JP2015002502A - 光センサ装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】外光である太陽光等の周囲光によりダイナミックレンジが低下することなく、安定して近接物体を検出できる光センサ装置を提供する。
【解決手段】AMP1の出力電圧のうち直流成分をDET1で検出し、COMP1によって基準電圧との差分を求め、その差分によりI2を駆動することにより、直流成分を除去することが可能となる。つまり直流成分である太陽光等の外部光の影響を受けずに安定して近接物体を検出することが可能となる。
【選択図】図1
【解決手段】AMP1の出力電圧のうち直流成分をDET1で検出し、COMP1によって基準電圧との差分を求め、その差分によりI2を駆動することにより、直流成分を除去することが可能となる。つまり直流成分である太陽光等の外部光の影響を受けずに安定して近接物体を検出することが可能となる。
【選択図】図1
Description
本発明は一般に受光素子と発光素子を内蔵した光センサ装置において、外光によるダイナミックレンジ低下の防止に関するものであり、より具体的には近接センサにおける太陽光によるダイナミックレンジ低下の防止に関する。
近接センサは民生品から業務用及び産業用の機械まで、様々なアプリケーションに使用されている。従来の近接センサは1つの発光素子と1つの受光素子を含み、これらの受発光素子がそれぞれ外の検出領域へと向くように配置されている。近接センサの前をある物体が移動する場合、その物体は発光素子からの光を反射し、反射された光の一部は受光素子により受光される。受光素子が発光素子からの光を受光した場合、近接センサは物体の存在を表示する信号を送る。近年では、携帯電話やデジタルカメラにおいて、タッチパネルに顔等が接触して誤動作を起こさないために、近接センサを搭載する機種が増えている。
図5に従来例として、受発光素子を内蔵したセンサ装置1の構成を示す。
アナログ入力電流をアナログ−デジタル変換するアナログ−デジタル変換部ADC2と、カソードがADCの入力に接続され、アノードが電気的に接地されている受光素子PDを備える。
またADCのAD変換結果が一方に入力され、他方の入力に入力される所定の閾値Data_thとを比較して、上記AD変換結果が上記閾値を超えていれば、上記被検出対象が近接していることを示す信号を出力し、上記AD変換結果が上記閾値以下であれば、上記被検出対象が近接していないことを示す信号を出力する比較回路3と、上記AD変換結果を記憶する記憶回路4と、第1端子が、上記一方の入力に接続されており、第2端子が記憶回路の入力とに接続されており、第3端子が、電気的に接地されているとともに、上記第1端子と上記第2端子とを接続するか、上記第1端子と上記第3端子とを接続して、上記一方の入力を電気的に接地する切り替えスイッチSW0’とを備える。
またPDのカソードと上記ADCの入力とに一端が接続されているスイッチである開閉スイッチSW0と、入力に電源電圧が印加され、出力がPDのカソードとSW0の他端に接続されている可変電流源6と、上記SW0の開閉を制御する制御信号である第2制御信号を、SW0の制御入力に出力するとともに、SW0’の切り替えを制御する制御信号である第3制御信号を、SW0の制御入力に出力するスイッチ制御回路50とを備える。
次に図6を用いて従来例の動作について説明する。図6は、従来実施例において、太陽光等の外部光が照射されており、かつ、被検出対象が有る場合の動作波形のタイミングチャートである。
まず第1工程として、発光ダイオードが駆動していない期間について説明する。
この区間のデータData0を測定する時は、図5においてSW0を開く。また、図5のセンサ装置1は、ADC2の出力と、比較回路3の一方の入力との間にスイッチSW0’を備えている。SW0’は、太陽光等の外部光が照射されている場合は、常に導通している(比較回路の一方の入力に接続されているSW0’の第1端子と、ADC2の出力及び記憶回路4の入力に接続されているSW0’の第2端子とが接続されている)。
また、太陽光等の外部光が照射される場合は、上記導通が行われるか、上記第1端子と、電気的に接地されたSW0’の第3端子とが接続されて、比較回路の一方の入力が電気的に接地されるかを切り替えられる。そして、センサ装置が備えるスイッチ制御部は、SW1に対して、当該スイッチの開閉を制御する信号(第2制御信号)を送信するとともに、SW2に対して、当該スイッチの開閉を制御する信号(第3制御信号)を送信する。
