JP2014092427A - Automatic analyzer - Google Patents

Automatic analyzer Download PDF

Info

Publication number
JP2014092427A
JP2014092427A JP2012242586A JP2012242586A JP2014092427A JP 2014092427 A JP2014092427 A JP 2014092427A JP 2012242586 A JP2012242586 A JP 2012242586A JP 2012242586 A JP2012242586 A JP 2012242586A JP 2014092427 A JP2014092427 A JP 2014092427A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
probe
temperature
air
automatic analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012242586A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Kikuchi
隆広 菊池
Takashi Nakazawa
隆史 中沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp, Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2012242586A priority Critical patent/JP2014092427A/en
Publication of JP2014092427A publication Critical patent/JP2014092427A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic analyzer that can reduce errors caused by temperature variation of segmented air and can improve accuracy of the sample dispensation amount.SOLUTION: A tubular probe 27 sucks a predetermined amount of sample. A pipetter for sample sucks the sample into the probe. In a state in which the inside of the tubular probe is filled with liquid 37X as a pressure transmission medium, a predetermined amount of air is sucked from the tip of the probe. Then, the predetermined amount of sample 25X is sucked from the tip of the probe, thereby arranging the predetermined amount of segmented air AR between the sample and the pressure transmission medium. A heater 38 is disposed in the probe so as to heat the position of the segmented air when the total amount of sample is sucked in a state in which the segmented air is caught.

Description

本発明は、生化学検査,免疫血清検査などの分析に用いられる自動分析装置に係り、特に、試料や試薬を水などの液体を圧力媒体として吸引・吐出するプローブを有するものに好適な自動分析装置に関する。   The present invention relates to an automatic analyzer used for analysis such as a biochemical test and an immune serum test, and more particularly, an automatic analysis suitable for a sample or a reagent having a probe that sucks and discharges a liquid such as water as a pressure medium. Relates to the device.

通常自動分析装置では、圧力媒体としての水をプローブの中に満たし、シリンジ、ダイアフラム、マイクロポンプなどが動作することによって、試料を反応容器に分注し撹拌することで反応させる。この時、たとえばプローブ内の試料と圧力媒体の水の間に、試料の薄まり防止のため、5マイクロリットル程度の分節空気を入れる。   Usually, in an automatic analyzer, water as a pressure medium is filled in a probe, and a syringe, a diaphragm, a micropump, and the like are operated to dispense a sample into a reaction vessel and stir the reaction. At this time, for example, segmental air of about 5 microliters is put between the sample in the probe and the water of the pressure medium to prevent the sample from thinning.

自動分析装置の試薬量は、1)検査業務における試薬コスト低減、2)試料も減ることによる患者の負担軽減、3)自動分析装置の処理速度の向上、4)検査室から出る廃液の減量化などの4つの理由により、低減が望まれている。自動分析装置では試薬量と試料量の比は決まっているため、試薬量の低減が起きると自ずと保証をするべき最少試料量も少なくなる。現在は自動分析装置各社とも、保証している試料量の最低値が1マイクロリットル程度である。   The amount of reagent in the automatic analyzer is 1) Reducing reagent costs in laboratory work, 2) Reducing patient burden by reducing the number of samples, 3) Improving the processing speed of the automatic analyzer, 4) Reducing the amount of waste liquid from the laboratory Reduction is desired for the following four reasons. Since the ratio of the reagent amount to the sample amount is determined in the automatic analyzer, when the reagent amount is reduced, the minimum sample amount to be guaranteed is reduced. At present, the minimum value of the sample amount guaranteed by each automatic analyzer is about 1 microliter.

試料や試薬が微量化されてわかった現象に、プローブ内の空気の温度がプローブ周囲環境の温度と異なることによって、空気が膨張・収縮する現象がある。膨張あるいは収縮現象は、試料を吸引してから吐出完了するまでの数秒間に起きる。プローブの温度は空気の温度よりも高ければ、水と試料にはさまれた空気は膨張する。プローブの温度は空気の温度よりも低ければ、水と試料にはさまれた空気は収縮する。膨張現象では、試料がサンプルプローブの先端に飛び出した状態になる。この時、設定量に飛び出した量がプラスされるため試料は多く吐出される。収縮現象では、空気がサンプルプローブの先端に入った状態になるため、設定量よりも試料が少なく吐出される。   Phenomena that have been found by making samples and reagents minute are phenomena in which air expands and contracts when the temperature of the air in the probe differs from the temperature of the environment around the probe. The expansion or contraction phenomenon occurs in several seconds from when the sample is sucked to when the discharge is completed. If the temperature of the probe is higher than the temperature of the air, the air sandwiched between the water and the sample will expand. If the temperature of the probe is lower than the temperature of the air, the air sandwiched between the water and the sample contracts. In the expansion phenomenon, the sample protrudes to the tip of the sample probe. At this time, a large amount of sample is discharged because the amount jumped out to the set amount is added. In the contraction phenomenon, since the air enters the tip of the sample probe, the sample is discharged less than the set amount.

試料量が3マイクロリットル程度以上の量であれば、分節空気の温度変化によって起きる膨張・収縮の分注量への影響は見られなかった。昨今、1マイクロリットル以下の試料分注が実用化されるようになると、試料を吸い終わったプローブが試料容器から上昇して、反応容器に吐出し終えたプローブが試料液滴から離れるまでの数秒間に、分節空気の膨張あるいは収縮が試料分注量の誤差原因となることがわかった。   When the amount of the sample was about 3 microliters or more, there was no effect on the dispensing amount of the expansion / contraction caused by the temperature change of the segmental air. In recent years, when dispensing of samples of 1 microliter or less has come into practical use, the number of probes until the probe that has sucked the sample rises from the sample container and the probe that has been discharged into the reaction container leaves the sample droplet. It was found that the expansion or contraction of segmental air per second caused an error in the sample dispensing amount.

このため、現在は洗浄水や空気の温度を室温と同じになるようにするために、流路を長くのばして装置内部で熱交換している。しかしながら、流路が長くなるために洗浄水量が減り洗浄力が弱くなる欠点がある。   For this reason, at present, in order to make the temperature of the washing water and air the same as the room temperature, the flow path is extended and heat is exchanged inside the apparatus. However, since the flow path becomes longer, there is a disadvantage that the amount of cleaning water is reduced and the cleaning power is weakened.

