JP2014085679A - Projection device and method for operating projection device - Google Patents

Projection device and method for operating projection device Download PDF

Info

Publication number
JP2014085679A
JP2014085679A JP2013223608A JP2013223608A JP2014085679A JP 2014085679 A JP2014085679 A JP 2014085679A JP 2013223608 A JP2013223608 A JP 2013223608A JP 2013223608 A JP2013223608 A JP 2013223608A JP 2014085679 A JP2014085679 A JP 2014085679A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
projection
image
micromirror
laser
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013223608A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6422645B2 (en
Inventor
Frank Fischer
フィッシャー フランク
Gael Pilard
ピラール ガエル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Publication of JP2014085679A publication Critical patent/JP2014085679A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6422645B2 publication Critical patent/JP6422645B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/101Scanning systems with both horizontal and vertical deflecting means, e.g. raster or XY scanners
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B21/00Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
    • G03B21/005Projectors using an electronic spatial light modulator but not peculiar thereto
    • G03B21/008Projectors using an electronic spatial light modulator but not peculiar thereto using micromirror devices
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B21/00Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
    • G03B21/14Details
    • G03B21/28Reflectors in projection beam
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/01Head-up displays
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/01Head-up displays
    • G02B27/0101Head-up displays characterised by optical features

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve improvement for solving a defect in a conventional technology.SOLUTION: A projection device includes: a laser device; a setting-adjustable micro-mirror device; and a calculation device. The laser device is configured to generate a laser beam, and the setting-adjustable micro-mirror device is configured to adjust the setting of a projection region as the partial region of the whole projection region of the micro-mirror device, and to form an image on the projection surface by changing the laser beam in the projection region, and the calculation device is configured to control the driving of the setting-adjustable micro-mirror device and the laser device such that a predetermined contrast value of the image formed on the projection surface is achieved for the setting-adjusted projection region.

Description

本発明はプロジェクション装置と該プロジェクション装置の動作方法に関している。   The present invention relates to a projection apparatus and a method for operating the projection apparatus.

DE 10 2004 060 576 A1明細書からは画像プロジェクションのための画像プロジェクタ装置及びその方法が公知である。ここでは、投影ビームが二軸型スキャナにおいてその強度を変調され、さらに偏向されて投影面上で画像を形成すべく誘導されている。   From DE 10 2004 060 576 A1 an image projector device and method for image projection is known. Here, the intensity of the projection beam is modulated in a biaxial scanner and further deflected to be guided to form an image on the projection surface.

ここに開示されている方法では、投影面上の投影ビームの目下の位置に対応してそれぞれ1つの目下の位置情報値が求められ、この目下の位置情報に対応する局所的画像情報が画像メモリから読み出され、読み出された局所的画像情報に相応して投影ビームの強度が設定されている。   In the method disclosed herein, one current position information value is obtained corresponding to the current position of the projection beam on the projection plane, and local image information corresponding to this current position information is stored in the image memory. The intensity of the projection beam is set in accordance with the read local image information.

DE 10 2005 002 190 A1明細書からは、対象の表面凸部を検出するためのスキャナが開示されている。ここに開示されているスキャナはプロジェクタを含み、該プロジェクタは、表面凸部上で照明箇所を維持するために、光ビームを表面凸部に関する照明ラインに誘導するように構成されている。このプロジェクタはさらに投影信号を送出するようにも構成されており、この投影信号からは照明箇所における光ビームの位置が導出可能である。   The DE 10 2005 002 190 A1 specification discloses a scanner for detecting the surface convexity of an object. The scanner disclosed herein includes a projector that is configured to direct a light beam to an illumination line associated with the surface protrusion to maintain an illumination spot on the surface protrusion. The projector is also configured to send a projection signal, and the position of the light beam at the illumination location can be derived from the projection signal.

さらに前述のスキャナは、2つのディメンションで振動を誘起し得るコレクタマイクロミラーと点状の光検出器とを備えたコレクタを含んでいる。前記コレクタマイクロミラーはマイクロスキャナミラーの走査範囲内の照明箇所の反射が前記ミラーによって点状の光検出器上にマッピングされるように、照明ラインの第1の方向と該第1の方向とは異なる第2の方向に振動可能に配置されている。   In addition, the scanner described above includes a collector with a collector micromirror that can induce vibration in two dimensions and a pointed photodetector. The collector micromirror has a first direction of the illumination line and a first direction so that the reflection of the illumination spot within the scanning range of the microscanner mirror is mapped onto the pointed photodetector by the mirror. It arrange | positions so that a vibration is possible in a different 2nd direction.

さらに前述したスキャナでは、コレクタは検出信号を送出するように構成されている。この信号からは第1及び第2の方向における照明箇所の位置が導出可能である。   Furthermore, in the scanner described above, the collector is configured to send a detection signal. From this signal, the position of the illumination location in the first and second directions can be derived.

マイクロミラープロジェクタは特に小型化されたプロジェクタに用いられる。その際には単軸若しくは2軸型のマイクロミラープロジェクタが使用される。このマイクロミラープロジェクタの高い堅牢性を達成するために、マイクロミラープロジェクタを気密に密閉するガラス性密閉器が用いられるが、この密閉器は投影面に反射しかねない複数の反射を発生させる。   The micromirror projector is used particularly for a miniaturized projector. In that case, a single-axis or two-axis type micromirror projector is used. In order to achieve the high robustness of the micromirror projector, a glass hermetic seal is used to hermetically seal the micromirror projector, but this sealer generates a plurality of reflections that may be reflected on the projection surface.

DE 10 2004 060 576 A1DE 10 2004 060 576 A1 DE 10 2005 002 190 A1DE 10 2005 002 190 A1

本発明の課題は、従来技術における欠点に鑑みこれを解消すべく改善を行うことである。   An object of the present invention is to make improvements in order to eliminate the disadvantages in the prior art.

