JP2014154924A - Calibration system and calibration method for connection apparatus for portable terminal test - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、携帯電話やスマートフォン等の携帯端末の試験を複数台まとめて行うために用いられる携帯端末試験用接続装置の校正を短時間に行うための技術に関する。 The present invention relates to a technique for calibrating a mobile terminal test connection device used for testing a plurality of mobile terminals such as a mobile phone and a smartphone in a short time.
携帯端末の製造現場では、製造品の検査を効率よく行うために、試験用のダウンリンク信号を複数に分岐して試験対象の複数の携帯端末に与え、それら複数の携帯端末から出力されるアップリンク信号のいずれかを選択的に受信して試験を行う試験システムが知られている(例えば、特許文献1)。 At the manufacturing site of mobile terminals, in order to efficiently inspect manufactured products, the test downlink signal is branched into a plurality of signals and supplied to a plurality of mobile terminals to be tested, and the output from the plurality of mobile terminals is output. A test system that performs a test by selectively receiving any one of link signals is known (for example, Patent Document 1).
このように、試験用のダウンリンク信号を複数の携帯端末に分配し、それら複数の携帯端末からのアップリンク信号を選択的に受信して試験を行うシステムでは、ダウンリンク側の信号を分岐する回路、携帯端末に接続するケーブル等の僅かな違いにより、経路毎にロスが異なる。 In this way, in a system in which a test downlink signal is distributed to a plurality of portable terminals and an uplink signal from the plurality of portable terminals is selectively received for testing, the downlink signal is branched. Loss varies from route to route due to slight differences in circuits, cables connected to portable terminals, and the like.
このような経路毎にロスの違いが存在すると、試験対象の複数の携帯端末に与える信号レベルが異なってしまい、同一条件での試験が行えない。 If there is such a difference in loss for each path, the signal levels given to a plurality of portable terminals to be tested are different, and testing under the same conditions cannot be performed.
特に、接続可能な端末数を多くするために、試験装置本体とは別に構成した携帯端末試験用接続装置(以下、単に接続装置と記す)を用いる場合、その経路差による損失のバラツキが顕著となるので、そのバラツキを補正するために各経路に可変減衰器を挿入し、これらの減衰量を制御することで、各経路に等しい損失を与える処理が必要となる。 In particular, in order to increase the number of connectable terminals, when using a mobile terminal test connection device (hereinafter simply referred to as a connection device) configured separately from the test device main body, the variation in loss due to the path difference is significant. Therefore, in order to correct the variation, a variable attenuator is inserted in each path, and a process for giving an equal loss to each path is required by controlling the amount of attenuation.
図6は、上記補正処理機能を有する接続装置10の構成例を示している。この接続装置10は、試験装置本体100に接続するための試験装置接続ポート11、12と、試験対象の複数Nの携帯端末11〜1Nに接続するための複数Nの端末接続ポート131〜13Nとを有している。
FIG. 6 shows a configuration example of the
一方の試験装置接続ポート11は、試験装置本体100からのダウンリンク信号を受けるためのポートであり、他方の試験装置接続ポート12は、携帯端末から試験装置本体100へのアップリンク信号を出力するためのポートであり、この例ではこれら二つのポート11、12が分離しているものとするが、接続装置10の内部に方向性結合器を設けることで、一つの共通の試験装置接続ポートで試験装置本体100との間で信号の入出力を行うように構成されている場合もある。
One test apparatus connection port 11 is a port for receiving a downlink signal from the test apparatus
試験装置接続ポート11に入力されたダウンリンク信号は分配器14に入力されて、複数Nの経路に分岐され、それら分岐された各経路にそれぞれ挿入された可変減衰器151〜15Nに入力され、各可変減衰器151〜15Nを通過した信号が各カプラ(方向性結合器)161〜16Nおよび各端末接続ポート131〜13Nを介して携帯端末11〜1Nに入力されることになる。なお、ここで言う端末接続ポート131〜13Nは、試験対象の携帯端末の信号入力端に接続する部分であり、ケーブルを介して試験対象の携帯端末の信号入力端に接続する場合には、そのケーブルの末端とする。
The downlink signal input to the test apparatus connection port 11 is input to the
また、端末接続ポート131〜13N側から入力される信号は、カプラ161〜16Nを介して信号選択器17に入力され、そのうち指定された信号が選択されて試験装置接続ポート12に出力される(この信号指定は試験装置本体100からなされる)。
In addition, signals input from the terminal connection ports 13 1 to 13 N are input to the
各分岐経路に挿入された可変減衰器151〜15Nの減衰量は、それぞれD/A変換器181〜18Nから与えられる制御信号V1〜VNによって制御され、D/A変換器181〜18Nは、減衰量制御部19からそれぞれ設定された減衰量データDA1〜DANに対応した制御信号V1〜VNを発生する。
The attenuation amounts of the variable attenuators 15 1 to 15 N inserted in the respective branch paths are controlled by control signals V 1 to V N given from the D / A converters 18 1 to 18 N , respectively. 18 1 to 18 N generate control signals V 1 to V N corresponding to the attenuation amount data D A1 to D AN respectively set from the attenuation
減衰量制御部19は、試験モードでは外部の試験装置本体100から所定の分解能(例えば0.1dB)で指定された損失データDLに対応した損失を各分岐経路に等しく与えるために必要な減衰量データDA1〜DANを、各D/A変換器181〜18Nに与えるように構成されている。
The
ここで、前記したように、分岐経路の違いやD/A変換器、可変減衰器の特性のバラツキにより、各D/A変換器に同一データを与えても、端末接続ポートから出力されるダウンリンク信号のレベルを等しくすることは困難であり、そのレベル差により、複数の携帯端末の試験を同一条件で正確に行うことはできない。 Here, as described above, even if the same data is given to each D / A converter due to the difference in the branch paths and the characteristics of the D / A converter and the variable attenuator, the down output from the terminal connection port is performed. It is difficult to equalize the level of the link signal, and due to the difference in level, it is not possible to accurately test a plurality of portable terminals under the same conditions.
