JP2013216549A - Manufacturing apparatus of silicon carbide single crystal and manufacturing method of silicon carbide single crystal - Google Patents

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大輔 近藤
Kenichiro Okuno
憲一郎 奥野
Yuki Takei
祐樹 武井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing apparatus of a silicon carbide single crystal and a manufacturing method of a silicon carbide single crystal that can efficiently sublimate a raw material and can manufacture a high-quality silicon carbide single crystal.SOLUTION: A manufacturing apparatus 1 of a silicon carbide single crystal includes: a crucible 50 including a crucible body 30 that has an opening and in which a raw material 20 of a silicon carbide single crystal is arranged, and a cover 40 that plugs the opening of the crucible body 30; and a heating coil 80 that is located in an outside of a side part 30b of the crucible body 30 and performs induction heating of the crucible 50, and includes a bottom side heating coil 90 that is located in an outside of a bottom part 30a of the crucible body 30 opposing to the opening and performs induction heating of the crucible 50.

Description

本発明は、昇華再結晶法を用いた炭化珪素単結晶の製造装置及び炭化珪素単結晶の製造方法に関する。   The present invention relates to a silicon carbide single crystal manufacturing apparatus and a silicon carbide single crystal manufacturing method using a sublimation recrystallization method.

従来、炭化珪素単結晶の製造方法として、炭化珪素単結晶の原料を昇華させ、昇華した原料を再結晶させる方法が広く知られている(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, as a method for producing a silicon carbide single crystal, a method of sublimating a raw material of a silicon carbide single crystal and recrystallizing the sublimated raw material is widely known (see, for example, Patent Document 1).

具体的には、坩堝の底部側に原料を配置する。坩堝の蓋体側には、種結晶を配置する。坩堝の側部の外側には、加熱コイルが配置されている。加熱コイルに高周波電流を流すことにより、加熱コイルは、坩堝を誘導加熱する。これにより、坩堝内部の温度が上昇し、原料が昇華する。昇華した原料は、種結晶の上に再結晶し、炭化珪素単結晶が成長する。このようにして、炭化珪素単結晶を製造していた。   Specifically, the raw material is disposed on the bottom side of the crucible. A seed crystal is disposed on the lid side of the crucible. A heating coil is arranged outside the side of the crucible. By passing a high-frequency current through the heating coil, the heating coil induction-heats the crucible. Thereby, the temperature inside a crucible rises and a raw material sublimes. The sublimated raw material is recrystallized on the seed crystal, and a silicon carbide single crystal grows. Thus, the silicon carbide single crystal was manufactured.

特開2001−26495号公報JP 2001-26495 A

高品質の炭化珪素単結晶を製造するための方法のひとつに、炭化珪素単結晶の成長速度を遅くしたまま、炭化珪素単結晶を成長させる方法がある。成長速度を遅くすることにより、成長中の炭化珪素単結晶に生じる応力が小さくなる。その結果、炭化珪素単結晶に欠陥が発生しにくくなり、高品質の炭化珪素単結晶を製造できる。   One method for producing a high-quality silicon carbide single crystal is a method of growing a silicon carbide single crystal while slowing the growth rate of the silicon carbide single crystal. By reducing the growth rate, the stress generated in the growing silicon carbide single crystal is reduced. As a result, defects are less likely to occur in the silicon carbide single crystal, and a high-quality silicon carbide single crystal can be manufactured.

成長速度を遅くするためには、坩堝の底部側の温度と坩堝の蓋体側の温度とを近づけて、坩堝内部の温度勾配を小さくすればよい。これにより、炭化珪素単結晶の成長面と原料との温度差が小さくなり、成長速度が遅くなる。   In order to slow the growth rate, the temperature on the bottom side of the crucible and the temperature on the lid side of the crucible are brought close to each other to reduce the temperature gradient inside the crucible. Thereby, the temperature difference between the growth surface of the silicon carbide single crystal and the raw material becomes small, and the growth rate becomes slow.

しかしながら、炭化珪素単結晶が成長する温度には、上限があるため、温度差を小さくした場合、原料が昇華しにくくなる。その結果、原料が昇華せずに残り、充分な大きさの炭化珪素単結晶が製造できず、原料を効率よく昇華できていなかった。   However, since the temperature at which the silicon carbide single crystal grows has an upper limit, when the temperature difference is reduced, the raw material is difficult to sublime. As a result, the raw material remained without sublimation, a sufficiently large silicon carbide single crystal could not be produced, and the raw material could not be sublimated efficiently.

また、原料の昇華に伴い、原料が炭化して炭化物の粉体が生成される。この炭化物の粉体が舞い上がって、炭化物の粉体であるカーボンが単結晶に取り込まれることがあった。その結果、高品質の炭化珪素単結晶が製造できないこともあった。   Further, as the raw material is sublimated, the raw material is carbonized to produce carbide powder. In some cases, the carbide powder soared and carbon as the carbide powder was taken into the single crystal. As a result, a high quality silicon carbide single crystal may not be manufactured.

そこで、本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、原料を効率よく昇華でき、高品質な炭化珪素単結晶を製造できる炭化珪素単結晶の製造装置及び炭化珪素単結晶の製造方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made in view of such a situation, and a silicon carbide single crystal manufacturing apparatus and a silicon carbide single crystal that can efficiently sublimate a raw material and can manufacture a high-quality silicon carbide single crystal. It aims to provide a method.