前記課題は本発明により、レーザー装置と、設定調整可能なマイクロミラー装置と、計算装置とを有し、前記レーザー装置は、レーザービームを生成するように構成されており、前記設定調整可能なマイクロミラー装置は、投影領域を前記マイクロミラー装置の全投影領域の部分領域として設定調整し、かつ前記投影領域内でのレーザービームの変更により投影面上で画像を形成するように構成されており、前記計算装置は、前記投影面上に形成された画像の予め定められるコントラスト値が設定調整された投影領域について達成されるように、前記設定調整可能なマイクロミラー装置と前記レーザー装置とを駆動制御するように構成されて解決される。   According to the present invention, the object includes a laser device, a setting-adjustable micromirror device, and a calculation device, and the laser device is configured to generate a laser beam. The mirror device is configured to set and adjust the projection region as a partial region of the entire projection region of the micromirror device, and to form an image on the projection surface by changing the laser beam in the projection region, The calculation device drives and controls the micromirror device and the laser device that can be set and adjusted so that a predetermined contrast value of an image formed on the projection plane is achieved for the set and adjusted projection region. Configured to be solved.

また前記課題は本発明により、レーザー装置によりレーザービームを生成するステップと、設定調整可能なマイクロミラー装置の投影領域を、マイクロミラー装置の全投影領域の部分領域として設定調整するステップと、投影面上に画像を形成するために、投影領域内にレーザービームを偏向させ、投影面上に生成される画像の予め設定されるコントラスト値を設定調整された投影領域について達成するために、設定調整可能なマイクロミラー装置とレーザー装置の駆動制御を行うステップによって解決される。   Further, according to the present invention, there is provided a step of generating a laser beam by a laser device, a step of setting and adjusting a projection region of a micromirror device that can be set and adjusted as a partial region of the entire projection region of the micromirror device, and a projection surface. Adjustable to deflect the laser beam into the projection area to form an image on top, and achieve a preset contrast value for the image generated on the projection plane for the adjusted projection area This is solved by the step of controlling the driving of the micromirror device and the laser device.

本発明は、要求の多い適用領域、例えばヘッドアップディスプレイ(いわゆるHUD)、又は視線方向表示ディスプレイ、又は視野方向表示ディスプレイのような適用領域に対して高いコントラスト比が達成可能となる気密に密閉された透過型インターフェースを備えたプロジェクション装置を提供することに基づいている。ここでの高いコントラスト比は、全投影領域からの適切な部分領域の選択によって達成される。それによりこの画像はプロジェクション装置によって全投影領域のうちの、相応に高いコントラスト比が可能な一部の領域においてのみ投影される。   The present invention is hermetically sealed so that high contrast ratios can be achieved for demanding application areas such as head-up displays (so-called HUD), or gaze direction display displays, or view direction display displays. It is based on providing a projection apparatus having a transparent interface. The high contrast ratio here is achieved by selecting an appropriate partial area from the entire projection area. As a result, this image is projected by the projection device only in a part of the entire projection area where a correspondingly high contrast ratio is possible.

本発明によるプロジェクション装置の実施形態を概略的に示した図1 schematically shows an embodiment of a projection apparatus according to the present invention. 本発明によるプロジェクション装置の別の実施形態を概略的に示した図The figure which showed schematically another embodiment of the projection apparatus by this invention 本発明によるプロジェクション装置のさらに別の実施形態を概略的に示した図The figure which showed schematically another embodiment of the projection apparatus by this invention 本発明を説明するためのプロジェクション装置の全投影領域の図表を概略的に示した図The figure which showed schematically the chart of all the projection areas of the projection apparatus for demonstrating this invention 本発明を説明するためのプロジェクション装置の全投影領域の図表を概略的に示した図The figure which showed schematically the chart of all the projection areas of the projection apparatus for demonstrating this invention 本発明のさらに別の実施形態による、設定可能なマイクロミラー装置を概略的に示した図FIG. 6 schematically shows a configurable micromirror device according to yet another embodiment of the invention. 本発明を説明するためのプロジェクション装置の全投影領域の概略的な関係図Schematic relationship diagram of all projection areas of a projection apparatus for explaining the present invention 本発明のさらに別の実施形態によるプロジェクション装置の動作方法のフローチャートを示した図The figure which showed the flowchart of the operating method of the projection apparatus by another embodiment of this invention.

本発明の有利な実施形態及び改善形態は、従属請求項並びに図面に基づく以下の明細書の説明に記載される。   Advantageous embodiments and improvements of the invention are described in the dependent claims and in the description of the following specification based on the drawings.

本発明の有利な実施形態によれば、設定調整可能なマイクロミラー装置が、レーザープロジェクション又はイメージングへの利用のために、カプセル化されたマイクロミラースキャナとして構成されている。この局所的真空環境の伴うカプセル化されたマイクロミラースキャナとしてのマイクロミラー装置の動作は、ガス分子によるマイクロミラーの動きの減衰を低減するように作用する。これにより低い駆動電圧と広い走査角度のもとでも最大頻度ないし最大速度の走査が可能となる。   According to an advantageous embodiment of the invention, the adjustable micromirror device is configured as an encapsulated micromirror scanner for use in laser projection or imaging. The operation of the micromirror device as an encapsulated micromirror scanner with this local vacuum environment acts to reduce the attenuation of the micromirror motion by gas molecules. This enables scanning at the maximum frequency or the maximum speed even under a low driving voltage and a wide scanning angle.

本発明の実施形態によれば、設定調整可能なマイクロミラー装置が、レーザープロジェクション又はイメージングへの利用のために、単軸型若しくは二軸型のマイクロミラースキャナとして構成されている。これにより有利には走査中の画像投影のもとで迅速な画像形成が達成される。   According to an embodiment of the present invention, the adjustable micromirror device is configured as a single-axis or biaxial micromirror scanner for use in laser projection or imaging. This advantageously achieves rapid image formation under image projection during scanning.

本発明の有利な実施形態によれば、プロジェクション装置が、ヘッドアップディスプレイのためのレーザープロジェクション装置として構成されている。これにより有利には重要な情報がヘッドアップディスプレイの視野内に投影されるようになる。   According to an advantageous embodiment of the invention, the projection device is configured as a laser projection device for a head-up display. This advantageously allows important information to be projected into the field of view of the head-up display.

本発明の別の有利な実施形態によれば、前記投影領域がプロジェクション装置の動作データに依存して設定可能である。このことは、投影領域がプロジェクション装置の動作データに最適に適合化することを可能にさせる。   According to another advantageous embodiment of the invention, the projection area can be set depending on the operation data of the projection device. This allows the projection area to be optimally adapted to the operation data of the projection device.