これを解消するために、入出力ポート間の実際の損失が、指定値に対して許容される誤差範囲で等しくなるために必要な減衰量データを予め求め、これを減衰量データ記憶部20に記憶させておき(校正処理)、試験時に減衰量制御部19が、外部から指定された損失データに対応した減衰量データを減衰量データ記憶部20から読み出してそれぞれのD/A変換器181〜18Nへ与えるようにする。
In order to eliminate this, attenuation data necessary for the actual loss between the input and output ports to be equal within the allowable error range with respect to the specified value is obtained in advance, and this is stored in the attenuation
上記のような接続装置10の校正を行う場合、図7のように、試験装置本体100の代わりに信号発生器30を用い、携帯端末の代わりにレベル測定器40を用い、これらの測定器と接続装置10とを、コンピュータ構成の校正制御装置50で制御できるようにした校正システムを用いる。
When calibrating the
そして、校正制御装置50が、図8のフローチャートにしたがって校正処理を行う。
即ち、始めに、校正対象の分岐経路を指定する値nを1に初期化し(S1)、レベル測定器40をn番目の端末接続ポート13nに接続し(S2)、接続装置10に指定する損失データDLを最小Dmin (例えばdBの単位で00.00)に設定する(S3)。なお、この校正モードにおいて、接続装置10の減衰量制御部19は、外部から指定された損失データDLを、そのまま(桁変更を行う場合も含む)減衰量データとして各D/A変換器181〜18Nに与える機能を有しているものとする。
And the
That is, first, a value n designating a branch path to be calibrated is initialized to 1 (S1), the
そして、信号発生器30の出力を基準レベル(例えば0dBm)、出力周波数fを測定範囲の最低周波数Fmin (例えば700MHz)に設定する(S4)。
Then, the output of the
この状態で、信号発生器30から出力された基準レベルの校正用信号Sinは、接続装置10の分配器14でN経路にほぼ等しく分配され、減衰量がほぼ0dBに設定された可変減衰器151〜15Nを通過して各端末接続ポート131〜13Nに出力され、そのうちn番目(この場合n=1)の端末接続ポート13nから出力される信号がレベル測定器40に入力される。このように減衰量データが0のときに、入力出力ポート間に生じる損失は、その経路が定常的に有している経路損失であり、校正用信号のレベルが0dBmであれば、n番目の端末接続ポート13nから出力される信号レベルLnが経路損失となり、この値が記憶される(S5)。
In this state, the reference level calibration signal Sin output from the
そして、校正ポイント指示値kを1に設定し、試験モードの際に試験装置本体100から指定される損失データの分解能が0.1dBステップとすれば、出力レベルが許容誤差内で(Ln−0.1×k)dBmに等しくなるまで、減衰量データの追い込み制御を行い、その追込み制御で得られた減衰量データを、実損失0.1×k(dB)を与える減衰量データと決定し、これを校正値として記憶する(S6〜S8)。
Then, when the calibration point instruction value k is set to 1 and the resolution of the loss data designated from the test apparatus
この追い込み制御は、例えば、現段階の減衰量データを0.1dB分増やし、それによる出力信号レベルの変動が収まるまで待ってから出力値を取り込み、その出力値と目標値とを比較し、その差分が許容誤差(例えば0.005dB)より多い場合には、減衰量データをその差分の符号と絶対値に応じて変化させるという処理を、出力値が目標値に対して許容誤差内で等しくなるまで繰り返す。 In this tracking control, for example, the attenuation data at the current stage is increased by 0.1 dB, and after waiting for the fluctuation of the output signal level to settle, the output value is taken in, the output value is compared with the target value, When the difference is larger than the allowable error (for example, 0.005 dB), the process of changing the attenuation amount data according to the sign and the absolute value of the difference becomes equal to the target value within the allowable error. Repeat until.
以下同様に、出力レベルがLnから0.1dBずつ下がるように減衰量データの追い込み制御を繰返し、その都度度決定される減衰量データを記憶する処理を可変減衰器の減衰量可変幅(例えば20dB)分(つまり20/0.1個)求めた段階で、校正用信号の周波数を所定値ΔF分変化させて上記処理を繰返す(S9、S10)。 In the same manner, the process of storing the attenuation amount data is repeated so that the output level decreases by 0.1 dB from Ln, and the process of storing the attenuation amount data determined each time is performed. ) Minutes (that is, 20 / 0.1), the frequency of the calibration signal is changed by a predetermined value ΔF, and the above processing is repeated (S9, S10).
以下、上記処理を周波数が上限値FMAXになるまで繰返し、その後、校正対象の端末接続ポートを次のポートに順次変更して、上記処理を繰り返す(S11〜14)。 Thereafter, the above processing is repeated until the frequency reaches the upper limit value F MAX , and then the terminal connection port to be calibrated is sequentially changed to the next port, and the above processing is repeated (S11 to 14).
これによって、各端末接続ポートについて、入出力間に経路損失以外の実損失を与えるための減衰量データが測定周波数毎に得られ、これらを減衰量データ記憶部20に書き込んでおき、端末試験時に、試験装置本体100から指定された損失データから経路損失分を差し引いた値に対応する損失を各分岐経路に等しく与えるために必要な減衰量データを減衰量制御部19が読み出してD/A変換器181〜18Nに与えることで、全ての端末接続ポートに等しいレベルの試験信号を与えることができる。
Thereby, for each terminal connection port, attenuation data for giving an actual loss other than the path loss between the input and output is obtained for each measurement frequency, and these are written in the attenuation
なお、このような可変減衰器の校正を行う技術は、例えば特許文献2に開示されている。
A technique for calibrating such a variable attenuator is disclosed in
しかしながら、上記構成の接続装置に求められる仕様が、例えば試験に必要な減衰量可変範囲=20dB(分解能0.1dB)、周波数範囲=700MHz〜3.8GHz(測定間隔20MHz)、接続可能端末数=8台とすると、減衰量データの追い込み制御を、
(20/0.1)×[(3800−700)/20]×8=248000(回)
行う必要がある。
However, the specifications required for the connection device configured as described above are, for example, variable attenuation range necessary for the test = 20 dB (resolution 0.1 dB), frequency range = 700 MHz to 3.8 GHz (
(20 / 0.1) × [(3800−700) / 20] × 8 = 248000 (times)
There is a need to do.
