JP2014224801A - 干渉縞パターンを生成する装置及び方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】2波長ホログラムを得る時生ずるクロストークを検出しないようにする。【解決手段】周波数νを有するレーザ光を射出するレーザ源と、周波数ν1を有する第1の光及び周波数ν2を有する第2の光を生成する音響光学変調器と、第1の光を第1の参照光と試料へ誘導される第1の物体光とに分割する第1のビームスプリッタと、第2の光を第2の参照光と試料へ誘導される第2の物体光とに分割する第2のビームスプリッタと、第1の参照光及び第1の物体光に基づく第1の縞と第2の参照光及び第2の物体光に基づく第2の縞とから構成される画像を検出する検出器からなり、第1の参照光と第2の参照光との第1の対、第1の物体光と第2の物体光との第2の対、第1の参照光と第2の物体光との第3の対及び第2の参照光と第1の物体光との第4の対による干渉縞パターンを検出しないように、Δν=(Δν|ν2−ν1|)の逆数を露光時間より短くする。【選択図】図1

Description

本発明は、一般に、干渉縞パターンを生成する装置及び方法に関する。更に詳細には、本発明はホログラフィック顕微鏡に関する。
リアルタイム2波長撮像に関して、Kuhn他は、1回のホログラムの取得によって2波長デジタルホログラフィック顕微鏡測定を実行する技術を開示している(Jonas Kuhn、Tristan Colomb、Frederic Montfort、Florian Charriere、Yves Emery、Etienne Cuche、Pierre Marquet及びChristian Depeursinge、「Optics Express第15巻第12号」、7231〜7242ページ(2007年))。
2波長ホログラムを得るためにλ1=679.57nm及びλ2=759.91nmの2つの半導体レーザダイオードが使用されるので、ホログラムのフーリエ空間における各波長の空間周波数は個別にフィルタリング(選択)される。
Kuhn他が2波長ホログラムを得るために2つのレーザ源を使用する理由は、それらのレーザ源がいずれのレーザ波長よりもはるかに長い合成ビート波長を発生できるからである。測定可能な試料深さの範囲は、使用される光の波長により制限される。従って、合成ビート波長を使用することにより、測定される試料深さの範囲が拡大しうる。
本発明の実施形態は、ホログラムを生成する装置及び方法を提供する。
本発明の1つの態様によれば、周波数νを有するレーザ光を射出するレーザ源と、周波数νを有する第1の光及び周波数νとは異なる周波数νを有する第2の光をレーザ光から生成する音響光学変調器と、第1の光を第1の参照光と第1の入射角で試料へ誘導される第1の物体光とに分割する第1のビームスプリッタと、第2の光を第2の参照光と第2の入射角で試料へ誘導される第2の物体光とに分割する第2のビームスプリッタと、露光時間において、第1の参照光及び第1の物体光に基づく第1の干渉縞パターンと第2の参照光及び第2の物体光に基づく第2の干渉縞パターンとから構成される画像を検出する検出器とを含み、第1の参照光と第2の参照光との第1の対、第1の物体光と第2の物体光との第2の対、第1の参照光と第2の物体光との第3の対及び第2の参照光と第1の物体光との第4の対による干渉縞パターンを検出器が検出しないように、Δν=(Δν|ν−ν|)の逆数は露光時間より短いことを特徴とするホログラムを生成する装置が提供される。
本発明の更なる特徴は、添付の図面を参照する以下の例示的な実施形態の説明から明らかになるだろう。
図1は、ホログラムを生成する装置を示す図である。 図2Aは、実施形態1で説明されるホログラムを生成する装置を示す図である。 図2Bは、実施形態1で説明されるホログラムを生成する装置を示す図である。 図3Aは、実施形態2で説明されるホログラムを生成する装置を示す図である。 図3Bは、実施形態2で説明されるホログラムを生成する装置を示す図である。 図3Cは、実施形態2で説明されるホログラムを生成する装置を示す図である。 図4Aは、実施形態3で説明されるホログラムを生成する装置を示す図である。 図4Bは、実施形態4で説明されるホログラムを生成する装置を示す図である。 図5は、干渉縞パターンを示す図である。 図6は、干渉縞パターンを示す図である。 