JP2013207782A - Transmitter, signal generating device and calibration method - Google Patents

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JP2013207782A JP2012078308A JP2012078308A JP2013207782A JP 2013207782 A JP2013207782 A JP 2013207782A JP 2012078308 A JP2012078308 A JP 2012078308A JP 2012078308 A JP2012078308 A JP 2012078308A JP 2013207782 A JP2013207782 A JP 2013207782A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transmitter capable of precisely correcting a distortion of a signal.SOLUTION: The transmitter includes: a test signal generating section 101; a frequency characteristic correcting section 104 that corrects an amplitude characteristic of a test signal and a phase characteristic; a modulator 105; an envelope detection unit 106; a frequency characteristic calculation section 107 that calculates a frequency characteristic of an envelope signal; and a coefficient calculation section 108 that calculates a correction coefficient for correcting the amplitude characteristic and the phase characteristic of the test signal based on the frequency characteristic. The test signal generating section 101 generates a test signal which is asymmetrical when comparing the trajectory of the signal in at least two quadrants from a first quadrant to a fourth quadrant on an IQ plane.

Description

本発明は、送信機、信号生成装置、及びキャリブレーション方法に関する。特に、送信機における周波数特性のキャリブレーションに関する。   The present invention relates to a transmitter, a signal generation device, and a calibration method. In particular, it relates to calibration of frequency characteristics in a transmitter.

無線通信では、送信信号としてのベースバンド信号から高周波信号にアップコンバートする場合、及び、受信信号としての高周波信号からベースバンド信号にダウンコンバートする場合に、信号の周波数に応じて歪みが生じる。信号の歪みを補正する装置として、例えば特許文献1の周波数特性補正装置が知られている。   In wireless communication, when up-converting a baseband signal as a transmission signal to a high-frequency signal and down-converting from a high-frequency signal as a reception signal to a baseband signal, distortion occurs according to the frequency of the signal. As an apparatus for correcting signal distortion, for example, a frequency characteristic correcting apparatus disclosed in Patent Document 1 is known.

特許文献1の周波数特性補正装置は、送信系回路による信号送信において、送信信号の一部を結合回路により取り出し、各帯域分割フィルタにおいて低域側、高域側に分割し、各フィルタの出力(電力レベル)を各電力検波器において検波する。更に、周波数特性補正装置は、比較回路において各電力検波器の出力を相互比較することにより得られた電圧を基に、可変イコライザ回路を制御する。   The frequency characteristic correction apparatus disclosed in Patent Document 1 extracts a part of a transmission signal by a coupling circuit in signal transmission by a transmission system circuit, divides each band division filter into a low frequency side and a high frequency side, and outputs each filter output ( The power level is detected by each power detector. Further, the frequency characteristic correcting device controls the variable equalizer circuit based on the voltage obtained by comparing the outputs of the respective power detectors with each other in the comparison circuit.

特開2001−16145号公報JP 2001-16145 A

使用周波数に対する信号の歪みは、例えば、ベースバンド信号及び高周波信号を周波数変換する周波数変換部、パワーアンプ部、LNA部を含むアナログ回路において、現れやすい。特に、ミリ波通信の広帯域な周波数(例えば60GHz帯)を取り扱う通信では、信号帯域が大きいので、大きく通信特性が劣化する可能性がある。   The distortion of the signal with respect to the used frequency tends to appear in an analog circuit including a frequency conversion unit, a power amplifier unit, and an LNA unit that perform frequency conversion on a baseband signal and a high-frequency signal, for example. In particular, in communication that handles a wide frequency (for example, 60 GHz band) of millimeter wave communication, since the signal band is large, there is a possibility that communication characteristics are greatly deteriorated.

特許文献1の周波数特性補正装置をミリ波の通信に適用した場合、数ポイントの周波数成分に対する信号検出の結果を基に、信号の歪みの周波数特性を直線的に補正する。しかし、直線的な補正では、ベースバンド信号及び高周波信号の各周波数変換、又は、広帯域な高周波信号の信号増幅の過程において発生する、大きな信号歪みには不十分であるため、大きく通信特性が劣化することがある。従って、信号の歪みは、より高精度に補正される必要がある。   When the frequency characteristic correction apparatus of Patent Document 1 is applied to millimeter wave communication, the frequency characteristic of signal distortion is linearly corrected based on the result of signal detection for several frequency components. However, linear correction is not sufficient for large signal distortion that occurs in the process of frequency conversion of baseband signals and high-frequency signals, or signal amplification of wide-band high-frequency signals. There are things to do. Therefore, signal distortion needs to be corrected with higher accuracy.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、信号の歪みを高精度に補正できる送信機、信号生成装置、及びキャリブレーション方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a transmitter, a signal generation device, and a calibration method that can correct signal distortion with high accuracy.

本発明の送信機は、テスト信号を生成するテスト信号生成部と、前記テスト信号生成部により生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正部と、前記周波数特性補正部により補正された補正信号を変調する変調部と、前記変調部により変調された変調信号の包絡線を検波する包絡線検波部と、前記包絡線検波部により検波された包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算部と、前記周波数特性演算部により演算された周波数特性に基づいて、前記周波数特性補正部により前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算部と、を備え、前記テスト信号生成部は、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成する。   The transmitter of the present invention includes a test signal generation unit that generates a test signal, a frequency characteristic correction unit that corrects amplitude characteristics and phase characteristics of the test signal generated by the test signal generation unit, and the frequency characteristic correction unit. A modulation unit that modulates the corrected correction signal, an envelope detection unit that detects an envelope of the modulation signal modulated by the modulation unit, and a frequency characteristic of the envelope signal detected by the envelope detection unit A frequency characteristic calculation unit that calculates a correction coefficient for correcting the amplitude characteristic and phase characteristic of the test signal by the frequency characteristic correction unit based on the frequency characteristic calculated by the frequency characteristic calculation unit And the test signal generation unit compares the signal trajectories in at least two quadrants from the first quadrant to the fourth quadrant on the IQ plane. To generate a test signal is asymmetric.

この構成により、テスト信号をIQ平面において原点からオフセットさせることで、テスト信号の振幅特性及び位相特性を取得できる。従って、振幅特性及び位相特性に基づいて補正係数を求めることができるので、信号の歪みを高精度に補正できる。   With this configuration, the amplitude characteristic and phase characteristic of the test signal can be acquired by offsetting the test signal from the origin on the IQ plane. Therefore, since the correction coefficient can be obtained based on the amplitude characteristic and the phase characteristic, signal distortion can be corrected with high accuracy.

本発明の信号生成装置は、テスト信号を生成するテスト信号生成部と、前記テスト信号生成部により生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正部と、前記周波数特性補正部により補正された補正信号が変調された変調信号の包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算部と、前記周波数特性演算部により演算された周波数特性に基づいて、前記周波数特性補正部により前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算部と、を備え、前記テスト信号生成部は、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成する。   The signal generation device of the present invention includes a test signal generation unit that generates a test signal, a frequency characteristic correction unit that corrects amplitude characteristics and phase characteristics of the test signal generated by the test signal generation unit, and the frequency characteristic correction unit. Based on the frequency characteristic calculated by the frequency characteristic calculation unit, the frequency characteristic calculation unit calculates the frequency characteristic of the envelope signal of the modulation signal modulated by the correction signal corrected by the frequency characteristic correction unit A coefficient calculation unit that calculates a correction coefficient for correcting the amplitude characteristic and phase characteristic of the test signal, and the test signal generation unit includes at least two quadrants of the first to fourth quadrants on the IQ plane. When the signal trajectories are compared, a test signal that is asymmetric is generated.

この構成により、テスト信号をIQ平面において原点からオフセットさせることで、テスト信号の振幅特性及び位相特性を取得できる。従って、振幅特性及び位相特性に基づいて補正係数を求めることができるので、信号の歪みを高精度に補正できる。   With this configuration, the amplitude characteristic and phase characteristic of the test signal can be acquired by offsetting the test signal from the origin on the IQ plane. Therefore, since the correction coefficient can be obtained based on the amplitude characteristic and the phase characteristic, signal distortion can be corrected with high accuracy.

また、本発明のキャリブレーション方法は、テスト信号を生成するテスト信号生成ステップと、前記生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正ステップと、前記補正された補正信号が変調された変調信号の包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算ステップと、前記演算された周波数特性に基づいて、前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算ステップと、を有し、前記テスト信号生成ステップでは、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成する。   The calibration method of the present invention includes a test signal generation step for generating a test signal, a frequency characteristic correction step for correcting amplitude characteristics and phase characteristics of the generated test signal, and the corrected correction signal is modulated. A frequency characteristic calculating step for calculating the frequency characteristic of the envelope signal of the modulated signal, and a coefficient for calculating a correction coefficient for correcting the amplitude characteristic and the phase characteristic of the test signal based on the calculated frequency characteristic And calculating a test signal that is asymmetric when the trajectories of the signals are compared in at least two quadrants from the first quadrant to the fourth quadrant on the IQ plane. To do.

