JP2014071931A - Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk that is capable of enhancing stability in grinding or polishing processing while preventing mechanical strength of a glass substrate from lowering due to damage on an outer periphery end surface of the glass substrate for a magnetic disk, when manufacturing the glass substrate for a magnetic disk.SOLUTION: The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk is a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having a pair of main surfaces, an inner periphery end surface, and an outer periphery end surface that includes a side wall surface and a pair of intermediate surfaces each of which is disposed between the pair of main surfaces and the side wall surface and is tilted with respect to the pair of main surfaces. The method comprises: a protective layer forming step of forming a protective layer by applying a protective agent to the outer periphery end surface so that a portion of a side of the main surface in each of the pair of intermediate surfaces is made to be a non-forming region in the protective layer; and a main surface processing step of grinding or polishing the pair of main surfaces.

Description

本発明は、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk.

今日、パーソナルコンピュータ、ノート型パーソナルコンピュータ、あるいはDVD(Digital Versatile Disc)記録装置等には、データ記録のためにハードディスク装置が内蔵されている。特に、ノート型パーソナルコンピュータ等の可搬性を前提とした機器に用いられるハードディスク装置では、磁気ディスク用ガラス基板に磁性層が設けられた磁気ディスクが用いられる。磁気ディスクの面上では、この面から僅かに浮上させた磁気ヘッド(DFH(Dynamic Flying Height)ヘッド)で磁気ディスクの磁性層に磁気記録情報が記録され、あるいは読み取られる。
磁気ディスクに用いられるガラス基板は、アルミニウム基板に比べて、素材そのものの硬度が高く、平坦性、平滑性に優れ、磁気記録の高密度化の要求にも応えられることから、好適に用いられている。しかしながら、ガラス基板は、脆性材料からなるため、製造時および使用時の破損が問題の1つとなっている。
Today, a personal computer, a notebook personal computer, a DVD (Digital Versatile Disc) recording device, or the like has a built-in hard disk device for data recording. In particular, in a hard disk device used for portable equipment such as a notebook personal computer, a magnetic disk having a magnetic layer provided on a magnetic disk glass substrate is used. On the surface of the magnetic disk, magnetic recording information is recorded on or read from the magnetic layer of the magnetic disk by a magnetic head (DFH (Dynamic Flying Height) head) slightly lifted from this surface.
A glass substrate used for a magnetic disk is preferably used because the material itself has a higher hardness, flatness and smoothness than an aluminum substrate, and can meet the demand for higher density magnetic recording. Yes. However, since the glass substrate is made of a brittle material, damage during manufacture and use is one of the problems.

磁気ディスク用ガラス基板の機械的強度の低下を支配する要因の1つとして、ガラス基板の内周側端面及び外周側端面に存在する傷が挙げられる。ガラス基板のこれらの端面は、主表面が極めて高い水準で平坦性および平滑性が要求されるのとは異なり、一般的に傷が除去される程度の研磨加工が行われ、高精度な加工面となるよう研磨加工が行われる訳ではない。この理由には、ガラス基板の端面は、ガラス板から切り出される切断面であるために元々粗い面であること、磁気記録に直接関係しない面であること、さらには、曲面であるために高精度の研磨加工を行うと極めてコストが高くなることなどが挙げられる。
ガラス基板の端面の傷を減らして、高品質な加工面に仕上げる方法として、段階的に粒度の細かい砥粒を用いて端面を研磨する多段階加工が知られている。しかし、このような多段階加工は、ガラス基板の生産性およびコストの大幅な悪化を招くという致命的な問題がある。
One of the factors governing the decrease in the mechanical strength of the magnetic disk glass substrate is scratches present on the inner peripheral side end surface and the outer peripheral side end surface of the glass substrate. These end faces of the glass substrate are generally polished to such an extent that scratches are removed, and a high-accuracy processed surface, unlike the fact that the main surface is required to have a very high level of flatness and smoothness. The polishing process is not performed so that The reason for this is that the end surface of the glass substrate is a rough surface because it is a cut surface cut out from the glass plate, is a surface that is not directly related to magnetic recording, and is also highly accurate because it is a curved surface. If the polishing process is performed, the cost is extremely high.
As a method for reducing scratches on the end face of a glass substrate and finishing it to a high-quality processed surface, multistage processing is known in which the end surface is polished stepwise using finely-grained abrasive grains. However, such multi-stage processing has a fatal problem that it causes a significant deterioration in productivity and cost of the glass substrate.

このような状況下、ガラス基板の端面に存在する傷による機械的強度の低下を防ぐ方法として、ガラス基板の内周側端面に対し保護剤を塗布して保護層を形成することが知られている(特許文献1)。   Under such circumstances, as a method for preventing a decrease in mechanical strength due to scratches existing on the end face of the glass substrate, it is known to form a protective layer by applying a protective agent to the inner peripheral side end face of the glass substrate. (Patent Document 1).

特開2005−203080号公報JP 2005-203080 A

特許文献1に開示する技術は、ガラス基板を積層した状態でのガラス基板の内周側端面に対し保護剤を用いて効率良くコーティングするものであるが、ガラス基板の外周側端面に対し樹脂を効率良く塗布することについて言及していない。特許文献1に開示された塗布方法によって、ガラス基板の外周側端面に対し樹脂の塗布を行うと、外周側端面は、ガラス基板の厚さ方向の全体が塗布されてしまう。このため、後で表面研磨が行われると、外周側端面の、ガラス基板の厚さ方向の両端の部分の樹脂が削り取られ、削り取られた樹脂は、ガラス基板の主表面の傷の発生や汚染の原因となりうる。   The technique disclosed in Patent Document 1 is to efficiently coat the inner peripheral side end surface of the glass substrate in a state where the glass substrate is laminated, using a protective agent, but the resin is applied to the outer peripheral side end surface of the glass substrate. It does not mention efficient application. When resin is applied to the outer peripheral side end face of the glass substrate by the coating method disclosed in Patent Document 1, the entire outer peripheral side end face in the thickness direction of the glass substrate is applied. For this reason, if surface polishing is performed later, the resin on both ends of the outer peripheral side end surface in the thickness direction of the glass substrate is scraped off, and the scraped resin causes scratches and contamination on the main surface of the glass substrate. Can cause

これに加えて、研削あるいは研磨中、外周側端面から削り取られた樹脂が加工中剥がれ、その一部が、一対の定盤間に挟まれて加工されるガラス基板の主表面上、又はキャリヤの表面上に進入する虞がある。この 結果、定盤の研磨パッド又は研削シートとキャリヤとの間に隙間が生じて、研削又は研磨中のキャリヤからガラス基板が離脱し、研削又は研磨中にガラス基板が破損してしまう虞が高い。一旦、ガラス基板の研削又は研磨中の破損が発生すると、その破損したガラス基板と同時に研磨又は研削していた他の複数の磁気ディスク用ガラス基板は、表面品質が確保できないため最終製品とすることはできず、生産効率は極めて低下する。   In addition to this, during grinding or polishing, the resin scraped from the outer end face is peeled off during processing, and a part of the resin is sandwiched between a pair of surface plates and processed on the main surface of the glass substrate or on the carrier. There is a risk of entering the surface. As a result, a gap is generated between the polishing pad or grinding sheet of the surface plate and the carrier, the glass substrate is detached from the carrier being ground or polished, and the glass substrate is likely to be damaged during grinding or polishing. . Once the glass substrate is damaged during grinding or polishing, the other glass substrates for magnetic disks that have been polished or ground simultaneously with the damaged glass substrate cannot be ensured in surface quality, so they should be finished products. Production efficiency is greatly reduced.

他方で、ガラス基板の外周側端面が、ガラス基板の製造工程において十分に保護されない場合は、以下のような不都合が生じる。ガラス基板の外周側端面は、内周側端面と比べ、ガラス基板の製造工程における傷の発生頻度が高く、また、表面研磨の際に用いられる研磨剤など、主表面の汚染源となる物質が付着しやすい。
さらに、ガラス基板の外周側端面は、製造時におけるガラス基板の収納容器の出し入れ時に、収納容器の内側とガラス基板の外周部が接触することで傷が発生しやすい。また、ガラス基板の外周側端面に存在する傷は、パーティクル(微粒子)の発生源となることが知られている。外周側端面から発塵したパーティクルがガラス基板の主表面に付着して磁気ディスクの表面に凸部が形成されると、サーマルアスペリティ(Thermal Asperity)障害を発生させてしまうことがある。サーマルアスペリティ障害は、磁気ディスクの表面に形成された凸部が磁気ディスクの高速回転によりヘッドの近傍の空気の断熱圧縮および断熱膨張を発生させ、これにより磁気ヘッドが発熱することによって起きる障害である。
さらには、仮にガラス基板の外周側端面に傷が存在しない場合でも、表面研磨工程においてガラス基板の外周側端面に研磨剤が付着すると、その後の工程において研磨剤が外周側端面から剥がれ、ガラス基板の主表面に付着することで磁気ディスクの不良品化、低品質化を招く。
On the other hand, when the outer peripheral side end surface of the glass substrate is not sufficiently protected in the manufacturing process of the glass substrate, the following inconvenience occurs. The outer peripheral side end surface of the glass substrate has a higher frequency of scratches in the glass substrate manufacturing process than the inner peripheral side end surface, and adheres to substances that cause contamination of the main surface, such as abrasives used during surface polishing. It's easy to do.
Furthermore, the outer peripheral side end surface of the glass substrate is likely to be damaged when the inside of the storage container and the outer peripheral portion of the glass substrate come into contact with each other when the storage container for the glass substrate is put in and out at the time of manufacture. Further, it is known that scratches present on the outer peripheral side end face of the glass substrate become a generation source of particles (fine particles). If particles generated from the outer peripheral side end surface adhere to the main surface of the glass substrate and a convex portion is formed on the surface of the magnetic disk, a thermal asperity failure may occur. The thermal asperity failure is a failure caused by a convex portion formed on the surface of the magnetic disk causing adiabatic compression and adiabatic expansion of air in the vicinity of the head due to high-speed rotation of the magnetic disk, thereby causing the magnetic head to generate heat. .
Furthermore, even if there is no scratch on the outer peripheral side end surface of the glass substrate, if the abrasive adheres to the outer peripheral side end surface of the glass substrate in the surface polishing step, the abrasive is peeled off from the outer peripheral side end surface in the subsequent step, and the glass substrate Adhering to the main surface of the magnetic disk leads to defective and low quality magnetic disks.

