JP2013088264A - Contact probe - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、半導体素子などの電子部品や、電子回路など、電気的な特性の測定が必要とされる検査対象物のこの測定にあたり、各種の測定器にこの検査対象物から得られる電気的信号を伝達させるために用いられるコンタクトプローブの改良に関する。 In this measurement of an inspection object that requires measurement of electrical characteristics, such as an electronic component such as a semiconductor element, an electronic circuit, etc., an electrical signal obtained from the inspection object is transmitted to various measuring instruments. It is related with the improvement of the contact probe used in order to transmit.
回転式ないしはターンタイプといわれるコンタクトプローブがある。(特許文献1参照)このタイプのコンタクトプローブは、プランジャーに螺旋状案内面を切削加工により形成させると共に、この螺旋状案内面に接触する凸部をプランジャーを納めるスリーブに形成させ、さらに内蔵させた圧縮コイルバネなどの付勢手段によりプランジャーの接触端側がスリーブから一定量突き出した状態が維持されるようになっている。そして、プランジャーの接触端が半導体素子などの検査対象物の被接触箇所、典型的には電極に所定の荷重で接触されたときに固定側となるスリーブ内でプランジャーが回転しながら後退するようになっている。かかるプランジャーは極細の丸棒状をなし、その外径は、典型的には、0.12mm〜0.65mmの範囲とされる。また、前記スリーブはプランジャーをその接触端と反対の他端側から挿入可能な内径を備えた極細の円筒のチューブ状をなすように構成され、その外径は、典型的には、0.2mm〜0.8mmとされる。従って、この種のコンタクトプローブの構造は、その構成部品に対する加工を容易とする観点からは、簡素であればあるほど好ましい。 There are contact probes called rotary or turn type. (See Patent Document 1) In this type of contact probe, a plunger is formed with a spiral guide surface by cutting, and a convex portion that contacts the spiral guide surface is formed on a sleeve that houses the plunger, and further built-in. The state in which the contact end side of the plunger protrudes from the sleeve by a certain amount is maintained by the biasing means such as the compressed coil spring. Then, when the contact end of the plunger comes into contact with an inspection target such as a semiconductor element, typically the electrode, with a predetermined load, the plunger moves backward while rotating in the sleeve on the fixed side. It is like that. Such a plunger has an extremely thin round bar shape, and its outer diameter is typically in the range of 0.12 mm to 0.65 mm. Further, the sleeve is configured to have an extremely thin cylindrical tube shape having an inner diameter into which a plunger can be inserted from the other end opposite to the contact end, and the outer diameter is typically 0. 0 mm. 2 mm to 0.8 mm. Therefore, the structure of this type of contact probe is preferably as simple as possible from the viewpoint of facilitating the processing of its component parts.
この発明が解決しようとする主たる問題点は、プランジャー体及びスリーブ体に格別の加工を施さなくとも、前記のようなプランジャー体の回転後退を可能にする点にある。 The main problem to be solved by the present invention is that the plunger body can be rotated and retracted as described above without specially processing the plunger body and the sleeve body.
前記課題を達成するために、この発明にあっては、コンタクトプローブを、両端をそれぞれ開放させたスリーブ体と、
一端を前記スリーブ体の一端から外方に突き出される接触端とする第一プランジャー体と、
一端を前記スリーブ体の他端から外方に突き出される接触端とする第二プランジャー体と、
スリーブ体内にあってバネ一端を第一プランジャー体に固定又は係合させ、かつ、バネ他端を第二プランジャー体に固定又は係合させた圧縮コイルバネとを備えており、
第一プランジャー体及び第二プランジャー体はいずれも、前記バネにより接触端側をスリーブ体から所定寸法分突き出させて基準位置から、このバネに蓄勢させながらスリーブ体内に押し込み可能となっていると共に、
第一プランジャー体はスリーブ体内に回転可能に納められ、かつ、第二プランジャー体はスリーブ体内に回転不能に納められており、
前記バネのバネ一端は、このバネの巻回中心軸に対し偏心した位置にあると共に、第一プランジャー体の中心軸に対し偏心した位置において、この第一プランジャー体に固定又は係合されているものとした。
In order to achieve the above object, according to the present invention, the contact probe includes a sleeve body having both ends opened,
A first plunger body having one end as a contact end protruding outward from one end of the sleeve body;
A second plunger body having one end as a contact end protruding outward from the other end of the sleeve body;
A compression coil spring in the sleeve body, with one end of the spring fixed or engaged with the first plunger body and the other end of the spring fixed or engaged with the second plunger body,
Both the first plunger body and the second plunger body can be pushed into the sleeve body while the contact end side is protruded from the sleeve body by a predetermined dimension by the spring and stored in the spring from the reference position. And
The first plunger body is rotatably housed in the sleeve body, and the second plunger body is non-rotatably housed in the sleeve body,
One end of the spring of the spring is in an eccentric position with respect to the center axis of winding of the spring, and is fixed or engaged with the first plunger body at a position eccentric with respect to the central axis of the first plunger body. It was supposed to be.
