JP2013125331A - フィールドシステム - Google Patents

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Abstract

【課題】光ファイバを用いた分布測定器とフィールド機器と制御システムとを有するフィールドシステムにおいて、敷設するケーブル数を削減する。
【解決手段】分布測定器と、フィールド機器と、制御システムと、ビームスプリッタと、制御システムとビームスプリッタと接続する第1光ファイバと、分布測定器とビームスプリッタを接続する第2光ファイバと、ビームスプリッタとフィールド機器を接続する第3光ファイバとを備え、制御システムとフィールド機器とは、分布測定器が使用する測定用波長帯と重ならない通信用波長帯の光信号により通信を行ない、ビームスプリッタは、第1光ファイバと第3光ファイバとの間で、測定用波長帯の光を通過させずに、通信用波長帯の光を通過させ、第2光ファイバと第3光ファイバとの間で、測定用波長帯の光を通過させるフィールドシステム。
【選択図】図1

Description

本発明は、フィールドシステムに関し、特に、光ファイバを用いた分布測定器とフィールド機器とフィールド機器の制御システムとを有するフィールドシステムに関する。
屋内外のプラント等において、伝送器やアクチュエータ等のフィールド機器が用いられている。図9(a)に示すように、フィールド機器600は、DCS(Distributed Control System)等の制御システム500と、電線700により接続され、電線700を介して電気信号を伝送したり電源の供給を受けている。なお、制御システム500とフィールド機器600との電気信号のやり取りは、無線通信により行なわれる場合もある。
また、光ファイバにパルス光を入射したときに発生するラマン散乱光を用いて温度分布を測定する温度分布測定器(DTS:Distributed Temperature Sensor)が知られている。図9(b)に示すように、DTS300は、温度センサとして機能する光ファイバ710を接続し、光ファイバ710にパルス光を入射して光ファイバ710の連続的温度分布を計測する。
特開2001−264710号公報
一般に、フィールド機器600とDTS300とは独立したシステムとなっている。このため、制御システム500とフィールド機器600との間の温度分布を計測する場合、制御システム500とフィールド機器600とを接続する電線700と、DTS300に接続して温度センサとして機能する光ファイバ710とを両方敷設する必要がある。
近距離や、作業がしやすい環境であれば、電線700と光ファイバ710とを両方敷設することはそれほど大きな負担にはならないが、油井プラントのような屋外の劣悪な環境下におけるプラント等においては、敷設作業やメンテナンス作業の手間等を考慮してケーブルの敷設は最小限とすることが望ましい。
制御システム500とフィールド機器600との通信を無線で行ない、光ファイバ710のみを敷設することも考えられるが、屋外のプラント等は、無線電波の到達不能な遠距離にフィールド機器600を設置しなければならないことも多く、この場合は、やはり電線700と光ファイバ710とを両方敷設しなければならない。
そこで、本発明は、光ファイバを用いた分布測定器とフィールド機器とフィールド機器の制御システムとを有するフィールドシステムにおいて、敷設するケーブル数を削減することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の第1の態様であるフィールドシステムは、光ファイバにパルス光を入射したときに発生する後方散乱光を用いて前記光ファイバの測定対象量分布を測定する分布測定器と、フィールド機器と、前記フィールド機器を制御する制御システムと、ビームスプリッタと、前記制御システムと前記ビームスプリッタとを接続する第1光ファイバと、前記分布測定器と前記ビームスプリッタとを接続する第2光ファイバと、前記ビームスプリッタと前記フィールド機器とを接続する第3光ファイバとを備え、前記制御システムと前記フィールド機器とは、前記光パルスの波長と前記後方散乱光の波長とを含んだ波長帯である測定用波長帯と重ならない波長帯である通信用波長帯の光信号により通信を行ない、前記ビームスプリッタは、前記第1光ファイバと前記第3光ファイバとの間で、前記測定用波長帯の光を通過させずに、前記通信用波長帯の光を通過させ、前記第2光ファイバと前記第3光ファイバとの間で、前記測定用波長帯の光を通過させることを特徴とする。
