JP2014130084A - Tire analysis system and analysis method - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、タイヤ解析システムおよび解析方法に関し、さらに詳しくは、高精度な解析を実現できるタイヤ解析システムおよび解析方法に関する。 The present invention relates to a tire analysis system and an analysis method, and more particularly to a tire analysis system and an analysis method capable of realizing a highly accurate analysis.
従来のタイヤ解析システムは、高速度ビデオカメラを用いて試験タイヤを連続撮影したデジタル画像を用いて、タイヤ形状解析を行っている。かかる従来のタイヤ解析装置として、特許文献1、2に記載される技術が知られている。
Conventional tire analysis systems perform tire shape analysis using digital images obtained by continuously photographing test tires using a high-speed video camera. As such conventional tire analysis apparatuses, techniques described in
この発明は、高精度な解析を実現できるタイヤ解析システムおよび解析方法を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a tire analysis system and an analysis method capable of realizing a highly accurate analysis.
1つの態様において、解析システムは、タイヤに付された複数の格子パターンのそれぞれが所定の位置にあるときの画像を撮影する撮像部と、前記撮像部によって撮影された画像を用いて形状解析を行うことにより前記格子パターンの空間座標を算出する空間座標算出部と、前記空間座標に基づいて前記格子パターンの配置のバラツキを検出するバラツキ検出部と、前記バラツキに基づいて前記格子パターンの配置を補正する補正部と、を備える。 In one aspect, the analysis system performs shape analysis using an imaging unit that captures an image when each of the plurality of lattice patterns attached to the tire is at a predetermined position, and an image captured by the imaging unit. A spatial coordinate calculation unit that calculates a spatial coordinate of the lattice pattern by performing a variation detection unit that detects a variation in the arrangement of the lattice pattern based on the spatial coordinate, and an arrangement of the lattice pattern based on the variation. A correction unit for correcting.
他の態様において、解析方法は、タイヤに付された複数の格子パターンのそれぞれが所定の位置にあるときの画像を撮影するステップと、前記画像を用いて形状解析を行うことにより前記格子パターンの空間座標を算出するステップと、前記空間座標に基づいて前記格子パターンの配置のバラツキを検出するステップと、前記バラツキに基づいて前記格子パターンの配置を補正するステップと、を備える。 In another aspect, the analysis method includes a step of taking an image when each of the plurality of lattice patterns attached to the tire is in a predetermined position, and performing shape analysis using the image to thereby analyze the lattice pattern. Calculating a spatial coordinate; detecting a variation in the arrangement of the lattice pattern based on the spatial coordinate; and correcting the arrangement of the lattice pattern based on the variation.
解析システムおよび解析方法は、態様の1つにおいて、高精度な解析を実現できる。 The analysis system and the analysis method can realize highly accurate analysis in one aspect.
以下、この発明につき図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、この実施の形態の構成要素には、発明の同一性を維持しつつ置換可能かつ置換自明なものが含まれる。また、この実施の形態に記載された複数の変形例は、当業者自明の範囲内にて任意に組み合わせが可能である。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments. Further, the constituent elements of this embodiment include those that can be replaced while maintaining the identity of the invention and that are obvious for replacement. In addition, a plurality of modifications described in this embodiment can be arbitrarily combined within a range obvious to those skilled in the art.
[タイヤ解析システム]
図1は、この発明の実施の形態にかかるタイヤ解析システムを示す構成図である。図2は、図1に記載したタイヤ解析システムのタイヤ解析装置の機能を示すブロック図である。これらの図において、図1は、タイヤ解析システムの全体構成を模式的に示し、図2は、タイヤ解析装置の主たる機能を示している。
[Tire analysis system]
FIG. 1 is a configuration diagram showing a tire analysis system according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a block diagram illustrating functions of the tire analysis device of the tire analysis system illustrated in FIG. 1. In these drawings, FIG. 1 schematically shows the overall configuration of the tire analysis system, and FIG. 2 shows the main functions of the tire analysis apparatus.