スリーブ体を固定させた状態で、基準位置にある第一プランジャー体の接触端を検査対象物の被接触箇所に所定の荷重で接しさせると、前記バネを圧縮しながら第一プランジャー体の後退が許容される。かかるバネはこの圧縮によりその巻回中心軸を周回する向きにバネ一端を移動させる。かかるバネ一端は、かかるバネの巻回中心軸に対し偏心した位置にあると共に、第一プランジャー体の中心軸に対し偏心した位置において、この第一プランジャー体に固定又は係合されていることから、このバネ一端の移動分第一プランジャー体はその中心軸を中心としてスリーブ体内で回動される。すなわち、基準位置にある第一プランジャー体の接触端を検査対象物の電極に所定の荷重をもって接しさせると、かかる第一プランジャー体は、前記バネを圧縮しながら回転後退される。 When the contact end of the first plunger body at the reference position is brought into contact with the contacted portion of the inspection object with a predetermined load while the sleeve body is fixed, the first plunger body is compressed while compressing the spring. Retraction is allowed. Such a spring moves one end of the spring in such a direction as to circulate around the winding center axis. One end of the spring is at a position eccentric to the winding central axis of the spring, and is fixed or engaged with the first plunger body at a position eccentric to the central axis of the first plunger body. For this reason, the first plunger body corresponding to the movement of one end of the spring is rotated within the sleeve body about the central axis. That is, when the contact end of the first plunger body at the reference position is brought into contact with the electrode of the inspection object with a predetermined load, the first plunger body is rotated and retracted while compressing the spring.
この発明にかかるコンタクトプローブによれば、プランジャー体及びスリーブ体に格別の加工を施さなくとも、基準位置にある第一プランジャー体の接触端を検査対象物の被接触箇所に所定の荷重で接しさせたときに、かかる第一プランジャー体を回転後退させることができる。 According to the contact probe of the present invention, the contact end of the first plunger body at the reference position is applied to the contacted portion of the inspection object with a predetermined load without performing special processing on the plunger body and the sleeve body. When the contact is made, the first plunger body can be rotated and retracted.
以下、図1〜図9に基づいて、この発明の典型的な実施の形態について、説明する。この実施の形態にかかるコンタクトプローブは、半導体素子などの電子部品や、電子回路など、電気的な特性の測定が必要とされる検査対象物のこの測定にあたり、各種の測定器にこの検査対象物から得られる電気的信号を伝達させるために用いられるものである。 Hereinafter, typical embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. The contact probe according to this embodiment is used for measuring various kinds of measuring objects such as electronic components such as semiconductor elements and electronic circuits that require measurement of electrical characteristics. It is used to transmit an electrical signal obtained from.