図7Aは、参照光1と参照光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図7Bは、参照光1と参照光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図7Cは、参照光1と参照光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図7Dは、参照光1と参照光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図8Aは、物体光1と物体光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図8Bは、物体光1と物体光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図8Cは、物体光1と物体光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図8Dは、物体光1と物体光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図9Aは、参照光1と物体光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図9Bは、参照光1と物体光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図9Cは、参照光1と物体光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図9Dは、参照光1と物体光2との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図10Aは、参照光2と物体光1との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図10Bは、参照光2と物体光1との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図10Cは、参照光2と物体光1との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図10Dは、参照光2と物体光1との干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図11Aは、4つの光すべての間の干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図11Bは、4つの光すべての間の干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図11Cは、4つの光すべての間の干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図11Dは、4つの光すべての間の干渉に基づく計算上の画像を示す図である。 図12は、干渉縞が得られないことを説明するための図である。 図13Aは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Bは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Cは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Dは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Eは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Fは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Gは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Hは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Iは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Jは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Kは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Lは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Mは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Nは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Oは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Pは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図13Qは、時間に依存するシミュレーション結果を示す図である。 図14Aは、時間に依存する画像を示すシミュレーション結果である。 図13Bは、時間に依存する画像を示すシミュレーション結果である。 図13Cは、時間に依存する画像を示すシミュレーション結果である。 図13Dは、時間に依存する画像を示すシミュレーション結果である。 図15は、干渉縞が得られないことを説明するための図である。 図16Aは、時間に依存する項を含む画像及びすべての項を含む最終的な画像をそれぞれ示す図である。 図16Bは、時間に依存する項を含む画像及びすべての項を含む最終的な画像をそれぞれ示す図である。 図17Aは時間に依存する項を含む画像及びすべての項を含む最終的な画像をそれぞれ示す図である。 図17Bは時間に依存する項を含む画像及びすべての項を含む最終的な画像をそれぞれ示す図である。 図18Aは、クロストークが存在する場合及び存在しない場合にホログラム画像を使用することにより得られるフーリエスペクトルをそれぞれ示す図である。 図18Bは、クロストークが存在する場合及び存在しない場合にホログラム画像を使用することにより得られるフーリエスペクトルをそれぞれ示す図である。
添付の図面を参照して、本発明に係る実施形態を以下に説明する。
ホログラフィック顕微鏡検査の場合、特に3次元撮像ではホログラムの取得時間を短縮することが望ましい。従って、本実施形態は、物体に対する多角照明を使用する新たな方法及び装置を説明する。
図1は、2つの独立したレーザ(1000及び1050)を使用して複合多重ホログラムを生成する装置を示す。光周波数νを有するレーザ光は、2つのレンズL1(1017)、L2(1018)及びピンホール(1112)により拡張され且つ空間フィルタリングされる。
レーザ1050からのレーザ光は、ビームスプリッタ/カプラ1019により参照光(RB)1915及び物体光(OB)1950に分割される。参照光RBはレンズ(L3)1007により集束され、ビームスプリッタ/カプラ(1004、1008)、ミラー1005、1006を介してカメラ1009に向かって発散する。物体光OBは、2Dガルボミラー1020により角度調整され、ビームスプリッタ/カプラ(1019、1023)、ミラー(1112、1020、1014)及びレンズ(1021、1022、1013)を介して、集光レンズ及び対物レンズ(1015及び1016)から構成される顕微鏡と、試料とを通過する。物体光は、ミラー1017及び円柱レンズ1117を介してカメラへ誘導される。参照光RB(1915)及び物体光OB(1950)は、検出器を有するカメラにおいて、光が互いに角度を成す状態で組み合わされる。試料が物体光OBの光路に存在しない場合に2つの光の干渉によって1組の平行な縞がカメラ1009で形成されるように、RB及びOBの波面湾曲は一致する。試料が物体光OBの光路に配置されると、その試料は光の位相を変化させるので、物体光OBの波面が変調される。その結果、平行な縞は変調される。物体光OBの方向に沿って積分された試料の屈折率特性を抽出するために、縞の変調が使用される。
光周波数νを有する別のレーザ光は、2つのレンズ(1001、1003)及びピンホール1002により拡張され且つ空間フィルタリングされる。このレーザ光は、参照光(RB、1910)及び物体光(OB、1955)に分割される。2つの参照光はビームスプリッタ1004を介して重ね合わされる。参照光RBはレンズ1007(L3)により集束され、カメラ1009に向かって発散する。物体光(OB、1995)は2Dガルボミラー1010により角度調整され、レンズ1011及び1012と、集光レンズ及び対物レンズ(1015、1016)から構成される顕微鏡と、試料とを通過する。参照光RB及び物体光OBは、光が互いに角度を成す状態でカメラ1009において組み合わされる。試料が物体光OBの光路に存在しない場合に2つの光の干渉によって1組の平行な縞がカメラで形成されるように、RB及びOBの波面湾曲は一致する。試料が物体光OBに配置されると、その試料は光の位相を変化させるので、物体光OBの波面は変調される。その結果、平行な縞は変調される。物体光OBの方向に沿って積分された試料の屈折率特性を抽出するために、縞の変調が使用される。