上述した課題を解決するため、本発明は、次のような特徴を有している。本発明の特徴は、開口部を有し、炭化珪素単結晶の原料が配置される坩堝本体と、前記坩堝本体の開口部を塞ぐ蓋体とを備えた坩堝と、前記坩堝本体の側部の外側に位置し、前記坩堝を誘導加熱する加熱コイルとを有する炭化珪素単結晶の製造装置であって、前記開口部と対向する前記坩堝本体の底部の外側に位置し、前記坩堝を誘導加熱する底部側加熱コイルを有することを要旨とする。   In order to solve the above-described problems, the present invention has the following features. A feature of the present invention is that a crucible body having an opening and having a silicon carbide single crystal material disposed thereon, a crucible having a lid for closing the opening of the crucible body, and a side portion of the crucible body An apparatus for producing a silicon carbide single crystal, which is located outside and has a heating coil for induction heating the crucible, is located outside the bottom of the crucible body facing the opening, and induction heats the crucible The gist is to have a bottom side heating coil.

本発明の特徴によれば、坩堝本体の底部の外側に位置し、坩堝を誘導加熱する底部側加熱コイルを有する。底部側加熱コイルは、坩堝本体の底部の外側に位置するため、坩堝本体の底部を加熱する。これにより、坩堝の底部に向かうにつれ、原料の加熱温度が上昇する。従って、坩堝内部の温度勾配を小さくしても、原料が昇華するにつれ、種結晶に対向する原料の表面の温度を上昇させることができる。このため、原料を残さず昇華させることができ、原料を効率よく昇華できる。   According to the characteristic of this invention, it has the bottom part side heating coil which is located in the outer side of the bottom part of a crucible main body, and induction-heats a crucible. Since the bottom side heating coil is located outside the bottom of the crucible body, it heats the bottom of the crucible body. Thereby, the heating temperature of a raw material rises as it goes to the bottom part of a crucible. Therefore, even if the temperature gradient inside the crucible is reduced, the temperature of the surface of the raw material facing the seed crystal can be increased as the raw material sublimates. For this reason, it can sublime without leaving a raw material, and a raw material can be sublimated efficiently.

原料は、坩堝本体の底部に近づくほど加熱されるため、底部側に位置する原料から順に原料が昇華し、炭化していく。従って、原料の炭化物の粉体は、底部側に位置するため、炭化物の粉体が舞い上がりにくくなる。その結果、高品質の炭化珪素単結晶を製造できる。   Since the raw material is heated as it approaches the bottom of the crucible body, the raw material is sublimated and carbonized sequentially from the raw material located on the bottom side. Accordingly, since the raw material carbide powder is located on the bottom side, the carbide powder hardly rises. As a result, a high quality silicon carbide single crystal can be manufactured.

前記底部側加熱コイルは、渦巻き状であってもよい。   The bottom side heating coil may be spiral.

また、本発明の他の特徴は、開口部を有し、炭化珪素単結晶の原料が配置される坩堝本体と、前記坩堝本体の開口部を塞ぐ蓋体とを備えた坩堝と、前記坩堝本体の側部の外側に位置し、前記坩堝を誘導加熱する加熱コイルとを有し、前記開口部と対向する前記坩堝本体の底部の外側に位置し、前記坩堝を誘導加熱する底部側加熱コイルを有する炭化珪素単結晶の製造装置を用いて炭化珪素単結晶を製造する炭化珪素単結晶の製造方法であって、前記原料を前記坩堝に配置する工程と、前記原料を加熱する工程とを含み、前記原料を加熱する工程において、前記加熱コイル及び前記底部側加熱コイルによって前記坩堝を加熱することを要旨とする。   Another feature of the present invention is that a crucible body having an opening and having a silicon carbide single crystal material disposed thereon, a crucible provided with a lid for closing the opening of the crucible body, and the crucible body A heating coil for inductively heating the crucible, located outside the bottom of the crucible body facing the opening, and having a bottom side heating coil for inductively heating the crucible. A silicon carbide single crystal manufacturing method for manufacturing a silicon carbide single crystal using an apparatus for manufacturing a silicon carbide single crystal, comprising the steps of placing the raw material in the crucible and heating the raw material, In the step of heating the raw material, the gist is to heat the crucible by the heating coil and the bottom side heating coil.

前記原料を加熱する工程において、前記底部側加熱コイルに流す電流を、前記加熱コイルに流す電流に対して相対的に変化させてもよい。   In the step of heating the raw material, the current flowing through the bottom side heating coil may be changed relative to the current flowing through the heating coil.

本発明によれば、原料を効率よく昇華でき、高品質な炭化珪素単結晶を製造できる。   According to the present invention, the raw material can be sublimated efficiently, and a high-quality silicon carbide single crystal can be produced.

図1は、本実施形態に係る炭化珪素単結晶製造装置1の概略断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 according to this embodiment. 図2は、図1のA方向から視た底部側加熱コイル90の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the bottom side heating coil 90 viewed from the direction A of FIG. 図3は、本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造方法を説明するためのフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart for illustrating the method for manufacturing the silicon carbide single crystal according to the present embodiment. 図4は、本実施形態に係る炭化珪素単結晶製造装置1のZ軸方向を示すための説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram for illustrating the Z-axis direction of the silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment. 図5は、本実施形態に係る坩堝50内部の温度分布を説明するためのグラフである。FIG. 5 is a graph for explaining the temperature distribution inside the crucible 50 according to the present embodiment. 図6は、従来の坩堝内部の温度分布を説明するためのグラフである。FIG. 6 is a graph for explaining a temperature distribution inside a conventional crucible. 図7は、その他実施形態に係る底部側加熱コイル90の平面図である。FIG. 7 is a plan view of the bottom side heating coil 90 according to another embodiment. 図8は、その他実施形態に係る底部側加熱コイル90の平面図である。FIG. 8 is a plan view of the bottom side heating coil 90 according to another embodiment.