かかるコンタクトプローブは、それぞれ導電性材料から構成される、スリーブ体1と、第一プランジャー体2と、第二プランジャー体3と、圧縮コイルバネ4とを組み合わせて構成されている。
Such a contact probe is configured by combining a
スリーブ体1は、両端をそれぞれ開放させている。かかるスリーブ体1はバレルなどとも称され、細長い円筒状を呈している。図示の例では、スリーブ体1の両端10、11はそれぞれ、内径を他の箇所よりも小さくするように絞られている。
Both ends of the
第一プランジャー体2は、その一端20を前記スリーブ体1の一端10から外方に突き出される接触端22としている。図示の例では、かかる第一プランジャー体2は、その一端20側及び他端21側を細径部23とすると共に、両細径部23、23間をこれより外径を大きくする太径部24とした、断面円形の棒状体として構成されている。かかる細径部23と太径部24との間には、第一プランジャー体2の中心軸xを周回すると共に、この中心軸xに直交する向きの段差面25が形成されている。前記一端20側の細径部23の外径はスリーブ体1の開放された一端10の内径と略等しく、一方、前記太径部24の外径はスリーブ体1の両端10、11間の内径と略等しくなっている。第一プランジャー体2は、前記バネ4の付勢により、接触端22を前記検査対象物の電極などの被接触箇所(図示は省略する。)に所定の荷重で接しさせるまでは、この接触端22側にある段差面25をスリーブ体1の一端10の開口縁部にスリーブ体1の内方から突き当てる基準位置に位置づけられるようになっている。
The
第二プランジャー体3は、その一端30を前記スリーブ体1の他端11から外方に突き出される接触端32としている。図示の例では、かかる第二プランジャー体3は、その一端30側及び他端31側を細径部33とすると共に、両細径部33、33間をこれより外径を大きくする太径部34とした、棒状体として構成されている。スリーブ体内に常時位置される他端31側の細径部33及び太径部34の第二プランジャー体3の中心軸xに直交する向きの断面は円形であるが、一端30側の細径部33の中心軸xに直交する向きの断面は非円形の板状となっている。かかる細径部33と太径部34との間には、第二プランジャー体3の中心軸xを周回すると共に、この中心軸xに直交する向きの段差面35が形成されている。前記太径部34の外径はスリーブ体1の両端10、11間の内径と略等しくなっている。第二プランジャー体3は、前記バネ4の付勢により、接触端32を典型的には前記測定器側に電気的に接続される被接触体(図示は省略する)に所定の荷重で接しさせるまでは、この接触端32側にある段差面35をスリーブ体1の他端11の開口縁部にスリーブ体1の内方から突き当てる基準位置に位置づけられるようになっている。
The
かかる第一プランジャー体2及び第二プランジャー体3の接触端22、32の形状は、前記検査対象物の被接触箇所ないし被接触体の性状に応じて適宜調整される。図示の例では、第一プランジャー体2の接触端22は、凸状の非接触箇所に対し相補形状をなす凹状となっている。かかる被接触箇所に第一プランジャー体2の接触端22が所定の荷重で接しさせられると、後述のようにかかる第一プランジャー体2は前記バネ4を圧縮しながら回転後退され、前記被接触箇所の表面に付着物(酸化被膜、フラックスなど)がある場合でもこれを除いてかかる被接触箇所に接触端を適切に電気的に接続させる。
The shapes of the contact ends 22 and 32 of the
圧縮コイルバネ4は、前記スリーブ体1内にあってバネ一端40を第一プランジャー体2に固定又は係合させ、かつ、バネ他端41を第二プランジャー体3に固定又は係合させている。図1に示される例では、圧縮コイルバネ4のバネ一端40は第一プランジャー体2の太径部24に固定され、かつ、バネ他端41は第二プランジャー体3の太径部34に固定されている。また、図5に示される例では、圧縮コイルバネ4のバネ一端40は第一プランジャー体2の太径部24に係合され、かつ、バネ他端41は第二プランジャー体3の太径部34に係合されている。
The compression coil spring 4 is located in the
そして、この実施の形態にあっては、かかるバネ4のバネ一端40及びバネ他端41はいずれも、このバネ4の巻回中心軸yに対し偏心した位置にある。図1に示される例では、圧縮コイルバネ4のバネ一端40はこのバネ4の巻回部42の倣う仮想の螺旋上に位置される一方端末40’から前記巻回中心軸yに平行をなすように引き出された引き出し部40aにより構成されており、圧縮コイルバネ4のバネ他端41はこのバネ4の巻回部42の倣う仮想の螺旋上に位置される他方端末41’から前記巻回中心軸yに平行をなすように引き出された引き出し部41aにより構成されている。また、図5に示される例では、圧縮コイルバネ4のバネ一端40はこのバネ4の巻回部42の倣う仮想の螺旋上に位置される一方端末40’から前記巻回中心軸yに向けて内側に突き出す延長部40bにより構成されており、圧縮コイルバネ4のバネ他端41はこのバネ4の巻回部42の倣う仮想の螺旋上に位置される他方端末41’から前記巻回中心軸yに向けて内側に突き出す延長部41bにより構成されている。
In this embodiment, the spring one