このタイヤ解析システム1は、所定条件を入力したときのタイヤ中心軸にかかる変位、タイヤ形状の変化、タイヤ表面歪みの変化等を測定することにより、タイヤの挙動解析(例えば、振動計測)を行うシステムに適用される。タイヤ解析システム1は、タイヤ試験機2と、撮像装置3と、タイヤ解析装置4とを備える(図1参照)。
The
タイヤ試験機2は、試験タイヤに試験条件を付与する装置であり、例えば、ドラム式タイヤ試験機、ベルト式タイヤ試験機などにより構成される。図1の構成では、タイヤ試験機2が、ドラム式タイヤ試験機であり、支持装置21と、駆動装置22とを有する。支持装置21は、試験タイヤ10を回転可能に支持する装置であり、試験タイヤ10を装着するリム211を有する。駆動装置22は、試験タイヤ10に駆動力を付与する装置であり、回転ドラム221と、回転ドラム221を駆動するモータ222と、モータ222を駆動制御するモータ制御装置223とから構成される。
The
このタイヤ試験機2では、支持装置21が、試験タイヤ10をリム211に装着して支持し、試験タイヤ10を駆動装置22の回転ドラム221に押圧して試験タイヤ10に荷重を付与する。また、支持装置21が、リム211を変位させて試験タイヤ10と回転ドラム221との位置関係を調整することにより、試験タイヤ10にスリップ角やアングル角を付与する。また、駆動装置22が、モータ制御装置223によりモータ222を駆動して回転ドラム221を回転させることにより、試験タイヤ10に回転速度を付与する。これにより、車両走行時におけるタイヤの転動状態が、回転ドラム221の周面を路面として再現される。また、支持装置21および駆動装置22が、上記の荷重、回転速度、スリップ角、アングル角などを調整することにより、試験条件を変更できる。
In the
撮像装置3は、一対のカメラ31、31と、一対の照明用ランプ32、32とを有する。カメラ31は、試験タイヤ10を撮像する手段であり、例えば、CCD(Charge Coupled Device)カメラにより構成される。カメラ31は、例えば、高速度カメラである。また、一対のカメラ31、31が、試験タイヤ10を相互に異なる方向から撮像できる位置に配置される。これらのカメラ31、31は、試験タイヤ10を左右方向から同時に撮像して、タイヤ画像(試験タイヤ10のデジタル画像データ)を生成する。照明用ランプ32は、カメラ31の撮像範囲を照らすランプであり、例えば、ハロゲンランプにより構成される。これらの照明用ランプ32は、常時点灯タイプであっても良いし、フラッシュ点灯タイプであっても良い。
The imaging device 3 includes a pair of
タイヤ解析装置4は、例えば、所定の解析プログラムをインストールしたPC(personal computer)であり、撮像装置3からのタイヤ画像を画像処理してタイヤ解析処理を行う(図2参照)。このタイヤ解析装置4は、空間座標算出部41と、バラツキ検出部42と、解析部43と、補正部44とを備える。空間座標算出部41は、タイヤ画像を用いて形状解析を行うことにより、試験タイヤ10に円状に付される解析用格子面(格子パターン)Sの空間座標を算出する。バラツキ検出部42は、算出された空間座標に基づいて、解析用格子面Sの配置のバラツキを検出する。解析部43は、所定のタイヤ解析処理を行う。補正部44とは、解析部43による解析の精度を向上させるために、バラツキ検出部42によって検出されたバラツキに基づいて、解析用格子面Sの配置を補正する。
The tire analysis device 4 is, for example, a PC (personal computer) in which a predetermined analysis program is installed, and performs tire analysis processing by performing image processing on the tire image from the imaging device 3 (see FIG. 2). The tire analysis device 4 includes a spatial coordinate calculation unit 41, a variation detection unit 42, an
[タイヤ解析方法]
従来より、タイヤ転動時におけるタイヤ形状を解析するための手法として、サンプリングモアレ法が知られている。
[Tire analysis method]
Conventionally, a sampling moire method is known as a method for analyzing a tire shape at the time of tire rolling.
