JP2013125420A - コンピュータプログラムのテスト仕様を生成するための装置およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プログラムを実行するコンピュータの状態変化に影響を与えうる要因を因子、各々の因子が取り得るパラメータを水準とするとき、バグ検出のためのテスト仕様の設計者は、複数の確認項目の各々に関し、複数の因子を選択し、それら複数の因子の各々に関し複数の水準を選択することで、テスト仕様を構成するパターンを生成する。本発明にかかる装置によれば、因子・水準の選択時に過去のテスト仕様設計において選択された因子・水準に基づき、ある因子とともに選択された因子の選択確率や、ある因子内である水準が選択された確率が表示される。テスト仕様設計者はそれらの情報を参考に因子・水準を選択することで、低コストで高い精度でバグ検出を可能とするテスト仕様を設計できる。
【選択図】図8
Description
(1)テスト対象のプログラムの仕様書などに基づき、いずれのオブジェクト(オブジェクト群)に対する操作をテスト対象とするかを特定する。
(2)(1)でテスト対象として特定したオブジェクト(オブジェクト群)の各々に関し、確認すべき内容(状態変化のどこを確認するか)を特定する。
(3)(2)で特定した確認すべき内容の各々に関し、因子を特定する。
(4)(3)で特定した因子の各々に関し、水準を特定する。
(5)(3)および(4)で特定した因子および水準に基づき、パターンを生成する。
(6)(5)で生成したパターン群をテスト仕様書とする。
コンピュータプログラムに従いデータ処理を行うコンピュータが第1の状態から第2の状態に変化する際に前記第2の状態の決定に用いられ得るパラメータを水準とし、複数の水準のうち互いに排他的に選択され得る同種の水準のグループを因子とするとき、1以上の因子の各々から選択された1の水準の組み合わせであるパターンを示すパターンデータの1以上の集まりにより当該コンピュータプログラムに含まれるバグの検出のためのテスト仕様を示すテスト仕様データを生成するテスト仕様生成装置であって、
1以上の因子の各々を示す1以上の因子データと、前記1以上の因子データの各々に関し当該因子データにより示される因子に含まれる1以上の水準の各々を各々示す1以上の水準データと、前記1以上の水準データの各々に関し当該水準データにより示される水準が関与するバグ存在確率推定値の指標を示すバグ存在確率指標データと、を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている前記因子データ、前記水準データおよび前記バグ存在確率指標データに従い、前記1以上の因子と、前記1以上の因子の各々に含まれる前記1以上の水準と、前記1以上の水準の各々に関する前記バグ存在確率推定値の指標とを表示し、テスト仕様を設計するユーザに対し前記1以上の因子の中から1以上の因子を選択し、当該選択した1以上の因子の各々に関し当該因子に含まれる1以上の水準の中から1以上の水準を選択することを促す画面である因子水準選択画面を示す因子水準選択画面データを生成する因子水準選択画面データ生成手段と、
前記因子水準選択画面データに従い前記因子水準選択画面の表示を行う装置に対し前記テスト仕様を設計するユーザが前記因子水準選択画面を見ながら行った操作に応じて当該装置により生成されたデータであって、前記因子水準選択画面に表示されている前記1以上の因子の中から前記テスト仕様を設計するユーザにより選択された1以上の因子と、当該選択された1以上の因子の各々に関し当該因子に含まれる1以上の水準の中から前記テスト仕様を設計するユーザにより選択された1以上の水準とを示すデータである選択因子水準データを取得する選択因子水準データ取得手段と、
所定の規則に従い、前記選択因子水準データ取得手段により取得された前記選択因子水準データにより示される1以上の因子の各々に関し、当該因子に含まれる前記選択因子水準データにより示される1以上の水準の中から1の水準を選択し、当該選択した1以上の水準の組み合わせであるパターンを示すパターンデータを1以上生成し、当該1以上のパターンデータを含むテスト仕様データを生成するテスト仕様データ生成手段と
を備える装置