SW0が開いている状態のセンサ装置において、PDから出力される電流Iin(フォトダイオードの出力電流)は、太陽光等の外部光により発生した光電流IATSのみになる。IPDは、AD1によりアナログ−デジタル変換され、デジタル値ADCOUTとしてのデータData0が得られる。
ここで、Data0の測定時は、SW1の他端を電気的に接地する。これにより、比較回路の一方の入力における値を0とする。これにより、Data0の測定時に、比較回路の一方の入力における値0が、比較回路の他方の入力に入力される閾値Data_th(Data_th>0)を超えない(閾値Data_th以下である)。よって、Lowレベルであるデジタル出力信号Doutが、外部に出力される。
Data0は、記憶回路に記憶される。記憶回路は、Data0に応じた信号である電流制御信号Scを、I1の制御入力へ出力する。Data0に応じた電流I1≒IATS(可変電流源の出力電流)を出力することが出来るようになる。
第1工程の後に続けて行われる工程である第2工程において、LEDを駆動している期間のData1を測定する場合を考える。この場合、図5のセンサ装置において、SW2を閉じる。これによりADCに入力される電流は、LEDの反射光によるパルス電流IPLSとIATSの和であるIPDから、IATSを差し引く減算が行われる。これにより、IPLSのアナログ−デジタル変換が行われ、デジタル値ADCOUTとしてのData1が得られる。
比較回路の一方の入力に入力されるData1は、比較回路の他方の入力に入力されるVthを超えるような値に設定するものとする。よって、デジタル出力信号Doutのレベルが、LowレベルからHiレベルへ変化することにより生じる、被検出対象が近接したことを示すパルスが、Doutとして外部に出力される。これにより、AD1には太陽光等の外部光により発生した電流IATSが減算された、LED1の反射光によるパルス電流IPLSのみが入力されるため、太陽光等の入射によるADCのダイナミックレンジ低下を抑制できる。
上記従来技術によれば、太陽光等の外部光によりダイナミックレンジ低下することなく、被検出対象が近接したことを検出することが可能となる。しかしながら、太陽光等の外部光により発生した電流IATSを減算するI1の最大値は、ADCのダイナミックレンジによるため、ADCのダイナミックレンジを超えるような強い外部光が入射された場合、外部光成分電流を完全にはキャンセルできず、やはりダイナミックレンジ低下を引き起こす課題がある。
また、LEDを消灯から点灯させた場合、SW0’を切り替えてオンにする動作を行う。このとき、PDやSW0’−PD1間配線、SW2に形成される寄生容量をI1がチャージするため、PDに入力されるI1の波形にオーバーシュートが発生する。よってADCの出力として期待した値が得られず誤動作の要因となる。また受光感度を大きくするために、PD1の面積を大きくすることができないため、より遠くの物体を検出しようとした場合、アンプの増幅率を大きくしなければならず、SN比が悪くなる。
上記のような課題に鑑み、本発明は強い外部光が入射された場合でもダイナミックレンジ低下を引き起こす事なく、安定して近接物体を検出する光センサを提供することを目的とする。
本開示の光センサ装置は、光源と、光を受けて光電流を発生するフォトダイオードと、光電流を電圧に変換するアンプと、光源を駆動する電流源と、電流源からの駆動電流をONまたはOFFにするパルス発生回路と、アンプの出力の直流成分を検出する直流検出回路と、直流検出回路の出力と基準電圧を比較し、差分を出力する比較回路と、アンプの入力に接続され、比較回路の出力に応じて出力を変更する可変電流源とを備える。
このような構成によれば、太陽光などの外乱光がフォトダイオードに照射されることによって発生する光電流を、可変電流源からの電流によりキャンセルすることができる。よって、外乱光によるダイナミックレンジが低下することなく、近接物体の検出での誤動作を防止することができる。さらに、可変電流源とフォトダイオードの間に近接物体検出時に切り替え動作が行われるスイッチもないため、アナログ−デジタル変換回路への入力電流に、オーバーシュートが発生することもないため、誤動作を防止することができる。
また、前記可変電流源と前記受光部の間に、スイッチを有し、外部光の照度を測定する動作時には前記スイッチをOFFにすることにより、出力端子から、周辺光の照度を出力することが可能となる。