なお、従来、分節空気の温度変化よりも、圧力媒体としての水の温度変化に着眼点がおかれ、圧力媒体としての水の入口側と出口側の温度差を測定し、水の体積の変化量を計算して、分注量を補正するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, the temperature change of water as a pressure medium has been focused on rather than the temperature change of segmental air, and the temperature difference between the inlet side and the outlet side of water as the pressure medium has been measured, and the volume of water has changed. One that calculates the amount and corrects the dispensing amount is known (see, for example, Patent Document 1).

特開2008−203009公報JP 2008-203909 A

しかしながら、特許文献1のように、洗浄水温を装置の入口側と出口側で測定して、水の体積の変化量を計算して、分注量を補正するものでは、装置のコストアップとなる。その理由は、装置内部の温度センサーが一定量必要となるためである。すべてのセンサーで監視して、制御系へのフィードバックが必要なため制御が複雑になる。   However, as in Patent Document 1, if the washing water temperature is measured at the inlet side and the outlet side of the apparatus, the amount of change in the water volume is calculated, and the dispensing amount is corrected, the cost of the apparatus increases. . The reason is that a certain amount of temperature sensor inside the apparatus is required. Control is complicated by monitoring with all sensors and feedback to the control system.

また、前述したように、特許文献1記載のものは、圧力媒体としての水の温度変化に着目したものであり、分節空気の温度には着目してないため、分節空気の温度変化による試料の分注量の誤差については全く対処できてないものである。   Further, as described above, the one described in Patent Document 1 focuses on the temperature change of water as a pressure medium, and does not focus on the temperature of segmental air. About the error of dispensing amount, it cannot deal with at all.

本発明の目的は、分節空気の温度変化による誤差を低減でき、試料分注量の精度を向上できる自動分析装置を提供することにある。   The objective of this invention is providing the automatic analyzer which can reduce the error by the temperature change of segment air, and can improve the precision of sample dispensing amount.

上記の目的を達成するために、本発明は、試料を所定量吸引する管状のプローブと、該プローブの内部に試料を吸引する試料用ピペッタとを有し、前記管状のプローブの内部を圧力伝達媒体としての液体を満たした状態で、前記プローブの先端から所定量の空気を吸引し、その後、前記プローブの先端から所定量の試料を吸引することで、前記試料と前記圧力伝達液体との間に所定量の分節空気が配置される自動分析装置であって、前記プローブに、前記分節空気を挟んで試料の全量が吸引された状態のときの、分節空気の位置を加熱するヒーターを備えるようにしたものである。
かかる構成により、分節空気の温度変化による誤差を低減でき、試料分注量の精度を向上できるものとなる。
In order to achieve the above object, the present invention includes a tubular probe that sucks a predetermined amount of a sample, and a sample pipettor that sucks the sample inside the probe, and transmits pressure inside the tubular probe. While a liquid as a medium is filled, a predetermined amount of air is sucked from the tip of the probe, and then a predetermined amount of sample is sucked from the tip of the probe. An automatic analyzer in which a predetermined amount of segmented air is disposed in the probe, wherein the probe is provided with a heater that heats the position of the segmented air when the entire amount of the sample is sucked across the segmented air It is a thing.
With this configuration, an error due to a temperature change of the segmented air can be reduced, and the accuracy of the sample dispensing amount can be improved.

本発明によれば、分節空気の温度変化による誤差を低減でき、試料分注量の精度を向上できるものとなる。
According to the present invention, errors due to temperature changes of segmented air can be reduced, and the accuracy of sample dispensing can be improved.

本発明の一実施形態による自動分析装置の全体構成を示すシステム構成図である。1 is a system configuration diagram showing an overall configuration of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブの構成を示す全体構成図である。It is a whole block diagram which shows the structure of the sample probe used for the automatic analyzer by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブの先端内部の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure inside the front-end | tip of the sample probe used for the automatic analyzer by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブのの温度制御処理の内容を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the content of the temperature control process of the sample probe used for the automatic analyzer by one Embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブのの温度制御処理の内容を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the content of the temperature control process of the sample probe used for the automatic analyzer by other embodiment of this invention.

以下、図1〜図4を用いて、本発明の一実施形態による自動分析装置の構成について説明する。
最初に、図1を用いて、本実施形態による自動分析装置の全体構成について説明する。
図1は、本発明の一実施形態による自動分析装置の全体構成を示すシステム構成図である。
Hereinafter, the configuration of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
First, the overall configuration of the automatic analyzer according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
FIG. 1 is a system configuration diagram showing the overall configuration of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention.

サンプルディスク機構1には、多数の試料容器25が配置されている。試料容器25に保持された試料は、血清サンプリング機構2のサンプルプローブ27によって所定量だけ抽出され、所定の反応容器4に注入される。   A large number of sample containers 25 are arranged in the sample disk mechanism 1. A predetermined amount of the sample held in the sample container 25 is extracted by the sample probe 27 of the serum sampling mechanism 2 and injected into the predetermined reaction container 4.

試薬ディスク機構5A,5Bは、多数の試薬容器6を備えている。試薬ディスク機構5A,5Bの脇に装備されているのが、第1試薬用試薬バーコードリーダ30、第2試薬用試薬バーコードリーダ31である。また、試薬ディスク機構5A,5Bには、試薬ピペッティング機構7A,7Bが配置されており、試薬は、この試薬ピペッティング機構7A,7Bの試薬プローブ28A,28Bによって所定量だけ吸引され、所定の反応容器4に注入される。   The reagent disk mechanisms 5A and 5B include a large number of reagent containers 6. A reagent barcode reader 30 for the first reagent and a reagent barcode reader 31 for the second reagent are installed beside the reagent disk mechanisms 5A and 5B. Reagent pipetting mechanisms 7A and 7B are arranged in the reagent disk mechanisms 5A and 5B. Reagents are sucked by a predetermined amount by the reagent probes 28A and 28B of the reagent pipetting mechanisms 7A and 7B. It is injected into the reaction vessel 4.

