JP2013258405A - 下層からのコーティングの選択的および/または高速化除去ならびにその太陽電池への適用 - Google Patents

下層からのコーティングの選択的および/または高速化除去ならびにその太陽電池への適用 Download PDF

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Abstract

【課題】フィルムパターンを基板上にパターン形成する方法を提供する。
【解決手段】基板表面上にフィルムパターンを形成するステップと、前記基板および該フィルムパターンを覆うコーティングを形成するステップと、前記コーティング中に孔または開口部を誘導するステップとを含む方法であって、フィルムパターンの上に重なるコーティングの少なくとも一部は除去され、それには前記コーティングの少なくとも一部を除去する前に前記コーティングの下に重なる少なくとも1つの層をエッチングするステップが含まれる。
【選択図】図5

Description

本発明は、太陽電池およびモジュールに関する。より詳細には、本発明は、電池効率を高めるために改良された太陽電池の構造および製造方法に関する。
関連出願の相互参照
本出願は、その全開示が参照により本明細書に組み込まれている、2012年6月8日に出願された米国特許仮出願第61/657,098号明細書の優先権を主張するものである。
本出願は、2009年4月21日に出願され、米国特許仮出願番号第61/171,194号明細書を割り当てられた、「High-Efficiency Solar Cell Structures and Methods of Manufacture」と題される同一出願人による先願の米国特許仮出願、および、2009年4月21日に出願され、PCT出願番号PCT/USl0/31869号を割り当てられた、「High-Efficiency Solar Cell Structures and Methods of Manufacture」と題される同一出願人による国際特許出願にも関する。これらの出願はそれぞれ、ここに参照によりその全体が本明細書に組み込まれる。本発明の全態様を、上述の出願の開示のいずれとも組み合わせて使用することができる。
本出願は、2012年1月23日に出願され、米国特許仮出願番号第61/589,459号明細書を割り当てられた、「Selective Removal Of A Coating From A Metal Layer, And Solar Cell Applications Thereof」と題される同一出願人による先願の米国特許仮出願にも関する。これらの出願は、ここに参照によりその全体が本明細書に組み込まれる。本発明の全態様を、上述の出願の開示のいずれとも組み合わせて使用することができる。
太陽電池は、本質的に無限の量の太陽エネルギーを使用可能な電力に変換することによって、社会に広範にわたる利益をもたらしている。それらの使用が増加するにつれて、ある種の経済的要因、例えば大量生産および効率などが重要になる。
図1〜3の代表的な太陽電池の概略図を参照すると、太陽放射線は、通常前側と呼ばれる太陽電池の一方の表面を優先的に照射することを前提としている。入射する光子から電気エネルギーへの高いエネルギー変換効率を実現するためには、光子がシリコンウエハ内に効率良く吸収されることが重要である。これは、前側上の良好な表面テクスチャ形成(surface texturing)および反射防止コーティング、それとともにウエハ自体を除くすべての層内部での低い寄生的吸収によって実現することができる。高い太陽電池効率のための重要なパラメータは、金属電極が前面を遮光する量である。一般に、最適化された金属グリッドは、グリッドの金属構造の遮光の損失と電気抵抗の損失のトレードオフである。太陽電池の効率の最適化には、高導電率を有するはずの微細で間の距離が短いフィンガーを有するグリッドが含まれる。
Transene Company Inc's website
標準的な太陽電池の生産技術は、電池の前面上に電極を印刷するスクリーン印刷技術を使用する。銀ペーストを窒化ケイ素の反射防止コーティングの上に印刷し、高温プロセスでこのコーティングをファイヤスルーする。これはプロセス手順が短く、したがって結晶系シリコン太陽電池技術において最も高い市場占有率を獲得している。しかし、この手法につきもののある種の性質には、金属グリッドの50μmを超える(典型的には約100μm)比較的広い線幅およびかなり低い線導電率が含まれ、これは印刷されるペースト中に幾つかの非金属の構成成分を使用していることに起因している。また、焼成プロセスにより、金属ペーストの成分が反射防止層を突き抜けて基板内に入り、そこで再結合の増加が起こることとなる。これは、前方の接合素子と後方の接合素子の両方の場合に通じ、前方の接合素子では、空間電荷領域への望ましくない貫入によってpn接合が重大な損害を受ける可能性があり、ならびに後方接合素子では、前面の再結合が増加して後方の接合エミッタの収集効率が相当に低下する。
よって、太陽電池を製造するシステムおよび方法の改良に対する要望がある。
本発明は、一態様において、基板上にフィルムパターンをパターン形成する方法であって、基板表面上にフィルムパターンを形成するステップと、前記基板および前記フィルムパターンを覆うコーティングを形成するステップと、前記コーティング中に孔または開口部を誘導するステップとを含む方法を提供する。フィルムパターンの上に重なるコーティングの少なくとも一部は除去され、それには前記コーティングの少なくとも一部を除去する前に前記コーティングの下に重なる少なくとも1つの層をエッチングするステップが含まれる。
