JP2014535035A - 移動する物体の構造を検出するための方法及び装置、特に液状又はペースト状の製品中の異物粒子を検出するための方法及び装置 - Google Patents

Abstract

本発明は、移動する物体の構造を検出するための方法に関し、特に、液体又はペースト状の異物を検出する方法に関し、ここで、所定方向に沿って移動中の検出すべき物体（３）に広帯域Ｘ線が照射され、移動方向を横切る所定の固定検出ライン（Ｅ1からＥm）に沿って物体を透過した放射線は、移動方向における物体（３）のいくつかのサンプリング位置（３）で検出される。それぞれの場合において、少なくとも１つの検出ライン（Ｅ1からＥm）に沿って、Ｘ線の第１のスペクトルセグメントに対する少なくとも一つの第１の部分画像及び第２のスペクトルセグメント又はＸ線の全体のスペクトルに対する第２の部分画像が、所定の検出時間間隔中に各サンプリング位置でそれぞれ同時に検出される。この場合、検出ライン（Ｅ1からＥm）に沿って配置された不連続の検出位置の数は、少なくとも２つの部分画像の各々に関連し、これらの検出位置は、好ましくは交互に検出ライン（Ｅ1からＥm）に沿って配置されている。関連する部分画像データを生成するために、関連するスペクトルセグメント内の放射エネルギの値は、部分画像に関連する各検出位置で決定される。少なくとも一つの第１及び第２の画像の部分画像データは、物体（３）の構造の所定の特性に関するコントラストを向上させるために、算術的に１つの部分出力画像に結合され、全てのサンプリング位置の当該部分出力画像は１つの出力画像に結合される。さらに、本発明はこの方法を実現する装置に関する。図１は主要な図面である。【選択図】図１

Description

本発明は、移動する物体の構造を検出するための方法及び装置に係り、特に液状又はペースト状の製品中の異物粒子を検出するための方法及び対応する装置に関する。

物体の非侵襲的又は非破壊検査用のＸ線の使用は知られており、当該検査では物体が照射され、そしてＸ線画像が適切な検出器により登録される。物体の特定の特性又は構造を解明するために、二重エネルギ法が使用され、当該二重エネルギ法では、物体が二つの異なるエネルギスペクトル（すなわち周波数又は波長スペクトル）のＸ線で照射され、２つのスペクトルの各々について１つの画像が登録される。これは、特定の材料又は材料構造は、異なる波長又は周波数の放射に対して異なる吸収又は減衰挙動を示すという効果を利用している。２つの画像は次いで、特定の構造を検出する能力を向上させるためにコンピュータによって結合することができる。例えば差分画像は、加重減算することにより、デジタル形式や画素ごとであることが好ましく、画像データを結合することによって生成することができる。出力画像は、次いで視覚的に又は一定の基準が満たされているかどうかを見るために、パターン認識法を用いて検査することができる。例えば、この方法は、液体又はペースト状の製品中の検査対象としての異物を、単一の狭帯域又は広帯域Ｘ線を放射した場合よりも、より確実に検出することができる（例えば、ＤＥ ６９０ １１ １９４ Ｔ２）。

しかしながら、波長又は周波数又はエネルギスペクトルが異なる二以上のＸ線が使用される場合は、マルチエネルギプロセスとしても設計することができるこの二重エネルギ法は、たった１つの一定のスペクトルを有する一つのＸ線の照射よりも、高いコストをもたらす。

二重エネルギ法やマルチエネルギ法は、多数のバリエーションが知られている。例えば、異なるスペクトル特性を有する二以上の放射線源を使用することができる。二以上の放射線源は、いずれの場合も、一つの検出器と組み合わせたり、又は対応する数の検出器と組み合わせることができる。例えば、米国特許６３７０２２３ Ｂ１は、２つの放射線源と２つの検出器を有する装置であって、放射線源と関連する検出器からなる各対が、検査されるべき物体を輸送するためのコンベアベルト上の異なる位置に位置する装置を示している。しかし、この装置も、２つの画像を生成するために、異なるエネルギスペクトルを照射するハードウェアの費用が二倍になる。

また、オリジナルスペクトルのごく一部と、各画像取得のための同一の検出器の使用で、広帯域源から一つのビームを生成するために、１以上のフィルタ（特にエッジフィルタ）を使用することも知られている（例えば米国特許３６６５１８４号）。また、放射パワーが（スペクトル全体にわたって一定に）変化するだけでなく、スペクトル特性の変化もまた達成されるように（特許文献２：特許公開公報２０１０−１７２５９０号公報）、時間的に連続する点において１つのＸ線源と当該Ｘ線源と同じＸ線源を調子を合わせて異なって制御することも可能である。しかし、物体の同一部分又は正当な費用で実質的に同時に物体のまったく全体のイメージを発生させることが不可能なので、たったひとつの検出器を使用して物体を急速に移動させるような場合、それらの方法は殆ど適用不能である。そのためには、互いに可能な限り近接して連続した異なる放射スペクトルについて、少なくとも２つの画像を登録するために、非常に高速な検出装置を使用しなければないない。さらに、１つの放射線源から他の放射線源への切り替えも、相応に迅速に行わなければならない。フラットパネル検出器を使用して、短い時間間隔、したがって空間的に検出器上でシフトされた間隔で取得された画像を、コンピュータ手段によって整列させる解決法も相応の費用がかかる。主にマトリクス状に配列された画素を有するデジタル検出器として形成されているようなフラットパネル検出器は、比較的高価であり、解像度が高く露光時間が短い場合でも、画素ごとに検出される低強度の放射エネルギをもたらすにすぎない。ノイズの問題がこのために発生する可能性がある。

人体の調査のための二重エネルギ法は、フラットパネルセンサの直前で空間フィルタとして線形ストリップフィルタが使用されるＣＮ １０１４５５５７３ Ａから公知である。空間フィルタは、交互に配置された２つの異なる型式のストリップを有する。異なるストリップ型式は、照射方向で異なる密度を有する材料を有している。異なるフィルタ領域は、ストリップ状の領域の一つでは放射線が減衰されないかわずかしか減衰されず、ストリップ状の領域の他の一つでは（より強い）フィルタ効果（ハイパス、ローパス又はバンドパスフィルタ効果）が存在し、すなわち異なるエッジフィルタ効果が２つの領域の各々に存在する。これにより、異なる情報が含まれている同じ物体の２つの画像を単一の露光で同時に生成することができる。これらの画像は、次いでコンピュータによって結合することができる。ここで、完全な画像情報は（必要な解像度で）ストリップの単一配置の場合の総断面積（Ｎｙｑｕｉｓｔ−Ｓｈａｎｎｏｎのサンプリング定理）内で計算可能であり、ストリップの長手方向を横切って発生する局所サンプリング間隔が十分に小さい場合は、（横断方向で）特定の最小サイズを有する撮像される構造は、少なくとも２回サンプリングされる。これは、例えば、補間処理を介して又は高速フーリエ変換を用いて行うことができる。算出した画像情報は符号依存性の追加により結合することができ、二つの画像の加重減算も勿論実現可能である。これにより、二重エネルギ法の利点は、単一の検出器及び単一の放射線源（広帯域源又は少なくとも２つの狭い帯域のエネルギ領域を有するもの）を使用することの利点と結合することができる。

