JP2013148521A - 試料測定用セル、物性測定装置、および物性測定方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】光路長を容易に変更することができる試料測定用セル、およびその試料測定用セルを備える物性測定装置を提供する。
【解決手段】光源4から照射される一次電磁波4aが測定対象を含む試料を透過することで得られる二次電磁波4bを測定する物性測定装置100の試料測定用セル1である。この試料測定用セル1は、可撓性の管体(可撓性循環チューブ2)と、保持体10と、間隔調整部材12と、を備える。保持体10は、一次電磁波4aの入射窓11aを有する第一把持片10a、および二次電磁波4bの出射窓11bを有する第二把持片10bを備え、管体2をその径方向から保持する。間隔調整部材12は、両把持片10a,10bの間隔を調整する。間隔調整部材12で両把持片10a,10bの間隔を調整することで、管体2を変形させて光路長を調整する。
【選択図】図2

Description

本発明は、測定対象の物理状態もしくは化学状態を調べる物性測定装置、および物性測定方法、並びにその物性測定装置において試料を保持する試料測定用セルに関するものである。
測定対象の物理状態もしくは化学状態を調べるために、紫外線や赤外線、X線などの電磁波を利用する解析方法が知られている。具体的には、試料に一次電磁波を照射し、それに伴って得られる二次電磁波を測定し、さらにその測定した二次電磁波の測定データを解析することで、測定対象の状態を調べる。例えば、測定対象の局所的な構造解析などを行なうXAFS(X線吸収微細構造:X−ray Absorption Fine Structure)法では、測定対象を含む試料に照射する照射X線(一次電磁波)のエネルギーを変化させ、その変化させたエネルギーに応じて得られるX線(二次電磁波)のスペクトルから測定対象の局所的な構造解析を行なう。
上述した解析方法において二次電磁波の測定を行なう物性測定装置は、試料を保持する試料測定用セルと、試料に一次電磁波を照射する光源と、二次電磁波を検出する検出手段と、を備える。これらのうち、試料測定用セルとして、例えば、特許文献1には、流体の試料を撹拌しつつ二次電磁波の測定を行なうことができる試料測定用セルが開示されている。
特開2006−267017号公報
しかし、従来の試料測定用セルを用いた物性測定装置では、光路長(電磁波が試料を通過する長さ)の変更が容易ではなかった。それは、従来の試料測定用セルはリジッドであるため、光路長を変更するには試料測定用セルそのものを取り替える必要があるからである。また、試料測定用セルを取り替える手間以前に、光路長の異なる試料測定用セルを複数、用意しなければならないという手間もある。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的の一つは、光路長を容易に変更することができる試料測定用セル、およびその試料測定用セルを備える物性測定装置を提供することにある。
また、本発明の別の目的は、測定対象の分析のために、光路長を容易に変更できる物性測定方法を提供することにある。
本発明試料測定用セルは、光源から照射される一次電磁波が測定対象を含む試料を透過することで得られる二次電磁波を測定する物性測定装置の試料測定用セルであって、次の構成を備えることを特徴とする。
・可撓性を有し、上記試料が内部に配置される管体。
・一次電磁波の入射窓を有する第一把持片、および二次電磁波の出射窓を有する第二把持片を有し、両把持片にて上記管体をその径方向から保持する保持体。
・管体を保持する第一把持片と第二把持片との間隔を調整するための間隔調整部材。
この本発明試料測定用セルでは、間隔調整部材で両把持片の間隔を調整することで、管体を変形させて光路長を調整する。
上記本発明試料測定用セルによれば、当該セルに備わる間隔調整部材を調整するだけで、管体の径方向に設定される光路長(具体的には、管体を挟み込む両把持片の並列方向における偏平に押しつぶされた管体の内径)を容易に変更することができる。
本発明試料測定用セルの一形態として、第一抑制部材および第二抑制部材の少なくとも一方を備える形態を挙げることができる。第一抑制部材は、第一把持片と管体との間に配置され、第一把持片の入射窓への管体の膨出を抑制する。また、第二抑制部材は、第二把持片と管体との間に配置され、第二把持片の出射窓への管体の膨出を抑制する。両抑制部材は、電磁波を透過する材質で構成されている。