サンプリングモアレ法は、デジタル画像からモアレ縞を生成して撮像対象の三次元形状を算出する数学的手法である。このサンプリングモアレ法は、高精度な形状解析を行い得るメリットを有する。 The sampling moire method is a mathematical method for generating a moire fringe from a digital image and calculating a three-dimensional shape of an imaging target. This sampling moire method has an advantage that a highly accurate shape analysis can be performed.
タイヤ解析システム1は、サンプリングモアレ法を用いた形状解析を利用して、試験タイヤ10の振動(タイヤ中心軸に対する変位)を解析する。具体的には、図1に示すように試験タイヤ10のタイヤ周上に複数の解析用格子面S(S#1〜S#n)が円状に付される。このような試験タイヤ10を回転させながら撮影された画像に、サンプリングモアレ法を用いた形状解析を適用することにより、タイヤ転動時における解析用格子面Sの空間座標が算出される。こうして算出された空間座標を比較することにより、試験タイヤ10の振動を解析することができる。
The
ただし、人間の貼り位置精度には限度があるため、試験タイヤ10に付される解析用格子面Sの配置にバラツキが生じることがある。図3は、解析用格子面Sの配置のバラツキの例を示す図である。図3は、解析用格子面S#1が所定位置にあるときのタイヤ画像における解析用格子面S#1の像と、解析用格子面S#2が所定位置にあるときのタイヤ画像における解析用格子面S#2の像とを並べて図示している。
However, since there is a limit to the accuracy of the human pasting position, there may be variations in the arrangement of the analysis lattice plane S attached to the
解析用格子面Sは、ほぼ同一形状のマークが周期性をもって配置されるシートである。解析用格子面Sには、縦方向および横方向に、それぞれ、少なくとも2個のマークが配置される。例えば、解析用格子面Sは、2.5[mm]間隔でマトリクス状に配列された複数の円形のマークを有する。マークの形状、サイズ、および間隔は、図3の例に限定されない。解析用格子面Sは、それぞれの解析用格子面Sの中心と試験タイヤ10とを結ぶ直線とマークの配置方向の一方とが平行になるように、ほぼ等間隔に、試験タイヤ10に付される。
The analysis lattice plane S is a sheet on which marks having substantially the same shape are arranged with periodicity. On the analysis lattice plane S, at least two marks are arranged in the vertical direction and the horizontal direction, respectively. For example, the analysis lattice plane S has a plurality of circular marks arranged in a matrix at intervals of 2.5 [mm]. The shape, size, and interval of the marks are not limited to the example in FIG. The analysis lattice plane S is attached to the
図3に示す例では、解析用格子面S#1の格子の中心C1と、解析用格子面S#2の格子の中心C2とには、Y方向ズレ(半径方向のズレ)が生じている。配置のバラツキは、Y方向だけでなく、X方向(周方向)やZ軸方向(幅方向)に生じることもある。配置のバラツキは、傾きの成分を含むこともある。このような配置のバラツキは、算出された空間座標の比較に影響を与え、比較に基づく解析の精度を低下させる。
In the example shown in FIG. 3, there is a Y-direction deviation (radial deviation) between the lattice center C1 of the analysis lattice
解析用格子面Sを試験タイヤ10のタイヤ周上に付すために、解析用格子面Sが、リム211、またはリム211の端部に取り付けられた環状盤212という変形が比較的小さい部分に固定されることがある。この場合、解析用格子面Sを試験タイヤ10のゴム部分に固定した場合と比較して、試験タイヤ10を回転させた場合におけるタイヤ中心軸に対する解析用格子面Sの変位は比較的小さい。このような小さな変位に基づいて精度の高い解析を行うには、解析用格子面Sの配置のバラツキの影響をできるだけ排除することが非常に重要である。
In order to attach the analysis lattice plane S to the tire circumference of the
そこで、タイヤ解析システム1は、解析用格子面Sの配置のバラツキを検出し、検出したバラツキに基づいて、算出される空間座標を補正する。
Therefore, the
図4は、タイヤ解析システム1による解析方法を示すフローチャートである。図5は、タイヤ解析システム1による解析方法によって得られる値の例を示す図である。
FIG. 4 is a flowchart showing an analysis method by the
ステップST1では、タイヤ試験機2が、タイヤ周上に複数の解析用格子面Sが付された試験タイヤ10を、荷重を負荷しない状態で回転させる。荷重を負荷せずに試験タイヤ10を回転させれば、試験タイヤ10に振動は生じない。
In step ST1, the