光度計10と光源26の間に、測定対象を収容する反応ディスク3が配置される。この反応ディスク3の外周上には、例えば、160個の、多数の反応容器4が設置されている。また、反応ディスク3の全体は、恒温槽9によって、所定の温度に保持されている。洗浄機構11は、測定の終了した反応液を反応容器4から吸引して廃棄容器に廃棄するとともに、洗剤注入ノズル14により、洗浄液容器13に保持された洗浄液を反応容器4の中に吐出し、吐出した洗浄液を洗剤注入ノズル14により、吸引・廃棄して、反応容器4の内部を洗浄する。   Between the photometer 10 and the light source 26, the reaction disk 3 that accommodates the measurement object is disposed. On the outer periphery of the reaction disk 3, for example, 160, a large number of reaction vessels 4 are installed. Further, the entire reaction disk 3 is held at a predetermined temperature by a thermostatic chamber 9. The cleaning mechanism 11 sucks the measured reaction liquid from the reaction container 4 and discards it in the waste container, and discharges the cleaning liquid held in the cleaning liquid container 13 into the reaction container 4 by the detergent injection nozzle 14. The discharged cleaning liquid is sucked and discarded by the detergent injection nozzle 14 to clean the inside of the reaction vessel 4.

なお、図1において、19はマイクロコンピュータ、23はインターフェース、18はLog変換器およびA/D変換器、17は試薬用ピペッタ、16は洗浄水ポンプ、15は血清用ピペッタである。また、20はプリンタ、21は操作画面、22は記憶装置としてのハードディスク、24は操作パネルである。   In FIG. 1, 19 is a microcomputer, 23 is an interface, 18 is a Log converter and A / D converter, 17 is a reagent pipetter, 16 is a washing water pump, and 15 is a serum pipettor. Reference numeral 20 denotes a printer, 21 denotes an operation screen, 22 denotes a hard disk as a storage device, and 24 denotes an operation panel.

上述の構成を備える自動分析装置の動作について説明する。操作者は、操作パネル24を用いて分析依頼情報の入力を行う。入力された分析依頼情報は、マイクロコンピュータ19内のメモリに記憶される。試料容器25に入れられサンプルディスク1の所定の位置にセットされた測定対象試料は、マイクロコンピュータ19のメモリに記憶された分析依頼情報に従って、血清用ピペッタ15および血清サンプリング機構2のサンプルプローブ27によって、反応容器4に所定量分注される。サンプルプローブ27は水洗浄される。当該反応容器4に、試薬ピペッティング機構7A,7Bの試薬プローブ28A,28Bによって、所定量の試薬が分注される。試薬プローブ28A,28Bは水洗浄された後、次の反応容器のための試薬を分注する。試料と試薬の混合液は、撹拌機構8の撹拌棒29により撹拌される。撹拌棒29は水洗浄された後、次の反応容器の混合液を撹拌する。反応容器4は恒温槽9により一定温度に保持されており、反応が行われる。反応の過程は一定時間ごとに光度計10によって測光され、設定された2つの波長を用いて混合液の吸光度が測定される。測定された吸光度はLog変換器およびA/D変換器18,インターフェース23を介してマイクロコンピュータ19に取り込まれる。   The operation of the automatic analyzer having the above configuration will be described. The operator uses the operation panel 24 to input analysis request information. The input analysis request information is stored in a memory in the microcomputer 19. The measurement target sample placed in the sample container 25 and set at a predetermined position on the sample disk 1 is obtained by the serum pipettor 15 and the sample probe 27 of the serum sampling mechanism 2 according to the analysis request information stored in the memory of the microcomputer 19. A predetermined amount is dispensed into the reaction vessel 4. The sample probe 27 is washed with water. A predetermined amount of reagent is dispensed into the reaction container 4 by the reagent probes 28A and 28B of the reagent pipetting mechanism 7A and 7B. After the reagent probes 28A and 28B are washed with water, the reagent for the next reaction container is dispensed. The mixed solution of the sample and the reagent is stirred by the stirring rod 29 of the stirring mechanism 8. After the stirring rod 29 is washed with water, the mixed solution in the next reaction vessel is stirred. The reaction vessel 4 is held at a constant temperature by a thermostatic chamber 9, and a reaction is performed. The reaction process is measured by the photometer 10 at regular intervals, and the absorbance of the mixed solution is measured using two set wavelengths. The measured absorbance is taken into the microcomputer 19 via the Log converter and A / D converter 18 and the interface 23.

取り込まれた吸光度は濃度値に換算され、ハードディスク22に保存され、プリンタ20に出力される。また、操作画面21に検査データを表示させることもできる。   The absorbed absorbance is converted into a concentration value, stored in the hard disk 22, and output to the printer 20. In addition, inspection data can be displayed on the operation screen 21.

測定が終了した反応容器4は洗浄機構11により洗浄される。洗浄の終了した反応容器4は次の分析に繰り返し使用される。   After completion of the measurement, the reaction vessel 4 is washed by the washing mechanism 11. The reaction vessel 4 that has been washed is repeatedly used for the next analysis.

次に、図2を用いて、本実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブ27の構成について説明する。
図2は、本発明の一実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブの構成を示す全体構成図である。
Next, the configuration of the sample probe 27 used in the automatic analyzer according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
FIG. 2 is an overall configuration diagram showing the configuration of the sample probe used in the automatic analyzer according to the embodiment of the present invention.

本実施形態のサンプルプローブ27は、加温用のヒーター38が取り付けられている。一般的に、サンプルプローブ27は金属性の細い管であるため、取り付けるヒーター38は、ポリイミド製の薄膜状ヒーターが好適である。サンプルプローブ27は試料容器25へ下降して、試料に触れたことによって下降動作を停止する。なお、サンプルプローブ27の先端には液面センサーが備えられており、この液面センサーによって試料の液面に触れたことを検出できる。   The sample probe 27 of this embodiment is attached with a heater 38 for heating. In general, since the sample probe 27 is a thin metallic tube, the heater 38 to be attached is preferably a thin film heater made of polyimide. The sample probe 27 descends to the sample container 25 and stops the descending operation when it touches the sample. A liquid level sensor is provided at the tip of the sample probe 27, and it can be detected that the liquid level of the sample is touched by the liquid level sensor.

サンプルプローブ27の下降停止後、試料用ピペッタ34が定量動作して、所定量の試料を吸引する。その後サンプルプローブ27は反応容器4の真上へ移動し、反応容器4の底へサンプルプローブ27の先端を接触させて試料を吐出する。試料吐出後、電磁弁35は解放され、洗浄水タンク37にたまった洗浄水はポンプ36で加圧されてサンプルプローブ27の内部を洗浄する。   After the descent of the sample probe 27 is stopped, the sample pipettor 34 performs a quantitative operation to suck a predetermined amount of sample. Thereafter, the sample probe 27 moves directly above the reaction container 4, the tip of the sample probe 27 is brought into contact with the bottom of the reaction container 4, and the sample is discharged. After the sample is discharged, the electromagnetic valve 35 is released, and the cleaning water accumulated in the cleaning water tank 37 is pressurized by the pump 36 to clean the inside of the sample probe 27.