確かに、ＣＮ １０１４５５５７３ Ａに記載された方法又はそれに対応する装置は、工業的過程での使用には殆ど適しておらず、例えば製品の品質管理については、急速に移動する製品の内部及び／又は外部構造を検出することがしばしば必要である。

ドイツ特許第６９０１１１９４ Ｔ２ 米国特許第６３７０２２３ 米国特許第３６６５１８４ 特許公開公報第２０１０−１７２５９０号公報 中国公開特許第１０１４５５５７３ Ａ

特に、工業的用途で十分な解像度を有する十分に大きなフラットパネル検出器の使用は、非常にコストがかかりすぎる。

本発明は、したがって、移動する物体の構造を検出するための方法を創作する課題に基づいており、当該方法は特に、液状又はペースト状の製品中の異物の検出に対して適しており、簡単かつ安価に工業プロセスにおいて実現することができ、急速に移動する物体の十分に正確な検査を可能にする。なお、本発明は対応する装置を創作する課題に基づいている。

本発明は請求項１と９の特徴でこの課題を解決する。

本発明は、医療分野用としてＣＮ １０１４５５５７３ Ａに記載された方法にあるように、ストリップフィルタの使用は、１つ又は複数（少数）のラインを含むライン状検出器と有利的に組み合わせることができるという知識に由来している。この方法を実現するための非常に安価なハードウェアは、このライン状検出器を使用して作成することができる。エネルギスペクトルにおける一つのみの広帯域Ｘ線源又は当該広帯域Ｘ線源に加えて少なくとも二つの狭帯域領域を有するＸ線源、及び、急速に移動する物体を一つ以上の比較的少数（例えば１２８）のラインで（エネルギスペクトルの）異なるスペクトル領域で照射するＸ線を記録する一つのみの検出装置が必要とされる。検出装置はストリップ状の空間フィルタを有し、当該空間フィルタによって、測定された物体の二つのストリップ状の画像が、１つ又は少数の検出器ライン上又は検出ライン上で、入射Ｘ線のエネルギスペクトルの異なる領域に対して生成される。これにより、前述したように、平面検出器との接続で、撮像物体の２つのライン状の画像を同時に得ることが可能になる。露光時間は、検出ラインの位置における放射パワーに対する積分時間、すなわち、関連するラインの画像データの消去又は読み出しと、新たに取得される画像データの次の読み出し時点との間の時間によって決定することができる。「露出時間」すなわち２つの連続した「ラインデータ」の情報を読み取る間の時間は、最大サンプリングレート、すなわち物体の「薄片毎」のサンプリングのための時間的又は位置的なサンプリング間隔を決定する。

前記ラインデータは、少なくとも２つの部分画像（二重エネルギ法）又は複数の部分画像（マルチエネルギ法）に分割され、各部分画像は関連するライン内の検出位置のデータに関連付けられ、部分画像に関連付けられたエネルギスペクトルのスペクトル領域の入射放射線が検出される。これらの検出位置は、ストリップ状空間フィルタのストリップの、２つの種類（二重エネルギ法）又は複数の種類（マルチエネルギ法）によって定義される。ここで、検出位置ごとに唯一の検出器画素が存在することが絶対的に必要なわけではない。むしろ、Ｘ線検出装置の複数の検出器は、検出ラインに沿った単一の検出位置に割り当てることができる。本発明によれば、直線状であって好ましくは互いに等幅かつ等間隔の空間フィルタのストリップの方向は、物体の移動方向に平行であるのに対し、一つ又は複数の検出ラインは移動方向に対して横断方向（及び照射方向に対して本質的に垂直方向）に設けられている。コンベヤベルトは、物体を輸送するために使用される場合、照射方向は、好ましくは、被照射物が載置されたコンベヤベルトの平面に垂直になるように選択することができる。

このように、物体はその移動の方向においてライン毎にサンプリングすることができ、画像データの２つの異なる組がラインごと及びサンプリング地点又はサンプリング時点ごとに得られる。エネルギスペクトルを検出することができるすべての検出位置に対する部分画像や（好ましくはデジタル化された形態の）部分画像データは、コンピュータによって部分出力画像に結合される。次に、特定の特性の存在、例えば検出されるべき問題のある構造について検査することが可能である。

しかしながら、最初にすべてのサンプリング位置のすべての部分の出力画像（又は対応する画像データ）を一つの出力画像に結合することも可能であり、そして当該出力画像を好ましくはその後にデジタル画像の形式及びひいては所定の特性の存在について検査することができる形式とすることもできる。

部分出力画像又は当該部分出力画像から決定された出力画像の検査は、自動化された評価システム、例えば画像評価処理により実行することができ、あるいは部分出力画像の画像データの視覚的表現により実行することができ、当該画像はオペレータにより目視検査される。

なお、本発明によれば、Ｘ線に代わる高エネルギ放射線の任意の種類を用いることができることを一般に留意すべきである。

本発明の好ましい実施形態によれば、少なくとも１つのラインに沿って所定の最小寸法を有する検出対象である物体の構造が、部分画像の少なくとも２つの検出位置にわたって延びるように、前記部分画像の検出位置が関連するラインに沿って等距離に選択及び隔置される。サンプリング定理（ナイキスト−シャノン（Ｎｙｑｕｉｓｔ−Ｓｈａｎｎｏｎ）のサンプリング定理）からこの状態になることは、サンプリングされた信号（空間フィルタの後の関連するスペクトル領域に対する部分画像）から元の信号（ここでは関係スペクトル領域における空間フィルタの前の放射線分布）を、サンプリングされた信号中にサンプリング周波数（ここでは、検出ラインに沿った空間サンプリング周波数）の半部以下の周波数成分がない場合にのみ、損失なく（情報の損失なく）正しく再生することができること示している。

好ましくは、本発明の方法によれば、当該サンプリング定理はまた、移動方向における物体のサンプリングについても成立し、すなわち物体の移動方向のサンプリング位置は、移動方向に所定の最小寸法を有する検出対象としての物体の構造が、少なくとも二つのサンプリング位置を横切って延びるように、好ましくは等距離で隔置される。

