JP2014003374A - Detection device and detection method - Google Patents

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幸伸 牧原
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a detection device that shortens the period of detecting an operation input.SOLUTION: The detection device includes a detection section 30 for detecting, from a panel (10) in which an electromagnetic change occurs in the position where an object of detection is in contact with or in proximity to a detection surface, a signal Vs depending on the electromagnetic change. The detection section 30 has delay elements 35 connected in series, and outputs data depending on delayed data (out1 to out64) from the respective delay elements 35 based on the signal Vs input thereinto, as data determinative of whether or not there is contact with or proximity to the detection surface.

Description

本発明は、電磁気的な変化により操作入力を検出する検出装置、および、検出方法に関する。   The present invention relates to a detection apparatus and a detection method for detecting an operation input by an electromagnetic change.

指先や専用のペン等による平面の接触位置を検出するタッチパネル、タッチスクリーン、タッチパッド等の検出装置が、コンピュータを操作するためのポインティングデバイスとして利用されている。例えば、特許文献1には、検出電極の浮遊容量と検出電極の抵抗とでCR時定数回路を形成し、検出電極の浮遊容量を、一定の時間比の休止期間をおいて充電若しくは放電制御し、検出電極に接近する入力操作により微小に増加する浮遊容量は、検出電極の電位がしきい電位に達するまでの経過時間を拡大させて検出することにより検出できることが静電容量式タッチパネルが開示されている。   Detection devices such as a touch panel, a touch screen, and a touch pad that detect a planar contact position with a fingertip, a dedicated pen, or the like are used as pointing devices for operating a computer. For example, in Patent Document 1, a CR time constant circuit is formed by the stray capacitance of the detection electrode and the resistance of the detection electrode, and the charge or discharge of the stray capacitance of the detection electrode is controlled with a certain period of rest period. A capacitive touch panel is disclosed that stray capacitance, which increases slightly due to an input operation approaching the detection electrode, can be detected by increasing the elapsed time until the potential of the detection electrode reaches the threshold potential. ing.

特開2011−186509号公報JP 2011-186509 A

しかしながら、特許文献1の技術では、充放電時間をPWM信号による間欠制御で拡大計測しているため、PWM信号の生成および時間計測の分解能がクロック周波数に依存し、操作入力を検出する周期が長くなるという問題があった。   However, in the technique of Patent Document 1, since the charge / discharge time is enlarged and measured by intermittent control using a PWM signal, the resolution of PWM signal generation and time measurement depends on the clock frequency, and the period for detecting an operation input is long. There was a problem of becoming.

そこで、本発明は上記の問題点等に鑑みて為されたもので、その課題の一例は、操作入力を検出する検出周期を短縮した検出装置等を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made in view of the above-described problems and the like, and an example of the problem is to provide a detection device or the like with a reduced detection cycle for detecting an operation input.

上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、検出対象が検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を生じるパネルから、当該電磁気的変化に応じた信号を検出する検出部を備え、前記検出部が、直列に接続された遅延素子を有し、前記検出面に接触または近接したか否かを判定するためのデータとして、前記信号を入力とする前記各遅延素子からの遅延データに応じたデータを出力することを特徴とする。   In order to solve the above problems, the invention according to claim 1 is a detection that detects a signal corresponding to an electromagnetic change from a panel that generates an electromagnetic change at a position where a detection target is in contact with or close to the detection surface. From each delay element that receives the signal as data for determining whether or not the detection unit has a delay element connected in series and is in contact with or close to the detection surface. Data corresponding to the delayed data is output.

また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の検出装置において、前記パネルに電圧を印加する電圧印加部を更に備え、前記検出部が、前記電圧印加部の電圧の印加による前記信号を検出することを特徴とする。   The invention according to claim 2 is the detection device according to claim 1, further comprising a voltage applying unit that applies a voltage to the panel, wherein the detecting unit is configured to apply the voltage of the voltage applying unit. A signal is detected.

また、請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の検出装置において、前記信号が、前記電圧印加部の電圧の印加による過渡応答の信号であって、前記検出部が、前記過渡応答を検出することを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the detection device according to the second aspect, the signal is a signal of a transient response due to application of a voltage of the voltage application unit, and the detection unit includes the transient response. Is detected.

また、請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の検出装置において、前記検出部が、前記過渡応答の電圧値が所定の閾値を超えた場合に、前記過渡応答を検出することを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, in the detection device according to the third aspect, the detection unit detects the transient response when a voltage value of the transient response exceeds a predetermined threshold value. Features.

また、請求項5に記載の発明は、請求項1から4のいずれか1項に記載の検出装置において、前記検出部が、前記各遅延素子からの遅延データと比較するための基準データを記憶するレジスタを更に有し、前記検出部が、前記各遅延素子からの遅延データと前記基準データとの差分データを出力することを特徴とする。   According to a fifth aspect of the present invention, in the detection device according to any one of the first to fourth aspects, the detection unit stores reference data for comparison with the delay data from the delay elements. And a detection unit that outputs differential data between the delay data from each delay element and the reference data.

また、請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の検出装置において、前記レジスタが、前記基準データとして、前記各遅延素子からの過去の遅延データを記憶することを特徴とする。   According to a sixth aspect of the present invention, in the detection device according to the fifth aspect, the register stores past delay data from the delay elements as the reference data.

また、請求項7に記載の発明は、請求項1から6のいずれか1項に記載の検出装置において、前記遅延素子が、インバータ素子から構成されたことを特徴とする。   According to a seventh aspect of the present invention, in the detection device according to any one of the first to sixth aspects, the delay element includes an inverter element.

また、請求項8に記載の発明は、請求項1から7のいずれか1項に記載の検出装置において、前記パネルが、静電容量方式のパネルであることを特徴とする。   According to an eighth aspect of the present invention, in the detection apparatus according to any one of the first to seventh aspects, the panel is a capacitive panel.

また、請求項9に記載の発明は、請求項2から8のいずれか1項に記載の検出装置において、前記電圧印加部が、前記パネルの検出面に沿って複数の電極が並列に配置された第1電極の各電極に所定の周期で順に電圧を印加し、前記検出部が、前記第1電極と交差する方向に複数の電極が並列に配置された第2電極からの前記信号を検出することを特徴とする。   The invention according to claim 9 is the detection device according to any one of claims 2 to 8, wherein the voltage application unit includes a plurality of electrodes arranged in parallel along the detection surface of the panel. A voltage is sequentially applied to each electrode of the first electrode in a predetermined cycle, and the detection unit detects the signal from the second electrode in which a plurality of electrodes are arranged in parallel in a direction intersecting the first electrode. It is characterized by doing.

また、請求項10に記載の発明は、請求項1から9のいずれか1項に記載の検出装置において、前記検出部からの出力に基づき、前記検出面に接触または近接したか否かを判定する判定部を更に備えたことを特徴とする。   In the detection device according to any one of claims 1 to 9, it is determined whether or not the detection device is in contact with or close to the detection surface based on an output from the detection unit. It is characterized by further comprising a determination unit for

また、請求項11に記載の発明は、検出対象が検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を生じるパネルにおける接触を検出する検出装置の検出方法において、直列に接続された遅延素子を有し、当該各遅延素子からの遅延データに応じたデータを出力する検出部が、前記パネルから前記電磁気的変化を検出するための信号を検出する検出ステップと、前記検出部からの出力が入力される判定部が、前記信号を入力とした前記検出部からの出力に基づき、前記検出面に接触または近接したか否かを判定する判定ステップと、を含むことを特徴とする。   According to an eleventh aspect of the present invention, there is provided a detection method of a detection apparatus for detecting contact on a panel that causes an electromagnetic change at a position where a detection target is in contact with or close to a detection surface, and includes delay elements connected in series. A detection unit that outputs data corresponding to the delay data from each delay element detects a signal for detecting the electromagnetic change from the panel, and an output from the detection unit is input. And a determination step of determining whether or not the detection unit is in contact with or close to the detection surface based on an output from the detection unit that receives the signal.

本発明によれば、各遅延素子の遅延時間の間隔の分解能で信号を検出できるため、操作入力を検出する周期を短縮できる。   According to the present invention, since the signal can be detected with the resolution of the delay time interval of each delay element, the period for detecting the operation input can be shortened.

本発明の実施形態に係る検出装置の概要構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the example of a schematic structure of the detection apparatus which concerns on embodiment of this invention. 図1の検出部の概要構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the example of a schematic structure of the detection part of FIG. 図2のタイムデジタイザの概要構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the example of a schematic structure of the time digitizer of FIG. 図3の遅延素子の概要構成例を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram illustrating a schematic configuration example of a delay element in FIG. 3. 図2のタイムデジタイザの出力の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the output of the time digitizer of FIG. 図1の検出装置の動作例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the operation example of the detection apparatus of FIG. 図2のタイムデジタイザの出力の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the output of the time digitizer of FIG. 図2のタイムデジタイザの出力の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the output of the time digitizer of FIG. 差分データの一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of difference data. 本実施形態と従来技術との比較の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of a comparison with this embodiment and a prior art.

