JP2013185960A - Adjustment method of digital radiography inspection - Google Patents

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英哲 竹田
Mayumi Saito
真由美 斎藤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform adjustment so as to inspect X-rays by surely making an X-ray transmission image optimum without relying on experience, feelings or the like of an operator.SOLUTION: When an X-ray source 103 irradiates an analyte 101 and a standard specimen 2 with X-rays, digital image signals corresponding to intensity distribution of transmission X-rays are output from a flat panel detector 104, and an X-ray transmission image is displayed on a display unit 106. In the X-ray transmission image, a parameter for controlling the intensity of the X-ray source 103 is adjusted so that an MTF value of a standard specimen image is consistent with an MTF value of a standard specimen image acquired in adjustment so as to perform optimum photographing at an inspection preparation stage.

Description

本発明は、デジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法に関し、撮影画像の検出精度が適正であるかどうかを定量的に評価して、適切な撮影画像が得られるように正確に調整できるようにしたものである。   The present invention relates to an adjustment method for digital radiography inspection, and quantitatively evaluates whether the detection accuracy of a captured image is appropriate so that an accurate captured image can be adjusted. It is.

配管やタービンの翼などを検査する手法として、デジタル・ラジオグラフィ検査(テスティング)が用いられている。デジタル・ラジオグラフィ(DR:Digital Radiography)とは、線源から被検体にX線を照射し、被検体を透過してきたX線をデジタル画像信号に変換し、X線透過画像として再構成する手法である。   Digital radiography inspection (testing) is used as a method for inspecting pipes and turbine blades. Digital radiography (DR) is a method of irradiating a subject with X-rays from a radiation source, converting X-rays transmitted through the subject into digital image signals, and reconstructing them as X-ray transmission images. It is.

被検体を透過してきたX線を受けてデジタル画像信号に変換するセンサ機器としては、フラット・パネル・ディテクター(FPD:Flat Panel Detector)や、イメージング・プレート(IP:Imaging Plate)及び画像読取装置を組み合わせたもの等がある。   Sensor devices that receive X-rays that have passed through the subject and convert them into digital image signals include flat panel detectors (FPDs), imaging plates (IPs), and image readers. There are some combinations.

フラット・パネル・ディテクター(FPD:Flat Panel Detector)は、被検体を透過してきたX線が照射されると、照射されたX線の強度分布に応じたデジタル画像信号を出力する。
このデジタル画像信号をモニタに送ることにより、モニタ上にX線透過画像を表示することができる。
A flat panel detector (FPD) outputs a digital image signal corresponding to the intensity distribution of the irradiated X-rays when the X-rays transmitted through the subject are irradiated.
By sending this digital image signal to the monitor, an X-ray transmission image can be displayed on the monitor.

イメージング・プレート(IP:Imaging Plate)とは、有機フィルムに輝尽性蛍光体を塗布した板である。被検体をX線検査するときには、イメージング・プレート(IP:Imaging Plate)をカセッテ内に収納し、カセッテ内に収納したイメージング・プレート(IP:Imaging Plate)が、被検体を透過してきたX線で照射されるように配置する。
イメージング・プレートにX線が照射されると、蛍光体にエネルギーが蓄積され、放射線の吸収量に応じて蛍光体が発光する(輝尽性)。
画像読取装置は、X線が照射されたイメージング・プレートにレーザー光を照射(走査)することにより受けた放射線量に比例した発光をさせ、その光量をスキャナで読み取り光電変換することにより、デジタル画像信号を出力する。
このデジタル画像信号をモニタに送ることにより、モニタ上にX線透過画像を表示することができる。
An imaging plate (IP: Imaging Plate) is a plate obtained by applying a photostimulable phosphor to an organic film. When performing X-ray inspection of a subject, an imaging plate (IP: Imaging Plate) is stored in the cassette, and the imaging plate (IP: Imaging Plate) stored in the cassette is the X-ray that has passed through the subject. Arrange to be irradiated.
When the imaging plate is irradiated with X-rays, energy is accumulated in the phosphor, and the phosphor emits light according to the amount of absorbed radiation (stimulus).
An image reading device emits light in proportion to the amount of radiation received by irradiating (scanning) a laser beam to an imaging plate irradiated with X-rays. Output a signal.
By sending this digital image signal to the monitor, an X-ray transmission image can be displayed on the monitor.

特開2002−168807号公報JP 2002-168807 A

ところで、従来のデジタル・ラジオグラフィ検査においては、線源の種類や、管電圧、管電流、X線照射時間などのパラメータについては、図10に示すように、過去の経験を基にパラメータを仮設定し(ステップ1)、事前に試し撮りを行った後に(ステップ2)、X線透過画像を作業員が実際に見て(ステップ3)、これらのパラメータ条件が適切か否かを判断していた(ステップ4)。適切な画像でないと判断した場合には、別の値となっているパラメータを仮設定し(ステップ1)、試し撮り(ステップ2)、X線透過画像の確認(ステップ3)をする。適切な画像であると判断した後、本撮影をしていた(ステップ5)。
そのため、作業員により判断方法が様々であり、また見逃し等が発生する可能性があった。
さらに作業員の工数増加となっていた。
By the way, in the conventional digital radiography inspection, parameters such as the type of radiation source, tube voltage, tube current, and X-ray irradiation time are temporarily set based on past experience as shown in FIG. After setting (Step 1) and taking a trial shot in advance (Step 2), the operator actually looks at the X-ray transmission image (Step 3) to determine whether or not these parameter conditions are appropriate. (Step 4). If it is determined that the image is not appropriate, parameters having different values are temporarily set (step 1), trial shooting (step 2), and confirmation of the X-ray transmission image (step 3). After determining that the image was appropriate, the main image was taken (step 5).
Therefore, there are various determination methods depending on the worker, and there is a possibility that oversight or the like may occur.
In addition, the number of workers increased.

本発明は、上記従来技術に鑑み、作業者の経験や勘などに頼ることなく確実にX線透過画像を最適にしてX線検査をすることができるように調整をする、デジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法を提供することを目的とする。   In view of the above-described prior art, the present invention is a digital radiography inspection that is adjusted so that an X-ray transmission image can be surely optimized without depending on the experience and intuition of an operator. It aims at providing the adjustment method of.