を第1の実施態様として提案する。
前記テスト仕様データ生成手段により生成された前記テスト仕様データに含まれる前記1以上のパターンデータの各々に関し、当該パターンデータにより示されるパターンを表示し、バグ検出を行うユーザに対し当該パターンデータにより示されるパターンに関するバグの有無の入力を促す画面であるテスト仕様表示画面を示すテスト仕様表示画面データを生成するテスト仕様表示画面データ生成手段と、
前記テスト仕様表示画面データに従い前記テスト仕様表示画面の表示を行う装置に対し前記バグ検出を行うユーザが前記テスト仕様表示画面を見ながら行った操作に応じて当該装置により生成されたデータであって、前記テスト仕様表示画面に表示される1以上のパターンの各々に関し各々バグの有無を示すデータであるバグ検出データを取得するバグ検出データ取得手段と、
前記バグ検出データ取得手段により過去に取得された1以上のバグ検出データに基づき前記バグ存在確率指標データを生成するバグ存在確率指標データ生成手段と
を備える
という構成を第2の実施態様として提案する。
パターンの数の閾値を示すパターン数閾値データを取得するパターン数閾値データ取得手段と、
前記テスト仕様データ生成手段により生成されるテスト仕様データに含まれる1以上のパターンデータに関し、当該1以上のパターンデータの各々により各々示される1以上のパターンに含まれる1以上の水準の各々に関する前記バグ存在確率推定値の指標に基づき当該1以上のパターンをテスト仕様から除外した場合に増加する未検出バグ存在確率推定値の指標を示す未検出バグ存在確率指標データを生成する未検出バグ存在確率指標データ生成手段と
を備え、
前記テスト仕様データ生成手段は、前記パターン数閾値データ取得手段により取得されたパターン数閾値データにより示される閾値以下の数であり、かつ、前記所定の規則に従う条件下において、前記未検出バグ存在確率指標データ生成手段により生成される前記未検出バグ存在確率指標データにより示される前記未検出バグ存在確率推定値の指標が最小となる1以上のパターンデータを含む前記テスト仕様データを生成する
という構成を第3の実施態様として提案する。
前記テスト仕様データ生成手段により生成される1以上のパターンデータの各々に関し、当該パターンデータにより示されるパターンに従ったバグ検出に伴うコストを示すコストデータを取得するコストデータ取得手段と、
テストに伴う総コストの閾値を示す総コスト閾値データを取得する総コスト閾値データ取得手段と、
前記テスト仕様データ生成手段により生成されるテスト仕様データに含まれる1以上のパターンデータに関し、当該1以上のパターンデータの各々により各々示される1以上のパターンに含まれる1以上の水準の各々に関する前記バグ存在確率推定値の指標に基づき当該1以上のパターンをテスト仕様から除外した場合に増加する未検出バグ存在確率推定値の指標を示す未検出バグ存在確率指標データを生成する未検出バグ存在確率指標データ生成手段と、
前記テスト仕様データ生成手段により生成されるテスト仕様データに含まれる1以上のパターンデータに関し、当該1以上のパターンデータの各々により各々示される1以上のパターンに関し前記コストデータ取得手段により取得された前記コストデータにより示されるコストに基づき、当該1以上のパターンデータを含むテスト仕様データに従ったテストに伴う総コストを算出する総コスト算出手段と
を備え、
前記テスト仕様データ生成手段は、前記総コスト算出手段により算出される総コストが前記総コスト閾値データ取得手段により取得された総コスト閾値データにより示される総コスト以下であり、かつ、前記所定の規則に従う条件下において、前記未検出バグ存在確率指標データ生成手段により生成される前記未検出バグ存在確率指標データにより示される前記未検出バグ存在確率推定値の指標が最小となる1以上のパターンデータを含む前記テスト仕様データを生成する
という構成を第4の実施態様として提案する。
前記記憶手段は、前記選択因子水準データ取得手段により過去に取得された1以上の選択因子水準データを記憶し、
前記記憶手段により記憶されている前記過去に取得された1以上の選択因子水準データに基づき、テスト仕様を生成する任意のユーザにより過去に選択された任意の一の水準に関し、当該一の水準が当該一の水準が属する因子においてテスト仕様を生成する任意のユーザにより選択された確率である水準選択確率を示す水準選択確率データを生成する水準選択確率データ生成手段を備え、