本発明による基板上の金属パターンおよびコーティングを有する太陽電池の一部分の側面断面図である。 金属パターンがめっきされた図1の太陽電池の側面断面図である。 金属パターンの層が図示される図1の太陽電池の側面断面図である。 金属フィルムおよび基板を含む、太陽電池の一部分の側面断面図である。 レジストを含む図4の太陽電池の側面断面図である。 エッチング後の図5の側面断面図である。 さらなるエッチング後の図6の太陽電池の側面断面図である。 さらなるエッチング後の図6の太陽電池の側面断面である。 レジスト除去後の図6の太陽電池の側面断面図である。 基板および金属コンタクトを覆う誘電体コーティングを有する太陽電池の一部分の側面断面図である。 エッチング後の図9の太陽電池の側面断面である。 エッチング後の図9の太陽電池の追加的な側面断面である。 コーティングの残存部分を除去した後の図10Bの太陽電池の側面断面図である。 金属フィルムをめっきした後の図11の太陽電池の側面断面図である。 バスバーおよび線状フィンガーを含む金属パターンおよび金属コンタクトの正面図である。 図13の金属フィンガーのクローズアップである。 金属エッチングおよび誘電体コーティング除去後の図14Aの金属フィンガーを図示する。 材料を選択的に除去するエッチング液を一覧表示する表である。 エッチングに利用することができる材料を図示する。 金属コンタクトおよび誘電体コーティングを含む太陽電池の一部分の側面断面図である。 金属コンタクトがめっきされた図17の太陽電池の側面断面図である。 基板上に堆積された金属コンタクトの側面断面図である。 レジスト線をその上に有する、基板および金属フィルムの側面断面図である。 アンダーカットを有する、図20の基板およびコンタクトの側面断面図である。 アンダーカットを有する、図20の基板およびコンタクトの追加的な側面断面図である。 レジストが除去された、図20のフィルムおよびレジスト上の基板の側面断面図である。 コーティングを施用した図22の基板およびフィルムの側面断面図である。 図23の基板、フィルムおよびコーティングのレーザー照射を図示する側面断面図である。 図23の基板、フィルムおよびコーティングのレーザー照射を図示する側面断面図である。 図24のコーティングが除去された一部分を図示する。 金属フィルムがめっきされた図25のコーティングからの基板を図示する。 バスバーおよび細線化フィンガーを含む金属パターンの立面図を図示する。 図27の一部分のクローズアップを図示する。 レーザー光線照射後の図28Aの金属パターンを図示する。 レーザー機械加工システムの構成図である。 2つのレーザー光線プロファイルを図示する。 走査するまたは並進させることができるレーザー照射の正方形スポットを図示する。 選択的なレーザーアブレーションプロセスを図示する。 正方形のトップヘッドプロファイルのレーザー光線スポットのプロセスを図示する。 選択的なレーザーアブレーションプロセスを図示する。
本発明の態様ならびにある種の特徴、利点、およびそれらの詳細を、添付の図に例示される非限定的実施形態を参照しながら、以下でより詳細に説明する。周知の材料、製作工具、プロセス技術などの記述は、不必要に詳細で本発明を不明瞭にしないように割愛する。しかし、詳細な記述および具体例は、本発明の実施形態を示す一方、実例として与えられるに過ぎず、限定するものとしてではないことを理解するべきである。本開示から、基礎をなす本発明の概念の趣旨および/または範囲内の様々な代用、改変、追加および/または取り合わせが当業者には明らかであろう。
本発明の原理に従って太陽電池を製造するシステムおよび方法が提供される。
代表的な実施形態における、前側のメタライゼーションを改良した構造を図1に図示する。コンタクト4は、50μm程度以下の線幅を有することができ、前側の金属の総表面被覆率は、約7%以下であることが可能である。
薄い金属コンタクト4を、伝導率の上昇をもたらすために続いてめっきし、必要とされる厚さにめっきされた金属コンタクトを得てもよい。線導電率を増大させるために電気めっきを使用し、めっきされた金属コンタクト4のめっきされた金属を良好に均一にすることができるように、約50〜500nm程度の十分な厚さの金属コンタクト4が必要である。めっきが行われるときに、反射防止コーティング2は、基板1の表面10の上に金属めっきされることを防ぐめっきのバリアとしても機能することができ、この理由のためだけに、反射防止コーティングは良好な絶縁物、例えば、ほとんど損傷のない誘電体フィルムでなければならないことが理解される。金属コンタクト4は、複数の層から作製されていてもよい。一例として、図3において、コンタクト4が2つの層、すなわち上部の第1の層4aおよび第2の層4bを含むものとして示される。
本発明は、一態様では、基板上に導電性金属グリッド(例えば太陽電池)を製造する方法であって、事前にパターン形成されている可能性のある下層(1つまたは複数)の一部またはすべてをエッチングすることによって、かかる基板の上部層(1つまたは複数)の一部またはすべてを除去する際に、選択性および/または速度を高める方法を含む。
除去速度を高める可能な一発明実施形態では、レジストを使用して幾つかの層(例えば、4a、4bなど)を含むスタックを局所的にマスクする。レジスト、例えば上部層4aに使用するものなどを、より長い時間特定のエッチング液に露出するとマスキング効果を失うのであれば、上部層4aのエッチングを高速化するのが有用であろう。これは、エッチング液が、既に存在するまたはこのステップの前に導入したピンホールもしくは他の開口部を通って上部層4aを通過するようにし、下層(例えば4b)をエッチングすることによって実現することができる。これにより、上部層4aは、そのエッチング液によって両側からエッチングされることが可能となり、露出する表面積が増加するので、結果として全体的なエッチング速度が速くなり、エッチング時間も短縮化する。これにより、層(1つまたは複数)の局所的なエッチバックの間に、レジストが確実に効果的にマスクすることができる。このレジストを次いで除去し、続いて、メタライズされている可能性のあるパターン領域を含めた全領域上に、誘電体コーティングを堆積させる。