上記課題を解決する本発明の構成は、
デジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法において、
検査準備段階で、検査準備用の被検体を透過してきたX線強度分布を示す被検体画像の輝度分布値が予め決めた規定値に収まるように、検査準備用の前記被検体に照射するX線の強度を制御する工程と、
実検査段階で、実検査用の被検体を透過してきたX線強度分布を示す被検体画像の輝度分布値が、前記検査準備段階での規定値に収まった前記被検体画像の輝度分布値と一致するまで、実検査用の被検体に照射するX線の強度を制御する工程と、
を有することを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
The configuration of the present invention for solving the above problems is as follows.
In the adjustment method of digital radiography inspection,
X which irradiates the subject for examination preparation so that the luminance distribution value of the subject image showing the X-ray intensity distribution that has passed through the subject for examination preparation falls within a predetermined specified value in the examination preparation stage. Controlling the intensity of the line;
The luminance distribution value of the subject image showing the X-ray intensity distribution that has passed through the subject for actual examination in the actual examination stage is the luminance distribution value of the subject image that falls within the specified value in the examination preparation stage. A step of controlling the intensity of X-rays applied to the subject for actual examination until they match,
A method for adjusting digital radiography inspection, comprising:

また本発明の構成は、
検査準備段階では、
実際にX線検査をする対象物である被検体と同じ材質・形状・寸法になっている検査準備用の被検体に、X線検査用の標準試験片を接触して配置し、
前記標準試験片が接触・配置された検査準備用の前記被検体に、X線源からX線を照射し、
X線が照射されるとX線強度分布に応じたデジタル画像信号を出力するセンサ機器に、検査準備用の前記被検体を透過してきたX線を照射し、
前記センサ機器から出力される前記デジタル画像信号を基に求めた、X線の強度分布に応じたX線透過画像のうち、検査準備用の前記被検体を透過してきたX線強度分布を示す被検体画像の精度が検査対象項目を精度よく検出できる画像精度になるように、前記X線源から出力されるX線の強度を制御するパラメータを調整し、パラメータの調整後に前記標準試験片を透過してきたX線強度分布を示す標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を求め、
実際の検査対象物である被検体をX線検査する実検査段階では、
実際にX線検査をする検査対象物である被検体に、X線検査用の標準試験片を接触して配置し、
前記標準試験片が接触・配置された検査対象物である前記被検体に、X線源からX線を照射し、
X線が照射されるとX線強度分布に応じたデジタル画像信号を出力するセンサ機器に、検査対象物である前記被検体を透過してきたX線を照射し、
前記センサ機器から出力される前記デジタル画像信号を基に求めた、X線の強度分布に応じたX線透過画像のうち、検査対象物である被検体に接触・配置した前記標準試験片を透過してきたX線強度分布を示す標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値が、検査準備段階で求めた標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値に一致するまで、前記X線源から出力されるX線の強度を制御するパラメータを調整することを特徴とする。
The configuration of the present invention is as follows.
In the inspection preparation stage,
Place a standard specimen for X-ray examination in contact with a specimen for examination preparation that has the same material, shape, and dimensions as the subject that is actually the subject of X-ray examination,
X-ray source is irradiated with X-rays to the subject for examination preparation where the standard test piece is contacted / arranged,
When the X-ray is irradiated, the sensor device that outputs a digital image signal corresponding to the X-ray intensity distribution is irradiated with the X-ray that has passed through the subject for examination preparation,
Of the X-ray transmission image corresponding to the X-ray intensity distribution obtained based on the digital image signal output from the sensor device, the X-ray intensity distribution transmitted through the subject for examination preparation is shown. The parameter that controls the intensity of the X-rays output from the X-ray source is adjusted so that the accuracy of the specimen image can be detected with high accuracy so that the inspection target item can be accurately detected. The numerical value indicating the luminance distribution state of the standard test piece image showing the X-ray intensity distribution has been obtained,
In the actual examination stage where X-ray examination is performed on the subject that is the actual examination object,
A standard test piece for X-ray inspection is placed in contact with a subject, which is an inspection object to actually perform X-ray inspection,
X-rays are irradiated from the X-ray source to the subject, which is an inspection object in contact with the standard test piece,
When the X-rays are irradiated, the sensor device that outputs a digital image signal corresponding to the X-ray intensity distribution is irradiated with the X-rays that have passed through the subject as the inspection object,
Of the X-ray transmission image corresponding to the X-ray intensity distribution obtained based on the digital image signal output from the sensor device, it passes through the standard test piece that is in contact with and placed on the subject as the inspection object. Until the numerical value indicating the luminance distribution state of the standard specimen image indicating the X-ray intensity distribution thus obtained matches the numerical value indicating the luminance distribution state of the standard specimen image obtained in the inspection preparation stage, A parameter for controlling the intensity of the output X-ray is adjusted.

また本発明の構成は、
前記センサ機器は、
フラット・パネル・ディテクター、
または、イメージング・プレート及び画像読取装置を組み合わせたもの、
または、蛍光体板及びデジタルカメラを組み合わせたものであることを特徴とする。
The configuration of the present invention is as follows.
The sensor device is
Flat panel detector,
Or a combination of an imaging plate and an image reader,
Alternatively, it is a combination of a phosphor plate and a digital camera.

また本発明の構成は、
標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値は、
MTF(Modulation Transfer Function)値、
または予め決めた特定エリアの輝度の標準偏差値であることを特徴とする。
The configuration of the present invention is as follows.
The numerical value indicating the luminance distribution of the standard specimen image is
MTF (Modulation Transfer Function) value,
Or it is the standard deviation value of the brightness | luminance of the specific area decided beforehand.

本発明によれば、X線透過画像が適切かどうかを自動的に、且つ、人の判断に頼らずに定量的に判定できるため、デジタル・ラジオグラフィ検査方法における調整の工数を削減でき、精度の良い調整を短時間で実施することができる。   According to the present invention, whether or not an X-ray transmission image is appropriate can be determined automatically and quantitatively without relying on human judgment. Therefore, the number of adjustment steps in the digital radiography inspection method can be reduced, and accuracy can be reduced. Can be adjusted in a short time.

本発明の実施例1における検査準備段階を示す構成図。The block diagram which shows the test | inspection preparation stage in Example 1 of this invention. 本発明の実施例1における実検査段階を示す構成図。The block diagram which shows the actual test | inspection stage in Example 1 of this invention. 標準試験片(Duplex Wire)を示す構成図。The block diagram which shows a standard test piece (Duplex Wire). 標準試験片(Duplex Wire)のX線透過画像(標準試験片画像)を示す構成図。The block diagram which shows the X-ray-transmission image (standard test piece image) of a standard test piece (Duplex Wire). ペア部分とMTFとを示す特性図。The characteristic view which shows a pair part and MTF. 本発明の実施例1の変形例における実検査段階を示す構成図。The block diagram which shows the actual test | inspection stage in the modification of Example 1 of this invention. 本発明の実施例2における実検査段階を示す構成図。The block diagram which shows the actual test | inspection stage in Example 2 of this invention. 本発明の実施例3における検査準備段階を示す構成図。The block diagram which shows the test | inspection preparation stage in Example 3 of this invention. 本発明の実施例3における実検査段階を示す構成図。The block diagram which shows the actual test | inspection stage in Example 3 of this invention. 従来手法を示すフローチャート。The flowchart which shows a conventional method.

以下、本発明の実施の形態について、実施例に基づき詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on examples.

本発明の実施例1について、図1と図2を参照して説明する。図1は検査準備段階の状態を示しており、図2は実際の被検体をX線検査する実検査段階の状態を示している。   A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows a state in an examination preparation stage, and FIG. 2 shows a state in an actual examination stage in which an actual subject is subjected to an X-ray examination.