フーリエ空間における2つの対応する画像の分離を発生させるために、RBとOBの干渉により生成される第1の組の縞の向きは、RBとOBの干渉により生成される第2の組の縞の向きとは異なっている。
更に、2つのレーザ(1000、1050)は独立しており、2つのレーザから発光した光は干渉せず、他に干渉縞の組を発生させない。2つの光を互いに干渉させないことは重要である。2つの独立したレーザの使用は、この条件を実現する方法の1つである。
2波長ホログラムを得るために、2つのレーザ源を使用する代わりに1つのレーザ源を使用する装置及び方法を以下に説明する。
本発明では、装置を単純にするために2つのレーザ源の代わりに1つのレーザ源を使用することが望ましい。その一方で、2つの物体光の干渉によってフーリエ空間に「クロストーク」スペクトルが発生するという1つの欠点がある。しかし、2つの光が異なる光周波数を有する場合、クロストークはほぼ起こらないということが知られている。本実施形態は、クロストークを回避するために1つのレーザ源(レーザ)を使用して2つの光を発生する方法を説明する。それら2つの光は干渉するが、その干渉の時間平均は空間的に均一である。従って、フーリエ空間に「クロストーク」スペクトルは現れない。
(実施形態1)
複合多重ホログラムを生成する装置は図2Aに示される。この構成は1つのレーザ2000(波長λ〜543nm)を使用する。レーザ光は、最初に、変調周波数Δνを有する音響光学変調器(AOM)2100によって2つのレーザ光LB及びLBに分割される。2つのレーザ光LB及びLBは、それぞれ異なる光周波数ν及びνを有する。νとνの差はΔνである。例えば、使用されるΔνは200MHzであるが、振動周期(5ns)がカメラの露光時間(すなわち、カメラに含まれる検出器が撮像するために露光される期間)よりはるかに短いのであれば、Δνの厳密な数値は重要ではない。νは(c/λ)であり、νは(c/λ)−Δν(本構成では200MHz)である。使用されるΔνは、例えば5MHz〜5GHzに設定されるとよい。従って、AOMは少なくとも2つの光ν及びνを発生する。図2Aでは、説明の重複を避けるために、図1の図中符号が使用される。
一実施形態において、必要とされるAOMの数は、レーザ光の数−1である。レーザ光が2つである場合、AOMは1つあればよい。
光周波数νを有する第1のレーザ光LBは、2つのレンズ(L1 1017及びL2 1018)及びピンホール1112により拡張され且つ空間フィルタリングされる。レーザ光は、参照光(RB、1915)及び物体光(OB、1950)に分割される。参照光RBはレンズ(L3 1007)により集束され、ビームスプリッタ(1019、1004)、ミラー(1005、1006)を介してカメラ1009に向かって発散する。
物体光OBは、2Dガルボミラー2020により角度調整され、集光レンズ1015及び対物レンズ1016から構成される顕微鏡と試料1118とを通過する。参照光RB及び物体光OB1915は、ビームスプリッタ(1004、1018)、ミラー(1005、1006)及びレンズ1007を介して、光が角度を成す状態でカメラ1009において組み合わされる。試料が物体光OBの光路に存在しない場合に2つの光の干渉によって1組の平行な縞がカメラで形成されるように、RB及びOBの波面湾曲は一致する。試料が物体光OB中に配置されると、その試料は光の位相を変化させるので、物体光OBの波面は変調される。その結果、平行な縞は変調される。物体光OBの方向に沿って積分された試料の屈折率特性を抽出するために、縞の変調が使用される。
同一のレーザからの光周波数νを有する別のレーザ光LBは、2つのレンズ(1001、1003)及びピンホール1002により拡張され且つ空間フィルタリングされる。レーザ光は、参照光(RB、1910)及び物体光(OB、1955)に分割される。参照光RBはレンズ(L3)により集束され、ミラー(1005、1006)、レンズ1007及びビームスプリッタ1018を介してカメラに向かって発散する。物体光OBは、2Dガルボミラー1010により角度調整され、集光レンズ及び対物レンズ(1015、1017)から構成される顕微鏡と試料1118とを通過する。参照光RB及び物体光OBは、光が角度を成す状態でカメラにおいて組み合わされる。試料が物体光OBの光路に存在しない場合に2つの光の干渉によって1組の平行な縞がカメラで形成されるように、RB及びOBの波面湾曲は一致する。試料が物体光OBに配置されると、その試料は光の位相を変化させるので、物体光OBの波面は変調される。その結果、平行な縞は変調される。物体光OBの方向に沿って積分された試料の屈折率特性を抽出するために、縞の変調が使用される。