以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、検出装置に対して本発明を適用した場合の実施形態である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, embodiment described below is embodiment at the time of applying this invention with respect to a detection apparatus.

[1.検出装置の構成および機能の概要] [1. Overview of detection device configuration and functions]

まず、本発明の一実施形態に係る検出装置の構成および概要機能について、図1から図5を用いて説明する。   First, the configuration and outline function of a detection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

図1は、本発明の実施形態に係る検出装置の概要構成例を示すブロック図である。図2は、検出部の概要構成例を示すブロック図である。図3は、タイムデジタイザの概要構成例を示すブロック図である。図4は、遅延素子の概要構成例を示すブロック図である。図5は、タイムデジタイザの出力の一例を示す模式図である。   FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration example of a detection apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a block diagram illustrating a schematic configuration example of the detection unit. FIG. 3 is a block diagram illustrating a schematic configuration example of the time digitizer. FIG. 4 is a block diagram illustrating a schematic configuration example of the delay element. FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of the output of the time digitizer.

図1に示すように、検出装置1は、人の指等の検出対象が検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を生じるパネル部10と、パネル部10に電圧を印加する電圧印加部20と、電圧印加部20の印加電圧による応答の信号(電磁気的変化に応じた信号の一例)を検出する検出部30と、電圧印加部20および検出部30を制御する制御部40と、を備える。   As shown in FIG. 1, the detection device 1 includes a panel unit 10 that generates an electromagnetic change at a position where a detection target such as a human finger is in contact with or close to the detection surface, and a voltage application unit that applies a voltage to the panel unit 10. 20, a detection unit 30 that detects a response signal (an example of a signal corresponding to an electromagnetic change) due to an applied voltage of the voltage application unit 20, and a control unit 40 that controls the voltage application unit 20 and the detection unit 30. Prepare.

パネル部10は、例えば、タッチパネルであり、検出対象が検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を検知するタッチセンサと、画像を表示する表示パネルと、を有する。パネル部10のタッチセンサは、表示パネルの上層に配置され、タッチセンサの表面は、パネル部10の検出面を形成する。   The panel unit 10 is, for example, a touch panel, and includes a touch sensor that detects an electromagnetic change at a position where a detection target is in contact with or close to the detection surface, and a display panel that displays an image. The touch sensor of the panel unit 10 is disposed on the upper layer of the display panel, and the surface of the touch sensor forms a detection surface of the panel unit 10.

パネル部10のタッチセンサは、例えば、静電容量方式であり、図1に示すように、x方向に伸びた電極がパネル部10の検出面に沿ってy方向に並列に配置された第1電極11と、y方向に伸びた電極がパネル部10の検出面に沿ってx方向に並列に配置された第2電極12と、例えば、第1電極11と第2電極12との間に配置されたシート状の誘電体と、を有する。第1電極11は、電圧印加部20に接続され、駆動電極の機能を有する。第2電極12は、検出部30に接続され、検出電極の機能を有する。第1電極11および第2電極12の電極は、例えば、酸化インジウム錫等の透明電極である。   The touch sensor of the panel unit 10 is, for example, a capacitive type, and a first electrode in which electrodes extending in the x direction are arranged in parallel in the y direction along the detection surface of the panel unit 10 as shown in FIG. An electrode 11 and an electrode extending in the y direction are arranged between the second electrode 12 arranged in parallel in the x direction along the detection surface of the panel unit 10, for example, between the first electrode 11 and the second electrode 12. Sheet-like dielectric. The 1st electrode 11 is connected to the voltage application part 20, and has a function of a drive electrode. The second electrode 12 is connected to the detection unit 30 and has a function of a detection electrode. The electrodes of the first electrode 11 and the second electrode 12 are, for example, transparent electrodes such as indium tin oxide.

第1電極11の各電極は、y方向に第1行から順に並列に配置されている。第2電極12の各電極は、x方向(第1電極の電極と交差する方向の一例)に第1列から順に並列に配置されている。そして、パネル部10のタッチセンサにおいて、指等が接近または接触した位置における第1電極11の電極と第2電極12の電極との間の静電容量が変化する(電磁気的変化の一例)。静電容量が変化した、第1電極11の電極の行番号と第2電極12の電極の列番号とから、指等が接近または接触した位置が特定できる。互いに交差する第1電極11の電極と第2電極12の電極とが、交差した位置における検出電極を形成する。   The respective electrodes of the first electrode 11 are arranged in parallel in order from the first row in the y direction. Each electrode of the second electrode 12 is arranged in parallel in order from the first column in the x direction (an example of a direction intersecting with the electrode of the first electrode). And in the touch sensor of the panel part 10, the electrostatic capacitance between the electrode of the 1st electrode 11 and the electrode of the 2nd electrode 12 in the position where the finger | toe etc. approached or contacted changes (an example of an electromagnetic change). From the row number of the electrode of the first electrode 11 and the column number of the electrode of the second electrode 12 where the capacitance has changed, the position where the finger or the like approaches or contacts can be specified. The electrodes of the first electrode 11 and the second electrode 12 that intersect with each other form a detection electrode at the intersecting position.

電圧印加部20は、図1に示すように、パネル部10の第1電極11の各電極に接続されている。電圧印加部20は、第1電極11の各電極に対して、第1行の電極から順に、所定の周期で電圧を印加する。例えば、第1電極11のある行の電極に対して、充放電印加電圧Vinとして、ステップ電圧を印加し、電圧の印加を終了し、次の行の電極にステップ電圧を印加する。そして、最終行の電極まで電圧を印加したら、第1行の電極に戻り、ステップ電圧を印加する。このように、電圧印加部20は、第1行の電極から順に最終行の電極までのパネル部10に対する検出周期で、電圧を印加する。   As shown in FIG. 1, the voltage application unit 20 is connected to each electrode of the first electrode 11 of the panel unit 10. The voltage application unit 20 applies a voltage to each electrode of the first electrode 11 in order from the first row of electrodes in a predetermined cycle. For example, a step voltage is applied to the electrode in a row of the first electrode 11 as the charge / discharge applied voltage Vin, the voltage application is terminated, and the step voltage is applied to the electrode in the next row. When the voltage is applied up to the last row of electrodes, the step returns to the first row of electrodes and a step voltage is applied. As described above, the voltage application unit 20 applies a voltage in the detection cycle with respect to the panel unit 10 from the first row electrode to the last row electrode in order.

電圧印加部20によるステップ電圧の印加の過渡応答として、パネル部10は、第2電極12の各電極がパネルからの信号(以下、パネル信号と称する)(検出電圧Vs)を各々出力する。なお、パネル信号は、電磁気的変化に応じた信号の一例である。   As a transient response of application of the step voltage by the voltage application unit 20, the panel unit 10 outputs a signal (hereinafter referred to as a panel signal) (detection voltage Vs) from each panel of the second electrode 12 from the panel. The panel signal is an example of a signal corresponding to an electromagnetic change.

検出部30は、図2に示すように、パネル部10からの出力を受け付けるタイムデジタイザ31((Time to Digital Converter :TDC))と、タイムデジタイザ31の出力を記憶するレジスタ32と、を有する。検出部30は、パネル部10のタッチセンサに指等が接近または接触することによる浮遊容量の変化を検出する。   As shown in FIG. 2, the detection unit 30 includes a time digitizer 31 ((Time to Digital Converter: TDC)) that receives an output from the panel unit 10, and a register 32 that stores the output of the time digitizer 31. The detection unit 30 detects a change in stray capacitance caused by a finger or the like approaching or contacting the touch sensor of the panel unit 10.

なお、図2では、パネル部10の第1電極11のある電極と第2電極12のある電極とにおける検出抵抗Rsと検出電極容量Cs(浮遊容量)とによる等価回路が示されている。また、検出電極の浮遊容量Csは、例えば、10pF程の値であり、検出対象の接近により1から3pF程度変化する。また、検出抵抗Rsは、例えば、28kΩである。   FIG. 2 shows an equivalent circuit of the detection resistor Rs and the detection electrode capacitance Cs (floating capacitance) in the electrode having the first electrode 11 and the electrode having the second electrode 12 of the panel unit 10. The stray capacitance Cs of the detection electrode has a value of about 10 pF, for example, and changes by about 1 to 3 pF depending on the approach of the detection target. The detection resistor Rs is, for example, 28 kΩ.