ここで、前記フィールド機器は、前記第3光ファイバから入射した光を電気に変換し、動作電力として用いることができる。具体的には、前記第3光ファイバから入射した光は、前記分布測定器が出射した前記パルス光とすることができる。
また、前記フィールド機器は、温度伝送器であり、前記分布測定器は、温度分布測定器であり、前記制御システムから前記温度伝送器の測定結果を取得し、校正処理を行なうようにしてもよい。
上記課題を解決するため、本発明の第2の態様であるフィールドシステムは、フィールド機器と、前記フィールド機器を制御する制御システムと、前記フィールド機器、前記制御システム、光ファイバにパルス光を入射したときに発生する後方散乱光を用いて前記光ファイバの測定対象量分布を測定する分布測定器のそれぞれと光ファイバを介して接続されるビームスプリッタとを備え、前記制御システムと前記フィールド機器とは、前記光パルスの波長と前記後方散乱光の波長とを含んだ波長帯である測定用波長帯と重ならない波長帯である通信用波長帯の光信号により通信を行ない、前記ビームスプリッタは、前記制御システムと前記フィールド機器との間で、前記測定用波長帯の光を通過させずに、前記通信用波長帯の光を通過させ、前記分布測定器と前記フィールド機器との間で、前記測定用波長帯の光を通過させることを特徴とする。
本発明によれば、光ファイバを用いた分布測定器とフィールド機器とフィールド機器の制御システムとを有するフィールドシステムにおいて、敷設するケーブル数を削減することができる。
本実施形態に係るフィールドシステムの構成を示すブロック図である。 制御システムの構成を示すブロック図である。 DTSの構成を示すブロック図である。 DTS波長帯について説明する図である。 DTS波長帯とフィールド機器波長帯との関係を説明する図である。 ビームスプリッタの特性を説明する図である。 フィールド機器の構成を示すブロック図である。 本実施形態に係るフィールドシステムの変形例を示すブロック図である。 従来の制御システムとフィールド機器との接続、およびDTSについて説明する図である。
本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は、本実施形態に係るフィールドシステムの構成を示すブロック図である。本図に示すように、フィールドシステム10は、制御システム100、フィールド機器200、DTS300、ビームスプリッタ400を備えており、制御システム100、フィールド機器200、DTS300は、それぞれ光ファイバ410、光ファイバ420、光ファイバ430を介してビームスプリッタ400と接続している。
フィールド機器200は、温度、差圧等の物理量を測定する伝送器や、アクチュエータ、バルブポジショナ等の駆動装置等を用いることができる。フィールド機器200に接続される光ファイバ420は、DTS300の温度センサ用光ファイバとしても機能するため、温度測定対象物に沿って敷設する。
図2は、制御システム100の構成を示すブロック図である。制御システム100は、フィールド機器200を制御するシステムであり、フィールド機器200と通信を行ない、例えば、フィールド機器200のパラメータを設定したり、フィールド機器200を駆動させたり、フィールド機器200から測定値等を取得したりする。
制御システム100は、電気信号を入出力してフィールド機器と通信を行なう従来の制御システム500を含んでおり、さらに、光電気変換器110、光方向性結合器120、電気光変換器130を備えている。光電気変換器110、電気光変換器130は、それぞれ電線141、電線142により制御システム(従来)500と接続している。
また、光電気変換器110、電気光変換器130は、それぞれ光ファイバ151、光ファイバ152を介して光方向性結合器120と接続している。光方向性結合器120は、さらに、光ファイバ410と接続しており、光ファイバ152を介して入力される電気光変換器130からの光信号を光ファイバ410に出力し、光ファイバ410を介して入力されるビームスプリッタ400からの光信号を光ファイバ151に出力する。
制御システム100が光ファイバ410により入出力する光信号の通信用波長帯をフィールド機器波長帯と称するものとする。フィールド機器波長帯は複数あってもかまわない。フィールド機器波長帯は、後述するDTS波長帯と重複しない波長帯を用いるようにする。