この状態が一つのラインにおけるサンプリング及び物体の移動方向におけるサンプリングに対して成立する場合、いずれの場合も、ストリップ空間フィルタの使用にもかかわらず、（所定の空間分解能に関して）いかなる損失も有しない、完全な出力画像を（任意の位置での放射方向に垂直な面内で）決定することが可能である。

本発明方法の一実施形態によれば、関連する部分画像の値は、少なくとも２つの部分画像の一方の検出された部分画像からの、少なくとも二つの部分画像の少なくとも１以上の、選択された又は全ての検出位置で計算される。このようにして、個々の部分画像よりも高い解像度を有する部分出力画像を、部分画像の二以上の検出され計算された部分画像データから計算することができる。そのために、それぞれが検出され計算された部分画像データで構成される二以上の「補間された」部分画像が、（いずれの場合も同一位置に対する）部分画像データの符号に依存した重み付け加算により、部分出力画像に結合可能とされている。

最後に、出力画像は、部分出力画像に対する計算された画像データからコンパイル又は計算可能である。この計算は、画像データを、サンプリング位置の間にある移動方向の位置における部分出力画像から計算することもできるように、始めることもできる。前述のように、サンプリング定理が移動方向におけるサンプリングで成立する場合、正しい（必要な空間分解能に対する無損失）結果をここで達成することができる。

勿論、二つのラインの間（二つのサンプリング位置の間）の位置のデータは、一つのラインに沿ったサンプリングのための部分画像からまず算出することができ、それによって初めて完全な出力画像へのコンパイル（計算された部分画像データの符号に依存した重み付け加算）が行われる。

本発明に対応して、検出されるべき問題となる特性の存在について、好ましくはパターン認識法を用いて、各部分出力画像又は完全な出力画像又は出力画像の所定のセグメントを、その後検査することが可能である。

本発明方法の好ましい実施形態によれば、１つの部分画像に関連付けされた少なくとも２つの検出ラインの検出位置が各ラインに沿って均等に配置されるように、移動方向に所定の間隔を有する少なくとも２つの検出ラインがある。各追加の検出ラインの位置及び方向は、移動方向における最初の検出ラインをシフトすることによって生成することができる。

この実施の形態では、各検出間隔中に本質的に同一の方向にある物体を透過した放射線が検出されるように、Ｘ線が検出期間中に少なくとも二つの検出ラインにおいてタイムシフトの方法で検出可能とされている。この方法はＴＤＩ（時間遅延積分）法として知られている。好ましくはわずかな間隔を有する複数の平行な検出ラインを使用した場合（ただし、本発明方法を実施するために絶対必要ということではない）、結果は外見上「共同進行」の検出ラインとなる。

このようなデジタルＴＤＩ画像検出器が知られている。この場合、１つの「露光フェーズ」又はサンプリングフェーズ中にライン（検出ライン）の個々のセンサ画素上にサンプリングフェーズ完了後生成される電荷は、（移動方向の）次のライン（検出ライン）の関連するセンサ画素にシフトされる。次の「露光フェーズ」又はサンプリングフェーズの間、すべてのサンプリングフェーズ又はサンプリング位置で検出された放射線エネルギの和に対応する電荷量の積分が存在するように、前記フェーズ中に生じた追加の放射エネルギに対応する電荷がこれら画素に追加される。検出ラインの「仮想共同進行」の速度が物体の移動速度と同期している場合、同じ方向の物体を通過した放射線のみが、同時進行検出ラインのそれぞれの位置で検出される。

これは、物体が移動する際の「多重露出」「スライス」のデータの検出と対応している。

本発明に対応した装置のためのＸ線源は、広帯域源又はエネルギスペクトルが２以上の帯域を有するものであってもよい。Ｘ線源は連続的に動作させることもでき、パルス状制御は不要である。

エネルギスペクトルの所定のスペクトルセグメント又は受信された放射線の全スペクトルに対して、検出されるべき部分画像に関連付けられた検出ラインの検出位置におけるスペクトル検出特性が、前述のように、空間フィルタによって生成することができる。前記空間フィルタは、ストリップ状構造の別個の部品とすることができ、いろいろな種類の好ましくは交互に配置されたストリップは異なるエッジフィルタ効果（一種類のストリップでもエネルギスペクトルを均一に低減した放射線を送信可能である）を有する。このようなフィルタ構造は、ライン状又はマトリックス状のセンサチップに適用される異なる透過特性を有するストリップを有する層として、例えばセンサと一体化することができる。層の適用は、フィルム状フィルタをチップに接着することで行うことができる。

本発明の一実施形態によれば、別々に作られた空間フィルタは、コンベアベルトのベルトに一体化することができ、すなわちベルト全体を空間フィルタとすることができる。

前記Ｘ線はいわゆるシンチレータにより光学領域（可視又はＩＲ又は近ＵＶ）の電磁放射線に変換することも可能であり、当該シンチレータは前記同様に別部品として作ったり、空間フィルタと一体化したり、又はセンサチップと一体化したりすることができ、そして安価な光検出器を使用して光放射を検出することが可能である。

シンチレータを異なる種類のストリップで作ることによって、各々のストリップが異なるシンチレーション特性を有するストリップ空間フィルタが実現するように、例えば入射放射線のエネルギスペクトルの特定のセグメントに対してのみ、光学領域で電磁放射が生成される。ストリップの異なる種類を異なる（例えばフィルムなどの）キャリア上又はキャリア内に生成することも可能であり、当該ストリップは次に好ましくは接着剤で互いに結合される。異なる種類のストリップは、次に（放射線の方向で見て）異なる平面内に配置することもできる。

別の代替実施形態によれば、異なる検出位置で異なる検出特性を持つ検知器を使用して、ストリップ形成媒体を生成することもでき、例えば、エネルギスペクトルの特定のセグメント内にある放射線のみが検出される。換言すれば、検出器は、異なるストリップ形成媒体と関連する検出位置において、異なるスペクトル感度を有する。

本発明のさらなる実施形態は従属請求項から生じる。

本発明は図に示す実施形態においてより詳細に以下に説明する。ここで：

図１は、本発明による移動物体の構造を検出する装置の構成要素の斜視概略図を示す。 図２は、ストリップ空間フィルタを有する図１のＸ線検出装置の第１のライン状形態の概略斜視図である。 図３は、ストリップ空間フィルタとシンチレータとを有する図１のＸ線検出装置の第２のライン状形態の別の斜視概略図を示す。 図４は、ストリップ空間フィルタとシンチレータとを有する図１のＸ線検出装置のためのマトリックス状の実施形態の概略斜視図を示す。 図５は、図１のＸ線検出装置用の別のマトリックス状の実施形態の概略平面図を示す。 図６ａは、３種類の検出位置を有する図１のＸ線検出装置用の別のライン状の実施形態の概略平面図を示す。 図６ｂは、３種類の検出位置を有する図１のＸ線検出装置用の別のライン状の実施形態の概略平面図を示す。

