JP2013113938A - Patterned retardation film, image display device, mold for manufacturing patterned retardation film, and method for manufacturing patterned retardation film - Google Patents

Patterned retardation film, image display device, mold for manufacturing patterned retardation film, and method for manufacturing patterned retardation film Download PDF

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JP2013113938A JP2011258272A JP2011258272A JP2013113938A JP 2013113938 A JP2013113938 A JP 2013113938A JP 2011258272 A JP2011258272 A JP 2011258272A JP 2011258272 A JP2011258272 A JP 2011258272A JP 2013113938 A JP2013113938 A JP 2013113938A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a patterned retardation film capable of effectively avoiding degradation of picture qualities in relation to a three-dimensional image display employing a passive system, and to provide an image display device using the patterned retardation film, a mold for manufacturing the patterned retardation film, and a method for manufacturing the patterned retardation film.SOLUTION: In a patterned retardation film 1, fluctuations in a width of a buffer region C between a region (A) for a right eye and a region for left eye are decreased. For this purpose, a mold for manufacturing a patterned retardation film is formed by producing a rugged pattern in one direction entirely on a surface of a base material of the mold, masking the base material with a resist film, forming a rugged pattern in the other direction, and then removing the resist film; and in this process, the film thickness of the resist film is controlled in order to decrease the above fluctuations.

Description

本発明は、パッシブ方式による3次元画像表示に適用するパターン位相差フィルムに関するものである。   The present invention relates to a pattern retardation film applied to a three-dimensional image display by a passive method.

フラットパネルディスプレイは、従来、2次元表示のものが主流であった。しかしながら、近年、3次元表示可能なフラットパネルディスプレイが注目を集めており、一部市販もされている。そして今後のフラットパネルディスプレイは3次元表示可能であることが当然に求められる傾向にあり、3次元表示可能なフラットパネルディスプレイの検討が幅広い分野において進められている。   Conventionally, flat panel displays have been mainly two-dimensional displays. However, in recent years, flat panel displays capable of three-dimensional display have attracted attention, and some are also commercially available. Further, there is a tendency that future flat panel displays are capable of three-dimensional display, and flat panel displays capable of three-dimensional display are being studied in a wide range of fields.

フラットパネルディスプレイにおいて3次元表示をするには、通常、何らかの方式で右目用の映像と、左目用の映像とを、それぞれ選択的に視聴者の右目及び左目に提供することが必要である。右目用の映像と左目用の映像とを選択的に提供する方法としては、例えば、パッシブ方式が知られている。このパッシブ方式の3次元表示方式について図を参照しながら説明する。図7は、液晶表示パネルを使用したパッシブ方式の3次元表示の一例を示す概略図である。この図7の例では、液晶表示パネルの垂直方向に連続する画素を、順次交互に、右目用の映像を表示する右目用画素、左目用の映像を表示する左目用画素に振り分け、それぞれ右目用及び左目用の画像データで駆動し、これにより右目用の映像と左目用の映像とを同時に表示する。なおこれにより液晶表示パネルの画面は、短辺が垂直方向で長辺が水平方向となる帯状の領域により、右目用の映像を表示する領域と左目用の映像を表示する領域とに交互に区分されることになる。   In order to perform three-dimensional display on a flat panel display, it is usually necessary to selectively provide a right-eye image and a left-eye image in some manner, respectively, to the viewer's right eye and left eye. As a method for selectively providing a right-eye video and a left-eye video, for example, a passive method is known. This passive three-dimensional display method will be described with reference to the drawings. FIG. 7 is a schematic diagram showing an example of a passive three-dimensional display using a liquid crystal display panel. In the example of FIG. 7, pixels that are consecutive in the vertical direction of the liquid crystal display panel are sequentially and alternately assigned to a right-eye pixel that displays a right-eye image and a left-eye pixel that displays a left-eye image. And the image data for the left eye, and thereby the image for the right eye and the image for the left eye are simultaneously displayed. In this way, the screen of the liquid crystal display panel is alternately divided into a region for displaying a right-eye image and a region for displaying a left-eye image by a strip-shaped region having a short side in a vertical direction and a long side in a horizontal direction. Will be.

さらにパッシブ方式では、液晶表示パネルのパネル面にパターン位相差フィルムを配置し、右目用及び左目用の画素からの直線偏光による出射光を、右目用及び左目用で方向の異なる円偏光に変換する。このためパターン位相差フィルムは、液晶表示パネルにおける領域の設定に対応して、相軸方向(屈折率が最大となる方向)が直交する2種類の帯状領域が順次交互に形成される。これによりパッシブ方式では、対応する偏光フィルタを備えてなるめがねを装着して、右目用の映像と左目用の映像とをそれぞれ選択的に視聴者の右目及び左目に提供する。なおここでこの隣接する帯状領域の遅相軸方向は、通常、水平方向に対して、+45度と−45度、0度と+90度、又は0度と−90度の何れかの組み合わせが採用される。なおこの図7の例では、通常の画像表示装置における呼称に習って長辺方向を水平方向として示す。なおパッシブ方式では、この図7における水平方向に連続する画素を右目用及び左目用に振り分けて駆動すると共に、これに対応するようにパターン位相差フィルムを作製しても、同様に3次元画像を表示することができる。   Furthermore, in the passive method, a pattern retardation film is disposed on the panel surface of the liquid crystal display panel, and the light emitted by the linearly polarized light from the right-eye and left-eye pixels is converted into circularly polarized light having different directions for the right-eye and left-eye. . Therefore, in the pattern retardation film, two types of band-like regions in which the phase axis direction (direction in which the refractive index is maximized) are orthogonal are sequentially formed corresponding to the setting of the region in the liquid crystal display panel. As a result, in the passive method, glasses equipped with corresponding polarizing filters are attached, and a right eye image and a left eye image are selectively provided to the viewer's right eye and left eye, respectively. Here, the slow axis direction of the adjacent belt-like region is usually any combination of +45 degrees and −45 degrees, 0 degrees and +90 degrees, or 0 degrees and −90 degrees with respect to the horizontal direction. Is done. In the example of FIG. 7, the long side direction is shown as the horizontal direction in accordance with the name in a normal image display device. In the passive method, the pixels that are continuous in the horizontal direction in FIG. 7 are divided and driven for the right eye and the left eye, and a three-dimensional image is similarly produced even if a pattern retardation film is produced so as to correspond to this. Can be displayed.

このパッシブ方式は、応答速度の遅い液晶表示装置でも適用することができ、さらにパターン位相差フィルムと円偏光メガネとを用いた簡易な構成で3次元表示することができる。従ってパッシブ方式の液晶表示装置は、今後の3次元表示装置の中心的存在となるものとして非常に注目されている。   This passive method can also be applied to a liquid crystal display device with a slow response speed, and can also display three-dimensionally with a simple configuration using a pattern retardation film and circularly polarized glasses. Therefore, the passive liquid crystal display device has been attracting a great deal of attention as a center of the future three-dimensional display device.

このパッシブ方式に係るパターン位相差フィルムは、右目用及び左目用の画素の割り当てに対応して透過光に位相差を与えるパターン状の位相差層が必要である。このパターン位相差フィルムは、まだ広く研究、開発が行われておらず、標準的な技術としても確立されているものがないのが現状である。   The pattern retardation film according to this passive method requires a patterned retardation layer that gives a phase difference to transmitted light corresponding to the allocation of pixels for the right eye and the left eye. This pattern retardation film has not been widely researched and developed yet, and there is no established standard technology.

このパターン位相差フィルムに関して、特許文献1には、配向規制力を制御した光配向膜をガラス基板上に形成し、この光配向膜により液晶の配列をパターンニングして位相差層を作成する方法が開示されている。また特許文献2には、レーザーの照射によりロール版の周囲に微細な凹凸形状を形成し、この凹凸形状を転写してパターン状に配向規制力を制御した光配向膜を作製する方法が開示されている。   With respect to this pattern retardation film, Patent Document 1 discloses a method for forming a retardation layer by forming a photo-alignment film with controlled alignment regulating force on a glass substrate and patterning the alignment of liquid crystals with this photo-alignment film. Is disclosed. Further, Patent Document 2 discloses a method for forming a photo-alignment film in which a fine uneven shape is formed around a roll plate by laser irradiation, and this uneven shape is transferred to control the alignment regulating force in a pattern shape. ing.

このようなパターン位相差フィルムは、画像表示パネルに配置して画質劣化を有効に回避することが望まれる。なおこの画質劣化は、例えば筋、ムラが見て取られたり、本来、右目及び左目に選択的に入射すべき画像表示パネルからの光が、それぞれ左目及び右目に漏れ込むクロストークにより発生する。またクロストークは、その程度が大きくなると立体感が喪失することになる。   It is desired that such a pattern retardation film is disposed on an image display panel to effectively avoid image quality deterioration. The image quality degradation is caused by crosstalk in which, for example, streaks and unevenness are observed, or light from the image display panel that should be selectively incident on the right eye and the left eye originally leaks to the left eye and the right eye, respectively. In addition, as the degree of crosstalk increases, the stereoscopic effect is lost.

