JP2013079922A - Disposable test plate and disposable test plate assembly - Google Patents

Disposable test plate and disposable test plate assembly Download PDF

Info

Publication number
JP2013079922A
JP2013079922A JP2011221374A JP2011221374A JP2013079922A JP 2013079922 A JP2013079922 A JP 2013079922A JP 2011221374 A JP2011221374 A JP 2011221374A JP 2011221374 A JP2011221374 A JP 2011221374A JP 2013079922 A JP2013079922 A JP 2013079922A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test plate
test
outer peripheral
peripheral wall
disposable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2011221374A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsuo Hasegawa
達夫 長谷川
Ryuji Tokugawa
竜治 徳川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Techno Medica Co Ltd
Original Assignee
Techno Medica Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Techno Medica Co Ltd filed Critical Techno Medica Co Ltd
Priority to JP2011221374A priority Critical patent/JP2013079922A/en
Publication of JP2013079922A publication Critical patent/JP2013079922A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test plate capable of reducing the possibility that upper and lower test plates perfectly get stuck in each other, even when force is applied from a vertical direction, in a state where multiple test plates are stacked, and to provide a test plate assembly.SOLUTION: A test plate A includes, at intervals on a disposable disk main body A2, multiple inspection parts A9 each loaded with test paper A12, and is a disposable test plate used in an analyzer in which a drop of a sample is dispensed on a reagent part A11 of the test paper A12 to optically measure coloring reaction. The disk main body A2 has, at an outer periphery of the same, an outer peripheral wall A1 extending downward, and includes, at a lower end of the outer peripheral wall A1, a flange A3 extending outside. There are arranged, at unequal intervals in a circumferential direction, multiple convex or concave engaging parts (projection parts A8), each extending from an upper end to the lower end in a height direction of the outer peripheral wall A1.

Description

本発明は、自動分析機に用いられる使い捨て試験プレートの改良に関する。また、本発明は、前記試験プレートを複数枚積み重ねた試験プレート集合体に関する。   The present invention relates to an improvement of a disposable test plate used in an automatic analyzer. The present invention also relates to a test plate assembly in which a plurality of the test plates are stacked.

従来から、病院等では、尿に含まれる各種成分を分析し、その分析結果から患者の健康状態を判断するために、患者から尿を採取して、これを分析することが行われている。
この出願人は、ハルンカップから試験管への尿の分注処理及び各試験管への患者識別ラベルの貼付処理を全自動で行うことができる尿自動分注装置を発明し、既に、特許出願している(特許文献1)。
しかし、尿の検査は、頻繁に行われるため、試験管及びラベルの消費量は相当多くなる。このため、試験管及びラベルの消費量を減らすことが望ましいが、従来のように、全ての分析を専用分析装置で行う場合には、試験管及びラベルの消費量を減らすことはできない。
出願人は、上記した問題点に着目し、試験管へ尿を分注せずに定性分析を行うことができ、同時に、必要に応じて、定量分析や沈査分析のためにハルンカップから試験管への尿の分注及び試験管への患者識別ラベルの自動貼付けを行うことができる自動分注機構を備えた定性分析装置を提案した(特許文献2)。
この特許文献2に係る定性分析装置では、細長い支持体に複数の試薬パッドを設けた試験紙を複数枚収容しておき、収容した試験紙を1枚ずつ取り出して点着位置及び測定位置に順次送るように構成されている。
しかし、このように1枚ずつ独立した試験紙を順次取り出して送るためには複雑な移送構造が必要になり、また、1枚ずつ独立した試験紙の場合、試験紙が小さいので、移送中に試験紙が落下したりずれたりすることがあり、試験紙が無駄になることが多いという問題があった。
出願人は、上記した問題点を解決するために、使い捨てのディスク本体の上に、複数の試薬部を備えた一検体用の検査部を、相互に間隔を開けて放射状に複数配置して成る試験プレートを発明し、これを特許出願した(特許文献3)。
図8は、出願人が先に提案した試験プレートの概略上面図、図9は、図8におけるX−X断面図である。
この試験プレートEは、周囲に下方に延びる外周壁E1が形成された円盤状のディスク本体E2を有する。また、外周壁E1の下端には径方向外方に伸びるフランジE3が形成されている。
ディスク本体E2の上面には、放射方向に伸びる細長い凹部から成る検査部E4が相互に間隔をあけて複数形成され、各検査部E4に試験紙E5が収容されている。
そして、前記試験プレートの外周壁E1の上部には径方向外方に突出する係止部E6が60度の間隔で6箇所に形成され、試験プレートEを積み重ねた時に、上側の試験プレートのフランジE3の底面が下側の試験プレートの前記係止部E6に係止して上下の試験プレートEが相互に嵌り合わずに積み重ねられるように構成されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in hospitals and the like, various components contained in urine are analyzed, and urine is collected from the patient and analyzed in order to determine the health condition of the patient from the analysis result.
This applicant has invented an automatic urine dispensing device that can fully automatically dispense urine from a Harun cup to a test tube and apply a patient identification label to each test tube, and has already filed a patent application. (Patent Document 1).
However, since urine tests are frequently performed, the consumption of test tubes and labels is considerably increased. For this reason, it is desirable to reduce the consumption of test tubes and labels. However, when all analyzes are performed with a dedicated analyzer as in the prior art, the consumption of test tubes and labels cannot be reduced.
The applicant pays attention to the above-mentioned problems, and can perform qualitative analysis without dispensing urine into the test tube. At the same time, the applicant can transfer from the Harun Cup to the test tube for quantitative analysis or sedimentation analysis, if necessary. Proposed a qualitative analysis device equipped with an automatic dispensing mechanism that can dispense urine and automatically attach a patient identification label to a test tube (Patent Document 2).
In the qualitative analysis apparatus according to Patent Document 2, a plurality of test papers each provided with a plurality of reagent pads are stored on an elongated support, and the stored test papers are taken out one by one and sequentially placed at a spotting position and a measurement position. Configured to send.
However, in order to sequentially take out and send independent test papers one by one in this way, a complicated transfer structure is required, and in the case of individual test papers one by one, since the test paper is small, There is a problem that the test paper may drop or shift, and the test paper is often wasted.
In order to solve the above-mentioned problems, the applicant forms a plurality of test sections for one specimen having a plurality of reagent sections in a radial manner on a disposable disc main body at intervals. A test plate was invented and a patent application was filed (Patent Document 3).
FIG. 8 is a schematic top view of the test plate previously proposed by the applicant, and FIG. 9 is a cross-sectional view taken along line XX in FIG.
This test plate E has a disk-shaped disc body E2 in which an outer peripheral wall E1 extending downward is formed around the test plate E. A flange E3 extending radially outward is formed at the lower end of the outer peripheral wall E1.
On the upper surface of the disk main body E2, a plurality of inspection portions E4 made of elongated concave portions extending in the radial direction are formed at intervals, and a test paper E5 is accommodated in each inspection portion E4.
And, on the upper part of the outer peripheral wall E1 of the test plate, there are six locking portions E6 projecting radially outward at intervals of 60 degrees, and when the test plates E are stacked, the flange of the upper test plate The bottom surface of E3 is locked to the locking portion E6 of the lower test plate so that the upper and lower test plates E are stacked without being fitted to each other.

