JP2014053194A - Synchrotron - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、荷電粒子を加速させるシンクロトロンに関する。 The present invention relates to a synchrotron that accelerates charged particles.
従来、シンクロトロンに関する技術文献として、例えば特許文献1が知られている。特許文献1には、荷電粒子ビームを周回軌道に沿って加速させるシンクロトロンであって、周回軌道上の荷電粒子ビームを安定領域から不安定領域に移行させるための高周波印加装置と、不安定領域に移行した荷電粒子ビームを周回軌道から取り出すデフレクターと、取り出された荷電粒子ビームを計測する計測装置と、を備えたものが記載されている。 Conventionally, for example, Patent Document 1 is known as a technical document related to a synchrotron. Patent Document 1 discloses a synchrotron for accelerating a charged particle beam along a circular orbit, a high-frequency application device for shifting the charged particle beam on the circular orbit from a stable region to an unstable region, and an unstable region A device including a deflector that extracts a charged particle beam that has been transferred to (1) from a circular orbit and a measuring device that measures the extracted charged particle beam is described.
ところで、シンクロトロンによる荷電粒子ビームの出力には高い安定性が求められている。安定性には、周回軌道からの荷電粒子ビームの取出精度が大きく影響しており、前述した従来のシンクロトロンにおいては取出精度の向上に改善の余地があった。 Incidentally, high stability is required for the output of a charged particle beam by a synchrotron. The stability is greatly affected by the extraction accuracy of the charged particle beam from the orbit, and the conventional synchrotron described above has room for improvement in improving the extraction accuracy.
そこで、本発明は、周回軌道からの荷電粒子ビームの取出精度を向上させることができるシンクロトロンを提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a synchrotron capable of improving the accuracy of extracting a charged particle beam from a circular orbit.
上記課題を解決するため、本発明は、荷電粒子ビームを周回軌道に沿って加速させるシンクロトロンであって、周回軌道上に設けられ、荷電粒子ビームの分布と荷電粒子ビームの位置とを検出する軌道内検出手段と、荷電粒子ビームを周回軌道から取り出す取出手段と、軌道内検出手段の検出結果に基づいて取出手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is a synchrotron for accelerating a charged particle beam along an orbit, and is provided on the orbit, and detects the distribution of the charged particle beam and the position of the charged particle beam. In-orbit detection means, extraction means for extracting the charged particle beam from the orbit, and control means for controlling the extraction means based on the detection result of the in-orbit detection means.
本発明に係るシンクロトロンによれば、周回軌道上に設けられた軌道内検出手段の検出結果に基づいて取出手段を制御するので、周回軌道上の荷電粒子ビームの状態に応じた適切なビームの取り出しを実現することができ、取り出された後のビームのみを計測していた従来のシンクロトロンと比べて、荷電粒子ビームの取出精度を格段に向上させることができる。このことは、シンクロトロンの出力安定性を大幅に向上させる。 According to the synchrotron according to the present invention, the extraction means is controlled based on the detection result of the in-orbit detection means provided on the orbit, so that an appropriate beam according to the state of the charged particle beam on the orbit is obtained. The extraction can be realized, and the extraction accuracy of the charged particle beam can be remarkably improved as compared with the conventional synchrotron that measures only the beam after the extraction. This greatly improves the output stability of the synchrotron.
本発明に係るシンクロトロンにおいて、取出手段は、荷電粒子ビームを周回軌道の安定領域から不安定領域へ移行させることで荷電粒子ビームを取り出すキッカー電極を有し、制御手段は、軌道内検出手段の検出結果に基づいてキッカー電極を制御してもよい。
このシンクロトロンによれば、軌道内検出手段の検出結果に基づいてキッカー電極を制御して荷電粒子ビームのベータトロン振動の振幅増加を正確に調整することで、従来のシンクロトロンと比べて、より繊細なビームの取り出しを行うことができる。
In the synchrotron according to the present invention, the take-out means has a kicker electrode for taking out the charged particle beam by moving the charged particle beam from the stable region to the unstable region of the orbit. The kicker electrode may be controlled based on the detection result.
According to this synchrotron, by controlling the kicker electrode based on the detection result of the in-orbit detection means and accurately adjusting the increase in the amplitude of the betatron oscillation of the charged particle beam, the synchrotron can be compared with the conventional synchrotron. A delicate beam can be taken out.