前記因子水準選択画面データ生成手段は、前記1以上の因子と、前記1以上の因子の各々に含まれる前記1以上の水準と、前記1以上の水準の各々に関する前記バグ存在確率推定値の指標とに加え、前記水準選択確率データ生成手段により生成される前記水準選択確率データに従い、前記1以上の水準の各々に関する前記水準選択確率を表示する画面である前記因子水準選択画面を示す前記因子水準選択画面データを生成する
という構成を第5の実施態様として提案する。
前記記憶手段は、前記選択因子水準データ取得手段により過去に取得された1以上の選択因子水準データを記憶し、
前記選択因子水準データ取得手段により取得された前記選択因子水準データにより、新たな一の因子が選択されたことが示された場合、前記記憶手段に記憶されている前記過去に取得された1以上の選択因子水準データに基づき、テスト仕様を生成する任意のユーザにより当該一の因子とともに過去に選択された因子の各々に関し、当該因子が選択された確率である因子選択確率を示す因子選択確率データを生成する因子選択確率データ生成手段と、
前記因子選択確率データ生成手段により生成された前記因子選択確率データに基づき所定の規則に従い1以上の因子を選択し、前記テスト仕様を設計するユーザに対し当該1以上の因子の選択を促す画面である推奨因子表示画面を示す推奨因子表示画面データを生成する推奨因子表示画面データ生成手段と
を備える
という構成を第6の実施態様として提案する。
テスト対象のコンピュータプログラムに従ったデータ処理を行うプログラム実行手段と、
前記テスト仕様表示画面の表示を行う装置に対し、前記テスト対象のコンピュータプログラムに従って生成される画面を示す画面データを送信する送信手段と、
前記送信手段により送信された画面データに従い前記テスト仕様表示画面の表示を行う装置において表示された画面に対し前記バグ検出を行うユーザが入力したデータを前記テスト仕様表示画面の表示を行う装置から受信する受信手段と、
前記受信手段により受信されたデータを前記テスト対象のコンピュータプログラムに従ったデータ処理におけるパラメータを示すデータとして前記プログラム実行手段に引き渡すデータ引渡手段と
を備える
という構成を第7の実施態様として提案する。
以下に本発明の一実施例にかかるテスト仕様生成システム1の構成および動作を説明する。図1は、テスト仕様生成システム1の全体構成を示した図である。テスト仕様生成システム1は、テスト仕様設計者によるテスト仕様の設計を支援するとともに、バグ検出者によるバグ検出作業のプラットフォームを提供するサーバ装置11、テスト仕様設計者により操作される端末装置12、バグ検出者により操作される端末装置13を備えている。サーバ装置11と端末装置12、サーバ装置11と端末装置13は、互いにインターネット19を介して各種データの送受信が可能である。
因子水準選択画面データ生成部:テスト仕様設計者がパターン生成に用いる因子および水準を選択するための因子水準選択画面を示すデータを生成する。
選択因子水準データ取得部:テスト仕様設計者により端末装置12において選択された因子および水準を示す選択因子水準データを取得する。
テスト仕様データ生成部:選択因子水準データに基づき、テスト仕様設計者の操作に応じた所定の規則に従い、パターンの生成を行い、生成したパターン群を示すテスト仕様データを生成する。
テスト仕様表示画面データ生成部:バグ検出者が端末装置13を用いてバグ検出を行う際にバグ検出者に対しテスト仕様を表示するためのテスト仕様表示画面を示すテスト仕様表示画面データを生成する。
バグ存在確率指標データ生成部:過去に他のプログラムに関し行われたバグ検出の結果に基づき、各水準に伴うバグ存在確率の推定値を示すバグ存在確率指標データを生成する。
コストデータ取得部:テスト仕様に含まれる各パターンに関し、そのパターンに従ったバグ検出を行う場合に要するコストを示すコストデータを取得する。
総コスト閾値データ取得部:テスト仕様設計者により端末装置12において入力される、テスト全体にかけられるコストの上限額を示す総コスト閾値データを取得する。
