JP2014013191A - 光デバイスの周波数測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光デバイスの周波数特性測定装置であって、基準発振器1aと、基準発振器と同期して発振する第1および第2の周波数コム発生器2a、2bと、第1の周波数コム発生器の出力信号を被測定光デバイスに入出力する手段と、被測定光デバイスの出力信号及び前記第2の周波数コム発生器の出力信号を入力し、その差周波成分を出力する周波数変換器6aと、周波数変換器の出力から所望の周波数成分のみを取り出す可変バンドパスフィルタ7と、可変バンドパスフィルタの出力を検波する検出器8と、検出器の出力信号を表示し、記録する出力装置とを具備したことを特徴とする。
【選択図】図2
Description
図2を用いて、本発明の実施例1を説明する。図2は、本発明の実施例1にかかる周波数測定装置の構成を示す図である。図2の周波数測定装置は、基準発信機1a、周波数コム発生器2a、2b、光送信器3a、伝送媒体4a、光受信機5a、周波数変換器6a、可変バンドパスフィルタ7、検出器8から構成される。基準発信器は例えば10MHzの高精度発信器であり、周波数コム2a、2bを同期して動かすために使用される。光送信器3a、伝送媒体4a、光受信器5aのいずれかが被測定デバイスとなるが、実施例1では、光送信器3aを被測定デバイスとし、光送信器3aとして直接変調レーザダイオードを用いた。伝送媒体4aは、光送信器3aと光受信器5aを接続することだけを目的とし、2m長のシングルモード光ファイバを用いた。光受信器5aは、PIN−PDとプリアンプから構成され10GHz帯域の光受信器である。
図4を用いて、本発明の実施例2を説明する。図4は、本発明の実施例2にかかる周波数測定装置の構成を示す図である。図4の周波数測定装置は、基準発振器1b、周波数コム発生器2c、2d、光送信器3b、伝送媒体4b、光受信器5b、周波数変換器6b、スペクトラム・アナライザ9から構成される。本実施例と実施例1との相違点は、実施例1の周波数測定装置は可変バンドパスフィルタおよび検出器を含むが、実施例2では代わりにスペクトラム・アナライザ9を含む点である。この点に注目して説明を行う。
実施例3の構成は実施例1あるいは2と同様である。伝送媒体は分散の影響が出ない程度の長さの光ファイバとするが、光受信器は被測定デバイス、光送信器はモノリシック集積レーザ・電界効果型光変調器とする。モノリシック集積レーザ・電界吸収型光変調器のうち、レーザダイオードは自動パワー制御モードにおいて、ほぼ一定の電流値で駆動する。被測定対象でない光送受信器の周波数特性は低周波から高周波まで平坦であり、電圧入力・透過率出力特性(以下、入出力特性)は低歪であることが望まれる。よって、電界吸収型光変調器は入出力特性の変曲点に電圧バイアスし、かつ小振幅で動作させた。
102、3a、3b 光送信器
103、4a、4b 伝送媒体
104、5a、5b 光受信器
105、8 検出器
106 ディスプレイ
1a、1b 基準発信器
2a、2b、2c、2d 周波数コム発生器
6a、6b 周波数変換器
7 可変バンドパスフィルタ
9 スペクトラム・アナライザ
Claims (4)
- 基準発振器と、
前記基準発振器と同期して発振する第1および第2の周波数コム発生器と、
前記第1の周波数コム発生器の出力信号を被測定光デバイスに入出力する手段と、
前記被測定光デバイスの出力信号及び前記第2の周波数コム発生器の出力信号を入力し、その差周波成分を出力する周波数変換器と、
前記周波数変換器の出力から所望の周波数成分のみを取り出す可変バンドパスフィルタと、
前記可変バンドパスフィルタの出力を検波する検出器と、
前記検出器の出力信号を表示し、記録する出力装置と
を具備したことを特徴とする光デバイスの周波数特性測定装置。 - 基準発振器と、
前記基準発振器と同期して発振する第1および第2の周波数コム発生器と、
前記第1の周波数コム発生器の出力信号を被測定光デバイスに入出力する手段と、
前記被測定光デバイスの出力信号及び前記第2の周波数コム発生器の出力信号を入力し、その差周波成分を出力する周波数変換器と、
前記周波数変換器の出力をスペクトルとして表示するスペクトラム・アナライザと
を具備したことを特徴とする光デバイスの周波数特性測定装置。 - 前記被測定光デバイスに入出力する手段のうちの入力手段は、モノリシック集積レーザ・電界吸収型光変調器であることを特徴とする請求項1または2に記載の光デバイスの周波数特性測定装置。
- 前記被測定光デバイスに入出力する手段のうちの入力手段は、印加電圧対透過率特性において変曲点に電圧バイアスされたモノリシック集積レーザ・電界吸収型光変調器であることを特徴とする請求項1または2に記載の光デバイスの周波数特性測定装置。
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