JP2014163887A - Vehicle electronic control apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、自動車用電子制御装置に関し、特に、自動車用電子制御装置のテストを実施するための技術に関する。 The present invention relates to an automotive electronic control device, and more particularly to a technique for performing a test of an automotive electronic control device.
特許文献１には、制御回路から駆動回路に制御データをシリアル送信し、駆動回路側で制御データをパラレルデータに変換することにより制御対象の駆動信号を生成する電子制御装置が開示されている。 Patent Document 1 discloses an electronic control device that generates a drive signal to be controlled by serially transmitting control data from a control circuit to a drive circuit, and converting the control data into parallel data on the drive circuit side.
ところで、処理装置と駆動回路との間でシリアル通信を行わせる場合、処理装置からの命令に対して駆動回路から出力される駆動信号のリアルタイム性を保持するためには、高速な通信によって命令信号を送信することが必要となる。
しかし、外部ツールを接続して電子制御装置のテストを実施する場合、処理装置と駆動回路との間での通信速度に対して、外部ツールと処理装置との間での通信速度が低いと、テスト中の命令信号やデータの送受信が、外部ツールと処理装置との間での通信速度に律速されることになってしまい、リアルタイム性が損なわれ、十分なテストを実施できなくなる場合があるという問題があった。
By the way, when serial communication is performed between the processing device and the drive circuit, in order to maintain the real-time property of the drive signal output from the drive circuit with respect to the command from the processing device, the command signal is transmitted by high-speed communication It is necessary to send
However, when an electronic tool is tested by connecting an external tool, if the communication speed between the external tool and the processing device is lower than the communication speed between the processing device and the drive circuit, The transmission and reception of command signals and data during the test will be limited by the communication speed between the external tool and the processing device, which may impair real-time performance and prevent sufficient tests from being performed. There was a problem.
本発明は上記問題点に鑑みなされたものであり、外部ツールとの間における通信速度などに影響されることなく十分なテストを行える、自動車用電子制御装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an automotive electronic control device that can perform a sufficient test without being affected by a communication speed with an external tool.
そのため、本願発明は、記憶装置を含む処理装置と、前記処理装置からの命令に基づき外部に駆動信号を出力する駆動回路と、前記処理装置と前記駆動回路との間のシリアル通信回路と、を備えた自動車用電子制御装置において、前記処理装置は、外部から入力したテスト用命令列を前記記憶装置に保存し、所定のトリガ信号に応じて前記テスト用命令列を実行するようにした。 Therefore, the present invention includes a processing device including a storage device, a driving circuit that outputs a driving signal to the outside based on a command from the processing device, and a serial communication circuit between the processing device and the driving circuit. In the automobile electronic control device provided, the processing device stores a test instruction sequence input from the outside in the storage device and executes the test instruction sequence in response to a predetermined trigger signal.
上記発明によると、処理装置は、記憶装置に予め保存したテスト用命令列を実行するので、外部との間での通信速度の影響を抑制して、十分なテストを実施することができる。 According to the above invention, since the processing device executes the test instruction sequence stored in advance in the storage device, it is possible to perform a sufficient test while suppressing the influence of the communication speed with the outside.
以下に本発明の実施の形態を説明する。
図１は、自動車用電子制御装置の一例を示すブロック図である。
図１に示した自動車用電子制御装置１０は、処理装置（マイコン）２０、駆動回路（ドライバＩＣ）３０、入出力回路４０を備えている。
Embodiments of the present invention will be described below.
FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of an electronic control device for an automobile.
The automobile electronic control device 10 shown in FIG. 1 includes a processing device (microcomputer) 20, a drive circuit (driver IC) 30, and an input / output circuit 40.
処理装置２０は、ＣＰＵ２１の他、記憶装置であるＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３を含む。
ＲＡＭ２３には、自動車用電子制御装置１０の電源が切断されても、図示省略した電池から電気が供給されて記憶データが保持されるＲＡＭ保持領域が設定されている。なお、ＲＡＭ２３に代えて、又は、ＲＡＭ２３と共に、ＥＥＰＲＯＭなどの電気的に書き換え可能な不揮発性メモリを設けることができる。
The processing device 20 includes a ROM 22 and a RAM 23 which are storage devices in addition to the CPU 21.
The RAM 23 is provided with a RAM holding area in which electricity is supplied from a battery (not shown) and stored data is held even when the power of the electronic control device 10 for the automobile is turned off. Instead of the RAM 23 or together with the RAM 23, an electrically rewritable nonvolatile memory such as an EEPROM can be provided.