本発明のさらに別の有利な実施形態によれば、前記投影領域が前記マイクロミラー装置の全投影領域の部分領域の予め設定可能なコントラスト値データに依存して設定可能である。これにより、プロジェクション装置のユーザーからそのつどの画像投影の投影領域毎に望まれるコントラスト値が個別に設定可能になる。   According to yet another advantageous embodiment of the invention, the projection area can be set depending on pre-set contrast value data of a partial area of the entire projection area of the micromirror device. Thereby, the contrast value desired for each projection area of each image projection can be individually set by the user of the projection apparatus.

本発明の有利な実施形態によれば、形成された画像の予め設定されるコントラスト値が、プロジェクション装置から形成された画像の角度領域に依存して設定される。これにより、予め設定されるコントラスト値がそのつどの画像投影の角度領域に有利に適合化される。   According to an advantageous embodiment of the invention, the preset contrast value of the formed image is set depending on the angular region of the image formed from the projection device. Thereby, the preset contrast value is advantageously adapted to the angular area of the respective image projection.

前述した実施形態や改善形態は相互に任意に組み合わせてもよい。   The above-described embodiments and improvements may be arbitrarily combined with each other.

本発明のさらに可能な構成、改善構成及び実施態様には、前述した特徴又は以下の明細書で実施例に基づいて説明する特徴のまだ詳細には挙げられていない組み合わせも含まれる。   Further possible configurations, improved configurations and embodiments of the present invention include combinations which have not yet been described in detail with respect to the above-mentioned features or the features described in the following specification based on examples.

添付の図面は、本発明の実施形態のさらなる理解を促すために、本発明の原理と構想を詳細に説明する以下の記載に関連して用いられるべきである。   The accompanying drawings are to be used in connection with the following description which illustrates in detail the principles and concepts of the present invention to facilitate a further understanding of embodiments of the invention.

別の実施態様や多くの利点もこれらの図面に関連して明らかとなる。なお図中に示されている個々の構成要素は必ずしも相互間で縮尺通りに示されているわけではないことも述べておく。   Alternative embodiments and many advantages will become apparent with reference to these drawings. It should also be noted that the individual components shown in the figures are not necessarily shown to scale with each other.

これらの図面中、機能の同じ構成部品、構成要素、方法ステップには矛盾しない限り、同じ符号が付されている。   In these drawings, components, components, and method steps having the same functions are denoted by the same reference numerals as long as there is no contradiction.

図1には本発明による実施形態のプロジェクション装置の概略図が示されている。   FIG. 1 shows a schematic diagram of a projection apparatus according to an embodiment of the present invention.

図1に示されているプロジェクション装置100には設定調整可能な2つのマイクロミラー装置10が含まれており、これらのマイクロミラー装置10は、保護ガラス装置62の形態のそれぞれ1つの密閉されたカプセル状部を有しており、そこでは散乱光によるアーチファクトが散乱光反射SRとして形成される。   The projection device 100 shown in FIG. 1 includes two micromirror devices 10 that can be set and adjusted, each of which is one sealed capsule in the form of a protective glass device 62. In this case, artifacts due to scattered light are formed as scattered light reflection SR.

プロジェクション装置100はさらに例えばレーザー装置20と計算装置30を含んでいる。   The projection apparatus 100 further includes, for example, a laser apparatus 20 and a calculation apparatus 30.

レーザー装置20は、例えばレーザービームLを発生するように設計されている。このレーザー装置20はマルチカラーレーザー光源として構成されていてもよい。その場合には、それぞれ赤色、緑色、青色のスペクトル色のレーザービームを発するシングルレーザー光源が複数備えられる。   The laser device 20 is designed to generate a laser beam L, for example. The laser device 20 may be configured as a multi-color laser light source. In that case, a plurality of single laser light sources that emit laser beams of red, green, and blue spectral colors are provided.

設定可能なマイクロミラー装置10は、MEMS"micro-electro-mechanical system"又はMOEMS"micro-optoelectro-mechanical-system"として構成されてもよい。   The configurable micromirror device 10 may be configured as a MEMS “micro-electro-mechanical system” or a MOEMS “micro-optoelectro-mechanical system”.

前記設定可能なマイクロミラー装置10は、例えば投影領域PBがマイクロミラー装置10の全投影領域GBの部分領域TBとして設定され、投影領域PB内のレーザービームLの偏向によって画像Bが投影面PF上に形成されるように設計されている。   In the settable micromirror device 10, for example, the projection region PB is set as a partial region TB of the entire projection region GB of the micromirror device 10, and the image B is projected on the projection plane PF by the deflection of the laser beam L in the projection region PB. It is designed to be formed.

前記2つの設定調整可能なマイクロミラー装置10は、レーザー照射又はイメージング処理に使用するための、2つの1軸型マイクロミラースキャナで構成されていてもよいし、2軸型マイクロミラースキャナで構成されていてもよい。さらに前記2つの設定調整可能なマイクロミラー装置10の各々が、密閉されカプセル化されたMEMS型ミラースキャナとして構成されてもよいし、MOEMS型ミラースキャナとして構成されてもよい。   The two setting-adjustable micromirror devices 10 may be composed of two single-axis micromirror scanners or two-axis micromirror scanners for use in laser irradiation or imaging processing. It may be. Further, each of the two setting-adjustable micromirror devices 10 may be configured as a sealed and encapsulated MEMS type mirror scanner, or may be configured as a MOEMS type mirror scanner.

前記の2つの設定調整可能なマイクロミラー装置10のウエハ平面上のMEMS型及びMOEMS型システムの密閉されたカプセル状部は、MEMS型(若しくはMOEMES型)構成素子の、あらゆる種類の異物からの安全でかつ簡単に得られる永続的な保護に結び付くと共に、設定調整可能なマイクロミラー装置10の制約のない機能性を可能にする。   The sealed capsules of the MEMS and MOEMS type systems on the wafer plane of the two configurable micromirror devices 10 described above are safe from all types of foreign objects in MEMS (or MOEMS type) components. And can be easily obtained with permanent protection and allows the unconstrained functionality of the adjustable micromirror device 10.

計算装置30は、例えば、設定調整された投影領域PBについて投影面PF上で形成された画像Bの予め設定されたコントラスト値が達成できるように、設定調整可能なマイクロミラー装置10が駆動制御されるように設計される。   In the calculation device 30, for example, the micromirror device 10 that can be set and adjusted is driven and controlled so that a preset contrast value of the image B formed on the projection plane PF can be achieved for the projection region PB that is set and adjusted. Designed to be.