この方法により、テスト信号をIQ平面において原点からオフセットさせることで、テスト信号の振幅特性及び位相特性を取得できる。従って、振幅特性及び位相特性に基づいて補正係数を求めることができるので、信号の歪みを高精度に補正できる。   By this method, the amplitude characteristic and phase characteristic of the test signal can be acquired by offsetting the test signal from the origin on the IQ plane. Therefore, since the correction coefficient can be obtained based on the amplitude characteristic and the phase characteristic, signal distortion can be corrected with high accuracy.

本発明によれば、信号の歪みを高精度に補正できる。   According to the present invention, signal distortion can be corrected with high accuracy.

本発明の実施形態における送信機の構成例を示すブロック図The block diagram which shows the structural example of the transmitter in embodiment of this invention (A),(B),(D)は、本発明の実施形態におけるテスト信号生成部により生成されるテスト信号の一例を示す図、(C)は、テスト信号の位相特性を示す図(A), (B), (D) is a figure which shows an example of the test signal produced | generated by the test signal generation part in embodiment of this invention, (C) is a figure which shows the phase characteristic of a test signal. 本発明の実施形態におけるテスト信号の各角周波数の成分と振幅との関係の一例を示す図The figure which shows an example of the relationship between the component and each amplitude of each angular frequency of the test signal in embodiment of this invention 本発明の実施形態における周波数特性補正部の詳細構成例を示すブロック図The block diagram which shows the detailed structural example of the frequency characteristic correction | amendment part in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における送信機が補正係数を求める第1動作例を示すフローチャートThe flowchart which shows the 1st operation example in which the transmitter in embodiment of this invention calculates | requires a correction coefficient. 本発明の実施形態における送信機が補正係数を求める第2動作例を示すフローチャートThe flowchart which shows the 2nd operation example in which the transmitter in embodiment of this invention calculates | requires a correction coefficient. 本発明の実施形態における送信機が補正係数を求める第3動作例を示すフローチャートThe flowchart which shows the 3rd operation example in which the transmitter in embodiment of this invention calculates | requires a correction coefficient. 本発明の実施形態におけるテスト信号の振幅特性のシミュレーション結果を示す図The figure which shows the simulation result of the amplitude characteristic of the test signal in embodiment of this invention 本発明の実施形態におけるテスト信号の位相特性のシミュレーション結果を示す図The figure which shows the simulation result of the phase characteristic of the test signal in embodiment of this invention 本発明の実施形態における送信機が補正係数を求める第4動作例を示すフローチャートThe flowchart which shows the 4th operation example in which the transmitter in embodiment of this invention calculates | requires a correction coefficient. 本発明の実施形態におけるテスト信号の位相特性を線形位相特性に補正するイメージを示す図The figure which shows the image which correct | amends the phase characteristic of the test signal in embodiment of this invention to a linear phase characteristic 本発明の実施形態における周波数特性補正部の変形構成例を示すブロック図The block diagram which shows the modification structural example of the frequency characteristic correction | amendment part in embodiment of this invention 本発明の実施形態における無線機器の第1構成例を示すブロック図The block diagram which shows the 1st structural example of the radio | wireless apparatus in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における無線機器の第2構成例を示すブロック図The block diagram which shows the 2nd structural example of the radio | wireless apparatus in embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の実施形態における送信機100の構成例を示すブロック図である。送信機100は、テスト信号生成部101、データ生成部102、MUX(Multiplexer)103、周波数特性補正部104、変調器105、包絡線検波部106、周波数特性演算部107、係数演算部108、及びメモリ109を備える。   FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration example of a transmitter 100 according to an embodiment of the present invention. The transmitter 100 includes a test signal generation unit 101, a data generation unit 102, a MUX (Multiplexer) 103, a frequency characteristic correction unit 104, a modulator 105, an envelope detection unit 106, a frequency characteristic calculation unit 107, a coefficient calculation unit 108, and A memory 109 is provided.

テスト信号生成部101は、送信機100により生成される歪を測定するためのテスト信号を生成し、MUX103に出力する。テスト信号の生成方法の詳細については後述する。   The test signal generation unit 101 generates a test signal for measuring distortion generated by the transmitter 100 and outputs the test signal to the MUX 103. Details of the test signal generation method will be described later.

データ生成部102は、送信されるデータを含むベースバンド信号を生成し、MUX103に出力する。送信されるデータには、例えば、音楽のデータ又は映像のデータが含まれる。   The data generation unit 102 generates a baseband signal including data to be transmitted and outputs it to the MUX 103. The transmitted data includes, for example, music data or video data.

MUX103は、テスト信号生成部101又はデータ生成部102の出力を選択し、周波数特性補正部104に出力する。具体的には、キャリブレーションモードでは、テスト信号生成部101の出力であるテスト信号を選択し、データ送信モードでは、データ生成部102の出力であるベースバンド信号を選択する。MUX103は、送信機100の動作を指定するモードも選択する。   The MUX 103 selects the output of the test signal generation unit 101 or the data generation unit 102 and outputs it to the frequency characteristic correction unit 104. Specifically, in the calibration mode, the test signal that is the output of the test signal generation unit 101 is selected, and in the data transmission mode, the baseband signal that is the output of the data generation unit 102 is selected. The MUX 103 also selects a mode for designating the operation of the transmitter 100.

周波数特性補正部104は、メモリ109が保持するLUT(Look Up Table)に格納されたパラメータ(補正係数)に基づき、MUX103の出力信号の周波数特性を補正し、補正信号を変調器105に出力する。周波数特性には、振幅特性及び位相特性が含まれる。   The frequency characteristic correction unit 104 corrects the frequency characteristic of the output signal of the MUX 103 based on a parameter (correction coefficient) stored in a LUT (Look Up Table) held by the memory 109 and outputs the correction signal to the modulator 105. . The frequency characteristic includes an amplitude characteristic and a phase characteristic.

変調器105は、周波数特性補正部104から出力された補正信号を変調し、変調信号(高周波信号)を出力する。変調器105の出力V(t)は、例えば以下の(式1)により表せる。

Figure 2013207782
出力V(t)の周波数は、(式1)におけるωに依存し、f=ω/(2π)によって決定され、例えば60GHzである。 The modulator 105 modulates the correction signal output from the frequency characteristic correction unit 104 and outputs a modulation signal (high frequency signal). The output V (t) of the modulator 105 can be expressed by, for example, (Equation 1) below.
Figure 2013207782
The frequency of the output V (t) depends on ω in (Equation 1) and is determined by f = ω / (2π), for example, 60 GHz.

包絡線検波部106は、包絡線検波器106Aと、包絡線検波器106Aの後段に直列に接続されたADコンバータ106Bと、を備える。   The envelope detector 106 includes an envelope detector 106A and an AD converter 106B connected in series at the subsequent stage of the envelope detector 106A.

包絡線検波器106Aは、検波ダイオードを用いて構成され、変調器105から出力された高周波信号の包絡線を検波する。また、包絡線検波器106Aは、高周波信号の出力エネルギーの一部を入力し、高周波信号の包絡線の大きさを検出する。   The envelope detector 106 </ b> A is configured using a detection diode, and detects the envelope of the high-frequency signal output from the modulator 105. The envelope detector 106A receives a part of the output energy of the high frequency signal and detects the size of the envelope of the high frequency signal.

包絡線検波器106Aにより検波される信号は、以下の(式2)により表せる。

Figure 2013207782
なお、cは定数である。 The signal detected by the envelope detector 106A can be expressed by the following (Equation 2).
Figure 2013207782
Note that c is a constant.

ADコンバータ106Bは、包絡線の検波結果としてのアナログ信号をデジタル信号に変換し、デジタル信号(包絡線信号)を周波数特性演算部107へ出力する。   The AD converter 106B converts an analog signal as an envelope detection result into a digital signal, and outputs the digital signal (envelope signal) to the frequency characteristic calculation unit 107.

周波数特性演算部107は、包絡線検波部106により検波された信号(包絡線信号)を入力し、包絡線信号の周波数特性を演算する。   The frequency characteristic calculation unit 107 receives the signal (envelope signal) detected by the envelope detection unit 106 and calculates the frequency characteristic of the envelope signal.

係数演算部108は、周波数特性演算部107により演算された周波数特性に基づいて、テスト信号の周波数特性、つまり振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する。係数演算部108は、求めた補正係数をメモリ109が保持するLUT109に格納する。   The coefficient calculation unit 108 calculates a correction coefficient for correcting the frequency characteristic of the test signal, that is, the amplitude characteristic and the phase characteristic, based on the frequency characteristic calculated by the frequency characteristic calculation unit 107. The coefficient calculation unit 108 stores the obtained correction coefficient in the LUT 109 held by the memory 109.