未検出バグ存在確率指標データ生成部:テスト仕様に従いバグ検出が行われた場合のテスト全体における未検出バグ存在確率の推定値を示す未検出バグ存在確率指標データを生成する。
水準選択確率データ生成部:過去に他のプログラムに関し設計されたテスト仕様に基づき、各水準に関し、その水準が属する因子においてその水準がパターン生成のために選択された確率を示す水準選択確率データを生成する。
因子選択確率データ生成部:過去に他のプログラムに関し設計されたテスト仕様に基づき、テスト仕様設計者により端末装置12において選択された因子とともに過去に選択されている因子の各々に関し、その因子が選択されている確率を示す因子選択確率データを生成する。
推奨因子表示画面データ生成部:テスト仕様設計者により端末装置12において新たな因子が選択された際、その因子に関し生成された因子選択確率データが高い因子を所定数(例えば、上位3つ)表示することで、テスト仕様設計者に対しそれらの因子の選択を推奨する推奨因子表示画面を示す推奨因子表示画面データを生成する。
プログラム実行部:テスト対象のプログラムに従った処理を行う。
受信部:端末装置12および端末装置13から、各種データを受信する。
データ引渡部:プログラム実行部によるテスト対象のプログラムに従った処理において、バグ検出者により端末装置13において行われた操作に応じて端末装置13から送信されてくるデータをプログラム実行部に対し引き渡す。
表示部:サーバ装置11から受信した画面データなどに従い、テスト仕様設計者もしくはバグ検出者が各種操作を行うためのユーザインタフェースを表示する。
操作部:テスト仕様設計者もしくはバグ検出者の操作に応じて所定のデータを生成することで、テスト仕様設計者もしくはバグ検出者によるデータ入力を受け付ける。
送信部:サーバ装置11に対し各種データを送信する。
記憶部:サーバ装置11から受信したデータやテスト仕様設計者もしくはバグ検出者により入力されたデータなどの各種データを記憶する。
プログラム名:テスト対象のプログラムの名称を示すデータを格納する。
顧客名:テストの依頼主である顧客の名称を示すデータを格納する。
納期:テスト結果の納品期限を示すデータを格納する。
総コスト上限:バグ検出作業全体にかけられる総コストの上限額を示すデータを格納する。
全組み合わせ仕様のコスト:テスト仕様設計者により選択された因子および水準を用いて、パターンを全組み合わせに関し生成した場合のテスト仕様(全組み合わせ仕様)に関し、そのテスト仕様に従ったバグ検出を行った場合のコストを示すデータを格納する。
推奨仕様のコスト:テスト仕様設計者により選択された因子および水準を用いて、テスト仕様設計者により選択された方法により生成されたパターンを含むテスト仕様(推奨仕様)に関し、そのテスト仕様に従ってバグ検出を行った場合のコストを示すデータを格納する。
推奨仕様の未検出バグ存在確率推定値:上記の推奨仕様に関し、そのテスト仕様に従ってバグ検出を行った場合の未検出バグ存在確率の推定値を示すデータを格納する。
間引き仕様のコスト:上記の推奨仕様からパターンの間引きを行うことにより総コスト上限以下のコストで可能なバグ検出作業を示すテスト仕様としてサーバ装置11により自動的に生成されたテスト仕様(間引き仕様)に関し、そのテスト仕様に従ってバグ検出を行った場合のコストを示すデータを格納する。
間引き仕様の未検出バグ存在確率推定値:上記の間引き仕様に関し、そのテスト仕様に従ってバグ検出を行った場合の未検出バグ存在確率の推定値を示すデータを格納する。
プロジェクト選択エリアa1
キーワード検索エリアa2
グラフ表示指示エリアa3
プロジェクト名表示エリアb1
グラフ表示エリアb2
グラフ表示期間指示エリアb3
グラフ表示形式(日週月)指示エリアb4
画面名:テスト対象のプログラムに従いコンピュータのディスプレイに表示される画面、すなわちユーザインタフェースの名称を示すデータを格納する。
URI:ASPとして機能するサーバ装置11から提供されるテスト対象のプログラムのユーザインタフェース(画面)を識別するURI(Uniform Resource Identifier)を格納する。