その場合前記2つの設定調整可能なマイクロミラー装置10の第1のマイクロミラー装置10は、画像Bを垂直方向に走査できるように設計され、前記2つの設定調整可能なマイクロミラー装置10の第2のマイクロミラー装置10は画像Bを水平方向に走査できるように設計される。   In this case, the first micromirror device 10 of the two setting-adjustable micromirror devices 10 is designed to scan the image B in the vertical direction, and the second setting-adjustable micromirror device 10 is the second one. The micromirror device 10 is designed to scan the image B in the horizontal direction.

前記2つのマイクロミラー装置10は、画像Bを全投影領域GB全体に亘って連続的に走査される。いずれにせよレーザー装置20のレーザービームLが、全投影領域GBの部分領域TBの走査の期間中にのみ生成され、それによって画像Bが部分領域TBの範囲内にだけ投影される。   The two micromirror devices 10 continuously scan the image B over the entire projection area GB. In any case, the laser beam L of the laser device 20 is generated only during the scanning of the partial area TB of the entire projection area GB, whereby the image B is projected only within the area of the partial area TB.

保護ガラス装置62は、設定調整可能なマイクロミラー装置10が密閉されて気密にカプセル化されるように設計されている。ここでの保護ガラス装置62は、ケーシング保持装置50によって固定可能である。このケーシング保持装置50は当該プロジェクション装置100の部分ケーシングユニットとして構成されていてもよい。その場合にはプロジェクション装置100の個々のコンポーネント、例えば保護ガラス装置62又は設定調整可能なマイクロミラー装置10又は計算装置30などの固定に用いられる。   The protective glass device 62 is designed so that the micromirror device 10 that can be set and adjusted is sealed and hermetically encapsulated. The protective glass device 62 here can be fixed by the casing holding device 50. The casing holding device 50 may be configured as a partial casing unit of the projection device 100. In that case, it is used to fix individual components of the projection apparatus 100, such as the protective glass apparatus 62, the micromirror apparatus 10 or the calculation apparatus 30 that can be set and adjusted.

前記2つの設定調整可能なマイクロミラー装置10は、図1に示されているように当該のプロジェクション装置100内部で用いられていてもよい。但し、投影面PFへの画像Bの投影の際には、複数の結像エラーが発生し得る。この結像エラーないし収差は、プロジェクション装置100の理想的な光学的結像位置からのずれを表し、このずれは、例えば保護ガラス装置62を用いた前記設定調整可能なマイクロミラー装置10のカプセル状部などの光学系によって引き起こされる。   The two setting-adjustable micromirror devices 10 may be used inside the projection device 100 as shown in FIG. However, when the image B is projected onto the projection plane PF, a plurality of imaging errors may occur. This imaging error or aberration represents a deviation from the ideal optical imaging position of the projection apparatus 100. This deviation is, for example, a capsule shape of the micromirror device 10 that can be set and adjusted using the protective glass device 62. It is caused by an optical system such as a section.

その際には乱反射した散乱光の他に散乱光反射SRも発生し得る。これらの散乱光反射SRは、例えば保護ガラス装置62の屈折性のガラス表面において生じる。それにより異彩な光のしみが発生する。前記の散乱光反射SRは、物理的な理由から完全に回避することができないものであるが、しかしながらこの反射は、保護ガラス装置62の反射表面のさらなるコーティング処理や反射防止膜によって大幅に低減することが可能である。   In this case, scattered light reflection SR can be generated in addition to the diffusely reflected scattered light. These scattered light reflections SR occur, for example, on the refractive glass surface of the protective glass device 62. As a result, a blot of unusual light occurs. The scattered light reflection SR is completely unavoidable for physical reasons, however, this reflection is greatly reduced by further coating of the reflective surface of the protective glass device 62 and an antireflection film. It is possible.

前記保護ガラス装置62の表面は、少なくとも部分的にミラーのような作用をする。そのためこのような部分的に反射する表面によって散乱光反射SRが形成される。   The surface of the protective glass device 62 acts at least partly as a mirror. Therefore, the scattered light reflection SR is formed by such a partially reflecting surface.

反射防止膜(Anti-Reflex-Coating)を用いることによって、散乱光反射SRは、レーザービーム強度のほぼ1%以下に抑えることが可能となる。保護ガラス装置62の反射表面がぐらぐらと傾かなければ散乱光反射SRは画像B内に収まる。   By using an anti-reflection film (Anti-Reflex-Coating), the scattered light reflection SR can be suppressed to approximately 1% or less of the laser beam intensity. If the reflecting surface of the protective glass device 62 is not tilted, the scattered light reflection SR is contained in the image B.

設定調整可能な第1のマイクロミラー装置10の反射表面からの散乱光反射SRは、設定調整可能な第2のマイクロミラー装置10によって水平方向に反射される。それにより、光学的なアーチファクトとして水平線が画像B内に形成される。   The scattered light reflection SR from the reflective surface of the first micromirror device 10 that can be set and adjusted is reflected in the horizontal direction by the second micromirror device 10 that can be set and adjusted. Thereby, a horizontal line is formed in the image B as an optical artifact.

設定調整可能な第2のマイクロミラー装置10の反射表面からの散乱光反射SRは、鉛直方向に反射される。それにより、光学的なアーチファクトとして垂直線が画像B内に形成される。   The scattered light reflection SR from the reflective surface of the second micromirror device 10 that can be set and adjusted is reflected in the vertical direction. Thereby, vertical lines are formed in the image B as optical artifacts.

それ故散乱光反射SRは全体的に十字状のアーチファクトを画像B上に形成する。   Therefore, the scattered light reflection SR forms an overall cross-shaped artifact on the image B.

画像Bは、多数の画素のマトリックスとして形成される。それ故垂直線の強度は、画像Bの列の数によって制御され、水平線の強度は、画像Bの行の数によって制御される。   Image B is formed as a matrix of a number of pixels. Therefore, the vertical line intensity is controlled by the number of columns in image B, and the horizontal line intensity is controlled by the number of rows in image B.

表面における反射強度が1%で、列の数が850の場合、垂直線の強度はまだ、850×0.01=8.5である。それにより、散乱光反射SRは1つの画素の平均輝度よりも8.5倍明るい。それ故に散乱光反射SRを回避するために、この領域が画像投影面からマスキングされる。   If the reflection intensity at the surface is 1% and the number of columns is 850, the intensity of the vertical line is still 850 × 0.01 = 8.5. Thereby, the scattered light reflection SR is 8.5 times brighter than the average luminance of one pixel. Therefore, this region is masked from the image projection plane in order to avoid scattered light reflection SR.