サンプルプローブ温度センサー40がサンプルプローブ27の温度を、室温センサー43が室温を測定する。両者の信号を取り込んだ制御回路42の処理に従い、装置は室温とサンプルプローブの温度差を少なくする処理をする。その詳細については、図4を用いて後述する。   The sample probe temperature sensor 40 measures the temperature of the sample probe 27 and the room temperature sensor 43 measures the room temperature. In accordance with the processing of the control circuit 42 that has captured both signals, the apparatus performs processing to reduce the temperature difference between the room temperature and the sample probe. Details thereof will be described later with reference to FIG.

また、洗浄水温センサー39は、洗浄水の温度を検出するものであるが、これは、後述の2番目の実施形態を実施するときに用いるものである。   The cleaning water temperature sensor 39 detects the temperature of the cleaning water, which is used when a second embodiment described later is carried out.

次に、図3を用いて、本実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブ27の先端内部の詳細構成について説明する。
図3は、本発明の一実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブの先端内部の構成を示す断面図である。
Next, the detailed configuration inside the tip of the sample probe 27 used in the automatic analyzer according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing the internal configuration of the tip of the sample probe used in the automatic analyzer according to the embodiment of the present invention.

サンプルプローブ27は金属性の細い管であり、その内部の先端の開口側に、試料25Xが吸引されている。また、サンプルプローブ27の根元側には、洗浄液37Xが満たされている。試料25Xと、洗浄液37Xの間には、両者を分離するための分節空気ARが位置している。   The sample probe 27 is a thin metallic tube, and the sample 25X is sucked into the opening side at the tip inside. The base side of the sample probe 27 is filled with the cleaning liquid 37X. Between the sample 25X and the cleaning liquid 37X, segmental air AR for separating the two is located.

例えば、サンプルプローブ27の内部全体が洗浄液37Xで満たされている状態で、かつ、サンプルプローブ27の先端の開口端が空気に接触している状態で、試料用ピペッタ34が定量動作すると、所定量の空気ARが吸引される。その後、サンプルプローブ27が試料容器25に下降して、サンプルプローブ27の先端が試料に触れた状態で、試料用ピペッタ34が定量動作すると、サンプルプローブ27の先端近傍には、図3に示すように、所定量の試料が吸引される。   For example, when the sample pipettor 34 performs a quantitative operation in a state where the entire interior of the sample probe 27 is filled with the cleaning liquid 37X and the open end of the sample probe 27 is in contact with air, a predetermined amount is obtained. Air AR is sucked. Thereafter, when the sample probe 27 descends to the sample container 25 and the sample pipettor 34 performs a quantitative operation with the tip of the sample probe 27 touching the sample, the vicinity of the tip of the sample probe 27 is as shown in FIG. Then, a predetermined amount of sample is aspirated.

その後サンプルプローブ27が反応容器4の真上へ移動し、反応容器4の底へサンプルプローブ27の先端を接触させて、所定量の試料を吐出する。その後洗浄位置で、サンプルプローブ27の内部の洗浄液37Xを洗浄液廃棄位置で吐出することで、サンプルプローブ27の内部を洗浄できる。   Thereafter, the sample probe 27 moves right above the reaction container 4, the tip of the sample probe 27 is brought into contact with the bottom of the reaction container 4, and a predetermined amount of sample is discharged. Thereafter, at the cleaning position, the inside of the sample probe 27 can be cleaned by discharging the cleaning liquid 37X inside the sample probe 27 at the cleaning liquid discarding position.

また、サンプルプローブ27の先端側の外周には、ヒーター38が取り付けられている。   A heater 38 is attached to the outer periphery of the sample probe 27 on the tip side.

ここで、サンプルプローブ27の断面積Sを、例えば、0.1mmとする。例えば、1μLの試料を分注する際、サンプルプローブ27の先端には、分注量(ここでは、1μL)よりも、多い試料を吸引する。ここでは、例えば、10μLの試料を吸引するものとする。従って、図3の中の距離L1は、100mmとなる。 Here, the cross-sectional area S of the sample probe 27 is, for example, 0.1 mm 2 . For example, when dispensing a 1 μL sample, a sample larger than the dispensed amount (here, 1 μL) is sucked into the tip of the sample probe 27. Here, for example, a 10 μL sample is sucked. Therefore, the distance L1 in FIG. 3 is 100 mm.

また、分節空気ARの量は、例えば、5μLとすると、図3の中の距離L2は、50mmとなる。分節空気ARの位置は、試料25Xの吸引・吐出に応じて移動する。試料25Xの吸引前は、サンプルプローブ27の先端の開口端近傍にあり、試料25Xの吸引に応じて、開口端から内部側に移動し、試料の吸引が終了した段階では、図3に示す位置に、分節空気ARが位置する。その後、所定量(ここでは、1μL)の試料を吐出する。このとき、分節空気ARは図3に示す位置から、距離10mmだけサンプルプローブ27の先端の開口端に移動する。このときまでの動作が、試料の定量分注の際の精度に影響する。その後、サンプルプローブ27の内部の残っている9μLの試料は廃棄されるが、このときは、既に試料の分注は終了している。   If the amount of segmented air AR is, for example, 5 μL, the distance L2 in FIG. 3 is 50 mm. The position of the segmented air AR moves according to the suction / discharge of the sample 25X. Before the sample 25X is aspirated, it is in the vicinity of the opening end of the tip of the sample probe 27. When the sample 25X is moved from the opening end to the inside according to the suction of the sample 25X, the position shown in FIG. In addition, the segmental air AR is located. Thereafter, a predetermined amount (1 μL in this case) of the sample is discharged. At this time, the segmented air AR moves from the position shown in FIG. 3 to the open end of the tip of the sample probe 27 by a distance of 10 mm. The operation up to this time affects the accuracy in quantitative dispensing of the sample. Thereafter, the remaining 9 μL sample inside the sample probe 27 is discarded, but at this time, the dispensing of the sample has already been completed.