光電気変換器110は、フィールド機器波長帯の光信号を制御システム(従来)500に対応した電気信号に変換する。必要に応じてデジタル−アナログ変換、レンジ変換等を行なうようにしてもよい。電気光変換器130は、制御システム(従来)500が出力する電気信号をフィールド機器波長帯の光信号に変換する。必要に応じてアナログ−デジタル変換、レンジ変換等を行なうようにしてもよい。
図3は、DTS(温度分布測定器)300の構成を示すブロック図である。DTS300は、従来と同様の構成とすることができる。本図に示すようにDTS300は、パルス発生部310、光源320、光方向性結合器330、フィルタ340、光電気変換器(O/E)350、光電気変換器(O/E)351、増幅器352、増幅器353、AD変換器(A/D)354、AD変換器(A/D)355、平均化回路360、演算部370を備えている。
DTS300では、パルス発生部310が発生するパルス信号に基づいて、光源320から光パルスが光方向性結合器330を介して光ファイバ420に出射される。光ファイバ420に入射された光パルスは、ビームスプリッタ400を介して接続された光ファイバ430を進むとともに、後方散乱光が光ファイバ420から戻ってくる。
図4に示すように、波長λの入射光の後方散乱光には、波長λのレイリー散乱光、波長λ±数10nmのラマン散乱光、波長λ±数nmのブリルアン散乱光などが含まれる。DTS300は、これらの後方散乱光のうち、温度依存性が高いラマン散乱光を利用する。
本図に示すように、ラマン散乱光には、入射光の波長に対して短い波長側に発生するアンチストークス光と、長い波長側に発生するストークス光があり、その強度比は、温度変化に比例して変化する。DTS300は、この特性を利用して、ビームスプリッタ400を介して接続された光ファイバ420によって対象物の温度分布を測定する。
DTS300は、光方向性結合器330、フィルタ340を用いてストークス光とアンチストークス光を抽出し、光電気変換器350、光電気変換器351で受光する。ストークス光は、光電気変換器350で電気信号に変換され、増幅器352、AD変換器354を経て平均化回路360に入力される。アンチストークス光は、光電気変換器351で電気信号に変換され、増幅器353、AD変換器355を経て平均化回路360に入力される。
後方散乱光は微弱であるため、光パルスの出射によるストークス光、アンチストークス光の測定は多数回繰り返し行ない、平均化回路360で、それぞれの測定結果を平均化することにより、温度測定分解能を上げるようにしている。そして、演算部370で、平均化されたストークス光とアンチストークス光の強度比が演算される。
パルス光に対するストークス光とアンチストークス光の強度の時間変化は、光ファイバ430の経路長に対応するため、演算部370の演算により光ファイバ430が検出した温度分布を得ることができる。
アンチストークス光の波長、入射光の波長、ストークス光の波長を含んだ測定用の波長帯をDTS波長帯と称するものとする。上述のように、DTS波長帯とフィールド機器波長帯とは重複しないようにする。このため、例えば、図5に示すように、DTS波長帯を2つのフィールド機器波長帯で挟むような関係とすることができる。ただし、DTS波長帯はいずれか一方としたり、より多くの波長帯を使用するようにしてもよい。
ビームスプリッタ400は、例えば、広帯域誘多膜プレートハーフミラー等の光学フィルタを用いて構成することができる。ただし、ビームスプリッタ400の構成は任意である。図6は、ビームスプリッタ400の特性を説明する図である。図6(a)に示すように、ビームスプリッタ400は、DTS300とフィールド機器200との間では、フィールド機器波長帯の光を通過させ、DTS波長帯の光は通過させない。
また、図6(b)に示すように、ビームスプリッタ400は、DTS300と光ファイバ430との間では、DTS波長帯の光を通過させ、フィールド機器波長帯の光は通過させない。ただし、フィールド機器波長帯の光信号が十分大きい場合は、DTS300と光ファイバ430との間でフィールド機器波長帯の光が多少通過してもよい。