レーザービームL1,L2,L3は、所望の理想的な光学的結像に相応し、投影領域PB内の様々な走査角度を表す。   The laser beams L1, L2, L3 correspond to the desired ideal optical imaging and represent various scanning angles within the projection area PB.

例えばレーザービームL1は、第2のマイクロミラー装置10によって極限まで右方向へそれた位置に偏向されたレーザービームを表している。またレーザービームL2は、第2のマイクロミラー装置10によって零位置に偏向されたレーザービームを表す。レーザービームL3は、第2のマイクロミラー装置10によって極限まで左方向にそれた位置に偏向されたレーザービームを表す。   For example, the laser beam L1 represents a laser beam deflected to the right by the second micromirror device 10 to the right. The laser beam L2 represents a laser beam deflected to the zero position by the second micromirror device 10. The laser beam L3 represents a laser beam deflected to a position deviated leftward to the limit by the second micromirror device 10.

プロジェクション装置100はさらに記憶装置40を有している。この記憶装置40は前記計算装置30に連結されている。記憶装置40内には、例えばマイクロミラー装置10の全投影領域GBの部分領域TBの予め設定可能なコントラスト値のデータが記憶されている。ここでの部分領域TBは投影領域PBとして前記計算装置30から選択される。   The projection apparatus 100 further includes a storage device 40. The storage device 40 is connected to the calculation device 30. In the storage device 40, for example, preset contrast value data of the partial region TB of the entire projection region GB of the micromirror device 10 is stored. The partial area TB here is selected from the calculation device 30 as the projection area PB.

前記計算装置30と前記記憶装置40は、例えばプロセッサユニットとして、あるいはその他の電子的なデータ処理ユニットとして構成されている。計算装置30は例えばプロセッサの他に、周辺機能のためのユニットも1つのチップ上に統合されているマイクロコントローラとして構成されている。   The computing device 30 and the storage device 40 are configured as, for example, a processor unit or other electronic data processing unit. The computing device 30 is configured as a microcontroller in which units for peripheral functions are integrated on a single chip in addition to a processor, for example.

図2には、本発明のさらに別の実施形態によるプロジェクション装置が概略的に示されている。   FIG. 2 schematically illustrates a projection apparatus according to yet another embodiment of the present invention.

図1に示されている実施形態とは異なって、図2に示されている実施形態では、プロジェクション装置100が、進行方向に散乱光反射SRを伴う保護ガラス装置62を有している。   Unlike the embodiment shown in FIG. 1, in the embodiment shown in FIG. 2, the projection device 100 has a protective glass device 62 with scattered light reflection SR in the traveling direction.

図2に示された散乱光反射SRは、設定調整可能なマイクロミラー装置10における偏向の後で2つの保護ガラス装置62の裏側表面によって生成されている。そのため図1に示されている散乱光反射SRのような強度ではそれほど持続せず、集中的でもないが、それにもかかわらず画像Bのコントラストは低減される。   The scattered light reflection SR shown in FIG. 2 is generated by the backside surfaces of the two protective glass devices 62 after deflection in the adjustable micromirror device 10. For this reason, the intensity of the scattered light reflection SR shown in FIG. 1 is not so persistent and not intensive, but the contrast of the image B is nevertheless reduced.

設定調整可能な第2のマイクロミラー装置10の散乱光反射SRは画像B内に投影される。保護ガラス装置62の傾斜に基づいて、散乱光反射SRは、画像Bの中央領域内では結像されない。   The scattered light reflection SR of the second micromirror device 10 that can be set and adjusted is projected into the image B. Based on the inclination of the protective glass device 62, the scattered light reflection SR is not imaged in the central region of the image B.

散乱光反射SRの幾何学形態については、以下で説明する図6に示されている。画像Bの走査の際には設定調整可能なマイクロミラー装置10が図2に示されているように右方から開始されて図3に示されているように零位置を介して左方の最大偏向位置まで傾斜される。さらにレーザービームL2から出発して散乱光反射SRが投影面PF上に示される。   The geometric form of the scattered light reflection SR is shown in FIG. 6 described below. When scanning image B, the adjustable micromirror device 10 is started from the right as shown in FIG. 2 and the left maximum via the zero position as shown in FIG. Tilt to deflection position. Furthermore, starting from the laser beam L2, the scattered light reflection SR is shown on the projection plane PF.

図2に示されているさらに別の参照符号は、図1に基づいた説明のところで既に説明しているので、ここでのさらなる説明は省く。   2 are already described in the description with reference to FIG. 1, and therefore are not further described here.

図3には本発明のさらに別の実施形態によるプロジェクション装置が概略的に示されている。   FIG. 3 schematically shows a projection apparatus according to still another embodiment of the present invention.

図1に示された実施形態とは異なって図3に示されている実施形態では、プロジェクション装置100が、零位置に位置付けされた保護グラス装置62を有している。ここでも散乱光反射SRは発生している。   In the embodiment shown in FIG. 3, unlike the embodiment shown in FIG. 1, the projection device 100 has a protective glass device 62 positioned in the null position. Again, scattered light reflection SR is generated.

図3に示されているさらに別の参照符号も、図1に基づいた説明のところで既に説明しているので、ここでのさらなる説明は省く。   Further reference numerals shown in FIG. 3 have already been described in the description based on FIG. 1 and will not be further described here.

図4及び5には本発明の説明のためにプロジェクション装置の全投影領域の図表が示されている。   FIGS. 4 and 5 are diagrams of the entire projection area of the projection apparatus for explaining the present invention.

X軸には、画像Bの位置座標のX座標がmm単位で示されており、Y軸は画像Bの位置座標のY座標を再現している。種々異なるグレー値は、当該図表に隣接して示されているスケールに応じて当該ダイヤグラム内でそのつどの位置座標の強度値を再現している。   On the X axis, the X coordinate of the position coordinate of the image B is shown in mm, and the Y axis reproduces the Y coordinate of the position coordinate of the image B. The different gray values reproduce the intensity values of the respective position coordinates in the diagram according to the scale shown adjacent to the chart.