なお、周波数特性演算部107及び係数演算部108は、メモリ109に格納されたプログラムを実行することによって各機能を実現する。周波数特性演算部107及び係数演算部108の動作の詳細については後述する。   Note that the frequency characteristic calculation unit 107 and the coefficient calculation unit 108 implement each function by executing a program stored in the memory 109. Details of operations of the frequency characteristic calculation unit 107 and the coefficient calculation unit 108 will be described later.

また、送信機100は、第1の集積回路及び第2の集積回路を用いて構成されてもよい。第1の集積回路は、テスト信号生成部101、データ生成部102、MUX103、周波数特性補正部104、周波数特性演算部107、係数演算部108、及びメモリ108を含む。第2の集積回路は、変調器105及び包絡線検波部106を含む。また、送信機100における全ての構成部が、1つの集積回路によって構成されてもよい。   The transmitter 100 may be configured using a first integrated circuit and a second integrated circuit. The first integrated circuit includes a test signal generation unit 101, a data generation unit 102, a MUX 103, a frequency characteristic correction unit 104, a frequency characteristic calculation unit 107, a coefficient calculation unit 108, and a memory 108. The second integrated circuit includes a modulator 105 and an envelope detector 106. Moreover, all the components in the transmitter 100 may be configured by one integrated circuit.

また、送信機100がキャリブレーションモードでは、包絡線検波部106、周波数特性演算部107、及び係数演算部108を含む検出系が動作する。   In addition, when the transmitter 100 is in the calibration mode, the detection system including the envelope detection unit 106, the frequency characteristic calculation unit 107, and the coefficient calculation unit 108 operates.

次に、テスト信号生成部101について説明する。   Next, the test signal generation unit 101 will be described.

テスト信号生成部101は、例えば、以下の(式3)により表せるテスト信号Sを生成する。

Figure 2013207782
(式3)において、ωm,nは角周波数、dはオフセット量を示す定数、Kは振幅を表す定数である。 For example, the test signal generation unit 101 generates a test signal S that can be expressed by the following (Equation 3).
Figure 2013207782
In (Expression 3), ω m, n is an angular frequency, d is a constant indicating an offset amount, and K is a constant indicating an amplitude.

また、テスト信号生成部101により生成されるテスト信号Sの周波数は、(式3)における「ωm,nt」項に依存し、f=ωm,nt/(2π)によって決定され、例えば、100MHz、又は、500MHzである。つまり、(式3)における角周波数ωm、nは、(式1)における角周波数ωと比較すると十分に小さい値である。 Further, the frequency of the test signal S generated by the test signal generation unit 101 depends on the term “ω m, nt” in (Expression 3), and is determined by f = ω m, nt / (2π), For example, 100 MHz or 500 MHz. That is, the angular frequency ω m, n in (Expression 3) is a sufficiently small value as compared with the angular frequency ω in (Expression 1).

図2(A)は、(式3)のテスト信号SをIQ平面上に示した図である。テスト信号Sは、IQ平面における原点Oが中心でありテスト信号Sと同振幅である円Cと比較すると、距離dをオフセットした円により示される。また、テスト信号Sは、円上を定速度によって回転してもよいし、しなくてもよい。   FIG. 2A is a diagram showing the test signal S of (Expression 3) on the IQ plane. The test signal S is indicated by a circle offset from the distance d when compared to a circle C centered at the origin O in the IQ plane and having the same amplitude as the test signal S. Further, the test signal S may or may not rotate on the circle at a constant speed.

また、テスト信号生成部101は、テスト信号として、(式3)により表されたIQ信号以外であっても、図2(B)に示すI軸に対して対称である、IQ信号を生成すればよい。また、Q軸に対して対称である、IQ信号を生成してもよい。   Further, the test signal generation unit 101 generates an IQ signal that is symmetric with respect to the I axis shown in FIG. 2B, even if the test signal is other than the IQ signal represented by (Equation 3). That's fine. Further, an IQ signal that is symmetric with respect to the Q axis may be generated.

さらに、テスト信号生成部101は、I軸又はQ軸に対して対称な状態から、IQ平面における原点Oを中心に回転されたIQ信号を生成してもよい。これらの場合であっても、テスト信号Sは、中心が原点Oから所定量オフセットされる。また、テスト信号Sは線上を定速度によって回転してもよいし、しなくてもよい。I軸及びQ軸は、基準軸の一例である。   Further, the test signal generation unit 101 may generate an IQ signal rotated around the origin O on the IQ plane from a state that is symmetric with respect to the I axis or the Q axis. Even in these cases, the center of the test signal S is offset from the origin O by a predetermined amount. The test signal S may or may not be rotated on the line at a constant speed. The I axis and the Q axis are examples of the reference axis.

テスト信号生成部101により生成されたテスト信号は、図2(A)、図2(B)のいずれの場合であって、図2(C)に示すように、対称な線(原点Oを通る基準軸)の位相をΦとした場合、位相がΦからΦ+180°に至るまで、振幅が単調に変化する特性となる。図2(D)は、図2(B)において、対称な線の位相がΦである場合を示す。   The test signal generated by the test signal generation unit 101 is in any of the cases of FIG. 2A and FIG. 2B, and passes through a symmetric line (the origin O as shown in FIG. 2C). When the phase of the reference axis is Φ, the amplitude monotonously changes from Φ to Φ + 180 °. FIG. 2D shows a case where the phase of the symmetrical line is Φ in FIG.

つまり、IQ平面上の第1象限から第4象限において、少なくとも2つの象限のテスト信号の軌跡を比較した場合に、非対称であればよい。   That is, it is sufficient if the trajectories of the test signals in at least two quadrants are compared in the first quadrant to the fourth quadrant on the IQ plane.

例えば、図2(A)では、第1象限と第2象限が非対称、第1象限と第3象限が非対称、第2象限と第4象限が非対称であり、第1象限と第4象限が対称、第2象限と第3象限が対称である。   For example, in FIG. 2A, the first quadrant and the second quadrant are asymmetric, the first quadrant and the third quadrant are asymmetric, the second quadrant and the fourth quadrant are asymmetric, and the first quadrant and the fourth quadrant are symmetric. The second quadrant and the third quadrant are symmetric.

図2(B)では、第1象限と第2象限が非対称、第1象限と第3象限が非対称、第2象限と第4象限が非対称であり、第1象限と第4象限が対称、第2象限と第3象限が対称である。   In FIG. 2B, the first quadrant and the second quadrant are asymmetric, the first quadrant and the third quadrant are asymmetric, the second quadrant and the fourth quadrant are asymmetric, the first quadrant and the fourth quadrant are symmetrical, The second quadrant and the third quadrant are symmetric.

図2(D)では、全ての象限が非対称である。   In FIG. 2D, all quadrants are asymmetric.

仮に、IQ平面において原点Oを中心とする円を描く図2(A)のテスト信号Cを用いると、包絡線検波器106により検波される包絡線の大きさが一定となる。従って、テスト信号Cは、AC信号を持たないので位相特性を取得するのは困難である。   If the test signal C of FIG. 2A that draws a circle centered on the origin O on the IQ plane is used, the size of the envelope detected by the envelope detector 106 becomes constant. Therefore, since the test signal C does not have an AC signal, it is difficult to obtain phase characteristics.

テスト信号生成部101は、原点Oから所定量オフセットされたテスト信号Sを生成することで、包絡線の大きさを変化できる。従って、テスト信号Sを用いることで、振幅特性、及び、位相特性を取得できる。   The test signal generation unit 101 can change the size of the envelope by generating the test signal S offset by a predetermined amount from the origin O. Therefore, the amplitude characteristic and the phase characteristic can be acquired by using the test signal S.

また、テスト信号生成部101は、図3では、テスト信号Sの角周波数ωm、nを、n=1からn=Nまで順次スイープ(掃引)する。図3は、テスト信号Sの各角周波数ωm、nの成分と振幅との関係の一例を示す図である。図3において、テスト信号Sの周波数(=ω/2π)のスイープ範囲は、例えば−1GHz〜1GHzであり、隣接するテスト信号の間隔は、例えば100MHzである。 In FIG. 3, the test signal generation unit 101 sequentially sweeps (sweeps) the angular frequency ω m, n of the test signal S from n = 1 to n = N. FIG. 3 is a diagram illustrating an example of the relationship between the components of each angular frequency ω m, n of the test signal S and the amplitude. In FIG. 3, the sweep range of the frequency (= ω m / 2π) of the test signal S is, for example, −1 GHz to 1 GHz, and the interval between adjacent test signals is, for example, 100 MHz.

例えば、第1のテスト信号Sとして、角周波数ωm、1を有するテスト信号を用い、第nのテスト信号Sとして、角周波数ωm、nを有するテスト信号を用いる。最後に、第Nのテスト信号Sとして、角周波数ωm、Nを有するテスト信号を用いる。なお、テスト信号Sは、テスト信号Sにおける角周波数ωm、nの成分を示す。 For example, a test signal having an angular frequency ω m, 1 is used as the first test signal S 1 , and a test signal having an angular frequency ω m, n is used as the nth test signal S n . Finally, a test signal having an angular frequency ω m, N is used as the Nth test signal S N. The test signal S n indicates a component of the angular frequency ω m, n in the test signal S.