選択的除去を高める別の可能な発明実施形態では、やはり誘電体コーティング中に存在するピンホールまたは開口部にエッチング液を通過させることにより、下に重なる金属層(例えば、上部層4a、第2の層4b)の一部または全部をエッチングすることによって、金属(例えばコンタクト4)の上部の上から誘電体コーティングを除去する。
選択的除去を高めるさらなる可能な発明実施形態では、金属ナノ粒子のインクジェットまたはエアロゾル印刷を使用して金属パターンを形成し、続いてメタライズされた領域を含む全領域上に誘電体コーティングを堆積させ、下に重なる金属層の一部または全部をエッチングすることによって、金属上部の上から誘電体コーティングを選択的に除去する。
選択的除去を高めるさらなる可能な発明実施形態では、金属ペーストのスクリーン印刷を使用して金属パターンを形成し、続いてメタライズされた領域を含む全領域上に誘電体コーティングを堆積させ、下に重なる金属層の一部または全部をエッチングすることによって金属上部の上から誘電体コーティングを選択的に除去する。
本発明は、現状技術と比べて明らかに有利な点を数多く提供する。具体的には、本発明は、太陽電池用に誘電体コーティング(例えばコーティング2)に囲まれた金属パターン(例えば金属コンタクト4)を形成する簡単な技術であり、ここでは、誘電体コーティングは、前面上では反射防止コーティング、背面上では内部反射鏡として機能することが可能であり、さらに、どちらの表面上においてもその後の金属パターンの電気めっきに対して誘電体バリアとして機能することが可能である。これはまた、基板の片面上だけに作製されるコンタクト構造用の櫛形コンタクトグリッドを製作する好適な方法である。
本発明の一実施形態では、微細な金属パターンを生成することが可能である。それは、エッチングによって、例え基板全体がエッチング液に浸漬されたまたはエッチング液で被覆されたとしても、パターン形成された金属で被覆されたこうした基板領域だけから、誘電体コーティングが選択的に除去されるからである。誘電体コーティング(例えばコーティング2)のこうした選択的除去は、それが誘電体コーティングを支持する下に重なる金属(例えば、コンタクト4)の除去に依拠するので、自己整合的なパターン形成プロセスである。金属によって被覆されていないこうした領域内の誘電体コーティングおよび基板は、こうした領域も同一のエッチング液に露出されているにもかかわらず、大半はエッチングによって影響を受けない。こうした誘電体コーティングの自己整合的な除去が意味しているのは、極めて細い金属パターン(例えば図1)を生成することが可能であり、誘電体コーティングの開口部のサイズだけが金属パターンのサイズおよびエッチング液の種類によって左右されるということである。さらに、かかる自己整合的な選択的エッチングのパターン形成は、簡単で歩留りが高く、費用対効果が大きい製造プロセスである。
誘電体コーティングの選択的除去およびパターン形成により、そうでない場合に金属リフトオフなどの技術で観察されることがある、金属と誘電体反射防止コーティングとの間のいかなる空隙も回避することができる。誘電体コーティングは基板と任意のめっき金属および周囲環境との間のバリアとして機能するので、これは重要なことである。
図4〜11は、金属エッチングレジストを使用して太陽電池用の金属グリッドパターンを形成する、本発明の例示的な実施形態を図示している。本発明に従う金属パターンを基板上に形成する技術は数多く存在し、提示する順序は可能な一例に過ぎないことを理解されたい。
基板100が供給される。この基板は、p型またはn型ドーピングのいずれのシリコン半導体ウエハであってもよい。該基板を、例えば不揃いなピラミッドパターンでテクスチャ形成し、太陽電池における光閉じ込め効果を改良してもよい。該基板は、ドーパント拡散を片側または両側に有して、エミッタ構造または表面電界を形成してもよい。かかるドーパント拡散をパターン形成して、例えば、いわゆる選択エミッタ構造を形成してもよい。該基板に薄いフィルムのパッシベーション層が片面上に存在していても両面上に存在していてもよい。かかるパッシベーション層は、例えば、ドープされたもしくは真性アモルファスシリコン層、二酸化ケイ素、窒化ケイ素、ドープされたもしくは真性ポリ−シリコン、ドープされたもしくは真性炭化ケイ素、酸化アルミニウムまたは多種多様のかかるパッシベーション層のいずれかおよびそれらの組み合わせから構成されていてもよい。
層105および107を含む金属フィルム104を、例えば基板の表面上に堆積させると、図4に示す構造が得られる。かかる金属の堆積を、例えば、スパッタリング、熱蒸着または電子線蒸着などの十分に確立された技術を使用して行ってもよい。この金属フィルムは、異なる機能を果たすことが必要とされる、複数の異なる金属層から構成されていてもよいことが理解される。例えば、下端の(基板に隣接する)金属層は、おそらく基板に対して良好な電気的コンタクトおよび接着を形成することが必要とされ、上部または中間の金属層は、おそらく拡散バリアとして働くことが必要とされ、上部金属層は、おそらく電気めっきのシードとして機能することが必要である。さらに、金属フィルムは、特定の特性、例えば、続く誘電体の選択的レーザーアブレーションを可能とするための厚さおよび/または組成などを必要とすることがあることが理解される。
細いレジスト103を、例えば金属フィルム104の上部の上に吐出すると、図5に示す構造が得られる。レジスト103は、基板の表面上にいかなるパターンを形成してもよい。太陽電池の場合、かかるパターンは、例えば、多くの細いフィンガーおよび幾つかのそれより幅広いバスバーを含んでもよい。レジスト103は、例えば、インクジェットまたはスクリーン印刷によって吐出されてもよい。あるいは、レジスト103は、フォトリソグラフィによって形成することができる。