各検出部30は、図1に示すように、パネル部10の第2電極12の各電極に接続されている。各検出部30は、パネル部10における各列の電極(第2電極12の各電極)からパネル信号を検出する。そして、各検出部30は、パネル部10における各行の電極(第1電極11の各電極)のうち印加されている行の位置に存在する第1電極11の電極と、検出部30が接続された列の位置の第2電極12の電極とが交差した位置におけるパネル信号を検出する。   As shown in FIG. 1, each detection unit 30 is connected to each electrode of the second electrode 12 of the panel unit 10. Each detection unit 30 detects a panel signal from each column of electrodes (each electrode of the second electrode 12) in the panel unit 10. And each detection part 30 is connected with the electrode of the 1st electrode 11 which exists in the position of the row currently applied among the electrodes (each electrode of the 1st electrode 11) of each line in panel part 10, and detection part 30 is connected. The panel signal at the position where the electrode of the second electrode 12 at the position of the row intersects is detected.

タイムデジタイザ31は、図3に示すように、遅延素子35が直列に接続された遅延線路から構成される。例えば、遅延素子35が64段接続されている。   As shown in FIG. 3, the time digitizer 31 includes a delay line in which delay elements 35 are connected in series. For example, 64 stages of delay elements 35 are connected.

なお、タイムデジタイザ31における遅延素子35の段数の設定は、遅延素子35の遅延時間、電圧印加部20の電圧印加によるパネル部10の過渡応答の時定数または緩和時間等に依存する。例えば、過渡応答を時間的に細かく検出したい場合、遅延素子35の遅延時間を短くし、遅延素子35の段数を多くする。また、過渡応答を長く検出したい場合、遅延素子35の段数を多くする。   The setting of the number of delay elements 35 in the time digitizer 31 depends on the delay time of the delay element 35, the time constant of the transient response of the panel unit 10 due to the voltage application of the voltage application unit 20, or the relaxation time. For example, when it is desired to detect the transient response in time, the delay time of the delay element 35 is shortened and the number of stages of the delay element 35 is increased. Further, when it is desired to detect the transient response for a long time, the number of stages of the delay elements 35 is increased.

各遅延素子35は、図4に示すように、2個直列に接続したインバータ素子36を有する。各遅延素子35のタイムラグ(単位遅延時間)τbは、例えば、2n秒である。インバータ素子36は、NOTの論理素子で、入力電圧が、閾値電圧Vsh(論理閾値電圧)を超えると、Lowの電圧(論理レベル”0”)からHiの電圧(論理レベル”1”)を出力する。インバータ素子36の回路素子がCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)の場合、電源電圧Vddに対して、閾値電圧Vshは、0.7Vdd程である。タイムデジタイザ入力の閾値電圧Vshは、インバータ素子36の閾値電圧Vshとなる。なお、タイムデジタイザ31の前段にコンパレータを設け、タイムデジタイザ入力の閾値電圧を設定してもよい。また、インバータ素子36の数は、偶数とは限らず、奇数個でもよく、この場合、出力は反転する(論理レベル”0”を出力する)。   Each delay element 35 includes two inverter elements 36 connected in series as shown in FIG. The time lag (unit delay time) τb of each delay element 35 is, for example, 2 n seconds. The inverter element 36 is a NOT logic element, and when the input voltage exceeds the threshold voltage Vsh (logic threshold voltage), the Hi voltage (logic level “1”) is output from the Low voltage (logic level “0”). To do. When the circuit element of the inverter element 36 is a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor), the threshold voltage Vsh is about 0.7 Vdd with respect to the power supply voltage Vdd. The threshold voltage Vsh of the time digitizer input becomes the threshold voltage Vsh of the inverter element 36. Note that a comparator may be provided in the preceding stage of the time digitizer 31 to set the threshold voltage of the time digitizer input. The number of inverter elements 36 is not limited to an even number, and may be an odd number. In this case, the output is inverted (a logic level “0” is output).

なお、遅延素子35の遅延時間は、時間分解能の精度や、電圧印加部20の電圧印加によるパネル部10の過渡応答を計測する時間長、タイムデジタイザ31における遅延素子35の段数等により、設定される。また、インバータ素子の回路素子は、TTL(Transistor-Transistor-Logic)でもよい。遅延素子35は、フリップフロップ回路から構成されてもよい。   The delay time of the delay element 35 is set according to the accuracy of time resolution, the time length for measuring the transient response of the panel unit 10 due to the voltage application of the voltage application unit 20, the number of stages of the delay element 35 in the time digitizer 31, and the like. The The circuit element of the inverter element may be TTL (Transistor-Transistor-Logic). The delay element 35 may be composed of a flip-flop circuit.

パネル部10の第2電極12の電極に接続した遅延素子35(第1段目の遅延素子35)は、第2電極12の電極からのパネル信号の入力を受け付ける。図5に示すように、第1段目の遅延素子35は、タイムデジタイザ出力out1の遅延データを、レジスタ32と2段目の遅延素子35とに出力する。第1段目の遅延素子35は、検出抵抗Rsと検出容量Csとの過渡応答であるアナログ信号のパネル信号の電圧が、閾値電圧Vshを超えると、τb時間遅れたHiの電圧を出力する。   The delay element 35 (first-stage delay element 35) connected to the electrode of the second electrode 12 of the panel unit 10 receives an input of a panel signal from the electrode of the second electrode 12. As shown in FIG. 5, the first-stage delay element 35 outputs the delay data of the time digitizer output out1 to the register 32 and the second-stage delay element 35. When the voltage of the panel signal of the analog signal, which is a transient response between the detection resistor Rs and the detection capacitor Cs, exceeds the threshold voltage Vsh, the first-stage delay element 35 outputs a Hi voltage delayed by τb.

2段目の遅延素子35は、タイムデジタイザ出力out2の遅延データ(2×τb時間遅れたHiの電圧を有するデータ)を、レジスタ32と3段目の遅延素子35とに出力する。   The second-stage delay element 35 outputs the delay data of the time digitizer output out2 (data having Hi voltage delayed by 2 × τb time) to the register 32 and the third-stage delay element 35.

3段目の遅延素子35は、タイムデジタイザ出力out3の遅延データ(3×τb時間遅れたHiの電圧を有するデータ)を、レジスタ32と4段目の遅延素子35とに出力する。   The third-stage delay element 35 outputs the delay data of the time digitizer output out3 (data having a Hi voltage delayed by 3 × τb time) to the register 32 and the fourth-stage delay element 35.

最終段目の遅延素子35は、タイムデジタイザ出力out64の遅延データ(64×τb時間遅れたHiの電圧を有するデータ)を、レジスタ32に出力する。   The delay element 35 at the final stage outputs the delay data of the time digitizer output out64 (data having a voltage of Hi delayed by 64 × τb time) to the register 32.

各遅延素子35は、直列接続における段に応じたタイムラグτbの遅延データを出力する。タイムデジタイザ31は、各遅延素子35からレジスタ32に、64ビットの遅延データを出力する。タイムデジタイザは31、二値化信号の立ち上がりタイミングを高分解能(数10p秒オーダー)なデジタル値として瞬時に計測する。このように、論理回路の伝達遅延を利用して構成される単位遅延セルの遅延時間により分解能が決定する。   Each delay element 35 outputs delay data having a time lag τb corresponding to the stage in the serial connection. The time digitizer 31 outputs 64-bit delay data from each delay element 35 to the register 32. The time digitizer 31 instantly measures the rising timing of the binarized signal as a digital value with high resolution (in the order of several tens of ps). Thus, the resolution is determined by the delay time of the unit delay cell configured using the transmission delay of the logic circuit.

レジスタ32は、タイムデジタイザ31からの64ビットの遅延データを記憶する記憶素子と、前記各遅延素子からの遅延データと比較するための64ビットの基準データを記憶する基準データ記憶素子と、遅延データと基準データとの差分データを出力する差分素子と、を有する。ここで、レジスタ32は、各遅延素子からの遅延データと比較するための基準データを記憶するレジスタの一例として機能する。   The register 32 includes a storage element that stores 64-bit delay data from the time digitizer 31, a reference data storage element that stores 64-bit reference data for comparison with the delay data from each delay element, and delay data And a difference element that outputs difference data between the reference data and the reference data. Here, the register 32 functions as an example of a register that stores reference data for comparison with delay data from each delay element.

記憶素子および基準データ記憶素子は、データを記憶保持する半導体回路である。記憶素子に記憶される値は、タイムデジタイザ31の出力の値の変化に応じて変化する。制御部40からのホールド信号により、レジスタ32の記憶素子は、値を保持し、読み出す。   The storage element and the reference data storage element are semiconductor circuits that store and hold data. The value stored in the storage element changes according to the change in the output value of the time digitizer 31. In response to a hold signal from the control unit 40, the storage element of the register 32 holds and reads the value.