そして、一つの減衰量データを得るための追い込み制御には、前記したように、
減衰量データ可変→出力安定時間待ち→レベル測定→誤差判定
という処理を繰り返す必要があり、上記校正の校正システムによる追い込み制御では、現状で1校正ポイント当たり2秒程度かかってしまい、全ポイントの校正に、
248000×2=496000(秒)≒138(時間)
かかることになり、校正に膨大な時間を要していた。
And, as described above, in the driving-in control for obtaining one attenuation amount data,
It is necessary to repeat the process of variable attenuation data → waiting output stabilization time → level measurement → error determination. The tracking control by the calibration system of the above calibration currently takes about 2 seconds per calibration point, and all points are calibrated. In addition,
248000 × 2 = 496000 (seconds) ≈ 138 (hours)
As a result, it took a huge amount of time for calibration.
本発明は、この問題を解決し、各経路に設けられた可変減衰器に関する校正を短時間に行うことができる携帯端末試験用接続装置の校正システムおよび校正方法を提供することを目的としている。 An object of the present invention is to solve this problem and to provide a calibration system and a calibration method for a portable terminal test connection device that can perform calibration for variable attenuators provided in each path in a short time.
前記目的を達成するために、本発明の携帯端末試験用接続装置の校正システムは、
携帯端末試験用の試験装置本体からの出力されたダウンリンク信号を受けるための試験装置接続ポート(11)と、該試験装置接続ポートから入力されたダウンリンク信号を複数の経路に分岐する分配器(14)と、該分岐された各経路にそれぞれ挿入された可変減衰器(151〜15N)と、入力された減衰量データに応じた制御信号を前記可変減衰器に与える複数のD/A変換器(181〜18N)と、前記各可変減衰器を通過した信号を試験対象の携帯端末に入力するための複数の端末接続ポート(131〜13N)と、前記試験装置接続ポートから前記各端末接続ポートに至る複数の経路に等しい損失を所定範囲で第1の分解能で与えるために必要な前記可変減衰器毎の減衰量データを予め記憶する減衰量データ記憶部(20)と、外部からの指定された損失データに対応した減衰量データを前記減衰量データ記憶部から読み出して前記各D/A変換器に与えることで前記各可変減衰器の減衰量を制御し、前記各端末接続ポートに接続される試験対象の複数の携帯端末に等しいレベルの信号を与える減衰量制御部(19)とを有する携帯端末試験用接続装置の前記外部から指定される損失データと前記減衰量データとの関係を対応付けるための校正システムにおいて、
前記携帯端末試験用接続装置の前記試験装置接続ポートに所定レベルの校正用信号を与える信号発生器(30)と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記端末接続ポートから出力される信号のレベルを測定するレベル測定器(40)と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記減衰量制御部に対し、前記可変減衰器に対する減衰量制御データを基準値から前記第1の分解能より微細な第2の分解能で単調変化させる減衰量単調可変手段(61)、前記減衰量単調可変手段によって減衰量データが前記第2の分解能で単調変化している間に前記レベル測定器で測定された出力レベルを前記減衰量データに対応づけて記憶する減衰特性取得手段(62)、該減衰特性取得手段で得られた減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が前記第1の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する校正値抽出手段(63)を有し、前記複数の経路についての減衰量データの校正値を求める校正用制御装置(60)とを備えたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, a calibration system for a portable terminal test connection device of the present invention includes:
A test apparatus connection port (11) for receiving a downlink signal output from a test apparatus main body for portable terminal testing, and a distributor for branching the downlink signal input from the test apparatus connection port into a plurality of paths (14), a variable attenuator (15 1 to 15 N ) inserted in each of the branched paths, and a plurality of D / Ds for supplying a control signal corresponding to the input attenuation amount data to the variable attenuator A converter (18 1 to 18 N ), a plurality of terminal connection ports (13 1 to 13 N ) for inputting a signal that has passed through each of the variable attenuators to the portable terminal to be tested, and the test apparatus connection Attenuation data storage unit (2) that stores in advance attenuation data for each of the variable attenuators necessary for giving a loss equal to a plurality of paths from a port to each terminal connection port within a predetermined range with a first resolution. ) And controlling the attenuation amount of each variable attenuator by reading the attenuation amount data corresponding to the loss data designated from the outside from the attenuation amount data storage unit and giving it to each D / A converter, Loss data specified from the outside of the mobile terminal test connection device having an attenuation amount control unit (19) that gives a signal of the same level to a plurality of test target mobile terminals connected to each terminal connection port, and In the calibration system for associating the relationship with the attenuation data,
A signal generator (30) for providing a predetermined level of calibration signal to the test apparatus connection port of the mobile terminal test connection apparatus;
A level measuring device (40) for measuring the level of a signal output from the terminal connection port of the mobile terminal test connection device;
Attenuation monotonic variable means for monotonically changing the attenuation control data for the variable attenuator from a reference value with a second resolution finer than the first resolution to the attenuation control unit of the portable terminal test connection device (61) Attenuation in which the output level measured by the level measuring device is stored in association with the attenuation amount data while the attenuation amount data is monotonously changing at the second resolution by the attenuation amount monotonic variable means. Characteristic acquisition means (62), calibration value extraction for extracting attenuation data whose output level is the first resolution from the attenuation data versus output level characteristic obtained by the attenuation characteristic acquisition means as a calibration value And a calibration control device (60) for obtaining calibration values of attenuation amount data for the plurality of paths.