この状態で、ステップST2では、撮像装置3が、一対のカメラ31、31を用いて、試験タイヤ10に付された解析用格子面Sを左右方向から同時に撮像する。具体的には、撮像装置3は、旋回している解析用格子面Sのそれぞれが所定の位置(例えば、試験タイヤ10と路面または路面を模した面とが接触する位置)に到達する度に撮影を行い、1対のタイヤ画像を取得する。
In this state, in step ST2, the imaging device 3 uses the pair of
このように複数のカメラで異なる角度から解析用格子面Sを撮影することにより、タイヤ幅方向(奥行き方向)の座標も計測することができる。さらに、複数のカメラを用いることにより、カメラのレンズの歪曲収差による測定誤差を補正することができる。 In this way, by photographing the analysis lattice plane S from different angles with a plurality of cameras, the coordinates in the tire width direction (depth direction) can also be measured. Furthermore, by using a plurality of cameras, it is possible to correct measurement errors due to distortion of camera lens.
ステップST3では、空間座標算出部41が、1対のタイヤ画像毎にサンプリングモアレ法を用いた形状解析を行い、画像中の解析用格子面Sの空間座標を算出する。そして、ステップST4では、バラツキ検出部42が、空間座標算出部41によって算出された空間座標に基づいて、それぞれの解析用格子面Sの配置のバラツキを検出する。 In step ST3, the spatial coordinate calculation unit 41 performs shape analysis using the sampling moire method for each pair of tire images, and calculates the spatial coordinates of the analysis lattice plane S in the image. In step ST <b> 4, the variation detection unit 42 detects variations in the arrangement of the respective analysis lattice planes S based on the spatial coordinates calculated by the spatial coordinate calculation unit 41.
本実施の形態では、空間座標算出部41は、図3に示したように、解析用格子面Sの格子の中心の座標に基づいて、Y方向ズレがバラツキとして検出される。図5に示す例では、空間座標算出部41によって算出された空間座標に基づいて、それぞれの解析用格子面Sの格子の中心のY座標が算出されている。そして、解析用格子面S#1の中心のY座標を基準としたY方向の配置のズレがY方向ズレとして算出されている。それぞれの解析用格子面Sの格子の中心のY座標は、複数の画像から算出されたY座標の平均値であってもよい。
In the present embodiment, as shown in FIG. 3, the spatial coordinate calculation unit 41 detects the Y-direction deviation as a variation based on the coordinates of the center of the lattice of the analysis lattice plane S. In the example shown in FIG. 5, based on the spatial coordinates calculated by the spatial coordinate calculation unit 41, the Y coordinate of the center of the lattice of each analysis lattice plane S is calculated. Then, the displacement in the Y direction with respect to the Y coordinate at the center of the analysis lattice
配置のバラツキの検出の仕方は、これに限定されない。空間座標算出部41は、X方向(周方向)、Z方向(幅方向)、または任意の方向のズレをバラツキとして検出してもよい。空間座標算出部41は、複数の方向のズレをバラツキとして検出してもよい。空間座標算出部41は、このような位置のズレに加えて、またはこれに代えて、傾きのバラツキを検出してもよい。 The method of detecting the variation in arrangement is not limited to this. The spatial coordinate calculation unit 41 may detect a deviation in the X direction (circumferential direction), the Z direction (width direction), or an arbitrary direction as a variation. The spatial coordinate calculation unit 41 may detect a deviation in a plurality of directions as variations. The spatial coordinate calculation unit 41 may detect a variation in inclination in addition to or instead of such a positional deviation.