上記構成によれば、第一抑制部材(第二抑制部材)によって入射窓(出射窓)への管体の膨出を物理的に押さえ込むことができるので、測定時における管体の径方向の変形、即ち光路長の変化を抑制することができる。特に、第一抑制部材と第二抑制部材の両方を用いれば、第一抑制部材第二抑制部材とで管体をその外周側から挟み込んで物理的に押さえ込むことになるので、管体の径方向への変形をより効果的に抑制することができる。
また、本発明物性測定装置は、光源から照射される一次電磁波が測定対象を含む試料を透過することで得られる二次電磁波を測定する物性測定装置であって、本発明試料測定用セルと、一次電磁波を発生させる光源と、二次電磁波を検出する検出手段と、を備えることを特徴とする。
上記本発明試料測定用セルを用いて構成される本発明物性測定装置によれば、当該セルに備わる間隔調整部材を調整するだけで、光路長を容易に変更することができる。
本発明物性測定装置の一形態として、流体である試料を貯留する貯留部と、その流体試料を、貯留部からその外部へ移動させ、再び貯留部に戻させる可撓性循環チューブと、貯留部から可撓性循環チューブ内に流体試料を循環させる送液手段と、を備える形態を挙げることができる。この場合、可撓性循環チューブの一部が、試料測定用セルにおける管路を構成する。
上記構成によれば、流体試料における測定対象の物理状態もしくは化学状態の経時的な変化を調べるための二次電磁波の測定データを得ることができる。例えば、流体試料に酸やアルカリを添加して、流体試料のpHを徐々に変化させ、pHに応じた測定対象の物理・化学状態を調べるための測定データを得ることができる。
流体試料を循環測定する本発明物性測定装置の一形態として、装置に備わる送液手段が、無脈動ポンプであることが好ましい。
送液手段を無脈動ポンプとすることで、可撓性循環チューブ内を流れる流体試料の内圧をほぼ一定にすることができるので、当該内圧の変化に伴う可撓性チューブの微妙な変形(即ち、光路長の微妙な変化)を抑制することができる。そのため、本構成によれば、安定した二次電磁波の測定データを得ることができる。
一方、本発明物性測定方法は、光源から照射される一次電磁波が測定対象を含む試料を透過することで得られる二次電磁波を測定する物性測定方法である。そして、本発明物性測定方法は、可撓性を有する管体の内部に前記試料を保持させ、かつ前記管体をその径方向に押しつぶして偏平にすることで、その管体の偏平にされた部分に前記試料の光路長を設定した上で、上記試料に前記一次電磁波を照射し、上記試料を透過した前記二次電磁波を測定することを特徴とする。
上記構成によれば、管体の偏平度合いを変化させるだけで、光路長を変化させることができる。なお、本発明物性測定方法により二次電磁波の測定データを得た後は、適宜な解析処理によって測定対象の物理状態もしくは化学状態を求めれば良い。解析処理に際しては、二次電磁波の測定データの他、少なくとも一次電磁波の照射データと光路長データを利用する。
本発明物性測定方法の一形態として、上記試料は流体試料であり、その流体試料を上記管体内に流通させつつ、上記試料に一次電磁波を照射して、上記試料を透過した二次電磁波を測定する形態としても良い。
上記構成によれば、流体試料における測定対象の物理状態もしくは化学状態の経時的な変化を調べるための二次電磁波の測定データを得ることができる。例えば、流体試料に酸やアルカリを添加して、流体試料のpHを徐々に変化させ、pHに応じた測定対象の物理・化学状態を調べるための測定データを得ることができる。
本発明試料測定用セル、およびその試料測定用セルを備える本発明物性測定装置によれば、光路長を容易に変更することができる。
実施形態に記載される本発明物性測定装置の概略図である。 (A)は図1に記載される物性測定装置に備わる試料測定用セルの正面図、(B)は(A)のB−B断面図、(C)は(B)において管体を挟み込む抑制部材を追加した構成を説明する説明図である。
本実施形態では、使用済みのタングステンカーバイド(WC)切削工具からタングステン(W)をリサイクルする際に、本発明試料測定用セルを備える本発明物性測定装置を用いた例を説明する。まず、本発明物性測定装置を詳細に説明する前に、Wのリサイクルについて述べる。
<Wのリサイクル>
Wは、その産出地域に偏りがあるため、使用済みWC切削工具からWをリサイクルすることが望まれている。切削工具からWをリサイクルする方法として、近年、湿式化学処理法が注目されている(SEI WORLD 2011年4月号(http://www.sei.co.jp/newsletter/2011/04/3a.html)などを参照)。湿式化学処理法では、スクラップを硝酸ソーダの中に入れ、処理炉で熱処理することで、Wが溶解した溶融塩溶液(リサイクル処理液)を得る。そして、そのリサイクル処理液をイオン交換カラムに通し、Wを回収する。