確認エリア:確認エリアをバグ検出者に伝える説明を示すデータを格納する。例えば、図3の左図の例では、「画面上のプロジェクト選択エリア」、「画面下のキーワード検索エリア」などのテキストデータを格納する。
「テキストボックスに文字が入力できる」
「ボタンのクリックに応じてリストボックスに表示される項目が正しく絞り込まれる」
正常・異常:確認項目が、ユーザにより正常な操作が行われた際のコンピュータの状態変化を確認するものか、ユーザにより異常な操作が行われた際のコンピュータの状態変化を確認するものか、と示すデータを格納する。
区分:確認項目を分類した区分を示すデータを格納する。例えば、グラフの表示形式に関する確認項目であることを示す「グラフ(表示形式)」などがこのデータフィールドに格納されるデータ例である。
確認項目:確認項目の内容を示すデータを格納する。例えば、先に例示した「テキストボックスに文字が入力できる」「ボタンのクリックに応じてリストボックスに表示される項目が正しく絞り込まれる」などがこのデータフィールドに格納されるデータ例である。
全組み合わせ仕様のコスト:この確認項目に関し、全組み合わせ仕様に従ってバグ検出を行った場合のコストを示すデータを格納する。
推奨仕様のコスト:この確認項目に関し、推奨仕様に従ってバグ検出を行った場合のコストを示すデータを格納する。
推奨仕様の未検出バグ存在確率推定値:この確認項目に関し、推奨仕様に従ってバグ検出を行った場合の未検出バグ存在確率の推定値を示すデータを格納する。
間引き仕様のコスト:この確認項目に関し、間引き仕様に従ってバグ検出を行った場合のコストを示すデータを格納する。
間引き仕様の未検出バグ存在確率推定値:この確認項目に関し、間引き仕様に従ってバグ検出を行った場合の未検出バグ存在確率の推定値を示すデータを格納する。
因子「半角/全角」
因子「文字種別」
因子「文字数」
因子「半角/全角」に関し、水準「半角」、水準「全角」、水準「半角全角混合」
因子「文字種別」に関し、水準「ひらがな」、水準「カタカナ」、水準「漢字」、水準「数字」、水準「記号」、水準「英大文字」、水準「英小文字」、水準「複数文字種別混合」
因子「文字数」に関し、水準「0文字」、水準「1文字」、水準「2文字以上、最大文字数未満」、水準「最大文字数」
コスト増減率:因子に応じたコスト増減率を示すデータを格納する。因子によってバグ検出の作業が容易なものや手間のかかるものがあるため、容易な因子が用いられるパターンに関しては、例えばパターン当たりの標準コストに0.8(80%)を乗じ、手間のかかる因子が用いられるパターンに関しては、例えばパターン当たりの標準コストに1.2(120%)を乗じることで、コスト調整を行う場合がある。このフィールドにはその際の80%、120%などの数値が格納される。
水準:水準の内容を示すデータを格納する。なお、1つの因子に対応して複数の水準が格納され得る。
バグ存在確率推定値:過去に他のテスト対象のプログラムに関し行われたバグ検出の結果に基づき算出された、対応する水準が関与するバグが存在する確率の推定値を格納する。具体的には、対象の水準を含むパターンに従いバグ検出作業が行われた回数を分母とし、バグが検出されたパターンに関してそのパターンに含まれる水準で1を除した数を合計した数を分子とした場合の比率(%)を示す。例えば、ある水準を含むパターンに従い過去にバグ検出作業が行われた回数が1200回であり、そのうち、3つの水準を含むパターンにおいて1回、4つの水準を含むパターンにおいて2回、バグが検出された場合、この水準に関するバグ存在確率推定値は、{(1÷3)+(2÷4)}÷1200×100≒0.0694(%)となる。
水準選択確率:水準選択確率を示すデータを格納する。水準選択確率とは、過去に他のテスト対象のプログラムに関し設計されたテスト仕様において、この水準を含む因子が選択された数を分母とし、この水準が選択された数を分子とした場合の比率(%)を示す。例えば、過去のテスト仕様設計時のパターン生成において、ある水準を含む因子が選択された回数が250回であり、それらのうち、その水準が選択された回数が200回である場合、この水準に関する水準選択確率は200÷250×100=80(%)となる。
確認項目表示エリアc1
因子水準選択エリアc2
キーワード検索エリアc3
因子水準追加エリアc4
パターン生成指示エリアc5
生成パターン情報表示エリアc6
