶剤を必須の成分として含有するとともに、本発明の効果を損なわない限り、その他の任意成分を含有することができる。その他の任意成分としては、例えば、硬化促進剤や熱酸発生剤等を挙げることができる。
[Other optional ingredients]
The curable resin composition of the first embodiment of the present invention includes [A] a compound having two or more polymerizable groups in one molecule and a molecular weight of 150 to 10,000, [B] a semiconductor quantum dot, and [C It contains a hydrocarbon solvent as an essential component and can contain other optional components as long as the effects of the present invention are not impaired. Examples of other optional components include a curing accelerator and a thermal acid generator.

硬化促進剤は、本実施形態の硬化性樹脂組成物により形成される膜の硬化を促進する機能を果たす化合物である。   The curing accelerator is a compound that functions to promote curing of a film formed by the curable resin composition of the present embodiment.

熱酸発生剤は、熱をかけることによって樹脂を硬化させる際の触媒として作用する酸性活性物質を放出することができる化合物である。   The thermal acid generator is a compound capable of releasing an acidic active substance that acts as a catalyst when the resin is cured by applying heat.

さらに、本実施形態の硬化性樹脂組成物は、本発明の効果を損なわない範囲で、必要に応じて、界面活性剤、保存安定剤、接着助剤、耐熱性向上剤等のその他の任意成分を含有できる。これらの各任意成分は、単独で使用してもよいし、2種以上を混合して使用してもよい。   Furthermore, the curable resin composition of the present embodiment is within a range that does not impair the effects of the present invention, and other optional components such as a surfactant, a storage stabilizer, an adhesion aid, and a heat resistance improver, if necessary. Can be contained. Each of these optional components may be used alone or in combination of two or more.

〔硬化性樹脂組成物の調製方法〕
本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物は、[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する分子量(重量平均分子量)が150〜10000の化合物、[B]半導体量子ドット、および、[C]炭化水素系溶剤を均一に混合することによって調製される。また、[D]成分や[E]成分を含有する場合、[A]成分、[B]成分および[C]成分とともに、[D]成分や[E]成分を均一に混合することによって調製される。
[Method for preparing curable resin composition]
The curable resin composition according to the first embodiment of the present invention includes: [A] a compound having two or more polymerizable groups in one molecule and a molecular weight (weight average molecular weight) of 150 to 10,000, [B] a semiconductor quantum dot And [C] a hydrocarbon solvent is mixed uniformly. When the [D] component and the [E] component are contained, the [D] component and the [E] component are mixed together with the [A] component, the [B] component, and the [C] component. The

さらに、その他の任意成分を必要に応じて選択し、それらを含有させる場合、[A]成分、[B]成分および[C]成分並びにその他の任意の成分を均一に混合することによって調製される。そして、本実施形態の硬化性樹脂組成物は、[C]炭化水素系溶剤を含有し、必要な場合に、酸素原子含有有機溶剤も含有して、他の成分が溶解され、好ましくは溶液状で用いられる。   Furthermore, when other optional components are selected as necessary and contained, they are prepared by uniformly mixing the components [A], [B] and [C] and other optional components. . The curable resin composition of the present embodiment contains a [C] hydrocarbon solvent, and if necessary, also contains an oxygen atom-containing organic solvent, and other components are dissolved, preferably in the form of a solution. Used in

[C]炭化水素系溶剤および必要な場合に用いられる酸素原子含有有機溶剤(以下、単に、溶剤成分とも言う。)の含有量は特に限定されない。しかし、得られる硬化性樹脂組成物の他の成分の溶解性や、硬化性樹脂組成物の塗布性および安定性等の観点から、硬化性樹脂組成物の溶剤成分を除いた各成分の合計濃度が、2質量%〜50質量%となる量が好ましく、5質量%〜40質量%となる量がより好ましい。硬化性樹脂組成物の溶液を調製する場合、実際には、上述の濃度範囲において、所望の膜厚の値等に応じた固形分濃度(硬化性樹脂組成物溶液中に占める溶媒成分以外の成分)が設定される。   [C] The contents of the hydrocarbon solvent and the oxygen atom-containing organic solvent (hereinafter also simply referred to as a solvent component) used when necessary are not particularly limited. However, from the viewpoints of solubility of other components of the resulting curable resin composition, applicability and stability of the curable resin composition, etc., the total concentration of each component excluding the solvent component of the curable resin composition However, the quantity used as 2 mass%-50 mass% is preferable, and the quantity used as 5 mass%-40 mass% is more preferable. When preparing a solution of the curable resin composition, in practice, in the above-mentioned concentration range, the solid content concentration (components other than the solvent component occupying the curable resin composition solution) according to the desired film thickness value, etc. ) Is set.

このようにして調製された溶液状の本実施形態の硬化性樹脂組成物は、孔径0.5μm程度のミリポアフィルタ等を用いて濾過した後に、本実施形態の硬化膜の形成に使用することが好ましい。   The solution-like curable resin composition of the present embodiment thus prepared can be used for forming the cured film of the present embodiment after being filtered using a Millipore filter having a pore diameter of about 0.5 μm. preferable.

実施の形態2.
<硬化膜>
本発明の第2実施形態の硬化膜は、基板上に、上述した本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物を塗布し、必要な場合にパターニングをした後、加熱硬化して形成される。以下で、本実施形態の硬化膜およびその形成方法について説明する。
Embodiment 2. FIG.
<Curing film>
The cured film of the second embodiment of the present invention is formed by applying the above-described curable resin composition of the first embodiment of the present invention on a substrate, patterning if necessary, and then heat curing. The Below, the cured film of this embodiment and its formation method are demonstrated.

本実施形態の硬化膜の形成方法では、基板上に硬化膜が形成されるように、少なくとも下記の工程(1)〜工程(4)を下記の順で含むことが好ましい。   In the method for forming a cured film of this embodiment, it is preferable that at least the following steps (1) to (4) are included in the following order so that the cured film is formed on the substrate.

(1)本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物の塗膜を基板上に形成する塗膜形成工程。
(2)工程(1)で形成した塗膜の少なくとも一部に放射線を照射する放射線照射工程。
(3)工程(2)で放射線を照射された塗膜を現像する現像工程。
(4)工程(3)で現像された塗膜を露光する硬化工程。
(1) The coating film formation process which forms the coating film of the curable resin composition of 1st Embodiment of this invention on a board | substrate.
(2) A radiation irradiation step of irradiating at least part of the coating film formed in step (1) with radiation.
(3) A development step of developing the coating film irradiated with radiation in step (2).
(4) A curing step of exposing the coating film developed in step (3).

そして、図1〜図4は、本発明の第2実施形態の硬化膜の形成方法を説明する図である。   1 to 4 are diagrams illustrating a method for forming a cured film according to the second embodiment of the present invention.

図1は、本発明の第2実施形態の硬化膜の形成における塗膜形成工程を説明する基板の断面図である。   FIG. 1 is a cross-sectional view of a substrate for explaining a coating film forming step in forming a cured film according to a second embodiment of the present invention.

図2は、本発明の第2実施形態の硬化膜の形成における放射線照射工程を模式的に説明する断面図である。   FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating a radiation irradiation step in forming a cured film according to the second embodiment of the present invention.

図3は、本発明の第2実施形態の硬化膜の形成における現像工程を説明する基板の断面図である。   FIG. 3 is a cross-sectional view of a substrate for explaining a development process in forming a cured film according to the second embodiment of the present invention.

図4は、本発明の第2実施形態の硬化膜の形成における硬化工程を説明する硬化膜および基板の断面図である。   FIG. 4 is a cross-sectional view of a cured film and a substrate for explaining a curing process in forming a cured film according to the second embodiment of the present invention.

以下、上述の工程(1)(塗膜形成工程)〜工程(4)(硬化工程)についてそれぞれ説明する。   Hereinafter, the above-mentioned process (1) (coating film forming process) to process (4) (curing process) will be described.

[工程(1)]
本実施形態の硬化膜の形成方法の工程(1)である塗膜形成工程では、図1に示すように、本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物の塗膜1を基板2上に形成する。
[Step (1)]
In the coating film forming process which is the process (1) of the cured film forming method of the present embodiment, the coating film 1 of the curable resin composition of the first embodiment of the present invention is applied on the substrate 2 as shown in FIG. To form.

塗膜1を形成する基板2には、ガラス、石英、シリコン、または、樹脂(例えば、ポリイミド、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエーテルスルホン、ポリカーボネート、ポリエステル、環状オレフィンの開環重合体およびその水素添加物等)等からなる基板を用いることができる。また、これらの基板には、所望により、シランカップリング剤等による薬品処理、プラズマ処理、イオンプレーティング、スパッタリング、気相反応法、真空蒸着等の前処理を施しておくこともできる。   The substrate 2 on which the coating film 1 is formed has glass, quartz, silicon, or resin (for example, polyimide, polyethylene naphthalate, polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethersulfone, polycarbonate, polyester, cyclic olefin ring opening weight) For example, a substrate made of a coalescence and hydrogenated product thereof may be used. In addition, these substrates may be subjected to pretreatment such as chemical treatment with a silane coupling agent, plasma treatment, ion plating, sputtering, gas phase reaction method, vacuum deposition or the like, if desired.

基板2において、一方の面に、本実施形態の硬化性樹脂組成物が塗布された後、プレベークを行い、硬化性樹脂組成物に含有される溶剤等の成分が蒸発し、塗膜1の形成が行われる。   In the substrate 2, after the curable resin composition of the present embodiment is applied to one surface, prebaking is performed, components such as a solvent contained in the curable resin composition are evaporated, and the coating film 1 is formed. Is done.