なお、値Nは、テスト信号Sの周波数特性を求めるサンプル数である。テスト信号生成部101は、どの程度の周波数間隔により周波数特性を解析したいか、どの程度の分解能により周波数特性を補正したいか、を考慮して、値Nを設定することが好ましい。また、値Nが予め設定されていてもよい。 The value N is the number of samples for obtaining the frequency characteristics of the test signal S n. It is preferable that the test signal generation unit 101 sets the value N in consideration of how much frequency interval the frequency characteristic is to be analyzed and how much resolution the frequency characteristic is to be corrected. Further, the value N may be set in advance.

次に、周波数特性補正部104について説明する。
図4は、周波数特性補正部104の詳細構成例を示すブロック図である。
周波数特性補正部104は、フーリエ変換部204、乗算器205、及び逆フーリエ変換部206を備える。
Next, the frequency characteristic correction unit 104 will be described.
FIG. 4 is a block diagram illustrating a detailed configuration example of the frequency characteristic correction unit 104.
The frequency characteristic correction unit 104 includes a Fourier transform unit 204, a multiplier 205, and an inverse Fourier transform unit 206.

フーリエ変換部204は、MUX103の出力信号である時間領域の信号を周波数領域の信号へ変換する。フーリエ変換部204は、MUX103の出力信号がIQ信号であるので、複素数データとしてフーリエ変換する。フーリエ変換部204による演算では、例えば高速フーリエ変換(FFT:Fast Fourier Transformation)が用いられる。   The Fourier transform unit 204 converts a time-domain signal that is an output signal of the MUX 103 into a frequency-domain signal. Since the output signal of the MUX 103 is an IQ signal, the Fourier transform unit 204 performs Fourier transform as complex number data. In the calculation by the Fourier transform unit 204, for example, Fast Fourier Transform (FFT) is used.

乗算器205は、フーリエ変換部204から出力される周波数領域の信号と、メモリ109が保持するLUTに格納された補正係数と、を乗算する。   The multiplier 205 multiplies the frequency domain signal output from the Fourier transform unit 204 by the correction coefficient stored in the LUT held by the memory 109.

逆フーリエ変換部206は、乗算器205から出力される信号である周波数領域の信号を時間領域の信号に変換する。逆フーリエ変換部206による演算では、例えば高速逆フーリエ変換(IFFT:Inverse Fast Fourier Transformation)が用いられる。   The inverse Fourier transform unit 206 converts the frequency domain signal that is the signal output from the multiplier 205 into a time domain signal. In the calculation by the inverse Fourier transform unit 206, for example, an inverse fast Fourier transform (IFFT) is used.

次に、送信機100がテスト信号から周波数特性を補正するための補正係数を求める動作例について説明する。   Next, an operation example in which the transmitter 100 obtains a correction coefficient for correcting the frequency characteristic from the test signal will be described.

図5は、送信機100がテスト信号Sから周波数特性を補正するための補正係数を求める第1動作例を示すフローチャートである。図5の例では、一回の周波数スイープにより、各角周波数ωm、nにおける係数zを求めることを想定する。図5では、係数zが補正係数である。 FIG. 5 is a flowchart illustrating a first operation example in which the transmitter 100 obtains a correction coefficient for correcting the frequency characteristic from the test signal S. In the example of FIG. 5, it is assumed that the coefficient z n at each angular frequency ω m, n is obtained by one frequency sweep. In FIG. 5, the coefficient z n is a correction coefficient.

まず、テスト信号生成部101は、変数nを初期値1に設定する(ステップS401)。   First, the test signal generation unit 101 sets a variable n to an initial value 1 (step S401).

続いて、テスト信号生成部101は、テスト信号Sを生成し、テスト信号Sの角周波数をωm、nに設定する(ステップS402)。 Subsequently, the test signal generation unit 101 generates a test signal S , and sets the angular frequency of the test signal S to ω m, n (step S402).

なお、テスト信号生成部101が周波数スイープを行う期間には、周波数特性補正部104は、周波数特性の補正を実施しない、又は、LUTに格納された係数zを1として周波数特性の補正を実施する。 During the period in which the test signal generation unit 101 performs frequency sweep, the frequency characteristic correction unit 104 does not correct the frequency characteristic, or corrects the frequency characteristic by setting the coefficient z n stored in the LUT to 1. To do.

続いて、周波数特性演算部107は、角周波数ωm、nのテスト信号Sに対応する包絡線信号を入力し、フーリエ変換する(ステップS403)。つまり周波数特性演算部107は、フーリエ変換部を有する。周波数特性演算部107は、計算を効率化するために、例えば高速フーリエ変換(FFT:Fast Fourier Transformation)を利用する。 Then, the frequency characteristic calculation section 107 receives the envelope signal corresponding to the test signal S n of the angular frequency omega m, n, a Fourier transform (step S403). That is, the frequency characteristic calculation unit 107 has a Fourier transform unit. The frequency characteristic calculation unit 107 uses, for example, fast Fourier transformation (FFT) in order to make the calculation more efficient.

続いて、周波数特性演算部107は、IQ平面における角周波数ωm、nの成分の複素数データである「a+jb」を抽出する(ステップS404)。 Subsequently, the frequency characteristic calculation unit 107 extracts “a n + jb n ” that is the complex number data of the components of the angular frequencies ω m and n in the IQ plane (step S404).

また、周波数特性演算部107は、抽出した「a+jb」から、(式4)により振幅mを算出し、(式5)により位相θを算出してもよい。

Figure 2013207782
Figure 2013207782
Further, the frequency characteristic calculation unit 107 may calculate the amplitude mn by (Equation 4) and the phase θ n by (Equation 5) from the extracted “a n + jb n ”.
Figure 2013207782
Figure 2013207782

つまり、ステップS404の処理により、角周波数ωm、nの成分における振幅特性及び位相特性を含む周波数特性を取得できる。周波数特性は、送信機100自体が有する周波数特性であり、具体的には、送信機100が備える例えばアナログ回路に起因する歪の周波数特性である。 That is, the frequency characteristic including the amplitude characteristic and the phase characteristic in the component of the angular frequency ω m, n can be acquired by the process of step S404. The frequency characteristic is a frequency characteristic of the transmitter 100 itself, and specifically, is a frequency characteristic of distortion caused by, for example, an analog circuit included in the transmitter 100.

続いて、係数演算部108は、送信機100の周波数特性を補正するための複素数データである係数zを計算し、係数zの情報を係数演算部108内に一時的に保持する(ステップS405)。係数zは、以下の(式6)により表せる。

Figure 2013207782
Subsequently, the coefficient calculation unit 108 calculates a coefficient z n which is complex data for correcting the frequency characteristics of the transmitter 100, and temporarily stores information on the coefficient z n in the coefficient calculation unit 108 (step S1). S405). The coefficient z n can be expressed by the following (formula 6).
Figure 2013207782

また、係数zは、振幅m,位相θを用いて、以下の(式7)によっても表せる。

Figure 2013207782
The coefficient z n can also be expressed by the following (Equation 7) using the amplitude m n and the phase θ n .
Figure 2013207782

つまり、係数演算部108は、テスト信号Sの角周波数ωm、nの成分の複素数データである「a+jb」の逆数である係数zを演算する。係数zは、送信機100の周波数特性の逆特性である。 That is, the coefficient calculation unit 108 calculates the coefficient z n that is the reciprocal of “a n + jb n ” that is the complex number data of the components of the angular frequency ω m and n of the test signal S. The coefficient z n is the inverse characteristic of the frequency characteristic of the transmitter 100.

続いて、テスト信号生成部101は、最後の角周波数の成分のテスト信号Sまでスイープしたか否かを判別する(ステップS406)。つまり、テスト信号生成部101は、n≧Nであるか否かを判別する。 Subsequently, the test signal generation unit 101 determines whether or not the test signal SN having the last angular frequency component has been swept (step S406). That is, the test signal generation unit 101 determines whether n ≧ N.

最後のテスト信号Sまでスイープしていない場合、テスト信号生成部101は、次のテスト信号を周波数解析するため、テスト信号Sの角周波数ωm、nをスイープする(ステップS407)。つまり、変数nに1加算する。そして、ステップS402に進む。 If the test signal S N has not been swept up to the last test signal S N , the test signal generator 101 sweeps the angular frequency ω m, n of the test signal S n in order to analyze the frequency of the next test signal (step S407). That is, 1 is added to the variable n. Then, the process proceeds to step S402.