金属フィルム4を、パターン形成してもよく(例えば、レジスト103で被覆されている部分を除いてエッチングしてもよく)、例えば酸エッチングによって行ってもよい。金属のエッチングの程度を制御して、大きいもしくは小さいアンダーカットを作成してもよいし、アンダーカットを作成しなくてもよく、それにより最終的な線幅が決定される。最初のエッチングステップは、図6に示す通りに、下層107を除去し、上部層105を残して、両側を高速化エッチングのために露出する。第2のエッチングステップを行って上部層105を除去し、大きい金属アンダーカットを示す図7Aに示す構造、その下の小さいまたは存在しない金属アンダーカットを示す図7Bに図示する構造を得てもよく、そのいずれかにより最終的な線幅が決定される。
レジストを除去して金属パターン(例えば、細い金属線)を基板上に残し、図8に示す構造を得てもよい。太陽電池の前面の場合、例えば50μm未満のフィンガーの幅を容易に実現することができる。
誘電体コーティング102を、例えば、基板100およびコンタクト104の表面全体にわたって堆積させ、図9に示す構造を得てもよい。かかる誘電体の堆積は、例えば、スパッタリング、浸漬被覆、化学蒸着およびプラズマ促進化学蒸着などの十分に確立された技術を使用して行ってもよい。太陽電池の前面の場合、この誘電体コーティング(例えばコーティング102)は、反射防止コーティングとして機能することが可能であり、また太陽電池の表面を不活性化することも可能であることが理解される。さらに、この誘電体層を、複数の異なる層および/または傾斜層から構成し、例えば周知の技術を実施して、反射防止特性を改良してもよいことが理解される。エッチング液は上部層中のピンホールまたは開口部を通過する必要があるので、次のステップの前にこうしたピンホールおよび開口部を導入することが必要になることがある。これは、化学的(エッチング、標的結合など)、物理的(レーザーアブレーション、物理的衝突、超音波、プラズマエッチングなど)、電気的(電界に支援されるプロセスなど)、トポグラフィー的(topographical)(下に重なるテクスチャおよび寸法に起因するフィルムの質の変化など)などであってもよい方法を使用して実現してもよい。該方法は、好ましくは下に重なるパターンに対して選択的である。誘電体コーティング102の一部分108は、金属コンタクト104の上に重なる。
一実施形態では、基板全体(例えば、コンタクト104およびコーティング102を有する基板100)を次いでエッチング溶液に浸漬して、図10Aに示す通りに誘電体コーティング102の下に重なる上部の金属層105を選択的に除去してもよい。あるいは、エッチング液が誘電体コーティングもしくは他の金属層と相互作用することができるように、またはエッチング液を金属パターンを有する領域に選択的に施用して下層(1つまたは複数)を除去することができるように、エッチング液の選択および施用方法を選択してもよい。下層の除去も部分的であってもよい。このエッチングステップは、図10Bに図示する通りに誘電体コーティング102の一部分108の一部もしくは全部をリフトオフしてもよいし、どこもリフトオフしなくてもよい。コーティング102の残存部分(すなわち除去されない部分)は、支持されずに空隙を覆って残り(図10B)、他の方法、例えば超音波洗浄、物理的衝突(水、ドライアイス、加圧空気など)によって簡単に除去され、図11に示す構造を得ることができる。
次のプロセス、例えば洗浄して破片を除去すること、または熱処理して電気的コンタクトを改良することなどを、基板上で行ってもよい。シリコン太陽電池の前面の場合、金属フィルム104をめっきによって厚くし、図12に示す通りの厚さを増した金属コンタクト110を得て、必要とされる線導電率を実現してもよい。
上述の例は、太陽電池用の金属コンタクト構造を形成する本発明のプロセス順序を説明している。該プロセス順序には、以下が含まれてもよい:
1)金属フィルムを基板上に堆積させる;
2)レジストを吐出する;
3)金属をエッチングし(下層が最初であってもよい)、レジストを除去する;
4)誘電体コーティングを堆積させ、必要に応じて、上部のコーティング中に孔または開口部を誘導する、好ましくは下に重なるパターンに対して選択的に誘導する方法が続く;
5)下に重なる金属をエッチングし、誘電体コーティングを除去する;ならびに
6)めっきする
別の例では、太陽電池用の金属コンタクト構造を形成する本発明のプロセス順序は、以下を含むことができる:
1)金属フィルムを基板上に堆積させる;
2)レジストを吐出する;
3)金属をエッチングする(場合により下層を最初に除去することを含む);
4)レジストを除去する;
5)誘電体コーティング(例えば窒化物)を堆積させる;
6)最初にレーザーアブレーションを使用して(例えば、Selective Removal Of A Coating From A Metal Layer, And Solar Cell Applications Thereofと題される、上で組み込んだ米国仮特許出願の技術を使用する)、選択的に窒化物を切除する;
7)基板全体をエッチング液に浸漬することによって下に重なる金属をエッチングし、次いで超音波/リンスによって誘電体コーティングを除去する;および
8)めっきする
さらに、かかるプロセス順序は、太陽電池の前面および/または裏面上のコンタクト構造の形成に適用可能であることが理解される。また、追加的なプロセスステップを追加することなく、該順序を前面および裏面上で同時に実施することができることが理解される。