特開2005−49865号公報JP 2005-49865 A 特開2010−152296号公報JP 2010-152296 A

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、パッシブ方式に係る画像表示に関して、画質劣化を有効に回避することができるパターン位相差フィルム、このパターン位相差フィルムを使用した画像表示装置、このパターン位相差フィルムの製造用金型及びこのパターン位相差フィルムの製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and a pattern retardation film capable of effectively avoiding image quality deterioration with respect to image display according to a passive method, and an image display apparatus using the pattern retardation film An object of the present invention is to provide a mold for producing the pattern retardation film and a method for producing the pattern retardation film.

本発明者は、上記課題を解決するために鋭意研究を重ね、パターン位相差フィルムにおける右目用の領域と左目用の領域との間の緩衝領域の幅のばらつきを低減するとの着想に至り、さらにこのために一方向の凹凸形状を全面に作成した母材をレジスト膜によりマスクして他方向の凹凸形状を作成した後、レジスト膜を除去することにより、右目用及び左目用の領域に係る凹凸形状を製造用金型に作製する際に、このレジスト膜の膜厚を制御するとの着想に至り、本発明を完成するに至った。   The inventor has conducted extensive research to solve the above problems, and led to the idea of reducing the variation in the width of the buffer region between the region for the right eye and the region for the left eye in the pattern retardation film, and For this purpose, the substrate having a concavo-convex shape in one direction is masked with a resist film to create a concavo-convex shape in the other direction, and then the resist film is removed, whereby the concavo-convex in the regions for the right eye and the left eye are removed. The idea of controlling the film thickness of the resist film when producing the shape in the manufacturing mold was reached, and the present invention was completed.

具体的には、本発明では、以下のようなものを提供する。     Specifically, the present invention provides the following.

(1) 透明フィルム材による基材上に設けられた配向膜による配向規制力により位相差層をパターンニングして、前記位相差層の透過光に対応する位相差を与えるパターン位相差フィルムにおいて、
前記配向膜には、
微小なライン状の凹凸形状が略一定方向に形成された第1の領域と、前記第1の領域とは異なる方向に微小なライン状の凹凸形状が形成された第2の領域とが、帯状に交互に設けられ、
前記第1及び第2の領域の境界に、ライン状の凹凸形状が形成されていない緩衝領域が設けられ、
前記緩衝領域の幅の平均値WAVに対して、前記平均値WAVからの前記緩衝領域の幅の変化量ΔWを前記平均値WAVにより除算した値ΔW/WAVが、±0.5以下に設定される。
(1) In a pattern phase difference film that gives a phase difference corresponding to the transmitted light of the phase difference layer by patterning the phase difference layer by an alignment regulation force by an alignment film provided on a substrate made of a transparent film material,
In the alignment film,
A first region in which a minute line-like uneven shape is formed in a substantially constant direction and a second region in which a minute line-like uneven shape is formed in a direction different from the first region are in a band shape. Alternately provided
A buffer region where a line-shaped uneven shape is not formed is provided at the boundary between the first and second regions,
A value ΔW / WAV obtained by dividing a change amount ΔW of the width of the buffer area from the average value WAV by the average value WAV with respect to the average value WAV of the buffer area is set to ± 0.5 or less. The

(1)によれば、緩衝領域の幅のばらつきを一定値範囲に収めることができることにより、この幅のばらつきによる画面上の筋、ムラが発生しないように、さらには左右量画像のクロストークによる立体感の低減を視認し難くすることができ、これにより画質劣化を有効に回避することができる。   According to (1), the variation in the width of the buffer region can be kept within a certain range, so that streak and unevenness on the screen due to the variation in the width do not occur, and further due to crosstalk of the left and right amount images. It is possible to make it difficult to visually recognize a reduction in stereoscopic effect, thereby effectively avoiding deterioration in image quality.

(2) (1)において、前記緩衝領域は、
幅が、2μm以上100μm以下であるようにする。
(2) In (1), the buffer region is
The width is set to be 2 μm or more and 100 μm or less.

(2)によれば、液晶表示パネル等の画素間の遮光部より緩衝領域が飛び出さないようにして、クロストークを低減することができる。   According to (2), it is possible to reduce the crosstalk by preventing the buffer region from protruding from the light shielding portion between the pixels of the liquid crystal display panel or the like.

(3) 垂直方向又は水平方向に連続する画素が、順次交互に右目用の映像を表示する右目用画素、左目用の映像を表示する左目用画素に振り分けられて、それぞれ対応する画像データにより駆動されることにより、右目用の映像を表示する帯状の領域と、左目用の映像を表示する帯状の領域とに表示画面が交互に区分され、
請求項1、又は請求項2に記載のパターン位相差フィルムにより、前記右目用画素及び左目用画素からの出射光に、それぞれ前記第1及び第2の領域により対応する位相差を与えて出射する。
(3) Vertically or horizontally continuous pixels are sequentially assigned to right-eye pixels that display right-eye images and left-eye pixels that display left-eye images, and are driven by corresponding image data. As a result, the display screen is alternately divided into a band-like area for displaying the right-eye image and a band-like area for displaying the left-eye image,
The pattern retardation film according to claim 1 or claim 2 emits the light output from the right-eye pixel and the left-eye pixel by giving a corresponding phase difference to the first and second regions, respectively. .

(3)によれば、請求項1又は請求項2の構成に係るパターン位相差フィルムを使用して、パッシブ方式による画像表示装置を提供することができる。   According to (3), the image display apparatus by a passive system can be provided using the pattern phase difference film which concerns on the structure of Claim 1 or Claim 2.

(4) 透明フィルム材による基材上に設けられた配向膜による配向規制力により位相差層をパターンニングして、前記位相差層の透過光に対応する位相差を与えるパターン位相差フィルムの製造用金型において、
前記配向膜には、
微小なライン状の凹凸形状が略一定方向に形成された第1の領域と、前記第1の領域とは異なる方向に微小なライン状の凹凸形状が形成された第2の領域とが、帯状に交互に設けられ、
前記パターン位相差フィルムの製造用金型は、
表面形状の転写により、前記第1及び第2の領域に係る凹凸形状を前記配向膜に形成し、
前記第1及び第2の領域に対応する領域の境界に、ライン状の凹凸形状が形成されていない平坦な領域が設けられ、
前記平坦な領域の幅の平均値WAVに対して、前記平均値WAVからの前記平坦な領域の幅の変化量ΔWを前記平均値WAVにより除算した値ΔW/WAVが、±0.5以下に設定される。
(4) Production of a patterned retardation film by patterning a retardation layer by an alignment regulating force by an alignment film provided on a substrate made of a transparent film material, and providing a retardation corresponding to the transmitted light of the retardation layer In the mold for
In the alignment film,
A first region in which a minute line-like uneven shape is formed in a substantially constant direction and a second region in which a minute line-like uneven shape is formed in a direction different from the first region are in a band shape. Alternately provided
The mold for producing the pattern retardation film is
By forming the concavo-convex shape according to the first and second regions by transferring the surface shape,
A flat region in which a line-shaped uneven shape is not formed is provided at a boundary between regions corresponding to the first and second regions,
A value ΔW / WAV obtained by dividing the change amount ΔW of the flat region width from the average value WAV by the average value WAV with respect to the average value WAV of the flat region width is ± 0.5 or less. Is set.

(4)によれば、請求項1に係るパターン位相差フィルムを作製するパターン位相差フィルムの製造用金型を提供することができる。   According to (4), the metal mold | die for manufacture of the pattern phase difference film which produces the pattern phase difference film which concerns on Claim 1 can be provided.

(5) (4)において、
前記平坦な緩衝領域は、
幅が、2μm以上100μm以下である。
(5) In (4),
The flat buffer region is
The width is not less than 2 μm and not more than 100 μm.

(5)によれば、請求項2に係るパターン位相差フィルムを作製するパターン位相差フィルムの製造用金型を提供することができる。   According to (5), the metal mold | die for manufacture of the pattern phase difference film which produces the pattern phase difference film which concerns on Claim 2 can be provided.