第1の参照光1915は、ビームスプリッタ1004を介して第2の物体光1955と多重化されうる。そのような多重化を回避するために、図2Bで説明するようにビームスプリッタ1019、1004及び2990が配置される。第1の参照光1915は、ビームスプリッタ2990を介して第2の参照光1910と重ね合わされる。
フーリエ空間において2つの対応する画像の分離を生じさせるために、RBとOBの干渉により生成される第1の組の縞の向きは、RBとOBの干渉により生成される第2の組の縞の向きとは異なっている。
また、2つのレーザ光LB及びLBは干渉せず、他に干渉縞の組を発生させない。しかし、空間内でこれらの干渉縞の組は周波数Δνで変化している。従って、カメラの積分時間がΔνの逆数よりはるかに長い限り、時間に関して縞を平均するのが効果的である。カメラの積分時間をミリ秒(又はミニ秒)のオーダーで設定できるのに対し、Δνの逆数はサブマイクロ秒のオーダーで設定できるので、この条件が満たされる。
2Dガルボミラー(1010、2020)からの光の角度が試料1118に対する照明角度に対応するように、2Dガルボミラーは、試料平面の共役平面に配置される。角度移動の量は、(1)照明角度範囲の量及びガルボミラーと試料との間のリレー光学系の倍率に依存する。試料に対する物体光OBの入射角を変化させるために、2Dガルボミラー2020の代わりに、移動しないと想定されるミラーを使用できる。
一般に、参照光1と参照光2との位相差がt=0で0であると想定される場合、各光の電場は下記の式により説明される。
r1、E、Eo1、Er2、E及びEo2は電場である。kr1,x、kr1,y、ko1,x、ko1,y、kr2,x、kr,2y、ko2,x及びko2,yは波数である。φ及びφは位相である。
実験上、光角度及び光強度は次のように設定できる。
r1、Io1、Ir2及びIo2は、参照光1、物体光1、参照光2及び物体光2の強度をそれぞれ意味する。
total及びItotalは、総電場及び総強度をそれぞれ意味する。
総強度Itotalは16の積(4つの電場×4つの電場)を有する。それら16の積は、7つの項に分類されうる。第1の項は、4つの光すべての強度の和である。第2の項は、ν参照光及びν物体光による干渉項である。第3の項は、ν参照光及びν物体光による干渉項である。第4の項は、ν参照光及びν参照光による干渉項である。第5の項は、ν物体光及びν物体光による干渉項である。第6の項は、ν参照光及びν物体光による干渉項である。第7の項は、ν物体光及びν参照光による干渉項である。
r1、Eo1、Er2及びEo2を次のように書き直すことができる。
従って、Itotalを次のように書き直すことができる。
totalを次のように書き直すことも可能である。
総光強度(Itotalとして示される)は、3つの群に分類されうる。第1群は、第1の光のみによる干渉パターン(縦縞、図5)である。第2群は、第2の光のみによる干渉パターン(横縞)である。第3群(その他の項)は、光の他のすべての組み合わせによる干渉である。この第3群は、2つの光が同一の周波数を有する場合と、異なる周波数を有する場合でまったく異なる挙動を示す。2つの光が同一の周波数を有する場合、第3群は「時間非依存」であり、斜めの干渉パターンが現れ、「クロストーク」を引き起こす。2つの光が異なる周波数を有する場合、第3群は「時間依存」であり、時間平均は0になる。これが「クロストーク」縞が消滅する理由である。
最良のコントラスト比(100%)を実現するためには、4つの光すべての強度は同一でなければならない。以下に示すシミュレーション結果は、簡潔にするために、光強度が同一であるものとして計算されている。一般に強度は同一ではないので、その相違はコントラスト比に影響を及ぼすが、発明者が提示する結論に影響はない。
ν(又はν)のみが存在する場合、結果は、時間に依存しない周知の干渉縞パターンである。
参照光r及び物体光oによる干渉縞パターンが図5に示される。このパターンは時間に依存しない。
参照光r及び物体光oによる干渉縞パターンが図6に示される。このパターンは時間に依存しない。
totalの時間に依存する部分を検討できる。更に洞察を深めるために、1つずつ検討を進める。最初に、参照光1と参照光2との干渉を検討する。
図7A〜図7Dに示されるように、時間t=0、1ns及び2.5nsのとき、干渉縞パターンは観察されない。先の式で示したように、2つの参照光による干渉パターンに空間成分は存在しない。しかし、図7Dに示されるように、強度には平均により除去される時間成分が存在する。