処理装置２０と駆動回路３０とはシリアル通信回路５０で接続されている。
駆動回路３０は、自動車６０に搭載される内燃機関７０の複数の燃料噴射弁８０それぞれに駆動信号を出力する。
処理装置２０は、入出力回路４０を介して内燃機関７０の運転状態を検出する各種センサの検出信号を入力し、入力した検出信号に基づき燃料噴射量を演算し、当該燃料噴射量の命令信号ＩＳ（Instruction Signal）を、シリアル通信回路５０を介して駆動回路３０に出力する。
The processing device 20 and the drive circuit 30 are connected by a serial communication circuit 50.
The drive circuit 30 outputs a drive signal to each of the plurality of fuel injection valves 80 of the internal combustion engine 70 mounted on the automobile 60.
The processing device 20 receives detection signals from various sensors that detect the operating state of the internal combustion engine 70 via the input / output circuit 40, calculates a fuel injection amount based on the input detection signals, and issues a command signal for the fuel injection amount. IS (Instruction Signal) is output to the drive circuit 30 via the serial communication circuit 50.
また、処理装置２０から駆動回路３０に対しては、命令信号ＩＳの他、命令信号ＩＳに同期するクロック信号ＣＬＫが出力され、駆動回路３０から処理装置２０に対しては、診断情報などの信号ＤＳ（Diagnosis Signal）が出力される。
なお、駆動回路３０が駆動信号を出力する制御対象機器は燃料噴射弁８０に限定されず、点火装置、電動ポンプ、ソレノイドなどを制御対象機器とすることができる。
In addition to the command signal IS, a clock signal CLK synchronized with the command signal IS is output from the processing device 20 to the drive circuit 30, and signals such as diagnostic information are output from the drive circuit 30 to the processing device 20. DS (Diagnosis Signal) is output.
Note that the control target device from which the drive circuit 30 outputs a drive signal is not limited to the fuel injection valve 80, and an ignition device, an electric pump, a solenoid, or the like can be the control target device.
各種センサとして、例えば、内燃機関７０の負荷ＴＰを検出する機関負荷センサ９１、内燃機関７０の回転速度ＮＥを検出する回転センサ９２、内燃機関７０の冷却水の温度ＴＷを検出する水温センサ９３などを設けてある。 As various sensors, for example, an engine load sensor 91 that detects the load TP of the internal combustion engine 70, a rotation sensor 92 that detects the rotational speed NE of the internal combustion engine 70, a water temperature sensor 93 that detects the temperature TW of the cooling water of the internal combustion engine 70, and the like. Is provided.
上記の自動車用電子制御装置１０について、結線の誤りや制御動作の誤りなどの異常の有無が、外部ツール１００を用いてテストされる。
テストを実施する場合には、マイコンを備えた汎用パソコンなどの外部ツール１００を自動車用電子制御装置１０に接続し、外部ツール１００と処理装置２０との間で通信が行えるようにする。
With respect to the above-described automotive electronic control device 10, the external tool 100 is used to test whether there is an abnormality such as a connection error or a control operation error.
When performing the test, an external tool 100 such as a general-purpose personal computer equipped with a microcomputer is connected to the automobile electronic control device 10 so that communication can be performed between the external tool 100 and the processing device 20.
そして、外部ツール１００は、処理装置２０に向けてテスト用命令列（プログラム＆テストシナリオ）を送信し、テスト用命令列を受信した処理装置２０は、記憶装置であるＲＡＭ２３のＲＡＭ保持領域にテスト用命令列を保存する。更に、処理装置２０は、ＲＡＭ２３に保存したテスト用命令列を所定のトリガ信号応じて実行し、テスト用命令列の実行によって収集したデータを、ＲＡＭ２３に保存する。処理装置２０は、テスト用命令列の実行後に、外部ツール１００からの読み出し要求に応じてＲＡＭ２３から前記データを読み出し、外部ツール１００に送信する。 Then, the external tool 100 transmits a test instruction sequence (program & test scenario) to the processing device 20, and the processing device 20 that has received the test instruction sequence performs a test in the RAM holding area of the RAM 23 that is a storage device. Save the instruction sequence. Further, the processing device 20 executes the test instruction sequence stored in the RAM 23 according to a predetermined trigger signal, and stores the data collected by the execution of the test instruction sequence in the RAM 23. After executing the test instruction sequence, the processing device 20 reads the data from the RAM 23 in response to a read request from the external tool 100 and transmits the data to the external tool 100.