(6) パターン位相差フィルムの製造用金型に形成された凹凸形状を透明シート材に転写して配向膜を形成するパターン位相差フィルムの作製方法において、
前記パターン位相差フィルムは、
前記配向膜のパターンニングにより、右目用の透過光に、対応する位相差を与える右目用の領域と、左目用の透過光に、対応する位相差を与える左目用の領域とが、それぞれ帯状に交互に形成され、
前記パターン位相差フィルムの作製方法は、
前記パターン位相差フィルムの製造用金型を作製する金型製造工程と、
前記パターン位相差フィルムの製造用金型の表面形状の転写により前記配向膜を作製する配向膜製造工程とを備え、
前記金型製造工程は、
母材の全面に、前記右目用又は左目用の領域に対応する凹凸形状を作製する第1の凹凸形状の作製工程と、
前記母材の表面にレジスト層を積層してパターンニングし、前記左目用又は右目用の領域に対応する部位を露出させたマスクを作製するマスク作製工程と、
前記レジスト層の上層の、前記母材の全面に、凹凸形状作製用の薄膜を作製する薄膜作製工程と、
前記凹凸形状作製用の薄膜の表面に、前記左目用又は右目用の領域に対応する凹凸形状を作製する第2の凹凸形状作製工程と、
前記母材の表面より、前記レジスト層をその上層の前記凹凸形状作製用の薄膜と共に除去するレジスト除去工程とを備え、
前記レジスト層が、膜厚0.5μm以上、4μm以下に設定される。
(6) In a method for producing a pattern retardation film, in which an uneven film formed on a mold for producing a pattern retardation film is transferred to a transparent sheet material to form an alignment film.
The pattern retardation film is
By patterning the alignment film, a right-eye region that gives a corresponding phase difference to the transmitted light for the right eye and a left-eye region that gives a corresponding phase difference to the transmitted light for the left eye are each strip-shaped. Alternately formed
The method for producing the pattern retardation film is as follows.
A mold manufacturing process for manufacturing a mold for manufacturing the pattern retardation film,
An alignment film manufacturing step of preparing the alignment film by transferring the surface shape of the mold for manufacturing the pattern retardation film,
The mold manufacturing process includes:
A first concavo-convex shape producing step for producing a concavo-convex shape corresponding to the region for the right eye or the left eye on the entire surface of the base material;
A mask making step of patterning by laminating a resist layer on the surface of the base material and producing a mask exposing a portion corresponding to the region for the left eye or the right eye, and
A thin film production process for producing a thin film for producing an uneven shape on the entire surface of the base material in the upper layer of the resist layer;
A second concavo-convex shape producing step for producing a concavo-convex shape corresponding to the region for the left eye or the right eye on the surface of the thin film for producing the concavo-convex shape;
A resist removing step of removing the resist layer together with the thin film for producing the concavo-convex shape thereon, from the surface of the base material,
The resist layer is set to a film thickness of 0.5 μm or more and 4 μm or less.

(6)によれば、全面に凹凸形状を作製した母材をレジスト膜によりマスクしてラビング処理等した後、レジスト膜を除去することにより、右目用及び左目用の領域に係る凹凸形状をパターン位相差フィルムの製造用金型に作製するようにして、このレジスト層の膜厚の制御により、請求項1に係るパターン位相差フィルムを製造することができる。   According to (6), the base material having a concavo-convex shape formed on the entire surface is masked with a resist film and rubbed or the like, and then the resist film is removed, thereby patterning the concavo-convex shape related to the right eye region and the left eye region. The pattern phase difference film according to claim 1 can be manufactured by controlling the film thickness of the resist layer so as to be manufactured in a mold for manufacturing the phase difference film.

本発明によれば、緩衝領域の幅のばらつきを一定値範囲に収めることができることにより、この幅のばらつきによる筋、ムラが発生しないようにし、さらにはクロストークを視認できないようにすることができ、これにより画質劣化を有効に回避することができる。   According to the present invention, the variation in the width of the buffer region can be kept within a certain value range, so that streaks and unevenness due to the variation in the width can be prevented, and further, the crosstalk cannot be visually recognized. As a result, image quality deterioration can be effectively avoided.

本発明の第1実施形態に係るパターン位相差フィルムを示す図である。It is a figure which shows the pattern phase difference film which concerns on 1st Embodiment of this invention. 緩衝領域の測定に供する図である。It is a figure used for the measurement of a buffer area | region. 図2の測定結果を示す図である。It is a figure which shows the measurement result of FIG. 図1のパターン位相差フィルムの製造工程の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of the manufacturing process of the pattern phase difference film of FIG. 図4の金型の製造方法の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of the manufacturing method of the metal mold | die of FIG. 図5の続きを示す図である。It is a figure which shows the continuation of FIG. パッシブ方式による3次元画像表示の説明に供する図である。It is a figure where it uses for description of the three-dimensional image display by a passive system.

以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。
〔第1実施形態〕
図1は、本発明の第1実施形態に係る画像表示装置に適用されるパターン位相差フィルムを示す図である。この第1実施形態に係る画像表示装置は、垂直方向(図1においては左右方向)に連続する液晶表示パネルの画素が、順次交互に、右目用の映像を表示する右目用画素、左目用の映像を表示する左目用画素に振り分けられて、それぞれ右目用及び左目用の画像データで駆動される。これにより画像表示装置は、右目用の映像を表示する帯状の領域と、左目用の映像を表示する帯状の領域とに表示画面が交互に区分され、右目用の映像と左目用の映像とを同時に表示する。この画像表示装置は、この液晶表示パネルのパネル面に、この図1に示すパターン位相差フィルム1が配置され、このパターン位相差フィルム1により右目用及び左目用の画素からの出射光にそれぞれ対応する位相差を与える。これによりこの画像表示装置は、パッシブ方式により所望の立体画像を表示する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[First Embodiment]
FIG. 1 is a diagram showing a pattern retardation film applied to the image display device according to the first embodiment of the present invention. In the image display device according to the first embodiment, the pixels of the liquid crystal display panel that are continuous in the vertical direction (left-right direction in FIG. 1) are alternately displayed in order of the right-eye pixel and the left-eye pixel. They are distributed to the left-eye pixels that display the video, and are driven by right-eye and left-eye image data, respectively. As a result, the image display apparatus alternately divides the display screen into a band-like region for displaying the right-eye image and a band-like region for displaying the left-eye image, and separates the right-eye image and the left-eye image. Display at the same time. In this image display device, the pattern phase difference film 1 shown in FIG. 1 is disposed on the panel surface of the liquid crystal display panel, and the pattern phase difference film 1 corresponds to light emitted from pixels for the right eye and the left eye, respectively. To give the phase difference. Thereby, this image display apparatus displays a desired three-dimensional image by a passive method.

ここでパターン位相差フィルム1は、TAC(トリアセチルセルロース)等の透明フィルムからなる基材2の一方の面上に、配向膜3、位相差層4が順次作製される。パターン位相差フィルム1は、位相差層4が屈折率異方性を保持した状態で固化(硬化)された液晶材料により形成され、この液晶材料の配向を配向膜3の配向規制力によりパターンニングする。なおこの液晶分子の配向を図1では細長い楕円により誇張して示す。このパターンニングにより、パターン位相差フィルム1は、液晶表示パネルにおける画素の割り当てに対応して、一定の幅により、右目用の領域Aと、左目用の領域Bとが順次交互に帯状に形成され、右目用及び左目用の画素からの出射光にそれぞれ対応する位相差を与える。   Here, in the pattern retardation film 1, an alignment film 3 and a retardation layer 4 are sequentially formed on one surface of a substrate 2 made of a transparent film such as TAC (triacetyl cellulose). The pattern retardation film 1 is formed of a liquid crystal material that is solidified (cured) in a state where the retardation layer 4 retains refractive index anisotropy, and the alignment of the liquid crystal material is patterned by the alignment regulating force of the alignment film 3. To do. In FIG. 1, the orientation of the liquid crystal molecules is exaggerated by an elongated ellipse. By this patterning, the pattern phase difference film 1 is formed in a band shape alternately with the right-eye area A and the left-eye area B sequentially with a certain width corresponding to the pixel assignment in the liquid crystal display panel. A phase difference corresponding to each of the light emitted from the right-eye and left-eye pixels is given.

