JP2014192461A - Patterning method of substrate and patterning processing device - Google Patents

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Masamichi Morimoto
正通 森本
Mitsuru Yamada
充 山田
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Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a patterning method capable of appropriately forming a processing groove according to a mechanical technique, and a patterning processing device for implementing the patterning method.SOLUTION: A method of patterning a substrate by forming a linear processing groove by removing a part of a membrane layer provided on the substrate while using a scribe tool provided with an edge in its tip includes: a first scribe step of forming a first processing groove at a processing groove formation target position on the substrate while using a first scribe tool capable of forming a processing groove of a processing width narrower than a desired processing width; and a second scribe step of forming a second processing groove, while overlapping the first processing groove, at the processing groove formation target position on the substrate where the first processing groove has been formed, while using a second scribe tool capable of forming a processing groove of the desired processing width.

Description

本発明は、カルコパイライト系薄膜太陽電池用基板などの基板上に設けられた薄膜層の一部を除去して加工溝を形成するパターニング方法およびその加工装置、特に、メカニカルな手法により加工溝を形成する方法および装置に関する。   The present invention relates to a patterning method and a processing apparatus for removing a part of a thin film layer provided on a substrate such as a chalcopyrite-based thin film solar cell substrate, and a processing apparatus therefor, and in particular, a processing groove is formed by a mechanical technique. It relates to a method and apparatus for forming.

CIS(CuInSe)やCIGS(Cu(In1−xGa)Se)といったカルコパイライト系薄膜太陽電池は、例えば、ソーダガラスなどのガラス基板に、裏面電極となるモリブデン(Mo)膜をスパッタリングで成膜し、係るモリブデン膜の上に、CISもしくはCIGSからなるp型の光吸収層、CdSからなる高抵抗バッファ層、ITOなどからなるn型の酸化物透明導電膜(TCO)層を、それぞれに適した成膜法で順次に成膜することによって作製される。 Chalcopyrite thin film solar cells such as CIS (CuInSe 2 ) and CIGS (Cu (In 1-x Ga x ) Se 2 ), for example, sputter a molybdenum (Mo) film serving as a back electrode on a glass substrate such as soda glass. A p-type light absorption layer made of CIS or CIGS, a high-resistance buffer layer made of CdS, an n-type oxide transparent conductive film (TCO) layer made of ITO, etc. It is produced by sequentially forming a film by a film forming method suitable for each.

ただし、係る製造プロセスの途中において、基板上に形成された複数の太陽電池セル間の絶縁を確保するために、先に形成された薄膜層の一部を直線状に切削除去して(スクライブして)絶縁用の(セル分離用の)加工溝(加工痕)を形成するパターニング加工が行われる。係るパターニング加工には、ガラス基板上に形成されたMo層をパターニングするP1工程と、P1工程の後、Mo層上に形成されたCIGS光吸収層をパターニングするP2工程と、P2工程の後、CIGS光吸収層上に形成されたTCO層をパターニングするP3工程とがある。   However, in the middle of the manufacturing process, in order to ensure insulation between the plurality of solar cells formed on the substrate, a part of the previously formed thin film layer is linearly cut and removed (scribed). Patterning processing for forming a processing groove (processing trace) for insulation (for cell separation) is performed. In the patterning process, the P1 step of patterning the Mo layer formed on the glass substrate, the P2 step of patterning the CIGS light absorption layer formed on the Mo layer after the P1 step, and the P2 step, There is a P3 process for patterning the TCO layer formed on the CIGS light absorption layer.

このうち、P1工程はレーザー光により行われるが、P2、P3工程はパターニングツールやスクライブツールとも称される溝加工ツールによってメカニカルに行われるのが一般的である。係る絶縁用の加工溝の形成に適した溝加工ツールおよびこれを具備する加工装置がすでに公知である(例えば、特許文献1参照)。   Among these, the P1 process is performed by laser light, but the P2 and P3 processes are generally performed mechanically by a groove processing tool also called a patterning tool or a scribe tool. A groove processing tool suitable for the formation of such a processing groove for insulation and a processing apparatus including the same are already known (for example, see Patent Document 1).

特開2011−142235号公報JP 2011-142235 A

上述のようなパターニングを溝加工ツールによってメカニカルに行う場合、加工溝は、所望する箇所に所望するサイズおよび形状にて形成されるべきであり、加工溝の形状に場所による不均一が生じたり、加工溝の側部および底部における薄膜層の除去が不十分となったり、加工溝の周囲において膜剥がれが生じたりするのは好ましくない。そのような不具合が生じると、作製した太陽電池に製品不良が生じる可能性がある。   When the above patterning is mechanically performed by a groove processing tool, the processing groove should be formed in a desired size and shape in a desired location, and the shape of the processing groove may be uneven depending on the location, It is not preferable that removal of the thin film layer at the side and bottom of the processed groove is insufficient, or film peeling occurs around the processed groove. When such a malfunction occurs, a defective product may occur in the manufactured solar cell.

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、メカニカルな手法による加工溝の形成を好適に行えるパターニング方法およびこれを行うパターニング加工装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a patterning method and a patterning apparatus for performing the patterning method that can suitably form a processing groove by a mechanical method.

上記課題を解決するため、請求項1の発明は、先端に刃先を備えるスクライブツールによって基板上に設けられた薄膜層の一部を除去して線状の加工溝を形成するスクライブ加工により、基板にパターニングを行う方法であって、所望の加工幅よりも細い加工幅の加工溝を形成可能な第1のスクライブツールを用いて前記基板の加工溝形成対象位置に第1の加工溝を形成する第1スクライブ工程と、前記所望の加工幅の加工溝を形成可能な第2のスクライブツールを用いて、前記第1の加工溝が形成された前記基板の前記加工溝形成対象位置において前記第1の加工溝に対し重畳的に第2の加工溝を形成する第2スクライブ工程と、を備えることを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problems, the invention of claim 1 is directed to a substrate by scribing to form a linear processing groove by removing a part of a thin film layer provided on a substrate by a scribing tool having a cutting edge at the tip. The first processing groove is formed at the processing groove formation target position of the substrate by using a first scribe tool capable of forming a processing groove having a processing width narrower than a desired processing width. The first scribing step and the second scribing tool capable of forming a processing groove having the desired processing width are used to form the first processing groove at the processing groove forming target position of the substrate on which the first processing groove is formed. And a second scribing step for forming a second processed groove in a superimposed manner on the processed groove.

請求項2の発明は、請求項1に記載の基板のパターニング方法であって、前記第1スクライブ工程においては、複数の前記第1のスクライブツールにより複数の加工溝形成対象位置に複数の前記第1の加工溝を形成し、前記第2スクライブ工程においては、複数の前記第2のスクライブツールにより、それぞれに前記第1の加工溝が形成された前記複数の前記加工溝形成対象位置においてそれぞれの前記第1の加工溝に対し重畳的に第2の加工溝を形成する、ことを特徴とする。   A second aspect of the present invention is the substrate patterning method according to the first aspect, wherein, in the first scribing step, a plurality of the first scribing tools are used to form a plurality of the processing groove forming target positions. 1 machining groove is formed, and in the second scribing step, each of the plurality of machining groove formation target positions where the first machining groove is formed respectively by the plurality of second scribing tools. A second machining groove is formed so as to overlap with the first machining groove.

請求項3の発明は、請求項1または請求項2に記載の基板のパターニング方法であって、一のスクライブヘッドに、前記第1のスクライブツールと前記第2のスクライブツールとを、前記一のスクライブヘッドを移動させた場合にそれぞれによる加工溝の形成が同時にまたは選択的に行えるように設けておき、前記第1のスクライブツールと前記第2のスクライブツールとを同時に加工溝を形成可能とした状態で、第1の前記加工溝形成対象位置における前記第1スクライブ工程と、先に前記第1の加工溝が形成されてなる第2の前記加工溝形成対象位置における前記第2スクライブ工程とを同時に行う、ことを特徴とする。   A third aspect of the present invention is the substrate patterning method according to the first or second aspect, wherein the first scribe tool and the second scribe tool are placed on one scribe head, the first scribe tool. When the scribe head is moved, the respective processing grooves can be formed simultaneously or selectively so that the first scribe tool and the second scribe tool can be formed simultaneously. In the state, the first scribe step at the first processing groove formation target position, and the second scribe step at the second processing groove formation target position in which the first processing groove is formed first. It is characterized by being performed at the same time.

請求項4の発明は、スクライブ加工により基板上に設けられた薄膜層の一部を除去して線状の加工溝を形成可能なパターニング加工装置であって、基板を支持するテーブルと、それぞれが先端に刃先を備えるとともに、前記テーブルに支持された前記基板に前記刃先を接触させつつ移動させることによって前記基板の加工溝形成対象位置に加工溝を形成可能な第1および第2のスクライブツールと、を備え、前記第1のスクライブツールが所望の加工幅よりも細い加工幅の第1の加工溝を形成可能であり、前記第2のスクライブツールが前記所望の加工幅の第2の加工溝を形成可能であり、前記第1のスクライブツールによって前記第1の加工溝が形成された前記加工溝形成対象位置に前記第1の加工溝に対し重畳的に前記第2の加工溝を形成する、ことを特徴とする。   The invention of claim 4 is a patterning processing apparatus capable of forming a linear processing groove by removing a part of a thin film layer provided on a substrate by scribe processing, and a table for supporting the substrate, First and second scribing tools which have a cutting edge at the tip and can form a processing groove at a processing groove forming target position of the substrate by moving the cutting edge while contacting the substrate supported by the table. The first scribe tool can form a first processing groove having a processing width smaller than a desired processing width, and the second scribe tool can form a second processing groove having the desired processing width. The second machining groove is formed on the machining groove formation target position where the first machining groove is formed by the first scribe tool so as to overlap the first machining groove. To, characterized in that.