本発明に係る炭化珪素単結晶の製造装置及び炭化珪素単結晶の製造方法の一例について、図面を参照しながら説明する。具体的には、(1)炭化珪素単結晶製造装置1の概略構成、(2)炭化珪素単結晶の製造方法、(3)作用効果、(4)その他実施形態、について説明する。   An example of a silicon carbide single crystal manufacturing apparatus and a silicon carbide single crystal manufacturing method according to the present invention will be described with reference to the drawings. Specifically, (1) a schematic configuration of the silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1, (2) a method for manufacturing a silicon carbide single crystal, (3) operational effects, and (4) other embodiments will be described.

以下の図面の記載において、同一または類似の部分には、同一又は類似の符号を付している。図面は模式的なのものであり、各寸法の比率などは現実のものとは異なることを留意すべきである。従って、具体的な寸法などは以下の説明を参酌して判断すべきものである。図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。   In the following description of the drawings, the same or similar parts are denoted by the same or similar reference numerals. It should be noted that the drawings are schematic and ratios of dimensions and the like are different from actual ones. Accordingly, specific dimensions and the like should be determined in consideration of the following description. It goes without saying that the drawings include parts having different dimensional relationships and ratios.

(1)炭化珪素単結晶製造装置1の概略構成
本実施形態に係る炭化珪素単結晶製造装置1の概略構成について、図1を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る炭化珪素単結晶製造装置1の概略断面図である。図2は、図1のA方向から視た底部側加熱コイル90の平面図である。
(1) Schematic configuration of silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 A schematic configuration of the silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 according to this embodiment. FIG. 2 is a plan view of the bottom side heating coil 90 viewed from the direction A in FIG.

図1に示されるように、炭化珪素単結晶製造装置1(以下、適宜、装置1と略す)は、坩堝本体30と蓋体40とを有する坩堝50、石英管70、加熱コイル80、干渉防止コイル85、底部側加熱コイル90、断熱材150及びガイド部材200を有する。なお、坩堝本体30の中心及び蓋体40の中心を通る中心軸に平行な方向であるz方向であり、z方向と直交する方向は、x方向である。   As shown in FIG. 1, a silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 (hereinafter, abbreviated as apparatus 1 as appropriate) includes a crucible 50 having a crucible body 30 and a lid 40, a quartz tube 70, a heating coil 80, and interference prevention. The coil 85, the bottom side heating coil 90, the heat insulating material 150, and the guide member 200 are included. Note that the z direction is a direction parallel to the central axis passing through the center of the crucible body 30 and the center of the lid body 40, and the direction orthogonal to the z direction is the x direction.

坩堝50は、坩堝本体30と蓋体40とを備える。坩堝本体30は、開口部を有する。坩堝本体30は、筒型の容器である。坩堝本体30は、底部30aと側部30bとを有する。底部30aは、坩堝本体30の底面33を構成する。底部30aは、開口部と対向する。側部30bは、坩堝本体30の側面35を構成する。側部30bの一端部は、開口部を形成し、側部30bの他端部は、底部30aと接する。   The crucible 50 includes a crucible body 30 and a lid body 40. The crucible body 30 has an opening. The crucible body 30 is a cylindrical container. The crucible body 30 has a bottom portion 30a and side portions 30b. The bottom portion 30 a constitutes the bottom surface 33 of the crucible body 30. The bottom 30a faces the opening. The side portion 30 b constitutes the side surface 35 of the crucible body 30. One end portion of the side portion 30b forms an opening, and the other end portion of the side portion 30b is in contact with the bottom portion 30a.

坩堝本体30には、炭化珪素単結晶(以下、適宜、単結晶と略す)の原料20(昇華用原料ともいう)が配置される。具体的には、坩堝本体30の開口部から坩堝本体30の底面33に原料20が配置される。   In the crucible body 30, a raw material 20 (also referred to as a sublimation raw material) of silicon carbide single crystal (hereinafter, abbreviated as single crystal as appropriate) is disposed. Specifically, the raw material 20 is disposed on the bottom surface 33 of the crucible body 30 from the opening of the crucible body 30.

蓋体40は、坩堝本体30の開口部を塞ぐ。蓋体40は、凸部を有する。凸部が開口部に嵌合することにより、坩堝本体30の開口部を塞ぐ。本実施形態において、蓋体40の凸部及び坩堝本体30は、互いにかみ合うねじ山が形成されている。蓋体40は、坩堝本体30の底面33側に面する面41を有する。面41には、台座45が形成されている。台座45には、種結晶が配置される。従って、z方向において、坩堝50の一端部(すなわち、蓋体40)には、種結晶100が配置され、坩堝50の一端部に対向する坩堝50の他端部(すわなち、坩堝本体30の底部30a)には、原料20が配置される。このため、種結晶100と原料20とは対向している。坩堝50は、石英管70の内部に配置される。具体的には、坩堝50は、石英管70の底部に配置される。   The lid 40 closes the opening of the crucible body 30. The lid 40 has a convex portion. The opening of the crucible body 30 is closed by fitting the convex portion into the opening. In this embodiment, the convex part of the cover body 40 and the crucible main body 30 are formed with threads that mesh with each other. The lid body 40 has a surface 41 facing the bottom surface 33 side of the crucible body 30. A pedestal 45 is formed on the surface 41. A seed crystal is disposed on the pedestal 45. Therefore, in the z direction, the seed crystal 100 is disposed at one end of the crucible 50 (that is, the lid 40), and the other end of the crucible 50 opposite to the one end of the crucible 50 (that is, the crucible body 30). The raw material 20 is arranged at the bottom 30a). For this reason, the seed crystal 100 and the raw material 20 are opposed. The crucible 50 is disposed inside the quartz tube 70. Specifically, the crucible 50 is disposed at the bottom of the quartz tube 70.