配置のバラツキを検出する基準とする位置は、解析用格子面Sの格子の中心に限定されない。基準とする位置は、形状解析によって空間座標を高精度に算出できる位置であればよい。具体的には、格子1周期あたりの画素数が急に変化しないところであれば、解析用格子面Sの格子の内部の領域のうち、中心以外の位置を基準としてもよい。 The reference position for detecting the variation in arrangement is not limited to the center of the lattice of the analysis lattice plane S. The reference position may be a position where the spatial coordinates can be calculated with high accuracy by shape analysis. Specifically, as long as the number of pixels per period of the grid does not change suddenly, a position other than the center may be used as a reference in the area inside the grid of the analysis grid plane S.
こうして配置のバラツキが検出された後、ステップST5では、タイヤ試験機2が、試験タイヤ10を、荷重を負荷した状態で回転させる。負荷する荷重は、解析の目的に応じて決定される。
After the variation in arrangement is thus detected, in step ST5, the
この状態で、ステップST6では、撮像装置3が、一対のカメラ31、31を用いて、試験タイヤ10に付された解析用格子面Sを左右方向から同時に撮像する。具体的には、撮像装置3は、旋回している解析用格子面Sのそれぞれが所定の位置(例えば、試験タイヤ10と路面または路面を模した面とが接触する位置)に到達する度に撮影を行い、1対のタイヤ画像を取得する。
In this state, in step ST6, the imaging device 3 uses the pair of
ステップST7では、空間座標算出部41が、1対のタイヤ画像毎にサンプリングモアレ法を用いた形状解析を行い、画像中の解析用格子面Sの空間座標を算出する。そして、ステップST8では、補正部44が、ステップST4で検出されたバラツキに基づいて、それぞれの解析用格子面Sの空間座標を補正する。 In step ST7, the spatial coordinate calculation unit 41 performs shape analysis using the sampling moire method for each pair of tire images, and calculates the spatial coordinates of the analysis lattice plane S in the image. In step ST8, the correction unit 44 corrects the spatial coordinates of each analysis lattice plane S based on the variation detected in step ST4.
図5に示す例では、ステップST3で算出された空間座標と、ステップST7で算出された空間座標とに基づいて、荷重を負荷した場合の格子の中心のY座標の変位を示す値が、解析用格子面S毎に算出されている。そして、変位を示す値から、ステップST4で算出されたY方向ズレを減算することによって、変位を示す値が補正されている。解析用格子面S#1の格子の中心のY座標の変位を示す値からは、解析用格子面S#1の格子の中心のY方向ズレが減算され、解析用格子面S#nの格子の中心のY座標の変位を示す値からは、解析用格子面S#nの格子の中心のY方向ズレが減算される。
In the example shown in FIG. 5, based on the spatial coordinates calculated in step ST3 and the spatial coordinates calculated in step ST7, a value indicating the displacement of the Y coordinate at the center of the lattice when a load is applied is analyzed. It is calculated for each lattice plane S. And the value which shows a displacement is correct | amended by subtracting the Y direction shift | offset | difference calculated by step ST4 from the value which shows a displacement. From the value indicating the displacement of the Y coordinate of the center of the lattice of the analysis lattice
ステップST9では、補正後の解析用格子面Sの空間座標に基づいて、解析部43が所定の解析を行う。
In step ST9, the
上記の実施の形態では、解析用格子面Sの空間座標を算出するためにサンプリングモアレ法を用いる例について説明した。しかしながら、解析用格子面Sの空間座標を算出する手法は、これに限定されない。タイヤ解析システム1は、サンプリングモアレ法以外の形状解析の手法を用いて、解析用格子面Sの空間座標を算出してもよい。サンプリングモアレ法以外の形状解析の手法には、例えば、フーリエ変換法、ディジタル画像相関法等が含まれる。
In the above embodiment, an example in which the sampling moire method is used to calculate the spatial coordinates of the analysis lattice plane S has been described. However, the method for calculating the spatial coordinates of the analysis lattice plane S is not limited to this. The