特開平10−142235公報JP-A-10-142235 特開2006−275697公報JP 2006-275697 A 特願2011-29846Japanese Patent Application 2011-29846

上記した試験プレートEによれば、外周壁E1に設けた前記係止部E6によって複数枚の試験プレートEを、相互に嵌り合うことなく、積み重ねて保管することができる。
しかし、上記した従来の試験プレートEは、図8に示すように、その係止部E6を外周壁E1の上部に設けているため、成形時に離型性が悪いという問題があった。
発明者等は、離型性の問題を解消するために、前記係止部E6を外周壁E1の高さ方向にのびる溝状に形成することを見出したが、このように構成すると以下のような問題が生じる。
ここで、問題点を明確にするために、試験プレートの使用状態について説明をする。
上記したように構成された試験プレートは、通常、複数枚の試験プレートを積み重ねた集合体をパッケージ化した状態で販売され、移送される。そして、病院や検査室においても積み重ねた集合体の状態のままで保管され、使用時にも積み重ねた集合体の状態のまま分析機等にセットされる。このように、試験プレートは、実際に分析機において使用される迄の間は、積み重ねられた状態にある。このため、例えば、移送中や分析機にセットする前の保管中等に、試験プレート集合体の上に荷物が載せられる等して、試験プレート集合体に上下方向から力が加えられることがある。
一方、前記したように外周壁の高さ方向にのびる溝状に形成された係止部が、先に提案した試験プレートのように外周壁に等間隔で形成されていると、上下の試験プレートの係止部の位置が全て合致してしまうことがある。
このように係止部の位置が全て合致している状態で、試験プレート集合体に上下方向から力が加えられると、上側の試験プレートの係止部が、下側の試験プレートの係止部に入り込み、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合ってしまうという問題が生じる。
本発明は、上記した従来の問題点を解決し、複数枚積み重ねた状態において上下方向から力が加えられても、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合う可能性を低減させることができる試験プレートを提供することを目的とし、かつ、上下方向から力が加えられても、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合うことがない試験プレート集合体を提供することを目的としている。
According to the test plate E described above, a plurality of test plates E can be stacked and stored without being fitted to each other by the locking portion E6 provided on the outer peripheral wall E1.
However, as shown in FIG. 8, the above-described conventional test plate E has a problem that the releasability is poor at the time of molding because the engaging portion E6 is provided on the upper portion of the outer peripheral wall E1.
The inventors have found that the locking portion E6 is formed in the shape of a groove extending in the height direction of the outer peripheral wall E1 in order to solve the problem of releasability. Problems arise.
Here, in order to clarify the problem, the usage state of the test plate will be described.
The test plate configured as described above is usually sold and transported in a packaged state of an assembly in which a plurality of test plates are stacked. And it is stored in the state of the stacked assembly also in the hospital or laboratory, and is set in the analyzer or the like with the stacked assembly in use. Thus, the test plates are in a stacked state until they are actually used in the analyzer. For this reason, for example, a load may be placed on the test plate assembly during transfer or storage before being set in the analyzer, and a force may be applied to the test plate assembly from above and below.
On the other hand, when the engaging portions formed in the groove shape extending in the height direction of the outer peripheral wall as described above are formed at equal intervals on the outer peripheral wall as in the previously proposed test plate, the upper and lower test plates In some cases, the positions of the locking portions may be all matched.
When a force is applied to the test plate assembly from above and below in a state where all the positions of the locking portions are matched, the locking portion of the upper test plate becomes the locking portion of the lower test plate. The problem arises that the upper and lower test plates fit into each other completely.
The present invention solves the above-mentioned conventional problems and can reduce the possibility that the upper and lower test plates are completely fitted to each other even when force is applied from the vertical direction in a state where a plurality of sheets are stacked. An object of the present invention is to provide a plate assembly, and to provide a test plate assembly in which the upper and lower test plates do not completely fit each other even when a force is applied from above and below.