以上の説明のように、分節空気ARの移動位置は、サンプルプローブ27の先端から、吸引された試料の量と、分節空気の量を合わせた分だけ先端から移動した位置である。この位置に対して、ヒータ38が取り付けられている。特に、図3に示す状態は、分節空気を挟んで試料が吸引された状態であり、このときのヒーター38の取付位置は、分節空気ARがヒーター38により加熱されるように、決められている。   As described above, the movement position of the segment air AR is a position moved from the tip of the sample probe 27 by the amount of the aspirated sample and the amount of segment air. A heater 38 is attached to this position. In particular, the state shown in FIG. 3 is a state in which the sample is sucked with the segment air interposed therebetween, and the attachment position of the heater 38 at this time is determined so that the segment air AR is heated by the heater 38. .

このように、プローブの分節空気が来る範囲をカバーするように、ポリイミドヒーターなどの薄膜状のヒーター38で覆っている。ヒーター38は、少なくとも、図3に示すように、分節空気を挟んで試料の全量が吸引された状態のときの、分節空気ARの位置を加熱するように取り付けている。図1のサンプルディスク1の位置で試料容器からプローブ27に試料が吸引された後、反応ディスク3に保持された反応容器に試料が吐出されるまでの間に、プローブ27はサンプルディスク1の位置から反応ディスク3の位置まで移動するのに、所定の時間を要する。この時間は僅かながら、プローブ27は金属製であるため、熱伝導性が良いため、十分に短時間で分節空気を所定の温度まで加熱することができる。そのため、ヒーターが取り付けられる位置は、少なくとも、分節空気を挟んで試料の全量が吸引された状態のときの、分節空気ARの位置としている。但し、本実施形態では、図3に示すように、ヒーター38は、さらに、プローブ27の先端に近い位置としている。これは、プローブ27の先端から空気が吸引された時点から空気の加熱を開始し、その後、試料が吸引されることで、分節空気がプローブ27の先端の位置から、図3で示す位置まで移動する間中、ずっと加熱できるからである。このように、プローブの分節空気が来る範囲をカバーする位置に、ヒーター38を設けることで、さらに分節空気の温度を所定温度に維持しやすくなる。   In this way, the thin film heater 38 such as a polyimide heater is covered so as to cover the range where the segmental air of the probe comes. As shown in FIG. 3, the heater 38 is attached so as to heat the position of the segmented air AR when the entire amount of the sample is sucked with the segmented air interposed therebetween. After the sample is sucked from the sample container to the probe 27 at the position of the sample disk 1 in FIG. 1, the probe 27 is positioned at the position of the sample disk 1 until the sample is discharged into the reaction container held by the reaction disk 3. It takes a predetermined time to move to the position of the reaction disk 3. Although the time is slight, since the probe 27 is made of metal and has good thermal conductivity, the segmented air can be heated to a predetermined temperature in a sufficiently short time. Therefore, the position where the heater is attached is at least the position of the segment air AR when the entire amount of the sample is sucked with the segment air interposed therebetween. However, in this embodiment, as shown in FIG. 3, the heater 38 is further positioned near the tip of the probe 27. This is because heating of the air is started from the time when the air is sucked from the tip of the probe 27, and then the segment air is moved from the position of the tip of the probe 27 to the position shown in FIG. This is because it can be heated all the time. Thus, by providing the heater 38 at a position that covers the range where the segmental air of the probe comes, it becomes easier to maintain the temperature of the segmental air at a predetermined temperature.

また、例えば、1μLの試料を分注する際に、10μLの試料を吸引した後、1μLの試料を吐出するようにするのは、1μLの試料を吸引し、吸引した全量を吐出する場合よりも分注精度を高くできるからである。   Also, for example, when dispensing a 1 μL sample, a 10 μL sample is aspirated and then a 1 μL sample is ejected more than when a 1 μL sample is aspirated and the entire aspirated amount is ejected. This is because the dispensing accuracy can be increased.

次に、図4を用いて、本実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブ27の温度制御処理の内容について説明する。
図4は、本発明の一実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブのの温度制御処理の内容を示すフローチャートである。
Next, the contents of the temperature control process of the sample probe 27 used in the automatic analyzer according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
FIG. 4 is a flowchart showing the contents of the temperature control process of the sample probe used in the automatic analyzer according to the embodiment of the present invention.

なお、本実施形態の温度制御処理は、図2の制御回路42によって実行される。   In addition, the temperature control process of this embodiment is performed by the control circuit 42 of FIG.

ステップS10において、自動分析装置の電源を入れる。ステップS20において、制御回路42は、室温センサー43により、室温の測定をする。ステップS30において、サンプルプローブ温度センサー40により、プローブの温度を測定する。   In step S10, the automatic analyzer is turned on. In step S <b> 20, the control circuit 42 measures the room temperature by the room temperature sensor 43. In step S30, the temperature of the probe is measured by the sample probe temperature sensor 40.

そして、ステップS40において、室温とプローブの温度を比較して室温の方が高くてかつ5℃以上差がある場合、ステップS50でプローブヒーター38に通電してプローブ27を加温する。ステップS60で、温度差が±5℃以内になるまで加温を継続する。ここでの5℃という温度差は、空気の体膨張率と分注容量から計算した許容温度である。ステップS70で温度差が±5℃以内になったところで、ヒーターは切る。再度、室温に比べプローブの温度の方が低くなった場合は、ヒーターに通電する。   In step S40, if the room temperature is higher than the room temperature and there is a difference of 5 ° C. or more in step S40, the probe heater 38 is energized to heat the probe 27 in step S50. In step S60, heating is continued until the temperature difference is within ± 5 ° C. The temperature difference of 5 ° C. here is an allowable temperature calculated from the body expansion coefficient of air and the dispensing volume. When the temperature difference is within ± 5 ° C. in step S70, the heater is turned off. Again, if the probe temperature is lower than room temperature, the heater is energized.

一方、ステップS40において、室温とプローブの温度を比較して室温の方が低いか、また、高くても5℃以上差がない場合には、ステップS80において装置の電源を切るかどうか判断し、切るまで繰り返す。   On the other hand, in step S40, the room temperature is compared with the probe temperature. If the room temperature is lower, or if there is no difference of 5 ° C. or higher, it is determined in step S80 whether to turn off the apparatus. Repeat until cut.