上記の実施の形態では、タイヤ解析システム1による解析方法をタイヤの振動の解析に用いる例について説明した。しかしながら、タイヤ解析システム1による解析方法の適用可能な解析は、これに限定されない。タイヤ解析システム1による解析方法は、タイヤの変位または変形に関する任意の解析に適用することができる。
In the above embodiment, an example in which the analysis method by the
上記の実施の形態では、撮像装置3が2つのカメラ31を有する例について説明したが、撮像装置3が有するカメラ31の数はこれに限定されない。例えば、撮像装置3が有するカメラ31の数は1つであってもよい。すなわち、タイヤ解析システム1は、1台の高速度カメラだけで撮像し、形状解析手法(サンプリングモアレ法、フーリエ変換法など)を用いて解析用格子面Sの空間座標を算出しても良い。
In the above embodiment, an example in which the imaging device 3 includes two
[効果]
以上説明したように、タイヤ解析システム1は、タイヤに付された複数の格子パターンのそれぞれが所定の位置にあるときの画像を撮影する撮像装置3と、撮像装置3によって撮影された画像を用いて形状解析を行うことにより格子パターンの空間座標を算出する空間座標算出部41と、空間座標に基づいて格子パターンの配置のバラツキを検出するバラツキ検出部42と、バラツキに基づいて格子パターンの配置を補正する補正部44とを備える。
[effect]
As described above, the
空間座標算出部41は、例えば、サンプリングモアレ法により前記形状解析を行う。 The spatial coordinate calculation unit 41 performs the shape analysis by a sampling moire method, for example.
かかる構成では、形状解析に基づいて格子パターンの配置が精度よく補正されるので、高精度な解析が可能となる。 In such a configuration, the arrangement of the lattice pattern is accurately corrected based on the shape analysis, so that a highly accurate analysis is possible.
図6および図7は、配置のバラツキの補正の効果を示す図である。図6は、補正前の解析用格子面Sの格子の中心のY座標の変動の例を示している。図7は、補正後の解析用格子面Sの格子の中心のY座標の変動の例を示している。図6が示すように、補正前のY座標の変動は、振幅が大きく、周期が短い。一方、図7が示すように、補正後のY座標の変動は、振幅が小さく、周期が長い。図7に示す例では、図6に示す例と比較して、変動の振幅が約80%低減されている。さらに、図7に示す例では、変動の周期と、試験タイヤ10の回転の周期とが一致している。このように、配置のバラツキの補正により、解析用格子面Sの貼り位置精度の影響がほぼ除去されている。
6 and 7 are diagrams illustrating the effect of correcting the variation in arrangement. FIG. 6 shows an example of the fluctuation of the Y coordinate of the center of the lattice of the analysis lattice plane S before correction. FIG. 7 shows an example of fluctuations in the Y coordinate of the center of the lattice of the analytical lattice plane S after correction. As shown in FIG. 6, the fluctuation of the Y coordinate before correction has a large amplitude and a short period. On the other hand, as shown in FIG. 7, the Y-coordinate variation after correction has a small amplitude and a long period. In the example shown in FIG. 7, the amplitude of the fluctuation is reduced by about 80% compared to the example shown in FIG. Further, in the example shown in FIG. 7, the cycle of fluctuation matches the cycle of rotation of the
また、撮像装置3は、格子パターンを異なる角度から撮影する複数のカメラを有し、空間座標算出部41は、複数のカメラによって同時に撮影された複数の画像を用いて形状解析を行うことにより格子パターンの空間座標を算出する。これにより、任意の方向への配置のバラツキを検出することができる。さらに、カメラのレンズの歪曲収差の影響を低減できる。 In addition, the imaging device 3 includes a plurality of cameras that capture the lattice pattern from different angles, and the spatial coordinate calculation unit 41 performs lattice analysis by performing shape analysis using a plurality of images that are simultaneously captured by the plurality of cameras. Calculate the spatial coordinates of the pattern. Thereby, variation in arrangement in an arbitrary direction can be detected. Furthermore, the influence of distortion of the camera lens can be reduced.