上記した目的を達成するために、本発明に係る使い捨て試験プレートは、使い捨てのディスク本体の上に、複数の試薬部を備えた一検体用の検査部を、相互に間隔を開けて複数配置して成り、検査用試薬部に検体を点着して検査用試薬部の呈色反応を光学的に測定する分析機で用いられる使い捨て試験プレートであって、前記ディスク本体が、その外周に下方へ延びる外周壁を有し、前記外周壁の下端に外方に向けて伸びるフランジを備え、前記外周壁に、外周壁の高さ方向に沿って外周壁の上端から下端まで伸びる凸状又は凹状の係止部を複数周方向に不当間隔に配置したことを特徴とする。
また、本発明に係る使い捨て試験プレート集合体は、外周壁に凸状又は凹状の係止部が複数周方向に不当間隔に設けられた第一の試験プレートと、外周壁に凸状又は凹状の係止部が、第一の試験プレートとは異なる間隔で、複数周方向に不当間隔に設けられた第二の試験プレートとを、交互に積み重ねて成ることを特徴とする。
In order to achieve the above-described object, the disposable test plate according to the present invention includes a plurality of test sections for a single sample having a plurality of reagent sections spaced apart from each other on a disposable disc body. A disposable test plate used in an analyzer for spotting a specimen on a test reagent part and optically measuring the color reaction of the test reagent part, wherein the disc body is disposed downward on the outer periphery thereof. The outer peripheral wall has a flange extending outwardly at the lower end of the outer peripheral wall, and the outer peripheral wall has a convex or concave shape extending from the upper end to the lower end of the outer peripheral wall along the height direction of the outer peripheral wall. The engaging portions are arranged at irregular intervals in a plurality of circumferential directions.
In addition, the disposable test plate assembly according to the present invention includes a first test plate in which convex or concave engaging portions are provided on the outer peripheral wall at irregular intervals in a plurality of circumferential directions, and a convex or concave shape on the outer peripheral wall. The locking portion is formed by alternately stacking second test plates that are provided at irregular intervals in a plurality of circumferential directions at intervals different from those of the first test plate.

本発明に係る使い捨て試験プレートは、使い捨てのディスク本体の上に、複数の試薬部を備えた一検体用の検査部を、相互に間隔を開けて複数配置して成り、検査用試薬部に検体を点着して検査用試薬部の呈色反応を光学的に測定する分析機で用いられる使い捨て試験プレートであって、前記ディスク本体が、その外周に下方へ延びる外周壁を有し、前記外周壁の下端に外方に向けて伸びるフランジを備え、前記外周壁に、外周壁の高さ方向に沿って外周壁の上端から下端まで伸びる凸状又は凹状の係止部を複数不当間隔に配置しているので、成形時の離型性が良好であり、かつ、複数枚積み重ねた時に上下の試験プレートの係止部が全て合致してしまう可能性は極めて低くなり、その結果、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合う可能性を著しく低減されることができるという効果を奏する。
また、本発明に係る使い捨て試験プレート集合体は、外周壁に凸状又は凹状の係止部を複数不当間隔に設けられた第一の試験プレートと、外周壁に凸状又は凹状の係止部が、第一の試験プレートとは異なる間隔で、複数不当間隔に設けられた第二の試験プレートとを、交互に積み重ねて成るので、複数枚積み重ねた時に上下の試験プレートの係止部が全て合致してしまう可能性は完全になくなり、移送時又は保管時に該集合体に上下方向から力が加えられても、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合うことがない。
分析機に、試験プレートを補充する場合には、前の集合体の残りの上に、新しい集合体を乗せることになり、このような場合、前の集合体の一番上にある試験プレートが第一の試験プレートであり、補充する集合体の一番下にある試験プレートも第一の試験プレートである場合がある。しかし、このような場合であっても、第一試験プレート及び第二試験プレートの係止部が、それぞれ不当間隔に設けられているので、上下の試験プレートの係止部が全て合致してしまう可能性は極めて低く、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合う可能性は著しく低い。
The disposable test plate according to the present invention comprises a plurality of test parts for one specimen provided with a plurality of reagent parts spaced apart from each other on a disposable disk body, and the specimens are provided in the test reagent parts. A disposable test plate used in an analyzer that optically measures the color reaction of a test reagent part, wherein the disc body has an outer peripheral wall extending downward on the outer periphery thereof, and the outer periphery A flange extending outwardly at the lower end of the wall, and a plurality of convex or concave engaging portions extending from the upper end to the lower end of the outer peripheral wall along the height direction of the outer peripheral wall are arranged at an inappropriate interval on the outer peripheral wall. Therefore, the releasability at the time of molding is good, and the possibility that all the latching parts of the upper and lower test plates match when stacking multiple sheets is extremely low. Plates can fit completely together There is an effect that it is possible to be significantly reduced.
In addition, the disposable test plate assembly according to the present invention includes a first test plate in which a plurality of convex or concave engaging portions are provided on the outer peripheral wall at irregular intervals, and a convex or concave engaging portion on the outer peripheral wall. However, since the second test plate provided at a plurality of unfair intervals is alternately stacked at a different interval from the first test plate, all of the locking portions of the upper and lower test plates are stacked when a plurality of the test plates are stacked. The possibility of matching is completely eliminated, and the upper and lower test plates do not completely fit each other even if a force is applied to the assembly from above and below during transport or storage.
If the analyzer is refilled with test plates, the new assembly will be placed on the rest of the previous assembly, in which case the test plate at the top of the previous assembly will be The test plate at the bottom of the assembly to be replenished may also be the first test plate. However, even in such a case, since the locking portions of the first test plate and the second test plate are provided at inappropriate intervals, all the locking portions of the upper and lower test plates are matched. The possibility is very low and the possibility that the upper and lower test plates fit completely together is very low.