基準データ記憶素子は、第1電極の各電極の数、すなわち、パネル部10の電極の行数分である複数の基準データを記憶する。すなわち、検出部30が接続されたパネル部10の列の電極と交差するパネル部10の各行の電極に応じた基準データを記憶する。基準データ記憶素子は、例えば、検査周期における1周期前のタイムデジタイザ31からの遅延データを、基準データとして記憶している。   The reference data storage element stores a plurality of reference data corresponding to the number of electrodes of the first electrode, that is, the number of rows of electrodes of the panel unit 10. That is, the reference data corresponding to the electrode of each row of the panel unit 10 that intersects the electrode of the column of the panel unit 10 to which the detection unit 30 is connected is stored. The reference data storage element stores, for example, delay data from the time digitizer 31 one cycle before the inspection cycle as reference data.

差分素子は、例えば、NOTの論理演算と、積の論理演算をする回路から構成される。差分素子は、制御部40からのホールド信号を契機として、電圧が印加されている行の電極に対応する基準データと、遅延データとの差分データを算出する。レジスタ32は、差分データを制御部40に出力する。   The difference element is composed of, for example, a NOT logical operation and a product logical product circuit. The difference element calculates difference data between the reference data corresponding to the electrode of the row to which the voltage is applied and the delay data, triggered by the hold signal from the control unit 40. The register 32 outputs the difference data to the control unit 40.

制御部40は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等により構成されて、コンピュータして機能する。制御部40は、差分データに基づき、パネル部10の検出面に接触または近接したか否かを判定したり、差分データに基づき座標位置を算出したりするプログラムを有する。さらに、制御部40は、電圧印加部20によるパネル部10に対する充放電のタイミングや充放電の順序を制御したり、検出部30へのホールド信号により、検出のタイミング制御をしたりする。また、制御部40は、パネル部10の電極を走査する検出周期を決めたり、電圧印加部20と検出部30との同期をとったりするためのクロック信号を出力する。なお、制御部40におけるプログラム処理は、ハードウエアにより行ってもよい。   The control unit 40 includes a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), and the like, and functions as a computer. The control unit 40 has a program for determining whether or not the detection surface of the panel unit 10 is touched or approached based on the difference data, and calculating a coordinate position based on the difference data. Furthermore, the control unit 40 controls the charging / discharging timing and the charging / discharging order of the panel unit 10 by the voltage application unit 20, and controls the detection timing by a hold signal to the detection unit 30. In addition, the control unit 40 outputs a clock signal for determining a detection cycle for scanning the electrodes of the panel unit 10 and synchronizing the voltage application unit 20 and the detection unit 30. Note that the program processing in the control unit 40 may be performed by hardware.

制御部40は、算出した座標情報をメイン制御部(図示せず)に出力する。CPU、ROM、RAM等により構成されて、コンピュータして機能するメイン制御部は、座標情報に基づき、パネル部10の表示パネルの表示を変化させたり、指等により指示された処理を行ったりする。   The control unit 40 outputs the calculated coordinate information to a main control unit (not shown). A main control unit configured by a CPU, a ROM, a RAM, and the like and functioning as a computer changes the display on the display panel of the panel unit 10 based on the coordinate information or performs a process instructed by a finger or the like. .

制御部40は、信号を入力とした検出部からの出力に基づき、検出面に接触または近接したか否かを判定する判定部の一例として機能する。   The control unit 40 functions as an example of a determination unit that determines whether or not the detection surface is touched or approached based on an output from the detection unit that receives a signal.

[2.検出装置システムの動作]
次に、本発明の1実施形態に係る検出装置の動作について図6および図9を用いて説明する。
[2. Operation of the detection system]
Next, the operation of the detection apparatus according to one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

図6は、検出装置の動作例を示すフローチャートである。図7および図8は、のタイムデジタイザの出力の一例を示す模式図である。図9は、差分データの一例を示す模式図である。   FIG. 6 is a flowchart illustrating an operation example of the detection apparatus. 7 and 8 are schematic diagrams showing an example of the output of the time digitizer. FIG. 9 is a schematic diagram illustrating an example of difference data.

図6に示すように、検出装置1は、第1行の電極に電圧を印加する(ステップS1)。具体的には、電圧印加部20は、制御部40の制御に従い、パネル部10の第1電極11における第1行の電極にステップ電圧を印加する。例えば、図7に示すように、電圧印加部20は、充放電印加電圧Vinとして、ステップ電圧を印加する。なお、充放電印加電圧Vinの立ち上がり時刻をt0とする。また、他の行の電極に対する電圧印加は無いとする。   As shown in FIG. 6, the detection apparatus 1 applies a voltage to the electrodes in the first row (step S1). Specifically, the voltage application unit 20 applies a step voltage to the first row of electrodes in the first electrode 11 of the panel unit 10 under the control of the control unit 40. For example, as illustrated in FIG. 7, the voltage application unit 20 applies a step voltage as the charge / discharge application voltage Vin. The rising time of the charge / discharge applied voltage Vin is t0. Further, it is assumed that no voltage is applied to the electrodes in other rows.

次に、検出装置1は、パネル信号を出力する(ステップS2)。具体的には、パネル部10の第2電極12における各列の電極は、検出抵抗Rsと検出電極容量Csとの等価回路に対応するステップ応答のパネル信号を、各検出部30に出力する。例えば、図7に示すように、パネル部10は、検出抵抗Rsと検出電極容量Csとの対応した時定数τcrを有するステップ応答のパネル信号Vsを出力する。   Next, the detection apparatus 1 outputs a panel signal (step S2). Specifically, the electrodes in each column of the second electrodes 12 of the panel unit 10 output step response panel signals corresponding to an equivalent circuit of the detection resistor Rs and the detection electrode capacitance Cs to each detection unit 30. For example, as shown in FIG. 7, the panel unit 10 outputs a panel signal Vs having a step response having a time constant τcr corresponding to the detection resistor Rs and the detection electrode capacitance Cs.

次に、検出装置1は、パネル信号による遅延データを出力する(ステップS3)。具体的には、検出部30のタイムデジタイザ31は、パネル信号Vsの電圧が、閾値電圧Vshを超える前、各遅延素子35から論理レベル”0”のデータを出力する。すなわち、パネル信号による遅延データとして、64ビットが全て0であるout<1:64>=0([000・・・・・・・・・・・・000])を出力する。なお、非接触の場合、検出抵抗Rsと検出電極容量Csとの対応した時定数τcr(例えば、280n秒)より、便宜上、電源電圧Vddに対して、タイムデジタイザ入力の閾値電圧Vshを、例えば、0.632Vddとする。   Next, the detection apparatus 1 outputs delay data based on the panel signal (step S3). Specifically, the time digitizer 31 of the detection unit 30 outputs data of logic level “0” from each delay element 35 before the voltage of the panel signal Vs exceeds the threshold voltage Vsh. That is, out <1:64> = 0 ([000... 000]) in which all 64 bits are 0 is output as the delay data by the panel signal. In the case of non-contact, for the sake of convenience, the threshold voltage Vsh of the time digitizer input with respect to the power supply voltage Vdd is, for example, from the corresponding time constant τcr (for example, 280 nsec) between the detection resistor Rs and the detection electrode capacitance Cs. 0.632Vdd.

そして、パネル信号Vsの電圧が、閾値電圧Vshを超えた時間(例えば、t0から、非接触時の時定数τcr(280n秒)後)から、単位遅延時間τb後に、タイムデジタイザ31の第1段目の遅延素子35が論理レベル”1”のデータを出力する。すなわち、パネル信号による遅延データとして、out<1:1>=1,out<2:64>=0([100・・・・・・・・・・・・000])を出力する。   The first stage of the time digitizer 31 after the unit delay time τb from the time when the voltage of the panel signal Vs exceeds the threshold voltage Vsh (for example, after t0, after the time constant τcr (280 nsec) at the time of non-contact). The delay element 35 of the eye outputs data of logic level “1”. That is, out <1: 1> = 1, out <2:64> = 0 ([100..., 000]) is output as delay data by the panel signal.

一方、ユーザがパネル部10の検出面に対して操作入力を行うために、電圧が印加されている第1電極11の電極の近傍の検出面にユーザの指が接触または近接して、図8に示すように、検出電極容量Csが変化した場合、パネル信号Vsの電圧が、閾値電圧Vshを超えた時間(例えば、t0から、接触時の時定数τcr(308n秒)後)から、単位遅延時間τb後に、タイムデジタイザ31の第1段目の遅延素子35が論理レベル”1”のデータを出力する。なお、パネル部10の構成により、指等の検出対象がパネル部10の検出面に接触または近接して、時定数τcrが短くなる場合もある。   On the other hand, in order for the user to perform an operation input on the detection surface of the panel unit 10, the user's finger contacts or approaches the detection surface in the vicinity of the electrode of the first electrode 11 to which a voltage is applied. As shown in FIG. 5, when the detection electrode capacitance Cs changes, the unit delay from the time when the voltage of the panel signal Vs exceeds the threshold voltage Vsh (for example, after the time constant τcr (308 nsec) at the time of contact from t0). After time τb, the delay element 35 in the first stage of the time digitizer 31 outputs data of logic level “1”. Depending on the configuration of the panel unit 10, a detection target such as a finger may be in contact with or close to the detection surface of the panel unit 10, and the time constant τcr may be shortened.