本工程における硬化性樹脂組成物の塗布方法としては、例えば、スプレー法、ロールコート法、回転塗布法(スピンコート法またはスピンナ法と称されることもある。)、スリット塗布法(スリットダイ塗布法)、バー塗布法、インクジェット塗布法等の適宜の方法が採用できる。これらのうち、均一な厚みの膜を形成できる点から、スピンコート法またはスリット塗布法が好ましい。   Examples of the coating method of the curable resin composition in this step include a spray method, a roll coating method, a spin coating method (sometimes called a spin coating method or a spinner method), a slit coating method (slit die coating). Method), a bar coating method, an ink jet coating method, and the like. Of these, the spin coating method or the slit coating method is preferable because a film having a uniform thickness can be formed.

上述のプレベークの条件は、硬化性樹脂組成物を構成する各成分の種類、配合割合等によって異なるが、70℃〜120℃の温度で行うのが好ましく、時間は、ホットプレートやオーブン等の加熱装置によって異なるが、おおよそ1分間〜15分間程度である。   The pre-baking conditions described above vary depending on the type of each component constituting the curable resin composition, the blending ratio, etc., but it is preferably performed at a temperature of 70 ° C. to 120 ° C., and the time is heated by a hot plate, oven, or the like. Although it varies depending on the apparatus, it is about 1 minute to 15 minutes.

[工程(2)]
次いで、本実施形態の硬化膜の形成方法の工程(2)である放射線照射工程では、図2に示すように、工程(1)で基板2上に形成された塗膜1の少なくとも一部に放射線4を照射する。このとき、塗膜1の一部にのみ、放射線4aを照射するには、例えば、所望の形状の形成に対応するパターンのフォトマスク3を介して行う。このフォトマスク3を用いることにより、照射された放射線4の一部がフォトマスクを透過し、その一部の放射線4aが、塗膜1に照射される。
[Step (2)]
Next, in the radiation irradiation process which is the process (2) of the method for forming a cured film of the present embodiment, as shown in FIG. 2, at least a part of the coating film 1 formed on the substrate 2 in the process (1) is applied. Radiation 4 is irradiated. At this time, in order to irradiate only a part of the coating film 1 with the radiation 4a, for example, it is performed through the photomask 3 having a pattern corresponding to formation of a desired shape. By using this photomask 3, a part of the irradiated radiation 4 passes through the photomask, and a part of the radiation 4 a is irradiated onto the coating film 1.

照射に使用される放射線4としては、可視光線、紫外線、遠紫外線等が挙げられる。このうち波長が200nm〜550nmの範囲にある放射線が好ましく、365nmの紫外線を含む放射線がより好ましい。   Examples of the radiation 4 used for irradiation include visible light, ultraviolet light, and far ultraviolet light. Of these, radiation having a wavelength in the range of 200 nm to 550 nm is preferable, and radiation including ultraviolet light of 365 nm is more preferable.

放射線4の照射量(露光量)は、放射線4の波長365nmにおける強度を照度計(OAI model 356、Optical Associates Inc.製)により測定した値として、10J/m〜10000J/mとすることができ、100J/m〜5000J/mが好ましく、200J/m〜3000J/mがより好ましい。 The dose of radiation 4 (exposure amount), the intensity at the wavelength 365nm radiation 4 as a value measured by a luminometer (OAI model 356, Optical Associates Ltd. Inc.), be 10J / m 2 ~10000J / m 2 can be preferably 100J / m 2 ~5000J / m 2 , 200J / m 2 ~3000J / m 2 is more preferable.

[工程(3)]
次に、本実施形態の硬化膜の形成方法の工程(3)である現像工程では、図3に示すように、放射線照射後の図2の塗膜1を現像して不要な部分を除去し、所定の形状にパターニングされた塗膜1aを得る。
[Step (3)]
Next, in the development step which is step (3) of the method for forming a cured film of this embodiment, as shown in FIG. 3, the coating film 1 of FIG. 2 after irradiation is developed to remove unnecessary portions. The coating film 1a patterned into a predetermined shape is obtained.

現像に使用される現像液としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア等の無機アルカリや、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド等の4級アンモニウム塩や、コリン、1,8−ジアザビシクロ−[5.4.0]−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシクロ−[4.3.0]−5−ノネン等のアルカリ性化合物の水溶液が使用できる。上述のアルカリ性化合物の水溶液には、メタノール、エタノール等の水溶性有機溶媒を適当量添加して使用することもできる。さらに、界面活性剤をそれのみで、または、上述の水溶性有機溶媒の添加とともに、適当量添加して使用することもできる。   Examples of the developer used for development include inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, and ammonia, and tetramethylammonium hydroxide and tetraethylammonium hydroxide. Aqueous solutions of alkaline compounds such as quaternary ammonium salts, choline, 1,8-diazabicyclo- [5.4.0] -7-undecene, 1,5-diazabicyclo- [4.3.0] -5-nonene Can be used. An appropriate amount of a water-soluble organic solvent such as methanol or ethanol can be added to the aqueous solution of the alkaline compound described above. Furthermore, the surfactant can be used alone or in combination with the addition of the above-mentioned water-soluble organic solvent.

現像方法は、液盛り法、ディッピング法、シャワー法、スプレー法等のいずれでもよく、現像時間は、常温で5秒間〜300秒間とすることができ、好ましくは常温で10秒間〜180秒間程度である。現像処理に続いて、例えば、流水洗浄を30秒間〜90秒間行った後、圧縮空気や圧縮窒素で風乾することによって、所望のパターンが得られる。   The developing method may be any of a liquid filling method, a dipping method, a shower method, a spraying method, etc., and the developing time can be 5 seconds to 300 seconds at room temperature, preferably 10 seconds to 180 seconds at room temperature. is there. Subsequent to the development processing, for example, washing with running water is performed for 30 seconds to 90 seconds, and then a desired pattern is obtained by air drying with compressed air or compressed nitrogen.

[工程(4)]
次に、本実施形態の硬化膜の形成方法の工程(4)である硬化工程では、図3に示したパターニングされた塗膜1aを、露光装置を用いた露光によって硬化(ポスト露光とも言う。)する。これにより、図4に示すように、基板2上に形成された、本実施形態の硬化膜5が得られる。硬化膜5は、上述したように、所望の形状となるようにパターニングされている。
[Step (4)]
Next, in the curing step which is the step (4) of the method for forming a cured film of the present embodiment, the patterned coating film 1a shown in FIG. 3 is cured by exposure using an exposure apparatus (also referred to as post-exposure). ) Thereby, as shown in FIG. 4, the cured film 5 of this embodiment formed on the board | substrate 2 is obtained. As described above, the cured film 5 is patterned so as to have a desired shape.

本実施形態の硬化膜5の形成には、上述した第1実施形態の硬化性樹脂組成物を用いており、本工程では、その塗膜の一部に放射線を照射する。具体的には、工程(1)で形成され、工程(2)および工程(3)でパターニングされた塗膜に対し、所定の放射線を照射する。このときに用いられる放射線としては、例えば、紫外線、遠紫外線、X線、荷電粒子線等が挙げられる。   In forming the cured film 5 of this embodiment, the curable resin composition of the first embodiment described above is used, and in this step, a part of the coating film is irradiated with radiation. Specifically, the coating film formed in step (1) and patterned in step (2) and step (3) is irradiated with predetermined radiation. Examples of the radiation used at this time include ultraviolet rays, far ultraviolet rays, X-rays, and charged particle beams.

上述の紫外線としては、例えば、g線(波長436nm)、i線(波長365nm)等が挙げられる。遠紫外線としては、例えば、KrFエキシマレーザー光等が挙げられる。X線としては、例えば、シンクロトロン放射線等が挙げられる。荷電粒子線としては、例えば、電子線等が挙げられる。これらの放射線のうち、紫外線の使用が好ましく、紫外線の中でもg線、h線およびi線のうちの少なくとも一方を含む放射線がより好ましい。放射線の露光量としては、0.1J/m〜30000J/mが好ましい。 Examples of the ultraviolet rays include g-line (wavelength 436 nm), i-line (wavelength 365 nm), and the like. Examples of the far ultraviolet light include KrF excimer laser light. Examples of X-rays include synchrotron radiation. Examples of the charged particle beam include an electron beam. Of these radiations, the use of ultraviolet rays is preferable, and among the ultraviolet rays, radiation containing at least one of g-line, h-line and i-line is more preferable. The exposure dose of radiation is preferably 0.1 J / m 2 to 30000 J / m 2 .

以上の工程(1)〜工程(4)を含む硬化膜の形成方法によって形成された本実施形態の硬化膜は、樹脂中に[B]半導体量子ドットを含んで構成され、[B]半導体量子ドットに基づく蛍光発光(波長変換)機能を有する。そのため、励起光と異なる波長の蛍光を発光する波長変換フィルムとして用いることができる。したがって、本発明の実施形態の波長変換フィルムは、本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物を用い、上述した第2実施形態の硬化膜の形成方法に従って形成することができる。そして、本実施形態の波長変換フィルムは、[B]半導体量子ドットに基づく蛍光発光(波長変換)機能を有する。   The cured film of this embodiment formed by the cured film forming method including the above steps (1) to (4) is configured to include [B] semiconductor quantum dots in the resin, and [B] semiconductor quantum. Fluorescence emission (wavelength conversion) function based on dots. Therefore, it can be used as a wavelength conversion film that emits fluorescence having a wavelength different from that of excitation light. Therefore, the wavelength conversion film of the embodiment of the present invention can be formed using the curable resin composition of the first embodiment of the present invention according to the cured film forming method of the second embodiment described above. And the wavelength conversion film of this embodiment has the fluorescence light emission (wavelength conversion) function based on [B] semiconductor quantum dot.