ここで、リサイクル処理液中のWは、モノ酸イオンの状態(Wは4価)にあるよりもポリ酸イオンの状態(Wは6価)にある方が、イオン交換カラムによる回収率が高い。リサイクル処理液中のポリ酸イオン状態のWをモノ酸イオン状態のWよりも優勢にするには、当該処理液に酸(例えば、硫酸や塩酸)を添加して処理液を酸性にする必要がある。しかし、酸の添加量によってはWが化合物として沈殿してしまって、イオン交換カラムによるWの回収率が低下する恐れがある。そこで、リサイクル処理液中に硫酸を滴下しつつ、当該処理液中のWの化学状態を経時的に把握し、イオン交換カラムによるWの回収率を向上させたいというニーズがある。そこで、リサイクル処理液中のWの化学状態を把握するためのデータを、以下に示す実施形態の物性測定装置を用いて取得する。
<物性測定装置>
図1に示すように、本実施形態の物性測定装置100は、試料測定用セル1と、可撓性循環チューブ2と、送液手段3と、光源4と、検出手段5と、貯留部8と、制御手段9と、を備える。この物性測定装置100は、光源4から試料測定用セル1に保持される流体試料に一次電磁波4aを照射し、試料を透過して試料測定用セル1から出てくる二次電磁波4bを検出手段5で検出することで、試料中に含まれる測定対象の分析に用いる二次電磁波4bのデータを得る透過型のXAFS測定装置である。以下、各構成を詳細に説明する。なお、説明の順序は、符番通りではない。
≪制御手段≫
制御手段9は、物性測定装置100を総合的に制御するものであって、代表的にはコンピュータで構成することができる。コンピュータは、汎用のラップトップコンピュータやデスクトップコンピュータであっても良いし、物性測定装置100専用のコンピュータであっても良い。この制御手段9が、何をどのように制御するかは、各構成の説明において適宜述べる。
≪光源≫
光源4は、X線(一次電磁波4a)を発生させる装置であって、制御手段9により制御される。例えば、光源4としてSPring−8などの放射光を発生するX線源を挙げることができる。もちろん、回転対陰極を用いた実験室レベルのX線発生装置であっても構わない。なお、本実施形態では一次電磁波4aはX線であるが、測定対象や試料の状態に応じて光源4から照射される一次電磁波4aの種類を変更しても良い。例えば、一次電磁波4aは、赤外線、可視光線、紫外線、γ線などであっても良い。
≪検出手段≫
検出手段5は、後述する試料測定用セル1の構成部材の一つである管体(後述するように、可撓性循環チューブ2に同じ)を透過した透過X線(二次電磁波4b)を検出する装置であって、制御手段9によって制御される。例えば、検出手段5としてイオンチェンバーや半導体検出装置を利用することができる。
≪貯留部≫
貯留部8は、測定対象としてWを含有する流体試料(リサイクル処理液)を貯留する容器である。この貯留部8は、貯留部8内の流体試料を撹拌するための撹拌手段8s(例えば、マグネットスターラー)を備える。ここで、上述したように、本実施形態では流体試料に硫酸を滴下してWの化学状態を変化させながら流体試料の測定を行なう。そのため、本実施形態の物性測定装置100は、貯留部8内の流体試料に硫酸を滴下する滴下手段6と、貯留部8中の流体試料のpHを測定するpHメータ7と、を備えている。滴下手段6とpHメータ7は制御手段9に接続されており、制御手段9は、pHメータ7の測定結果に基づいて滴下手段6を制御する。もちろん、制御手段9は撹拌手段8sも合わせて制御しても構わない。
≪可撓性循環チューブ≫
可撓性循環チューブ2は、貯留部8からその外部に流体試料を移動させ、再び貯留部8に戻させる循環路である。可撓性循環チューブ2は、つなぎ目の無い一連長の管路であることが好ましい。さらに、可撓性循環チューブ2の径もチューブ2の長手方向にわたって一様であることが好ましい。このような構成であれば、可撓性循環チューブ2内に流通させる流体試料の流れを円滑にすることができ、仮に酸の滴下によって試料中にWの沈殿が生じたとしても、その沈殿が循環路内に滞留することがない。
可撓性循環チューブ2は、後述する試料測定用セル1の保持体10に挟まれることで弾性変形する材質で構成され、かつX線を吸収し難い材質で構成する。例えば、本実施形態の場合、ポリエチレン、ポリプロピレンなどの可撓性循環チューブ2を構成することができる。もちろん、一次電磁波4aの種類によって、可撓性循環チューブ2の構成材質は適宜変更する。
≪送液手段≫
送液手段3は、貯留部8から可撓性循環チューブ2内に流体試料を循環させるポンプなどで構成する。特に、送液手段3として、無脈動ポンプを利用することが好ましい。その理由は後述する。