以上のように、本実施形態では、プローブの分節空気が来る範囲をカバーするように、ポリイミドヒーターなどの薄膜状のヒーターで覆い、プローブを室温と同じ温度に加温する。プローブ自体の温度を測定する温度センサーは、分節空気が吸引される範囲の中間位置に取り付ける。センサーは1つでなく、複数取り付けて、複数のセンサーのデータを平均して使用してもよい。室温センサーはプローブ近傍に取り付ける。カバーを閉める形式の装置の場合、室温センサーは、カバーを閉めて閉じた空間に取り付ける。   As described above, in this embodiment, the probe is heated to the same temperature as the room temperature by covering with a thin film heater such as a polyimide heater so as to cover the range where the segmental air of the probe comes. A temperature sensor for measuring the temperature of the probe itself is attached at an intermediate position in a range where segmental air is sucked. Instead of one sensor, a plurality of sensors may be attached and data of a plurality of sensors may be used on average. The room temperature sensor is installed near the probe. In the case of a device that closes the cover, the room temperature sensor is installed in a closed space with the cover closed.

以上説明した本実施形態によれば、室温とプローブの温度差が原因となって起こる分節空気の膨張・収縮を抑えることができるため、微量な試料や試薬を正確に分注することができる。   According to the present embodiment described above, since the expansion / contraction of segmental air caused by the temperature difference between the room temperature and the probe can be suppressed, a very small amount of sample or reagent can be accurately dispensed.

なお、以上の本実施形態では、試料を分注するサンプルプローブ27の先端近傍に加熱手段であるヒーター38を備えている。それに対して、試薬を分注するプローブの近傍に加熱手段を設けたものとして、例えば、特開2001−174465号公報に記載されたものとが知られている。特開2001−174465号公報に記載されたもので、加熱手段(恒温水)を設ける理由は、吸引した試薬を予備的に加熱するためである。すなわち、試薬は劣化を防止するため低温で貯蔵されている。一方、試料と試薬を混合した後の反応は恒温槽(例えば、37℃)で進行する。この温度ギャップのせいで、測定精度が低下するのを防止するために、特開2001−174465号公報に記載されたもので、加熱手段(恒温水)を設けている。すなわち、特開2001−174465号公報に記載のものでは、分節空気を加熱するという思想はないものである。   In the above-described embodiment, the heater 38 as a heating unit is provided near the tip of the sample probe 27 for dispensing the sample. On the other hand, as what provided the heating means in the vicinity of the probe which dispenses a reagent, what was described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2001-174465 is known, for example. The reason why a heating means (constant temperature water) is provided in JP-A-2001-174465 is to preliminarily heat the aspirated reagent. That is, the reagent is stored at a low temperature to prevent deterioration. On the other hand, the reaction after mixing the sample and the reagent proceeds in a thermostatic chamber (for example, 37 ° C.). In order to prevent the measurement accuracy from being lowered due to this temperature gap, it is described in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-174465, and heating means (constant temperature water) is provided. That is, in the thing of Unexamined-Japanese-Patent No. 2001-174465, there is no idea of heating segmental air.

一般に、試料の分注精度は、±1%程度が求められる。このような高精度の分注を行うには、前述した本実施形態のように、分節空気の温度を制御する必要がある。一方、試薬の分注精度として求められるのは、±2%程度であり、試料の分注精度よりも低いものである。また、試料を1μL分注する際、それに対して用いられる試薬の量は50μLというように、試料の量よりも試薬の量の方が大きく、試料の分注には、試薬の分注よりも精度が求められるものである。   Generally, the sample dispensing accuracy is required to be about ± 1%. In order to perform such high-precision dispensing, it is necessary to control the temperature of the segmental air as in the above-described embodiment. On the other hand, what is required as the reagent dispensing accuracy is about ± 2%, which is lower than the sample dispensing accuracy. In addition, when a sample is dispensed in 1 μL, the amount of reagent used for the sample is 50 μL, and the amount of reagent is larger than the amount of sample. Accuracy is required.

その結果、特開2001−174465号公報に記載のものでは、分節空気を加熱するという思想はなく、実施例として記載のものでは、ノズルの先端付近に吸引した試薬を加熱する位置に加熱手段(恒温水)を配置するものであり、分節空気の位置に加熱手段を設けると思想は開示していないものである。   As a result, in the device described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-174465, there is no idea of heating the segmental air, and in the device described as an example, the heating means (in the position where the reagent sucked near the tip of the nozzle is heated) If the heating means is provided at the position of segmented air, the idea is not disclosed.

次に、図5を用いて、本発明の他の一実施形態による自動分析装置について説明する。なお、本実施形態による自動分析装置の全体構成は、図1に示したものと同様である。また、本実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブ27の構成は、図2に示したものと同様である。さらに、本実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブ27の先端内部の詳細構成は、図3に示したものと同様である。
図5は、本発明の他の実施形態による自動分析装置に用いるサンプルプローブのの温度制御処理の内容を示すフローチャートである。
Next, an automatic analyzer according to another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The overall configuration of the automatic analyzer according to the present embodiment is the same as that shown in FIG. The configuration of the sample probe 27 used in the automatic analyzer according to the present embodiment is the same as that shown in FIG. Further, the detailed configuration inside the tip of the sample probe 27 used in the automatic analyzer according to the present embodiment is the same as that shown in FIG.
FIG. 5 is a flowchart showing the contents of the temperature control process of the sample probe used in the automatic analyzer according to another embodiment of the present invention.

本実施形態は、室温とプローブの温度を比較し、プローブの温度の方が室温よりも低い場合だけでなく、プローブの温度の方が室温よりも高い場合も対策するものである。   In this embodiment, the room temperature and the probe temperature are compared, and measures are taken not only when the probe temperature is lower than the room temperature but also when the probe temperature is higher than the room temperature.

ステップS10からステップS70の流れは、図4に示したものと同様である。   The flow from step S10 to step S70 is the same as that shown in FIG.

ステップS40で「室温とプローブの温度を比較し室温の方が高くてかつ5℃以上差があるか」で判断がNoとなった場合、ステップS110で、「室温とプローブの温度を比較しプローブの温度の方が高くてかつ温度差が5℃以上ある」ケースが考えられる。この場合、洗浄水は室温程度の冷たい水であるために洗浄水を利用する。プローブの分注動作やプローブの洗浄動作以外の検体が空くタイミングを利用して、ステップS120で冷たい洗浄水を出すことによってプローブを冷やす。ステップS130で、温度差が±5℃以内になるまで空き時間に洗浄水を出す動作を継続する。ステップS140で温度差が±5℃以内になったならば、プローブを冷やす動作を止める。プローブヒーターによる加温と冷たい洗浄水を流すことによる冷却を併用することでプローブの温度を精度よく維持することができる。上記の処理をステップS80において装置の電源を切るまで繰り返す。   If it is determined in step S40 that "the room temperature is higher than the probe temperature and the room temperature is higher and there is a difference of 5 ° C or more", the answer is "No. The temperature is higher and the temperature difference is 5 ° C. or more ”. In this case, since the washing water is cold water at about room temperature, the washing water is used. The probe is cooled by taking out cold wash water in step S120 using the timing when the specimen becomes empty other than the probe dispensing operation and the probe washing operation. In step S130, the operation of discharging wash water in the idle time is continued until the temperature difference becomes within ± 5 ° C. If the temperature difference is within ± 5 ° C. in step S140, the operation of cooling the probe is stopped. The temperature of the probe can be accurately maintained by combining heating by the probe heater and cooling by flowing cold washing water. The above processing is repeated until the apparatus is turned off in step S80.