また、本実施形態の硬化膜を発光層として用い、発光素子を提供することも可能である。その場合、本発明の実施形態の発光素子の発光層は、本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物を用い、上述した本実施形態の硬化膜の形成方法に従って、同様に形成することができる。そして、本実施形態の発光素子の発光層は、[B]半導体量子ドットに基づく蛍光発光(波長変換)機能を有する。
特に、本実施形態の硬化膜は、後述するように、発光素子の例である発光表示素子の発光層としての利用に好適であり、発光表示素子の構成に用いることができる。
Moreover, it is also possible to provide a light emitting element using the cured film of this embodiment as a light emitting layer. In that case, the light emitting layer of the light emitting device of the embodiment of the present invention is similarly formed using the curable resin composition of the first embodiment of the present invention and according to the cured film forming method of the present embodiment described above. Can do. And the light emitting layer of the light emitting element of this embodiment has the fluorescence emission (wavelength conversion) function based on [B] semiconductor quantum dot.
In particular, the cured film of this embodiment is suitable for use as a light-emitting layer of a light-emitting display element that is an example of a light-emitting element, as described later, and can be used for the configuration of a light-emitting display element.

そのため、硬化膜は光の利用効率を高めることができるように、それを構成する樹脂において、厚さ0.1mmでの全光線透過率(JIS K7105)が、好ましくは75%〜95%であり、より好ましくは78%〜95%であり、さらに好ましくは80%〜95%である。全光線透過率がこのような範囲であれば、得られる硬化膜は優れた光利用効率の波長変換フィルムや発光素子の発光層を構成することができる。   Therefore, the cured film has a total light transmittance (JIS K7105) at a thickness of 0.1 mm, preferably 75% to 95%, in the resin constituting the cured film so that the light utilization efficiency can be increased. More preferably, it is 78%-95%, More preferably, it is 80%-95%. When the total light transmittance is within such a range, the obtained cured film can constitute a wavelength conversion film having excellent light utilization efficiency and a light emitting layer of a light emitting element.

実施の形態3.
<発光表示素子およびその発光層>
本発明においては、上述した本発明の第2実施形態の硬化膜を用い、波長変換フィルムや発光層として使用することにより、照明装置や発光表示素子等の発光素子を提供することができる。
Embodiment 3 FIG.
<Light-emitting display element and light-emitting layer thereof>
In this invention, light emitting elements, such as an illuminating device and a light emitting display element, can be provided by using as a wavelength conversion film or a light emitting layer using the cured film of 2nd Embodiment of this invention mentioned above.

本発明の第3実施形態である発光表示素子は、本発明の発光素子の一例である。本発明の第3実施形態である発光表示素子は、上述した本発明の第2実施形態の硬化膜を発光層とする波長変換基板を用いて構成される。   The light emitting display element which is 3rd Embodiment of this invention is an example of the light emitting element of this invention. The light emitting display element which is 3rd Embodiment of this invention is comprised using the wavelength conversion board | substrate which uses the cured film of 2nd Embodiment of this invention mentioned above as a light emitting layer.

図5は、本発明の実施形態の発光表示素子を模式的に示す断面図である。   FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing a light-emitting display element according to an embodiment of the present invention.

本発明の第1実施形態の発光表示素子100は、基板12上に発光層13(13a、13b、13c)とブラックマトリクス14とを設けて構成された波長変換基板11と、波長変換基板11上に接着剤層15を介して貼り合わされた光源基板18とを有する。   The light emitting display device 100 according to the first embodiment of the present invention includes a wavelength conversion substrate 11 configured by providing a light emitting layer 13 (13a, 13b, 13c) and a black matrix 14 on a substrate 12, and a wavelength conversion substrate 11. And a light source substrate 18 bonded through an adhesive layer 15.

基板12は、ガラス、石英、または、透明樹脂(例えば、透明ポリイミド、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエステルフィルム、環状オレフィン系樹脂フィルム等)等からなる。   The substrate 12 is made of glass, quartz, or a transparent resin (for example, transparent polyimide, polyethylene naphthalate, polyethylene terephthalate, polyester film, cyclic olefin resin film, etc.).

波長変換基板11の発光層13は、上述した本発明の第2実施形態の硬化膜を利用してなるものである。すなわち、発光層13は、上述した本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物を用い、パターニングして形成される。   The light emitting layer 13 of the wavelength conversion substrate 11 is formed by using the cured film of the second embodiment of the present invention described above. That is, the light emitting layer 13 is formed by patterning using the curable resin composition of the first embodiment of the present invention described above.

発光層の形成方法については、それらが本発明の第2実施形態の硬化膜を用いてなるものであることから、上述した本発明の第2実施形態の硬化膜の形成方法と同様となる。
すなわち、基板12上に本発明の第2実施形態の硬化膜が形成され、それらが発光層13となって発光表示素子100の波長変換基板11を構成する。したがって、発光層13の形成方法は、上述したのと同様の下記工程(1)〜工程(4)をこの順で含むことが好ましい。
About the formation method of a light emitting layer, since they are formed using the cured film of 2nd Embodiment of this invention, it becomes the same as the formation method of 2nd Embodiment of this invention mentioned above.
That is, the cured film of the second embodiment of the present invention is formed on the substrate 12, and these serve as the light emitting layer 13 to constitute the wavelength conversion substrate 11 of the light emitting display element 100. Therefore, the method for forming the light emitting layer 13 preferably includes the following steps (1) to (4) similar to those described above in this order.

(1)本発明の第1実施形態の硬化性樹脂組成物の塗膜を基板上に形成する塗膜形成工程。
(2)工程(1)で形成した塗膜の少なくとも一部に放射線を照射する放射線照射工程。
(3)工程(2)で放射線を照射された塗膜を現像する現像工程。
(4)工程(3)で現像された塗膜を露光する硬化工程。
(1) The coating film formation process which forms the coating film of the curable resin composition of 1st Embodiment of this invention on a board | substrate.
(2) A radiation irradiation step of irradiating at least part of the coating film formed in step (1) with radiation.
(3) A development step of developing the coating film irradiated with radiation in step (2).
(4) A curing step of exposing the coating film developed in step (3).

そして、発光層13を形成するための(1)工程〜(4)工程のそれぞれは、本発明の第2実施形態の硬化膜の形成において、図1〜図4を用いて説明したとおりである。したがって、その詳細は省略するが、図4において示される所望の形状となるようにパターニングされた硬化膜5が、図5の波長変換基板11の発光層13となる。   And each of (1) process-(4) process for forming the light emitting layer 13 is as having demonstrated using FIGS. 1-4 in formation of the cured film of 2nd Embodiment of this invention. . Therefore, although the details are omitted, the cured film 5 patterned so as to have a desired shape shown in FIG. 4 becomes the light emitting layer 13 of the wavelength conversion substrate 11 of FIG.

波長変換基板11は、発光層13のそれぞれが、含有する半導体量子ドットを用い、光源基板18の励起光源17からの励起光を波長変換し、所望とする波長の蛍光を発光する。   In the wavelength conversion substrate 11, each of the light emitting layers 13 uses semiconductor quantum dots contained therein, converts the wavelength of excitation light from the excitation light source 17 of the light source substrate 18, and emits fluorescence having a desired wavelength.

そして、波長変換基板11では、発光層13の発光層13aと発光層13bと発光層13cとが、それぞれ、異なる半導体量子ドットを含んで構成され、異なる蛍光を発光することができる。   In the wavelength conversion substrate 11, the light emitting layer 13a, the light emitting layer 13b, and the light emitting layer 13c of the light emitting layer 13 are configured to include different semiconductor quantum dots, and can emit different fluorescence.

例えば、波長変換基板11は、発光層13aが励起光を赤色の光に変換し、発光層13bが励起光を緑色の光に変換し、発光層13cが励起光を青色の光に変換するように構成することができる。   For example, in the wavelength conversion substrate 11, the light emitting layer 13a converts excitation light into red light, the light emitting layer 13b converts excitation light into green light, and the light emitting layer 13c converts excitation light into blue light. Can be configured.

その場合、発光層13a、13b、13cは、それぞれが所望とする蛍光特性を有するように、含有する半導体量子ドットの選択がなされる。そのため、波長変換基板11の発光層13a、13b、13cの形成においては、異なる発光特性の半導体量子ドットを含む、例えば、3種の第1実施形態の硬化性樹脂組成物が準備される。   In that case, the semiconductor quantum dots to be contained are selected so that each of the light emitting layers 13a, 13b, and 13c has desired fluorescence characteristics. Therefore, in the formation of the light emitting layers 13a, 13b, and 13c of the wavelength conversion substrate 11, for example, three kinds of curable resin compositions of the first embodiment including semiconductor quantum dots having different light emission characteristics are prepared.

そして、その3種の第1実施形態の硬化性樹脂組成物をそれぞれ用いて、上述した工程(1)〜工程(4)を含む発光層13の形成方法を繰り返して、発光層13a、発光層13bおよび発光層13cを順次形成する。そして、基板12上に発光層13を形成して、波長変換基板11を得る。   And the formation method of the light emitting layer 13 containing the process (1)-process (4) mentioned above using each of the 3 types of curable resin compositions of 1st Embodiment is repeated, and the light emitting layer 13a, the light emitting layer 13b and the light emitting layer 13c are sequentially formed. Then, the light emitting layer 13 is formed on the substrate 12 to obtain the wavelength conversion substrate 11.