図１は、例えば、液体又はヨーグルトなどのペースト状生成物であるかもしれない移動物体３の構成を検出する検出装置１の基本的なレイアウトを示す。装置１は、この実施形態では、ベルトコンベアとして設計されている搬送装置５を備える。ベルトコンベア５は、当該ベルトコンベア５の搬送ベルト７の上架け渡しベルト上に位置する物体３を、特定の（好ましくは一定の）速度で搬送する。装置１の構成要素は、明確にするために、本発明を理解するため必要に応じて、図１に概略的に示されているにすぎない。

ベルトコンベア５の上方にＸ線源９が配置され、当該Ｘ線源９は、当該Ｘ線源９が発生するＸ線が基本的に搬送ベルト７の幅全体にわたって延びるように設計されている。Ｘ線源９によって生成されたＸ線は、コンベアベルト７の移動方向のＸ線検出装置１１の感度領域の寸法に対応する当該移動方向に、少なくとも１つの長さをカバーする。Ｘ線源９は、広帯域エネルギスペクトルのＸ線を発生させる。このようにして、放射エネルギの異なるスペクトル部分に対するＸ線画像を検出することができ、したがって、特定のエネルギ含量を有する前記エネルギ量が、良くも悪くも吸収される場合に、物体３の異なる材料又は構造を、程度の差はあっても明確に区別することが可能である。異なる画像の編集を通じて、特定の構造又は材料又は材料領域をより良好に検出する性能を、公知の二重エネルギ又はマルチエネルギ技術に対応して達成することができる。広帯域スペクトルの代わりに、Ｘ線源９が、被照射体の所望のデータを取得することが可能なエネルギ領域を覆う、少なくとも２つのそのようなスペクトルバンド（二重エネルギ法）や、複数のそのようなスペクトルバンド（マルチエネルギ法）を有することも、勿論可能である。

図１に示すＸ線検出装置１１はライン形検出器であり、そのセンサライン１３は、搬送ベルト７の上部ベルトの移動方向ｖに対して垂直かつ直線状に延び、そして搬送ベルト７の表面に対しては基本的に並行である。センサライン１３は、数ｎ（例えば１０２４）のセンサ１５を有している。当該センサ１５は、Ｘ線を直接電気信号に変換するか、センサ１５の前に配置されたいわゆるシンチレータの形式の変換器を用いてＸ線により発生された電磁放射（例えば可視光）に変換する。シンチレータ（下記参照）によって生成された前記電磁放射線は、例えば、光学領域に位置することができ、ここで、これに関連して、「光放射」の用語は赤外領域又は紫外線領域における放射を含むものである。

Ｘ線検出装置１１の電気的な画像出力信号Ｓ_Bは、画像データ処理部１７に送られる。画像データ処理部１７は適切な方法でＸ線検出装置１１を制御し、そして、例えばセンサライン１３の全体のラインの画像データが読み出される頻度を決定することができる。また、画像データ処理部１７は、センサライン１３の個々のセンサ１５上に存在するデータ、例えば電気的な個々のセンサ１５のそれぞれに電荷として格納されているデータを消去することができ、このようにして画像データ処理部１７は新しい露光間隔の開始を定義することができる。このことは、Ｘ線源９が、単位面積当たりの所定の放射パワーが時間的に一定なＸ線を生成する場合に、特に有利である。

この場合、センサライン１３のセンサ１５に格納された情報（電荷）を簡単に読み取ることができ、当該情報は好ましくはデジタル化された値としてセンサ１５ごとに画像データ処理部１７に送信される。センサ１３の情報内容が読み取られた場合、例えば毎秒１０，０００回読み取られると、最大露光間隔は１００マイクロ秒となる。当該露光間隔において、前記時間間隔で受信された放射線エネルギに応じた電荷が、センサ１５の各々において各センサ１５の能動センシング面上に（例えば正方形に）生成される。前述のように、センサ１５で発生した電荷の量に対して、対応するデジタル化された値が生成され、当該デジタル化された値は、画像データ処理部１７によってさらに処理することができる。そのために必要なアナログ−デジタル変換器（図示せず）が、好ましくは Ｘ線検出装置１１内に設けられている。

Ｘ線検出装置１１の手段によって達成することができるサンプリングレートは、搬送ベルト７上の物体３の移動可能な最大速度ｖも決定する。コンベアベルト７が、例えば３ｍ／ｓｅｃの速度及びサンプリングレート１０，０００ｓｅｃ^-1で操作された場合は、空間的なサンプリング間隔は３００μｍとなる。移動方向の最大空間分解能は、速度及び最大サンプリングレートによって決定される。移動方向の空間分解能を可変にする必要がある場合、画像データ処理部１７は、所望の（好ましくは一定の）搬送速度ｖ及び／又は所望のサンプリングレートとなるように、搬送装置５の駆動部１９を制御することができる。図１からわかるように、搬送装置５の駆動部１９は、所望の搬送速度ｖが達成されるように、制御可能なモータ（図示せず）により駆動されるローラ２１を制御する。

順次サンプリングされて画像データ処理部１７に送られたラインデータの画像データから、画像データ処理部１７は、デジタル画像データを含む完全な画像を生成することができる。関連する画像の最初と最後のラインデータが自動的に検出されると、関連するライン番号が生成されるように、画像データ処理部を設計することができる。換言すると、画像データ処理部１７に送られた画像データＳ_Bから、当該画像データ処理部１７は、検出されるべき物体の前縁が何時検出されたか、及び、当該物体の後縁が何時検出位置に到達したかを自動的に検出することができる。勿論、完全な画像の始まりと終わりはまた、例えば光電センサとして設計されており、検出されるべき物体の前縁又は後縁を検出する別のセンサ（図示せず）によって認識することもできる。当該光電センサは、センサライン１３が配置された検出ラインの直前に一定距離を設けることができる。当該一定距離を設けることで、完全な画像のための一定の先行時間又は遅延時間が生じ、その中央領域で物体３が検出される。