また、本発明の請求項2の携帯端末試験用接続装置の校正システムは、請求項1記載の携帯端末試験用接続装置の校正システムにおいて、
前記校正用制御装置は、前記信号発生器が出力する前記校正用信号の周波数を可変制御する周波数制御手段(64)を有し、前記校正用信号の異なる周波数毎の校正値を求めることを特徴とする。
Moreover, the calibration system for the portable terminal test connection device according to
The calibration control device has frequency control means (64) for variably controlling the frequency of the calibration signal output from the signal generator, and obtains calibration values for different frequencies of the calibration signal. And
また、本発明の請求項3の携帯端末試験用接続装置の校正方法は、
携帯端末試験用の試験装置本体からの出力されたダウンリンク信号を受けるための試験装置接続ポート(11)と、該試験装置接続ポートから入力されたダウンリンク信号を複数の経路に分岐する分配器(14)と、該分岐された各経路にそれぞれ挿入された可変減衰器(151〜15N)と、入力された減衰量データに応じた制御信号を前記可変減衰器に与える複数のD/A変換器(181〜18N)と、前記各可変減衰器を通過した信号を試験対象の携帯端末に入力するための複数の端末接続ポート(131〜13N)と、前記試験装置接続ポートから前記各端末接続ポートに至る複数の経路に等しい損失を所定範囲で第1の分解能で与えるために必要な前記可変減衰器毎の減衰量データを予め記憶する減衰量データ記憶部(20)と、外部から指定された損失データに対応した減衰量データを前記減衰量データ記憶部から読み出して前記各D/A変換器に与えることで前記各可変減衰器の減衰量を制御し、前記各端末接続ポートに接続される試験対象の複数の携帯端末に等しいレベルの信号を与える減衰量制御部(19)とを有する携帯端末試験用接続装置の前記外部から指定される損失データと前記減衰量データとの関係を対応付けるための校正方法において、
前記携帯端末試験用接続装置の前記試験装置接続ポートに、所定レベルの校正用信号を与える段階と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記減衰量制御部による前記可変減衰器に対する減衰量データを基準値から前記第1の分解能より微細な第2の分解能で単調変化させながら、前記端末接続ポートから出力される信号の出力レベルを測定し、減衰量データ対出力レベルの特性を取得する段階と、
取得した減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が前記第1の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する段階とを含むことを特徴とする。
Moreover, the calibration method of the mobile terminal test connection device according to
A test apparatus connection port (11) for receiving a downlink signal output from a test apparatus main body for portable terminal testing, and a distributor for branching the downlink signal input from the test apparatus connection port into a plurality of paths (14), a variable attenuator (15 1 to 15 N ) inserted in each of the branched paths, and a plurality of D / Ds for supplying a control signal corresponding to the input attenuation amount data to the variable attenuator A converter (18 1 to 18 N ), a plurality of terminal connection ports (13 1 to 13 N ) for inputting a signal that has passed through each of the variable attenuators to the portable terminal to be tested, and the test apparatus connection Attenuation data storage unit (2) that stores in advance attenuation data for each of the variable attenuators necessary for giving a loss equal to a plurality of paths from a port to each terminal connection port within a predetermined range with a first resolution. ) And controlling the attenuation amount of each variable attenuator by reading the attenuation amount data corresponding to the loss data designated from the outside from the attenuation amount data storage unit and giving it to each D / A converter, Loss data specified from the outside of the mobile terminal test connection device and the attenuation having an attenuation amount control unit (19) that gives a signal of the same level to a plurality of test target mobile terminals connected to each terminal connection port In the calibration method for associating the relationship with the quantity data,
Providing a calibration signal of a predetermined level to the test device connection port of the mobile terminal test connection device;
Output from the terminal connection port while monotonically changing the attenuation amount data for the variable attenuator by the attenuation amount control unit of the portable terminal test connection device from a reference value with a second resolution finer than the first resolution. Measuring the output level of the received signal and obtaining the characteristics of the attenuation data versus the output level;
A step of extracting, as a calibration value, attenuation data in which the difference in output level is the first resolution from the acquired attenuation data versus output level characteristic.
また、本発明の請求項4の携帯端末試験用接続装置の校正方法は、請求項3記載の携帯端末試験用接続装置の校正方法において、
前記校正用信号の周波数を変化させる段階を含み、前記校正用信号の異なる周波数における前記複数の経路についての減衰量データの校正値を求めることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a calibration method for a mobile terminal test connection device according to the third aspect of the present invention.
Including a step of changing a frequency of the calibration signal, and determining a calibration value of attenuation data for the plurality of paths at different frequencies of the calibration signal.
このように、本発明では、携帯端末試験用接続装置の試験装置接続ポートに、所定レベルの校正用信号を与えた状態で、減衰量制御部が出力する減衰量データを基準値から第1の分解能より微細な第2の分解能で単調変化させながら、校正対象の端末接続ポートから出力される信号の出力レベルを測定し、減衰量データ対出力レベルの特性を取得し、その取得した特性から、出力レベルの差が第1の分解能となる減衰量データを校正値として抽出するようにしているので、1校正ポイントごとに減衰量データの追込み制御を行う必要がなく、端末接続ポートが多くても極めて短時間に校正処理を完了させることができる。 As described above, according to the present invention, the attenuation amount data output from the attenuation amount control unit in the state in which the calibration signal of a predetermined level is given to the test device connection port of the connection device for portable terminal test is the first value from the reference value. Measure the output level of the signal output from the terminal connection port to be calibrated while monotonically changing at the second resolution finer than the resolution, obtain the characteristics of attenuation data versus output level, and from the obtained characteristics, Since attenuation data whose output level difference is the first resolution is extracted as a calibration value, it is not necessary to perform additional control of attenuation data for each calibration point, and even if there are many terminal connection ports. The calibration process can be completed in a very short time.
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明を適用した接続装置の校正システムの構成を示している。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 shows the configuration of a calibration system for a connection device to which the present invention is applied.