なお、洗浄水を用いてプローブを冷却するには、洗浄水の温度が低い必要が或る。そこで、図2に示した洗浄水温センサー39を設けて、洗浄水の温度を検出し、冷却に用いるには適当でない高い温度の際には、ステップS120における洗浄水による冷却は行わないようにする。   In addition, in order to cool a probe using washing water, the temperature of washing water needs to be low. Therefore, the cleaning water temperature sensor 39 shown in FIG. 2 is provided to detect the temperature of the cleaning water, and when the temperature is not suitable for cooling, the cooling with the cleaning water in step S120 is not performed. .

なお、圧力媒体の液体、一般的に水(洗浄水)の温度を測定するセンサー39をプローブの接続部付近に取り付ける。まれなケースであるが、圧力媒体の水の温度が室温よりも高い場合、洗浄水により冷却は行わないようにするとともに、アラームが発生してオペレータに注意をすることもできる。   A sensor 39 for measuring the temperature of the pressure medium liquid, generally water (washing water), is attached in the vicinity of the connection portion of the probe. In rare cases, when the temperature of the pressure medium water is higher than room temperature, the washing water is not used for cooling, and an alarm is generated to alert the operator.

以上説明した本実施形態によれば、室温とプローブの温度差が原因となって起こる分節空気の膨張・収縮を抑えることができるため、微量な試料や試薬を正確に分注することができる。この際、本実施形態では、プローブの温度が室温よりも高い場合だけでなく、プローブの温度が室温よりも低い場合も、分節空気の膨張・収縮を抑えることができる。
According to the present embodiment described above, since the expansion / contraction of segmental air caused by the temperature difference between the room temperature and the probe can be suppressed, a very small amount of sample or reagent can be accurately dispensed. At this time, in this embodiment, not only when the temperature of the probe is higher than room temperature, but also when the temperature of the probe is lower than room temperature, expansion / contraction of segmental air can be suppressed.

1…サンプルディスク機構
2…血清サンプリング機構
3…反応ディスク
4…反応容器
5A,5B…試薬ディスク機構
6…試薬容器
7A,7B…試薬ピペッティング機構
8…撹拌機構
9…恒温槽
10…光度計
11…反応容器洗浄機構
12…吸引ノズル
13…洗浄剤容器
14…洗剤注入ノズル
15…血清用ピペッタ
16…洗浄水ポンプ
17…試薬用ピペッタ
18…Log変換器およびA/D変換器
19…マイクロコンピュータ
20…プリンタ
21…操作画面
22…ハードディスク
23…インターフェース
24…操作パネル
25…試料容器
26…光源
27…サンプルプローブ
28A,28B…試薬プローブ
29…撹拌棒
30…第1試薬用試薬バーコードリーダ
31…第2試薬用試薬バーコードリーダ
34…試料用ピペッタ
35…電磁弁
36…ポンプ
37…洗浄水タンク
38…ヒーター
39…洗浄水温センサー
40…サンプルプローブ温度センサー
41…ジョイント
42…制御回路基板
43…室温センサー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Sample disk mechanism 2 ... Serum sampling mechanism 3 ... Reaction disk 4 ... Reaction container 5A, 5B ... Reagent disk mechanism 6 ... Reagent container 7A, 7B ... Reagent pipetting mechanism 8 ... Stirring mechanism 9 ... Constant temperature bath 10 ... Photometer 11 Reaction container cleaning mechanism 12 Suction nozzle 13 Cleaning agent container 14 Detergent injection nozzle 15 Serum pipetter 16 Washing water pump 17 Reagent pipetter 18 Log converter and A / D converter 19 Microcomputer 20 ... Printer 21 ... Operation screen 22 ... Hard disk 23 ... Interface 24 ... Operation panel 25 ... Sample container 26 ... Light source 27 ... Sample probe 28A, 28B ... Reagent probe 29 ... Stirring rod 30 ... First reagent reagent barcode reader 31 ... First Reagent barcode reader 34 for two reagents ... Pipettor 35 for sample ... Solenoid valve 36 ... Pump 7 ... washing water tank 38 ... Heater 39 ... washing water temperature sensor 40 ... sample probe temperature sensor 41 ... Joint 42 ... control circuit board 43 ... Room sensor

Claims (3)

試料を所定量吸引する管状のプローブと、
該プローブの内部に試料を吸引する試料用ピペッタとを有し、
前記管状のプローブの内部を圧力伝達媒体としての液体を満たした状態で、前記プローブの先端から所定量の空気を吸引し、その後、前記プローブの先端から所定量の試料を吸引することで、前記試料と前記圧力伝達液体との間に所定量の分節空気が配置される自動分析装置であって、
前記プローブに、前記分節空気を挟んで試料の全量が吸引された状態のときの、分節空気の位置を加熱するヒーターを備えることを特徴とする自動分析装置。
A tubular probe for aspirating a predetermined amount of the sample;
A sample pipettor for sucking the sample inside the probe;
With the inside of the tubular probe filled with a liquid as a pressure transmission medium, a predetermined amount of air is sucked from the tip of the probe, and then a predetermined amount of sample is sucked from the tip of the probe, An automatic analyzer in which a predetermined amount of segmental air is arranged between a sample and the pressure transmission liquid,
An automatic analyzer comprising: a heater for heating a position of segmented air when the entire amount of the sample is sucked with the segmented air interposed in the probe.
請求項1記載の自動分析装置において、
前記ヒーターは、前記プローブの分節空気が来る範囲をカバーするように配置されていることを特徴とする自動分析装置。
The automatic analyzer according to claim 1, wherein
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the heater is arranged to cover a range where the segmental air of the probe comes.
請求項2記載の自動分析装置において、
前記プローブの周囲の室温を測定する室温測定部と、
前記プローブ自体の温度を測定するプローブ温度測定部と、
前記室温測定部により測定された室温と前記プローブ温度測定部によって測定されたプローブの温度差が、所定温度範囲内となるように、前記ヒーターによる前記プローブの加温を制御する制御部を備えることを特徴とする自動分析装置。
The automatic analyzer according to claim 2,
A room temperature measuring unit for measuring the room temperature around the probe;
A probe temperature measuring unit for measuring the temperature of the probe itself;
A controller that controls heating of the probe by the heater so that a temperature difference between the room temperature measured by the room temperature measuring unit and the probe measured by the probe temperature measuring unit is within a predetermined temperature range; Automatic analyzer characterized by
JP2012242586A 2012-11-02 2012-11-02 Automatic analyzer Pending JP2014092427A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012242586A JP2014092427A (en) 2012-11-02 2012-11-02 Automatic analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012242586A JP2014092427A (en) 2012-11-02 2012-11-02 Automatic analyzer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014092427A true JP2014092427A (en) 2014-05-19