これにより、制御システム100とフィールド機器200との間で、フィールド機器波長帯の光信号のやり取りが可能となる。また、DTS300からの光パルスを減衰させることなく光ファイバ430に入射させ、後方散乱光を減衰させることなくDTS300に入射させることができる。したがって、DTS300は、従来と同様に光ファイバ430の温度分布を測定することができる。なお、DTS300から出射された光パルスは、光ファイバ430を通ってフィールド機器200に到達することになる。後述するように、本実施形態では、この光パルスをフィールド機器200の動作電力として用いるようにする。
図7は、フィールド機器200の構成を示すブロック図である。フィールド機器200は、電気信号を入出力して制御システムと通信を行なう従来のフィールド機器600を含んでおり、さらに、ビームスプリッタ210、光電気変換器220、平滑回路230、光方向性結合器240、光電気変換器250、光電気変換器260を備えている。
ビームスプリッタ400は、光ファイバ430と接続し、DTS波長帯に含まれる光パルスを、光ファイバ272を介して光電気変換器220に導き、フィールド機器波長帯の光信号を、光ファイバ271を介して光方向性結合器400との間でやり取りする。
光電気変換器220に入力された光パルスは、光電気変換器220で電気パルスに変換され、平滑回路230で平滑化される。そして、電線282によりフィールド機器(従来)600に入力され、フィールド機器(従来)600の動作電力として用いられる。フィールド機器200のその他の部位の動作電力としても用いるようにしてもよい。
DTS300が発するパルス光は一般に強力なエネルギーを有しているため、本実施形態では、フィールド機器(従来)600の動作電力として用いるようにしているが、フィールド機器200に別途電源を備えさせたり、太陽電池等の発電機構を備えさせるようにしてもよい。この場合、ビームスプリッタ210、光電気変換器230、平滑回路230は不要となる。また、パルス光以外の光をDTS300、制御システム100等から伝送し、その光をフィールド機器200内で電力に変換するようにしてもよい。この場合、ビームスプリッタ400の特性等をその光の波長に対応させるようにする。また、連続光であれば平滑回路230は不要となる。
光ファイバ430およびビームスプリッタ210を介して入射されたフィールド機器波長帯の光信号は、光方向性結合器240により光ファイバ273を介して光電気変換器250に入射される。そして、光電気変換器250により電気信号に変換され、電線283を介してフィールド機器(従来)600に入力される。光電気変換器250は、入射された光信号を制御システム(従来)500が出力した電気信号と同じ信号になるように変換する。
フィールド機器(従来)600が出力した電気信号は、電線284を介して光電気変換器260に入力され、光電気変換器260が光信号に変換する。このとき、必要に応じてアナログ−デジタル変換、レンジ変換等を行なうようにしてもよい。光電気変換器260が変換した光信号は、光ファイバ274を介して光方向性結合器240に入射され、光ファイバ271を介してビームスプリッタ210に導かれる。そして、光ファイバ430を介して制御システム100に入射される。
これにより、制御システム100内の制御システム(従来)500と、フィールド機器200内のフィールド機器(従来)600とは、従来と同様の電気信号のやり取りを行なうことができる。
以上説明したように、本実施形態のフィールドシステムは、制御システム100とフィールド機器200との間の通信を、温度センサとして用いる光ファイバ430を利用して光信号により行なうため、電気配線が不要となり、敷設するケーブル数を削減することができる。
このとき、制御システム100とフィールド機器200との通信を、光ファイバ430を用いて行なうため、制御システム100とフィールド機器200との間が長距離であっても通信可能となり、外来雑音にも強くなる。また、DTS300が発するパルス光をフィールド機器200の動作電力として用いることにより、フィールド機器200への給電が不要となる。
なお、変形例として図8に示すように、ケーブル440等を用いて制御システム100とDTS300との間で通信を行なえるようにしてもよい。この場合、例えば、フィールド機器200として温度伝送器を用いて光ファイバ430の端部近辺の温度を測定し、制御システム100からDTS300に測定温度情報を提供することで、DTS300において校正処理を行なうことが可能となる。
また、DTS300で得られた温度分布情報を制御システム100に提供することで、制御システム100においてフィールド機器200制御の温度補正を行なうことが可能となる。