因子「半角/全角」
因子「文字種別」
因子「文字数」
因子「全角/半角」:水準「半角」、水準「全角」、水準「半角全角混合」(3水準)
因子「文字種別」:水準「ひらがな」、水準「カタカナ」、水準「漢字」、水準「英大文字」、水準「英小文字」、水準「複数文字種別混合」(6水準)
因子「文字数」:水準「0文字」、水準「1文字」、水準「2文字以上、最大文字数未満」、水準「最大文字数」(4水準)
(「半角/全角」=「半角」、「文字種別」=「ひらがな」、「文字数」=「1文字」)
(「半角/全角」=「全角」、「文字種別」=「カタカナ」、「文字数」=「最大文字数」)
コスト:生成されたパターンに含まれる各水準に対応するコスト増減率を標準コストに乗じて算出されるコストを示すデータを格納する。
Q=(P1+P2+P3)×q2
URI:ASPとして機能するサーバ装置11から提供されるテスト対象のプログラムのユーザインタフェース(画面)を識別するURIを格納する。
確認エリア:確認エリアをバグ検出者に伝える説明を示すデータを格納する。
正常・異常:確認項目が、ユーザにより正常な操作が行われた際のコンピュータの状態変化を確認するものか、ユーザにより異常な操作が行われた際のコンピュータの状態変化を確認するものか、と示すデータを格納する。
確認項目:確認項目の内容を示すデータを格納する。
パターン:パターンの内容を示すデータを格納する。
バグ検出の有無:バグ検出者により入力される、バグ検出作業の結果を示すデータを格納する。なお、サーバ装置11によりテスト仕様データが生成された際、このフィールドにはデータが格納されていない。
上述した実施例は本発明の技術的思想の範囲内において様々に変形可能である。以下にそのような変形の例を示す。
Claims (14)
- コンピュータプログラムに従いデータ処理を行うコンピュータが第1の状態から第2の状態に変化する際に前記第2の状態の決定に用いられ得るパラメータを水準とし、複数の水準のうち互いに排他的に選択され得る同種の水準のグループを因子とするとき、1以上の因子の各々から選択された1の水準の組み合わせであるパターンを示すパターンデータの1以上の集まりにより当該コンピュータプログラムに含まれるバグの検出のためのテスト仕様を示すテスト仕様データを生成するテスト仕様生成装置であって、
1以上の因子の各々を示す1以上の因子データと、前記1以上の因子データの各々に関し当該因子データにより示される因子に含まれる1以上の水準の各々を各々示す1以上の水準データと、前記1以上の水準データの各々に関し当該水準データにより示される水準が関与するバグ存在確率推定値の指標を示すバグ存在確率指標データと、を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている前記因子データ、前記水準データおよび前記バグ存在確率指標データに従い、前記1以上の因子と、前記1以上の因子の各々に含まれる前記1以上の水準と、前記1以上の水準の各々に関する前記バグ存在確率推定値の指標とを表示し、テスト仕様を設計するユーザに対し前記1以上の因子の中から1以上の因子を選択し、当該選択した1以上の因子の各々に関し当該因子に含まれる1以上の水準の中から1以上の水準を選択することを促す画面である因子水準選択画面を示す因子水準選択画面データを生成する因子水準選択画面データ生成手段と、
前記因子水準選択画面データに従い前記因子水準選択画面の表示を行う装置に対し前記テスト仕様を設計するユーザが前記因子水準選択画面を見ながら行った操作に応じて当該装置により生成されたデータであって、前記因子水準選択画面に表示されている前記1以上の因子の中から前記テスト仕様を設計するユーザにより選択された1以上の因子と、当該選択された1以上の因子の各々に関し当該因子に含まれる1以上の水準の中から前記テスト仕様を設計するユーザにより選択された1以上の水準とを示すデータである選択因子水準データを取得する選択因子水準データ取得手段と、
所定の規則に従い、前記選択因子水準データ取得手段により取得された前記選択因子水準データにより示される1以上の因子の各々に関し、当該因子に含まれる前記選択因子水準データにより示される1以上の水準の中から1の水準を選択し、当該選択した1以上の水準の組み合わせであるパターンを示すパターンデータを1以上生成し、当該1以上のパターンデータを含むテスト仕様データを生成するテスト仕様データ生成手段と