まず図1を参照して検査準備段階の構成や動作を説明する。
図1に示す被検体1は、実際にX線検査をする対象物である配管等の被検体(検査対象物)101(図2参照)と、同じ材質・形状・寸法となっている物である。
この被検体1の表面に、X線検査用の標準試験片2を接触して配置する。標準試験片2としては、例えばDuplex Wireを使用する。Duplex Wireの構成については後述する。
First, the configuration and operation of the inspection preparation stage will be described with reference to FIG.
A subject 1 shown in FIG. 1 is an object having the same material, shape, and dimensions as a subject (inspection target) 101 (see FIG. 2) such as a pipe that is an actual target for X-ray inspection. is there.
A standard test piece 2 for X-ray inspection is placed in contact with the surface of the subject 1. As the standard test piece 2, for example, Duplex Wire is used. The configuration of Duplex Wire will be described later.

標準試験片2が接触・配置された被検体1を間にして、X線源3とフラット・パネル・ディテクター4とが相対向して配置されている。X線源3は、被検体1に対してX線を照射する。照射されたX線は、被検体1及び標準試験片2を透過してフラット・パネル・ディテクター4に照射される。
X線源3の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源3と被検体1との距離は、X線源コントローラ5により制御できるようになっている。つまり、X線源3から被検体1に照射するX線の強度に関するパラメータは、X線源コントローラ5により制御できるようになっている。
An X-ray source 3 and a flat panel detector 4 are arranged to face each other with a subject 1 to which a standard test piece 2 is contacted and arranged interposed therebetween. The X-ray source 3 irradiates the subject 1 with X-rays. The irradiated X-ray passes through the subject 1 and the standard test piece 2 and is irradiated to the flat panel detector 4.
The X-ray source controller 5 can control the tube voltage, tube current, X-ray irradiation time, and the distance between the X-ray source 3 and the subject 1 of the X-ray source 3. That is, the parameters relating to the intensity of X-rays irradiated from the X-ray source 3 to the subject 1 can be controlled by the X-ray source controller 5.

フラット・パネル・ディテクター4は、被検体1及び標準試験片2を透過してきたX線が照射されると、照射されたX線の強度分布に応じたデジタル画像信号S1を出力する。
このデジタル画像信号S1は、表示装置6及び画像解析装置7に送られる。
When the X-ray transmitted through the subject 1 and the standard test piece 2 is irradiated, the flat panel detector 4 outputs a digital image signal S1 corresponding to the intensity distribution of the irradiated X-ray.
The digital image signal S1 is sent to the display device 6 and the image analysis device 7.

表示装置6では、デジタル画像信号S1が送られてくると、被検体1及び標準試験片2を透過してきたX線の強度分布を示すX線透過画像を表示する。
画像解析装置7は、X線透過画像の輝度の分布状態を示す数値を演算する(演算の詳細は後述する)。
When the digital image signal S <b> 1 is sent, the display device 6 displays an X-ray transmission image showing the intensity distribution of the X-rays that have passed through the subject 1 and the standard test piece 2.
The image analysis device 7 calculates a numerical value indicating the luminance distribution state of the X-ray transmission image (the details of the calculation will be described later).

ここで図3を参照して、標準試験片(Duplex Wire)2について説明する。
標準試験片(Duplex Wire)2は、間隔を開けて平行配置した2本で1組となった10組の金属線21、21を、平行に並んだ状態でプラスチック板に取り付けたものである。
つまり第1ペア部P1から第10ペア部に、間隔を開けて平行配置した金属線21、21がそれぞれ配置されており、しかも、第1ペア部P1から第10ペア部P10に向かうに従い、金属線21、21の線幅及び金属線21、21間の線間が、順次、細くなっている。金属線21、21としては、例えば鉛線が使用される。またこの例では10組の金属線21、21としたが10組以外の場合もあり得る。
Here, the standard test piece (Duplex Wire) 2 will be described with reference to FIG.
A standard test piece (Duplex Wire) 2 is a set of 10 metal wires 21, 21, which are two in parallel arranged at intervals, and are attached to a plastic plate in a state of being arranged in parallel.
That is, the metal wires 21 and 21 arranged in parallel with a space are arranged from the first pair part P1 to the tenth pair part, and as the metal moves from the first pair part P1 to the tenth pair part P10, The line width of the lines 21 and 21 and the space between the metal lines 21 and 21 are successively narrowed. As the metal wires 21, 21, for example, lead wires are used. In this example, ten sets of metal wires 21 and 21 are used, but there may be cases other than ten sets.

被検体1に接触・配置された標準試験片(Duplex Wire)2を透過してきたX線の強度分布を示すX線透過画像は、表示装置6では、例えば図4に示すような画像となって表示される。   An X-ray transmission image showing the intensity distribution of X-rays transmitted through a standard test piece (Duplex Wire) 2 in contact with and placed on the subject 1 is an image as shown in FIG. Is displayed.

図1に戻り検査準備段階の動作を説明する。
表示装置6には、被検体1を透過してきたX線の強度分布を示すX線透過画像(被検体画像)が表示されるので、作業者は、表示された被検体画像が最適になるように、即ち、被検体画像により検査対象項目(例えば欠陥など)を精度よく検出できる画像になるように、X線源コントローラ5を操作して、X線源3の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源3と被検体1との距離を制御する。
Returning to FIG. 1, the operation in the inspection preparation stage will be described.
Since the display device 6 displays an X-ray transmission image (subject image) indicating the intensity distribution of the X-rays transmitted through the subject 1, the operator can optimize the displayed subject image. That is, in other words, the X-ray source controller 5 is operated so that the inspection target item (for example, a defect) can be accurately detected from the subject image, and the tube voltage, tube current, and X-ray of the X-ray source 3 are operated. The irradiation time and the distance between the X-ray source 3 and the subject 1 are controlled.

このようにして表示装置6に表示された被検体画像が最適になったら、被検体1に接触・配置された標準試験片(Duplex Wire)2を透過してきたX線の強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像、図4に示す画像)を画像解析装置7で画像解析して、標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を演算する。   When the subject image displayed on the display device 6 is optimized in this way, the X-rays indicate the intensity distribution of the X-rays transmitted through the standard test piece (Duplex Wire) 2 in contact with and placed on the subject 1. The transmission image (standard test piece image, image shown in FIG. 4) is image-analyzed by the image analysis device 7 to calculate a numerical value indicating the luminance distribution state of the standard test piece image.

具体的には、第1ペア部P1から第10ペア部P10のX線透過画像(標準試験片画像)について、MTF(Modulation Transfer Function)値や、標準偏差値(輝度値のバラツキ)を演算して記憶する。なお、MTF値は下式で示す値である。
MTF=(最大輝度レベル−最小輝度レベル)/(最大輝度レベル+最小輝度レベル)
例えば、第1ペア部P1〜第10ペア部P10においては、金属線21、21の線幅を示すX線透過画像(標準試験片画像)の部分に最大輝度レベルがあり、金属線21、21の線間を示すX線透過画像(標準試験片画像)の部分に最小輝度レベルがある。
Specifically, the MTF (Modulation Transfer Function) value and the standard deviation value (luminance value variation) are calculated for the X-ray transmission images (standard test piece images) of the first pair portion P1 to the tenth pair portion P10. Remember. The MTF value is a value represented by the following formula.
MTF = (maximum luminance level−minimum luminance level) / (maximum luminance level + minimum luminance level)
For example, in the first pair portion P1 to the tenth pair portion P10, the portion of the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the line width of the metal lines 21 and 21 has the maximum luminance level, and the metal lines 21 and 21 There is a minimum luminance level in the portion of the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the distance between the lines.