加熱コイル80は、石英管70の外周に設けられる。すなわち、加熱コイル80は、坩堝本体30の側部30bの外側に位置する。加熱コイル80は、加熱コイル80a及び加熱コイル80bを有する。加熱コイル80aは、坩堝本体30の底面33側に位置する。加熱コイル80bは、蓋体40側に位置する。加熱コイル80に高周波電流を流すことにより、加熱コイル80は、坩堝50を誘導加熱する。これにより、坩堝50の内部の温度が上昇し、原料20が昇華する。原料20が再結晶しやすいように、蓋体40側の温度は、坩堝本体30の底面33側の温度に比べて、低くすることが好ましい。坩堝50は、断熱材150に覆われている。   The heating coil 80 is provided on the outer periphery of the quartz tube 70. That is, the heating coil 80 is located outside the side portion 30 b of the crucible body 30. The heating coil 80 includes a heating coil 80a and a heating coil 80b. The heating coil 80 a is located on the bottom surface 33 side of the crucible body 30. The heating coil 80b is located on the lid 40 side. By passing a high-frequency current through the heating coil 80, the heating coil 80 induction-heats the crucible 50. Thereby, the temperature inside the crucible 50 rises and the raw material 20 sublimates. The temperature on the lid 40 side is preferably lower than the temperature on the bottom surface 33 side of the crucible body 30 so that the raw material 20 is easily recrystallized. The crucible 50 is covered with a heat insulating material 150.

図1に示されるように、底部側加熱コイル90は、坩堝本体30の底部30aの外側に位置する。本実施形態において、底部側加熱コイル90は、石英管70の底部の外側に位置する。   As shown in FIG. 1, the bottom side heating coil 90 is located outside the bottom 30 a of the crucible body 30. In the present embodiment, the bottom side heating coil 90 is located outside the bottom of the quartz tube 70.

図2に示されるように、本実施形態において、底部側加熱コイル90は、渦巻き状である。従って、底部側加熱コイル90は、旋回するにつれ中心から遠ざかる曲線状に延びている。z方向から視て底部側加熱コイル90が渦巻き状に視えるように、底部側加熱コイル90は、配置されている。底部側加熱コイル90が延びる方向に直交する直交方向において、底部側加熱コイル90の幅が一定の場合、直交方向における底部側加熱コイル90の間隔は、一定である。従って、底部側加熱コイル90は、アルキメデスの螺旋である。   As shown in FIG. 2, in the present embodiment, the bottom side heating coil 90 has a spiral shape. Accordingly, the bottom side heating coil 90 extends in a curved shape that moves away from the center as it turns. The bottom side heating coil 90 is arranged so that the bottom side heating coil 90 can be seen in a spiral shape when viewed from the z direction. When the width of the bottom side heating coil 90 is constant in the orthogonal direction orthogonal to the direction in which the bottom side heating coil 90 extends, the interval between the bottom side heating coils 90 in the orthogonal direction is constant. Accordingly, the bottom heating coil 90 is an Archimedean spiral.

底部側加熱コイル90の両端部は、それぞれ電極に接続されている。底部側加熱コイル90は、加熱コイル80と同様に、底部側加熱コイル90に高周波電流を流すことにより、底部側加熱コイル90は、坩堝50を誘導加熱する。底部側加熱コイル90は、坩堝本体30の底部30aの外側に位置するため、坩堝本体30の底部30aを主に加熱する。   Both ends of the bottom side heating coil 90 are connected to electrodes. Similarly to the heating coil 80, the bottom side heating coil 90 causes the crucible 50 to be inductively heated by passing a high-frequency current through the bottom side heating coil 90. Since the bottom part side heating coil 90 is located outside the bottom part 30a of the crucible body 30, the bottom part 30a of the crucible body 30 is mainly heated.

本実施形態において、z方向から視て、底部側加熱コイル90は、坩堝50と全て重なっている。また、底部側加熱コイル90は、坩堝本体30の底部30aよりも小さい。従って、z方向から視て、底部30aの外縁の内側に底部側加熱コイル90は位置する。   In this embodiment, the bottom side heating coil 90 overlaps with the crucible 50 as viewed from the z direction. The bottom side heating coil 90 is smaller than the bottom 30 a of the crucible body 30. Accordingly, the bottom side heating coil 90 is positioned inside the outer edge of the bottom 30a when viewed from the z direction.

ガイド部材200は、単結晶の成長範囲を規制する。また、ガイド部材200は、昇華した原料を種結晶100に導く。本実施形態において、ガイド部材200は、両端が開口した筒状の円錐台形状である。   The guide member 200 regulates the growth range of the single crystal. Further, the guide member 200 guides the sublimated raw material to the seed crystal 100. In the present embodiment, the guide member 200 has a cylindrical truncated cone shape with both ends opened.