図4及び5には、保護ガラス装置62によって形成された多様な散乱光反射SRを伴って画像Bとして投影された点状マトリックスPMのシミュレーションが示されている。この強度スケールは対数尺スケールであり、相対的な強度において、より濃厚なグレー値は、より高い強度値に相応している。規則的な点状マトリックスPMの形態で配置されている複数の点は、直接投影された点である。それらのうちからずれの生じている点は、散乱光反射SRに基づくものであり、点状マトリックスPMの直接投影された点の強度の約1/100の値を有している。   FIGS. 4 and 5 show a simulation of a point-like matrix PM projected as an image B with various scattered light reflections SR formed by the protective glass device 62. This intensity scale is a log scale, and in relative intensity, a darker gray value corresponds to a higher intensity value. A plurality of points arranged in the form of a regular point matrix PM are directly projected points. The point where the deviation occurs is based on the scattered light reflection SR, and has a value of about 1/100 of the intensity of the directly projected point of the point matrix PM.

コントラスト値として、左方側の第1の部分領域B1においては、複数の散乱光反射SRによって、およそ200:1の関係の係数値しか達成されない。   As a contrast value, in the first partial region B1 on the left side, only a coefficient value having a relationship of approximately 200: 1 is achieved by the plurality of scattered light reflections SR.

投影された画像Bの右方側の第2の部分領域B2上では目立った散乱光反射SRは存在していない。この第2の部分領域B2におけるコントラスト値は、理想的なケースにおいては10000:1の関係までのコントラスト値を達成し得る。   There is no conspicuous scattered light reflection SR on the second partial region B2 on the right side of the projected image B. The contrast value in the second partial region B2 can achieve a contrast value up to a relationship of 10,000: 1 in an ideal case.

図6には、本発明のさらに別の実施形態による設定調整可能なマイクロミラー装置の概略図が示されている。   FIG. 6 shows a schematic view of a micromirror device with adjustable settings according to still another embodiment of the present invention.

図6には第2のマイクロミラー装置10において発生した反射SRが詳細に描写されており、ここでは特に、入射レーザービームLinと反射レーザービームLrflとの間の角度が示されている。   FIG. 6 shows the reflected SR generated in the second micromirror device 10 in detail. In particular, the angle between the incident laser beam Lin and the reflected laser beam Lrfl is shown.

設定調整可能なマイクロミラー装置10の実施形態の詳細も図6に描写される。ここでは、入射されたレーザービームLinのレーザー経過と反射されたレーザービームLrflのレーザー経過とが描写されている。   Details of an embodiment of the adjustable micromirror device 10 are also depicted in FIG. Here, the laser course of the incident laser beam Lin and the laser course of the reflected laser beam Lrfl are depicted.

図6中に示されている角度は以下のように定義される。すなわち、
α=入射レーザービームLinと零位置のミラー表面SOの法線NOSとの間の角度
β=零位置のミラー表面SOの法線に対する任意の位置に変更されたミラー表面SOの法線間の角度
γ=零位置のミラー表面SOの法線NOSに対するガラス盤の法線NOG間の角度
θ=零位置のミラー表面SOの法線NOSに対する走査方向の角度
φ=反射レーザービームLrflと零位置のミラー表面SOの法線との間の角度である。
The angles shown in FIG. 6 are defined as follows. That is,
α = angle between incident laser beam Lin and normal NOS of mirror surface SO at zero position β = angle between normals of mirror surface SO changed to an arbitrary position with respect to the normal of mirror surface SO at zero position γ = angle between the normal NOG of the glass plate relative to the normal NOS of the mirror surface SO at the zero position θ = the angle in the scanning direction relative to the normal NOS of the mirror surface SO at the zero position φ = the reflected laser beam Lrfl and the mirror at the zero position The angle between the normal of the surface SO.

入射されるレーザービームLinが、設定調整可能なマイクロミラー装置10のミラー表面SOによって反射された後では、レーザービームLのさらなるビーム経過において散乱光反射SRが、ガラス盤で構成された保護ガラス装置62において発生する。   After the incident laser beam Lin is reflected by the mirror surface SO of the micromirror device 10 that can be set and adjusted, the scattered light reflection SR in the further beam course of the laser beam L becomes a protective glass device constituted by a glass plate. Occurs at 62.

保護ガラス装置62の表面において、反射されたレーザービームLrflは部分的にθ+2γの角度で再帰反射ないし逆反射(zurueckreflektieren)される。反射されたレーザービームLrflは改めてマイクロミラー装置10のミラー表面SOから方向変換され、再び投影画像Bの方向へ偏向される。これにより画像Bのコントラスト値が減少し、低下する。   On the surface of the protective glass device 62, the reflected laser beam Lrfl is partly retroreflected or retroreflected at an angle of θ + 2γ. The reflected laser beam Lrfl is redirected from the mirror surface SO of the micromirror device 10 and deflected again in the direction of the projected image B. As a result, the contrast value of the image B decreases and decreases.

走査角度と、散乱光反射SRの角度との間の角度差分δは、以下の関係式、
δ=θ0−φ0=(α−4β+2γα)−(α+−2β)=2γ−2β
から得られる。
The angle difference δ between the scanning angle and the angle of the scattered light reflection SR is expressed by the following relational expression:
δ = θ0−φ0 = (α-4β + 2γα) − (α + -2β) = 2γ-2β
Obtained from.

部分領域TB(これは全投影領域GBに関して二次の散乱光反射SRによる影響を受けない領域である)は、以下のような比率ないし関係値r、
r=(γ−β)/(2β)
から得られる。
The partial region TB (this is a region not affected by the secondary scattered light reflection SR with respect to the entire projection region GB) has the following ratio or relationship value r,
r = (γ−β) / (2β)
Obtained from.

この関係値rは、ガラス盤の勾配γと走査角度βにのみ依存する。ここでは約1/3の関係値rを達成するために、前記2つの角度β及びγに対して適切な値が選択される。   This relation value r depends only on the gradient γ of the glass plate and the scanning angle β. Here, appropriate values are selected for the two angles β and γ in order to achieve a relational value r of about 1/3.

それにより、例えば画像フォーマット16:9(これは画像の長さ(16)に対する高さ(9)の比を表している)の画像Bは、16倍の関係値rでもって投影され得る。   Thereby, for example, an image B of image format 16: 9 (which represents the ratio of height (9) to image length (16)) can be projected with a relationship value r of 16 times.