本発明に係るシンクロトロンにおいて、周回軌道から外れた位置に設けられ、取出手段によって周回軌道から取り出された荷電粒子ビームの電流値又は放射線量を検出する軌道外検出手段を更に備え、制御手段は、軌道外検出手段の検出結果及び軌道内検出手段の検出結果に基づいて、取出手段を制御してもよい。
このシンクロトロンによれば、周回軌道から取り出されたビームの電流値又は放射線量について軌道外検出手段の検出結果を利用することで、取出手段のフィードバック制御を実現することができるので、フィードバック制御を行わない場合と比べて、荷電粒子ビームの取出精度をより一層向上させることができる。
The synchrotron according to the present invention further includes an out-of-orbit detection unit that is provided at a position deviated from the orbit, and detects the current value or radiation amount of the charged particle beam extracted from the orbit by the extraction unit, and the control unit includes The take-out means may be controlled based on the detection result of the out-orbit detection means and the detection result of the in-orbit detection means.
According to this synchrotron, the feedback control of the extraction means can be realized by using the detection result of the out-of-orbit detection means for the current value or radiation dose of the beam extracted from the orbit, so that the feedback control can be performed. Compared with the case where it is not performed, the extraction accuracy of the charged particle beam can be further improved.
本発明によれば、周回軌道からの荷電粒子ビームの取出精度を向上させることができるシンクロトロンを提供できる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the synchrotron which can improve the extraction accuracy of the charged particle beam from a circular orbit can be provided.
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[第1の実施形態]
図1に示す第1の実施形態のシンクロトロン1は、周回軌道Trに沿って荷電粒子ビームを加速させる加速器である。荷電粒子としては、例えば陽子、重粒子(重イオン)、電子などが挙げられる。以下、図1に示すように、周回軌道Trにおける荷電粒子ビームの周回方向をS、周回方向Sに直交する水平方向をX、垂直方向をYとして説明を行う。周回方向S、水平方向X、及び垂直方向Yは互いに直交する方向であり、SXYは、周回軌道Tr上の位置によって向きが変わる局所座標である。
[First Embodiment]
A synchrotron 1 of the first embodiment shown in FIG. 1 is an accelerator that accelerates a charged particle beam along a circular trajectory Tr. Examples of the charged particles include protons, heavy particles (heavy ions), and electrons. Hereinafter, as shown in FIG. 1, description will be made assuming that the circumferential direction of the charged particle beam in the orbit Tr is S, the horizontal direction orthogonal to the circulation direction S is X, and the vertical direction is Y. The orbiting direction S, the horizontal direction X, and the vertical direction Y are directions orthogonal to each other, and SXY is a local coordinate whose direction changes depending on the position on the orbiting track Tr.
シンクロトロン1は、前段加速器2、入射器3、水平方向収束用四極磁石4、垂直方向収束用四極磁石5、多極磁石6、ピックアップ(軌道内検出手段)7、キッカー電極8、及びデフレクター9を備えている。
The synchrotron 1 includes a
また、シンクロトロン1は、図2に示す制御部(制御手段)10を備えている。制御部10は、CPU[Central Processing Unit]、ROM[Read Only Memory]、RAM[Random Access Memory]などからなる電子制御ユニットであり、シンクロトロン1を制御する。制御部10は、前段加速器2、入射器3、水平方向収束用四極磁石4、垂直方向収束用四極磁石5、多極磁石6、ピックアップ7、キッカー電極8、及びデフレクター9と接続されている。
The synchrotron 1 includes a control unit (control means) 10 shown in FIG. The
図1に示すシンクロトロン1では、前段加速器2で加速された荷電粒子ビームが入射器3を通じて周回軌道Trに入射される。前段加速器2としては、主に線形加速器が用いられる。周回軌道Trに入射した荷電粒子ビームは、図示しない偏向電磁石によって進行方向を曲げられ、周回軌道Tr上を周回する。
In the synchrotron 1 shown in FIG. 1, the charged particle beam accelerated by the