波長変換基板11の発光層13の厚さは、100nm〜100μm程度が好ましく、1μm〜100μmがより好ましい。その厚さが100nm未満であると、励起光を十分吸収することができず、光変換効率が低下するために発光表示素子の輝度が十分に確保できないといった問題が生じる。さらに、励起光の吸収を高め、発光表示素子の輝度を十分に確保するためには、膜厚として、1μm以上とすることが好ましい。   The thickness of the light emitting layer 13 of the wavelength conversion substrate 11 is preferably about 100 nm to 100 μm, and more preferably 1 μm to 100 μm. If the thickness is less than 100 nm, the excitation light cannot be sufficiently absorbed, and the light conversion efficiency is lowered, so that the luminance of the light emitting display element cannot be sufficiently secured. Furthermore, in order to enhance absorption of excitation light and sufficiently secure the luminance of the light emitting display element, the film thickness is preferably 1 μm or more.

基板12上の各発光層13の間には、ブラックマトリクス14が配置されている。ブラックマトリクス14は、公知の遮光性の材料を用い、公知の方法に従ってパターニングして形成することができる。尚、ブラックマトリクス14は、波長変換基板11において、必須の構成要素ではなく、波長変換基板11は、ブラックマトリクス14を設けない構成とすることも可能である。   A black matrix 14 is disposed between the light emitting layers 13 on the substrate 12. The black matrix 14 can be formed by using a known light-shielding material and patterning it according to a known method. Note that the black matrix 14 is not an essential component in the wavelength conversion substrate 11, and the wavelength conversion substrate 11 may be configured without the black matrix 14.

接着剤層15は、後述する波長の紫外光または青色光を透過する公知の接着剤を用いて形成される。尚、接着剤層15は、図5に示すように、基板12上に発光層13a、13b、13cの全面を被覆するように設ける必要はなく、波長変換基板11の周囲のみに設けることも可能である。   The adhesive layer 15 is formed using a known adhesive that transmits ultraviolet light or blue light having a wavelength described later. As shown in FIG. 5, the adhesive layer 15 does not have to be provided on the substrate 12 so as to cover the entire surface of the light emitting layers 13a, 13b, 13c, and can be provided only around the wavelength conversion substrate 11. It is.

光源基板18は、基板16と、基板16の波長変換基板11の側に配置された光源17とを備えている。光源17からはそれぞれ、励起光として紫外光または青色光が出射される。   The light source substrate 18 includes a substrate 16 and a light source 17 disposed on the wavelength conversion substrate 11 side of the substrate 16. Each of the light sources 17 emits ultraviolet light or blue light as excitation light.

光源17としては、公知の構造の紫外発光有機EL素子および青色発光有機EL素子等の使用が可能であり、特に限定されるものではなく、公知の材料、公知の製造方法で作製することが可能である。ここで、紫外光としては、主発光ピークが360nm〜435nmの発光が好ましく、青色光としては、主発光ピークが435nm〜480nmの発光が好ましい。光源17は、それぞれの出射光が対向する発光層13を照射するように、指向性を有していることが望ましい。   As the light source 17, an ultraviolet light-emitting organic EL element and a blue light-emitting organic EL element having a known structure can be used. The light source 17 is not particularly limited, and can be manufactured using a known material or a known manufacturing method. It is. Here, as the ultraviolet light, light emission having a main emission peak of 360 nm to 435 nm is preferable, and as the blue light, light emission having a main emission peak of 435 nm to 480 nm is preferable. The light source 17 desirably has directivity so that each emitted light irradiates the light emitting layer 13 facing each other.

本実施形態の発光表示素子100は、光源17の1つである光源17aからの励起光を、対向する波長変換基板11の発光層13aの半導体量子ドットにより波長変換する。同様に、光源17bからの励起光を、対向する波長変換基板11の発光層13bの半導体量子ドットにより波長変換し、また、光源17cからの励起光を、対向する波長変換基板11の発光層13cの半導体量子ドットにより波長変換する。このようにして、光源17からの励起光が、それぞれ所望とする波長の可視光に変換されて表示に用いられている。   The light emitting display element 100 of this embodiment converts the wavelength of excitation light from the light source 17a, which is one of the light sources 17, by the semiconductor quantum dots of the light emitting layer 13a of the opposing wavelength conversion substrate 11. Similarly, the wavelength of excitation light from the light source 17b is converted by the semiconductor quantum dots of the light emitting layer 13b of the opposing wavelength conversion substrate 11, and the light emission layer 13c of the wavelength conversion substrate 11 of the opposing wavelength conversion substrate 11 is converted. Wavelength conversion is performed by using semiconductor quantum dots. In this way, the excitation light from the light source 17 is converted into visible light having a desired wavelength and used for display.

尚、波長変換基板11においては、後述するように、発光層13cにおいて励起光を青色光に変換する。このとき、波長変換基板11は、発光層13cに代えて、樹脂中に光散乱粒子を分散して構成された光散乱層を用いることも可能である。こうすることで、励起光が青色光である場合、その励起光を波長変換することなく、そのままの波長特性で使用することができる。   In the wavelength conversion substrate 11, the excitation light is converted into blue light in the light emitting layer 13c, as will be described later. At this time, instead of the light emitting layer 13c, the wavelength conversion substrate 11 can use a light scattering layer configured by dispersing light scattering particles in a resin. By doing so, when the excitation light is blue light, the excitation light can be used as it is without converting the wavelength.

発光表示素子100の波長変換基板11は、上述したように、それぞれ半導体量子ドットと樹脂とからなる発光層13aと発光層13bと発光層13cとが、基板12の上にパターニングされて設けられたものである。発光層13a、13b、13cは、半導体量子ドットを含む、第1実施形態の硬化性樹脂組成物からそれぞれ形成される。   As described above, the wavelength conversion substrate 11 of the light-emitting display element 100 is provided with the light-emitting layer 13a, the light-emitting layer 13b, and the light-emitting layer 13c made of semiconductor quantum dots and resin, respectively, patterned on the substrate 12. Is. The light emitting layers 13a, 13b, and 13c are each formed from the curable resin composition of the first embodiment including semiconductor quantum dots.

発光表示素子100においては、発光層13aの設けられた部分が、赤色表示を行うサブ画素を構成する。すなわち、波長変換基板11の発光層13aは、光源基板18の対向する光源17aからの励起光を赤色に変換する。また、発光層13bの設けられた部分が、緑色表示を行うサブ画素を構成する。すなわち、発光層13bは、光源基板18の対向する光源17bからの励起光を緑色に変換する。また、発光層13cの設けられた部分が、青色表示を行うサブ画素を構成する。すなわち、発光層13cは、光源基板18の対向する光源17cからの励起光を青色に変換する。   In the light emitting display element 100, the portion where the light emitting layer 13a is provided constitutes a sub-pixel that performs red display. That is, the light emitting layer 13 a of the wavelength conversion substrate 11 converts the excitation light from the light source 17 a facing the light source substrate 18 into red. Further, the portion where the light emitting layer 13b is provided constitutes a sub-pixel that performs green display. That is, the light emitting layer 13b converts the excitation light from the light source 17b facing the light source substrate 18 to green. Further, the portion where the light emitting layer 13c is provided constitutes a sub-pixel that performs blue display. That is, the light emitting layer 13c converts the excitation light from the light source 17c facing the light source substrate 18 into blue.

そして、発光表示素子100は、発光層13aを備えたサブ画素、発光層13bを備えたサブ画素および発光層13cを備えたサブ画素の3種により、画像を構成する最小単位となる1つの画素を構成する。   The light-emitting display element 100 includes one pixel that is a minimum unit constituting an image by three types of a sub-pixel including the light-emitting layer 13a, a sub-pixel including the light-emitting layer 13b, and a sub-pixel including the light-emitting layer 13c. Configure.

以上の構成を有する本実施形態の発光表示素子100は、発光層13aを備えたサブ画素、発光層13bを備えたサブ画素および発光層13cを備えたサブ画素毎に、赤色、緑色または青色の光の発光が制御される。そして、3種のサブ画素からなる1つの画素毎に、赤色、緑色および青色の光の発光が制御され、フルカラーの表示が行われる。   The light-emitting display element 100 of the present embodiment having the above-described configuration has red, green, or blue color for each of the sub-pixel including the light-emitting layer 13a, the sub-pixel including the light-emitting layer 13b, and the sub-pixel including the light-emitting layer 13c. Light emission is controlled. Then, the emission of red, green, and blue light is controlled for each pixel composed of three types of sub-pixels, and a full color display is performed.

尚、本発明の実施形態の発光表示素子100においては、発光層13と基板12との間に、カラーフィルタを設けることが可能である。すなわち、発光層13aと基板12との間に赤色のカラーフィルタを設け、発光層13bと基板12との間に緑色のカラーフィルタを設け、発光層13cと基板12との間に赤色のカラーフィルタを設けることができる。   In the light emitting display element 100 according to the embodiment of the present invention, a color filter can be provided between the light emitting layer 13 and the substrate 12. That is, a red color filter is provided between the light emitting layer 13a and the substrate 12, a green color filter is provided between the light emitting layer 13b and the substrate 12, and a red color filter is provided between the light emitting layer 13c and the substrate 12. Can be provided.

本発明の第3実施形態の発光表示素子100は、カラーフィルタを設けることにより、表示の色の純度を高めることができる。ここで、カラーフィルタとしては、液晶表示素子用等として公知のものを公知の方法で形成して用いることができる。   The light emitting display element 100 according to the third embodiment of the present invention can increase the purity of display color by providing a color filter. Here, as a color filter, what is known for liquid crystal display elements etc. can be formed and used by a well-known method.

以下、実施例に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれら実施例に何ら限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated more concretely based on an Example, this invention is not limited to these Examples at all.