また、バラツキ検出部42は、タイヤに荷重が付加されない状態で撮影された画像を用いて空間座標算出部41が算出した空間座標に基づいて、格子パターンの配置のバラツキを検出する。これにより、格子パターンの配置のバラツキを高精度に検出することができる。 In addition, the variation detection unit 42 detects a variation in the arrangement of the grid pattern based on the spatial coordinates calculated by the spatial coordinate calculation unit 41 using an image taken in a state where no load is applied to the tire. Thereby, the variation in the arrangement of the lattice pattern can be detected with high accuracy.
また、格子パターンは、第1の方向および第2の方向に、それぞれ、少なくとも2つのマークが配置されるパターンである。これにより、形状解析を用いて空間座標を高精度に算出することができる。 The lattice pattern is a pattern in which at least two marks are arranged in the first direction and the second direction, respectively. Thereby, a spatial coordinate can be calculated with high accuracy using shape analysis.
1:タイヤ解析システム、2:タイヤ試験機、21:支持装置、211:リム、212:環状盤、22:駆動装置、221:回転ドラム、222:モータ、223:モータ制御装置、3:撮像装置、31:カメラ、32:照明用ランプ、4:タイヤ解析装置、41:空間座標算出部、42:バラツキ検出部、43:解析部、44:補正部、10:試験タイヤ 1: tire analysis system, 2: tire testing machine, 21: support device, 211: rim, 212: annular disc, 22: drive device, 221: rotating drum, 222: motor, 223: motor control device, 3: imaging device , 31: camera, 32: illumination lamp, 4: tire analysis device, 41: spatial coordinate calculation unit, 42: variation detection unit, 43: analysis unit, 44: correction unit, 10: test tire
Claims (6)
前記撮像部によって撮影された画像を用いて形状解析を行うことにより前記格子パターンの空間座標を算出する空間座標算出部と、
前記空間座標に基づいて前記格子パターンの配置のバラツキを検出するバラツキ検出部と、
前記バラツキに基づいて前記格子パターンの配置を補正する補正部と、
を備える解析システム。 An imaging unit that captures an image when each of the plurality of lattice patterns attached to the tire is in a predetermined position;
A spatial coordinate calculation unit that calculates a spatial coordinate of the lattice pattern by performing shape analysis using an image captured by the imaging unit;
A variation detecting unit that detects variations in the arrangement of the lattice pattern based on the spatial coordinates;
A correction unit that corrects the arrangement of the lattice pattern based on the variation;
An analysis system comprising:
前記空間座標算出部は、前記複数のカメラによって同時に撮影された複数の画像を用いて形状解析を行うことにより前記格子パターンの空間座標を算出する請求項1または2に記載の解析システム。 The imaging unit has a plurality of cameras that capture the lattice pattern from different angles,
The analysis system according to claim 1, wherein the spatial coordinate calculation unit calculates the spatial coordinates of the lattice pattern by performing shape analysis using a plurality of images simultaneously captured by the plurality of cameras.