外部ツール１００では、処理装置２０から送信されたデータに基づき、結線状態や制御動作などの評価が行われ、評価結果に応じてメンテナンスが実施される。
上記のように、テスト用命令列を処理装置２０の記憶装置（ＲＡＭ２３）に記憶させてから前記テスト用命令列を処理装置２０において実行させ、テスト用命令列の実行により収集されたデータを処理装置２０の記憶装置（ＲＡＭ２３）に一旦保存させてから、外部ツール１００に送信する。
In the external tool 100, the connection state and the control operation are evaluated based on the data transmitted from the processing device 20, and maintenance is performed according to the evaluation result.
As described above, the test instruction sequence is stored in the storage device (RAM 23) of the processing device 20, and then the test instruction sequence is executed in the processing device 20, and the data collected by the execution of the test instruction sequence is processed. The data is temporarily stored in the storage device (RAM 23) of the device 20 and then transmitted to the external tool 100.
従って、例えば、外部ツール１００と処理装置２０との間における通信速度が、処理装置２０と駆動回路３０との間での通信速度よりも遅い場合であっても、テスト用命令列の実行及びデータ収集を、通信速度の違いに影響されることなく行え、処理装置２０と駆動回路３０との間における通信テストなどを含めて十分なテストを行える。また、処理装置２０と外部ツール１００との間での通信が不能となる、電子制御装置１０の起動状態や終了状態でのテストも可能になる。 Therefore, for example, even when the communication speed between the external tool 100 and the processing device 20 is slower than the communication speed between the processing device 20 and the drive circuit 30, execution of test instruction sequences and data The collection can be performed without being affected by the difference in communication speed, and a sufficient test including a communication test between the processing device 20 and the drive circuit 30 can be performed. In addition, it becomes possible to perform a test in the activated state or the finished state of the electronic control device 10 in which communication between the processing device 20 and the external tool 100 is disabled.
図２のフローチャートは、外部ツール１００を用いた電子制御装置１０のテスト処理の一例を示す。
まず、処理装置２０が通常のプログラムとして起動すると（ステップＳ２０１）、外部ツール１００は、処理装置２０に対し、起動時に実行させるテスト用命令列として、環境情報、プログラムデータ、テストシナリオを送信する（ステップＳ２０２）。
The flowchart of FIG. 2 shows an example of test processing of the electronic control apparatus 10 using the external tool 100.
First, when the processing device 20 is activated as a normal program (step S201), the external tool 100 transmits environment information, program data, and a test scenario as a test instruction sequence to be executed at the time of activation (step S201). Step S202).
なお、環境情報には、処理装置２０と駆動回路３０との間における通信周期、通信形式、データタイプなどの通信情報が含まれ、テストを実施する場合には、係る通信情報に応じて、処理装置２０と駆動回路３０との間における通信設定が変更される。また、テストシナリオには、テスト実施項目の他、待機時間指定などが含まれ、テストシナリオの命令間に待機を挟むことで、適切なタイミングで命令を実行させることができる。 The environment information includes communication information such as a communication cycle, a communication format, and a data type between the processing device 20 and the drive circuit 30. When a test is performed, processing is performed according to the communication information. Communication settings between the device 20 and the drive circuit 30 are changed. The test scenario includes a waiting time designation in addition to the test execution item, and the instruction can be executed at an appropriate timing by inserting the standby between the instructions of the test scenario.
テスト用命令列の送信を受けた処理装置２０は、図３に示すように、受信した環境情報、プログラム、テストシナリオをＲＡＭ２３のＲＡＭ保持領域にコピーし、環境情報として、起動時に通常のプログラムではなく、外部ツール１００から受信したプログラムを実行させるためのモード変更判定フラグをセットする（ステップＳ２０３）。
なお、マイコンによっては、ＲＡＭ領域の一部分をＲＡＭ保持できるものがあり、ＲＡＭ保持領域とは、ＲＡＭ領域の全て若しくは一部分である。また、通常のＲＡＭ領域は、リセットした場合にデータが不定になってしまうが、ＲＡＭ保持領域は、リセット直前の値を保障する領域である。
処理装置２０において、環境情報、プログラムデータ、テストシナリオがＲＡＭ２３のＲＡＭ保持領域にコピー（保存）されると、外部ツール１００は、処理装置２０に対してリセット信号を出力することでリセット要求を行う（ステップＳ２０４）。
Upon receiving the test instruction sequence, the processing device 20 copies the received environment information, program, and test scenario to the RAM holding area of the RAM 23 as shown in FIG. Instead, a mode change determination flag for executing the program received from the external tool 100 is set (step S203).