一方、最後のテスト信号Sまでスイープされた場合、係数演算部108は、内部に一時的に保持した各角周波数ωm、1〜ωm、Nにおける各係数zの情報を、メモリ109が保持するLUTに格納する(ステップS408)。 On the other hand, when the sweep is performed up to the last test signal S N , the coefficient calculation unit 108 stores information on each coefficient z n at each angular frequency ω m, 1 to ω m, N temporarily stored therein in the memory 109. (Step S408).

図5の処理によれば、各角周波数ωm、nにおけるテスト信号Sの周波数を解析し、係数zを算出することで、テスト信号Sの振幅特性及び位相特性を加味した周波数特性の補正ができる。また、補正されたベースバンド信号から変調信号が生成されることで、振幅特性及び位相特性がフラットな信号を送信できる。また、逆特性として、送信機100の周波数特性の逆数を用いるので、容易に演算できる。 According to the process of FIG. 5, analyzes the frequency of the test signal S n at each angular frequency omega m, n, by calculating the coefficients z n, the frequency characteristic obtained by adding the amplitude characteristics and phase characteristics of the test signal S n Can be corrected. Further, by generating a modulation signal from the corrected baseband signal, it is possible to transmit a signal having a flat amplitude characteristic and phase characteristic. Further, since the inverse of the frequency characteristic of the transmitter 100 is used as the inverse characteristic, it can be easily calculated.

なお、図5では、LUTへの係数書き込みのタイミングとして、全ての角周波数ωm、1〜ωm、nにおける係数zを算出してから、各係数zをメモリ109に格納することを示した。つまり、テスト信号Sの角周波数ωm、nをN回スイープした後、係数演算部108は、求めた各係数zをLUTに格納することを示した。これ以外であっても、角周波数ωm、nにおける係数zを算出する都度メモリ109に格納してもよい。 In FIG. 5, as the timing of the coefficient writing to LUT, to store all of the angular frequency ω m, 1 ~ω m, after calculating the coefficient z n at n, the coefficients z n in the memory 109 Indicated. That is, after sweeping the angular frequency ω m, n of the test signal S n N times, the coefficient calculation unit 108 stores the obtained coefficients z n in the LUT. Other than this , the coefficient z n at the angular frequency ω m, n may be stored in the memory 109 each time it is calculated.

図6は、送信機100がテスト信号Sから周波数特性を補正するための補正係数を求める第2動作例を示すフローチャートである。図6の例では、各角周波数ωm、nにおける係数zを繰り返し求め、係数zに基づく係数yをLUTに格納する。係数yは、順次更新される。 FIG. 6 is a flowchart illustrating a second operation example in which the transmitter 100 obtains a correction coefficient for correcting the frequency characteristic from the test signal S. In the example of FIG. 6, the coefficient z n at each angular frequency ω m, n is repeatedly obtained, and the coefficient y n based on the coefficient z n is stored in the LUT. Coefficient y n is sequentially updated.

図6では、係数zは、補正の残留誤差を表す係数であり、係数yを求めるための係数である。係数yは、補正係数である。また、係数wは、残留誤差zを加算する重み付けを表す係数であり、例えば0から1の間において選択される。例えば、係数wを0.5とする。 In Figure 6, the coefficients z n, a coefficient representing the residual error correction is a coefficient for determining the coefficient y n. Coefficient y n is a correction coefficient. The coefficient w is a coefficient representing weighting for adding the residual error z n and is selected between 0 and 1, for example. For example, the coefficient w is set to 0.5.

まず、テスト信号生成部101は、変数nを初期値1に設定し、変数yを初期値0に設定する(ステップS501)。 First, the test signal generation unit 101 sets a variable n to an initial value 1, to set the variable y n to an initial value 0 (step S501).

続いて、送信機100は、図5のステップS402〜S406の処理を行う。一通り、最後のテスト信号Sまで周波数特性を解析し、係数zを求めると、ステップS502に進む。 Subsequently, the transmitter 100 performs the processes of steps S402 to S406 in FIG. When the frequency characteristic is analyzed to the last test signal S N and the coefficient z n is obtained, the process proceeds to step S502.

係数演算部108は、算出した各zを係数wにより重みづけし、各係数yに加算する(ステップS502)。具体的には、係数演算部108は、y=y+w×zを計算する。 Coefficient calculating unit 108, each z n calculated weighted by a factor w, it is added to each coefficient y n (step S502). Specifically, the coefficient calculation unit 108 calculates y n = y n + w × z n .

続いて、係数演算部108は、算出した各係数yの情報を、メモリ109が保持するLUTに格納する(ステップS503)。また、既に係数yの情報が格納されている場合には、係数yの情報を更新する。 Subsequently, the coefficient computation unit 108, the information for each coefficient y n calculated, and stored in the LUT memory 109 holds (step S503). Moreover, if the already stored information of the coefficient y n is updates the information of the coefficient y n.

続いて、係数演算部108は、係数yの演算を前回演算した係数yとの差分を演算し、予め定めた閾値より小さければ図6の処理を終了し、大きければ、ステップS402に戻る(ステップS504)。 Then, the coefficient calculation unit 108 calculates the difference between the coefficient y n where the last calculated calculation of coefficients y n, is smaller than a predetermined threshold value terminates the process of FIG. 6, is larger, the flow returns to step S402 (Step S504).

図6の処理では、係数演算部108は、補正係数としての係数yの演算を反復し、LUTに記憶された係数yを更新していく。例えば、係数yに係数zを重みづけして加算した結果により、各係数yを更新する。 In the process of FIG. 6, the coefficient calculation unit 108 repeats the calculation of coefficients y n as the correction coefficient, continue to update the coefficients y n stored in the LUT. For example, the result of adding by weighted coefficients z n in the coefficient y n, updating the coefficients y n.

図6の処理によれば、各角周波数ωm、nにおける係数zを繰り返し算出するので、補正係数としての係数yの補正精度が向上する。また、係数zの算出を繰り返し、係数wを用いて係数yを演算することで、残留誤差は漸近的に0に近づいていくので、更に補正精度が向上する。 According to the process of FIG. 6, the repeatedly calculates the coefficients z n at each angular frequency omega m, n, the correction accuracy of the coefficient y n as the correction coefficient is improved. Further, repeated calculation of coefficients z n, by calculating the coefficients y n with coefficients w, residual error because approaches asymptotically to 0, it is improved further correction accuracy.

また、補正されたベースバンド信号から変調信号が生成されることで、振幅特性及び位相特性がフラットな信号を送信できる。   Further, by generating a modulation signal from the corrected baseband signal, it is possible to transmit a signal having a flat amplitude characteristic and phase characteristic.

なお、図7は、送信機100がテスト信号Sから周波数特性を補正するための補正係数を求める第3動作例を示すフローチャートである。ここで、図6との差分について、説明する。図7では、各角周波数ωm、nにおける係数zをR回繰り返し求める。 FIG. 7 is a flowchart illustrating a third operation example in which the transmitter 100 obtains a correction coefficient for correcting the frequency characteristic from the test signal S. Here, the difference from FIG. 6 will be described. In FIG. 7, the coefficient z n at each angular frequency ω m, n is repeatedly obtained R times.

まず、ステップS505において、テスト信号生成部101は、変数nを初期値1に設定し、変数yを初期値0に設定し、変数rを初期値1に設定する。 First, in step S505, the test signal generation unit 101 sets a variable n to an initial value 1, and set the variable y n to an initial value 0, sets the variable r to the initial value 1.

また、ステップS506において、係数演算部108は、係数yの演算を所定回数(R回)実施したかを判別する。具体的には、係数演算部108は、r≧Rであるか否かを判別する。 Further, in step S506, the coefficient calculator 108, a predetermined number of times the calculation of the coefficient y n (R times) to determine whether it has performed. Specifically, the coefficient calculation unit 108 determines whether r ≧ R.

ステップS507において、係数yの演算をR回実施していない場合、係数演算部108は、変数rに1加算し、変数nを初期化して1に設定する。一方、係数yの演算をR回実施した場合、送信機100は図7の処理を終了する。 In step S507, the case where the calculation of the coefficient y n not performed R times, the coefficient calculating unit 108 adds 1 to the variable r, it sets a variable n to 1 to initialize. On the other hand, if the calculation of the coefficient y n was carried R times, the transmitter 100 terminates the processing of FIG.

次に、周波数特性の補正のシミュレーションについて説明する。
図8は、テスト信号の振幅特性のシミュレーション結果を示す図である。図9は、テスト信号の位相特性のシミュレーション結果を示す図である。図8及び図9は、図5、図6又は図7の動作によりシミュレーションを実施した結果である。
Next, simulation of frequency characteristic correction will be described.
FIG. 8 is a diagram illustrating a simulation result of the amplitude characteristic of the test signal. FIG. 9 is a diagram illustrating a simulation result of the phase characteristics of the test signal. FIG. 8 and FIG. 9 show the results of simulation by the operation of FIG. 5, FIG. 6, or FIG.