図7には、本発明を説明するための投影装置の全投影領域の関係図が示されている。   FIG. 7 shows a relationship diagram of all projection areas of the projection apparatus for explaining the present invention.

ここでは画像Bの可及的に高いコントラスト値を達成するために、設定調整可能なマイクロミラー装置10の投影領域PBがマイクロミラー装置10の全投影領域GBの部分領域として設定調整される。   Here, in order to achieve the highest possible contrast value of the image B, the projection region PB of the micromirror device 10 that can be set and adjusted is set and adjusted as a partial region of the entire projection region GB of the micromirror device 10.

図8には本発明のさらに別の実施形態によるプロジェクション装置の動作方法のフローチャートが概略的に示されている。   FIG. 8 schematically shows a flowchart of an operation method of a projection apparatus according to still another embodiment of the present invention.

ここでは第1の方法ステップS1として、レーザー装置20によるレーザービームLの生成が行われる。   Here, generation of the laser beam L by the laser device 20 is performed as the first method step S1.

次に第2の方法ステップS2として、マイクロミラー装置10の全投影領域GBの部分領域として、設定調整可能なマイクロミラー装置10の投影領域PBの設定調整が行われる。   Next, as a second method step S2, setting adjustment of the projection region PB of the micromirror device 10 that can be set and adjusted is performed as a partial region of the entire projection region GB of the micromirror device 10.

次に第3の方法ステップS3として、画像Bを投影面PF上に形成するために、前記投影領域PB内でレーザービームLの偏向が行われ、さらに、投影面上に生成された画像Bの予め設定されたコントラスト値を調整された投影領域PBについて達成するために、設定調整可能なマイクロミラー装置10とレーザー装置20の駆動制御が行われる。   Next, as a third method step S3, in order to form the image B on the projection plane PF, the laser beam L is deflected in the projection area PB, and the image B generated on the projection plane is further converted. In order to achieve a preset contrast value for the adjusted projection region PB, drive control of the micromirror device 10 and the laser device 20 that can be adjusted is performed.

前記の方法ステップは、反復的若しくは再帰的に、任意の順序で繰り返されてもよい。   The method steps may be repeated iteratively or recursively in any order.

本発明は前述したようないくつかの有利な実施形態に基づいて説明をしてきたが、このことは本願発明が前述の実施形態に限定されることを意味するものではない。それどころか本発明の態様については多岐に亘る変更が可能なものである。とりわけ本発明は、本発明の核心から逸脱することなく多種多様な方式での変更若しくは改善が可能であることを述べておく。   Although the invention has been described on the basis of several advantageous embodiments as described above, this does not mean that the invention is limited to the embodiments described above. On the contrary, various changes can be made to the embodiments of the present invention. In particular, it should be noted that the present invention can be modified or improved in various ways without departing from the core of the present invention.

10 マイクロミラー装置
20 レーザー装置
30 計算装置
40 記憶装置
50 ケーシング保持装置
62 保護ガラス装置
100 プロジェクション装置
GB 全投影領域
PB 投影領域
PF 投影面
B 画像
L レーザービーム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Micromirror apparatus 20 Laser apparatus 30 Calculation apparatus 40 Storage apparatus 50 Casing holding apparatus 62 Protection glass apparatus 100 Projection apparatus GB All projection area PB Projection area PF Projection surface B Image L Laser beam

Claims (8)

レーザー装置(20)と、
設定調整可能なマイクロミラー装置(10)と、
計算装置(30)とを有し、
前記レーザー装置(20)は、レーザービーム(L)を生成するように構成されており、
前記設定調整可能なマイクロミラー装置(10)は、投影領域(PB)を前記マイクロミラー装置(10)の全投影領域(GB)の部分領域(TB)として設定調整し、かつ前記投影領域(PB)内でのレーザービーム(L)の偏向により投影面(PF)上で画像(B)を形成するように構成されており、
前記計算装置(30)は、前記投影面(PF)上に形成された画像(B)の予め定められるコントラスト値が、設定調整された投影領域(PB)について達成されるように、前記設定調整可能なマイクロミラー装置(10)と前記レーザー装置(20)とを駆動制御するように構成されていることを特徴とするプロジェクション装置(100)。
A laser device (20);
A micromirror device (10) with adjustable settings;
A computing device (30),
The laser device (20) is configured to generate a laser beam (L),
The setting and adjusting micromirror device (10) sets and adjusts the projection region (PB) as a partial region (TB) of the entire projection region (GB) of the micromirror device (10), and the projection region (PB) ) To form an image (B) on the projection plane (PF) by the deflection of the laser beam (L) in
The calculation device (30) performs the setting adjustment so that a predetermined contrast value of the image (B) formed on the projection plane (PF) is achieved for the projection area (PB) that has been set and adjusted. A projection device (100), characterized in that it is configured to drive and control a possible micromirror device (10) and the laser device (20).
前記設定可能なマイクロミラー装置(10)は、レーザープロジェクション又イメージングに利用するためのカプセル化されたマイクロミラースキャナとして構成されている、請求項1記載のプロジェクション装置(100)。   The projection device (100) according to claim 1, wherein the configurable micromirror device (10) is configured as an encapsulated micromirror scanner for use in laser projection or imaging. 前記設定可能なマイクロミラー装置(10)は、レーザープロジェクション又はイメージングに利用するための単軸型若しくは二軸型のマイクロミラースキャナとして構成されている、請求項1または2記載のプロジェクション装置(100)。   The projection device (100) according to claim 1 or 2, wherein the configurable micromirror device (10) is configured as a single-axis or biaxial micromirror scanner for use in laser projection or imaging. . 前記プロジェクション装置(100)は、ヘッドアップディスプレイのためのレーザープロジェクション装置として構成されている、請求項1から3いずれか1項記載のプロジェクション装置(100)。   The projection apparatus (100) according to any one of claims 1 to 3, wherein the projection apparatus (100) is configured as a laser projection apparatus for a head-up display. 前記投影領域(PB)は、前記プロジェクション装置(100)の動作データに依存して設定可能である、請求項1から4いずれか1項記載のプロジェクション装置(100)。   The projection apparatus (100) according to any one of claims 1 to 4, wherein the projection area (PB) can be set depending on operation data of the projection apparatus (100). 前記投影領域(PB)は、前記マイクロミラー装置(10)の前記全投影領域(GB)の部分領域の予め設定可能なコントラスト値データに依存して設定調整可能である、請求項1から5いずれか1項記載のプロジェクション装置(100)。   The projection area (PB) can be set and adjusted depending on preset contrast value data of a partial area of the total projection area (GB) of the micromirror device (10). A projection apparatus (100) according to claim 1. 形成された画像(B)の予め設定されるコントラスト値は、前記プロジェクション装置(100)によって形成された画像(B)の角度領域に依存して設定される、請求項1から6いずれか1項記載のプロジェクション装置(100)。   The contrast value set in advance for the formed image (B) is set depending on the angular region of the image (B) formed by the projection device (100). The projection apparatus (100) as described. プロジェクション装置を動作するための方法であって、
レーザー装置(20)によりレーザービーム(L)を生成するステップ(S1)と、
設定調整可能なマイクロミラー装置(10)の投影領域(PB)を、マイクロミラー装置(10)の全投影領域(GB)の部分領域(TB)として設定調整するステップ(S2)と、
投影面(PF)上に画像(B)を形成するために、投影領域(PB)内にレーザービーム(L)を偏向させ、投影面(PF)上に生成される画像(B)の予め設定されるコントラスト値を設定調整された投影領域(PB)について達成するために、設定調整可能なマイクロミラー装置(10)とレーザー装置(20)の駆動制御を行うステップ(S3)とが含まれていることを特徴とする方法。
A method for operating a projection device, comprising:
Generating a laser beam (L) by the laser device (20) (S1);
A step (S2) of setting and adjusting the projection region (PB) of the micromirror device (10) capable of setting and adjustment as a partial region (TB) of the entire projection region (GB) of the micromirror device (10);
In order to form the image (B) on the projection plane (PF), the laser beam (L) is deflected in the projection area (PB), and the image (B) generated on the projection plane (PF) is preset. A step of controlling the drive of the micromirror device (10) and the laser device (20), which can be set and adjusted, in order to achieve the contrast value to be set and adjusted for the projection region (PB). A method characterized by being.
JP2013223608A 2012-10-26 2013-10-28 Projection apparatus and method of operating the projection apparatus Active JP6422645B2 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102012219666.8A DE102012219666B4 (en) 2012-10-26 2012-10-26 Projection device and method for operating a projection device
DE102012219666.8 2012-10-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014085679A true JP2014085679A (en) 2014-05-12
JP6422645B2 JP6422645B2 (en) 2018-11-14