図5は、このようにして求めた第1ペア部P1〜第10ペア部P10のMTFを示すものである。
図5において、横軸の1〜10は第1ペア部P1〜第10ペア部P10を示し、縦軸はMTFを示す。
この図5の例では、被検体画像が最適になっている場合には、第5ペア部P5でのMTFが閾値である0.01を越えて0.013になっていることが判明する。
したがって、作業者は、被検体画像が最適になっている場合には、「第5ペア部P5でのMTFが0.013になっていること」を記録しておく。
FIG. 5 shows the MTFs of the first pair part P1 to the tenth pair part P10 thus obtained.
In FIG. 5, 1 to 10 on the horizontal axis indicate the first pair part P1 to the tenth pair part P10, and the vertical axis indicates the MTF.
In the example of FIG. 5, when the subject image is optimal, it is found that the MTF at the fifth pair portion P5 is 0.013 exceeding the threshold of 0.01.
Therefore, when the subject image is optimal, the operator records “MTF at the fifth pair portion P5 is 0.013”.

なお、表示装置6に表示された被検体画像が最適になった状態において、画像処理装置7により画像解析をして、例えば第5ペア部P5の部分の、金属線21、21の線幅部分または金属線21、21の線間部分の標準偏差値を求めて、この標準偏差値を記録していてもよい。   In the state where the subject image displayed on the display device 6 is optimized, the image processing device 7 performs image analysis, for example, the line width portions of the metal lines 21 and 21 in the portion of the fifth pair portion P5. Or the standard deviation value of the part between the metal wires 21 and 21 may be calculated | required, and this standard deviation value may be recorded.

次に図2を参照して実際の被検体をX線検査する実検査段階の構成や動作を説明する。
図2に示すように、実際にX線検査をする対象物である配管等の被検体(検査対象物)101の表面に、X線検査用の標準試験片(Duplex Wire)2を接触して配置する。この標準試験片(Duplex Wire)2は、検査準備段階で用いた標準試験片(Duplex Wire)2と同じスペック(X線透過特性や試験片構成)のものである。
Next, the configuration and operation of the actual examination stage in which an actual subject is X-ray examined will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 2, a standard test piece (Duplex Wire) 2 for X-ray inspection is brought into contact with the surface of a subject (inspection target) 101 such as a pipe which is a target for actual X-ray inspection. Deploy. This standard test piece (Duplex Wire) 2 has the same specifications (X-ray transmission characteristics and test piece configuration) as the standard test piece (Duplex Wire) 2 used in the inspection preparation stage.

標準試験片2が接触・配置された実際の被検体101を間にして、X線源103とフラット・パネル・ディテクター104とを相対向して配置する。X線源103は、被検体101に対してX線を照射する。照射されたX線は、被検体101及び標準試験片2を透過してフラット・パネル・ディテクター104に照射される。
X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101との距離は、X線源コントローラ105により制御できる。つまり、X線源103から被検体101に照射するX線の強度に関するパラメータは、X線源コントローラ105により制御できるようになっている。
The X-ray source 103 and the flat panel detector 104 are arranged opposite to each other with the actual subject 101 with the standard test piece 2 in contact with and arranged therebetween. The X-ray source 103 irradiates the subject 101 with X-rays. The irradiated X-rays pass through the subject 101 and the standard test piece 2 and are irradiated to the flat panel detector 104.
The X-ray source controller 105 can control the tube voltage, tube current, X-ray irradiation time of the X-ray source 103, and the distance between the X-ray source 103 and the subject 101. That is, the parameters relating to the intensity of X-rays irradiated from the X-ray source 103 to the subject 101 can be controlled by the X-ray source controller 105.

フラット・パネル・ディテクター104は、被検体101及び標準試験片2を透過してきたX線が照射されると、照射されたX線の強度分布に応じたデジタル画像信号S2を出力する。
このデジタル画像信号S2は、表示装置106及び画像解析装置107に送られる。
When the X-ray transmitted through the subject 101 and the standard test piece 2 is irradiated, the flat panel detector 104 outputs a digital image signal S2 corresponding to the intensity distribution of the irradiated X-ray.
The digital image signal S2 is sent to the display device 106 and the image analysis device 107.

表示装置106では、デジタル画像信号S2が送られてくると、被検体101及び標準試験片2を透過してきたX線の強度分布を示すX線透過画像を表示する。   When the digital image signal S2 is sent, the display device 106 displays an X-ray transmission image showing the intensity distribution of the X-rays that have passed through the subject 101 and the standard test piece 2.

このとき、画像解析装置107によりX線透過画像(標準試験片画像)を画像解析して、標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を演算する。具体的には、画像解析装置107により、第1ペア部P1から第10ペア部のMTF(Modulation Transfer Function)値を求める。
このとき、検査準備段階で記録したMTF値である「第5ペア部P5でのMTFが0.013になっている」かどうかを判定し、このようになっていない場合には、画像解析装置107は、被検体画像が最適になっていないことを示す警告を発する。
At this time, the X-ray transmission image (standard test piece image) is subjected to image analysis by the image analysis device 107, and a numerical value indicating the luminance distribution state of the standard test piece image is calculated. Specifically, the image analysis apparatus 107 calculates MTF (Modulation Transfer Function) values from the first pair part P1 to the tenth pair part.
At this time, it is determined whether or not “the MTF in the fifth pair portion P5 is 0.013”, which is the MTF value recorded in the inspection preparation stage. 107 issues a warning indicating that the subject image is not optimal.

第5ペア部P5でのMTFが0.013になっていないと判定した場合には、作業者は、第5ペア部P5でのMTFが0.013になるまで、X線源コントローラ105を操作して、X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101との距離を制御する。   If it is determined that the MTF in the fifth pair part P5 is not 0.013, the operator operates the X-ray source controller 105 until the MTF in the fifth pair part P5 becomes 0.013. Then, the tube voltage, tube current, X-ray irradiation time of the X-ray source 103 and the distance between the X-ray source 103 and the subject 101 are controlled.

または、検査準備段階において、表示装置6に表示された被検体画像が最適になった状態のときの、第5ペア部P5の部分の標準偏差値を記録していた場合には、実検査段階において、画像解析装置107により、第5ペア部P5の標準偏差値を求める。
そして、実検査段階における第5ペア部P5の標準偏差値が、検査準備段階における第5ペア部P5の標準偏差値になっていない場合には、作業者は、実検査段階における第5ペア部P5の標準偏差値が、検査準備段階における第5ペア部P5の標準偏差値になるまで、X線源コントローラ105を操作して、X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101との距離を制御する。
Alternatively, in the examination preparation stage, when the standard deviation value of the part of the fifth pair part P5 when the subject image displayed on the display device 6 is in the optimum state is recorded, the actual examination stage Then, the standard deviation value of the fifth pair portion P5 is obtained by the image analysis device 107.
When the standard deviation value of the fifth pair part P5 in the actual inspection stage is not the standard deviation value of the fifth pair part P5 in the inspection preparation stage, the operator The X-ray source controller 105 is operated until the standard deviation value of P5 becomes the standard deviation value of the fifth pair part P5 in the inspection preparation stage, and the tube voltage, tube current, X-ray irradiation time of the X-ray source 103, The distance between the X-ray source 103 and the subject 101 is controlled.