この校正システムの校正対象となる接続装置10は、前述したものと同等であるので、各構成部に同一符号を付して説明を省略する。
Since the
また、校正用信号を出力する信号発生器30および端末接続ポートから出力される信号のレベルを測定するレベル測定器40に関しても前述の校正システムと同様である。
The
この校正システムの校正用制御装置60は、コンピュータ構成で、信号発生器30の制御、レベル測定器40の制御および測定結果の取得、接続装置10の減衰量制御部19に対する制御等を行う。
The
この校正用制御装置60は、減衰量単調可変手段61、減衰特性取得手段62、校正値抽出手段63、周波数制御手段64、減衰量データ更新手段65を有している。
The
減衰量単調可変手段61は、接続装置10の減衰量制御部19に対し、各可変減衰器151〜15Nにそれぞれ対応するD/A変換器181〜18Nに与える減衰量データを、例えば最小値0.00dBを基準にして第1の分解能(前記例では0.1dB)より微細な第2の分解能(例えば0.01dB)で単調増加させるように指示する。なお、この例では減衰量データの単調変化の可変幅を試験モードで使用される減衰量範囲(0〜20dB)より若干広く(例えば0〜20+α α=3dB)設定して、0〜20dBの範囲の実減衰を与えるデータを確実に抽出できるようにしている。また、この例では、減衰量最小の状態を基準にして単調変化させているが、上記余裕をもたせた範囲で、例えば減衰量データを23dB相当に設定した状態を基準にして減衰量最小状態まで単調変化させてもよい。
The attenuation amount monotonous variable means 61 supplies attenuation amount data to be given to the D / A converters 18 1 to 18 N respectively corresponding to the variable attenuators 15 1 to 15 N to the attenuation
減衰特性取得手段62は、減衰量単調可変手段61の指示によって減衰量データが基準値から第2の分解能で単調変化している期間中にレベル測定器40で測定された出力レベルを減衰量データに対応づけて内部メモリ(図示せず)に記憶する。
The attenuation
この減衰特性取得手段62による減衰量データ対出力レベルの特性の取得開始タイミングの制御は、レベル測定器40の構造に応じて種々の方式が考えられる。
Various methods can be considered for controlling the acquisition start timing of the attenuation amount data vs. output level characteristic by the attenuation characteristic acquisition means 62 according to the structure of the
例えば、レベル測定器40が、オシロスコープ(スペクトラムアナライザの掃引周波数を入力信号周波数に一致させた状態で停止させてタイムドメイン測定する場合も含む)のように、入力信号の所定レベル以上の急峻な立ち上がり変化(または立ち下がり変化)があったときから、入力信号に対するサンプリングを開始するレベルトリガ機能を有している場合には、減衰特性取得手段62は、減衰量単調可変手段61による減衰量データの単調可変に先立って、減衰量を所定以上の幅で前記基準値までステップ変化させるものとする。また、レベル測定器40が信号入力端子と別系統のトリガ専用端子を有している場合には、そのトリガ専用端子に測定開始タイミングに同期してレベルが遷移するトリガクロックを与える構成でもよい。
For example, when the
また、レベル測定器40がトリガタイミングから入力信号に対するサンプリングを行い、取得した一連の特性データを内部に記憶しておき、その記憶した一連の特性データを外部装置(この場合、校正用制御装置60)からの指示でまとめて送出する機能を有している場合には、減衰量データの単調変化が最終値まで到達してその出力レベルのサンプリングが完了したタイミングに減衰特性取得手段62からレベル測定器40に対して特性データの送出要求を行い、レベル測定器40の内部メモリに記憶された一連の特性データを校正用制御装置60へ送らせる。
The
また、レベル測定器40が、上記のようなトリガ機能やサンプリングした一連の特性データを記憶してからまとめて送出する機能を有しておらず、入力信号に対するサンプリングと、そのサンプリング結果の出力を定常的に行う構成の場合には、減衰量単調可変手段61によって減衰量データが基準値に設定されたタイミングから減衰量データが最終値まで変化するまでの期間、レベル測定器40から出力されるサンプリングデータの取り込みを行う。
Further, the
校正値抽出手段63は、減衰特性取得手段62で得られた減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が第1の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する。
The calibration value extraction unit 63 extracts attenuation data whose output level difference becomes the first resolution as a calibration value from the attenuation data versus output level characteristic obtained by the attenuation
この校正値の抽出処理は、減衰量データ対出力レベルの特性データのうち、減衰量が変化した直後の過渡変動期間が経過し、且つ次の減衰量変化が起きる前の安定期間にサンプリングされたデータを対象とする(そのデータが一つの場合にはそのデータを用い、複数ある場合には、そのうちの中間の値あるいは平均値を用いる)。 This calibration value extraction process was sampled during the stable period before the next attenuation change, after the transient fluctuation period immediately after the attenuation change in the characteristic data of the attenuation data versus the output level. Data is the target (if the data is one, use that data, and if there is more than one, use the intermediate value or average value).
周波数制御手段64は、信号発生器30が出力する校正用信号の周波数を可変制御し、また、レベル測定器40が、測定周波数可変型の場合には、その測定周波数を校正用信号の周波数に合わせる制御を行う。
The frequency control means 64 variably controls the frequency of the calibration signal output from the
減衰量データ更新手段65は、校正値抽出手段63によって得られた減衰量データの校正値を接続装置10の減衰量制御部19に与え、減衰量データ記憶部20に対する減衰量データを校正値に更新させる。
The attenuation amount data update unit 65 gives the calibration value of the attenuation amount data obtained by the calibration value extraction unit 63 to the attenuation
図2は、上記構成の校正用制御装置60の処理手順を示すフローチャートである。以下、このフローチャートに基づいて実施形態の校正システムの動作例を説明する。なお、この動作例は、レベル測定器40が前記したトリガ機能と、サンプリングした一連の特性データを内部メモリに記憶し、外部装置からの要求でその記憶した特性データをまとめて送出する機能を有し、入力信号のタイムドメイン測定が可能なスペクトラムアナライザを用いたものである。
FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure of the
始めに、校正対象の分岐経路を指定する値nを1に初期化し(S21)、レベル測定器40をn番目の端末接続ポート13nに接続し(S22)、接続装置10に指定する損失データDLを、図3のAのように、0〜20dBの校正範囲をカバーする可変範囲の最大値Dmax (例えばdBの単位で20.00+α αは例えば3dB)に設定する(S23)。なお、前記したように、この校正モードにおいて接続装置10の減衰量制御部19は、外部から指定された損失データDLを、そのまま(桁変更を含む)各D/A変換器181〜18Nに与える機能を有しているものとする。
First, a value n designating the branch path to be calibrated is initialized to 1 (S21), the
そして、信号発生器30の出力を基準レベル(例えば0dBm)、測定周波数fを測定範囲の最低周波数Fmin (例えばFmin =700MHz)に設定する(S24)。
Then, the output of the
この状態で、信号発生器30から出力された基準レベルの校正用信号Sinは、接続装置10の分配器14でN経路にほぼ等しく分配され、各分岐経路の可変減衰器151〜15Nによりほぼ23dBの減衰を受けて各端末接続ポート131〜13Nに出力されることになり、そのうちn番目(この場合n=1)の端末接続ポート13nから出力される信号がレベル測定器40に入力される。このときの各可変減衰器151〜15Nの減衰量はほぼ23dBと大きく、端末接続ポート13nに対応した経路には可変減衰器以外の経路損失も含まれているから、レベル測定器40に入力される信号レベルは低レベルで、トリガが掛からず、レベル測定器40によるレベル検出処理は開始されない。
In this state, the reference level calibration signal Sin output from the
この状態から、校正用制御装置60は、接続装置10に対して指定する損失データDLを、最小値Dmin (dBの単位で0.00)に変更する(S25)。
In this state,
このため、各可変減衰器151〜15Nの減衰量はほぼ23dBから0dBまで急激に変化し、レベル測定器40の入力信号レベルがほぼ23dB大きくなってトリガ機能が働いてレベル測定器40によるレベル検出処理が、所定のサンプリング周期Tsで開始され、その検出されたレベルデータが例えばレベル測定器40内のメモリに順次記憶されていく。
For this reason, the amount of attenuation of each of the variable attenuators 15 1 to 15 N changes suddenly from approximately 23 dB to 0 dB, the input signal level of the
ただし、この急激な減衰量変化により出力レベルに過渡変動が生じるので、その変動が収束するまでの期間(図3のBのT1時間)だけ待つ(S26)。 However, since a transient fluctuation occurs in the output level due to this sudden change in attenuation, the process waits for a period until the fluctuation converges (time T1 in FIG. 3B) (S26).