そこで、本発明は、磁気ディスク用ガラス基板を製造するとき、磁気ディスク用ガラス基板の外周側端面に存在する傷によってガラス基板の機械的強度が低下するのを回避しつつ、研削又は研磨の加工の安定性を高めることができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention provides a grinding or polishing process while avoiding a decrease in mechanical strength of the glass substrate due to scratches present on the outer peripheral side end surface of the magnetic disk glass substrate when manufacturing the magnetic disk glass substrate. An object of the present invention is to provide a method for producing a glass substrate for a magnetic disk capable of improving the stability of the magnetic disk.

本発明の一態様は、磁気ディスク用ガラス基板を製造する方法である。当該方法は、
一対の主表面、内周側端面、並びに外周側端面を有し、前記外周側端面は、前記一対の主表面に対して直交するように延在する側壁面、及び前記一対の主表面と前記側壁面との間にそれぞれ配置され前記一対の主表面に対してそれぞれ傾斜する一対の介在面を含む、磁気ディスク用ガラス基板を製造する方法であって、
前記外周側端面に対し、前記一対の介在面それぞれにおける前記主表面の側の一部分が前記保護層の非形成領域となるよう保護剤を塗布することにより保護層を設ける保護層形成工程と、
保持部材に設けられた保持孔内に、前記保護層が設けられた前記磁気ディスク用ガラス基板を保持しながら前記磁気ディスク用ガラス基板の前記一対の主表面の研削あるいは研磨をする主表面加工工程と、を含む。
One aspect of the present invention is a method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk. The method is
A pair of main surfaces, an inner peripheral side end surface, and an outer peripheral side end surface, the outer peripheral side end surface extending side by side perpendicular to the pair of main surfaces; and the pair of main surfaces and the A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, comprising a pair of interposed surfaces that are respectively disposed between side wall surfaces and are inclined with respect to the pair of main surfaces,
A protective layer forming step of providing a protective layer by applying a protective agent so that a part of the main surface side of each of the pair of interposed surfaces becomes a non-formation region of the protective layer with respect to the outer peripheral side end surfaces;
A main surface processing step of grinding or polishing the pair of main surfaces of the magnetic disk glass substrate while holding the magnetic disk glass substrate provided with the protective layer in a holding hole provided in a holding member. And including.

上記方法の好ましい一形態として、前記主表面加工工程における前記主表面の目標加工量は予め定められており、
前記磁気ディスク用ガラス基板の厚さ方向における前記保護層の両側の端部間の距離は、前記磁気ディスク用ガラス基板の厚さから前記目標加工量を差し引いた厚さに比べて小さい。
As a preferred embodiment of the above method, the target processing amount of the main surface in the main surface processing step is predetermined,
The distance between the opposite ends of the protective layer in the thickness direction of the magnetic disk glass substrate is smaller than the thickness obtained by subtracting the target processing amount from the thickness of the magnetic disk glass substrate.

上記方法の好ましい一形態として、前記保護層形成工程では、前記外周側端面に前記保護剤を塗布する前に、前記外周側端面に塗布される前記保護剤の厚みが均一になるように、塗布前の状態の前記保護剤の厚みを予め調整する。   As a preferred embodiment of the above method, in the protective layer forming step, before applying the protective agent to the outer peripheral side end surface, coating is performed so that the thickness of the protective agent applied to the outer peripheral side end surface is uniform. The thickness of the protective agent in the previous state is adjusted in advance.

上記方法の好ましい一形態として、前記磁気ディスク用ガラス基板の他に、少なくとも1つ以上の磁気ディスク用ガラス基板を積層して得られる積層体に対して、前記保護層形成工程を行うことにより、複数の磁気ディスク用ガラス基板のそれぞれの前記外周側端面に前記保護層が設けられる。   As a preferred embodiment of the above method, by performing the protective layer forming step on a laminate obtained by laminating at least one magnetic disk glass substrate in addition to the magnetic disk glass substrate, The said protective layer is provided in the said outer peripheral side end surface of each of the some glass substrate for magnetic discs.

上記方法の好ましい一形態として、前記保護層形成工程では、前記保護層となる保護剤の膜を転写基材の表面に形成し、前記転写基材から前記磁気ディスク用ガラス基板の外周側端面へ前記保護剤の膜を転写して前記外周側端面に前記保護剤を塗布する。   As a preferred embodiment of the above method, in the protective layer forming step, a film of a protective agent serving as the protective layer is formed on the surface of the transfer base, and from the transfer base to the outer peripheral side end face of the magnetic disk glass substrate. The film of the protective agent is transferred, and the protective agent is applied to the outer peripheral side end face.

上記方法の好ましい一形態として、前記保護層の厚みは10〜200μmである。   As a preferred embodiment of the above method, the protective layer has a thickness of 10 to 200 μm.

上記方法の好ましい一形態として、さらに、前記主表面加工工程後に、前記磁気ディスク用ガラス基板から前記保護層を除去する除去工程と、
前記除去工程の後に、前記磁気ディスク用ガラス基板を化学強化する化学強化工程と、を含む。
As a preferred embodiment of the above method, further, a removal step of removing the protective layer from the magnetic disk glass substrate after the main surface processing step;
And a chemical strengthening step of chemically strengthening the magnetic disk glass substrate after the removing step.

上記方法の好ましい一形態として、前記保護層は、熱、光、あるいは、電磁波を加えることにより前記外周側端面から除去可能な樹脂材からなる層である。   As a preferred embodiment of the above method, the protective layer is a layer made of a resin material that can be removed from the outer peripheral side end surface by applying heat, light, or electromagnetic waves.

上述の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によれば、磁気ディスク用ガラス基板を製造するとき、磁気ディスク用ガラス基板の外周側端面に存在する傷によってガラス基板の機械的強度が低下するのを回避しつつ、研削又は研磨の加工の安定性を高めることができる。   According to the above-described method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, when the glass substrate for a magnetic disk is manufactured, the mechanical strength of the glass substrate is prevented from being reduced by scratches present on the outer peripheral end surface of the glass substrate for the magnetic disk. However, the stability of grinding or polishing can be improved.

(a)は、磁気ディスク用ガラス基板を用いて作製される磁気ディスクの一例を示す概略構成図であり、(b)は、磁気ディスクの一例の断面図である。(A) is a schematic block diagram which shows an example of the magnetic disc produced using the glass substrate for magnetic discs, (b) is sectional drawing of an example of a magnetic disc. 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法の一実施形態のフローを示す図である。It is a figure which shows the flow of one Embodiment of the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs. 本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板に形成される保護層の配置を説明する図である。It is a figure explaining arrangement | positioning of the protective layer formed in the glass substrate for magnetic discs of this embodiment. (a)〜(c)は、本実施形態の保護膜の形成の一例を説明する図である。(A)-(c) is a figure explaining an example of formation of the protective film of this embodiment. 本実施形態の保護膜の形成の変形例1を説明する図である。It is a figure explaining the modification 1 of formation of the protective film of this embodiment. 本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板に施す主表面加工を説明する図である。It is a figure explaining the main surface processing given to the glass substrate for magnetic discs of this embodiment.

以下、本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法について詳細に説明する。   Hereinafter, the manufacturing method of the glass substrate for magnetic disks of this invention is demonstrated in detail.

(磁気ディスクおよび磁気ディスク用ガラス基板)
まず、図1を参照して、磁気ディスク用ガラス基板を用いて作製される磁気ディスクについて説明する。図1(a)は、磁気ディスク用ガラス基板を用いて作製される磁気ディスクの一例を示す概略構成図である。図1(b)は、磁気ディスクの概略断面図である。
(Magnetic disk and glass substrate for magnetic disk)
First, a magnetic disk manufactured using a magnetic disk glass substrate will be described with reference to FIG. FIG. 1A is a schematic configuration diagram showing an example of a magnetic disk manufactured using a magnetic disk glass substrate. FIG. 1B is a schematic cross-sectional view of a magnetic disk.

図1(a)に示されるように、磁気ディスク1は、円板の形状の中心部分が同心円形状にくり抜かれたリング状を成し、リングの中心を回転軸として回転する。図1(b)に示されるように、磁気ディスク1は、ガラス基板2と、少なくとも磁性層3A,3Bと、を備える。
なお、磁性層3A,3B以外には、例えば、図示されない付着層、軟磁性層、非磁性下地層、垂直磁気記録層、保護層および潤滑層等が成膜される。付着層には、例えばCr合金等が用いられる。付着層は、ガラス基板2との接着層として機能する。軟磁性層には、例えばCoTaZr合金等が用いられる。非磁性下地層には、例えばグラニュラー非磁性層等が用いられる。垂直磁気記録層には、例えばグラニュラー磁性層等が用いられる。保護層には、水素カーボンからなる材料が用いられる。潤滑層には、例えばフッ素系樹脂等が用いられる。
As shown in FIG. 1A, the magnetic disk 1 has a ring shape in which a central portion of a disk shape is hollowed out concentrically, and rotates around the center of the ring as a rotation axis. As shown in FIG. 1B, the magnetic disk 1 includes a glass substrate 2 and at least magnetic layers 3A and 3B.
In addition to the magnetic layers 3A and 3B, for example, an adhesion layer, a soft magnetic layer, a nonmagnetic underlayer, a perpendicular magnetic recording layer, a protective layer, a lubricating layer, and the like (not shown) are formed. For the adhesion layer, for example, a Cr alloy or the like is used. The adhesion layer functions as an adhesive layer with the glass substrate 2. For the soft magnetic layer, for example, a CoTaZr alloy or the like is used. As the nonmagnetic underlayer, for example, a granular nonmagnetic layer is used. For example, a granular magnetic layer is used for the perpendicular magnetic recording layer. A material made of hydrogen carbon is used for the protective layer. For the lubricating layer, for example, a fluorine-based resin or the like is used.

磁気ディスク1について、より具体的な例を用いて説明する。本実施形態では、インライン型スパッタリング装置を用いて、ガラス基板2の両主表面に、CrTiの付着層、CoTaZr/Ru/CoTaZrの軟磁性層、CoCrSiOの非磁性グラニュラー下地層、CoCrPt−SiO・TiOのグラニュラー磁性層、水素化カーボン保護膜を順次成膜される。さらに、成膜された最上層にディップ法によりパーフルオロポリエーテル潤滑層が成膜される。 The magnetic disk 1 will be described using a more specific example. In this embodiment, CrTi adhesion layer, CoTaZr / Ru / CoTaZr soft magnetic layer, CoCrSiO 2 non-magnetic granular underlayer, CoCrPt—SiO 2 are formed on both main surfaces of the glass substrate 2 using an in-line sputtering apparatus. A TiO 2 granular magnetic layer and a hydrogenated carbon protective film are sequentially formed. Further, a perfluoropolyether lubricating layer is formed on the formed uppermost layer by dipping.