Note that some microcomputers can hold a part of the RAM area in the RAM, and the RAM holding area is all or a part of the RAM area. The normal RAM area is undefined when reset, but the RAM holding area is an area that guarantees the value immediately before the reset.
When the environment information, program data, and test scenario are copied (stored) in the RAM holding area of the RAM 23 in the processing device 20, the external tool 100 issues a reset request by outputting a reset signal to the processing device 20. (Step S204).
外部ツール１００からリセット信号を受けた処理装置２０は、自身のリセットを実施する（ステップＳ２０５）。
なお、処理装置２０のリセット（再起動）は、外部ツール１００からの命令（リセット要求）に基づき実施させることができる他、処理装置２０の内部プログラムによる命令や、処理装置２０のポート入力などに基づき実施させることができる。
Receiving the reset signal from the external tool 100, the processing device 20 resets itself (step S205).
Note that the processing device 20 can be reset (restarted) based on a command (reset request) from the external tool 100, or by an instruction by an internal program of the processing device 20 or a port input of the processing device 20. Can be implemented.
処理装置２０はリセットされて初期状態に戻ると、外部ツール１００からの受信待ち状態に移行し、更に、始動シーケンスとして、リセット前に外部ツール１００から受信したプログラムの実行を開始する（ステップＳ２０６）。
電子制御装置１０のテストにおいては、例えば、制御対象ａを１μｓ間通電させ、その他の制御対象は通電させない→２μｓ間何もしない→制御対象ｂ、ｃ、ｄを１μｓ間通電させ、その他の制御対象は通電させない、というような命令が駆動回路３０に送信されるように、処理装置２０による制御動作を実施させる。
When the processing device 20 is reset and returns to the initial state, the processing device 20 shifts to a state waiting for reception from the external tool 100, and further, as a startup sequence, starts executing the program received from the external tool 100 before resetting (step S206). .
In the test of the electronic control unit 10, for example, the controlled object a is energized for 1 μs, and the other controlled objects are not energized. → Nothing is performed for 2 μs. → The controlled objects b, c, d are energized for 1 μs, and other controls are performed. A control operation by the processing device 20 is performed so that a command that the target is not energized is transmitted to the drive circuit 30.
処理装置２０のリセットによる起動の流れを、図４のフローチャートに従って説明すると、まず、リセットによって電子制御装置１０が再起動すると（ステップＳ３０１）、環境情報としてのモード変更判定フラグがセットされているか否かを判定する（ステップＳ３０２）。
モード変更判定フラグがセットされていない場合には、テスト実施状態（テストモード）ではなく、通常のプログラム（実際に内燃機関を駆動させる場合のプログラム）に従って燃料噴射弁８０を駆動させる状態（通常制御モード）であるので、通常制御へ移行する（ステップＳ３０３）。
一方、モード変更判定フラグがセットされている場合には、テスト実施状態（テストモード）であり、外部ツール１００からの受信待ち状態に設定し（ステップＳ３０４）、外部ツール１００から受信したプログラムを実行する（ステップＳ３０５）。
The flow of activation by reset of the processing device 20 will be described with reference to the flowchart of FIG. 4. First, when the electronic control device 10 is reactivated by reset (step S301), whether or not the mode change determination flag as environment information is set. Is determined (step S302).
When the mode change determination flag is not set, not the test execution state (test mode) but the state in which the fuel injection valve 80 is driven according to the normal program (program for actually driving the internal combustion engine) (normal control) Mode), the process shifts to normal control (step S303).
On the other hand, when the mode change determination flag is set, it is in a test execution state (test mode) and is set to a reception waiting state from the external tool 100 (step S304), and the program received from the external tool 100 is executed. (Step S305).