(2)炭化珪素単結晶の製造方法
本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造方法について、図1から図3を参照しながら説明する。図3は、本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造方法を説明するためのフローチャートである。
(2) Manufacturing method of silicon carbide single crystal The manufacturing method of the silicon carbide single crystal which concerns on this embodiment is demonstrated, referring FIGS. 1-3. FIG. 3 is a flowchart for illustrating the method for manufacturing the silicon carbide single crystal according to the present embodiment.

図3に示されるように、本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造方法は、配置工程S1及び加熱工程S2を備える。本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造方法では、上述した装置1を用いて炭化珪素単結晶を製造する。   As FIG. 3 shows, the manufacturing method of the silicon carbide single crystal which concerns on this embodiment is provided with arrangement | positioning process S1 and heating process S2. In the method for manufacturing a silicon carbide single crystal according to the present embodiment, the silicon carbide single crystal is manufactured using the apparatus 1 described above.

(2.1)配置工程S1
配置工程S1は、炭化珪素単結晶の原料20を坩堝50に配置する工程である。また、本実施形態に係る配置工程S1では、炭化珪素からなる種結晶100を坩堝50に配置する。
(2.1) Arrangement process S1
The placement step S1 is a step of placing the silicon carbide single crystal raw material 20 in the crucible 50. Further, in the arranging step S1 according to the present embodiment, the seed crystal 100 made of silicon carbide is arranged in the crucible 50.

種結晶100を坩堝50の蓋体40に配置する。具体的には、接着剤を用いて、種結晶100を台座45に固定する。原料20は、坩堝本体30に配置する。具体的には、原料20坩堝本体30の開口部から坩堝本体30の底面33に配置する。これにより、種結晶100は、坩堝50の一方側に配置され、原料20は、坩堝50の他方側に配置される。   The seed crystal 100 is placed on the lid 40 of the crucible 50. Specifically, the seed crystal 100 is fixed to the pedestal 45 using an adhesive. The raw material 20 is disposed in the crucible body 30. Specifically, the raw material 20 is disposed from the opening of the crucible body 30 to the bottom surface 33 of the crucible body 30. Thereby, seed crystal 100 is arranged on one side of crucible 50, and raw material 20 is arranged on the other side of crucible 50.

種結晶100は、炭化珪素からなるものを準備する。具体的には、炭化珪素単結晶を平板状に加工したものを準備する。種結晶100には、裏面から炭化珪素が昇華することを抑える保護層を備えていても良い。   A seed crystal 100 is prepared from silicon carbide. Specifically, a silicon carbide single crystal processed into a flat plate shape is prepared. The seed crystal 100 may include a protective layer that suppresses sublimation of silicon carbide from the back surface.

原料20に含まれる炭化珪素は、どのような製造方法で製造されたものを準備しても構わない。例えば、化学気相成長法(CVD法)で製造された炭化珪素を用いてもよいし、珪素含有原料と炭素含有原料とから炭化珪素前駆体を生成し、生成された炭化珪素前駆体を焼成することで得られる炭化珪素を用いてもよい。原料20には、不純物が少ないものを用いることが好ましい。   The silicon carbide contained in the raw material 20 may be prepared by any manufacturing method. For example, silicon carbide manufactured by a chemical vapor deposition method (CVD method) may be used, or a silicon carbide precursor is generated from a silicon-containing raw material and a carbon-containing raw material, and the generated silicon carbide precursor is fired. Silicon carbide obtained by doing so may be used. It is preferable to use a material with few impurities as the raw material 20.

(2.2)加熱工程S2
加熱工程S2は、原料20を加熱する工程である。
(2.2) Heating step S2
The heating step S2 is a step of heating the raw material 20.

加熱コイル80及び底部側加熱コイル90によって坩堝50を加熱する。具体的には、加熱コイル80及び底部側加熱コイル90に電流を通電して、坩堝50を加熱する。加熱された坩堝本体30が原料20を加熱する。一般的に、加熱温度は、2000℃から2500℃である。蓋体40側の温度が、坩堝本体30の底部側の温度よりもやや低温となるように、加熱コイル80a及び加熱コイル80bを調整する。原料20の昇華温度を超えると、原料20は、昇華する。   The crucible 50 is heated by the heating coil 80 and the bottom side heating coil 90. Specifically, current is passed through the heating coil 80 and the bottom side heating coil 90 to heat the crucible 50. The heated crucible body 30 heats the raw material 20. Generally, the heating temperature is 2000 ° C to 2500 ° C. The heating coil 80 a and the heating coil 80 b are adjusted so that the temperature on the lid body 40 side is slightly lower than the temperature on the bottom side of the crucible body 30. If the sublimation temperature of the raw material 20 is exceeded, the raw material 20 will sublime.

底部30aは、底部側加熱コイル90により加熱される。従って、原料20は、底部30aに近づくほど加熱される。   The bottom 30a is heated by the bottom side heating coil 90. Therefore, the raw material 20 is heated as it approaches the bottom 30a.

底部側加熱コイル90に流す電流を、加熱コイル80に流す電流に対して相対的に変化させることが好ましい。例えば、底部側加熱コイル90に流す電流を調整することによって、底部側加熱コイル90に流す電流を、加熱コイル80に流す電流に対して相対的に変化させることができる。これにより、坩堝50の内部(すなわち、原料20の内部)の温度分布を望ましい状態に変化させることができる。   It is preferable to change the current flowing through the bottom side heating coil 90 relative to the current flowing through the heating coil 80. For example, by adjusting the current flowing through the bottom side heating coil 90, the current flowing through the bottom side heating coil 90 can be changed relative to the current flowing through the heating coil 80. Thereby, the temperature distribution inside the crucible 50 (that is, inside the raw material 20) can be changed to a desired state.