本実施形態における磁気ディスク用ガラス基板の材料として、アルミノシリケートガラス、ソーダライムガラス、ボロシリケートガラスなどを用いることができる。特に、化学強化を施すことができ、また主表面の平面度及び基板の強度において優れた磁気ディスク用ガラス基板を作製することができるという点で、アルミノシリケートガラスを好適に用いることができる。   Aluminosilicate glass, soda lime glass, borosilicate glass, or the like can be used as the material for the magnetic disk glass substrate in the present embodiment. In particular, aluminosilicate glass can be suitably used in that it can be chemically strengthened and a glass substrate for a magnetic disk excellent in the flatness of the main surface and the strength of the substrate can be produced.

本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板の組成を限定するものではないが、アルミノシリケートガラスとして、酸化物基準に換算した際に、モル%表示で、SiOを50〜75%、Alを1〜15%、LiO、NaO及びKOから選択される少なくとも1種の成分を合計で12〜35%、MgO、CaO、SrO、BaO及びZnOから選択される少なくとも1種の成分を合計で0〜20%、及び、ZrO、TiO、La、Y、Ta、Nb及びHfOから選択される少なくとも1種の成分を合計で0〜10%、有する組成からなるアルミノシリケートガラスを用いることが好ましい。 Although it does not limit the composition of the glass substrate for magnetic disks of this embodiment, when converted into an oxide standard as an aluminosilicate glass, SiO 2 is 50 to 75% and Al 2 O 3 in terms of mol%. 1 to 15%, at least one component selected from Li 2 O, Na 2 O and K 2 O in total 12 to 35%, at least one selected from MgO, CaO, SrO, BaO and ZnO 0-20% the ingredients in total, and at least one component selected from ZrO 2, TiO 2, La 2 O 3, Y 2 O 3, Ta 2 O 5, Nb 2 O 5 and HfO 2 It is preferable to use an aluminosilicate glass having a composition of 0 to 10% in total.

(磁気ディスク用ガラス基板の製造方法)
次に、図2を参照して、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法のフローを説明する。図3、図4(a)〜(c)及び図5は、本実施形態の保護膜の形成の例を説明する図である。
図2に示すように、先ず、一対の主表面を有する板状の磁気ディスク用ガラス基板の素材となるガラスブランクを成形する(ステップS10)。次に、成形されたガラスブランクをスクライブして、中心部分に孔のあいたリング形状(円環状)のガラス基板を作製する(ステップS20)。次に、スクライブされたガラス基板に対して形状加工(チャンファリング加工)を行う(ステップS30)。これにより、ガラス基板が生成される。次に、ガラス基板の端面研磨を行う(ステップS40)。次に、端面研磨を行ったガラス基板の外周側端面に保護層を形成する(ステップS50)。次に、ガラス基板に対して固定砥粒による研削を施す(ステップS60)。次に、ガラス基板の主表面に第1研磨を施す(ステップS60)。次に、第1研磨の施されたガラス基板からステップS40で外周側端面に形成された保護層を除去する(ステップS80)。次に、保護層を除去したガラス基板に対して化学強化を施す(ステップS90)。次に、化学強化されたガラス基板に対して第2研磨を施す(ステップS100)。以上の工程を経て、磁気ディスク用ガラス基板が得られる。磁気ディスク用ガラス基板は、一対の主表面、内周側端面、並びに外周側端面を有する。外周側端面は、一対の主表面に対して直交するように延在する側壁面と、一対の主表面と側壁面との間にそれぞれ配置され、一対の主表面に対してそれぞれ傾斜する一対の介在面と、を含む。以下、各工程について、詳細に説明する。
(Method for producing glass substrate for magnetic disk)
Next, with reference to FIG. 2, the flow of the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs is demonstrated. 3, 4A to 4C, and FIG. 5 are diagrams for explaining an example of forming the protective film of the present embodiment.
As shown in FIG. 2, first, a glass blank as a material for a plate-shaped magnetic disk glass substrate having a pair of main surfaces is formed (step S10). Next, the molded glass blank is scribed to produce a ring-shaped (annular) glass substrate with a hole in the center (step S20). Next, shape processing (chambering processing) is performed on the scribed glass substrate (step S30). Thereby, a glass substrate is produced | generated. Next, the end surface of the glass substrate is polished (step S40). Next, a protective layer is formed on the outer peripheral side end face of the glass substrate subjected to end face polishing (step S50). Next, the glass substrate is ground with fixed abrasive grains (step S60). Next, 1st grinding | polishing is performed to the main surface of a glass substrate (step S60). Next, the protective layer formed on the outer peripheral side end surface in step S40 is removed from the glass substrate subjected to the first polishing (step S80). Next, chemical strengthening is performed on the glass substrate from which the protective layer has been removed (step S90). Next, the second polishing is applied to the chemically strengthened glass substrate (step S100). Through the above steps, a magnetic disk glass substrate is obtained. The glass substrate for magnetic disks has a pair of main surfaces, an inner peripheral side end surface, and an outer peripheral side end surface. The outer peripheral side end surfaces are disposed between the pair of main surfaces and the pair of main surfaces and the pair of main surfaces and the side wall surfaces, respectively, and are inclined with respect to the pair of main surfaces. And an intervening surface. Hereinafter, each step will be described in detail.

(a)ガラスブランク成形工程(ステップS10)
ガラスブランクの成形では、例えばフロート法が用いられる。ガラスブランクの成形工程では先ず、錫などの溶融金属の満たされた浴槽内に、溶融ガラスを連続的に流し入れることで例えば上述した組成の板状ガラスを得る。溶融ガラスは厳密な温度操作が施された浴槽内で進行方向に沿って流れ、最終的に所望の厚さ、幅に調整された板状ガラスが形成される。この板状ガラスから、磁気ディスク用ガラス基板の元となる所定形状の板状のガラスブランクが切り出される。浴槽内の溶融錫の表面は水平であるために、フロート法により得られる板状のガラスブランクは、その表面の平坦度が十分に高いものとなる。
また、板状のガラスブランクの成形は、フロート法の他に、例えばプレス成形法を用いることもできる。プレス成形による板状のガラスブランクの成形では、受けゴブ形成型である下型上に、溶融ガラスからなるガラスゴブ(ガラス塊)が供給され、下型と対向ゴブ形成型である上型を使用してガラスゴブがプレス成形される。これにより、磁気ディスク用ガラス基板の元となる円板状のガラスブランクが作製される。
なお、板状のガラスブランクは、上述した方法に限らず、ダウンドロー法、リドロー法、フュージョン法などの公知の製造方法を用いて製造することができる。フロート法やダウンドロー法、リドロー法、フュージョン法などの公知の製造方法で作られた板状ガラスから、後述するスクライブ工程を経て磁気ディスク用ガラス基板の元となる円板状のガラスブランクが切り出される。
(A) Glass blank forming step (step S10)
In forming a glass blank, for example, a float method is used. In the glass blank forming step, first, molten glass is poured continuously into a bath filled with a molten metal such as tin to obtain, for example, plate-like glass having the above-described composition. The molten glass flows along the traveling direction in a bathtub that has been subjected to a strict temperature operation, and finally a plate-like glass adjusted to a desired thickness and width is formed. From this plate-like glass, a plate-shaped glass blank having a predetermined shape that is the basis of the glass substrate for magnetic disk is cut out. Since the surface of the molten tin in the bath is horizontal, the flat glass surface obtained by the float process has a sufficiently high flatness.
In addition to the float method, for example, a press molding method can be used for forming the plate-shaped glass blank. In the molding of a plate-shaped glass blank by press molding, a glass gob (glass lump) made of molten glass is supplied onto a lower mold that is a receiving gob forming mold, and an upper mold that is a lower gob and an opposing gob forming mold is used. The glass gob is press-molded. Thereby, the disk-shaped glass blank used as the origin of the glass substrate for magnetic discs is produced.
In addition, a plate-shaped glass blank can be manufactured not only using the method mentioned above but well-known manufacturing methods, such as a downdraw method, a redraw method, and a fusion method. A disk-shaped glass blank that is the basis of a glass substrate for magnetic disks is cut out from a sheet glass made by a known manufacturing method such as a float method, a downdraw method, a redraw method, a fusion method, etc. It is.

(b)スクライブ工程(ステップS20)
次に、スクライブ工程について説明する。ガラスブランク成形工程の後、スクライブ工程では、成形されたガラスブランクに対してスクライブが行われる。
ここでスクライブとは、成形されたガラスブランクを所定のサイズのリング形状のガラス基板とするために、ガラスブランクの表面に超鋼合金製あるいはダイヤモンド粒子を含んだスクライバにより2つの同心円(内側同心円および外側同心円)状の切断線(線状のキズ)を設けることをいう。2つの同心円の形状にスクライブされたガラスブランクは、部分的に加熱され、ガラスブランクの熱膨張の差異により、外側同心円の外側部分および内側同心円の内側部分が除去される。これにより、円形状の孔があいたリング状のガラス基板が得られる。なお、ガラスブランクに対してコアドリル等を用いて円孔を形成することにより円形状の孔があいたディスク状のガラス基板を得ることもできる。
(B) Scribe process (step S20)
Next, the scribe process will be described. After the glass blank forming step, in the scribe step, scribing is performed on the formed glass blank.
Here, the scribe means two concentric circles (inner concentric circles and inner concentric circles) by a scriber made of super steel alloy or diamond particles on the surface of the glass blank in order to make the molded glass blank into a ring-shaped glass substrate of a predetermined size. It means that an outer concentric circle-like cutting line (linear flaw) is provided. The glass blank scribed in the shape of two concentric circles is partially heated, and due to the difference in thermal expansion of the glass blank, the outer portion of the outer concentric circle and the inner portion of the inner concentric circle are removed. Thereby, a ring-shaped glass substrate with circular holes is obtained. In addition, the disk-shaped glass substrate with the circular hole can also be obtained by forming a circular hole using a core drill etc. with respect to a glass blank.

(c)形状加工工程(ステップS30)
次に、形状加工工程について説明する。形状加工工程では、スクライブ工程後のガラス基板の端部に対するチャンファリング加工(外周側端面および内周側端面の面取り加工)を含む。チャンファリング加工は、スクライブ工程後のガラス基板の外周側端面および内周側端面において、ダイヤモンド砥石により面取りを施す形状加工である。この形状加工により所定の形状をしたガラス基板が生成される。面取りの傾斜角度は、主表面に対して例えば20〜80度であることが好ましい。
(C) Shape processing step (step S30)
Next, the shape processing step will be described. The shape processing step includes chamfering processing (chamfering of the outer peripheral side end surface and the inner peripheral side end surface) for the end portion of the glass substrate after the scribe step. A chamfering process is a shape process which chamfers with a diamond grindstone in the outer peripheral side end surface and inner peripheral side end surface of the glass substrate after a scribe process. A glass substrate having a predetermined shape is generated by this shape processing. The chamfering inclination angle is preferably, for example, 20 to 80 degrees with respect to the main surface.