≪試料測定用セル≫
図2(A)は、試料測定用セル1の正面図、(B)は(A)のB−B断面図である。これら図2(A),(B)に示すように、本実施形態の試料測定用セル1は、可撓性循環チューブ2の一部を保持する保持体10を備える。保持体10は、一次電磁波4aの入射窓11aを有する第一把持片10a、および二次電磁波4bの出射窓11bを有する第二把持片10bを備え、これら両把持片10a,10bによって可撓性循環チューブ2の一部を挟み込んで押しつぶすことで保持する。つまり、本実施形態では、可撓性循環チューブ2のうち、保持体10に挟み込まれている部分も含めて試料測定用セル1である。
光源4から照射された一次電磁波4aは、第一把持片10aの入射窓11aから入射し、両把持片10a,10bの間に挟まれる可撓性循環チューブ2を透過して第二把持片10bの出射窓11bを抜ける。その過程で、測定対象を含む試料により、一次電磁波4aが減衰され、二次電磁波4bになる。つまり、両把持片10a,10bに挟まれ、偏平に押しつぶされた可撓性循環チューブ2の内径が光路長となる。
また、試料測定用セル1は、第一把持片10aと第二把持片10bとの間隔を調整する間隔調整部材を備える。本実施形態では、間隔調整部材は、両把持片10a,10bの間に配置され、両把持片10a,10bの間隔を規定するスペーサ12,12である。このスペーサ12,12を両把持片10a,10bの間に挟み込んで両把持片10a,10bをネジなどで締め付けることによって、両把持片10a,10bに挟まれる可撓性循環チューブ2の偏平度合いが調整される。つまり、当該スペーサ12,12の厚さを変えるだけで、容易に光路長を変更することができる。なお、間隔調整部材として、ボールネジなどのネジ軸のみで両把持片10a,10bの間隔を調整する構成を採用しても良い。
上記スペーサ12,12は、単に第一把持片10aと第二把持片10bとの間隔を調整する部材であって、ブロック状や板状などの単純な形状とすることができ、そのため精度良く作製することが容易である。つまり、本発明の構成とすることで、従来のように複数の試料測定用セルを用意するよりも製造面、コスト面で有利となる。
ここで、図2(B)に示すように、管体2は窓11a,11bの位置で外周側から抑えられていないため、可撓性循環チューブ2の内部を流れる流体試料の内圧によって微小に変形する恐れがある。この微小な変形を抑制する手段として、送液手段3を無脈動ポンプとすることが有効である。無脈動ポンプであれば、可撓性循環チューブ2内の内圧がほぼ一定となるからである。
測定時の可撓性循環チューブ2の微小な変形を抑制するための手段として、無脈動ポンプを利用する以外に、試料測定用セル1において可撓性循環チューブ2の径方向寸法の変化を物理的に抑制する部材を追加しても良い。具体的には、図2(C)に示すように、第一把持片10aと可撓性循環チューブ2との間に配置され、第一把持片10aの入射窓11aへの可撓性循環チューブ2の膨出を抑制する第一抑制部材13aと、第二把持片10bと可撓性循環チューブ2との間に配置され、第二把持片10bの出射窓11bへの可撓性循環チューブ2の膨出を抑制する第二抑制部材13bと、を備える構成とする。これら抑制部材13a,13bは、入射窓11aと出射窓11bを塞ぐように配置されるため、X線を吸収し難い材質で構成する必要がある。また、抑制部材13a,13bは、可撓性循環チューブ2の微小な変形を物理的に抑制するために設けられるものであるため、所定の剛性を有する材質で構成する必要もある。そのような材質としては、例えば、ポリカーボネートやダイヤモンドなどを挙げることができる(本実施形態ではポリカーボネートを使用)。
上述した無脈動ポンプや抑制部材13a,13bを用いた構成によれば、可撓性循環チューブ2内を流れる流体試料の内圧による可撓性循環チューブ2の変形を物理的に抑制でき、光路長を精度良く維持することができる。
≪その他の構成≫
本発明物性測定装置100は、一次電磁波4aの強度モニタ(図示せず)を備えることが好ましい。電磁波の強度は波長依存性を有するため、光源4から照射される一次電磁波4aの強度が経時的に変化する場合があるからである。そこで、光源4と試料測定用セル1との間に、例えばイオンチェンバーなどの透過型の強度モニタを配置し、一次電磁波4aの強度のモニタ結果を用いて、二次電磁波4bの測定結果を適宜補正する。この強度モニタを配置した物性測定装置100では、光源4から照射され、強度モニタを透過した電磁波が一次電磁波4aとして試料に照射される。
<Wの測定>