なお、本発明は、ラマン散乱光を用いて光ファイバの温度分布を測定する温度分布測定器に限られず、光ファイバの伝送損失や距離測定、断線箇所の検出等を行なうOTDR(Optical Time Domain Reflectometer)、B−OTDR(Brillouin-OTDR)、光ファイバ分散音響探査手法であるDAS(Distributed Acoustic Sensing)等の後方散乱光を用いて光ファイバの測定対象量分布を測定する分布測定器に適用することができる。
10…フィールドシステム、60…フィールド機器、100…制御システム、110…光電気変換器、120…光方向性結合器、130…電気光変換器、141…電線、142…電線、151…光ファイバ、152…光ファイバ、200…フィールド機器、210…ビームスプリッタ、220…光電気変換器、230…光電気変換器、230…平滑回路、240…光方向性結合器、250…光電気変換器、260…光電気変換器、271…光ファイバ、272…光ファイバ、273…光ファイバ、274…光ファイバ、282…電線、283…電線、284…電線、310…パルス発生部、320…光源、330…光方向性結合器、340…フィルタ、350…光電気変換器、351…光電気変換器、352…増幅器、353…増幅器、354…A/D変換器、355…A/D変換器、360…平均化回路、370…演算部、400…ビームスプリッタ、400…光方向性結合器、410…光ファイバ、420…光ファイバ、430…光ファイバ、440…ケーブル、500…制御システム、600…フィールド機器、700…電線、710…光ファイバ

Claims (5)

  1. 光ファイバにパルス光を入射したときに発生する後方散乱光を用いて前記光ファイバの測定対象量分布を測定する分布測定器と、
    フィールド機器と、
    前記フィールド機器を制御する制御システムと、
    ビームスプリッタと、
    前記制御システムと前記ビームスプリッタとを接続する第1光ファイバと、
    前記分布測定器と前記ビームスプリッタとを接続する第2光ファイバと、
    前記ビームスプリッタと前記フィールド機器とを接続する第3光ファイバとを備え、
    前記制御システムと前記フィールド機器とは、前記光パルスの波長と前記後方散乱光の波長とを含んだ波長帯である測定用波長帯と重ならない波長帯である通信用波長帯の光信号により通信を行ない、
    前記ビームスプリッタは、前記第1光ファイバと前記第3光ファイバとの間で、前記測定用波長帯の光を通過させずに、前記通信用波長帯の光を通過させ、前記第2光ファイバと前記第3光ファイバとの間で、前記測定用波長帯の光を通過させることを特徴とするフィールドシステム。
  2. 前記フィールド機器は、
    前記第3光ファイバから入射した光を電気に変換し、動作電力として用いることを特徴とする請求項1に記載のフィールドシステム。
  3. 前記第3光ファイバから入射した光は、前記分布測定器が出射した前記パルス光であることを特徴とする請求項2に記載のフィールドシステム。
  4. 前記フィールド機器は、温度伝送器であり、
    前記分布測定器は、温度分布測定器であり、前記制御システムから前記温度伝送器の測定結果を取得し、校正処理を行なうことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のフィールドシステム。
  5. フィールド機器と、
    前記フィールド機器を制御する制御システムと、
    前記フィールド機器、前記制御システム、光ファイバにパルス光を入射したときに発生する後方散乱光を用いて前記光ファイバの測定対象量分布を測定する分布測定器のそれぞれと光ファイバを介して接続されるビームスプリッタとを備え、
    前記制御システムと前記フィールド機器とは、前記光パルスの波長と前記後方散乱光の波長とを含んだ波長帯である測定用波長帯と重ならない波長帯である通信用波長帯の光信号により通信を行ない、
    前記ビームスプリッタは、前記制御システムと前記フィールド機器との間で、前記測定用波長帯の光を通過させずに、前記通信用波長帯の光を通過させ、前記分布測定器と前記フィールド機器との間で、前記測定用波長帯の光を通過させることを特徴とするフィールドシステム。
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