(d)端面研磨工程(ステップS40)
次に、端面研磨工程を説明する。端面研磨では、ガラス基板の内周側端面及び外周側端面に対して、ブラシ研磨により鏡面仕上げを行う。このとき、酸化セリウム等の微粒子を遊離砥粒として含む砥粒スラリが用いられる。端面研磨を行うことにより、ガラス基板の端面での塵等が付着した汚染、傷等の損傷の除去を行うことにより、サーマルアスペリティ障害の発生の防止や、ナトリウムやカリウム等のコロージョンの原因となるイオン析出の発生を防止することができる。
(D) End face polishing step (step S40)
Next, the end face polishing step will be described. In the end surface polishing, mirror finishing is performed by brush polishing on the inner peripheral side end surface and the outer peripheral side end surface of the glass substrate. At this time, an abrasive slurry containing fine particles such as cerium oxide as free abrasive grains is used. By polishing the end surface, removing contamination such as contamination and scratches on the end surface of the glass substrate will prevent the occurrence of thermal asperity failure and cause corrosion such as sodium and potassium. The occurrence of ion precipitation can be prevented.

(e)保護層形成工程(ステップS50)
次に、保護層形成工程を説明する。保護層形成工程では、研磨したガラス基板の外周側端面に保護層が設けられる。保護層は、例えば、熱、光、あるいは、電磁波を加えることによりガラス基板の外周側端面から除去可能な樹脂材からなる層である。例えば、保護層は、熱硬化性樹脂接着剤に、熱溶融性あるいは熱分解性を有する材料を混ぜたもの、例えば、周知のエポキシ樹脂接着剤に熱可塑性接着剤を含ませた解体性接着剤からなる層が挙げられる。また、保護層としては、紫外線で硬化可能でかつ、加温により除去可能なアクリル系樹脂を用いてもよい。この場合、後述する保護層の除去のために、保護層を加熱することにより接着力を弱め、保護層を除去することができる。また、熱可塑性樹脂接着剤や熱硬化性樹脂接着剤等の中に熱膨張性マイクロカプセルを混入させることにより、加熱時のマイクロカプセルの膨張により、外周側端面との間で保護層が剥離し易くすることもできる。また、保護層として、熱可塑性樹脂接着剤を用いることもできる。
その他、保護層を剥離できる例としては、光、あるいは、電磁波を加えることによりガラス基板の外周側端面から保護層を除去可能なものであってもよい。光を加えることで、保護層を除去する例としてエキシマ光による方法(例えば特開2012-1601号公報)が挙げられる。電磁波(高周波電磁波)を加えることにより、保護層を除去する例として誘導加熱による方法(特開2007-314711号公報)が挙げられる。
(E) Protective layer forming step (Step S50)
Next, the protective layer forming step will be described. In the protective layer forming step, a protective layer is provided on the outer peripheral side end face of the polished glass substrate. A protective layer is a layer which consists of a resin material which can be removed from the outer peripheral side end surface of a glass substrate, for example by applying a heat | fever, light, or electromagnetic waves. For example, the protective layer may be a thermosetting resin adhesive mixed with a material having a heat melting property or a heat decomposability, for example, a disassembling adhesive in which a thermoplastic adhesive is added to a known epoxy resin adhesive The layer which consists of is mentioned. As the protective layer, an acrylic resin that can be cured by ultraviolet rays and can be removed by heating may be used. In this case, in order to remove the protective layer described later, the protective layer can be removed by heating the protective layer to weaken the adhesive force. In addition, by mixing thermally expandable microcapsules in thermoplastic resin adhesives or thermosetting resin adhesives, the protective layer peels off from the outer peripheral end surface due to expansion of the microcapsules during heating. It can also be made easier. A thermoplastic resin adhesive can also be used as the protective layer.
In addition, as an example in which the protective layer can be peeled off, the protective layer may be removable from the outer peripheral end surface of the glass substrate by applying light or electromagnetic waves. As an example of removing the protective layer by adding light, a method using excimer light (for example, JP 2012-1601 A) can be mentioned. As an example of removing the protective layer by applying electromagnetic waves (high frequency electromagnetic waves), a method by induction heating (Japanese Patent Laid-Open No. 2007-314711) can be given.

ガラス基板の外周側端面は、形状加工工程(ステップS30)において、面取りが施されている。図3は、本実施形態のガラス基板に形成される保護層の配置を説明する図である。
図3に示すように、ガラス基板50の外周側端面52には、保護剤22を塗布することにより形成された保護層54が設けられている。ガラス基板50は、端面研磨工程(ステップS40)において外周側端面52に面取りが施されており、外周側端面52は、介在面58,60と、側壁面62と、を有する。介在面58,60は、主表面56に対して0度より大きく90度未満の傾斜角度で傾斜して、例えば20〜80度の傾斜角度で傾斜して、主表面と接続した一対の面取り面である。側壁面62は、一対の介在面58,60の間に設けられ、主表面56に対して直交するように延在する面である。
このような外周側端面52において、保護層54は側壁面62全体を覆うとともに、介在面58,60のうち側壁面62の側の一部分を覆っている。そして、介在面58,60それぞれにおける主表面56の側の一部分は、保護層54の非形成領域となっている。すなわち、上記非形成領域では、介在面58,60の表面が露出している。
The outer peripheral side end surface of the glass substrate is chamfered in the shape processing step (step S30). FIG. 3 is a diagram for explaining the arrangement of protective layers formed on the glass substrate of the present embodiment.
As shown in FIG. 3, a protective layer 54 formed by applying the protective agent 22 is provided on the outer peripheral side end face 52 of the glass substrate 50. The glass substrate 50 is chamfered on the outer peripheral side end surface 52 in the end surface polishing step (step S <b> 40), and the outer peripheral side end surface 52 has interposition surfaces 58 and 60 and side wall surfaces 62. The intervening surfaces 58 and 60 are inclined with respect to the main surface 56 at an inclination angle greater than 0 degree and less than 90 degrees, for example, at an inclination angle of 20 to 80 degrees, and a pair of chamfered surfaces connected to the main surface. It is. The side wall surface 62 is a surface provided between the pair of interposition surfaces 58 and 60 and extending so as to be orthogonal to the main surface 56.
In such an outer peripheral side end face 52, the protective layer 54 covers the entire side wall face 62 and covers a part of the interposition faces 58 and 60 on the side wall face 62 side. A part of each of the interposition surfaces 58 and 60 on the main surface 56 side is a region where the protective layer 54 is not formed. That is, in the non-formation region, the surfaces of the interposition surfaces 58 and 60 are exposed.

このように、保護層54は、介在面58,60それぞれにおける主表面56の側の一部分は、保護層54が成形されない非形成領域となっているのは、後述する固定砥粒による研削工程(ステップS60)及び第1研磨工程(ステップS70)において、保護層54が研削及び研磨時に削られないようにするためである。保護層54が研削あるいは研磨されると、削り取られた樹脂が、ガラス基板の主表面に付着し、この状態で研削あるいは研磨されることによって傷が発生したり、ガラス基板の主表面に残留してガラス基板を汚染したりする不具合が生じる。ガラス基板の主表面に樹脂が付着した状態で、後の研削工程や第1研磨工程において後述する両面研削装置の保持部材に保持されると、ガラス基板が保持部材の保持孔から浮き上がってクラッシュを起こすおそれがある。
このため、ガラス基板50の厚さ方向における保護層54の両側の端部間の距離W1は、ガラス基板50の厚さW0から目標加工量Dを差し引いた厚さに比べて小さくなるように、保護層54は形成されている。なお、目標加工量Dは、固定砥粒による研削工程及び第1研磨工程を含む主表面加工工程における主表面56の目標加工量であり、予め定められている。目標加工量Dは、ガラスブランクの成形により作製されるときのガラス基板の板厚、主表面の凹凸、あるいは1枚のガラス基板内における板厚の偏差等のばらつきを考慮して、どの程度研削、研磨すれば、効率よく目標とする主表面の凹凸、板厚、板厚の偏差等を達成するか、過去の知見により定めることができる。したがって、主表面加工工程において、保護層54が研削、研磨されることはない。
As described above, the protective layer 54 has a non-formation region in which the protective layer 54 is not formed in a part of the interposed surfaces 58 and 60 on the main surface 56 side. This is to prevent the protective layer 54 from being scraped during grinding and polishing in step S60) and the first polishing step (step S70). When the protective layer 54 is ground or polished, the scraped resin adheres to the main surface of the glass substrate. In this state, the ground or polished surface may cause scratches or remain on the main surface of the glass substrate. This causes problems such as contamination of the glass substrate. When the resin adheres to the main surface of the glass substrate and is held by a holding member of a double-sided grinding device, which will be described later, in the subsequent grinding step or first polishing step, the glass substrate rises from the holding hole of the holding member and crashes. There is a risk of it happening.
Therefore, the distance W 1 between the end portions on both sides of the protective layer 54 in the thickness direction of the glass substrate 50 is made smaller than the thickness obtained by subtracting the target processing amount D from the thickness W 0 of the glass substrate 50. In addition, a protective layer 54 is formed. The target processing amount D is a target processing amount of the main surface 56 in the main surface processing step including the grinding step using the fixed abrasive and the first polishing step, and is determined in advance. The target processing amount D is determined by grinding the glass substrate in consideration of variations such as the thickness of the glass substrate when it is produced by molding a glass blank, unevenness of the main surface, or deviation in the thickness of one glass substrate. By polishing, it is possible to efficiently determine the target main surface irregularities, plate thickness, plate thickness deviation or the like based on past knowledge. Therefore, the protective layer 54 is not ground or polished in the main surface processing step.