図２のフローチャートに戻って説明を続けると、処理装置２０は、受信したプログラムの実行を開始すると、テストシナリオに従い駆動回路３０への命令を実行する（ステップＳ２０７）。
駆動回路３０は、処理装置２０から受信した命令に従った動作（燃料噴射弁８０の駆動動作）を行い（ステップＳ２０８）、処理装置２０は、テスト動作において収集したデータをＲＡＭ２３のＲＡＭ保持領域に保存する（ステップＳ２０７）。
Returning to the flowchart of FIG. 2 and continuing the description, when the processing device 20 starts executing the received program, the processing device 20 executes a command to the drive circuit 30 according to the test scenario (step S207).
The drive circuit 30 performs an operation (drive operation of the fuel injection valve 80) according to the command received from the processing device 20 (step S208), and the processing device 20 stores the data collected in the test operation in the RAM holding area of the RAM 23. Save (step S207).
そして、始動シーケンス（外部ツール１００から受信したプログラム）の実行が完了し、処理装置２０と外部ツールとの間における通信が可能になると、外部ツール１００は、処理装置２０が収集してＲＡＭ２３に保存したデータの読み出し要求信号を、処理装置２０に対して送信する（ステップＳ２０９）。 When the execution of the start sequence (the program received from the external tool 100) is completed and communication between the processing device 20 and the external tool becomes possible, the external tool 100 is collected by the processing device 20 and stored in the RAM 23. The data read request signal is transmitted to the processing device 20 (step S209).
処理装置２０は、外部ツール１００からの読み出し要求信号に応じて、ＲＡＭ２３に保存してあるデータを読み出して外部ツール１００に向けて送信する（ステップＳ２１０）。
処理装置２００から送信されたデータを受け取った外部ツール１００は、データ保存を行う一方、環境情報のモード変更判定フラグのクリアを要求する信号（フラグクリア要求信号）を、処理装置２０に出力する（ステップＳ２１１）。
In response to the read request signal from the external tool 100, the processing device 20 reads the data stored in the RAM 23 and transmits it to the external tool 100 (step S210).
The external tool 100 that has received the data transmitted from the processing device 200 saves the data and outputs a signal (flag clear request signal) requesting to clear the mode change determination flag of the environmental information to the processing device 20 ( Step S211).
モード変更判定フラグのクリア要求を受信した処理装置２０は、モード変更判定フラグをクリアし、かつ、リセットを実行する（ステップＳ２１２）。
モード変更判定フラグがクリアされた状態でリセットが実行されると、図４のフローチャートのステップＳ３０２でモード変更判定フラグがセットされていないと判定されることで、ステップＳ３０３に進み、通常制御に移行する（ステップＳ２１３）ことになる。
Receiving the request for clearing the mode change determination flag, the processing device 20 clears the mode change determination flag and executes reset (step S212).
If the reset is executed with the mode change determination flag cleared, it is determined in step S302 in the flowchart of FIG. 4 that the mode change determination flag is not set, and the process proceeds to step S303, and the normal control is performed. (Step S213).
上記のように、処理装置２０にプログラムやテストシナリオを保存させてから、リセットを実施することで、起動シーケンスとしてテストを実行させ、テスト動作で収集されたデータを処理装置２０に保存させておいて、保存したデータ（テスト結果を示すデータなど）をテスト終了後に外部ツール１００に送信し、外部ツール１００にデータ送信を行った後で、再度リセットして今度は通常制御を実施させる。 As described above, after the program or test scenario is stored in the processing device 20, the reset is performed, so that the test is executed as the startup sequence, and the data collected in the test operation is stored in the processing device 20. The stored data (such as data indicating the test result) is transmitted to the external tool 100 after the test is completed, and after the data is transmitted to the external tool 100, the data is reset again to perform normal control this time.
従って、例えば、外部ツール１００と処理装置２０との間における通信速度が、処理装置２０と駆動回路３０との間での通信速度よりも遅い場合であっても、テスト動作及びデータ収集を、通信速度の違いに影響されることなく行え、処理装置２０と駆動回路３０との間における通信テストなどを含めて十分なテストを行える。また、処理装置２０と外部ツール１００との間での通信が不能となる、電子制御装置１０の起動状態においてテストを実行できる。 Therefore, for example, even when the communication speed between the external tool 100 and the processing device 20 is slower than the communication speed between the processing device 20 and the drive circuit 30, the test operation and data collection can be performed in communication. It can be performed without being affected by the difference in speed, and a sufficient test including a communication test between the processing device 20 and the drive circuit 30 can be performed. In addition, the test can be executed in the activated state of the electronic control device 10 in which communication between the processing device 20 and the external tool 100 is disabled.