このようにしてMTF値や標準偏差値をもとに、X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101との距離を制御することにより、表示部106に表示される被検体画像が最適なもの、つまり、検査対象項目(例えば欠陥など)を精度よく検出できる画像となる。   In this way, by controlling the tube voltage of the X-ray source 103, the tube current, the X-ray irradiation time, and the distance between the X-ray source 103 and the subject 101 based on the MTF value and the standard deviation value, the display is performed. The object image displayed on the unit 106 is an optimal image, that is, an image that can accurately detect an inspection target item (for example, a defect).

その後は、X線源103の管電圧等のパラメータを固定して、被検体(検査対象物)101の各部分をX線検査する。
このため、被検体101の各部分をX線検査して得られる被検体画像は、検査対象項目(例えば欠陥など)を精度よく検出できる画像となる。
Thereafter, parameters such as tube voltage of the X-ray source 103 are fixed, and each part of the subject (inspection object) 101 is inspected by X-ray.
For this reason, the subject image obtained by X-ray inspection of each part of the subject 101 is an image that can accurately detect an inspection target item (for example, a defect).

このように、本実施例では、実検査段階でのMTF値や標準偏差値(標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値)が、検査準備段階において最適な被検体画像が得られたときのMTF値や標準偏差値(標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値)になるように、X線源103のパラメータを調整するため、作業者の経験や勘などに頼ることなく、確実に被検体画像を最適にしてX線検査をすることが可能となる。   As described above, in this embodiment, when the MTF value and the standard deviation value (numerical values indicating the luminance distribution state of the standard test piece image) in the actual examination stage are obtained in the examination preparation stage, the optimum subject image is obtained. Since the parameters of the X-ray source 103 are adjusted so that the MTF value and the standard deviation value (numerical values indicating the luminance distribution state of the standard specimen image) are adjusted, it is ensured without depending on the experience or intuition of the operator. In addition, it is possible to perform an X-ray examination while optimizing the subject image.

なお図1及び図2の例では、被検体を透過してきたX線を受けて照射されたX線の強度分布に応じたデジタル信号を出力するセンサ機器として、フラット・パネル・ディテクター(FPD)を用いたが、イメージング・プレート(IP:Imaging Plate)及び画像読取装置を組み合わせたものを用いることもできる。   In the example of FIGS. 1 and 2, a flat panel detector (FPD) is used as a sensor device that outputs a digital signal corresponding to the intensity distribution of the X-rays irradiated upon receiving X-rays transmitted through the subject. Although used, a combination of an imaging plate (IP) and an image reading device can also be used.

さらには、上記のFPDのようなX線カメラではなく、図6に示すような、蛍光体板110とデジタルカメラ111を採用することもできる。
図6の例ではX線カメラ(FPDやIP)を使用しないので、簡易に被検体画像の撮影状態を確認することができる。
Furthermore, instead of the X-ray camera such as the FPD described above, a phosphor plate 110 and a digital camera 111 as shown in FIG. 6 may be employed.
In the example of FIG. 6, since the X-ray camera (FPD or IP) is not used, the imaging state of the subject image can be easily confirmed.

本発明の実施例2について、図7を参照して説明する。
実施例2は、実施例1の手法により、実検査段階でのMTF値や標準偏差値(標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値)が、検査準備段階において最適な被検体画像が得られたときのMTF値や標準偏差値(標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値)になるように、X線源103のパラメータを調整した状態において、デジタル画像信号S2を画像処理装置201により、フィルタリング処理や輝度変換処理し、このような処理をしたデジタル画像信号S3を表示装置106に送って被検体画像を表示する場合に用いる。
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
In the second embodiment, the MTF value and the standard deviation value (numerical values indicating the luminance distribution state of the standard test piece image) in the actual inspection stage are obtained by the method of the first embodiment so that an optimal subject image is obtained in the inspection preparation stage. When the parameters of the X-ray source 103 are adjusted so that the MTF value or standard deviation value (numerical value indicating the luminance distribution state of the standard test piece image) is obtained, the digital image signal S2 is converted into the image processing apparatus 201. Thus, filtering processing and luminance conversion processing are performed, and the digital image signal S3 subjected to such processing is sent to the display device 106 to be used when displaying the subject image.

実施例2では、フィルタリング処理や輝度変換処理をし、このような処理をしたデジタル画像信号S3が画像解析装置107にも送られる。   In the second embodiment, filtering processing and luminance conversion processing are performed, and the digital image signal S3 subjected to such processing is also sent to the image analysis device 107.

このとき、画像解析装置107により、デジタル画像信号S3によるX線透過画像(標準試験片画像)を画像解析して、標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を演算する。具体的には、画像解析装置107により、第1ペア部P1から第10ペア部P10のMTF(Modulation Transfer Function)値を求める。
このとき、検査準備段階で記録したMTF値である「第5ペア部P5でのMTFが0.013になっている」かどうかを判定し、このようになっていない場合には、画像解析装置107は、被検体画像が最適になっていないことを示す警告を発する。
At this time, the X-ray transmission image (standard test piece image) based on the digital image signal S3 is subjected to image analysis by the image analysis device 107, and a numerical value indicating the luminance distribution state of the standard test piece image is calculated. Specifically, the MTF (Modulation Transfer Function) value of the first pair unit P1 to the tenth pair unit P10 is obtained by the image analysis device 107.
At this time, it is determined whether or not “the MTF in the fifth pair portion P5 is 0.013”, which is the MTF value recorded in the inspection preparation stage. 107 issues a warning indicating that the subject image is not optimal.

第5ペア部P5でのMTFが0.013になっていないと判定した場合には、作業者は、第5ペア部P5でのMTFが0.013になるまで、画像処理装置201でのフィルタリング処理や輝度変換処理の処理程度を調整する。   When it is determined that the MTF in the fifth pair part P5 is not 0.013, the worker performs filtering in the image processing apparatus 201 until the MTF in the fifth pair part P5 becomes 0.013. Adjust the processing level of processing and brightness conversion processing.

または、検査準備段階において、表示装置106に表示された被検体画像が最適になった状態のときの、第5ペア部P5の部分の標準偏差値を記録していた場合には、実検査段階において、画像解析装置107により、デジタル画像信号S3による第5ペア部P5の標準偏差値を求める。
そして、デジタル画像信号S3による第5ペア部P5の標準偏差値が、検査準備段階における第5ペア部P5の標準偏差値になっていない場合には、作業者は、実検査段階における第5ペア部P5の標準偏差値が、検査準備段階における第5ペア部P5の標準偏差値になるまで、画像処理装置201でのフィルタリング処理や輝度変換処理の処理程度を調整する。
Alternatively, in the examination preparation stage, when the standard deviation value of the part of the fifth pair part P5 when the subject image displayed on the display device 106 is in the optimum state is recorded, the actual examination stage The image analysis device 107 obtains the standard deviation value of the fifth pair part P5 from the digital image signal S3.
Then, when the standard deviation value of the fifth pair part P5 by the digital image signal S3 is not the standard deviation value of the fifth pair part P5 in the inspection preparation stage, the operator sets the fifth pair in the actual inspection stage. Until the standard deviation value of the part P5 becomes the standard deviation value of the fifth pair part P5 in the inspection preparation stage, the processing degree of the filtering process and the luminance conversion process in the image processing apparatus 201 is adjusted.