周回軌道Trにおける荷電粒子ビームの位置は、水平方向収束用四極磁石4及び垂直方向収束用四極磁石5によって調整されている。水平方向収束用四極磁石4は、荷電粒子ビームを水平方向Xに収束させると共に垂直方向Yに発散させるように軌道勾配を変更する電磁石である。また、垂直方向収束用四極磁石5は、荷電粒子ビームを垂直方向Yに収束させると共に水平方向Xに発散させるように軌道勾配を変更する電磁石である。水平方向収束用四極磁石4及び垂直方向収束用四極磁石5は、周回軌道Tr上に複数配置(例えば四組)されている。
The position of the charged particle beam in the circular orbit Tr is adjusted by the horizontal focusing
荷電粒子ビームは、その周回方向(進行方向)S及び横方向(水平方向X及び垂直方向Y)に振動しながら周回軌道Tr上を周回する。荷電粒子ビームの横方向の振動をベータトロン振動と呼び、周回軌道Trにおける一周あたりのベータトロン振動数をチューンと呼ぶ。荷電粒子ビームを安定して周回させるためには、チューンを共鳴の生じない値に制御する必要がある。 The charged particle beam circulates on the circular trajectory Tr while vibrating in the circular direction (traveling direction) S and in the horizontal direction (horizontal direction X and vertical direction Y). The vibration of the charged particle beam in the lateral direction is called betatron vibration, and the betatron frequency per round in the circular orbit Tr is called tune. In order to circulate the charged particle beam stably, it is necessary to control the tune to a value that does not cause resonance.
荷電粒子ビームのチューンは、水平方向収束用四極磁石4及び垂直方向収束用四極磁石5の励磁量によって制御される。制御部10は、特に次数の低い共鳴を起こすチューンとならないように水平方向収束用四極磁石4及び垂直方向収束用四極磁石5を制御する。周回軌道Tr上を周回する荷電粒子ビームには、図示しない高周波加速空洞からエネルギーを与えられ、荷電粒子ビームはチューンを制御された状態で周回しながら次第に加速する。
The tuning of the charged particle beam is controlled by the amount of excitation of the horizontal focusing
次に、目標エネルギーまで加速した荷電粒子ビームの周回軌道Trからの取り出しについて図3を参照して説明する。図3は、荷電粒子ビームの代表粒子(荷電粒子ビームに含まれる任意の粒子)の位相空間における軌跡を示す模式図である。 Next, extraction of the charged particle beam accelerated to the target energy from the circular orbit Tr will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a schematic diagram showing a locus in a phase space of a representative particle of a charged particle beam (an arbitrary particle included in the charged particle beam).
図3の横軸は代表粒子の水平方向Xの位置を示しており、縦軸は代表粒子の水平方向の変化dx及び周回方向の変化dsの関係(水平方向の軌道勾配)dx/dsを示している。すなわち、図3には、代表粒子の周回毎のXとdx/dsの関係(位相空間)が示されている。 The horizontal axis of FIG. 3 indicates the position of the representative particle in the horizontal direction X, and the vertical axis indicates the relationship (horizontal orbital gradient) dx / ds between the horizontal change dx and the rotation direction change ds of the representative particle. ing. That is, FIG. 3 shows the relationship between X and dx / ds (phase space) for each revolution of the representative particle.
また、図3の破線W1〜W3は、セパラトリクス(安定限界)を示している。セパラトリクスは、安定領域Aと不安定領域Bの境界線に当たる。すなわち、安定領域Aは、図3に示す位相空間において破線W1〜W3に囲まれた領域であり、安定領域A内の荷電粒子ビームはベータトロン振動の共鳴が生じることなく、安定的に周回軌道Tr上を周回する。一方、不安定領域Bは、図3に示す位相空間において破線W1〜W3の外側の領域であり、不安定領域Bの荷電粒子ビームは、共鳴によってベータトロン振動の振幅が増加する。 Moreover, the broken lines W1-W3 of FIG. 3 have shown separatrix (stability limit). Separatrix hits the boundary line between the stable region A and the unstable region B. That is, the stable region A is a region surrounded by broken lines W1 to W3 in the phase space shown in FIG. 3, and the charged particle beam in the stable region A is stably orbited without causing resonance of betatron oscillation. Go around Tr. On the other hand, the unstable region B is a region outside the broken lines W1 to W3 in the phase space shown in FIG. 3, and the amplitude of the betatron oscillation increases in the charged particle beam in the unstable region B due to resonance.