試験プレートの上面図である。It is a top view of a test plate. (a)は図1におけるA−A断面図、(b)は図1におけるB−B断面図である。(A) is AA sectional drawing in FIG. 1, (b) is BB sectional drawing in FIG. (a)は図1におけるC−C断面図、(b)は図1におけるD−D断面図、(c)は図1におけるE−E断面図を夫々示している。1. (a) is CC sectional drawing in FIG. 1, (b) is DD sectional drawing in FIG. 1, (c) has shown EE sectional drawing in FIG. 試験プレートが重ねられた状態を示す図である。It is a figure which shows the state with which the test plate was piled up. (a)は、本発明に係る試験プレート集合体を構成する第一試験プレートの一実施例の概略上面図であり、(b)は第二試験プレートの一実施例の概略上面図である。(A) is a schematic top view of one Example of the 1st test plate which comprises the test plate aggregate | assembly which concerns on this invention, (b) is a schematic top view of 1 Example of a 2nd test plate. 第一試験プレート上に第二試験プレートを積み重ねた状態を示す概略上面図である。It is a schematic top view which shows the state which accumulated the 2nd test plate on the 1st test plate. 本発明に係る試験プレート集合体の概略側面図である。1 is a schematic side view of a test plate assembly according to the present invention. 出願人が先に提案した試験プレートの概略上面図Schematic top view of the test plate previously proposed by the applicant 図8におけるX−X断面図である。It is XX sectional drawing in FIG.

以下、添付図面に示した一実施例を参照しながら本発明に係る使い捨て試験プレートの実施の形態について説明していく。   Hereinafter, an embodiment of a disposable test plate according to the present invention will be described with reference to one embodiment shown in the accompanying drawings.

図1は、試験プレートの一実施例の上面図であり、図2(a)は図1におけるA−A断面図、図2(b)は図1におけるB−B断面図である。また、図3(a)は図1におけるC−C断面図、図3(b)は図1におけるD−D端面図、図3(c)は図1におけるE−E断面図を夫々示している。   1 is a top view of an embodiment of a test plate, FIG. 2 (a) is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1, and FIG. 2 (b) is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. 3A is a sectional view taken along the line CC in FIG. 1, FIG. 3B is an end view taken along the line DD in FIG. 1, and FIG. 3C is a sectional view taken along the line EE in FIG. Yes.

これらの図面に示すように、試験プレートAは、周囲に下方に延びる外周壁A1が形成された円盤状のディスク本体A2を有する。また、外周壁A1の下端には径方向外方に伸びるフランジA3が形成されている。
試験プレートAの中心には、自動分析機のターンテーブル(図示せず)に係止する係止部A4が形成され、この係止部A4を囲むようにドーナツ状の溝A5が形成されており、このドーナツ状の溝A5の周囲にはドーナツ状の突起A6が形成されている。尚、図示していないが前記ターンテーブルは、一枚の試験プレートAを搭載して、該試験プレートAを保管位置から点着及び分析位置まで移送したり、点着及び分析位置において試験プレートを回転させたりするように構成されているものである。
As shown in these drawings, the test plate A has a disk-shaped disc main body A2 in which an outer peripheral wall A1 extending downward is formed around the test plate A. A flange A3 extending radially outward is formed at the lower end of the outer peripheral wall A1.
At the center of the test plate A, there is formed a locking portion A4 that is locked to a turntable (not shown) of the automatic analyzer, and a donut-shaped groove A5 is formed so as to surround the locking portion A4. A donut-shaped protrusion A6 is formed around the donut-shaped groove A5. Although not shown, the turntable is equipped with a single test plate A and transports the test plate A from the storage position to the spotting and analysis positions, or the test plate is placed at the spotting and analysis positions. It is configured to rotate.

試験プレートAのディスク本体A2の上面には、放射方向に伸びる細長い凹部から成る検査部A9が相互に間隔をあけて複数形成されている(本実施例では22個)。各検査部A9を形成する凹部の側壁には、内部に試験紙を収容して保持するように複数の突起A10が形成されている。
各検査部A9には、検体中の被検出物質と反応して発色する試薬を担持した複数の検査用試薬部A11をストリップ上に設けて成る試験紙A12が取り付けられており、各検査部A1が一検体用の検査部として機能する。尚、図3においては試験紙A12は省略されているが、基本的には、全ての検査部A9に試験紙A12を装着して用いられる。
さらに試験プレートAのディスク本体A2には、電子コード化した個別識別子をバーコードの形態等で印字したラベルA13が貼り付けられている。また、前記ラベルA13には、光学測定用の内部標準となる色見本も印刷され得る。前記個別識別子には、個々の使い捨て試験プレートAを識別可能な識別情報に加えて、色見本が印刷されている場合には、色見本(光学測定用の内部標準となる色見本)に関する色情報が含まれ得る。色見本の色情報は、具体的には、例えば、RGB値及び明暗値であり得る。
尚、この実施例では、個別識別子及び色見本を印字したラベルA13をディスク本体A2に貼り付けているが、個別識別子及び色見本は、ディスク本体A2に直接印字してもよく、また、個体識別子はタグ等で構成してもよい。
On the upper surface of the disk main body A2 of the test plate A, a plurality of inspection portions A9 made of elongated concave portions extending in the radial direction are formed at intervals from each other (22 in this embodiment). A plurality of protrusions A10 are formed on the side walls of the recesses forming the inspection portions A9 so as to accommodate and hold the test paper inside.
Each test section A9 is provided with a test paper A12 having a plurality of test reagent sections A11 carrying a reagent that reacts with the substance to be detected in the sample and develops a color on the strip, and each test section A1. Functions as an inspection unit for one specimen. Although the test paper A12 is omitted in FIG. 3, basically, the test paper A12 is attached to all the inspection sections A9.
Further, a label A13 on which an individual identifier converted into an electronic code is printed in the form of a barcode or the like is attached to the disk main body A2 of the test plate A. Further, a color sample serving as an internal standard for optical measurement can be printed on the label A13. In the individual identifier, in addition to the identification information that can identify the individual disposable test plate A, in the case where a color sample is printed, color information relating to the color sample (color sample serving as an internal standard for optical measurement). Can be included. Specifically, the color information of the color sample may be, for example, an RGB value and a light / dark value.
In this embodiment, the label A13 on which the individual identifier and the color sample are printed is affixed to the disc main body A2. However, the individual identifier and the color sample may be directly printed on the disc main body A2, or the individual identifier. May be configured with a tag or the like.