<[B]半導体量子ドット([B]成分)>
本実施例で用いた半導体量子ドットを次に示す。
半導体量子ドットA:InP/ZnSコアシェル型量子ドット
半導体量子ドットB:InCuS/ZnSコアシェル型量子ドット
半導体量子ドットC:Si量子ドット
<[B] Semiconductor Quantum Dot ([B] Component)>
The semiconductor quantum dots used in this example are shown below.
Semiconductor quantum dot A: InP / ZnS core-shell quantum dot semiconductor quantum dot B: InCuS 2 / ZnS core-shell quantum dot semiconductor quantum dot C: Si quantum dot

そして、下記実施例で用いた半導体量子ドットA:InP/ZnSコアシェル型量子ドット、半導体量子ドットB:InCuS/ZnSコアシェル型量子ドット、半導体量子ドットC:Si量子ドットは、一般的に知られている方法で合成することができる。 The semiconductor quantum dots A: InP / ZnS core-shell quantum dots, semiconductor quantum dots B: InCuS 2 / ZnS core-shell quantum dots, and semiconductor quantum dots C: Si quantum dots used in the following examples are generally known. It can be synthesized by the method.

例えば、半導体量子ドットA:InP/ZnSコアシェル型量子ドットに関しては技術文献「Journal of American Chemical Society. 2007, 129, 15432−15433」に、半導体量子ドットB:InCuS/ZnSコアシェル型量子ドットに関しては技術文献「Journal of American Chemical Society. 2009, 131, 5691−5697」および技術文献「Chemistry of Materials. 2009, 21, 2422−2429」に、半導体量子ドットC:Si量子ドットに関しては技術文献「Journal of American Chemical Society. 2010, 132, 248−253」記載されている方法を参照して合成することができる。 For example, regarding the semiconductor quantum dot A: InP / ZnS core-shell type quantum dot, the technical literature “Journal of American Chemical Society. 2007, 129, 15432-15433” and the semiconductor quantum dot B: InCuS 2 / ZnS core-shell type quantum dot In the technical document “Journal of American Chemical Society. 2009, 131, 5691-5697” and the technical document “Chemistry of Materials. 2009, 21, 2422-2429”, regarding the semiconductor quantum dot C: American Chemical Society. 2010, 132, 248-253 ”. It can be synthesized with reference to the method.

以上の[B]半導体量子ドットとともに、[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する重量平均分子量が150以上10000以下の化合物([A]成分)および[C]炭化水素系溶剤([C]成分)を用い、さらに、[D]重合性開始剤([D]成分)、[E]カルボキシル基を有する重量平均分子量が5000以上40000以下の重合体([E]成分)である上述の[E1]成分、[E2]成分を用い、実施例の硬化性樹脂組成物を調製した。次いで、それを用いて実施例の硬化膜を形成し、その評価を行った。   Along with the above [B] semiconductor quantum dots, [A] a compound ([A] component) having a weight average molecular weight of 150 or more and 10,000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule, and [C] a hydrocarbon solvent. ([C] component), [D] a polymerizable initiator ([D] component), and [E] a polymer having a carboxyl group and having a weight average molecular weight of 5000 to 40000 ([E] component). The curable resin composition of an Example was prepared using a certain above-mentioned [E1] component and [E2] component. Subsequently, the cured film of an Example was formed using it and the evaluation was performed.

<[E1]成分の合成例>
冷却管と攪拌機を備えたフラスコに、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート150質量部を仕込んで窒素置換した。80℃に加熱して、同温度で、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート50質量部、メタクリル酸20質量部、ベンジルメタクリレート5重量部、スチレン10質量部、2−ヒドロキシエチルメタクリレート13質量部、2−エチルヘキシルメタクリレート40質量部、N−フェニルマレイミド12質量部および2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)6質量部の混合溶液を2時間かけて滴下し、この温度を保持して1時間重合した。その後、反応溶液の温度を90℃に昇温させ、さらに1時間重合することにより、樹脂溶液(固形分濃度=33質量%)を得た。得られた樹脂は、Mw=11100、Mn=6000、Mw/Mn=1.85であった。これをカルボキシル基含有樹脂溶液(E−1)とする。
<Synthesis Example of [E1] Component>
A flask equipped with a condenser and a stirrer was charged with 150 parts by mass of propylene glycol monomethyl ether acetate and purged with nitrogen. Heat to 80 ° C., and at the same temperature, 50 parts by mass of propylene glycol monomethyl ether acetate, 20 parts by mass of methacrylic acid, 5 parts by mass of benzyl methacrylate, 10 parts by mass of styrene, 13 parts by mass of 2-hydroxyethyl methacrylate, 2-ethylhexyl methacrylate A mixed solution of 40 parts by mass, 12 parts by mass of N-phenylmaleimide and 6 parts by mass of 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) was added dropwise over 2 hours, and this temperature was maintained for 1 hour for polymerization. did. Thereafter, the temperature of the reaction solution was raised to 90 ° C., and further polymerized for 1 hour to obtain a resin solution (solid content concentration = 33% by mass). The obtained resin was Mw = 11100, Mn = 6000, Mw / Mn = 1.85. This is designated as a carboxyl group-containing resin solution (E-1).

実施例1
[硬化性樹脂組成物(β−I)の調製]
[E2]成分としてカルボキシル基含有ポリイソプレン(株式会社クラレ製、商品名「UC−102」)を含有する溶液を、重合体30質量部(固形分)に相当する量、および[D]成分として1,2−オクタンジオン−1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)](BASF社製 イルガキュア(登録商標)OXE01)10質量部、[A]成分として1,9−ノナンジオールジアクリレート(新中村化学工業株式会社製 NKエステル(登録商標)A−NOD−N)70質量部を混合し、[C]成分としてp−メンタンに溶解させ、[B]成分として半導体量子ドットAを10質量部混合して、硬化性樹脂組成物(β−I)を調製した。
Example 1
[Preparation of Curable Resin Composition (β-I)]
[E2] A solution containing a carboxyl group-containing polyisoprene (trade name “UC-102”, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) as the component, an amount corresponding to 30 parts by mass (solid content) of the polymer, and a component [D] 1,2-octanedione-1- [4- (phenylthio) -2- (O-benzoyloxime)] (BASF Corporation Irgacure (registered trademark) OXE01) 10 parts by mass, [A] component 1,9-nonane 70 parts by mass of diol diacrylate (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., NK ester (registered trademark) A-NOD-N) was dissolved in p-menthane as the [C] component, and semiconductor quantum dots as the [B] component 10 parts by mass of A was mixed to prepare a curable resin composition (β-I).

実施例2
[硬化性樹脂組成物(β−II)の調製]
[E2]成分としてカルボキシル基含有ポリイソプレン(株式会社クラレ製、商品名「UC−203」)20質量部、および[D]成分として1,2−オクタンジオン−1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)](BASF社製 イルガキュア(登録商標)OXE01)10質量部、[A]成分として1,10−デカンジオールジアクリレート(新中村化学工業株式会社製 NKエステル(登録商標)A−DOD−N)80質量部を混合し、[C]成分としてピナンに溶解させ、[B]成分として半導体量子ドットAを10質量部混合して、硬化性樹脂組成物(β−II)を調製した。
Example 2
[Preparation of Curable Resin Composition (β-II)]
[E2] 20 parts by mass of a carboxyl group-containing polyisoprene (trade name “UC-203”, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) as a component, and 1,2-octanedione-1- [4- (phenylthio)-as a [D] component 2- (O-benzoyloxime)] (BASF Irgacure (registered trademark) OXE01) 10 parts by mass, 1,10-decanediol diacrylate (Shin Nakamura Chemical Co., Ltd., NK ester (registered trademark) as [A] component ) A-DOD-N) 80 parts by mass is mixed, dissolved in Pinan as the [C] component, and 10 parts by mass of the semiconductor quantum dots A as the [B] component are mixed to obtain a curable resin composition (β-II). ) Was prepared.

実施例3
[硬化性樹脂組成物(β−III)の調製]
[E2]成分としてカルボキシル基含有ポリイソプレン(株式会社クラレ製、商品名「UC−102」)30質量部、および[D]成分として2−ジメチルアミノ−2−(4−メチルベンジル)−1−(4−モルフォリン−4−イル−フェニル)−ブタン−1−オン(BASF社製 イルガキュア(登録商標)379)10質量、[A]成分として1,9−ノナンジオールジアクリレート(新中村化学工業株式会社製 NKエステル(登録商標)A−NOD−N)50質量部、プロピレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリアクリレート20質量部(東亜合成株式会社製 アロニックス(登録商標)M−321)を混合し、[C]成分としてデカンに溶解させ、[B]成分として半導体量子ドットCを10質量部混合して、硬化性樹脂組成物(β−III)を調製した。
Example 3
[Preparation of Curable Resin Composition (β-III)]
[E2] 30 parts by mass of a carboxyl group-containing polyisoprene (trade name “UC-102”, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) as a component, and 2-dimethylamino-2- (4-methylbenzyl) -1- as a [D] component 10 mass of (4-morpholin-4-yl-phenyl) -butan-1-one (Irgacure (registered trademark) 379 manufactured by BASF), 1,9-nonanediol diacrylate (Shin Nakamura Chemical Co., Ltd.) as component [A] NK ester (registered trademark) A-NOD-N) 50 parts by mass, propylene oxide modified trimethylolpropane triacrylate 20 parts by mass (Aronix (registered trademark) M-321 manufactured by Toagosei Co., Ltd.) C] as a component, dissolved in decane, and mixed with 10 parts by mass of semiconductor quantum dots C as a component [B] Things the (beta-III) were prepared.