図２のフローチャートは、電子制御装置１０の起動状態においてテストを起動シーケンスとして行わせる処理の一例を示したが、図５のフローチャートは、電子制御装置１０の終了状態においてテストを終了シーケンスとして行わせる処理の一例を示す。
まず、処理装置２０が通常のプログラムとして起動すると（ステップＳ４０１）、外部ツール１００は、処理装置２０に対し、起動時に実行させるテスト用命令列として、環境情報、プログラムデータ、テストシナリオを送信する（ステップＳ４０２）。
The flowchart in FIG. 2 shows an example of processing for performing a test as an activation sequence in the activated state of the electronic control device 10, but the flowchart in FIG. 5 causes the test to be performed as an termination sequence in the final state of the electronic control device 10. An example of processing is shown.
First, when the processing apparatus 20 is activated as a normal program (step S401), the external tool 100 transmits environment information, program data, and a test scenario to the processing apparatus 20 as a test instruction sequence to be executed at the time of activation (step S401). Step S402).
処理装置２０は、受信した環境情報、プログラム、テストシナリオをＲＡＭ２３のＲＡＭ保持領域にコピーし、環境情報として、モード変更判定フラグをセットする（ステップＳ４０３）。
次いで、処理装置２０は、終了シーケンスとして、外部ツール１００から受信したプログラムの実行を開始し、テストシナリオに従い駆動回路３０への命令を実行する（ステップＳ４０４）。
The processing device 20 copies the received environment information, program, and test scenario to the RAM holding area of the RAM 23, and sets a mode change determination flag as the environment information (step S403).
Next, the processing device 20 starts execution of the program received from the external tool 100 as an end sequence, and executes an instruction to the drive circuit 30 according to the test scenario (step S404).
駆動回路３０は、処理装置２０から受信した命令に従った動作（燃料噴射弁８０の駆動動作）を行う（ステップＳ４０５）。
そして、処理装置２０は、テスト動作において収集したデータをＲＡＭ２３のＲＡＭ保持領域に保存する（ステップＳ４０４）。
The drive circuit 30 performs an operation (drive operation of the fuel injection valve 80) according to the command received from the processing device 20 (step S405).
Then, the processing device 20 stores the data collected in the test operation in the RAM holding area of the RAM 23 (Step S404).
終了シーケンスとしての動作が終了すると、処理装置２０は、モード変更判定フラグがセットされている状態で、リセットを実行する（ステップＳ４０６）。
リセットによって電子制御装置１０が再起動すると、処理装置２０は、モード変更判定フラグがセットされていることに基づき、外部ツール１００からの受信待ち状態に移行する（ステップＳ４０７）。
When the operation as the end sequence ends, the processing device 20 performs a reset in a state where the mode change determination flag is set (step S406).
When the electronic control device 10 is restarted by the reset, the processing device 20 shifts to a state waiting for reception from the external tool 100 based on the setting of the mode change determination flag (step S407).
そして、外部ツール１００は、テスト用として収集したデータの読み出し要求を、処理装置２０に対して送信する（ステップＳ４０８）。
外部ツール１００からデータの読み出し要求を受信した処理装置２０は、ＲＡＭ２３のＲＡＭ保持領域に保存してある、テスト動作において収集したデータを外部ツール１００に送信する（ステップＳ４０９）。
Then, the external tool 100 transmits a read request for data collected for testing to the processing device 20 (step S408).
Receiving the data read request from the external tool 100, the processing device 20 transmits the data collected in the test operation stored in the RAM holding area of the RAM 23 to the external tool 100 (step S409).
処理装置２０からデータを受信した外部ツール１００は、環境情報のモード変更判定フラグのクリアを要求する信号を、処理装置２０に対して送信する（ステップＳ４１０）。
モード変更判定フラグのクリアを要求する信号を外部ツール１００から受信した処理装置２０は、モード変更判定フラグをクリアし、かつ、自身でリセットを実施し（ステップＳ４１１）、リセットによって再起動した後は、通常の制御動作を開始する。
The external tool 100 that has received the data from the processing device 20 transmits a signal requesting to clear the mode change determination flag of the environment information to the processing device 20 (step S410).
After receiving the signal for requesting the clear of the mode change determination flag from the external tool 100, the processing device 20 clears the mode change determination flag and resets itself (step S411). The normal control operation is started.