請求項5の発明は、請求項4に記載のパターニング加工装置であって、第1の方向に移動自在なスクライブヘッド、をさらに備え、前記第1のスクライブツールと前記第2のスクライブツールとが前記スクライブヘッドにおいて前記第1の方向と直交する第2の方向に列設されてなる、ことを特徴とする。   The invention of claim 5 is the patterning processing apparatus according to claim 4, further comprising a scribe head movable in a first direction, wherein the first scribe tool and the second scribe tool are provided. The scribe heads are arranged in a second direction orthogonal to the first direction.

請求項6の発明は、請求項5に記載のパターニング加工装置であって、前記一のスクライブヘッドに複数の前記第1のスクライブツールと複数の前記第2のスクライブツールとを等ピッチで備え、前記複数の前記第1のスクライブツールによってそれぞれに前記第1の加工溝が形成された複数の前記加工溝形成対象位置において、前記複数の前記第2のスクライブツールによってそれぞれの前記第1の加工溝に対し重畳的に前記第2の加工溝を形成する、ことを特徴とする。   The invention of claim 6 is the patterning processing apparatus according to claim 5, wherein the one scribe head includes a plurality of the first scribe tools and a plurality of the second scribe tools at an equal pitch, Each of the first machining grooves by the plurality of second scribe tools at the plurality of machining groove formation target positions where the first machining grooves are respectively formed by the plurality of first scribe tools. The second machining groove is formed in a superimposed manner.

請求項7の発明は、請求項5または請求項6に記載のパターニング加工装置であって、
前記第1のスクライブツールと前記第2のスクライブツールとが、前記スクライブヘッドに同時にまたは選択的に加工溝を形成可能に設けられてなり、前記一のスクライブヘッドを前記第1の方向に移動させることで、第1の前記加工溝形成対象位置における前記第1のスクライブツールによる前記第1の加工溝の形成と、先に前記第1の加工溝が形成されてなる第2の前記加工溝形成対象位置における前記第2のスクライブツールによる前記第2の加工溝の形成とを同時に行える、ことを特徴とする。
The invention of claim 7 is the patterning processing apparatus according to claim 5 or 6,
The first scribe tool and the second scribe tool are provided in the scribe head so as to form a processing groove simultaneously or selectively, and the one scribe head is moved in the first direction. Thus, the first machining groove is formed by the first scribe tool at the first machining groove formation target position, and the second machining groove is formed by first forming the first machining groove. The second machining groove can be formed simultaneously with the second scribe tool at a target position.

請求項1ないし請求項7の発明によれば、スクライブ加工により線状の加工溝を形成する場合において、所望する幅よりも狭い加工溝を形成する第1スクライブツールを用いたスクライブ加工を加工溝形成対象位置に対して行った後に、所望する幅の加工溝を形成する第2スクライブツールを用いたスクライブ加工を重畳的に行うことにより、形状の良好な加工溝を形成することが出来る。   According to invention of Claim 1 thru | or 7, when forming a linear process groove | channel by scribe process, the scribe process using the 1st scribe tool which forms a process groove narrower than desired width | variety is processed groove By performing the scribing process using the second scribing tool for forming a processing groove having a desired width after the formation of the formation target position, a processing groove having a good shape can be formed.

パターニング加工装置1の斜視図である。1 is a perspective view of a patterning apparatus 1. FIG. ヘッド保持部5近傍の拡大斜視図である。4 is an enlarged perspective view of the vicinity of a head holding unit 5. FIG. スクライブヘッド10の外観斜視図である。1 is an external perspective view of a scribe head 10. FIG. コントローラ8の機能的構成を示すブロック図である。3 is a block diagram showing a functional configuration of a controller 8. FIG. スクライブヘッド10に保持されてなるスクライブツール11の種類および配置を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the kind and arrangement | positioning of the scribe tool 11 hold | maintained at the scribe head 10. FIG. コントローラ8の機能的構成を示すブロック図である。3 is a block diagram showing a functional configuration of a controller 8. FIG. 2段階加工の様子を模式的に示す図である。It is a figure which shows the mode of a two-stage process typically. 2段階加工によって形成した加工溝Lの観察像である。It is an observation image of the processing groove L formed by the two-step processing. 第2スクライブツール112のみを用いて形成した加工溝L’の観察像である。It is an observation image of the processing groove L ′ formed using only the second scribe tool 112.

<パターニング加工装置の概略構成>
図1は本発明の実施の形態に係るパターニング加工装置1の斜視図である。パターニング加工装置1は、平板状の被加工物である基板Wの表面を線状にスクライブ(切削除去)して加工溝(スクライブ溝)を形成するスクライブ加工を行う装置であり、特に、太陽電池パネルを形成するための太陽電池用基板の一方主面に、あらかじめ形成された複数の溝のそれぞれに沿って加工溝を形成するパターニング加工を行う場合に好適に使用される装置である。なお、本実施の形態においては、係る太陽電池用基板を含め、基板Wとしては、ガラス基板などの下地基板上に、例えばモリブデン(Mo)膜その他の薄膜層が形成されたものを含むものとする。また、そのような薄膜層が形成された基板Wにおいては、該薄膜層が形成された側がその表面であるとする。
<Schematic configuration of patterning apparatus>
FIG. 1 is a perspective view of a patterning apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. The patterning apparatus 1 is an apparatus that performs a scribing process for forming a processing groove (scribing groove) by linearly scribing (cutting and removing) the surface of the substrate W, which is a flat plate-shaped workpiece, and particularly a solar cell. The apparatus is preferably used when patterning is performed to form a processing groove along each of a plurality of grooves formed in advance on one main surface of a solar cell substrate for forming a panel. In this embodiment, the substrate W including such a solar cell substrate includes a substrate in which a thin film layer such as a molybdenum (Mo) film is formed on a base substrate such as a glass substrate. Moreover, in the board | substrate W in which such a thin film layer was formed, suppose that the side in which this thin film layer was formed is the surface.

本実施の形態に係るパターニング加工装置1は、機械的構成要素として、基板Wを水平面内の一方向に搬送する2つの搬送機構2(上流側搬送機構2Aおよび下流側搬送機構2B)と、1対のテーブルベース3(3a、3b)と、加工時に基板Wを支持するテーブル4と、基板Wのスクライブ加工を担うスクライブヘッド10(図2および図3参照)が取り付けられたヘッド保持部5と、ヘッド保持部5を案内するブリッジ6と、搬送機構2、テーブルベース3、およびブリッジ6を下方から支持する基台7とを主として備える。図1においては、ヘッド保持部5の移動方向をX軸方向とし、基板Wの搬送方向をY軸方向とし、鉛直方向をZ軸方向とする右手系のXYZ座標を付している。なお、図1においてはスクライブヘッド10を含むヘッド保持部5の詳細な図示を省略している。   The patterning processing apparatus 1 according to the present embodiment includes, as mechanical components, two transport mechanisms 2 (an upstream transport mechanism 2A and a downstream transport mechanism 2B) that transport the substrate W in one direction in a horizontal plane, and 1 A pair of table bases 3 (3a, 3b), a table 4 that supports the substrate W during processing, and a head holding unit 5 to which a scribe head 10 (see FIGS. 2 and 3) that performs scribing processing of the substrate W is attached A bridge 6 that guides the head holding unit 5 and a base 7 that supports the transport mechanism 2, the table base 3, and the bridge 6 from below are mainly provided. In FIG. 1, the right-handed XYZ coordinates are given, in which the moving direction of the head holding unit 5 is the X-axis direction, the transport direction of the substrate W is the Y-axis direction, and the vertical direction is the Z-axis direction. In FIG. 1, the detailed illustration of the head holding unit 5 including the scribe head 10 is omitted.

さらに、図1においては図示を省略しているが、パターニング加工装置1には、各部の動作を制御するコントローラ8が付随する(図6参照)。コントローラ8の詳細については後述する。   Furthermore, although not shown in FIG. 1, the patterning apparatus 1 is accompanied by a controller 8 that controls the operation of each part (see FIG. 6). Details of the controller 8 will be described later.

上流側搬送機構2Aおよび下流側搬送機構2Bは、基台7上においてテーブル4を挟んで設けられており、前者が主として加工前の基板W(W1)の搬送を担い、後者が主として加工後の基板W(W2)の搬送を担う。上流側搬送機構2Aおよび下流側搬送機構2Bはいずれも、YZ平面に平行な矩形状をなし、かつ、Y軸方向に長手方向を有する複数の搬送プレート21を、X軸方向において等間隔に離間配置させることによって構成されてなる。図1においては、それぞれの搬送機構2が4つの搬送プレート21を備える態様を例示してなる。それぞれの搬送プレート21のYZ平面に平行な側面21aには、Z軸方向に昇降自在な複数の搬送ローラ22がY軸方向に沿って等間隔に離間配置されてなる。また、搬送プレート21の上端面21bには、複数のエア噴出部23がY軸方向において等間隔に離間配置されてなる。   The upstream side transport mechanism 2A and the downstream side transport mechanism 2B are provided on the base 7 with the table 4 sandwiched between them. Responsible for carrying the substrate W (W2). Each of the upstream side transport mechanism 2A and the downstream side transport mechanism 2B has a rectangular shape parallel to the YZ plane, and a plurality of transport plates 21 having a longitudinal direction in the Y-axis direction are spaced apart at equal intervals in the X-axis direction. It is configured by arranging them. In FIG. 1, an example in which each transport mechanism 2 includes four transport plates 21 is illustrated. On the side surface 21a parallel to the YZ plane of each transport plate 21, a plurality of transport rollers 22 that can be moved up and down in the Z-axis direction are spaced apart at equal intervals along the Y-axis direction. A plurality of air ejection portions 23 are arranged on the upper end surface 21b of the transport plate 21 at regular intervals in the Y-axis direction.