閾値電圧Vshを超えた時間から、2×単位遅延時間τb後に、タイムデジタイザ31の第1段目および第2段目の遅延素子35が論理レベル”1”のデータを出力する。すなわち、パネル信号による遅延データとして、out<1:2>=1,out<3:64>=0([110・・・・・・・・・・・・000])を出力する。このように、単位遅延時間τb毎に、遅延データの値が変化していく。   After 2 × unit delay time τb from the time when the threshold voltage Vsh is exceeded, the first-stage and second-stage delay elements 35 of the time digitizer 31 output data of logic level “1”. That is, out <1: 2> = 1, out <3:64> = 0 ([110..., 000]) is output as delay data by the panel signal. Thus, the value of the delay data changes for each unit delay time τb.

このように、検出部30が、電圧印加部の電圧の印加による信号を検出する検出部の一例として機能する。また、検出部30が、電圧印加部の電圧の印加による過渡応答の信号を検出する検出部の一例として機能する。また、検出部が、過渡応答の電圧値が所定の閾値を超えた場合に、過渡応答を検出する検出部の一例として機能する。   Thus, the detection unit 30 functions as an example of a detection unit that detects a signal generated by applying a voltage from the voltage application unit. The detection unit 30 functions as an example of a detection unit that detects a signal of a transient response due to application of a voltage from the voltage application unit. The detection unit functions as an example of a detection unit that detects a transient response when the voltage value of the transient response exceeds a predetermined threshold.

このように、検出装置1は、直列に接続された遅延素子を有し、当該各遅延素子からの遅延データに応じたデータを出力する検出部がパネルから前記電磁気的変化を検出するための信号を検出する検出手段の一例として機能する。   As described above, the detection device 1 includes delay elements connected in series, and a detection unit that outputs data corresponding to the delay data from each delay element detects a signal for detecting the electromagnetic change from the panel. Functions as an example of a detecting means for detecting.

次に、検出装置1は、所定時間後の遅延データを読み出す(ステップS4)。制御部40が、所定時間th後、ホールド信号を検出部30に送信し、検出部30のレジスタ32は、タイムデジタイザ31からの64ビットの遅延データを読み出す。例えば、立ち上がり時刻t0から所定時間th(=400n秒)後に、レジスタ32は、タイムデジタイザ31の64ビットの遅延データを読み出す。   Next, the detection apparatus 1 reads delay data after a predetermined time (step S4). The control unit 40 transmits a hold signal to the detection unit 30 after a predetermined time th, and the register 32 of the detection unit 30 reads the 64-bit delay data from the time digitizer 31. For example, after a predetermined time th (= 400 n seconds) from the rising time t0, the register 32 reads the 64-bit delay data of the time digitizer 31.

指等の検出対象が、パネル部10の検出面において、電圧を印加している行の電極と、検出部30が接続された列の電極との交差する付近に接触または近接していない場合、図7に示すように、レジスタ32は、パネル信号による遅延データとして、out<1:60>=1,out<61:64>=0([11111111111・・・・・・・・・・・・111110000])の64ビットの遅延データを読み出す。   When the detection target such as a finger is not in contact with or close to the vicinity of the intersection of the electrode of the row to which the voltage is applied and the electrode of the column to which the detection unit 30 is connected on the detection surface of the panel unit 10, As shown in FIG. 7, the register 32 outputs out <1:60> = 1, out <61:64> = 0 ([11111111111... 111110000]) is read.

一方、指等の検出対象が、パネル部10の検出面において、電圧を印加している行の電極と、検出部30が接続された列の電極との交差する付近に接触または近接している場合、図8に示すように、レジスタ32は、パネル信号による遅延データとして、out<1:46>=1,out<47:64=0>([11111・・・・・・11000000000000000000])の64ビットの遅延データを読み出す。   On the other hand, the detection target such as a finger is in contact with or close to the vicinity of the intersection of the electrode of the row to which the voltage is applied and the electrode of the column to which the detection unit 30 is connected on the detection surface of the panel unit 10. In this case, as shown in FIG. 8, the register 32 stores out <1:46> = 1, out <47: 64 = 0> ([11111... 11000000000000000000]) as delay data by the panel signal. Read 64-bit delay data.

次に、検出装置1は、差分データを算出し、出力する(ステップS5)。具体的には、検出部30のレジスタ32は、電圧を印加している行の電極に対応するレジスタ32の基準データ記憶素子から基準データを読み出す。すなわち、レジスタ32は、パネル部10を第1行の電極から最終行の電極まで走査する検出周期において、1検出周期前の遅延データを、基準データとして読み出す。   Next, the detection apparatus 1 calculates and outputs difference data (step S5). Specifically, the register 32 of the detection unit 30 reads the reference data from the reference data storage element of the register 32 corresponding to the electrode of the row to which the voltage is applied. That is, the register 32 reads out the delay data one detection cycle before as the reference data in the detection cycle in which the panel unit 10 is scanned from the first row electrode to the last row electrode.

そして、レジスタ32は、64ビットの基準データと、遅延データとの差分である64ビットの差分データを算出し、制御部40に出力する。例えば、レジスタ32が、遅延データのNOTを計算し、NOTの遅延データと、基準データとの論理積を算出する。そして、制御部40は、各検出部30から差分データを取得する。   Then, the register 32 calculates 64-bit difference data that is the difference between the 64-bit reference data and the delay data, and outputs the difference data to the control unit 40. For example, the register 32 calculates NOT of the delay data, and calculates a logical product of the NOT delay data and the reference data. Then, the control unit 40 acquires difference data from each detection unit 30.

なお、差分データは、遅延データに応じたデータの一例である。また、検出部30は、遅延データを制御部40に出力して、制御部40が差分データを算出してもよい。この場合、制御部40がレジスタ32の代わりに、基準データを記憶する。   The difference data is an example of data corresponding to the delay data. The detection unit 30 may output delay data to the control unit 40, and the control unit 40 may calculate difference data. In this case, the control unit 40 stores reference data instead of the register 32.

図9に示すように、例えば、指等の検出対象が、パネル部10の検出面において、電圧を印加している行の電極と、検出部30が接続された列の電極との交差する付近に接触または近接していない場合、差分データとして、out<1:64>=0([000・・・・・・・・・・・・000])を算出する。   As shown in FIG. 9, for example, a detection target such as a finger is in the vicinity of an intersection of a row electrode to which a voltage is applied and a column electrode to which the detection unit 30 is connected on the detection surface of the panel unit 10. If it is not in contact with or in close proximity, out <1:64> = 0 ([000... 000]) is calculated as difference data.

一方、図9に示すように、例えば、指等の検出対象が、パネル部10の検出面において、電圧を印加している行の電極と、検出部30が接続された列の電極との交差する付近に接触または近接している場合、差分データとして、out<1:46>=0,out<47:60>=1,out<61:64>=0([000・・・・・001111111110000])を算出する。   On the other hand, as shown in FIG. 9, for example, a detection target such as a finger intersects an electrode in a row to which a voltage is applied and an electrode in a column to which the detection unit 30 is connected on the detection surface of the panel unit 10. If you are in contact with or close to the vicinity, out <1:46> = 0, out <47:60> = 1, out <61:64> = 0 ([000 ... 001111111110000 ]).

次に、レジスタ32は、差分データを算出した後、読み出した遅延データを、電圧を印加している行の電極に対応するレジスタ32の基準データ記憶素子に記憶する。読み出した遅延データは、次の検出周期における1検出周期前の遅延データとなる。このように、レジスタ32が、基準データとして、各遅延素子からの過去の遅延データを記憶するレジスタの一例として機能する。   Next, after calculating the difference data, the register 32 stores the read delay data in the reference data storage element of the register 32 corresponding to the electrode of the row to which the voltage is applied. The read delay data becomes the delay data one detection cycle before the next detection cycle. As described above, the register 32 functions as an example of a register that stores past delay data from each delay element as reference data.

このように、検出部30が、検出面に接触または近接したか否かを判定するためのデータとして、信号を入力とする各遅延素子からの遅延データに応じたデータを出力する検出部の一例として機能する。   As described above, an example of a detection unit that outputs data corresponding to delay data from each delay element that receives a signal as data for determining whether or not the detection unit 30 has touched or approached the detection surface. Function as.