そして、この変動が収束して安定した後、減衰量制御部19に指示する損失データDLを、試験モードで指定される損失データの分解能(第1の分解能0.1dB)より微細な第2の分解能(例えば0.01dB)のステップΔdで基準値(最小値Dmin )から最大値Dmax まで単調増加させていく(S27)。 After this change is stabilized to converge, the attenuation amount controller lost data D L to instruct the 19, the resolution (first resolution 0.1 dB) loss data specified in the test mode finer second Is increased monotonically from the reference value (minimum value Dmin) to the maximum value Dmax at step Δd with a resolution of 0.01 dB (for example, 0.01 dB) (S27).
この単調変化期間(図3のC)における減衰量の実変化量はほぼ0.01dBと微小であるので、図4のように、それによる出力レベルの過渡変動の期間Tvは例えば500μS以下と短い。よってこの単調変化の間隔T2を例えば1mSとすれば、時間T2から過渡変動期間Tvを除いた安定期間Taは500μS以上となり、レベル測定器40によるサンプリング周期Tsが例えば時間T2の1/10の100μS程度であれば、安定期間Ta中に5個程度のサンプリング値(図中黒丸で示す)が得られることになる。
Since the actual change amount of the attenuation amount in this monotonous change period (C in FIG. 3) is as small as about 0.01 dB, as shown in FIG. 4, the output level transient fluctuation period Tv is as short as 500 μS or less, for example. . Accordingly, if the monotonous change interval T2 is set to 1 mS, for example, the stable period Ta obtained by excluding the transient fluctuation period Tv from the time T2 is 500 μS or more, and the sampling period Ts by the
このように接続装置10に対して指定する損失データを、第2の分解能の微小ステップで基準値から単調変化させることで、n番目の分岐経路についての1測定周波数における可変減衰器への減衰量データと実際の出力レベルの関係を表す特性データが得られることになり、最終段階まで損失データを変化させてそのレベルデータが得られたタイミングで、レベル測定器40に記憶された一連の特性データの送出を要求して、レベル測定器40から送出された一連の特性データを校正用制御装置60が取り込む(S28)。
In this way, the loss data designated for the
上記S25〜S28までの処理を、周波数を所定ステップΔF(例えばΔF=20MHz)ずつ高く変化させる毎に繰返し、最高値Fmax (例えばFmax =3.8GHz)まで行うことで、n番目の分岐経路に関する全ての測定周波数についての減衰量データと実際の出力レベルの関係を表す特性データが得られる(S29、S30)。 The processing from S25 to S28 is repeated every time the frequency is increased by a predetermined step ΔF (for example, ΔF = 20 MHz), and is repeated up to the maximum value Fmax (for example, Fmax = 3.8 GHz). Characteristic data representing the relationship between the attenuation amount data for all the measurement frequencies and the actual output level is obtained (S29, S30).
このようにしてn番目の分岐経路についての特性データが得られた後、nを1だけ更新して、処理S22〜S30を前記同様に行うことで、次の分岐経路に関する全ての周波数についての減衰量データと実際の出力レベルの関係を表す特性データが得られ、これをn=Nまで行えば、全ての分岐経路に関する全ての測定周波数についての特性データが得られる(S31、S32)。 After the characteristic data for the n-th branch path is obtained in this way, n is updated by 1, and the processes S22 to S30 are performed in the same manner as described above, whereby attenuation for all frequencies related to the next branch path is performed. Characteristic data representing the relationship between the quantity data and the actual output level is obtained. If this is performed up to n = N, characteristic data for all measurement frequencies for all branch paths can be obtained (S31, S32).
そして、上記のようにして得られた特性データから、第2の分解能(0.01dB)より粗い第1の分解能(例えば0.1dB)の損失を各分岐経路に等しく与えるために必要な減衰量データを校正データとして抽出し、その抽出したデータを、接続装置10に与えて減衰量データ記憶部20の内容を更新することで校正処理が終了する(S33、S34)。
Then, from the characteristic data obtained as described above, the amount of attenuation necessary for equally giving a loss of the first resolution (eg, 0.1 dB) coarser than the second resolution (0.01 dB) to each branch path. The data is extracted as calibration data, and the extracted data is given to the
この特性データから校正データの抽出は、例えば図5に示すように行う。
即ち、ある測定周波数における一つの端末接続ポートについての測定で得られた特性データを図5(a)とする。この図5(a)で、左欄の指定値は、指定された損失データに対応するD/A変換器への減衰量データであり、指定損失データ00.00〜20.00+α(dB)を4桁整数に桁変更したデータが対応している。また、右欄は出力レベルの測定値であり、前記した安定期間Taにサンプリングされたデータを基に決定されたものである。校正用信号の入力レベルを0dBmとしたとき、初期値0000のときに得られた測定値−10.09(dBm)が、測定対象のポートに定常的に存在する経路損失であり、今この値をLnとする。
The calibration data is extracted from the characteristic data as shown in FIG. 5, for example.