試験プレートAは、その中央部分と、その外周部分とのそれぞれ係止部を有する。
試験プレートAの中央部分に設けられたドーナツ状の溝A5の側壁には、径方向内方に突起する内側係止部A7が不当間隔で4箇所に形成されている(図1及び図2参照)。これらの内側係止部A7は図2に示すように、溝A5の側壁の高さ方向中間位置から下端まで、側壁の高さ方向に沿って略垂直にのびるように形成されている。
また、試験プレートAの外周壁A1には、径方向内方に凹む溝状の外側係止部A8が不当間隔で12箇所に形成されている。これらの外側係止部A8は、外周壁A1の高さ方向に沿って外周壁A1の上端から下端までのびるように形成されている(図1及び図3参照)。これら外側係止部A8は、前記したように隣接する外側係止部A8間の間隔が不等間隔である。具体的には、例えば、図示実施例では、
係止部A8−1と係止部A8−2との間の間隔は27°であり、
係止部A8−2と係止部A8−3との間の間隔は30°であり、
係止部A8−3と係止部A8−4との間の間隔は23°であり、
係止部A8−4と係止部A8−5との間の間隔は26°であり、
係止部A8−5と係止部A8−6との間の間隔は30°であり、
係止部A8−6と係止部A8−7との間の間隔は29°であり、
係止部A8−7と係止部A8−8との間の間隔は35°であり、
係止部A8−8と係止部A8−9との間の間隔は25°であり、
係止部A8−9と係止部A8−10との間の間隔は21°であり、
係止部A8−10と係止部A8−11との間の間隔は34°であり、
係止部A8−11と係止部A8−12との間の間隔は28°である。
上記したように、係止部A7及びA8を設けることにより、試験プレートAを積み重ねた時に、上側の試験プレートAの溝A5の底面が下側の試験プレートAの内側係止部A7の上に載り、上側の試験プレートAの外側係止部A8が下側の試験プレートAのディスク本体A2の上に載り、上下の試験プレートAが完全に嵌り合うことがない(図4参照)。
また、係止部A7及びA8を不等間隔に設けているので、試験プレートAを積み重ねた時に、上側の試験プレートAの係止部A8の位置と、下側の試験プレートAの係止部A8の位置が全て合致してしまう可能性は極めて低くなり、よって、試験プレートを複数枚重ねた試験プレート集合体に上方又は下方から力が加えられても、上下の試験プレートが相互に嵌り合う可能性は極めて低くなる。
さらに、全ての内側係止部A7が溝A5の側壁の高さ方向中間位置から下端まで、側壁の高さ方向に沿って略垂直にのびるように形成され、外側係止部A8が外周壁A1の高さ方向に沿って上端から下端までのびるように形成されているため、成形時に係止部が型に引っかかることがなくなるため離型性が良好になり、大量生産が可能になる。
The test plate A has a locking portion between its central portion and its outer peripheral portion.
On the side wall of the doughnut-shaped groove A5 provided in the central portion of the test plate A, inner locking portions A7 projecting radially inward are formed at four positions at an unjustified interval (see FIGS. 1 and 2). ). As shown in FIG. 2, these inner locking portions A7 are formed so as to extend substantially vertically along the height direction of the side wall from the middle position in the height direction of the side wall of the groove A5 to the lower end.
Further, on the outer peripheral wall A1 of the test plate A, groove-shaped outer locking portions A8 that are recessed inward in the radial direction are formed at twelve locations at an inappropriate interval. These outer locking portions A8 are formed so as to extend from the upper end to the lower end of the outer peripheral wall A1 along the height direction of the outer peripheral wall A1 (see FIGS. 1 and 3). In these outer locking portions A8, the intervals between the adjacent outer locking portions A8 are unequal as described above. Specifically, for example, in the illustrated embodiment,
The interval between the locking portion A8-1 and the locking portion A8-2 is 27 °,
The interval between the locking portion A8-2 and the locking portion A8-3 is 30 °,
The interval between the locking portion A8-3 and the locking portion A8-4 is 23 °,
The interval between the locking portion A8-4 and the locking portion A8-5 is 26 °,
The interval between the locking portion A8-5 and the locking portion A8-6 is 30 °,
The interval between the locking part A8-6 and the locking part A8-7 is 29 °,
The interval between the locking portion A8-7 and the locking portion A8-8 is 35 °,
The interval between the locking portion A8-8 and the locking portion A8-9 is 25 °,
The interval between the locking portion A8-9 and the locking portion A8-10 is 21 °,
The interval between the locking portion A8-10 and the locking portion A8-11 is 34 °,
The interval between the locking portion A8-11 and the locking portion A8-12 is 28 °.
As described above, by providing the locking portions A7 and A8, when the test plate A is stacked, the bottom surface of the groove A5 of the upper test plate A is placed on the inner locking portion A7 of the lower test plate A. The outer locking portion A8 of the upper test plate A rests on the disc body A2 of the lower test plate A, and the upper and lower test plates A do not fit completely (see FIG. 4).
Further, since the locking portions A7 and A8 are provided at unequal intervals, the position of the locking portion A8 of the upper test plate A and the locking portion of the lower test plate A when the test plate A is stacked. The possibility that all the positions of A8 match will be very low, so even if a force is applied from above or below to a test plate assembly in which a plurality of test plates are stacked, the upper and lower test plates fit each other. The possibility is very low.
Further, all the inner locking portions A7 are formed so as to extend substantially vertically along the height direction of the side wall from the intermediate position in the height direction of the side wall of the groove A5 to the lower end, and the outer locking portion A8 is formed on the outer peripheral wall A1. Since it is formed so as to extend from the upper end to the lower end along the height direction, the locking portion is not caught by the mold at the time of molding, so that the releasability becomes good and mass production becomes possible.