保護層の厚さは、1〜200μmであることが好ましく、例えば50〜80μmである。なお、ここでいう保護層の厚さとは、ガラス基板の外周側端面の周上の周上90度おきに計測した4箇所の保護層の厚さの平均値である。保護層の厚さが1μm以上であることにより、外周側端面を十分に保護することができ、外周側端面に存在する傷に起因するガラス基板の機械的強度の低下やパーティクルの発塵をより確実に抑えることができる。また、保護層の厚さが200μm以下であることにより、ステップS60で両面研削装置を用いてガラス基板の主表面を研削する際に、両面研削装置の保持部材に設けられた保持孔の内側と、保持孔内に保持されたガラス基板との隙間を十分に確保することができる。   The thickness of the protective layer is preferably 1 to 200 μm, for example 50 to 80 μm. In addition, the thickness of a protective layer here is an average value of the thickness of four protective layers measured every 90 degree | times on the circumference on the periphery of the outer peripheral side end surface of a glass substrate. When the thickness of the protective layer is 1 μm or more, the outer peripheral side end face can be sufficiently protected, and the glass substrate has a lower mechanical strength and particle generation due to scratches present on the outer peripheral side end face. It can be surely suppressed. Moreover, when the thickness of the protective layer is 200 μm or less, when grinding the main surface of the glass substrate using the double-side grinding device in step S60, the inside of the holding hole provided in the holding member of the double-side grinding device; A sufficient gap with the glass substrate held in the holding hole can be secured.

また、ガラス基板の他に、少なくとも1つ以上の他のガラス基板を積層して得られる積層体に対して、保護層形成工程を行うことにより、積層体の複数のガラス基板のそれぞれの外周側端面に保護層を設けることもできる。この方式は、磁気ディスク用ガラス基板を効率よく製造する点で好ましい。この場合の保護層の形成は、例えば、図4(a)に示すように、複数のガラス基板を積層し積層体10を図示されない積層体保持具で保持しながら複数のスプレー装置12から保護層となる液状保護剤をスプレー塗布することにより行われる。   In addition to the glass substrate, the outer peripheral side of each of the plurality of glass substrates of the laminate by performing a protective layer forming process on the laminate obtained by laminating at least one other glass substrate A protective layer can also be provided on the end face. This method is preferable from the viewpoint of efficiently producing a glass substrate for a magnetic disk. In this case, for example, as shown in FIG. 4A, the protective layer is formed by laminating a plurality of glass substrates and holding the laminated body 10 with a laminated body holder (not shown) from the plurality of spray devices 12. It is carried out by spray application of a liquid protective agent.

あるいは、図4(b)に示すような形態、すなわち、外周側端面に保護剤を塗布する前に、外周側端面に塗布される保護剤の厚みが均一になるように、塗布前の状態の保護剤の厚みを予め調整することにより、積層体10の各ガラス基板に保護層を設けることもできる。具体的には、ドクターブレード法により、ローラ14,16が回転することで搬送される搬送ベルト18上で、ドクターブレード20を用いて液状保護剤22の均一で一定の厚さの膜24をつくる。この搬送ベルト18に対して積層体10を一定の距離を離間させた状態で回転させつつ、膜24に接触させることにより、積層体10の各ガラス基板の外周側端面の周上に一定の厚さの保護層を連続して設けることができる。このようにドクターブレード法によって、塗布される保護剤の厚みを予め調整することで、ガラス基板の外周側端面に塗布されない部分が現れたり、過剰に塗布されて非形成領域が確保されなかったりするのを回避することができる。なお、ガラス基板の外周側端面の所定の範囲に保護層を設けるために、搬送ベルト18上に形成された膜24に対する積層体10の離間距離は正確に調整される。保護層をガラス基板の外周側端面の所定の範囲に設けるのは、後述する研削及び第1研磨等において保護層を削ることが無いようにするためである。   Alternatively, in the form as shown in FIG. 4B, that is, before applying the protective agent to the outer peripheral end surface, the thickness of the protective agent applied to the outer peripheral end surface is uniform. A protective layer can be provided on each glass substrate of the laminate 10 by adjusting the thickness of the protective agent in advance. Specifically, a film 24 having a uniform and constant thickness of the liquid protective agent 22 is formed using the doctor blade 20 on the transport belt 18 transported by the rotation of the rollers 14 and 16 by the doctor blade method. . The laminated body 10 is rotated with a certain distance from the conveyor belt 18 and is brought into contact with the film 24, whereby the laminated body 10 has a constant thickness on the periphery of the outer peripheral side end surface of each glass substrate. The protective layer can be provided continuously. In this way, by adjusting the thickness of the protective agent to be applied in advance by the doctor blade method, a portion that is not applied appears on the outer peripheral side end surface of the glass substrate, or it is excessively applied and a non-forming region is not secured. Can be avoided. In addition, in order to provide a protective layer in the predetermined range of the outer peripheral side end surface of a glass substrate, the separation distance of the laminated body 10 with respect to the film | membrane 24 formed on the conveyance belt 18 is adjusted correctly. The reason why the protective layer is provided in a predetermined range on the outer peripheral side end surface of the glass substrate is to prevent the protective layer from being shaved during grinding, first polishing, and the like described later.

さらに、図4(c)に示すような形態、すなわち、上述したドクターブレード法を用いて、予め外周側端面に塗布される保護剤の厚みを均一になるよう調整した後、保護層となる保護剤の膜を転写基材の表面に形成し、この転写基材からガラス基板の外周側端面へ保護剤の膜を転写することにより、積層体10の各ガラス基板に保護層を設けることもできる。具体的には、ローラ14,16が回転することで搬送される搬送ベルト18上に、ドクターブレード20を用いて、液状保護剤22の均一で一定の厚さの膜24をつくる。この膜24から、ロールコータ(転写基材)26を用いてロールコータ26上に転写された膜25を作り、ロールコータ26に対して積層体10を一定の距離を離間させた状態で回転させつつ膜25に接触させることにより、ガラス基板の外周側端面の周上に、一定の厚さの保護層を連続して設けることができる。このようにドクターブレード法により予め保護剤の厚みを調整し、かつ、ロールコータ26に転写された膜25を用いて保護層を設けることで、ガラス基板の外周側端面に、より均一な厚さの保護層を設けることができる。   Furthermore, after the thickness of the protective agent applied to the outer peripheral side end surface is adjusted to be uniform using the doctor blade method as described above, that is, the doctor blade method described above, the protective layer becomes a protective layer. It is also possible to provide a protective layer on each glass substrate of the laminate 10 by forming a film of the agent on the surface of the transfer substrate and transferring the film of the protective agent from the transfer substrate to the outer peripheral side end surface of the glass substrate. . Specifically, a film 24 having a uniform and constant thickness of the liquid protective agent 22 is formed on the transport belt 18 transported by the rotation of the rollers 14 and 16 by using a doctor blade 20. From this film 24, a film 25 transferred onto the roll coater 26 is formed using a roll coater (transfer base material) 26, and the laminate 10 is rotated with a certain distance from the roll coater 26. While contacting the film 25, a protective layer having a certain thickness can be continuously provided on the periphery of the outer peripheral side end surface of the glass substrate. Thus, by adjusting the thickness of the protective agent in advance by the doctor blade method and providing the protective layer using the film 25 transferred to the roll coater 26, a more uniform thickness is provided on the outer peripheral side end surface of the glass substrate. A protective layer can be provided.

また、図5に示すような形態で積層体10の各ガラス基板に保護層を設けることもできる。具体的には、ローラ28上に、ドクターブレード20を用いて保護剤22の均一で一定の厚さの膜24をつくり、このローラ28に対して、一定の距離離間した状態で膜24に積層体10を回転させつつ接触させることにより、ガラス基板の外周側端面の周上に、一定の厚さの保護層を設けることができる。図5に示す例では、例えば保護剤22が紫外線硬化樹脂等を含む場合、保護層が設けられた直後に光源30を用いて保護層に紫外線32を照射することにより、保護剤22を容易に硬化させることができ、均一な厚さの保護層を効率よく形成することができる。ここでも、ドクターブレード法により予め保護剤の厚みを調整し、ローラ28を併用することで、外周側端面に対する塗布ムラを抑えることができる。
このようにして、保護層54は、ガラス基板50の外周側端面52に設けられる。
Moreover, a protective layer can also be provided on each glass substrate of the laminate 10 in the form shown in FIG. Specifically, a film 24 having a uniform and constant thickness of the protective agent 22 is formed on the roller 28 using the doctor blade 20, and is laminated on the film 24 with a certain distance from the roller 28. By contacting the body 10 while rotating, a protective layer having a certain thickness can be provided on the periphery of the outer peripheral side end surface of the glass substrate. In the example shown in FIG. 5, for example, when the protective agent 22 includes an ultraviolet curable resin or the like, the protective agent 22 can be easily removed by irradiating the protective layer with the ultraviolet rays 32 using the light source 30 immediately after the protective layer is provided. It can be cured and a protective layer having a uniform thickness can be efficiently formed. Also here, by adjusting the thickness of the protective agent in advance by the doctor blade method and using the roller 28 in combination, uneven application to the outer peripheral side end surface can be suppressed.
Thus, the protective layer 54 is provided on the outer peripheral side end face 52 of the glass substrate 50.

(f)固定砥粒による研削工程(ステップS60)
固定砥粒による研削工程では、遊星歯車機構を備えた両面研削装置を用いて、ガラス基板の主表面に対して研削加工を行う。具体的には、ガラス基板50の外周側端面52に保護層54が設けられた状態で、ガラス基板50の外周側端面52を、両面研削装置の保持部材に設けられた保持孔内に保持しながらガラス基板50の両側の主表面の研削を行う。固定砥粒による研削は、主表面加工工程の1つである。研削による取り代は、例えば数μm〜100μm程度である。固定砥粒の粒子サイズは、例えば10μm程度である。両面研削装置は、上下一対の定盤(上定盤および下定盤)を有しており、上定盤および下定盤の間にガラス基板が狭持される。そして、上定盤または下定盤のいずれか一方、または、双方を移動操作させることで、ガラス基板と各定盤とを相対的に移動させることにより、このガラス基板の両主表面を研削することができる。図6は、両面研削装置の一例を示す図である。
(F) Grinding process with fixed abrasive (step S60)
In the grinding process using the fixed abrasive grains, the main surface of the glass substrate is ground using a double-side grinding apparatus having a planetary gear mechanism. Specifically, with the protective layer 54 provided on the outer peripheral side end surface 52 of the glass substrate 50, the outer peripheral side end surface 52 of the glass substrate 50 is held in the holding hole provided in the holding member of the double-side grinding apparatus. However, the main surfaces on both sides of the glass substrate 50 are ground. Grinding with fixed abrasive grains is one of the main surface processing steps. The machining allowance by grinding is, for example, about several μm to 100 μm. The particle size of the fixed abrasive is, for example, about 10 μm. The double-sided grinding apparatus has a pair of upper and lower surface plates (upper surface plate and lower surface plate), and a glass substrate is sandwiched between the upper surface plate and the lower surface plate. And, by moving either the upper surface plate or the lower surface plate, or both, the glass substrate and each surface plate are moved relatively to grind both main surfaces of the glass substrate. Can do. FIG. 6 is a diagram showing an example of a double-side grinding apparatus.