図3において、不安定領域Bの代表粒子には周回数を番号として付している。図3に示されるように、不安定領域Bの荷電粒子ビームは不安定な状態となり、ベータトロン振動の振幅が急激に増加する。 In FIG. 3, the number of circulations is assigned to the representative particles in the unstable region B as numbers. As shown in FIG. 3, the charged particle beam in the unstable region B is in an unstable state, and the amplitude of betatron oscillation increases rapidly.
セパラトリクスは、多極磁石6によって形成されている。多極磁石6は、例えば六極電磁石や八極電磁石であり、周回軌道Tr上に配置されている。セパラトリクスに囲まれた安定領域Aは、多極磁石6の磁場強度が大きいほど小さくなる。また、安定領域Aは、荷電粒子ビームの水平方向のチューンの整数±1/3からの偏差が小さいほど小さくなる。
The separatrix is formed by the
図1に示されるように、周回軌道Tr上を周回する荷電粒子ビームは、ピックアップ7によって検出される。ピックアップ7は、周回軌道Tr上に設けられ、周回軌道Tr内の荷電粒子ビームの分布と位置(例えば重心位置)を検出する検出器である。なお、周回軌道Tr上に設けられるとは、厳密に周回軌道Trと重なるように設けられる場合に限られず、周回軌道Trを囲むように設けられる場合や周回軌道Trを挟むように設けられる場合等も含む表現である。
As shown in FIG. 1, the charged particle beam that circulates on the circular trajectory Tr is detected by the
また、ピックアップ7の構成は特に限定されない。ピックアップ7としては、例えば複数のピックアップ電極を用いることができる。更に、ピックアップ7は、荷電粒子ビームの大きさや重心位置を検出してもよい。ピックアップ7の精度によっては、その検出結果から図3に示す位相空間における荷電粒子の軌道を求めることもできる。ピックアップ7は、検出した荷電粒子ビームの分布及び位置に対応する検出信号を制御部10に送信する。
Further, the configuration of the
制御部10では、ピックアップ7の検出信号(検出結果)に基づいてキッカー電極8を制御する。キッカー電極8は、周回軌道Tr上に設けられ、荷電粒子ビームの一部を安定領域Aから不安定領域Bに移行させる電極である。
The
キッカー電極8は、周回軌道Tr上でデフレクター9と正反対の位置(周回軌道Tr上でデフレクター9と最も離れた位置)に設けられている。なお、ピックアップ7は、キッカー電極8及びデフレクター9の間の周回軌道Tr上に設けられている。キッカー電極8は、荷電粒子ビームのベータトロン振動の振幅を増加させることで、荷電粒子ビームの一部を安定領域Aから不安定領域Bに移行させる。
The
キッカー電極8によるベータトロン振動の振幅を増加させる方法は特に限定されない。ベータトロン振動の振幅を増加させる方法としては、(a)荷電粒子ビームに時間的に変動する磁場を印加する方法、(b)荷電粒子ビームに時間的に変動する電場を印加する方法、(c)荷電粒子ビームと異なる粒子を荷電粒子ビームに衝突させる方法、等が知られている。
The method for increasing the amplitude of betatron oscillation by the
制御部10は、ピックアップ7の検出信号に基づいてキッカー電極8を制御し、荷電粒子ビームのベータトロン振動の振幅を適切なタイミングで増加させることで、安定領域Aから不安定領域Bに移行させる。なお、制御部10は、ピックアップ7の検出信号を加工した後、アンプで増幅及び極性の反転を行ってキッカー電極8に送信する態様であってもよい。
The
キッカー電極8によって不安定領域Bに移行された荷電粒子ビームは、図3に示す代表粒子のように周回数が増えるほどベータトロン振動の振幅が急激に増加する。振幅が増加した荷電粒子ビームは、デフレクター9によって周回軌道Trから取り出される(図1参照)。キッカー電極8及びデフレクター9は、特許請求の範囲に記載の取出手段を構成している。
In the charged particle beam transferred to the unstable region B by the
デフレクター9は、例えばESD[Electro Static Deflector]であり、図3に示す導電板9Aと電極9Bを有している。導電板9A及び電極9Bの間には、強力な電場が形成されており、導電板9A及び電極9Bの間に入り込んだ荷電粒子ビーム(例えば図3の代表粒子の58周目)は偏向により周回軌道Trから取り出される。
The
デフレクター9によって周回軌道Trから取り出された荷電粒子ビームは、図示しないセプタム磁石によって大きく偏向され、シンクロトロン1から出射される。なお、取出しを容易にするため、荷電粒子ビームをデフレクター9側に寄せるバンプ磁石を周回軌道Trに備えていてもよい。
The charged particle beam taken out from the circular orbit Tr by the
また、デフレクター9の導電板9Aの厚さが小さいほど、荷電粒子ビームは導電板9Aを乗り越えて取り出し易くなる。一方、導電板9Aを乗り越えられない荷電粒子ビームは導電板9Aに衝突して消滅する。このため、デフレクター9は、導電板9Aを薄くできるESDであることが望ましい。なお、デフレクター9としてESD以外の構成(例えばコイルを用いる構成)を採用してもよい。
Further, the smaller the thickness of the