昇華した原料20は、種結晶100上で再結晶する。これにより炭化珪素単結晶が成長を開始する。所望の大きさの炭化珪素単結晶が得られるまで、炭化珪素単結晶を成長させる。   The sublimated raw material 20 is recrystallized on the seed crystal 100. Thereby, the silicon carbide single crystal starts to grow. The silicon carbide single crystal is grown until a silicon carbide single crystal of a desired size is obtained.

炭化珪素単結晶の成長速度は、0.1mm/h以下となり、成長中の炭化珪素単結晶に生じる応力は、10MPa以下となるように、成長させることが好ましい。このような条件の下、成長した炭化珪素単結晶には、欠陥が発生しにくいため、高品質な炭化珪素単結晶が製造できる。   The growth rate of the silicon carbide single crystal is preferably 0.1 mm / h or less, and the stress generated in the growing silicon carbide single crystal is preferably 10 MPa or less. Under such conditions, since the grown silicon carbide single crystal is less likely to have defects, a high-quality silicon carbide single crystal can be produced.

(3)作用効果
図4に示されるように、坩堝50の底部30aと蓋体40とを通る中心軸において、底部30aから蓋体40に向かう方向をZ軸とする。Z軸における温度をT(Z)と定義する。Z軸上において、底面33の位置をZ=0とし、種結晶100と対向する原料20の表面20aの位置をZ=Zsurとし、原料20と対向する種結晶100の表面の位置をZ=Zseedとする。
(3) Operational Effect As shown in FIG. 4, in the central axis passing through the bottom 30 a of the crucible 50 and the lid 40, the direction from the bottom 30 a toward the lid 40 is the Z axis. The temperature on the Z axis is defined as T (Z). On the Z axis, the position of the bottom surface 33 is Z = 0, the position of the surface 20a of the raw material 20 facing the seed crystal 100 is Z = Zsur, and the position of the surface of the seed crystal 100 facing the raw material 20 is Z = Zseed. And

結晶成長を継続的に持続させるためには、昇華用原料の底部(図4、図5のZ=0)から昇華用原料表面(Zsur)を経て種結晶表面(Zseed)にいたるまでの温度勾配を図5に示すように一様に右肩下がりにする必要がある。すなわち、昇華用原料の底部をZ=0として図3のようにZ軸をとり、任意のZにおける温度をT(Z)と表記すれば、結晶成長を継続的に持続させるための条件は、以下の式(1)を満たすものとなる。   In order to continuously maintain the crystal growth, the temperature gradient from the bottom of the sublimation raw material (Z = 0 in FIGS. 4 and 5) through the sublimation raw material surface (Zsur) to the seed crystal surface (Zseed). As shown in FIG. That is, if the bottom of the sublimation raw material is Z = 0 and the Z axis is taken as shown in FIG. 3 and the temperature at an arbitrary Z is expressed as T (Z), the condition for continuously maintaining crystal growth is: The following expression (1) is satisfied.

dT(Z)/dZ<0(但し、0<Z<Zseed)・・・式(1)
この条件を満たすことで、昇華用原料表面には、常に昇華用原料の底部側から原料が供給されるため、結晶成長を継続的に持続させることができる。もし、図6に示すような極大点を持つような温度分布の場合、極大点(Zmax)よりも種結晶100側に充填された昇華用原料は、種結晶100側に拡散・輸送されて結晶成長に寄与する。一方、極大点よりも底部30a側に充填された昇華用原料は、底部30a側に拡散・輸送され、底部側で再結晶化する。このため、昇華用原料の表面(すなわち、Zsur)には、原料の供給が行われない。このため結晶成長を継続的に持続することができない。
dT (Z) / dZ <0 (where 0 <Z <Zseed) (1)
By satisfying this condition, since the raw material is always supplied from the bottom side of the sublimation raw material to the surface of the sublimation raw material, crystal growth can be continued continuously. If the temperature distribution has a maximum point as shown in FIG. 6, the sublimation raw material filled on the seed crystal 100 side from the maximum point (Zmax) is diffused and transported to the seed crystal 100 side to form a crystal. Contribute to growth. On the other hand, the sublimation raw material filled on the bottom 30a side from the maximum point is diffused and transported on the bottom 30a side and recrystallized on the bottom side. For this reason, the raw material is not supplied to the surface of the sublimation raw material (that is, Zsur). For this reason, crystal growth cannot be continued continuously.