シミュレーションでは、テスト信号生成部101は、テスト信号を生成する場合に、サンプリング周波数3.52GHzとし、(式3)に用いる係数を、K=1,d=0.1とする。また、テスト信号生成部101は、f(=2πω)を、−1.1GHz〜+1.1GHzにおいて、100MHz間隔によって掃引する。 In the simulation, when generating the test signal, the test signal generation unit 101 sets the sampling frequency to 3.52 GHz and sets the coefficients used in (Equation 3) to K = 1 and d = 0.1. Further, the test signal generation unit 101 sweeps f m (= 2πω m ) at intervals of 100 MHz from −1.1 GHz to +1.1 GHz.

また、送信機100の周波数特性を模したフィルタとして、カットオフ周波数300MHzであり、通過周波数を352MHz負方向にシフトされた2次のバターワースフィルタを仮定する。   As a filter simulating the frequency characteristics of the transmitter 100, a second-order Butterworth filter having a cutoff frequency of 300 MHz and a passing frequency shifted in the negative direction of 352 MHz is assumed.

図8及び図9において、実線L1がフィルタの特性を示し、白抜きの点D1が、周波数特性演算部107により測定されたテスト信号の周波数特性(検出特性)を示す。図8及び図9を参照すると、フィルタ特性及び検出特性が一致していることが理解できる。従って、送信機100の検出系によって、振幅特性及び位相特性について精度良く検出できることが確認できる。   8 and 9, the solid line L1 indicates the filter characteristic, and the white point D1 indicates the frequency characteristic (detection characteristic) of the test signal measured by the frequency characteristic calculation unit 107. Referring to FIGS. 8 and 9, it can be understood that the filter characteristics and the detection characteristics match. Therefore, it can be confirmed that the amplitude characteristic and the phase characteristic can be accurately detected by the detection system of the transmitter 100.

また、図8及び図9において、点線L2が、補正係数が求められた後に、周波数特性補正部104によって補正された信号の周波数特性(補正特性)を示す。点線L2は、位相特性として「0」を示すライン上にある。つまり、周波数特性補正部104が逆特性としての補正係数を用いて信号を補正し、補正信号を変調した結果、送信される信号の位相特性及び周波数特性は、平坦な特性となる。   8 and 9, the dotted line L2 indicates the frequency characteristic (correction characteristic) of the signal corrected by the frequency characteristic correction unit 104 after the correction coefficient is obtained. The dotted line L2 is on a line indicating “0” as the phase characteristic. That is, as a result of the frequency characteristic correction unit 104 correcting the signal using the correction coefficient as the inverse characteristic and modulating the correction signal, the phase characteristic and frequency characteristic of the transmitted signal are flat.

また、フィルタの特性が、測定される周波数範囲の中心からオフセットされており、非対称な特性であっても、好適に周波数特性を解析できる。   Further, even if the filter characteristic is offset from the center of the frequency range to be measured and is asymmetric, the frequency characteristic can be analyzed suitably.

次に、送信機100の周波数特性を線形位相特性となるように補正する場合について説明する。   Next, a case where the frequency characteristic of the transmitter 100 is corrected to be a linear phase characteristic will be described.

図10は、送信機100がテスト信号Sから周波数特性を補正するための補正係数を求める第4動作例を示すフローチャートである。図10では、係数xが補正係数である。図10の例では、送信機100が出力する信号の位相特性が平坦(図9における点線L2と同程度)になるまで補正(図9参照)するのではなく、位相特性が線形な特性となるように補正する。 FIG. 10 is a flowchart illustrating a fourth operation example in which the transmitter 100 obtains a correction coefficient for correcting the frequency characteristic from the test signal S. In FIG. 10, the coefficient xn is a correction coefficient. In the example of FIG. 10, correction is not performed until the phase characteristic of the signal output from the transmitter 100 becomes flat (similar to the dotted line L2 in FIG. 9) (see FIG. 9), but the phase characteristic becomes a linear characteristic. Correct as follows.

まず、図5のステップS401〜S403の処理を行う。角周波数ωm、nにおけるテスト信号のフーリエ変換が終了すると、ステップS601に進む。 First, steps S401 to S403 in FIG. 5 are performed. When the Fourier transform of the test signal at the angular frequency ω m, n is completed, the process proceeds to step S601.

周波数特性演算部107は、IQ平面における角周波数ωm、nの成分の複素数データである「a+jb」を抽出する。また、周波数特性演算部107は、抽出した「a+jb」から、(式4)により振幅mを算出し、(式5)により位相θを算出する(ステップS601)。 The frequency characteristic calculation unit 107 extracts “a n + jb n ” that is the complex number data of the components of the angular frequency ω m, n in the IQ plane. Further, the frequency characteristic calculation unit 107 calculates the amplitude mn by (Expression 4) from the extracted “a n + jb n ”, and calculates the phase θ n by (Expression 5) (Step S601).

続いて、係数演算部108は、位相θと線形位相特性θi、nとの差分△θを算出する(ステップS602)。つまり、係数演算部108は、△θ=θ−θi、nを計算する。なお、線形位相特性θi、nは、図11では、周波数が高いほど位相が線形に小さくなる特性である。メモリ109は、あらかじめ線形位相特性θi、nの情報を保持している。 Then, the coefficient calculation unit 108 calculates the difference △ theta n the phase theta n and linear phase characteristics theta i, n (step S602). That is, the coefficient calculation unit 108 calculates Δθ n = θ n −θ i, n . In FIG. 11, the linear phase characteristic θ i, n is a characteristic in which the phase decreases linearly as the frequency increases. The memory 109 holds information on the linear phase characteristics θ i, n in advance.

続いて、係数演算部108は、送信機100の周波数特性を補正するための複素数データである係数xを計算し、係数xの情報を係数演算部108内に一時的に保持する(ステップS405)。係数xは、振幅m,位相の差分△θを用いて、以下の(式8)により表せる。

Figure 2013207782
Subsequently, the coefficient calculation unit 108 calculates a coefficient xn , which is complex data for correcting the frequency characteristics of the transmitter 100, and temporarily stores information on the coefficient xn in the coefficient calculation unit 108 (step S1). S405). The coefficient x n can be expressed by the following (formula 8) using the amplitude m n and the phase difference Δθ n .
Figure 2013207782

つまり、係数演算部108は、テスト信号Sの角周波数ωm、nの成分の複素数データである「a+jb」の位相θと線形位相特性θi、nとの差分△θと振幅mとに基づいて、補正係数としての係数xを演算する。 That is, the coefficient calculation unit 108, a difference △ theta n the phase theta n and linear phase characteristics theta i, n of a complex data of the component of the angular frequency omega m, n of the test signal S "a n + jb n" Based on the amplitude mn , a coefficient xn as a correction coefficient is calculated.

送信機100は、送信系が通常は正の遅延時間を有するので、周波数が高くなる程、テスト信号の位相は遅延する(図9参照)。なお、送信系は、テスト信号生成部101、データ生成部102、MUX103、周波数特性補正部104、および変調器105を含む。   In the transmitter 100, since the transmission system normally has a positive delay time, the phase of the test signal is delayed as the frequency increases (see FIG. 9). The transmission system includes a test signal generation unit 101, a data generation unit 102, a MUX 103, a frequency characteristic correction unit 104, and a modulator 105.

図10の処理によれば、係数xを送信機100の周波数特性に対して完全な逆位相とせずに、多少の位相遅延を考慮した線形位相特性に近付けることができる。従って、送信機100は、負の遅延時間を持つフィルタを用意せずに、良好な振幅特性及び位相特性を得られる。 According to the processing in FIG. 10, the coefficient xn can be brought closer to a linear phase characteristic considering some phase delay without making the frequency characteristic of the transmitter 100 completely opposite in phase. Therefore, the transmitter 100 can obtain good amplitude characteristics and phase characteristics without preparing a filter having a negative delay time.

また、送信機100が出力する信号の位相特性を線形位相特性に補正すれば足りるので、逆特性の補正量よりも少ない演算量となり、時間資源又はビット幅の資源を有効活用できる。従って、量子化雑音のように特定の周波数に急峻な変化を有する周波数特性を含む場合であっても、パラメータ(△θ)を1つ設けて線形位相特性へ補正することで、補正精度が向上する。 Further, since it is sufficient to correct the phase characteristic of the signal output from the transmitter 100 to the linear phase characteristic, the amount of calculation is smaller than the correction amount of the inverse characteristic, and the time resource or the bit width resource can be effectively used. Therefore, even when a frequency characteristic having a steep change in a specific frequency such as quantization noise is included, the correction accuracy is improved by providing one parameter (Δθ n ) and correcting it to the linear phase characteristic. improves.