以上説明した第1の実施形態に係るシンクロトロン1によれば、安定領域Aにある荷電粒子ビームのベータトロン振動の振幅を増加させることで不安定領域Bに移行させるので、ビーム取出しのためにセパラトリクス(安定領域Aの範囲)を変更しなくても、荷電粒子ビームの取出効率(出射効率)を向上させることができる。また、このシンクロトロン1では、セパラトリクスを変更しなくても良いので、水平方向収束用四極磁石4、垂直方向収束用四極磁石5、及び多極磁石6の励磁力をほぼ一定にすることができ、制御が容易である。更に、このシンクロトロン1では、セパラトリクスを一定にすることにより、デフレクター9に入射する荷電粒子ビームのビーム径をほぼ一定とすることができるので、荷電粒子ビームの出力安定性を向上できる。
According to the synchrotron 1 according to the first embodiment described above, since the transition to the unstable region B is performed by increasing the amplitude of the betatron oscillation of the charged particle beam in the stable region A, for beam extraction. The extraction efficiency (outgoing efficiency) of the charged particle beam can be improved without changing the separatrix (range of the stable region A). Further, in this synchrotron 1, it is not necessary to change the separatrix, so that the exciting force of the horizontal focusing
しかも、このシンクロトロン1によれば、周回軌道Tr上に設けられたピックアップ7の検出結果に基づいてキッカー電極8及びデフレクター9を制御するので、周回軌道上の荷電粒子ビームの状態に応じた適切なビームの取り出しを実現することができ、取り出された後のビームのみを計測していた従来のシンクロトロンと比べて、荷電粒子ビームの取出精度を格段に向上させることができる。このことは、シンクロトロン1の出力安定性を大幅に向上させる。なお、必ずしもデフレクター9をピックアップ7の検出結果に基づいて制御する必要はない。
In addition, according to the synchrotron 1, the
また、このシンクロトロン1によれば、ピックアップ7の検出結果に基づいてキッカー電極8を制御して荷電粒子ビームのベータトロン振動の振幅増加を正確に調整することができるので、従来のシンクロトロンと比べて、より繊細なビームの取り出しを行うことができる。
Further, according to this synchrotron 1, since the
[第2の実施形態]
図4及び図5に示されるように、第2の実施形態に係るシンクロトロン21は、第1の実施形態に係るシンクロトロン1と比べて、取出ビーム検出部(軌道外検出手段)22を備えている点が大きく異なっている。なお、図4及び図5において、第1の実施形態に係るシンクロトロン1と同一の構成には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
[Second Embodiment]
As shown in FIGS. 4 and 5, the
取出ビーム検出部22は、周回軌道Trから外れた位置に設けられ、デフレクター9によって周回軌道Trから取り出された荷電粒子ビームの電流値又は放射線量を検出する検出器である。取出ビーム検出部22の構成は特に限定されないが、電極などを採用してもよい。
The extracted
第2の実施形態に係る制御部23は、取出ビーム検出部22の検出結果及びピックアップ7の検出結果に基づいてキッカー電極8及びデフレクター9を制御する。制御部23は、取出ビーム検出部22の検出結果を利用してキッカー電極8及びデフレクター9のフィードバック制御を行う。なお、制御部23は、水平方向収束用四極磁石4、垂直方向収束用四極磁石5、及び多極磁石6について、取出ビーム検出部22の検出結果を利用したフィードバック制御を行ってもよい。
The
以上説明した第2の実施形態に係るシンクロトロン21によれば、周回軌道Trから取り出されたビームの電流値又は放射線量について取出ビーム検出部22の検出結果を利用することで、キッカー電極8及びデフレクター9のフィードバック制御を実現することができるので、フィードバック制御を行わない場合と比べて、荷電粒子ビームの取出精度をより一層向上させることができる。
According to the
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。例えば、水平方向収束用四極磁石、垂直方向収束用四極磁石、多極磁石、ピックアップ、キッカー電極、及びデフレクターの位置関係は図1に示すものに限定されない。ピックアップは、周回軌道上で入射器側ではなく、入射器と反対側(図1の紙面の下側)に設けられていてもよく。キッカー電極は必ずしもデフレクターから最も離れた位置に設ける必要はない。 The present invention is not limited to the embodiment described above. For example, the positional relationship among a horizontal focusing quadrupole magnet, a vertical focusing quadrupole magnet, a multipolar magnet, a pickup, a kicker electrode, and a deflector is not limited to that shown in FIG. The pickup may be provided not on the side of the injector on the orbit, but on the side opposite to the injector (the lower side of the paper surface of FIG. 1). The kicker electrode is not necessarily provided at the position farthest from the deflector.