次に、検出装置1は、所定数以上か否かを判定する(ステップS6)。具体的には、制御部40は、各検出部30から取得した各差分データに対して、差分データのうち、”1”であるビットの数をカウントし、所定数以上か否かを判定する。カウント数が、所定数以上の場合、指等の検出対象が、パネル部10の検出面に接触または近接したとし、カウント数が所定数に達しない場合、指等の検出対象が、パネル部10の検出面に接触または近接していないとする。なお、差分データの”1”であるビットの数は、遅延素子35の幾つ分、遅延データと基準データとでずれているかを示している。   Next, the detection apparatus 1 determines whether or not it is a predetermined number or more (step S6). Specifically, the control unit 40 counts the number of bits that are “1” in the difference data for each difference data acquired from each detection unit 30, and determines whether or not the number is equal to or greater than a predetermined number. . When the count number is equal to or greater than the predetermined number, it is assumed that the detection target such as a finger is in contact with or close to the detection surface of the panel unit 10, and when the count number does not reach the predetermined number, the detection target such as a finger is Suppose that they are not in contact with or close to the detection surface. Note that the number of bits of “1” in the difference data indicates how many of the delay elements 35 are shifted between the delay data and the reference data.

このように、検出装置1は、検出部からの出力が入力される判定部が、信号を入力とした検出部からの出力に基づき、前記検出面に接触または近接したか否かを判定する判定手段の一例として機能する。   As described above, the detection device 1 determines whether or not the determination unit to which the output from the detection unit is input is in contact with or close to the detection surface based on the output from the detection unit that receives the signal. It functions as an example of means.

所定数以上ならば(ステップS6;YES)、検出装置1は、接触位置を算出する(ステップS7)。具体的には、制御部40は、電圧印加部20が電圧を印加している第1電極11の電極の行番号と、カウント数が所定数以上となった差分データを出力した検出部30と接続している第2電極12の列番号とから、パネル部10における接触位置を算出する。カウント数が所定数以上となった差分データを出力した検出部30が複数の場合、制御部40は、複数の接触位置を算出する。   If the number is greater than or equal to the predetermined number (step S6; YES), the detection apparatus 1 calculates the contact position (step S7). Specifically, the control unit 40 outputs the row number of the electrode of the first electrode 11 to which the voltage application unit 20 is applying a voltage, and the detection unit 30 that outputs the difference data whose count number is equal to or greater than a predetermined number. The contact position in the panel unit 10 is calculated from the column number of the connected second electrode 12. When there are a plurality of detection units 30 that output differential data whose count number is equal to or greater than a predetermined number, the control unit 40 calculates a plurality of contact positions.

そして、制御部40は、接触位置の情報をメイン制御部に出力する。   And the control part 40 outputs the information of a contact position to a main control part.

ステップS7で接触位置を算出した後、または、所定数以上でない場合(ステップS6;NO)、検出装置1は、電源がONか否かを判定する(ステップS8)。具体的には、制御部40は、検出装置1を含むタッチパネルの電源がONか否かを判定する。   After calculating the contact position in step S7, or when the contact position is not greater than or equal to the predetermined number (step S6; NO), the detection device 1 determines whether or not the power is ON (step S8). Specifically, the control unit 40 determines whether the power of the touch panel including the detection device 1 is ON.

電源がONの場合(ステップS8;YES)、検出装置1は、最後の行の電極か否かを判定する(ステップS9)。具体的には、制御部40は、電圧印加部20による電圧の印加が、第1電極11の電極のうち、最後の行の電極か否かを判定する。   When the power is ON (step S8; YES), the detection apparatus 1 determines whether or not the electrode is in the last row (step S9). Specifically, the control unit 40 determines whether or not the voltage application by the voltage application unit 20 is an electrode in the last row among the electrodes of the first electrode 11.

電源がOFFの場合(ステップS8;NO)、検出装置1は、処理を終了する。   When the power is OFF (step S8; NO), the detection device 1 ends the process.

最後の行の電極である場合(ステップS9;YES)、検出装置1は、ステップS1に戻り処理を行う。また、検出装置1は、パネル部10の検出面に接触または近接した位置の座標情報を、メイン制御部に送信する。   When it is the electrode of the last line (step S9; YES), the detection apparatus 1 returns to step S1, and performs a process. Moreover, the detection apparatus 1 transmits the coordinate information of the position which contacted or approached the detection surface of the panel part 10 to a main control part.

最後の行の電極でない場合(ステップS9;NO)、検出装置1は、次の行の電極に印加する(ステップS10)。具体的には、制御部40のクロック信号のクロック周波数において、制御部40の制御に従い、電圧印加部20が、1クロック分、ステップ電圧で検出電極容量Csに充電し始め、4クロック分、放電した後に、パネル部10の第1電極11における次の行の電極にステップ電圧を印加する。例えば、クロック周波数が2.5MHzの場合、1電極当たりの検出周期を5クロック分とすると、検出周期は2μ秒となる。パネル部10全体を走査する検出周期は、第1電極11の各電極の行数×2μ秒となる。   When it is not the electrode of the last row (step S9; NO), the detection apparatus 1 applies to the electrode of the next row (step S10). Specifically, at the clock frequency of the clock signal of the control unit 40, according to the control of the control unit 40, the voltage application unit 20 starts charging the detection electrode capacitor Cs with a step voltage for one clock, and discharges for four clocks. After that, a step voltage is applied to the next row of electrodes in the first electrode 11 of the panel unit 10. For example, when the clock frequency is 2.5 MHz, if the detection cycle per electrode is 5 clocks, the detection cycle is 2 μs. The detection cycle for scanning the entire panel unit 10 is the number of rows of each electrode of the first electrode 11 × 2 μsec.

次に、検出装置1は、ステップS2の処理を行う。   Next, the detection apparatus 1 performs the process of step S2.

メイン制御部は、検出装置1からの座標情報に基づき、パネル部10の表示パネルの表示を変化させたり、指等により指示された処理を行ったりする。   Based on the coordinate information from the detection device 1, the main control unit changes the display on the display panel of the panel unit 10 or performs processing instructed by a finger or the like.

以上、本実施形態によれば、検出対象が検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を生じるパネル部10から、パネル部10の電磁気的変化に応じたパネル信号Vsを検出する検出部30を備え、検出部30が、直列に接続された遅延素子35を有し、パネル部10の検出面に接触または近接したか否かを判定するためのデータとして、パネル信号Vsを入力とする各遅延素子35からの遅延データ(out1からout64)に応じたデータを出力する。従って、各遅延素子35の遅延時間の間隔の分解能でパネル信号Vsを検出できるため、操作入力を検出する周期を短縮できる。   As described above, according to the present embodiment, the detection unit 30 that detects the panel signal Vs corresponding to the electromagnetic change of the panel unit 10 from the panel unit 10 that generates an electromagnetic change at a position where the detection target is in contact with or close to the detection surface. The detection unit 30 includes delay elements 35 connected in series, and receives each panel signal Vs as data for determining whether or not the detection unit 30 is in contact with or close to the detection surface of the panel unit 10. Data corresponding to the delay data (out1 to out64) from the delay element 35 is output. Therefore, since the panel signal Vs can be detected with the resolution of the delay time interval of each delay element 35, the cycle for detecting the operation input can be shortened.

例えば、図10に示すように、クロック信号の1クロックの間において、直列に接続された遅延素子35の遅延時間の間隔の分解能でパネル信号Vsを検出できる。そのため、非接触時の時定数が小さく、応答波形の立ち上がりが速い過渡応答において、接触等により時定数が変化しても、検出装置1は、時定数の変化を検出できる。   For example, as shown in FIG. 10, the panel signal Vs can be detected with the resolution of the delay time interval of the delay elements 35 connected in series during one clock of the clock signal. Therefore, in a transient response in which the time constant at the time of non-contact is small and the response waveform rises quickly, even if the time constant changes due to contact or the like, the detection device 1 can detect the change in the time constant.

なお、図10において、パネル信号Vcが、特許文献1の技術による過渡応答を模式的に示している。特許文献1の技術では、検出抵抗Rsを大きくして、図10に示すように、時定数が大きくなるようにする必要がある。しかも、特許文献1の技術では、クロック幾つ分なのかをカウントして検出しているため、パネル信号の検出が遅くなる。   In FIG. 10, the panel signal Vc schematically shows a transient response according to the technique of Patent Document 1. In the technique of Patent Document 1, it is necessary to increase the detection resistance Rs so that the time constant increases as shown in FIG. Moreover, in the technique of Patent Document 1, since the number of clocks is counted and detected, the detection of the panel signal is delayed.

一方、本実施形態では、クロック信号の1クロックの中においてでも、遅延時間が短い遅延素子が直列に接続されたタイムデジタイザ31により、パネル信号を検出しているので、検出速度が高速になる。すなわち、電磁気的変化の検出時間を短縮できる。   On the other hand, in the present embodiment, the panel signal is detected by the time digitizer 31 in which delay elements having a short delay time are connected in series even in one clock of the clock signal, so that the detection speed is increased. That is, the detection time of electromagnetic change can be shortened.