図6に示す両面研削装置100は、下定盤102、上定盤104、インターナルギヤ106、キャリヤ(保持部材)108、及び太陽ギヤ112、を有する。両面研削装置100は、下定盤102と上定盤104との間に、インターナルギヤ106を上下方向から挟む。インターナルギヤ106内には、研削時に複数のキャリヤ108が保持される。図6では、4つのキャリヤ108が保持されている。下定盤102の上面および上定磐104の底面に平面的に接着した図示されないダイヤモンドシートの面が研削面となる。すなわち、ガラス基板50は、ダイヤモンドシートを用いた固定砥粒による研削が行われる。   A double-side grinding apparatus 100 shown in FIG. 6 includes a lower surface plate 102, an upper surface plate 104, an internal gear 106, a carrier (holding member) 108, and a sun gear 112. The double-side grinding apparatus 100 sandwiches the internal gear 106 between the lower surface plate 102 and the upper surface plate 104 from the up and down direction. A plurality of carriers 108 are held in the internal gear 106 during grinding. In FIG. 6, four carriers 108 are held. A surface of a diamond sheet (not shown) that is planarly bonded to the upper surface of the lower surface plate 102 and the bottom surface of the upper surface plate 104 is a ground surface. That is, the glass substrate 50 is ground with fixed abrasive grains using a diamond sheet.

研削すべき複数のガラス基板50は、図6に示すように、各キャリヤ108に設けられた円形状の保持孔に配置されて保持される。ガラス基板50の外径(直径)は、各キャリヤ108の保持孔の内径(直径)に比べて500μm程度小さい。このため、ガラス基板の外周側端面52に保護層54が設けられたとしても、保持孔に保持されたガラス基板50と保持孔との間には、数100μm程度の隙間が依然として残る。このような隙間は、ガラス基板50を研削する上で必要な隙間である。この隙間がない場合、ガラス基板が保持孔内における回転自由度がないため、所望の研削ができない。
しかし、この隙間があるため、研削中、ガラス基板50の外側外周端面52は、保持孔の内周部の側壁と接触する。この接触により、外周側端面52に保護層54が設けられない場合、外周側端面に亀裂の進展の開始位置となる傷を作りやすい。また、研削用砥粒が外周側端面に付着して、微粒子(パーティクル)の原因となりやすい。このため、上述したように保護層54が外周側端面52に設けられている。しかも、側壁面62と介在面58,60の一部に保護層54が設けられているだけなので、保護層54が研磨されることはない。
A plurality of glass substrates 50 to be ground are arranged and held in circular holding holes provided in each carrier 108 as shown in FIG. The outer diameter (diameter) of the glass substrate 50 is about 500 μm smaller than the inner diameter (diameter) of the holding hole of each carrier 108. For this reason, even if the protective layer 54 is provided on the outer peripheral side end face 52 of the glass substrate, a gap of about several hundred μm still remains between the glass substrate 50 held in the holding hole and the holding hole. Such a gap is a gap necessary for grinding the glass substrate 50. Without this gap, the glass substrate does not have a degree of freedom of rotation in the holding hole, so that desired grinding cannot be performed.
However, because of this gap, the outer peripheral end surface 52 of the glass substrate 50 contacts the side wall of the inner peripheral portion of the holding hole during grinding. By this contact, when the protective layer 54 is not provided on the outer peripheral side end face 52, it is easy to make a scratch that becomes the starting position of the progress of cracks on the outer peripheral side end face. Further, the abrasive grains for grinding adhere to the outer peripheral side end surface, and are liable to cause fine particles (particles). For this reason, the protective layer 54 is provided on the outer peripheral side end face 52 as described above. In addition, since the protective layer 54 is only provided on the side wall surface 62 and part of the interposition surfaces 58 and 60, the protective layer 54 is not polished.

また、保護層54は、研削中にダイヤモンドシートと非接触であり研削されないので、研削中に保護層54の一部が千切れることはない。したがって、ダイヤモンドシートとガラス基板の主表面との間に保護層54の破片が入り込んで、研削中のキャリヤ108からのガラス基板50の離脱が生じることはなく、安定して研削加工を行うことができる。つまり、研削中のガラス基板50のキャリヤ108からの離脱に伴うガラス基板の破損を回避することができる。   Further, since the protective layer 54 is not in contact with the diamond sheet during grinding and is not ground, a part of the protective layer 54 is not broken during grinding. Therefore, the debris of the protective layer 54 does not enter between the diamond sheet and the main surface of the glass substrate, and the glass substrate 50 is not detached from the carrier 108 being ground, and the grinding process can be performed stably. it can. That is, it is possible to avoid breakage of the glass substrate due to separation of the glass substrate 50 from the carrier 108 during grinding.

こうして研削されたガラス基板50は、より表面凹凸が小さくなるように、研磨される。なお、図6に示す例では、キャリヤ108のそれぞれは、1つのガラス基板50のみを保持するが、キャリヤ108のそれぞれは、複数のガラス基板50を保持できるように、複数の保持孔が設けられてもよい。   The glass substrate 50 thus ground is polished so that the surface unevenness becomes smaller. In the example shown in FIG. 6, each carrier 108 holds only one glass substrate 50, but each carrier 108 is provided with a plurality of holding holes so that a plurality of glass substrates 50 can be held. May be.

(g)第1研磨工程(ステップS70)
次に、研削されたガラス基板50の主表面に第1研磨が施される。第1研磨は、主表面加工工程の1つである。具体的には、ガラス基板50の外周側端面52に保護層54が設けられた状態で、ガラス基板50の外周側端面52を、両面研磨装置の保持部材に設けられた保持孔内に保持しながらガラス基板50の両側の主表面の研磨が行われる。第1研磨による取り代は、例えば数μm〜50μm程度である。第1研磨は、例えば固定砥粒による研削を行った場合に主表面に残留したキズや歪みの除去、あるいは微小な表面凹凸(マイクロウェービネス、粗さ)の調整を目的とする。第1研磨による取り代は、例えば数μm〜50μm程度である。
(G) First polishing step (step S70)
Next, first polishing is performed on the main surface of the ground glass substrate 50. The first polishing is one of the main surface processing steps. Specifically, with the protective layer 54 provided on the outer peripheral side end surface 52 of the glass substrate 50, the outer peripheral side end surface 52 of the glass substrate 50 is held in a holding hole provided in the holding member of the double-side polishing apparatus. However, the main surfaces on both sides of the glass substrate 50 are polished. The machining allowance by the first polishing is, for example, about several μm to 50 μm. The purpose of the first polishing is, for example, to remove scratches or distortions remaining on the main surface when grinding with fixed abrasive grains, or to adjust minute surface irregularities (microwaveness, roughness). The machining allowance by the first polishing is, for example, about several μm to 50 μm.

第1研磨工程では、固定砥粒による研削(ステップS60)に用いる両面研削装置100と同様の構成を備えた両面研磨装置を用いて、研磨スラリを与えながらガラス基板50が研磨される。第1研磨工程では、固定砥粒による研削と異なり、固定砥粒の代わりに遊離砥粒を含んだ研磨スラリが用いられる。第1研磨に用いる遊離砥粒として、例えば、酸化セリウム砥粒、あるいはジルコニア砥粒など(粒子サイズ:直径1〜2μm程度)が用いられる。両面研磨装置も、両面研削装置100と同様に、上下一対の定盤の間にガラス基板50が狭持される。下定盤の上面及び上定盤の底面には、全体として円環形状の平板の研磨パッド(例えば、樹脂ポリッシャ)が取り付けられている。そして、上定盤または下定盤のいずれか一方、または、双方を移動操作させることで、ガラス基板50と各定盤とを相対的に移動させることにより、ガラス基板50の両主表面を研磨する。両面研磨装置においても、保持孔に保持されたガラス基板50と保持孔との間には、数100μm程度の隙間がある。この隙間があるため、第1研磨中、ガラス基板50の外周側端面52は、保持孔の内周部の側壁と接触する。しかし、ガラス基板50の外周側端面52に保護層54が設けられているので、亀裂の進展の開始位置となる傷は生じ難い。また、遊離砥粒が外周側端面52に付着して、パーティクルの原因となることも抑制される。特に、遊離砥粒として剛性が高く鋭利な形状をしたジルコニア砥粒が用いられる場合、保護層54がないと、ジルコニア砥粒は外周側端面52に刺さり易い。この点において、ジルコニア砥粒を用いる場合において、外周側端面52に保護層54を設ける効果は大きい。   In the first polishing step, the glass substrate 50 is polished while applying a polishing slurry using a double-side polishing apparatus having the same configuration as the double-side grinding apparatus 100 used for grinding with fixed abrasive grains (step S60). In the first polishing step, a polishing slurry containing loose abrasive grains is used instead of fixed abrasive grains, unlike the grinding with fixed abrasive grains. As the free abrasive grains used in the first polishing, for example, cerium oxide abrasive grains or zirconia abrasive grains (particle size: diameter of about 1 to 2 μm) is used. Similarly to the double-side grinding apparatus 100, the double-side polishing apparatus also holds the glass substrate 50 between a pair of upper and lower surface plates. An annular flat polishing pad (for example, a resin polisher) is attached to the upper surface of the lower surface plate and the bottom surface of the upper surface plate as a whole. Then, the main surfaces of the glass substrate 50 are polished by relatively moving the glass substrate 50 and the respective surface plates by moving either or both of the upper surface plate and the lower surface plate. . Also in the double-side polishing apparatus, there is a gap of about several hundred μm between the glass substrate 50 held in the holding hole and the holding hole. Due to this gap, the outer peripheral side end surface 52 of the glass substrate 50 contacts the side wall of the inner peripheral portion of the holding hole during the first polishing. However, since the protective layer 54 is provided on the outer peripheral side end face 52 of the glass substrate 50, the scratch that becomes the starting position of the progress of the crack hardly occurs. Further, the loose abrasive grains are prevented from adhering to the outer peripheral side end face 52 and causing particles. In particular, when zirconia abrasive grains having a high rigidity and sharp shape are used as the loose abrasive grains, the zirconia abrasive grains are likely to pierce the outer peripheral side end face 52 without the protective layer 54. In this respect, when using zirconia abrasive grains, the effect of providing the protective layer 54 on the outer peripheral side end face 52 is great.