本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造装置1は、坩堝本体30の底部30aの外側に位置し、坩堝50を加熱する底部側加熱コイル90を有する。底部側加熱コイル90は、底部30aを加熱するため、原料20は、底部30aに近づくほど加熱される。このため、図5に示されるように、坩堝50の温度分布は、上記式(1)を満たすものとなる。すなわち、単結晶の成長速度を遅くするために、底部30a側の温度と蓋体40側の温度とを近づけても、単結晶の成長面の温度よりも原料20の表面20a温度の方が低くなることがない。従って、上記式(1)を常に満たすことができ、原料20を効率よく昇華できる。その結果、充分な大きさの高品質な炭化珪素単結晶を製造することができる。   The silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 according to this embodiment includes a bottom side heating coil 90 that heats the crucible 50 and is located outside the bottom 30 a of the crucible body 30. Since the bottom side heating coil 90 heats the bottom 30a, the raw material 20 is heated as it approaches the bottom 30a. For this reason, as shown in FIG. 5, the temperature distribution of the crucible 50 satisfies the above formula (1). That is, in order to slow down the growth rate of the single crystal, even if the temperature on the bottom 30a side and the temperature on the lid 40 side are close, the temperature of the surface 20a of the raw material 20 is lower than the temperature of the growth surface of the single crystal. Never become. Therefore, the above formula (1) can always be satisfied, and the raw material 20 can be sublimated efficiently. As a result, a sufficiently high-quality silicon carbide single crystal can be manufactured.

炭化珪素単結晶の原料は、炭化珪素(SiC)からなる。SiCは、加熱によって、ガス成分であるSiC2、Si2C及びSi2と原料の炭化物の粉体であるC(カーボン)とに分解される。従って、原料の昇華に伴い、炭化物の粉体が生成する。炭化物の粉体は、原料の昇華に伴い、原料が配置されていた坩堝本体30の底部に溜まっていく。   The raw material for the silicon carbide single crystal is silicon carbide (SiC). SiC is decomposed by heating into SiC2, Si2C, and Si2 that are gas components and C (carbon) that is a powder of a raw material carbide. Therefore, carbide powder is generated as the raw material is sublimated. The carbide powder accumulates at the bottom of the crucible body 30 where the raw material has been disposed, as the raw material is sublimated.

従来の炭化珪素単結晶の製造装置では、坩堝の側部の外側から坩堝を加熱していた。このため、坩堝の側部側に配置された原料が昇華する傾向があり、原料の外周側に位置する原料から順に原料が炭化していた。種結晶側に位置する炭化物の粉体は、原料の昇華に伴って舞い上がりやすい。舞い上がった炭化物の粉体が成長している単結晶に付着することによって、製造した単結晶の内部に炭化物の粉体(すなわち、カーボン)が取り込まれる。その結果、品質が低下した単結晶となっていた。   In the conventional silicon carbide single crystal manufacturing apparatus, the crucible is heated from the outside of the side portion of the crucible. For this reason, the raw material arrange | positioned at the side part side of the crucible tends to sublimate, and the raw material was carbonized in an order from the raw material located in the outer peripheral side of a raw material. The carbide powder located on the seed crystal side is likely to rise with the sublimation of the raw material. As the soared carbide powder adheres to the growing single crystal, the carbide powder (that is, carbon) is taken into the produced single crystal. As a result, a single crystal with reduced quality was obtained.

本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造装置1では、原料20は、底部30aに近づくほど加熱されるため、底部30a側に位置する原料20から順に原料が昇華し、炭化していく。従って、原料の炭化物の粉体は、底部30a側に位置するため、炭化物の粉体が舞い上がりにくくなる。その結果、高品質の炭化珪素単結晶を製造できる。   In the silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment, the raw material 20 is heated as it approaches the bottom portion 30a, so that the raw material is sublimated and carbonized sequentially from the raw material 20 located on the bottom portion 30a side. Accordingly, since the raw material carbide powder is located on the bottom 30a side, the carbide powder hardly rises up. As a result, a high quality silicon carbide single crystal can be manufactured.

また、本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造装置1は、渦巻き状の底部側加熱コイル90を有するため、坩堝本体30の底部30aを均一に誘導加熱しやすい。このため、原料を効率よく昇華でき、高品質な炭化珪素単結晶を製造できる。   Moreover, since the silicon carbide single crystal manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment has the spiral bottom heating coil 90, the bottom 30a of the crucible body 30 can be easily induction-heated uniformly. For this reason, a raw material can be sublimated efficiently and a high quality silicon carbide single crystal can be manufactured.

また、底部側加熱コイル90に流す電流を、加熱コイル80に流す電流に対して相対的に変化させることが好ましい。結晶成長が進むにつれて、原料20の量が変化するため、原料20の内部の温度分布が変化する。底部側加熱コイル90に流す電流を、加熱コイル80に流す電流に対して相対的に変化させることによって、坩堝50の内部(すなわち、原料20の内部)の温度分布を望ましい状態に変化させることができる。その結果、高品質な炭化珪素単結晶を製造できる。   Further, it is preferable to change the current flowing through the bottom side heating coil 90 relative to the current flowing through the heating coil 80. As the crystal growth proceeds, the amount of the raw material 20 changes, so that the temperature distribution inside the raw material 20 changes. By changing the current flowing through the bottom side heating coil 90 relative to the current flowing through the heating coil 80, the temperature distribution inside the crucible 50 (ie, inside the raw material 20) can be changed to a desired state. it can. As a result, a high-quality silicon carbide single crystal can be manufactured.

結晶成長開始時から、原料20の表面20a温度が一定となり、かつ、原料20の内部の温度分布が同じ温度分布となるように、底部側加熱コイル90に流す電流を調整することが望ましい。   It is desirable to adjust the current flowing through the bottom side heating coil 90 so that the temperature of the surface 20a of the raw material 20 is constant and the temperature distribution inside the raw material 20 is the same temperature distribution from the start of crystal growth.