以上説明した物性測定装置100でWの化学状態を把握するために、二次電磁波4bの測定データを得るには、図1に示すように、撹拌手段8sで貯留部8内の流体試料を撹拌しつつ、滴下手段6から硫酸(酸であれば良く、例えば塩酸でも良い)を滴下して、pHメータ7で流体試料のpHを把握しながら流体試料を徐々に酸性にしていく。また、送液手段3を動作させて、可撓性循環チューブ2に流体試料を循環させつつ、光源4から一次電磁波4aを照射し、可撓性循環チューブ2を透過した二次電磁波4bを検出手段5で検出する。検出手段5によって得られた二次電磁波4bの測定データは、制御手段9に設定されている公知の適宜な解析方法によって解析され、その解析結果に基づいてWの化学状態がリアルタイムで把握される。流体試料におけるWの状態がイオン交換カラムによるWの回収に最適な状態となったら物性測定装置100を停止し、流体試料をイオン交換カラムに通してWを回収すると良い。
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるわけではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更して実施することができる。
本発明試料測定用セル、およびその試料測定用セルを用いた本発明物性測定装置、並びに本発明物性測定方法は、測定対象の物理状態もしくは化学状態を調べることに好適に利用可能である。
100 物性測定装置
1 試料測定用セル
10 保持体
10a 第一把持片 11a 入射窓 10b 第二把持片 11b 出射窓
12 スペーサ(間隔調整部材)
13a 第一抑制部材 13b 第二抑制部材
2 可撓性循環チューブ(管体)
3 送液手段
4 光源 4a 一次電磁波 4b 二次電磁波
5 検出手段
6 滴下手段
7 pHメータ
8 貯留部 8s 撹拌手段
9 制御手段

Claims (7)

  1. 光源から照射される一次電磁波が測定対象を含む試料を透過することで得られる二次電磁波を測定する物性測定装置の試料測定用セルであって、
    可撓性を有し、前記試料が内部に配置される管体と、
    前記一次電磁波の入射窓を有する第一把持片、および前記二次電磁波の出射窓を有する第二把持片を有し、両把持片にて前記管体をその径方向から保持する保持体と、
    前記管体を保持する前記第一把持片と第二把持片との間隔を調整するための間隔調整部材と、
    を備え、
    前記間隔調整部材で両把持片の間隔を調整することで、前記管体を変形させて光路長を調整することを特徴とする試料測定用セル。
  2. 前記第一把持片と前記管体との間に配置され、前記第一把持片の入射窓への前記管体の膨出を抑制する第一抑制部材、及び、
    前記第二把持片と前記管体との間に配置され、前記第二把持片の出射窓への前記管体の膨出を抑制する第二抑制部材の少なくとも一方
    を備え、
    前記抑制部材は、電磁波を透過する材質で構成されていることを特徴とする請求項1に記載の試料測定用セル。
  3. 光源から照射される一次電磁波が測定対象を含む試料を透過することで得られる二次電磁波を測定する物性測定装置であって、
    請求項1または2に記載の試料測定用セルと、
    前記一次電磁波を発生させる前記光源と、
    前記二次電磁波を検出する検出手段と、
    を備えることを特徴とする物性測定装置。
  4. 流体である前記試料を貯留する貯留部と、
    前記流体試料を、前記貯留部からその外部へ移動させ、再び前記貯留部に戻させる可撓性循環チューブと、
    前記貯留部から前記可撓性循環チューブ内に前記流体試料を循環させる送液手段と、
    を備え、
    前記可撓性循環チューブの一部が、前記試料測定用セルにおける管路を構成することを特徴とする請求項3に記載の物性測定装置。
  5. 前記送液手段が、無脈動ポンプであることを特徴とする請求項4に記載の物性測定装置。
  6. 光源から照射される一次電磁波が測定対象を含む試料を透過することで得られる二次電磁波を測定する物性測定方法であって、
    可撓性を有する管体の内部に前記試料を保持させ、かつ前記管体をその径方向に押しつぶして偏平にすることで、その管体の偏平にされた部分に前記試料の光路長を設定した上で、前記試料に前記一次電磁波を照射し、前記試料を透過した前記二次電磁波を測定することを特徴とする物性測定方法。
  7. 流体の前記試料を前記管体内に流通させつつ、前記試料に前記一次電磁波を照射して、前記試料を透過した前記二次電磁波を測定することを特徴とする請求項6に記載の物性測定方法。
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