パターン位相差フィルム1は、基材2の表面に紫外線硬化性樹脂5が塗布された後、この紫外線硬化性樹脂5の表面に微小な凹凸形状が形成される。パターン位相差フィルム1は、この紫外線硬化性樹脂5の表面の凹凸形状により配向膜3が形成される。パターン位相差フィルム1は、後述する金型の表面に作製された微小な凹凸形状を転写して、配向膜3に係る微小な凹凸形状が作製され、この凹凸形状による配向規制力により位相差層4をパターンニングする。このため配向膜3は、右目用及び左目用の帯状領域A及びBにそれぞれ対応する帯状の領域が順次交互に形成され、それぞれ微小な凹凸形状が作製される。ここでこの微小な凹凸形状は、一方向に延長するライン状(線)の凹凸形状により形成され、この一方向に延長する方向が右目用領域Aと左目用領域Bのうちの何れか一方向に対応する第1の領域及び右目用領域Aと左目用領域Bのうちの他方向に対応する第2の領域とで互いに90度異なる方向となるように、かつ各領域の延長方向(水平方向であり、図1に於いては右上と左下とを結ぶ方向に対応)に対して45度傾くように形成される。なおこの各領域の延長方向に対する傾きにあっては、基材2のリタデーションが無視できない程度に大きい場合には、リタデーション値に応じて、適宜、増減される。またこのライン状の凹凸形状は、後述するように金型の表面形状の転写により作製されることから、この金型においてもこのパターン位相差フィルム1におけるライン状の凹凸形状に対応する凹凸形状が作製されることになる。しかしながら金型からの凹凸形状転写時の幾何学的変換における偏差(後述する円筒面から平面への変換等による誤差)、転写時の静電場等によるライン状凹凸形状の延長方向の偏差(偏移)が誤差として無視できない場合(概ね1〜3度以上方向が偏差すると画質に影響し得る)、この偏差を相殺する分だけ予め金型上で該凹凸形状の延長方向が補正される。パターン位相差フィルム1は、この図1に示す基本構成に加えて、粘着層、セパレータフィルム、反射防止フィルム等が必要に応じて設けられる。   In the pattern retardation film 1, after the ultraviolet curable resin 5 is applied to the surface of the substrate 2, minute uneven shapes are formed on the surface of the ultraviolet curable resin 5. In the pattern retardation film 1, the alignment film 3 is formed by the uneven shape on the surface of the ultraviolet curable resin 5. The pattern retardation film 1 is formed by transferring a minute uneven shape produced on the surface of a mold, which will be described later, to produce a minute uneven shape related to the alignment film 3, and the retardation layer is formed by the alignment regulating force due to the uneven shape. 4 is patterned. For this reason, in the alignment film 3, strip-shaped regions respectively corresponding to the strip-shaped regions A and B for the right eye and the left eye are sequentially formed, and minute uneven shapes are respectively produced. Here, the minute concavo-convex shape is formed by a line-shaped (line) concavo-convex shape extending in one direction, and the direction extending in the one direction is one of the right eye region A and the left eye region B. The first region corresponding to the right region and the second region corresponding to the other direction of the right eye region A and the left eye region B are in directions different from each other by 90 degrees, and the extending direction of each region (horizontal direction) 1 and corresponding to the direction connecting the upper right and the lower left in FIG. 1). In addition, in the inclination with respect to the extension direction of each area | region, when the retardation of the base material 2 is so large that it cannot disregard, it is increased / decreased suitably according to the retardation value. Further, since the line-shaped uneven shape is produced by transferring the surface shape of the mold as will be described later, the uneven shape corresponding to the line-shaped uneven shape in the pattern retardation film 1 is also present in this mold. Will be produced. However, deviations in geometric transformations during transfer of uneven shapes from the mold (errors due to conversion from a cylindrical surface to a flat surface, which will be described later), deviations in the extension direction of line-like uneven shapes due to electrostatic fields during transfer (shifts) ) Cannot be ignored as an error (if the direction deviates approximately by 1 to 3 degrees, it may affect the image quality), the extension direction of the uneven shape is corrected in advance on the mold by an amount that offsets this deviation. In addition to the basic structure shown in FIG. 1, the pattern retardation film 1 is provided with an adhesive layer, a separator film, an antireflection film, and the like as necessary.

この実施形態のパターン位相差フィルム1は、この帯状の右目用領域A、左目用領域Bの各境界に、ライン状の凹凸形状を作製していない平坦な領域が配向膜3に設けられ、この配向膜3の平坦な領域により、右目用領域A及び左目用領域B間に緩衝領域Cが設けられる。ここで緩衝領域Cは、配向膜3の作製に供する金型の製造工程を簡略化するために設けられる。なおこの金型の作製に関する構成は、後に詳細に説明する。さらに緩衝領域Cを設けることにより、隣接する領域間で、配向膜3による配向規制力が相互に影響を及ぼし合わないようにし、各領域A及びBにおける位相差層4の乱れを低減することもできる。さらにこの実施形態の画像表示装置では、このパターン位相差フィルム1における緩衝領域Cの幅の制御により、画質の劣化を防止する。   In the pattern retardation film 1 of this embodiment, a flat region in which a line-shaped uneven shape is not formed is provided on the alignment film 3 at each boundary between the band-shaped right eye region A and the left eye region B. A buffer region C is provided between the right-eye region A and the left-eye region B by the flat region of the alignment film 3. Here, the buffer region C is provided in order to simplify the manufacturing process of the mold used for the production of the alignment film 3. The configuration relating to the fabrication of this mold will be described in detail later. Further, by providing the buffer region C, the alignment regulating force by the alignment film 3 does not affect each other between adjacent regions, and the disturbance of the retardation layer 4 in each region A and B can be reduced. it can. Furthermore, in the image display device of this embodiment, image quality deterioration is prevented by controlling the width of the buffer region C in the pattern retardation film 1.

ここで図2に示すように、直交ニコルを構成する偏光フィルタ6A、6B間にパターン位相差フィルム1を配置して、パターン位相差フィルム1に対する直交ニコルの傾きを変化させ、その透過光をビデオカメラ7で撮影した。パターン位相差フィルム1に対して直交ニコルを45度傾けた状態で、右目用及び左目用の領域A及びBは、黒レベルで撮影されるのに対し、緩衝領域Cは一定の輝度レベルで撮影された。これによりこの緩衝領域Cは、何ら凹凸形状を作製することなく平坦に配向膜3を作製して、配向膜3に配向規制力が付与されていないにも係わらず、位相差層4により透過光に位相差が与えられ、またこの位相差が領域A及びBによる位相差と異なることが判った。   Here, as shown in FIG. 2, the pattern retardation film 1 is disposed between the polarizing filters 6A and 6B constituting the orthogonal Nicol, the inclination of the orthogonal Nicol relative to the pattern retardation film 1 is changed, and the transmitted light is converted into video. Taken with camera 7. With the crossed Nicols tilted by 45 degrees with respect to the pattern retardation film 1, the right and left eye areas A and B are photographed at a black level, while the buffer area C is photographed at a constant luminance level. It was done. As a result, the buffer region C has a flat alignment film 3 without any uneven shape, and transmitted light is transmitted by the retardation layer 4 even though the alignment regulating force is not applied to the alignment film 3. It was found that a phase difference was given to the phase difference between the regions A and B.

図3は、この図2によるビデオカメラ7による撮像結果を1ライン分抽出して輝度レベルを示す図である。なおこの1ラインは、領域A及びBを横切る方向である。この図3に示すように、撮像結果では、緩衝領域Cに対応して周期的に輝度レベルが立ち上がる。この実施形態では、この周期的に立ち上がる輝度レベルのピーク値を平均値化し、この平均値が値1になるように、検出した輝度レベルを正規化した。またこの正規化した輝度レベルを、しきい値THで判定し、しきい値TH以上に立ち上がる領域を緩衝領域Cと定義した。この実施形態では、しきい値THを値0.1に設定して判定した。なおこのような正規化してしきい値THにより判定する代わりに、ピーク値の平均値によりしきい値を設定して判定しても良い。   FIG. 3 is a diagram showing luminance levels obtained by extracting one line of the imaging result of the video camera 7 shown in FIG. This one line is a direction crossing the regions A and B. As shown in FIG. 3, in the imaging result, the luminance level rises periodically corresponding to the buffer region C. In this embodiment, the peak value of the luminance level that rises periodically is averaged, and the detected luminance level is normalized so that the average value becomes 1. Further, the normalized luminance level is determined by the threshold value TH, and an area rising above the threshold value TH is defined as a buffer area C. In this embodiment, determination is made by setting the threshold value TH to a value of 0.1. Instead of such normalization and determination by the threshold value TH, determination may be made by setting a threshold value by the average value of the peak values.

この緩衝領域Cは、画像表示パネルの垂直方向に連続する画素間の遮光部(いわゆるブラックストライプである)に割り当てられることにより、この遮光部の幅より小さい幅に設定すれば、何ら画質に影響しないようにも思われる。しかしながらこのように遮光部の幅より緩衝領域Cが幅狭の場合であっても、表示画面を遠目により観察すると、緩衝領域Cが筋状に、又はムラ状に見て取られる場合があり、これにより画質が劣化することが判った。またさらに例えば上下方向に視点を変化させた場合には、局所的に、クロストークが知覚される場合もあり、これによっても画質が劣化することが判った。   The buffer region C is assigned to a light shielding portion (a so-called black stripe) between pixels that are continuous in the vertical direction of the image display panel. If the width is set smaller than the width of the light shielding portion, the image quality is not affected. It seems not to. However, even when the buffer region C is narrower than the width of the light shielding portion in this way, when the display screen is observed from a distance, the buffer region C may be seen as a streak or uneven shape. As a result, it was found that the image quality deteriorates. Further, for example, when the viewpoint is changed in the up and down direction, crosstalk may be perceived locally, and it has been found that the image quality deteriorates due to this.