次に、図5〜図7を参照しながら、本発明に係る試験プレート集合体の実施の形態について説明していく。尚、この実施例に示す試験プレートは、内側係止部及び外側係止部の数及び位置が図1に示した実施例の試験プレートと異なるだけで、それ以外の構成は全て図1に示した試験プレートと同一であるため、以下の説明では重複する構成の説明については省略する。また、図5及び図6においては、図面を簡単化するために、検査部は省略する。
図5(a)は第一の試験プレートBの概略上面図であり、図5(b)は第二の試験プレートCの概略上面図である。
Next, an embodiment of a test plate assembly according to the present invention will be described with reference to FIGS. The test plate shown in this embodiment is different from the test plate of the embodiment shown in FIG. 1 only in the number and position of the inner locking portions and the outer locking portions, and all other configurations are shown in FIG. In the following description, the description of the overlapping configuration is omitted. Further, in FIG. 5 and FIG. 6, the inspection unit is omitted for simplifying the drawings.
5A is a schematic top view of the first test plate B, and FIG. 5B is a schematic top view of the second test plate C.

図5(a)に示すように、第一の試験プレートBは、その中心部分にあるドーナツ状の溝B1の側壁に、径方向内方に突起する内側係止部B2が4つ形成されており、かつ、その外周壁B3に、径方向内方に凹む溝状の係止部B4が4つ形成されている。
4つの内側係止部B2は不当間隔に設けられており、具体的には、
係止部B2−1と係止部B2−2との間の間隔は100°であり、
係止部B2−2と係止部B2−3との間の間隔は80°であり、
係止部B2−3と係止部B2−4との間の間隔は110°であり、
係止部B2−4と係止部B2−1との間の間隔は70°である。
また、4つの外側係止部B4も不当間隔に設けられており、具体的には、
係止部B4−1と係止部B4−2との間の間隔は80°であり、
係止部B4−2と係止部B4−3との間の間隔は100°であり、
係止部B4−3と係止部B4−4との間の間隔は70°であり、
係止部B4−4と係止部B4−1との間の間隔は110°である。
As shown in FIG. 5A, the first test plate B has four inner locking portions B2 protruding radially inward on the side wall of the doughnut-shaped groove B1 in the center portion thereof. In addition, four groove-like locking portions B4 that are recessed radially inward are formed on the outer peripheral wall B3.
The four inner locking portions B2 are provided at an inappropriate interval. Specifically,
The interval between the locking part B2-1 and the locking part B2-2 is 100 °,
The interval between the locking part B2-2 and the locking part B2-3 is 80 °,
The interval between the locking part B2-3 and the locking part B2-4 is 110 °,
The interval between the locking part B2-4 and the locking part B2-1 is 70 °.
In addition, the four outer locking portions B4 are also provided at inappropriate intervals, specifically,
The interval between the locking part B4-1 and the locking part B4-2 is 80 °,
The interval between the locking part B4-2 and the locking part B4-3 is 100 °,
The interval between the locking part B4-3 and the locking part B4-4 is 70 °,
The space | interval between latching | locking part B4-4 and latching | locking part B4-1 is 110 degrees.

図5(b)に示すように、第二の試験プレートCは、その中心部分にあるドーナツ状の溝C1の側壁に、径方向内方に突起する内側係止部C2が5つ形成されており、かつ、その外周壁C3に、径方向内方に凹む溝状の係止部C4が5つ形成されている。
5つの内側係止部C2は不当間隔に設けられており、具体的には、
係止部C2−1と係止部C2−2との間の間隔は65°であり、
係止部C2−2と係止部C2−3との間の間隔は85°であり、
係止部C2−3と係止部C2−4との間の間隔は80°であり、
係止部C2−4と係止部C2−5との間の間隔は70°であり、
係止部C2−5と係止部C2−1との間の間隔は60°である。
また、5つの外側係止部C4も不当間隔に設けられており、具体的には、
係止部C4−1と係止部C4−2との間の間隔は80°であり、
係止部C4−2と係止部C4−3との間の間隔は60°であり、
係止部C4−3と係止部C4−4との間の間隔は85°であり、
係止部C4−4と係止部C4−5との間の間隔は65°であり、
係止部C4−5と係止部C4−1との間の間隔は70°である。
As shown in FIG. 5 (b), the second test plate C has five inner locking portions C2 protruding radially inward on the side wall of the donut-shaped groove C1 in the center portion thereof. In addition, five groove-like locking portions C4 that are recessed inward in the radial direction are formed on the outer peripheral wall C3.
The five inner locking portions C2 are provided at an inappropriate interval. Specifically,
The interval between the locking part C2-1 and the locking part C2-2 is 65 °,
The interval between the locking part C2-2 and the locking part C2-3 is 85 °,
The interval between the locking part C2-3 and the locking part C2-4 is 80 °,
The interval between the locking part C2-4 and the locking part C2-5 is 70 °,
The interval between the locking part C2-5 and the locking part C2-1 is 60 °.
In addition, five outer locking portions C4 are also provided at unreasonable intervals, specifically,
The interval between the locking part C4-1 and the locking part C4-2 is 80 °,
The interval between the locking part C4-2 and the locking part C4-3 is 60 °,
The interval between the locking part C4-3 and the locking part C4-4 is 85 °,
The interval between the locking portion C4-4 and the locking portion C4-5 is 65 °,
The interval between the locking part C4-5 and the locking part C4-1 is 70 °.