を備える装置。 - 前記テスト仕様データ生成手段により生成された前記テスト仕様データに含まれる前記1以上のパターンデータの各々に関し、当該パターンデータにより示されるパターンを表示し、バグ検出を行うユーザに対し当該パターンデータにより示されるパターンに関するバグの有無の入力を促す画面であるテスト仕様表示画面を示すテスト仕様表示画面データを生成するテスト仕様表示画面データ生成手段と、
前記テスト仕様表示画面データに従い前記テスト仕様表示画面の表示を行う装置に対し前記バグ検出を行うユーザが前記テスト仕様表示画面を見ながら行った操作に応じて当該装置により生成されたデータであって、前記テスト仕様表示画面に表示される1以上のパターンの各々に関し各々バグの有無を示すデータであるバグ検出データを取得するバグ検出データ取得手段と、
前記バグ検出データ取得手段により過去に取得された1以上のバグ検出データに基づき前記バグ存在確率指標データを生成するバグ存在確率指標データ生成手段と
を備える
請求項1に記載の装置。 - パターンの数の閾値を示すパターン数閾値データを取得するパターン数閾値データ取得手段と、
前記テスト仕様データ生成手段により生成されるテスト仕様データに含まれる1以上のパターンデータに関し、当該1以上のパターンデータの各々により各々示される1以上のパターンに含まれる1以上の水準の各々に関する前記バグ存在確率推定値の指標に基づき当該1以上のパターンをテスト仕様から除外した場合に増加する未検出バグ存在確率推定値の指標を示す未検出バグ存在確率指標データを生成する未検出バグ存在確率指標データ生成手段と
を備え、
前記テスト仕様データ生成手段は、前記パターン数閾値データ取得手段により取得されたパターン数閾値データにより示される閾値以下の数であり、かつ、前記所定の規則に従う条件下において、前記未検出バグ存在確率指標データ生成手段により生成される前記未検出バグ存在確率指標データにより示される前記未検出バグ存在確率推定値の指標が最小となる1以上のパターンデータを含む前記テスト仕様データを生成する
請求項1または2に記載の装置。 - 前記テスト仕様データ生成手段により生成される1以上のパターンデータの各々に関し、当該パターンデータにより示されるパターンに従ったバグ検出に伴うコストを示すコストデータを取得するコストデータ取得手段と、
テストに伴う総コストの閾値を示す総コスト閾値データを取得する総コスト閾値データ取得手段と、
前記テスト仕様データ生成手段により生成されるテスト仕様データに含まれる1以上のパターンデータに関し、当該1以上のパターンデータの各々により各々示される1以上のパターンに含まれる1以上の水準の各々に関する前記バグ存在確率推定値の指標に基づき当該1以上のパターンをテスト仕様から除外した場合に増加する未検出バグ存在確率推定値の指標を示す未検出バグ存在確率指標データを生成する未検出バグ存在確率指標データ生成手段と、
前記テスト仕様データ生成手段により生成されるテスト仕様データに含まれる1以上のパターンデータに関し、当該1以上のパターンデータの各々により各々示される1以上のパターンに関し前記コストデータ取得手段により取得された前記コストデータにより示されるコストに基づき、当該1以上のパターンデータを含むテスト仕様データに従ったテストに伴う総コストを算出する総コスト算出手段と
を備え、
前記テスト仕様データ生成手段は、前記総コスト算出手段により算出される総コストが前記総コスト閾値データ取得手段により取得された総コスト閾値データにより示される総コスト以下であり、かつ、前記所定の規則に従う条件下において、前記未検出バグ存在確率指標データ生成手段により生成される前記未検出バグ存在確率指標データにより示される前記未検出バグ存在確率推定値の指標が最小となる1以上のパターンデータを含む前記テスト仕様データを生成する
請求項1または2に記載の装置。 - 前記記憶手段は、前記選択因子水準データ取得手段により過去に取得された1以上の選択因子水準データを記憶し、