この実施の形態にあっては、前記バネ4の巻回部42の内径と、第一プランジャー体2及び第二プランジャー体3におけるスリーブ体1内に常時位置される細径部23の外径とが略等しくなっている。そして、第一プランジャー体2におけるスリーブ体1内に常時位置される細径部23を前記バネ4の巻回部42にそのバネ一端40側から差し込むと共に、第二プランジャー体3におけるスリーブ体1内に常時位置される細径部33を前記バネ4の巻回部42にそのバネ他端41側から差し込んで、第一プランジャー体2と第二プランジャー体3との間に弾性変形された状態で前記バネ4が介在されるようになっている。
In this embodiment, the inner diameter of the winding
そして、このように介在される前記バネ4によって、第一プランジャー体2及び第二プランジャー体3はいずれも、前記バネ4により接触端22、32側をスリーブ体1から所定寸法分突き出させて基準位置から、このバネ4に蓄勢させながらスリーブ体1内に押し込み可能となっている。
The
また、前記バネ4のバネ一端40は、第一プランジャー体2の中心軸xに対し偏心した位置において、この第一プランジャー体2に固定又は係合されている。この実施の形態にあっては、前記バネ4のバネ他端41も、第二プランジャー体3の中心軸xに対し偏心した位置において、この第二プランジャー体3に固定又は係合されている。
The
具体的には、図1に示される例にあっては、第一プランジャー体2における太径部24に、この第一プランジャー体2の中心軸xに平行をなす溝24aであって、溝端を前記段差面25において開放させた溝24aが形成されており、この溝24aに前記バネ4のバネ一端40を差し込むことでかかるバネ4のバネ一端40を第一プランジャー体2の中心軸xに対し偏心した位置に固定させている。また、この図1に示される例にあっては、第二プランジャー体3における太径部34にも、この第二プランジャー体3の中心軸xに平行をなす溝34aであって、溝端を前記段差面25において開放させた溝34aが形成されており、この溝34aに前記バネ4のバネ他端41を差し込むことでかかるバネ4のバネ他端41を第二プランジャー体3の中心軸xに対し偏心した位置に固定させている。
Specifically, in the example shown in FIG. 1, the large-
また、図5に示される例にあっては、第一プランジャー体2におけるスリーブ体1内に常時位置される細径部23側にある段差面25に形成された凹所24bに前記バネ4のバネ一端40を入り込ませている。かかる凹所24bは、第一プランジャー体2の中心軸xを巡る仮想の螺旋の一部に沿うように段差面25の縁部を切削することで形成されており、その最深部には前記中心軸xに向けて穿設されためくら孔24cが形成されている。そして、前記バネ4のバネ一端40となる延長部40bをこのめくら孔24cに納めることによりこのバネ一端40を第一プランジャー体2の中心軸xに対し偏心した位置に係合させている。また、図5に示される例にあっては、第二プランジャー体3におけるスリーブ体1内に常時位置される細径部33側にある段差面35に形成された凹所34bに前記バネ4のバネ他端41を入り込ませている。かかる凹所34bは、第二プランジャー体3の中心軸x’を巡る仮想の螺旋の一部に沿うように段差面35の縁部を切削することで形成されており、その最深部には前記中心軸x’に向けて穿設されためくら孔34cが形成されている。そして、前記バネ4のバネ他端41となる延長部41bをこのめくら孔34cに納めることによりこのバネ他端41を第二プランジャー体3の中心軸x’に対し偏心した位置に係合させている。
Further, in the example shown in FIG. 5, the spring 4 is inserted into the
また、第一プランジャー体2はスリーブ体1内に回転可能に納められ、かつ、第二プランジャー体3はスリーブ体2内に回転不能に納められている。この実施の形態にあっては、第一プランジャー体2の一端20側の細径部23の断面形状は円形であり、スリーブ体1の一端10の開口はこの細径部23の断面形状に倣った円形となっている。一方、第二プランジャー体3の一端30側の細径部33の断面形状は前記のように非円形であり、スリーブ体1の他端11の開口はこの細径部33の断面形状に相補的となる形状となっており、第二プランジャー体3の接触端32を前記被接触体に所定の荷重をもって接しさせると、第二プランジャー体3は後退されるが回転しないようになっている。
The
スリーブ体1を固定させた状態で、基準位置にある第一プランジャー体2の接触端22を検査対象物の被接触箇所に所定の荷重で接しさせると、前記バネ4を圧縮しながら第一プランジャー体2の後退が許容される。典型的には、スリーブ体1は図示しない絶縁材料よりなるベースに形成された貫通孔に差し込まれてこのベースに保持固定される。典型的には、かかるベースには0.3mm〜0.4mmのピッチで検査対象物の電極の配列に整合するように複数の貫通孔が形成され、それぞれの貫通孔に一本づつコンタクトプローブが取り付けられる。かかるバネ4は前記圧縮によりその巻回中心軸yを周回する向きにバネ一端40を移動させる。かかるバネ一端40は、かかるバネ4の巻回中心軸yに対し偏心した位置にあると共に、第一プランジャー体2の中心軸xに対し偏心した位置において、この第一プランジャー体2に固定又は係合されていることから、このバネ一端40の移動分第一プランジャー体2はその中心軸xを中心としてスリーブ体1内で回動される。(図4及び図9においてこの回動の向きを矢印で示す。)すなわち、基準位置にある第一プランジャー体2の接触端22を検査対象物の被接触箇所に所定の荷重をもって接しさせると、かかる第一プランジャー体2は、前記バネ4を圧縮しながら回転後退される。また、第一プランジャー体2は前記バネ一端40との固定又は係合位置と対向する側において前記バネ4の作用によりスリーブ体1に押しつけられることから、第一プランジャー体2とスリーブ体1とは常時適切に電気的に接続され、また、第二プランジャー体3は前記バネ他端41との固定又は係合位置と対向する側において前記バネ4の作用によりスリーブ体1に押しつけられることから、第一プランジャー体3とスリーブ体1とも常時適切に電気的に接続される。これによりスリーブ体1を介して第一プランジャー体2と第二プランジャー体3とが常時適切に電気的に接続されるようになっている。