(h)保護層除去工程(ステップS80)
次に、第1研磨後に、ガラス基板50から保護層54が除去される。保護層54の除去方法は、用いる保護層54の種類によって異なる。例えば、保護層54が、熱硬化性樹脂接着剤に、熱溶融性あるいは熱分解性を有する材料を混ぜたものである場合、保護層54を加熱することにより、保護層54と外周側端面52との間の接着力を弱めることにより、保護層54を除去することができる。加熱方法は、例えば、一定の温度の水に浸すことにより行われる。あるいは、熱風を吹き付けることにより接着力を弱めて、保護層54を外周側端面52から除去することもできる。また、保護層54が、熱可塑性樹脂接着剤や熱硬化性樹脂接着剤等の中に熱膨張性マイクロカプセルを混入したものである場合、保護層54を加熱することにより、保護層54内のマイクロカプセルを膨張させて、外周側端面52から保護層54を容易に除去することもできる。また、保護層54の用いる材質に応じて、光、あるいは、電磁波を加えて外周側端面52から保護層54を除去することもできる。
(H) Protective layer removal step (step S80)
Next, the protective layer 54 is removed from the glass substrate 50 after the first polishing. The method for removing the protective layer 54 varies depending on the type of the protective layer 54 used. For example, when the protective layer 54 is a material in which a thermosetting resin adhesive is mixed with a thermosetting resin adhesive, the protective layer 54 and the outer peripheral side end face 52 are heated by heating the protective layer 54. The protective layer 54 can be removed by weakening the adhesive force between the two. The heating method is performed, for example, by immersing in water at a constant temperature. Alternatively, the protective layer 54 can be removed from the outer peripheral end surface 52 by weakening the adhesive force by blowing hot air. Further, when the protective layer 54 is a material in which a thermally expandable microcapsule is mixed in a thermoplastic resin adhesive, a thermosetting resin adhesive, or the like, by heating the protective layer 54, The protective layer 54 can be easily removed from the outer peripheral side end face 52 by expanding the microcapsule. Further, depending on the material used for the protective layer 54, the protective layer 54 can be removed from the outer peripheral end face 52 by applying light or electromagnetic waves.

(i)化学強化工程(ステップS90)
次に、保護層54が除去されたガラス基板50は化学強化される。化学強化液として、例えば硝酸カリウム(60重量%)と硫酸ナトリウム(40重量%)の混合液等を用いることができる。化学強化工程では、化学強化液を例えば300℃〜400℃に加熱し、洗浄したガラス基板50を例えば200℃〜300℃に予熱した後、ガラス基板50を化学強化液中に、例えば3時間〜4時間浸漬する。
ガラス基板50を化学強化液に浸漬することによって、ガラス基板50の表層にあるガラス組成中のリチウムイオン及びナトリウムイオンが、化学強化液中のイオン半径が相対的に大きいナトリウムイオン及びカリウムイオンにそれぞれ置換されることで表層部分に圧縮応力層が形成され、ガラス基板50が強化される。
なお、化学強化処理されたガラス基板50は洗浄される。例えば、硫酸で洗浄された後に、純水等で洗浄される。
(I) Chemical strengthening process (step S90)
Next, the glass substrate 50 from which the protective layer 54 has been removed is chemically strengthened. As the chemical strengthening solution, for example, a mixed solution of potassium nitrate (60% by weight) and sodium sulfate (40% by weight) can be used. In the chemical strengthening step, the chemical strengthening solution is heated to, for example, 300 ° C. to 400 ° C., and after the cleaned glass substrate 50 is preheated to, for example, 200 ° C. to 300 ° C., the glass substrate 50 is placed in the chemical strengthening solution, for example, 3 hours to Immerse for 4 hours.
By immersing the glass substrate 50 in the chemical strengthening solution, lithium ions and sodium ions in the glass composition on the surface layer of the glass substrate 50 are converted into sodium ions and potassium ions having a relatively large ion radius in the chemical strengthening solution, respectively. By the replacement, a compressive stress layer is formed on the surface layer portion, and the glass substrate 50 is strengthened.
Note that the chemically strengthened glass substrate 50 is cleaned. For example, after washing with sulfuric acid, it is washed with pure water or the like.

(j)第2研磨(最終研磨)工程(ステップS100)
次に、化学強化工程後のガラス基板50に第2研磨が施される。第2研磨工程は、主表面の鏡面研磨を目的とする。第2研磨においても、第1研磨に用いる両面研磨装置と同様の構成を有する両面研磨装置が用いられる。第2研磨による取り代は、例えば1μm程度である。第2研磨工程が第1研磨工程と異なる点は、遊離砥粒の種類及び粒子サイズが異なることと、樹脂ポリッシャの硬度が異なることである。
(J) Second polishing (final polishing) step (step S100)
Next, 2nd grinding | polishing is given to the glass substrate 50 after a chemical strengthening process. The second polishing step aims at mirror polishing of the main surface. Also in the second polishing, a double-side polishing apparatus having the same configuration as the double-side polishing apparatus used for the first polishing is used. The machining allowance by the second polishing is, for example, about 1 μm. The second polishing step is different from the first polishing step in that the type and particle size of the free abrasive grains are different and the hardness of the resin polisher is different.

第2研磨工程に用いる遊離砥粒として、例えば、スラリに混濁させたコロイダルシリカ等の微粒子(粒子サイズ:直径10〜50nm程度)が用いられる。研磨されたガラス基板50を中性洗剤、純水、IPA等を用いて洗浄することで、磁気ディスク用ガラス基板50が得られる。
第2研磨工程は、必須な工程ではないが、ガラス基板50の主表面の表面凹凸のレベルをさらに良好なものとすることができる点で実施することが好ましい。第2研磨工程を実施することで、主表面の粗さ(Ra)を0.1nm以下かつ上記主表面のマイクロウェービネス(MW−Rq)を0.1nm以下とすることができる。なお、第2研磨では、保護層54が外周側端面52に設けられていないので、研磨中、外周側端面52に傷がつき、あるいは、砥粒が付着物として付き易い。したがって、外周側端面52に付く傷及び砥粒の外周側端面52への付着を抑制するためには、第2研磨を保護層の除去前に行うことが好ましい。しかし、第2研磨では、極めて粒子サイズの小さい砥粒を用いるので、第2研磨により外周側端面52に形成される傷の程度や外周側端面52に付着する付着物の量の程度は、ステップS60における研削あるいはステップS70における第1研磨の場合に比べて小さい。このため、磁気ディスク用ガラス基板の機械的強度の低下の抑制や磁気ディスク用ガラス基板の主表面上の異物の形成に与える影響は小さい。
As the free abrasive grains used in the second polishing step, for example, fine particles (particle size: diameter of about 10 to 50 nm) such as colloidal silica made turbid in slurry are used. The polished glass substrate 50 is washed with a neutral detergent, pure water, IPA, or the like, whereby the magnetic disk glass substrate 50 is obtained.
The second polishing step is not an essential step, but it is preferable to carry out the second polishing step in that the level of surface irregularities on the main surface of the glass substrate 50 can be further improved. By performing the second polishing step, the roughness (Ra) of the main surface can be set to 0.1 nm or less and the micro waveness (MW-Rq) of the main surface can be set to 0.1 nm or less. In the second polishing, since the protective layer 54 is not provided on the outer peripheral side end face 52, the outer peripheral side end face 52 is easily damaged during the polishing, or the abrasive grains are likely to be attached as deposits. Therefore, in order to suppress scratches on the outer peripheral end face 52 and adhesion of abrasive grains to the outer peripheral end face 52, it is preferable to perform the second polishing before removing the protective layer. However, in the second polishing, abrasive grains having a very small particle size are used. Therefore, the degree of scratches formed on the outer peripheral side end surface 52 by the second polishing and the amount of deposits adhering to the outer peripheral side end surface 52 are determined in steps. It is smaller than the grinding in S60 or the first polishing in Step S70. For this reason, the influence which it has on the suppression of the fall of the mechanical strength of the glass substrate for magnetic discs and the formation of the foreign material on the main surface of the glass substrate for magnetic discs is small.

このようにして、第2研磨されたガラス基板50は、水洗いされて磁気ディスク用ガラス基板となる。   In this way, the second polished glass substrate 50 is washed with water to become a magnetic disk glass substrate.

本実施形態では、ガラス基板50の外周側端面52の面取りにより、介在面58,60それぞれにおける主表面の側の一部分は、保護層54の非形成領域となるよう保護剤22が塗布されている。このため、研削工程(ステップS60)や第1研磨工程(ステップS70)等の主表面加工において、保護層54が研削及び研磨されて保護層54を構成する樹脂が削り取られることがなく、削り取られた樹脂によってガラス基板の主表面において傷が発生したり汚染されたりすることがない。また、研削あるいは研磨中に削り取られた保護層54の樹脂が剥がれて、一対の定盤間に挟まれて加工されるガラス基板の主表面上や、キャリヤの表面上に進入することがないため、安定して研削又は研磨を行うことができる。
また、本実施形態では、保護層54が外周側端面52に設けられているので、ガラス基板50の外周側端面52において、亀裂発生の原因となる傷の発生を抑制することができ、磁気ディスク用ガラス基板の機械的強度の低下を防ぐことができる。また、このようにガラス基板50の外周側端面52に保護層54が設けられているので、ガラス基板50の両側の主表面に対する主表面加工(研削及び第1研磨)を行っても、ガラス基板の主表面の加工時に研磨あるいは研削用の砥粒が外周側端面52に付着されず、磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に異物が形成され難い。特に、ガラス基板の外周側端面は、内周側端面と比べ、ガラス基板の製造時の傷の発生頻度が高く、また、主表面の汚染源となる物質が付着しやすいので、このように保護層24によって外周側端面が保護されることが有効である。
In the present embodiment, the protective agent 22 is applied so that a part of the main surface side of each of the interposition surfaces 58 and 60 becomes a non-formation region of the protective layer 54 by chamfering the outer peripheral side end face 52 of the glass substrate 50. . Therefore, in the main surface processing such as the grinding process (step S60) and the first polishing process (step S70), the protective layer 54 is ground and polished, and the resin constituting the protective layer 54 is not scraped off. The resin does not cause scratches or contamination on the main surface of the glass substrate. Further, since the resin of the protective layer 54 removed during grinding or polishing is not peeled off, it does not enter on the main surface of the glass substrate processed between the pair of surface plates or on the surface of the carrier. , Stable grinding or polishing can be performed.
In the present embodiment, since the protective layer 54 is provided on the outer peripheral side end surface 52, it is possible to suppress the generation of scratches that cause cracks on the outer peripheral side end surface 52 of the glass substrate 50, and the magnetic disk The mechanical strength of the glass substrate can be prevented from decreasing. Moreover, since the protective layer 54 is provided on the outer peripheral side end face 52 of the glass substrate 50 in this way, even if the main surface processing (grinding and first polishing) is performed on the main surfaces on both sides of the glass substrate 50, the glass substrate During the processing of the main surface, abrasive grains for polishing or grinding are not attached to the outer peripheral side end face 52, and it is difficult for foreign matter to be formed on the main surface of the magnetic disk glass substrate. In particular, the outer peripheral side end surface of the glass substrate is more frequently damaged than the inner peripheral side end surface during the production of the glass substrate, and a substance that becomes a source of contamination of the main surface is likely to adhere to the protective layer. It is effective that the outer peripheral side end face is protected by 24.