上記のように、処理装置２０にテスト用命令列としてのプログラムやテストシナリオを保存させてから、終了シーケンスとしてテストを実行させ、テスト動作で収集されたデータを処理装置２０に保存させる。そして、再起動されたときに、保存したデータ（テスト結果を示すデータなど）を外部ツール１００に送信し、外部ツール１００にデータ送信を行った後で、再度リセットして今度は通常制御を実施させる。 As described above, the processing device 20 stores a program or test scenario as a test instruction sequence, and then executes a test as an end sequence and causes the processing device 20 to store data collected in the test operation. And when it is restarted, the saved data (data indicating the test result, etc.) is sent to the external tool 100, and after sending the data to the external tool 100, it is reset again and this time normal control is performed. Let
従って、例えば、外部ツール１００と処理装置２０との間における通信速度が、処理装置２０と駆動回路３０との間での通信速度よりも遅い場合であっても、テスト動作及びデータ収集を、通信速度の違いに影響されることなく行え、処理装置２０と駆動回路３０との間における通信テストなどを含めて十分なテストを行える。また、処理装置２０と外部ツール１００との間での通信が不能となる、電子制御装置１０の終了状態においてテストを実行できる。 Therefore, for example, even when the communication speed between the external tool 100 and the processing device 20 is slower than the communication speed between the processing device 20 and the drive circuit 30, the test operation and data collection can be performed in communication. It can be performed without being affected by the difference in speed, and a sufficient test including a communication test between the processing device 20 and the drive circuit 30 can be performed. In addition, the test can be executed in the end state of the electronic control device 10 in which communication between the processing device 20 and the external tool 100 is disabled.
以上、好ましい実施形態を参照して本発明の内容を具体的に説明したが、本発明の基本的技術思想及び教示に基づいて、当業者であれば、種々の変形態様を採り得ることは自明である。
例えば、電子制御装置１０は、複数の駆動回路３０を備えることができる。
Although the contents of the present invention have been specifically described with reference to the preferred embodiments, it is obvious that those skilled in the art can take various modifications based on the basic technical idea and teachings of the present invention. It is.
For example, the electronic control device 10 can include a plurality of drive circuits 30.
また、外部ツール１００と処理装置２０との間における通信速度が、処理装置２０と駆動回路３０との間での通信速度よりも遅いことは、本願発明を適用条件ではなく、外部ツール１００と処理装置２０との間における通信速度が、処理装置２０と駆動回路３０との間での通信速度よりも同等若しくは速い場合に、本願発明を適用することができ、この場合も、処理装置２０と外部ツール１００との間での通信が行えない状態（起動若しくは終了状態）でテストを行わせることができる。
また、外部ツール１００と処理装置２０との間の通信は、有線若しくは無線のいずれも採用でき、更に、外部ツール１００が複数の処理装置２０との間で通信を行う構成とすることができる。
Further, the fact that the communication speed between the external tool 100 and the processing device 20 is slower than the communication speed between the processing device 20 and the drive circuit 30 is not an application condition of the present invention, and the processing with the external tool 100. The present invention can be applied when the communication speed between the apparatus 20 and the communication speed between the processing apparatus 20 and the drive circuit 30 is equal to or faster than that between the processing apparatus 20 and the external device. The test can be performed in a state in which communication with the tool 100 cannot be performed (starting or ending state).
Further, the communication between the external tool 100 and the processing apparatus 20 can be either wired or wireless, and the external tool 100 can communicate with a plurality of processing apparatuses 20.
ここで、上記実施形態から把握し得る請求項以外の技術的思想について、以下に効果と共に記載する。
（イ）
記憶装置を含む処理装置と、前記処理装置からの指令に基づき外部に駆動信号を出力する駆動回路と、前記処理装置と前記駆動回路との間のシリアル通信回路と、を備えた自動車用電子制御装置において、
前記処理装置は、
外部から入力したテスト用命令列、及び、モード変更判定フラグを前記記憶装置に保存し、
リセットにより再起動されたときに、前記モード変更判定フラグがセットされていれば、前記テスト用命令列を起動シーケンスとして実行して、前記テスト用命令列の実行に伴って収集したデータを一旦前記記憶装置に保存し、前記テスト用命令列の実行終了後に前記データを外部に送信する、自動車用電子制御装置。
Here, technical ideas other than the claims that can be grasped from the above embodiment will be described together with effects.