この原因を詳細に検討したところ、緩衝領域Cの延長方向における幅の変化が激しくなると、クロストークが局所的に増減することによりムラが発生し、クロストークが視認され易くなることが判った。またこの幅の変化が連続するラインで同一傾向となると、このムラが連続するラインで連続することにより、筋として見て取られることが判った。そこでこの実施形態では、この領域A、B、Cの設定に係るパターン位相差フィルムの製造用金型の工夫により、この緩衝領域Cの幅のばらつきを低減し、これにより画質の劣化を低減する。より具体的に、緩衝領域Cの幅の平均値をWAVとし、この平均値WAVからの変化量ΔWを平均値WAVにより除算した値ΔW/WAVが±0.5以下になるように設定した。なおこの値ΔW/WAVは、好ましくは、上述したように±0.5以下とすることが望まれるものの、画像表示パネルの遮光部が幅広の場合もあることにより、実用上充分な画質を確保することができる場合には、±0.8以下に設定しても良い。またより好ましくは、ΔW/WAVは、0.3以下に設定して各種の画像表示パネルで広く適用することができる。なお緩衝領域Cの幅の変化量ΔWは、統計学上のレンジである標準偏差の2倍2σ、標準偏差の4倍4σ、標準偏差の6倍6σ等によって定義し得るが、この実施形態では、標準偏差の6倍6σとして定義した。又、3σを求める際のデータ数は10とした。   As a result of detailed examination of this cause, it has been found that when the change in the width of the buffer region C in the extending direction becomes severe, unevenness occurs due to the local increase / decrease in crosstalk, and the crosstalk becomes easily visible. Further, it has been found that when the change in the width has the same tendency in the continuous lines, the unevenness is observed as a streak by continuing in the continuous lines. Therefore, in this embodiment, the variation in the width of the buffer region C is reduced by devising the mold for manufacturing the pattern retardation film according to the setting of the regions A, B, and C, thereby reducing the deterioration of the image quality. . More specifically, the average value of the width of the buffer region C is set to WAV, and the value ΔW / WAV obtained by dividing the change amount ΔW from the average value WAV by the average value WAV is set to be ± 0.5 or less. The value ΔW / WAV is preferably set to ± 0.5 or less as described above. However, since the light-shielding portion of the image display panel may be wide, a practically sufficient image quality is ensured. If it can be done, it may be set to ± 0.8 or less. More preferably, ΔW / WAV is set to 0.3 or less and can be widely applied to various image display panels. The change amount ΔW of the width of the buffer region C can be defined by a statistical range of 2 times the standard deviation, 4σ of the standard deviation 4σ, 6 times the standard deviation 6σ, etc. In this embodiment, , Defined as 6σ 6 times the standard deviation. In addition, the number of data when obtaining 3σ was 10.

またさらにこのように幅の変化を一定値以下に設定して、幅の最大値WMAXを2μm以上100μm以下となるように設定した。なおここでΔWを6σと定義した場合は、最大値WMAXは、WAV+3σとなる。ここで100μm以下としたのは、画像表示パネルの遮光部より緩衝領域Cが飛び出さないようにするためである。従って上限値を100μmに設定すれば、概ね各種の液晶表示パネルに適用することができるものの、パターン位相差フィルム1を配置する液晶表示パネルにおける遮光部の幅に応じて、この上限値は種々に変更することができる。またパターン位相差フィルム1は、この実施形態では、液晶表示パネルのパネル面に貼り付けて使用されることから、この貼り付け時における位置ずれの許容量を充分に確保して生産性を向上する観点からは、より小さい値が望まれる。これに対して下限値は、後述するロール版製造工程における生産性の観点より決定される。従って生産性の低下を防止する観点からは、より下限値を増大させても良い。   Further, the change in the width is set to a certain value or less, and the maximum value WMAX of the width is set to be 2 μm or more and 100 μm or less. When ΔW is defined as 6σ here, the maximum value WMAX is WAV + 3σ. The reason why the thickness is set to 100 μm or less is to prevent the buffer region C from protruding from the light shielding portion of the image display panel. Therefore, if the upper limit value is set to 100 μm, it can be applied to various liquid crystal display panels. However, the upper limit value varies depending on the width of the light shielding portion in the liquid crystal display panel on which the pattern retardation film 1 is arranged. Can be changed. Further, in this embodiment, the pattern retardation film 1 is used by being attached to the panel surface of the liquid crystal display panel. Therefore, a sufficient amount of misalignment at the time of attachment is ensured to improve productivity. From a viewpoint, a smaller value is desired. On the other hand, the lower limit is determined from the viewpoint of productivity in the roll plate manufacturing process described later. Therefore, the lower limit value may be increased from the viewpoint of preventing the productivity from decreasing.

〔パターン位相差フィルム製造工程〕
図4は、このパターン位相差フィルム1の製造工程を示す略線図である。この製造工程10は、基材2がロールにより提供され、この基材2を供給リール11から供給する。製造工程10は、ダイ12によりこの基材2に紫外線硬化樹脂を塗布する。この製造工程10において、ロール版20は、パターン位相差フィルム1の配向膜3に係る凹凸形状が周囲に形成された円筒形状の金型である。製造工程10は、紫外線硬化樹脂が塗布されてなる基材2を加圧ローラ14によりロール版20に押圧し、紫外線照射装置15による紫外線の照射により紫外線硬化樹脂を硬化させる。これにより製造工程10は、ロール版20に形成された凹凸形状を基材2に転写する。その後、剥離ローラ16によりロール版20から基材2を剥離し、ダイ19により液晶材料を塗布する。またその後、紫外線照射装置17による紫外線の照射により液晶材料を硬化させた後、巻き取りリール18に巻き取る。パターン位相差フィルム1は、この巻き取りリール18に巻き取ったシート材に、必要に応じて粘着層、反射防止層等を形成した後、所望の大きさに切断して作製される。これによりパターン位相差フィルム1は、ロール版20を用いた凹凸形状の転写により、ロールにより提供される基材2を連続して処理して効率良く大量生産される。
[Pattern retardation film manufacturing process]
FIG. 4 is a schematic diagram showing a manufacturing process of the pattern retardation film 1. In the manufacturing process 10, the base material 2 is provided by a roll, and the base material 2 is supplied from a supply reel 11. In the manufacturing process 10, an ultraviolet curable resin is applied to the substrate 2 by the die 12. In this manufacturing process 10, the roll plate 20 is a cylindrical mold in which the uneven shape related to the alignment film 3 of the pattern retardation film 1 is formed around. In the manufacturing process 10, the base material 2 to which the ultraviolet curable resin is applied is pressed against the roll plate 20 by the pressure roller 14, and the ultraviolet curable resin is cured by irradiation of the ultraviolet rays by the ultraviolet irradiation device 15. Thereby, the manufacturing process 10 transfers the uneven | corrugated shape formed in the roll plate 20 to the base material 2. FIG. Thereafter, the substrate 2 is peeled from the roll plate 20 by the peeling roller 16, and the liquid crystal material is applied by the die 19. Thereafter, the liquid crystal material is cured by ultraviolet irradiation by the ultraviolet irradiation device 17, and then wound around the take-up reel 18. The pattern retardation film 1 is produced by forming an adhesive layer, an antireflection layer, and the like on the sheet material wound on the take-up reel 18 as necessary, and then cutting it to a desired size. Thereby, the pattern phase difference film 1 is efficiently mass-produced by continuously processing the base material 2 provided by the roll by transferring the concavo-convex shape using the roll plate 20.