次に、物体光1と物体光2との干渉を検討する。
図8A〜図8Dに示されるように、時間t=0,1ns及び2.5nsで縞パターンが観察される。時間を平均すると、図8Dのように干渉縞パターンは見られなくなる。2つの光(物体光1及び2)が同一の周波数を有する場合、「時間非依存」となり、斜めの干渉パターンが現れ、「クロストーク」が起こる。しかし、2つの光が異なる周波数を有する場合、「時間依存」となり、時間平均は0になる。
図7及び図8に示されるように、干渉項は時間に依存し、カメラにより感知される画像の露光時間が振動周期Δνよりはるかに長い場合、平均によって除去されるので、2つの時間平均画像は干渉パターンを有していない。
次に、下記の要素に従って参照光1と物体光2との干渉を検討する。その結果は図9A〜図9Dに示される。
2つの光(参照光1及び物体光2)が同一の周波数を有する場合、「時間非依存」となり、斜めの干渉パターンが現れ、「クロストーク」が起こる。しかし、2つの光が異なる周波数を有する場合、「時間依存」となり、時間平均は0になる。
次に、下記の要素に従って参照光2と物体光1との干渉を検討する。その結果は図10A〜図10Dに示される。
2つの光(参照光2及び物体光1)が同一の周波数を有する場合、「時間非依存」となり、斜めの干渉パターンが現れ、「クロストーク」が起こる。しかし、2つの光が異なる周波数を有する場合、「時間依存」となり、時間平均は0になる。
図9D及び図10Dに示されるように、干渉項は時間に依存する性であり、画像感知の露光時間が振動周期Δνよりはるかに長い場合、平均によって除去されるので、2つの時間平均画像は干渉パターンを有していない。
最後に、すべての光が下記の式に従う場合の干渉パターンを検討する。その結果は図11A〜図11Dに示される。
図11Dに示されるように、時間平均画像が明瞭な干渉パターンを示すことは非常に興味深い。数学的には、それは、定常的である2つの干渉項(先に示した式に含まれる)が依然として存在しているためである。時間平均による時間に依存する干渉項を消滅させれば、式は次の通りになる。
総強度が厳密にはνとνとの更なる干渉を含まないν及びνと関連する2組の干渉縞の和であることは更に重要である。これがまさに発明者が望んでいることである。図12に示されるように、図11Dの干渉縞(3200)から図5及び図6の干渉縞パターン(3201及び3202)を減算すると、図12のような干渉縞のない状態(3203)が得られる。
下記の式に従ったシミュレーション結果が図13A〜図13Qに示される。
以下に説明する通り、強度の総和における時間に依存する項に関して、Δν=0である場合の時間に依存する項を含む画像は図16Aに示され、時間に依存する項及び時間に依存しない項を含むすべての項を伴う最終的な画像は図16Bに示される。光の対(参照光1及び2、物体光1及び2、参照光1及び物体光2、参照光2及び物体光1)に起因するクロストークを観察できることは理解される。
しかし、Δνが0に等しくない場合、それらの光の対のクロストークは起こらない。Δνが0に等しくない場合の時間に依存する項を含む画像は図17Aに示され、時間に依存する項及び時間に依存しない項を含むすべての項を含む最終的な画像は図17Bに示される。
クロストークが存在する場合にホログラム画像を使用することにより得られるフーリエスペクトルが図18Aに示される。丸形ドットで表される図中符号4900及び4902は、それぞれ照明角度2及び角度1から取得された情報である。正方形のドットで示されるクロストーク領域4905が図18Aに示される。クロストーク領域があるために、更なる照明角度を追加することは難しい。一方で、図18Bにはクロストーク領域は存在しない。丸形ドットで表される図中符号4903及び4904は、それぞれ照明角度2及び角度1から取得された情報である。従って、ホログラムを得るための照明角度の数を増やせるだろう。
位相物体(画像平面の中心でπ/2の位相遅延を導入する矩形)を使用した時間に依存する画像を示すシミュレーション結果が図14A〜図14Dに示される。
総強度は、同様に、厳密にνとνとの更なる干渉を伴わないν及びνと関連する2組の干渉縞の和である。これがまさに発明者が望んでいることである。図15に示されるように、ホログラムごとにただ1つの照明角度を使用することにより得られた干渉縞パターン5201及び5202を干渉縞5200から減算すると、図15に示されるように干渉縞は現れない(5203)。