本開示のような光センサ装置によると、太陽光等の外部光直下においても誤動作することなく安定して近接物体を検出することができる。また、簡単な回路構成追加により周辺光の照度を検出することが可能となる。
(第1の実施形態)
以下、第1の実施形態に係る光センサ装置について、図面を参照しながら説明する。
以下、第1の実施形態に係る光センサ装置について、図面を参照しながら説明する。
図1に示すように、本実施形態に係る光センサ装置は、光を受けて光電流を発生するフォトダイオードPD1と、PD1の出力電流を電圧に変換するアンプAMP1と、AMP1の出力の直流成分を検出する直流検出回路DET1と、DET1の出力電圧と基準電圧VREFを比較する比較回路COMP1とを備え、PD1にはCOMP1の出力に応じて出力を変更する可変電流源I2が接続されている。
さらに、光を出射する光源LED1と、LED1を駆動する電流源I1と、I1からの電流をONまたはOFFさせるためのパルス発生回路OSC1とを備えている。
次に、本実施形態に係る光センサ装置の動作を、図2のタイミングチャートを用いて説明する。本実施形態に係る光センサ装置においては、近接物体を検出するために電流源I1の電流を、パルス発生回路OSC1によりON、OFFを繰り返すパルス波形とし、光源LED1をパルス状に発光させる。このとき、LED1を流れる電流は図2のAのような波形となり、LED1は点灯と消灯を繰り返す。
LED1から照射されたパルス光は、本実施形態の光センサ装置に近接した物体に照射され、少なくともその一部の光が反射され、フォトダイオードPD1に入射される。このときフォトダイオードPD1には物体から反射されたLED1のパルス光以外に、図2のBのような、例えば太陽光、白熱灯といった外部光も入射される。そのため、フォトダイオードPD1の出力電流は図2のCに示すように外部光成分にLED1のパルス光成分が重畳した波形となる。ここでLED1のパルス光の周期は、外部光の時間的な変化の周期よりも短く設定されている。例えば外部光が蛍光灯だった場合、その電源の周波数よりも短く設定しているため、直流に近い外部光成分にLED1のパルス光成分が重畳しているような波形となる。
まず、LED1が消灯している時の動作を説明する。図2では、DのD−1の区間になる。この時パルス発生回路OSC1はOFF信号を出力し、LED1を駆動する駆動電流はOFFとなる。フォトダイオードPD1には外部光のみ入射されるので、それに応じた電流がPD1から出力され、アンプAMP1に入力される。アンプAMP1は電流電圧変換し、その出力電圧を出力端子OUT1から出力する。また、AMP1の出力電圧は同時に直流検出回路DET1にも入力され、その直流成分を比較回路COMP1に出力する。ここで比較回路COMP1はパルス発生回路OSC1からOFF信号が入力されると基準電圧VREFと直流検出回路DET1からの信号を比較し、その差分を出力する。また比較回路COMP1は、パルス発生回路OSC1からON信号が入力されると、直前のOFF信号が入力されていた時の出力を保持したまま出力する。基準電圧VREFはフォトダイオードPD1に無入力時に、AMP1が出力する電圧と同等の電圧である。比較回路COMP1は基準電圧VREFと直流検出回路DET1の出力電圧を比較し、その差分を可変電流源I2に出力する。可変電流源I2は比較回路COMP1からの出力に応じて出力電流を調整する。可変電流源I2の出力電流はフォトダイオードPD1で発生した電流のうちAMP1に入力される成分を減らす働きをする。外部光がフォトダイオードPD1に入射された場合、アンプAMP1の出力が増加し、アンプAMP1の出力のうちの直流成分を直流検出回路DET1検出し、出力する。比較回路COMP1が基準電圧VREFと直流検出回路DETとの差を出力する。比較回路COMP1の出力に応じて可変電流源I2がAMP1に入力される外部光による電流を打ち消すように電流を出力するため、結果AMP1の出力は基準電圧に近づく。つまり負帰還動作となる。