また、抵抗値が小さな検出抵抗Rsにすることができ、パネル部10の第1電極11および第2電極12における時定数を小さく設計することができ、立ち上がりが速い過渡応答を検出できる。さらに、検出抵抗Rsが抵抗値を小さくできるので、検出電極容量Csの放電時間が速くなり、放電の時間を短くでき、検出周期を短縮することができる。また、大きな検出抵抗を必要としないため、電圧印加部20への負担を抑制することができる。   Further, the detection resistance Rs having a small resistance value can be set, the time constants of the first electrode 11 and the second electrode 12 of the panel unit 10 can be designed to be small, and a transient response with a fast rise can be detected. Furthermore, since the detection resistor Rs can reduce the resistance value, the discharge time of the detection electrode capacitance Cs can be shortened, the discharge time can be shortened, and the detection cycle can be shortened. Moreover, since a large detection resistor is not required, the burden on the voltage application unit 20 can be suppressed.

また、特許文献1の技術とは異なり、検出速度がクロック信号のクロック周波数に依存しない。従って、タイムデジタイザ31による時間計測は分解能が、クロック周波数に依存しないため、高速で高い分解能を実現することができる。   Unlike the technique of Patent Document 1, the detection speed does not depend on the clock frequency of the clock signal. Accordingly, since the time measurement by the time digitizer 31 does not depend on the clock frequency, the time measurement can realize high resolution at high speed.

さらに、検出周期を高速化することができるので、パネル部10の第1電極11の電極の行数、および第2電極12の電極の列数を増加することができ、パネル部10の検出面の大型化を図ることができる。   Furthermore, since the detection cycle can be increased, the number of electrode rows of the first electrode 11 and the number of electrode columns of the second electrode 12 of the panel unit 10 can be increased. Can be increased in size.

図10の図中太線を非接触の場合で、図中破線を接触等の場合を示している。図10に示すように、より微小な静電容量変化(手袋を装着してのタッチ操作等)の検出も可能となる。なお、接触等により時定数が短くなるか長くなるかは、パネル部10のタイプによる。   The thick line in FIG. 10 indicates a non-contact case, and the broken line in the drawing indicates a contact case. As shown in FIG. 10, it is possible to detect a smaller change in capacitance (such as a touch operation with a glove). Whether the time constant becomes shorter or longer due to contact or the like depends on the type of the panel unit 10.

また、タイムデジタイザ31の遅延素子35は、2値化信号の立ち上がりタイミングを高分解能(数10p秒オーダー)なデジタル値として瞬時に計測することができる。   The delay element 35 of the time digitizer 31 can instantaneously measure the rising timing of the binarized signal as a digital value with high resolution (in the order of several tens of ps).

また、アナログ信号のパネル信号Vsをデジタル信号の遅延データに変換するので、制御部40による判定が容易になる。検出部30から制御部40において、ノイズに対して頑健になり、正確な接触等の判定ができる。   Further, since the panel signal Vs of the analog signal is converted into the delay data of the digital signal, the determination by the control unit 40 becomes easy. In the control part 40 from the detection part 30, it becomes robust with respect to a noise and can determine accurate contact etc.

また、パネルに電圧を印加する電圧印加部20を更に備え、検出部30が、電圧印加部の20電圧の印加(Vin)によるパネル信号Vsを検出する場合、電磁気的変化を電圧の印加による応答として検出できる。過渡応答とは限らず、電圧印加部20が周期的な電圧を印加し、周波数応答して検出してもよい。さらに、順次第1電極11の各電極に電圧を印加することにより、電極の行番号を特定でき、パネル部10におけるy方向の接触位置が分かる。   In addition, when a voltage application unit 20 for applying a voltage to the panel is further provided and the detection unit 30 detects a panel signal Vs due to the application of 20 voltages (Vin) of the voltage application unit, an electromagnetic change is a response due to the application of the voltage. Can be detected as Not only the transient response, but the voltage application unit 20 may apply a periodic voltage and detect the frequency response. Furthermore, by sequentially applying a voltage to each electrode of the first electrode 11, the row number of the electrode can be specified, and the contact position in the y direction on the panel unit 10 can be known.

また、パネル信号Vsが、電圧印加部20の電圧の印加による過渡応答の信号であって、検出部30が、過渡応答を検出する場合、パネル部10の時定数の変化として検出できる。   Further, when the panel signal Vs is a signal of a transient response due to application of the voltage of the voltage application unit 20 and the detection unit 30 detects the transient response, it can be detected as a change in the time constant of the panel unit 10.

また、検出部30が、過渡応答の電圧値が所定の閾値(閾値電圧Vsh)を超えた場合に、過渡応答を検出する場合、閾値により、時定数の変化を的確に検出できる。   Further, when the detection unit 30 detects a transient response when the voltage value of the transient response exceeds a predetermined threshold (threshold voltage Vsh), the change in the time constant can be accurately detected by the threshold.

また、検出部30が、各遅延素子35からの遅延データと比較するための基準データを記憶するレジスタ32を更に有し、検出部30が、各遅延素子35からの遅延データと基準データとの差分データを出力する場合、差分データにおいて”1”の数をカウントすることにより、検出面に接触または近接したか否かを判定しやすくなる。また、カウント数に閾値を設けることにより、誤判定を軽減することができる。   In addition, the detection unit 30 further includes a register 32 that stores reference data for comparison with the delay data from each delay element 35, and the detection unit 30 includes the delay data from each delay element 35 and the reference data. When outputting the difference data, counting the number of “1” in the difference data makes it easy to determine whether or not the detection surface is touched or approached. Moreover, erroneous determination can be reduced by providing a threshold value for the number of counts.

また、レジスタ32が、基準データとして、各遅延素子35からの過去の遅延データを記憶する場合、検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を的確にとらえることができる。例えば、パネル部10を第1行の電極から最終行の電極まで走査する検出周期において、1検出周期前の遅延データ(基準データ)との差分データを算出することにより、検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を的確にとらえることができる。   Further, when the register 32 stores past delay data from each delay element 35 as reference data, an electromagnetic change can be accurately captured at a position in contact with or close to the detection surface. For example, in the detection cycle in which the panel unit 10 is scanned from the first row electrode to the last row electrode, the difference data from the delay data (reference data) one detection cycle before is calculated, thereby touching or approaching the detection surface. The electromagnetic change can be accurately captured at the position.

また、遅延素子35が、インバータ素子から構成された場合、遅延素子の単位遅延時間を、例えば、2n秒と高速に設定することができる。このように論理回路の伝達遅延を利用して構成される単位遅延セルの遅延時間により分解能が決定する。   When the delay element 35 is composed of an inverter element, the unit delay time of the delay element can be set at a high speed, for example, 2 ns. Thus, the resolution is determined by the delay time of the unit delay cell configured using the transmission delay of the logic circuit.

また、パネルが、静電容量方式のパネルである場合、指等の検出対象が検出面に接触または近接することによる検出電極容量Csの変化により、接触または近接を検出できる。   Further, when the panel is a capacitance type panel, the contact or proximity can be detected by a change in the detection electrode capacitance Cs caused by a detection target such as a finger contacting or approaching the detection surface.

また、電圧印加部20が、パネル部10の検出面に沿って複数の電極が並列に配置された第1電極11の各電極に所定の周期で順に電圧を印加し、検出部30が、第1電極11と交差する方向に複数の電極が並列に配置された第2電極12からのパネル信号Vsを検出する場合、第2電極12の各電極に検出部30を設けるだけで、パネル部10における接触位置または近接位置が分かる。また、パネル部10の検出面において、第1電極11の各電極と、第2電極12の各電極との交差部分の位置を検出できる。   In addition, the voltage application unit 20 sequentially applies a voltage to each electrode of the first electrode 11 in which a plurality of electrodes are arranged in parallel along the detection surface of the panel unit 10 in a predetermined cycle. When detecting the panel signal Vs from the second electrode 12 in which a plurality of electrodes are arranged in parallel in the direction intersecting with the one electrode 11, the panel unit 10 is simply provided with the detection unit 30 for each electrode of the second electrode 12. It is possible to know the contact position or the proximity position. Further, the position of the intersection of each electrode of the first electrode 11 and each electrode of the second electrode 12 can be detected on the detection surface of the panel unit 10.

検出部30からの出力に基づき、検出面に接触または近接したか否かを判定する判定部(制御部40)を備えた場合、検出部30を簡易な回路にでき、パネルの大型化に適している。   When a determination unit (control unit 40) for determining whether or not the detection surface is touched or approached based on an output from the detection unit 30 is provided, the detection unit 30 can be a simple circuit and is suitable for an increase in the size of the panel. ing.