実施例4
[硬化性樹脂組成物(β−IV)の調製]
[E2]成分としてカルボキシル基含有ポリイソプレン(株式会社クラレ製、商品名「UC−102」)40質量部、および[D]成分として1,2−オクタンジオン−1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)](BASF社製 イルガキュア(登録商標)OXE01)10質量部、エタノン−1−〔9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル〕−1−(O−アセチルオキシム)(BASF社製 イルガキュア(登録商標)OXE02)5質量部、[A]成分として1,9−ノナンジオールジアクリレート(新中村化学工業株式会社製 NKエステル(登録商標)A−NOD−N)60質量部を混合し、[C]成分としてピナンに溶解させ、[B]成分として半導体量子ドットBを10質量部混合して、硬化性樹脂組成物(β−IV)を調製した。
Example 4
[Preparation of Curable Resin Composition (β-IV)]
[E2] 40 parts by mass of a carboxyl group-containing polyisoprene (trade name “UC-102” manufactured by Kuraray Co., Ltd.) as a component, and 1,2-octanedione-1- [4- (phenylthio)-as a [D] component 2- (O-benzoyloxime)] (Irgacure (registered trademark) OXE01, manufactured by BASF) 10 parts by mass, ethanone-1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl] -1- (O-acetyloxime) (BASF Irgacure (registered trademark) OXE02) 5 parts by mass, 1,9-nonanediol diacrylate (Shin Nakamura Chemical Co., Ltd., NK ester (registered trademark) as [A] component ) A-NOD-N) 60 parts by mass are mixed and dissolved in Pinan as the [C] component, and 10 semiconductor quantum dots B are added as the [B] component. Mixed amount unit, curable resin composition (beta-IV) was prepared.

実施例5
[硬化性樹脂組成物(β−V)の調製]
[E1]成分としてカルボキシル基含有樹脂溶液(E−1)90質量部に[C]成分としてp−メンタン40質量部を加えて溶解させた後、[B]成分として半導体量子ドットAを10質量部混合して均一な溶液を作製し、[D]成分として2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパン−1−オン(BASF社製 イルガキュア(登録商標)907)5質量部、1,2−オクタンジオン−1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)](BASF社製 イルガキュア(登録商標)OXE01)5質量部、[A]成分としてトリシクロデカンジメタノールジアクリレ−ト(新中村化学工業株式会社製 NKエステル(登録商標)A−DCP)20質量部、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート(東亜合成株式会社製 アロニックス(登録商標)M−408)10質量部を混合し、硬化性樹脂組成物(β−V)を調製した。
Example 5
[Preparation of Curable Resin Composition (β-V)]
After adding 40 parts by mass of p-menthane as the [C] component to 90 parts by mass of the carboxyl group-containing resin solution (E-1) as the [E1] component and dissolving it, 10 parts of the semiconductor quantum dot A is used as the [B] component. Partly mixed to prepare a uniform solution, and as [D] component 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one (Irgacure (registered trademark) 907 manufactured by BASF) ) 5 parts by mass, 1,2-octanedione-1- [4- (phenylthio) -2- (O-benzoyloxime)] (BASF company Irgacure (registered trademark) OXE01), 5 parts by mass, [A] component 20 parts by mass of tricyclodecane dimethanol diacrylate (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., NK ester (registered trademark) A-DCP), ditrimethylolpropane tetraacrylate Rate (Toagosei Co., Ltd. Aronix (registered trademark) M-408) were mixed with 10 parts by weight, a cured resin composition (beta-V) was prepared.

実施例6
[硬化性樹脂組成物(β−I)を用いた硬化膜の形成]
無アルカリガラス基板上に、実施例1で調製した硬化性樹脂組成物(β−I)をスピンナにより塗布した後、80℃のホットプレート上で2分間プレベークすることにより塗膜を形成した。
次に、所定のパターンを備えたフォトマスクを介し、得られた塗膜に高圧水銀ランプを用いて露光量700J/mとして放射線照射を行いた。次いで、0.04質量%の水酸化カリウム水溶液にて23℃、80秒間現像を行った。
次に、得られたパターンに、高圧水銀ランプを用いて露光量10000J/mとして放射線照射を行い、所定の形状にパターニングされた硬化膜を形成した。
Example 6
[Formation of cured film using curable resin composition (β-I)]
A curable resin composition (β-I) prepared in Example 1 was applied onto an alkali-free glass substrate with a spinner, and then prebaked on an 80 ° C. hot plate for 2 minutes to form a coating film.
Next, radiation was applied to the obtained coating film through a photomask having a predetermined pattern at an exposure amount of 700 J / m 2 using a high pressure mercury lamp. Next, development was performed at 23 ° C. for 80 seconds with a 0.04 mass% potassium hydroxide aqueous solution.
Next, the obtained pattern was irradiated with radiation at an exposure amount of 10000 J / m 2 using a high-pressure mercury lamp to form a cured film patterned into a predetermined shape.

次に、パターニングされた硬化膜の端部分を光学顕微鏡で観察し、現像残渣がなく、パターンの直線部分が直線状に形成されている場合にパターニング性良好と判断した。
その結果、硬化性樹脂組成物(β−I)を用い、パターニングして形成された硬化膜のパターニング性は良好であった。
Next, the edge part of the patterned cured film was observed with an optical microscope, and it was judged that the patterning property was good when there was no development residue and the linear part of the pattern was linearly formed.
As a result, the patterning property of the cured film formed by patterning using the curable resin composition (β-I) was good.

実施例7
[硬化性樹脂組成物(β−II)を用いた硬化膜の形成]
無アルカリガラス基板上に、実施例2で調製した硬化性樹脂組成物(β−II)をスピンナにより塗布した後、80℃のホットプレート上で2分間プレベークすることにより塗膜を形成した。
次に、所定のパターンを備えたフォトマスクを介し、得られた塗膜に高圧水銀ランプを用いて露光量1000J/mとして放射線照射を行い、0.04質量%の水酸化カリウム水溶液にて23℃、80秒間現像を行った。
次に、得られたパターンに、高圧水銀ランプを用いて露光量10000J/mとして放射線照射を行い、所定の形状にパターニングされた硬化膜を形成した。
Example 7
[Formation of cured film using curable resin composition (β-II)]
The curable resin composition (β-II) prepared in Example 2 was applied on an alkali-free glass substrate with a spinner, and then pre-baked on an 80 ° C. hot plate for 2 minutes to form a coating film.
Next, the obtained coating film was irradiated with radiation at an exposure amount of 1000 J / m 2 using a high pressure mercury lamp through a photomask having a predetermined pattern, and a 0.04 mass% potassium hydroxide aqueous solution was used. Development was performed at 23 ° C. for 80 seconds.
Next, the obtained pattern was irradiated with radiation at an exposure amount of 10000 J / m 2 using a high-pressure mercury lamp to form a cured film patterned into a predetermined shape.

次に、パターニングされた硬化膜の端部分を光学顕微鏡で観察し、現像残渣がなく、パターンの直線部分が直線状に形成されている場合にパターニング性良好と判断した。
その結果、硬化性樹脂組成物(β−II)を用い、パターニングして形成された硬化膜のパターニング性は良好であった。
Next, the edge part of the patterned cured film was observed with an optical microscope, and it was judged that the patterning property was good when there was no development residue and the linear part of the pattern was linearly formed.
As a result, the patterning property of the cured film formed by patterning using the curable resin composition (β-II) was good.

実施例8
[硬化性樹脂組成物(β−III)を用いた硬化膜の形成]
無アルカリガラス基板上に、実施例3で調製した硬化性樹脂組成物(β−III)をスピンナにより塗布した後、80℃のホットプレート上で2分間プレベークすることにより塗膜を形成した。
次に、所定のパターンを備えたフォトマスクを介し、得られた塗膜に高圧水銀ランプを用いて露光量800J/mとして放射線照射を行い、0.04質量%の水酸化カリウム水溶液にて23℃、80秒間現像を行った。
次に、得られたパターンに、高圧水銀ランプを用いて露光量10000J/mとして放射線照射を行い、所定の形状にパターニングされた硬化膜を形成した。
Example 8
[Formation of cured film using curable resin composition (β-III)]
The curable resin composition (β-III) prepared in Example 3 was applied onto an alkali-free glass substrate with a spinner, and then pre-baked on an 80 ° C. hot plate for 2 minutes to form a coating film.
Next, the obtained coating film was irradiated with radiation at an exposure amount of 800 J / m 2 using a high pressure mercury lamp through a photomask having a predetermined pattern, and a 0.04 mass% potassium hydroxide aqueous solution was used. Development was performed at 23 ° C. for 80 seconds.
Next, the obtained pattern was irradiated with radiation at an exposure amount of 10000 J / m 2 using a high-pressure mercury lamp to form a cured film patterned into a predetermined shape.

次に、パターニングされた硬化膜の端部分を光学顕微鏡で観察し、現像残渣がなく、パターンの直線部分が直線状に形成されている場合にパターニング性良好と判断した。
その結果、硬化性樹脂組成物(β−III)を用い、パターニングして形成された硬化膜のパターニング性は良好であった。
Next, the edge part of the patterned cured film was observed with an optical microscope, and it was judged that the patterning property was good when there was no development residue and the linear part of the pattern was linearly formed.
As a result, the patterning property of the cured film formed by patterning using the curable resin composition (β-III) was good.

実施例9
[硬化性樹脂組成物(β−IV)を用いた硬化膜の形成]
無アルカリガラス基板上に、実施例3で調製した硬化性樹脂組成物(β−IV)をスピンナにより塗布した後、80℃のホットプレート上で2分間プレベークすることにより塗膜を形成した。
次に、所定のパターンを備えたフォトマスクを介し、得られた塗膜に高圧水銀ランプを用いて露光量800J/mとして放射線照射を行い、0.04質量%の水酸化カリウム水溶液にて23℃、80秒間現像を行った。
次に、得られたパターンに、高圧水銀ランプを用いて露光量10000J/mとして放射線照射を行い、所定の形状にパターニングされた硬化膜を形成した。
Example 9
[Formation of cured film using curable resin composition (β-IV)]
The curable resin composition (β-IV) prepared in Example 3 was applied onto an alkali-free glass substrate with a spinner, and then prebaked on an 80 ° C. hot plate for 2 minutes to form a coating film.
Next, the obtained coating film was irradiated with radiation at an exposure amount of 800 J / m 2 using a high pressure mercury lamp through a photomask having a predetermined pattern, and a 0.04 mass% potassium hydroxide aqueous solution was used. Development was performed at 23 ° C. for 80 seconds.
Next, the obtained pattern was irradiated with radiation at an exposure amount of 10000 J / m 2 using a high-pressure mercury lamp to form a cured film patterned into a predetermined shape.