別の例では、図13は、太陽電池の基板200の前側および/または裏側上に見ることができる標準的な金属パターンを示す。金属パターンは、例えば、バスバー200および細線状フィンガー204から構成されていてもよい。
図14Aおよび14Bは、太陽電池の一部に見ることができる細線状の金属フィンガー204をクローズアップした詳細を示す。誘電体コーティング202が金属フィンガー204を被覆していてもよい。図14Aおよび図14Bは、下に重なる金属のエッチングおよび金属フィンガー上部の上からの誘電体コーティングの除去の前後を示す。
図15は、様々なエッチング液を配合して選択的に材料をエッチングすることができることを示すものから得られた表である(情報源:非特許文献1)。エッチングする必要があるものおよび影響されないままにする必要があるものに基づいて、適切なエッチング液(表に一覧表示したものに限定されない)を選択するまたは配合することができる。それは、エッチングする必要がある材料の性質(種類、堆積方法、厚さ、被覆率、層の数など)、エッチング液が通過しなければならない上部層の性質(すなわち、種類、孔、強度、均一性、元素組成など)、影響されないままにする必要がある層の性質(材料の種類、材料の質など)、プロセス所要時間の制限、スループットの要件、経費などにも依存する。
パターン形成された金属の選択的コーティングおよびエッチングのために、EMD isishape SolarEtch(登録商標)製品ポートフォリオからのものなどのエッチング用ペーストを使用することができる。EMD、Transeneなどの会社は印刷可能なエッチング用ペーストを有しており、それは、ほぼすべての種類の透明導電酸化物(例えば、ITO、ZnO)、反射防止層または拡散バリア(例えば、SiO、SiNx)、半導体(例えば、a−Si、ポリ−Si)および金属(例えばアルミニウム)の層をエッチングするのに使用することができる。かかる製品によってエッチングすることができる材料の種類を図16に例示する。
別の例における、前側のメタライゼーションを改良した構造を図17に図示する。メタライズ線14の線幅は50μm程度以下であり、前側の金属での総表面被覆率は約7%以下である。図17に示す通りに、薄い金属コンタクト314を、伝導率の上昇をもたらすために続いてめっきし、必要とされる厚さのめっき金属コンタクト315を得てもよい。線導電率を増大させるために電気めっきを使用し、めっきされた金属コンタクト315を良好に均一にすることができるように、約50〜500nm程度の十分な厚さの金属コンタクト314が必要である。めっきが行われるときに、反射防止コーティング312は、基板の表面上に金属がめっきされることを防ぐめっきのバリアとしても機能しなければならず、この理由のためだけに、反射防止コーティングは良好な絶縁物(例えばほとんど損傷のない誘電体フィルム)でなければならないことが理解される。
一例では、本発明は、金属パターンからの誘電体コーティングの選択的レーザーアブレーションを採用することによって、基板上に導電性金属グリッド、例えば太陽電池を製造する方法を含む。
一実施形態では、レジストを使用して金属層を局所的にエッチバックし、続いてメタライズされた領域を含む全領域上に誘電体コーティングを堆積させ、この誘電体コーティングを金属上部の上から選択的にレーザーで切除する。
さらなる実施形態では、金属ナノ粒子のインクジェットまたはエアロゾル印刷を使用して金属パターンを形成し、続いてメタライズされた領域を含む全領域上に誘電体コーティングを堆積させ、前記誘導体コーティングを金属上部の上から選択的にレーザーで切除する。
別の実施形態では、金属ペーストのスクリーン印刷を使用して金属パターンを形成し、続いてメタライズされた領域を含む全領域上に誘電体コーティングを堆積させ、前記誘導体コーティングを金属上部の上から選択的にレーザーで切除する。
本発明は、現状技術と比べて明らかに有利な点を数多く提供する。具体的には、本発明は、太陽電池用に誘電体コーティングに囲まれた金属パターンを形成する簡単な技術であり、ここでは、前記誘電体コーティングは、前面上では反射防止コーティング、背面上では内部反射鏡として機能することが可能であり、さらに、どちらの表面上においてもその後の金属パターンの電気めっきに対して誘電体バリアとして機能することができる。これはまた、基板の片面上だけに作製されるコンタクト構造用の櫛形コンタクトグリッドを製作する好適な方法である。
本発明の一実施形態では、微細な金属パターンを生成することが可能である。それは、レーザーアブレーションによって、例え基板のより広い領域がレーザー光線で照射されたとしても、このようなパターン形成された金属で被覆された基板領域だけから誘電体コーティングが選択的に除去されるからである。誘電体コーティングのこうした選択的レーザーアブレーションは、それが、誘電体コーティングの除去に関してレーザー照射と金属コンタクトと誘電体コーティングのうちの上に重なる部分との相互作用に依拠するので、自己整合的なパターン形成プロセスである。金属によって被覆されていないこうした領域内の誘電体コーティングおよび基板は、こうした領域も同一のレーザー光線で照射されているにもかかわらず、大半はレーザー照射によって影響を受けない。こうした誘電体コーティングの自己整合的なレーザーアブレーションが意味しているのは、極めて細い金属パターンを生成することが可能であり、誘電体コーティングの開口部のサイズだけが金属パターンのサイズおよびレーザー照射の波長に左右されるということである。さらに、かかる自己整合的な選択的レーザーアブレーションのパターン形成は、簡単で歩留りが高く、費用対効果が大きい製造プロセスである。
誘電体コーティングの選択的レーザーアブレーションのパターン形成により、そうでない場合に金属リフトオフなどの技術で観察されることがある、金属と誘電体反射防止コーティングとの間のいかなる空隙も回避することができる。誘電体コーティングは基板と任意のめっき金属および周囲環境との間のバリアとして機能するので、これは重要なことである。