図11はテスト信号の位相特性を線形位相特性に補正するイメージを示す図である。
図11において、実線L1は、送信機100の周波数特性を模したフィルタのフィルタ特性を示す。白抜きの点D1は、検出特性を示す。点線L2は、線形位相特性を示し、所定の周波数において、図10の処理により求められた係数xにより補正された補正特性を示す。
FIG. 11 is a diagram showing an image for correcting the phase characteristic of the test signal to the linear phase characteristic.
In FIG. 11, the solid line L <b> 1 indicates the filter characteristics of a filter simulating the frequency characteristics of the transmitter 100. A white point D1 indicates a detection characteristic. A dotted line L2 indicates a linear phase characteristic, and indicates a correction characteristic corrected by the coefficient xn obtained by the process of FIG. 10 at a predetermined frequency.

次に、周波数特性補正部104の変形例について説明する。
図12は、周波数特性補正部104の変形構成例を示すブロック図である。
図12では、周波数特性補正部104は、デジタルフィルタ901を備える。デジタルフィルタ901を用いる場合、LUTに格納される係数は、デジタルフィルタ901の係数である。デジタルフィルタ901の係数は、例えば、係数演算部108が、補正係数としての係数zを逆フーリエ変換して求めればよい。
Next, a modification of the frequency characteristic correction unit 104 will be described.
FIG. 12 is a block diagram illustrating a modified configuration example of the frequency characteristic correction unit 104.
In FIG. 12, the frequency characteristic correction unit 104 includes a digital filter 901. When the digital filter 901 is used, the coefficient stored in the LUT is the coefficient of the digital filter 901. Coefficients of the digital filter 901, for example, coefficient calculator 108, may be obtained by inverse Fourier transform coefficients z n as the correction coefficient.

デジタルフィルタ901を備えることで、周波数特性補正部104がフーリエ変換部及び逆フーリエ変換部を備える必要がなく、構成を簡素化できる。   By providing the digital filter 901, the frequency characteristic correction unit 104 does not need to include a Fourier transform unit and an inverse Fourier transform unit, and the configuration can be simplified.

次に、キャリブレーション終了後の送信機100の動作について説明する。   Next, the operation of the transmitter 100 after calibration is described.

送信機100は、キャリブレーションが終了すると、キャリブレーションモードが終了する。キャリブレーションモードが終了すると、送信機100は、データ送信モードに切り替える。具体的には、図1のMUX103が、データ生成部102の出力を選択する。   When the calibration is completed, the transmitter 100 ends the calibration mode. When the calibration mode ends, the transmitter 100 switches to the data transmission mode. Specifically, the MUX 103 in FIG. 1 selects the output of the data generation unit 102.

続いて、周波数特性補正部104が、係数演算部108により演算された補正係数が格納されたLUTを参照して、データ生成部102から出力されたIQ信号を補正する。続いて、変調器105は、補正信号を変調し、変調信号を送信する。   Subsequently, the frequency characteristic correction unit 104 refers to the LUT that stores the correction coefficient calculated by the coefficient calculation unit 108 and corrects the IQ signal output from the data generation unit 102. Subsequently, the modulator 105 modulates the correction signal and transmits the modulated signal.

送信機100によれば、信号の振幅特性及び位相特性を高精度に補正可能となり、送信信号の歪みを低減できる。なお、送信機100の周波数特性の補正は、例えば、送信機100の電源投入時、スリープモードからの起動時、データ送信開始前に実施する。   According to the transmitter 100, the amplitude characteristic and phase characteristic of the signal can be corrected with high accuracy, and distortion of the transmission signal can be reduced. Note that the correction of the frequency characteristics of the transmitter 100 is performed, for example, when the transmitter 100 is turned on, when starting from the sleep mode, and before starting data transmission.

すなわち、送信機100によれば、例えば、広帯域な周波数を取り扱う無線通信において、ベースバンド信号及び高周波信号の間における周波数変換によって生じる周波数特性を、高精度に補正できる。また、広帯域な周波数を取り扱う無線通信において、振幅特性、位相特性、及び、周波数特性が平坦となるよう補償された送信機を実現できる。   That is, according to the transmitter 100, for example, in wireless communication that handles a wideband frequency, it is possible to accurately correct frequency characteristics generated by frequency conversion between a baseband signal and a high-frequency signal. In addition, it is possible to realize a transmitter that is compensated so that amplitude characteristics, phase characteristics, and frequency characteristics are flat in wireless communication that handles a wideband frequency.

次に、送信機100を含む無線機器1200について説明する。
図13は無線機器1200の構成例を示すブロック図である。無線機器1200は、送信機100、受信機1202、共用器1203、およびアンテナ1204を備える。
Next, the wireless device 1200 including the transmitter 100 will be described.
FIG. 13 is a block diagram illustrating a configuration example of the wireless device 1200. The wireless device 1200 includes a transmitter 100, a receiver 1202, a duplexer 1203, and an antenna 1204.

送信機100は、周波数特性を補正して所望のデータを変調し、変調信号を送信する。受信機1202は、他の通信装置からのデータを受信する。共用器1203は、送信信号と、受信信号を分離し、アンテナ1204を送信時、受信時において共用する。   The transmitter 100 corrects frequency characteristics, modulates desired data, and transmits a modulated signal. The receiver 1202 receives data from other communication devices. The duplexer 1203 separates the transmission signal and the reception signal and shares the antenna 1204 during transmission and reception.

無線機器1200により、歪みの少ないデータ送信が可能である。   The wireless device 1200 can transmit data with less distortion.

また、図14に示すように、無線機器1300は、送信用のアンテナ1303と受信用のアンテナ1304を別に具備してもよい。   As illustrated in FIG. 14, the wireless device 1300 may include a transmission antenna 1303 and a reception antenna 1304 separately.

本発明は、上記実施形態の構成に限られるものではなく、特許請求の範囲において示した機能、または本実施形態の構成が持つ機能が達成できる構成であればどのようなものであっても適用可能である。   The present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiment, and can be applied to any configuration that can achieve the functions shown in the claims or the functions of the configuration of the present embodiment. Is possible.

上記実施形態では、本発明はハードウェアを用いて構成する場合を例にとって説明したが、本発明はハードウェアとの連携においてソフトウェアでも実現することも可能である。   In the above-described embodiment, the case where the present invention is configured using hardware has been described as an example. However, the present invention can also be realized by software in cooperation with hardware.

また、上記実施形態の説明に用いた各機能ブロックは、典型的には集積回路であるLSIとして実現される。これらは個別に1チップ化されてもよいし、一部または全てを含むように1チップ化されてもよい。ここでは、LSIとしてもよいし、集積度の違いにより、IC、システムLSI、スーパーLSI、ウルトラLSIと呼称してもよい。   Each functional block used in the description of the above embodiment is typically realized as an LSI that is an integrated circuit. These may be individually made into one chip, or may be made into one chip so as to include a part or all of them. Here, it may be an LSI, or may be referred to as an IC, a system LSI, a super LSI, or an ultra LSI depending on the degree of integration.

また、集積回路化の手法はLSIに限るものではなく、専用回路または汎用プロセッサを用いて実現してもよい。例えば、LSI製造後にプログラムすることが可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)、LSI内部の回路セルの接続、又は、設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサを利用してもよい。   Further, the method of circuit integration is not limited to LSI's, and implementation using dedicated circuitry or general purpose processors is also possible. For example, a Field Programmable Gate Array (FPGA) that can be programmed after manufacturing the LSI, connection of circuit cells in the LSI, or a reconfigurable processor whose settings can be reconfigured may be used.

さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりLSIに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適用等が可能性としてありえる。   Further, if integrated circuit technology comes out to replace LSI's as a result of the advancement of semiconductor technology or a derivative other technology, it is naturally also possible to carry out function block integration using this technology. Biotechnology can be applied.

本発明は、信号の歪みを高精度に補正できる送信機、信号生成装置、及びキャリブレーション方法に有用である。   The present invention is useful for a transmitter, a signal generation device, and a calibration method that can correct distortion of a signal with high accuracy.