That is, the characteristic data obtained by the measurement for one terminal connection port at a certain measurement frequency is shown in FIG. In FIG. 5A, the designated value in the left column is attenuation data to the D / A converter corresponding to the designated loss data, and designated loss data 00.00 to 20.00 + α (dB) is obtained. Data changed to 4-digit integers are supported. Further, the right column is a measured value of the output level, which is determined based on the data sampled during the above-described stable period Ta. When the input level of the calibration signal is 0 dBm, the measured value −10.09 (dBm) obtained when the initial value is 0000 is the path loss that is steadily present in the measurement target port. Is Ln.
この測定結果で、測定値がLn−0.1=−10.19(dBm)に等しくなるのは、減衰量データが0010のときであり、これは理論値と一致する。 In this measurement result, the measured value becomes equal to Ln−0.1 = −10.19 (dBm) when the attenuation amount data is 0010, which matches the theoretical value.
また、測定値がLn−0.1×2=−10.29(dBm)に等しくなるのは、減衰量データが0021のときであり、理論上のデータ0020を指定すると誤差が生じることになる。 The measured value is equal to Ln−0.1 × 2 = −10.29 (dBm) when the attenuation data is 0021, and an error occurs when the theoretical data 0020 is specified. .
以下同様にして、測定値が、試験状態で指定される損失データの分解能(この場合0.1dB)間隔となる減衰量データを校正値として抽出する。 In the same manner, attenuation data whose measured value is the resolution of loss data specified in the test state (in this case, 0.1 dB) is extracted as a calibration value.
図5の(b)は、上記のように抽出した校正データに基づいて、可変減衰器による実減衰量と、その減衰量を実現するためにD/A変換器に与えるべき減衰量データとの対応関係を示すものである。 (B) of FIG. 5 shows the actual attenuation by the variable attenuator and the attenuation data to be given to the D / A converter to realize the attenuation based on the calibration data extracted as described above. It shows the correspondence.
前記した経路損失Lnと、図5(b)の内容を減衰量データ記憶部20に記憶しておき、試験状態において、試験対象の経路に対して0.1dBの分解能で経路損失Lnより大きな損失データDLが指定されたとき、減衰量制御部19は、両者の差分、
DL−Ln=ΔL
を求め、図5(b)の左欄のうちの差分ΔLと等しい実減衰量に対応した減衰量データを選択して対象となる経路のD/A変換器に設定する。
The path loss Ln described above and the content of FIG. 5B are stored in the attenuation amount
D L −Ln = ΔL
And the attenuation amount data corresponding to the actual attenuation amount equal to the difference ΔL in the left column of FIG. 5B is selected and set in the D / A converter of the target path.
これによって、対象となる経路の損失は、指定された損失DLデータに正確に対応することになる。この処理を全ての経路について並行して行えば、全ての経路における損失を等しく設定することができ、それら経路の端末接続ポートに接続された複数の携帯端末に同一レベルの試験信号を与えることができる。 As a result, the loss of the target path accurately corresponds to the designated loss DL data. If this process is performed in parallel for all routes, the loss in all routes can be set equal, and the same level test signal can be given to a plurality of portable terminals connected to the terminal connection ports of those routes. it can.
上記したように実施形態の校正システムでは、各経路に挿入された可変減衰器にそれぞれ対応するD/A変換器に与えるための減衰量データを、試験状態で指定される損失データの分解能より微細なステップで単調変化させて、減衰量データ対出力レベルの特性データを求め、その特性データから、出力レベルが試験状態で指定される損失データの分解能で変化する減衰量データを校正データとして抽出している。 As described above, in the calibration system of the embodiment, attenuation data to be supplied to the D / A converter corresponding to each variable attenuator inserted in each path is finer than the resolution of loss data specified in the test state. The attenuation data vs. output level characteristic data is obtained by monotonically changing the data in various steps, and the attenuation data whose output level changes with the resolution of the loss data specified in the test state is extracted from the characteristic data as calibration data. ing.
このため、従来の追込み制御のように、校正ポイント毎に減衰量データを試験状態で指定される損失データの分解能に近い幅で可変し、それによって生じる過渡変動期間を待ち、安定した値と理論値との差を求め、その差の符号と絶対値に応じて減衰量データを増減するという処理を繰り返す必要がなくなり、極めて短時間に校正処理を完了することができる。 For this reason, as in the conventional tracking control, the attenuation data is varied for each calibration point within a range close to the resolution of the loss data specified in the test state, and the resulting transient fluctuation period is waited for. It is not necessary to repeat the process of obtaining the difference from the value and increasing / decreasing the attenuation amount data according to the sign and absolute value of the difference, and the calibration process can be completed in a very short time.
ここで数値例を示す。例えば、トリガ掃引に伴う過渡変動収束の時間T1を100mS、減衰量データの単調可変の間隔T2を1mS、減衰量データの可変範囲を20dBで可変ステップを0.01dBとすれば、1測定周波数、1経路当たりの特性データを取得するために要する時間は、
(20/0.01)×1+100=2100mS=2.1S
となる。
Here is a numerical example. For example, if the transient variation convergence time T1 associated with the trigger sweep is 100 mS, the monotonic variable interval T2 of the attenuation data is 1 mS, the variable range of the attenuation data is 20 dB, and the variable step is 0.01 dB, one measurement frequency, The time required to acquire characteristic data per route is
(20 / 0.01) × 1 + 100 = 2100 mS = 2.1S
It becomes.
これに、特性データの取り込みや校正データの抽出処理を加えても、せいぜい3〜4秒程度しか掛からない(なお、特性データの取り込みに要する時間は短く、またその取り込み処理は次の特性データの取得中に並行して行うことができるので無視し得る)。 Even if characteristic data acquisition or calibration data extraction processing is added to this, it takes only about 3 to 4 seconds at the most (note that the time required for characteristic data acquisition is short, and the acquisition processing is performed for the next characteristic data. It can be done in parallel during acquisition and can be ignored).
そして、上記時間を4秒、周波数範囲=700MHz〜3.8GHz(測定間隔20MHz)、接続可能端末数=8台とすると、全測定周波数、全経路の特性データの取得に必要な時間は、
4×(3100/20)×8=4960S≒83分
となり、前記した1校正ポイント毎に追込み制御する方式に比べて格段に高速であることがわかる。
And, if the above time is 4 seconds, the frequency range = 700 MHz to 3.8 GHz (
4 × (3100/20) × 8 = 4960S≈83 minutes, and it can be seen that this is much faster than the method in which the additional control is performed for each calibration point described above.