テーブルベース3(3a、3b)は、水平面内において搬送機構2を挟む態様にて対向配置されてなり、両者の間には、テーブル4が、搬送機構2による搬送方向と直交するように架設されてなる。   The table bases 3 (3a, 3b) are arranged to face each other with the transport mechanism 2 sandwiched in a horizontal plane, and the table 4 is installed between them so as to be orthogonal to the transport direction by the transport mechanism 2. It becomes.

ブリッジ6は、X軸方向における基台7の最外側(両端側)においてZ軸正方向に延在する1対の支柱61(61a、61b)と、これら1対の支柱61の間に架け渡されてなることでX軸方向に長手方向を有するビーム62と、両端に枠部を備えた中空角柱状をなすとともに内部にビーム62が挿嵌されてなり、図示しないリニアモータ機構によって駆動されることによりX軸方向に移動自在とされてなるリニアスライダー63とを備える。   The bridge 6 spans between a pair of struts 61 (61a, 61b) extending in the positive direction of the Z-axis on the outermost side (both ends) of the base 7 in the X-axis direction and the pair of struts 61. Thus, a beam 62 having a longitudinal direction in the X-axis direction and a hollow prism having a frame portion at both ends and the beam 62 are inserted and driven by a linear motor mechanism (not shown). Thus, a linear slider 63 that is movable in the X-axis direction is provided.

また、リニアスライダー63の−Y側の側面には、ヘッド保持部5が、図示しないモータで駆動される昇降機構64によって昇降自在な態様にて付設されてなる。すなわち、ヘッド保持部5は、ビーム62に沿ってリニアスライダー63が移動することによりX軸方向に移動自在とされてなるとともに、昇降機構64の昇降動作によりZ軸方向に昇降自在とされてなる。ヘッド保持部5およびスクライブヘッド10の詳細な構成については後述する。   Further, the head holding portion 5 is attached to the side surface on the −Y side of the linear slider 63 in a manner that it can be raised and lowered by an elevating mechanism 64 driven by a motor (not shown). That is, the head holding unit 5 is movable in the X-axis direction when the linear slider 63 moves along the beam 62 and can be moved up and down in the Z-axis direction by the lifting and lowering operation of the lifting mechanism 64. . Detailed configurations of the head holding unit 5 and the scribe head 10 will be described later.

係る構成を有するパターニング加工装置1においては、基板Wを搬送する際、搬送機構2のそれぞれの搬送ローラ22が、その上端部分を搬送プレート21の上端面21bよりも突出するように上昇させたうえで、回転状態とされる。係る状態の搬送ローラ22の上に基板Wが載置されると、搬送ローラ22は基板Wを下方から支持しつつ回転する。これにより、基板Wの搬送が実現される。   In the patterning apparatus 1 having such a configuration, when transporting the substrate W, each transport roller 22 of the transport mechanism 2 raises its upper end portion so as to protrude from the upper end surface 21 b of the transport plate 21. Thus, the rotation state is established. When the substrate W is placed on the transport roller 22 in such a state, the transport roller 22 rotates while supporting the substrate W from below. Thereby, the conveyance of the substrate W is realized.

一方、基板Wに対して加工を行う際には、基板Wの加工対象部位がヘッド保持部5の直下に到達した時点で搬送ローラ22はその回転を停止するとともに基板Wを支持した状態で下降する。これにより、基板Wのうちテーブル4の上方に位置している箇所は、テーブル4によって下方から接触支持されるようになり、それ以外の箇所は、図示しない供給源から供給され、エア噴出部23から鉛直上方に向けて噴出されるエアによって、下方から非接触にて支持されるようになる。   On the other hand, when processing the substrate W, the conveyance roller 22 stops rotating and descends while supporting the substrate W when the processing target portion of the substrate W reaches just below the head holding unit 5. To do. As a result, the portion of the substrate W positioned above the table 4 is supported and supported from below by the table 4, and the other portions are supplied from a supply source (not shown), and the air ejection portion 23. Is supported in a non-contact manner from below by the air jetted vertically upward.

<ヘッド保持部の構成>
図2は、パターニング加工装置1に備わるヘッド保持部5近傍の拡大斜視図である。ヘッド保持部5は、その最下端部に取り付けられたスクライブヘッド10によって基板Wに加工溝を形成する部位である。スクライブヘッド10には、先端が刃先11aとなった複数のスクライブツール11がY軸方向に所定の間隔で列設されてなる。パターニング加工装置1は、刃先11aを基板Wと接触させた状態でリニアスライダー63をX軸方向に移動させることにより、基板Wの刃先11aとの接触部分をスクライブ(切削除去)して基板Wに複数の加工溝を等間隔に形成できるようになっている。図2においては、10本のスクライブツール11がヘッド部に備わる場合を例示している(図3においても同様)。
<Configuration of head holding unit>
FIG. 2 is an enlarged perspective view of the vicinity of the head holding unit 5 provided in the patterning apparatus 1. The head holding part 5 is a part where a processing groove is formed in the substrate W by the scribe head 10 attached to the lowermost end part. The scribe head 10 includes a plurality of scribe tools 11 whose tips are cutting edges 11a arranged in a Y-axis direction at predetermined intervals. The patterning apparatus 1 moves the linear slider 63 in the X-axis direction in a state where the blade edge 11a is in contact with the substrate W, thereby scribing (cutting off) the contact portion of the substrate W with the blade edge 11a. A plurality of processed grooves can be formed at equal intervals. FIG. 2 illustrates a case where ten scribe tools 11 are provided in the head portion (the same applies to FIG. 3).

ヘッド保持部5は、リニアスライダー63に付設されるフレーム51と、フレーム51の底部51a上に設けられた水平位置調整機構52と、スクライブヘッド10を支持しつつその姿勢を調整する姿勢調整機構53と、水平位置調整機構52と姿勢調整機構53とを接続する接続部54とを主として備える。   The head holding unit 5 includes a frame 51 attached to the linear slider 63, a horizontal position adjusting mechanism 52 provided on the bottom 51a of the frame 51, and an attitude adjusting mechanism 53 that adjusts the attitude of the scribe head 10 while supporting it. And a connecting portion 54 for connecting the horizontal position adjusting mechanism 52 and the posture adjusting mechanism 53.

フレーム51は、XY平面に平行な底部51aと、底部51aからZ軸正方向に立設し、X軸方向に離間する2つの側部51b、51cと、底部51aに対しZ軸正方向に立設するとともに側部51b、51cとも直交する奥部51dとの4つの矩形状の板状部材によって一体構成されてなる。このうち、奥部51dのリニアスライダー63と対向する側の面には、上述の昇降機構64が付設されてなる。昇降機構64が、リニアスライダー63に設けられた、Z軸方向に長手方向を有しかつY軸方向において離間配置されてなる1対のガイドレール64a、64bに沿って案内されることで、スクライブヘッド10を含むヘッド保持部5全体が、リニアスライダー63に対して昇降するようになっている。   The frame 51 is erected in the Z-axis positive direction with respect to the bottom 51a parallel to the XY plane, the two side parts 51b and 51c that are spaced apart from the bottom 51a in the Z-axis positive direction, and spaced apart in the X-axis direction. And is integrally formed by four rectangular plate-like members having a back part 51d which is orthogonal to the side parts 51b and 51c. Of these, the above-described lifting mechanism 64 is attached to the surface of the back portion 51d facing the linear slider 63. The elevating mechanism 64 is guided along a pair of guide rails 64 a and 64 b provided on the linear slider 63 and having a longitudinal direction in the Z-axis direction and spaced apart in the Y-axis direction. The entire head holding portion 5 including the head 10 is moved up and down with respect to the linear slider 63.

水平位置調整機構52は、図示しないモータによって駆動され、フレーム51の底部51a上においてX軸方向に離間させて配置された1対のガイドレール52a、52bに案内されることで、フレーム51に対しY軸方向に移動自在とされてなる部位である。   The horizontal position adjusting mechanism 52 is driven by a motor (not shown) and is guided by a pair of guide rails 52a and 52b that are spaced apart from each other in the X-axis direction on the bottom 51a of the frame 51. This is a part that is movable in the Y-axis direction.