100 送信機
101 テスト信号生成部
102 データ生成部
103 MUX
104 周波数特性補正部
105 変調器
106 包絡線検波部
106A 包絡線検波器
106B ADコンバータ
107 周波数特性演算部
108 係数演算部
109 メモリ
204 フーリエ変換部
205 乗算器
206 逆フーリエ変換部
901 デジタルフィルタ
1200 無線機器
1202 受信機
1203 共用器
1204 アンテナ
1300 無線機器
1302 受信機
1303,1304 アンテナ
100 Transmitter 101 Test Signal Generation Unit 102 Data Generation Unit 103 MUX
104 frequency characteristic correction unit 105 modulator 106 envelope detection unit 106A envelope detector 106B AD converter 107 frequency characteristic calculation unit 108 coefficient calculation unit 109 memory 204 Fourier transform unit 205 multiplier 206 inverse Fourier transform unit 901 digital filter 1200 wireless device 1202 Receiver 1203 Duplexer 1204 Antenna 1300 Radio equipment 1302 Receivers 1303 and 1304 Antenna

Claims (15)

テスト信号を生成するテスト信号生成部と、
前記テスト信号生成部により生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正部と、
前記周波数特性補正部により補正された補正信号を変調する変調部と、
前記変調部により変調された変調信号の包絡線を検波する包絡線検波部と、
前記包絡線検波部により検波された包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算部と、
前記周波数特性演算部により演算された周波数特性に基づいて、前記周波数特性補正部により前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算部と、
を備え、
前記テスト信号生成部は、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成する送信機。
A test signal generator for generating a test signal;
A frequency characteristic correction unit that corrects amplitude characteristics and phase characteristics of the test signal generated by the test signal generation unit;
A modulation unit that modulates the correction signal corrected by the frequency characteristic correction unit;
An envelope detector for detecting an envelope of the modulated signal modulated by the modulator;
A frequency characteristic calculator that calculates the frequency characteristic of the envelope signal detected by the envelope detector;
Based on the frequency characteristic calculated by the frequency characteristic calculation unit, a coefficient calculation unit that calculates a correction coefficient for correcting the amplitude characteristic and phase characteristic of the test signal by the frequency characteristic correction unit;
With
The test signal generator generates a test signal that is asymmetric when comparing signal trajectories in at least two quadrants of the first to fourth quadrants on the IQ plane.
請求項1に記載の送信機であって、
前記テスト信号生成部は、IQ平面において所定量オフセットされ、基準軸に対して対称であり、前記信号の軌跡を示す線上を回転するテスト信号を生成する送信機。
The transmitter of claim 1, comprising:
The test signal generation unit is a transmitter that generates a test signal that is offset by a predetermined amount in an IQ plane, is symmetric with respect to a reference axis, and rotates on a line indicating a locus of the signal.
請求項1に記載の送信機であって、
前記テスト信号は、前記信号の軌跡を示す線上を定速度によって回転する信号である送信機。
The transmitter of claim 1, comprising:
The transmitter is a transmitter that rotates at a constant speed on a line indicating a locus of the signal.
請求項2に記載の送信機であって、
前記テスト信号生成部は、IQ平面において所定量オフセットされた円上を回転するテスト信号を生成する送信機。
The transmitter according to claim 2, wherein
The test signal generator is a transmitter that generates a test signal that rotates on a circle that is offset by a predetermined amount in the IQ plane.
請求項4に記載の送信機であって、
前記テスト信号は、前記IQ平面において所定量オフセットされた円上を定速度によって回転する信号である送信機。
The transmitter according to claim 4, wherein
The transmitter is a transmitter that rotates at a constant speed on a circle offset by a predetermined amount on the IQ plane.
請求項1ないし5のいずれか1項に記載の送信機であって、
前記テスト信号生成部は、所定の周波数範囲において前記テスト信号の周波数をスイープし、
前記周波数特性演算部は、前記テスト信号の各角周波数成分に基づく各包絡線信号から各複素数データを抽出し、
前記係数演算部は、前記周波数特性演算部により抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算する送信機。
The transmitter according to any one of claims 1 to 5,
The test signal generation unit sweeps the frequency of the test signal in a predetermined frequency range,
The frequency characteristic calculation unit extracts each complex number data from each envelope signal based on each angular frequency component of the test signal,
The coefficient calculation unit is a transmitter that calculates each correction coefficient based on each complex number data extracted by the frequency characteristic calculation unit.
請求項6に記載の送信機であって、
前記係数演算部は、前記補正係数として、前記複素数データの逆数を演算する送信機。
The transmitter according to claim 6, wherein
The coefficient calculation unit is a transmitter that calculates an inverse of the complex data as the correction coefficient.
請求項6に記載の送信機であって、
前記係数演算部は、前記複素数データの位相特性と線形位相特性との差分と、前記複素数データの振幅特性と、に基づいて、前記補正係数を演算する送信機。
The transmitter according to claim 6, wherein
The transmitter is a transmitter that calculates the correction coefficient based on a difference between a phase characteristic and a linear phase characteristic of the complex number data and an amplitude characteristic of the complex number data.
請求項6ないし8のいずれか1項に記載の送信機であって、更に、
前記補正係数を記憶する記憶部を備え、
前記係数演算部は、各補正係数の演算を反復し、前記記憶部に記憶された各補正係数を更新する送信機。
The transmitter according to any one of claims 6 to 8, further comprising:
A storage unit for storing the correction coefficient;
The coefficient calculation unit is a transmitter that repeats calculation of each correction coefficient and updates each correction coefficient stored in the storage unit.
請求項9に記載の送信機であって、
前記係数演算部は、
前記周波数特性演算部により抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算するための係数を演算し、
前記係数演算部は、前記記憶部に記憶された各補正係数に前記係数演算部により演算された係数を重みづけして加算した結果により、前記記憶部に記憶された各補正係数を更新する送信機。
The transmitter according to claim 9, wherein
The coefficient calculator is
Based on each complex number data extracted by the frequency characteristic calculation unit, calculates a coefficient for calculating each correction coefficient,
The coefficient calculation unit updates each correction coefficient stored in the storage unit according to a result of weighting and adding the coefficient calculated by the coefficient calculation unit to each correction coefficient stored in the storage unit. Machine.
請求項1ないし10のいずれか1項に記載の送信機であって、
前記周波数特性補正部は、
前記テスト信号を時間領域の信号から周波数領域の信号に変換する変換部と、
前記周波数領域の信号と前記係数演算部により演算された係数とを乗算する乗算部と、
前記乗算部から出力された信号を周波数領域の信号から時間領域の信号へ変換する逆変換部と、
を備える送信機。
The transmitter according to any one of claims 1 to 10,
The frequency characteristic correction unit is
A conversion unit for converting the test signal from a time domain signal to a frequency domain signal;
A multiplier for multiplying the frequency domain signal by the coefficient calculated by the coefficient calculator;
An inverse converter that converts the signal output from the multiplier from a signal in the frequency domain to a signal in the time domain;
Transmitter with.
請求項1ないし10のいずれか1項に記載の送信機であって、
前記周波数特性演算部は、前記包絡線信号を時間領域の信号から周波数領域の信号に変換する変換部を備える送信機。
The transmitter according to any one of claims 1 to 10,
The frequency characteristic calculation unit is a transmitter including a conversion unit that converts the envelope signal from a time domain signal to a frequency domain signal.
請求項1ないし10のいずれか1項に記載の送信機であって、更に、
ベースバンド信号を生成するベースバンド信号生成部と、
前記変調信号を送信する送信部と、
を備え、
前記周波数特性補正部は、前記係数処理部により演算された補正係数に基づいて前記ベースバンド信号を補正し、前記補正信号を生成する信号生成装置。
The transmitter according to any one of claims 1 to 10, further comprising:
A baseband signal generator for generating a baseband signal;
A transmitter for transmitting the modulated signal;
With
The frequency characteristic correction unit corrects the baseband signal based on the correction coefficient calculated by the coefficient processing unit, and generates the correction signal.
テスト信号を生成するテスト信号生成部と、
前記テスト信号生成部により生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正部と、
前記周波数特性補正部により補正された補正信号が変調された変調信号の包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算部と、
前記周波数特性演算部により演算された周波数特性に基づいて、前記周波数特性補正部により前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算部と、
を備え、
前記テスト信号生成部は、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成する送信機。
A test signal generator for generating a test signal;
A frequency characteristic correction unit that corrects amplitude characteristics and phase characteristics of the test signal generated by the test signal generation unit;
A frequency characteristic calculation unit that calculates the frequency characteristic of the envelope signal of the modulation signal obtained by modulating the correction signal corrected by the frequency characteristic correction unit;
Based on the frequency characteristic calculated by the frequency characteristic calculation unit, a coefficient calculation unit that calculates a correction coefficient for correcting the amplitude characteristic and phase characteristic of the test signal by the frequency characteristic correction unit;
With
The test signal generator generates a test signal that is asymmetric when comparing signal trajectories in at least two quadrants of the first to fourth quadrants on the IQ plane.
テスト信号を生成するテスト信号生成ステップと、
前記生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正ステップと、
前記補正された補正信号が変調された変調信号の包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算ステップと、
前記演算された周波数特性に基づいて、前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算ステップと、
を有し、
前記テスト信号生成ステップでは、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成するキャリブレーション方法。
A test signal generation step for generating a test signal;
A frequency characteristic correction step for correcting the amplitude characteristic and phase characteristic of the generated test signal;
A frequency characteristic calculating step of calculating a frequency characteristic of an envelope signal of a modulation signal obtained by modulating the corrected correction signal;
A coefficient calculating step for calculating a correction coefficient for correcting the amplitude characteristic and phase characteristic of the test signal based on the calculated frequency characteristic;
Have
In the test signal generation step, a calibration method for generating an asymmetric test signal when signal trajectories are compared in at least two quadrants of the first to fourth quadrants on the IQ plane.
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