このようにしてMTF値や標準偏差値をもとに、画像処理装置201でのフィルタリング処理や輝度変換処理の処理程度を調整するため、作業者の経験や勘などに頼ることなく、デジタル画像信号S3による最適な被検体画像を表示装置106に表示することができる。
つまり、過不足なく、フィルタリング処理や輝度変換処理を行うことができる。
Thus, based on the MTF value and the standard deviation value, the processing level of the filtering process and the luminance conversion process in the image processing apparatus 201 is adjusted, so that the digital image signal can be used without depending on the experience or intuition of the operator. The optimal subject image by S3 can be displayed on the display device 106.
That is, filtering processing and luminance conversion processing can be performed without excess or deficiency.

次に本発明の実施例3について、図8と図9を参照して説明する。図8は検査準備段階の状態を示しており、図9は実際の被検体をX線検査する実検査段階の状態を示している。   Next, Embodiment 3 of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 8 shows the state of the examination preparation stage, and FIG. 9 shows the state of the actual examination stage in which an actual subject is X-ray examined.

まず図8を参照して検査準備段階の構成や動作を説明する。
図8に示す被検体1aは、実際にX線検査をする対象物である配管等の被検体(検査対象物)101a(図9参照)と、同じ材質・形状・寸法となっている物である。
なお、実際にX線検査をする対象物である配管等が被検体(検査対象物)101b(図9参照)である場合には、被検体101bと同じ材質・形状・寸法となっている被検体1bを採用し、実際にX線検査をする対象物である配管等が被検体(検査対象物)101c(図9参照)である場合には、被検体101cと同じ材質・形状・寸法となっている被検体1cを採用する。
First, the configuration and operation in the inspection preparation stage will be described with reference to FIG.
An object 1a shown in FIG. 8 is an object having the same material, shape, and dimensions as an object (inspection object) 101a (see FIG. 9) such as a pipe that is an object to be actually subjected to X-ray inspection. is there.
Note that when the pipe or the like, which is the actual object to be X-rayed, is the object (inspection object) 101b (see FIG. 9), the object has the same material, shape, and dimensions as the object 101b. When the specimen 1b is employed and the pipe or the like that is the actual object of the X-ray examination is the specimen (test object) 101c (see FIG. 9), the same material, shape, and dimensions as the specimen 101c are used. The subject 1c is used.

被検体1aの表面に、X線検査用の標準試験片(Duplex Wire)2a、2b、2cを接触して配置する。標準試験片2a、2b、2cに備えた金属線はそれぞれ異なった材質の金属線である。例えば、標準試験片2aに備えた金属線は鉛線であり、標準試験片2bに備えた金属線は銅線であり、標準試験片2cに備えた金属線はアルミニウム線である。   Standard test pieces (Duplex Wire) 2a, 2b, 2c for X-ray examination are placed in contact with the surface of the subject 1a. The metal wires provided in the standard test pieces 2a, 2b and 2c are metal wires of different materials. For example, the metal wire provided in the standard test piece 2a is a lead wire, the metal wire provided in the standard test piece 2b is a copper wire, and the metal wire provided in the standard test piece 2c is an aluminum wire.

標準試験片2a、2b、2cが接触・配置された被検体1aを間にして、X線源3とフラット・パネル・ディテクター4とが相対向して配置されている。X線源3は、被検体1aに対してX線を照射する。照射されたX線は、被検体1a及び標準試験片2a、2b、2cを透過してフラット・パネル・ディテクター4に照射される。
X線源3の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源3と被検体1aとの距離は、X線源コントローラ5により制御できるようになっている。つまり、X線源3から被検体1aに照射するX線の強度に関するパラメータは、X線源コントローラ5により制御できるようになっている。
An X-ray source 3 and a flat panel detector 4 are arranged opposite to each other with a subject 1a in contact with and placed on the standard test pieces 2a, 2b, and 2c. The X-ray source 3 irradiates the subject 1a with X-rays. The irradiated X-rays pass through the subject 1a and the standard test pieces 2a, 2b, 2c and are irradiated to the flat panel detector 4.
The X-ray source controller 5 can control the tube voltage, tube current, X-ray irradiation time, and the distance between the X-ray source 3 and the subject 1a. That is, the parameter relating to the intensity of X-rays irradiated from the X-ray source 3 to the subject 1 a can be controlled by the X-ray source controller 5.

フラット・パネル・ディテクター4は、被検体1及び標準試験片2a、2b、2cを透過してきたX線が照射されると、照射されたX線の強度分布に応じたデジタル画像信号S11を出力する。
このデジタル画像信号S11は、表示装置6に送られる。
The flat panel detector 4 outputs a digital image signal S11 corresponding to the intensity distribution of the irradiated X-rays when the X-rays transmitted through the subject 1 and the standard test pieces 2a, 2b, and 2c are irradiated. .
The digital image signal S11 is sent to the display device 6.

表示装置6では、デジタル画像信号S11が送られてくると、被検体1a及び標準試験片2a、2b、2cを透過してきたX線の強度分布を示すX線透過画像を表示する。
このとき、X線源コントローラ5を操作して、X線源3の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源3と被検体1aとの距離を制御して、X線透過画像(被検体画像)が明瞭になったときに、標準試験片2aを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が明瞭で、標準試験片2b、2cを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が不明瞭である場合には、被検体1aの検査をする場合には、標準試験片2aが最適であると記録しておく。
When the digital image signal S11 is sent, the display device 6 displays an X-ray transmission image showing the intensity distribution of X-rays transmitted through the subject 1a and the standard test pieces 2a, 2b, and 2c.
At this time, the X-ray source controller 5 is operated to control the tube voltage of the X-ray source 3, the tube current, the X-ray irradiation time, and the distance between the X-ray source 3 and the subject 1a. When the (subject image) becomes clear, the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test piece 2a is clear and passes through the standard test pieces 2b and 2c. When the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution is unclear, it is recorded that the standard test piece 2a is optimal when examining the subject 1a. .

被検体1aの代わりに被検体1bを用いた場合において、X線源コントローラ5を操作して、X線源3の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源3と被検体1bとの距離を制御して、X線透過画像(被検体画像)が明瞭になったときに、標準試験片2bを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が明瞭で、標準試験片2a、2cを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が不明瞭である場合には、被検体1bの検査をする場合には、標準試験片2bが最適であると記録しておく。   When the subject 1b is used instead of the subject 1a, the X-ray source controller 5 is operated, and the tube voltage, the tube current, the X-ray irradiation time of the X-ray source 3, the X-ray source 3 and the subject 1b. The X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test piece 2b when the X-ray transmission image (subject image) becomes clear by controlling the distance to When the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test pieces 2a and 2c is unclear, the standard is used when examining the subject 1b. Record that the specimen 2b is optimal.