次に、パターニングされた硬化膜の端部分を光学顕微鏡で観察し、現像残渣がなく、パターンの直線部分が直線状に形成されている場合にパターニング性良好と判断した。
その結果、硬化性樹脂組成物(β−IV)を用い、パターニングして形成された硬化膜のパターニング性は良好であった。
Next, the edge part of the patterned cured film was observed with an optical microscope, and it was judged that the patterning property was good when there was no development residue and the linear part of the pattern was linearly formed.
As a result, the patterning property of the cured film formed by patterning using the curable resin composition (β-IV) was good.

実施例10
[硬化性樹脂組成物(β−V)を用いた硬化膜の形成]
無アルカリガラス基板上に、実施例3で調製した硬化性樹脂組成物(β−V)をスピンナにより塗布した後、80℃のホットプレート上で2分間プレベークすることにより塗膜を形成した。
次に、所定のパターンを備えたフォトマスクを介し、得られた塗膜に高圧水銀ランプを用いて露光量800J/mとして放射線照射を行い、0.04質量%の水酸化カリウム水溶液にて23℃、80秒間現像を行った。
次に、得られたパターンに、高圧水銀ランプを用いて露光量10000J/mとして放射線照射を行い、所定の形状にパターニングされた硬化膜を形成した。
Example 10
[Formation of cured film using curable resin composition (β-V)]
The curable resin composition (β-V) prepared in Example 3 was applied on an alkali-free glass substrate with a spinner, and then prebaked on an 80 ° C. hot plate for 2 minutes to form a coating film.
Next, the obtained coating film was irradiated with radiation at an exposure amount of 800 J / m 2 using a high pressure mercury lamp through a photomask having a predetermined pattern, and a 0.04 mass% potassium hydroxide aqueous solution was used. Development was performed at 23 ° C. for 80 seconds.
Next, the obtained pattern was irradiated with radiation at an exposure amount of 10000 J / m 2 using a high-pressure mercury lamp to form a cured film patterned into a predetermined shape.

次に、パターニングされた硬化膜の端部分を光学顕微鏡で観察し、現像残渣がなく、パターンの直線部分が直線状に形成されている場合にパターニング性良好と判断した。
その結果、硬化性樹脂組成物(β−V)を用い、パターニングして形成された硬化膜のパターニング性は良好であった。
Next, the edge part of the patterned cured film was observed with an optical microscope, and it was judged that the patterning property was good when there was no development residue and the linear part of the pattern was linearly formed.
As a result, the patterning property of the cured film formed by patterning using the curable resin composition (β-V) was good.

実施例11
[硬化収縮性の評価]
実施例6の形成方法による硬化膜について、さらに10000J/mの露光処理を行い、この露光前後での膜厚を触針式膜厚測定機(アルファステップIQ、KLAテンコール社)で測定した。そして、残膜率(処理後膜厚/処理前膜厚×100)を算出し、この残膜率を硬化収縮性とした。残膜率は99%であり、硬化収縮性は良好と判断した。
Example 11
[Evaluation of curing shrinkage]
The cured film obtained by the formation method of Example 6 was further subjected to an exposure treatment of 10,000 J / m 2 , and the film thickness before and after this exposure was measured with a stylus type film thickness measuring machine (Alphastep IQ, KLA Tencor). And the remaining film rate (film thickness after a process / film thickness before a process x100) was computed, and this remaining film rate was made into hardening shrinkage. The residual film ratio was 99%, and the curing shrinkage was judged to be good.

同様に実施例7の形成方法による硬化膜について、さらに10000J/mの露光処理を行い、この露光前後での膜厚を触針式膜厚測定機(アルファステップIQ、KLAテンコール社)で測定した。そして、残膜率(処理後膜厚/処理前膜厚×100)を算出し、この残膜率を硬化収縮性とした。残膜率は99%であり、硬化収縮性は良好と判断した。 Similarly, the cured film obtained by the formation method of Example 7 was further subjected to an exposure treatment of 10,000 J / m 2 , and the film thickness before and after this exposure was measured with a stylus type film thickness measuring device (Alphastep IQ, KLA Tencor). did. And the remaining film rate (film thickness after a process / film thickness before a process x100) was computed, and this remaining film rate was made into hardening shrinkage. The residual film ratio was 99%, and the curing shrinkage was judged to be good.

同様に実施例8の形成方法による硬化膜について、さらに10000J/mの露光処理を行い、この露光前後での膜厚を触針式膜厚測定機(アルファステップIQ、KLAテンコール社)で測定した。そして、残膜率(処理後膜厚/処理前膜厚×100)を算出し、この残膜率を硬化収縮性とした。残膜率は99%であり、硬化収縮性は良好と判断した。 Similarly, the cured film obtained by the formation method of Example 8 was further subjected to an exposure treatment of 10,000 J / m 2 , and the film thickness before and after the exposure was measured with a stylus type film thickness measuring machine (Alphastep IQ, KLA Tencor). did. And the remaining film rate (film thickness after a process / film thickness before a process x100) was computed, and this remaining film rate was made into hardening shrinkage. The residual film ratio was 99%, and the curing shrinkage was judged to be good.

同様に実施例9の形成方法による硬化膜について、さらに10000J/mの露光処理を行い、この露光前後での膜厚を触針式膜厚測定機(アルファステップIQ、KLAテンコール社)で測定した。そして、残膜率(処理後膜厚/処理前膜厚×100)を算出し、この残膜率を硬化収縮性とした。残膜率は99%であり、硬化収縮性は良好と判断した。 Similarly, the cured film obtained by the formation method of Example 9 was further subjected to an exposure treatment of 10,000 J / m 2 , and the film thickness before and after this exposure was measured with a stylus type film thickness measuring machine (Alphastep IQ, KLA Tencor). did. And the remaining film rate (film thickness after a process / film thickness before a process x100) was computed, and this remaining film rate was made into hardening shrinkage. The residual film ratio was 99%, and the curing shrinkage was judged to be good.

同様に実施例10の形成方法による硬化膜について、さらに10000J/mの露光処理を行い、この露光前後での膜厚を触針式膜厚測定機(アルファステップIQ、KLAテンコール社)で測定した。そして、残膜率(処理後膜厚/処理前膜厚×100)を算出し、この残膜率を硬化収縮性とした。残膜率は99%であり、硬化収縮性は良好と判断した。 Similarly, the cured film obtained by the formation method of Example 10 was further subjected to an exposure treatment of 10,000 J / m 2 , and the film thickness before and after this exposure was measured with a stylus type film thickness measuring device (Alphastep IQ, KLA Tencor). did. And the remaining film rate (film thickness after a process / film thickness before a process x100) was computed, and this remaining film rate was made into hardening shrinkage. The residual film ratio was 99%, and the curing shrinkage was judged to be good.

実施例12
[耐光性の評価]
実施例6の形成方法による硬化膜について、さらに、UV照射装置(UVX−02516S1JS01、ウシオ社)を用いて、130mWの照度で800000J/mの紫外光を照射して、照射後の膜減り量を調べた。膜減り量は2%以下であり、耐光性は良好と判断した。
Example 12
[Evaluation of light resistance]
The cured film obtained by the forming method of Example 6 was further irradiated with 80000 J / m 2 of ultraviolet light at an illuminance of 130 mW using a UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio), and the film reduction amount after irradiation I investigated. The amount of film loss was 2% or less, and light resistance was judged to be good.

同様に、実施例7の形成方法による硬化膜について、さらに、UV照射装置(UVX−02516S1JS01、ウシオ社)を用いて、130mWの照度で800000J/mの紫外光を照射して、照射後の膜減り量を調べた。膜減り量は2%以下であり、耐光性は良好と判断した。 Similarly, the cured film obtained by the formation method of Example 7 was further irradiated with UV light of 800000 J / m 2 at an illuminance of 130 mW using a UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio Inc.). The amount of film loss was examined. The amount of film loss was 2% or less, and light resistance was judged to be good.

同様に、実施例8の形成方法による硬化膜について、さらに、UV照射装置(UVX−02516S1JS01、ウシオ社)を用いて、130mWの照度で800000J/mの紫外光を照射して、照射後の膜減り量を調べた。膜減り量は2%以下であり、耐光性は良好と判断した。 Similarly, the cured film obtained by the formation method of Example 8 was further irradiated with UV light of 800000 J / m 2 at an illuminance of 130 mW using a UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio Inc.). The amount of film loss was examined. The amount of film loss was 2% or less, and light resistance was judged to be good.

同様に、実施例9の形成方法による硬化膜について、さらに、UV照射装置(UVX−02516S1JS01、ウシオ社)を用いて、130mWの照度で800000J/mの紫外光を照射して、照射後の膜減り量を調べた。膜減り量は2%以下であり、耐光性は良好と判断した。 Similarly, the cured film formed by the formation method of Example 9 was further irradiated with UV light of 800000 J / m 2 at an illuminance of 130 mW using a UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio Inc.). The amount of film loss was examined. The amount of film loss was 2% or less, and light resistance was judged to be good.