(実施形態2)
複合多重ホログラムを生成する別の装置が図3に示される。この構成は1つのレーザ2000を使用する。最初に、レーザ光は、変調周波数Δνを有する音響光学変調器(AOM)2100によって2つのレーザ光LB及びLBに分割される。レーザ光LB及びLBは、それぞれ異なる光周波数ν及びνを有する。νとνの差はΔνである。
この構成は、図2Aに提示された構成により提供されるすべての利点を有する。余分な説明を避けるために、図2Aと同一の図中符号が使用される。先に示した構成(図2A)では、2つの物体光OB及びOBの方向は、2つのガルボミラーを使用することにより独立して調整される。光ファイバ3085、3095及び回転板3070が使用される。光ファイバはシングルモードファイバであってもよい。
実施形態2は、物体光の数を増やすのに効果的である。図3Aに示される構成では、レンズ3090及び3080を介してファイバ3095及び3085にそれぞれ結合される2つの物体光LB及びLBの方向は、1つの回転板3070により調整される。回転板は、光の伝搬角度を変化させるために使用される。ファイバマウントの端部が多角照明のために円形走査を実行できる場所で回転板を回転させると、発明者の目的は達成される。
回転板3070は、ファイバの先端部が試料平面のフーリエ平面にあるように位置決めされる。従って、ファイバ先端部の位置は、対応する照明の角度を確定する。
回転板を使用することにより、試料に対する光の入射角を変化させることができる。ファイバ3085及び3095を共に回転板に接続するのではなく、図3Aの3099の拡大図である図3Bに示されるように、光ファイバのうち一方のファイバ(3085又は3095)のみを回転板に接続できる。図3Cに示されるように、各光ファイバはそれぞれの回転板(3070A、3070C)に接続可能である。図中符号3060A、3060Bはレンズを示す。偏光子3000及び3050は必要に応じて使用される。更に、入射角の異なる物体光を更に多く使用したい場合に回転板を追加する必要はない。2つの偏光子3000及び3050を使用するのではなく、ビームカプラ1018と検出器(カメラ1009)との間に1つの偏光子を配置することが可能である。
(実施形態3)
実施形態3では、図4Aに示されるように、参照光1910及び1915は互いに異なる光路を有する。参照光1915は、ビームスプリッタ4019及びミラー1005を介して伝送され、参照光1910は、ビームスプリッタ4020及びカプラ4030を介して伝送される。
(実施形態4)
実施形態4では、図4Bに示されるように、参照光1910及び1915は互いに異なる光路を有する。参照光1915は、ビームスプリッタ1019及びカプラ1491を介して伝送され、参照光1910は、ビームスプリッタ1004及びミラー1005を介して伝送される。
(他の実施形態)
以上説明した装置に従って、物体光の複数の入射角によって作成される複合多重ホログラムが得られ、試料の3次元画像を再構成するために、それらのホログラムを使用できる。試料の再構成画像は、例えばコンピュータなどの計算ユニットを使用することにより次に示すステップとして計算できる。(1)図18Bに示されるように検出器を含むカメラ1009により干渉縞パターンが得られた後、数値2D FET(高速フーリエ変換)に基づく計算により空間周波数スペクトルが得られる。(2)物体光角度に従って計算上の開口を使用することにより1次スペクトルがクロッピングされる(選択的に収集される)。(3)最後に、クロッピングされたスペクトルを使用することにより、物体の数値3D IFFT(逆高速フーリエ変換)により再構成画像を計算する。
例示的な実施形態を参照して本発明に係る実施形態を説明したが、本発明が以上説明された実施形態に限定されないことを理解すべきである。添付の特許請求の範囲の範囲は、そのようなすべての変形並びに等価な構造及び機能を含むように最も広い意味で解釈される。

Claims (10)

  1. 干渉縞パターンを検出する装置であって、
    周波数νを有するレーザ光を射出するレーザ源と、
    周波数νを有する第1の光及び前記周波数νとは異なる周波数νを有する第2の光を前記レーザ光から生成する音響光学変調器と、
    前記第1の光を第1の参照光と第1の入射角で試料へ誘導される第1の物体光とに分割する第1のビームスプリッタと、
    前記第2の光を第2の参照光と第2の入射角で前記試料へ誘導される第2の物体光とに分割する第2のビームスプリッタと、