〔ロール版製造工程〕
図5及び図6は、パターン位相差フィルムの製造用金型であるロール版20の製造工程を示す図である。なおこの図5及び図6において、パターン位相差フィルム1の領域A、B、Cに対応する領域を、それぞれ符号ARA、ARB、ARCにより示す。この製造工程では、母材40の表面を研磨して平滑化した後(図5(a))、第1の凹凸形状作製工程において、母材40の全面に微小なライン状凹凸形状による第1凹凸領域42を形成する(図5(b))。ここで母材40は、ロール版20の外形形状に対応する円筒形状の金属材料である。母材40は、後述するレジスト層43等を剥離除去可能に積層できるものであれば特に限定されるものではなく、ニッケル、クロム、チタン、銅、コバルト等の各種金属材料、SiO、DLC(ダイヤモンド状炭素)、TiO2、等の各種無機酸化物等を広く適用することができるものの、後述するレジスト層43等を剥離除去可能に積層する観点から、金属材料、DLC、TiO等であることが好ましく、ニッケル、クロム、DLCであることがより好ましい。またスパッタリング等の手法を適用して各種の金属材料層を表面に作製したものを適用しても良く、例えばこの表面の金属材料層にタングステン、チタン、金属化合物である酸化チタン、窒化チタン、タングステンカーバイド、酸化クロム、クロムモリブデン、ニッケルクロムモリブデンを適用すれば、強度を向上させることができる。
[Roll plate manufacturing process]
5 and 6 are diagrams illustrating a manufacturing process of the roll plate 20 which is a mold for manufacturing a pattern retardation film. In FIGS. 5 and 6, regions corresponding to the regions A, B, and C of the pattern retardation film 1 are denoted by reference numerals ARA, ARB, and ARC, respectively. In this manufacturing process, after the surface of the base material 40 is polished and smoothed (FIG. 5A), in the first concavo-convex shape manufacturing process, the first surface is formed by a fine line-shaped concavo-convex shape on the entire surface of the base material 40. The uneven region 42 is formed (FIG. 5B). Here, the base material 40 is a cylindrical metal material corresponding to the outer shape of the roll plate 20. The base material 40 is not particularly limited as long as a later-described resist layer 43 or the like can be laminated so as to be peeled and removed, and various metal materials such as nickel, chromium, titanium, copper, and cobalt, SiO 2 , DLC ( diamond-like carbon), TiO2, although it can be applied various inorganic oxides such widely etc., from the viewpoint of stacking to be peeled off such as a resist layer 43 to be described later, a metal material, DLC, TiO 2, etc. Are preferable, and nickel, chromium, and DLC are more preferable. In addition, a method in which various metal material layers are formed on the surface by applying a technique such as sputtering may be applied. If carbide, chromium oxide, chromium molybdenum, or nickel chromium molybdenum is applied, the strength can be improved.

第1凹凸領域42は、母材40の表面に、配向膜3の右目用領域ARAの凹凸形状に対応する微小な凹凸形状を作製して形成される。具体的に、この実施形態では、ラビング処理によりこの凹凸形状が作製されるものの、この凹凸形状の作製方法にあっては、例えば研磨により作製する場合等、種々の作成手法を広く適用することができる。なおラビング処理は、表面に多数の纖維を植毛した円筒状のラビングロールRを円筒軸の周りに回転させながら、表面の纖維群でチタン層等から成る母材の表面を摩擦して行う。この纖維の材料としては、ポリエステル樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、ポリアミド樹脂、ナイロン樹脂、ポリオレフィン樹脂、セルロース系樹脂等が用いられる。纖維の直径は1〜100μm程度の範囲から適宜選択する。ラビング処理は、これら纖維の傾きの方向にラビング処理する場合と、これとは逆方向にラビング処理する場合とが有り、形成するライン状凹凸形状の寸法(幅及び深さ)、纖維及び母材の材料の組み合わせに応じて、適宜の向きが選択される。   The first uneven region 42 is formed on the surface of the base material 40 by forming a minute uneven shape corresponding to the uneven shape of the right eye region ARA of the alignment film 3. Specifically, in this embodiment, the concavo-convex shape is produced by rubbing, but in the production method of the concavo-convex shape, various production methods can be widely applied, for example, when producing by polishing. it can. The rubbing treatment is performed by rubbing the surface of a base material made of a titanium layer or the like with a group of fibers on the surface while rotating a cylindrical rubbing roll R having a plurality of fibers planted on the surface around a cylindrical axis. As the fiber material, polyester resin, acrylic resin, urethane resin, polyamide resin, nylon resin, polyolefin resin, cellulose resin, or the like is used. The diameter of the fiber is appropriately selected from the range of about 1 to 100 μm. The rubbing process includes a rubbing process in the direction of the inclination of the fibers and a rubbing process in the opposite direction. The dimensions (width and depth) of the line-shaped uneven shape to be formed, the fibers and the base material. An appropriate direction is selected depending on the combination of the materials.

続いてロール版20は、マスク作製工程において、レジスト材料により、左目用領域Bに対応する領域ARBを露出させたマスクが作製される。すなわちこの工程では、ポジ型のレジスト剤を全面に塗布した後、露光、現像処理することにより、左目用領域Bに対応する領域ARBを露出させたマスクが作製される。なおレジスト材料としては特に限定されるものではなく、ネガ型レジスト材料を適用しても良い。また塗布方法、露光方法にあっても種々の手法を広く適用することができる。   Subsequently, for the roll plate 20, a mask in which the region ARB corresponding to the left-eye region B is exposed is manufactured by a resist material in a mask manufacturing process. That is, in this step, a positive resist agent is applied to the entire surface, and then exposed and developed to produce a mask that exposes the region ARB corresponding to the left-eye region B. The resist material is not particularly limited, and a negative resist material may be applied. Various methods can be widely applied even in the coating method and the exposure method.

この実施形態では、このレジスト剤の調製により、膜厚2μmによりレジスト層43を作製し、これにより緩衝領域Cの幅を上述した範囲に保持する。   In this embodiment, by preparing this resist agent, the resist layer 43 is formed with a film thickness of 2 μm, and thereby the width of the buffer region C is maintained in the above-described range.

続いて図6(d)に示すように、薄膜作製工程において、全面に、無機材料の第2層膜44が、0.1μmにより作製される。これによりレジスト層43によりマスクされていない母材40の表面に、第2層膜44からなる第2層パターンが形成される。なおこの第2層膜44は、例えばスパッタリングの手法を適用してクロム、チタン、ニッケル等の金属材料、金属化合物、DLCを成膜して作製される。   Subsequently, as shown in FIG. 6D, in the thin film manufacturing process, a second layer film 44 made of an inorganic material is formed on the entire surface with a thickness of 0.1 μm. As a result, a second layer pattern composed of the second layer film 44 is formed on the surface of the base material 40 not masked by the resist layer 43. The second layer film 44 is formed by applying a metal material such as chromium, titanium, nickel, etc., a metal compound, and DLC by applying, for example, a sputtering method.

続いて図6(e)に示すように、第2の凹凸形状作製工程において、第1凹凸領域42と異なる方向(この実施形態では第1凹凸領域42のラビング方向とは90度の角度をなす方向である)に全面をラビング処理して、第2層膜44の表面に凹凸形状を作製する。その後、製造工程は、図6(f)に示すように、続くレジスト除去工程において、レジスト層43を、その上層の第2層膜44と共に除去し、これにより2回の凹凸形状作製処理により配向膜3の領域A及びBに対応する凹凸形状を作製する。該凹凸形状は、ライン状をなし、この平均化した延長方向はラビング方向と一致する。ライン状凹凸の延長方向(ラインの長手方向でもある)は一般に正規分布するが、該走行方向の分布は3度以下、より好ましくは1度以下とする。   Subsequently, as shown in FIG. 6E, in the second concavo-convex shape manufacturing step, a direction different from the first concavo-convex region 42 (in this embodiment, the rubbing direction of the first concavo-convex region 42 forms an angle of 90 degrees. The entire surface of the second layer film 44 is rubbed to form a concavo-convex shape. Thereafter, as shown in FIG. 6F, in the manufacturing process, in the subsequent resist removing process, the resist layer 43 is removed together with the second layer film 44 as an upper layer thereof, whereby the alignment is performed by two uneven shape forming processes. Concave and convex shapes corresponding to the regions A and B of the film 3 are produced. The concavo-convex shape forms a line shape, and the averaged extension direction coincides with the rubbing direction. The extending direction of the line-shaped unevenness (which is also the longitudinal direction of the line) generally has a normal distribution, but the distribution in the running direction is 3 degrees or less, more preferably 1 degree or less.

ここでこのように全面に凹凸形状を作製した後、レジスト層43によりマスクして部分的に凹凸形状を作製する場合、レジスト層43のパターンニングに係る位置決め精度の劣化を防止することができる長所がある。しかしながらこの場合、領域ARAとARBとの間の段差により、領域ARBの両側に何らラビングによっては凹凸形状を作製できない領域が発生し、この領域により緩衝領域Cに対応する領域ARCが作製されることになる。   Here, after the uneven shape is formed on the entire surface in this way, when the uneven shape is partially masked with the resist layer 43, it is possible to prevent deterioration in positioning accuracy related to the patterning of the resist layer 43. There is. However, in this case, due to the step between the regions ARA and ARB, a region in which the concave and convex shape cannot be formed by rubbing occurs on both sides of the region ARB, and the region ARC corresponding to the buffer region C is formed by this region. become.