二重エネルギ法やマルチエネルギ法は、物体３の構造を検出するための本発明に従って使用されるべきであるので、検出位置の異なる二以上の形式がセンサライン１３の検出ラインに沿って定義される。これらの検出位置は、センサライン１３の影線の有無で区別した長方形によって、検出位置の２つの種類が図１に示されている。これらは、ｐ１〜ｐｎで示されている。検出位置ｐ₁〜ｐ_nが異なる種類のＸ線検出装置１１は、これらの検出位置の各々で、異なるスペクトル検出感度を有する点が異なる。例えば、影線のない矩形で示されているセンサライン１３の検出位置には、Ｘ線源９によって発生される全体のスペクトル（エネルギスペクトル）が検出されるように、Ｘ線検出装置１１をフィルタリングなしで設計することができる。影線が付けられた矩形で図示される検出位置ｐ１〜ｐｎは、スペクトル感度（エネルギスペクトル）のために、エッジフィルタ特性、例えば高域通過特性が実現されるように本実施形態では設計することができる。例えば、本実施形態では、所定のフィルタエッジによって規定されるよりも低いエネルギの放射線量を抑制又は除外することができる。したがって、これらの影線付き検出位置では、特定のエネルギ閾値を超えたＸ線量のみが検出される。センサラインの検出位置ｐ１〜ｐｎは、その幾何学的寸法を見ると、それぞれが１つのセンサ１５の感知領域の幾何学的寸法に対応している。しかしながら、一つの検出位置ｐ_i（ｉ＝１．．．ｎ）の幾何学的寸法は、複数のセンサ１５又はそれらの動作中の感知領域によって実現することも勿論可能である。

これにより、画像データ処理部１７は、それに送られた画像データ信号Ｓ_Bから二つのストリップ状の画像を抽出することができ、Ｘ線検出装置１１又は各検出位置にそれぞれ関連付けられたセンサ１５によって、一方の画像がＸ線の非影線検出位置によって決定され、他方の画像が影線検出位置によって決定される。

検出位置ｐ１〜ｐｎの異なる形式は、異なる方法で実現することができる。前述のエッジフィルタ特性は、例えば、異なる密度のフィルタ材料を使用することによって達成することができる。そのためのいくつかの例がＣＮ１０１４５５５７３Ａに記載されている。前記書類に記載の平面センサ用の平面的ストリップ空間フィルタは、当然のことながら、本明細書の図１に示される使用をするためには、移動方向の検出位置の幾何学的寸法にわたって少なくとも延びているストリップを有する必要がある。

マルチエネルギ法を実現するために留意すべきことをここで繰り返すと、異なるフィルタ特性を有するストリップの形式の対応する数を有するストリップフィルタを、異なるデータを含む対応する数のイメージを取得できるように配設しなければならないことは勿論である。

エッジフィルタだけでなく、（有利なスペクトルの進行で）有利なスペクトルを生成する任意のフィルタをフィルタとして使用することができる。そのようなストリップフィルタの一つが、図２のように、（Ｘ線の直接検知のため）個々の放射線感応センサ１５に直接適用されるフィルタ層２１として、二つの異なる形式で（図１のように）センサライン１３用として示されている。フィルタ層２１は、各非影線検出位置と影線検出位置において所望の異なるスペクトル吸収特性又はフィルタ特性を有する。例えば、影線の領域（検出位置）のフィルタ層２１はプラスチックで製作することができ、影線のない領域は銅で製作することができ、ここで銅は高域通過作用を有するエッジフィルタとして作用し、すなわちエネルギが所定の限界エネルギよりも大きい放射線量のみが伝達される。

フィルタ層は、例えば、第１プラスチック層と、当該第１プラスチック層上の銅層が、センサ１５に付けられるように製造することができる。次に、銅層を影線付き検出位置から例えばエッチングで除去することができる。

勿論フィルタ層２１は、被照射物３とＸ線検出装置１１のセンサ１５との間の放射線経路内のＸ線検出装置１１の別のフィルタ部品としても導入することができる。しかし、この場合、センサに対して、フィルタによって規定された検出位置の正確な位置決め及び位置合わせが保証されなければならない。

図示しない別の実施形態によれば、Ｘ線検出装置は、個々のセンサが本質的に異なるスペクトル検出特性を有するように設計することができる。確かに、そのような検出器は明らかに大きな費用をかけてはじめて製造することができる。

移動物体の構造の検出のための対応する装置を可能な限り低コストで製造することができるようにすることが工業用途のために非常に重要であるので、長尺かつ高解像度を有し低コストで入手可能な単純で安価なライン検出器を使用し、そして当該ライン検出器を適当なフィルタ層で結合することは好都合であり、ここで当該フィルタ層はセンサの表面に直接貼り付けるか、又は前述したように別部品として使用することができる。

光学領域において電磁放射の検出のための安価なライン検出器が利用可能であるので、図３に示すように、フィルタ層２１に加えて、当該フィルタ層２１とセンサ１５の検出表面との間に配設されたシンチレータ層２３を使用することが好都合である。シンチレータ層２３は、フィルタ層２１を透過した入射Ｘ線の一部を、検出器１５によって検出することができる光学スペクトル内の電磁放射線に変換する。簡単で安価なＸ線検出器は、したがってこの方法で製作することができる。

図示しない一実施形態では、フィルタとシンチレータは、ユニットとしてのセンサから連結解除されるように設計することができる。これにより、本発明による装置のための検出器ユニットに、Ｘ線用の例えば従来のラインカメラなどの適当な従来のＸ線検出器を後から追加することができる。さらに、このような別々のユニットは、Ｘ線センサの放射経路に対して簡単な手段で高精度に調整することができる。例えば、ユニットは、可視光を用いてセンサをユニットに対して容易に調整して正確に相対することが可能な位置マーカ（例えばフィルタ領域の外側において可視スペクトルの光で照射されることができる位置マーカ）を有することができる。Ｘ線センサよりも明らかに高い解像度を有する可視光のための単純なカメラは、調整のために用いることができる。

画像データ処理部１７は、実質的に知られているように、当該処理部によって決定された部分画像から出力画像を計算することができ、当該部分画像の各々に対して、好ましくは交互に配置された異なる形式の検出位置が関連付けられている。このため、他の部分画像の位置における関連する部分画像の画像データの値は、適切な数学的方法、例えば補間法によって又は高速フーリエ変換を使用することによって、部分画像の画像データから決定することができる。これらの位置で、２つの画像の画像データは、符号に依存した重み付け加算により、それぞれの場合において結合することができる。このように、検査すべき物体の特定の構造は、出力画像においてより良好に識別することができる。

勿論、全ての部分画像の画像データを、（ライン内の）所定の位置における関連する画像データを適切な数学的方法により計算するために使用することも可能である。その後、再び、重み付け加算をこれらの位置で行うことができる。

ライン毎に決定された出力画像は、完全な物体３（又は所定の区間）を含む完全な出力画像へと結合することができる。勿論、任意の中間位置における画像データの計算は、移動方向のサンプリング中に行うことができる。