Family

ID=50479645

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013223608A Active JP6422645B2 (en) 2012-10-26 2013-10-28 Projection apparatus and method of operating the projection apparatus

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6422645B2 (en)
DE (1) DE102012219666B4 (en)
FR (1) FR2997513B1 (en)
IT (1) ITMI20131768A1 (en)
SE (1) SE538110C2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016006445A (en) * 2014-06-20 2016-01-14 船井電機株式会社 Vibration mirror package and projector
CN112384841A (en) * 2018-07-11 2021-02-19 罗伯特·博世有限公司 Mirror device and manufacturing method for mirror device

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014223992B4 (en) 2014-11-25 2023-08-17 Robert Bosch Gmbh projection device
DE102019118686A1 (en) * 2019-07-10 2021-01-14 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Optical transmission unit for an optical detection device, optical detection device and motor vehicle

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011070056A (en) * 2009-09-28 2011-04-07 Seiko Epson Corp Optical deflector, method of manufacturing the same and image forming apparatus
WO2011082789A1 (en) * 2009-12-14 2011-07-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Deflection system for a projection device, projection device for projecting an image and method for actuating a deflection system for a projection device

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004060576B4 (en) 2004-12-16 2017-12-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Method and projector for image projection
DE102005002190B4 (en) 2005-01-17 2007-04-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Scanner and method for operating a scanner
US8016434B2 (en) 2008-06-05 2011-09-13 Disney Enterprises, Inc. Method and system for projecting an animated object and concurrently moving the object's projection area through an animation pattern

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011070056A (en) * 2009-09-28 2011-04-07 Seiko Epson Corp Optical deflector, method of manufacturing the same and image forming apparatus
WO2011082789A1 (en) * 2009-12-14 2011-07-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Deflection system for a projection device, projection device for projecting an image and method for actuating a deflection system for a projection device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016006445A (en) * 2014-06-20 2016-01-14 船井電機株式会社 Vibration mirror package and projector
CN112384841A (en) * 2018-07-11 2021-02-19 罗伯特·博世有限公司 Mirror device and manufacturing method for mirror device
CN112384841B (en) * 2018-07-11 2022-10-21 罗伯特·博世有限公司 Mirror device and manufacturing method for mirror device

Also Published As

Publication number Publication date
SE538110C2 (en) 2016-03-08
FR2997513B1 (en) 2017-04-14
ITMI20131768A1 (en) 2014-04-27
SE1351170A1 (en) 2014-04-27
FR2997513A1 (en) 2014-05-02
DE102012219666B4 (en) 2023-06-22
JP6422645B2 (en) 2018-11-14
DE102012219666A1 (en) 2014-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10390006B2 (en) Method and device for projecting a 3-D viewable image
JP5632473B2 (en) Correction of distortion in scanning projector by changing scanning amplitude
US10672349B2 (en) Device for project an image
KR102461253B1 (en) Projection display apparatus including eye tracker
JP2005531790A (en) Image projection device
JP2018005007A (en) Optical scanner, projector device, and head-up display device
JP6422645B2 (en) Projection apparatus and method of operating the projection apparatus
JP2020003531A (en) Movable device, image projection device, head-up display, laser head lamp, head-mounted display, object recognition device, and vehicle
US20130076992A1 (en) Video display apparatus
JP5402567B2 (en) Image display device
JP2007079087A (en) Image display apparatus and its control method
JP2014119687A (en) Screen device and display device
KR101648452B1 (en) light scanner package and laser display system for using the same
JP7196769B2 (en) laser scanning imager
KR100970644B1 (en) Scanning display device
US20210395073A1 (en) Movable device, distance measurement device, image projection apparatus, vehicle, and mount
JP2020187325A (en) Virtual image display device
WO2022165441A1 (en) Projection system and method with dynamic target geometry
JP2012255884A (en) Video projection system
CN113934009A (en) Projection display system

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161028

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170904

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180521

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180821

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181001

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181017

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6422645

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250