被検体1aの代わりに被検体1cを用いた場合において、X線源コントローラ5を操作して、X線源3の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源3と被検体1との距離を制御して、X線透過画像(被検体画像)が明瞭になったときに、標準試験片2cを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が明瞭で、標準試験片2a、2bを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が不明瞭である場合には、被検体1cの検査をする場合には、標準試験片2cが最適であると記録しておく。   When the subject 1c is used instead of the subject 1a, the X-ray source controller 5 is operated, and the tube voltage, the tube current, the X-ray irradiation time of the X-ray source 3, the X-ray source 3 and the subject 1 The X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test piece 2c when the X-ray transmission image (subject image) becomes clear by controlling the distance to When the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test pieces 2a and 2b is unclear, the standard is used when examining the subject 1c. Note that the specimen 2c is optimal.

次に図9を参照して実際の被検体をX線検査する実検査段階の構成や動作を説明する。
図9に示すように、実際にX線検査をする対象物である配管等が被検体(検査対象物)101aである場合には、被検体101aの表面に、X線検査用の標準試験片(Duplex Wire)2aを接触して配置する。
Next, the configuration and operation of an actual examination stage in which an actual subject is X-ray examined will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 9, when a pipe or the like that is an object to be actually subjected to X-ray inspection is an object (inspection object) 101a, a standard test piece for X-ray inspection is placed on the surface of the object 101a. (Duplex Wire) 2a is placed in contact.

標準試験片2aが接触・配置された実際の被検体101aを間にして、X線源103とフラット・パネル・ディテクター104とを相対向して配置する。X線源103は、被検体101aに対してX線を照射する。照射されたX線は、被検体101a及び標準試験片2aを透過してフラット・パネル・ディテクター104に照射される。
X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101aとの距離は、X線源コントローラ105により制御できる。つまり、X線源103から被検体101aに照射するX線の強度に関するパラメータは、X線源コントローラ105により制御できるようになっている。
The X-ray source 103 and the flat panel detector 104 are arranged opposite to each other with the actual subject 101a on which the standard test piece 2a is contacted / arranged. The X-ray source 103 irradiates the subject 101a with X-rays. The irradiated X-rays pass through the subject 101a and the standard test piece 2a and are irradiated to the flat panel detector 104.
The X-ray source controller 105 can control the tube voltage, tube current, X-ray irradiation time of the X-ray source 103, and the distance between the X-ray source 103 and the subject 101a. In other words, the X-ray source controller 105 can control parameters relating to the intensity of X-rays irradiated from the X-ray source 103 to the subject 101 a.

フラット・パネル・ディテクター104は、被検体101a及び標準試験片2aを透過してきたX線が照射されると、照射されたX線の強度分布に応じたデジタル画像信号S12を出力する。
このデジタル画像信号S12は、表示装置106に送られる。
When the X-ray transmitted through the subject 101a and the standard test piece 2a is irradiated, the flat panel detector 104 outputs a digital image signal S12 corresponding to the intensity distribution of the irradiated X-ray.
The digital image signal S12 is sent to the display device 106.

表示装置106では、デジタル画像信号S2が送られてくると、被検体101a及び標準試験片2aを透過してきたX線の強度分布を示すX線透過画像を表示する。   When the digital image signal S2 is sent, the display device 106 displays an X-ray transmission image showing the intensity distribution of X-rays transmitted through the subject 101a and the standard test piece 2a.

このとき、標準試験片2aを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が不明瞭である場合には、標準試験片2aを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が明瞭になるまで、X線源コントローラ105を操作して、X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101aとの距離を制御する。   At this time, when the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test piece 2a is unclear, the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test piece 2a is shown. The X-ray source controller 105 is operated until the X-ray transmission image (standard test piece image) becomes clear, and the X-ray source 103 tube voltage, tube current, X-ray irradiation time, X-ray source 103 and subject are examined. The distance to 101a is controlled.

このようにして、標準試験片2aを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が明瞭になるまで、X線源コントローラ105を操作して、X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101との距離を制御することにより、被検体101aをX線検査して得られるX線透過画像(被検体画像)は、検査対象項目(例えば欠陥など)を精度よく検出できる画像となる。   In this way, the X-ray source controller 105 is operated until the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test piece 2 a becomes clear. An X-ray transmission image (subject image) obtained by X-ray examination of the subject 101a by controlling the tube voltage, the tube current, the X-ray irradiation time, and the distance between the X-ray source 103 and the subject 101 is as follows. The inspection target item (for example, a defect or the like) can be detected with high accuracy.

実際にX線検査をする対象物である配管等が被検体(検査対象物)101bである場合には、被検体101bの表面に、X線検査用の標準試験片(Duplex Wire)2bを接触して配置する。
そして標準試験片2bを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が明瞭になるまで、X線源コントローラ105を操作して、X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101bとの距離を制御する。これにより、被検体101bをX線検査して得られるX線透過画像(被検体画像)は、検査対象項目(例えば欠陥など)を精度よく検出できる画像となる。
When a pipe or the like that is an object to be actually subjected to X-ray inspection is the subject (inspection target) 101b, a standard test piece (Duplex Wire) 2b for X-ray inspection is brought into contact with the surface of the subject 101b. And place it.
The X-ray source controller 105 is operated until the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test piece 2b becomes clear, and the tube voltage and tube of the X-ray source 103 are operated. The current, the X-ray irradiation time, and the distance between the X-ray source 103 and the subject 101b are controlled. Thereby, an X-ray transmission image (subject image) obtained by X-ray inspection of the subject 101b becomes an image that can accurately detect an inspection target item (for example, a defect).

実際にX線検査をする対象物である配管等が被検体(検査対象物)101cである場合には、被検体101cの表面に、X線検査用の標準試験片(Duplex Wire)2cを接触して配置する。
そして標準試験片2cを透過してきたX線強度分布を示すX線透過画像(標準試験片画像)が明瞭になるまで、X線源コントローラ105を操作して、X線源103の管電圧、管電流、X線照射時間や、X線源103と被検体101cとの距離を制御する。これにより、被検体101cをX線検査して得られるX線透過画像(被検体画像)は、検査対象項目(例えば欠陥など)を精度よく検出できる画像となる。
When a pipe or the like that is an object to be actually subjected to X-ray inspection is the subject (inspection target) 101c, a standard test piece (Duplex Wire) 2c for X-ray inspection is brought into contact with the surface of the subject 101c. And place it.
The X-ray source controller 105 is operated until the X-ray transmission image (standard test piece image) showing the X-ray intensity distribution transmitted through the standard test piece 2c becomes clear, and the tube voltage and tube of the X-ray source 103 are operated. The current, the X-ray irradiation time, and the distance between the X-ray source 103 and the subject 101c are controlled. As a result, an X-ray transmission image (subject image) obtained by X-ray inspection of the subject 101c is an image that can accurately detect an inspection target item (for example, a defect).