次にLED1が点灯している時の動作を説明する。図2では、DのD−2の区間が相当する。この時パルス発生回路OSC1はON信号を出力する。フォトダイオードには、近接物体から反射されたLED1のパルス光と外部光が入射されるため、その発生電流は図2のCのようになる。比較回路COMP1は、パルス発生回路OSC1からON信号が入力されると、直前のOFF信号が入力されていた時の出力、つまりD−1における最後の状態の出力を保持する。よって可変電流源I2の出力もD−1における最後の状態の出力が保持される。アンプAMP1に入力される電流は、可変電流源I2から供給される電流、すなわち直前のOFF状態における外部光成分に相当する電流がキャンセルされるため、図2のEのようにLED1による信号成分のみとなる。これにより、アンプAMP1のダイナミックレンジは、外部光により狭くなることはなく、安定して近接物体を検出することができる。また可変電流源I2とフォトダイオードPD1の間に、近接物体検出時におけるLED1のON/OFFと連動してON/OFFするスイッチがないため、LED1のON/OFF時のスイッチ切り替えに伴うスパイク電流がアンプAMP1に入力されることもないので、LED1のパルス立上がり、立下り時の異常出力も起きない。
さらに、LED1が再度消灯した時の動作を説明する。図2では、DのD−3の区間が相当する。この時D−1の区間と同様、パルス発生回路OSC1はOFF信号を出力し、比較回路COMP1が動作し、可変電流源I2の出力電流がアンプAMP1に入力される。この時Bに示すように、例えば外部光の光量が増加した場合、それによる電流を打ち消すため可変電流源I2の出力電流がそれに追随してD−3のように増加し、結果Eに示すようにアンプAMP1に入力される電流はゼロに近づくよう調整される。すなわち、外部光の強度の変化に応じて、その影響をキャンセルするよう、可変電流源I2の出力を調整する。
(第2の実施形態)
第2の実施形態に係る光センサ装置について、図3を参照しながら説明する。第1の実施形態との差として、アンプAMP1のアナログ出力信号をデジタル信号に変換するAD1を備えることが特徴である。本実施形態の光センサ装置を携帯電話等に用いる場合は、電池の保持時間を延ばすために、LED駆動電流を可能な限り削減し、信号光が弱いことが多い。そのため、アナログ信号出力だと外部からのノイズの影響が比較的大きくなるため、デジタル信号出力とすることでノイズの影響をなくすことができる。
第2の実施形態に係る光センサ装置について、図3を参照しながら説明する。第1の実施形態との差として、アンプAMP1のアナログ出力信号をデジタル信号に変換するAD1を備えることが特徴である。本実施形態の光センサ装置を携帯電話等に用いる場合は、電池の保持時間を延ばすために、LED駆動電流を可能な限り削減し、信号光が弱いことが多い。そのため、アナログ信号出力だと外部からのノイズの影響が比較的大きくなるため、デジタル信号出力とすることでノイズの影響をなくすことができる。
(第3の実施形態)
第3の実施形態に係る光センサ装置について、図4を参照しながら説明する。本実施形態では、第1の実施形態との差として、可変電流源I2とフォトダイオードPD1の間に接続されるスイッチSW1を備えることが特徴である。本実施形態の光センサ装置において、近接物体を検出する近接センサ機能に加えて、外部光の照度を測定する機能を持たせる場合、単純にフォトダイオードPD1の出力をアンプAMP1で電流電圧変換して出力端子OUT1に出力すればよい。その際、可変電流源I2による外部光キャンセル機能は不要となる。これを実現するために、本実施形態では、可変電流源I2とフォトダイオードPD1の間に接続され、外部光の照度を測定する際にOFFとなり、近接物体を検出する際はONとなるスイッチSW1を備える。
第3の実施形態に係る光センサ装置について、図4を参照しながら説明する。本実施形態では、第1の実施形態との差として、可変電流源I2とフォトダイオードPD1の間に接続されるスイッチSW1を備えることが特徴である。本実施形態の光センサ装置において、近接物体を検出する近接センサ機能に加えて、外部光の照度を測定する機能を持たせる場合、単純にフォトダイオードPD1の出力をアンプAMP1で電流電圧変換して出力端子OUT1に出力すればよい。その際、可変電流源I2による外部光キャンセル機能は不要となる。これを実現するために、本実施形態では、可変電流源I2とフォトダイオードPD1の間に接続され、外部光の照度を測定する際にOFFとなり、近接物体を検出する際はONとなるスイッチSW1を備える。
次に動作を説明する。近接物体を検出する近接センサ機能時には、これまで詳細に述べたとおり、外部光キャンセル機能が有効であるので、SW1をONにしたままとする。そして、本実施形態に係る光センサ装置を外部光の照度を測定する機能に切り替える場合、SW1をOFFにしたままとする。こうすることで、可変電流源I2による外部光キャンセルは動作しなくなり、フォトダイオードPD1の出力をアンプAMP1で電流電圧変換して出力端子OUT1に出力することができる。