また、主表面加工工程における主表面の目標加工量Dは予め定められている。ガラス基板50の厚さ方向における保護層54の両側の端部間の距離は、ガラス基板50の厚さから目標加工量Dを差し引いた厚さに比べて小さい。このため、保護層54は確実に研削及び研磨されない。   Further, the target processing amount D of the main surface in the main surface processing step is determined in advance. The distance between both ends of the protective layer 54 in the thickness direction of the glass substrate 50 is smaller than the thickness obtained by subtracting the target processing amount D from the thickness of the glass substrate 50. For this reason, the protective layer 54 is not reliably ground and polished.

さらに、保護層形成工程では、ガラス基板の外周側端面に保護剤を塗布する前に、ドクターブレード法により、外周側端面に塗布される保護剤の厚みを均一になるよう調整するので、外周側端面に、塗布されない部分が現れる、あるいは、過剰に塗布されて非形成領域が十分に確保されないといった不都合を回避することができる。   Furthermore, in the protective layer forming step, before applying the protective agent to the outer peripheral side end surface of the glass substrate, the thickness of the protective agent applied to the outer peripheral side end surface is adjusted by the doctor blade method so as to be uniform. It is possible to avoid such a disadvantage that a portion that is not applied appears on the end face or that a non-formed region is not sufficiently secured due to excessive application.

また、複数のガラス基板を積層して得られる積層体の外周に対して、保護層54を設けることにより、積層体の複数のガラス基板のそれぞれの外周側端面52に保護層54が一度に設けられ得る。   In addition, by providing the protective layer 54 on the outer periphery of the laminate obtained by laminating a plurality of glass substrates, the protective layer 54 is provided on the outer peripheral side end face 52 of each of the plurality of glass substrates of the laminate at a time. Can be.

保護層54の形成では、ロールコータを用いて外周側端面52に保護層54が設けられるので、外周側端面52の周上において、均一な厚さの保護層54を設けることができる。両面研削装置及び両面研磨装置におけるキャリヤの保持孔にガラス基板50を保持させて研削あるいは研磨をするとき、均一な厚さの保護層54を外周側端面52に設けることにより、保護層54は保持孔の内周側壁に偏ることなく均等に接触して並進、回転運動をすることができる。このため、ガラス基板面内の品質ばらつきを抑え、主表面の研削及び研磨を精度高く行うことができる。   In the formation of the protective layer 54, the protective layer 54 is provided on the outer peripheral side end surface 52 using a roll coater. Therefore, the protective layer 54 having a uniform thickness can be provided on the periphery of the outer peripheral side end surface 52. When grinding or polishing by holding the glass substrate 50 in the holding hole of the carrier in the double-side grinding apparatus and double-side polishing apparatus, the protective layer 54 is held by providing the protective layer 54 with a uniform thickness on the outer peripheral side end face 52. It is possible to translate and rotate by evenly contacting the inner peripheral side wall of the hole without being biased. For this reason, quality variation within the glass substrate surface can be suppressed, and the main surface can be ground and polished with high accuracy.

ガラス基板50の両側の主表面に対する主表面加工(研削及び第1研磨)を行った後、ガラス基板50から保護層54を除去することが、化学強化の前に行われるので、化学強化の際に保護層が化学強化液中に溶け出すことによって、化学強化液のイオン交換が進まなくなる、化学強化液のライフが短くなる等の不都合を回避できる。   After performing the main surface processing (grinding and first polishing) on the main surfaces on both sides of the glass substrate 50, the protective layer 54 is removed from the glass substrate 50 before the chemical strengthening. In addition, since the protective layer dissolves in the chemical strengthening liquid, it is possible to avoid such disadvantages that the ion exchange of the chemical strengthening liquid does not proceed and the life of the chemical strengthening liquid is shortened.

保護層54は、例えば熱、光、あるいは、電磁波を加えることにより外周側端面52から除去することができる樹脂材からなる層である。このため、保護層54をガラス基板50から容易に除去することができる。   The protective layer 54 is a layer made of a resin material that can be removed from the outer peripheral end face 52 by applying, for example, heat, light, or electromagnetic waves. For this reason, the protective layer 54 can be easily removed from the glass substrate 50.

以上、本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態及び実施例に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。   As mentioned above, although the manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of this invention was demonstrated in detail, this invention is not limited to the said embodiment and Example, In the range which does not deviate from the main point of this invention, various improvement and a change are carried out. Of course.

1 磁気ディスク
2 ガラス基板
3A,3B 磁性層
10 積層体
12 スプレー装置
14,16,28 ローラ
18 搬送ベルト
20 ドクターブレード
22 保護剤
24 膜
26 ロールコータ
30 光源
32 紫外線
50 ガラス基板
52 外周側端面
54 保護層
56 主表面
58,60 介在面
62 側壁面
100 両面研削装置
102 下定盤
104 上定盤
106 インターナルギヤ
108 キャリヤ
112 太陽ギヤ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Magnetic disk 2 Glass substrate 3A, 3B Magnetic layer 10 Laminate body 12 Spray apparatus 14, 16, 28 Roller 18 Conveyor belt 20 Doctor blade 22 Protective agent 24 Film 26 Roll coater 30 Light source 32 Ultraviolet ray 50 Glass substrate 52 Outer peripheral side end face 54 Protection Layer 56 Main surface 58, 60 Intervening surface 62 Side wall surface 100 Double-side grinding device 102 Lower surface plate 104 Upper surface plate 106 Internal gear 108 Carrier 112 Sun gear

Claims (8)

一対の主表面、内周側端面、並びに外周側端面を有し、前記外周側端面は、前記一対の主表面に対して直交するように延在する側壁面、及び前記一対の主表面と前記側壁面との間にそれぞれ配置され前記一対の主表面に対してそれぞれ傾斜する一対の介在面を含む、磁気ディスク用ガラス基板を製造する方法であって、
前記外周側端面に対し、前記一対の介在面それぞれにおける前記主表面の側の一部分が前記保護層の非形成領域となるよう保護剤を塗布することにより保護層を設ける保護層形成工程と、
保持部材に設けられた保持孔内に、前記保護層が設けられた前記磁気ディスク用ガラス基板を保持しながら前記磁気ディスク用ガラス基板の前記一対の主表面の研削あるいは研磨をする主表面加工工程と、を含む、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
A pair of main surfaces, an inner peripheral side end surface, and an outer peripheral side end surface, the outer peripheral side end surface extending side by side perpendicular to the pair of main surfaces; and the pair of main surfaces and the A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, comprising a pair of interposed surfaces that are respectively disposed between side wall surfaces and are inclined with respect to the pair of main surfaces,
A protective layer forming step of providing a protective layer by applying a protective agent so that a part of the main surface side of each of the pair of interposed surfaces becomes a non-formation region of the protective layer with respect to the outer peripheral side end surfaces;
A main surface processing step of grinding or polishing the pair of main surfaces of the magnetic disk glass substrate while holding the magnetic disk glass substrate provided with the protective layer in a holding hole provided in a holding member. And a method for producing a glass substrate for a magnetic disk.
前記主表面加工工程における前記主表面の目標加工量は予め定められており、
前記磁気ディスク用ガラス基板の厚さ方向における前記保護層の両側の端部間の距離は、前記磁気ディスク用ガラス基板の厚さから前記目標加工量を差し引いた厚さに比べて小さい、請求項1に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
The target processing amount of the main surface in the main surface processing step is predetermined,
The distance between both ends of the protective layer in the thickness direction of the magnetic disk glass substrate is smaller than a thickness obtained by subtracting the target processing amount from the thickness of the magnetic disk glass substrate. 2. A method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to 1.
前記保護層形成工程では、前記外周側端面に前記保護剤を塗布する前に、前記外周側端面に塗布される前記保護剤の厚みが均一になるように、塗布前の状態の前記保護剤の厚みを予め調整する、請求項1又は2に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   In the protective layer forming step, before applying the protective agent to the outer peripheral side end surface, the protective agent in a state before application is applied so that the thickness of the protective agent applied to the outer peripheral side end surface is uniform. The manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of Claim 1 or 2 which adjusts thickness beforehand. 前記磁気ディスク用ガラス基板の他に、少なくとも1つ以上の磁気ディスク用ガラス基板を積層して得られる積層体に対して、前記保護層形成工程を行うことにより、複数の磁気ディスク用ガラス基板のそれぞれの前記外周側端面に前記保護層が設けられる、請求項1〜3のいずれか1項に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   In addition to the magnetic disk glass substrate, by performing the protective layer forming step on a laminate obtained by laminating at least one magnetic disk glass substrate, a plurality of magnetic disk glass substrates are obtained. The manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of any one of Claims 1-3 with which the said protective layer is provided in each said outer peripheral side end surface. 前記保護層形成工程では、前記保護層となる保護剤の膜を転写基材の表面に形成し、前記転写基材から前記磁気ディスク用ガラス基板の外周側端面へ前記保護剤の膜を転写して前記外周側端面に前記保護剤を塗布する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   In the protective layer forming step, a protective agent film serving as the protective layer is formed on the surface of the transfer substrate, and the protective agent film is transferred from the transfer substrate to the outer peripheral end surface of the magnetic disk glass substrate. The manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of any one of Claims 1-4 which apply | coats the said protective agent to the said outer peripheral side end surface. 前記保護層の厚みは1〜200μmである、請求項1〜5のいずれか1項に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   The method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein the protective layer has a thickness of 1 to 200 μm. さらに、前記主表面加工工程後に、前記磁気ディスク用ガラス基板から前記保護層を除去する除去工程と、
前記除去工程の後に、前記磁気ディスク用ガラス基板を化学強化する化学強化工程と、を含む請求項1〜6のいずれか1項に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
Further, after the main surface processing step, a removal step of removing the protective layer from the magnetic disk glass substrate,
The manufacturing method of the glass substrate for magnetic discs of any one of Claims 1-6 including the chemical strengthening process of chemically strengthening the said glass substrate for magnetic discs after the said removal process.
前記保護層は、熱、光、あるいは、電磁波を加えることにより前記外周側端面から除去可能な樹脂材からなる層である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。   8. The glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein the protective layer is a layer made of a resin material that can be removed from the end face on the outer peripheral side by applying heat, light, or electromagnetic waves. Manufacturing method.
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