(4)その他実施形態
本発明の実施形態を通じて本発明の内容を開示したが、この開示の一部をなす論述及び図面は、本発明を限定するものであると理解すべきではない。本発明はここでは記載していない様々な実施形態を含む。従って、本発明はここでは記載していない様々な実施形態を含む。
(4) Other Embodiments Although the contents of the present invention have been disclosed through the embodiments of the present invention, it should not be understood that the description and drawings constituting a part of this disclosure limit the present invention. The present invention includes various embodiments not described herein. Accordingly, the present invention includes various embodiments not described herein.

具体的には、上述した実施形態では、底部側加熱コイル90は、渦巻き状であったが、これに限られない。例えば、図7に示されるように、一巻きのコイルであってもよい。   Specifically, in the above-described embodiment, the bottom side heating coil 90 has a spiral shape, but is not limited thereto. For example, as shown in FIG. 7, a single-turn coil may be used.

また、底部側加熱コイル90は、旋回するにつれ中心に近づくように曲線状の部材によって構成される渦巻き状であったが、これに限られない。例えば、図8に示されるように、底部側加熱コイル90は、直角に曲がりながら中心に近づくように、複数の直線状の部材によって構成される渦巻き状であってもよい。   Moreover, although the bottom part side heating coil 90 was the spiral shape comprised by the curvilinear member so that it might approach a center as it turned, it is not restricted to this. For example, as shown in FIG. 8, the bottom side heating coil 90 may have a spiral shape constituted by a plurality of linear members so as to approach the center while bending at a right angle.

上述の通り、本発明はここでは記載していない様々な実施形態を含む。従って、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。   As described above, the present invention includes various embodiments not described herein. Therefore, the technical scope of the present invention is defined only by the invention specifying matters according to the scope of claims reasonable from the above description.

1…炭化珪素単結晶製造装置、 20…原料、 20a…(原料の)表面、 30…坩堝本体、 30a…底部、 30b…側部、 33…底面、 35…側面、 40…蓋体、 41…面、 45…台座、 50…坩堝、 70…石英管、 80,80a,80b…加熱コイル、 85…干渉防止コイル、 90…底部側加熱コイル、 100…種結晶、 150…断熱材、 200…ガイド部材   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Silicon carbide single crystal manufacturing apparatus, 20 ... Raw material, 20a ... (Raw material) surface, 30 ... Crucible body, 30a ... Bottom part, 30b ... Side part, 33 ... Bottom face, 35 ... Side face, 40 ... Cover body, 41 ... Surface 45, pedestal, 50 crucible, 70 quartz tube, 80, 80a, 80b heating coil, 85 interference prevention coil, 90 bottom heating coil, 100 seed crystal, 150 thermal insulation, 200 guide Element

Claims (4)

開口部を有し、炭化珪素単結晶の原料が配置される坩堝本体と、前記坩堝本体の開口部を塞ぐ蓋体とを備えた坩堝と、
前記坩堝本体の側部の外側に位置し、前記坩堝を誘導加熱する加熱コイルとを有する炭化珪素単結晶の製造装置であって、
前記開口部と対向する前記坩堝本体の底部の外側に位置し、前記坩堝を誘導加熱する底部側加熱コイルを有する炭化珪素単結晶の製造装置。
A crucible having an opening and a crucible body on which a raw material of the silicon carbide single crystal is disposed; and a lid for closing the opening of the crucible body;
A silicon carbide single crystal manufacturing apparatus having a heating coil for induction heating of the crucible, located outside a side portion of the crucible body,
An apparatus for producing a silicon carbide single crystal, comprising a bottom side heating coil that is positioned outside the bottom of the crucible main body facing the opening and induction-heats the crucible.
前記底部側加熱コイルは、渦巻き状の加熱コイルである請求項1に記載の炭化珪素単結晶の製造装置。   The silicon carbide single crystal manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the bottom side heating coil is a spiral heating coil. 開口部を有し、炭化珪素単結晶の原料が配置される坩堝本体と、前記坩堝本体の開口部を塞ぐ蓋体とを備えた坩堝と、
前記坩堝本体の側部の外側に位置し、前記坩堝を誘導加熱する加熱コイルとを有し、
前記開口部と対向する前記坩堝本体の底部の外側に位置し、前記坩堝を誘導加熱する底部側加熱コイルを有する炭化珪素単結晶の製造装置を用いて炭化珪素単結晶を製造する炭化珪素単結晶の製造方法であって、
前記原料を前記坩堝に配置する工程と、前記原料を加熱する工程とを含み、
前記原料を加熱する工程において、前記加熱コイル及び前記底部側加熱コイルによって前記坩堝を加熱する炭化珪素単結晶の製造方法。
A crucible having an opening and a crucible body on which a raw material of the silicon carbide single crystal is disposed; and a lid for closing the opening of the crucible body;
A heating coil for inductively heating the crucible, located outside the side of the crucible body,
A silicon carbide single crystal that produces a silicon carbide single crystal using a silicon carbide single crystal production apparatus that is located outside the bottom of the crucible body facing the opening and has a bottom side heating coil for induction heating the crucible A manufacturing method of
Placing the raw material in the crucible, and heating the raw material,
A method for producing a silicon carbide single crystal, wherein in the step of heating the raw material, the crucible is heated by the heating coil and the bottom side heating coil.
前記原料を加熱する工程において、前記底部側加熱コイルに流す電流を、前記加熱コイルに流す電流に対して相対的に変化させる請求項3に記載の炭化珪素単結晶の製造方法。   The method for producing a silicon carbide single crystal according to claim 3, wherein in the step of heating the raw material, a current flowing through the bottom portion side heating coil is changed relative to a current flowing through the heating coil.
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