画像データ処理部１７は、ライン画像又は出力画像全体を子機２５に送信することができ、当該子機２５はまた出力画像全体及び／又は個々の部分画像（それらが重畳される前）のための指示器とすることができる。画像データ処理部１７は、測定され計算された画像データを用いて部分出力画像や出力画像全体を検査することができる。例えば、出力画像の問題のある構造についてパターン認識手段を使用して検査することができる。したがって、例えば、液体又はヨーグルトなどのペースト状製品中の許容できない固形物又は固形体を認識することができる。

勿論、任意の構造は、特定の構造特性について、この方法で調べることができる。勿論、出力画像のコンピュータ評価に代えて又は当該評価に加えて、関連する装置の操作者による目視チェックを行うことも可能である。前述したようにインジケータ装置（図示せず）は、このために配設される。このような実施形態は、例えば、空港での手荷物分析のために使用することができる。

図４は、Ｘ線検出装置１１の他の変形例の概略斜視図を示す。ここでも、Ｘ線検出装置１１は複数のセンサ１５からなるが、この場合には、それらは単に１ラインで配置されているのではなく、複数ライン又は多重ラインの形態で配置されている。各センサライン１３は関連する検出ラインＥ₁，Ｅ₂，．．．，Ｅ_mに沿って延びている。各センサライン１３はさらに、この実施形態では、センサマトリクス又はｎｘｍ（ｉ＝１，…，ｎ；ｊ＝１，…，ｍ）の大きさの検出位置ｐ_i,jのマトリクスとなるように、数ｎのセンサ１５を有する。勿論、個々のセンサラインは、互いに直接隣接している必要はなく、むしろ所定の間隔を空けて配置することができる。

繰り返すと、シンチレータ層２３はセンサライン１３上に設けられている。シンチレータ層２３上には、ストリップ状の構造を有するフィルタ層２１が設けられている。一定幅のストリップは、物体３の移動方向と平行、すなわち、センサライン１３やその検出ラインＥ₁からＥ_mに対して垂直に延びている。したがって、図４に係るＸ線検出装置１１は、図１の実施形態について説明したように、相前後して近接配置されたｍの数のＸ線検出装置１１又はセンサライン１３を介して、生成することができる。図４のＸ線検出装置１１の画像データの読み出しは、再び、ライン毎に行うことができる。すべてのｍ個の画像データ信号を画像データ処理部に並列に送ることができるように、各々のセンサラインに対応した画像データ信号を生成することができる。しかし、センサラインの数が多すぎる場合は、センサライン１３の群を画像データ処理部１７に対する画像データ情報の転送に関して直列に接続して一緒にすることができ、この場合各々のグループについて１つの画像データ信号のみが生成される。

図４のＸ線検出装置１１を使用することで、撮像物体３のより大きなセグメント又は物体全体でさえ同時に登録することができる。物体のセグメントのみが各回で検出される場合、移動方向に複数の部分画像を重ね合わせることにより完全な画像を構成することができる。部分画像は、この場合も重複した形で取得することができるが、完全な画像を生成するまではそのままではコンパイルされない。このコンパイルは、特定の部分構造又は連続した部分画像に含まれる外側の幾何学的形状を検出することによって行うことができる。

異なるスペクトルのエネルギ領域に関連付けられた部分画像は、図１から図３の実施形態に関連して先に説明したように、対応する方法で計算することができる。図４のようなＸ線検出装置１１は、勿論、他の変形例として構成することも可能である。例えば、ストリップフィルタ２１及び／又はシンチレータ層２３は、放射線経路内の独立した部品として配置することができる。この点について、図１〜３に記載のＸ線検出装置１１に関連した前述した変形例が参照される。勿論これは、センサ１５がそれぞれ別のスペクトル検出感度を予め有する変形例にも適用される。

また考えられる変形例としては、シンチレータ層が検出位置に対応して各検出ラインに沿って異なるスペクトル特性を有することであり、これにより、一つの検出位置においてはＸ線スペクトルの最初のセグメントが検出可能な光放射に変換されるが、他の検出位置では異なるスペクトルセグメントが検出可能な光放射に変換されるされるようにシンチレータ層が設計される結果として部分画像が生じる。

しかし、ｍの検出ラインからなる図４のＸ線検出装置１１は、特定のセンサライン１３のセンサによって特定の露光間隔中に発生した電荷の量が、関連する各時間間隔の終わりに、物体の移動方向にある次のセンサライン又は同じギャップの関連するセンサに転送されるように設計することもできる。次の時間間隔の間に、追加の電荷が、前記露光フェーズの間に検出されたＸ線に対応して当該センサライン１３へのセンサの当該転送された電荷に追加される。移動方向（センサラインは等距離分布と仮定する）の検出ラインの間隔の比率及び露光フェーズすなわちいずれの場合（次のセンサライン１３でいずれの場合も電荷がさらに追加された後）も一定であった露光インターバル時間の一定の長さが、搬送装置５上の物体の移動速度ｖに対応する場合、関連するセンサ１５中の各センサラインで発生した電荷は、いずれの場合も当該センサラインを通過するＸ線に対応し、物体の本質的に垂直な「スライス」が登録される（すなわち、本質的に同じ経路上で）。この方法ではｍ倍の「露光」が達成され、これにより大幅に改善された画像信号が生じる。

この方法は、ＴＤＩ（時間遅延積分）法と呼ばれている。

この場合、図４によると、Ｘ線検出装置１１の移動方向の最後のラインの画像信号のみを読み取り、そしてそれを画像データ処理部１７に画像信号として送信しなければならない。この装置は、図１の実施形態の場合に前述したように、まったく同じ方法で当該信号をさらに処理することができる。

ＴＤＩ法及び空間フィルタとしてのストリップフィルタの使用の組み合わせにより、物体にＸ線を照射して移動物体の構造を検出するための非常に単純かつ安価な変形例が得られる。

図５はＸ線検出装置１１の上面図を示し、当該Ｘ線検出装置１１は図４のＸ線検出装置１１と同様に、マトリクス状に配置された２種類の検出位置ｐ_i,j（ｉ＝１，…，ｎ；ｊ＝１，…，ｍ）を有し、検出位置の各々は影線付き又は影線なしの四角で記号化されている。しかし、図４の実施形態とは対照的に、ここでは検出位置はストリップ状ではなく、検出位置は、市松模様状に配置され、ここで市松模様の軸又は主軸方向（即ち、検出位置の種類が交互に変わるストリップの方向）は移動方向に対し横断方向（及び同時に照射方向に対して本質的に垂直方向に）に延在し、すなわちそれら主軸方向は移動方向に延在する。