また、姿勢調整機構53は、回動軸53aと、2つの補助軸53b、53cと、1対のヘッド支持軸53d(図2においては一方のみ図示)と、第1ないし第4ロッド53e〜53hとを備える。回動軸53a、補助軸53b、53c、および、ヘッド支持軸53dはいずれも、Y軸方向に延在する軸部材である。一方、第1ないし第4ロッド53e〜53hは、Y軸方向から側面視した場合に、第1ロッド53eと第3ロッド53gとを短辺とし、第2ロッド53fと第4ロッド53hとを長辺とする平行四辺形をなすように配置されてなる。第2ロッド53fおよび第4ロッド53hは、フレーム51の底部51aに設けられた貫通孔51hを貫通してなる。   The posture adjusting mechanism 53 includes a rotation shaft 53a, two auxiliary shafts 53b and 53c, a pair of head support shafts 53d (only one is shown in FIG. 2), and first to fourth rods 53e to 53h. With. The rotation shaft 53a, the auxiliary shafts 53b and 53c, and the head support shaft 53d are all shaft members that extend in the Y-axis direction. On the other hand, the first to fourth rods 53e to 53h have the first rod 53e and the third rod 53g as short sides and the second rod 53f and the fourth rod 53h as long when viewed from the side in the Y-axis direction. It is arranged to form a parallelogram with sides. The second rod 53f and the fourth rod 53h pass through a through hole 51h provided in the bottom 51a of the frame 51.

より詳細には、回動軸53aは、接続部54からY軸方向負側に延在するとともに、第1ロッド53eの一方端部(X軸方向正側)に固設されてなる。接続部54には図示しない回動駆動部が備わっており、第1ロッド53eは、係る回動駆動部の作用によって、回動軸53aを回動中心として回動自在とされてなる。   More specifically, the rotation shaft 53a extends from the connecting portion 54 to the Y axis direction negative side, and is fixed to one end portion (X axis direction positive side) of the first rod 53e. The connecting portion 54 is provided with a rotation driving portion (not shown), and the first rod 53e is rotatable about the rotation shaft 53a by the action of the rotation driving portion.

補助軸53bは、第1ロッド53eの他方端部(X軸方向負側)に、Y軸負方向に延在する態様にて固設されてなるとともに、第2ロッド53fの上方端部に軸支されてなる。   The auxiliary shaft 53b is fixed to the other end (X-axis direction negative side) of the first rod 53e in a manner extending in the Y-axis negative direction, and the auxiliary shaft 53b is attached to the upper end of the second rod 53f. It is supported.

補助軸53cは、第3ロッド53gの一方端部(X軸方向負側)に、Y軸負方向に延在する態様にて固設されてなるとともに、第2ロッド53fの下方端部に軸支されてなる。   The auxiliary shaft 53c is fixed to one end portion (X-axis direction negative side) of the third rod 53g so as to extend in the Y-axis negative direction, and is attached to the lower end portion of the second rod 53f. It is supported.

支持軸53dはそれぞれ、スクライブヘッド10の上端部分10bに設けられた孔部である支持軸取付部12に、Y軸方向に延在する態様にて固設されてなり、1対の第4ロッド53hに軸支されてなる。ただし、Y軸方向負側において、支持軸53dは、第4ロッド53hを貫通し、その先端部は第3ロッド53gの他方端部(X軸方向正側)に固設されてなる。これにより、スクライブヘッド10および第3ロッド53gは、第4ロッド53hに支持されたヘッド支持軸53dを回動中心として回動自在とされてなる。   Each of the support shafts 53d is fixed to a support shaft attachment portion 12 which is a hole provided in the upper end portion 10b of the scribe head 10 in a manner extending in the Y-axis direction, and a pair of fourth rods It is pivotally supported by 53h. However, on the Y axis direction negative side, the support shaft 53d penetrates the fourth rod 53h, and its tip is fixed to the other end (X axis direction positive side) of the third rod 53g. Thereby, the scribe head 10 and the third rod 53g are rotatable about the head support shaft 53d supported by the fourth rod 53h.

以上の構成を有するヘッド保持部5においては、回動軸53aを回動中心として第1ロッド53eが回動させられると、係る回動動作に連動して、第2ロッド53fがZ軸方向に上下動し、係る上下動作に連動して、第4ロッド53hに支持された第3ロッド53gおよびスクライブヘッド10がヘッド支持軸53dを回動軸として回動する。それゆえ、第1ロッド53eの回動角度を調整することで、スクライブヘッド10の姿勢の調整、つまりは、基板Wとスクライブツール11のなす角度を調整することが出来るようになっている。なお、好ましくは、スクライブ加工の際、スクライブヘッド10の姿勢は、スクライブツール11が加工方向に対して前傾するように定められる。   In the head holding portion 5 having the above configuration, when the first rod 53e is rotated about the rotation shaft 53a, the second rod 53f is moved in the Z-axis direction in conjunction with the rotation operation. The third rod 53g supported by the fourth rod 53h and the scribing head 10 rotate about the head support shaft 53d as a rotation axis in conjunction with the vertical movement. Therefore, by adjusting the rotation angle of the first rod 53e, the posture of the scribe head 10 can be adjusted, that is, the angle formed between the substrate W and the scribe tool 11 can be adjusted. Preferably, during the scribing process, the attitude of the scribing head 10 is determined so that the scribing tool 11 tilts forward with respect to the processing direction.

また、スクライブヘッド10を支持してなる姿勢調整機構53と接続部54によって接続されてなる水平位置調整機構52を、ガイドレール52a、52bに沿って移動させることにより、スクライブヘッド10のY軸方向における位置の微調整(スクライブツール11のオフセット)を行えるようになっている。   Further, the horizontal position adjusting mechanism 52 connected by the connecting portion 54 and the posture adjusting mechanism 53 that supports the scribe head 10 is moved along the guide rails 52a and 52b, whereby the scribe head 10 is moved in the Y-axis direction. Can be finely adjusted (offset of the scribe tool 11).

<スクライブヘッドの構成>
図3は、スクライブヘッド10の外観斜視図である。なお、上述のように、スクライブヘッド10はヘッド保持部5に対して回動可能とされてなるので、スクライブヘッド10の姿勢は必ずしも一定しないが、スクライブヘッド10は複数のスクライブツール11の列設方向が図1および図2に示すXYZ座標系におけるY軸方向に一致するようにヘッド保持部5に保持されるので、図3においても便宜上、係る列設方向がY軸方向であるとしたXYZ座標系を付与している。また、図4は、スクライブヘッド10のZX断面図である。図5は、スクライブヘッド10に保持されてなるスクライブツール11の種類および配置を模式的に示す図である。
<Configuration of scribe head>
FIG. 3 is an external perspective view of the scribe head 10. As described above, since the scribe head 10 is rotatable with respect to the head holding unit 5, the posture of the scribe head 10 is not necessarily constant, but the scribe head 10 is arranged in a row of a plurality of scribe tools 11. Since the direction is held by the head holding unit 5 so as to coincide with the Y-axis direction in the XYZ coordinate system shown in FIGS. 1 and 2, XYZ in which the arrangement direction is the Y-axis direction in FIG. 3 for convenience. A coordinate system is assigned. FIG. 4 is a ZX sectional view of the scribe head 10. FIG. 5 is a diagram schematically showing the type and arrangement of the scribe tool 11 held by the scribe head 10.

スクライブヘッド10は、それぞれがスクライブツール11を保持する複数のツールホルダー13と、支持軸取付部12を備えるヘッド本体部14とを備える。より詳細には、スクライブヘッド10においては、ヘッド本体部14のX軸方向負側かつZ軸方向負側の一部がスリット15によって切り欠かれる態様にて、複数のツールホルダー13が構成されてなる。ただし、ヘッド本体部14とそれぞれのツールホルダー13とは、両端を薄肉化された2つの連結部16a、16bによって連結されている。これにより、それぞれのツールホルダー13は弾性を有するものとなっている。   The scribe head 10 includes a plurality of tool holders 13 each holding a scribe tool 11, and a head main body portion 14 including a support shaft attachment portion 12. More specifically, in the scribe head 10, the plurality of tool holders 13 are configured in such a manner that a part on the negative side in the X-axis direction and the negative side in the Z-axis direction of the head main body 14 is cut out by the slit 15. Become. However, the head main body 14 and each tool holder 13 are connected by two connecting portions 16a and 16b whose both ends are thinned. Thereby, each tool holder 13 has elasticity.

スクライブツール11は、それぞれのツールホルダー13のZ軸方向負側の底部に設けられた取付孔13hに対し、刃先11aがZ軸方向負側の端部となる姿勢にて、着脱自在に取り付けられてなる。より詳細には、スクライブツール11が磁性材料からなるとともに、該取付孔13h内の奥部には磁石13mが備わっており、スクライブツール11は磁力によって刃先11aとは反対側をツールホルダー13によって保持されるようになっている。   The scribe tool 11 is detachably attached to the attachment hole 13h provided in the bottom portion on the Z axis direction negative side of each tool holder 13 in a posture in which the blade edge 11a becomes the end portion on the Z axis direction negative side. It becomes. More specifically, the scribe tool 11 is made of a magnetic material, and a magnet 13m is provided in the inner part of the mounting hole 13h. The scribe tool 11 is held by the tool holder 13 on the side opposite to the blade edge 11a by magnetic force. It has come to be.

なお、刃先11aの形状は、基板Wの材質や、形成しようとする加工溝のサイズなどによって適宜に選択されてよい。例えば、加工時に基板Wと線接触する矩形状であってもよいし、2点で接触するアーチ状であってもよいし、その他の形状であってもよい。   The shape of the blade edge 11a may be appropriately selected depending on the material of the substrate W, the size of the processed groove to be formed, and the like. For example, it may be a rectangular shape that makes line contact with the substrate W during processing, an arch shape that makes contact with two points, or other shapes.