    露光時間において、前記第1の参照光及び前記第1の物体光に基づく第1の干渉縞パターンと前記第2の参照光及び前記第2の物体光に基づく第2の干渉縞パターンとから構成される画像を検出する検出器と、
    を含み、
    前記第1の参照光と前記第2の参照光との第1の対、前記第1の物体光と前記第2の物体光との第2の対、前記第1の参照光と前記第2の物体光との第3の対及び前記第2の参照光と前記第1の物体光との第4の対による干渉縞パターンを前記検出器が検出しないように、Δν(Δν=|ν−ν|)の逆数が前記露光時間より短いことを特徴とする装置。
  2. 前記露光時間はミリ秒オーダーで設定され、およびΔνの逆数はサブマイクロ秒オーダーで設定されることを特徴とする請求項1に記載の干渉縞パターンを検出する装置。
  3. 第1の光ファイバ及び第2の光ファイバを更に含み、
    前記第1の物体光は前記第1の光ファイバに接続され、前記第2の物体光は前記第2の光ファイバに接続されることを特徴とする請求項1に記載の干渉縞パターンを検出する装置。
  4. 前記試料に対する入射角を変化させるための回転板が前記光ファイバのうち少なくとも一方のファイバに設けられることを特徴とする請求項3記載の干渉縞を検出する装置。
  5. ホログラフィック顕微鏡であって、
    周波数νを有するレーザ光を射出するレーザ源と、
    周波数νを有する第1の光及び前記周波数νとは異なる周波数νを有する第2の光を前記レーザ光から生成する音響光学変調器と、
    前記第1の光を第1の参照光と第1の入射角で試料へ誘導される第1の物体光とに分割する第1のビームスプリッタと、
    前記第2の光を第2の参照光と第2の入射角で前記試料へ誘導される第2の物体光とに分割する第2のビームスプリッタと、
    露光時間において、前記第1の参照光及び前記第1の物体光に基づく第1の干渉縞パターンと前記第2の参照光及び前記第2の物体光に基づく第2の干渉縞パターンとから構成される画像を検出する検出器と、
    前記第1の干渉縞パターン及び前記第2の干渉縞パターンから構成される前記画像を使用することにより前記試料の再構成画像を計算する計算ユニットと、
    を含み、
    前記第1の参照光と前記第2の参照光との第1の対、前記第1の物体光と前記第2の物体光との第2の対、前記第1の参照光と前記第2の物体光との第3の対及び前記第2の参照光と前記第1の物体光との第4の対による干渉縞パターンを前記検出器が検出しないように、Δν(Δν=|ν−ν|)の逆数が前記露光時間より短いことを特徴とするホログラフィック顕微鏡。
  6. 干渉縞パターンを検出する装置であって、
    周波数νを有するレーザ光を射出するレーザ源と、
    周波数νを有する第1の光及び前記周波数νとは異なる周波数νを有する第2の光を前記レーザ光から生成する音響光学変調器と、
    前記第1の光を第1の参照光と第1の入射角で試料へ誘導される第1の物体光とに分割する第1のビームスプリッタと、
    前記第2の光を第2の参照光と前記第1の入射角とは異なる第2の入射角で前記試料へ誘導される第2の物体光とに分割する第2のビームスプリッタと、
    露光時間において、前記第1の参照光、前記第1の物体光、前記第2の参照光及び前記第2の物体光により形成される干渉縞パターンを検出する検出器と、
    を含み、
    前記第1の物体光と前記第2の物体光との第1の対による干渉縞が検出されないように、Δν(Δν=|ν−ν|)の逆数が前記露光時間より短いことを特徴とする装置。
  7. 前記第1の参照光と前記第2の物体光との第2の対並びに前記第2の参照光と前記第1の物体光との第3の対による干渉縞が検出されないように、Δν=(Δν|ν−ν|)の逆数が前記露光時間より短いことを特徴とする請求項6に記載の干渉縞パターンを検出する装置。
  8. 前記第1の物体光を前記試料に向かって導くための光ファイバを更に含むことを特徴とする請求項6に記載の干渉縞パターンを検出する装置。
  9. 回転板を更に含み、
    前記光ファイバは、前記第1の物体光の前記第1の入射角を変化させるために前記回転板に接続されることを特徴とする請求項6に記載の干渉縞パターンを検出する装置。
  10. 前記第1の参照光及び前記第2の参照光に対応する第1の偏光子と、前記第1の物体光及び前記第2の物体光に対応する第2の偏光子とを更に含むことを特徴とする請求項6に記載の干渉縞パターンを検出する装置。
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