Family

ID=50936600

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012242586A Pending JP2014092427A (en) 2012-11-02 2012-11-02 Automatic analyzer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2014092427A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018110158A1 (en) * 2016-12-13 2018-06-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analysis device
WO2018235804A1 (en) * 2017-06-19 2018-12-27 国立大学法人名古屋大学 Dispensing device, liquid dispensing method, and cell dispensing method
JP2019039731A (en) * 2017-08-24 2019-03-14 株式会社日立ハイテクノロジーズ Dispensation system and automatic analyzer having the same
WO2019194096A1 (en) * 2018-04-05 2019-10-10 コニカミノルタ株式会社 Temperature adjustment system and temperature adjustment method
WO2023127878A1 (en) * 2021-12-28 2023-07-06 積水メディカル株式会社 Automatic analysis device and reagent dispensing method of automatic analysis device
WO2023157464A1 (en) * 2022-02-16 2023-08-24 株式会社日立ハイテク Automated analyzing device, and control method for same

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5231795A (en) * 1975-06-11 1977-03-10 Secr Social Service Brit Apparatus for sample inspection
JP2009210352A (en) * 2008-03-03 2009-09-17 Yaskawa Electric Corp Liquid sample dispensing device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5231795A (en) * 1975-06-11 1977-03-10 Secr Social Service Brit Apparatus for sample inspection
JP2009210352A (en) * 2008-03-03 2009-09-17 Yaskawa Electric Corp Liquid sample dispensing device

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11162965B2 (en) 2016-12-13 2021-11-02 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analyzer
JP7260594B2 (en) 2016-12-13 2023-04-18 株式会社日立ハイテク automatic analyzer
WO2018110158A1 (en) * 2016-12-13 2018-06-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analysis device
US11994529B2 (en) 2016-12-13 2024-05-28 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analyzer
US11662358B2 (en) 2016-12-13 2023-05-30 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analyzer
JP2021165744A (en) * 2016-12-13 2021-10-14 株式会社日立ハイテク Automatic analyzer
JPWO2018110158A1 (en) * 2016-12-13 2019-10-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ Automatic analyzer
JPWO2018235804A1 (en) * 2017-06-19 2020-04-16 国立大学法人名古屋大学 Dispensing device, liquid dispensing method, and cell dispensing method
WO2018235804A1 (en) * 2017-06-19 2018-12-27 国立大学法人名古屋大学 Dispensing device, liquid dispensing method, and cell dispensing method
JP7186450B2 (en) 2017-06-19 2022-12-09 国立大学法人九州大学 Dispensing device, liquid dispensing method, and cell dispensing method
US11717817B2 (en) 2017-06-19 2023-08-08 National University Corporation Kyushu University Dispensing apparatus, liquid dispensing method, and cell dispensing method
JP2019039731A (en) * 2017-08-24 2019-03-14 株式会社日立ハイテクノロジーズ Dispensation system and automatic analyzer having the same
JPWO2019194096A1 (en) * 2018-04-05 2021-05-13 コニカミノルタ株式会社 Temperature control system and temperature control method
JP7278262B2 (en) 2018-04-05 2023-05-19 大塚製薬株式会社 Temperature control system and temperature control method
WO2019194096A1 (en) * 2018-04-05 2019-10-10 コニカミノルタ株式会社 Temperature adjustment system and temperature adjustment method
WO2023127878A1 (en) * 2021-12-28 2023-07-06 積水メディカル株式会社 Automatic analysis device and reagent dispensing method of automatic analysis device
WO2023157464A1 (en) * 2022-02-16 2023-08-24 株式会社日立ハイテク Automated analyzing device, and control method for same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5984584B2 (en) Automatic analyzer
US8911685B2 (en) Automated analyzer
JP2014092427A (en) Automatic analyzer
JP5236612B2 (en) Automatic analyzer
US9513305B2 (en) Multiple cleaning stations for a dispensing probe
JP6676489B2 (en) How to pipette liquid with an automated analyzer
JPWO2015079829A1 (en) Automatic analyzer
US11169169B2 (en) Method of washing an aspiration probe of an in-vitro diagnostic system, in-vitro diagnostic method, and in-vitro diagnostic system
WO2018055929A1 (en) Automatic analysis device
JP2010071765A (en) Dispensing probe cleaning method and automatic analyzing apparatus
JP7200357B2 (en) How labware works
JP5903054B2 (en) Automatic analyzer
JP6126387B2 (en) Electrolyte analyzer with double tube structure sample suction nozzle
JP2009031203A (en) Automatic analyzer
JP6077075B2 (en) Automatic analyzer
JP6474747B2 (en) Automatic analyzer and cleaning method thereof
JP2018036080A (en) Autoanalyzer
JP2015158426A (en) Analysis device and method thereof
JP3120180U (en) Automatic analyzer
JP5492833B2 (en) Automatic analyzer and control method thereof
JP2010286243A (en) Automatic analyzer
JP2016206112A (en) Automatic analyzer
JP2009293939A (en) Method for cleaning probe in analyte dispensing device, analyte dispensing device and automatic analyzer
JP7494375B2 (en) Automatic analyzer and sample aspiration method in automatic analyzer
JP7002669B2 (en) Automatic analyzer

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151002

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20151002

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160809

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160927

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20161025