上記したように、第一試験プレートBと第二試験プレートCとは、それぞれ係止部B2及びB4並びにC2及びC4が不当間隔で設けられている。そして、第一試験プレートBと第二試験プレートCとは、相互に、係止部B2及びB4並びにC2及びC4の数及び位置が異なる。
従って、図6に示すように、第一試験プレートBと第二試験プレートCとを上下に重ね合わせた時に、第一試験プレートBの係止部B2及びB4と、第二試験プレートCの係止部C2及びC4との位置が全て合致することはない。
試験プレート組立体は、第一試験プレートB及び第二試験プレートCを交互に積み重ねることによって構成され(図7参照)、その状態で移送及び保管が行われ、さらに、積み重ねられたままの状態で分析機にセットされ得る。
試験プレート組立体は、分析機にセットされた後、一枚づつターンテーブル上に取り出され、点着及び分析に供される。
ディスク本体上に検査部が放射状に配置された試験プレートは、適当な測定装置の下方で回転させられ、点着後の各検査部の試薬部の呈色反応が光学的に検出される。
As described above, the first test plate B and the second test plate C are provided with the locking portions B2 and B4 and C2 and C4, respectively, at an inappropriate interval. And the 1st test plate B and the 2nd test plate C mutually differ in the number and position of latching | locking part B2 and B4 and C2 and C4.
Accordingly, as shown in FIG. 6, when the first test plate B and the second test plate C are stacked one above the other, the engaging portions B2 and B4 of the first test plate B and the second test plate C are engaged. The positions of the stops C2 and C4 do not all match.
The test plate assembly is constructed by alternately stacking the first test plate B and the second test plate C (see FIG. 7), and is transported and stored in that state, and further in the state where it is still stacked. It can be set in the analyzer.
After the test plate assembly is set in the analyzer, it is taken out one by one on the turntable and subjected to spotting and analysis.
The test plate in which the inspection units are radially arranged on the disk main body is rotated below an appropriate measuring device, and the color reaction of the reagent unit of each inspection unit after spotting is optically detected.

上記した実施例では、外側係止部が全て径方向内方に凹む溝状に形成されているが、外側係止部の構成は本実施例に限定されることなく、例えば、径方向外方に突出するように形成してもよい。
また、内側係止部及び外側係止部の数は本実施例に限定されることなく、任意の数でよい。さらにまた、内側係止部及び外側係止部の数は、本実施例に限定されることなく、不当間隔であれば任意の間隔でよい。
さらにまた、上記した実施例では、ディスク本体が円形であり、検査部が放射状に配置されているが、ディスク本体の形状及び検査部の配置は本実施例に限定されるものではない。例えば、ディスク本体の形状は矩形であってもよい。また、検査部は並行に配置してもよい。
In the embodiment described above, the outer locking portions are all formed in a groove shape recessed inward in the radial direction, but the configuration of the outer locking portion is not limited to this embodiment, for example, radially outward You may form so that it may protrude.
Moreover, the number of inner side latching | locking parts and outer side latching | locking parts is not limited to a present Example, Arbitrary numbers may be sufficient. Furthermore, the number of the inner locking portions and the outer locking portions is not limited to the present embodiment, and may be any interval as long as it is an inappropriate interval.
Furthermore, in the above-described embodiment, the disk body is circular and the inspection sections are arranged radially, but the shape of the disk body and the arrangement of the inspection sections are not limited to this embodiment. For example, the shape of the disc body may be rectangular. Moreover, you may arrange | position a test | inspection part in parallel.

A 試験プレート
A1 外周壁
A2 ディスク本体
A3 フランジ
A4 係止部
A5 ドーナツ状の溝
A6 ドーナツ状の突起
A7 突起部
A8 突起部
A9 検査部
A10 突起
A11 試薬部
A12 試験紙
A13 個別識別子を印字したラベル
A Test plate A1 Outer wall A2 Disc body A3 Flange A4 Locking part A5 Donut shaped groove A6 Donut shaped protrusion A7 Protruding part A8 Protruding part A9 Inspection part A10 Protruding A11 Reagent part A12 Test paper A13 Label with individual identifier printed

Claims (4)