同様に、実施例10の形成方法による硬化膜について、さらに、UV照射装置(UVX−02516S1JS01、ウシオ社)を用いて、130mWの照度で800000J/mの紫外光を照射して、照射後の膜減り量を調べた。膜減り量は2%以下であり、耐光性は良好と判断した。 Similarly, the cured film obtained by the formation method of Example 10 was further irradiated with 80000 J / m 2 of ultraviolet light at an illuminance of 130 mW using a UV irradiation apparatus (UVX-02516S1JS01, Ushio Inc.). The amount of film loss was examined. The amount of film loss was 2% or less, and light resistance was judged to be good.

実施例13
[蛍光特性の評価]
実施例6の形成方法による硬化膜について、さらに、絶対PL量子収率測定装置(C11347−01、浜松ホトニクス社)を用いて、25℃における蛍光量子収率を調べた。蛍光量子収率は37%であり、蛍光特性は良好と判断した。
Example 13
[Evaluation of fluorescence characteristics]
With respect to the cured film formed by the formation method of Example 6, the fluorescence quantum yield at 25 ° C. was further examined using an absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics). The fluorescence quantum yield was 37%, and the fluorescence characteristics were judged to be good.

同様に、実施例7の形成方法による硬化膜について、さらに、絶対PL量子収率測定装置(C11347−01、浜松ホトニクス社)を用いて、25℃における蛍光量子収率を調べた。蛍光量子収率は39%であり、蛍光特性は良好と判断した。   Similarly, about the cured film by the formation method of Example 7, the fluorescence quantum yield in 25 degreeC was further investigated using the absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics). The fluorescence quantum yield was 39%, and the fluorescence characteristics were judged to be good.

同様に、実施例8の形成方法による硬化膜について、さらに、絶対PL量子収率測定装置(C11347−01、浜松ホトニクス社)を用いて、25℃における蛍光量子収率を調べた。蛍光量子収率は38%であり、蛍光特性は良好と判断した。   Similarly, the fluorescence quantum yield at 25 ° C. of the cured film obtained by the formation method of Example 8 was further examined using an absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics). The fluorescence quantum yield was 38%, and the fluorescence characteristics were judged to be good.

同様に、実施例9の形成方法による硬化膜について、さらに、絶対PL量子収率測定装置(C11347−01、浜松ホトニクス社)を用いて、25℃における蛍光量子収率を調べた。蛍光量子収率は35%であり、蛍光特性は良好と判断した。   Similarly, the fluorescence quantum yield at 25 ° C. of the cured film obtained by the formation method of Example 9 was further examined using an absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics). The fluorescence quantum yield was 35%, and the fluorescence characteristics were judged to be good.

同様に、実施例10の形成方法による硬化膜について、さらに、絶対PL量子収率測定装置(C11347−01、浜松ホトニクス社)を用いて、25℃における蛍光量子収率を調べた。蛍光量子収率は36%であり、蛍光特性は良好と判断した。   Similarly, the fluorescence quantum yield at 25 ° C. of the cured film obtained by the formation method of Example 10 was further examined using an absolute PL quantum yield measuring apparatus (C11347-01, Hamamatsu Photonics). The fluorescence quantum yield was 36%, and the fluorescence characteristics were judged to be good.

本発明の硬化性樹脂組成物を用いて形成された硬化膜は、耐光性等の信頼性に優れ、また、パターニングも容易であり、波長変換層または波長変換フィルムとして、表示素子やそれを用いた電子機器の他、LEDおよび太陽電池の分野でも利用することができる。   The cured film formed using the curable resin composition of the present invention is excellent in reliability such as light resistance and is easy to pattern, and as a wavelength conversion layer or wavelength conversion film, a display element or the like is used. In addition to the conventional electronic devices, the present invention can be used in the field of LEDs and solar cells.

1、1a 塗膜
2、12、16 基板
3 フォトマスク
4、4a 放射線
5 硬化膜
11 波長変換基板
13、13a、13b、13c 発光層
14 ブラックマトリクス
15 接着剤層
17、17a、17b、17c 光源
18 光源基板
100 発光表示素子
1, 1a Coating 2, 12, 16 Substrate 3 Photomask 4, 4a Radiation 5 Cured film 11 Wavelength conversion substrate 13, 13a, 13b, 13c Light emitting layer 14 Black matrix 15 Adhesive layer 17, 17a, 17b, 17c Light source 18 Light source substrate 100 Light emitting display element

Claims (13)

[A]1分子中に2個以上の重合性基を有する分子量が150以上10000以下の化合物、
[B]半導体量子ドット、および
[C]炭化水素系溶剤
を含有することを特徴とする硬化性樹脂組成物。
[A] a compound having a molecular weight of 150 or more and 10,000 or less having two or more polymerizable groups in one molecule;
[B] A curable resin composition comprising a semiconductor quantum dot and [C] a hydrocarbon solvent.
さらに酸素原子含有有機溶剤を含有することを特徴とする請求項1に記載の硬化性樹脂組成物。   The curable resin composition according to claim 1, further comprising an oxygen atom-containing organic solvent. さらに[D]重合性開始剤を含有することを特徴とする請求項1または2に記載の硬化性樹脂組成物。   Furthermore, [D] polymeric initiator is contained, The curable resin composition of Claim 1 or 2 characterized by the above-mentioned. [D]重合性開始剤が、炭素数1〜20の炭化水素基を含有する重合性開始剤であることを特徴とする請求項3に記載の硬化性樹脂組成物。   [D] The curable resin composition according to claim 3, wherein the polymerizable initiator is a polymerizable initiator containing a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms. さらに、[E]カルボキシル基を有する重量平均分子量が5000以上40000以下の重合体を含有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物。   Furthermore, the polymer of the weight average molecular weight which has [E] carboxyl group is 5000 or more and 40000 or less, The curable resin composition of any one of Claims 1-4 characterized by the above-mentioned. [B]半導体量子ドットが、2族元素、11族元素、12族元素、13族元素、14族元素、15族元素および16族元素よりなる群から選ばれる少なくとも2種の元素を含む化合物からなることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物。   [B] From a compound in which the semiconductor quantum dot includes at least two elements selected from the group consisting of a group 2 element, a group 11 element, a group 12 element, a group 13 element, a group 14 element, a group 15 element, and a group 16 element The curable resin composition according to any one of claims 1 to 5, wherein [B]半導体量子ドットが、Inを構成成分として含む化合物からなることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物。   [B] The curable resin composition according to any one of claims 1 to 6, wherein the semiconductor quantum dots are composed of a compound containing In as a constituent component. [B]半導体量子ドットが、InP/ZnS化合物、CuInS/ZnS化合物、AgInS化合物、(ZnS/AgInS)固溶体/ZnS化合物、ZnドープAgInS化合物およびSi化合物よりなる群から選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物。 [B] The semiconductor quantum dot is at least one selected from the group consisting of an InP / ZnS compound, a CuInS 2 / ZnS compound, an AgInS 2 compound, a (ZnS / AgInS 2 ) solid solution / ZnS compound, a Zn-doped AgInS 2 compound, and a Si compound. It is a seed | species, The curable resin composition of any one of Claims 1-7 characterized by the above-mentioned. 前記[A]化合物が、下記式(1)で示される化合物、下記式(2)で示される化合物および下記式(3)で示される化合物よりなる群から選ばれる少なくとも1つの化合物であることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物。
Figure 2015028139
(式(1)中、Xは式(5)で示される2価の基、または炭素数5〜20の2価の脂環式炭化水素基を示し、式(5)中、nは2〜20の整数を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。
式(2)中、Rは水素原子、または炭素数1〜12のアルキル基を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。Wはエチレンオキサイド基またはプロピレンオキサイド基を示し、mは0〜4の整数を示す。
式(3)中、Rは水素原子、または炭素数1〜12のアルキル基を示す。Yは式(4)で示される基を示し、Rは水素原子、またはメチル基を示す。Wはエチレンオキサイド基またはプロピレンオキサイド基を示し、mは0〜4の整数を示す。)
The [A] compound is at least one compound selected from the group consisting of a compound represented by the following formula (1), a compound represented by the following formula (2), and a compound represented by the following formula (3). The curable resin composition according to claim 1, wherein the curable resin composition is any one of the above.
Figure 2015028139
(In the formula (1), X represents a divalent group represented by the formula (5) or a divalent alicyclic hydrocarbon group having 5 to 20 carbon atoms, and in the formula (5), n represents 2 to 2 It represents an integer of 20. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group.
In formula (2), R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group. W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents an integer of 0 to 4.
In formula (3), R 3 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Y represents a group represented by the formula (4), and R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group. W represents an ethylene oxide group or a propylene oxide group, and m represents an integer of 0 to 4. )
請求項1〜9のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物を用いて形成されたことを特徴とする硬化膜。   A cured film formed using the curable resin composition according to claim 1. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物を用いて形成された発光層を有することを特徴とする発光素子。   It has a light emitting layer formed using the curable resin composition of any one of Claims 1-9, The light emitting element characterized by the above-mentioned. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物を用いて形成されたことを特徴とする波長変換フィルム。   A wavelength conversion film formed using the curable resin composition according to any one of claims 1 to 9. 発光素子の発光層の形成方法であって、
(1)請求項1〜9のいずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物の塗膜を基板上に形成する工程、
(2)工程(1)で形成した塗膜の少なくとも一部に放射線を照射する工程、
(3)工程(2)で放射線を照射された塗膜を現像する工程、および
(4)工程(3)で現像された塗膜を露光する工程
を有することを特徴とする発光層の形成方法。
A method for forming a light emitting layer of a light emitting device, comprising:
(1) The process of forming the coating film of the curable resin composition of any one of Claims 1-9 on a board | substrate,
(2) A step of irradiating at least a part of the coating film formed in step (1),
(3) A step of developing the coating film irradiated with radiation in step (2), and (4) a step of exposing the coating film developed in step (3). .
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