なお、パネル部は、静電容量方式のパネルのように、電気的変化の一例として検出容量Csの変化に限らず、電磁気的変化の一例として、検出対象が検出面に接触または近接することにより、検出抵抗Rsが変わるように抵抗値が変化するような電気的変化の場合、磁気的に変化する場合、光学的に変化する場合でもよい。   Note that the panel unit is not limited to a change in the detection capacitance Cs as an example of an electrical change, as in an electrostatic capacitance type panel, but as an example of an electromagnetic change, a detection target is in contact with or close to the detection surface. In the case of an electrical change in which the resistance value changes so as to change the detection resistance Rs, it may be a case of a magnetic change or an optical change.

また、検出部30と、制御部40とは、バスを介して接続されていてもよい。この場合、各検出部30は、行番号に相当するヘッダー情報と共に、遅延データを制御部40に送信する。   Moreover, the detection unit 30 and the control unit 40 may be connected via a bus. In this case, each detection unit 30 transmits delay data to the control unit 40 together with header information corresponding to the row number.

本実施形態では、検出部30は、第2電極12の各電極に対して設置したが、第2電極12の各電極を区分けしたブロック毎に1つの検出部30を設けてよいし、第2電極12に対して、1つの検出部30を設けてよい。これらの場合、検出部30は、接続した各電極に対して、順に検出を行う。   In the present embodiment, the detection unit 30 is installed for each electrode of the second electrode 12, but one detection unit 30 may be provided for each block in which each electrode of the second electrode 12 is divided. One detection unit 30 may be provided for the electrode 12. In these cases, the detection unit 30 sequentially detects each connected electrode.

また、検出装置1は、指が接触から非接触に変わった変化をとらえてもよい。検出装置1が、1検出周期前の遅延データを基準データとして記憶している場合、指が接触から非接触に変わると、差分データに”1”が出現する。   Moreover, the detection apparatus 1 may capture a change in which the finger has changed from contact to non-contact. When the detection device 1 stores delay data one detection cycle before as reference data, “1” appears in the difference data when the finger changes from contact to non-contact.

また、接触または近接していないときの遅延データを予め測定し、基準データとして、レジスタに設定しておいてもよい。また、第1電極11の各電極および第2電極12の各電極の間でばらつきが少ない場合、検出装置1は、接触または近接していないときの基準データを1つ有すればよいので、検出部30がレジスタを有せず、制御部40が、基準データを記憶し、制御部40が差分データを算出してもよい。   Further, delay data when not in contact with or in proximity may be measured in advance and set in a register as reference data. Further, when there is little variation between each electrode of the first electrode 11 and each electrode of the second electrode 12, the detection device 1 only needs to have one reference data when it is not in contact with or close to the first electrode 11. The unit 30 may not have a register, the control unit 40 may store reference data, and the control unit 40 may calculate difference data.

また、本実施形態を、タッチパッドにも適用してもよい。   Further, the present embodiment may be applied to a touch pad.

さらに、本発明は、上記各実施形態に限定されるものではない。上記各実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。   Furthermore, the present invention is not limited to the above embodiments. Each of the embodiments described above is an exemplification, and any configuration that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and has the same operational effects can be used. It is included in the technical scope of the present invention.

1:検出装置
10:パネル部(パネル)
11:第1電極
12:第2電極
20:電圧印加部
30:検出部
31:タイムデジタイザ
32:レジスタ
35:遅延素子
36:インバータ素子
40:制御部(判定部)
1: Detection device 10: Panel (panel)
11: 1st electrode 12: 2nd electrode 20: Voltage application part 30: Detection part 31: Time digitizer 32: Register 35: Delay element 36: Inverter element 40: Control part (determination part)

Claims (11)

検出対象が検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を生じるパネルから、当該電磁気的変化に応じた信号を検出する検出部を備え、
前記検出部が、直列に接続された遅延素子を有し、前記検出面に接触または近接したか否かを判定するためのデータとして、前記信号を入力とする前記各遅延素子からの遅延データに応じたデータを出力することを特徴とする検出装置。
A detection unit that detects a signal corresponding to the electromagnetic change from a panel that generates an electromagnetic change at a position where the detection target is in contact with or close to the detection surface;
The detection unit includes delay elements connected in series, and as data for determining whether the detection unit is in contact with or close to the detection surface, the delay data from each delay element that receives the signal is input. A detection device that outputs data corresponding to the detected data.
請求項1に記載の検出装置において、
前記パネルに電圧を印加する電圧印加部を更に備え、
前記検出部が、前記電圧印加部の電圧の印加による前記信号を検出することを特徴とする検出装置。
The detection device according to claim 1,
A voltage applying unit for applying a voltage to the panel;
The detection device, wherein the detection unit detects the signal due to application of a voltage of the voltage application unit.
請求項2に記載の検出装置において、
前記信号が、前記電圧印加部の電圧の印加による過渡応答の信号であって、
前記検出部が、前記過渡応答を検出することを特徴とする検出装置。
The detection device according to claim 2,
The signal is a signal of a transient response due to application of a voltage of the voltage application unit,
The detection device, wherein the detection unit detects the transient response.
請求項3に記載の検出装置において、
前記検出部が、前記過渡応答の電圧値が所定の閾値を超えた場合に、前記過渡応答を検出することを特徴とする検出装置。
The detection device according to claim 3,
The detection device, wherein the detection unit detects the transient response when a voltage value of the transient response exceeds a predetermined threshold value.
請求項1から4のいずれか1項に記載の検出装置において、
前記検出部が、前記各遅延素子からの遅延データと比較するための基準データを記憶するレジスタを更に有し、
前記検出部が、前記各遅延素子からの遅延データと前記基準データとの差分データを出力することを特徴とする検出装置。
In the detection device according to any one of claims 1 to 4,
The detection unit further includes a register that stores reference data for comparison with delay data from each delay element;
The detection device, wherein the detection unit outputs difference data between the delay data from each delay element and the reference data.
請求項5に記載の検出装置において、
前記レジスタが、前記基準データとして、前記各遅延素子からの過去の遅延データを記憶することを特徴とする検出装置。
The detection device according to claim 5,
The detection apparatus, wherein the register stores past delay data from each delay element as the reference data.
請求項1から6のいずれか1項に記載の検出装置において、
前記遅延素子が、インバータ素子から構成されたことを特徴とする検出装置。
The detection device according to any one of claims 1 to 6,
The detection device, wherein the delay element is composed of an inverter element.
請求項1から7のいずれか1項に記載の検出装置において、
前記パネルが、静電容量方式のパネルであることを特徴とする検出装置。
The detection device according to any one of claims 1 to 7,
The detection device, wherein the panel is a capacitive panel.
請求項2から8のいずれか1項に記載の検出装置において、
前記電圧印加部が、前記パネルの検出面に沿って複数の電極が並列に配置された第1電極の各電極に所定の周期で順に電圧を印加し、
前記検出部が、前記第1電極と交差する方向に複数の電極が並列に配置された第2電極からの前記信号を検出することを特徴とする検出装置。
The detection device according to any one of claims 2 to 8,
The voltage application unit sequentially applies a voltage to each electrode of the first electrode in which a plurality of electrodes are arranged in parallel along the detection surface of the panel in a predetermined cycle,
The detection device, wherein the detection unit detects the signal from a second electrode in which a plurality of electrodes are arranged in parallel in a direction intersecting the first electrode.
請求項1から9のいずれか1項に記載の検出装置において、
前記検出部からの出力に基づき、前記検出面に接触または近接したか否かを判定する判定部を更に備えたことを特徴とする検出装置。
The detection device according to any one of claims 1 to 9,
The detection apparatus further comprising a determination unit that determines whether or not the detection surface is touched or approached based on an output from the detection unit.
検出対象が検出面に接触または近接した位置において電磁気的変化を生じるパネルにおける接触を検出する検出装置の検出方法において、
直列に接続された遅延素子を有し、当該各遅延素子からの遅延データに応じたデータを出力する検出部が、前記パネルから前記電磁気的変化を検出するための信号を検出する検出ステップと、
前記検出部からの出力が入力される判定部が、前記信号を入力とした前記検出部からの出力に基づき、前記検出面に接触または近接したか否かを判定する判定ステップと、
を含むことを特徴とする検出方法。
In a detection method of a detection device for detecting contact in a panel in which an electromagnetic change occurs at a position where a detection target contacts or is close to a detection surface,
A detection unit that includes delay elements connected in series and outputs data corresponding to the delay data from each of the delay elements, a detection step of detecting a signal for detecting the electromagnetic change from the panel;
A determination step in which a determination unit to which an output from the detection unit is input determines whether or not the detection unit is in contact with or close to the detection surface based on an output from the detection unit that receives the signal.
A detection method comprising:
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JP2010073150A (en) * 2008-09-22 2010-04-02 Sony Corp Capacitance change detection circuit of capacitive sensor device, capacitive sensor module, method of detecting capacitance change of capacitive sensor device, and electronic device

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