レジスト層43を5μmにより作製した場合、この緩衝領域Cに対応する領域ARCの幅は、5〜30μmの範囲で大きく変化し、この場合、パターン位相差フィルム1においては、緩衝領域Cの幅に係る値ΔW/WAVを上述の条件範囲に収めることが困難になることが判った。しかしながらこの実施形態のように、レジスト層43を2μmにより作製した場合には、緩衝領域Cの幅は、5±1μmとすることができ、緩衝領域Cに係る値ΔW/WAVを上述した範囲に収めることができる。   When the resist layer 43 is made of 5 μm, the width of the region ARC corresponding to the buffer region C changes greatly in the range of 5 to 30 μm. In this case, in the pattern retardation film 1, the width of the buffer region C is changed. It has been found that it is difficult to keep the value ΔW / WAV within the above-mentioned condition range. However, when the resist layer 43 is made of 2 μm as in this embodiment, the width of the buffer region C can be 5 ± 1 μm, and the value ΔW / WAV related to the buffer region C is in the above-described range. Can fit.

ところでレジスト層43は、膜厚を薄くすればする程、領域Cの幅を狭くし、ばらつきを小さくすることができると考えられる。しかしながらレジスト層43の膜厚を極端に薄くすると、レジスト膜43をその上層と共に精度良く除去することが困難になったり、ラビング時にレジスト層が破損、剥離し易くなりし、これにより精度良く凹凸形状を作成することが困難になる。このためレジスト層43は、少なくとも0.5μm以上の膜厚を確保することが必要であり、かつ4μm以下の膜厚に設定することが必要である。   By the way, it is considered that the thinner the film thickness of the resist layer 43, the narrower the width of the region C and the smaller the variation. However, if the thickness of the resist layer 43 is extremely thin, it becomes difficult to remove the resist film 43 together with the upper layer with high accuracy, or the resist layer is easily damaged and peeled off during rubbing. It becomes difficult to create. For this reason, the resist layer 43 needs to secure a film thickness of at least 0.5 μm and needs to be set to a film thickness of 4 μm or less.

なおこのようなレジスト層43の厚みの制御により緩衝領域Cの幅を制御する方法に代えて、ラビング処理時の押圧力により緩衝領域Cの幅を制御することも考えられる。しかしながらこのようにラビング処理時の押圧力により緩衝領域Cの幅を制御する場合にあっては、大きな押圧力により押圧してラビング処理することにより、レジスト層43をも損傷する恐れがあり、この場合は、レジスト層43によりマスクされている部位までも凹凸形状が作製されることになる。このように他の部位まで進入して凹凸形状が作製されると、パターン位相差フィルム1では右目用又は左目用の領域で正しく位相差を付与することが困難になり、画像表示装置において、クロストークが発生することになる。   Instead of such a method of controlling the width of the buffer region C by controlling the thickness of the resist layer 43, it is conceivable to control the width of the buffer region C by a pressing force during the rubbing process. However, in the case where the width of the buffer region C is controlled by the pressing force at the time of rubbing as described above, there is a possibility that the resist layer 43 may be damaged by pressing and rubbing with a large pressing force. In this case, the concavo-convex shape is produced even to the portion masked by the resist layer 43. Thus, when the concavo-convex shape is produced by entering other parts, it becomes difficult for the pattern phase difference film 1 to correctly provide a phase difference in the region for the right eye or the left eye. Talk will occur.

これに対してこの実施形態のように、レジスト層43の厚みの制御により緩衝領域Cの幅を制御することにより、配向膜の作製に最適な押圧力によりラビング処理して、所望の幅により緩衝領域Cを作製することができる。   On the other hand, as in this embodiment, by controlling the width of the buffer region C by controlling the thickness of the resist layer 43, the rubbing process is performed with the optimum pressing force for the preparation of the alignment film, and the buffer is formed with a desired width Region C can be produced.

因みにこの種のパターン位相差フィルムにおいては、光配向の手法を適用して位相差を作製する方法もある。しかしながらこの方法の場合には、右目用の領域Aと左目用の領域Bとの間の境界を幅狭に、かつ直線的に作製することが難しい欠点がある。しかしながらこの実施形態のように、金型を用いた転写により配向膜を作製して位相差層を作製する場合には、右目用の領域Aと左目用の領域Bとの間の境界を幅狭に、かつ直線的に作製することができる。   Incidentally, in this kind of pattern retardation film, there is also a method of producing a retardation by applying a photo-alignment technique. However, in the case of this method, there is a drawback that it is difficult to make the boundary between the region A for the right eye and the region B for the left eye narrow and linear. However, as in this embodiment, when the alignment layer is formed by transfer using a mold and the retardation layer is formed, the boundary between the right eye region A and the left eye region B is narrow. And can be made linearly.

以上の構成によれば、緩衝領域の幅のばらつきを一定値範囲に収めることにより、遠目により観察して筋、ムラが見て取られないようにすることができ、さらには左右両画像間のクロストークを視認できなくすることができ、これらにより画質劣化を有効に回避することができるパターン位相差フィルム、このパターン位相差フィルムを使用した画像表示装置、このパターン位相差フィルムの製造用金型を提供することができる。   According to the above configuration, the variation in the width of the buffer region can be kept within a certain value range, so that the streaks and unevenness can be prevented from being observed by observing from a distance, and further, between the left and right images. Cross-talk can be made invisible and pattern retardation film that can effectively avoid deterioration of image quality, image display device using this pattern retardation film, mold for manufacturing this pattern retardation film Can be provided.

またこのとき緩衝領域を一定幅に設定することにより、緩衝領域が画像表示パネルの遮光部より飛び出さないようにして画質劣化を防止することができる。   At this time, by setting the buffer area to a certain width, it is possible to prevent image quality deterioration by preventing the buffer area from protruding from the light shielding portion of the image display panel.

また全面に1方向に生じるライン状の凹凸形状を作製した母材をレジスト膜によりマスクして他方向の凹凸形状を作製した後、レジスト膜を除去することにより、右目用及び左目用の領域に係る凹凸形状をパターン位相差フィルムの製造用金型に作製する際に、このレジスト膜の膜厚を制御することにより、筋、ムラを見て取ることが困難に、さらにはクロストークを視認することができないようにパターン位相差フィルムを作製することができる。   In addition, by masking the base material on which the line-shaped uneven shape generated in one direction on the entire surface is masked with a resist film to form the uneven shape in the other direction, the resist film is removed, so that the regions for the right eye and the left eye are removed. When producing such a concavo-convex shape in a mold for producing a pattern retardation film, it is difficult to see streaks and unevenness by controlling the film thickness of this resist film, and even crosstalk can be visually recognized. A pattern retardation film can be produced so that it cannot do.

〔他の実施形態〕
以上、本発明の実施に好適な具体的な構成を詳述したが、本発明は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上述の実施形態の構成を種々に変更することができる。
[Other Embodiments]
As mentioned above, although the specific structure suitable for implementation of this invention was explained in full detail, this invention can change the structure of the above-mentioned embodiment variously in the range which does not deviate from the meaning of this invention.

すなわち上述の実施形態では、全面に1方向のライン状の凹凸形状を作製した母材をレジスト膜によりマスクして他方向の凹凸形状を作製した後、レジスト膜を除去する製造工程を前提に、緩衝領域の幅を制御する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、種々の製造工程により作製した製造用金型によりパターン位相差フィルムを作製する場合に広く適用することができる。具体的に、右目用領域A及び左目用領域Bに対応する領域を交互にマスクして、それぞれ凹凸形状を作製して製造用金型を作製する場合等にも広く適用することができる。   That is, in the above-described embodiment, on the premise of the manufacturing process of removing the resist film after masking the base material having a concavo-convex shape in one direction on the entire surface with a resist film to produce the concavo-convex shape in the other direction. Although the case where the width of the buffer region is controlled has been described, the present invention is not limited to this, and can be widely applied to the case where a pattern retardation film is manufactured using a manufacturing die manufactured by various manufacturing processes. Specifically, the present invention can be widely applied to the case where a manufacturing die is manufactured by alternately manufacturing regions corresponding to the right-eye region A and the left-eye region B to produce uneven shapes.

また上述の実施形態では、ロール版を使用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、平版を使用した枚葉の処理により生産する場合にも広く適用することができる。   In the above-described embodiment, the case where the roll plate is used has been described. However, the present invention is not limited to this, and the present invention can be widely applied to the case where production is performed by sheet processing using a flat plate.

また上述の実施形態では、液晶表示パネルの使用を前提とする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、有機ELパネル、プラズマディスプレイパネルの使用を前提とする場合にも広く適用することができ、また偏光フィルタを一体に設ける場合にも広く適用することができる。   In the above-described embodiment, the case where the use of the liquid crystal display panel is assumed has been described. However, the present invention is not limited to this, and the present invention can be widely applied to the case where the use of an organic EL panel or a plasma display panel is assumed. In addition, the present invention can be widely applied to the case where the polarizing filter is provided integrally.