(I)
Electronic control for automobile comprising a processing device including a storage device, a drive circuit for outputting a drive signal to the outside based on a command from the processing device, and a serial communication circuit between the processing device and the drive circuit In the device
The processor is
A test instruction sequence input from the outside, and a mode change determination flag are stored in the storage device;
If the mode change determination flag is set when restarted by reset, the test instruction sequence is executed as a startup sequence, and the data collected along with the execution of the test instruction sequence is temporarily An automotive electronic control device that saves in a storage device and transmits the data to the outside after execution of the test instruction sequence.
上記発明によると、テスト実行に先立って、外部から入力したテスト用命令列を記憶装置に保存し、かつ、テスト用命令列を再起動時に実行させるべく、モード変更判定フラグをセットしておく。そして、例えば、外部からのリセット信号などに基づきリセットされ再起動したときに、モード変更判定フラグがセットされていれば、テスト用命令列の実行し、収集したデータを記憶装置に保存し、テスト終了後に、記憶装置に保存していたデータを外部に送信する。 According to the above invention, prior to the test execution, the test instruction sequence input from the outside is stored in the storage device, and the mode change determination flag is set so that the test instruction sequence is executed upon restart. And, for example, if the mode change determination flag is set when reset and restarted based on an external reset signal, etc., the test instruction sequence is executed, the collected data is saved in the storage device, and the test is performed. After completion, the data stored in the storage device is transmitted to the outside.
（ロ）
記憶装置を含む処理装置と、前記処理装置からの指令に基づき外部に駆動信号を出力する駆動回路と、前記処理装置と前記駆動回路との間のシリアル通信回路と、を備えた自動車用電子制御装置において、
前記処理装置は、
外部から入力したテスト用命令列、及び、モード変更判定フラグを前記記憶装置に保存し、
保存した前記テスト用命令列を終了シーケンスとして実行して、前記テスト用命令列の実行に伴って収集したデータを一旦前記記憶装置に保存し、
前記終了シーケンスの終了後にリセットによって再起動したときに、前記モード変更判定フラグに基づき前記記憶装置に保存していたデータを外部に送信する、自動車用電子制御装置。
(B)
Electronic control for automobile comprising a processing device including a storage device, a drive circuit for outputting a drive signal to the outside based on a command from the processing device, and a serial communication circuit between the processing device and the drive circuit In the device
The processor is
A test instruction sequence input from the outside, and a mode change determination flag are stored in the storage device;
The stored test instruction sequence is executed as an end sequence, and the data collected with the execution of the test instruction sequence is temporarily stored in the storage device,
An automotive electronic control device that transmits data stored in the storage device to the outside based on the mode change determination flag when restarted by reset after the end sequence ends.
上記発明によると、外部から入力したテスト用命令列を記憶装置に保存し、かつ、モード変更判定フラグをセットし、保存したテスト用命令列を終了シーケンスとして実行し、収集したデータを記憶装置に保存し、テスト終了後にリセットにより再起動すると、モード変更判定フラグがセットされていることに基づいて、テスト状態で保存したデータを読み出して外部に送信する。 According to the above invention, the test instruction sequence input from the outside is stored in the storage device, the mode change determination flag is set, the stored test instruction sequence is executed as the end sequence, and the collected data is stored in the storage device. When it is saved and restarted by reset after completion of the test, the data saved in the test state is read out and transmitted to the outside based on the setting of the mode change determination flag.
１０…自動車用電子制御装置、２０…処理装置、２１…ＣＰＵ、２２…ＲＯＭ、２３…ＲＡＭ、３０…駆動回路、５０…シリアル通信回路、６０…自動車、７０…内燃機関、８０…燃料噴射弁、１００…外部ツール
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Electronic control apparatus for motor vehicles, 20 ... Processing apparatus, 21 ... CPU, 22 ... ROM, 23 ... RAM, 30 ... Drive circuit, 50 ... Serial communication circuit, 60 ... Car, 70 ... Internal combustion engine, 80 ... Fuel injection valve 100 ... External tool
Claims (3)
前記処理装置は、外部から入力したテスト用命令列を前記記憶装置に保存し、所定のトリガ信号に応じて前記テスト用命令列を実行する、自動車用電子制御装置。 Electronic control for automobile comprising a processing device including a storage device, a drive circuit for outputting a drive signal to the outside based on a command from the processing device, and a serial communication circuit between the processing device and the drive circuit In the device
The processing device stores an instruction sequence for testing input from the outside in the storage device, and executes the test sequence for testing in response to a predetermined trigger signal.
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