前記記憶手段により記憶されている前記過去に取得された1以上の選択因子水準データに基づき、テスト仕様を生成する任意のユーザにより過去に選択された任意の一の水準に関し、当該一の水準が当該一の水準が属する因子においてテスト仕様を生成する任意のユーザにより選択された確率である水準選択確率を示す水準選択確率データを生成する水準選択確率データ生成手段を備え、
前記因子水準選択画面データ生成手段は、前記1以上の因子と、前記1以上の因子の各々に含まれる前記1以上の水準と、前記1以上の水準の各々に関する前記バグ存在確率推定値の指標とに加え、前記水準選択確率データ生成手段により生成される前記水準選択確率データに従い、前記1以上の水準の各々に関する前記水準選択確率を表示する画面である前記因子水準選択画面を示す前記因子水準選択画面データを生成する
請求項1乃至4のいずれかに記載の装置。 - 前記記憶手段は、前記選択因子水準データ取得手段により過去に取得された1以上の選択因子水準データを記憶し、
前記選択因子水準データ取得手段により取得された前記選択因子水準データにより、新たな一の因子が選択されたことが示された場合、前記記憶手段に記憶されている前記過去に取得された1以上の選択因子水準データに基づき、テスト仕様を生成する任意のユーザにより当該一の因子とともに過去に選択された因子の各々に関し、当該因子が選択された確率である因子選択確率を示す因子選択確率データを生成する因子選択確率データ生成手段と、
前記因子選択確率データ生成手段により生成された前記因子選択確率データに基づき所定の規則に従い1以上の因子を選択し、前記テスト仕様を設計するユーザに対し当該1以上の因子の選択を促す画面である推奨因子表示画面を示す推奨因子表示画面データを生成する推奨因子表示画面データ生成手段と
を備える
請求項1乃至5のいずれかに記載の装置。 - テスト対象のコンピュータプログラムに従ったデータ処理を行うプログラム実行手段と、
前記テスト仕様表示画面の表示を行う装置に対し、前記テスト対象のコンピュータプログラムに従って生成される画面を示す画面データを送信する送信手段と、
前記送信手段により送信された画面データに従い前記テスト仕様表示画面の表示を行う装置において表示された画面に対し前記バグ検出を行うユーザが入力したデータを前記テスト仕様表示画面の表示を行う装置から受信する受信手段と、
前記受信手段により受信されたデータを前記テスト対象のコンピュータプログラムに従ったデータ処理におけるパラメータを示すデータとして前記プログラム実行手段に引き渡すデータ引渡手段と
を備える請求項2に記載の装置。 - コンピュータを、請求項1に記載の装置が備える前記記憶手段、前記因子水準選択画面データ生成手段、前記選択因子水準データ取得手段および前記テスト仕様データ生成手段として機能させるプログラム。
- 前記コンピュータを、請求項2に記載の装置が備える前記テスト仕様表示画面データ生成手段、前記バグ検出データ取得手段および前記バグ存在確率指標データ生成手段として機能させる請求項8に記載のプログラム。
- 前記コンピュータを、請求項3に記載の装置が備える前記パターン数閾値データ取得手段、前記未検出バグ存在確率指標データ生成手段および前記テスト仕様データ生成手段として機能させる請求項8または9に記載のプログラム。
- 前記コンピュータを、請求項4に記載の装置が備える前記コストデータ取得手段、前記総コスト閾値データ取得手段、前記未検出バグ存在確率指標データ生成手段、前記総コスト算出手段および前記テスト仕様データ生成手段として機能させる請求項8または9に記載のプログラム。
- 前記コンピュータを、請求項5に記載の装置が備える前記記憶手段、前記水準選択確率データ生成手段および前記因子水準選択画面データ生成手段として機能させる請求項8乃至11のいずれかに記載のプログラム。
- 前記コンピュータを、請求項6に記載の装置が備える前記記憶手段、前記因子選択確率データ生成手段および前記推奨因子表示画面データ生成手段として機能させる請求項8乃至12のいずれかに記載のプログラム。
- 前記コンピュータを、請求項7に記載の装置が備える前記プログラム実行手段、前記送信手段、前記受信手段および前記データ引渡手段として機能させる請求項9に記載のプログラム。
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