以上説明したように、本発明の光センサ装置は、電子機器に搭載される近接センサ等に適用することが出来る。特に、携帯電話やデジタルカメラに好適に用いることが出来る。
PD、PD1 受光素子
AD1 アナログ−デジタル変換回路
SW0、SW2 スイッチ
COMP1 比較回路
LED1 光源
I1 電流源
I2 可変電流源
VREF 基準電圧
Data_th しきい値
OUT1 出力端子
Dout デジタル出力信号
2 ADC(アナログ−デジタル変換部)
3 比較回路(比較部)
4 記憶回路(記憶部)
6 可変電流源
50 スイッチ制御回路(スイッチ制御部)
t_conv 測定時間
Data0、Data1 データ
AD1 アナログ−デジタル変換回路
SW0、SW2 スイッチ
COMP1 比較回路
LED1 光源
I1 電流源
I2 可変電流源
VREF 基準電圧
Data_th しきい値
OUT1 出力端子
Dout デジタル出力信号
2 ADC(アナログ−デジタル変換部)
3 比較回路(比較部)
4 記憶回路(記憶部)
6 可変電流源
50 スイッチ制御回路(スイッチ制御部)
t_conv 測定時間
Data0、Data1 データ
Claims (7)
- 光源と、
光を受けて光電流を発生するフォトダイオードと、
前記光電流を電圧に変換するアンプと、
前記光源を駆動する電流源と、
前記電流源からの駆動電流をONまたはOFFにするパルス発生回路と、
前記アンプの出力の直流成分を検出する直流検出回路と、
前記直流検出回路の出力と基準電圧を比較し、差分を出力する比較回路と、
前記アンプの入力に接続され、前記比較回路の出力に応じて出力を変更する可変電流源とを備えることを特徴とする光センサ装置。 - 前記アンプからの出力をデジタル信号に変換するAD変換回路を有することを特徴とする請求項1に記載の光センサ装置。
- 前記光源への前記駆動電流がOFFとなっている期間において、前記比較回路は前記基準電圧と前記直流検出回路の出力を比較し、当該比較回路の出力に応じて前記可変電流源の電流量の調節を行い、
前記光源への前記駆動電流がONとなっている期間において、直前の前記可変電流源の電流量に保持することを特徴とする請求項1ないし2に記載の光センサ装置。 - 前記可変電流源と前記受光部の間にスイッチを有し、
外部光の照度を測定する動作時には前記スイッチをOFFにすることを特徴とする請求項1ないし3に記載の光センサ装置。 - 前記基準電圧は、前記フォトダイオードへの無入力時に前記アンプが出力する電圧と同等の電圧であることを特徴とする請求項1ないし4に記載の光センサ装置。
- 前記可変電流源からの出力は、フォトダイオードから前記アンプに入力される電流を打ち消すことを特徴とする請求項1ないし5に記載の光センサ装置。
- 前記パルス発生回路のパルス周期は、外部光の変化の周期よりも短いことを特徴とする請求項1ないし6に記載の光センサ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013127253A JP2015002502A (ja) | 2013-06-18 | 2013-06-18 | 光センサ装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN114827346A (zh) * | 2021-01-28 | 2022-07-29 | 昇佳电子股份有限公司 | 接近传感器的控制方法 |
-
2013
- 2013-06-18 JP JP2013127253A patent/JP2015002502A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN114827346A (zh) * | 2021-01-28 | 2022-07-29 | 昇佳电子股份有限公司 | 接近传感器的控制方法 |
CN114827346B (zh) * | 2021-01-28 | 2023-12-15 | 昇佳电子股份有限公司 | 接近传感器的控制方法 |
US11882637B2 (en) | 2021-01-28 | 2024-01-23 | Sensortek Technology Corp. | Operation method of proximity sensor |
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