一方、ヘッド本体部14の内部には、それぞれのツールホルダー13に対応させて給気経路14aが設けられ、さらに、給気経路14aの中にはピストン14bが設けられている。ピストン14bの下端部(Z軸方向負側の端部)はツールホルダー13に当接している。さらに、ヘッド本体部14のX軸方向負側には、それぞれのツールホルダー13に対応させて複数の供給口17が設けられてなる。それぞれの給気経路14aには供給口17を介して図3において図示しない圧縮空気供給機構18から圧縮空気を送り込むことができるようになっている。これにより、対応する供給口17から送り込む圧縮空気の量を(圧縮空気がピストン14bに与える圧力を)制御することでそれぞれのツールホルダー13を給気経路14a内で昇降させ、該ツールホルダー13に保持されてなるスクライブツール11の高さ位置、もしくは、加工時にスクライブツール11が基板Wに接触する際に基板Wに与える力を微調整することが可能となっている。   On the other hand, an air supply path 14a is provided in the head main body 14 so as to correspond to each tool holder 13, and a piston 14b is provided in the air supply path 14a. The lower end (end on the negative side in the Z-axis direction) of the piston 14b is in contact with the tool holder 13. Further, a plurality of supply ports 17 are provided on the negative side in the X-axis direction of the head main body 14 so as to correspond to the respective tool holders 13. Compressed air can be fed into each air supply path 14a from a compressed air supply mechanism 18 (not shown in FIG. 3) via a supply port 17. Thus, by controlling the amount of compressed air sent from the corresponding supply port 17 (the pressure applied to the piston 14b by the compressed air), each tool holder 13 is moved up and down in the air supply path 14a. The height position of the held scribe tool 11 or the force applied to the substrate W when the scribe tool 11 contacts the substrate W during processing can be finely adjusted.

なお、それぞれのツールホルダー13とヘッド本体部14との間のスリット15が一部において略三角形状に設けられることによって、それぞれのツールホルダー13には、切り欠きヘッド本体部14に対して側方より突出する三角形状の突出部13aが設けられてなる。係る突出部13aが設けられてなることで、それぞれのスクライブツール11の可動範囲および先端部が基板Wに与える力は規制されてなる。   The slits 15 between the respective tool holders 13 and the head main body 14 are partially provided in a substantially triangular shape, so that the respective tool holders 13 are lateral to the notch head main body 14. A triangular protrusion 13a that protrudes further is provided. By providing the protrusion 13a, the movable range of each scribe tool 11 and the force applied to the substrate W by the front end are restricted.

また、図3においては図示の簡単のために、全てのスクライブツール11を区別せずに示しているが、本実施の形態に係るパターニング加工装置1においては、図5(a)に示すように、形成する加工溝の幅が相異なる2種類のスクライブツール11がスクライブヘッド10に取り付けられてなる。これは、後述する2段階加工を実現するための構成である。以降、形成する加工溝の幅が相対的に小さいスクライブツール11を特に第1スクライブツール111と称し、形成する加工溝の幅が相対的に大きいスクライブツール11を特に第2スクライブツール112と称する。より詳細には、第2スクライブツール112としては所望する幅の加工溝を形成可能なものを用い、第1スクライブツール111としては、それよりも幅の細い加工溝を形成するものを用いる。図5に示す場合においては、スクライブヘッド10に5つの第1スクライブツール111と5つの第2スクライブツール112とが備わる場合を例示している。例えば、30μm〜200μm程度の幅を有する加工溝の形成を所望する場合であれば、第1スクライブツール111としては、20μm〜130μm程度の幅を有する加工溝を形成可能なものを用いるのが好適である。   In FIG. 3, for the sake of simplicity of illustration, all the scribe tools 11 are shown without distinction. However, in the patterning apparatus 1 according to the present embodiment, as shown in FIG. Two types of scribe tools 11 having different widths of the processing grooves to be formed are attached to the scribe head 10. This is a configuration for realizing the two-stage machining described later. Hereinafter, the scribe tool 11 having a relatively small machining groove width is particularly referred to as a first scribe tool 111, and the scribe tool 11 having a relatively large machining groove width is particularly referred to as a second scribe tool 112. More specifically, as the second scribe tool 112, a tool capable of forming a processing groove having a desired width is used, and as the first scribe tool 111, a tool forming a processing groove having a narrower width than that is used. In the case shown in FIG. 5, the case where the scribe head 10 is provided with five first scribe tools 111 and five second scribe tools 112 is illustrated. For example, if it is desired to form a processed groove having a width of about 30 μm to 200 μm, it is preferable to use a tool capable of forming a processed groove having a width of about 20 μm to 130 μm as the first scribe tool 111. It is.

なお、第1スクライブツール111と第2スクライブツール112とは、前者の方が後者よりも、上流側搬送機構2Aによって搬送されてきた基板Wに近い位置(スクライブヘッド10のY軸方向負側)に設けられる。また、種類によらず全てのスクライブツール11は同一のピッチpで列設されてなる。   The first scribe tool 111 and the second scribe tool 112 are located closer to the substrate W transported by the upstream transport mechanism 2A than the latter (the negative side in the Y-axis direction of the scribe head 10). Is provided. All the scribe tools 11 are arranged at the same pitch p regardless of the type.

加えて、個々のスクライブツール11はピストン14bの昇降によって昇降自在とされてなるが、本実施の形態においては、図5(a)に示すような、第1スクライブツール111と第2スクライブツール112を全て下降させて全てのスクライブツール11によって同時に加工溝を形成する態様と、図5(b)に示すような、第1スクライブツール111のみを下降させて第1スクライブツール111のみで加工溝を形成する態様と、反対に、図5(c)に示すような、第2スクライブツール112のみを下降させて第2スクライブツール112のみで加工溝を形成する態様とを、一の基板Wに対する加工を行う間に切替可能になっている。   In addition, each scribe tool 11 can be raised and lowered by raising and lowering the piston 14b. In the present embodiment, the first scribe tool 111 and the second scribe tool 112 as shown in FIG. All the scribe tools 11 are lowered to form machining grooves simultaneously with all the scribe tools 11 and only the first scribe tool 111 is lowered and the machining grooves are formed only with the first scribe tool 111 as shown in FIG. On the contrary, a mode in which only the second scribe tool 112 is lowered and a processing groove is formed only by the second scribe tool 112 as shown in FIG. It is possible to switch while performing.

<コントローラ>
図6は、コントローラ8の機能的構成を示すブロック図である。コントローラ8は、パターニング加工装置1の各部の動作や、オペレータによる入出力操作や、それらの内容の表示や、加工位置データの生成などを制御する。係るコントローラ8は、装置全体の動作を統括制御する主制御部80と、搬送機構2の動作を制御する搬送制御部81と、リニアスライダー63の動作を制御するスライダー制御部82と、ヘッド保持部5およびスクライブヘッド10に関係する各部の動作、つまりは、昇降機構64、水平位置調整機構52、姿勢調整機構53、および圧縮空気供給機構18の動作を制御するヘッド制御部83と、オペレータによる種々の入力操作を可能とするインタフェース(キーボード、マウス、タッチパネルなど)である操作部84と、パターニング加工装置1を動作させる際の処理メニューや実際の動作内容などをオペレータに視認可能に表示するディスプレイ等の表示部85と、パターニング加工装置1の動作プログラムや、種々の加工条件などが記憶されるハードディスク等の記憶部86と、各部の動作に伴って一時的に生成されたデータが保持されるRAM等のメモリ87と、基板Wを加工する際の加工対象位置を記述してなる加工位置データを生成する加工位置データ生成部88とを備える。
<Controller>
FIG. 6 is a block diagram showing a functional configuration of the controller 8. The controller 8 controls the operation of each part of the patterning apparatus 1, input / output operations by the operator, display of their contents, generation of processing position data, and the like. The controller 8 includes a main control unit 80 that controls the overall operation of the apparatus, a transport control unit 81 that controls the operation of the transport mechanism 2, a slider control unit 82 that controls the operation of the linear slider 63, and a head holding unit. 5 and the operation of each part related to the scribe head 10, that is, the head control unit 83 that controls the operation of the elevating mechanism 64, the horizontal position adjusting mechanism 52, the posture adjusting mechanism 53, and the compressed air supply mechanism 18; An operation unit 84 that is an interface (such as a keyboard, a mouse, and a touch panel) that enables input operation of the display, a display for displaying a processing menu when the patterning processing apparatus 1 is operated, an actual operation content, and the like so as to be visible to the operator Display unit 85, the operation program of the patterning processing apparatus 1, various processing conditions, etc. A storage unit 86 such as a hard disk to be stored, a memory 87 such as a RAM in which data temporarily generated in accordance with the operation of each unit is stored, and a processing target position when processing the substrate W are described. A machining position data generation unit 88 that generates machining position data is provided.

以上のような構成を有するコントローラ8は、例えば、汎用のコンピュータ(パーソナルコンピュータなど)によって好適に実現される。   The controller 8 having the above configuration is preferably realized by, for example, a general-purpose computer (such as a personal computer).