また、水平方向収束用四極磁石、垂直方向収束用四極磁石、及び多極磁石の個数も図1に示すものに限定されない。 Further, the number of horizontal focusing quadrupole magnets, vertical focusing quadrupole magnets, and multipolar magnets is not limited to that shown in FIG.
更に、本発明に係るシンクロトロンは、多極磁石を必ずしも備える必要はない。ピックアップによって荷電粒子ビームを高精度に検出し、適切なタイミングでキッカー電極が十分な強さのキックを行うことで、セパラトリクスを作らずとも荷電粒子ビームを周回軌道から取り出すことも可能である。 Furthermore, the synchrotron according to the present invention does not necessarily include a multipole magnet. By detecting the charged particle beam with high accuracy by a pickup and kicking the kicker electrode with sufficient strength at an appropriate timing, it is also possible to take out the charged particle beam from the orbit without making a separatrix.
1,21…シンクロトロン 2…前段加速器 3…入射器 4…水平方向収束用四極磁石 5…垂直方向収束用四極磁石 6…多極磁石 7…ピックアップ(軌道内検出手段) 8…キッカー電極(取出手段) 9…デフレクター(取出手段) 9A…導電板 9B…電極 10,23…制御部(制御手段) 22…取出ビーム検出部(軌道外検出手段) A…安定領域 B…不安定領域 Tr…周回軌道 W1-W3…セパラトリクス
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記周回軌道上に設けられ、前記荷電粒子ビームの分布と前記荷電粒子ビームの位置とを検出する軌道内検出手段と、
前記荷電粒子ビームを前記周回軌道から取り出す取出手段と、
前記軌道内検出手段の検出結果に基づいて、前記取出手段を制御する制御手段と、
を備える、シンクロトロン。 A synchrotron for accelerating a charged particle beam along a circular orbit,
An in-orbit detection means provided on the orbit for detecting the distribution of the charged particle beam and the position of the charged particle beam;
Extraction means for extracting the charged particle beam from the orbit,
Control means for controlling the take-out means based on the detection result of the in-orbit detection means;
A synchrotron.
前記制御手段は、前記軌道内検出手段の検出結果に基づいて前記キッカー電極を制御する、請求項1に記載のシンクロトロン。 The extraction means has a kicker electrode that extracts the charged particle beam by moving the charged particle beam from a stable region of the circular orbit to an unstable region,
The synchrotron according to claim 1, wherein the control unit controls the kicker electrode based on a detection result of the in-orbit detection unit.
前記制御手段は、前記軌道外検出手段の検出結果及び前記軌道内検出手段の検出結果に基づいて、前記取出手段を制御する、請求項1又は2に記載のシンクロトロン。
Further comprising out-of-orbit detection means for detecting a current value or a radiation dose of the charged particle beam provided at a position off the orbit, and taken out from the orbit by the extraction means;
The synchrotron according to claim 1, wherein the control unit controls the extraction unit based on a detection result of the out-of-orbit detection unit and a detection result of the in-orbit detection unit.
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