なお、前記実施形態では、レベル測定器40のトリガ機能を用いるために、損失データを最大値から最小値へ急激に変化させていたが、前記したように、レベル測定器40として、入力信号に対するレベル検出処理とその出力を定常的に行う構成のものを用いる場合には、トリガ用のデータ変更をせずに、損失データを初期値(最小値または最大値)から第2の分解能のステップで単調変化させながら、測定値の取り込みを行えばよい。その場合には、前記した収束待ちの時間T1もほぼ不要となるので、さらに校正処理を短時間に完了できる。
In the embodiment, in order to use the trigger function of the
10……携帯端末試験用接続装置、11……試験装置接続ポート、131〜13N……端末接続ポート、14……分配器、151〜15N……可変減衰器、181〜18N……D/A変換器、19……減衰量制御部、20……減衰量データ記憶部、30……信号発生器、40……レベル測定器、60……校正用制御装置、61……減衰量単調可変手段、62……減衰特性取得手段、63……校正値抽出手段、64……周波数制御手段、65……減衰量データ更新手段、100……試験装置本体
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記携帯端末試験用接続装置の前記試験装置接続ポートに所定レベルの校正用信号を与える信号発生器(30)と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記端末接続ポートから出力される信号のレベルを測定するレベル測定器(40)と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記減衰量制御部に対し、前記可変減衰器に対する減衰量制御データを基準値から前記第1の分解能より微細な第2の分解能で単調変化させる減衰量単調可変手段(61)、前記減衰量単調可変手段によって減衰量データが前記第2の分解能で単調変化している間に前記レベル測定器で測定された出力レベルを前記減衰量データに対応づけて記憶する減衰特性取得手段(62)、該減衰特性取得手段で得られた減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が前記第1の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する校正値抽出手段(63)を有し、前記複数の経路についての減衰量データの校正値を求める校正用制御装置(60)とを備えたことを特徴とする携帯端末試験用接続装置の校正システム。 A test apparatus connection port (11) for receiving a downlink signal output from a test apparatus main body for portable terminal testing, and a distributor for branching the downlink signal input from the test apparatus connection port into a plurality of paths (14), a variable attenuator (15 1 to 15 N ) inserted in each of the branched paths, and a plurality of D / Ds for supplying a control signal corresponding to the input attenuation amount data to the variable attenuator A converter (18 1 to 18 N ), a plurality of terminal connection ports (13 1 to 13 N ) for inputting a signal that has passed through each of the variable attenuators to the portable terminal to be tested, and the test apparatus connection Attenuation data storage unit (2) that stores in advance attenuation data for each of the variable attenuators necessary for giving a loss equal to a plurality of paths from a port to each terminal connection port within a predetermined range with a first resolution. ) And controlling the attenuation amount of each variable attenuator by reading the attenuation amount data corresponding to the loss data designated from the outside from the attenuation amount data storage unit and giving it to each D / A converter, Loss data specified from the outside of the mobile terminal test connection device and the attenuation having an attenuation amount control unit (19) that gives a signal of the same level to a plurality of test target mobile terminals connected to each terminal connection port In the calibration system for associating the relationship with the quantity data,
A signal generator (30) for providing a predetermined level of calibration signal to the test apparatus connection port of the mobile terminal test connection apparatus;
A level measuring device (40) for measuring the level of a signal output from the terminal connection port of the mobile terminal test connection device;
Attenuation monotonic variable means for monotonically changing the attenuation control data for the variable attenuator from a reference value with a second resolution finer than the first resolution to the attenuation control unit of the portable terminal test connection device (61) Attenuation in which the output level measured by the level measuring device is stored in association with the attenuation amount data while the attenuation amount data is monotonously changing at the second resolution by the attenuation amount monotonic variable means. Characteristic acquisition means (62), calibration value extraction for extracting attenuation data whose output level is the first resolution from the attenuation data versus output level characteristic obtained by the attenuation characteristic acquisition means as a calibration value And a calibration control device (60) for obtaining a calibration value of attenuation amount data for the plurality of paths, and a calibration system for a connection device for portable terminal testing, comprising: means (63) Beam.
前記携帯端末試験用接続装置の前記試験装置接続ポートに、所定レベルの校正用信号を与える段階と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記減衰量制御部による前記可変減衰器に対する減衰量データを基準値から前記第1の分解能より微細な第2の分解能で単調変化させながら、前記端末接続ポートから出力される信号の出力レベルを測定し、減衰量データ対出力レベルの特性を取得する段階と、
取得した減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が前記第1の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する段階とを含むことを特徴とする携帯端末試験用接続装置の校正方法。 A test apparatus connection port (11) for receiving a downlink signal output from a test apparatus main body for portable terminal testing, and a distributor for branching the downlink signal input from the test apparatus connection port into a plurality of paths (14), a variable attenuator (15 1 to 15 N ) inserted in each of the branched paths, and a plurality of D / Ds for supplying a control signal corresponding to the input attenuation amount data to the variable attenuator A converter (18 1 to 18 N ), a plurality of terminal connection ports (13 1 to 13 N ) for inputting a signal that has passed through each of the variable attenuators to the portable terminal to be tested, and the test apparatus connection Attenuation data storage unit (2) that stores in advance attenuation data for each of the variable attenuators necessary for giving a loss equal to a plurality of paths from a port to each terminal connection port within a predetermined range with a first resolution. ) And controlling the attenuation amount of each variable attenuator by reading the attenuation amount data corresponding to the loss data designated from the outside from the attenuation amount data storage unit and giving it to each D / A converter, Loss data specified from the outside of the mobile terminal test connection device and the attenuation having an attenuation amount control unit (19) that gives a signal of the same level to a plurality of test target mobile terminals connected to each terminal connection port In the calibration method for associating the relationship with the quantity data,
Providing a calibration signal of a predetermined level to the test device connection port of the mobile terminal test connection device;
Output from the terminal connection port while monotonically changing the attenuation amount data for the variable attenuator by the attenuation amount control unit of the portable terminal test connection device from a reference value with a second resolution finer than the first resolution. Measuring the output level of the received signal and obtaining the characteristics of the attenuation data versus the output level;
Calibration of the portable terminal test connection device, comprising: extracting from the acquired attenuation data vs. output level characteristics attenuation data whose output level is the first resolution as a calibration value. Method.
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