When the
1 スリーブ体
2 第一プランジャー体
20 一端
22 接触端
3 第二プランジャー体
30 一端
32 接触端
4 圧縮コイルバネ
40 バネ一端
41 バネ他端
x 中心軸
y 巻回中心軸
DESCRIPTION OF
Claims (1)
一端を前記スリーブ体の一端から外方に突き出される接触端とする第一プランジャー体と、
一端を前記スリーブ体の他端から外方に突き出される接触端とする第二プランジャー体と、
スリーブ体内にあってバネ一端を第一プランジャー体に固定又は係合させ、かつ、バネ他端を第二プランジャー体に固定又は係合させた圧縮コイルバネとを備えており、
第一プランジャー体及び第二プランジャー体はいずれも、前記バネにより接触端側をスリーブ体から所定寸法分突き出させて基準位置から、このバネに蓄勢させながらスリーブ体内に押し込み可能となっていると共に、
第一プランジャー体はスリーブ体内に回転可能に納められ、かつ、第二プランジャー体はスリーブ体内に回転不能に納められており、
前記バネのバネ一端は、このバネの巻回中心軸に対し偏心した位置にあると共に、第一プランジャー体の中心軸に対し偏心した位置において、この第一プランジャー体に固定又は係合されていることを特徴とするコンタクトプローブ。 A sleeve body with both ends open,
A first plunger body having one end as a contact end protruding outward from one end of the sleeve body;
A second plunger body having one end as a contact end protruding outward from the other end of the sleeve body;
A compression coil spring in the sleeve body, with one end of the spring fixed or engaged with the first plunger body and the other end of the spring fixed or engaged with the second plunger body,
Both the first plunger body and the second plunger body can be pushed into the sleeve body while the contact end side is protruded from the sleeve body by a predetermined dimension by the spring and stored in the spring from the reference position. And
The first plunger body is rotatably housed in the sleeve body, and the second plunger body is non-rotatably housed in the sleeve body,
One end of the spring of the spring is in an eccentric position with respect to the center axis of winding of the spring, and is fixed or engaged with the first plunger body at a position eccentric with respect to the central axis of the first plunger body. A contact probe characterized by that.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101843474B1 (en) * | 2016-09-01 | 2018-03-29 | 주식회사 파인디앤씨 | Probe-pin with spring |
WO2018105444A1 (en) * | 2016-12-08 | 2018-06-14 | 三菱電機株式会社 | Probe pin |
-
2011
- 2011-10-17 JP JP2011228305A patent/JP2013088264A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101843474B1 (en) * | 2016-09-01 | 2018-03-29 | 주식회사 파인디앤씨 | Probe-pin with spring |
WO2018105444A1 (en) * | 2016-12-08 | 2018-06-14 | 三菱電機株式会社 | Probe pin |
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