<パターニング加工装置の基本動作>
上述のような構成を有するパターニング加工装置1においては、記憶部86に記憶されている図示しない動作プログラムがコントローラ8において実行され、操作部84を通じて与えられた(あるいは記憶部86にあらかじめ記憶されていた)加工条件および加工位置データ生成部88において生成された加工位置データに応じて主制御部80が搬送制御部81、スライダー制御部82、およびヘッド制御部83を通じて装置各部の動作を制御することにより、加工対象物たる基板Wに対してスクライブ加工を行うことが出来るようになっている。
<Basic operation of patterning device>
In the patterning processing apparatus 1 having the above-described configuration, an operation program (not shown) stored in the storage unit 86 is executed in the controller 8 and given through the operation unit 84 (or stored in advance in the storage unit 86). The main control unit 80 controls the operation of each part of the apparatus through the transport control unit 81, the slider control unit 82, and the head control unit 83 in accordance with the processing conditions and the processing position data generated in the processing position data generation unit 88. Thus, the scribing process can be performed on the substrate W as the processing object.

なお、本実施の形態に係るパターニング加工装置1においては、第1スクライブツール111および第2スクライブツール112のいずれか一方のみあるいは双方を用いたスクライブ加工を行うことが可能であるが、ここでは、それらを区別せずに説明し、使用するスクライブツール11を違える加工である2段階加工については後述する。   In the patterning processing apparatus 1 according to the present embodiment, it is possible to perform scribing using only one or both of the first scribe tool 111 and the second scribe tool 112, but here, These will be described without distinction, and the two-stage machining, which is a machining with a different scribe tool 11 to be used, will be described later.

具体的には、上流側搬送機構2Aの搬送ローラ22上に加工対象物たる基板Wが載置されると、上流側搬送機構2Aが、基板Wを、その表面にあらかじめ定められた被加工位置がテーブル4の上に配置されるように搬送する。   Specifically, when the substrate W, which is the object to be processed, is placed on the transport roller 22 of the upstream transport mechanism 2A, the upstream transport mechanism 2A causes the substrate W to be processed in a predetermined position on the surface thereof. Is placed on the table 4.

一方で、係る態様にて基板Wの配置が完了するまでの間に、スクライブツール11が加工開始位置の上方にスタンバイされる。   On the other hand, the scribe tool 11 is placed on standby above the processing start position until the placement of the substrate W is completed in this mode.

基板Wの搬送が完了すると、昇降機構64および圧縮空気供給機構18によって全てのスクライブツール11の刃先11aの高さ位置が加工溝を形成する高さ位置となるように調整されるとともに、スクライブツール11が加工進行方向に対して前傾するように姿勢調整機構53がスクライブヘッド10を傾斜姿勢とする。   When the transfer of the substrate W is completed, the elevation mechanism 64 and the compressed air supply mechanism 18 adjust the height positions of the cutting edges 11a of all the scribe tools 11 to the height positions where the machining grooves are formed, and the scribe tool The posture adjusting mechanism 53 sets the scribe head 10 in a tilted posture so that 11 is tilted forward with respect to the machining progress direction.

そして、ヘッド保持部5が取り付けられてなるリニアスライダー63がX軸方向を移動すると、それぞれの刃先11aが基板Wに接触することにより基板Wの刃先11aとの接触部分がスクライブ(切削除去)され、基板Wの表面に、X軸方向に延在する複数の加工溝が等間隔に形成される。その際、リニアスライダー63の移動に同期して水平位置調整機構52を動作させることで、Y軸方向におけるスクライブツール11の位置を変動させるようにすれば、Y軸方向に等間隔な複数の曲線状の加工溝が形成される。   When the linear slider 63 to which the head holding unit 5 is attached moves in the X-axis direction, each blade edge 11a comes into contact with the substrate W, so that the contact portion of the substrate W with the blade edge 11a is scribed (cut off). A plurality of processed grooves extending in the X-axis direction are formed at equal intervals on the surface of the substrate W. At this time, if the position of the scribe tool 11 in the Y-axis direction is changed by operating the horizontal position adjusting mechanism 52 in synchronization with the movement of the linear slider 63, a plurality of curves that are equally spaced in the Y-axis direction. A shaped processing groove is formed.

より詳細に言えば、係る場合、スクライブツール11のY軸方向における位置(Y座標値)はX軸方向における位置(X座標値)に対する関数として定められて加工位置データとして記述されてなり、係る加工位置データの記述に従って水平位置調整機構62を動作させることで、Y軸方向におけるスクライブツール11の位置が変化させられる。   More specifically, in this case, the position (Y coordinate value) in the Y-axis direction of the scribe tool 11 is defined as a function with respect to the position (X coordinate value) in the X-axis direction and is described as machining position data. By operating the horizontal position adjusting mechanism 62 in accordance with the description of the processing position data, the position of the scribe tool 11 in the Y-axis direction can be changed.

なお、加工位置データは必ずしも、加工対象位置のY座標値とX座標値との関係が連続関数であるように記述されている必要はなく、所定間隔で違えられた複数のX座標値に対してそれぞれのY座標値が記述されてなる態様であってもよい。すなわち、加工位置データは、代表的な加工対象位置(以下、代表加工対象位置)の座標の集合として記述されていてもよい。複数の加工溝を形成する場合は、それぞれの代表加工対象位置のX座標は同じであることが好ましい。   The processing position data does not necessarily have to be described so that the relationship between the Y coordinate value and the X coordinate value of the processing target position is a continuous function, and for a plurality of X coordinate values that are different at predetermined intervals. In other words, each Y coordinate value may be described. That is, the processing position data may be described as a set of coordinates of a representative processing target position (hereinafter, representative processing target position). When forming a plurality of machining grooves, it is preferable that the X coordinates of the respective representative machining target positions are the same.

加工位置データが代表加工対象位置の座標の集合として与えられる場合、隣り合う代表加工対象位置同士の間は、スクライブツール11は最短距離を直線状に移動しながら加工を行うようになっていてもよいし、所定の規則に従って移動しながら加工を行うようになっていてもよい。例えば、加工の際のリニアスライダー63の移動距離が1000mm〜1500mmであり、幅が数μm〜数十μm程度の加工溝を形成するような場合において、代表加工対象位置同士のX座標値の間隔を数mm〜数十mm程度としたとしても、実用上問題がない精度での加工溝の形成が可能である。   When the processing position data is given as a set of coordinates of representative processing target positions, the scribe tool 11 performs processing while moving the shortest distance linearly between adjacent representative processing target positions. Alternatively, the processing may be performed while moving according to a predetermined rule. For example, when the movement distance of the linear slider 63 during machining is 1000 mm to 1500 mm and a machining groove having a width of about several μm to several tens of μm is formed, the interval between the X coordinate values of the representative machining target positions. Even if the thickness is set to about several mm to several tens of mm, it is possible to form the processing groove with accuracy with no practical problem.

スクライブツール11が加工終了位置に到達すると、リニアスライダー63が停止するとともにスクライブツール11の刃先11aと基板Wとは非接触状態とされる。これにより、一単位分の加工溝の形成が完了する。繰り返し多数の加工溝を形成する場合には、上流側搬送機構2Aおよび下流側搬送機構2Bが、新たな被加工位置がテーブル4上に位置するように基板Wをピッチ送りにて搬送したうえで、上述した一連の加工動作が繰り返される。なお、係る加工の繰り返しに際し、リニアスライダー63は往復動作してもよいし、一方向への動作を繰り返すようにしてもよい。前者の場合は、リニアスライダー63の移動方向が反転する度に、スクライブツール11の姿勢も違えられる。   When the scribe tool 11 reaches the processing end position, the linear slider 63 stops and the cutting edge 11a of the scribe tool 11 and the substrate W are brought into a non-contact state. Thereby, formation of the processing groove for one unit is completed. When a large number of processing grooves are repeatedly formed, the upstream transport mechanism 2A and the downstream transport mechanism 2B transport the substrate W by pitch feed so that a new processing position is positioned on the table 4. The above-described series of processing operations are repeated. Note that when the machining is repeated, the linear slider 63 may reciprocate, or the operation in one direction may be repeated. In the former case, every time the moving direction of the linear slider 63 is reversed, the posture of the scribe tool 11 is also changed.

全ての加工溝の形成が完了すると、下流側搬送機構2Bによって、基板Wが所定の搬出位置にまで搬送される。   When the formation of all the processing grooves is completed, the substrate W is transported to a predetermined unloading position by the downstream transport mechanism 2B.

<2段階加工>
次に、本実施の形態に係るパターニング加工装置1において実現される2段階加工について説明する。図7は、2段階加工の様子を模式的に示す図である。ただし、図7は、図示の簡単のため、スクライブヘッド10に3つの第1スクライブツール111と3つの第2スクライブツール112とが備わっている場合の2段階加工の様子を例示している。また、図7においては加工溝L(1次加工溝L1、2次加工溝L2も同様)が直線状に形成される場合を例示しているが、以下の説明は、曲線状の加工溝が形成される場合にも当てはまる。
<Two-stage processing>
Next, two-stage processing realized in the patterning processing apparatus 1 according to the present embodiment will be described. FIG. 7 is a diagram schematically showing the state of the two-stage processing. However, for the sake of simplicity, FIG. 7 exemplifies the two-stage processing when the scribe head 10 is provided with three first scribe tools 111 and three second scribe tools 112. FIG. 7 illustrates the case where the machining groove L (the same applies to the primary machining groove L1 and the secondary machining groove L2) is formed in a straight line. This also applies when formed.