図４の実施形態と比較すると、これは、関連する部分画像について値が検出されない検出位置における値を計算するために、同じ検出ラインの隣接する検出値だけが利用可能ではなく、移動方向において隣接して位置する検出値も用いることができる、という利点を生じる。例えば、検出位置ｐ_i,j（この検出位置は二つの部分画像の他方と関連付けられているので、関連した部分画像の値は検出されなかった）における部分画像の値を計算するため、検出位置ｐ_i-1,jとｐ_i+1,jの値（すなわち、関連する検知ライン中で検出される隣接する値）、及び検出位置ｐ_i,j-1，ｐ_i,j+1の値（すなわち、移動方向で検出される隣接する値）が用いられる。勿論、任意の他の二次元の算出方法（例えば、２次元離散型フーリエ変換）もこのような計算のために使用することができる。図５に従ったこの実施形態は、物体３の静的な検出にも特に適し、すなわち、静止状態（速度はゼロに等しい）における物体３の二次元の検出が行われる。

このようなＸ線検出装置を使用する場合、いま説明したＴＤＩ法を使用することも可能である。しかしながら、この場合、物体３のサンプリング位置で検出された、関連する部分画像の位置における検出値の積分又は総和のため、いずれの場合も、二つのライン（又は移動方向における検出位置）又はその整数倍で前方に進めなければならない。この方法でのみ、同じ種類の検出位置で検出された値のみが部分画像ごとに追加されるのを確実にすることができる。

バックグラウンド記憶装置と呼ばれる別の記憶装置を使用することが、二以上のライン又は検出位置による部分画像の「前方押し進め」（ｐｕｓｈｉｎｇ ｆｏｒｗａｒｄ）に対して勧められる。従来のＴＤＩセンサは、関連部分画像（すなわち、検出位置での）を表す画素の電荷が、物体３の移動方向又は関連する検出位置の移動方向で、次の画素に向け前方に送られるが、このような従来のＴＤＩセンサはここではもはや有利に使用することができない。連続的な放射線が使用された場合、部分画像を表す電荷又は部分画像を表すデータの電荷が現れるとき、非常に短い時間の間でも、異なる部分画像を検出する検出位置で、部分画像の検出結果が歪むことになる。したがって、バックグラウンド記憶装置内の各（個々の）検出作動の後、部分画像データ又は関連する電荷を読み出し、かつ、それら電荷をバックグラウンド記憶装置を介した迂回路を経由して関連する「前方にシフトされた」（ｆｏｒｗａｒｄ ｓｈｉｆｔｅｄ）検出位置に戻すことが有利である。あるいは、部分画像ごとの個々の値の積分は、バックグラウンド記憶装置の中で行うこともでき、この場合は、バックグラウンド記憶装置の読み出し時に２ｎライン毎の送りを考慮する必要がある。

図６ａ及び６ｂはライン状に配置された検出位置の概略上面図すなわちライン状のＸ線検出装置１１の概略上面図を示したもので、Ａ、Ｂ及びＣで示されるように、検出位置の３つの異なる種類が使用されている。

図６ａにおける変形例では、異なる種類の検出位置は互いに面積が等しく、当該検出位置は同一のセンサ１５によって実現することができ、当該センサ１５の複数は異なる種類のフィルタ又はフィルタ層２１及び／又はシンチレータ又はシンチレータ層２３によって結合される。図６ａから分かるように、検出位置の種類の順序を所望のように選択することができる。これは、交互に変化する順番（ＡＢＣＡＢＣ）を厳密に維持することが絶対に必要というわけではない。むしろ、この構造は関連するニーズに合わせることができる。

図６ｂの変形例は、異なる幅のセンサ１５の使用により、及び／又は、フィルタ又はフィルタ層２１及び／又はシンチレータ又はシンチレータ層２３の異なる幅（移動方向のストリップ）の領域の使用により、検出ラインに沿った検出位置ｐ１〜ｐｎを選択することもできることを示している。

参照番号のリスト
１ 移動物体の構造を検出する装置
３ 物体
５ 搬送装置／ベルトコンベア
７ コンベヤベルト
９ Ｘ線源
１１ Ｘ線検出装置
１３ センサライン
１５ センサラインのセンサ
１７ 画像データ処理装置
１９ 駆動装置
２１ フィルタ層
２３ シンチレータ層
２５ 子機
ｐ_i 検出位置 （ｉ＝１．．ｎ）
ｐ_i,j 検出位置 （ｉ＝１．．．ｎ；ｊ＝１．．．ｍ）
Ｓ_B 画像データ信号
Ｖ 物体の移動速度

Claims (21)