1 パターン位相差フィルム
2 基材
3 配向膜
4 位相差層
5 紫外線硬化性樹脂
6A、6B 偏光フィルタ
7 ビデオカメラ
10 製造工程
11 供給リール
12、19 ダイ
14 加圧ローラ
15、17 紫外線照射装置
16 剥離ローラ
18 巻き取りリール
20 ロール版
40 母材
42 第1凹凸領域
43 レジスト層
44 第2層膜
R ラビングロール
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Pattern phase difference film 2 Base material 3 Orientation film 4 Phase difference layer 5 UV curable resin 6A, 6B Polarizing filter 7 Video camera 10 Manufacturing process 11 Supply reel 12, 19 Die 14 Pressure roller 15, 17 Ultraviolet irradiation apparatus 16 Peeling Roller 18 Take-up reel 20 Roll plate 40 Base material 42 First uneven region 43 Resist layer 44 Second layer film R Rubbing roll

Claims (6)

透明フィルム材による基材上に設けられた配向膜による配向規制力により位相差層をパターンニングして、前記位相差層の透過光に対応する位相差を与えるパターン位相差フィルムにおいて、
前記配向膜には、
微小なライン状の凹凸形状が略一定方向に形成された第1の領域と、前記第1の領域とは異なる方向に微小なライン状の凹凸形状が形成された第2の領域とが、帯状に交互に設けられ、
前記第1及び第2の領域の境界に、ライン状の凹凸形状が形成されていない緩衝領域が設けられ、
前記緩衝領域の幅の平均値WAVに対して、前記平均値WAVからの前記緩衝領域の幅の変化量ΔWを前記平均値WAVにより除算した値ΔW/WAVが、±0.5以下に設定された
パターン位相差フィルム。
In the pattern phase difference film that gives a phase difference corresponding to the transmitted light of the phase difference layer by patterning the phase difference layer by the alignment regulating force by the alignment film provided on the base material by the transparent film material,
In the alignment film,
A first region in which a minute line-like uneven shape is formed in a substantially constant direction and a second region in which a minute line-like uneven shape is formed in a direction different from the first region are in a band shape. Alternately provided
A buffer region where a line-shaped uneven shape is not formed is provided at the boundary between the first and second regions,
A value ΔW / WAV obtained by dividing a change amount ΔW of the width of the buffer area from the average value WAV by the average value WAV with respect to the average value WAV of the buffer area is set to ± 0.5 or less. Pattern retardation film.
前記緩衝領域は、
幅が、2μm以上100μm以下である
請求項1に記載のパターン位相差フィルム。
The buffer region is
The pattern retardation film according to claim 1, wherein the width is 2 μm or more and 100 μm or less.
垂直方向又は水平方向に連続する画素が、順次交互に右目用の映像を表示する右目用画素、左目用の映像を表示する左目用画素に振り分けられて、それぞれ対応する画像データにより駆動されることにより、右目用の映像を表示する帯状の領域と、左目用の映像を表示する帯状の領域とに表示画面が交互に区分され、
請求項1、又は請求項2に記載のパターン位相差フィルムにより、前記右目用画素及び左目用画素からの出射光に、それぞれ前記第1及び第2の領域により対応する位相差を与えて出射する
画像表示装置。
The pixels that are continuous in the vertical direction or the horizontal direction are assigned to the right-eye pixels that sequentially display the right-eye video and the left-eye pixels that display the left-eye video, and are driven by the corresponding image data. Thus, the display screen is alternately divided into a band-shaped area for displaying the right-eye video and a band-shaped area for displaying the left-eye video,
The pattern retardation film according to claim 1 or claim 2 emits the light output from the right-eye pixel and the left-eye pixel by giving a corresponding phase difference to the first and second regions, respectively. Image display device.
透明フィルム材による基材上に設けられた配向膜による配向規制力により位相差層をパターンニングして、前記位相差層の透過光に対応する位相差を与えるパターン位相差フィルムの製造用金型において、
前記配向膜には、
微小なライン状の凹凸形状が略一定方向に形成された第1の領域と、前記第1の領域とは異なる方向に微小なライン状の凹凸形状が形成された第2の領域とが、帯状に交互に設けられ、
前記パターン位相差フィルムの製造用金型は、
表面形状の転写により、前記第1及び第2の領域に係る凹凸形状を前記配向膜に形成し、
前記第1及び第2の領域に対応する領域の境界に、ライン状の凹凸形状が形成されていない平坦な領域が設けられ、
前記平坦な領域の幅の平均値WAVに対して、前記平均値WAVからの前記平坦な領域の幅の変化量ΔWを前記平均値WAVにより除算した値ΔW/WAVが、±0.5以下に設定された
パターン位相差フィルムの製造用金型。
A mold for producing a patterned phase difference film, in which a retardation layer is patterned by an alignment regulating force by an alignment film provided on a substrate made of a transparent film material, and a phase difference corresponding to the transmitted light of the retardation layer is provided. In
In the alignment film,
A first region in which a minute line-like uneven shape is formed in a substantially constant direction and a second region in which a minute line-like uneven shape is formed in a direction different from the first region are in a band shape. Alternately provided
The mold for producing the pattern retardation film is
By forming the concavo-convex shape according to the first and second regions by transferring the surface shape,
A flat region in which a line-shaped uneven shape is not formed is provided at a boundary between regions corresponding to the first and second regions,
A value ΔW / WAV obtained by dividing the change amount ΔW of the flat region width from the average value WAV by the average value WAV with respect to the average value WAV of the flat region width is ± 0.5 or less. Mold for manufacturing the set pattern retardation film.
前記平坦な緩衝領域は、
幅が、2μm以上100μm以下である
請求項4に記載のパターン位相差フィルムの製造用金型。
The flat buffer region is
The width | variety is 2 micrometers or more and 100 micrometers or less, The metal mold | die for manufacture of the pattern phase difference film of Claim 4.
パターン位相差フィルムの製造用金型に形成された凹凸形状を透明シート材に転写して配向膜を形成するパターン位相差フィルムの作製方法において、
前記パターン位相差フィルムは、
前記配向膜のパターンニングにより、右目用の透過光に、対応する位相差を与える右目用の領域と、左目用の透過光に、対応する位相差を与える左目用の領域とが、それぞれ帯状に交互に形成され、
前記パターン位相差フィルムの作製方法は、
前記パターン位相差フィルムの製造用金型を作製する金型製造工程と、
前記パターン位相差フィルムの製造用金型の表面形状の転写により前記配向膜を作製する配向膜製造工程とを備え、
前記金型製造工程は、
母材の全面に、前記右目用又は左目用の領域に対応する凹凸形状を作製する第1の凹凸形状の作製工程と、
前記母材の表面にレジスト層を積層してパターンニングし、前記左目用又は右目用の領域に対応する部位を露出させたマスクを作製するマスク作製工程と、
前記レジスト層の上層の、前記母材の全面に、凹凸形状作製用の薄膜を作製する薄膜作製工程と、
前記凹凸形状作製用の薄膜の表面に、前記左目用又は右目用の領域に対応する凹凸形状を作製する第2の凹凸形状作製工程と、
前記母材の表面より、前記レジスト層をその上層の前記凹凸形状作製用の薄膜と共に除去するレジスト除去工程とを備え、
前記レジスト層が、膜厚0.5μm以上、4μm以下に設定された
パターン位相差フィルムの作製方法。
In the method for producing a pattern retardation film, which forms an alignment film by transferring the concavo-convex shape formed on the mold for production of the pattern retardation film to a transparent sheet material,
The pattern retardation film is
By patterning the alignment film, a right-eye region that gives a corresponding phase difference to the transmitted light for the right eye and a left-eye region that gives a corresponding phase difference to the transmitted light for the left eye are each strip-shaped. Alternately formed
The method for producing the pattern retardation film is as follows.
A mold manufacturing process for manufacturing a mold for manufacturing the pattern retardation film,
An alignment film manufacturing step of preparing the alignment film by transferring the surface shape of the mold for manufacturing the pattern retardation film,
The mold manufacturing process includes:
A first concavo-convex shape producing step for producing a concavo-convex shape corresponding to the region for the right eye or the left eye on the entire surface of the base material;
A mask making step of patterning by laminating a resist layer on the surface of the base material and producing a mask exposing a portion corresponding to the region for the left eye or the right eye, and
A thin film production process for producing a thin film for producing an uneven shape on the entire surface of the base material in the upper layer of the resist layer;
A second concavo-convex shape producing step for producing a concavo-convex shape corresponding to the region for the left eye or the right eye on the surface of the thin film for producing the concavo-convex shape;
A resist removing step of removing the resist layer together with the thin film for producing the concavo-convex shape thereon, from the surface of the base material,
A method for producing a patterned retardation film, wherein the resist layer is set to have a film thickness of 0.5 μm or more and 4 μm or less.
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