本実施の形態において行う2段階加工とは、概略的にいえば、同一の加工対象位置に対して、第1スクライブツール111を用いたスクライブ加工と、第2スクライブツール112を用いたスクライブ加工とを順次に行うという加工態様である。   The two-stage machining performed in the present embodiment is, roughly speaking, scribe machining using the first scribe tool 111 and scribe machining using the second scribe tool 112 for the same machining target position. This is a processing mode in which the steps are sequentially performed.

まず、加工開始時には、スクライブヘッド10は、図5(b)に示すような第1スクライブツール111のみを下降させた状態とされる。そして、図7(a)に示すように、最初の加工対象位置を第1スクライブツール111の移動経路に配置した状態でスクライブヘッド10を矢印AR1に示す方向へと移動させることで、第1スクライブツール111により加工溝(1次加工溝)L1が形成されていく。1次加工溝L1は、基板Wに対して形成が所望される加工溝Lの幅よりも小さい幅にて形成される。   First, at the start of machining, the scribe head 10 is in a state where only the first scribe tool 111 as shown in FIG. 5B is lowered. Then, as shown in FIG. 7 (a), the first scribe head 10 is moved in the direction indicated by the arrow AR1 in a state where the first processing target position is arranged on the movement path of the first scribe tool 111. A machining groove (primary machining groove) L1 is formed by the tool 111. The primary processing groove L1 is formed with a width smaller than the width of the processing groove L that is desired to be formed on the substrate W.

なお、矢印AR1にて示した係る場合のスクライブヘッド10の移動方向は、X軸正方向または負方向のいずれであってもよい。いずれの場合も、スクライブツール11が進行方向に対して前傾するように、スクライブヘッド10の姿勢が定められる。   Note that the moving direction of the scribe head 10 in such a case indicated by the arrow AR1 may be either the X-axis positive direction or the negative direction. In any case, the posture of the scribe head 10 is determined so that the scribe tool 11 is tilted forward with respect to the traveling direction.

係る1次加工溝L1の形成が完了すると、スクライブヘッド10は、図5(a)に示すような全てのスクライブツール11を下降させた状態とされる。また、搬送機構2によって、直前に形成した1次加工溝L1(L1a)が、次にスクライブヘッド10を移動させた場合の第2スクライブツール112の移動経路と一致するように、基板Wのピッチ送りが行われる。一般化すれば、第1スクライブツール111と第2スクライブツール112とがそれぞれk(kは自然数)本ずつ備わっている場合、基板Wは距離k・pだけピッチ送りされる。   When the formation of the primary machining groove L1 is completed, the scribe head 10 is brought into a state where all the scribe tools 11 as shown in FIG. Further, the pitch of the substrate W is set so that the primary processing groove L1 (L1a) formed immediately before by the transport mechanism 2 coincides with the movement path of the second scribe tool 112 when the scribe head 10 is moved next. Feeding is performed. Generally speaking, when there are k (k is a natural number) first scribe tools 111 and second scribe tools 112, the substrate W is pitch-fed by a distance k · p.

これらの状態が実現された時点で、図7(b)に示すように、スクライブヘッド10を矢印AR1にて示した直近の移動方向とは反対の矢印AR2に示す方向に移動させる。すると、先に1次加工溝L1(L1a)が形成されていた箇所には、第2スクライブツール112によって、1次加工溝L1aとY軸方向における形成位置が等しい2次加工溝L2が重畳的に形成されていく。このように2次加工溝L2が1次加工溝L1aに重畳したものが、形成が所望された加工溝Lである。   When these states are realized, as shown in FIG. 7B, the scribe head 10 is moved in the direction indicated by the arrow AR2 opposite to the latest movement direction indicated by the arrow AR1. Then, the secondary machining groove L2 having the same formation position in the Y-axis direction as the primary machining groove L1a is superimposed by the second scribe tool 112 at the location where the primary machining groove L1 (L1a) has been previously formed. Will be formed. In this way, the secondary processing groove L2 overlapped with the primary processing groove L1a is the processing groove L desired to be formed.

なおこのとき、第1スクライブツール111は新たに1次加工溝L1(L1b)を形成している。これら1次加工溝L1bと2次加工溝L2とは全て等ピッチに形成される。   At this time, the first scribe tool 111 newly forms a primary processing groove L1 (L1b). These primary machining grooves L1b and secondary machining grooves L2 are all formed at an equal pitch.

以降、同様のスクライブヘッドの往復動作と基板Wのピッチ送りとを繰り返すことで、1次加工溝L1の形成と、これに重畳する2次加工溝L2との形成、つまりは、所望される加工溝Lの形成が繰り返される。   Thereafter, the same reciprocating operation of the scribe head and the pitch feed of the substrate W are repeated to form the primary processing groove L1 and the secondary processing groove L2 overlapping therewith, that is, the desired processing. The formation of the groove L is repeated.

そして、係る繰り返しの結果として、全ての1次加工溝L1の形成対象箇所に1次加工溝L1が形成されると、スクライブヘッド10は、図5(c)に示すような第2スクライブツール112のみを下降させた状態とされたうえで、図7(c)に矢印AR3にて示すように移動される。係る移動が完了すると、全ての加工溝Lの形成が完了したことになる。   As a result of such repetition, when the primary processing grooves L1 are formed at the formation target positions of all the primary processing grooves L1, the scribe head 10 is moved to the second scribe tool 112 as shown in FIG. Only the position is lowered, and is moved as indicated by an arrow AR3 in FIG. When the movement is completed, the formation of all the processing grooves L is completed.

図8は、係る2段階加工によって形成した加工溝Lの観察像である。図8(a)は平面観察像であり、図8(b)は加工方向に垂直な断面観察像である。一方、図9は、対比のために示す、第2スクライブツール112のみを用いて形成した加工溝L’の観察像である。図9(a)は平面観察像であり、図9(b)は加工方向に垂直な断面観察像である。   FIG. 8 is an observation image of the processing groove L formed by the two-step processing. 8A is a planar observation image, and FIG. 8B is a cross-sectional observation image perpendicular to the processing direction. On the other hand, FIG. 9 is an observation image of the processing groove L ′ formed using only the second scribe tool 112 shown for comparison. FIG. 9A is a planar observation image, and FIG. 9B is a cross-sectional observation image perpendicular to the processing direction.

図8と図9とを対比すると、図9に示す加工溝L’は、例えばE1’部のようにはみ出しが生じていたり、E2’部のように側部に凸部や傾斜部が形成されていたり、あるいは底部において薄膜層が除去されずに残っていたりするのに対して、図8に示す加工溝Lは、部分E1、E2に示すように、幅が略一定でかつ側部のエッジがシャープなものとなっている。係る相違は、本実施の形態に係る2段階加工が、形状の良好な加工溝を形成するうえにおいて有効であることを意味している。   8 and FIG. 9 is compared, the processed groove L ′ shown in FIG. 9 is protruded, for example, as in the E1 ′ portion, or has convex portions or inclined portions on the side portions as in the E2 ′ portion. 8 or the thin film layer remains without being removed at the bottom, the processed groove L shown in FIG. 8 has a substantially constant width and a side edge as shown in portions E1 and E2. Is sharp. This difference means that the two-stage machining according to the present embodiment is effective in forming a machined groove having a good shape.

また、本実施の形態に係るパターニング加工装置1は、一のスクライブヘッドに第1スクライブツールと第2スクライブツールとを共に等ピッチで設けられてなることで、該スクライブヘッドの移動のみで2段階加工を行うことが出来る、という点において優れた作用効果を奏するものであるといえる。   In addition, the patterning apparatus 1 according to the present embodiment includes a first scribe tool and a second scribe tool that are provided at an equal pitch on one scribe head, so that only two stages of movement of the scribe head are required. It can be said that the present invention has an excellent effect in that it can be processed.

なお、上述の2段階加工が形状の良好な加工溝を形成するうえにおいて効果的である理由としては、本来所望される幅の加工溝を第2スクライブツール112で形成するに先立って、第1スクライブツール111によって形成対象位置に細い1次加工溝L1をあらかじめ形成しておくことにより、第2スクライブツール112によるスクライブ加工の際に第2スクライブツール112から基板Wの表面の薄膜層に作用する応力が1次加工溝L1存在することで緩和され、必要以上の力を作用させずとも薄膜層が除去されやすくなるからであると考えられる。   The reason why the above-described two-stage processing is effective in forming a processing groove having a good shape is that the first scribing tool 112 is used to form the processing groove having the originally desired width. By forming the narrow primary processing groove L1 in advance at the formation target position by the scribe tool 111, the second scribe tool 112 acts on the thin film layer on the surface of the substrate W during the scribe processing by the second scribe tool 112. It is considered that the stress is relaxed by the presence of the primary processing groove L1, and the thin film layer is easily removed without applying an excessive force.

以上、説明したように、本実施の形態によれば、スクライブ加工により線状の加工溝を形成する場合において、所望する幅よりも狭い加工溝を形成する第1スクライブツールを用いたスクライブ加工を加工対象位置に対して行った後に、所望する幅の加工溝を形成する第2スクライブツールを用いたスクライブ加工を重畳的に行うことにより、形状の良好な加工溝を形成することが出来る。   As described above, according to the present embodiment, when a linear processing groove is formed by scribing, scribing using the first scribe tool that forms a processing groove narrower than a desired width is performed. By performing the scribing process using the second scribing tool for forming a processing groove having a desired width after being performed on the processing target position, a processing groove having a good shape can be formed.