撮影された前記画像を用いて形状解析を行うことにより前記格子パターンの空間座標を算出するステップと、
前記空間座標に基づいて前記格子パターンの配置のバラツキを検出するステップと、
前記バラツキに基づいて前記格子パターンの配置を補正するステップと、
を備える解析方法。 Capturing an image when each of the plurality of lattice patterns attached to the tire is in a predetermined position;
Calculating spatial coordinates of the lattice pattern by performing shape analysis using the captured image;
Detecting a variation in the arrangement of the lattice pattern based on the spatial coordinates;
Correcting the arrangement of the lattice pattern based on the variation;
An analysis method comprising:
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014178208A (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | Shape analyzer and shape analysis method |
JP2017015664A (en) * | 2015-07-06 | 2017-01-19 | 横浜ゴム株式会社 | Apparatus and method for analyzing tire shape |
JP2017037053A (en) * | 2015-08-14 | 2017-02-16 | 藤垣 元治 | High-speed measuring method and device by using many cameras |
JP2022161852A (en) * | 2021-04-09 | 2022-10-21 | 株式会社共和電業 | Displacement amount measurement method, displacement amount measurement device, displacement amount measurement system, and displacement amount measurement program |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1038533A (en) * | 1996-04-22 | 1998-02-13 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | Instrument and method for measuring shape of tire |
US20060083347A1 (en) * | 2004-10-15 | 2006-04-20 | Ernst-Heinrich Nosekabel | Method and an apparatus for the inspection of the surface of a tire |
JP2007085836A (en) * | 2005-09-21 | 2007-04-05 | Bridgestone Corp | Three-dimensional shape measuring system, three-dimensional shape measuring method, and installation condition correction method for photographic apparatus |
JP2009264852A (en) * | 2008-04-23 | 2009-11-12 | Wakayama Univ | Phase analysis method of grid image and displacement measurement method of object using the same, and shape measurement method of object |
JP2010145231A (en) * | 2008-12-18 | 2010-07-01 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Apparatus and method for measuring displacement of object |
JP2011027509A (en) * | 2009-07-23 | 2011-02-10 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | System and method for analyzing tire |
-
2012
- 2012-12-28 JP JP2012288364A patent/JP6040770B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1038533A (en) * | 1996-04-22 | 1998-02-13 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | Instrument and method for measuring shape of tire |
US20060083347A1 (en) * | 2004-10-15 | 2006-04-20 | Ernst-Heinrich Nosekabel | Method and an apparatus for the inspection of the surface of a tire |
JP2007085836A (en) * | 2005-09-21 | 2007-04-05 | Bridgestone Corp | Three-dimensional shape measuring system, three-dimensional shape measuring method, and installation condition correction method for photographic apparatus |
JP2009264852A (en) * | 2008-04-23 | 2009-11-12 | Wakayama Univ | Phase analysis method of grid image and displacement measurement method of object using the same, and shape measurement method of object |
JP2010145231A (en) * | 2008-12-18 | 2010-07-01 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Apparatus and method for measuring displacement of object |
JP2011027509A (en) * | 2009-07-23 | 2011-02-10 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | System and method for analyzing tire |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014178208A (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | Shape analyzer and shape analysis method |
JP2017015664A (en) * | 2015-07-06 | 2017-01-19 | 横浜ゴム株式会社 | Apparatus and method for analyzing tire shape |
JP2017037053A (en) * | 2015-08-14 | 2017-02-16 | 藤垣 元治 | High-speed measuring method and device by using many cameras |
JP2022161852A (en) * | 2021-04-09 | 2022-10-21 | 株式会社共和電業 | Displacement amount measurement method, displacement amount measurement device, displacement amount measurement system, and displacement amount measurement program |
JP7315936B2 (en) | 2021-04-09 | 2023-07-27 | 株式会社共和電業 | Displacement measurement method, displacement measurement device, displacement measurement system, and displacement measurement program |
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