使い捨てのディスク本体の上に、複数の試薬部を備えた一検体用の検査部を、相互に間隔を開けて複数配置して成り、検査用試薬部に検体を点着して検査用試薬部の呈色反応を光学的に測定する分析機で用いられる使い捨て試験プレートであって、
前記ディスク本体が、その外周に下方へ延びる外周壁を有し、
前記外周壁の下端に外方に向けて伸びるフランジを備え、
前記外周壁に、外周壁の高さ方向に沿って外周壁の上端から下端まで伸びる凸状又は凹状の係止部を複数周方向に不当間隔に配置した
ことを特徴とする使い捨て試験プレート。
On the disposable disc body, a plurality of test parts for one specimen having a plurality of reagent parts are arranged at intervals from each other, and the test reagent part is spotted on the test reagent part. A disposable test plate used in an analyzer that optically measures the color reaction of
The disc body has an outer peripheral wall extending downward on the outer periphery thereof;
A flange extending outwardly at the lower end of the outer peripheral wall,
A disposable test plate characterized in that convex or concave locking portions extending from the upper end to the lower end of the outer peripheral wall along the height direction of the outer peripheral wall are arranged on the outer peripheral wall at a plurality of irregular intervals in the circumferential direction.
前記ディスク本体が円形であり、
前記検査部が放射状に配置されている
ことを特徴とする請求項1に記載の使い捨て試験プレート。
The disc body is circular;
The disposable test plate according to claim 1, wherein the inspection units are arranged radially.
前記ディスク本体が、その中心部分に、ドーナツ状の溝を有し、該ドーナツ状の溝の側壁に、径方向内方に突出する突起が複数周方向に不当間隔に設けられている
ことを特徴とする請求項2に記載の使い捨て試験プレート。
The disc body has a donut-shaped groove in the center thereof, and a plurality of protrusions protruding radially inward are provided at irregular intervals in the circumferential direction on the side wall of the donut-shaped groove. The disposable test plate according to claim 2.
外周壁に凸状又は凹状の係止部が複数周方向に不当間隔に設けられた請求項1〜3の何れか一項に記載の第一の試験プレートと、
外周壁に凸状又は凹状の係止部が、第一の試験プレートとは異なる間隔で、複数周方向に不当間隔に設けられた請求項1〜3の何れか一項に記載の第二の試験プレートと
を、交互に積み重ねて成る
ことを特徴とする使い捨て試験プレート集合体。
The first test plate according to any one of claims 1 to 3, wherein convex or concave engaging portions are provided in the circumferential direction at irregular intervals in a plurality of circumferential directions,
4. The second according to claim 1, wherein convex or concave engaging portions are provided on the outer peripheral wall at irregular intervals in a plurality of circumferential directions at intervals different from the first test plate. A disposable test plate assembly characterized by being alternately stacked with test plates.
JP2011221374A 2011-10-05 2011-10-05 Disposable test plate and disposable test plate assembly Pending JP2013079922A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011221374A JP2013079922A (en) 2011-10-05 2011-10-05 Disposable test plate and disposable test plate assembly

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011221374A JP2013079922A (en) 2011-10-05 2011-10-05 Disposable test plate and disposable test plate assembly

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013079922A true JP2013079922A (en) 2013-05-02

Family

ID=48526410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011221374A Pending JP2013079922A (en) 2011-10-05 2011-10-05 Disposable test plate and disposable test plate assembly

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2013079922A (en)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53101491A (en) * 1977-01-20 1978-09-04 Kyoto Daiichi Kagaku Kk Continuous automatic analyzing apparatus and method for urine* etc*
JPS61164128U (en) * 1985-04-01 1986-10-11
JPS62101750U (en) * 1985-12-17 1987-06-29
JPS63142264A (en) * 1986-12-05 1988-06-14 Nittec Co Ltd Automatic urine examination apparatus
JPH07172442A (en) * 1993-12-16 1995-07-11 Sozaburo Adachi Container for packing food
JP2000180445A (en) * 1998-12-21 2000-06-30 Astec Corp:Kk Urinalysis reagent cell and urinalysis container
JP2000338114A (en) * 1999-04-20 2000-12-08 Instrumentation Lab Spa Automatic mounting type optical analyzing device
JP2004001824A (en) * 2002-05-31 2004-01-08 Tomei Kagaku Kogyo Kk Container having stack preventive function and its manufacturing method

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53101491A (en) * 1977-01-20 1978-09-04 Kyoto Daiichi Kagaku Kk Continuous automatic analyzing apparatus and method for urine* etc*
JPS61164128U (en) * 1985-04-01 1986-10-11
JPS62101750U (en) * 1985-12-17 1987-06-29
JPS63142264A (en) * 1986-12-05 1988-06-14 Nittec Co Ltd Automatic urine examination apparatus
JPH07172442A (en) * 1993-12-16 1995-07-11 Sozaburo Adachi Container for packing food
JP2000180445A (en) * 1998-12-21 2000-06-30 Astec Corp:Kk Urinalysis reagent cell and urinalysis container
JP2000338114A (en) * 1999-04-20 2000-12-08 Instrumentation Lab Spa Automatic mounting type optical analyzing device
JP2004001824A (en) * 2002-05-31 2004-01-08 Tomei Kagaku Kogyo Kk Container having stack preventive function and its manufacturing method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2537234C2 (en) Sample plate
US4440301A (en) Self-stacking reagent slide
JP5886412B2 (en) Container holder and container carrier
AU5959498A (en) Multi-well plate
US10539583B2 (en) Substrate for sample analysis, sample analysis device, sample analysis system, and program for sample analysis system
US20110005956A1 (en) Sample Reservoir Kits with Disposable Liners
JP2007178435A (en) Sample tube holder
JP2005164509A (en) Reagent container
US20120294766A1 (en) Reagent Store
US20200256868A1 (en) Immunoassay apparatus
JPH06509253A (en) Reusable seals for diagnostic test reagent packs
US9606135B2 (en) Automated biochemical analyzer and reagent container
JP4627529B2 (en) Masking member, light measurement method, light measurement kit, and light measurement container
JP5721099B2 (en) Disposable test plate and analyzer
JP2014505856A5 (en)
US8371051B2 (en) System to label plates
JP6236863B2 (en) Container storage tray and automatic analyzer capable of mounting the tray
EP2921860B1 (en) Automated analyzer
JP2013079922A (en) Disposable test plate and disposable test plate assembly
JP6553071B2 (en) Multi-well plate and method of using the same
US11130136B2 (en) Systems and methods to enhance consistency of assay performance
JPH05302924A (en) Reagent container for automatic analyzer
US20170120244A1 (en) Modular Well Plates
JP2004191188A (en) Biochemical vessel
TWI683900B (en) Microarray carrier assembly

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141006

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150525

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150701

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20151028