実施例3では、実検査段階において、被検体に応じた最適な検査ができる標準試験片を使用し、標準試験片画像が明瞭になるように、X線源103の管電圧等を制御することにより、作業者の経験や勘などに頼ることなく、当該被検体を示す被検体画像の精度を向上することができる。   In the third embodiment, in the actual examination stage, a standard test piece that can perform an optimum examination according to the subject is used, and the tube voltage of the X-ray source 103 is controlled so that the standard test piece image becomes clear. Thus, the accuracy of the subject image showing the subject can be improved without depending on the experience or intuition of the operator.

本発明は、各種の配管や、ガスタービンにおける高温部品(タービン翼)などをデジタル・ラジオグラフィ検査する場合に利用することができる。   The present invention can be used for digital radiography inspection of various pipes and high-temperature parts (turbine blades) in a gas turbine.

1、1a、1b、1c、101、101a、101b、101c 被検体
2、2a、2b、2c 標準試験片
21 金属線
3、103 X線源
4、104 フラット・パネル・ディテクター
5、105 X線源コントローラ
6、106 表示装置
7、107 画像解析装置
110 蛍光体
111 デジタルカメラ
201 画像処理装置
S1、S2、S3、S11、S12 デジタル画像信号
1, 1a, 1b, 1c, 101, 101a, 101b, 101c Test object 2, 2a, 2b, 2c Standard specimen 21 Metal wire 3, 103 X-ray source 4, 104 Flat panel detector 5, 105 X-ray source Controller 6, 106 Display device 7, 107 Image analysis device 110 Phosphor 111 Digital camera 201 Image processing device S1, S2, S3, S11, S12 Digital image signal

Claims (4)

デジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法において、
検査準備段階で、検査準備用の被検体を透過してきたX線強度分布を示す被検体画像の輝度分布値が予め決めた規定値に収まるように、検査準備用の前記被検体に照射するX線の強度を制御する工程と、
実検査段階で、実検査用の被検体を透過してきたX線強度分布を示す被検体画像の輝度分布値が、前記検査準備段階での規定値に収まった前記被検体画像の輝度分布値と一致するまで、実検査用の被検体に照射するX線の強度を制御する工程と、
を有することを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
In the adjustment method of digital radiography inspection,
X which irradiates the subject for examination preparation so that the luminance distribution value of the subject image showing the X-ray intensity distribution that has passed through the subject for examination preparation falls within a predetermined specified value in the examination preparation stage. Controlling the intensity of the line;
The luminance distribution value of the subject image showing the X-ray intensity distribution that has passed through the subject for actual examination in the actual examination stage is the luminance distribution value of the subject image that falls within the specified value in the examination preparation stage. A step of controlling the intensity of X-rays applied to the subject for actual examination until they match,
A method for adjusting digital radiography inspection, comprising:
検査準備段階では、
実際にX線検査をする対象物である被検体と同じ材質・形状・寸法になっている検査準備用の被検体に、X線検査用の標準試験片を接触して配置し、
前記標準試験片が接触・配置された検査準備用の前記被検体に、X線源からX線を照射し、
X線が照射されるとX線強度分布に応じたデジタル画像信号を出力するセンサ機器に、検査準備用の前記被検体を透過してきたX線を照射し、
前記センサ機器から出力される前記デジタル画像信号を基に求めた、X線の強度分布に応じたX線透過画像のうち、検査準備用の前記被検体を透過してきたX線強度分布を示す被検体画像の精度が検査対象項目を精度よく検出できる画像精度になるように、前記X線源から出力されるX線の強度を制御するパラメータを調整し、パラメータの調整後に前記標準試験片を透過してきたX線強度分布を示す標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を求め、
実際の検査対象物である被検体をX線検査する実検査段階では、
実際にX線検査をする検査対象物である被検体に、X線検査用の標準試験片を接触して配置し、
前記標準試験片が接触・配置された検査対象物である前記被検体に、X線源からX線を照射し、
X線が照射されるとX線強度分布に応じたデジタル画像信号を出力するセンサ機器に、検査対象物である前記被検体を透過してきたX線を照射し、
前記センサ機器から出力される前記デジタル画像信号を基に求めた、X線の強度分布に応じたX線透過画像のうち、検査対象物である被検体に接触・配置した前記標準試験片を透過してきたX線強度分布を示す標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値が、検査準備段階で求めた標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値に一致するまで、前記X線源から出力されるX線の強度を制御するパラメータを調整することを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
In the inspection preparation stage,
Place a standard specimen for X-ray examination in contact with a specimen for examination preparation that has the same material, shape, and dimensions as the subject that is actually the subject of X-ray examination,
X-ray source is irradiated with X-rays to the subject for examination preparation where the standard test piece is contacted / arranged,
When the X-ray is irradiated, the sensor device that outputs a digital image signal corresponding to the X-ray intensity distribution is irradiated with the X-ray that has passed through the subject for examination preparation,
Of the X-ray transmission image corresponding to the X-ray intensity distribution obtained based on the digital image signal output from the sensor device, the X-ray intensity distribution transmitted through the subject for examination preparation is shown. The parameter that controls the intensity of the X-rays output from the X-ray source is adjusted so that the accuracy of the specimen image can be detected with high accuracy so that the inspection target item can be accurately detected. The numerical value indicating the luminance distribution state of the standard test piece image showing the X-ray intensity distribution has been obtained,
In the actual examination stage where X-ray examination is performed on the subject that is the actual examination object,
A standard test piece for X-ray inspection is placed in contact with a subject, which is an inspection object to actually perform X-ray inspection,
X-rays are irradiated from the X-ray source to the subject, which is an inspection object in contact with the standard test piece,
When the X-rays are irradiated, the sensor device that outputs a digital image signal corresponding to the X-ray intensity distribution is irradiated with the X-rays that have passed through the subject as the inspection object,
Of the X-ray transmission image corresponding to the X-ray intensity distribution obtained based on the digital image signal output from the sensor device, it passes through the standard test piece that is in contact with and placed on the subject as the inspection object. Until the numerical value indicating the luminance distribution state of the standard specimen image indicating the X-ray intensity distribution thus obtained matches the numerical value indicating the luminance distribution state of the standard specimen image obtained in the inspection preparation stage, An adjustment method for digital radiography inspection, characterized in that a parameter for controlling the intensity of an output X-ray is adjusted.
請求項2において、
前記センサ機器は、
フラット・パネル・ディテクター、
または、イメージング・プレート及び画像読取装置を組み合わせたもの、
または、蛍光体板及びデジタルカメラを組み合わせたもの
であることを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
In claim 2,
The sensor device is
Flat panel detector,
Or a combination of an imaging plate and an image reader,
Alternatively, a method for adjusting digital radiography inspection, characterized by combining a phosphor plate and a digital camera.
請求項2または請求項3において、
標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値は、
MTF(Modulation Transfer Function)値、
または予め決めた特定エリアの輝度の標準偏差値
であることを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
In claim 2 or claim 3,
The numerical value indicating the luminance distribution of the standard specimen image is
MTF (Modulation Transfer Function) value,
Alternatively, the adjustment method of digital radiography inspection, characterized by being a standard deviation value of luminance of a specific area determined in advance.
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