図19〜32は、金属エッチングレジストを使用して太陽電池用の金属グリッドパターンを形成する、本発明の例示的な実施形態を図示している。基板上に金属パターンを形成するための技術は数多く存在し、提示する順序は可能な一例に過ぎないことを理解されたい。
基板411が供給される。この基板は、p型またはn型ドーピングのいずれのシリコン半導体ウエハであってもよい。該基板を、例えば不揃いなピラミッドパターンでテクスチャ形成し、太陽電池における光閉じ込め効果を改良してもよい。該基板は、ドーパント拡散を片側または両側に有して、エミッタ構造または表面電界を形成してもよい。かかるドーパント拡散をパターン形成して、例えば、いわゆる選択エミッタ構造を形成してもよい。該基板に薄いフィルムのパッシベーション層が片面上に存在していても両面上に存在していてもよい。かかるパッシベーション層は、例えば、ドープされたもしくは真性アモルファスシリコン層、二酸化ケイ素、窒化ケイ素、ドープされたもしくは真性ポリ−シリコン、ドープされたもしくは真性炭化ケイ素、酸化アルミニウムまたは多種多様のかかるパッシベーション層のいずれかおよびそれらの組み合わせから構成されていてもよい。
金属フィルムを基板411の表面上に堆積させ、図19に示す構造を得てもよい。かかる金属の堆積を、例えば、スパッタリング、熱蒸着または電子線蒸着などの十分に確立された技術を使用して行ってもよい。この金属フィルムは、異なる機能を果たすことが必要とされる、複数の異なる金属層から構成されていてもよいことが理解される。例えば、下端の(基板に隣接する)金属層は、おそらく基板に対して良好な電気的コンタクトおよび接着を形成することが必要とされ、上部または中間の金属層は、おそらく拡散バリアとして働くことが必要とされ、上部金属層は、おそらく電気めっきのシードとして機能することが必要である。さらに、金属フィルムは、特定の特性、例えば、続く誘電体の選択的なレーザーアブレーションを可能とするための厚さおよび/または組成などを必要とすることがあることが理解される。
細いレジスト413(例えばレジスト線)を金属フィルム414の上に吐出して、図20に示す構造を得てもよい。レジスト413は、基板の表面上にいかなるパターンを形成してもよい。太陽電池の場合、かかるパターンは、例えば、多くの細いフィンガーおよび幾つかのそれより幅広いバスバーを含んでもよい。レジスト413は、例えば、インクジェットまたはスクリーン印刷によって吐出されてもよい。あるいは、レジスト413(例えば細いレジスト線)は、フォトリソグラフィの手段によって形成することができると思われる。
金属フィルム414を、レジスト413で被覆されている部分を除いてエッチングして、図21に示す構造を得てもよい。金属エッチングを、例えば酸エッチングによって行ってもよい。金属エッチングの程度を制御して、大きいもしくは小さいアンダーカットを作成してもよいし、アンダーカットを作成しなくてもよく、それによって最終的な線幅が決定される。
レジスト(例えばレジスト413)を除去して金属パターンを基板上に残し、図22に示す構造を得てもよい。太陽電池の前面の場合、例えば50μm未満のフィンガーの幅を容易に実現することができる。
誘電体コーティング412を表面全体にわたって(例えば基板411および金属フィルム414を覆って)堆積させ、図23に示す構造を得てもよい。かかる誘電体の堆積は、例えば、スパッタリング、浸漬被覆、化学蒸着およびプラズマ促進化学蒸着などの十分に確立された技術を使用して行ってもよい。太陽電池の表面の場合、この誘電体コーティング412は、反射防止コーティングとして機能することが可能であり、また太陽電池の表面を不活性化することも可能であることが理解される。さらに、この誘電体層414を、複数の異なる層および/または傾斜層から構成し、例えば周知の技術を実施して、反射防止特性を改良してもよいことが理解される。
図24に示す通りに、基板の表面をレーザー光線415で照射してもよい。基板構造の表面全体(例えば、基板411、コーティング412、および金属フィルム414)を照射してもよいし、あるいは金属パターンを有する領域だけを照射してもよい。この誘電体の選択的切除の結果、図25に示す構造が得られる。図示する通りに、誘電体層を除去した後、金属コンタクト414および誘電体層は、金属コンタクト414と誘電体コーティング412との間にいかなる空隙も有することなく、基板411全体を被覆する。
一実施形態では、レーザー照射のパラメータは、誘電体コーティング412および基板411がいずれも光線と相当に相互作用せず、レーザー光線が相当な損傷を引き起こさずに矢印416で示す通りにこれらを透過するように選択される。レーザー照射のパラメータは、金属フィルム414と相当に相互作用するように選択され、レーザー光線は、金属フィルム414に吸収される。この吸収により金属フィルムを部分的に切除することが可能となり、具体的には金属の表面の薄い層を切除することができる。この相互作用により、金属フィルム414の上に重なる部分417の誘電体コーティングを局所的に除去することになる。
次のプロセス、例えば洗浄して破片を除去すること、または熱処理して電気的コンタクトを改良することなどを、基板上で行ってもよい。シリコン太陽電池の前面の場合、金属フィルム414をめっきによって厚くし、図26に示す通りのめっきされたコンタクト430を得て、必要とされる線導電率を実現してもよい。誘電体コーティング412は、めっきされた金属430と基板411との間のバリアとしての役割を果たす。
まとめると、上述の例は、太陽電池用の金属コンタクト構造を形成する簡単なプロセス順序を説明している。該プロセス順序は、一例では以下の通りである:
1)金属フィルムを基板上に堆積させる;
2)レジストを吐出する;
3)金属をエッチングし、レジストを除去する;
4)誘電体コーティングを堆積させる;
5)レーザー切除する;および
6)めっきする
さらに、かかるプロセス順序は、太陽電池の前面および/または裏面上のコンタクト構造の形成に適用可能であることが理解される。さらに、追加的なプロセスステップを追加することなく、該順序を前面および裏面上で同時に実施することができることが理解される。
別の例では、図27は、太陽電池の基板511の前側および/または裏側上に見ることができる標準的な金属パターンを示す。金属パターンは、例えば、バスバー516および細線状フィンガー514から構成されていてもよい。
図28Aおよび28Bは、太陽電池の一部に見ることができる細線状金属フィンガー204をクローズアップした詳細を示す。平面図および断面図での図28Aは、金属フィンガー514を被覆する誘電体コーティング502を示す。図28bは、レーザー照射が金属フィンガー上部の上から誘電体コーティングを除去した後を示す。
図29は、本特許出願で記述される通りのレーザー加工を行うのに適したレーザー機械加工システムの簡易図を示す。レーザー光線は、レーザー600で生成される。レーザー光線は、ビーム拡大器、ビームコリメータ、ビームホモジナイザ、投影マスク(imaged mask)、ファイバビーム送達システム、可変減衰器、リレーレンズおよびミラーなどの構成要素を含んでもよい任意選択の外部光学装置610を通して供給される。ガルバノメータスキャナ620および/または並進ステージ(translation stage)を使用して、レーザー光線を並進させ、基板(例えば太陽電池630)を網羅する。最終レンズを使用して、ビームの焦点を基板(太陽電池)上に合わせる。図29に例示する通りのかかるレーザー機械加工システムの配置は、容易に入手可能であり、ハイスループットな工業用途、例えば太陽電池の製造に適用可能である。
本発明は、異なるレーザー光線の強度プロファイルを使用してもよい。図30は、2つの適用可能なビームプロファイルの例を示す。ガウシアンビームプロファイル(またはガウシアンに近似するもの)は、多くのレーザー源によって典型的に発生するものであり、いかなる横断面における強度分布も、ビーム軸を中心とする円対称のガウス関数である。示している代替のビームプロファイルは、いわゆる「トップハット」または「フラットトップ」ビームプロファイルである。かかるプロファイルは、理想的にはほぼ均等な強度を露光領域内に有する。トップハットの露光領域の形状は、円形、正方形、矩形または適切な光学装置によって生成される任意の形状であり得る。かかるトップハットビームプロファイルは、典型的には、ビームシェイパ(beam shaper)と呼ばれる特殊な回折または屈折光学装置(または多モードファイバ)を使用して生成される。本発明のレーザー加工に、これらのプロファイルのいずれかまたはこれらの組み合わせもしくは変形を使用してもよい。
図31A、31B、32A、および32Bは、パターン形成された金属フィルム614およびパターン金属フィルム714の上に重なる誘電体コーティングを自己整合的な選択的レーザーアブレーションプロセスにおいて、正方形のトップハットビームプロファイルを基板上に走査するまたは並進させる様子の例を示す。見て分かるように、このプロセスは、細い金属フィンガーの(例えば金属フィルム614の)サイズ、配置および形状の変動に対して認容性がある。異なる様々なビーム走査、オーバーラップおよび配置方式が本発明に適用可能であり、示した2方式は、一般的原理の代表的な例に過ぎないことが理解される。
例えば、レーザー照射の正方形スポットを走査するまたは並進させ、図31Aに図示するようにプロセス領域全体を網羅することができる。図31Bから分かるように、パターン形成された金属フィルム614の上に重なる誘電体コーティングを除去する自己整合的な選択的レーザーアブレーションプロセス(self−aligned selective laser ablation process)に関し、この照射パターンは、パターン形成された金属フィルム614のサイズ、位置、または形状を問わず機能する。
図32Aに図示する別の例では、正方形のトップハットプロファイルのレーザー光線のスポットを走査するまたは並進させて、細い金属フィルムフィンガー714を網羅することができる。図32Bから分かるように、パターン形成された金属フィルム714の上に重なる誘電体コーティングを除去する選択的レーザーアブレーションプロセス(self−aligned selective laser ablation process)に関し、この照射パターンは、フィルム714の細い金属線のサイズ、位置または形状の変動を正確に追跡する必要がない。
本明細書において本発明の幾つかの態様を記述し図示してきたが、当業者であれば代替の態様を実施して同じ目的を達成することができる。したがって、かかる代替の態様はすべて、本発明の真の趣旨および範囲内に含まれるものとして添付の特許請求の範囲によって網羅されることが意図される。

Claims (20)

  1. 基板上にフィルムパターンをパターン形成する方法であって、
    基板表面上にフィルムパターンを形成するステップと、
    前記基板および前記フィルムパターンを覆うコーティングを形成するステップと、
    前記コーティング中に孔または開口部を誘導するステップと、
    前記フィルムパターンの上に重なる前記コーティングの少なくとも一部を除去するステップであって、前記コーティングの少なくとも一部を除去する前に前記コーティングの下に重なる少なくとも1つの層をエッチングするステップを含むステップと、
    を含むことを特徴とする方法。
  2. 前記基板の表面上にフィルムを形成するステップと、