また、一のスクライブヘッドに第1スクライブツールと第2スクライブツールとを共に等ピッチで設けておくことで、該スクライブヘッドの移動のみで2段階加工を行うことが出来る。   Further, by providing both the first scribe tool and the second scribe tool at an equal pitch on one scribe head, two-stage processing can be performed only by moving the scribe head.

1 パターニング加工装置
2 搬送機構
2A 上流側搬送機構
2B 下流側搬送機構
3 テーブルベース
4 テーブル
5 ヘッド保持部
6 ブリッジ
7 基台
8 コントローラ
10 スクライブヘッド
11 スクライブツール
11a (スクライブツールの)刃先
12 支持軸取付部
13 ツールホルダー
13m 磁石
14 ヘッド本体部
14a 給気経路
14b ピストン
21 搬送プレート
22 搬送ローラ
23 エア噴出部
51 フレーム
51h 貫通孔
52 水平位置調整機構
53 姿勢調整機構
53a 回動軸
53b、53c 補助軸
53d ヘッド支持軸
53e〜53h ロッド
62 ビーム
63 リニアスライダー
64 昇降機構
111 第1スクライブツール
112 第2スクライブツール
L 加工溝
L1(L1a、L1b) 1次加工溝
L2 2次加工溝
W 基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Patterning apparatus 2 Conveyance mechanism 2A Upstream conveyance mechanism 2B Downstream conveyance mechanism 3 Table base 4 Table 5 Head holding part 6 Bridge 7 Base 8 Controller 10 Scribe head 11 Scribe tool 11a (Scribe tool) blade edge 12 Support shaft attachment Part 13 Tool holder 13m Magnet 14 Head body part 14a Air supply path 14b Piston 21 Conveying plate 22 Conveying roller 23 Air ejection part 51 Frame 51h Through hole 52 Horizontal position adjusting mechanism 53 Attitude adjusting mechanism 53a Rotating shaft 53b, 53c Auxiliary shaft 53d Head support shaft 53e to 53h Rod 62 Beam 63 Linear slider 64 Lifting mechanism 111 First scribe tool 112 Second scribe tool L Machining groove L1 (L1a, L1b) Primary machining groove L2 Secondary addition Groove W board

Claims (7)

先端に刃先を備えるスクライブツールによって基板上に設けられた薄膜層の一部を除去して線状の加工溝を形成するスクライブ加工により、基板にパターニングを行う方法であって、
所望の加工幅よりも細い加工幅の加工溝を形成可能な第1のスクライブツールを用いて前記基板の加工溝形成対象位置に第1の加工溝を形成する第1スクライブ工程と、
前記所望の加工幅の加工溝を形成可能な第2のスクライブツールを用いて、前記第1の加工溝が形成された前記基板の前記加工溝形成対象位置において前記第1の加工溝に対し重畳的に第2の加工溝を形成する第2スクライブ工程と、
を備えることを特徴とする基板のパターニング方法。
A method of patterning a substrate by scribing to remove a part of a thin film layer provided on the substrate by a scribing tool having a cutting edge at the tip to form a linear processing groove,
A first scribing step of forming a first processing groove at a processing groove forming target position of the substrate using a first scribing tool capable of forming a processing groove having a processing width narrower than a desired processing width;
Using a second scribe tool capable of forming a processing groove having the desired processing width, the first processing groove is superimposed on the first processing groove at the processing groove formation target position of the substrate on which the first processing groove is formed. A second scribing step for forming a second processed groove,
A patterning method for a substrate, comprising:
請求項1に記載の基板のパターニング方法であって、
前記第1スクライブ工程においては、複数の前記第1のスクライブツールにより複数の加工溝形成対象位置に複数の前記第1の加工溝を形成し、
前記第2スクライブ工程においては、複数の前記第2のスクライブツールにより、それぞれに前記第1の加工溝が形成された前記複数の前記加工溝形成対象位置においてそれぞれの前記第1の加工溝に対し重畳的に第2の加工溝を形成する、
ことを特徴とする基板のパターニング方法。
A substrate patterning method according to claim 1,
In the first scribe step, a plurality of the first processing grooves are formed at a plurality of processing groove formation target positions by the plurality of first scribe tools,
In the second scribe process, the plurality of second scribe tools respectively apply the first machining grooves to the first machining grooves at the plurality of machining groove formation target positions. Forming a second processed groove in a superimposed manner;
A method for patterning a substrate.
請求項1または請求項2に記載の基板のパターニング方法であって、
一のスクライブヘッドに、前記第1のスクライブツールと前記第2のスクライブツールとを、前記一のスクライブヘッドを移動させた場合にそれぞれによる加工溝の形成が同時にまたは選択的に行えるように設けておき、前記第1のスクライブツールと前記第2のスクライブツールとを同時に加工溝を形成可能とした状態で、第1の前記加工溝形成対象位置における前記第1スクライブ工程と、先に前記第1の加工溝が形成されてなる第2の前記加工溝形成対象位置における前記第2スクライブ工程とを同時に行う、
ことを特徴とする基板のパターニング方法。
A method for patterning a substrate according to claim 1 or 2,
The first scribe tool and the second scribe tool are provided on one scribe head so that when the one scribe head is moved, formation of a processing groove can be performed simultaneously or selectively. In addition, the first scribe tool and the second scribe tool can be formed simultaneously with the first scribe process at the first groove forming target position, and the first scribe tool and the second scribe tool can be formed at the same time. Simultaneously performing the second scribing step at the second processing groove formation target position formed by forming the processing grooves.
A method for patterning a substrate.
スクライブ加工により基板上に設けられた薄膜層の一部を除去して線状の加工溝を形成可能なパターニング加工装置であって、
基板を支持するテーブルと、
それぞれが先端に刃先を備えるとともに、前記テーブルに支持された前記基板に前記刃先を接触させつつ移動させることによって前記基板の加工溝形成対象位置に加工溝を形成可能な第1および第2のスクライブツールと、
を備え、
前記第1のスクライブツールが所望の加工幅よりも細い加工幅の第1の加工溝を形成可能であり、
前記第2のスクライブツールが前記所望の加工幅の第2の加工溝を形成可能であり、
前記第1のスクライブツールによって前記第1の加工溝が形成された前記加工溝形成対象位置に前記第1の加工溝に対し重畳的に前記第2の加工溝を形成する、
ことを特徴とするパターニング加工装置。
A patterning processing apparatus capable of forming a linear processing groove by removing a part of a thin film layer provided on a substrate by scribe processing,
A table that supports the substrate;
First and second scribes each having a cutting edge at the tip and capable of forming a processing groove at a processing groove forming target position of the substrate by moving the cutting edge in contact with the substrate supported by the table Tools and
With
The first scribe tool can form a first processing groove having a processing width narrower than a desired processing width;
The second scribe tool can form a second machining groove of the desired machining width;
Forming the second machining groove on the machining groove formation target position where the first machining groove is formed by the first scribe tool so as to overlap the first machining groove;
A patterning apparatus characterized by that.
請求項4に記載のパターニング加工装置であって、
第1の方向に移動自在なスクライブヘッド、
をさらに備え、
前記第1のスクライブツールと前記第2のスクライブツールとが前記スクライブヘッドにおいて前記第1の方向と直交する第2の方向に列設されてなる、
ことを特徴とするパターニング加工装置。
The patterning apparatus according to claim 4,
A scribing head movable in a first direction,
Further comprising
The first scribe tool and the second scribe tool are arranged in a second direction orthogonal to the first direction in the scribe head.
A patterning apparatus characterized by that.
請求項5に記載のパターニング加工装置であって、
前記一のスクライブヘッドに複数の前記第1のスクライブツールと複数の前記第2のスクライブツールとを等ピッチで備え、
前記複数の前記第1のスクライブツールによってそれぞれに前記第1の加工溝が形成された複数の前記加工溝形成対象位置において、前記複数の前記第2のスクライブツールによってそれぞれの前記第1の加工溝に対し重畳的に前記第2の加工溝を形成する、
ことを特徴とするパターニング加工装置。
The patterning apparatus according to claim 5,
The one scribe head is provided with a plurality of the first scribe tools and a plurality of the second scribe tools at an equal pitch,
Each of the first machining grooves by the plurality of second scribe tools at the plurality of machining groove formation target positions where the first machining grooves are respectively formed by the plurality of first scribe tools. Forming the second machining groove in a superimposed manner,
A patterning apparatus characterized by that.
請求項5または請求項6に記載のパターニング加工装置であって、
前記第1のスクライブツールと前記第2のスクライブツールとが、前記スクライブヘッドに同時にまたは選択的に加工溝を形成可能に設けられてなり、前記一のスクライブヘッドを前記第1の方向に移動させることで、第1の前記加工溝形成対象位置における前記第1のスクライブツールによる前記第1の加工溝の形成と、先に前記第1の加工溝が形成されてなる第2の前記加工溝形成対象位置における前記第2のスクライブツールによる前記第2の加工溝の形成とを同時に行える、
ことを特徴とするパターニング加工装置。
The patterning apparatus according to claim 5 or 6,
The first scribe tool and the second scribe tool are provided in the scribe head so as to form a processing groove simultaneously or selectively, and the one scribe head is moved in the first direction. Thus, the first machining groove is formed by the first scribe tool at the first machining groove formation target position, and the second machining groove is formed by first forming the first machining groove. The second machining groove can be formed simultaneously with the second scribe tool at a target position.
A patterning apparatus characterized by that.
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