1. 移動する物体の構造を検出するための方法であって、特に、液体又はペースト状の製品中の異物を検出するための方法であり、当該方法は、
   （ａ）検出対象であって所定方向に移動する物体（３）に広帯域高エネルギ放射線、特にＸ線を照射し、
   （ｂ）移動方向を横切る少なくとも１つの所定の固定された検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿って物体（３）を透過した放射線が、移動方向における物体（３）のいくつかのサンプリング位置で検出され、
   （ｃ）少なくとも１つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿った物体（３）の各サンプリング位置に対し、Ｘ線の第１スペクトルセグメントのための少なくとも一つの第１部分画像、及び、Ｘ線の第２スペクトルセグメント又は全体のスペクトルのための第２部分画像を検出し、当該部分画像をいずれの場合も部分画像データに変換し、
   （ｉ）検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿った離散した複数の検出位置は、少なくとも２つの部分画像の各々に一義的に関連付けられ、前記複数の検出位置は検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿って所定の順序で配置され、
   （ｉｉ）部分画像に関連付けられた検出位置で、関連するスペクトルセグメント内の放射エネルギの値が関連する部分画像データを生成するために測定され、
   （ｄ）物体（３）の構造の所定の特性に関する検出能を向上させるために、少なくとも一つの第１及び第２の部分画像の部分画像データを算術的に少なくとも一つの部分出力画像に結合する方法。
2. すべてのサンプリング位置の部分出力画像が、１つの出力画像に結合されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
3. 検出対象であって所定の最小寸法を有する物体（３）の構造が、少なくとも二つの検出位置にわたる少なくとも１つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿って延びるように、関連するラインに沿った部分画像の検出位置が等距離に選択及び隔置されていることを特徴とする請求項１又は２の方法。
4. 検出対象であって少なくとも二つのサンプリング位置にわたって延びる移動方向において所定の最小寸法を有する物体（３）の構造が検出されるように、物体の移動方向におけるサンプリング位置が等距離に選択及び隔置されていることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項の方法。
5. 少なくとも二つの部分画像のそれぞれの検出された部分画像から、少なくとも二つの部分画像のそれぞれの選択された又は全ての検出位置における関連する部分画像の値が特定の変換手順により計算され、二以上の部分画像の検出され計算された部分画像データから、同一位置で部分出力画像が好ましくは重み付け係数の符号を考慮する部分画像データの重み付け加算によって計算されることを特徴とする請求項１から４のいずれか１項の方法。
6. 各部分出力画像又は完全な出力画像又は出力画像の特定のセグメントは、好ましくはパターン認識法を用いて、検出されるべき問題のある特性の存在について検査されることを特徴とする請求項１から５のいずれか１項の方法。
7. 移動方向に所定の間隔を有する少なくとも二つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）が設けられ、少なくとも二つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）の検出位置が各ラインに沿って同様に設けられ、各追加の検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）の位置と方向が第１検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）を移動方向にシフトすることにより生成されることを特徴とする請求項１から６のいずれか１項の方法。
8. 少なくとも２つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）においてＸ線がタイムシフトの方法で検知され、各検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）において、本質的に同一方向にある物体（３）を貫通した放射線が検出され、各検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）で検出された各部分画像の部分画像データが互いに加算されることを特徴とする請求項７の方法。
9. 移動する物体の構造を検出するための装置であって、特に、液体又はペースト状の製品中の異物を検出するための装置であり、当該装置は、
   （ａ）所定方向に沿って検出すべき物体（３）を移動させる搬送装置（５）と、
   （ｂ）検出する物体（３）をその移動中に照射することを目的とした広帯域Ｘ線の生成のためのＸ線源（９）と、
   （ｃ）移動方向を横切る少なくとも所定の固定検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿って、移動方向における物体（３）の複数のサンプリング位置で物体（３）を通過する放射線を検出するＸ線検出装置（１１）と、
   ここでＸ線検出装置（１１）は、
   （ｉ）少なくとも１つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿って設けられた検出位置で、Ｘ線の第１のスペクトルセグメントに対する少なくとも一つの部分画像が検出され、及び、Ｘ線の第２セグメント又は全体のスペクトルに対する第２の部分画像が検出され、それぞれの画像が部分画像データに変換され、
   （ｉｉ）検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿った複数の離散的な検出位置が、検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿って所定の順序で配置され、少なくとも二つの部分画像の各々と一義的に関連付けられ、いずれの場合も、関連するスペクトルセグメントの放射エネルギの値が測定され、
   （ｄ）Ｘ線検出装置（１１）によって生成された部分画像データが送信され、物体の構造の所定の特性に関する検出能を向上させるために、少なくとも一つの第１及び第２画像の部分画像データをコンピュータによって結合して少なくとも一つの部分出力画像にする画像データ処理ユニット（１７）と、
   を有するように設計されている装置。
10. 画像データ処理部（１７）が、すべてのサンプリング位置の部分出力画像を少なくとも一の出力画像に結合することを特徴とする請求項９の装置。
11. 検出対象であって少なくとも１つのラインに沿って所定の最小寸法を有する物体（３）の構造が、少なくとも二つの検出位置にわたって延びるように、関連する検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿った部分画像の検出位置が等距離に選択及び隔置されていることを特徴とする請求項９又は１０の装置。
12. 移動方向において所定の最小寸法を有する検出対象である物体の構造が、少なくとも二つの検出位置の中に延びるように、物体の移動方向における画像のサンプリング位置が等距離に選択及び隔置されていることを特徴とする請求項９から１１のいずれか１項の装置。
13. 画像データ処理部（１７）が、少なくとも２つの部分画像の検出された一方の部分画像データから、所定の変換手順で、少なくとも２つの部分画像の他方の選択された検出位置又は全ての検出位置の関連する部分画像の値を計算し、画像データ処理部（１７）は、二以上の部分画像の検出され計算された部分画像データから、部分出力画像を計算し、いずれの場合も同一位置で部分出力画像が好ましくは重み付け係数の符号を考慮した部分画像データの重み付け加算によって計算されることを特徴とする請求項９から１２のいずれか１項の装置。
14. 画像データ処理部（１７）が、各部分出力画像又は完全な出力画像又は検出すべき妨害特性の存在に対する出力画像の所定のセグメントを、好ましくはパターン認識法を用いて検査することを特徴とする請求項９から１３のいずれか１項の装置。
15. Ｘ線検出装置（１１）が、移動方向に所定の間隔を有する、少なくとも二つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）又は検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）の少なくとも二つのグループを有し、部分画像に関連付けられた少なくとも２つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）又は検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）の少なくとも２つのグループの検出位置が、各ラインに沿って均等に配置され、及び、各追加の検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）又は検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）のグループの位置及び配列は、第１の検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）又は検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）の第１のグループの移動方向のシフトによって生成可能であることを特徴とする請求項９から１４のいずれか１項の装置。
16. Ｘ線検出装置（１１）が、少なくとも１つの検出間隔の間に、各検出間隔で本質的に同一方向にある物体（３）を貫通した放射線が検出されるように、少なくとも二つの検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）又は検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）の少なくとも二つのグループで、タイムシフトの方法でＸ線を検出することを特徴とする請求項１５の装置。
17. Ｘ線検出装置（１１）が、各検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に対して、当該検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿って配置された一連の放射線センサ（１５）を有し、各検出位置が１つ又は複数の放射線センサによって形成されることを特徴とする請求項９から１６のいずれか１項の装置。
18. 部分画像の検出位置の放射センサ（１５）が、Ｘ線源（９）によって生成されたＸ線のスペクトルセグメントに対応するスペクトル感度を有することを特徴とする請求項１７の装置。
19. Ｘ線検出装置（１１）が、物体（３）と放射線センサ（１５）との間に配置されて検出すべきＸ線をフィルタリングするための空間フィルタ（２１）を有し、当該空間フィルタ（２１）はストリップ構造を有し、
    （ａ）一定幅のストリップの組が、検出する部分画像の各々と関連付けられ、当該ストリップはＸ線の関連するスペクトルセグメントを生成するために部分画像に関連付けられたフィルタ特性を有し、
    （ｂ）当該ストリップの幅は、関連する検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）に沿った関連する検出位置の寸法及び位置に対応することを特徴とする請求項１７の装置。
20. Ｘ線検出装置（１１）が、少なくとも検出ライン（Ｅ₁からＥ_m）を有し、空間フィルタ（２１）のストリップが物体（３）の移動方向に平行に整列されることを特徴とする請求項１９の装置又は請求項１３の装置。
21. 空間フィルタ（２１）が、Ｘ線検出装置（１１）の放射線センサ（１５）と一体に作られていることを特徴とする請求項１７から２０のいずれか１項の装置。