    前記フィルムを覆うエッチングレジストを形成するステップと、
    1つまたは複数のステップで前記フィルムをエッチングするステップであって、前記少なくとも1つの層の下層を最初にエッチングすることによって前記少なくとも1つの層の上部層を高速化除去するステップを含むステップと、
    前記エッチングレジストを除去するステップと、
    によって前記フィルムパターンが形成されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記フィルムパターンは、
    金属ペーストをスクリーン印刷すること、
    ナノ粒子金属インクをインクジェット印刷すること、および
    金属ナノ粒子をエアロゾル印刷すること、
    のうちの1つによって形成されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  4. 前記基板および前記コーティングは、前記少なくとも1つの層を浸食するエッチング液と相当に相互作用することを回避することを特徴とする請求項1に記載の方法。
  5. 前記エッチング液は、前記フィルムパターンおよびその上に重なるコーティングと相互作用し、それにより前記コーティングが部分的または完全に除去され、残存するコーティングが支持されない状態となることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  6. フィルムパターンがコーティングによって囲まれ、前記パターンと前記コーティングとの間に空隙が存在しないことを特徴とする基板上の表面上の構造。
  7. 前記基板は、光起電素子であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  8. 前記フィルムパターンは、太陽電池の前方コンタクト電極および/または後方コンタクト電極を形成することを特徴とする請求項1に記載の方法。
  9. 前記フィルムパターンを続いて金属で電気めっきして金属グリッドの導電率を改良するステップをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  10. 前記コーティングは、誘電体の光学的反射防止層であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  11. 前記誘電体コーティングは、光学的反射層であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  12. 前記パターン形成されたレジストは、続くパターンマスクの露光および現像を必要とすることなく、直接書き込まれ、その場で硬化されることを特徴とする請求項2に記載の方法。
  13. 前記レジストをパターン形成する直接書き込み法は、インクジェットまたはスクリーン印刷であることを特徴とする請求項12に記載の方法。
  14. 前記金属フィルムパターンは、異なるまたは変動する組成および厚さの複数の薄いフィルムの金属層を含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  15. 前記複数の薄いフィルムの金属層は、クロム、銀、銅、ニッケル、チタン、アルミニウム、ニッケル−バナジウム、ニッケル−ニオブ、ニッケル−チタン、ニッケル−ジルコニウム、ニッケル−クロム、ニッケル−白金、ニッケル−アルミニウム、ニッケル−タングステン、チタン−タングステン、コバルト−ニッケル、クロム−コバルト−ニッケル、クロム−コバルト、クロム−ニッケル、クロム−シリコン、クロム−銅、クロム−アルミニウム、アルミニウム−シリコン−銅、アルミニウム−シリコン、およびアルミニウム−クロムのうちの1つまたは複数の金属または金属合金を含むことを特徴とする請求項14に記載の方法。
  16. 前記金属フィルムは、複数の薄いフィルム金属のスタック中に上部金属フィルムを有し、前記上部金属フィルムは、直接電気めっきすることが可能であり、かつ、銀、銅、ニッケル、クロム、ニッケル−ニオブ、ニッケル−バナジウム、ニッケル−チタン、ニッケル−ジルコニウム、ニッケル−クロム、ニッケル−白金、ニッケル−アルミニウム、ニッケル−タングステン、クロム−コバルト−ニッケル、クロム−コバルト、クロム−ニッケル、クロム−シリコン、クロム−銅およびクロム−アルミニウムのうちの1つからなる金属層から構成されることを特徴とする、請求項5に記載の方法。
  17. 前記エッチングは、
    前記基板全体がエッチング液に浸漬されるステップ、または前記エッチング液が下部のフィルムパターンに合致するように選択的に適用されるステップを含み、
    既に存在するステップ、または上記ステップの前に、化学的、物理的、電気的、およびトポグラフィー的な方法のうちの1つによって導入された上部層中のピンホールもしくは開口部を、前記エッチング液が通過する、
    ことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  18. 前記基板は、シリコンウエハの太陽電池を含み、その一方の面または両面がテクスチャ形成され光閉じ込め効果が改良されていることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  19. 前記エッチングは、前記フィルムパターン上に重なる前記誘電体コーティングを部分的に除去するまたは破壊することを特徴とする請求項1に記載の方法。
  20. 前記フィルムパターンは、金属を含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
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